JPH01245112A - レーザ光を利用した変位計 - Google Patents

レーザ光を利用した変位計

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JPH01245112A
JPH01245112A JP7423188A JP7423188A JPH01245112A JP H01245112 A JPH01245112 A JP H01245112A JP 7423188 A JP7423188 A JP 7423188A JP 7423188 A JP7423188 A JP 7423188A JP H01245112 A JPH01245112 A JP H01245112A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はレーザ光を利用しイメージ・センサを受光素子
として用いる変位計に関する。さらに具体的には、イメ
ージ・センサへの被測定物からのレーザ光の反射光のイ
メージを検出してその変位を測定し、ざらにはイメージ
・センサの受光状態に対応してレーザ発振器の発光量を
自動的に制御することにより、安定した変位測定を実現
することができるレーザ光を利用した変位計を提供せん
とするものである。
[従来の技術] 従来のレーザ光を利用した変位計の回路溝成を第3図に
示し説明する。
10Bはレーザ発振器でありレーザ・ビーム5Oを被測
定物11に対して発射し、被測定物11の照射面からの
反射光51を受光レンズ12で結像し、これを電気信号
に変換するためのC0D(チャージ・カップルド・デバ
イス)型のイメージ・センサ13で受光している。14
はイメージ・センサ・ドライバでおり、イメージ・セン
サ13には、これを駆動するための駆動信号を送出する
とともに、イメージ・センサ13からの光−電気変換し
た変換信号53を受けて、コンパレータ15にはビデオ
信号55を、ビデオ処理・演算制御回路16には制御信
号54を、それぞれ出力する。
コンパレータ15は入力されるビデオ信号55をポテン
ショメータ31により設定された基準レベルと比較して
整形し、ビデオ処理・演算制御回路16はイメージ・セ
ンサ・ドライバ14からの制御信号54を受けてコンパ
レータ15より送出される整形信号56の処理、演算な
どを行う。17はビデオ処理・演算制御回路16により
1qられる変位データ57を表示するための表示回路で
ある。
コンパレータ15の出力である整形信号は単安定マルチ
バイブレータ42にも印加され、単安定マルチバイブレ
ータ42からは駆動信号72を出力する。この駆動信号
72は発光ダイオード23を駆動するための駆動回路4
1を駆動し、この出力で発光ダイオード23を明滅する
。この発光ダイオード23はイメージ・センサ13の受
光量による変位情報の有無を表示している。
このような構成による回路の動作を説明すると、レーザ
発振器10Bより発射されたレーザ・ビーム50の被測
定物11の照射面からの反射光51を、受光レンズ12
を通して集光し、その集光された反射光51を多数個の
受光素子を並べたイメージ・センサ13により受光する
。イメージ・センサ13はイメージ・センサ・ドライバ
14からの駆動信号52を受けて、受光した反射光51
を電気信号に変換し、その変換信号53をイメージ・セ
ンサ・ドライバ14に送出する。
イメージ・センサ・ドライバ14は、多数個の受光素子
から蓄積された電荷を駆動信号52により読出し、各受
光素子に蓄積された電荷量に対応した振幅を有するパル
ス列をなすビデオ信@55を読出して、コンパレータ1
5に出力し、コンパレータ15は入力されたビデオ信@
55を、ポテンショメータ31により設定された適当な
値の基準レベルと比較して、一定の振幅以上のパルスの
みを整形して整形信@56を出力し、ビデオ処理・演算
制御回路16に出力する。ビデオ処理・演算制御回路1
6では、イメージ・センサ・ドライバ14からの制御信
号54を受けて、入力された整形信号56の処理、演算
などを行い、イメージ・センサ13のどの受光素子に反
射光51が照射されたのかを判断して、被測定物11の
表面の変位を検出し、その変位データ57を表示回路1
7に送出して表示している。
このようにして得られた変位データ57を表示回路17
により表示する一方で、コンパレータ15からの整形信
号56により、単安定マルチバイブレータ42をトリガ
して出力される駆動信号72を、駆動回路41に印加し
、これによって発光ダイオード23を発光せしめ、その
点滅状態からイメージ・センサ13への変位情報の有無
を確認している。
[発明が解決しようとする課題] 第3図に示した構成による従来例では、イメージ・セン
サへの被測定物からの反射光の強度の状態により、発光
ダイオードを明滅または消灯の動作をするのみであり、
イメージ・センサの受光状態による変位情報の有無は判
別することができても、イメージ・センサの受光量が適
当であるか否かを判別することはできなかった。
ところが、CCD型のイメージ・センサはMOS(メタ
ル・オキサイド・セミコンダクタ)型のイメージ・セン
サと比較したとき、過大な受光間に対して、ブルーミン
グ現象を生じ易い欠点がある。すなわち、CCD型イメ
ージ・センサにおいては、横一列に配列された多数の受
光素子よりなる受光部のごく一部の受光素子のみに光が
入射していても、その光量が増すと周辺の他の受光素子
までもが受光していないにもかかわらず受光したかのよ
うに信号を出力する状態になり、ざらに光量が増大する
と受光素子全体にブルーミング現象が拡散してしまう性
質がある。
このブルーミング現象に対処するためには、たとえば被
測定物とイメージ・センサとの間に減光フィルタを配し
たり、あるいはレーザ発振器が半導体レーザ発振器であ
れば、その出力そのものを制御することなどにより、イ
メージ・センサの受光量を常に適当に保つ必要があり、
そのためにビデオ信号をオシロスコープなどを用いて観
測し、その表示波形を逐一チエツクしながらイメージ・
センサの受光量を調節しなければならないという解決さ
れるべき課題があった。
しかも、このような方法では、用いる減光フィルタによ
り減衰される光量や、制御されるレーザ発振器の出力の
設定値が半固定的なものであるため、被測定物の照射面
の状態が変化することによりイメージ・センサの受光量
が絶えず変動するようなケースには、追従できないとい
う解決されるべき課題があった。
[課題を解決するための手段] 本発明1,1このような課題を解決するためになされた
ものであり、CCD型イメージ・センサの欠点であるブ
ルーミング現客を逆に利用し、その度合を、検出するこ
と、すなわち、イメージ・センサにより得られる電気信
号に含まれるパルス数を計数することによって、イメー
ジ・センサの受光量を最ノjい適量・過大の3つのモー
ドで判別して、これを指示するための手段を設け、ざら
には計数されたデータと設定した基準レベルとを比較し
て(qられる信号をレーザ発振器にフィードバックする
ことにより、その受光量を常に一定とするように発光量
を自動制御するための手段を設けた。
[作用] このような手段を設けたことにより、イメージ・センサ
への変位情報の有無だけでなく、その受光Gの状態の適
否をも判別することができ、加えて、被測定物の照射面
の表面状態が変化したとしても、イメージ・センサの受
光量が常に適度なレベルに保たれることになり、安定し
たしがも精度の高い変位測定が可能となった。
[実施例コ 本発明の一実施例の回路構成を第1図に示し、説明する
。ここで、第3図における対応する構成要素については
同じ記号を用いた。
第1図において、第3図に示した従来例で用いられる回
路構成と異なるところは、レーザ発振器として半導体レ
ーザ発振器10を用いているとともに、コンパレータ1
5からの整形信号56のパルス数を計数するための計数
回路20、計数回路20からの計数データ62を格納す
るための記憶回路20、記憶回路21からのデジタル計
数データ63をアナログ変換するためのD/A (デジ
タル・アナログ)変換回路22、D/A変換回路22か
らのアナログ計数データ64を受けて、半導体レーザ発
振器10の発光」を制御するための発光量制御回路19
を設け、ざらに発光ダイオード23を駆動するための構
成要素として、ウィンド・コンパレータ27、発振器2
6および2個のNANDゲート24.25を用いている
点である。
このように構成された回路の動作を、回路各部からの出
力波形を示す第2図を併用して説明する。
ここで、第2図では、(b)および(C)における波形
A、A’ はイメージ・センサ13の受光量が適度なと
きを、B、B’ は過大なときを、Cは過小なときを、
それぞれ現わしており、(k)における斜線部分は発光
ダイオード23が点灯状態にあることを示している。
第1図において、イメージ・センサ・ドライバ14より
出力されたビデオ信号55(第2図(b))はコンパレ
ータ15に入力されて、ポテンショメータ31により設
定された基準レベルで比較整形され、その整形信号56
(同図(C))は計数回路20に入力される。計数回路
20は入力された整形信号56 ゛(C)のパルス数を
(d)のリセット信号61の期間計数し、計数データ6
2を記憶回路21に格納する。このリセット信号60(
d)の前縁は制御信号54 (a)の後縁に同期してい
る。
整形信号56(C)のパルス数は、イメージ・センサ1
3の受光量に対応して変化することから、このパルス数
を計数することにより、イメージ・センサ13の受光量
に対応するデータを得ることができ、その受光状態を判
別することが可能となる。
整形信号56 (C)のパルス数を計数し終ると、ビデ
オ処理・演算制御回路16からラッチ信号61(第2図
(e))が出力され、それによって計算データ62は記
憶回路21に格納された後、読出されてD/A変換回路
22に出力され、入力されたデジタル計数データ63は
アナログ変換されて、アナログ計数データ64(同図(
f))として出力される。
このアナログ計数データ64 (f)は、発光量制御回
路19に印加されポテンショメータ32によって設定さ
れた基準レベルvSと比較し、その誤差出力でおるフィ
ードバック信号59が半導体レーザ発振器10を駆動し
てレーザ・ビーム50の光量を調整し、イメージ・セン
サ13のイメージにおける受光量は常に一定となる。
アナログ計数データ64は、ざらにウィンド・コンパレ
ータ27にも印加され、各ポテンショメータ33,34
により設定された上限値(VH)おJ:び下限値(VL
)と比較し、一方のウィンド・コンパレータ出力69(
第2図(h))はNANDゲート25に入力され、他方
のウィンド・コンパレータ出力68(同図(q))は、
発振器26およびNANDゲート24にそれぞれ入力さ
れる。
ここで、ウィンド・コンパレータ27に入力されるアナ
ログ計数データ64のレベルと各ウィンド・コンパレー
タ出力68.69のレベルとの関係は、アナログ計数デ
ータ64のレベルが、ポテンショ・メータ33.34に
より設定された上限値と下限値との間の範囲内であれば
、各ウィンド・コンパレータ出力68.69はそれぞれ
“L″。
“HIIとなり、上限値を越えるときはともにH″とな
り、下限値を下まわるときはともに“L″゛となるよう
に設定されている。
そこでアナログ計数データ64が2つの基準レベルの範
囲内のときは、各ウィンド・コンパレータ出力68.6
9はそれぞれ“L″゛、“Hpeであるので(第2図(
q)、(h)期間S1)、NANDゲート24の一方の
入力には“L ptのウィンド・コンパレータ出力68
がそのまま加わり、他方の入力には“L″゛のコンパレ
ータ出力68を受けた発振器26からの“L ttの発
振器出力67が加わり、NANDゲート出力66は“H
Itとなる(同図(i)Sl)。したがって、NAND
ゲート25には、ともに“ト1パであるNANDゲート
出力66とウィンド・コンパレータ出力69が入力され
、NANDゲート出力65は“L 11となり(第2図
(j)31)、発光ダイオード23は導通して点灯する
(同図(b)31>。
つぎに、アナログ計数データ64が上限値を越えるとき
は、各ウィンド・コンパレータ出力68゜69はともに
“H″となるので(第2図(g)。
(h)期間S2)、NANDゲート24には、“H11
のウィンド・コンパレータ出力68と“ト1″のウィン
ド・コンパレータ出力68を受けて発振する発Ji器2
6からの“H゛′、“L toに交互に変化する発振器
出力67とが入力され、NANDゲート出力66は一定
の周期で“4 Hto、“L toとなる(同図(i 
)82>。したがって、NANDゲート25には、一定
の周期で“HIZ(“L 11となるNANDゲート出
力66とH′′のウィンド・コンパレータ出力69とが
入力され、NANDゲート出力65は一定の周期で“H
zI“L Itとなり(第2図(j)S2)、発光ダイ
オード23は一定の周期でオン・オフして点滅を繰返す
(同図(k)S2>。
ざらに、アナログ計数データ64が下限値を下まわると
きは、各ウィンド・コンパレータ出力68.69はとも
に“L 11となるので(第2図(Cl>、(h)期間
S3)、NANDゲート24には“L IIのウィンド
・コンパレータ出力68と“L Hのウィンド・コンパ
レータ出力68を受けた発(辰器26からの“L Tt
の発振器出力67とが入力され、NANDゲート出力6
6は“H11となる(同図(i)33)。したがって、
NANDゲート25には、“H11のNANDゲート出
力66と“L Ifのウィンド・コンパレータ出力とが
入力され、NANDゲート出力65は“H′′となり(
第2図(j)S3)、発光ダイオード23は導通せず、
点灯しない(同図(k)33)。
このようにして、発光ダイオード23に点灯・点滅・消
灯の3つの動作モードを与えることができるので、ウィ
ンド・コンパレータ27の2つのポテンショメータ33
.34により、イメージ・センサ13の受光量が適度な
範囲内で上限値および下限値を設定すれば、イメージ・
センサ13が適度の受光量の状態にあるときは発光ダイ
オード23が点灯し、受光間が過大で上限値を越えれば
点滅し、逆に受光量が過小で下限値を下まわれば点灯し
ないことから、イメージ・センサ13の受光量を容易に
判別することができる。
このことは半導体レーザ発振器10以外のレーザ発振器
を用いてその出力を適当な手段により調整するならば、
同様の効果を実現することができる。
また、記憶回路21より読出されるデジタル係数データ
63またはD/A変換回路22からのアナログ係数デー
タ64を、出力端子35.36より取出せば、それぞれ
イメージ・センサ13の受光量そのものをデータとして
使用することができる。なお、ここではイメージ・セン
サ13の受光状態を指示する手段として発光ダイオード
23を用いて説明したが、その他にもたとえば電子ブザ
ーなどの発音装置を用いても同じ機能を実現することが
できる。
さらに、イメージ・センサ13の受光する反射光51の
強度は常に実質的に一定の最適値に調整されるものであ
るから、発光ダイオード23.ウィンド・コンパレータ
272発振器26.ナンド・ゲート24.25などの回
路を省略することも可能である。
第1図に示した例では、計数回路20の出力である計数
データ62を、記憶回路21.D/A変換回路22を介
してアナログ信号であるアナログ計数データ64として
発光量制御回路19に印加していた。しかしながら、発
光量制御回路19において、ディジタル比較器を設けて
、計数データ62を直接印加して所定値と比較するなら
ば第1図に示したものと同様の作用効果を1qることが
できることも以上の説明から明らかであろう。
なお、以上説明した構成要素以外の較正要素の動作は、
第3図に示した従来例と同じである。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明によるならば、
比較的簡単な回路構成により、オシロスコープなどの高
価格の外部機器を用いて信号観測をすることなくイメー
ジ・センサの受光間を検出し、半導体レーザ発振器にフ
ィードバックしてその受光量を一定にし、ざらにその受
光状態を発光ダイオードなどの指示手段により、発光量
過小、適量、過大の3つのモードで判別することもでき
るようにした。したがって、被測定物の表面状態がたと
え変化したとしても、イメージ・センサの受光】が常に
一定のレベルに保たれて、安定した精度の高い変位測定
を実現することができるので、本発明による効果は極め
て大きく、とりわけレーザ光が不可視光の場合は実用1
著しい効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路構成図、第2図は第1
図に示した回路各部の出力波形図、第3図は従来例の回
路構成図である。 10・・・半導体レーザ発振器 10B・・・レーザ発振器 11・・・被測定物    12・・・受光レンズ13
・・・イメージ・センサ 14・・・イメージ・センサ・ドライバ15・・・コン
バレー゛り 16・・・ビデオ処理・演算制御回路 17・・・表示回路    19・・・発光量制御回路
20・・・計数回路    21・・・記憶回路22・
・・D/A変換回路 23・・・発光ダイオード24.
25・・・NANDゲート 26・・・発振器 27・・・ウィンド・コンパレータ 31〜34・・・ポテンショメータ 35.36・・・出力端子 41・・・駆動回路 42・・・単安定マルチバイブレータ 50・・・レーザ・ビーム 51・・・反射光 52・・・駆動信号 53・・・変換信号 54・・・制御信号 55・・・ビデオ信号 56・・・整形信号 57・・・変位データ 59・・・フィードバック信号 60・・・リセット信号 61・・・ラッチ信号 62・・・計数データ 63・・・デジタル計数データ 64・・・アナログ計数データ 65.66・・・NANDゲート出力 67・・・発振器出力 68.69・・・ウィンド・コンパレータ出カフ2・・
・駆動信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  フィード・バック信号(59)によって、その出力を
    制御されるレーザ発振手段(10)と、前記レーザ発振
    手段の出力であるレーザ・ビーム(50)の被測定面か
    らの反射光(51)を集光するための集光手段(12)
    と、 前記集光手段により集光されたイメージの位置を検出し
    て出力するための多くの受光素子からなるイメージ・セ
    ンサ手段(13、14)と、前記イメージ・センサ手段
    からの各受光素子のパルス出力を受けて、所定のレベル
    と比較するためのコンパレータ手段(15)と、 前記コンパレータ手段からのパルス出力のパルス数を計
    数するための計数手段(20、21、22)と、 前記計数されたパルス数に対応した前記フィード・バッ
    ク信号を出力する発光量制御手段(19)と を含むレーザ光を利用した変位計。
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