JPH01223854A - Data transmission equipment test system - Google Patents
Data transmission equipment test systemInfo
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- JPH01223854A JPH01223854A JP63048605A JP4860588A JPH01223854A JP H01223854 A JPH01223854 A JP H01223854A JP 63048605 A JP63048605 A JP 63048605A JP 4860588 A JP4860588 A JP 4860588A JP H01223854 A JPH01223854 A JP H01223854A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はデータ伝送システムに関し、特にデータ伝送装
置の試験方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data transmission system, and particularly to a testing method for a data transmission device.
従来、データ伝送システムにおめて、１台の７０ロセツ
サからのそのプロセッサをネットワーク伝送路に直接接
続するデータ伝送装置を除くネットワーク伝送路上の各
データ伝送装置を対象とした試験は、プロセッサから試
験対象のデータ伝送装置へ試験用のフレームを送信した
後、その試験対象データ伝送装置からプロセッサへ返送
されてくる折返しフレームの内容を解析することによシ
行っていたが、試験対象のデータ伝送装置ではフ０ロセ
ンサよシ受信した試験用のフレームのデータ部のデータ
の解析は行っていなかった。Conventionally, in a data transmission system, tests for each data transmission device on a network transmission path, excluding data transmission devices that directly connect the processor from one 70 processor to the network transmission path, were performed from the processor. This was done by transmitting a test frame to the data transmission device under test and then analyzing the contents of the return frame sent back from the data transmission device under test to the processor. However, the data in the data section of the test frame received by the fluorometer was not analyzed.
上述した従来の試験方式では、試験対象のデータ伝送装
置から送信される折返しフレームの内容に異常があるこ
とをプロセッサが認識した場合。In the conventional test method described above, when the processor recognizes that there is an abnormality in the content of the return frame transmitted from the data transmission device under test.
伝送路又は試験対象のデータ伝送装置に障害があるとい
うことを認識できるだけで、その障害箇所がはたして伝
送路なのか試験対象データ伝送装置のデータ受信側回路
かデータ送信側回路かの切分けをすることはできないと
いう欠点があった。By simply recognizing that there is a fault in the transmission path or the data transmission device under test, it is possible to determine whether the fault is in the transmission path, or in the data receiving circuit or data transmitting circuit of the data transmission device under test. The drawback was that it could not be done.
本発明によるデータ伝送装置試験方式は、ローカルエリ
アネットワーク伝送路上に配置される複数のデータ伝送
装置と、該複数のデータ伝送装置の各々を介してネット
ワーク伝送路に接続されるＷ？の７０ロセノサとから成
シ、データをフレーム単位の構成で伝送するデータ伝送
システムにおいて、該複数のプロセッサの各々は、該プ
ロセッサをネットワーク伝送路に接続するデータ伝送装
置を除くネットワーク伝送路上のデータ伝送装置を試験
する為に使用する期待データをあらかじめ格納しておく
第１の期待データ格納エリアと、該試験対象データ伝送
装置に対して送信され、かつデ一夕部に前記第１の期待
データ格納エリアに格納されているデータと同一のデー
タを持つ試験用フレームを作成する試験用フレーム作成
機構と、該試験用フレームを送信する試験用フレーム送
信機構と、該試験用フレームを受信した試験対象のデー
タ伝送装置から送信され、かつ該試験対象データ伝送装
置が試１験で使用する為にあらかじめ格納しているデー
タと同一のデータをデータ部に持つ試験用折返しフレー
ムを受信する試験用折返しフレーム受信機構と、受信し
た該試験用折返しフレームのデータ部のデータと前記第
１の期待データ格納エリアに格納されているデータとを
比較する第１の比較処理機構と、該第１の比較処理機構
で比較した結果を解析する比較結果解析機構と、前記試
験対象データ伝送装置が受信した前記試験用フレームの
データ部のデータと該試験対象データ伝送装置が試験で
使用する為にあらかじめ格納しているデータとの比較結
果を報告する為に送信する試験用レスポンスフレームを
受信する試験用レスポンスフレーム受信機構と、受信し
た試験用しく６）
スポンスフレームの内容を解析する試験用レスポンスフ
レーム解析機構とを有し、前記各データ伝送装置は、前
記各７０ロセツサからネットワーク伝送路を介して送信
されてくる前記試験用フレーム全受信する試験用フレー
ム受信機構と、試験で使用する為に前記各プロセッサが
あらかじめ格納保持している期待データと同一のデータ
をあらかじめ格納しておく第２の期待データ格納エリア
と。The data transmission device testing method according to the present invention includes a plurality of data transmission devices arranged on a local area network transmission path, and a W? connected to the network transmission path via each of the plurality of data transmission devices. In a data transmission system that transmits data in a frame-by-frame structure, each of the plurality of processors transmits data on a network transmission path except for a data transmission device that connects the processor to the network transmission path. a first expected data storage area in which expected data used to test the device is stored in advance; and a first expected data storage area that is transmitted to the data transmission device under test and is stored in the data area. A test frame creation mechanism that creates a test frame with the same data as the data stored in the area, a test frame transmission mechanism that transmits the test frame, and a test frame that receives the test frame. Receiving a test return frame that is sent from a data transmission device and has the same data in the data section as the data that the data transmission device under test stores in advance for use in the first test. a first comparison processing mechanism that compares the data in the data portion of the received test return frame with the data stored in the first expected data storage area; A comparison result analysis mechanism that analyzes the comparison results, data in the data section of the test frame received by the data transmission device under test, and data stored in advance by the data transmission device under test for use in the test. 6) A test response frame receiving mechanism that receives a test response frame transmitted to report the comparison result with the test response frame, and a test response frame analysis mechanism that analyzes the contents of the received test response frame. , each of the data transmission devices includes a test frame reception mechanism that receives all of the test frames transmitted from each of the 70 processors via a network transmission path, and a test frame receiving mechanism that receives all of the test frames transmitted from each of the 70 processors via a network transmission path, and a frame that is stored and held in advance by each of the processors for use in the test. and a second expected data storage area in which data identical to the expected data currently being stored is stored in advance.
該試験用フレームを送信してきた前記各７０ロセノサに
対し送信され、かつ該第２の期待データ格納エリアに格
納されているデータと同一のデータをデータ部に持つ試
験用折返しフレームを作成する試験用折返しフレーム作
成機構と、該試験用折返しフレームを送信する試験用折
返しフレーム送信機構と、受信した試験用フレームのデ
ータ部と第２の期待データ格納エリアに格納されている
データとを比較する第２の比較処理機構と、該第２の比
較処理機構による比較結果を報告する為に試験用フレー
ムを送信してきた前記各プロセッサに送信する試、装用
レスポンスフレームを作成する試験用レスポンスフレー
ム作成機゛構と、該試験用レスポンスフレームを送信す
る試験用レスポンスフレーム送信機構とを有して因る。A test return frame for creating a test return frame having the same data in the data section as the data sent to each of the 70 locenosas that sent the test frame and stored in the second expected data storage area. A return frame creation mechanism, a test return frame transmission mechanism that transmits the test return frame, and a second test return frame transmission mechanism that compares the data section of the received test frame with the data stored in the second expected data storage area. a comparison processing mechanism, and a test response frame creation mechanism that creates a test response frame to be sent to each processor that has sent the test frame to report the comparison result by the second comparison processing mechanism. and a test response frame transmission mechanism for transmitting the test response frame.
試験を実行する該フ０ロセノサをネットワーク伝送路に
接続するデータ伝送装置を除くネットワーク伝送路上の
データ伝送装置を試験対象として前記試験用フレームを
送信し、該試験対象データ伝送装置から返送されてくる
試験用折返しフレームを受信し、該試験用折返しフレー
ムのデータ部にあるデータと該試験を実行するプロセッ
サ内にあらかじめ格納しである期待データと比較するこ
と。The test frame is sent to the data transmission device on the network transmission path other than the data transmission device that connects the data transmission device that is to be tested to the network transmission path, and the test frame is sent back from the data transmission device to be tested. Receiving a test return frame and comparing data in the data portion of the test return frame with expected data pre-stored in a processor executing the test.
及び該試験対象データ伝送装置から送信されてくる試験
用レスポンスフレームを受・信し、該試験用レスポンス
フレームのデータ部の内容ｉ解析することによシ、デー
タ伝送路及び前記試験対象データ伝送装置の障害箇所の
切分けを敏速に行う。and the test response frame transmitted from the test target data transmission device, and by analyzing the contents of the data part of the test response frame, the data transmission path and the test target data transmission device are transmitted. quickly isolate the location of the failure.
次に本発明について図面全参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to all the drawings.
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。ル
ープ状のローカルエリアネットワークの伝送路４上に配
置される複数のデータ伝送装置３−１〜３−Ｎと、これ
らのデータ伝送装置３−１〜３−Ｎに伝送路２−１〜２
−Ｎｉ介して接続される複数のプロセッサ１−１〜１−
Ｎとで構成される。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. A plurality of data transmission devices 3-1 to 3-N arranged on a transmission path 4 of a loop-shaped local area network, and transmission paths 2-1 to 2-2 connected to these data transmission devices 3-1 to 3-N.
- Multiple processors 1-1 to 1- connected via Ni
It consists of N.
フ０ロセノサ１−１〜１− Ｎｔ代表ｆるフ０ロセノサ
１−２は１期待データ格納エリア１０１と、試験用フレ
ーム作成機構１０２と、試験用フレーム送信機構１０３
と、比較結果解析機構１０４と。F0ROSENOSA 1-1 to 1- Nt representative F0ROSENOSA 1-2 has 1 expected data storage area 101, test frame creation mechanism 102, and test frame transmission mechanism 103
and the comparison result analysis mechanism 104.
比較処理機構１０５と、試験用折返しフレーム受信機構
１０６と、試験用レスポンスフレーム解析機構１０７と
、試験用レスポンスフレーム受信機構１０８と、試験用
フレーム作成機構１０２が試験用フレーム送信機構１０
３、に対して試験用フレームを送信するよう指示する制
御機構１０２１と。The comparison processing mechanism 105 , the test return frame reception mechanism 106 , the test response frame analysis mechanism 107 , the test response frame reception mechanism 108 , and the test frame creation mechanism 102 are the test frame transmission mechanism 10
3, and a control mechanism 1021 that instructs the test frame to be transmitted to the test frame.
試験用折返しフレーム受信機構１０６が比較処理機構１
０５に対して試験用折返しフレームを受信したことを通
知する制御機構１０６１と、比較処理機構１０５が比較
結果解析機構１０４に対して比較処理を完了したことを
通知する制御機構１０５１と、試験用レスポンスフレー
ム受信機構１０８が試験用レスポンスフレーム解析機構
１０７に対して試験用レスポンスフレームを受信したこ
とを通知する制御機構１０８１とを有する。The test return frame receiving mechanism 106 is the comparison processing mechanism 1.
A control mechanism 1061 notifies 05 that the test return frame has been received, a control mechanism 1051 that notifies the comparison processing mechanism 105 that the comparison result analysis mechanism 104 has completed the comparison process, and a test response. The frame reception mechanism 108 has a control mechanism 1081 that notifies the test response frame analysis mechanism 107 that the frame reception mechanism 108 has received a test response frame.
データ伝送装置３−１〜３−Ｎを代表するデータ伝送装
置３−Ｎは、試験用折返しフレーム送信機構３０１と、
試験用折返しフレーム作成機構３０２と６期待データ格
納エリア３０３と、試験用フレーム受信機構３０４と、
比較処理機構３０５と、試験用レスポンスフレーム送信
機構３０６と。The data transmission device 3-N, which is representative of the data transmission devices 3-1 to 3-N, includes a test return frame transmission mechanism 301,
A test return frame creation mechanism 302, a 6 expected data storage area 303, a test frame reception mechanism 304,
A comparison processing mechanism 305 and a test response frame transmission mechanism 306.
試験用レスポンスフレーム作成機構３０７と、試験用フ
レーム受信機構３０４が試験用折返しフレーム作成機構
３０２に対して試験用フレームを受信したことを通知す
る制御機構３０４１と、試験用折返しフレーム作成機構
３０２が試験用折返しフレーム送信機構３０１に対して
試験用折返しフレームを送信するよう指示する制御機構
３０２１と。A test response frame generation mechanism 307, a control mechanism 3041 that notifies the test return frame generation mechanism 302 that the test frame reception mechanism 304 has received a test frame, and a test response frame generation mechanism 302 that controls the test return frame generation mechanism 302. A control mechanism 3021 instructs the test return frame transmission mechanism 301 to transmit a test return frame.
試験用フレーム受信９磯構３０４が比較処理機構３０５
に対して試験用フレームを受信したことを通知する制御
機構３０４２と、比較処理機構３０５が試験用レスポン
スフレーム′作成機構３０７に対して比較処理を完了し
たことを通知する制御機構３０５１と、試験用レスポン
スフレーム作成機構３０７が試験用レスポンスフレーム
送信機構３０６に対して試験用レスポンスフレームを送
信するよう指示する制御機構３０７１とを有している。The test frame reception 9 Isokai 304 is the comparison processing mechanism 305
a control mechanism 3042 that notifies the test frame that the test frame has been received; a control mechanism 3051 that notifies the test response frame generation mechanism 307 that the comparison processing mechanism 305 has completed the comparison process; The response frame creation mechanism 307 includes a control mechanism 3071 that instructs the test response frame transmission mechanism 306 to transmit a test response frame.
また、各デ−タ伝送装置
プ伝送路４を介して伝送される情報は第２図に示すフレ
ーム形式全とる。すなわち、伝送される情報は各フレー
ムを区別するためフレームの最初と最後に特定のピット
・ぐターンで構成されるフラグ（以下、Ｆと略す）で挾
まれる。特定のビット・ぐターンＦで挾ｉｎる情報とし
ては、最初に伝送する情報の宛先を示すアドレス（以下
、ＤＡと略す）が２次に情報を伝送する送信元を示すア
ドレス（以下、ＳＡと略す）が２次に伝送する情報の種
類を示すコントロールコード（以下、 ＣＴＬと略す）
が２次に伝送する情報（以下、 ＤＡＴＡと略す）があ
る一定長で挿入され、最後に伝送フレーム全体のチエツ
クサムを計算したデータ（以下、 Ｆｅ２と略す）が付
加されることにより構成される。Further, the information transmitted via each data transmission device's transmission line 4 is entirely in the frame format shown in FIG. That is, in order to distinguish each frame, the information to be transmitted is separated by a flag (hereinafter abbreviated as F) consisting of specific pits and turns at the beginning and end of each frame. The information that is inserted in a specific bit/turn F is the address that indicates the destination of the information to be transmitted first (hereinafter referred to as DA), and the second address that indicates the source that transmits the information (hereinafter referred to as SA). A control code (hereinafter abbreviated as CTL) that indicates the type of information transmitted to the secondary
It is constructed by inserting information (hereinafter abbreviated as DATA) to be transmitted secondarily (hereinafter abbreviated as DATA) at a certain length, and finally adding data (hereinafter abbreviated as Fe2) that is the checksum of the entire transmission frame.
−例として第１図においてプロセッサ１−２によシデー
タ伝送装置３−Ｎの試験を行う方法及び試験によるルー
フ０状の伝送路４又はデータ伝送装置３−Ｎでの障害箇
所の切分けの方法について詳細に説明する。- For example, in FIG. 1, a method of testing the data transmission device 3-N by the processor 1-2 and a method of isolating the failure point in the roof-shaped transmission path 4 or the data transmission device 3-N by testing. will be explained in detail.
最初にプロセッサ１−２によりデータ伝送装置３−Ｈの
試験を行う方法について説明する。第１図において、あ
らかじめフ０ロセノサ１−２の期待データ格納エリア１
０１とデータ伝送装置３−Ｎの期待データ格納エリア３
０３に試験で使用する為の同一のデータを格納しておく
。プロセッサ１−２は、データ伝送装置３−Ｎを試験す
る為にデータ伝送装置３−Ｎに対して送信され、かつ期
待データ格納エリア１０１に格納されているデータと同
一のデータをＤＡＴＡに持つ第２図に示す形式のフレー
ム（以下、試験用フレームと略す）を試験用フレーム作
成機構１０２で作成する。試験用フレーム作成機構１０
２は試験用フレームを作成した後、制御機構１０２１を
介して試験用フレーム送信Ｗｅｔ １０３へ試験用フレ
ームの送信を指示する。試験用フレーム作成機構１０２
から試験用フレニムの送信を指示された試験用フレーム
送信機構１０３は、試験用フレーム作成機構１０２で作
成された試験用フレームを送信する。First, a method for testing the data transmission device 3-H by the processor 1-2 will be described. In Fig. 1, the expected data storage area 1 of F00 Cenosa 1-2
Expected data storage area 3 of 01 and data transmission device 3-N
The same data for use in the test is stored in 03. In order to test the data transmission device 3-N, the processor 1-2 selects a data transmission device whose DATA contains the same data as the data transmitted to the data transmission device 3-N and stored in the expected data storage area 101. A frame in the format shown in FIG. 2 (hereinafter abbreviated as a test frame) is created by the test frame creation mechanism 102. Test frame creation mechanism 10
2 creates a test frame and then instructs the test frame transmission Wet 103 via the control mechanism 1021 to transmit the test frame. Test frame creation mechanism 102
The test frame transmitting mechanism 103 , which has been instructed to transmit the test frame by the test frame generating mechanism 102 , transmits the test frame created by the test frame creating mechanism 102 .
フ０ロセノサ１−２から送信された試験用フレームは、
伝送路２−２．データ伝送装置３−２．ループ状伝送路
４を介してデータ伝送装置３−Ｎの試験用フレーム受信
機構３０４で受信される。The test frame sent from F00 Cenosa 1-2 is
Transmission line 2-2. Data transmission device 3-2. It is received by the test frame receiving mechanism 304 of the data transmission device 3-N via the loop-shaped transmission path 4.
試験用フレームを受信した試験用フレーム受信機構３０
４ば、試験用折返しフレーム作成機構３０２と比較処理
機構３０５に対して各々制御機構３０４１．３０４２を
介して試験用フレームを受信したことを通知する。制御
機構３０４１を介して試、険相フレームを受信したとい
う通知を受けた試験用折返しフレーム作成機構３０２は
、試験用フレームを送信してきたプロセッサ１−２に対
して送信され、かつ期待データ格納エリア３０３に格納
されているデータと同一のデータ’ｉ ＤＡＴＡに持つ
第２図に示す形式のフレーム（以下、試験用折返しフレ
ームと略す）を作成する。試験用折返しフレーム作成機
構３０２１ｄ試験用折返しフレームを作成した後、制御
機構３０２１’（ｉ−介して試験用折返しフレーム送信
機構３０１へ試験用折返しフレームの送信を指示する。Test frame receiving mechanism 30 that received the test frame
4) Notify the test return frame creation mechanism 302 and the comparison processing mechanism 305 that the test frame has been received via the control mechanisms 3041 and 3042, respectively. The test return frame creation mechanism 302 receives a notification that the test frame has been received via the control mechanism 3041, and sends the test frame to the processor 1-2 that has transmitted the test frame and stores it in the expected data storage area. A frame of the format shown in FIG. 2 (hereinafter abbreviated as test return frame) having the same data 'i DATA as the data stored in 303 is created. After the test return frame creation mechanism 3021d creates the test return frame, it instructs the test return frame transmission mechanism 301 to transmit the test return frame via the control mechanism 3021' (i-).
試験用折返しフレーム作成機構３０２から試験用折返し
フレームの送信を指示された試験用折返しフレーム送信
機構３０１ば。The test return frame transmitting mechanism 301 is instructed by the test return frame creation mechanism 302 to transmit the test return frame.
試験用折返しフレーム作成機構３０２で作成された試験
用折返しフレームを送信する。The test return frame created by the test return frame creation mechanism 302 is transmitted.
一方、制御機構３０４２ｉ介して試験用フレームを受信
したという通知を受けた比較処理機構３０５は、試験用
フレーム受信機構３０４で受信された試験用フレームの
ＤＡＴＡの内容と期待データ格納エリア３０３に格納さ
れているデータとを比較した後、比較処理が完了したこ
とを制御機構３０５１’ｉ介して試験用レスポンスフレ
ーム作成機構３０７へ通知する。比較処理が完了したこ
との通知を受けた試験用レスポンスフレーム作成機構３
０７は。On the other hand, the comparison processing mechanism 305, which has received a notification that the test frame has been received via the control mechanism 3042i, stores the contents of DATA of the test frame received by the test frame receiving mechanism 304 in the expected data storage area 303. After comparing the comparison processing with the data, the test response frame generation mechanism 307 is notified via the control mechanism 3051'i that the comparison process has been completed. Test response frame creation mechanism 3 receives notification that comparison processing is completed
07 is.
試験用フレームを送信してきた）０ロセノサ１−２に対
して送信され、かつ比較処理機構３０５による比較結果
をＤＡＴＡに持つ第２図に示す形式のフレーム（以下、
試験用レスポンスフレームと略す）を作成する。試験用
レスポンスフレーム作成機構３０７ば、試験用レスポン
スフレームを作成した後、制御機構３０７１に介して試
験用レスポンスフレーム送信１％［３ｏ６へ試験用レス
ポンスフレームの送信を指示する。試験用レスポンスフ
レームの送信を指示された試験用レスポンスフレーム送
信機構３０６は、試験用レスポンスフレーム作成機構３
０７で作成された試験用レスポンスフレームを送信する
。A frame in the format shown in FIG. 2 (hereinafter referred to as
(abbreviated as test response frame). After creating a test response frame, the test response frame creation mechanism 307 instructs the test response frame transmission 1% [3o6] to transmit the test response frame via the control mechanism 3071. The test response frame transmission mechanism 306 that has been instructed to transmit the test response frame sends the test response frame creation mechanism 3
Send the test response frame created in step 07.
以上によシン０ロセノサ１−２からデータ伝送装置３−
Ｎに対して試験用フレームを送信すると。From the above data transmission device 3-
When a test frame is sent to N.
試験用フレームを受信したデータ伝送装置３−Ｎば、試
１験用折返しフレーム及び試験用レスポンスフレームを
送信することになる。When the data transmission device 3-N receives the test frame, it transmits a test return frame and a test response frame.
次に、データ伝送装置３−Ｎから送信された試験用折返
しフレームは、ループ状伝送路４．データ伝送装置３−
２．伝送路２−２を介してプロセッサ１−２の試験用折
返しフレーム受信機構１０６で受信される。試験用折返
しフレームを受信した試験用折返しフレーム受信機構１
０６は、比較処理機構１０５に一対して制御機構１０６
１’ｉ介して試験用折返しフレームを受信したことを通
知する。Next, the test return frame transmitted from the data transmission device 3-N is transferred to the loop-shaped transmission path 4. Data transmission device 3-
2. It is received by the test return frame receiving mechanism 106 of the processor 1-2 via the transmission path 2-2. Test loopback frame receiving mechanism 1 that received the test loopback frame
06 is the control mechanism 106 for the comparison processing mechanism 105.
1'i to notify that the test return frame has been received.
試験用折返しフレームを受信したという通知を受けた比
較処理機構１０５は、試験用折返しフレームのＤＡＴＡ
の内容と期待データ格納エリア１０１に格納されている
データとを比較した後、比較処理が完了したことを制御
機構１０５１ｅ介して比較結果解析機構１０４．へ通知
する。比較処理が完了したことの通知を受けた比較結果
解析機構１０４ば。The comparison processing mechanism 105, which has received the notification that the test return frame has been received, stores the DATA of the test return frame.
After comparing the contents of the data stored in the expected data storage area 101 with the data stored in the expected data storage area 101, the comparison result analysis mechanism 104. Notify. The comparison result analysis mechanism 104 receives notification that the comparison process has been completed.
比較処理機構１０５で比較された結果を解析する。The comparison processing mechanism 105 analyzes the comparison results.
一方、データ伝送装置３−Ｎから送信された試験用レス
ポンスフレームは、ループ状伝送路４゜データ伝送装置
３−２．伝送路２−２を介してフ０ロセノサ１−２の試
験用レスポンスフレーム受信機構１０８で受信される。On the other hand, the test response frame transmitted from the data transmission device 3-N is transmitted through the loop-shaped transmission path 4° data transmission device 3-2. It is received by the test response frame receiving mechanism 108 of the processor 1-2 via the transmission path 2-2.
試験用レスポンスフレームを受信した試験用レスポンス
フレーム受信機構１０８ｕ、試験用レスポンスフレーム
解析機構１０７に対して制御機構１０８１ｉ介して試験
用レスポンスフレームを受信したことを通知する。試験
用レスポンスフレームを受信したという通知を受けた受
信レスポンスフレーム解析機構１０７は。The test response frame reception mechanism 108u and the test response frame analysis mechanism 107 that received the test response frame are notified via the control mechanism 1081i that the test response frame has been received. The reception response frame analysis mechanism 107 receives the notification that the test response frame has been received.
試験用レスポンスフレーム受信機構１０８で受信された
試験用レスポンスフレームのＤＡＴＡの内容を解析する
。この時点でプロセッサ１−２によるデータ伝送装置３
−Ｎに対する試験は終了する。The content of DATA of the test response frame received by the test response frame receiving mechanism 108 is analyzed. At this point, the data transmission device 3 by the processor 1-2
-Testing for N ends.
次に、前述の方法による試験の結果からループ状の伝送
路又はデータ伝送装置３−Ｎでの障害箇所の切分けの方
法について説明する。Next, a method of isolating the fault location in the loop-shaped transmission line or data transmission device 3-N based on the test results using the above-described method will be described.
前述の方法による試験において、フ０ロセソサ１−２の
試験用レスポンスフレーム解析機構１０７で試験用レス
ポンスフレームのＤＡＴＡの内容に解析することによシ
、プロセッサ１−２からデータ伝送装置３−Ｈに対して
送信された試験用フレームがデータ伝送装置３−Ｎで正
常に受信されたか判別することができる。従って、異常
があった場合は、試験用フレームがデータ伝送装置３−
Ｎに転送された経路又は、テ゛−タ伝送装置３−Ｎの受
信何回路に障害があると判断できる。又、プロセンサ１
−２の比較結果解析機構１０４で、比較処理機構１０５
で行われた比較の結果を解析することによシ、データ伝
送装置３−Ｎからプロセッサ１−２に対して送信された
試験用折返しフレームがプロセッサ１−２で正常に受信
されたか判別することができる。従って異常があった場
合は、データ伝送装置３−Ｎの送信側回路又は試験用折
返Ｌ７レームがプロセッサ１−２に転送された経路に障
害があると判断できる。以上の方法によシ。In the test using the method described above, the test response frame analysis mechanism 107 of the processor 1-2 analyzes the DATA content of the test response frame, thereby transmitting data from the processor 1-2 to the data transmission device 3-H. It can be determined whether the test frame transmitted to the data transmission device 3-N has been normally received by the data transmission device 3-N. Therefore, if there is an abnormality, the test frame is
It can be determined that there is a failure in the route transferred to the data transmission device 3-N or in the receiving circuit of the data transmission device 3-N. Also, Prosensor 1
-2 comparison result analysis mechanism 104, comparison processing mechanism 105
By analyzing the results of the comparison made in , it is determined whether the test return frame transmitted from the data transmission device 3-N to the processor 1-2 was normally received by the processor 1-2. Can be done. Therefore, if there is an abnormality, it can be determined that there is a failure in the transmitting side circuit of the data transmission device 3-N or in the path by which the test return L7 frame is transferred to the processor 1-2. Follow the above method.
障害箇所の切分けが可能となる。It becomes possible to isolate the location of the failure.
以上の説明では、プロセッサ１−２からデータ伝送装置
３−Ｎの試験全行うことにより、ルーフ０状の伝送路４
又はデータ伝送装置３−Ｎでの障害箇所の切分けが可能
となることを説明したが、プロセッサ１−２からデータ
伝送装置３−１．３−３’ｉ試験する場合でも同じこと
であることは明白である。In the above explanation, by performing all tests from the processor 1-2 to the data transmission device 3-N,
Or, it has been explained that it is possible to isolate the fault location in the data transmission device 3-N, but the same thing applies when testing the data transmission device 3-1.3-3'i from the processor 1-2. is obvious.
又、フ０ロセンサ１−２以外のプロセッサ１−１゜１−
３．１−Ｎから各々のプロセッサが直接接続されている
データ伝送装置３−１．３−３．３−Ｎ以外のデ−タ伝
送装置に対して試験する場合でも同じであることは明白
である。In addition, the processor 1-1゜1- other than the flow sensor 1-2
It is clear that the same applies even when testing data transmission equipment other than data transmission equipment 3-1.3-3.3-N to which each processor is directly connected from 3.1-N. be.
以上説明したように本発明は、１台の７０ロセノサから
、そのフ０ロセノサをネットワーク伝送路に直接接続す
るデータ伝送装置を除くネットワーク伝送路上の各デー
タ伝送装置に対して障害箇所の切分けを可能とする試験
方式を提供することによシ、保守作業が敏速に行え、工
数と時間が削減できるという効果がある。As explained above, the present invention is capable of isolating fault points from a single 70-Rosenosa to each data transmission device on a network transmission path, excluding data transmission devices that directly connect that 70-Rosenosa to the network transmission path. By providing a test method that enables this, maintenance work can be performed quickly and the number of man-hours and time can be reduced.
第１図は本発明の一実施例のルーフ０状のローカルエリ
アネットワークの構成全示すブロック図。
第２図は第１図のループ状のローカルエリアネットワー
クでデータ伝送に使用されるフレーム形式の構成を示す
図である。
１−１〜１−Ｎ・・・プロセッサ、２−１〜２−Ｎ・・
・データ伝送路、３−１〜３−Ｎ・・・データ伝送装置
、１０１゜３０３・・・期待データ格納エリア、１０５
，３０５・・・比較処理機構、１０２・・・試験用フレ
ーム作成機構。
１０３・・・試験用フレーム送信機構、１０４・・・比
較結果解析機構、１０６・・・試験用折返しフレーム受
信機構、１０７・・・試験用レスポンスフレーム解析機
構、１０８・・・試験用レスポンスフレーム受信機構、
３０１・・・試験用折返しフレーム送信機構。
３０２・・・試験用折返しフレーム作成機構、３０４・
・・試験用フレーム受信機構、３０６・・・試験用レス
ポンスフレーム送信機構、３０７・・・試験用レスポン
スフレーム作成機構、１０２１．１０５１，１０６１゜
１０８１．３０２１．３０４１，３０４２，３０５１．
３０７１・・制御機構。
第１図FIG. 1 is a block diagram showing the entire configuration of a roof-shaped local area network according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing the structure of a frame format used for data transmission in the loop-shaped local area network of FIG. 1. 1-1 to 1-N...processor, 2-1 to 2-N...
・Data transmission path, 3-1 to 3-N...Data transmission device, 101°303...Expected data storage area, 105
, 305... Comparison processing mechanism, 102... Test frame creation mechanism. 103... Test frame transmission mechanism, 104... Comparison result analysis mechanism, 106... Test return frame reception mechanism, 107... Test response frame analysis mechanism, 108... Test response frame reception mechanism,
301...Test return frame transmission mechanism. 302... test folding frame creation mechanism, 304...
... Test frame receiving mechanism, 306... Test response frame transmission mechanism, 307... Test response frame creation mechanism, 1021.1051, 1061° 1081.3021.3041, 3042, 3051.
3071...Control mechanism. Figure 1
Claims (1)
る複数のデータ伝送装置と、該複数のデータ伝送装置の
各々を介してネットワーク伝送路に接続される複数のプ
ロセッサとから成り、データをフレーム単位の構成で伝
送するデータ伝送システムにおいて、該複数のプロセッ
サの各々は、該プロセッサをネットワーク伝送路に接続
するデータ伝送装置を除くネットワーク伝送路上のデー
タ伝送装置を試験する為に使用する期待データをあらか
じめ格納しておく第１の期待データ格納エリアと、該試
験対象データ伝送装置に対して送信され、かつデータ部
に前記第１の期待データ格納エリアに格納されているデ
ータと同一のデータを持つ試験用フレームを作成する試
験用フレーム作成機構と、該試験用フレームを送信する
試験用フレーム送信機構と、該試験用フレームを受信し
た試験対象のデータ伝送装置から送信され、かつ該試験
対象データ伝送装置が試験で使用する為にあらかじめ格
納しているデータと同一のデータをデータ部に持つ試験
用折返しフレームを受信する試験用折返しフレーム受信
機構と、受信した該試験用折返しフレームのデータ部の
データと前記第１の期待データ格納エリアに格納されて
いるデータとを比較する第１の比較処理機構と、該第１
の比較処理機構で比較した結果を解析する比較結果解析
機構と、前記試験対象データ伝送装置が受信した前記試
験用フレームのデータ部のデータと該試験対象データ伝
送装置が試験で使用する為にあらかじめ格納しているデ
ータとの比較結果を報告する為に送信する試験用レスポ
ンスフレームを受信する試験用レスポンスフレーム受信
機構と、受信した試験用レスポンスフレームの内容を解
析する試験用レスポンスフレーム解析機構とを有し、前
記各データ伝送装置は、前記各プロセッサからネットワ
ーク伝送路を介して送信されてくる前記試験用フレーム
を受信する試験用フレーム受信機構と、試験で使用する
為に前記各プロセッサがあらかじめ格納保持している期
待データと同一のデータをあらかじめ格納しておく第２
の期待データ格納エリアと、該試験用フレームを送信し
てきた前記各プロセッサに対し送信され、かつ該第２の
期待データ格納エリアに格納されているデータと同一の
データをデータ部に持つ試験用折返しフレームを作成す
る試験用折返しフレーム作成機構と、該試験用折返しフ
レームを送信する試験用折返しフレーム送信機構と、受
信した試験用フレームのデータ部と第２の期待データ格
納エリアに格納されているデータとを比較する第２の比
較処理機構と、該第２の比較処理機構による比較結果を
報告する為に試験用フレームを送信してきた前記各プロ
セッサに送信する試験用レスポンスフレームを作成する
試験用レスポンスフレーム作成機構と、該試験用レスポ
ンスフレームを送信する試験用レスポンスフレーム送信
機構とを有することを特徴とするデータ伝送装置試験方
式。1. Consists of a plurality of data transmission devices arranged on a transmission path of a local area network and a plurality of processors connected to the network transmission path via each of the plurality of data transmission devices, and configures data in frames. In the data transmission system, each of the plurality of processors stores in advance expected data used to test data transmission devices on the network transmission path, excluding the data transmission device connecting the processor to the network transmission path. a first expected data storage area to be stored, and a test frame that is transmitted to the data transmission device under test and has the same data in the data section as the data stored in the first expected data storage area. A test frame creation mechanism that creates a test frame, a test frame transmission mechanism that transmits the test frame, and a test frame transmission device that receives the test frame and transmits it from the test target data transmission device, and that the test target data transmission device a test return frame receiving mechanism that receives a test return frame whose data section contains the same data as data stored in advance for use in the test return frame; a first comparison processing mechanism that compares the data stored in the first expected data storage area;
a comparison result analysis mechanism that analyzes the comparison results by the comparison processing mechanism; and a comparison result analysis mechanism that analyzes the comparison results by the comparison processing mechanism; A test response frame receiving mechanism that receives a test response frame sent to report the comparison result with stored data, and a test response frame analysis mechanism that analyzes the contents of the received test response frame. Each of the data transmission devices has a test frame receiving mechanism that receives the test frames transmitted from each of the processors via a network transmission path, and a frame that is stored in advance in each of the processors for use in the test. The second data is stored in advance with the same data as the expected data held.
an expected data storage area, and a test loopback whose data section contains the same data as the data sent to each of the processors that sent the test frame and stored in the second expected data storage area. A test return frame creation mechanism that creates a frame, a test return frame transmission mechanism that transmits the test return frame, and data stored in the data section of the received test frame and the second expected data storage area. and a test response that creates a test response frame to be sent to each processor that has sent the test frame to report the comparison result by the second comparison processing mechanism. A data transmission device testing method comprising a frame creation mechanism and a test response frame transmission mechanism that transmits the test response frame.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63048605A JPH01223854A (en) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Data transmission equipment test system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63048605A JPH01223854A (en) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Data transmission equipment test system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01223854A true JPH01223854A (en) | 1989-09-06 |
Family
ID=12808044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63048605A Pending JPH01223854A (en) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Data transmission equipment test system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01223854A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05130175A (en) * | 1991-11-06 | 1993-05-25 | Mitsubishi Electric Corp | Data transmitter |
| JP2007174135A (en) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Nec Corp | Communication system, communication device, and normality testing method used for them |
| JP2008153772A (en) * | 2006-12-14 | 2008-07-03 | Fujitsu Ltd | Relay device and communication path managing method |
| US7821952B2 (en) | 2006-03-31 | 2010-10-26 | Fujitsu Limited | Loop locating apparatus and loop locating method in layer 3 network |
-
1988
- 1988-03-03 JP JP63048605A patent/JPH01223854A/en active Pending
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| US8018864B2 (en) | 2006-12-14 | 2011-09-13 | Fujitsu Limited | Relay device and communication-path managing method |
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