JPH01205454A - リードフレーム - Google Patents

リードフレーム

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JPH01205454A
JPH01205454A JP2924688A JP2924688A JPH01205454A JP H01205454 A JPH01205454 A JP H01205454A JP 2924688 A JP2924688 A JP 2924688A JP 2924688 A JP2924688 A JP 2924688A JP H01205454 A JPH01205454 A JP H01205454A
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JP
Japan
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die pad
frame
lead frame
resin
semiconductor chip
Prior art date
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Pending
Application number
JP2924688A
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English (en)
Inventor
Koji Nose
幸之 野世
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP2924688A priority Critical patent/JPH01205454A/ja
Publication of JPH01205454A publication Critical patent/JPH01205454A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
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    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体チップを載置するダイパラI・の端部
の周囲に有機材からなる枠を取り付けたリードフレーム
に関するものである。
従来の技術 従来のリードフレームは鉄−ニッケル合金や銅合金の薄
板をプレスで打ち抜いて形成されていた。そして、この
り−l〜フレームを用いて半導体素子をパッケージに樹
脂封止していた。この方法を以下に説明する。
まず、シリコン等の半導体基板にトランジスタや抵抗等
の半導体素子が集積された半導体チップをリードフレー
ムのダイパッドに固着する。この半導体チップのダイパ
ッドへの固着は、鉄−ニッケル合金や銅合金で形成され
たリードフレームのダイパッドに銀ペースト等により貼
り付ける。すなわち、ダイパッドの半導体チップ貼り付
は面に、予め厚さカ月、5〜3μm程度の金め、つきも
しくは銀めっきを施しておき、銀ペーストで半導体チッ
プを貼り付けた後、】OO〜250 ’Cの温度て銀ペ
ーストを硬化させて半導体チップを固着させる。
次に金や銅の細線で半導体チップのボンティングバット
と、リーI・フレームのインナーリートの先端部のめっ
き膜上とを、熱圧着ワイヤーボンティング法により接続
する。
これを、160〜190 ’Cの温度に加熱された樹脂
成形用金型に装着し、金型のゲート部より溶融樹脂を注
入してキャヒティー内に満たず。溶融樹脂を充填後、3
0〜90秒間そのまま樹脂成形金型中で保持しておき、
樹脂を大体硬化させる。
そして、成形後、樹脂成形金型から取り出し、160〜
180 ’Cの温度て5〜6時間、炉内で本格的に硬化
させ、リードフレームを用いた崖導体チップの樹脂中へ
の封止を終了させる。
これにア「クターリーI・のめつき、リーI・ヘント、
マーキング加工等を施して半導体装置の組立を完する。
発明か解決しようとする課題 樹脂封止型パッケージの薄型、小型化か進むなかで、搭
載する半導体チップの素子数の大集積化も進み、その面
積が非常に大形化してきている。
その為に、樹脂封止型パッケ゛−シをプリント基板に実
装する際、半田槽中へのパッケージの浸漬て、樹脂にク
ラックか生じやすい。このクラックは、パッケージ内に
封し込んだり一部フレームと封止樹脂の線膨張係数が異
なり、急激な温度変化により特に、ダイパッドのエッヂ
やコーナーの樹脂部分に大きな歪が生しることにより発
生する。
しかも、クラックは、パッケージが吸湿しておれば、−
層重大な影響をもたらすという問題があった。
課題を解決するだめの手段 本発明のリードフレームは、リードフレームのダイパラ
I・の端部周囲に沿って耐熱性、低吸湿性および低弾性
率のポリイミド等の有機材料からなる枠を耐熱性で、か
つ、低吸湿性の高分子接着剤で取り付けた構造のもので
ある。なお、有機材料からなる枠を、断面をコの字形状
にしてダイパッドの端部に挟み込んで取り(’1(jる
。あるいは、有機材料からなる枠をダイパッドの裏面の
端部に沿ってリング状に取り付けるとともに、枠の外周
の端部かダイパッドの端部より外部に延圧した形状にす
る。
作用 本発明のり一部フレームによれば、樹脂封止型パッケー
ジに熱衝撃(例えば半田槽への浸漬等)を加えた際、ダ
イパッドの裏面のエッヂやコーナーから発生しやすいパ
ッケージ内の樹脂部のクラックをポリイミド等の低弾性
率の有機材からなる枠て阻止することができる。
実施例 以下に本発明のり一部フレームの実施例を第1図に示し
たリードフレームの平面図と第2図および第3図に示し
た樹脂新庄型パッケージの断面図を参照して説明する。
本発明のり一1〜フレームは鉄−ニッケル合金や銅合金
で作られたリードフレーム1のダイパッド3の端部に耐
熱性、低吸湿性および低弾性率のポリイミド系樹脂から
なる枠4をポリイミド等の有機接着剤5て取り付けた形
状である。枠4の形状は第2図に示すように、ダイパッ
ド3の端部のエッヂやコーナーに挟まるように断面がコ
の字形状とする。枠4の形状の他の実施例を第3図に示
す。この形状は、ダイパッド3の裏面の端部に取り付け
られたリング形状で、枠4の外周の端部がダイパッド3
の端部より200〜500μm外に付き出し、枠4の内
周の端部がダイパッド3の端部より600〜800μm
内側に存在する形状で、厚さを100〜400μmとし
た。
次に、このような形状の本発明のリードフレームを用い
て半導体装置を製造する方法を示す。
まず、本発明のリードフレーム1に、ダイパッド3とイ
ンナーリード7の先端部の表側に、金や銀のめっき8を
1.5〜3μmの厚さて施しておく。このリードフレー
ムのダイパッド3の上に半導体チップ9を、エポギシ系
樹脂やポリイミド系樹脂に銀の粉末を混ぜた銀ペースl
−10で貼り付ける。その後、100〜250℃の温度
で4〜5時間、銀ペースト10を硬化させてダイパッド
3の」−に半導体チップ9を固着させる。
−〇 − 次に、この半導体チップ9の」−のボンディングパラI
・とインナーリート7のめっき8の部分を、金や銅の細
線12て熱圧着や超音波併用熱圧着のワイヤーボンディ
ング法を用いて接続する。そして、樹脂封止金型で樹脂
成形して、樹脂封止型パッケージ2のり−1・加工前の
ものを作る。
これを、アラターリ−1・13に半田めっきと、リート
ヘント加工を施し、パッケージの表面に品番等のマーキ
ングを行って、樹脂打止型パッケージ2は完成する。こ
のようにして、組み立てられた半導体装置を熱衝撃試験
を行っても、有機材料で形成された枠によりダイパッド
の裏面のエッヂやコーーノー−からクラックが発生しな
くなる。
発明の効果 本発明のり一1〜フレームを樹脂封止型パッケージに使
用することによって、熱衝撃によりパッケージにクラッ
クが発生するのを防止することができるおともに、大面
積の半導体チップを樹脂封止型パッケージに搭載するこ
とがてきる等の効果か得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明り一部フレームの平面図、第2図は本発
明のリードフレームを用いて組み立てた樹脂封止型パッ
ケージの断面図、第3図は本発明のり一部フレームの他
の実施例を示す樹脂封止型パッケージの断面図である。 ■・・・・・リードフレーム、2・・・・・樹脂封止型
パッケージ、3・・・・・・ダイパッド、4・・・・・
枠、5・・・・・有機接着剤、7・・・・・・インナー
リート、8・・・・・・めっき、9・・・・・・半導体
チップ、10・・・・・・銀ペースト、11・・・・ボ
ンディングパット、12・・・・・・細線、13・・・
・・・アウターリート。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子を載置するダイパッドの端部に耐熱性
    、低吸湿性および低弾性率の有機材からなる枠が取り付
    けられているリードフレーム。
  2. (2)有機材からなる枠の断面が、ダイパッドの端部を
    挟み込むためにコの字形状をした請求項1記載のリード
    フレーム。
  3. (3)有機材からなる枠が、ダイパッドの裏面の端部に
    沿ってリング状に取り付けられているとともに、前記枠
    の外周の端部が前記ダイパッドの端部より外部に延圧し
    ている請求項1記載のリードフレーム。
  4. (4)有機材からなる枠が、耐熱性で、かつ、低吸湿性
    の高分子接着剤で固着されている請求項1記載のリード
    フレーム。
JP2924688A 1988-02-10 1988-02-10 リードフレーム Pending JPH01205454A (ja)

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JP2924688A JPH01205454A (ja) 1988-02-10 1988-02-10 リードフレーム

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JP2924688A Pending JPH01205454A (ja) 1988-02-10 1988-02-10 リードフレーム

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5536970A (en) * 1992-09-29 1996-07-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Resin-encapsulated semiconductor device
US6501158B1 (en) * 2000-06-22 2002-12-31 Skyworks Solutions, Inc. Structure and method for securing a molding compound to a leadframe paddle

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JPS6295993A (ja) * 1985-10-22 1987-05-02 Fuji Electric Co Ltd インバ−タの出力電圧制御方式
JPH0449884A (ja) * 1990-06-18 1992-02-19 Toshiba Corp 誘導電動機の制御装置

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