JPH01180437A - リード曲り検出方法 - Google Patents
リード曲り検出方法Info
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- JPH01180437A JPH01180437A JP529288A JP529288A JPH01180437A JP H01180437 A JPH01180437 A JP H01180437A JP 529288 A JP529288 A JP 529288A JP 529288 A JP529288 A JP 529288A JP H01180437 A JPH01180437 A JP H01180437A
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、同一平面上に規則正しく並んでいるＩＣ等
のリード曲りを検出するための方法の改良に関するもの
である。
のリード曲りを検出するための方法の改良に関するもの
である。
従来は第２図に示すように、１．Ｃ（３１のリード部（
４）の先端部（５）の斜め上方に光源（１）、二次元撮
像素子（２）を配置していた。
４）の先端部（５）の斜め上方に光源（１）、二次元撮
像素子（２）を配置していた。
この構成において、リード曲りを検出する場合には光源
（１）により、ＩＣ＋３１のリード部（４）の先端部（
５）を照射し、二次元撮像素子（２）により第３図の撮
像を得る。そして、第３図のリード先端部像団の直線性
およびピッチの乱れを、あらかじめ設定されている基準
と比較し、リード曲りを検出する。
（１）により、ＩＣ＋３１のリード部（４）の先端部（
５）を照射し、二次元撮像素子（２）により第３図の撮
像を得る。そして、第３図のリード先端部像団の直線性
およびピッチの乱れを、あらかじめ設定されている基準
と比較し、リード曲りを検出する。
従来の方法は−リード先端部という極めて狭い面積部分
を撮像するため、二次元撮像素子の受光蓋が少なく、光
源および二次元撮像素子の感度等の影響を受は易く、リ
ード曲り検出の安定性に欠けるという問題点があった。
を撮像するため、二次元撮像素子の受光蓋が少なく、光
源および二次元撮像素子の感度等の影響を受は易く、リ
ード曲り検出の安定性に欠けるという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、二次元撮像素子によりリード曲りを安定し
て検出することを目的とする。
れたもので、二次元撮像素子によりリード曲りを安定し
て検出することを目的とする。
この発明に係るリード曲り検出方法は、ＩＣのリードの
側面から光線を照射してこれを二次元撮像素子にて撮像
し、その結果を基準値と比較して上記リードの曲りを検
出するものである。
側面から光線を照射してこれを二次元撮像素子にて撮像
し、その結果を基準値と比較して上記リードの曲りを検
出するものである。
〔作用］
この発明において、リード部側面部に対する光源と二次
元撮像素子の配置により、撮像面積が広くなり、リード
部のリードピッチ間の曲りおよびリードのリード部側面
に対し直角方向への曲がり、いわゆるリードの内的り、
外曲りの撮像が安定して得られる。
元撮像素子の配置により、撮像面積が広くなり、リード
部のリードピッチ間の曲りおよびリードのリード部側面
に対し直角方向への曲がり、いわゆるリードの内的り、
外曲りの撮像が安定して得られる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、（１）は平行光源でＩＣ（３１のリード部
（４）の側面部（５）に対し光線が直角に照射されるよ
う配置されている。（２）は二次元撮像素子で。
図において、（１）は平行光源でＩＣ（３１のリード部
（４）の側面部（５）に対し光線が直角に照射されるよ
う配置されている。（２）は二次元撮像素子で。
リード部（４）の側面部（５）に対しＸ軸方向、２軸方
向のいずれにも傾きを持って配置されている。
向のいずれにも傾きを持って配置されている。
次に検査方法について説明する。第１図においてＩＣ＋
３１のリード部（４）の側面部（５）を平行光源（１）
により側面部（５）のｘ −ｚ平面に直角に照射する。
３１のリード部（４）の側面部（５）を平行光源（１）
により側面部（５）のｘ −ｚ平面に直角に照射する。
その反射光を側面部（５）のＸ軸、ｌ軸いずれにも傾き
をもつ二次元撮像素子（２）により撮像する。そしてそ
の撮像のリード部先端の直線性およびリード間ピッチの
規則性をあらかじめ設定されている基準と比較し、リー
ド曲りを検出する。
をもつ二次元撮像素子（２）により撮像する。そしてそ
の撮像のリード部先端の直線性およびリード間ピッチの
規則性をあらかじめ設定されている基準と比較し、リー
ド曲りを検出する。
また上記実施例ではＩ Ｃ＋７−ドの場合について説明
したがＩｃソケットおよび、基板コネクタ、ケーブルコ
ネクタの接続ピンであってもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
したがＩｃソケットおよび、基板コネクタ、ケーブルコ
ネクタの接続ピンであってもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、−列に整列されたリ
ードの側面から光線を照射してこれを二次元撮像素子に
て撮像し、その結果を基準値と比較して上記リードの曲
りを検出するので一リード部先端部を撮像する方式に比
較すると、面積の大きい撮像が得られることになり、リ
ードの像が安定し、リード部先端部の直線性およびリー
ド間ピッチのばらつきが判別し易くなる効果がある。
ードの側面から光線を照射してこれを二次元撮像素子に
て撮像し、その結果を基準値と比較して上記リードの曲
りを検出するので一リード部先端部を撮像する方式に比
較すると、面積の大きい撮像が得られることになり、リ
ードの像が安定し、リード部先端部の直線性およびリー
ド間ピッチのばらつきが判別し易くなる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による構成を示す斜視図、
ｉＪ ２ Ｉｌ＋は従来の構成を示す構成図、第３図は
従来の構成での撮像を示す図である。図中。 （１）は光諒、（２）は二次元撮像素子、（３）はＩＣ
１（４）はリード部、（５）は側面部である。 なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
ｉＪ ２ Ｉｌ＋は従来の構成を示す構成図、第３図は
従来の構成での撮像を示す図である。図中。 （１）は光諒、（２）は二次元撮像素子、（３）はＩＣ
１（４）はリード部、（５）は側面部である。 なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 一列に整列されたリードの側面から光線を照射してこれ
を二次元撮像素子にて撮像し、その結果を基準値と比較
して上記リードの曲りを検出することを特徴とするリー
ド曲り検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP529288A JPH01180437A (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | リード曲り検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP529288A JPH01180437A (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | リード曲り検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01180437A true JPH01180437A (ja) | 1989-07-18 |
Family
ID=11607168
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP529288A Pending JPH01180437A (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | リード曲り検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01180437A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110954552A (zh) * | 2018-09-27 | 2020-04-03 | 联合汽车电子有限公司 | 跨接线检测装置、跨接线检测系统和跨接线检测方法 |
-
1988
- 1988-01-12 JP JP529288A patent/JPH01180437A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110954552A (zh) * | 2018-09-27 | 2020-04-03 | 联合汽车电子有限公司 | 跨接线检测装置、跨接线检测系统和跨接线检测方法 |
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