JPH0116025Y2 - - Google Patents
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- JPH0116025Y2 JPH0116025Y2 JP3501582U JP3501582U JPH0116025Y2 JP H0116025 Y2 JPH0116025 Y2 JP H0116025Y2 JP 3501582 U JP3501582 U JP 3501582U JP 3501582 U JP3501582 U JP 3501582U JP H0116025 Y2 JPH0116025 Y2 JP H0116025Y2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 11
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000000415 inactivating effect Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は熱電対の極性、断線状況等熱電対の異
常を検査する検査回路に関するものである。[Detailed Description of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to an inspection circuit for inspecting thermocouple abnormalities such as polarity of the thermocouple and disconnection status.
（従来の技術）
従来における熱電対の検査方法としては第１図
に波形図を示す様に熱電対に通電加熱（加熱時間
TH）した後、熱電対を測定回路に接続して熱起
電力を測定（測定時間TT）する方法が通常用い
られている。(Prior art) As a conventional method for testing thermocouples, as shown in the waveform diagram in Figure 1, the thermocouple is heated with electricity (heating time
T H ), and then a thermocouple is connected to a measurement circuit to measure the thermoelectromotive force (measurement time T T ).
この場合リレー等を切換えて熱起電力の測定を
開始するまで（切換時間TR）に熱電対の温度が
低下し十分な熱起電力の測定が出来ないことが多
い。 In this case, the temperature of the thermocouple drops until the relay or the like is switched and measurement of thermoelectromotive force is started (switching time T R ), and sufficient thermoelectromotive force cannot be measured in many cases.
これを防止するために熱電対を高温に加熱する
とアニーリング、溶断等により熱電対を損傷する
危険がある。 If the thermocouple is heated to a high temperature to prevent this, there is a risk of damaging the thermocouple due to annealing, melting, etc.
更にこの方法においては熱電対の熱起電力の測
定は１回且つ短時間に行われるためにこの間のノ
イズに弱いという問題をも有する。 Furthermore, this method has the problem that the thermoelectromotive force of the thermocouple is measured once and in a short period of time, making it susceptible to noise during this period.
（考案が解決しようとする問題点）
本考案は以上の従来の問題を解決し、熱電対を
損傷することなく極性、断線状況等熱電対の異常
を確実に検査可能な熱電対の検査回路の提供を目
的とする。(Problems to be solved by the invention) The present invention solves the above conventional problems and provides a thermocouple inspection circuit that can reliably inspect thermocouple abnormalities such as polarity and disconnection without damaging the thermocouple. For the purpose of providing.
（問題点を解決するための手段）
本考案は以上の目的達成のために交流電源から
供給される電圧を所定の値にする変圧回路と、該
変圧回路に一端が接続された整流手段と、該整流
手段の他端に接続され熱電対に設定値以内の電流
を流す電流調整回路と、熱電対の熱起電力及び抵
抗により設定される所定電圧がスイツチにより交
互に入力され入力側へのもれ電流を有する増幅回
路と、該増幅回路の出力がスイツチにより交互に
入力される整流回路と、該整流回路の出力を比較
する比較回路と、該比較回路による比較の結果を
表示する表示手段と、前記スイツチを連動して交
流電源に同期して切換えるスイツチング回路とか
らなる熱電対の検査回路を提案するものである。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above objects, the present invention provides a transformer circuit that adjusts the voltage supplied from an AC power source to a predetermined value, a rectifier having one end connected to the transformer circuit, A current adjustment circuit is connected to the other end of the rectifying means and flows a current within a set value to the thermocouple, and a predetermined voltage set by the thermoelectromotive force and resistance of the thermocouple is alternately inputted to the input side by a switch. a rectifying circuit to which the output of the amplifying circuit is alternately inputted by a switch; a comparator circuit for comparing the outputs of the rectifying circuit; and a display means for displaying the results of the comparison by the comparator circuit. The present invention proposes a thermocouple inspection circuit comprising a switching circuit that interlocks the switch and switches the switch in synchronization with an AC power supply.
（作用）
本考案の熱電対の検査回路は実用新案登録請求
の範囲に記載した構成であり、特に熱電対は整流
手段により周期的に通電加熱されると共に比較回
路により加熱休止中の熱起電力が周期的に測定さ
れるため、ノイズに邪魔されることなく熱電対の
極性、断線状況等熱電対の異常が確実に検査され
る。(Function) The thermocouple inspection circuit of the present invention has the configuration described in the claims of the utility model registration, and in particular, the thermocouple is periodically heated by current through the rectifying means, and the thermoelectromotive force generated by the comparison circuit during heating is stopped. Since it is measured periodically, thermocouple abnormalities such as thermocouple polarity and disconnection can be reliably inspected without being disturbed by noise.
本考案の熱電対の検査回路は同上の構成であ
り、特に熱起電力を比較する基準電圧は熱起電力
を増幅するのと同一の増幅回路により増幅された
ものであるために、増幅回路の温度上昇等による
増幅率の変化に左右されることなく確実な検査を
行うことが出来る。 The thermocouple inspection circuit of the present invention has the same configuration as above, and in particular, since the reference voltage for comparing the thermoelectromotive force is amplified by the same amplifier circuit that amplifies the thermoelectromotive force, Reliable inspection can be performed without being affected by changes in the amplification factor due to temperature rise, etc.
（実施例）
本考案の熱電対の検査回路を図面に示す実施例
に従い以下説明する。(Example) A thermocouple inspection circuit of the present invention will be described below according to an example shown in the drawings.
第２図は本考案の熱電対の検査回路を示し、該
検査回路は交流電源から供給される電圧を所定の
値にする変圧回路１を有する。 FIG. 2 shows a thermocouple testing circuit according to the present invention, which has a transformer circuit 1 that adjusts the voltage supplied from the AC power source to a predetermined value.
該変圧回路１はダイオード等の整流手段２を介
して電流調整回路３の一端に接続される。 The transformer circuit 1 is connected to one end of a current regulating circuit 3 via a rectifying means 2 such as a diode.
電流調整回路３は他端において熱電対５に接続
されて、設定値（例えば熱電対５を損傷しない
値）以内において熱電対５に加熱電流を供給する
ものである。 The current regulating circuit 3 is connected at the other end to the thermocouple 5 and supplies a heating current to the thermocouple 5 within a set value (for example, a value that does not damage the thermocouple 5).
次に熱電対５は電流調整回路３と共にスイツチ
８の一方の固定端子にも接続される。 Next, the thermocouple 5 is connected to one fixed terminal of the switch 8 together with the current regulating circuit 3.
スイツチ８は他方の固定端子において抵抗７
に、又可動端子において増幅回路１１に接続され
る。 Switch 8 is connected to resistor 7 at the other fixed terminal.
In addition, it is connected to the amplifier circuit 11 at the movable terminal.
増幅回路は１１は入力側へのもれ電流を有する
回路が用いられその他端は一対の整流回路１２，
１３の一端に選択的に接続するスイツチ９の可動
端子に接続される。 In the amplifier circuit 11, a circuit having a leakage current to the input side is used, and at the other end, a pair of rectifier circuits 12,
It is connected to a movable terminal of switch 9 which is selectively connected to one end of switch 13.
スイツチ８，９は有接点又は無接点（FET、
フオトカプラー、トランジスター等）で構成さ
れ、スイツチング回路６により連動して切換えら
れる。 Switches 8 and 9 are contact or non-contact (FET,
(photocoupler, transistor, etc.), and are switched in conjunction with each other by a switching circuit 6.
スイツチング回路６は変圧回路１と整流手段２
との接続路に接続されて、交流電源に同期してス
イツチ８，９を切換えるものである。 The switching circuit 6 includes a transformer circuit 1 and a rectifier 2.
The switches 8 and 9 are connected to the connection path with the AC power supply and are switched 8 and 9 in synchronization with the AC power source.
整流回路１２，１３は増幅回路１１からの交流
電圧を整流して、他端に接続された比較回路１５
に供給する。 The rectifier circuits 12 and 13 rectify the AC voltage from the amplifier circuit 11, and the comparator circuit 15 connected to the other end
supply to.
比較回路１５は整流回路１２，１３からの直流
電圧を比較して結果をブザー、発光ダイオード等
表示手段１６に表示させるものである。 The comparison circuit 15 compares the DC voltages from the rectifier circuits 12 and 13 and displays the result on a display means 16 such as a buzzer or a light emitting diode.
以上の実施例に示した本考案の検査回路の作用
を次に説明する。 The operation of the test circuit of the present invention shown in the above embodiments will now be described.
すなわち交流電源からの交流電圧は変圧回路１
により所定の電圧にされた後整流手段２により半
波整流される。 In other words, the AC voltage from the AC power supply is transferred to the transformer circuit 1.
After the voltage is set to a predetermined voltage, the voltage is half-wave rectified by the rectifying means 2.
半波整流された電圧は電流調整回路３により電
流を設定値以内に押えられて熱電対５に供給され
る。 The half-wave rectified voltage is supplied to the thermocouple 5 with the current suppressed within a set value by the current adjustment circuit 3.
熱電対５はこれにより断続的に加熱されるが、
電流調整回路３からの加熱電流の休止中は加熱に
よる温度上昇により熱起電力を発生する。 The thermocouple 5 is intermittently heated by this, but
While the heating current from the current adjustment circuit 3 is stopped, a thermoelectromotive force is generated due to the temperature rise due to heating.
従つて熱電対５と電流調整回路３との接続路Ｐ
に生じる出力波形は第３図に示す状態になる。 Therefore, the connection path P between the thermocouple 5 and the current adjustment circuit 3
The resulting output waveform is as shown in FIG.
すなわち電流調整回路３からの加熱電圧ｆと、
熱電対５の熱起電力g1又はh1とが交互に繰返され
た状態になる。 That is, the heating voltage f from the current adjustment circuit 3,
The thermoelectromotive force g 1 or h 1 of the thermocouple 5 is alternately repeated.
ここで熱起電力g1又はh1は熱電対５の極性（負
極性の場合をg1、正極性の場合をh1とする）に対
応したものである。 Here, the thermoelectromotive force g 1 or h 1 corresponds to the polarity of the thermocouple 5 (g 1 for negative polarity and h 1 for positive polarity).
第２図に戻つてスイツチング回路６は交流電源
に同期してスイツチ８，９を連動して切換える。 Returning to FIG. 2, the switching circuit 6 switches the switches 8 and 9 in synchronization with the AC power source.
従つてスイツチ８により熱電対５と増幅回路１
１とが接続された際には、増幅回路１１と整流回
路１２とが接続される。 Therefore, the thermocouple 5 and the amplifier circuit 1 are connected by the switch 8.
1 is connected, the amplifier circuit 11 and the rectifier circuit 12 are connected.
この接続状態は熱電対５への電流調整回路３か
らの加熱電流の休止期間に対応する様に調整され
る。 This connection state is adjusted to correspond to the period during which the heating current from the current adjustment circuit 3 to the thermocouple 5 is suspended.
すなわち接続路Ｐに熱電対５の熱起電力g1又は
h1が生じる際に、熱電対５はスイツチ８、増幅回
路１１及びスイツチ９を介して整流回路１２に接
続される。 In other words, the thermoelectromotive force g 1 of the thermocouple 5 or
When h 1 occurs, the thermocouple 5 is connected to the rectifier circuit 12 via the switch 8, the amplifier circuit 11 and the switch 9.
従つて熱電対５の熱起電力g1又はh1は増幅回路
１１によりバイアス電圧を付加されると共に増幅
されて整流回路１２に供給される。 Therefore, the thermoelectromotive force g 1 or h 1 of the thermocouple 5 is applied with a bias voltage by the amplifier circuit 11 and is amplified and supplied to the rectifier circuit 12 .
次にスイツチ８が切換えられて抵抗７が増幅回
路１１に接続された際には、スイツチ９も切換え
られて増幅回路１１が整流回路１３に接続され
る。 Next, when switch 8 is switched to connect resistor 7 to amplifier circuit 11, switch 9 is also switched to connect amplifier circuit 11 to rectifier circuit 13.
この接続状態は熱電対５に電流調整回路３から
加熱電流が供給される期間に対応している。 This connection state corresponds to a period in which the heating current is supplied to the thermocouple 5 from the current adjustment circuit 3.
従つて熱電対５の加熱期間において増幅回路１
１は抵抗７に接続され、抵抗７に流される入力側
のもれ電流に対応した所定電圧は増幅回路１１に
より増幅されて整流回路１３に供給される。 Therefore, during the heating period of the thermocouple 5, the amplifier circuit 1
1 is connected to a resistor 7 , and a predetermined voltage corresponding to the leakage current on the input side flowing through the resistor 7 is amplified by an amplifier circuit 11 and supplied to a rectifier circuit 13 .
以上の結果、増幅回路１１とスイツチ９との接
続路Ｑに生じる出力波形は第４図に示す状態にな
る。 As a result of the above, the output waveform generated on the connection path Q between the amplifier circuit 11 and the switch 9 becomes the state shown in FIG.
すなわち抵抗７により設定された所定電圧を増
幅して得られた電圧ｌと、熱電対５の熱起電力を
増幅して得られた電圧g2又はh2とが交互に繰返さ
れることになる（電圧ｌは電圧g2及びh2の中間の
値になる様調整される。）
スイツチ９により電圧g2又はh2は整流回路１２
に、電圧ｌは整流回路１３に各々選択的に接続さ
れる。 That is, the voltage l obtained by amplifying the predetermined voltage set by the resistor 7 and the voltage g 2 or h 2 obtained by amplifying the thermoelectromotive force of the thermocouple 5 are alternately repeated ( Voltage l is adjusted to a value intermediate between voltages g2 and h2 .) Voltage g2 or h2 is adjusted by switch 9 to rectifier circuit 12.
The voltage l is selectively connected to the rectifier circuit 13 respectively.
整流回路１２，１３は断続的に供給されるこれ
らの電圧を整流して比較回路１５に供給する。 The rectifier circuits 12 and 13 rectify these voltages that are intermittently supplied and supply them to the comparison circuit 15.
比較回路１５は整流回路１３からの基準電圧
（電圧ｌに基く）と、整流回路１２からの電圧g2
又はh2（熱起電力に基く）の整流値とを比較して
表示手段１６に結果を表示させる。 The comparison circuit 15 uses the reference voltage (based on the voltage l) from the rectifier circuit 13 and the voltage g 2 from the rectifier circuit 12.
Alternatively, the result is displayed on the display means 16 by comparing with the rectified value of h 2 (based on thermoelectromotive force).
これにより熱電対５の極性、断線状況等熱電対
の異常が表示されることになる。 As a result, abnormalities of the thermocouple such as the polarity of the thermocouple 5 and disconnection status are displayed.
第５図は第２図にブロツク図を示した検査回路
の具体的構成の一例を示す。 FIG. 5 shows an example of a specific configuration of the test circuit whose block diagram is shown in FIG.
すなわち変圧回路１は図示の通りであり、整流
手段２としてダイオード１７が用いられている。 That is, the transformer circuit 1 is as shown in the figure, and a diode 17 is used as the rectifying means 2.
電流調整回路３は可変抵抗１９とトランジスタ
ー１８とにより構成されている。 The current adjustment circuit 3 is composed of a variable resistor 19 and a transistor 18.
増幅回路１１等の駆動用に定電圧設定回路４が
設けられ、該定電圧設定回路４は変圧後の交流電
圧をダイオード２０及びコンデンサー２２により
整流して電圧設定器２１により所定電圧にするも
のである。 A constant voltage setting circuit 4 is provided for driving the amplifier circuit 11 and the like, and the constant voltage setting circuit 4 rectifies the transformed alternating current voltage using a diode 20 and a capacitor 22, and sets it to a predetermined voltage using a voltage setting device 21. be.
次にスイツチ８であるが、発光ダイオード４
７，４８及びこれにより開閉されるスイツチ路４
５，４６が内蔵されたFETが用いられている。 Next is the switch 8, which is the light emitting diode 4.
7, 48 and the switch path 4 opened and closed thereby
A FET with built-in transistors 5 and 46 is used.
スイツチ９も同様FETが用いられ、スイツチ
８，９の発光ダイオード４７，４８，５４，５５
はスイツチング回路６により駆動される。 The switch 9 also uses an FET, and the light emitting diodes 47, 48, 54, 55 of the switches 8 and 9
is driven by the switching circuit 6.
このスイツチング回路６は交流電源に同期して
発光ダイオード４７，４８，５４，５５を点滅す
ることになる。 This switching circuit 6 causes the light emitting diodes 47, 48, 54, and 55 to blink in synchronization with the AC power source.
次に整流回路１２であるが、これはダイオード
４０とコンデンサー４１により構成される。 Next is the rectifier circuit 12, which is composed of a diode 40 and a capacitor 41.
同様に整流回路１３はダイオード４２とコンデ
ンサー４３により構成される。 Similarly, the rectifier circuit 13 is composed of a diode 42 and a capacitor 43.
次に入力側へのもれ電流を有する増幅回路１１
であるが、スイツチ路４５を介して熱電対５に接
続され定電圧設定回路４からバイアス電圧が付加
されるオペレーシヨナルアンプ等の増幅器５０が
用いられている。 Next, an amplifier circuit 11 having a leakage current to the input side
However, an amplifier 50 such as an operational amplifier connected to the thermocouple 5 via a switch path 45 and to which a bias voltage is applied from the constant voltage setting circuit 4 is used.
次に比較回路１５であるが、これには３つのコ
ンパレータ２９，３３，３７が用いられている。 Next is the comparison circuit 15, which uses three comparators 29, 33, and 37.
まずコンパレーター２９は熱電対５に接続され
て、熱電対５の断線状況を判断するものである。 First, the comparator 29 is connected to the thermocouple 5 and determines whether the thermocouple 5 is disconnected.
次にコンパレーター３３，３７は共に整流回路
１２からの電圧と整流回路１３からの電圧とを比
較するものである。 Next, the comparators 33 and 37 both compare the voltage from the rectifier circuit 12 and the voltage from the rectifier circuit 13.
コンパレーター３３は抵抗７に基く基準電圧よ
り熱電対５の熱起電力が小さい（熱電対５が負極
性）か否かを判断するものである。 The comparator 33 determines whether the thermoelectromotive force of the thermocouple 5 is smaller than the reference voltage based on the resistor 7 (the thermocouple 5 has negative polarity).
一方、コンパレーター３７は抵抗７に基く基準
電圧より熱電対５の熱起電力が大きい（熱電対５
が正極性）が否かを判断するものである。 On the other hand, the comparator 37 indicates that the thermoelectromotive force of the thermocouple 5 is larger than the reference voltage based on the resistor 7 (thermocouple 5
is positive polarity).
次に表示手段１６であるが、これには３つの発
光ダイオード３０，３６，３８とブザー３５とが
用いられている。 Next is the display means 16, which uses three light emitting diodes 30, 36, 38 and a buzzer 35.
まず発光ダイオード３０はコンパレーター２９
に接続されて熱電対５が断線していない場合に発
光するものである。 First, the light emitting diode 30 is connected to the comparator 29
It emits light when the thermocouple 5 is connected to the thermocouple 5 and the thermocouple 5 is not disconnected.
次に発光ダイオード３６及びブザー３５はコン
パレーター３３に接続されて熱電対５が負極性の
場合に発光及び鳴るものである。 Next, a light emitting diode 36 and a buzzer 35 are connected to the comparator 33 and emit light and sound when the thermocouple 5 has negative polarity.
次に発光ダイオード３８はコンパレーター３７
に接続されて熱電対５が正極性の場合に発光する
ものである。 Next, the light emitting diode 38 is connected to the comparator 37
When the thermocouple 5 is connected to a positive polarity, it emits light.
次に表示手段１６にトランジスター３２が設け
られているが、これは熱電対５の断線時には発光
ダイオード３６，３８及びブザー３５を作動させ
ないためのスイツチとして機能するものである。 Next, the display means 16 is provided with a transistor 32, which functions as a switch for inactivating the light emitting diodes 36, 38 and the buzzer 35 when the thermocouple 5 is disconnected.
（考案の効果）
本考案の熱電対の検査回路は以上の構成、作用
において次の効果を有する。(Effects of the invention) The thermocouple inspection circuit of the invention has the following effects in the above configuration and operation.
(1) 本考案の熱電対の検査回路は実用新案登録請
求の範囲に記載した構成であり、特に熱電対は
整流手段により周期的に通電加熱されると共に
比較回路により加熱休止中の熱起電力が周期的
に測定されるため、ノイズに邪魔されることな
く熱電対の極性、断線状況等熱電対の異常が確
実に検査される。(1) The thermocouple inspection circuit of the present invention has the configuration described in the claims for utility model registration, and in particular, the thermocouple is periodically heated by current through a rectifying means, and a thermoelectromotive force is generated by a comparison circuit during heating cessation. Since this is measured periodically, thermocouple abnormalities such as thermocouple polarity and disconnection can be reliably inspected without being disturbed by noise.
(2) 本考案の熱電対の検査回路は同上の構成であ
り、特に熱起電力を比較する基準電圧は熱起電
力を増幅するのと同一の増幅回路により増幅さ
れたものであるために、増幅回路の温度上昇等
による増幅率の変化に左右されることなく確実
な検査を行うことが出来る。(2) The thermocouple inspection circuit of the present invention has the same configuration as above, and in particular, since the reference voltage for comparing the thermoelectromotive force is amplified by the same amplifier circuit that amplifies the thermoelectromotive force, Reliable inspection can be performed without being affected by changes in the amplification factor due to temperature rise of the amplifier circuit, etc.
第１図は従来の検査方法を示す波形図、第２図
は本考案の検査回路のブロツク図、第３図は第２
図接続路Ｐの出力波形図、第４図は同上接続路Ｑ
の出力波形図、第５図は本考案の検査回路の具体
的構成の一例を示す回路図。
１……変圧回路（TR）、２……整流手段、３…
…電流調整回路（IC）、４……定電圧設定回路、
５……熱電対、６……スイツチング回路（SW）、
７……抵抗、８，９……スイツチ、１１……増幅
回路（AMP）、１２，１３……整流回路（RF）、
１５……比較回路（CMP）、１６……表示手段
（IND）、１７……ダイオード、１８……トラン
ジスター、１９……可変抵抗、２０……ダイオー
ド、２１……電圧設定器、２２……コンデンサ
ー、２９……コンパレーター、３０……発光ダイ
オード、３２……トランジスター、３３……コン
パレーター、３５……ブザー、３６……発光ダイ
オード、３７……コンパレーター、３８……発光
ダイオード、４０……ダイオード、４１……コン
デンサー、４２……ダイオード、４３……コンデ
ンサー、４５，４６……スイツチ路、４７，４８
……発光ダイオード、５０……増幅器、５２，５
３……スイツチ路、５４，５５……発光ダイオー
ド、Ｐ，Ｑ……接続器、ｆ，ｌ，h1，h2，g1，g2
……出力波形。
Fig. 1 is a waveform diagram showing the conventional testing method, Fig. 2 is a block diagram of the testing circuit of the present invention, and Fig. 3 is a waveform diagram showing the conventional testing method.
Figure 4 is an output waveform diagram of connecting path P, and Figure 4 is the same as above connecting path Q.
FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a specific configuration of the test circuit of the present invention. 1... Transformer circuit (T R ), 2... Rectifying means, 3...
...Current adjustment circuit (IC), 4... Constant voltage setting circuit,
5...Thermocouple, 6...Switching circuit (SW),
7...Resistor, 8,9...Switch, 11...Amplification circuit (AMP), 12,13...Rectifier circuit (RF),
15... Comparison circuit (CMP), 16... Display means (IND), 17... Diode, 18... Transistor, 19... Variable resistor, 20... Diode, 21... Voltage setting device, 22... Capacitor , 29... Comparator, 30... Light emitting diode, 32... Transistor, 33... Comparator, 35... Buzzer, 36... Light emitting diode, 37... Comparator, 38... Light emitting diode, 40... Diode, 41... Capacitor, 42... Diode, 43... Capacitor, 45, 46... Switch path, 47, 48
...Light emitting diode, 50 ...Amplifier, 52,5
3... Switch path, 54, 55... Light emitting diode, P, Q... Connector, f, l, h 1 , h 2 , g 1 , g 2
...Output waveform.
Claims (1)
変圧回路と、該変圧回路に一端が接続された整流
手段と、該整流手段の他端に接続され熱電対に設
定値以内の電流を流す電流調整回路と、熱電対の
熱起電力及び抵抗により設定される所定電圧がス
イツチにより交互に入力され入力側へのもれ電流
を有する増幅回路と、該増幅回路の出力がスイツ
チにより交互に入力される整流回路と、該整流回
路の出力を比較する比較回路と、該比較回路によ
る比較の結果を表示する表示手段と、前記スイツ
チを連動して交流電源に同期して切換えるスイツ
チング回路とからなる熱電対の検査回路。 A transformer circuit that adjusts the voltage supplied from an AC power source to a predetermined value, a rectifier connected at one end to the transformer circuit, and a current connected to the other end of the rectifier to flow a current within the set value to the thermocouple. An adjustment circuit, an amplifier circuit in which a predetermined voltage set by the thermoelectromotive force of a thermocouple and a resistance is alternately inputted by a switch, and a leakage current to the input side, and an output of the amplifier circuit is alternately inputted by a switch. A thermoelectric generator comprising a rectifier circuit, a comparator circuit that compares the output of the rectifier circuit, display means that displays the results of the comparison by the comparator circuit, and a switching circuit that interlocks the switch and switches the switch in synchronization with the AC power source. Pair test circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3501582U JPS58138047U (en) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | Thermocouple inspection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3501582U JPS58138047U (en) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | Thermocouple inspection circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58138047U JPS58138047U (en) | 1983-09-17 |
| JPH0116025Y2 true JPH0116025Y2 (en) | 1989-05-12 |
Family
ID=30046502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3501582U Granted JPS58138047U (en) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | Thermocouple inspection circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58138047U (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8118484B2 (en) * | 2009-03-31 | 2012-02-21 | Rosemount Inc. | Thermocouple temperature sensor with connection detection circuitry |
-
1982
- 1982-03-12 JP JP3501582U patent/JPS58138047U/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58138047U (en) | 1983-09-17 |
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