JPH01113993A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPH01113993A JPH01113993A JP62272111A JP27211187A JPH01113993A JP H01113993 A JPH01113993 A JP H01113993A JP 62272111 A JP62272111 A JP 62272111A JP 27211187 A JP27211187 A JP 27211187A JP H01113993 A JPH01113993 A JP H01113993A
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- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract description 6
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
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- G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は半導体集積回路に関するものであり、特にデー
タ読み出しく出力)にともない大きな電源ノイズを発生
する高速半導体メモリにおいて使用されるものである。
タ読み出しく出力)にともない大きな電源ノイズを発生
する高速半導体メモリにおいて使用されるものである。
(従来の技術)
この種の半導体集積回路において、半導体メモリのデー
タ読み出し時には、出力負荷を高速に充放電することに
よる接地電位V の変動、即ちs 出力ノイズを発生する。このうちデータ“0“を読み出
す場合、チップ内接地電位V に向かい、S 出力負荷から放電された電荷が流入するため、V は0
7以上の電位にオーバーシュートする。
タ読み出し時には、出力負荷を高速に充放電することに
よる接地電位V の変動、即ちs 出力ノイズを発生する。このうちデータ“0“を読み出
す場合、チップ内接地電位V に向かい、S 出力負荷から放電された電荷が流入するため、V は0
7以上の電位にオーバーシュートする。
S
このオーバーシュートが、アドレス入力またはクロック
ピン入力を取り込む入力バッファ回路に重畳すると、こ
の回路に誤動作を生じる可能性がある。
ピン入力を取り込む入力バッファ回路に重畳すると、こ
の回路に誤動作を生じる可能性がある。
(発明が解決しようとする問題点)
従来技術による入力バッファ回路1と出力バッファ回路
2の一例を第3図に示す。入力バッファ1はCMOSシ
ュミットトリガ−型を仮定しているが、CMOSインバ
ータ型を用いても、あるいはNHO3回路構成としても
以下の現象は同様に生ずる0図中破線内3が半導体チッ
プを示す、Noはチップ外に設けられた接地電位、N
はN。からチップ外配線によるインダクタンスL[X、
及び外部導出ピンN4からチップ内ポンディングパッド
4の間に介在する寄生インダクタンス1と寄生抵抗rを
通してチップ3に供給されるvSSs位である。
2の一例を第3図に示す。入力バッファ1はCMOSシ
ュミットトリガ−型を仮定しているが、CMOSインバ
ータ型を用いても、あるいはNHO3回路構成としても
以下の現象は同様に生ずる0図中破線内3が半導体チッ
プを示す、Noはチップ外に設けられた接地電位、N
はN。からチップ外配線によるインダクタンスL[X、
及び外部導出ピンN4からチップ内ポンディングパッド
4の間に介在する寄生インダクタンス1と寄生抵抗rを
通してチップ3に供給されるvSSs位である。
N2はデータ“0パを読み出ずため、出力ノードN3を
v、Sに接続する出力負荷C4の駆動トランジスタ′r
1のゲート入力である。Aはピン入力信号であり、上記
アドレス入力またはタロツクピン入力に相当する。Ai
nは入力バッファーを介して発生ずるチップ内信号であ
り、Aと同相・同論理である。R8はAのポンディング
パッド5と入力バッファーの間に寄生ずる配線抵抗、C
8は配線8景(対半導体基板) 、 Ilo、110は
チップ内データバスである。T 〜T5は入力バッファ
のトランジスタ、6はインバータ、7はデータ出力バッ
ファ2の制御部、T7は出力バッファ2のデータ″1”
出力用の駆動トランジスタである。
v、Sに接続する出力負荷C4の駆動トランジスタ′r
1のゲート入力である。Aはピン入力信号であり、上記
アドレス入力またはタロツクピン入力に相当する。Ai
nは入力バッファーを介して発生ずるチップ内信号であ
り、Aと同相・同論理である。R8はAのポンディング
パッド5と入力バッファーの間に寄生ずる配線抵抗、C
8は配線8景(対半導体基板) 、 Ilo、110は
チップ内データバスである。T 〜T5は入力バッファ
のトランジスタ、6はインバータ、7はデータ出力バッ
ファ2の制御部、T7は出力バッファ2のデータ″1”
出力用の駆動トランジスタである。
第4図は第3図の動作波形を示す。いまピン人力Aが高
論理レベルvIHで与えられ、Aioが高電位である場
合を仮定する。このとき、データ“0″を出力するため
に出力バッファの駆動トランジスタT のゲート入力N
2が高電位となり、トランジスタT がオンし、ノルド
N3を急速に放電すす る電流I を生ずると、■ とrの積、及びout
out ■ の時間的増分dI /dtとNl−+−r、
Ex」out out
の積との和によって、V (N )はN。に対しs
s 1 てオーバーシュ−トする。一方Aはチップ外からの入力
信号であり、出力インピーダンスの低い入力発生回路か
ら供給されるため、チップ内のノイズの影響をほとんど
受けない。従って、入力バッファのトランジスタT5の
ゲート、ソース間電位「vItl−v、ss’、は、入
力バッファの低論理レベルVIt(VIIIと”ss間
にある)を下回るまで小さく照)従来はこのグリッチ1
1を除去するためにVIHを十分高く設定する必要があ
り、Vlllのマージンを大きく損なう問題を生じてい
た。
論理レベルvIHで与えられ、Aioが高電位である場
合を仮定する。このとき、データ“0″を出力するため
に出力バッファの駆動トランジスタT のゲート入力N
2が高電位となり、トランジスタT がオンし、ノルド
N3を急速に放電すす る電流I を生ずると、■ とrの積、及びout
out ■ の時間的増分dI /dtとNl−+−r、
Ex」out out
の積との和によって、V (N )はN。に対しs
s 1 てオーバーシュ−トする。一方Aはチップ外からの入力
信号であり、出力インピーダンスの低い入力発生回路か
ら供給されるため、チップ内のノイズの影響をほとんど
受けない。従って、入力バッファのトランジスタT5の
ゲート、ソース間電位「vItl−v、ss’、は、入
力バッファの低論理レベルVIt(VIIIと”ss間
にある)を下回るまで小さく照)従来はこのグリッチ1
1を除去するためにVIHを十分高く設定する必要があ
り、Vlllのマージンを大きく損なう問題を生じてい
た。
本発明は、上記の入力レベル■IHのマージン低下を防
ぎ、データ出力ノイズにともなうチップ内回路の誤動作
を防止することを目的としている。
ぎ、データ出力ノイズにともなうチップ内回路の誤動作
を防止することを目的としている。
[発明の構成]
〈問題点を解決するための手段と作用〉本発明は、半導
体チップ内に形成されたデータ出力バッファ回路の負荷
駆動トランジスタのソースに独立に接地電位を供給する
接地電位供給経路を前記チップ内に設け、前記接地電位
供給経路をチップの入力信号の入力経路と容量結合させ
、かつ前記入力経路を、抵抗を介して入力パッドに接続
させてなり、前記データ出力バッファ回路の負荷駆動ト
ランジスタのソースに独立に接地電位を供給する接地電
位供給経路と、その曲の各回路に供給する接地電位供給
経路が、単数個の接地電位供給用外部導出端子から分校
していることを特徴とする半導体集積回路である。即ち
、本発明は、入力バッファ回路及び出力バッファ回路は
従来技術からの変更を一切行なうことなく、出力バッフ
ァ回路の負荷駆動トランジスタの接地電位供給経路を他
の内部回路の接地電位供給経路から分離し、共通の接地
電位供給用外部導出ピン(端子)から2系統のボンディ
ングワイヤとパッドを設け、−方を上記の負荷駆動トラ
ンジスタの接地電位のみに接続する。この接地電位供給
経路とピン入力ノードとの間に容量結合を持たせ、さら
にこのピン入力ノードと入力ピンのポンディングパッド
の間に高抵抗を付加するというきわめて簡酢な改良によ
って、特にデータ“0”読み出し時の接地電位のオーバ
ーシュートによる入力論理レベルVI11のマージン低
下を防止するものである。
体チップ内に形成されたデータ出力バッファ回路の負荷
駆動トランジスタのソースに独立に接地電位を供給する
接地電位供給経路を前記チップ内に設け、前記接地電位
供給経路をチップの入力信号の入力経路と容量結合させ
、かつ前記入力経路を、抵抗を介して入力パッドに接続
させてなり、前記データ出力バッファ回路の負荷駆動ト
ランジスタのソースに独立に接地電位を供給する接地電
位供給経路と、その曲の各回路に供給する接地電位供給
経路が、単数個の接地電位供給用外部導出端子から分校
していることを特徴とする半導体集積回路である。即ち
、本発明は、入力バッファ回路及び出力バッファ回路は
従来技術からの変更を一切行なうことなく、出力バッフ
ァ回路の負荷駆動トランジスタの接地電位供給経路を他
の内部回路の接地電位供給経路から分離し、共通の接地
電位供給用外部導出ピン(端子)から2系統のボンディ
ングワイヤとパッドを設け、−方を上記の負荷駆動トラ
ンジスタの接地電位のみに接続する。この接地電位供給
経路とピン入力ノードとの間に容量結合を持たせ、さら
にこのピン入力ノードと入力ピンのポンディングパッド
の間に高抵抗を付加するというきわめて簡酢な改良によ
って、特にデータ“0”読み出し時の接地電位のオーバ
ーシュートによる入力論理レベルVI11のマージン低
下を防止するものである。
(実施例)
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第1
図は同実施例の回路図であるが、これは第3図のものと
対応さぜな場合の例であるから、対応個所には同一符号
を付して説明を省略し、特徴とする点の説明を行なう。
図は同実施例の回路図であるが、これは第3図のものと
対応さぜな場合の例であるから、対応個所には同一符号
を付して説明を省略し、特徴とする点の説明を行なう。
第1図において、N1′は”ssピン(接地電位供給用
外部導出端子)N、4から分枝し、ボンディングワイヤ
及びパッド11から、データ出力バッファ2の負荷駆動
1〜ランジスタT1のソース電位のみに接続した新たな
V ノード(これをVss’とする)である。RはS 入力バッファ回路lのピン入力ノードN5とポンディン
グパッド5の間に付加した高抵抗素子である。Cは入力
ノードN5と■3.′ノードとの間の結合容量である。
外部導出端子)N、4から分枝し、ボンディングワイヤ
及びパッド11から、データ出力バッファ2の負荷駆動
1〜ランジスタT1のソース電位のみに接続した新たな
V ノード(これをVss’とする)である。RはS 入力バッファ回路lのピン入力ノードN5とポンディン
グパッド5の間に付加した高抵抗素子である。Cは入力
ノードN5と■3.′ノードとの間の結合容量である。
本回路の動作は、第2図の動作波形図にも示される如く
ノードN2が高電位となり、負荷駆動トランジスター゛
によって出力ノードN3をV、8′ノードに接続する
際の放電電流I。、tは、入力バッファ回路1のV 経
路を通らない。ピンN4かS らチップ内ポンディングパッド11の間に介在する寄生
インダンタンスを1′、寄生抵抗をr′とすると、V
′はV よりもrr′×I 十ss ss
outJ ′Xdlo、t/dtJだけ
高電位となる。
ノードN2が高電位となり、負荷駆動トランジスター゛
によって出力ノードN3をV、8′ノードに接続する
際の放電電流I。、tは、入力バッファ回路1のV 経
路を通らない。ピンN4かS らチップ内ポンディングパッド11の間に介在する寄生
インダンタンスを1′、寄生抵抗をr′とすると、V
′はV よりもrr′×I 十ss ss
outJ ′Xdlo、t/dtJだけ
高電位となる。
ピン人力AがvIHで与えられ、信号Aioが高電位で
あり、このときデータ“0″を出力する場合を仮定する
” ”ss’に重畳するオーバーシュートノイズの量は
従来と同一である。しかしながら容、icを十分大きな
容量結合比に設定し、かつ時定数RCを、オーバーシュ
ートノイズの幅より長くなるように設定すると、入力バ
ッファ1のトランジスタT5のゲート、ソース間電位は
、’ V I u 士v ′−vjとなる。上述の通
り”ss′〉Vssss ss であるので、トランジスタT5のゲート、ソース間電位
はV を上回ることになり、VlllにむしろN 余裕ができる。またRCを上記のように設定することで
、ノイズが持続する間■I11は維持され、従来例によ
うにA・にグリッチを生じる恐れがない。
あり、このときデータ“0″を出力する場合を仮定する
” ”ss’に重畳するオーバーシュートノイズの量は
従来と同一である。しかしながら容、icを十分大きな
容量結合比に設定し、かつ時定数RCを、オーバーシュ
ートノイズの幅より長くなるように設定すると、入力バ
ッファ1のトランジスタT5のゲート、ソース間電位は
、’ V I u 士v ′−vjとなる。上述の通
り”ss′〉Vssss ss であるので、トランジスタT5のゲート、ソース間電位
はV を上回ることになり、VlllにむしろN 余裕ができる。またRCを上記のように設定することで
、ノイズが持続する間■I11は維持され、従来例によ
うにA・にグリッチを生じる恐れがない。
n
さらに、第2図に示した通り、オーバーシュートした■
は、ノイズ反射により、引き続いてアS ンダーシュートを発生する。このiも合も、低論理レベ
ルV■[を保持すべき入力バッファ回路1のピン入力と
■、ss’に容量Cなる結合を持たせることで、vI[
のマージンダウンも防止できる。
は、ノイズ反射により、引き続いてアS ンダーシュートを発生する。このiも合も、低論理レベ
ルV■[を保持すべき入力バッファ回路1のピン入力と
■、ss’に容量Cなる結合を持たせることで、vI[
のマージンダウンも防止できる。
[発明の効果]
以上のように、接地電位供給経路を出力バッファの負荷
駆動トランジスタ専用に分岐し、かつこの分岐した接地
経路をピン入力信号経路と容量結合させ、さらに容量結
合させたピン入力のノードとポンディングパッドとの間
に高抵抗を付加した本発明は、“0”データ出力時の入
力論理レベルvII+を十分維持でき、入力バッファ回
路から発生したピン入力と同論理の信号のグリッチを除
去することができる。即ち接地電位供給経路を分枝する
ことで、入力バッファの接地電位よりも大きなオーバー
シュートを持つ他の接地電位を作ることができ、これと
ピン入力信号経路と容量結合させ、より多くの入力論理
レベルV111の余裕を持たせることを可能にしている
。アンダーシュートについても同様に改善される。また
単数個の接続電位供給用ピンから分岐することで、ピン
数増加がないものである。
駆動トランジスタ専用に分岐し、かつこの分岐した接地
経路をピン入力信号経路と容量結合させ、さらに容量結
合させたピン入力のノードとポンディングパッドとの間
に高抵抗を付加した本発明は、“0”データ出力時の入
力論理レベルvII+を十分維持でき、入力バッファ回
路から発生したピン入力と同論理の信号のグリッチを除
去することができる。即ち接地電位供給経路を分枝する
ことで、入力バッファの接地電位よりも大きなオーバー
シュートを持つ他の接地電位を作ることができ、これと
ピン入力信号経路と容量結合させ、より多くの入力論理
レベルV111の余裕を持たせることを可能にしている
。アンダーシュートについても同様に改善される。また
単数個の接続電位供給用ピンから分岐することで、ピン
数増加がないものである。
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は同回路の
動作を示す電圧波形図、第3図は従来例の回路図、第4
図は同回路の動作を示す電圧波形図である。 1・・・入力バッファ、2・・・出力バッファ、3・・
・チップ、4,5.11・・・ホンディングパッド、7
・・・出力バッファの制御部、T1・・・負荷駆動I・
ランジスタ、C1・・・負荷、R・・・抵抗、C・・・
容量、N4・・・接地電位供給用外部導出ピン。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
動作を示す電圧波形図、第3図は従来例の回路図、第4
図は同回路の動作を示す電圧波形図である。 1・・・入力バッファ、2・・・出力バッファ、3・・
・チップ、4,5.11・・・ホンディングパッド、7
・・・出力バッファの制御部、T1・・・負荷駆動I・
ランジスタ、C1・・・負荷、R・・・抵抗、C・・・
容量、N4・・・接地電位供給用外部導出ピン。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- 半導体チップ内に形成されたデータ出力バッファ回路の
負荷駆動トランジスタのソースに独立に接地電位を供給
する接地電位供給経路を前記チップ内に設け、前記接地
電位供給経路をチップの入力信号の入力経路と容量結合
させ、かつ前記入力経路を、抵抗を介して入力パッドに
接続させてなり、前記データ出力バッファ回路の負荷駆
動トランジスタのソースに独立に接地電位を供給する接
地電位供給経路と、その他の各回路に供給する接地電位
供給経路が、単数個の接地電位供給用外部導出端子から
分岐していることを特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62272111A JPH01113993A (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | 半導体集積回路 |
US07/254,915 US4864164A (en) | 1987-10-28 | 1988-10-07 | Integrated circuit with switching noise reduction by feedback |
DE88309939T DE3883160T2 (de) | 1987-10-28 | 1988-10-21 | Eingangs-/Ausgangs-Puffer für eine integrierte Schaltung. |
EP88309939A EP0316082B1 (en) | 1987-10-28 | 1988-10-21 | Input/output buffer for an integrated circuit |
KR1019880013878A KR910010188B1 (ko) | 1987-10-28 | 1988-10-24 | 반도체 집적회로 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62272111A JPH01113993A (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01113993A true JPH01113993A (ja) | 1989-05-02 |
JPH0468717B2 JPH0468717B2 (ja) | 1992-11-04 |
Family
ID=17509236
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62272111A Granted JPH01113993A (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | 半導体集積回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4864164A (ja) |
EP (1) | EP0316082B1 (ja) |
JP (1) | JPH01113993A (ja) |
KR (1) | KR910010188B1 (ja) |
DE (1) | DE3883160T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4992677A (en) * | 1988-03-23 | 1991-02-12 | Hitachi, Ltd. | High speed MOSFET output buffer with low noise |
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