JP7386998B2 - 回路ゲージ選択による誤りの低減 - Google Patents
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Description
本出願は、その全体が参照により本明細書に組み込まれている、2019年11月18日に出願した、米国仮特許出願第62/936,753号の出願利益を主張するものである。
102 量子ハードウェア
104 古典的プロセッサ
106 物理制御パラメータ値、パラメータ
108 測定結果
110 量子システム
112 制御デバイス
114 読出し共振器
200 回路ゲージ
210 量子回路、第1の量子回路
220 量子回路、第2の量子回路
230 量子回路、第3の量子回路
300 回路ゲージ
310 量子回路、第1の量子回路
320 量子回路、第2の量子回路
330 量子回路、第3の量子回路
400 回路ゲージ
410 量子回路、第1の量子回路
420 量子回路、第2の量子回路
430 量子回路、第3の量子回路
500 方法
600 方法
Claims (18)
- 量子計算システムであって、
1つまたは複数の量子システムキュービットを備えた量子システムであって、複数の量子回路を実装するように構成され、各量子回路が複数の量子ゲートを備え、前記複数の量子回路が各々、前記複数の量子回路のうちのその他の量子回路の各々と等価の論理演算をさらに含み、前記複数の量子回路が各々、それにより1つまたは複数の回路ゲージを実装するために、前記複数の量子回路のうちのその他の量子回路の各々と比較して量子ゲートの異なるシーケンスによって実装される、量子システムと、
前記量子計算システムによって実装される量子測定回路であって、前記複数の量子回路に対して複数の測定を実行するように動作可能な、量子測定回路と、
演算を実施するように動作可能な1つまたは複数のプロセッサと
を備え、前記演算が、
前記複数の測定に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の量子回路に対する観測値の平均値<O>fを決定するステップと、
前記観測値の前記平均値<O>fに少なくとも部分的に基づいて、前記量子計算システムに対する誤り低減方式を実装するステップと
を含み、
前記観測値の前記平均値<O> f に少なくとも部分的に基づいて、前記量子計算システムに対する前記誤り低減方式を前記実装するステップが、単一地点完全脱分極誤り低減方式を実装するステップを含み、
前記単一地点完全脱分極誤り低減方式を前記実装するステップが、前記1つまたは複数の回路ゲージに対する回路忠実度fの近似値を決定するステップを含む
量子計算システム。 - 前記1つまたは複数の回路ゲージが、1つまたは複数のランダム化回路ゲージを含む、請求項1に記載の量子計算システム。
- 前記1つまたは複数のランダム化回路ゲージが、パウリ演算子の1つまたは複数のランダム対を前記複数の量子回路内に注入することによって実装される、請求項2に記載の量子計算システム。
- パウリ演算子の前記1つまたは複数のランダム対を前記注入するステップが、1つまたは複数のクリフォードゲートを前記複数の量子回路内に組み込むステップを含む、請求項3に記載の量子計算システム。
- パウリ演算子の前記1つまたは複数のランダム対を前記注入するステップが、1つまたは複数の非クリフォードゲートを前記複数の量子回路内に組み込むステップを含む、請求項3に記載の量子計算システム。
- 前記1つまたは複数の回路ゲージが、既知の誤りタイプを実装して誤り低減のための好ましい誤り方向を実装するように構成された回路ゲージを備える、請求項1に記載の量子計算システム。
- 前記1つまたは複数の回路ゲージに対する前記回路忠実度fの前記近似値が、同様の回路構造に対する成分交差エントロピーベンチマーキングを含む、請求項1に記載の量子計算システム。
- 前記1つまたは複数の回路ゲージに対する前記回路忠実度fの前記近似値を前記決定するステップが、単一のおよび2つのキュービットゲートの数をカウントするステップを含む、請求項1に記載の量子計算システム。
- 前記単一地点完全脱分極誤り低減方式を前記実装するステップが、前記観測値の前記平均値<O>fおよび前記回路忠実度fの前記近似値に少なくとも部分的に基づいて、前記観測値の推論平均値<O>ψを決定するステップをさらに含む、請求項1に記載の量子計算システム。
- 前記観測値の前記平均値<O>fおよび前記回路忠実度fの前記近似値に少なくとも部分的に基づいて、前記観測値の前記推論平均値<O>ψを前記決定するステップが、式
請求項9に記載の量子計算システム。 - 前記観測値の前記平均値<O>fに少なくとも部分的に基づいて、前記量子計算システムに対する前記誤り低減方式を前記実装するステップが、多地点外挿方式を実装するステップを含む、請求項1から6のいずれか一項に記載の量子計算システム。
- 前記多地点外挿方式を前記実装するステップが、雑音注入方法および複数の外挿点を選択するステップを含む、請求項11に記載の量子計算システム。
- 前記雑音注入方法が、前記1つまたは複数の回路ゲージの各々の間に1つまたは複数の追加のクリフォードゲートおよび前記1つまたは複数の追加のクリフォードゲートの1つまたは複数の対応する反転を実装するステップを含む、請求項12に記載の量子計算システム。
- 前記多地点外挿方式を前記実装するステップが、前記1つまたは複数の回路ゲージの異なるランダム回路ゲージを用いて前記複数の外挿点の各々を分析するステップと、前記複数の外挿点の前記分析に少なくとも部分的に基づいて、観測値Oの推論値を外挿するステップとを含む、請求項12に記載の量子計算システム。
- 前記観測値の前記平均値<O>fに少なくとも部分的に基づいて、前記量子計算システムに対して前記誤り低減方式を前記実装するステップが、前記1つまたは複数の回路ゲージの少なくとも1つの間に好ましい方向で誤りをバイアスするステップと、誤り訂正コードを使用して前記誤りを訂正するステップとを含む、請求項1に記載の量子計算システム。
- 前記観測値の前記平均値<O>fに少なくとも部分的に基づいて、前記量子計算システムに対する前記誤り低減方式を前記実装するステップが、複数の測定の雑音成分に対して訂正することによって、誤り訂正された観測値Oを決定するステップを含む、請求項1から15のいずれか一項に記載の量子計算システム。
- 量子計算システムの無雑音観測値を推定する方法であって、
1つまたは複数の計算デバイスを備えた計算システムによって、1つまたは複数のキュービットと1つまたは複数の量子測定デバイスとを備えた量子システムにアクセスするステップと、
前記計算システムによって、複数の量子回路を実装するステップであって、各量子回路が複数の量子ゲートを備え、前記複数の量子回路が各々、前記複数の量子回路のうちのその他の量子回路の各々と等価の論理演算をさらに含み、前記複数の量子回路が各々、それにより1つまたは複数の回路ゲージを実装するために、前記複数の量子回路のうちのその他の量子回路の各々と比較して量子ゲートの異なるシーケンスによって実装される、実装するステップと、
前記1つまたは複数の量子測定デバイスを介して前記計算システムによって、前記複数の量子回路の各々に対して実施される複数の測定を取得するステップと、
前記計算システムによって、前記複数の測定に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の量子回路に対する観測値の推定平均値<O>fを決定するステップと、
前記計算システムによって、単一地点完全脱分極化誤りモデルを使用して、前記観測値の前記推定平均値<O>fに少なくとも部分的に基づいて、前記観測値の推定無雑音値<O>ψを決定するステップと
を含み、
前記単一地点完全脱分極誤りモデルを前記使用するステップが、前記1つまたは複数の回路ゲージに対する回路忠実度fの近似値を決定するステップを含む
方法。 - 量子システムに対する雑音誤り低減のための方法であって、
1つまたは複数の計算デバイスを備えた計算システムによって、1つまたは複数のキュービットと1つまたは複数の量子測定デバイスとを備えた量子システムにアクセスするステップと、
前記量子システムによって、複数の量子回路を実装するステップであって、各量子回路が複数の量子ゲートを備え、前記複数の量子回路が各々、前記複数の量子回路のうちのその他の量子回路の各々と等価の論理演算をさらに含み、前記複数の量子回路が各々、それにより1つまたは複数の回路ゲージを実装するために、前記複数の量子回路のうちのその他の量子回路の各々と比較して量子ゲートの異なるシーケンスによって実装される、実装するステップと、
前記1つまたは複数の量子測定デバイスを介して前記計算システムによって、前記複数の量子回路に対して実施される複数の測定を取得するステップと、
前記計算システムによって、前記複数の測定に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の量子回路に対する観測値の推定平均値<O>fを決定するステップと、
前記計算システムによって、前記観測値の前記推定平均値<O>fに少なくとも部分的に基づいて、前記量子システムに対する誤り低減方式を実装するステップと
を含み、
前記観測値の前記平均値<O> f に少なくとも部分的に基づいて、前記計算システムに対する前記誤り低減方式を前記実装するステップが、単一地点完全脱分極誤り低減方式を実装するステップを含み、
前記単一地点完全脱分極誤り低減方式を前記実装するステップが、前記1つまたは複数の回路ゲージに対する回路忠実度fの近似値を決定するステップを含む
方法。
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