JP7371830B1 - 光ファイバセンサ及びそれを用いた計測システム - Google Patents
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Abstract
Description
或いは、
レーザ光源からのレーザパルスを第1のPMファイバにより、偏光子及び第1のPM光カプラを経て第2のPM光カプラに伝送し、前記第2のPM光カプラにおいて、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離して第2のPMファイバにより伝送し、前記参照経路の端部に第1のミラーを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のミラーを備え、前記第1のミラーの参照反射光及び前記第2のミラーの計測反射光が前記第2のPM光カプラで干渉し3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1のPM光カプラを経て第3のPMファイバで出力され、前記第3のPMファイバに接続された第1のSMファイバで光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第4のPMファイバで出力され、前記第4のPMファイバに接続された第2のSMファイバで第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、前記第2の光カプラから第5のPMファイバで出力され、前記第5のPMファイバに接続された第3のSMファイバで第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成であることにより達成される。
(数1)
L7=C+B・cos(φ)
L8=C+B・cos(φ+2π/3)
L9=C+B・cos(φ-2π/3)
変換された1相目のレーザパルスL7は、SMファイバF2で2×2光カプラ11に伝送され(ステップS11)、更に2×2光カプラ11からのSMファイバF7でレーザパルスL7A(波高値X1)として光合成部15に伝送される(ステップS12)。また、変換された2相目のレーザパルスL8(波高値X2)はSMファイバF5により伝送され(ステップS13)、遅延部(遅延時間τ)DL1を経て光合成部15に伝送され(ステップS14)、変換された3相目のレーザパルスL9(波高値X3)はSMファイバF6により伝送され(ステップS15)、遅延部(遅延時間2τ)DL2を経て光合成部15に伝送される(ステップS16)。
11 2×2光カプラ
12 3×3光カプラ
13,14 FRM
15 光合成部
16 光/電気変換器
20 加速度センサ
21 プリズムミラー
30 偏光子
31,32 偏波面保存光カプラ
33,34 ミラー
40,41,42 SM-PM接合
50、50A 空間結合
51 コリメータ
52,53 ミラー
53 コリメータ領域
54 端面ミラー(両面ミラー)
100,110,120 干渉計
101 レーザ光源
102,103 光カプラ
104、106 光合成部
107 光/電気変換器
Claims (15)
- レーザ光源からのレーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離し、前記参照経路の端部に第1のFRMを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のFRMを備え、前記第1のFRMの参照反射光及び前記第2のFRMの計測反射光が前記第2の光カプラで干渉し3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成であることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 前記レーザパルスの伝送を全てSMファイバで行うようになっている請求項1に記載の光ファイバセンサ。
- 前記第2の遅延部の遅延時間が、第1の遅延部の遅延時間より長くなっている請求項1又は2に記載の光ファイバセンサ。
- レーザ光源からのレーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離し、前記参照経路の端部に第1のFRMを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のFRMを備え、前記第1のFRMの参照反射光及び前記第2のFRMの計測反射光が前記第2の光カプラで干渉し3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成の光ファイバセンサを用い、
前記時分割パルス列の波高値を計測することにより、前記計測対象の変位を計測することを特徴とする計測システム。 - レーザ光源からのレーザパルスを第1のPMファイバにより、偏光子及び第1のPM光カプラを経て第2のPM光カプラに伝送し、前記第2のPM光カプラにおいて、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離して第2のPMファイバにより伝送し、前記参照経路の端部に第1のミラーを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のミラーを備え、前記第1のミラーの参照反射光及び前記第2のミラーの計測反射光が前記第2のPM光カプラで干渉し3相に変換され、
前記変換された1相目パルスは、前記第1のPM光カプラを経て第3のPMファイバで出力され、前記第3のPMファイバに接続された第1のSMファイバで光合成部に伝送され、
前記変換された2相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第4のPMファイバで出力され、前記第4のPMファイバに接続された第2のSMファイバで第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、
前記変換された3相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第5のPMファイバで出力され、前記第5のPMファイバに接続された第3のSMファイバで第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、
前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成であることを特徴とする光ファイバセンサ。 - 前記第2の遅延部の遅延時間が、第1の遅延部の遅延時間より長くなっている請求項5に記載の光ファイバセンサ。
- レーザ光源からのレーザパルスを第1のPMファイバにより、偏光子及び第1のPM光カプラを経て第2のPM光カプラに伝送し、前記第2のPM光カプラにおいて、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離して第2のPMファイバにより伝送し、前記参照経路の端部に第1のミラーを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のミラーを備え、前記第1のミラーの参照反射光及び前記第2のミラーの計測反射光が前記第2のPM光カプラで干渉し3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1のPM光カプラを経て第3のPMファイバで出力され、前記第3のPMファイバに接続された第1のSMファイバで光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第4のPMファイバで出力され、前記第4のPMファイバに接続された第2のSMファイバで第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第5のPMファイバで出力され、前記第5のPMファイバに接続された第3のSMファイバで第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成の光ファイバセンサを用い、
前記時分割パルス列の波高値を計測することにより、前記計測対象の変位を計測することを特徴とする計測システム。 - それぞれが計測対象を含むn(≧2)個の干渉計に計測用パルスを伝送し、前記n個の干渉計からの前記計測対象の各変位に応じたTDMパルス列を光合成して出力する光ファイバセンサであり、
レーザパルスを前記計測用パルス及び遅延用パルスの2相に変換する(n-1)個の光カプラが設けられ、初段の光カプラはレーザ光源からのレーザパルスを入力し、2段目から(n-1)番目の光カプラは、前段からの前記遅延用パルスを遅延部を経て入力し、
n番目の光カプラは、(n-1)番目の光カプラからの前記遅延用パルスをn番目の前記干渉計に伝送して入力し、
前記n個の干渉計から出力される各TDMパルス列を順次追加的に光合成して多重TDMパルス列を出力する構成であることを特徴とする光ファイバセンサ。 - 前記n個の干渉計のそれぞれが、
前記レーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離し、前記参照経路の端部に第1のFRMを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のFRMを備え、前記第1のFRMの参照反射光及び前記第2のFRMの計測反射光が前記第2の光カプラで3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成である、
請求項8に記載の光ファイバセンサ。 - 前記n個の干渉計のそれぞれが、
前記レーザパルスを第1のPMファイバにより、偏光子及び第1のPM光カプラを経て第2のPM光カプラに伝送し、前記第2のPM光カプラにおいて、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分離して第2のPMファイバにより伝送し、前記参照経路の端部に第1のミラーを備えると共に、前記計測経路の端部に第2のミラーを備え、前記第1のミラーの参照反射光及び前記第2のミラーの計測反射光が前記第2のPM光カプラで3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1のPM光カプラを経て第3のPMファイバで出力され、前記第3のPMファイバに接続された第1のSMファイバで光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第4のPMファイバで出力され、前記第4のPMファイバに接続された第2のSMファイバで第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、前記第2のPM光カプラから第5のPMファイバで出力され、前記第5のPMファイバに接続された第3のSMファイバで第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成である、請求項8に記載の光ファイバセンサ。 - それぞれが計測対象を含むn(≧2)個の干渉計に計測用パルスを伝送し、前記n個の干渉計からの前記計測対象の各変位に応じたTDMパルス列を光合成して出力する光ファイバセンサであり、レーザパルスを前記計測用パルス及び遅延用パルスの2相に変換する(n-1)個の光カプラが設けられ、初段の光カプラはレーザ光源からのレーザパルスを入力し、2段目から(n-1)番目の光カプラは、前段からの前記遅延用パルスを遅延部を経て入力し、n番目の光カプラは、(n-1)番目の光カプラからの前記遅延用パルスをn番目の前記干渉計に伝送して入力し、前記n個の干渉計から出力される各TDMパルス列を順次追加的に光合成して多重TDMパルス列を出力する構成の光ファイバセンサを用い、
前記多重TDMパルス列の波高値を計測することにより、前記n個の計測対象の各変位を計測することを特徴とする計測システム。 - レーザ光源からのレーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分岐し、前記参照経路の前記第2の光カプラの分岐先端に第1のミラーを備えると共に、前記計測経路の前記第2の光カプラの分岐先端にコリメータレンズを備え、
前記第2の光カプラと前記計測対象とで空間結合を形成すると共に、計測光を反射する第2のミラーを備え、
前記コリメータレンズからのレーザパルスは前記空間結合を経て前記計測対象に入射し、第2のミラーで反射された信号光が前記第2の反射光と干渉し、第2の光カプラで3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成であることを特徴とする光ファイバセンサ。 - レーザ光源からのレーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分岐し、前記参照経路の前記第2の光カプラの分岐先端に端面ミラーを備えると共に、前記計測経路の前記第2の光カプラの分岐先端にコリメータ領域を備え、
前記第2の光カプラの入出力部と前記計測対象のプリズムミラーとで空間結合を形成し、
前記参照経路のレーザパルスは、前記端面ミラーで反射されて前記第2の光カプラに戻され、前記コリメータ領域からの出力レーザパルスは前記空間結合のプリズムミラーを経て前記端面ミラーに入射し、前記端面ミラーで反射された信号光が前記プリズムミラーを経て前記コリメータ領域に入力されて前記第2の光カプラに戻され、前記第2の光カプラで3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成であることを特徴とする光ファイバセンサ。 - レーザ光源からのレーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分岐し、前記参照経路の前記第2の光カプラの分岐先端に第1のミラーを備えると共に、前記計測経路の前記第2の光カプラの分岐先端にコリメータレンズを備え、前記第2の光カプラと前記計測対象とで空間結合を形成すると共に、計測光を反射する第2のミラーを備え、前記コリメータレンズからのレーザパルスは前記空間結合を経て前記計測対象に入射し、第2のミラーで反射された信号光が前記第2の反射光と干渉し、第2の光カプラで3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成の光ファイバセンサを用い、
前記時分割パルス列の波高値を計測することにより、前記計測対象の変位を計測することを特徴とする計測システム。 - レーザ光源からのレーザパルスを第1の光カプラを経て第2の光カプラで、干渉計を形成する参照経路及び計測対象を含む計測経路に2相分岐し、前記参照経路の前記第2の光カプラの分岐先端に端面ミラーを備えると共に、前記計測経路の前記第2の光カプラの分岐先端にコリメータ領域を備え、
前記第2の光カプラの入出力部と前記計測対象のプリズムミラーとで空間結合を形成し、前記参照経路のレーザパルスは、前記端面ミラーで反射されて前記第2の光カプラに戻され、前記コリメータ領域からの出力レーザパルスは前記空間結合のプリズムミラーを経て前記端面ミラーに入射し、前記端面ミラーで反射された信号光が前記プリズムミラーを経て前記コリメータ領域に入力されて前記第2の光カプラに戻され、前記第2の光カプラで3相に変換され、前記変換された1相目パルスは、前記第1の光カプラを経て光合成部に伝送され、前記変換された2相目パルスは、第1の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記変換された3相目パルスは、第2の遅延部を経て前記光合成部に伝送され、前記光合成部から時分割パルス列が出力される構成の光ファイバセンサを用い、
前記時分割パルス列の波高値を計測することにより、前記計測対象の変位を計測することを特徴とする計測システム。
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