JP6951240B2 - 回路付サスペンション基板および回路付サスペンション基板の製造方法 - Google Patents

回路付サスペンション基板および回路付サスペンション基板の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、回路付サスペンション基板および回路付サスペンション基板の製造方法に関する。
ヘッドスライダと、ヘッドスライダを変位させるために伸縮可能な圧電素子とが実装される回路付サスペンション基板が知られている。
例えば、基板開口部を備える金属支持基板と、金属支持基板の上に形成され、基板開口部と連通する端子開口部を備えるベース絶縁層と、基板開口部および端子開口部を介して露出される接続端子を備える導体層と、を備え、接続端子は、端子開口部の内側に落ち込むように形成される回路付サスペンション基板が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2016−9513号公報
しかるに、特許文献1に記載される回路付サスペンション基板では、ベース絶縁層における端子開口部の周縁部が、接続端子の周囲を囲むように配置される。
このような構成では、接続端子の周端面とベース絶縁層との密着性の向上を図るには限度があり、例えば、回路付サスペンション基板に外力が加わると、ベース絶縁層が接続端子の周端面から剥離し、接続端子の周端面とベース絶縁層との間に隙間が生じる場合がある。接続端子の周端面とベース絶縁層との間に隙間が生じると、その隙間に湿気などが侵入して、接続端子が腐食するおそれがある。
本発明は、絶縁層の周縁部が端子から剥離することを抑制できる回路付サスペンション基板および回路付サスペンション基板の製造方法を提供する。
本発明[1]は、金属支持層と、前記金属支持層の厚み方向一方側に配置され、端子を備える導体パターンと、前記金属支持層と前記導体パターンとを絶縁する絶縁層と、を備え、前記端子は、前記金属支持層および前記絶縁層から露出する前記厚み方向の他端面と、前記絶縁層に被覆される周端面と、を備え、前記絶縁層は、前記端子の周囲を囲み、前記周端面を被覆する周縁部を含み、前記端子の前記厚み方向の他端面には、めっき層が設けられ、前記めっき層は、前記端子の前記厚み方向の他端面に配置される保護部と、前記保護部から連続し、前記周縁部と噛み合うように、前記厚み方向の他方側に向かって突出する突出部と、を備える回路付サスペンション基板を含んでいる。
このような構成によれば、めっき層の突出部が、端子の周囲を囲む周縁部と噛み合うように突出しているので、周縁部が端子から剥離することを抑制できる。
本発明[2]は、前記周縁部の少なくとも一部は、前記周端面と接触しており、前記厚み方向の一方側から前記厚み方向の他方側に向かうにつれて先細りとなる、上記[1]に記載の回路付サスペンション基板を含んでいる。
このような構成によれば、周縁部の少なくとも一部が、端子の周端面と接触しており、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて先細りとなるので、めっき層の突出部は、先細りとなる周縁部の厚み方向の他端部と確実に噛み合うことができる。そのため、周縁部が端子から剥離することを確実に抑制できる。
本発明[3]は、前記周端面は、前記厚み方向と直交する直交方向に互いに間隔を空けて配置される1対の側端面を含み、前記1対の側端面のそれぞれは、前記厚み方向に沿って延びる、上記[1]または上記[2]に記載の回路付サスペンション基板を含んでいる。
しかるに、端子の側端面が厚み方向に対して傾斜するように延びている場合、そのような端子を、絶縁層をエッチングして露出させると、厚み方向から見たときの端子の形状および寸法が、絶縁層のエッチング量に依存してばらつくという不具合がある。具体的には、エッチング量が比較的少ないと、端子の寸法は比較的小さくなり、エッチング量が比較的多いと、端子の寸法は比較的大きくなる。
一方、上記の構成によれば、端子の1対の側端面のそれぞれが、厚み方向に沿って延びている。そのため、厚み方向から見たときの端子の形状および寸法が、絶縁層のエッチング量に依存せず、厚み方向から見たときの端子の形状および寸法を精度よく確保することができる。
本発明[4]は、金属支持層を準備する工程と、第1絶縁層を前記金属支持層の厚み方向の一方側に、厚肉部と薄肉部とが形成されるように階調露光により形成する工程と、前記第1絶縁層上に種膜を形成する工程と、前記種膜上に端子を備える導体パターンを形成し、前記端子を前記薄肉部の前記厚み方向の一方側に位置する前記種膜上に形成する工程と、前記導体パターンから露出する前記種膜を除去する工程と、第2絶縁層を前記第1絶縁層の前記厚み方向の一方側に、前記導体パターンを被覆するように形成する工程と、前記金属支持層を除去して、前記薄肉部を露出させる工程と、前記薄肉部を除去して、前記端子の前記厚み方向の他方側に位置する前記種膜を露出させる工程と、前記種膜を除去して、前記端子の前記厚み方向の他端面を露出させる工程と、前記端子の前記厚み方向の他端面にめっき層を設ける工程と、を含み、前記導体パターンを形成する工程において、前記端子を、前記厚み方向と直交する直交方向において前記厚肉部との間に空間を形成するように配置し、前記第2絶縁層を形成する工程において、前記端子の周囲を囲み、前記端子の周端面を被覆する周縁部を形成し、前記めっき層を設ける工程において、前記端子の前記厚み方向の他端面に配置される保護部と、前記保護部から連続し、前記周縁部と噛み合うように、前記厚み方向の他方側に向かって突出する突出部とを形成する、回路付サスペンション基板の製造方法を含んでいる。
このような方法によれば、端子が直交方向において厚肉部との間に空間を形成するように配置されているので、導体パターンを被覆するように第2絶縁層を形成するときに、第2絶縁層が、端子の周端面を被覆するとともに、端子の厚み方向他方側に位置する種膜の周端面も被覆する。これにより、周縁部が、端子および種膜を囲み、端子および種膜の周端面を被覆する。
その後、金属支持層、第1絶縁層の薄肉部、および、端子の厚み方向他方側に位置する種膜を順次除去して、端子の厚み方向他方面を露出させる。そのため、周縁部の厚み方向他端部を、端子の厚み方向他方側に位置する種膜の分だけ、端子の厚み方向の他端面よりも厚み方向の他方側に位置させることができる。
次いで、端子の厚み方向の他端面にめっき層を設けるので、めっき層の突出部を、端子の周囲を囲む周縁部と噛み合うように、厚み方向他方側に向かって突出させることができる。
その結果、周縁部と噛み合う突出部を備える回路付サスペンション基板を円滑に製造することができる。
本発明[5]は、前記第2絶縁層を形成する工程において、前記周縁部は、前記直交方向において前記厚肉部との間に空間を形成するように配置され、前記薄肉部を除去する工程において、前記薄肉部をウェットエッチングにより前記厚み方向の他方側から除去し、前記周縁部を、前記周端面と接触し、前記厚み方向の一方側から前記厚み方向の他方側に向かうにつれて先細りとなるように形成する、上記[4]に記載の回路付サスペンション基板の製造方法を含んでいる。
このような方法によれば、周縁部が直交方向において厚肉部との間に空間を形成するように配置されているので、薄肉部がウェットエッチングにより厚み方向の他方側からエッチングされるときに、エッチング液は、薄肉部の除去が完了すると、周縁部と厚肉部との間の空間に侵入する。そして、周縁部と厚肉部との間の空間に侵入したエッチング液は、周縁部を、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて先細りとなるようにエッチングする。そのため、先細り形状を有する周縁部を円滑に形成することができる。
本発明の回路付サスペンション基板では、絶縁層の周縁部が端子から剥離することを抑制できる。
本発明の回路付サスペンション基板の製造方法では、周縁部と噛み合う突出部を備える回路付サスペンション基板を円滑に製造することができる。
図1は、本発明の回路付サスペンション基板の一実施形態の平面図であって、カバー絶縁層を除いた状態を示す。 図2は、図1に示す回路付サスペンション基板の底面図である。 図3は、図2に示す第1素子接続端子および第2素子接続端子のA−A断面図である。 図4Aは、図1に示す第1素子接続端子の拡大図である。図4Bは、図4Aに示す第1素子接続端子のB−B断面図である。 図5Aは、本発明の回路付サスペンション基板の製造方法の一実施形態を説明するための説明図であって、金属支持層を準備する工程を示す。図5Bは、図5Aに続いて、金属支持層上に、厚肉部および薄肉部を備えるベース絶縁層を形成する工程を示す。図5Cは、図5Bに続いて、ベース絶縁層上に種膜を形成し、種膜上にめっきレジストを形成する工程を示す。図5Dは、図5Cに続いて、種膜上に導体パターンを形成する工程を示す。図5Eは、図5Dに続いて、導体パターンから露出する種膜を除去する工程を示す。 図6Aは、図5Eに続いて、カバー絶縁層を導体パターンを被覆するように形成する工程を示す。図6Bは、図6Aに続いて、金属支持層を外形加工する工程を示す。図6Cは、図6Bに続いて、ベース絶縁層の薄肉部を除去して、種膜を露出させる工程を示す。 図7Aは、図6Cに続いて、種膜を除去して、端子の端子面を露出させる工程を示す。図7Bは、図7Aに続いて、端子の端子面にめっき層を設ける工程を示す。 図8Aは、図7Bに示す回路付サスペンション基板に圧電素子を実装する工程を説明するための説明図であって、素子接続端子上にはんだ組成物を配置し、圧電端子がはんだ組成物と接触するように、圧電素子を配置する工程を示す。図8Bは、図8Aに続いて、はんだ組成物を溶融させてはんだ層を形成する工程を示す。 図9は、図8Bに示す圧電素子のセルフアライメントを説明するための説明図である。
1.回路付サスペンション基板
本発明の回路付サスペンション基板の第1実施形態である回路付サスペンション基板1を、図1〜図4Bを参照して説明する。
図1に示すように、回路付サスペンション基板1は、所定方向に延びる略平帯状を有している。
図1において、紙面厚み方向は、回路付サスペンション基板1の厚み方向(第1方向)であり、紙面手前側が厚み方向の一方側(第1方向の一方側)、紙面奥側が厚み方向の他方側(第1方向の他方側)である。
図1において、紙面上下方向は、回路付サスペンション基板1の長手方向(第1方向と直交する第2方向)であり、紙面上側が長手方向の一方側(第2方向の一方側)、紙面下側が長手方向の他方側(第2方向の他方側)である。
図1において、紙面左右方向は、回路付サスペンション基板1の幅方向(第1方向および第2方向に直交する第3方向、厚み方向に直交する直交方向の一例)であり、紙面右側が幅方向の一方側(第3方向の一方側、直交方向の一方側)、紙面左側が幅方向の他方側(第3方向の他方側、直交方向の他方側)である。具体的には、方向は、各図に記載の方向矢印従う。
図3に示すように、回路付サスペンション基板1は、金属支持層2と、金属支持層2の厚み方向の一方側に配置される導体パターン4と、金属支持層2と導体パターン4とを絶縁する絶縁層10とを備える。絶縁層10は、第1絶縁層の一例としてのベース絶縁層3と、第2絶縁層の一例としてのカバー絶縁層5とを備える。
より詳しくは、回路付サスペンション基板1は、積層構造を有しており、金属支持層2と、ベース絶縁層3と、導体パターン4と、カバー絶縁層5とを、厚み方向の他方側から一方側に向かって順に備えている。なお、図1では、便宜上、カバー絶縁層5を省略している。
図2に示すように、金属支持層2は、導体パターン4(図1参照)を支持する金属支持体であって、長手方向に延びている。金属支持層2は、ステージ20と、本体部21と、連結部22とを備える。
ステージ20は、スライダ11(図1参照)を支持する部分であって、金属支持層2の長手方向の一端部に位置する。ステージ20は、底面視略矩形状を有する。
本体部21は、ロードビーム(図示せず)に支持される部分であって、ステージ20に対して、長手方向の他方側に間隔を空けて配置される。本体部21は、長手方向に延びる底面視矩形状を有する。本体部21は、開口部23を有する。開口部23は、本体部21における長手方向の一方側部分に位置する。開口部23は、長手方向の一方側に向かって開放される凹形状を有する。本体部21の長手方向の一端部は、開口部23に沿って長手方向の他方側に凹む凹部24を形成する。
連結部22は、長手方向に延びて、ステージ20の長手方向の他端と本体部21の長手方向の一端とを連結する。
金属支持層2の材料として、例えば、ステンレスなどの金属材料が挙げられる。金属支持層2の厚みは、例えば、10μm以上、好ましくは、15μm以上、例えば、35μm以下、好ましくは、25μm以下である。
図3に示すように、ベース絶縁層3は、金属支持層2の厚み方向の一方側、具体的には、金属支持層2の厚み方向の一方面に配置される。図1に示すように、ベース絶縁層3は、導体パターン4に対応する所定のパターンを有する。ベース絶縁層3は、ステージベース30と、本体ベース31とを備える。
ステージベース30は、ステージ20上に配置される。ステージベース30は、平面視略矩形状を有する。
本体ベース31は、本体部21上に配置される。本体ベース31は、厚み方向から見て凹部24(図2参照)と重なる位置に複数の端子開口部32を有する。複数の端子開口部32は、複数の第1素子接続端子80(後述)に対応して、幅方向に間隔を空けて配置される。複数の端子開口部32のそれぞれは、厚み方向において凹部24と連通する。端子開口部32は、幅方向に延びる平面視矩形状を有する。
ベース絶縁層3の材料として、例えば、ポリイミド樹脂などの合成樹脂が挙げられる。ベース絶縁層3の厚みは、例えば、1μm以上、好ましくは、3μm以上、例えば、25μm以下、好ましくは、15μm以下である。
導体パターン4は、複数(4つ)の磁気ヘッド接続端子40と、端子の一例としての複数(4つ)の素子接続端子8と、複数(6つ)の外部接続端子41と、複数(4つ)の磁気ヘッド配線42と、複数(4つ)の素子配線43とを備える。
複数(4つ)の磁気ヘッド接続端子40は、スライダ11が回路付サスペンション基板1に実装されたときに、スライダ11が備える磁気ヘッド(図示せず)と導電材料(例えば、はんだなど)を介して電気的に接続される。複数の磁気ヘッド接続端子40は、ステージベース30の厚み方向の一方側において、幅方向に互いに間隔を空けて配置される。
複数(4つ)の素子接続端子8は、圧電素子12が回路付サスペンション基板1に実装されたときに、圧電素子12とはんだ層14(後述)を介して電気的に接続される。複数の素子接続端子8のそれぞれは、複数の素子配線43のそれぞれに接続される。複数の素子接続端子8は、複数(2つ)の第1素子接続端子80と、複数(2つ)の第2素子接続端子81とを含む。
複数の第1素子接続端子80のそれぞれは、対応する端子開口部32内に配置される。第1素子接続端子80は、平面視略矩形状を有する。第1素子接続端子80は、端子開口部32の長手方向の他端縁に対して長手方向の一方側に隣接する。第1素子接続端子80は、隣接するベース絶縁層3から離れるように延びる(図3参照)。第1素子接続端子80は、幅方向に投影したとき(図4B参照)、および、長手方向に投影したとき(図3参照)のそれぞれにおいて、少なくとも一部がベース絶縁層3と重なる。第1素子接続端子80は、厚み方向の他方側から見て、金属支持層2およびベース絶縁層3から露出している。
複数の第2素子接続端子81は、ステージベース30の長手方向の他端縁に対して長手方向の他方側に隣接する。複数の第2素子接続端子81は、幅方向に互いに間隔を空けて配置される。第2素子接続端子81は、平面視略矩形状を有する。第2素子接続端子81は、第1素子接続端子80に対して長手方向の一方側に間隔を空けて位置する。第2素子接続端子81は、隣接するベース絶縁層3(ステージベース30)から離れるように延びる(図3参照)。第2素子接続端子81は、長手方向に投影したときに、少なくとも一部がベース絶縁層3と重なる。第2素子接続端子81は、厚み方向の他方側から見て、金属支持層2およびベース絶縁層3から露出している。
素子接続端子8(第1素子接続端子80および第2素子接続端子81のそれぞれ)の長手方向の寸法は、例えば、30μm以上、好ましくは、50μm以上、例えば、100μm以下、好ましくは、90μm以下である。
素子接続端子8(第1素子接続端子80および第2素子接続端子81のそれぞれ)の幅方向の寸法は、例えば、120μm以上、好ましくは、210μm以上、例えば、250μm以下、好ましくは、230μm以下である。
複数(6つ)の外部接続端子41は、本体ベース31の長手方向の他端部における厚み方向の一方側に配置される。複数の外部接続端子41は、幅方向に互いに間隔を空けて配置される。
複数(4つ)の磁気ヘッド配線42は、複数の磁気ヘッド接続端子40と、複数の磁気ヘッド接続端子40と同数の外部接続端子41とを電気的に接続する。
複数(4つ)の素子配線43は、複数の素子接続端子8に接続される。詳しくは、複数の素子配線43は、複数の第1素子接続端子80に接続される複数の電源配線44と、複数の第2素子接続端子81に接続される複数のグランド配線45とを含む。
電源配線44は、第1素子接続端子80の長手方向の他端部に接続され、第1素子接続端子80と段差を形成するように、本体ベース31上に延びる(図3参照)。複数の電源配線44は、複数の第1素子接続端子80と、複数の外部接続端子41のうち磁気ヘッド配線42に接続されていない外部接続端子41とを電気的に接続する。
グランド配線45は、第2素子接続端子81の長手方向の一端部に接続され、第2素子接続端子81と段差を形成するように、ステージベース30上に延びる(図3参照)。複数のグランド配線45は、ステージベース30を貫通してステージ20に接触(接地)している。
導体パターン4の材料として、例えば、銅などの導体材料が挙げられる。導体パターン4の厚みは、例えば、1μm以上、好ましくは、3μm以上、例えば、20μm以下、好ましくは、12μm以下である。
図3に示すように、このような導体パターン4とベース絶縁層3との間には、種膜46が配置されている。
種膜46は、薄膜形状を有し、導体パターン4に対応するパターンを有する。種膜46の材料として、例えば、銅、クロムなどの金属材料が挙げられる。種膜46は、1層から形成されてもよく、2層以上から形成されてもよい。種膜46の厚みは、例えば、0.01μm以上、例えば、1μm以下、好ましくは、0.1μm以下である。
また、素子接続端子8(第1素子接続端子80および第2素子接続端子81)の厚み方向の他端面には、めっき層7が設けられる。つまり、回路付サスペンション基板1は、めっき層7をさらに備える。なお、図示しないが、複数の磁気ヘッド接続端子40の厚み方向の一端面および複数の外部接続端子41の厚み方向の一端面にも、めっき層7が設けられる。めっき層7の材料として、例えば、ニッケル、金などの金属材料が挙げられ、好ましくは、金が挙げられる。めっき層7の厚みは、例えば、0.1μm以上、好ましくは、0.25μm以上、例えば、5μm以下、好ましくは、2.5μm以下である。
カバー絶縁層5は、複数の磁気ヘッド配線42および複数の素子配線43を被覆するように、ベース絶縁層3の厚み方向の一方側、具体的には、ベース絶縁層3の厚み方向の一方面に配置される。また、カバー絶縁層5は、厚み方向の一方側から見て、磁気ヘッド接続端子40および外部接続端子41を露出し、素子接続端子8を被覆する。また、詳しくは後述するが、カバー絶縁層5は、素子接続端子8の厚み方向の一端面に加えて、素子接続端子8の周端面を被覆する。カバー絶縁層5の材料として、例えば、ポリイミド樹脂などの合成樹脂が挙げられる。カバー絶縁層5の厚みは、適宜設定される。
2.素子接続端子の詳細
次に、図4Aおよび図4Bを参照して、素子接続端子8の詳細について説明する。なお、第1素子接続端子80と第2素子接続端子81とは、幅方向に沿う対称軸に対して線対称な構成を有するために、第1素子接続端子80を詳細に説明し、第2素子接続端子81の説明を省略する。
第1素子接続端子80は、被覆面82と、端子面83と、周端面84とを備える。
被覆面82は、第1素子接続端子80の厚み方向の一端面である。被覆面82は、カバー絶縁層5により被覆されている。
端子面83は、第1素子接続端子80の厚み方向の他端面である。端子面83は、被覆面82に対して厚み方向に間隔を空けて位置する。端子面83は、幅方向に沿って延びている。端子面83は、金属支持層2および絶縁層10(ベース絶縁層3およびカバー絶縁層5)から露出している。
周端面84は、詳しくは後述するが、絶縁層10に被覆されている。周端面84は、1対の側端面86と、先端面87と、後端面88とを備える。
1対の側端面86は、周端面84の一部であって、第1素子接続端子80の幅方向の端面である。1対の側端面86は、幅方向に互いに間隔を空けて配置される。1対の側端面86のそれぞれは、厚み方向に沿って延びる。各側端面86の厚み方向の一端部は、被覆面82の幅方向の端部に接続され、各側端面86の厚み方向の他端部は、端子面83の幅方向の端部に接続される。
図3に示すように、先端面87は、周端面84の一部であり、第1素子接続端子80の長手方向の一端面である。後端面88は、周端面84の一部であり、第1素子接続端子80の長手方向の他端面である。先端面87および後端面88は、長手方向に互いに間隔を空けて配置される。
第1素子接続端子80において、先端面87は、厚み方向に沿って延び、後端面88は、ベース絶縁層3の端縁に沿って、厚み方向に対して傾斜している。また、第2素子接続端子81において、先端面87は、ベース絶縁層3の端縁に沿って、厚み方向に対して傾斜し、後端面88は、厚み方向に沿って延びている。
3.絶縁層の詳細
図4Aおよび図4Bに示すように、絶縁層10は、素子接続端子8の周囲を囲み、周端面84を被覆する周縁部16を含む。具体的には、絶縁層10は、複数の素子接続端子8に対応する複数の周縁部16を含む。なお、第1素子接続端子80の周囲を囲む周縁部16と、第2素子接続端子81の周囲を囲む周縁部16とは、幅方向に沿う対称軸に対して線対称な構成を有するために、第1素子接続端子80の周囲を囲む周縁部16を詳細に説明し、第2素子接続端子81の周囲を囲む周縁部16の説明を省略する。
図3および図4Bに示すように、周縁部16は、1対の第1縁部17と、第2縁部18と、第3縁部19とを含む。第1素子接続端子80の周囲を囲む周縁部16では、1対の第1縁部17および第2縁部18が、カバー絶縁層5に含まれ、第3縁部19が、ベース絶縁層3に含まれる。
図4Bに示すように、1対の第1縁部17は、1対の側端面86に対して幅方向の外側に配置されており、1対の側端面86を被覆している。
各第1縁部17は、長手方向から見て楔形状を有する。各第1縁部17は、対応する側端面86と接触する幅方向の内側端面17Aと、内側端面17Aに対して素子接続端子8の反対側に位置する幅方向の外側端面17Bとを有する。
各第1縁部17の内側端面17Aは、厚み方向に沿って延びている。各第1縁部17の外側端面17Bは、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて、幅方向の内側に向かって傾斜している。そして、各第1縁部17の内側端面17Aの厚み方向の他端部と、各第1縁部17の外側端面17Bの厚み方向の他端部とは、互いに接続されており、第1縁部17の頂部17Cを形成する。
これによって、各第1縁部17は、厚み方向の一方側から厚み方向の他方側に向かうにつれて先細りとなる。また、各第1縁部17の頂部17Cは、端子面83よりも厚み方向の他方側に位置する。
図3に示すように、第2縁部18は、先端面87に対して長手方向の一方側に配置されており、先端面87を被覆している。
第2縁部18は、幅方向から見て楔形状を有する。第2縁部18は、先端面87と接触する長手方向の他端面18Aと、他端面18Aに対して素子接続端子8の反対側に位置する長手方向の一端面18Bを有する。
第2縁部18の他端面18Aは、厚み方向に沿って延びている。第2縁部18の一端面18Bは、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて、長手方向の他方側に向かって傾斜している。そして、第2縁部18の他端面18Aの厚み方向の他端部と、第2縁部18の一端面18Bの厚み方向の他端部とは、互いに接続されており、第2縁部18の頂部18Cを形成する。
これによって、第2縁部18は、厚み方向の一方側から厚み方向の他方側に向かうにつれて先細りとなる。また、第2縁部18の頂部18Cは、端子面83よりも厚み方向の他方側に位置する。
第3縁部19は、後端面88に対して長手方向の他方側に配置されている。第3縁部19と、後端面88との間には、種膜46が配置されている。
第3縁部19は、幅方向から見て楔形状を有する。第3縁部19は、種膜46と接触する厚み方向の一端面19Aと、一端面19Aに対して素子接続端子8の反対側に位置する厚み方向の他端面19Bとを有する。
第3縁部19の一端面19Aは、後端面88に沿って延びており、長手方向の他方側から一方側に向かうにつれて、厚み方向の他方側に傾斜している。第3縁部19の他端面19Bは、長手方向に沿って延びている。
そして、第3縁部19の一端面19Aの長手方向の一端部と、第3縁部19の他端面19Bの長手方向の一端部とは、互いに接続されており、第3縁部19の頂部19Cを形成する。
これによって、第3縁部19は、長手方向の他方側から一方側に向かうにつれて先細りとなる。また、第3縁部19の頂部19Cは、端子面83よりも厚み方向の他方側に位置する。
また、1対の第1縁部17の頂部17Cと、第2縁部18の頂部18Cと、第3縁部19の頂部19Cとは、厚み方向の他方側から見て端子面83を囲むように、矩形枠状に連続している。
4.めっき層の詳細
図3および図4Bに示すように、めっき層7は、素子接続端子8の端子面83に設けられる。なお、第1素子接続端子80の端子面83に設けられるめっき層7と、第2素子接続端子81の端子面83に設けられるめっき層7とは、幅方向に沿う対称軸に対して線対称な構成を有するために、第1素子接続端子80の端子面83に設けられるめっき層7を詳細に説明し、第2素子接続端子81の端子面83に設けられるめっき層7の説明を省略する。
めっき層7は、保護層70と、突出部71とを備える。
保護層70は、素子接続端子8の厚み方向の他端面、つまり、端子面83に配置されている。保護層70は、薄膜形状を有し、端子面83の全体と直接接触している。
突出部71は、保護層70から連続し、周縁部16と噛み合うように、厚み方向他方側に向かって突出している。より具体的には、突出部71は、保護層70の周縁部の全体から外側に連続して、周縁部16の厚み方向の他端部と噛み合うように、厚み方向他方側に向かって突出している。
突出部71は、1対の第1突出部72と、第2突出部73と、第3突出部74と、を備える。
図4Bに示すように、1対の第1突出部72は、保護層70の幅方向の両端部から、厚み方向の他方側に向かって突出する。各第1突出部72は、長手方向から見て鉤形状を有する。各第1突出部72は、保護層70の幅方向の端部から連続して、第1縁部17の頂部17Cを跨ぐように、幅方向の外側に延びる。各第1突出部72の幅方向の外側端部は、第1縁部17の外側端面17B上に位置する。これによって、各第1突出部72は、第1縁部17の厚み方向の他端部と噛み合う。
図3に示すように、第2突出部73は、保護層70の長手方向の一端部から、厚み方向他方側に向かって突出する。第2突出部73は、幅方向から見て鉤形状を有する。第2突出部73は、保護層70の長手方向の一端部から連続して、第2縁部18の頂部18Cを跨ぐように、長手方向の一方側に延びる。第2突出部73の長手方向の一端部は、第2縁部18の一端面18B上に位置する。これによって、第2突出部73は、第2縁部18の厚み方向の他端部と噛み合う。
第3突出部74は、保護層70の長手方向の他端部から、厚み方向の他方側に向かって突出する。第3突出部74は、幅方向から見て鉤形状を有する。第3突出部74は、保護層70の長手方向の他端部から連続して、第3縁部19の頂部19Cを跨ぐように、長手方向の他方側に延びる。第3突出部74の長手方向の他端部は、第3縁部19の他端面19B上に位置する。これにより、第3突出部74は、第3縁部19の長手方向の一端部と噛み合う。
また、突出部71(1対の第1突出部72、第2突出部73および第3突出部74)は、厚み方向の他方側から見て保護層70を囲むように、矩形枠状に連続している。
5.回路付サスペンション基板の製造方法
次に、図5A〜図7Bを参照して、回路付サスペンション基板1の製造方法について説明する。回路付サスペンション基板1の製造方法は、金属支持層2を準備する工程(図5A)と、ベース絶縁層3を形成する工程(図5B)と、種膜46を形成する工程(図5C)と、導体パターン4を形成する工程(図5D)と、導体パターン4から露出する種膜46を除去する工程(図5E)と、カバー絶縁層5を形成する工程(図6A)と、金属支持層2を外形加工する工程(図6B)と、薄肉部34をエッチングする工程(図6C)と、素子接続端子8の端子面83を露出させる工程(図7A)と、めっき層7を形成する工程(図7B)と、を含む。
回路付サスペンション基板1の製造方法では、まず、図5Aに示すように、金属支持層2を準備する。
次いで、図5Bに示すように、ベース絶縁層3を、金属支持層2の厚み方向の一方側(具体的には、厚み方向の一方面)に、厚肉部33と薄肉部34とが形成されるように階調露光により形成する。
具体的には、感光性の合成樹脂を含むワニスを、金属支持層2の上に塗布して乾燥させて、ベース皮膜を形成する。その後、ベース皮膜を、図示しないフォトマスクを介して階調露光した後、ベース皮膜を現像し、必要により加熱硬化させる。
これによって、厚肉部33は、上記したベース絶縁層3に対応する部分に形成される。薄肉部34は、上記した複数の素子接続端子8に対応する部分に形成される。
次いで、図5C〜図5Eに示すように、導体パターン4を、例えば、アディティブ法によって、ベース絶縁層3の厚み方向の一方側に形成する。
より詳しくは、図5Cに示すように、ベース絶縁層3上に種膜46を形成する。
種膜46の形成方法として、例えば、スパッタリング、電解めっきまたは無電解めっきなどが挙げられ、好ましくは、スパッタリングが挙げられる。
次いで、種膜46上に導体パターン4の逆パターンを有するめっきレジスト6を形成する。
具体的には、ドライフィルムレジストを種膜46上に積層した後、図示しないフォトマスクを介して露光し、次いで、現像する。
これによって、素子配線43に対応する配線開口60と、素子接続端子8に対応する端子開口61とを有するめっきレジスト6が形成される。配線開口60は、厚肉部33の厚み方向の一方側に位置する。端子開口61は、薄肉部34の厚み方向の一方側に位置し、幅方向において厚肉部33に対して間隔を空けて位置する。
次いで、図5Dに示すように、めっきレジスト6から露出する種膜46上に、例えば、電解めっき(好ましくは、電解銅めっき)によって、導体パターン4を形成する。なお、導体パターン4は、上記したパターンに形成される。
詳しくは、配線開口60から露出する種膜46上に素子配線43を形成し、端子開口61から露出する種膜46上に素子接続端子8を形成する。
つまり、素子接続端子8を、幅方向において厚肉部33との間に空間を形成するように、薄肉部34の厚み方向の一方側に位置する種膜46上に形成する。これによって、素子接続端子8は、上記した配置となるように形成される。
より詳しくは、複数の素子接続端子8のうち第1素子接続端子80は、幅方向における2つの厚肉部33の間において、2つの厚肉部33のそれぞれの間に空間を形成するように、種膜46上に形成される。また、素子接続端子8は、上記のように、被覆面82と、端子面83と、周端面84(1対の側端面86、先端面87および後端面88)とを有する。
その後、めっきレジスト6を除去する。
次いで、図5Eに示すように、導体パターン4から露出する種膜46を、公知のエッチング(例えば、ウェットエッチングなど)により除去する。つまり、厚み方向に投影したときに導体パターン4と重なる種膜46の部分を除いて、種膜46が除去される。一方、素子接続端子8の厚み方向の他方側に位置する種膜46(以下、端子種膜46Aとする。)は、エッチングされずに残存する。
次いで、図6Aに示すように、カバー絶縁層5を、ベース絶縁層3の厚み方向の一方側、具体的には、ベース絶縁層3の厚み方向の一方面に、導体パターン4を被覆するように形成する。なお、カバー絶縁層5は、上記したパターンに形成される。
具体的には、感光性の合成樹脂を含むワニスを、ベース絶縁層3および導体パターン4(磁気ヘッド接続端子40および外部接続端子41を除く)上に塗布して乾燥させて、カバー皮膜を形成する。その後、カバー皮膜を露光して現像し、必要により加熱硬化させる。
このとき、幅方向において素子接続端子8と厚肉部33との間に空間が形成されているので、カバー絶縁層5が、素子接続端子8の被覆面82および周端面84を被覆するとともに、端子種膜46Aの周端面も被覆する。
これにより、素子接続端子8および端子種膜46Aを囲み、素子接続端子8の周端面84を被覆する周縁部16が形成される。
また、幅方向において、周縁部16の第1縁部17と厚肉部33との間には、空間が形成されている。つまり、周縁部16は、幅方向において厚肉部33との間に空間を形成するように配置される。
次いで、図6Bに示すように、金属支持層2を、上記のパターンとなるように外形加工する。これによって、薄肉部34の厚み方向の他方側に位置する金属支持層2が除去されて、薄肉部34が厚み方向他方側から露出する。
次いで、図6Cに示すように、薄肉部34を、公知のエッチング、好ましくは、ウェットエッチングによって、厚み方向他方側から除去する。これによって、端子種膜46Aを露出させる。
このとき、エッチング液は、薄肉部34の除去が完了すると、第1縁部17と厚肉部33との間の空間に侵入する。そして、第1縁部17と厚肉部33との間の空間に侵入したエッチング液は、第1縁部17を、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて先細りとなるようにエッチングする。なお、図示しないが、周縁部16の第2縁部18は、第1縁部17と同様にして先細り形状に形成される。
次いで、図7Aに示すように、端子種膜46Aを、公知のエッチング方法、好ましくは、苛性ソーダにより、除去する。
これによって、素子接続端子8の端子面83を露出させる。素子接続端子8の端子面83は、周縁部16の厚み方向の他端部よりも厚み方向の一方側に位置する。
次いで、図7Bに示すように、端子面83に、公知のめっき方法(例えば、電解めっき、無電解めっきなど)によって、めっき層7を設ける。
このとき、めっき層7の周縁部が周縁部16の頂部(頂部17C、頂部18Cおよび頂部19C)を乗り越えるまでめっきして、端子面83に配置される保護層70と、保護層70から連続し、周縁部16と噛み合うように、厚み方向他方側に向かって突出する突出部71とを形成する。
以上によって、回路付サスペンション基板1が製造される。
6.回路付サスペンション基板に対する圧電素子の実装
次に、図8Aおよび図8Bを参照して、回路付サスペンション基板1に対する圧電素子12の実装について説明する。
図1に示すように、圧電素子12は、長手方向に伸縮可能なアクチュエータであって、電気が供給され、その電圧が制御されることによって伸縮する。本実施形態において、圧電素子12は、回路付サスペンション基板1に2つ実装される。
圧電素子12は、例えば、公知の圧電材料、より具体的には、圧電セラミックス(例えば、Pb(Zr,Ti)O(ジルコン酸チタン酸鉛(PZT))など)などから形成されている。
また、図8Aに示すように、圧電素子12は、素子接続端子8に対応する圧電端子12Aを備える。圧電端子12Aは、第1素子接続端子80および第2素子接続端子81に対応して、長手方向に互いに間隔を空けて2つ配置されている(図9参照)。圧電端子12Aは、平面視において、素子接続端子8と同じ形状およびサイズを有する。
このような圧電素子12の回路付サスペンション基板1に対する実装では、図8Aに示すように、まず、はんだ組成物13を準備する。
はんだ組成物13は、例えば、Snと、Agと、Cuとを含有しており、好ましくは、SnとAgとCuとのみからなる。以下、はんだ組成物13をSn−Ag−Cu系はんだ組成物とする。具体的には、はんだ組成物として、Sn−3Ag−0.5Cuと表されるものが挙げられる。そのようなはんだ組成物として、市販品を用いることができる。
このようなはんだ組成物の融点は、例えば、200℃以上、好ましくは、210℃以上、例えば、230℃以下、好ましくは、220℃以下である。
そして、はんだ組成物13を公知の方法(例えば、公知の印刷機による印刷、ディスペンサーによる塗布など)により、素子接続端子8の端子面83、具体的には、端子面83に設けられるめっき層7の厚み方向の他方面に配置する。
そして、圧電素子12を、圧電端子12Aがはんだ組成物13と接触するように配置する。
次いで、図8Bに示すように、圧電素子12が配置された回路付サスペンション基板1をリフローする。
リフロー温度は、例えば、230℃以上、好ましくは、240℃以上、例えば、260℃以下、好ましくは、250℃以下である。リフロー時間は、例えば、3秒以上、好ましくは、5秒以上、例えば、300秒以下、好ましくは、200秒以下である。
このとき、はんだ組成物13が、素子接続端子8の端子面83、具体的には、端子面83に設けられるめっき層7の厚み方向他方面の全体に濡れ広がるように溶融する。
そして、圧電素子12がセルフアライメントされる。詳しくは、圧電素子12を配置する工程において、図9に示すように、圧電素子12が所定位置からずれて、幅方向に傾くように配置される場合がある。この場合、厚み方向から見て、第1素子接続端子80の中央と対応する圧電端子12Aの中央とがずれて位置するとともに、第2素子接続端子81の中央と対応する圧電端子12Aの中央とがずれて位置する。
次いで、圧電素子12が配置された回路付サスペンション基板1がリフローされると、はんだ組成物13が、素子接続端子8(第1素子接続端子80および第2素子接続端子81)のめっき層7の厚み方向の他端面の全体に濡れ広がるように溶融する。
このとき、溶融したはんだ組成物13の表面張力により、厚み方向から見て、第1素子接続端子80の中央と対応する圧電端子12Aの中央とが一致するとともに、第2素子接続端子81の中央と対応する圧電端子12Aの中央とが一致するように、圧電素子12に力が加わる。これによって、図1に示すように、圧電素子12が、所定位置からずれた状態から所定位置に向かってセルフアライメントされる。
そして、図8Bに示すように、はんだ組成物13がはんだ層14を形成して、第1素子接続端子80および対応する圧電端子12Aと、第2素子接続端子81および対応する圧電端子12Aとを接合する。これにより、回路付サスペンション基板1と、圧電素子12とが電気的に接続される。
はんだ層14の厚みは、例えば、3μm以上、好ましくは、10μm以上、例えば、30μm以下、好ましくは、15μm以下である。
以上によって、圧電素子12が実装される回路付サスペンション基板1(以下、回路付サスペンション基板アセンブリ15とする。)が製造される。回路付サスペンション基板アセンブリ15は、回路付サスペンション基板1と、圧電素子12と、はんだ層14とを備えている。なお、図1に示すように、回路付サスペンション基板アセンブリ15は、磁気ヘッドを有するスライダ11を備えてもよく、スライダ11を備えなくてもよい。
このような回路付サスペンション基板1では、図4Bに示すように、めっき層7の突出部71が、素子接続端子8の周囲を囲む周縁部16と噛み合うように突出している。そのため、たとえ回路付サスペンション基板1に外力が加わっても、周縁部16が素子接続端子8から剥離することを抑制できる。
また、周縁部16の第1縁部17は、素子接続端子8の側端面86と接触しており、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて先細りとなる。そのため、めっき層7の第1突出部72は、先細りとなる周縁部16の厚み方向の他端部と確実に噛み合うことができる。その結果、周縁部16が素子接続端子8から剥離することを確実に抑制できる。
また、側端面86は、厚み方向に沿って延びている。そのため、厚み方向から見たときの素子接続端子8の形状および寸法が、絶縁層10のエッチング量に依存せず、厚み方向から見たときの素子接続端子8の形状および寸法を精度よく確保することができる。
また、図5Eに示すように、回路付サスペンション基板1の製造方法において、素子接続端子8が幅方向において厚肉部33との間に空間を形成するように配置される。そのため、図6Aに示すように、カバー絶縁層5を形成するときに、カバー絶縁層5が、素子接続端子8の周端面84を被覆するとともに、端子種膜46Aの周端面も被覆する。これにより、素子接続端子8および端子種膜46Aを囲み、素子接続端子8の周端面84を被覆する周縁部16が形成される。
その後、図6B〜図7Aに示すように、金属支持層2、第1絶縁層10の薄肉部、および、端子種膜46Aを順次除去して、素子接続端子8の端子面83を露出させる。そのため、周縁部16の厚み方向の他端部を、端子種膜46Aの分だけ、素子接続端子8の端子面83よりも、厚み方向の他方側に位置させることができる。
次いで、素子接続端子8の端子面83にめっき層7を設けるので、めっき層7の突出部71を、素子接続端子8の周囲を囲む周縁部16と噛み合うように、厚み方向の他方側に向かって突出させることができる。その結果、周縁部16と噛み合う突出部71を備える回路付サスペンション基板1を円滑に製造することができる。
また、図7Aに示すように、薄肉部34がウェットエッチングにより厚み方向の他方側からエッチングされるときに、エッチング液は、薄肉部34の除去が完了すると、周縁部16と厚肉部33との間の空間に侵入する。そして、周縁部16と厚肉部33との間の空間に侵入したエッチング液は、周縁部16を、厚み方向の一方側から他方側に向かうにつれて先細りとなるようにエッチングする。そのため、先細り形状を有する周縁部16を円滑に形成することができる。
1 回路付サスペンション基板
2 金属支持層
3 ベース絶縁層
4 導体パターン
5 カバー絶縁層
8 素子接続端子
9 素子配線
16 周縁部
33 厚肉部
34 薄肉部
46 種膜
70 保護層
71 突出部
86 側端面

Claims (5)

  1. 金属支持層と、
    前記金属支持層の厚み方向一方側に配置され、端子を備える導体パターンと、
    前記金属支持層と前記導体パターンとを絶縁する絶縁層と、を備え、
    前記端子は、
    前記金属支持層および前記絶縁層から露出する前記厚み方向の他端面と、
    前記絶縁層に被覆される周端面と、を備え、
    前記絶縁層は、前記端子の周囲を囲み、前記周端面を被覆する周縁部を含み、
    前記端子の前記厚み方向の他端面には、めっき層が設けられ、
    前記めっき層は、
    前記端子の前記厚み方向の他端面に配置される保護部と、
    前記保護部から連続し、前記周縁部と噛み合うように、前記厚み方向の他方側に向かって突出する突出部と、を備えることを特徴とする、回路付サスペンション基板。
  2. 前記周縁部の少なくとも一部は、前記周端面と接触しており、前記厚み方向の一方側から前記厚み方向の他方側に向かうにつれて先細りとなることを特徴とする、請求項1に記載の回路付サスペンション基板。
  3. 前記周端面は、前記厚み方向と直交する直交方向に互いに間隔を空けて配置される1対の側端面を含み、
    前記1対の側端面のそれぞれは、前記厚み方向に沿って延びることを特徴とする、請求項1または2に記載の回路付サスペンション基板。
  4. 金属支持層を準備する工程と、
    第1絶縁層を前記金属支持層の厚み方向一方側に、厚肉部と薄肉部とが形成されるように階調露光により形成する工程と、
    前記第1絶縁層上に種膜を形成する工程と、
    前記種膜上に端子を備える導体パターンを形成し、前記端子を前記薄肉部の前記厚み方向の一方側に位置する前記種膜上に形成する工程と、
    前記導体パターンから露出する前記種膜を除去する工程と、
    第2絶縁層を前記第1絶縁層の前記厚み方向の一方側に、前記導体パターンを被覆するように形成する工程と、
    前記金属支持層を除去して、前記薄肉部を露出させる工程と、
    前記薄肉部を除去して、前記端子の前記厚み方向の他方側に位置する前記種膜を露出させる工程と、
    前記種膜を除去して、前記端子の前記厚み方向の他端面を露出させる工程と、
    前記端子の前記厚み方向の他端面にめっき層を設ける工程と、を含み、
    前記導体パターンを形成する工程において、前記端子を、前記厚み方向と直交する直交方向において前記厚肉部との間に空間を形成するように配置し、
    前記第2絶縁層を形成する工程において、前記端子の周囲を囲み、前記端子の周端面を被覆する周縁部を形成し、
    前記めっき層を設ける工程において、前記端子の前記厚み方向の他端面に配置される保護部と、前記保護部から連続し、前記周縁部と噛み合うように、前記厚み方向他方側に向かって突出する突出部とを形成することを特徴とする、回路付サスペンション基板の製造方法。
  5. 前記第2絶縁層を形成する工程において、前記周縁部は、前記直交方向において前記厚肉部との間に空間を形成するように配置され、
    前記薄肉部を除去する工程において、
    前記薄肉部をウェットエッチングにより前記厚み方向他方側から除去し、
    前記周縁部を、前記周端面と接触し、前記厚み方向の一方側から前記厚み方向の他方側に向かうにつれて先細りとなるように形成することを特徴とする、請求項4に記載の回路付サスペンション基板の製造方法。
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