JP6684087B2 - Optical encoder - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 34
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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Description
本発明は、光学的手段を用いた光エンコーダに関し、特に、3重回折格子技術を用いた光エンコーダに関する。 The present invention relates to an optical encoder using optical means, and more particularly to an optical encoder using triple diffraction grating technology.
光エンコーダは、物体の移動量及び/又は基準位置を検出するために用いられるものであり、各種の構成が知られている。このうち、3重回折格子技術を用いて物体の移動量を検出する光エンコーダは、光を出射する光源と、周期的な光学パターンを有し、前記光源に対して相対的に移動するスケールと、前記光源から出射されて前記スケールを経由した光を検出する光検出器とからなる。そして、前記光検出器は、例えばフォトダイオードからなる検出器を複数配列してなり、各検出器は、一定周期を有する明暗パターンの90度ずつ位相の異なる4つの位相部分を検出可能なように、前記周期ごとに電気的に接続された4つのグループ、すなわち、A相、B相、−A相(以下「AB相」という。)、−B相(以下「BB相」という。)を検出する各グループに分けられている。これら4つのグループが検出する信号は、互いに90度ずつ位相が異なり、例えばA相とAB相は、位相が180度異なる反転信号である(特許文献1)。 The optical encoder is used to detect the movement amount and / or the reference position of the object, and various configurations are known. Of these, an optical encoder that detects the amount of movement of an object using a triple diffraction grating technique has a light source that emits light and a scale that has a periodic optical pattern and that moves relative to the light source. And a photodetector for detecting the light emitted from the light source and passing through the scale. The photodetector is formed by arranging a plurality of detectors, for example, photodiodes, and each detector is capable of detecting four phase portions having different phases by 90 degrees in a light-dark pattern having a constant period. , Four groups electrically connected in each cycle, that is, A phase, B phase, -A phase (hereinafter referred to as "AB phase"), and -B phase (hereinafter referred to as "BB phase") are detected. It is divided into each group. The signals detected by these four groups differ in phase by 90 degrees from each other, and for example, the A phase and the AB phase are inverted signals whose phases differ by 180 degrees (Patent Document 1).
前記3重回折格子技術を用いた光エンコーダで、スケールの移動量に加えて基準位置を検出する機能を有するものとしては、スケールにおける物体の移動を検出するための周期的パターンであるインクリメンタルパターンと、基準位置を検出するためインデックスパターンを、別々に離れた位置に設ける一方、光検出器における前記インクリメンタルパターンを経由した光を検出する周期的パターン検出用光検出器と、前記インデックスパターンを経由した光を検出する基準位置検出用光検出器を、別々に離れた位置に設ける構成が知られている。そして、前記基準位置検出用光検出器による検出信号に基づいて基準位置信号(Z相パルス信号)を得るものである(特許文献2)。 An optical encoder using the triple diffraction grating technique, which has a function of detecting the reference position in addition to the movement amount of the scale, includes an incremental pattern that is a periodic pattern for detecting the movement of the object on the scale. And an index pattern for detecting the reference position, which are provided separately from each other, and a photodetector for periodic pattern detection for detecting light that has passed through the incremental pattern in the photodetector, and the index pattern. There is known a configuration in which reference position detecting photodetectors that detect the generated light are separately provided at separate positions. Then, a reference position signal (Z-phase pulse signal) is obtained based on the detection signal from the reference position detection photodetector (Patent Document 2).
ところが、この基準位置検出用光検出器による検出信号に基づいて基準位置信号(Z相パルス信号)を得る従来技術では、前述のように、スケールに設けたインクリメンタルパターンとインデックスパターンが別々に離れた位置に配置される一方、光検出器に設けた前記インクリメンタルパターンを経由した光を検出する周期的パターン検出用光検出器と、前記インデックスパターンを経由した光を検出する基準位置検出用光検出器も、別々に離れた位置に配置されているので、スケールと光源及び光検出器の各取り付け位置にばらつきがあると、本来インクリメンタルパターンに入射される光が、インデックスパターンに入射されて基準位置検出用光検出器で検出されるという事態を生じるため、インデックスパターンを経由した光で生成される基準位置信号(Z相パルス信号)を安定して、確実に検出できないという不都合がある。 However, in the conventional technique for obtaining the reference position signal (Z-phase pulse signal) based on the detection signal from the reference position detection photodetector, as described above, the incremental pattern and the index pattern provided on the scale are separated from each other. A photodetector for periodic pattern detection, which is arranged at a position and is provided in the photodetector, for detecting light that has passed through the incremental pattern, and a photodetector for reference position detection that detects light that has passed through the index pattern. However, if the scale, the light source, and the photodetector are installed at different positions, the light originally incident on the incremental pattern will be incident on the index pattern to detect the reference position. It is generated by the light that has passed through the index pattern because it will be detected by the photo detector And the reference position signal (Z-phase pulse signal) stable to, there is a disadvantage that can not be reliably detected.
本発明は、この不都合を解消して、基準位置信号(Z相パルス信号)を安定して、確実に検出できる3重回折格子技術を用いた光エンコーダを提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to solve this inconvenience and to provide an optical encoder using a triple diffraction grating technique capable of stably and reliably detecting a reference position signal (Z-phase pulse signal).
前記目的を達成するために本発明の請求項1に係る光エンコーダは、光を出射する光源と、光学的パターンが形成されて前記光源に対して相対的に移動可能なスケールと、前記光源から出射されて前記光学的パターンを経由した光を検出する光検出器を備えた光エンコーダであって、前記スケールの光学的パターンは、前記スケールの移動方向に反射部と非反射部とを交互に配列してなる周期的なインクリメンタルパターンの中に、非周期的なインデックスパターンを少なくとも一つ配置してなり、前記光検出器は、前記インクリメンタルパターンを検出する光検出器と、前記インクリメンタルパターンを検出する光検出器に挟まれた1個、及び隣接した2個の前記インデックスパターンを検出する光検出器を、前記スケールの移動方向に一定のパターンで配列してなる一方、前記インデックスパターンを検出する光検出器の検出信号に基づいて基準位置信号を生成する信号処理回路を有し、前記非周期的なインデックスパターンは、前記インクリメンタルパターンの反射部に挟まれるようにして、非反射部、反射部、非反射部をほぼ1対3対1の幅で、かつ前記各非反射部の幅は前記インクリメンタルパターンの反射部とほぼ同一幅として配置してなり、または、前記非周期的なインデックスパターンは、前記インクリメンタルパターンの非反射部に挟まれるようにして、反射部、非反射部、反射部をほぼ1対3対1の幅で、かつ前記各反射部の幅は前記インクリメンタルパターンの非反射部とほぼ同一幅として配置してなり、前記インクリメンタルパターンを検出する光検出器は、一定周期を有する明暗パターンの90度ずつ位相の異なる4つの位相部分を検出可能なように、各位相部分に対応させた4つの光検出器を周期的に配列してなり、前記インデックスパターンを検出する光検出器は、8個の光検出器を3個、1個、1個、3個の第1〜第4の4グループに分けて、前記インクリメンタルパターン検出用光検出器の連続する任意の4個のうち1番目、2番目、4番目の光検出器を前記第1グループの光検出器に置き換え、続く4個のうち3番目の光検出器を前記第2グループの光検出器に置き換え、続く4個のうち3番目の光検出器を前記第3グループの光検出器に置き換え、続く4個のうち1番目、2番目、4番目の光検出器を前記第4グループの光検出器に置き換えてなり、前記信号処理回路は、前記8個のインデックスパターン検出用光検出器の各検出信号を電圧変換した上、第1,第4グループの各検出信号を差動増幅して得た差分信号を基準信号と比較して生成したパルス信号と、第2,第3グループの各検出信号を差動増幅して得た差分信号を前記第1,第4グループの差分信号と比較して生成したパルス信号とを論理演算して基準位置信号とするものである。
In order to achieve the above object, an optical encoder according to
本発明の請求項1に係る光エンコーダによれば、スケールのインクリメンタルパターンの配列中にインデックスパターンを配置し、インクリメンタルパターン検出用光検出器の配列中にインデックスパターン検出用光検出器を配置することによって、光源、スケール、光検出器の各取り付け位置のばらつきによる前記各パターン及び前記各パターンに対応する光検出器への光の誤入射がなくなり、基準位置信号を安定して、確実に検出できるという効果を奏するとともに、インクリメンタルパターン検出用の光検出器配列中の所定位置に配置した8個のインデックスパターン検出用光検出器の検出信号を差動増幅、論理演算して基準位置信号を求めることにより、前記検出信号以外のインクリメンタルパターンを経由した光やオフセット光に基づく信号をキャンセルすることで、基準位置信号をより安定して、より確実に検出できるという効果を奏する。
According to the optical encoder of
以下、本発明を3重回折格子技術を用いた反射型光エンコーダに適用した一実施形態について、添付図面に基づき説明する。図1及び図2に示すように、光エンコーダは、エンコーダヘッド1と、スケール2からなり、これらエンコーダヘッド1とスケール2は、X方向に相対的に移動可能である。
An embodiment in which the present invention is applied to a reflection type optical encoder using a triple diffraction grating technique will be described below with reference to the accompanying drawings. As shown in FIGS. 1 and 2, the optical encoder includes an
エンコーダヘッド1は、PCB基板3上に、LEDなどの光源4とIC5を搭載してなり、前記IC5内部に光電変換可能なフォトダイオードなどの光検出器6を多数配列して、光検出器アレイ(以下「PDアレイ」という。)6Aを構成している。前記光源4の上面には、光が透過可能なガラス基板などで構成されて光学的な遮光部10aと透過部10bを有する光源スリット(以下「スリット」という。)7が、第1の回折格子として配置されている。また、前記光源4と前記IC5は、互いの上面がほぼ同一高さ位置にあるとともに、透明樹脂8で被覆されている。したがって、前記スリット7は、PDアレイ6Aの表面とほぼ同一高さ位置に設けられているものである(図2参照)。
The
光源4から出射した光は、スリット7の透過部10bを透過して透明樹脂8を透過し、ガラス基板などで構成されて光学的な反射部9aと非反射部9bを有する、第2の回折格子であるスケール2に入射する。このスケール2の反射部9aで反射された光は、再び透明樹脂8を透過して、PDアレイ6Aに入射される。図中のLは光路を示している。また、スケール2がX方向に移動することで、スケール2で反射される光路が変化する。なお、光源4の出射光の波長と、スリット7の透過部10bのピッチと、スケール2の周期的パターンのピッチは、3重回折格子技術による光エンコーダの要件を充たすよう構成されている。そして、PDアレイ6Aにおける光検出器6のピッチとスケール2の周期的パターンのピッチ、光源4と前記周期的パターンとの距離、前記PDアレイ6Aと前記周期的パターンとの距離の各関係に応じて、スケール2の第2の回折格子と相似な明暗パターンが、第3の回折格子として前記PDアレイ6A上に光学的に生成される。
The light emitted from the
続いて,図3に基づいて、スリット7、スケール2及びPDアレイ6Aの各構成をより詳細に説明する。図3(a)に示すように、スリット7の遮光部10aと透過部10bは同一幅2W(Wは所定の長さを示す)で形成されることによって、前記遮光部10aは等間隔2Wをおいて配置されている。また、図3(b)に示すように、スケール2の周期的パターンであるインクリメンタルパターンにおいては、交互に配列された反射部9aと非反射部9bは同一幅Wで形成されることによって、前記反射部9aは等間隔Wをおいて配置されている。一方、非周期的なパターンであるインデックスパターンとして、インクリメンタルパターンの中に、幅が3Wの反射部11aとその両側に位置する幅がWの非反射部11bが形成されている。そして、前記反射部11aの幅方向中央を通る中心線Mを軸として、インデックスパターンとインクリメンタルパターンは、左右対称なパターンを形成している。本実施形態におけるインデックスパターンは、インクリメンタルパターンにおける一つの非反射部を反射部に変換することにより形成している。また、本実施形態では、前記反射部11aの幅方向中央を通る中心線Mを軸として、インデックスパターンとインクリメンタルパターンは、左右対称なパターンを形成しているが、左右非対称なパターンを形成しても良い。
Subsequently, each configuration of the
図3(c)に示すように、PDアレイ6Aは、幅がスケール2の反射部9a及び非反射部9bの各幅Wよりも若干狭いフォトダイオードからなる光検出器6を等間隔に多数配列してなる。なお、物理構造上、光検出器6は各幅Wより若干狭いが、スケール2の周期的パターンピッチとPDアレイ6Aにおける光検出器6の光学的ピッチは略同等である。このうち、インクリメンタルパターン検出用である各光検出器6は、A相、B相、AB相、BB相の4相のうち一相を検出するもので、検出対象がA相、B相、AB相、BB相の順で周期的に配置されている。説明の便宜上、各光検出器6には検出する相に対応させて、それぞれA,B,AB,BBと図示している。また、これらインクリメンタルパターン検出用の光検出器6の配列中に、インデックスパターンを検出してZ相パルス信号を生成するための4グループ合計8個の光検出器6zを、インクリメンタルパターン検出用の光検出器6と置き換えて配置しており、その使用するPDアレイ6Aの領域を、説明の便宜上グループ別にZ1〜Z4と図示している。
As shown in FIG. 3C, in the
図3(c)は、光検出器3個の第1グループZ1、光検出器1個の第2グループZ2、光検出器1個の第3グループZ3、光検出器3個の第4グループZ4の配列について、A相開始時、すなわち第1グループZ1のはじめの光検出器がA相を検出する光検出器6に対応する場合、PDアレイ6Aでの配置領域を示すものである。具体的には、連続するA〜BBの4個の光検出器6において1番目A、2番目B、4番目BBの3個の光検出器6を前記第1グループZ1の光検出器6zに置き換え、続くA〜BBの4個の光検出器6うち3番目ABの光検出器6を前記第2グループZ2の光検出器6zに置き換え、続くA〜BBの4個の光検出器6うち3番目ABの光検出器6を前記第3グループZ3の光検出器6zに置き換え、続くA〜BBの4個の光検出器6のうち1番目A、2番目B、4番目BBの3個の光検出器6を前記第4グループZ4の光検出器6zに置き換えてなるものである。
FIG. 3C shows a first group Z1 of three photodetectors, a second group Z2 of one photodetector, a third group Z3 of one photodetector, and a fourth group Z4 of three photodetectors. In the arrangement of (1), when the A phase starts, that is, when the first photodetector of the first group Z1 corresponds to the
また、B相、AB相、BB相各開始時のPDアレイ6Aにおける各グループZ1〜Z4の光検出器における使用領域は上述とは異なり、これらの場合は図4に示す通りである。この図4で理解できるように、A相、B相、AB相、BB相のどの相の開始時においても、PDアレイ6Aの光検出器の配列中における各グループZ1〜Z4の相対的位置関係は変わらないものである。
Further, the use area in the photodetectors of each group Z1 to Z4 in the
以上の構成において、光源4から出射され、スリット7を通過してインクリメンタルパターンで反射された光は、PDアレイ6A上に明暗パターンを形成し、この明暗パターンはインクリメンタルパターン検出用の光検出器6で検出される。インクリメンタルパターン検出用の光検出器6から出力された検出信号は、図示していない公知の信号処理回路で処理されて、エンコーダヘッド1に対するスケール2の相対的な移動量が検出される。
In the above configuration, the light emitted from the
また、図3(b)の別実施構成では、スケール2の周期的パターンであるインクリメンタルパターンにおいては、上述したように、交互に配列された反射部9aと非反射部9bは同一幅Wで形成されることによって、前記反射部9aは等間隔Wをおいて配置されている。そして、非周期的なパターンであるインデックスパターンとして、インクリメンタルパターンの中に、幅が3Wの非反射部11bとその両側に位置する幅がWの反射部11aが形成されている。そして、前記反射部11aの幅方向中央を通る中心線Mを軸として、インデックスパターンとインクリメンタルパターンは、左右対称なパターンを形成している。本実施形態におけるインデックスパターンは、インクリメンタルパターンにおける一つの非反射部を反射部に変換することにより形成している。また、本実施形態では、前記反射部11aの幅方向中央を通る中心線Mを軸として、インデックスパターンとインクリメンタルパターンは、左右対称なパターンを形成しているが、左右非対称なパターンを形成しても良い。図3(b)の別実施構成におけるインデックスパターンは、インクリメンタルパターンにおける一つの反射部を非反射部に変換することにより形成している。なお、その時のスケール、及びPDアレイは、図3(a)、図3(b)で示した構成であり、同様に図1で示した3重回折格子技術を用いた反射型光エンコーダに適用した一実施形態の構成を成す。
3B, in the incremental pattern which is the periodic pattern of the
次に、インデックスパターン検出信号から基準位置信号(Z相パルス信号)を生成する信号処理回路を、図5に基づいて説明する。インデックスパターン検出用光検出器6zに光が入射して、各グループZ1〜Z4の光検出器6zから光電変換された電流信号が出力されると、第1グループZ1の電流信号は電流電圧変換回路12aに入力され、第2グループZ2の電流信号は電流電圧変換回路12cに入力され、第3グループZ3の電流信号は電流電圧変換回路12dに入力され、第4グループZ4の電流信号は電流電圧変換回路12bに入力される。前記各電流電圧変換回路12a,12b,12c,12dは、それぞれ入力された電流信号を電圧信号に変換して出力する。
Next, a signal processing circuit for generating the reference position signal (Z-phase pulse signal) from the index pattern detection signal will be described with reference to FIG. When light is incident on the
第1グループZ1の出力信号と第4グループZ4の出力信号は、差動増幅回路13aに入力し、この差動増幅回路13aにより前記各出力信号の差分信号が増幅されて出力される。また、第2グループZ2の出力信号と第3グループZ3の出力信号は、差動増幅回路13bに入力し、この差動増幅回路13bにより前記各出力信号の差分信号が増幅されて出力される。そして、ウィンドウコンパレータのような比較回路14において、前記差動増幅回路13aの出力と基準電圧とを比較して二値化したパルス信号を生成するとともに、前記差動増幅回路13aの出力と前記差動増幅回路13bの出力を比較して二値化したパルス信号を生成する。前記比較回路14から出力された各パルス信号はAND回路15に入力し、論理演算されて、基準位置信号であるZ相パルス信号が出力端子16から出力される。また、図5は、AND回路15を用いて論理演算されているが、NAND回路などを用いて論理演算されても良い。
The output signal of the first group Z1 and the output signal of the fourth group Z4 are input to the
続いて、本実施形態における基準位置信号の生成について、図6及び図7に基づいてさらに説明する。図6は各電流電圧変換回路12a,12b,12c,12dの出力波形(a),(b),(c),(d)及び各差動増幅回路13a,13bの出力波形(e),(f)を示すもので、縦方向は電圧値、横方向は図1のX方向の距離を表している。また、波形の1周期に相当する図6のWは、図1のX方向にW分だけ図1に示すスケール2が移動した状態を示す。図7は各差動増幅回路13a,13bの出力を二値化した比較回路14の出力波形(g),(h)と基準位置信号(Z相パルス信号)であるAND回路15の出力波形(i)を示すものである。
Next, the generation of the reference position signal in this embodiment will be further described based on FIGS. 6 and 7. FIG. 6 shows output waveforms (a), (b), (c), (d) of the current-
図6に示すように、差動増幅回路13aに波形(a)で入力した電流電圧変換回路12aの出力と、波形(b)で入力した電流電圧変換回路12bの出力は、差分が増幅されて波形(e)で差動増幅回路13aから出力される。一方、差動増幅回路13bに波形(c)で入力した電流電圧変換回路12cの出力と、波形(d)で入力した電流電圧変換回路12dの出力は、差分が増幅されて波形(f)で差動増幅回路13bから出力される。ここで、前記波形(a)と前記波形(b)との相違、及び前記波形(c)と前記波形(d)との相違は、光源4から出射された光がスケール2の反射部11aで反射されて、PDアレイ6AのZ1〜Z4領域の各光検出器6zに入射した時の入射光強度依存(場所依存)により生じるものである。
As shown in FIG. 6, the difference between the output of the current-
図7に示すように、比較回路14に波形(e)で入力した差動増幅回路13aの出力は、基準電圧と比較されて二値化され、波形(g)のパルス信号として出力される。また、前記比較回路14に波形(f)で入力した差動増幅回路13bの出力は、前記差動増幅回路13aの波形(e)の出力と比較されて二値化され、波形(h)のパルス信号として出力される。これら前記比較回路14から出力された各波形(g),(h)の出力は、AND回路15に入力して論理演算され、波形(i)の基準位置信号(Z相パルス信号)として出力される。
As shown in FIG. 7, the output of the
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、例えば、反射型のみならず透過型の光エンコーダにも適用可能である。また、インデックスパターンの反射部11aの幅は、移動量及び基準位置の検出精度を考慮すると、インクリメンタルパターンの反射部9aの幅の3倍程度が好ましいことを、実験的に確認した。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and is applicable to, for example, not only the reflection type but also the transmission type optical encoder. The width of the
1 エンコーダヘッド
2 スケール
3 PCB基板
4 光源
5 IC
6 光検出器
6A PDアレイ
6Z インデックスパターン検出用光検出器
7 スリット
8 透明樹脂
9a,11a 反射部
9b,11b 非反射部
10a 遮光部
10b 透過部
12a,12b,12c,12d 電流電圧変換回路
13a,13b 差動増幅回路
14 比較回路
15 AND回路
16 出力端子
1
6
Claims (1)
前記非周期的なインデックスパターンは、前記インクリメンタルパターンの反射部に挟まれるようにして、非反射部、反射部、非反射部をほぼ1対3対1の幅で、かつ前記各非反射部の幅は前記インクリメンタルパターンの反射部とほぼ同一幅として配置してなり、
または、前記非周期的なインデックスパターンは、前記インクリメンタルパターンの非反射部に挟まれるようにして、反射部、非反射部、反射部をほぼ1対3対1の幅で、かつ前記各反射部の幅は前記インクリメンタルパターンの非反射部とほぼ同一幅として配置してなり、
前記インクリメンタルパターンを検出する光検出器は、一定周期を有する明暗パターンの90度ずつ位相の異なる4つの位相部分を検出可能なように、各位相部分に対応させた4つの光検出器を周期的に配列してなり、
前記インデックスパターンを検出する光検出器は、8個の光検出器を3個、1個、1個、3個の第1〜第4の4グループに分けて、前記インクリメンタルパターン検出用光検出器の連続する任意の4個のうち1番目、2番目、4番目の光検出器を前記第1グループの光検出器に置き換え、続く4個のうち3番目の光検出器を前記第2グループの光検出器に置き換え、続く4個のうち3番目の光検出器を前記第3グループの光検出器に置き換え、続く4個のうち1番目、2番目、4番目の光検出器を前記第4グループの光検出器に置き換えてなり、
前記信号処理回路は、前記8個のインデックスパターン検出用光検出器の各検出信号を電圧変換した上、第1,第4グループの各検出信号を差動増幅して得た差分信号を基準信号と比較して生成したパルス信号と、第2,第3グループの各検出信号を差動増幅して得た差分信号を前記第1,第4グループの差分信号と比較して生成したパルス信号とを論理演算して基準位置信号とする
ことを特徴とする光エンコーダ。 A light source that emits light, a scale that is formed with an optical pattern and is movable relative to the light source, and a photodetector that detects light emitted from the light source and passing through the optical pattern In the optical encoder, the optical pattern of the scale is a non-periodic index pattern in a periodic incremental pattern in which reflective portions and non-reflective portions are alternately arranged in the moving direction of the scale. At least one is disposed, and the photodetector is a photodetector for detecting the incremental pattern, one sandwiched between the photodetectors for detecting the incremental pattern, and two adjacent indexes. Photodetectors for detecting patterns are arranged in a fixed pattern in the moving direction of the scale, while detecting the index patterns. Have a signal processing circuit for generating a reference position signal based on a detection signal that the photodetector,
The non-periodic index pattern is sandwiched between the reflective portions of the incremental pattern so that the non-reflective portion, the reflective portion, and the non-reflective portion have a width of about 1: 3: 1, and the non-reflective portion has a width of about 1: 3. The width is arranged as substantially the same width as the reflective portion of the incremental pattern,
Alternatively, the non-periodic index pattern is sandwiched between the non-reflective portions of the incremental pattern so that the reflective portion, the non-reflective portion, and the reflective portion have a width of approximately 1: 3: 1, and each of the reflective portions. The width of is arranged as substantially the same width as the non-reflective portion of the incremental pattern,
The photodetector for detecting the incremental pattern has four photodetectors corresponding to the respective phase portions periodically so as to detect the four phase portions having different phases by 90 degrees in the light-dark pattern having a constant period. Arranged in
The photodetector for detecting the index pattern is divided into eight photodetectors into three groups, one, one, and three first to fourth groups, and the photodetectors for incremental pattern detection are provided. The first, second, and fourth photodetectors of any four consecutive photodetectors of the above are replaced with the photodetectors of the first group, and the third photodetector of the following four photodetectors of the second group is replaced. A photodetector, the third photodetector of the following four is replaced with the photodetector of the third group, and the first, second, and fourth photodetectors of the following four are replaced by the fourth photodetector. Replaced with a group photo detector,
The signal processing circuit voltage-converts each detection signal of the eight index pattern detection photodetectors and differentially amplifies each detection signal of the first and fourth groups to obtain a reference signal. And a pulse signal generated by comparing the differential signals obtained by differentially amplifying the detection signals of the second and third groups with the differential signals of the first and fourth groups. An optical encoder characterized by performing a logical operation to obtain a reference position signal .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015247013A JP6684087B2 (en) | 2015-12-18 | 2015-12-18 | Optical encoder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015247013A JP6684087B2 (en) | 2015-12-18 | 2015-12-18 | Optical encoder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017111068A JP2017111068A (en) | 2017-06-22 |
JP6684087B2 true JP6684087B2 (en) | 2020-04-22 |
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ID=59081292
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015247013A Active JP6684087B2 (en) | 2015-12-18 | 2015-12-18 | Optical encoder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6684087B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11353342B2 (en) | 2017-03-07 | 2022-06-07 | Renishaw Plc | Shadow-cast encoder apparatus with scale and readhead producing a fringe pattern on the detector with a specific harmonic distortion |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023028967A1 (en) * | 2021-09-02 | 2023-03-09 | 北京精雕科技集团有限公司 | Absolute position measurement device |
-
2015
- 2015-12-18 JP JP2015247013A patent/JP6684087B2/en active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US11353342B2 (en) | 2017-03-07 | 2022-06-07 | Renishaw Plc | Shadow-cast encoder apparatus with scale and readhead producing a fringe pattern on the detector with a specific harmonic distortion |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017111068A (en) | 2017-06-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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|
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