JP6655925B2 - ステージ装置及びプローブ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、例えば半導体ウエハなどの基板上に形成されたデバイスの検査を行う際に基板を載置するステージ装置及び該ステージ装置を備えたプローブ装置に関する。
半導体デバイスの製造工程においては、半導体デバイスの電気的特性を評価するためのプローブ検査が行われる。プローブ検査は、半導体基板に形成されている半導体デバイスの電極にプローブ針を接触させ、個々の半導体デバイス毎に電気信号を入力し、これに対して出力される電気信号を観測することによって電気的特性評価を行うものである。
プローブ検査に用いるプローブ装置は、検査対象となる半導体デバイスが形成された被検査基板を保持するとともに、水平方向、垂直方向及び回転が可能なステージ(載置台)と、被検査基板に形成されている半導体デバイスの電極にプローブ針を正確に接触させるためのアライメント装置を備えている。そして、被検査基板を載置したステージをX、Y、Z及びθ方向に移動させることによってアライメントを行い、アライメント後にはステージを利用して半導体ウエハとプローブカードのプローブ針とを正確に接触させ、電気的特性検査を行う。
ところで、近年では、基板の大径化に伴い、ステージの重量も増加している。重量が大きなステージをXY軸方向に駆動させるためには、推進力が大きなコア付リニアモータを用いることが好ましいが、磁気吸引力によってコギングやヨーイングが発生するという問題がある。コギングやヨーイングの発生を抑えるため、コアレスリニアモータを用いることも考えられるが、コアレスリニアモータは推進力が弱く、大重量のステージの駆動には不向きである。推進力が弱いコアレスリニアモータに対応させてステージを軽量化すると、その剛性が低下し、耐振動性の低い構造になってしまう。また、磁気吸引力相殺型のリニアモータも存在するが、高価であり、コストの上昇が避けられない。
ステージのXY駆動機構に関する提案として、特許文献1では、対向配置した一対のガイド部の間に可動子を配置し、磁気吸引力を相殺したリニアモータを備えたプローブ装置が提案されている。しかし、特許文献1の構造では、ステージをX軸方向に駆動させるリニアモータと、Y軸方向に駆動させるリニアモータとが上下(Z軸方向)に積層されているため、駆動時にステージの振動が大きくなることが懸念される。
また、特許文献2では、ステージをY軸方向に駆動させる一対のリニアモータの間に、ステージをX軸方向に駆動させるリニアモータを配置した構成が提案されている。しかし、特許文献2では、磁気吸引力を抑制するためのリニアモータの配置については何ら考慮されていない。また、特許文献2は、露光装置における比較的軽量なステージの駆動機構に関するものであり、高い剛性を必要としないことから、プローブ装置におけるステージの駆動機構に転用することは困難である。
特開2014−193045号公報(請求項1など) 特開2006−230127号公報(図3など)
本発明の目的は、磁気吸引力による影響が抑制され、高速移動と高精度な位置制御が可能なステージ装置を提供することである。
本発明のステージ装置は、基板を載置する載置部と、前記載置部をX軸方向及びY軸方向に移動させる駆動部と、を備えている。
本発明のステージ装置において、前記駆動部は、前記載置部を前記X軸方向に移動可能に支持するとともに、全体が前記Y軸方向に移動可能な平面視矩形の箱体と、前記箱体を両側から挟むように前記Y軸方向に平行して配置された一対の長尺なY軸壁体と、前記箱体の内側で前記載置部を前記X軸方向に移動させるための一対のX軸リニアモータと、前記箱体を前記Y軸方向に移動させるための一対のY軸リニアモータと、を有している。
本発明のステージ装置において、前記箱体は、前記X軸方向に延在し互いに平行な一対のX軸方向側壁と、前記Y軸方向に延在し互いに平行な一対のY軸方向側壁を有している。
本発明のステージ装置において、一対の前記X軸リニアモータは、前記X軸方向及び前記Y軸方向に直交するZ軸方向において同じ高さ位置に設けられており、一対の前記Y軸リニアモータは、前記Z軸方向において同じ高さ位置に設けられている。
本発明のステージ装置は、前記X軸リニアモータと前記Y軸リニアモータが、前記Z軸方向において互いに重なり合う高さ位置に設けられていてもよい。
本発明のステージ装置は、前記X軸リニアモータが、前記載置部を連動させるX軸可動子と、前記X軸可動子に対向して配置されたX軸固定子と、を有するコア付リニアモータであって、前記X軸固定子が一対の前記X軸方向側壁の互いに対向する壁面に設けられていてもよく、前記X軸可動子が前記壁面に沿って移動可能に設けられていてもよい。
本発明のステージ装置は、前記Y軸リニアモータが、前記Y軸方向側壁の外側に固定されたY軸可動子と、前記Y軸可動子に対向して配置されたY軸固定子と、を有するコア付リニアモータであって、前記Y軸固定子が一対の前記Y軸壁体の互いに対向する壁面にそれぞれ設けられていてもよく、前記Y軸可動子が前記壁面に沿って移動可能に設けられていてもよい。
本発明のステージ装置は、前記載置部を前記Z軸方向に移動させるためのZ軸駆動部をさらに備えていてもよく、前記Z軸駆動部が、前記箱体の内側であって前記X軸方向側壁及び前記Y軸方向側壁に囲繞されて配置されていてもよい。
本発明のステージ装置は、一対の前記X軸リニアモータが、共通の指令パルスで制御されるものであってもよい。
本発明のステージ装置は、一対の前記Y軸リニアモータが、共通の指令パルスで制御されるものであってもよい。
本発明のプローブ装置は、上記いずれかのステージ装置を備えている。
本発明のステージ装置は、磁気吸引力による影響が抑制されており、高速移動と高精度な位置制御が可能である。従って、本発明のステージ装置を用いることによって、信頼性の高いプローブ検査が可能になる。
本発明の一実施の形態に係るプローブ装置の概略構成を示す断面図である。 図1のプローブ装置におけるステージ装置の概略斜視図である。 ステージ装置の平面図である。 ステージ装置の要部断面を示す説明図である。 ステージ装置の別の要部断面を示す説明図である。 制御部のハードウェア構成を示すブロック図である。 ステージ装置をXY方向に水平駆動させるための制御系統を示すブロック図である。 サーボ制御ONで載置部をY軸方向に直線移動させたときに発生するヨーイングの測定結果を示すグラフである。 サーボ制御OFFで載置部をY軸方向に直線移動させたときに発生するヨーイングの測定結果を示すグラフである。
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の一実施の形態に係るプローブ装置100の概略構成を示す断面図である。本実施の形態のプローブ装置100は、半導体ウエハ(以下、単に「ウエハ」と記すことがある)Wに形成された半導体デバイス等のデバイス(図示せず)の電気的特性の検査を行うものである。
プローブ装置100は、ウエハWを搬送する搬送領域を形成するローダー室1と、ウエハWを収容する検査室2と、検査室2を上から覆うように配置され、ウエハW上の各デバイスに電気信号を送るとともに、デバイスからの応答信号を受信するテストヘッド3と、これらプローブ装置100の各構成部を制御する制御部4を備えている。
検査室2は、ウエハWを載置する載置部31を有するとともに、この載置部31を水平方向(X軸方向、Y軸方向及びθ方向)と垂直方向(Z軸方向)に移動可能にするステージ装置11を備えている。また、検査室2は、ステージ装置11の上方に設けられたヘッドプレート13と、このヘッドプレート13の略中央に形成された開口13aに固定されたインサートリング15と、を備えている。このインサートリング15にプローブカードホルダ21を介してプローブカード23が保持される。プローブカード23は複数のプローブ(接触子)23aを有している。インサートリング15に保持された状態で、プローブカード23は、テストヘッド3と電気的に接続される。
また、図示は省略するが、検査室2は、複数のプローブ23aとウエハWに形成された複数のデバイスの電極パッドとの位置合わせを行うアライメント機構や、外部の搬送装置からプローブカード23を受け取り、インサートリング15に装着するための内部受渡機構などを備えている。
次に、図2〜5を参照しながら、図1のプローブ装置100におけるステージ装置11について詳細に説明する。図2は、ステージ装置11の概略斜視図である。図3は、ステージ装置11の平面図である。図4及び図5は、それぞれ、ステージ装置11の要部断面図である。ステージ装置11は、ウエハWを載置する載置部31と、載置部31を水平方向及び垂直方向に移動させる駆動部33と、を備えている。
<載置部31>
載置部31は、ウエハWを載置するために、ほぼ円形の載置面を備えている。載置部31は、ウエハWを載置した状態で、駆動部33によって、X,Y,Z,θの各方向に移動可能に構成されている。
<駆動部>
駆動部33は、平面視矩形の箱体35と、基台37と、一対のX軸リニアモータ39,39と、一対のY軸リニアモータ41,41と、X軸スライド機構52と、Y軸スライド機構60を有している。X軸リニアモータ39,39及びY軸リニアモータ41,41は、いずれもサーボ制御が可能なサーボモータである。
(箱体)
箱体35は、載置部31をX軸方向に往復移動可能に支持するとともに、全体がY軸方向に往復移動可能に構成されている。箱体35は、X軸方向に平行に設けられた一対のX軸方向側壁43,43と、Y軸方向に平行に設けられた一対のY軸方向側壁45,45と、底壁47と、を有し、上部が開放された箱型をなしている。箱体35は、例えばSUSなどの金属で形成されている。箱体35は、その平面視矩形の形状によって、X軸リニアモータ39で発生する磁気吸引力に対して、十分な剛性を確保できる。
(基台)
基台37は、断面がU字形をなし、底部37aと、底部37aから立設された一対の長尺なY軸壁体37b,37bを有している。一対のY軸壁体37b,37bは、箱体35を両側から挟むようにY軸方向に平行して配置され、箱体35をY軸方向に往復移動可能に支持する。Y軸壁体37bは、十分な剛性を確保できるように例えばSUSなどの金属で形成されている。
(X軸リニアモータ)
X軸リニアモータ39は、箱体35の内側で載置部31をX軸方向に移動させるコア付リニアモータである。X軸リニアモータ39は、図4に示すように、載置部31を連動させるX軸可動子49と、X軸可動子49に対向して配置されたX軸固定子51と、X軸リニアスケール55とを有する。X軸リニアモータ39は、図示しないサーボ制御部によって制御される。
X軸固定子51は、箱体35の一対のX軸方向側壁43の互いに対向する内壁に設けられている。一対のX軸固定子51は、Z軸方向の高さ位置が、互いに同じになるように配置されている。
また、X軸可動子49は、X軸固定子51に対向して載置部31の下方に配置されたZ軸駆動部65(後述)の側部に固定されている。つまり、X軸可動子49は、Z軸駆動部65を介して載置部31に連結されている。従って、X軸可動子49は、載置部31とともにX軸方向側壁43の内壁に沿ってX軸方向に往復移動可能に構成されている。なお、X軸可動子49の固定位置は、載置部31を連動させてX軸方向に往復移動させ得る限り問われず、例えば連結部材を介して間接的に載置部31と連結されていてもよい。
このように、ステージ装置11では、X軸リニアモータ39を、箱体35において互いに対向する2つのX軸方向側壁43の壁面にそれぞれ同じ高さ位置で配置している。そのため、各X軸可動子49をX軸固定子51側(Y軸方向)へ引き付ける磁気吸引力Fyが、一対のX軸リニアモータ39間で互いに打消し合うので、コギングやヨーイングの発生が抑えられる。また、X軸リニアモータ39は推進力が大きなコア付リニアモータであるため、載置部31をX軸方向へ高速移動させ、かつ高精度に位置制御することが可能になる。
(X軸スライド機構)
X軸スライド機構52は、箱体35の底壁47上に配設され、X軸方向に延在する左右一対のX軸ガイド53と、Z軸駆動部65(後述)に固定されてX軸ガイド53に沿ってスライドするスライダー54と、を備えている。載置部31は、X軸スライド機構52によって、Z軸駆動部65及びθ駆動部66(後述)とともに、箱体35の内側でX軸方向への直線的な往復移動が可能になっている。
(Y軸リニアモータ)
Y軸リニアモータ41は、箱体35をY軸方向に移動させるコア付リニアモータである。Y軸リニアモータ41は、図5に示すように、箱体35に固定されたY軸可動子57と、Y軸可動子57に対向して配置されたY軸固定子59と、Y軸リニアスケール63とを有する。Y軸リニアモータ41は、図示しないサーボ制御部によって制御される。
Y軸固定子59は、一対のY軸壁体37bの互いに対向する壁面に設けられている。一対のY軸固定子59は、Z軸方向の高さ位置が互いに同じになるように配置されている。
また、Y軸可動子57は、Y軸固定子59に対向して箱体35のY軸方向側壁45の外側に配置されている。各Y軸可動子57は、Y軸壁体37bの対向する壁面に沿ってY軸方向に往復移動可能に構成されている。従って、各Y軸可動子57は、箱体35のY軸方向側壁45の外側に設けられているため、箱体35はY軸可動子57とともにY軸方向に往復移動する。
このように、ステージ装置11では、一対のY軸リニアモータ41,41を、それぞれ同じ高さ位置で配置している。そのため、Y軸可動子57をY軸固定子59側(X軸方向)へ引き付ける磁気吸引力Fxが、一対のY軸リニアモータ41間で互いに打消し合うので、コギングやヨーイングの発生が抑えられる。また、Y軸リニアモータ41は推進力が大きなコア付リニアモータであるため、載置部31を支持する箱体35をY軸方向へ高速移動させ、かつ高精度に位置制御することが可能になる。さらに、各Y軸可動子57は、高剛性の箱体35の一対のY軸方向側壁45,45の外側に設けられているため、箱体35の剛性によってY軸固定子59側(X軸方向)への磁気吸引力Fxに十分に抗することができる。つまり、平面視矩形の箱体35は、機械的強度が高いため、一対のY軸方向側壁45,45がY軸可動子57,57とともに外側に拡大しようとする力に十分に抗し、Y軸方向への安定した推進駆動が可能になる。
また、図2、図4及び図5に示すように、X軸リニアモータ39とY軸リニアモータ41は、Z軸方向において略同じ高さ位置に設けられている。つまり、X軸リニアモータ39とY軸リニアモータ41は、Z軸方向において互いに重なり合う高さ位置に配置されている。これによって、X軸駆動系とY軸駆動系をZ軸方向に積層配置する場合に比べて、低重心化が図られ、駆動時に載置部31の振動が抑制されている。なお、「Z軸方向において互いに重なり合う高さ位置」とは、例えば、X軸可動子49とY軸可動子57の上端及び下端、及びX軸固定子51とY軸固定子59の上端及び下端の高さ位置が完全に一致することを意味するものではなく、これらの高さ位置が、少なくとも部分的にオーバーラップしていればよい。
(Y軸スライド機構)
Y軸スライド機構60は、基台37の底部37a上に配設され、Y軸方向に延在する左右一対のY軸ガイド61と、箱体35に固定されてY軸ガイド61に沿ってスライドするスライダー62と、を備えている。箱体35は、Y軸スライド機構60によって、Y軸方向への直線的な往復移動が可能になっている。
(Z軸駆動部)
さらに、駆動部33は、載置部31のZ軸方向に昇降変位させるためのZ軸駆動部65を備えている。Z軸駆動部65は、図示しないモータを有し、載置部31をZ軸方向に移動させる。Z軸駆動部65は、載置部31の下方に配置され、載置部31と連結されている。Z軸駆動部65は、X軸リニアモータ39によって、箱体35内で載置部31と同期してX軸方向に往復移動可能に構成されている。また、Z軸駆動部65は、Y軸リニアモータ41によって、箱体35とともに、Y軸方向に往復移動可能に構成されている。
Z軸駆動部65は、箱体35の内側であって、一対のX軸方向側壁43,43及び一対のY軸方向側壁45,45に囲繞された状態で配置されている。つまり、重量の大きなZ軸駆動部65は、Z軸方向において、X軸リニアモータ39及びY軸リニアモータ41とほぼ同程度高さ位置に配置されている。具体的には、Z軸駆動部65は、X軸リニアモータ39及びY軸リニアモータ41とZ軸方向に重なり合う高さ位置に設けられている。これによって、X軸駆動系とY軸駆動系とZ軸駆動系をZ軸方向に積層配置する場合に比べ、さらに低重心化が図られている。
(θ駆動部)
さらに、駆動部33は、載置部31をθ方向に回転させるためのθ駆動部66を備えている。θ駆動部66は、図示しないモータを有し、載置部31を水平方向に回転させる。θ駆動部66は、載置部31の下方であってZ軸駆動部65の上方に配置されている。θ駆動部66は、X軸リニアモータ39によって、載置部31と同期してX軸方向に往復移動可能に構成されている。また、θ駆動部66は、Y軸リニアモータ41によって、箱体35とともに、Y軸方向に往復移動可能に構成されている。
<制御部>
制御部4は、プローブ装置100の各構成部の動作を制御する。制御部4は、典型的にはコンピュータである。図6は、制御部4のハードウェア構成の一例を示している。制御部4は、主制御部201と、キーボード、マウス等の入力装置202と、プリンタ等の出力装置203と、表示装置204と、記憶装置205と、外部インターフェース206と、これらを互いに接続するバス207とを備えている。主制御部201は、CPU(中央処理装置)211、RAM(ランダムアクセスメモリ)212およびROM(リードオンリメモリ)213を有している。記憶装置205は、情報を記憶できるものであれば、その形態は問わないが、例えばハードディスク装置または光ディスク装置である。また、記憶装置205は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体215に対して情報を記録し、また記録媒体215より情報を読み取るようになっている。記録媒体215は、情報を記憶できるものであれば、その形態は問わないが、例えばハードディスク、光ディスク、フラッシュメモリなどである。記録媒体215は、本実施の形態のプローブ装置100において行われるプローブ方法のレシピを記録した記録媒体であってもよい。
制御部4は、本実施の形態のプローブ装置100において、複数のウエハWに対するデバイス検査を実行できるように制御する。具体的には、制御部4は、プローブ装置100において、各構成部(例えば、テストヘッド3、ステージ装置11等)を制御する。これらは、CPU211が、RAM212を作業領域として用いて、ROM213または記憶装置205に格納されたソフトウエア(プログラム)を実行することによって実現される。
図7は、ステージ装置11をXY方向に水平駆動させるための制御系統を示すブロック図である。図7では、説明の便宜上、一対のX軸リニアモータ39を区別してX軸リニアモータ39A,39B、一対のY軸リニアモータ41を区別してY軸リニアモータ41A,41Bと表記している。同様に、図7では、X軸リニアモータ39A,39Bのリニアスケール55をリニアスケール55A,55Bと表記し、Y軸リニアモータ41A,41Bのリニアスケール63をリニアスケール63A,63Bと表記している。また、X軸リニアモータ39A,39Bにおける駆動機構67A,67Bは、それぞれX軸リニアモータ39A,39BにおけるX軸可動子49及びX軸固定子51を意味し、Y軸リニアモータ41A,41Bにおける駆動機構69A,69Bは、それぞれY軸可動子57及びY軸固定子59を意味する。
図7に示すように、X軸リニアモータ39A,39B及びY軸リニアモータ41A,41Bは、共通のサーボ制御部71によって制御される。サーボ制御部71は、指令パルスを生成するパルス生成部73と、X軸リニアモータ39A,39B及びY軸リニアモータ41A,41Bのそれぞれに対応したサーボアンプ75A,75B及びサーボアンプ77A,77Bを有している。
パルス生成部73は、例えばプログラマブルロジックコントローラ(PLC)であり、上位の制御部4の制御によって、X軸リニアモータ39A,39B及びY軸リニアモータ41A,41Bを駆動するための指令パルスを生成させ、サーボアンプ75A,75B及びサーボアンプ77A,77Bにそれぞれ出力する。パルス生成部73は、一対のサーボアンプ75A,75Bに対し、共通の指令パルスを出力する。同様に、パルス生成部73は、一対のサーボアンプ77A,77Bに対しても、共通の指令パルスを出力する。
サーボアンプ75A,75B,77A,77Bは、偏差カウンタ及び図示しないD/A変換部などを有する。偏差カウンタでは、パルス生成部73からの指令パルスを積算する。
駆動機構67A,67B,69A,69Bは、各サーボアンプ75A,75B,77A,77Bに指令パルスが入力されると、その指令パルスに応じた速度及びトルクで駆動し、ステージ装置11をXY方向に水平移動させる。
リニアスケール55A,55B,63A,63Bは、駆動機構67A,67B,69A,69Bが駆動したときに、可動子の移動量に比例した帰還パルスを生成させるとともに、対応する各サーボアンプ75A,75B,77A,77Bにフィードバックする。
ステージ装置11では、制御部4からの指令に基づき、パルス生成部73が、駆動機構67A,67B又は駆動機構69A,69Bを駆動するための指令パルスを発生させ、サーボアンプ75A,75B又はサーボアンプ77A,77Bに入力する。指令パルスは、サーボアンプ75A,75B内又はサーボアンプ77A,77B内の偏差カウンタにおいて積算され、この指令パルスの積算値(溜りパルス)によって駆動機構67A,67B又は駆動機構69A,69Bを駆動させる。駆動機構67A,67B又は駆動機構69A,69Bが駆動すると、対応するリニアスケール55A,55B又はリニアスケール63A,63Bにより駆動量に比例した帰還パルスが発生する。この帰還パルスが、各サーボアンプ75A,75B又は各サーボアンプ77A,77Bにフィードバックされ、偏差カウンタの溜りパルスを減算していく。偏差カウンタの溜りパルスがゼロ付近で集束すると、駆動機構67A,67B又は駆動機構69A,69Bは停止する。
このように、ステージ装置11では、左右一対のX軸リニアモータ39が、共通の指令パルスで制御されることによって、左右一対のX軸可動子49を同期して駆動させることが可能となっている。これにより、ガントリ構造(両持ち支持構造)によるX軸方向での高速かつ高精度な駆動が実現している。同様に、左右一対のY軸リニアモータ41が、共通の指令パルスで制御されることによって、左右一対のY軸可動子57を同期して駆動させることが可能となっている。これにより、ガントリ構造(両持ち支持構造)によるY軸方向での高速かつ高精度な駆動が実現している。
以上の構成を有する本実施の形態のステージ装置11では、一対のコア付リニアモータを同じ高さで縦置き配置して磁気吸引力を相殺させる構造であるため、コギング、ヨーイング及びピッチングの発生が効果的に抑えられている。これは、上記のとおり、一対のX軸リニアモータ39間、又は、一対のY軸リニアモータ41間で、それぞれ磁気吸引力Fx,Fyが相殺されるためである。
また、ステージ装置11では、X軸リニアモータ39とY軸リニアモータ41を、Z軸方向において略同じ高さ位置に設け、Z軸駆動部65を箱体35の内側に配置することによって、駆動部33全体の低重心化が図られている。そのため、駆動部33における重心位置の偏心を最小限に抑制することが可能になり、耐振動性に優れたステージ駆動機構が実現されている。
また、ステージ装置11では、X軸方向への駆動が、左右一対のX軸リニアモータ39によるガントリ構造により行われる。このような支持構造を採用したことによって、重量の大きなZ軸駆動部65とともに移動する載置部31に対して、十分に大きな推進力が得られるとともに、X軸方向への駆動時のヨーイングがさらに効果的に抑制される。同様に、ステージ装置11では、Y軸方向への駆動が、左右一対のY軸リニアモータ41によるガントリ構造により行われる。このような支持構造を採用したことによって、重量の大きなZ軸駆動部65とともに移動する載置部31に対して、十分に大きな推進力が得られるとともに、Y軸方向への駆動時にヨーイングがさらに効果的に抑制される。
さらに、ステージ装置11では、重量の大きなZ軸駆動部65を平面視矩形の箱体35の内部に収容しているとともに、載置部31をXY方向に移動させるときは、高剛性の箱体35を介在させた状態でX軸リニアモータ39及びY軸リニアモータ41を駆動させる。そのため、箱体35の剛性により、磁気吸引力や振動による影響を最小限に抑えることができる。
次に、本発明の効果を確認した試験結果について、図8及び図9を参照して説明する。図8は、サーボ制御を行いながら(サーボ制御ON)、載置部31をY軸方向に直線移動させたときのステージ精度を示すグラフである。また、図9は、サーボ制御なし(サーボ制御OFF)で載置部31をY軸方向に直線移動させたときのステージ精度を示すグラフである。図8及び図9の縦軸は、発生したヨーイングの角度を示し、横軸は移動した距離を示している。
図8及び図9から、サーボ制御ON状態(図8)では、サーボ制御OFF状態(図9)に比べて、一対のY軸リニアモータ41によってステージ装置11をY軸方向に駆動させた場合に、ヨーイングが効果的に抑制され、安定した駆動が可能であることが確認された。
<プローブ検査の手順>
以上の構成を有するプローブ装置100では、外部の搬送装置から、プローブカード23を保持したプローブカードホルダ21を内部受渡機構(図示省略)に受け渡すことによって、内部受渡機構がプローブカードホルダ21を移送し、インサートリング15に装着する。
次に、ステージ装置11の載置部31を水平方向(X軸方向,Y軸方向,θ方向)及び垂直方向(Z軸方向)に移動させることによって、プローブカード23とステージ装置11の載置部31上に保持されたウエハWとの相対位置を調整し、デバイスの電極とプローブ23aとを当接させる。このとき、XY方向の水平移動は、一対のX軸リニアモータ39及び一対のY軸リニアモータ41によって行われるため、コギング、ヨーイング、ピッチングが抑制されて、高速かつ高精度の位置決めが可能になる。
次に、テストヘッド3は、プローブカード23の各プローブ23aを介してデバイスに検査電流を流す。プローブカード23は、デバイスの電気的特性を示す電気信号をテストヘッド3に伝送する。テストヘッド3は、伝送された電気信号を測定データとして記憶し、検査対象のデバイスの電気的な欠陥の有無を判定する。
このように、本実施の形態のプローブ装置100を用いることによって、信頼性の高いプローブ検査が可能になる。
以上、本発明の実施の形態を例示の目的で詳細に説明したが、本発明は上記実施の形態に制約されることはなく、種々の変形が可能である。例えば基板としては、半導体ウエハに限らず、例えば、液晶表示装置に用いるガラス基板に代表されるフラットパネルディスプレイ用基板や、多数のIC(半導体集積回路)チップを実装した樹脂基板、ガラス基板などの実装検査用基板でもよい。
11…ステージ装置、31…載置部、33…駆動部、35…箱体、37…基台、37a…底部、37b…Y軸壁体,39…X軸リニアモータ、41…Y軸リニアモータ、43…X軸方向側壁、45…Y軸方向側壁、47…底壁、53…X軸ガイド、61…Y軸ガイド、65…Z軸駆動部、66…θ駆動部

Claims (8)

  1. 基板を載置する載置部と、
    前記載置部をX軸方向及びY軸方向に移動させる駆動部と、
    前記載置部を前記X軸方向及び前記Y軸方向に直交するZ軸方向に移動させるためのZ軸駆動部と、
    を備え、
    前記駆動部は、
    前記載置部を前記X軸方向に移動可能に支持するとともに、全体が前記Y軸方向に移動可能な平面視矩形の箱体と、
    前記箱体を両側から挟むように前記Y軸方向に平行して配置された一対の長尺なY軸壁体と、
    前記箱体の内側で前記載置部を前記X軸方向に移動させるための一対のX軸リニアモータと、
    前記箱体を前記Y軸方向に移動させるための一対のY軸リニアモータと、
    を有しており、
    前記箱体は、前記X軸方向に延在し互いに平行な一対のX軸方向側壁と、前記Y軸方向に延在し互いに平行な一対のY軸方向側壁と、底壁と、を有しており、
    一対の前記X軸リニアモータは、前記Z軸方向において同じ高さ位置に設けられており、
    一対の前記Y軸リニアモータは、前記Z軸方向において同じ高さ位置に設けられており、
    前記Z軸駆動部は、前記箱体の内側であって前記X軸方向側壁及び前記Y軸方向側壁に囲繞されることによって一対の前記X軸リニアモータ及び一対の前記Y軸リニアモータに囲繞され、かつ、平面視で前記載置部と重なるようにその下方に配置されているステージ装置。
  2. 前記X軸リニアモータと前記Y軸リニアモータが、前記Z軸方向において互いに重なり合う高さ位置に設けられている請求項1に記載のステージ装置。
  3. 前記X軸リニアモータは、前記載置部を連動させるX軸可動子と、前記X軸可動子に対向して配置されたX軸固定子と、を有するコア付リニアモータであって、前記X軸固定子が一対の前記X軸方向側壁の互いに対向する壁面に設けられ、前記X軸可動子が前記壁面に沿って移動可能に設けられている請求項1に記載のステージ装置。
  4. 前記Y軸リニアモータは、前記Y軸方向側壁の外側に固定されたY軸可動子と、前記Y軸可動子に対向して配置されたY軸固定子と、を有するコア付リニアモータであって、前記Y軸固定子が一対の前記Y軸壁体の互いに対向する壁面にそれぞれ設けられ、前記Y軸可動子が前記壁面に沿って移動可能に設けられている請求項1に記載のステージ装置。
  5. 前記X軸リニアモータは、前記載置部を連動させるX軸可動子と、前記X軸可動子に対向して配置されたX軸固定子と、を有し、前記Z軸駆動部の側部に、前記X軸可動子が固定されている請求項1に記載のステージ装置。
  6. 一対の前記X軸リニアモータが、共通の指令パルスで制御される請求項1に記載のステージ装置。
  7. 一対の前記Y軸リニアモータが、共通の指令パルスで制御される請求項1に記載のステージ装置。
  8. 請求項1からのいずれか1項に記載のステージ装置を備えたプローブ装置。
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