JP6653756B2 - 回路設計をデバッグするための方法および回路 - Google Patents
回路設計をデバッグするための方法および回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6653756B2 JP6653756B2 JP2018521372A JP2018521372A JP6653756B2 JP 6653756 B2 JP6653756 B2 JP 6653756B2 JP 2018521372 A JP2018521372 A JP 2018521372A JP 2018521372 A JP2018521372 A JP 2018521372A JP 6653756 B2 JP6653756 B2 JP 6653756B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- protocol
- circuit design
- circuit
- data
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000013461 design Methods 0.000 title claims description 90
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 46
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 82
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 44
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 10
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 6
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 5
- 230000006855 networking Effects 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- LHMQDVIHBXWNII-UHFFFAOYSA-N 3-amino-4-methoxy-n-phenylbenzamide Chemical compound C1=C(N)C(OC)=CC=C1C(=O)NC1=CC=CC=C1 LHMQDVIHBXWNII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006048 Arlen™ Polymers 0.000 description 1
- 101000879673 Streptomyces coelicolor Subtilisin inhibitor-like protein 3 Proteins 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31703—Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
プログラマブル集積回路(integrated circuit:IC)は、指定されたロジック機能を行なうようにユーザによってプログラムされ得る。フィールドプログラマブルゲートアレイ(field programmable gate array:FPGA)として知られている一種のプログラマブルICは典型的には、プログラマブル相互接続部とプログラマブルロジックとを有するプログラマブルタイルのアレイに配置されたプログラマブルリソースを含む。プログラマブル相互接続部は典型的には、プログラマブル相互接続点(programmable interconnect point:PIP)によって相互接続されたさまざまな長さの多数の相互接続線を含む。プログラマブルロジックは、たとえば関数発生器、レジスタ、演算ロジックなどを含み得るプログラマブル素子を使用して、回路設計のロジックを実現する。プログラマブル相互接続部およびプログラマブルロジックは典型的には、プログラマブル素子がどのように構成されるかを定義する内部構成メモリセルに構成データのストリームをロードすることによって、プログラムされる。構成データは、外部デバイスによって、メモリから(たとえば外部PROMから)読出され、またはFPGAに書込まれ得る。個々のメモリセルの集団状態が次に、FPGAの機能を決定する。
さまざまな例示的な実現化例が、回路設計をデバッグすることに向けられる。例示的な一実現化例によれば、回路設計をデバッグするための方法が開示される。動作中に回路設計によって生成された1組の信号について、波形データが取り込まれる。1組の信号について、それぞれのデータ構造が生成され、信号についての波形データがデータ構造に格納される。1組の信号によって実現される通信チャネルが識別される。データ構造に格納された波形データは、1つ以上の通信チャネルについての1組の信号におけるトランザクションレベルイベントの位置を突き止めるために分析される。1組のトランザクションレベルイベントの位置を示すデータが出力される。
図面の簡単な説明
開示された方法および回路のさまざまな局面および特徴は、以下の詳細な説明を検討し、図面を参照することによって明らかとなるであろう。
以下の説明では、多くの特定の詳細が、ここに提示される特定の例を説明するために述べられる。しかしながら、1つ以上の他の例および/またはこれらの例の変形が、以下に与えられる特定の詳細がすべてなくても実践されるということが、当業者には明らかであるはずである。他の例では、ここでの例の説明を不明瞭にしないように、周知の特徴は詳細には説明されていない。
Claims (14)
- 回路設計をシミュレートすること、または前記回路設計をエミュレートすることによって生成された1組の信号についての波形データを取り込むステップと、
前記1組の信号について、コンピュータシステムのメモリ回路にデータ構造を生成し、前記信号についての波形データを前記データ構造に格納するステップと、
前記コンピュータシステムのプロセッサ回路によって、前記回路設計に含まれるメタデータに基づいて、前記1組の信号に関連付けられた通信チャネルを識別するステップと、
1つ以上の通信チャネルについての1組のトランザクションレベルイベントの位置を突き止めるために、前記データ構造に格納された波形データを分析するステップと、
前記1組のトランザクションレベルイベントの位置を示すデータを出力するステップと、
前記1組のトランザクションレベルイベントに基づいて、前記回路設計における複数の回路モジュールについての1組の性能メトリックを判断するステップと、
前記回路モジュールについての前記1組の性能メトリックを、ユーザインターフェイスを介して表示するステップとを含む、方法。 - ユーザクエリによって指定された1組の基準について前記1組のトランザクションレベルイベントをサーチするように構成された拡張可能アプリケーションプログラムインターフェイス(API)を提供するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- ユーザインターフェイスを介して入力されたユーザクエリに応答して、前記ユーザクエリによって指定された1組の基準に整合する前記1組の信号の一部を、前記データ構造に基づいて、前記拡張可能APIを使用して識別するステップをさらに含む、請求項2に記載の方法。
- 前記分析するステップは、
前記回路設計に含まれるメタデータ、前記回路設計における信号の名前、またはそれらの組合せに基づいて、識別された前記通信チャネルによって実現されるプロトコルを識別するステップと、
識別された前記プロトコルについてのアプリケーションプログラムインターフェイス(API)を提供するステップとを含み、前記APIは、前記1組の信号についての前記データ構造から、前記プロトコルについてのトランザクションレベルイベントを識別するように構成され、さらに、
識別された前記プロトコルのうちの1つを実現する通信チャネルについて、前記通信チャネルについてのトランザクションレベルイベントを判断するために前記プロトコルについて提供された前記APIを実行するステップを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記プロトコルについての前記APIを提供するステップは、前記プロトコルについての前記APIをAPIライブラリから検索するステップを含む、請求項4に記載の方法。
- 前記通信チャネルのうちの少なくとも1つは、前記1組の信号における複数の信号に関連付けられ、
前記通信チャネルについての前記トランザクションレベルイベントは、データトランザクション、前記回路設計に含まれるプロセッサによって実行されるプログラムの命令、またはそれらの組合せを含む、請求項4に記載の方法。 - 識別されたトランザクションのうちの少なくとも1つのトランザクションについて、識別された前記プロトコルのうちの異なるプロトコルを実現する前記通信チャネルのうちの2つの通信チャネル間のインターフェイスを越えて、前記1つのトランザクションを追跡するステップをさらに含み、
前記少なくとも1つのトランザクションを追跡するステップは、前記回路設計におけるメタデータに基づいて行なわれる、請求項4に記載の方法。 - 少なくとも1つの通信チャネルについて、前記通信チャネルについて判断された前記トランザクションレベルイベントは、第1のプロトコルについての第1の1組のトランザクションを含み、
前記方法は、前記第1の1組のトランザクションから、第2のプロトコルについての第2の1組のトランザクションを識別するステップをさらに含み、前記第2のプロトコルは、前記第1のプロトコルと比較して、より高いレベルのプロトコルである、請求項1に記載の方法。 - 前記第2のプロトコルは、ビデオフレーム、ネットワーキングパケット、またはCPU命令の通信のために構成される、請求項8に記載の方法。
- 前記1組の性能メトリックは、待ち時間、タイミングスラック、消費電力、信号ジッタ、スループット、データ転送サイズ、またはそれらの組合せを含む、請求項1に記載の方法。
- 少なくとも1つの性能メトリックについて、ユーザによって指定された期間にわたる前記性能メトリックの最小値、最大値、および平均値を求めるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- グラフィカルユーザインターフェイス(GUI)ウィンドウにおいて、
前記1組の信号についての波形の図形表現と、
前記波形における前記トランザクションレベルイベントを識別する可視マーカーと、
1つ以上の検出されたプロトコル違反の位置およびタイプを識別する可視マーカーとを表示するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記回路設計の動作をシミュレートするステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記回路設計を実現するようにプログラマブル集積回路(IC)のプログラマブルリソースを構成するステップと、
前記プログラマブルIC上で統合ロジックアナライザを使用し、前記波形データを取り込み、前記波形データを前記コンピュータシステムへ通信するステップとをさらに含む、請求項1に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/924,090 | 2015-10-27 | ||
US14/924,090 US9678150B2 (en) | 2015-10-27 | 2015-10-27 | Methods and circuits for debugging circuit designs |
PCT/US2016/051103 WO2017074568A1 (en) | 2015-10-27 | 2016-09-09 | Methods and circuits for debugging circuit designs |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018537762A JP2018537762A (ja) | 2018-12-20 |
JP6653756B2 true JP6653756B2 (ja) | 2020-02-26 |
Family
ID=57047289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018521372A Active JP6653756B2 (ja) | 2015-10-27 | 2016-09-09 | 回路設計をデバッグするための方法および回路 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9678150B2 (ja) |
EP (1) | EP3369015B1 (ja) |
JP (1) | JP6653756B2 (ja) |
KR (1) | KR102596638B1 (ja) |
CN (1) | CN108351907B (ja) |
WO (1) | WO2017074568A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10474515B2 (en) * | 2017-05-10 | 2019-11-12 | Intel IP Corporation | Debugging translation block and debugging architecture |
US10740186B2 (en) * | 2017-05-15 | 2020-08-11 | The Boeing Company | High data integrity processing system |
US10816600B1 (en) * | 2017-11-28 | 2020-10-27 | Xilinx, Inc. | Protocol analysis and visualization during simulation |
US11556162B2 (en) * | 2018-03-16 | 2023-01-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Per-instruction energy debugging using instruction sampling hardware |
US11042564B1 (en) * | 2018-09-27 | 2021-06-22 | Xilinx, Inc. | Transaction associations in waveform displays |
US11475191B2 (en) * | 2019-05-15 | 2022-10-18 | International Business Machines Corporation | Generating and adding additional control information to logic under test to facilitate debugging and comprehension of a simulation |
US11302412B2 (en) * | 2019-06-03 | 2022-04-12 | Advantest Corporation | Systems and methods for simulated device testing using a memory-based communication protocol |
CN112257360B (zh) * | 2020-10-21 | 2024-04-16 | 海光信息技术股份有限公司 | 用于数据波形的调试方法、装置、调试系统以及存储介质 |
CN112379658A (zh) * | 2020-11-10 | 2021-02-19 | 华东师范大学 | 一种片上can控制器调试系统 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7283944B2 (en) * | 2003-12-15 | 2007-10-16 | Springsoft, Inc. | Circuit simulation bus transaction analysis |
US7129745B2 (en) * | 2004-05-19 | 2006-10-31 | Altera Corporation | Apparatus and methods for adjusting performance of integrated circuits |
CN101029918B (zh) * | 2007-01-23 | 2011-03-16 | 北京芯技佳易微电子科技有限公司 | 一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统及方法 |
US20110289373A1 (en) * | 2007-01-31 | 2011-11-24 | Klein Russell A | Electornic Design Emulation Display Tool |
CN101320065B (zh) * | 2008-07-22 | 2010-06-02 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 航天光学遥感器成像电路的仿真测试方法 |
US8032329B2 (en) * | 2008-09-04 | 2011-10-04 | Sonics, Inc. | Method and system to monitor, debug, and analyze performance of an electronic design |
JP5605959B2 (ja) * | 2009-11-10 | 2014-10-15 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | プロトコル事象を記録するためのアドバンスド通信制御ユニットおよび方法 |
WO2012087330A2 (en) * | 2010-12-23 | 2012-06-28 | Intel Corporation | Test, validation, and debug architecture |
US9135213B2 (en) * | 2011-01-13 | 2015-09-15 | Xilinx, Inc. | Extending a processor system within an integrated circuit and offloading processes to process-specific circuits |
US10776233B2 (en) * | 2011-10-28 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | Programmable test instrument |
US8533655B1 (en) * | 2011-11-15 | 2013-09-10 | Xilinx, Inc. | Method and apparatus for capturing data samples with test circuitry |
US9582625B2 (en) * | 2012-06-22 | 2017-02-28 | Mentor Graphics Corporation | Test bench transaction synchronization in a debugging environment |
US8848850B2 (en) * | 2012-09-25 | 2014-09-30 | Intel Corporation | Pulse width modulation receiver circuitry |
US20150091907A1 (en) * | 2013-09-27 | 2015-04-02 | Byte Paradigm Sprl | Method and system for storing waveform data |
-
2015
- 2015-10-27 US US14/924,090 patent/US9678150B2/en active Active
-
2016
- 2016-09-09 WO PCT/US2016/051103 patent/WO2017074568A1/en active Application Filing
- 2016-09-09 EP EP16775370.6A patent/EP3369015B1/en active Active
- 2016-09-09 KR KR1020187011243A patent/KR102596638B1/ko active IP Right Grant
- 2016-09-09 CN CN201680062228.0A patent/CN108351907B/zh active Active
- 2016-09-09 JP JP2018521372A patent/JP6653756B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3369015B1 (en) | 2021-03-03 |
KR20180072700A (ko) | 2018-06-29 |
US20170115348A1 (en) | 2017-04-27 |
US9678150B2 (en) | 2017-06-13 |
CN108351907B (zh) | 2022-04-01 |
WO2017074568A1 (en) | 2017-05-04 |
JP2018537762A (ja) | 2018-12-20 |
KR102596638B1 (ko) | 2023-10-31 |
EP3369015A1 (en) | 2018-09-05 |
CN108351907A (zh) | 2018-07-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6653756B2 (ja) | 回路設計をデバッグするための方法および回路 | |
US10503848B2 (en) | Target capture and replay in emulation | |
US9037911B2 (en) | Debug state machines and methods of their operation | |
US9977758B1 (en) | Device profiling for tuning OpenCL applications on programmable integrated circuits | |
US6961872B2 (en) | Microcomputer and debugging system | |
US10078113B1 (en) | Methods and circuits for debugging data bus communications | |
US8683265B2 (en) | Debug state machine cross triggering | |
US10678976B2 (en) | Generic protocol analyzer for circuit design verification | |
US10664563B2 (en) | Concurrent testbench and software driven verification | |
JP2004178591A (ja) | ダイナミック・トレース用プログレッシブ拡張圧縮マスク | |
CN115686655A (zh) | 用于gpu ip验证的联合仿真系统 | |
US20040103336A1 (en) | Apparatus for alignment of data collected from multiple pipe stages with heterogeneous retention policies in an unprotected pipeline | |
US10664637B2 (en) | Testbench restoration based on capture and replay | |
US9581643B1 (en) | Methods and circuits for testing partial circuit designs | |
CN117076337B (zh) | 一种数据传输方法、装置、电子设备及可读存储介质 | |
Lei et al. | Validating direct memory access interfaces with conformance checking | |
US20060288254A1 (en) | Multi-Port Trace Data Handling | |
US9864830B1 (en) | Method and apparatus for placement and routing of circuit designs | |
US10970442B1 (en) | Method of debugging hardware and firmware of data storage | |
CN115629928B (zh) | 一种面向类脑处理器的软硬协同验证方法及系统 | |
US9946624B1 (en) | Systems and methods to capture data signals from a dynamic circuit | |
US11295052B1 (en) | Time correlation in hybrid emulation system | |
Du et al. | FPGA-controlled PCBA power-on self-test using processor's debug features | |
Zheng et al. | Protocol-guided analysis of post-silicon traces under limited observability | |
CN114169287A (zh) | 生成验证环境的连接示意图的方法、电子设备及存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A529 | Written submission of copy of amendment under article 34 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A529 Effective date: 20180425 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190830 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20190830 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20191224 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191224 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200107 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200128 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6653756 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |