JP6636214B1 - 診断装置、診断方法及びプログラム - Google Patents
診断装置、診断方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6636214B1 JP6636214B1 JP2019521501A JP2019521501A JP6636214B1 JP 6636214 B1 JP6636214 B1 JP 6636214B1 JP 2019521501 A JP2019521501 A JP 2019521501A JP 2019521501 A JP2019521501 A JP 2019521501A JP 6636214 B1 JP6636214 B1 JP 6636214B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- index value
- correlation
- learning
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 title description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 62
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 80
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 56
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 33
- 230000008569 process Effects 0.000 description 32
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 30
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 27
- 230000006870 function Effects 0.000 description 15
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 13
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 12
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 7
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 6
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0237—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on parallel systems, e.g. comparing signals produced at the same time by same type systems and detect faulty ones by noticing differences among their responses
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
- G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
- G05B13/0265—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric the criterion being a learning criterion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
- G01M99/005—Testing of complete machines, e.g. washing-machines or mobile phones
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N20/00—Machine learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q10/00—Administration; Management
- G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
- G06Q10/063—Operations research, analysis or management
- G06Q10/0639—Performance analysis of employees; Performance analysis of enterprise or organisation operations
- G06Q10/06395—Quality analysis or management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q50/00—Information and communication technology [ICT] specially adapted for implementation of business processes of specific business sectors, e.g. utilities or tourism
- G06Q50/04—Manufacturing
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
- G07C3/005—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles during manufacturing process
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
Description
本実施の形態に係る診断システム100は、工場に形成される生産システムの一部に相当する。診断システム100は、生産システムからデータを収集して、当該生産システムにおける異常の有無を診断する。異常は、例えば、生産ラインに流れるワークの仕様が規格外であること、生産ラインを構成する装置の不具合、及びこの装置の稼働中に生じたエラーを含む。異常は、生産システムの運営者が想定するものとして予め定められる正常な状態とは異なる状態であって、通常は、生産システムによる製品の生産を停止させ、又は歩留まりを低下させる。そして、診断システム100は、診断の結果を示す情報をユーザに提供する。診断システム100は、図1に示されるように、異常の有無を診断する診断装置10と、診断装置10に信号を送信する複数の機器21と、を有している。
続いて、実施の形態2について、上述の実施の形態1との相違点を中心に説明する。なお、上記実施の形態と同一又は同等の構成については、同等の符号を用いるとともに、その説明を省略又は簡略する。実施の形態1では、入力信号すべてが異常の有無の診断対象となる対象信号であった。しかしながら、対象信号とは異なる信号を用いて、対象信号に含まれる異常の診断の精度を向上させることもできると考えられる。以下では、入力信号が対象信号及び対象信号とは異なる信号を含む形態について図12〜18を用いて説明する。
続いて、実施の形態3について、上述の実施の形態1との相違点を中心に説明する。なお、上記実施の形態と同一又は同等の構成については、同等の符号を用いるとともに、その説明を省略又は簡略する。上記実施の形態1では、複数の入力信号と多次元のパターンとの単純な比較により第2指標値が算出されたが、第2指標値は、このような単純な比較とは異なる手法で算出されてもよい。
Claims (8)
- 異常の有無の診断対象となる対象信号を含む複数の入力信号を取得する取得手段と、
前記対象信号に関する第1指標値と、前記複数の入力信号に関する第2指標値と、の重み付け和であって、前記複数の入力信号間の相関関係に応じた重みで算出される前記重み付け和から異常の有無を診断する診断手段と、を備え、
前記第1指標値は、前記対象信号の波形が予め定められた基準波形に類似する度合い又は乖離する度合いを示し、
前記第2指標値は、前記対象信号と予め定められたパターンとの比較に基づく値であって、前記複数の入力信号の値から算出され、
前記複数の入力信号の相関する度合いが高いときに前記重み付け和を得るための前記第1指標値の重み係数は、前記複数の入力信号の相関する度合いが低いときの前記重み係数より小さい、診断装置。 - 前記取得手段は、複数の前記対象信号を前記複数の入力信号として取得し、
前記診断手段は、前記対象信号それぞれに関する前記第1指標値と、前記第2指標値と、から異常の有無を診断し、
前記第1指標値はそれぞれ、前記対象信号の波形が該対象信号に対応して予め定められた前記基準波形に類似する度合いを示し、
前記第2指標値は、複数の前記対象信号が多次元の前記パターンに類似する度合いを示す、
請求項1に記載の診断装置。 - 前記診断手段は、複数の前記対象信号間の相関関係に応じた重みで算出される、複数の前記第1指標値と前記第2指標値との前記重み付け和から異常の有無を診断する、
請求項2に記載の診断装置。 - 学習信号から前記パターンを学習する学習手段、をさらに備え、
前記取得手段は、前記対象信号に対応する対象学習信号と、機器を制御するための制御信号に対応する制御学習信号と、を前記学習信号として取得して、前記対象信号と前記制御信号とを含む複数の前記入力信号を取得し、
前記学習手段は、前記制御学習信号の値に対応する複数の前記パターンを前記対象学習信号から学習し、
前記第2指標値は、前記対象信号と、前記学習手段によって学習された複数の前記パターンのうち前記制御信号の値に対応する前記パターンと、の比較に基づく値である、
請求項1に記載の診断装置。 - 一の信号が他の信号に相関する度合いを算出する相関算出手段、をさらに備え、
前記取得手段は、複数の前記制御学習信号を取得して、複数の前記制御信号を取得し、
前記相関算出手段は、複数の前記制御学習信号のうち前記対象学習信号と相関のある前記制御学習信号を相関信号として特定し、
前記学習手段は、前記相関信号の値に対応する複数の前記パターンを前記対象学習信号から学習し、
前記第2指標値は、前記対象信号と、前記相関信号に対応する前記制御信号の値に対応する前記パターンと、の比較に基づく値である、
請求項4に記載の診断装置。 - 前記相関算出手段は、複数の前記制御学習信号のうち前記対象学習信号の特徴量と相関のある前記相関信号を特定する、
請求項5に記載の診断装置。 - 異常の有無の診断対象となる対象信号を含む複数の入力信号を取得する取得ステップと、
第1指標値と第2指標値との重み付け和であって、前記複数の入力信号間の相関関係に応じた重みで算出される前記重み付け和から異常の有無を診断する診断ステップと、を含み、
前記第1指標値は、前記対象信号の波形が予め定められた基準波形に類似する度合い又は乖離する度合いを示し、
前記第2指標値は、前記対象信号と予め定められたパターンとの比較に基づく値であって、前記複数の入力信号の値から算出され、
前記複数の入力信号の相関する度合いが高いときに前記重み付け和を得るための前記第1指標値の重み係数は、前記複数の入力信号の相関する度合いが低いときの前記重み係数より小さい、診断方法。 - コンピュータに、
異常の有無の診断対象となる対象信号を含む複数の入力信号を取得し、
第1指標値と第2指標値との重み付け和であって、前記複数の入力信号間の相関関係に応じた重みで算出される前記重み付け和から異常の有無を診断する、ことを実行させ、
前記第1指標値は、前記対象信号の波形が予め定められた基準波形に類似する度合い又は乖離する度合いを示し、
前記第2指標値は、前記対象信号と予め定められたパターンとの比較に基づく値であって、前記複数の入力信号の値から算出され、
前記複数の入力信号の相関する度合いが高いときに前記重み付け和を得るための前記第1指標値の重み係数は、前記複数の入力信号の相関する度合いが低いときの前記重み係数より小さい、プログラム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2018/023102 WO2019244203A1 (ja) | 2018-06-18 | 2018-06-18 | 診断装置、診断方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6636214B1 true JP6636214B1 (ja) | 2020-01-29 |
JPWO2019244203A1 JPWO2019244203A1 (ja) | 2020-06-25 |
Family
ID=68983848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019521501A Active JP6636214B1 (ja) | 2018-06-18 | 2018-06-18 | 診断装置、診断方法及びプログラム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11782395B2 (ja) |
JP (1) | JP6636214B1 (ja) |
CN (1) | CN112334849B (ja) |
DE (1) | DE112018007597B4 (ja) |
TW (1) | TW202001201A (ja) |
WO (1) | WO2019244203A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018052015A1 (ja) * | 2016-09-14 | 2018-03-22 | 日本電気株式会社 | システムの分析支援装置、システムの分析支援方法及びプログラム |
US11899062B2 (en) * | 2019-04-26 | 2024-02-13 | Nec Space Technologies, Ltd. | Basic logic element, semiconductor device including the same, output control method for basic logic element, and non-transitory computer readable medium |
JP7256764B2 (ja) * | 2020-02-21 | 2023-04-12 | 株式会社東芝 | 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
WO2022054256A1 (ja) * | 2020-09-11 | 2022-03-17 | 三菱電機株式会社 | 異常検知装置 |
CN113640026B (zh) * | 2021-08-12 | 2023-12-08 | 三一汽车制造有限公司 | 一种工业设备测试方法和装置、测试系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011065341A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 故障箇所検出装置 |
JP2011070635A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-04-07 | Hitachi Ltd | 設備状態監視方法およびその装置 |
JP2017215765A (ja) * | 2016-05-31 | 2017-12-07 | 日本電信電話株式会社 | 異常検知装置、異常検知方法及び異常検知プログラム |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6105149A (en) * | 1998-03-30 | 2000-08-15 | General Electric Company | System and method for diagnosing and validating a machine using waveform data |
US6609217B1 (en) | 1998-03-30 | 2003-08-19 | General Electric Company | System and method for diagnosing and validating a machine over a network using waveform data |
JP2000210800A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-02 | Komatsu Ltd | 産業機械のモニタ方法およびその装置 |
US6442724B1 (en) | 1999-04-02 | 2002-08-27 | Teradyne, Inc. | Failure capture apparatus and method for automatic test equipment |
US6782345B1 (en) | 2000-10-03 | 2004-08-24 | Xerox Corporation | Systems and methods for diagnosing electronic systems |
TW462900B (en) | 2000-10-11 | 2001-11-11 | China Steel Corp | Vibration diagnosis method for abnormality or malfunctions of roller of hot rolling machine for steel strip |
JP2003021555A (ja) | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Yamatake Sangyo Systems Co Ltd | 異常監視装置 |
US7512503B2 (en) * | 2003-05-12 | 2009-03-31 | Simmonds Precision Products, Inc. | Wire fault detection |
CN100507552C (zh) * | 2004-08-31 | 2009-07-01 | 株式会社东芝 | 超声波探测器诊断装置、超声波诊断装置及超声波探测器诊断方法 |
JP2006105943A (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Omron Corp | 知識作成装置及びパラメータ探索方法並びにプログラム製品 |
US8306939B2 (en) * | 2007-03-12 | 2012-11-06 | Kochi University | Examination value predicting device using electrophoresis waveform, prediction method, and predicting program |
JP2008268187A (ja) | 2007-03-26 | 2008-11-06 | Nippon Steel Corp | 極低速回転機械の異常診断方法及び装置 |
CN101634605B (zh) | 2009-04-10 | 2011-03-30 | 北京工业大学 | 基于混合推理和神经网络的齿轮箱故障智能诊断方法 |
JP5363927B2 (ja) * | 2009-09-07 | 2013-12-11 | 株式会社日立製作所 | 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム |
WO2012086444A1 (ja) | 2010-12-24 | 2012-06-28 | 日本電気株式会社 | 監視データ分析装置、監視データ分析方法および監視データ分析プログラム |
JP6475906B2 (ja) | 2012-11-29 | 2019-02-27 | 株式会社サタケ | 籾摺機のモニタリング装置 |
JP6076751B2 (ja) | 2013-01-22 | 2017-02-08 | 株式会社日立製作所 | 異常診断方法およびその装置 |
US20210001810A1 (en) * | 2019-07-02 | 2021-01-07 | Duelight Llc | System, method, and computer program for enabling operation based on user authorization |
JP5778305B2 (ja) * | 2014-03-12 | 2015-09-16 | 株式会社日立製作所 | 異常検知方法及びそのシステム |
CN105224872B (zh) | 2015-09-30 | 2018-04-13 | 河南科技大学 | 一种基于神经网络聚类的用户异常行为检测方法 |
CN106845049B (zh) * | 2015-12-03 | 2019-09-20 | 北京航天拓扑高科技有限责任公司 | 一种旋转机械设备故障诊断中故障程度计算方法 |
US20200410890A1 (en) * | 2018-03-09 | 2020-12-31 | Advanced Telecommunications Research Institute International | Brain activity training apparatus, brain activity training method and brain activity training program |
US20220202362A9 (en) * | 2018-08-24 | 2022-06-30 | True Wearables, Inc. | Monitoring devices and methods |
US11613010B2 (en) * | 2019-01-03 | 2023-03-28 | Lucomm Technologies, Inc. | Flux sensing system |
US20200356951A1 (en) * | 2019-01-03 | 2020-11-12 | Lucomm Technologies, Inc. | Robotic Devices |
US20230211493A1 (en) * | 2019-03-20 | 2023-07-06 | Lucomm Technologies, Inc. | Robotic Post System |
-
2018
- 2018-06-18 US US17/251,209 patent/US11782395B2/en active Active
- 2018-06-18 CN CN201880094588.8A patent/CN112334849B/zh active Active
- 2018-06-18 WO PCT/JP2018/023102 patent/WO2019244203A1/ja active Application Filing
- 2018-06-18 JP JP2019521501A patent/JP6636214B1/ja active Active
- 2018-06-18 DE DE112018007597.4T patent/DE112018007597B4/de active Active
-
2019
- 2019-05-13 TW TW108116338A patent/TW202001201A/zh unknown
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011070635A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-04-07 | Hitachi Ltd | 設備状態監視方法およびその装置 |
JP2011065341A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 故障箇所検出装置 |
JP2017215765A (ja) * | 2016-05-31 | 2017-12-07 | 日本電信電話株式会社 | 異常検知装置、異常検知方法及び異常検知プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11782395B2 (en) | 2023-10-10 |
DE112018007597T5 (de) | 2021-03-25 |
US20210263483A1 (en) | 2021-08-26 |
CN112334849B (zh) | 2022-02-18 |
JPWO2019244203A1 (ja) | 2020-06-25 |
CN112334849A (zh) | 2021-02-05 |
DE112018007597B4 (de) | 2022-06-09 |
WO2019244203A1 (ja) | 2019-12-26 |
TW202001201A (zh) | 2020-01-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6636214B1 (ja) | 診断装置、診断方法及びプログラム | |
US11163277B2 (en) | Abnormality detection system, support device, and model generation method | |
US20190301979A1 (en) | Abnormality detection system, support device, and abnormality detection method | |
US10789120B2 (en) | Preprocessor and abnormality predictor diagnosis system | |
US10795338B2 (en) | Abnormality detection system, support device, and model generation method | |
US11048729B2 (en) | Cluster evaluation in unsupervised learning of continuous data | |
US20200143292A1 (en) | Signature enhancement for deviation measurement-based classification of a detected anomaly in an industrial asset | |
EP2608091A2 (en) | Diagnostic factor set determination apparatus and method | |
JPWO2015045319A1 (ja) | 情報処理装置、及び、分析方法 | |
JP2015170121A (ja) | 異常診断装置及びプログラム | |
JP7504772B2 (ja) | 異常判定装置、学習装置及び異常判定方法 | |
JP2020198092A (ja) | 教師なし異常検出及び高次元センサデータの多数決投票による原因説明のための方法及びシステム | |
KR102059112B1 (ko) | 사물 인터넷 스트림 데이터 품질 측정 지표 및 프로파일링 방법 및 그 시스템 | |
JPWO2008111349A1 (ja) | 生存分析システム、生存分析方法および生存分析用プログラム | |
JP6797295B2 (ja) | 診断装置、診断方法及びプログラム | |
JP5771318B1 (ja) | 異常診断装置及び異常診断方法 | |
KR20220154803A (ko) | 성능 이벤트 문제 해결 시스템 | |
CN113646786A (zh) | 信号选择装置、学习装置、信号选择方法及程序 | |
WO2023062829A1 (ja) | 状態検知システム、状態検知方法および状態検知プログラム | |
TWI849392B (zh) | 狀態檢知系統、狀態檢知方法以及狀態檢知程式產品 | |
JP2022165051A (ja) | 分析装置 | |
EP3620950A1 (en) | Building a machine-learning model with improved feature distribution | |
JP2022165669A (ja) | 異常検出装置、異常検出方法、および異常検出プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190422 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20190422 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20190524 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190709 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190903 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191119 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6636214 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |