JP6605491B2 - Bi-directional AC switch - Google Patents

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Description

本実施の形態は、双方向ACスイッチに関する。   The present embodiment relates to a bidirectional AC switch.

半導体を使用した双方向ACスイッチは電磁式の双方向ACスイッチと比較して高速応答と長寿命の点に優れた方式として知られている。   A bidirectional AC switch using a semiconductor is known as a method superior in high-speed response and long life as compared with an electromagnetic bidirectional AC switch.

これまでのシリコン(Si:Silicon)を材料とした双方向ACスイッチの一形態として、逆並列ダイオードを有したMOSFETを互いに向かい合わせに接続した回路を基本セルとした構成がある。   As one form of a bidirectional AC switch using silicon (Si) as a material so far, there is a configuration in which a circuit in which MOSFETs having antiparallel diodes are connected to face each other is used as a basic cell.

従来の電磁式スイッチは、無電圧接点だったが、物理的リレーで応答速度が遅く寿命において半導体式の双方向ACスイッチに劣り、特に電力系統に使用される高電圧双方向ACスイッチにおいては、スイッチする際のアーク放電によって完全な開放状態となるまでに数十ミリ秒の時間を要するため、その間に巨大な事故電流が流れる可能性があった。このため、系統に接続される配線や電子機器にはその事故電流を許容できる設計が必要であり、配線工事コストを増大させていた。   The conventional electromagnetic switch was a non-voltage contact, but the response speed of the physical relay was slow and the life was inferior to the semiconductor bidirectional AC switch. Especially in the high voltage bidirectional AC switch used in the power system, Since it took several tens of milliseconds to reach a complete open state due to arc discharge when switching, a huge accident current could flow during that time. For this reason, the wiring and the electronic equipment connected to the system need to be designed to allow the fault current, which increases the wiring work cost.

また、従来の半導体式の双方向ACスイッチは、応答速度と長寿命、スイッチ時に放電しない点で電磁式の双方向ACスイッチに勝るが、高価でかつ接点接触抵抗以外の要因で発生する電圧降下を伴う有電圧接点であるため使いづらく、また発熱も大きくなり、冷却機構の充実や発熱の分散が必要であった。   In addition, the conventional semiconductor bidirectional AC switch is superior to the electromagnetic bidirectional AC switch in that the response speed, long life, and no discharge at the time of switching, but the voltage drop caused by factors other than the contact contact resistance is expensive. It is difficult to use because it has a voltage contact point with a large amount of heat, and the heat generation increases, so the cooling mechanism must be improved and the heat generation must be dispersed.

一方、炭化ケイ素(SiC:Silicon Carbide)を使ったパワーデバイスは複数の企業から世に供給されている。ワイドバンドギャップ半導体であるSiCを用いて作られたパワーデバイスの特長として、従来のSiパワーデバイスよりも優れた低オン抵抗、高速スイッチングおよび高温動作などが挙げられる。   On the other hand, power devices using silicon carbide (SiC) are supplied to the world by a plurality of companies. Features of power devices made using SiC, which is a wide band gap semiconductor, include low on-resistance, high-speed switching, and high-temperature operation that are superior to conventional Si power devices.

また、SiCを使った高耐圧化と耐高温化および小型化を指向する双方向ACスイッチも開示されている。   In addition, a bidirectional AC switch that uses SiC to achieve high withstand voltage, high temperature resistance, and downsizing is also disclosed.

特開2012−54694号公報JP 2012-54694 A 特開平10−308510号公報JP-A-10-308510 特開2007−135081号公報JP 2007-135081 A

本実施の形態は、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量で高速応答可能な無電圧接点の双方向ACスイッチを提供する。   The present embodiment provides a bidirectional AC switch having no voltage contact that is excellent in linearity of voltage-current characteristics, is small and inexpensive, has a long life, has a high withstand voltage, and has a large current capacity and a high-speed response.

本実施の形態の一態様によれば、第1ゲート、第1ソースおよび第1ドレインを有する第1SiC−MOSFETと、前記第1ゲートおよび前記第1ソースとそれぞれ短絡された第2ゲートおよび第2ソースを有し、かつ第2ドレインを有する第2SiC−MOSFETと、互いに短絡された前記第1ゲートおよび第2ゲートに印加されるゲート電圧を制御するゲート駆動回路と、を備えたセルが、m直列×n並列に接続された双方向ACスイッチであって、前記双方向ACスイッチのスイッチ出力端子間の通電時の定格電流が、前記第1ソース側に正電圧が印加された場合に前記第1SiC−MOSFETのチャネル部と前記第1SiC−MOSEFTのボディダイオード部に流れる電流を比較して、前記チャネル部側を流れる電流の方が大きくなる電流範囲内に設定された双方向ACスイッチが提供される。   According to one aspect of the present embodiment, a first SiC-MOSFET having a first gate, a first source and a first drain, a second gate and a second short-circuited with the first gate and the first source, respectively. A cell comprising a second SiC-MOSFET having a source and a second drain, and a gate driving circuit for controlling a gate voltage applied to the first gate and the second gate that are short-circuited to each other, A bidirectional AC switch connected in series and n in parallel, wherein the rated current when energized between the switch output terminals of the bidirectional AC switch is the first when the positive voltage is applied to the first source side. Comparing the current flowing through the channel part of the 1 SiC-MOSFET and the body diode part of the first SiC-MOSEFT, the current flowing through the channel part side is Bidirectional AC switch which is set in the hear becomes current range is provided.

本実施の形態によれば、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量で高速応答可能な無電圧接点の双方向ACスイッチを提供することができる。   According to the present embodiment, it is possible to provide a bidirectional AC switch having no voltage contact that is excellent in linearity of voltage-current characteristics, is small and inexpensive, has a long life, has a high withstand voltage, and has a large current capacity and can respond quickly. .

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチの模式的回路構成図。The typical circuit block diagram of the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能なSiC−MOSFETの回路表現図。The circuit representation figure of SiC-MOSFET applicable to the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能なSiC−MOSFETとSi−MOSFETの順方向および逆方向電流−電圧特性の説明図。Explanatory drawing of the forward direction and reverse direction current-voltage characteristic of SiC-MOSFET and Si-MOSFET applicable to the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能なSiC−MOSFETの順方向および逆方向のドレイン電流−ドレイン電圧特性例。6 is a drain current-drain voltage characteristic example in the forward and reverse directions of the SiC-MOSFET applicable to the bidirectional AC switch according to the first embodiment. 第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能なSiC−MOSFETにおいて、オン状態におけるチャネル部を導通するMOS電流IMOSの順方向電流−電圧特性例、およびボディダイオードの順方向電流−電圧特性例。In the SiC-MOSFET applicable to the bidirectional AC switch according to the first embodiment, the forward current-voltage characteristic example of the MOS current I MOS conducting the channel portion in the ON state, and the forward current of the body diode— Example of voltage characteristics. 第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチの電流−電圧特性例。4 is a current-voltage characteristic example of the bidirectional AC switch according to the first embodiment. 第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチの電流−電圧特性上における定格電流動作範囲の説明図。Explanatory drawing of the rated current operation range on the current-voltage characteristic of the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 1st Embodiment. 第2の実施の形態に係る双方向ACスイッチの模式的回路構成図。The typical circuit block diagram of the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチの模式的回路構成図。The typical circuit block diagram of the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 3rd Embodiment. 第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチにおいて、双方向ACスイッチの単位セルの模式的回路構成図。The schematic circuit block diagram of the unit cell of a bidirectional | two-way AC switch in the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施の形態に係る双方向ACスイッチの模式的回路ブロック構成図。The typical circuit block block diagram of the bidirectional | two-way AC switch which concerns on 4th Embodiment. 実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能な半導体デバイスの例であって、SiC DIMOSFETの模式的断面構造図。FIG. 3 is a schematic cross-sectional structure diagram of a SiC DIMOSFET, which is an example of a semiconductor device applicable to the bidirectional AC switch according to the embodiment. 実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能な半導体デバイスの例であって、SiC TMOSFETの模式的断面構造図。FIG. 4 is a schematic cross-sectional structure diagram of a SiC TMOSFET, which is an example of a semiconductor device applicable to the bidirectional AC switch according to the embodiment.

次に、図面を参照して、実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一または類似の部分には同一または類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。   Next, embodiments will be described with reference to the drawings. In the following description of the drawings, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. However, it should be noted that the drawings are schematic, and the relationship between the thickness and the planar dimensions, the ratio of the thickness of each layer, and the like are different from the actual ones. Therefore, specific thicknesses and dimensions should be determined in consideration of the following description. Moreover, it is a matter of course that portions having different dimensional relationships and ratios are included between the drawings.

また、以下に示す実施の形態は、技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、実施の形態は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。実施の形態は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。   In addition, the embodiment described below exemplifies an apparatus and method for embodying the technical idea, and the embodiment describes the material, shape, structure, arrangement, etc. of the component parts as follows. It is not something specific. Various modifications can be made to the embodiments within the scope of the claims.

なお、以下の説明において、無電圧接点とは接点接触抵抗値が電流値によらず一定の値を有する接点であり、また少なくとも0V近辺での電流−電圧特性に線形性があり、電圧の正負切り替え時の電圧、電流波形歪みがない特性をいう。   In the following description, a non-voltage contact is a contact whose contact contact resistance value has a constant value regardless of the current value, and has a linearity in current-voltage characteristics at least in the vicinity of 0 V, and the positive and negative of the voltage. This refers to the characteristics without distortion at the time of switching voltage and current waveform.

[比較例]
シリコンを材料とした比較例に係る双方向ACスイッチの個々のセルにおいて、逆並列ダイオードは金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET:Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor)のソース側に正電圧が印加された場合に、MOSFET部でなく、動作電流に対するオン抵抗がより低いダイオード部に電流を流すことを目的として接続されている。
[Comparative example]
In each cell of the bi-directional AC switch according to the comparative example using silicon as a material, the antiparallel diode applies a positive voltage to the source side of a metal-oxide-semiconductor field effect transistor (MOSFET). In this case, the connection is made not for the MOSFET part but for the purpose of flowing the current to the diode part having a lower on-resistance with respect to the operating current.

双方向ACスイッチの個々のセルにおいて、MOSFETのゲートをオン状態にしてスイッチ出力端子間に交流電圧を印加すると、逆並列ダイオードが順方向バイアスされる側について、逆並列ダイオードのバリアハイト(barrier height)に相当する電圧以下の電圧領域ではほぼMOSFETのみを電流が流れ、それ以上の電圧領域ではMOSFETと逆並列ダイオードの両方を電流が流れる。   In each cell of the bi-directional AC switch, when an AC voltage is applied between the switch output terminals with the MOSFET gate turned on, the barrier height of the anti-parallel diode is on the side on which the anti-parallel diode is forward-biased. In the voltage region below the voltage corresponding to, current flows only through the MOSFET, and in the voltage region above it, current flows through both the MOSFET and the antiparallel diode.

ここで、Si製のMOSFETは耐圧を確保するための構造によって一般にオン抵抗が高く、かつSi製の逆並列ダイオード(もしくはボディダイオード)のpn接合拡散電位がナローバンドギャップ半導体であるSiでは1V以下程度のためオン抵抗が低く抑えられることから、基本的に前記2つの動作モードはSi製双方向ACスイッチの定格電流範囲内に必ず存在する。   Here, a Si MOSFET generally has a high on-resistance due to a structure for ensuring a withstand voltage, and a Si antiparallel diode (or body diode) has a pn junction diffusion potential of about 1 V or less in Si which is a narrow band gap semiconductor. Therefore, the on-resistance can be kept low, so that the two operation modes basically exist within the rated current range of the bidirectional AC AC switch.

したがって、Si製双方向ACスイッチはゼロ電圧付近において電流−電圧特性の線形性が崩れており、接点スイッチ特性以外の特性や制約を持っているという点で厳密には無電圧接点(ドライ接点)とは言えない。また、低抵抗を目的として逆並列ダイオードを接続させている分、素子点数が多くなりシステム全体の大型化、高コスト化を招く。   Therefore, in the case of Si bidirectional AC switches, the linearity of the current-voltage characteristics is lost near zero voltage, and strictly speaking, there are characteristics and restrictions other than the contact switch characteristics. It can not be said. In addition, since the antiparallel diode is connected for the purpose of low resistance, the number of elements increases, leading to an increase in the size and cost of the entire system.

[第1の実施の形態]
第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100の模式的回路構成は、図1に示すように表される。
[First embodiment]
A schematic circuit configuration of the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment is expressed as shown in FIG.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100は、図1に示すように、第1ゲートG1ij(i=1,2、…、m、j=1、2、…、nであり、m、nは1以上の整数)、第1ソースS1ijおよび第1ドレインD1ijを有する第1SiC−MOSFET Q1ijと、第1ゲートG1ijおよび第1ソースS1ijとそれぞれ短絡された第2ゲートG2ijおよび第2ソースS2ijを有し、かつ第2ドレインD2ijを有する第2SiC−MOSFET Q2ijと、互いに短絡された第1ゲートG1ij・第2ゲートG2ijにゲート電圧を印加するゲート駆動回路13ijと、を備えたセル110ijが、m直列×n並列に接続されている。As shown in FIG. 1, the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment includes first gates G1 ij (i = 1, 2,..., M, j = 1, 2,..., N, m and n are integers of 1 or more), a first SiC-MOSFET Q1 ij having a first source S1 ij and a first drain D1 ij, and a second gate short-circuited to the first gate G1 ij and the first source S1 ij , respectively. A gate for applying a gate voltage to the second SiC-MOSFET Q2 ij having G2 ij and the second source S2 ij and having the second drain D2 ij and the first gate G1 ij and the second gate G2 ij short-circuited to each other A cell 110 ij including a drive circuit 13 ij is connected in m series × n parallel.

ここで、第1SiC−MOSFET Q1ijおよび第2SiC−MOSFET Q2ijのそれぞれのドレインD1ij・D2ijが接続されたスイッチ出力端子間の通電時の定格電流が、第1SiC−MOSFET Q1ijのソースS1ij側に正電圧が印加された場合に第1SiC−MOSFET Q1ijのチャネル部を流れるMOS電流IMOSと第1SiC−MOSEFT Q1ijのボディダイオード(BD1ij)部に流れるBD電流IBDを比較して、チャネル部側を流れるMOS電流IMOSの方が大きくなる電流範囲内に設定される。ここで、定格電流については、図7を参照して、後述する。Here, the rated current during energization between the respective drains D1 ij · D2 ij is connected switch output terminal of the 1SiC-MOSFET Q1 ij and the SIC-MOSFET Q2 ij is the source of the 1SiC-MOSFET Q1 ij S1 When a positive voltage is applied to the ij side, the MOS current I MOS flowing through the channel portion of the first SiC-MOSFET Q1 ij is compared with the BD current I BD flowing through the body diode (BD1 ij ) portion of the first SiC-MOSEFT Q1 ij. Thus, the MOS current I MOS flowing through the channel side is set within a current range in which the MOS current I MOS is larger. Here, the rated current will be described later with reference to FIG.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100を構成するセル110ijにおいて、ゲート駆動回路13ijは、図1に示すように、入力端子18A・18B間に印加する電圧を操作することで、オン・オフ制御可能な発光ダイオード(LED)8ijを備える。第1SiC−MOSFET Q1ijおよび第2SiC−MOSFET Q2ijの互いに短絡されたゲートG1ij・G2ijには、発光ダイオード(LED)8ijからの光を受光可能な受光素子と、受光素子に接続された充放電回路を少なくとも備えた光電変換回路などが接続されていても良いが、図示は省略する。すなわち、実施の形態に係る双方向ACスイッチ100を構成するセル110ijにおいては、発光ダイオード(LED)8ijを動作させ続け、これの動作を停止すれば、セル110ijの動作も停止するような構成を備えるため、図1においては、セル110ijのゲート制御部は、単にG1ij・G2ij間を短絡して示している。In the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment, the gate drive circuit 13 ij operates the voltage applied between the input terminals 18A and 18B as shown in FIG. And a light emitting diode (LED) 8 ij that can be controlled on and off. The gates G1 ij and G2 ij of the first SiC-MOSFET Q1 ij and the second SiC-MOSFET Q2 ij that are short-circuited with each other are connected to the light receiving element capable of receiving light from the light emitting diode (LED) 8 ij and the light receiving element A photoelectric conversion circuit including at least a charge / discharge circuit may be connected, but the illustration is omitted. That is, in the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch 100 according to the embodiment, if the light emitting diode (LED) 8 ij is continuously operated and this operation is stopped, the operation of the cell 110 ij is also stopped. In FIG. 1, the gate control unit of the cell 110 ij is simply shown by short-circuiting G1 ij and G2 ij .

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100を構成するセル110ijにおいては、1200V80mΩのSiC−MOSFET Q1ij・Q2ijを2つ向かい合わせで接続し、LED8ijからの光信号を受光する受光素子と充放電回路でゲート制御を行う接点定格AC(700×m)V/(5×n)Aの双方向ACスイッチが構成可能である。In the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment, two SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij of 1200 V 80 mΩ are connected face to face to receive the optical signal from the LED 8 ij. A bidirectional AC switch having a contact rating of AC (700 × m) V / (5 × n) A that performs gate control with a light receiving element and a charge / discharge circuit can be configured.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成するセル110ijに適用可能なSiC−MOSFETの回路表現は、図2に示すように表される。図2の回路表現は、Si−MOSFETにおいても同様である。A circuit representation of the SiC-MOSFET applicable to the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment is expressed as shown in FIG. The circuit representation of FIG. 2 is the same for the Si-MOSFET.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成するセル110ijに適用可能なSiC−MOSFETとSi−MOSFETの順方向および逆方向電流−電圧特性の説明図は、図3に示すように表される。As shown in FIG. 3, an explanatory diagram of the forward and reverse current-voltage characteristics of the SiC-MOSFET and the Si-MOSFET applicable to the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment. expressed.

ここで、Si−MOSFETでは、オン状態においても順方向のMOS電流IMOS(Si−MOS)は、図3の破線に示すように、一般にオン抵抗が高い。かつSi製の逆並列ダイオード(もしくはボディダイオード)のpn接合拡散電位がナローバンドギャップ半導体であるSiでは1V以下程度のため、逆方向特性は、例えば、約0.6Vまでは、逆方向のMOS電流IMOS(Si−MOS)特性に従い、更に約0.6V以上の逆方向電圧が印加されると、ボディダイオードBDの順方向電流が重畳されて、図3の破線に示すように、IBD(Si−MOS)の特性が得られる。In the Si-MOSFET, the forward MOS current I MOS (Si-MOS) generally has a high on-resistance as shown by the broken line in FIG. 3 even in the on-state. In addition, since the pn junction diffusion potential of the Si parallel diode (or body diode) is about 1 V or less in Si, which is a narrow band gap semiconductor, the reverse characteristic is, for example, up to about 0.6 V. according I MOS (Si-MOS) characteristics, further about 0.6V or more reverse voltage is applied, are superimposed forward current of the body diode BD, as shown in broken line in FIG. 3, I BD ( Si-MOS) characteristics can be obtained.

一方、SiC−MOSFETは、Si−MOSFETに比べて、オン状態(例えばVgs=18V)において順方向のMOS電流IMOS(SiC−MOS)は、図3の実線に示すように、オン抵抗が低い。かつSiC製のボディダイオードBDのpn接合拡散電位がワイドギャップ半導体であるSiCでは約3V以下程度のため、ボディダイオードBDの電気特性は、例えば、図3の(2)の曲線IBD(SiC−MOS)に示されるように、約0.6Vまでは、ほぼ非導通である。このため、逆方向特性は、例えば、約0.6Vまでは、逆方向のMOS電流IMOS(SiC−MOS)特性に従い、更に約0.6V以上の逆方向電圧が印加されると、印加電圧が大きくなるほどボディダイオードBDの順方向電流が大きく重畳されて、図3の(1)の実線に示すように、IMOS(SiC−MOS)+IBD(SiC−MOS)の特性が得られる。On the other hand, the SiC-MOSFET has a lower on-resistance than the Si-MOSFET, as shown by the solid line in FIG. 3, the forward MOS current I MOS (SiC-MOS) in the on state (eg, Vgs = 18V). . In addition, since the pn junction diffusion potential of the SiC body diode BD is about 3 V or less in SiC, which is a wide gap semiconductor, the electrical characteristics of the body diode BD are, for example, the curve I BD (SiC− in FIG. 3B). As shown in (MOS), it is almost non-conductive up to about 0.6V. Therefore, for example, the reverse characteristics follow the reverse MOS current I MOS (SiC-MOS) characteristics up to about 0.6 V, and when a reverse voltage of about 0.6 V or more is further applied, As the current increases, the forward current of the body diode BD increases and the characteristic of I MOS (SiC-MOS) + I BD (SiC-MOS) is obtained as shown by the solid line in FIG.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100を構成するセル110ijに適用可能なSiC−MOSFETの順方向および逆方向のドレイン電流−ドレイン電圧特性例は、図4に示すように表される。図4において、破線RAは、1個のSiC−MOSFETの空冷時の定格動作範囲の一例を示す。An example of the forward and reverse drain current-drain voltage characteristics of the SiC-MOSFET applicable to the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment is expressed as shown in FIG. The In FIG. 4, a broken line RA indicates an example of a rated operation range when one SiC-MOSFET is air-cooled.

図4において、ゲート電圧Vgs=0Vにおいて順方向のMOS電流IMOSはほぼ導通せず、逆方向電流は、ボディダイオードBDに導通する電流IBDが示されている。一方、ゲート電圧Vgs=18Vにおいては、SiC−MOSFETはオン(導通)状態となり、順方向および逆方向のMOS電流IMOSは破線RAの範囲内においてともに直線性の良好な電流−電圧特性が得られている。In FIG. 4, the forward MOS current I MOS is not substantially conducted at the gate voltage Vgs = 0V, and the reverse current is the current I BD conducted to the body diode BD. On the other hand, at the gate voltage Vgs = 18V, the SiC-MOSFET is turned on (conductive), and the forward and reverse MOS currents I MOS both have current-voltage characteristics with good linearity within the range of the broken line RA. It has been.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成するセル110ijに適用可能なSiC−MOSFETにおいて、ゲート電圧Vgs=18Vのオン状態におけるMOSFETのチャネル部を導通するMOS電流IMOSの順方向電流−電圧特性例、およびボディダイオードBDを導通するBD電流IBDの順方向−電圧特性例は、図5に示すように表される。また、破線は、ボディダイオードBDに流れる電流割合IBD/(IBD+IMOS)(%)を表している。In the SiC-MOSFET applicable to the cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment, the forward direction of the MOS current I MOS that conducts the channel portion of the MOSFET in the ON state with the gate voltage Vgs = 18V. current - forward voltage characteristic example, and BD current I BD to conduct body diode BD - voltage characteristic example is expressed as shown in FIG. The broken line represents the ratio of current I BD / (I BD + I MOS ) (%) flowing through the body diode BD.

SiC−MOSFETのドレイン電流−ドレイン電圧特性(150℃:定格ジャンクション温度)では、±5A以下の領域ではボディダイオードBDはほぼ動作せず、SiC−MOSFETのチャネル部の電気特性を反映した関係になっている。すなわち、図5に示すように、5A時のSiC−MOSFETのドレイン−ソース間オン電圧は0.68Vであるため、ソース側に正電圧が印加された場合のチャネル部とボディダイオードに流れる電流Dの比IBD/(IBD+IMOS)(%)は0.002%以下となり、ほぼ完全にMOSFET部にのみ電流が流れる。この傾向は25℃時では電流比は0.001%以下になり、同様の効果が得られる。In the drain current-drain voltage characteristics (150 ° C .: rated junction temperature) of the SiC-MOSFET, the body diode BD does not substantially operate in the region of ± 5 A or less, and the relationship reflects the electrical characteristics of the channel portion of the SiC-MOSFET. ing. That is, as shown in FIG. 5, since the drain-source on-voltage of the SiC-MOSFET at 5A is 0.68 V, the current D flowing in the channel portion and the body diode when a positive voltage is applied to the source side. The ratio I BD / (I BD + I MOS ) (%) is 0.002% or less, and the current flows almost completely only in the MOSFET portion. As for this tendency, at 25 ° C., the current ratio becomes 0.001% or less, and the same effect can be obtained.

SiCはワイドバンドギャップ半導体であるが故に、pn接合を形成した場合の拡散電位はSiと比較して非常に大きい。このため、SiCを材料に使えば、ゲートオン状態においてMOSFETのソース側に正電圧が印加された場合にボディダイオードに流れる電流を抑制し、MOSFET部のみに選択的に電流を流すことができる。すなわち、SiCのpn接合拡散電位は3V程度と大きくボディダイオードが導通しにくいため、SiC−MOSFETのみで双方向スイッチ回路を作り、動作電流をボディダイオードを動かさずMOSFETのみに制限することで線形性の優れた双方向ACスイッチを作成することができる。   Since SiC is a wide band gap semiconductor, the diffusion potential when a pn junction is formed is very large compared to Si. For this reason, if SiC is used as a material, when a positive voltage is applied to the source side of the MOSFET in the gate-on state, the current flowing through the body diode can be suppressed, and the current can be selectively supplied only to the MOSFET portion. In other words, the pn junction diffusion potential of SiC is about 3V, and the body diode is difficult to conduct. Therefore, a bidirectional switch circuit is made only by SiC-MOSFET, and the operating current is limited to only the MOSFET without moving the body diode. It is possible to create an excellent bidirectional AC switch.

図1に示される回路構成により、SiC−MOSFET Q1ij・Q2ijを向かい合わせに接続した双方向ACスイッチ100を構成するセル110ijが形成される。ここでSiC−MOSFET Q1ij・Q2ijはボディダイオードBD1ij・BD2ijを内蔵しているが、そのpn接合の拡散電位はワイドバンドギャップ半導体であるSiCから形成されているため3V程度と高く、一方で絶縁破壊電界が高いためドリフト層の膜厚を薄く、キャリア濃度を高く設定でき、SiC−MOSFET Q1ij・Q2ijのドレイン−ソース間オン抵抗を低く設定することができる。例えば、SiC−MOSFET Q1ij・Q2ijは、耐圧1200V、入力容量2080pFで、ドレイン−ソース間オン抵抗は、約80mΩを実現可能である。With the circuit configuration shown in FIG. 1, a cell 110 ij constituting the bidirectional AC switch 100 in which SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij are connected face to face is formed. Here, the SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij have built-in body diodes BD1 ij and BD2 ij , but the diffusion potential of the pn junction is formed from SiC, which is a wide band gap semiconductor, and is as high as about 3 V. On the other hand, since the dielectric breakdown electric field is high, the thickness of the drift layer can be thin, the carrier concentration can be set high, and the drain-source on-resistance of SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij can be set low. For example, SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij have a withstand voltage of 1200 V, an input capacitance of 2080 pF, and a drain-source on-resistance of about 80 mΩ can be realized.

このため、SiC−MOSFET Q1ij・Q2ijのソースS1ij・S2ij側に正電圧が印加されたとき、チャネル側電流経路のオン抵抗値をボディダイオードBD1ij・BD2ij側電流経路のオン抵抗より低く設定できる範囲がSi−MOSFETと比較して飛躍的に拡張でき、チャネル側に優先的に電流を流しやすくなる。Si−MOSFETにおいても大量に並列数を増やせばチャネル部のみに流せる電流範囲を増大させることはできるが、その場合MOSFET素子数とその数に応じた制御回路が必要になるため、双方向ACスイッチ全体のシステムが大きくなり現実的でない。Therefore, when a positive voltage is applied to the sources S1 ij and S2 ij of the SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij , the on-resistance value of the channel-side current path is set as the on-resistance of the body diode BD1 ij and BD2 ij- side current path. The range that can be set lower can be dramatically expanded as compared with the Si-MOSFET, and current can be preferentially passed through the channel side. Even in Si-MOSFETs, if the number of parallels is increased in a large amount, the current range that can be supplied only to the channel portion can be increased. In this case, however, a control circuit corresponding to the number of MOSFET elements and the number thereof is required. The whole system becomes large and is not realistic.

ここで、双方向ACスイッチの定格電流をチャネル側電流経路の電流が主になる範囲に制限すれば双方向ACスイッチの電流−電圧特性はSiC−MOSFETのチャネル部を通る電流の電流−電圧特性によって決まり、途中で主の電流経路が変化しないため電流−電圧特性の急峻な変曲点が現れなくなる。また、SiC−MOSFETはオン抵抗が低く、SiC−MOSFETのみに電流が流れる場合でも電圧降下がほとんどない。スイッチ出力部の接点接触抵抗はSiC−MOSFETのオン抵抗のみとなり、接触抵抗以外による電圧降下がほぼ発生しない無電圧接点の双方向ACスイッチを構成することができる。   Here, if the rated current of the bidirectional AC switch is limited to a range where the current in the channel-side current path is mainly, the current-voltage characteristic of the bidirectional AC switch is the current-voltage characteristic of the current passing through the channel portion of the SiC-MOSFET. Since the main current path does not change in the middle, a sharp inflection point of the current-voltage characteristic does not appear. Further, the SiC-MOSFET has a low on-resistance, and there is almost no voltage drop even when a current flows only in the SiC-MOSFET. The contact output resistance of the switch output unit is only the on-resistance of the SiC-MOSFET, and a non-voltage contact bidirectional AC switch in which voltage drop due to other than the contact resistance hardly occurs can be configured.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100においては、SiC−MOSFETの線形領域特性のみを使用しているため、歪率の少なく線形性に優れた無電圧接点の双方向ACスイッチを構成することができる。また、逆並列接続されるボディダイオードとは別のダイオードがなく、部品点数が削減されるため、小型でかつ安価に製作でき、信頼性も向上する。   Since the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment uses only the linear region characteristics of the SiC-MOSFET, a bidirectional AC switch with no voltage contact with low distortion and excellent linearity is configured. can do. Further, there is no diode other than the body diode connected in reverse parallel, and the number of parts is reduced. Therefore, the device can be manufactured in a small size and at low cost, and the reliability is improved.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100においては、図5に示すように、定格電流が、第1SiC−MOSFETのソース側に正電圧が印加された場合に第1SiC−MOSFET Q1のボディダイオードBD1側に流れる電流が全体の1%以下になる電流範囲内に設定されていても良い。   In the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment, as shown in FIG. 5, when a positive voltage is applied to the source side of the first SiC-MOSFET, the rated current is applied to the body of the first SiC-MOSFET Q1. The current flowing to the diode BD1 side may be set within a current range in which the current is 1% or less.

すなわち、ボディダイオードBD側に流れる電流IBDをチャネル側に流れる電流IMOSと合わせた全体の電流値の1%以下になるようにオン抵抗を設計すれば、実質的にチャネル部のみに電流が流せるようになるため、電流−電圧特性の歪率が少なく線形性に優れた双方向ACスイッチを構成することができる。In other words, if the on-resistance is designed so that the current I BD flowing on the body diode BD side and the current I MOS flowing on the channel side together with the current I MOS is 1% or less, the current substantially flows only in the channel portion. Therefore, a bidirectional AC switch with less distortion of current-voltage characteristics and excellent linearity can be configured.

また、第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100においては、図5に示すように、定格電流が流れた場合に、SiC−MOSFETのゲートをオンさせた状態におけるドレイン−ソース間に掛かる電圧の絶対値が1.0V以下になるように設定されていても良い。   Further, in the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment, as shown in FIG. 5, when a rated current flows, it is applied between the drain and source when the gate of the SiC-MOSFET is turned on. The absolute value of the voltage may be set to be 1.0 V or less.

すなわち、双方向ACスイッチの定格電流範囲内でSiC−MOSFETのゲートオン時のドレイン−ソース間オン電圧を1.0V以下にすることによって、実質的にほぼ完全にチャネル部のみに電流が流せるようになるため、電流−電圧特性の歪率が少なく線形性に優れた双方向ACスイッチを構成することができる。   That is, by setting the drain-source on-voltage when the gate of the SiC-MOSFET is turned on within the rated current range of the bidirectional AC switch to 1.0 V or less, the current can flow substantially only through the channel portion. Therefore, a bidirectional AC switch having a low current-voltage characteristic distortion rate and excellent linearity can be configured.

SiC−MOSFETのボディダイオードはそのチップ面積や集積量に関わらず順方向電圧が1.0V以下であればほぼ動作しないため、実質的にチャネル部のみに電流が流せるようになる。さらに、1.0V以下の微小電圧領域においてはMOSFETのチャネル部を通る電流経路の電流−電圧特性のうち、線形領域部分のみを使えるため、飽和領域特性の影響による出力電流波形の歪みも抑制され、電流−電圧特性の線形性の非常に優れた双方向ACスイッチを構成することができる。   Since the body diode of the SiC-MOSFET does not operate substantially if the forward voltage is 1.0 V or less regardless of the chip area and the amount of integration, the current can be allowed to flow substantially only in the channel portion. Furthermore, in the minute voltage region of 1.0 V or less, only the linear region part of the current-voltage characteristic of the current path passing through the channel part of the MOSFET can be used, so that distortion of the output current waveform due to the influence of the saturation region property is also suppressed. Thus, a bidirectional AC switch having a very excellent linearity of current-voltage characteristics can be configured.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成する単位セルの電流−電圧特性例であって、1200V80mΩのSiC−MOSFET×2から構成される双方向ACスイッチの電流−電圧特性は、図6に示すように表される。破線RAは、SiC−MOSFET×2から構成される双方向ACスイッチを構成する単位セルの定格動作範囲を示す。   FIG. 4 is an example of current-voltage characteristics of a unit cell constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment, and the current-voltage characteristics of the bidirectional AC switch composed of two SiC-MOSFETs of 1200 V80 mΩ are shown in FIG. As shown in FIG. A broken line RA indicates a rated operation range of a unit cell constituting a bidirectional AC switch composed of SiC-MOSFET × 2.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成する単位セルの電流−電圧特性上における定格電流動作範囲の説明図は、図7に示すように表される。   An explanatory diagram of the rated current operating range on the current-voltage characteristics of the unit cells constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment is expressed as shown in FIG.

定格電流とは、第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成する単位セルに適用されるSiC−MOSFETおよびこれらのSiC−MOSFETを2個直列接続した双方向ACスイッチにおいて、いずれも同様に定義可能である。すなわち、定格電流は、発熱量、熱抵抗、および冷却方法に依存し、一定の冷却条件において、定格接合温度TjMAX以下になる最大の電流値で定義される。The rated current is the same in the SiC-MOSFET applied to the unit cell constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment and in the bidirectional AC switch in which two of these SiC-MOSFETs are connected in series. Can be defined. That is, the rated current depends on the calorific value, the thermal resistance, and the cooling method, and is defined as the maximum current value that is not more than the rated junction temperature T jMAX under a certain cooling condition.

図7に示される第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成する単位セルの線形範囲の電流−電圧特性上、電流値IDが定格電流で表される。+IDと−ID間の電流範囲ΔIで、第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチを構成する単位セルは、線形の電流電圧特性を示す。例えば、一定の空冷条件において、定格接合温度TjMAX=150℃において、定格電流ID=5Aが得られている。The current value ID is expressed as a rated current in the current-voltage characteristics of the linear range of the unit cell constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment shown in FIG. In the current range ΔI between + ID and −ID, the unit cells constituting the bidirectional AC switch according to the first embodiment exhibit linear current-voltage characteristics. For example, under a constant air cooling condition, a rated current ID = 5 A is obtained at a rated junction temperature T jMAX = 150 ° C.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチによれば、構成するそれぞれのMOSFETがボディダイオードとは別の逆並列ダイオードを有しない無電圧接点双方向ACスイッチを実現することができる。   According to the bidirectional AC switch according to the first embodiment, it is possible to realize a non-voltage contact bidirectional AC switch in which each of the constituting MOSFETs does not have an antiparallel diode different from the body diode.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチによれば、所望の電流仕様範囲においてボディダイオードが動作しないようなSiC−MOSFETを適用可能であるため、電流−電圧特性の線形性が良好に保たれた無電圧接点双方向ACスイッチを実現することができる。   According to the bidirectional AC switch according to the first embodiment, it is possible to apply an SiC-MOSFET in which the body diode does not operate in a desired current specification range, and therefore, the linearity of the current-voltage characteristic is kept good. A sagging no-voltage contact bidirectional AC switch can be realized.

また、セルの直並列数は1以上の任意の値を取ってよく、この双方向ACスイッチを使ってシーケンスを組む場合には、無電圧接点であるために設計の複雑化を抑えることができる。例えば、設計の簡易化、設計期間の短縮、スイッチ部の電圧降下に基づく動作不良の回避が実現可能となる。   In addition, the number of series-parallel cells can take an arbitrary value of 1 or more. When a sequence is formed using this bidirectional AC switch, the design complexity can be suppressed because it is a non-voltage contact. . For example, simplification of design, shortening of the design period, and avoiding malfunction due to voltage drop of the switch unit can be realized.

第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチによれば、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量で高速応答可能な無電圧接点の双方向ACスイッチを提供することができる。   According to the bidirectional AC switch according to the first embodiment, the voltage-current characteristic is linear, and it is a small-sized, inexpensive, long-life, high withstand voltage, large-current capacity, high-speed response and non-voltage contact bidirectional An AC switch can be provided.

[第2の実施の形態]
第2の実施の形態に係る双方向ACスイッチ102の模式的回路構成は、図8に示すように、双方向ACスイッチ102の各セル111ijの第1ドレインD1ijおよび第2ドレインD2ij間に接続されたサージキラー回路26ijを備える。
[Second Embodiment]
As shown in FIG. 8, a schematic circuit configuration of the bidirectional AC switch 102 according to the second embodiment is a circuit between the first drain D1 ij and the second drain D2 ij of each cell 111 ij of the bidirectional AC switch 102. And a surge killer circuit 26 ij connected to the.

サージキラー回路26iは、互いにカソードを向かい合わせに接続した第1アバランシェブレークダウンダイオード(ABD:Avalanche Breakdown Diode)ABD1ijおよび第2アバランシェブレークダウンダイオードABD2ijを備えていても良い。The surge killer circuit 26 i may include a first avalanche breakdown diode (ABD) ABD1 ij and a second avalanche breakdown diode ABD2 ij having cathodes connected to each other.

第2の実施の形態に係る双方向ACスイッチ102は、図8に示すように、各段の出力端子間にABD1ij・ABD2ijを向かい合わせにしたサージキラー回路26iを接続している。この構成により、例えば、接点定格負荷AC(700×m)V/(5×n)Aの双方向ACスイッチ102を提供することができる。また、i段目に接続されたサージキラー回路26iにより、同じi段目のSiC−MOSFET Q1ij・Q2ijのドレイン−ソース間に掛かる電圧を制限することができる。In the bidirectional AC switch 102 according to the second embodiment, as shown in FIG. 8, a surge killer circuit 26 i having ABD1 ij and ABD2 ij facing each other is connected between the output terminals of each stage. With this configuration, for example, the bidirectional AC switch 102 with the contact rated load AC (700 × m) V / (5 × n) A can be provided. Further, the voltage applied between the drain and source of the same i-th stage SiC-MOSFETs Q1 ij and Q2 ij can be limited by the surge killer circuit 26 i connected to the i-th stage.

SiC−MOSFETは材料であるSiCが高絶縁破壊電界であることを利用してドリフト層の膜厚を薄く、キャリア濃度を高く設定できる反面、ゲート絶縁膜に強い電界強度が掛かってしまう危険がある。これに対し、アバランシェ降伏電圧でなくゲート絶縁膜への電界集中緩和を目的としたドリフト層条件設定を行うため、デバイスのドレイン−ソース間定格電圧とアバランシェ降伏電圧が大きく乖離している特徴を持っていることが多い。   Although SiC-MOSFET can make the thickness of the drift layer thin and carrier concentration high by utilizing the fact that SiC, which is a material, has a high breakdown electric field, there is a risk that strong electric field strength is applied to the gate insulating film. . On the other hand, because the drift layer conditions are set not for the avalanche breakdown voltage but for the purpose of reducing the electric field concentration on the gate insulating film, the device drain-source rated voltage and the avalanche breakdown voltage are greatly different. There are many.

ここで仮にSiC−MOSFETにSiCショットキーバリアダイオード(SiC−SBD:Silicon Carbide Schottky Barrier Diode)を逆並列接続させていた場合は、SiC−SBDのアバランシェ降伏によって電圧が制限されが、SiC−MOSFETのみで双方向ACスイッチを構成した場合は、意図せぬ巨大電圧が印加された場合に、アバランシェ降伏せずに印加電圧がデバイスのドレイン−ソース間定格電圧を継続的に超過する危険がある。   Here, if a SiC Schottky Barrier Diode (SiC-SBD) is connected in reverse parallel to the SiC-MOSFET, the voltage is limited by the avalanche breakdown of the SiC-SBD, but only the SiC-MOSFET. In the case where the bidirectional AC switch is configured, when an unintended huge voltage is applied, there is a risk that the applied voltage continuously exceeds the drain-source rated voltage of the device without avalanche breakdown.

ここで、双方向ACスイッチの各段の出力端子間に向かい合わせに接続したABD(アバランシェブレークダウンダイオード)を配置することで、双方向ACスイッチの各セルに掛かる電圧をABDのアバランシェ降伏電圧によって規定することができる。   Here, by arranging an ABD (avalanche breakdown diode) connected face-to-face between the output terminals of each stage of the bidirectional AC switch, the voltage applied to each cell of the bidirectional AC switch is determined by the avalanche breakdown voltage of the ABD. Can be prescribed.

また、SiC−MOSFETの中間点と向かい合わせにしたABDの中間点とを接続しないため、ABDの順方向特性による双方向ACスイッチの電流−電圧特性への影響をなくすことができるため、ABDの順方向特性をデバイス選定基準から外すことができ、設計の自由度が向上する。   In addition, since the intermediate point of the ABD opposite to the intermediate point of the SiC-MOSFET is not connected, the influence of the forward characteristic of the ABD on the current-voltage characteristic of the bidirectional AC switch can be eliminated. The forward characteristics can be removed from the device selection criteria, and the degree of design freedom is improved.

第2の実施の形態に係る双方向ACスイッチによれば、双方向ACスイッチの各セルに掛かる電圧をABDのアバランシェ降伏電圧によって規定することができ、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量、高速応答可能で、大電圧や分圧バランスの不均一に起因するSiC−MOSFETの破壊の危険が軽減した無電圧接点の双方向ACスイッチを提供することができる。   According to the bidirectional AC switch according to the second embodiment, the voltage applied to each cell of the bidirectional AC switch can be defined by the avalanche breakdown voltage of the ABD, has excellent linearity of voltage-current characteristics, and is compact. Low voltage, long life, high withstand voltage, large current capacity, high speed response, non-voltage contact bidirectional AC switch with reduced risk of SiC-MOSFET breakdown due to large voltage and non-uniform voltage balance can do.

また、サージキラー回路は双方向スイッチの各段毎に1つ以上接続されていても良く、各セル毎に接続されていても良い。さらに、ABDの耐圧を確保する目的でABDの直列数を増加させても良い。   One or more surge suppressor circuits may be connected to each stage of the bidirectional switch, or may be connected to each cell. Further, the number of ABDs in series may be increased for the purpose of securing the ABD withstand voltage.

また、セルの直並列数は1以上の任意の値を取っても良く、この双方向ACスイッチを使ってシーケンスを組む場合には、無電圧接点であるために設計の複雑化を抑えることができる。例えば、設計の簡易化、設計期間の短縮、スイッチ部の電圧降下に基づく動作不良の回避を実現可能である。   In addition, the series / parallel number of cells may take an arbitrary value of 1 or more. When a sequence is formed using this bidirectional AC switch, since it is a non-voltage contact, design complexity can be suppressed. it can. For example, it is possible to simplify the design, shorten the design period, and avoid malfunction due to the voltage drop of the switch unit.

[第3の実施の形態]
第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチ104の模式的回路構成は、図9に示すように表され、双方向ACスイッチ104を構成する単位セル202ijの模式的回路構成は、図10に示すように表される。
[Third embodiment]
A schematic circuit configuration of the bidirectional AC switch 104 according to the third embodiment is expressed as shown in FIG. 9, and a schematic circuit configuration of the unit cell 202 ij constituting the bidirectional AC switch 104 is shown in FIG. It is expressed as shown in

第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチ104は、図9・図10に示すように、向かい合わせに接続した2つのMOFET Q1ij・Q2ijと、MOFET Q1ijのドレインD1ijとMOFET Q2ijのドレインD2ij間に2つのABD1ij・ABD2ijを向かい合わせにしたサージキラー回路26iを備える構成を単位セル202ijとし、この単位セル202ijをm直列×n並列に接続した構成を備える。Third bidirectional AC switch 104 according to the embodiment of, as shown in FIGS. 9 and 10, and two MOFET Q1 ij · Q2 ij connected to face each other, the drain D1 ij and MOFET Q2 of MOFET Q1 ij the configuration including the surge suppressor circuit 26 i which was facing the two ABD1 ij · ABD2 ij between ij drain D2 ij as a unit cell 202 ij, having the configuration of connecting the unit cells 202 ij in m series × n parallel .

また、ゲート駆動回路15iは、入力端子18A・18Bに接続されたE/O変換器22iと、直流電圧(DC+24V)が供給された絶縁型DC/DC変換器16iと、E/O変換器22iに接続された光ファイバー17iと、光ファイバー17iを介してE/O変換器22iと接続され、かつ絶縁型DC/DC変換器16iと接続されたO/E変換器14iと、O/E変換器14iに接続されたFETドライバ12i1とを備える。E/O変換器22iとO/E変換器14iの間には絶縁型DC/DC変換器16iと同等以上の耐圧が確保されている。同様に、i段目の他のセル202i2・202i3・…・202inのFETドライバ12i2・12i3・…・12inは、O/E変換器14iと共通接続されている。The gate drive circuit 15 i includes an E / O converter 22 i connected to the input terminals 18A and 18B, an isolated DC / DC converter 16 i supplied with a DC voltage (DC + 24V), and an E / O converter. an optical fiber 17 i connected to the transducer 22 i, through an optical fiber 17 i is connected to the E / O converter 22 i, and the insulation type DC / DC converter 16 i and connected the O / E converter 14 i and an FET driver 12 i1 connected to the O / E converter 14 i . A breakdown voltage equal to or higher than that of the insulated DC / DC converter 16 i is secured between the E / O converter 22 i and the O / E converter 14 i . Similarly, the FET drivers 12 i2 , 12 i3 ,..., 12 in of the other cells 202 i2 , 202 i3 ..., 202 in of the i-th stage are commonly connected to the O / E converter 14 i .

第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチ104によれば、例えば、接点定格負荷AC(700×m)V/(5×n)Aの双方向ACスイッチを提供することができる。   According to the bidirectional AC switch 104 according to the third embodiment, for example, a bidirectional AC switch with a contact rated load AC (700 × m) V / (5 × n) A can be provided.

第3の実施の形態によれば、光ファイバーによる十分な絶縁距離の確保によって、制御側のノイズ耐性を強化し、ゲート電圧低下による電流の低下や、ゲート過電圧によるゲート破壊、スイッチング特性の悪化を抑制した双方向ACスイッチを構成することができる。   According to the third embodiment, the noise resistance on the control side is enhanced by securing a sufficient insulation distance by the optical fiber, and the current drop due to the gate voltage drop, the gate breakdown due to the gate overvoltage, and the deterioration of the switching characteristics are suppressed. The bidirectional AC switch can be configured.

また、第3の実施の形態によれば、サージキラー回路による印加電圧の保証をすることで故障しにくく、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量、高速応答可能で、大電圧や分圧バランスの不均一に起因するSiC−MOSFETの破壊の危険が軽減した無電圧接点の双方向ACスイッチを提供することができる。   In addition, according to the third embodiment, it is difficult to break down by guaranteeing the applied voltage by the surge killer circuit, excellent in linearity of voltage-current characteristics, small and inexpensive, long life, high withstand voltage, large current capacity. Thus, it is possible to provide a bidirectional AC switch having a non-voltage contact that is capable of high-speed response and reduces the risk of destruction of the SiC-MOSFET due to a large voltage or non-uniform balance of voltage division.

[第4の実施の形態]
第4の実施の形態に係る双方向ACスイッチ106の模式的回路ブロック構成は、図11に示すように、第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100のスイッチ出力端子の外側に直列に接続された断路器107をさらに備える。ここで、断路器107は、電磁式スイッチ等により構成可能である。また、双方向ACスイッチ100と断路器107との間には、制御回路109を備えていても良い。制御回路109は、双方向ACスイッチ100の電流遮断信号を受信し、断路器107のオフ動作のトリガ信号を断路器107に供給する動作を行っている。
[Fourth embodiment]
As shown in FIG. 11, the schematic circuit block configuration of the bidirectional AC switch 106 according to the fourth embodiment is arranged in series outside the switch output terminal of the bidirectional AC switch 100 according to the first embodiment. A disconnect switch 107 is further provided. Here, the disconnector 107 can be configured by an electromagnetic switch or the like. Further, a control circuit 109 may be provided between the bidirectional AC switch 100 and the disconnector 107. The control circuit 109 receives the current cutoff signal of the bidirectional AC switch 100 and performs an operation of supplying a trigger signal for turning off the disconnector 107 to the disconnector 107.

半導体を使った双方向ACスイッチ100は物理的に配線を切っているわけではないので、リーク電流が僅かながら存在する。これが問題にならないように、双方向ACスイッチ100で高速遮断した後に、断路器107を使って物理的に遮断することで、リーク電流に起因する電力損失や、オフ状態の双方向ACスイッチ100に異常が発生したときの事故を防止することができる。   Since the bi-directional AC switch 100 using a semiconductor does not physically cut the wiring, there is a slight leakage current. In order not to cause this problem, the bidirectional AC switch 100 is shut off at high speed, and then physically shuts off using the disconnector 107, so that power loss due to leakage current or the off-state bidirectional AC switch 100 can be reduced. Accidents can be prevented when an abnormality occurs.

すなわち、半導体を使った双方向ACスイッチ100では出力端子間の物理的接続は切れておらず、リーク電流を完全にゼロにすることは困難である。半導体を使った双方向ACスイッチ100の出力端子に直列に断路器107が接続され、双方向ACスイッチ100が電流導通を遮断した後に断路器107により電圧をオフにする順序を経ることで、配線108に導通する電流を高い安全性を確保しつつ遮断するとともに、双方向ACスイッチ100のオフ時の電力消費が抑制できる。双方向ACスイッチは電流遮断を1μ秒以内の短時間で完了できるため、電磁式スイッチ特有の放電現象による遮断時間の遅れとそれに伴う巨大事故電流発生の可能性を完全に排除する。このことは、系統に接続される配線108や電子機器の電流許容設計の簡略化を実現する。   That is, in the bidirectional AC switch 100 using a semiconductor, the physical connection between the output terminals is not cut off, and it is difficult to make the leakage current completely zero. The disconnector 107 is connected in series to the output terminal of the bidirectional AC switch 100 using a semiconductor, and after the bidirectional AC switch 100 cuts off the current conduction, the voltage is turned off by the disconnector 107. While interrupting the electric current conducted to 108 while ensuring high safety, it is possible to suppress power consumption when the bidirectional AC switch 100 is turned off. Since the bidirectional AC switch can complete the current interruption in a short time within 1 μsec, it completely eliminates the delay of the interruption time due to the discharge phenomenon peculiar to the electromagnetic switch and the possibility of the occurrence of a huge accident current. This realizes simplification of the current allowable design of the wiring 108 and electronic equipment connected to the system.

なお、第4の実施の形態に係る双方向ACスイッチ106において、第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100を適用する例を開示したが、第1の実施の形態に係る双方向ACスイッチ100に限定されることはない。すなわち、第2の実施の形態に係る双方向ACスイッチ102や、第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチ104に対しても同様に適用可能である。   In addition, although the example which applies the bidirectional | two-way AC switch 100 which concerns on 1st Embodiment in the bidirectional | two-way AC switch 106 which concerns on 4th Embodiment was disclosed, the bidirectional | two-way AC which concerns on 1st Embodiment is disclosed. The switch 100 is not limited. That is, the present invention can be similarly applied to the bidirectional AC switch 102 according to the second embodiment and the bidirectional AC switch 104 according to the third embodiment.

(半導体デバイスの構成例)
―SiC−DIMOSFET―
第1〜第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能な半導体デバイス200の例であって、SiC−DI(Double Implanted)MOSFETの模式的断面構造は、図12に示すように表される。
(Configuration example of semiconductor device)
―SiC-DIMOSFET―
12 is an example of the semiconductor device 200 applicable to the bidirectional AC switch according to the first to third embodiments, and a schematic cross-sectional structure of a SiC-DI (Double Implanted) MOSFET is represented as shown in FIG. Is done.

第1〜第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能なSiC−DIMOSFETは、図12に示すように、n+SiC基板124と、n+SiC基板124上にエピタキシャル成長されたn-ドリフト層126と、n-ドリフト層126の表面側に形成されたpボディ領域128と、pボディ領域128の表面に形成されたn+ソース領域130と、pボディ領域128間のn-ドリフト層126の表面上に配置されたゲート絶縁層132と、ゲート絶縁層132上に配置されたゲート電極138と、n+ソース領域130およびpボディ領域128に電気的に接続されたソース電極134と、n+SiC基板124の、n-ドリフト層126と反対側の表面に電気的に接続されたドレイン電極136とを備える。The SiC-DIMOSFET applicable to the bidirectional AC switch according to the first to third embodiments includes an n + SiC substrate 124 and an n epitaxially grown on the n + SiC substrate 124 as shown in FIG. Drift layer 126, p body region 128 formed on the surface side of n drift layer 126, n + source region 130 formed on the surface of p body region 128, and n drift layer between p body regions 128 A gate insulating layer 132 disposed on the surface of 126, a gate electrode 138 disposed on the gate insulating layer 132, a source electrode 134 electrically connected to the n + source region 130 and the p body region 128; A drain electrode 136 electrically connected to the surface of the n + SiC substrate 124 opposite to the n drift layer 126 is provided.

図12では、半導体デバイス200は、pボディ領域128と、pボディ領域128の表面に形成されたn+ソース領域130が、ダブルイオン注入(DI)で形成され、ソースパッド電極SPは、n+ソース領域130およびpボディ領域128に接続されたソース電極134に接続される。ゲートパッド電極GP(図示省略)は、ゲート絶縁層132上に配置されたゲート電極138に接続される。また、ソースパッド電極SP・ソース電極134およびゲートパッド電極GP(図示省略)は、図12に示すように、半導体デバイス200の表面を覆うパッシベーション用の層間絶縁膜144上に配置される。In FIG. 12, in the semiconductor device 200, a p body region 128 and an n + source region 130 formed on the surface of the p body region 128 are formed by double ion implantation (DI), and the source pad electrode SP is n + Connected to source electrode 134 connected to source region 130 and p body region 128. The gate pad electrode GP (not shown) is connected to the gate electrode 138 disposed on the gate insulating layer 132. Further, the source pad electrode SP / source electrode 134 and the gate pad electrode GP (not shown) are disposed on a passivation interlayer insulating film 144 that covers the surface of the semiconductor device 200, as shown in FIG.

―SiC−TMOSFET―
第1〜第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能な半導体デバイス200の例であって、SiC−TMOSFETの模式的断面構造は、図13に示すように表される。
―SiC-TMOSFET―
It is an example of the semiconductor device 200 applicable to the bidirectional | two-way AC switch which concerns on the 1st-3rd embodiment, Comprising: The typical cross-section of SiC-TMOSFET is represented as shown in FIG.

第1〜第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能なSiC−TMOSFETは、図13に示すように、n+SiC基板124と、n+SiC基板124上にエピタキシャル成長されたn-ドリフト層126Nと、n-ドリフト層126Nの表面側に形成されたpボディ領域128と、pボディ領域128の表面に形成されたn+ソース領域130と、pボディ領域128を貫通し、n-ドリフト層126Nまで形成されたトレンチの内にゲート絶縁層132および層間絶縁膜144U・144Bを介して形成されたトレンチゲート電極138TGと、ソース領域130およびpボディ領域128に接続されたソース電極134と、n+SiC基板124の、n-ドリフト層126Nと反対側の表面に電気的に接続されたドレイン電極136とを備える。The SiC-TMOSFET applicable to the bidirectional AC switch according to the first to third embodiments includes an n + SiC substrate 124 and an n epitaxially grown on the n + SiC substrate 124 as shown in FIG. Drift layer 126N, p body region 128 formed on the surface side of n drift layer 126N, n + source region 130 formed on the surface of p body region 128, p body region 128, and n Trench gate electrode 138TG formed through gate insulating layer 132 and interlayer insulating films 144U and 144B in the trench formed up to drift layer 126N, and source electrode 134 connected to source region 130 and p body region 128, , Drain electrode electrically connected to the surface of n + SiC substrate 124 opposite to n drift layer 126N 136.

図13では、半導体デバイス200は、pボディ領域128を貫通し、半導体基板126Nまで形成されたトレンチ内にゲート絶縁層132および層間絶縁膜144U・144Bを介して形成されたトレンチゲート電極138TGが形成され、ソースパッド電極SPは、ソース領域130およびpボディ領域128に接続されたソース電極134に接続される。ゲートパッド電極GP(図示省略)は、ゲート絶縁層132上に配置されたゲート電極138に接続される。また、ソースパッド電極SP・ソース電極134およびゲートパッド電極GP(図示省略)は、図13に示すように、半導体デバイス200の表面を覆うパッシベーション用の層間絶縁膜144U上に配置される。   In FIG. 13, in the semiconductor device 200, a trench gate electrode 138TG formed through a gate insulating layer 132 and interlayer insulating films 144U and 144B is formed in a trench penetrating the p body region 128 and extending to the semiconductor substrate 126N. The source pad electrode SP is connected to the source electrode 134 connected to the source region 130 and the p body region 128. The gate pad electrode GP (not shown) is connected to the gate electrode 138 disposed on the gate insulating layer 132. Further, the source pad electrode SP / source electrode 134 and the gate pad electrode GP (not shown) are disposed on a passivation interlayer insulating film 144U that covers the surface of the semiconductor device 200, as shown in FIG.

SiC−TMOSFETはドレイン電流経路にpボディ領域128から伸張するジャンクション抵抗が存在しないため、SiC−DIMOSFETと比較してさらに低オン抵抗のFETを提供することが可能であり、1素子当たりに100A以上のドレインパルス電流を許容することも可能になる。   Since the SiC-TMOSFET does not have a junction resistance extending from the p body region 128 in the drain current path, it is possible to provide a FET having a lower on-resistance than that of the SiC-DIMOSFET, and more than 100 A per element. It is also possible to tolerate a drain pulse current.

また、第1〜第3の実施の形態に係る双方向ACスイッチに適用可能な半導体デバイス200には、SiC系MOSFETの代わりに、GaN系FETなどを適用することもできる。   Further, a GaN-based FET or the like can be applied to the semiconductor device 200 applicable to the bidirectional AC switch according to the first to third embodiments instead of the SiC-based MOSFET.

SiCデバイスは、高絶縁破壊電界(例えば、約3MV/cmであり、Siの約3倍)であることから、Siに比べてドリフト層の膜厚を薄くし、かつキャリア濃度を高く設定しても耐圧が確保できる。絶縁破壊電界の違いから、SiC−MOSFETのピーク電界強度は、Si−MOSFETのピーク電界強度よりも高く設定可能である。   Since the SiC device has a high breakdown electric field (for example, about 3 MV / cm, about 3 times that of Si), the drift layer is made thinner and the carrier concentration is set higher than that of Si. Can withstand pressure. Due to the difference in dielectric breakdown electric field, the peak electric field strength of the SiC-MOSFET can be set higher than the peak electric field strength of the Si-MOSFET.

SiC−MOSFETにおいては、必要なn-ドリフト層126・126Nの膜厚が薄く、キャリア濃度と膜厚の双方のメリットによって、n-ドリフト層126・126Nの抵抗値を低減し、オン抵抗Ronを低くすることができ、チップ面積を縮小化(小チップ化)可能である。さらにユニポーラデバイスであるMOSFET構造のままで、Si−IGBTに比肩し得る耐圧を実現可能であることから、高耐圧でかつ高速スイッチングできるとされ、スイッチング損失の低減が期待できる。In SiC-MOSFET, the necessary n - thin thickness of the drift layer 126 · 126N, by both the benefits of carrier concentration and thickness, n - reducing the resistance of the drift layer 126 · 126N, resistance R on The chip area can be reduced (smaller chip). Furthermore, since it is possible to realize a breakdown voltage comparable to that of Si-IGBT with the MOSFET structure as a unipolar device, it is considered that high breakdown voltage and high-speed switching can be achieved, and a reduction in switching loss can be expected.

以上説明したように、本実施の形態によれば、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量で高速応答可能な無電圧接点の双方向ACスイッチを提供することができる。   As described above, according to the present embodiment, the voltage-current characteristic linearity is excellent, and it is a compact, inexpensive, long-life, high withstand voltage, high-current capacity, non-voltage contact bidirectional AC switch. Can be provided.

[その他の実施の形態]
上記のように、第1〜第3の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述および図面は例示的なものであり、この発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
[Other embodiments]
As described above, the first to third embodiments have been described. However, it should be understood that the description and drawings constituting a part of this disclosure are exemplary and limit the present invention. Absent. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

このように、本実施の形態ここでは記載していない様々な実施の形態などを含む。   As described above, this embodiment includes various embodiments not described here.

本実施の形態の双方向ACスイッチは、パワーSiC−MOSFETを用い、電圧−電流特性の線形性に優れ、小型で安価、長寿命、高耐圧、大電流容量で高速応答可能な無電圧接点の双方向ACスイッチとして、AC高電圧リレーを行うスイッチギアを初めとして、幅広い応用分野に適用可能である。   The bidirectional AC switch of the present embodiment uses a power SiC-MOSFET, has excellent linearity of voltage-current characteristics, and is a small, inexpensive, long life, high withstand voltage, high voltage capacity, non-voltage contact capable of high-speed response. As a bidirectional AC switch, it can be applied to a wide range of application fields including a switchgear for performing an AC high voltage relay.

11、812、…、8mn…発光ダイオード(LED)
1211、1212、…、12mn…FETドライバ
1311、1312、…、13mn、151、152、…、15m…ゲート駆動回路
141、142、…、14m…O/E変換器
161、162、…、16m…絶縁型DC/DC変換器
171、172、…、17m…光ファイバー
18A、18B…入力端子
221、222、…、22m…EO変換器
24…負荷
261、262、…、26m、2611、2612、…、26mn…サージキラー回路
100、102、104、106…双方向ACスイッチ
107…断路器
108…配線
109…制御回路
11011、11012、…、110mn、11111、11112、…、111mn、20211、20212、…、202mn…セル(単位セル)
124…n+SiC基板
126、126N…n-ドリフト層
128…pボディ領域
130…ソース領域
132…ゲート絶縁膜
134…ソース電極
136…ドレイン電極
138、138TG…ゲート電極
144、144U、144B…層間絶縁膜
200、Q111、Q112、…、Q1mn、Q211、Q212、…、Q2mn…半導体デバイス(SiC−MOSFET)
S111、S112、…、S1mn、S211、S212、…、S2mn…ソース
G111、G112、…、G1mn、G211、G212、…、G2mn…ゲート
D111、D112、…、D1mn、D211、D212、…、D2mn…ドレイン
BD111、BD112、…、BD1mn、BD211、BD212、…、BD2mn…ボディダイオード
T1、T2・・・スイッチ出力端子
ac…交流電圧
8 11 , 8 12 ,..., 8 mn ... Light emitting diode (LED)
12 11, 12 12, ..., 12 mn ... FET driver 13 11, 13 12, ..., 13 mn, 15 1, 15 2, ..., 15 m ... gate drive circuit 14 1, 14 2, ..., 14 m ... O / E converter 16 1, 16 2, ..., 16 m ... insulated type DC / DC converter 17 1, 17 2, ..., 17 m ... optical fiber 18A, 18B ... input terminal 22 1, 22 2, ..., 22 m ... EO converter 24 ... Loads 26 1 , 26 2 , ..., 26 m , 26 11 , 26 12 , ..., 26 mn ... Surge killer circuits 100, 102, 104, 106 ... Bidirectional AC switch 107 ... Disconnector 108 ... Wiring 109 ... Control circuit 110 11 , 110 12 , ..., 110 mn , 111 11 , 111 12 , ..., 111 mn , 202 11 , 202 12 , ..., 202 mn ... cells (unit cells)
124 ... n + SiC substrates 126, 126N ... n - drift layer 128 ... p body region 130 ... source region 132 ... gate insulating film 134 ... source electrode 136 ... drain electrode 138, 138TG ... gate electrodes 144, 144U, 144B ... interlayer insulation Film 200, Q1 11 , Q1 12 ,..., Q1 mn , Q2 11 , Q2 12 ,..., Q2 mn ... Semiconductor device (SiC-MOSFET)
S1 11, S1 12, ..., S1 mn, S2 11, S2 12, ..., S2 mn ... source G1 11, G1 12, ..., G1 mn, G2 11, G2 12, ..., G2 mn ... gate D1 11, D1 12, ..., D1 mn, D2 11, D2 12, ..., D2 mn ... drain BD1 11, BD1 12, ..., BD1 mn, BD2 11, BD2 12, ..., BD2 mn ... body diode T1, T2 · · · switch Output terminal V ac ... AC voltage

Claims (9)

第1ゲート、第1ソースおよび第1ドレインを有する第1SiC−MOSFETと、
前記第1ゲートおよび前記第1ソースとそれぞれ短絡された第2ゲートおよび第2ソースを有し、かつ第2ドレインを有する第2SiC−MOSFETと、
互いに短絡された前記第1ゲートおよび第2ゲートに印加されるゲート電圧を制御するゲート駆動回路と、
を備えたセルが、m直列×n並列に接続された双方向ACスイッチであって、
前記双方向ACスイッチのスイッチ出力端子間の通電時の定格電流が、前記第1ソース側に正電圧が印加された場合に前記第1SiC−MOSFETのチャネル部と前記第1SiC−MOSEFTのボディダイオード部に流れる電流を比較して、前記チャネル部側を流れる電流の方が大きくなる電流範囲内に設定されたことを特徴とする双方向ACスイッチ。
A first SiC-MOSFET having a first gate, a first source and a first drain;
A second SiC-MOSFET having a second gate and a second source that are short-circuited with the first gate and the first source, respectively, and having a second drain;
A gate driving circuit for controlling a gate voltage applied to the first gate and the second gate which are short-circuited to each other;
A bidirectional AC switch connected in m series × n parallel,
When a positive voltage is applied to the first source side when a rated current is applied between the switch output terminals of the bidirectional AC switch, the channel portion of the first SiC-MOSFET and the body diode portion of the first SiC-MOSEFT The bidirectional AC switch is set within a current range in which the current flowing through the channel portion side is larger than the current flowing through the channel portion.
前記定格電流が、前記第1ソース側に正電圧が印加された場合に前記第1SiC−MOSFETのボディダイオード部側に流れる電流が全体の1%以下になる電流範囲内に設定されたことを特徴とする、請求項1に記載の双方向ACスイッチ。   The rated current is set within a current range in which a current flowing to the body diode portion side of the first SiC-MOSFET is 1% or less of the whole when a positive voltage is applied to the first source side. The bidirectional AC switch according to claim 1. 前記定格電流が流れた場合に前記第1SiC−MOSFETの前記第1ゲートをオンさせた状態における前記第1ドレインと前記第1ソースとの間に掛かる電圧の絶対値が1.0V以下になるように設定されたことを特徴とする請求項1または2に記載の双方向ACスイッチ。   When the rated current flows, the absolute value of the voltage applied between the first drain and the first source when the first gate of the first SiC-MOSFET is turned on is 1.0 V or less. The bidirectional AC switch according to claim 1, wherein the bidirectional AC switch is set as follows. 前記m直列×n並列に接続された双方向ACスイッチのm段の内、各段毎に前記第1ドレインおよび前記第2ドレイン間に1つ以上接続されたサージキラー回路を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の双方向ACスイッチ。   One or more surge suppressor circuits connected between the first drain and the second drain in each of the m stages of the m series × n parallel bidirectional AC switches are provided. The bidirectional AC switch according to any one of claims 1 to 3. 前記m直列×n並列に接続された双方向ACスイッチの前記セル毎に前記第1ドレインおよび前記第2ドレイン間に接続されたサージキラー回路を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の双方向ACスイッチ。   The surge suppressor circuit connected between the first drain and the second drain is provided for each cell of the bidirectional AC switch connected in m series × n parallel. 2. A bidirectional AC switch according to item 1. 前記サージキラー回路は、互いにカソードを向かい合わせに接続した第1アバランシェブレークダウンダイオードおよび第2アバランシェブレークダウンダイオードを備えることを特徴とする請求項4または5に記載の双方向ACスイッチ。   6. The bidirectional AC switch according to claim 4, wherein the surge killer circuit includes a first avalanche breakdown diode and a second avalanche breakdown diode that have cathodes connected to each other. 前記ゲート駆動回路は、入力に接続された発光素子と、前記発光素子からの光を受光する受光素子と、前記受光素子に接続された充放電回路を少なくとも備えた光電変換回路を備えることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の双方向ACスイッチ。   The gate driving circuit includes a photoelectric conversion circuit including at least a light emitting element connected to an input, a light receiving element that receives light from the light emitting element, and a charge / discharge circuit connected to the light receiving element. The bidirectional AC switch according to any one of claims 1 to 6. 前記ゲート駆動回路は、
入力に接続されたE/O変換器と、
直流電圧が供給された絶縁型DC/DC変換器と、
前記E/O変換器に接続された光ファイバーと、
前記光ファイバーを介して前記E/O変換器と接続され、かつ前記絶縁型DC/DC変換器と接続されたO/E変換器と、
前記O/E変換器に接続されたFETドライバと
を備えることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の双方向ACスイッチ。
The gate driving circuit includes:
An E / O converter connected to the input;
An isolated DC / DC converter supplied with a DC voltage;
An optical fiber connected to the E / O converter;
An O / E converter connected to the E / O converter via the optical fiber and connected to the isolated DC / DC converter;
The bidirectional AC switch according to any one of claims 1 to 6, further comprising: an FET driver connected to the O / E converter.
前記双方向ACスイッチのスイッチ出力端子の外側に直列に接続された断路器をさらに備えることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の双方向ACスイッチ。   The bidirectional AC switch according to any one of claims 1 to 8, further comprising a disconnector connected in series outside a switch output terminal of the bidirectional AC switch.
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