JP6511181B2 - 半導体装置 - Google Patents

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本発明は、半導体装置に関する。
近年、LSI[large scale integrattion]のパッケージは、プリント配線基板への実装面積を縮小するためにリードレス化が進められている。リードレスパッケージの一例としては、図11のBGA[ball grid array]パッケージや、図12のQFN[quad flat no lead package]パッケージを挙げることができる。
なお、上記に関連する従来技術の一例としては、特許文献1を挙げることができる。
特開2011−187473号公報
しかしながら、リードレスパッケージ(特にBGAパッケージ)の半導体装置は、プリント配線基板への実装後、その端子モニタを行うことができない(プローブをパッドに当接することができない)という問題があった。
なお、QFNパッケージであれば、その側面から何とか端子モニタを行うことが可能である。しかしながら、QFNパッケージは、プリント配線基板への実装に際して、パッケージの外側に半田を盛る必要があるので、BGAパッケージと比べて実装面積が大きいという問題があった。
本発明は、本願の発明者により見出された上記の問題点に鑑み、実装面積の縮小と端子モニタ機能の実現を両立することが可能な半導体装置を提供することを目的とする。
本明細書中に開示された半導体装置は、半導体チップと、前記半導体チップを内蔵するパッケージと、前記パッケージの下面に設けられた複数の下面パッドと、前記パッケージの上面に設けられた複数の上面パッドとを有し、前記複数の上面パッドは、全ての下面パッド毎に各々接続された複数のモニタパッドを含む構成(第1の構成)とされている。
なお、第1の構成から成る半導体装置は、前記複数のモニタパッドを被覆する絶縁層をさらに有する構成(第2の構成)にするとよい。
また、第1または第2の構成から成る半導体装置において、前記複数の上面パッドは、外付け部品を搭載するための部品搭載パッドを含む構成(第3の構成)にするとよい。
また、第3の構成から成る半導体装置において、前記複数のモニタパッドのうち、少なくとも一つは、前記部品搭載パッドとして共用される構成(第4の構成)にするとよい。
また、第1〜第4いずれかの構成から成る半導体装置において、前記パッケージは、その下面に前記複数の下面パッドが形成される第1基板と、その上面に前記複数の上面パッドが形成される第2基板と、前記第1基板の上面と前記第2基板の下面とを対向させて接合する接合部材と、前記第1基板と前記第2基板との間を電気的に接続する導電部材と、を含む構成(第5の構成)にするとよい。
また、第5の構成から成る半導体装置において、前記半導体チップは、前記第2基板の下面、または、前記第1基板の上面に搭載されている構成(第6の構成)にするとよい。
また、第1〜第6いずれかの構成から成る半導体装置において、前記半導体チップは、前記パッケージに対して平面的に回転された状態で内蔵されている構成(第7の構成)にするとよい。
また、第1〜第7いずれかの構成から成る半導体装置において、前記パッケージは、BGA[ball grid array]型、LGA[land grid array]型、または、PGA[pin grid array]型である構成(第8の構成)にするとよい。
また、本明細書中に開示された電子機器は、プリント配線基板と、前記プリント配線板上に実装された第1〜第9いずれかの構成から成る半導体装置と、を有する構成(第9の構成)とされている。
なお、第9の構成から成る電子機器において、前記半導体装置は、スタック実装される構成(第10の構成)にするとよい。
本発明によれば、実装面積の縮小と端子モニタ機能の実現を両立することが可能な半導体装置を提供することが可能となる。
半導体装置の基本構成を示す模式図 半導体装置の縦断面図 半導体装置の第1実施形態を示す模式図 半導体装置の第2実施形態を示す模式図 半導体装置の第3実施形態を示す模式図 半導体装置の第4実施形態を示す模式図 半導体装置のスタック実装例を示す縦断面図 半導体チップの第1レイアウトを示す模式図 半導体チップの第2レイアウトを示す模式図 スマートフォンの外観図 BGAパッケージの一従来例を示す模式図 QFNパッケージの一従来例を示す模式図
<基本構成>
図1は、半導体装置の基本構成を示す模式図であり、上から順に、半導体装置10の上面図、側面図(X−X’縦断面図)、及び、下面図が描写されている。本構成例の半導体装置10は、半導体チップ11と、半導体チップ11を内蔵するリードレス(BGA型)のパッケージ12と、パッケージ12の下面(半導体装置10が実装されるプリント配線基板(不図示)と対向する面)に設けられた複数の下面パッド(BGAパッド)13と、パッケージ12の上面に設けられた複数の上面パッド14と、複数の下面パッド13に各々接合された複数の半田バンプ15と、を有する。
ここで、複数の上面パッド14は、全ての下面パッド13毎に各々接続された複数のモニタパッド14aを含む。このモニタパッド14aは、配線層やビアを用いて適宜形成することができる。
すなわち、本構成例の半導体装置10は、全ての下面パッド13をモニタパッド14aとしてパッケージ12の上面に引き出した構成とされている。このような構成であれば、半導体装置10の実装後であっても、下面パッド13と同一の電圧が印加されるモニタパッド14aにプローブを当接することができるので、容易に端子モニタを行うことが可能となる。従って、本構成例の半導体装置10によれば、実装面積の縮小(BGAパッケージの採用)と端子モニタ機能の実現を両立することが可能となる。
なお、図1では、パッケージ12の最上面にモニタパッド14aを被覆する絶縁層が描写されているが、この絶縁層は必ずしも必須の構成要素ではない。この点については、後ほど複数の実施形態を参照しながら詳細に説明する。
<縦断面図>
図2は、半導体装置10の縦断面図である。本図に示すように、半導体装置10のパッケージ12は、半導体チップ11を内蔵するほか、第1基板16と、第2基板17と、接合部材18と、導電部材19と、を含む。
第1基板16の下面(プリント配線基板20と対向する側であって、第2基板17と対向しない側)には、第1配線層161とこれを被覆する第1絶縁層(ソルダレジスト層)162が形成されている。なお、先に説明した複数の下面パッド13(図1を参照)は、それぞれ第1配線層161を用いて形成されている。すなわち、第1絶縁層162は、半田バンプ15の接合領域(下面パッド13として機能する領域)を除いて、第1配線層161を被覆するように形成されている。
第1基板16の上面(第2基板17と対向する側)には、第2配線層163とこれを被覆する第2絶縁層(ソルダレジスト層)164が形成されている。
また、第1基板16には、第1配線層161と第2配線層163との間を電気的に接続する導電経路として、上下両面の間を貫通するビア165が形成されている。
第2基板17の上面(第1基板16と対向しない側)には、第3配線層171とこれを被覆する第3絶縁層(ソルダレジスト層)172が形成されている。なお、先に説明した複数の上面パッド14(図1を参照)は、それぞれ第3配線層171を用いて形成されている。ただし、複数の上面パッド14のうち、端子モニタ時にのみプローブが当接されるモニタパッド14aは、先の下面パッド13と異なり、必ずしも露出させておく必要がない。そのため、第3絶縁層172は、第3配線層171の全部を被覆するように形成してもよいし、必要に応じて第3配線層171の一部を露出させるように形成してもよい。
第2基板17の下面(第1基板16と対向する側)には、第4配線層173とこれを被覆する第4絶縁層(ソルダレジスト層)174が形成されている。なお、半導体チップ11は、第2基板17の下面に搭載されている。より具体的に述べると、第4絶縁層174は、第4配線層173の一部を露出するように形成されており、その露出部分(チップ接続用パッド)と半導体チップ11との間が半田バンプ111によってフリップチップ接続されている。ただし、半導体チップ11は、第1基板16の上面に搭載しても構わない。
また、第2基板17には、第3配線層171と第4配線層173との間を電気的に接続する導電経路として、上下両面の間を貫通するビア175が形成されている。
接合部材18は、電気的に絶縁性のある接着剤であり、第1基板16の上面と第2基板17の下面とを対向させて接合する。
導電部材19は、第1基板16と第2基板17との間を電気的に接続する貫通ビアである。第1基板16側に着目して見ると、導電部材19は、第1配線層161及び第2配線層163の少なくとも一方に接続されている。また、第2基板17側に着目して見ると、導電部材19は、第3配線層171及び第4配線層173の少なくとも一方に接続されている。なお、導電部材19は、第1基板16と第2基板17とを接合部材18で貼り合わせた後、パッケージ12の上下両面を貫通するように形成すればよい。このように、導電部材19の一端は、パッケージ12の上面に引き出されているので、複数の導電部材19のうち、下面パッド13と接続されているものについては、これをモニタパッド14aとして活用することも可能である。
上記構成から成る半導体装置10は、複数の半田バンプ15を介してプリント配線基板20の配線層21とフリップチップ接続される。このようなリードレスパッケージの半導体装置10であれば、これを用いた電子機器の小型化や軽薄化に寄与することができる。
<第1実施形態>
図3は、半導体装置10の第1実施形態を示す模式図である。第1実施形態では、パッケージ12の上面に、複数の下面パッド13と一対一に接続された複数のモニタパッド14aのみが設けられている。また、第1実施形態では、パッケージ12の最上面に、複数のモニタパッド14aを被覆する絶縁層172(図2の第3絶縁層172に相当)が設けられている。このような構成とすることにより、モニタパッド14aの意図しない短絡などを予防することができる。なお、端子モニタを行う際には、絶縁層172を適宜剥離することにより、プローブを当接すべきモニタパッド14aを露出させればよい。
<第2実施形態>
図4は、半導体装置10の第2実施形態を示す模式図である。第2実施形態は、第1実施形態(図3)の変形例であり、絶縁層172を省略して複数のモニタパッド14aを元から露出させた構成である。このような構成とすることにより、端子モニタ時における絶縁層172の剥離作業が不要となるので、より簡便に端子モニタを行うことができる。また、第2実施形態であれば、半導体装置10(特に第2基板17)の製造プロセスを簡略化することも可能となる。
<第3実施形態>
図5は、半導体装置10の第3実施形態を示す模式図である。第3実施形態では、パッケージ12の上面に、モニタパッド14aだけでなく、外付け部品30(抵抗やコンデンサなど)を搭載するための部品搭載パッド14bが設けられている。外付け部品30は、その端子部分が半田31を用いて部品搭載パッド14bに固定される。このような構成とすることにより、半導体装置10の実装面積分だけで、半導体装置10と外付け部品30の両方を実装することができるので、プリント配線基板20(図2を参照)の小型化を実現することが可能となる。なお、部品搭載パッド14bは、半導体チップ11と外付け部品30とを電気的に接続するものであり、下面パッド13とは必ずしも接続されない。
<第4実施形態>
図6は、半導体装置10の第4実施形態を示す模式図である。第4実施形態では、複数のモニタパッド14aのうち、少なくとも一つが部品搭載パッド14bとして共用されている。図6では、兼用パッド14cがそれに当たり、下面パッド13と電気的に接続されている一方、外付け部品30の搭載用としても用いられている。このような構成とすることにより、上面パッド14の個数を不要に増大することなく、端子モニタ機能と部品実装機能の双方を実現することが可能となる。
<スタック実装>
図7は、半導体装置10のスタック実装例を示す縦断面図である。本図に示すように、複数の半導体装置10x及び10yを用意し、これらをプリント配線基板20上にスタック実装することも可能である。このような構成とすることにより、半導体装置1つ分の実装面積だけで、複数の半導体装置10x及び10yを実装することができるので、プリント配線基板20の小型化を実現することが可能となる。なお、半導体装置10x及び10yとして、それぞれ、先出の半導体装置10(図1〜図6を適宜参照)を用いれば、半導体装置10yのモニタパッド14aを用いて半導体装置10x及び10y双方の端子モニタを行うことが可能となる。
<チップレイアウト>
図8は、半導体チップ11の第1レイアウトを示す模式図(平面図)である。第1レイアウトにおいて、矩形状の半導体チップ11は、これを平面視したときに、同じく矩形状のパッケージ12に対して各辺が平行となるように配置されている。この第1レイアウトを採用した場合、半導体チップ11とこれに接続される複数の周辺部品40を一つのパッケージ12に内蔵する際の面積効率を高めるためには、半導体チップ11をパッケージ12の一角に寄せた上で、半導体チップ11の2辺に対向するように複数の周辺部品40を並べて配置することになる。
しかしながら、第1レイアウトでは、半導体チップ11と複数の周辺部品40との間を最短距離で接続しようとした場合、半導体チップ11の4辺のうち、複数の周辺部品40と対向する2辺にのみ、周辺部品接続用パッドを集約しなければならず、半導体チップ11のパッドレイアウトに制約が生じるという問題があった。一方、第1レイアウトにおいて、半導体チップ11の4辺全てに周辺部品接続用パッドを設けた場合には、半導体チップ11の4辺のうち、複数の周辺部品40と対向しない2辺に対して複数の周辺部品40から配線パターンが引き回される形となるので、配線パターンの敷設面積が増大する上、信号遅延やノイズ重畳が生じやすくなるという問題があった。
図9は、半導体チップ11の第2レイアウトを示す模式図(平面図)である。第2レイアウトにおいて、半導体チップ11は、パッケージ12に対して平面的に所定角(例えば45度)だけ回転された状態で内蔵されている。第2レイアウトを採用することにより、半導体チップ11の4辺に対向するように、複数の周辺部品40を均等分配して配置することができるので、半導体チップ11のパッドレイアウトに制約を生じることなく、半導体チップ11と複数の周辺部品40との間を最短距離で接続することが可能となる。
<電子機器への適用>
図10は、スマートフォンの外観図である。スマートフォンXは、半導体装置10が搭載される電子機器の一例である。スマートフォンXは、その小型化や軽薄化だけでなく、その高い信頼性が要求される製品の一つである。そのため、端子モニタを行うことが可能なリードレスパッケージの半導体装置10は、スマートフォンXへの搭載に非常に適していると言える。
<その他の変形例>
なお、上記実施形態では、BGAパッケージの半導体装置を例示して説明を行ったが、本発明の適用対象はこれに限定されるものではなく、その他の構造を採用したリードレスパッケージ(LGAパッケージやPGAパッケージなど)の半導体装置も本発明の適用対象となり得る。
このように、本明細書中に開示されている種々の技術的特徴は、上記実施形態のほか、その技術的創作の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきであり、本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。
本発明は、例えば、スマートフォンなどのモバイル機器に利用することが可能である。
10 半導体装置
11 半導体チップ
111 半田バンプ
12 パッケージ
13 下面パッド
14 上面パッド
14a モニタパッド
14b 部品搭載パッド
14c 兼用パッド
15 半田バンプ
16 第1基板
161 第1配線層
162 第1絶縁層(ソルダレジスト層)
163 第2配線層
164 第2絶縁層(ソルダレジスト層)
165 ビア
17 第2基板
171 第3配線層
172 第3絶縁層(ソルダレジスト層)
173 第4配線層
174 第4絶縁層(ソルダレジスト層)
175 ビア
18 接合部材
19 導電部材(貫通ビア)
20 プリント配線基板
21 配線層
30 外付け部品
31 半田
40 周辺部品
X スマートフォン

Claims (6)

  1. 半導体チップと、
    前記半導体チップを内蔵するパッケージと、
    前記パッケージの下面に設けられた複数の下面パッドと、
    前記パッケージの上面に設けられた複数の上面パッドと、
    を有し、
    前記複数の上面パッドは、前記下面パッドに接続されたモニタパッドを含み、
    前記パッケージは、
    その下面に前記複数の下面パッドが形成される第1基板と、
    その上面に前記複数の上面パッドが形成される第2基板と、
    前記第1基板の上面と前記第2基板の下面とを対向させて接合する接合部材と、
    前記第1基板と前記第2基板との間を電気的に接続する導電部材と、
    を含み、
    前記第2基板の前記半導体チップと対向する面側には、配線層と、前記配線層と前記半導体チップとの接続部を除く部分を被覆する絶縁層と、が形成されており、
    前記半導体チップは、前記第2基板の前記半導体チップと対向する面側において前記絶縁層と接するように配置されており、
    前記モニタパッドの表面は、その一部または全部が剥離可能な第2絶縁層により被覆されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記半導体チップは、前記パッケージに対して平面的に回転された状態で内蔵されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記パッケージは、BGA[ball grid array]型、LGA[land grid array]型、または、PGA[pin grid array]型であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
  4. プリント配線基板と、
    前記プリント配線板上に実装された請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の半導体装置と、
    を有することを特徴とする電子機器。
  5. 前記半導体装置は、スタック実装されることを特徴とする請求項4に記載の電子機器。
  6. 前記モニタパッドは、全ての下面パッド毎に各々接続されていることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の電子機器。
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