JP6475666B2 - Defect inspection equipment - Google Patents
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Description
本発明は、リチウムイオン電池の正極シートや負極シート等の枚葉のシート状部材の欠陥の有無を自動で検査する欠陥検査装置に関する。 The present invention relates to a defect inspection apparatus that automatically inspects for the presence or absence of defects in a sheet-like member such as a positive electrode sheet or a negative electrode sheet of a lithium ion battery.
リチウムイオン二次電池は、正極、負極間をリチウムイオンが移動することにより充放電を行う二次電池で、エネルギー密度が高いことから、ノートパソコンや携帯電話等の携帯情報端末用電源として、また、電気自動車やハイブリッドカーのバッテリーとして急速に普及している。 A lithium ion secondary battery is a secondary battery that charges and discharges by moving lithium ions between the positive and negative electrodes. Because of its high energy density, it can also be used as a power source for portable information terminals such as laptop computers and mobile phones. It is rapidly spreading as a battery for electric cars and hybrid cars.
リチウムイオン二次電池は、正極シートと負極シートをセパレーター層を介して交互に積層して成る積層体を電解液とともに外装体に封入した構造を有する。正極シート及び負極シート(以下、電極シートという。)は、いずれも電極箔(アルミニウム箔(正極)及び銅箔(負極))の上に電極活物質の粉末とバインダーを含むペースト状の電極材料を塗工し、乾燥させた後、所定の形状にスリット加工することにより製造される(特許文献1)。 The lithium ion secondary battery has a structure in which a laminate formed by alternately stacking positive electrode sheets and negative electrode sheets with separator layers enclosed in an outer package together with an electrolyte. Each of the positive electrode sheet and the negative electrode sheet (hereinafter referred to as an electrode sheet) is a paste-like electrode material containing a powder of an electrode active material and a binder on an electrode foil (aluminum foil (positive electrode) and copper foil (negative electrode)). After coating and drying, it is manufactured by slitting into a predetermined shape (Patent Document 1).
電極シートに塗工された電極材料の厚みが不均一であったり、電極材料に気泡やひび等の欠損や異物の混入等があったりすると、所期の性能のリチウムイオン二次電池を得ることができない。そこで、電極シートを積層する前に枚葉の状態で予め電極シートの欠陥の有無を検査することにより、不良な電極シートがリチウムイオン二次電池の材料として用いられることを防止している。
電極シートの欠陥検査は例えば次のような手順で行われる。
If the thickness of the electrode material applied to the electrode sheet is not uniform, or there are defects such as bubbles or cracks in the electrode material, or foreign matter is mixed, a lithium ion secondary battery with the expected performance can be obtained. I can't. In view of this, before the electrode sheets are stacked, the presence or absence of defects in the electrode sheet is inspected in advance in a single wafer state to prevent the defective electrode sheet from being used as a material for a lithium ion secondary battery.
The defect inspection of the electrode sheet is performed by the following procedure, for example.
まず、電極シートの表面に光を照射し、そのときの該表面をCCDカメラで撮影し、モニタ画面に表示するとともに、電極シート表面の各点における反射光の強度を求める。そして、所定の基準値に比べて反射光の強度が大きい箇所、あるいは小さい箇所を欠陥の可能性がある箇所(欠陥候補箇所)として、モニタ画面に表示されたCCDカメラの撮影画像上に印を付ける。ここまでの工程は、照明装置やCCDカメラ、反射光強度検出部、モニタ等を備える欠陥検査装置が行う。その後、検査員は、モニタ画面の撮影画像上の印の位置からその印に該当する電極シート上の箇所を探し出し、その箇所を目視で詳しく検査して真の欠陥であるか否かを判断する。 First, the surface of the electrode sheet is irradiated with light, the surface at that time is photographed with a CCD camera, displayed on a monitor screen, and the intensity of reflected light at each point on the surface of the electrode sheet is obtained. Then, mark a spot on the captured image of the CCD camera displayed on the monitor screen with a spot where the intensity of reflected light is large or small as compared to a predetermined reference value as a spot where there is a possibility of a defect (defect candidate spot). wear. The process up to here is performed by a defect inspection apparatus including an illumination device, a CCD camera, a reflected light intensity detection unit, a monitor, and the like. Thereafter, the inspector finds a position on the electrode sheet corresponding to the mark from the position of the mark on the captured image on the monitor screen, and visually inspects the position to determine whether it is a true defect. .
電極シートの欠陥検査装置では、欠陥を見落としてしまうことを避けるために、反射光強度に基づく欠陥候補箇所の判定基準が厳しく設定されている。そのため、正常である箇所が欠陥候補箇所として判定されることが多く、欠陥候補箇所が見つかった電極シートを検査員による目視検査を経ずにそのまま廃棄することは歩留まりの低下につながる。 In an electrode sheet defect inspection apparatus, in order to avoid overlooking a defect, a criterion for determining a defect candidate location based on reflected light intensity is strictly set. Therefore, a normal part is often determined as a defect candidate part, and discarding an electrode sheet in which a defect candidate part is found without undergoing visual inspection by an inspector leads to a decrease in yield.
このような事態を避ける意味で検査員による目視検査は重要であるが、欠陥の中には非常に小さいものもあり、モニタ画面に表示された画像と電極シートを見比べながら、該モニタ画面上に表示されている印の位置に対応する電極シート上の欠陥候補箇所を探し出す作業には時間がかかる。特に、車載用リチウムイオン二次電池のような大型のリチウムイオン二次電池に用いられる電極シートの場合、欠陥候補箇所を正確に短時間で探し出すことは難しかった。 Visual inspection by an inspector is important in order to avoid such a situation, but some defects are very small. Compare the image displayed on the monitor screen with the electrode sheet, It takes time to find a defect candidate location on the electrode sheet corresponding to the position of the displayed mark. In particular, in the case of an electrode sheet used for a large-sized lithium ion secondary battery such as a vehicle-mounted lithium ion secondary battery, it has been difficult to accurately find a defect candidate portion in a short time.
なお、ここでは電極シートの欠陥検査を例に挙げて説明したが、液晶テレビやプラズマテレビ、パーソナルコンピュータ、携帯情報端末の表示パネル等に用いられるガラス板やプラスチック板、プラスチックフィルム等の枚葉のシート状部材の欠陥検査を行う場合も同様である。 Here, the defect inspection of the electrode sheet has been described as an example, but a glass plate, a plastic plate, a plastic film, or the like used for a display panel of a liquid crystal television, a plasma television, a personal computer, a portable information terminal, etc. The same applies to the defect inspection of the sheet-like member.
本発明が解決しようとする課題は、枚葉のシート状部材の欠陥候補箇所を正確に且つ短時間で探し出すことができる欠陥検査装置を提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide a defect inspection apparatus capable of finding a defect candidate portion of a sheet-like member of a single sheet accurately and in a short time.
上記課題を解決するために成された本発明は、枚葉のシート状部材の表面の欠陥を検査する欠陥検査装置であって、
a) 撮影領域と目視検査領域を有し、前記シート状部材を該撮影領域から該目視検査領域に搬送する搬送路と、
b) 前記撮影領域の上方に配置された、該撮影領域に位置するシート状部材を撮影する撮影部と、
c) 前記撮影部によって撮影された画像を解析することにより前記シート状部材の欠陥候補を検出し、該欠陥候補の位置を特定する欠陥候補検出部と、
d) 前記欠陥候補検出部によって検出された結果に基づき、欠陥候補の位置データを記憶する欠陥データ記憶部と、
e) 前記目視検査領域に位置するシート状部材に対して、前記欠陥データ記憶部に記憶された欠陥候補の位置データに基づき、前記欠陥候補の位置に対応して欠陥候補の存在を示す欠陥目印画像を投影する投影部と
を備えることを特徴とする。
The present invention made to solve the above problems is a defect inspection apparatus for inspecting defects on the surface of a sheet-like member of a single wafer,
a) an imaging region and a visual inspection region, a conveyance path for conveying the sheet-like member from the imaging region to the visual inspection region;
b) a photographing unit that photographs the sheet-like member located in the photographing region, which is disposed above the photographing region;
c) a defect candidate detection unit that detects a defect candidate of the sheet-like member by analyzing an image captured by the imaging unit, and identifies a position of the defect candidate;
d) a defect data storage unit for storing position data of defect candidates based on the result detected by the defect candidate detection unit;
e) A defect mark indicating the presence of a defect candidate corresponding to the position of the defect candidate based on the position data of the defect candidate stored in the defect data storage unit for the sheet-like member located in the visual inspection area And a projection unit for projecting an image.
上記欠陥検査装置では、撮影領域にあるシート状部材に対して撮影部による撮影が行われ、その撮影画像から欠陥候補が検出されると、目視検査領域にあるシート状部材に対して、欠陥候補の位置に対応するシート状部材の箇所に欠陥目印画像を投影する。 In the defect inspection apparatus, when a sheet-like member in the photographing region is photographed by the photographing unit and a defect candidate is detected from the photographed image, the defect candidate is detected for the sheet-like member in the visual inspection region. A defect mark image is projected onto the position of the sheet-like member corresponding to the position.
上記構成においては、前記欠陥データ記憶部が、前記欠陥候補検出部によって検出された欠陥候補を含む画像データを記憶し、前記投影部が、前記欠陥目印画像として前記欠陥候補の拡大画像を投影することが好ましい。この構成では、小さい欠陥でも容易に目視で確認することができる。なお、欠陥候補の拡大画像をシート状部材に投影する場合は、実際の欠陥候補の上に投影しても良いが、欠陥候補の位置から少しずれた位置に投影しても良い。少しずれた位置に投影する構成にすれば、欠陥候補を目視する際に欠陥目印画像が邪魔になることがない。 In the above configuration, the defect data storage unit stores image data including the defect candidate detected by the defect candidate detection unit, and the projection unit projects an enlarged image of the defect candidate as the defect landmark image. It is preferable. With this configuration, even a small defect can be easily visually confirmed. When an enlarged image of a defect candidate is projected onto a sheet-like member, it may be projected on an actual defect candidate, but may be projected at a position slightly deviated from the position of the defect candidate. If the projection is performed at a slightly shifted position, the defect landmark image does not get in the way when the defect candidate is viewed.
また、前記欠陥データ記憶部が、前記欠陥候補検出部によって検出された欠陥候補を含む画像データを記憶し、
前記投影部が、前記欠陥目印画像として前記欠陥候補を取り囲む形状の図形画像を投影するようにしても良い。この構成では、欠陥候補を容易に見つけることができ、しかも、欠陥目印画像が邪魔になることもない。
Further, the defect data storage unit stores image data including defect candidates detected by the defect candidate detection unit,
The projection unit may project a graphic image having a shape surrounding the defect candidate as the defect mark image. In this configuration, defect candidates can be easily found, and the defect landmark image does not get in the way.
本発明の欠陥検査装置によれば、欠陥目印画像が枚葉のシート状部材の上に直接投影されるため、欠陥候補を正確に且つ短時間で探し出すことができる。 According to the defect inspection apparatus of the present invention, since the defect mark image is directly projected onto the sheet-like member of the single wafer, the defect candidate can be searched for accurately and in a short time.
以下、本発明に係る欠陥検査装置の具体的な実施形態について図面を参照して説明する。ここでは、枚葉のシート状部材として、リチウムイオン二次電池の負極や正極に用いられる電極シートを例に挙げて説明する。 Hereinafter, specific embodiments of a defect inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. Here, an electrode sheet used for a negative electrode or a positive electrode of a lithium ion secondary battery will be described as an example of the sheet-like member of a single wafer.
図1は欠陥検査装置100の全体構成の概略図を、図2は欠陥検査装置100の機能ブロック図を示す。図1及び図2に示すように、欠陥検査装置100は、撮影領域と目視検査領域を有し、これら撮影領域及び目視検査領域に電極シート1を搬送するための搬送路10と、搬送路10の上方に配置された撮影部20及び投影部30と、撮影部20によって撮影された画像を表示するモニタ40と、前記画像を解析することにより電極シート1の欠陥候補を検出する欠陥候補検出部50と、制御部60を備えている。
FIG. 1 is a schematic diagram of the overall configuration of the
搬送路10は、2個の搬送ローラ11,12と、これら搬送ローラ11,12の間に掛け渡されたコンベアベルト13と、図示右側の搬送ローラ12を駆動する搬送用モータ14から構成される。搬送用モータ14により搬送ローラ12が矢印Aで示す方向に回転されることにより、搬送ローラ11,12の上側に位置するコンベアベルト13上に載置された電極シート1が矢印B方向に搬送される。
The
搬送路10の上流側には電極シート1の製造装置200が配置されている。電極シート製造装置200は、一定時間毎に1枚の電極シート1をコンベアベルト13上に排出する。搬送用モータ14は制御部60に接続されており、電極シート製造装置200から電極シートが排出されるタイミングに合わせて制御部60は搬送用モータ14を所定時間回転させる。これにより、電極シート製造装置200から排出された電極シート1が撮影領域に、撮影領域にある電極シート1は目視検査領域に移動される。そのため、本実施形態では、電極シート製造装置200から電極シートが排出される位置と撮影領域、撮影領域と目視検査領域の間は同じ長さに設定されている。
A
撮影部20は、搬送路10の撮影領域の上方に配置されたカメラ21と、該カメラ21の撮影領域を照射する照明装置22と、カメラ21及び照明装置22をコンベアベルト13の幅方向に移動させる移動機構23と、から構成されている。カメラ21は、コンベアベルト13の移動方向に一列に並べられた複数の撮像素子(例えばCCDイメージングセンサ素子やCMOSイメージング素子)を備えたラインセンサから成る。カメラ21の撮影画像は制御部60に入力され、移動機構23は、コンベアベルト13の幅方向に延設されたレール231と、該レール231に移動可能に取り付けられた、カメラ21及び照明装置22を保持する保持部232と、該保持部232をレール231に沿って移動させるモータ(カメラ用モータ233)からなる。
The
投影部30は、目視検査領域全体を投影範囲とするプロジェクタ31から構成されている。プロジェクタ31は制御部60に接続されており、制御部60で作成された欠陥目印画像を目視検査領域に配置された電極シート1上に投影するようになっている。
The
欠陥候補検出部50は、撮影部20から制御部60に送られてくる画像データを受け、該画像データに二値化、比較演算等の画像処理を適用することで電極シート1の欠陥候補(異物、塗工ムラ、気泡、汚れ、ピンホール等の欠陥の可能性があるもの)を検出する。
The defect
制御部60は、カメラ21及び照明装置22を制御する撮影制御部61と、プロジェクタ31を制御する投影制御部62と、カメラ用モータ233を制御する移動制御部63と、搬送用モータ14を制御する搬送制御部64と、欠陥目印画像を作成する画像作成部65と、欠陥候補検出部50において欠陥候補と判定された箇所の座標位置を算出する位置算出部66と、欠陥候補検出部50で検出された欠陥候補の画像データや欠陥候補の座標位置データ、画像作成部65で作成された欠陥目印画像のデータ等を記憶する記憶部67を備えている。
The
欠陥候補の座標位置は、撮影領域に設定されたXY座標系によって表される。例えばコンベアベルト13の幅方向をX座標軸、搬送方向をY座標軸とするXY座標系の場合、カメラ21が備える複数の撮像素子のY座標値は固定値とされ、カメラ21の移動距離によってX座標値が算出される。
The coordinate position of the defect candidate is represented by an XY coordinate system set in the imaging region. For example, in the case of an XY coordinate system in which the width direction of the
欠陥候補検出部50と制御部60の実態は汎用コンピュータ(PC)110であり、中央演算装置(CPU)、メモリ、ハードディスクドライブ(HDD)やソリッドステートドライブ(SSD)等から構成される大容量記憶装置等を含む。この大容量記憶装置には撮影機の撮影範囲である撮影縦幅と撮影横幅が予め保存されている。PC110には、液晶ディスプレイ等から構成され、各種の情報を表示するモニタ40と、マウスやキーボードから構成され、ユーザが各種の命令を入力する入力部41とが接続されている。欠陥候補検出部50と制御部60は、PC110にインストールされたプログラムを実行することによりソフトウエア的に実現される機能手段である。
The actual condition of the defect
上記欠陥検査装置100においては、電極シート製造装置200から電極シート1が排出されると搬送用モータ14が駆動し、電極シート製造装置200から排出された電極シート1が撮影領域に、撮影領域にある電極シート1が目視検査領域に、それぞれ移動される。撮影領域に電極シート1が移動されると、撮影部20(カメラ21)によって該電極シート1の上面全体が撮影され、その画像が制御部60に送られる。その画像は欠陥候補検出部50によって処理され、欠陥候補が検出されると、その欠陥候補の位置が位置算出部66によって算出されるとともに画像作成部65によって欠陥目印画像が作成され、欠陥目印画像データ及び位置データが記憶部67に記憶される。
In the
一方、目視検査領域に電極シート1が移動されると、投影部30は記憶部67に記憶された欠陥目印画像データ及び位置データに基づき、電極シート1上の欠陥候補の位置に対応する位置に欠陥目印画像を投影する。
図3(a)は欠陥目印画像として、欠陥候補を取り囲む形状の図形画像P1を投影した例、(b)は欠陥目印画像として欠陥候補の拡大画像P2を欠陥箇所の近傍に投影した例を示す。
On the other hand, when the electrode sheet 1 is moved to the visual inspection area, the
FIG. 3A shows an example in which a graphic image P1 having a shape surrounding a defect candidate is projected as a defect landmark image, and FIG. 3B shows an example in which an enlarged image P2 of the defect candidate is projected as a defect landmark image in the vicinity of the defect location. .
このように、本実施形態では、電極シート1の上面に欠陥目印画像を投影したため、検査員は欠陥目印画像を手がかりに欠陥候補の位置を容易に且つ短時間で探し出すことができる。 Thus, in this embodiment, since the defect mark image was projected on the upper surface of the electrode sheet 1, the inspector can easily find the position of the defect candidate in a short time using the defect mark image as a clue.
なお、本発明は上記した実施形態に限らず、適宜の変更が可能である。例えば、上記実施形態では、撮影部20をラインセンサと移動機構から構成し、電極シート1を停止させた状態で撮影したが、電極シート1を移動させながらラインセンサで撮影するようにしても良い。この構成では、ラインセンサの移動機構を省略することができる。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and appropriate modifications can be made. For example, in the above-described embodiment, the photographing
また、ラインセンサに代えてシート状部材の上面の全体を一度に撮影可能なエリアセンサから撮影部20を構成しても良い。
Further, the
さらに、欠陥目印画像を欠陥候補を取り囲む形状の図形画像とした場合、欠陥の種類毎に異なる色や異なる形状の図形画像としても良い。この構成によれば、検査員が欠陥の種類を認識した上で欠陥候補を探すことができるため、その欠陥候補が真の欠陥であるか否かを判断し易くなる。
また、欠陥目印画像は、欠陥候補の種類や形状に関係なく共通の印としても良い。この場合は、欠陥目印画像を欠陥候補の画像に応じてその都度作成する必要がないため、欠陥候補の画像データを欠陥データ記憶部に記憶しなくても良い。
Furthermore, when the defect landmark image is a graphic image having a shape surrounding the defect candidate, it may be a graphic image having a different color or a different shape for each type of defect. According to this configuration, since the inspector can search for defect candidates after recognizing the type of defect, it is easy to determine whether or not the defect candidate is a true defect.
The defect mark image may be a common mark regardless of the type and shape of the defect candidate. In this case, since it is not necessary to create a defect landmark image each time according to the defect candidate image, it is not necessary to store the defect candidate image data in the defect data storage unit.
1…電極シート
10…搬送路
20…撮影部
21…カメラ
22…照明装置
23…移動機構
30…投影部
31…プロジェクタ
40…モニタ
50…欠陥候補検出部
60…制御部
61…撮影制御部
62…投影制御部
63…移動制御部
64…搬送制御部
65…画像作成部
66…位置算出部
67…記憶部
100…欠陥検査装置
200…電極シート製造装置
P1、P2…欠陥目印画像
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ...
Claims (3)
a) 撮影領域と目視検査領域を有し、前記シート状部材を該撮影領域から該目視検査領域に搬送する搬送路と、
b) 前記撮影領域の上方に配置された、該撮影領域に位置するシート状部材を撮影する撮影部と、
c) 前記撮影部によって撮影された画像を解析することにより前記シート状部材の欠陥候補を検出し、該欠陥候補の位置を特定する欠陥候補検出部と、
d) 前記欠陥候補検出部によって検出され、位置が特定された欠陥候補の位置データおよび該欠陥候補を含む画像データを記憶する欠陥データ記憶部と、
e) 前記目視検査領域に位置するシート状部材に対して、前記欠陥データ記憶部に記憶された欠陥候補の位置データに基づき、前記欠陥候補の位置に対応するシート状部材の箇所に欠陥候補の存在を示す欠陥目印画像である前記欠陥候補の拡大画像を投影する投影部と
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。 In a defect inspection apparatus for inspecting defects on the surface of a sheet-like member of a single wafer,
a) an imaging region and a visual inspection region, a conveyance path for conveying the sheet-like member from the imaging region to the visual inspection region;
b) a photographing unit that photographs the sheet-like member located in the photographing region, which is disposed above the photographing region;
c) a defect candidate detection unit that detects a defect candidate of the sheet-like member by analyzing an image captured by the imaging unit, and identifies a position of the defect candidate;
d) a defect data storage unit that stores position data of defect candidates detected by the defect candidate detection unit and whose positions are specified, and image data including the defect candidates ;
e) For the sheet-like member located in the visual inspection area, based on the position data of the defect candidate stored in the defect data storage unit, the defect candidate is located at the position of the sheet-like member corresponding to the position of the defect candidate. A defect inspection apparatus comprising: a projection unit that projects an enlarged image of the defect candidate, which is a defect landmark image indicating presence.
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Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6580723B2 (en) * | 2018-01-16 | 2019-09-25 | 株式会社神鋼エンジニアリング&メンテナンス | Steel plate shape straightening device and shape straightening method |
US11830179B2 (en) | 2018-01-31 | 2023-11-28 | Nichirei Foods Inc. | Food inspection assisting system, food inspection assisting apparatus and computer program |
JP2019148497A (en) * | 2018-02-27 | 2019-09-05 | Jfeスチール株式会社 | Device for continuously inspecting steel sheet |
JP7076747B2 (en) * | 2018-05-09 | 2022-05-30 | リョーエイ株式会社 | Classifier learning support system, learning data collection method, inspection system |
KR102138273B1 (en) * | 2018-10-11 | 2020-07-27 | 가천대학교 산학협력단 | Electrode Repair Apparatus and Repair Method for All Solid Thin Film Batteries and Method for Manufacturing All Solid Thin Film Batteries |
JP2021051702A (en) * | 2019-09-26 | 2021-04-01 | Nriシステムテクノ株式会社 | Inspection support apparatus, inspection support method, inspection support system, inspection apparatus, inspection method, and program |
JP7415410B2 (en) * | 2019-10-04 | 2024-01-17 | コニカミノルタ株式会社 | Image inspection device, image forming device, inspection report creation program, and inspection report |
CN111024008B (en) * | 2019-12-06 | 2021-04-13 | 欣旺达电动汽车电池有限公司 | Method and device for detecting dislocation size of laminated energy storage device |
CN115841445A (en) * | 2022-04-18 | 2023-03-24 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | Method, device and system for detecting cathode pole piece of composite material belt |
CN115436382B (en) * | 2022-09-28 | 2023-09-29 | 广州市易鸿智能装备有限公司 | Defect detection system and method for preventing strip breakage of lithium battery pole piece |
KR102608580B1 (en) * | 2022-12-27 | 2023-12-01 | 율촌화학 주식회사 | Method for setting a limit on molding depth of a film for a cell-type battery pouch by well detection |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0820377B2 (en) * | 1991-11-19 | 1996-03-04 | 川崎製鉄株式会社 | Band position display device |
DE69319219T3 (en) * | 1993-02-17 | 2004-05-06 | Kba-Giori S.A. | Device and method for checking printed matter |
JP2002090307A (en) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Nkk Corp | Surface defect inspection device and inspected result display method for surface defect inspection device |
JP2002228593A (en) * | 2001-02-06 | 2002-08-14 | Nippon Steel Corp | Flaw inspection result display device |
JP2009053122A (en) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Visual inspection system for transparent film |
US8836934B1 (en) * | 2012-05-15 | 2014-09-16 | The Boeing Company | Contamination identification system |
JP2014019148A (en) * | 2012-07-24 | 2014-02-03 | Komori Corp | Print quality inspection method and apparatus for printer |
JP2016061603A (en) * | 2014-09-16 | 2016-04-25 | 株式会社リコー | Projection device and projection method |
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