JP6423824B2 - 制御装置及び制御方法 - Google Patents

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Description

本発明は、制御装置及び制御方法に関する。
インクジェットプリンタを用いて印画を行う場合、例えば液滴を吐出するノズルの特性等により、印画結果として出力される画像の濃度分布が一様にならず、印画された画像にスジ及びムラ等が生じる場合がある。これに対し、従来、スジ及びムラ等の発生を抑えることを目的とした、インク液滴量を調整する技術が知られている。例えば引用文献1には、テストパターンの印画結果の濃度分布に基づいて、補正データを生成し、補正データに基づいて画像印画時のインク液滴量を調整する装置が開示されている。
特許第3040425号公報
しかしながら、特許文献1に開示された装置において、印画画像の先鋭度を高めるための更なる改善の余地がある。
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであり、印画画像の先鋭度を高めるための、改善された制御装置及び制御方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明の一実施形態に係る制御装置は、入力信号に基づいて印画装置を制御する制御信号を生成する制御装置である。前記制御装置は、中間信号を量子化することにより前記制御信号を生成する量子化器と、前記制御信号に対して、印画濃度の誤差に対する補正量を制御する補正ゲインに基づいて決定される調整ゲインを乗算する第2乗算器と、前記第2乗算器から出力された信号に基づいて、前記印画濃度の誤差の配分を決定する拡散マトリクスに入力される誤差拡散入力信号を生成する第2演算器と、を備える。前記中間信号は、第1乗算器により前記補正ゲインが乗算されるとともに、第1演算器により前記拡散マトリクスから出力される誤差拡散出力信号が減算されることによって、前記入力信号から生成される。
また、上記目的を達成する本発明の一実施形態に係る制御方法は、入力信号に基づいて印画装置を制御する制御信号を生成する制御装置による制御方法である。前記制御方法では、前記制御装置が、前記入力信号に対して、印画濃度の誤差に対する補正量を制御する補正ゲインを乗算するとともに、前記印画濃度の誤差の配分を決定する拡散マトリクスから出力される誤差拡散出力信号を減算することによって生成される、中間信号を、量子化することにより前記制御信号を生成するステップと、前記制御装置が、前記制御信号に対して、前記補正ゲインに基づいて決定される調整ゲインを乗算するステップと、前記制御装置が、前記調整ゲインが乗算された信号に基づいて、前記拡散マトリクスに入力される誤差拡散入力信号を生成するステップと、を含む。
本発明の一実施形態に係る制御装置及び制御方法によれば、印画画像におけるスジ及びムラ等を、より適切に抑制可能である。
本発明の一実施形態に係る印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図である。 図1のブロック図の各乗算器に対するゲイン入力の一例を示すブロック図である。 図2の調整ゲイン算出部における入出力特性の一例を示す図である。 第1調整ゲインに対する第2調整ゲインの比と、制御信号の平均値との関係を示す図である。 第1調整ゲインに対する第2調整ゲインの比と、先鋭度との関係を示す図である。 本発明の一変形例に係る印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図である。 図6のブロック図の各乗算器に対するゲイン入力の一例を示すブロック図である。 従来の印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図である。 デバイス特性による印画濃度の変動を模式的に示す図である。 量子化器における信号の入出力関係の一例を示す図である。 拡散マトリクスの一例を示す図である。
まず、従来の印画装置による信号処理の一例について説明する。図8は、従来の印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図である。印画装置は、図8のブロック図に示す処理を実行する制御装置として機能する。印画装置は、印画装置全体を制御及び管理するプロセッサである制御部を備える。制御部は、制御手順を規定したプログラムを実行するCPU(Central Processing Unit)等のプロセッサで構成される。
印画装置の制御部は、入力される画像データの信号(入力信号)uに対し、所定の演算を実行して、出力する画像データの信号(出力信号)yを生成する。制御部は、生成した出力信号yに基づいて、印画装置が備えるノズルからインクを吐出させる。これにより、印画装置による印画が実行される。ここでは、制御部が、従来公知のいわゆる誤差拡散法を用いて出力信号yを生成する場合の例について説明する。
また、ここでは、印画装置がシングルパス方式であるとして説明する。シングルパス方式の印画装置では、印画装置においてノズルが設けられたヘッドキャリッジが固定されており、搬送される印画用紙にノズルからインクが吐出されることにより、印画が行われる。印画装置のヘッドキャリッジには、印画時に印画用紙が搬送される方向(搬送方向)に向かって直交する方向に配列された複数のノズルを備える。
制御部は、印画装置が備える複数のノズルのそれぞれに対して出力信号yを生成する。ここで、制御部が行う出力信号yの生成処理について説明する。ここでは、搬送方向に向かって右からi番目のノズルからのインクの吐出を制御するための出力信号yの生成処理について説明する。以下、i番目のノズルの制御に関する各信号には、符号iを下付き文字で付して表す。
図8のブロック図には、乗算器510と、第1演算器520と、量子化器530と、第2演算器540と、拡散マトリクス550とが含まれる。第1演算器520及び第2演算器540は、例えばそれぞれ加算器により構成される。
入力信号uは、乗算器510に入力される。入力信号uは、乗算器510において、補正ゲインaが乗算される。補正ゲインaは、例えばノズルによる液滴量の誤差又は液滴位置の誤差に起因する印画濃度の誤差に対する補正量を制御するものである。補正ゲインaは、例えばi番目のノズルのデバイス特性dの逆数として定義される。すなわち、次の式(1)が成立する。
=1/d (1)
ここで、デバイス特性dは、i番目のノズルに入力された信号に対する、実際にi番目のノズルにより印画されるi番目の画素の印画濃度の特性を示す。例えば、デバイス特性d=0.5である場合、デバイス特性d=1.0である場合と比較して、i番目のノズルにより印画されるi番目の画素の印画濃度が半分になる。仮に、i番目のノズルのデバイス特性dがd=0.5であり、他のノズルのデバイス特性が1.0である場合、デバイス特性について考慮せずに同一の入力信号を入力して印画を行うと、i番目の画素が他の画素と比較して印画濃度が薄くなり、印画画像にスジができる。
図9は、デバイス特性dによる印画濃度の変動を模式的に示す図である。i番目のノズルに係る制御信号yに対し、デバイス特性dによる変動が発生し、実際の印画濃度は、y´となる。印画濃度y´と制御信号yとの関係は、次の式(2)のように表される。
y´=y*d (2)
第1演算器520は、乗算器510から出力される信号に対し、拡散マトリクス550からの誤差拡散出力信号ε´を減算することにより、中間信号φを生成する。拡散マトリクス550は、誤差拡散法で用いられる誤差の配分テーブルであり、その詳細については後述する。中間信号φは、次の式(3)のように表される。
φ=a*u−ε´ (3)
従来の印画装置では、このように、誤差拡散出力信号ε´による減算を行う前に、補正ゲインが乗算される。
量子化器530は、中間信号φを量子化することにより、制御信号yを生成する。量子化器530には、量子化誤差nが入力される。ここでの例において、量子化誤差nは、誤差拡散入力信号εと同値であるとする。制御信号yは、量子化処理を示す関数Qを用いて、次の式(4)のように表される。
=Q(φ) (4)
印画装置は、式(4)により算出される制御信号yに基づいて、印画を行う。
図10は、量子化器530における信号の入出力関係の一例を示す図である。図10は、制御部により処理される信号が8ビットである場合の一例を示す図である。ここでの例では、量子化器530は、図10に示されるように、入力される中間信号φに対し、階段状の制御信号yを生成する。
第2演算器540は、さらに制御信号yから中間信号φを減算して誤差拡散入力信号εを生成する。誤差拡散入力信号εは、次の式(5)のように表される。
ε=Q(φ)−φ (5)
誤差拡散入力信号εは、拡散マトリクス550に入力される。拡散マトリクス550は、誤差拡散入力信号εに基づいて、所定の処理を実行し、誤差拡散出力信号ε´i+1を生成する。拡散マトリクス550は、例えば、注目画素(i番目のノズルにより印画される画素)との相対的な距離に基づいて実験的に設定された誤差の配分テーブルである。図11は、拡散マトリクスの一例を示す図である。図11において、*は、i番目のノズルにより印画される画素、つまり注目画素を示す。制御部は、拡散マトリクス550を用いてi+1番目の画素に拡散するための誤差拡散出力信号ε´i+1を生成する。誤差拡散出力信号ε´i+1は、誤差拡散による誤差のフィードバックとして、i+1番目のノズルに係る制御信号yi+1の生成において使用される。拡散マトリクス550が、印画濃度の誤差を次画素へ全て拡散する特性を有する場合、拡散マトリクス550から出力される誤差拡散出力信号ε´i+1は、拡散マトリクス550における処理を示す関数Fを用いて、次の式(6)のように表される。
ε´i+1=F(ε) (6)
このようにして、制御部は、入力信号uに基づいて制御信号yを生成する。
従来の印画装置による上述の処理において、誤差拡散による印画画像の先鋭度を高めるためには、誤差拡散の拡散マトリクスを調整することが必要である。例えば、拡散マトリクスの拡散範囲を狭めることにより先鋭度を高めることができる。しかしながら、このような方法で先鋭度を高める場合、先鋭度を複数の段階に細分化して制御しようとすると、当該段階数分の拡散マトリクスが必要となる。そのため、印画装置が拡散マトリクスを記憶するために必要なメモリが大きくなる。
次に、メモリ使用量を抑制しつつ先鋭度を複数段階で制御可能な、本実施形態に係る印画装置について説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図である。印画装置は、図1のブロック図に示す処理を実行する制御装置として機能する。図1のブロック図には、第1乗算器110と、第1演算器120と、量子化器130と、第2演算器140と、拡散マトリクス150と、第2乗算器170と、第3乗算器160とが含まれる。第1演算器120及び第2演算器140は、例えばそれぞれ加算器により構成される。
本実施形態では、第1乗算器110が、第1演算器120と量子化器130との間に配置されている。つまり、本実施形態では、第1演算器120による処理が実行された後に、第1乗算器110による処理が実行される。また、第2演算器140と第1乗算器110との間に第3乗算器160が配置され、第2演算器140と量子化器130との間に第2乗算器170が配置されている。本実施形態では、このように量子化前後の信号に対して、それぞれ第3乗算器160及び第2乗算器170で、後述する所定の調整ゲイン(第1調整ゲイン及び第2調整ゲイン)を乗算することにより、誤差拡散処理を行った制御信号による印画画像の先鋭度を制御できる。ここで、本実施形態における制御部による制御信号yの生成処理について説明する。
本実施形態においては、入力信号は第1演算器120に入力される。第1演算器120は、入力信号uに対し、誤差拡散出力信号ε´を減算することにより、誤差拡散処理信号を生成する。第1乗算器110は、誤差拡散処理信号に対し、補正ゲインbを乗算することにより、中間信号φを生成する。補正ゲインbは、例えば補正ゲインaと同様に、デバイス特性dの逆数として定義される。中間信号φは、次の式(7)のように表される。
φ=b*(u−ε´) (7)
中間信号φは、量子化器130と、第3乗算器160とに入力される。
量子化器130は、中間信号φを量子化することにより、制御信号yを生成する。本実施形態の量子化器130による量子化処理は、例えば図10を参照して説明した従来の量子化器530による量子化処理と同様であってよいため、ここではその詳細な説明を省略する。制御信号yは、量子化信号を示す関数Qを用いて、次の式(8)のように表される。
=Q(φ) (8)
第3乗算器160は、中間信号φに対して、第1調整ゲインcを乗算する。第1調整ゲインcは、第1乗算器110における補正ゲインbの乗算によるずれを補償するためのゲインである。本実施形態において、第1調整ゲインcは、例えば補正ゲインbの逆数として適宜される。つまり、第1調整ゲインcは、次の式(9)のように表される。
=1/b (9)
第3乗算器160において第1調整ゲインcが乗算された信号は、第2演算器140に入力される。
第2乗算器170は、量子化器130から出力される制御信号yに対して、第2調整ゲインc´を乗算する。第2調整ゲインc´は、第1乗算器110における補正ゲインbの乗算によるずれを補償するとともに、画像の先鋭度を調整するためのゲインである。第2調整ゲインc´は、例えば所望の先鋭度に応じて適宜決定される。第2調整ゲインc´が第1調整ゲインcよりも大きい場合(c´>cの場合)、先鋭度が高くなり、第2調整ゲインc´が第1調整ゲインcよりも小さい場合(c´<cの場合)、先鋭度が低くなる。第1調整ゲインc及び第2調整ゲインc´の大小と、先鋭度との関係の詳細については、図5の説明において詳述する。第2乗算器170において第2調整ゲインc´が乗算された信号は、第2演算器140に入力される。
第2演算器140は、第2乗算器170から入力された信号から、第3乗算器160から入力された信号を減算することにより、誤差拡散入力信号εを生成する。誤差拡散入力信号εは、次の式(10)のように表される。
ε=c´*Q(φ)−c*φ (10)
誤差拡散入力信号εは、拡散マトリクス150に入力される。
拡散マトリクス150は、入力された誤差拡散入力信号εに対して所定の処理を実行し、誤差拡散出力信号ε´i+1を生成する。拡散マトリクス150から出力される誤差拡散出力信号ε´i+1は、拡散マトリクス150における処理を示す関数Fを用いて、次の式(11)のように表される。
ε´i+1=F(ε) (11)
ここでの例では、拡散マトリクス150から、誤差拡散出力信号ε´i+1として、誤差拡散入力信号εと同値の信号が出力されるとする。そして、誤差拡散出力信号ε´i+1を用いて、i+1番目のノズルに係る制御信号yi+1が算出される。
図2は、図1のブロック図の第1乗算器110、第3乗算器160及び第2乗算器170に対するゲイン(補正ゲインb、第1調整ゲインc及び第2調整ゲインc´)入力の一例を示すブロック図である。図2は、先鋭度を補正ゲインbによって制御する場合の一例を示す。
補正ゲインデータ210は、例えば印画装置が備える半導体メモリ等の記憶部に記憶される補正ゲインbのデータである。第1乗算器110には、補正ゲインデータ210から、補正ゲインbが入力される。
逆数演算部220は、補正ゲインデータ210から供給される補正ゲインbの逆数を算出する演算器である。逆数演算部220は、補正ゲインbの逆数を算出することにより、第1調整ゲインcを生成する。逆数演算部220は、例えばルックアップテーブルを参照することにより、第1調整ゲインcを生成してもよい。第3乗算器160には、逆数演算部220が生成した第1調整ゲインcが入力される。
調整ゲイン算出部230は、補正ゲインデータ210から供給される補正ゲインbに対して所定の演算を行う演算器である。調整ゲイン算出部230は、例えばルックアップテーブルを参照することにより、入力された補正ゲインbに基づく所定の出力を行ってもよい。調整ゲイン算出部230において演算されて出力される信号は、第3演算器240において、補正ゲインデータ210から供給される補正ゲインbと乗算されて、第2調整ゲインc´が生成される。第2乗算器170には、第3演算器240で生成された第2調整ゲインc´が入力される。
図3は、図2の調整ゲイン算出部230における入出力特性の一例を示す図である。図3に示す例では、補正ゲインbiが大きいほど出力が大きくなっている。これにより、補正ゲインbiが大きいほど、第2乗算器170に入力される第2調整ゲインc´iが大きくなり、先鋭度が高まる。図3に示す入出力特性は、例えばルックアップテーブルにより構成されていてもよく、また、例えば切片と傾きとを有する1次式として式化されていてもよい。
ここで、制御部による信号の処理について、具体的な数値を用いて説明する。ここでは、i−2番目からi+1番目までのノズルへの入力信号が、8ビット換算で111であるとする。すなわち、ui−2=ui−1=u=ui+1=111であるとする。
また、i番目のノズルのデバイス特性dはd=0.5であり、i−2番目、i−1番目及びi+1番目のノズルのデバイス特性di−2、di−1及びdi+1は、di−2=di−1=di+1=1.0であるとする。この場合、i番目のノズルの補正ゲインbは、b=1/d=2.0となり、i−2番目、i−1番目及びi+1番目のノズルの補正ゲインbi−2、bi−1及びbi+1は、bi−2=bi−1=bi+1=1.0となる。補正ゲインの逆数cについても、c=0.5、ci−2=ci−1=ci+1=1.0と算出される。
さらに、拡散マトリクス550が、印画濃度の誤差を次画素へ全て拡散する特性を有するものとし、i−2番目のノズルに係る制御信号yi−2の生成で用いられる誤差拡散出力信号ε´i−3は、ε´i−3=0であるとする。
まず、第1調整ゲインcと、第2調整ゲインc´とが等しい場合、つまりc´=c*1.0の例について説明する。この場合、c´i−2=c´i−1=c´i+1=1.0となり、c´=0.5となる。
上記条件において、i−2番目からi+1番目までのノズルに対する制御信号を算出すると、次のような結果となる。
i−2=85,yi−1=170,y=170,yi+1=85
次に、第2調整ゲインc´が第1調整ゲインcよりも大きい場合の例について説明する。ここでは、一例として、第2調整ゲインc´が第1調整ゲインcの1.2倍である場合、つまりc´=c*1.2である場合の例について説明する。この場合、c´i−2=c´i−1=c´i+1=1.2となり、c´=0.6となる。
上記条件において、i−2番目からi+1番目までのノズルに対する制御信号を算出すると、次のような結果となる。
i−2=85,yi−1=85,y=255,yi+1=85
さらに、第2調整ゲインc´が第1調整ゲインcよりも小さい場合の例について説明する。ここでは、一例として、第2調整ゲインc´が第1調整ゲインcの0.8倍である場合、つまりc´=c*0.8である場合の例について説明する。この場合、c´i−2=c´i−1=c´i+1=0.8となり、c´=0.4となる。
上記条件において、i−2番目からi+1番目までのノズルに対する制御信号を算出すると、次のような結果となる。
i−2=85,yi−1=170,y=255,yi+1=170
ここで、第1調整ゲインcに対する第2調整ゲインc´の値と、制御信号yとの関係について説明する。図4は、第1調整ゲインcに対する第2調整ゲインc´の比c´/cと、制御信号yの平均値Yとの関係を示す図である。図4において、縦軸は、制御信号yの平均値Yを示す。制御信号yの平均値Yは、i−2番目のノズルへの入力信号yi−2の算出に用いられる誤差拡散出力信号ε´i−3を変化させた場合における、出力信号yi−1、y及びyi+1それぞれの平均値である。図4は、誤差拡散出力信号ε´i−3を、−42から42の範囲で、1刻みで変化させた場合における、出力信号yi−1、y及びyi+1それぞれの平均値Yi−1、Y及びYi+1を示している。また、図4において、横軸は、c´/cの値を示す。図4は、c´/cの値を、0.7から1.3の範囲で、0.1刻みで変化させた場合における出力信号yi−1、y及びyi+1それぞれの平均値Yi−1、Y及びYi+1を示している。
ここで、平均値Yi−1、Y及びYi+1のうちの最大値をYmax、最小値をYmin、平均値をYaveとする。本実施形態において、先鋭度は、次の式(12)により定義する。
先鋭度=(Ymax−Ymin)/Yave (12)
式(12)により示される先鋭度の値が大きいほど、補正ゲインbを適用した画像の高調波成分が強調され、先鋭度の値が小さいほど、補正ゲインbを適用した画像の高調波成分が抑制される。
図5は、第1調整ゲインcに対する第2調整ゲインc´の比c´/cと、先鋭度との関係を示す図である。図5から理解されるように、c´/cの値が大きいほど、先鋭度の値が大きくなる。そのため、第2調整ゲインc´の値が大きいほど、高調波成分のスジ及びムラ等を抑制できる。また、c´/cの値が小さいほど、先鋭度の値が小さくなる。そのため、第2調整ゲインc´の値が小さいほど、低調波成分のスジ及びムラ等を抑制できる。このように、本実施形態に係る印画装置においては、第1調整ゲインcに対する第2調整ゲインc´の比を適宜決定することにより、所定の周波数成分におけるスジ及びムラ等を抑制可能である。
本実施形態に係る印画装置では、先鋭度の制御のために使用される第2調整ゲインc´が、補正ゲインbに基づいて生成される。これに対して、従来の印画装置は、先鋭度の制御のために図11に示すようなマトリクス形式のデータを必要とする。しかも、従来の印画装置では、印画画像の先鋭度を高めるためには、拡散マトリクスを調整することが必要であり、さらに、精鋭度を複数の段階に細分化しようとすると、当該段階数分の拡散マトリクスが必要となる。かかる従来の印画装置と比較すると、本実施形態に係る印画装置では、先鋭度の制御のために必要なデータを記憶するためのメモリ使用量を、抑制することができる。
なお、本発明は、上記実施形態にのみ限定されるものではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば、各構成部等に含まれる機能等は論理的に矛盾しないように再配置可能であり、複数の構成部等を1つに組み合わせたり、或いは分割したりすることが可能である。
図6は、本発明の一変形例に係る印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図である。印画装置は、図6のブロック図に示す処理を実行する制御装置として機能する。図6のブロック図には、第1乗算器310と、第1演算器320と、量子化器330と、第2演算器340と、拡散マトリクス350と、第2乗算器360とが含まれる。第1演算器320及び第2演算器340は、例えばそれぞれ加算器により構成される。図6のブロック図は、図8で説明した従来の印画装置による信号の処理手順の一例を示すブロック図と比較して、第2乗算器360を有する点で異なる。第1乗算器310、第1演算器320、量子化器330、第2演算器340及び拡散マトリクス350の機能は、それぞれ図8を参照して説明した乗算器510、第1演算器520、量子化器530、第2演算器540及び拡散マトリクス550と同様であるため、ここではその詳細な説明については省略する。
第2乗算器360は、量子化器330と第2演算器340との間に配置される。第2乗算器360には、量子化器330から制御信号yが供給される。第2乗算器360は、量子化器330から出力される制御信号yに対して、調整ゲインc´を乗算する。調整ゲインc´は、例えば上記実施形態における第2調整ゲインc´と同様である。第2乗算器360において調整ゲインc´が乗算された信号は、第2演算器340に入力される。第2演算器340は、第2乗算器360から入力された信号に対して、第1演算器320で生成された中間信号φを減算して、誤差拡散入力信号εを生成する。
図7は、図6のブロック図の第1乗算器310及び第2乗算器360に対するゲイン(補正ゲインa及び調整ゲインc´)入力の一例を示すブロック図である。図7も、上記実施形態と同様に、先鋭度を補正ゲインaによって制御する場合の一例を示す。
補正ゲインデータ410は、例えば印画装置が備える半導体メモリ等の記憶部に記憶される補正ゲインaのデータである。第1乗算器310には、補正ゲインデータ410から、補正ゲインaが入力される。
調整ゲイン算出部420は、補正ゲインデータ410から供給される補正ゲインaに対して所定の演算を行うことにより調整ゲインc´を生成する演算器である。調整ゲイン算出部420は、例えばルックアップテーブルを参照することにより、入力された補正ゲインaに基づく所定の出力を行ってもよい。調整ゲイン算出部420から出力される調整ゲインc´は、第2乗算器360に入力される。
図6及び図7に示したように、従来の処理手順に対して調整ゲインc´iを乗算する処理を追加した場合であっても、画像の先鋭度を制御することができ、所定の周波数成分におけるスジ及びムラ等を抑制可能である。また、この変形例の場合であっても、調整ゲインc´が、補正ゲインaに基づいて生成されるため、従来の印画装置と比較して、先鋭度の制御のために必要なデータを記憶するためのメモリ使用量を、抑制することができる。
110、310 第1乗算器
120、320、520 第1演算器
130、330、530 量子化器
140、340、540 第2演算器
150、350、550 拡散マトリクス
160 第3乗算器
170、360 第2乗算器
210、410 補正ゲインデータ
220 逆数演算部
230、420 調整ゲイン算出部
240 第3演算器
510 乗算器

Claims (4)

  1. 入力信号に基づいて印画装置を制御する制御信号を生成する制御装置であって、
    間信号を量子化することにより前記制御信号を生成する量子化器と、
    前記制御信号に対して、印画濃度の誤差に対する補正量を制御する補正ゲインに基づいて決定される調整ゲインを乗算する第2乗算器と、
    前記第2乗算器から出力された信号に基づいて、前記印画濃度の誤差の配分を決定する拡散マトリクスに入力される誤差拡散入力信号を生成する第2演算器と、
    を備え
    前記中間信号は、第1乗算器により前記補正ゲインが乗算されるとともに、第1演算器により前記拡散マトリクスから出力される誤差拡散出力信号が減算されることによって、前記入力信号から生成される
    制御装置。
  2. 前記第1乗算器による乗算は、前記第1演算器による減算よりも後に実行される、請求項1に記載の制御装置。
  3. 前記中間信号に対して、前記調整ゲインとは異なる他の調整ゲインを乗算する第3乗算器をさらに備え、
    前記第2演算器は、前記第2乗算器から出力された信号から、前記第3乗算器から出力された信号を減算することにより、前記誤差拡散入力信号を生成する、
    請求項2に記載の制御装置。
  4. 入力信号に基づいて印画装置を制御する制御信号を生成する制御装置による制御方法であって、
    前記制御装置が、前記入力信号に対して、印画濃度の誤差に対する補正量を制御する補正ゲインを乗算するとともに、前記印画濃度の誤差の配分を決定する拡散マトリクスから出力される誤差拡散出力信号を減算することによって生成される、中間信号を、量子化することにより前記制御信号を生成するステップと、
    前記制御装置が、前記制御信号に対して、前記補正ゲインに基づいて決定される調整ゲインを乗算するステップと、
    前記制御装置が、前記調整ゲインが乗算された信号に基づいて、前記拡散マトリクスに入力される誤差拡散入力信号を生成するステップと、
    を含む、制御方法。
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