JP6240059B2 - 電源装置内部の1次平滑コンデンサの劣化状態の推定装置及びその方法 - Google Patents
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Description
図1に、本発明の実施例1に係る電源装置内部の1次平滑コンデンサの劣化状態の推定装置の構成を示す。図1には、本発明の実施例1に係る推定装置100と、AC電圧を供給する商用電源1と、商用電源1から供給されたAC電圧をDC電圧に変換して出力するACアダプタ2と、ACアダプタ2内部に設けられた1次平滑化コンデンサ3と、ACアダプタ2からDC電圧が供給される負荷4とが示されている。図1に示されるように、推定装置100は、電流検出部101と、電流導通時間測定部102と、記憶演算処理部103と、表示部104とを備える。本発明では、商用電源1と負荷4との間に設けられたACアダプタ2に入力される電流の導通時間を測定することにより、ACアダプタ2の劣化状況を判断することができる。
図3を用いて、本発明を実施するにあたり、より低コスト・低消費電力である実施例2に係る電源装置内部の1次平滑コンデンサの劣化状態の推定方法を説明する。図3には、本発明の実施例2に係る推定装置300と、AC電圧を供給する商用電源1と、商用電源1から供給されたAC電圧をDC電圧に変換して出力するACアダプタ2と、ACアダプタ2の1次平滑化コンデンサ3と、ACアダプタ2からDC電圧が供給される負荷4とが示されている。図3に示されるように、本実施例に係る推定装置300は、電流検出用変流器301と、マイコン302と、液晶ディスプレイ303とを備える。
次に、本発明の実施例3に係る電源装置内部の1次平滑コンデンサの劣化状態の推定方法を説明する。長期にわたる測定を行うために、測定システムを接続したままにして間欠動作させ、定期的に電流導通時間を測定し、1次平滑コンデンサの劣化を検査することも可能である。しかし、このような運用を行うには、測定システムが低コスト・低消費電力であることが求められる。そこで、本実施例では、測定システムに平均化処理機能を追加することで、マイコンのクロックを下げ、低コスト化と低消費電力化を図ることができる。
Vt=(Ic・T)/Cc1 (式1)
N=(Vcc−Vlow)/Vt (式2)
N=f・T1 (式3)
T=Cc1・(Vcc−Vlow)/(f・T1・Ic) (式4)
ACアダプタ 2
1次平滑化コンデンサ 3
負荷 4
推定装置 100、300
電流検出部 101、401
電流導通時間測定部 102
記憶演算処理部 103
表示部 104、405
電流検出用変流器 301
マイコン 302、403
液晶ディスプレイ 303
平均化回路 402
Claims (8)
- 商用電源から供給されたAC電圧をDC電圧に変換して負荷に出力するACアダプタ内部に設けられた1次平滑コンデンサの劣化状態を推定する装置であって、
前記ACアダプタに流れ込む電流を検出して、電流を検出したことを示す検出信号を出力する電流検出部と、
前記検出信号を受信し、前記受信した検出信号に基づいて所定期間内に前記ACアダプタに電流が流れる時間である電流導通時間を測定して、前記電流導通時間を示す電流導通時間信号を出力する電流導通時間測定部と、
前記電流導通時間と前記1次平滑コンデンサの等価直列抵抗値と前記1次平滑コンデンサの劣化状態との関係を示す計算式又はデータベースを前記1次平滑コンデンサの種類毎に予め格納した記憶演算処理部であって、前記電流導通時間測定部から前記電流導通時間信号を受信して、前記予め格納した計算式又はデータベースに従って、前記受信した電流導通時間信号から前記1次平滑コンデンサの等価直列抵抗値を計算し、前記計算した等価直列抵抗値から前記1次平滑コンデンサの劣化状態を推定する記憶演算処理部と、
を備えたことを特徴とする装置。 - 前記記憶演算処理部は、当該推定結果を示す推定信号を出力し、
前記装置は、前記記憶演算処理部から前記推定信号を受信し、前記受信した推定信号に基づいて前記推定結果を表示する表示部をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記電流検出部は、クランプタイプの電流検出用変流器であり、
前記電流導通時間測定部及び前記記憶演算処理部は、マイコンに含まれていることを特徴とする請求項1又は2に記載の装置。 - 前記装置は、前記電流導通時間の平均化処理を行う平均化回路をさらに含むことを特徴とする請求項3に記載の装置。
- 商用電源から供給されたAC電圧をDC電圧に変換して負荷に出力するACアダプタ内部に設けられた1次平滑コンデンサの劣化状態を推定する方法であって、
電流検出部が、前記ACアダプタに流れ込む電流を検出して、電流を検出したことを示す検出信号を出力するステップと、
電流導通時間測定部が、前記検出信号に基づいて所定期間内に前記ACアダプタに電流が流れる時間である電流導通時間を測定して、前記電流導通時間を示す電流導通時間信号を出力するステップと、
記憶演算処理部が、前記1次平滑コンデンサの種類毎に予め格納した前記電流導通時間と前記1次平滑コンデンサの等価直列抵抗値と前記1次平滑コンデンサの劣化状態との関係を示す計算式又はデータベースに従って、前記電流導通時間信号から前記1次平滑コンデンサの等価直列抵抗値を計算し、前記計算した等価直列抵抗値から前記1次平滑コンデンサの劣化状態を推定するステップと、
を備えたことを特徴とする方法。 - 前記記憶演算処理部は、前記推定するステップにおける推定結果を示す推定信号を出力するステップと、
表示部が、前記推定信号に基づいて前記推定結果を表示するステップをさらに備えたことを特徴とする請求項5に記載の方法。 - 前記電流検出部は、クランプタイプの電流検出用変流器であり、
前記電流導通時間測定部及び前記記憶演算処理部は、マイコンに含まれていることを特徴とする請求項5又は6に記載の方法。 - 前記電流導通時間の平均化処理を行うステップをさらに備えたことを特徴とする請求項7に記載の方法。
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