JP6232221B2 - Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品実装装置、及び電子部品実装方法に関する。   The present invention relates to an electronic component mounting apparatus and an electronic component mounting method.

電子部品実装装置(マウンタ)は、電子部品を保持するノズルを有し、そのノズルで電子部品を保持して基板に実装する。電子部品として、例えば特許文献1に開示されているような、所謂、リード型電子部品(挿入型電子部品)がある。リード型電子部品は、本体部と本体部に接続されるリード(ピン)とを有する。リード型電子部品は、基板の表面に設けられた開口にリードが挿入されることによって基板に実装される。   An electronic component mounting apparatus (mounter) has a nozzle that holds an electronic component, and holds the electronic component with the nozzle and mounts it on a substrate. As an electronic component, for example, there is a so-called lead type electronic component (insertion type electronic component) as disclosed in Patent Document 1. The lead-type electronic component has a main body portion and leads (pins) connected to the main body portion. The lead-type electronic component is mounted on the substrate by inserting a lead into an opening provided on the surface of the substrate.

特許第3967361号公報Japanese Patent No. 3967361

リード型電子部品において、リードを基板の開口に円滑に挿入できないと、その電子部品に負荷がかかる可能性がある。その結果、歩留まりが低下したり、電子部品の性能が低下したりする可能性がある。   In a lead-type electronic component, if the lead cannot be smoothly inserted into the opening of the substrate, a load may be applied to the electronic component. As a result, there is a possibility that the yield will be lowered and the performance of the electronic component will be lowered.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、リードを基板の開口に円滑に挿入できる電子部品実装装置、及び電子部品実装方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to provide an electronic component mounting apparatus and an electronic component mounting method capable of smoothly inserting a lead into an opening of a substrate.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る電子部品実装装置は、本体部と前記本体部に接続されるリードとを有する電子部品を、表面に開口が設けられた基板に実装する電子部品実装装置であって、前記本体部を保持するノズルと、前記リードの先端部が前記開口の内側に位置する第1状態から、前記リードに設けられた屈曲部が前記開口の内側に位置する第2状態を経て、前記本体部と結ばれる前記リードの基端部が前記開口の内側に位置する第3状態に変化するように、前記本体部を保持した前記ノズルの移動経路を決定する制御装置と、前記制御装置により決定された移動経路に基づいて、前記本体部を保持した前記ノズルを移動する駆動装置と、を備え、前記移動経路は、前記ノズルが前記基板の表面と垂直な第1軸と平行な第1方向に移動しながら前記基板の表面と平行な方向に移動する経路を含む。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, an electronic component mounting apparatus according to the present invention includes an electronic component having a main body portion and leads connected to the main body portion, and a substrate having an opening on the surface. An electronic component mounting apparatus mounted on the lead from a first state in which the nozzle for holding the main body and the leading end of the lead are located inside the opening, the bent portion provided on the lead is the opening of the opening. The movement path of the nozzle holding the main body so that the base end of the lead connected to the main body changes to the third state located inside the opening through the second state located on the inner side. And a drive device that moves the nozzle holding the main body based on the movement path determined by the control apparatus, the movement path including the nozzle on the surface of the substrate. And vertical second While moving to the axis a first direction parallel including a path for movement in a direction parallel to the surface of the substrate.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記屈曲部は、前記先端部と前記基端部との間において前記基板の表面と平行な面内の第2軸と平行な第2方向に突出するように設けられ、前記移動経路は、前記第1状態から前記第2状態に変化するように前記ノズルが前記第1方向に移動しながら前記第2方向の反対の第3方向に移動する第1経路と、前記第2状態から前記第3状態に変化するように前記ノズルが前記第1方向に移動しながら前記第2方向に移動する第2経路と、を含んでもよい。   In the electronic component mounting apparatus according to the present invention, the bent portion protrudes in a second direction parallel to a second axis in a plane parallel to the surface of the substrate between the distal end portion and the base end portion. The moving path is a first path in which the nozzle moves in the third direction opposite to the second direction while moving in the first direction so as to change from the first state to the second state. And a second path in which the nozzle moves in the second direction while moving in the first direction so as to change from the second state to the third state.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記第1状態から前記第3状態への変化のための前記ノズルの移動期間の少なくとも一部において、前記先端部と前記基端部とを結ぶ仮想的な第1直線と前記リードとの間を前記開口の中心が通るように、前記移動経路が決定されてもよい。   In the electronic component mounting apparatus according to the present invention, a virtual connection between the distal end portion and the proximal end portion in at least a part of a movement period of the nozzle for changing from the first state to the third state. The movement path may be determined so that the center of the opening passes between the first straight line and the lead.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記第1経路と前記第2経路とは、前記基板の表面と平行な面内においてその移動距離が一致してもよい。   In the electronic component mounting apparatus according to the present invention, the first path and the second path may have the same moving distance in a plane parallel to the surface of the substrate.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記移動経路は、前記リードの先端部が前記開口の中心に位置する状態から前記リードが前記開口のエッジに接触する状態に変化するように、前記ノズルが前記第2軸と平行な方向に移動せずに前記第1方向に移動する経路を含み、前記リードが前記開口のエッジに接触した後、前記第2軸と平行な方向への前記ノズルの移動が開始されてもよい。   In the electronic component mounting apparatus according to the present invention, the movement path is changed so that the nozzle is changed from a state in which a tip end portion of the lead is positioned at the center of the opening to a state in which the lead is in contact with an edge of the opening. The nozzle includes a path that moves in the first direction without moving in a direction parallel to the second axis, and the nozzle moves in a direction parallel to the second axis after the lead contacts the edge of the opening. May be started.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記第2軸と平行であり前記屈曲部を通る仮想的な第2直線と前記屈曲部との第1交点と前記第2直線と前記第1直線との第2交点との中心を前記開口の中心が通るように、前記移動経路が決定されてもよい。   In the electronic component mounting apparatus according to the present invention, a virtual second straight line that is parallel to the second axis and passes through the bent portion, a first intersection of the bent portion, the second straight line, and the first straight line The movement path may be determined so that the center of the opening passes through the center of the second intersection.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記移動経路は、前記第1軸に対して傾斜する前記先端部と前記屈曲部との間の前記リードの第1部分と、前記第1直線と、前記第2軸と平行であり前記屈曲部を通る仮想的な第2直線とによって形成される三角形において、前記第1直線と前記第1部分との間の頂点と前記第2直線の中点とを結ぶ第1中線、及び前記第1軸に対して傾斜する前記屈曲部と前記基端部との間の前記リードの第2部分と、前記第1直線と、前記第2直線とによって形成される三角形において、前記第1直線と前記第2部分との間の頂点と前記第2直線の中点とを結ぶ第2中線の少なくとも一部を含んでもよい。   In the electronic component mounting apparatus according to the present invention, the movement path includes a first portion of the lead between the tip portion inclined with respect to the first axis and the bent portion, the first straight line, and the In a triangle formed by a virtual second straight line that is parallel to the second axis and passes through the bent portion, an apex between the first straight line and the first portion and a midpoint of the second straight line Formed by a first middle line to be connected, a second portion of the lead between the bent portion and the base end portion inclined with respect to the first axis, the first straight line, and the second straight line. The triangle may include at least a part of a second middle line connecting a vertex between the first straight line and the second part and a midpoint of the second straight line.

本発明に係る電子部品実装装置において、前記リードの形状を検出する検出装置を備え、前記制御装置は、前記検出装置の検出結果に基づいて、前記移動経路を決定してもよい。   The electronic component mounting apparatus according to the present invention may include a detection device that detects a shape of the lead, and the control device may determine the movement path based on a detection result of the detection device.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る電子部品実装方法は、本体部と前記本体部に接続されるリードとを有する電子部品を、表面に開口が設けられた基板に実装する電子部品実装方法であって、ノズルで前記本体部を保持するステップと、前記リードの先端部が前記開口の内側に位置する第1状態から、前記リードに設けられた屈曲部が前記開口の内側に位置する第2状態を経て、前記本体部と結ばれる前記リードの基端部が前記開口の内側に位置する第3状態に変化するように、前記本体部を保持した前記ノズルの移動経路を決定するステップと、決定された前記移動経路に基づいて、前記本体部を保持した前記ノズルを移動して、前記開口に前記リードを挿入するステップと、を含み、前記移動経路は、前記ノズルが前記基板の表面と垂直な第1軸と平行な第1方向に移動しながら前記基板の表面と平行な方向に移動する経路を含む。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, an electronic component mounting method according to the present invention includes an electronic component having a main body portion and leads connected to the main body portion, and a substrate having an opening on the surface. An electronic component mounting method for mounting to a lead, wherein a step of holding the main body portion with a nozzle, and a bent portion provided on the lead from a first state in which a tip end portion of the lead is located inside the opening, Through the second state located inside the opening, the nozzle of the nozzle holding the body portion is changed so that the base end portion of the lead connected to the body portion changes to a third state located inside the opening. Determining a movement path, and moving the nozzle holding the main body based on the determined movement path, and inserting the lead into the opening. Noz There comprising a path for moving in a direction parallel to the surface of the substrate while moving in a first direction parallel to the first axis perpendicular to the surface of the substrate.

本発明に係る電子部品実装方法において、前記リードの形状を検出するステップを含み、前記ノズルの移動経路を決定するステップは、前記リードの形状の検出結果に基づいて、行われてもよい。   In the electronic component mounting method according to the present invention, the step of detecting the shape of the lead, and the step of determining the movement path of the nozzle may be performed based on a detection result of the shape of the lead.

本発明によれば、リードを基板の開口に円滑に挿入できる。   According to the present invention, the lead can be smoothly inserted into the opening of the substrate.

図1は、電子部品実装装置の概略構成を示す模式図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an electronic component mounting apparatus. 図2は、ヘッドの概略構成を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a schematic configuration of the head. 図3は、ヘッドの概略構成を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing a schematic configuration of the head. 図4は、ヘッドの概略構成を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a schematic configuration of the head. 図5は、ノズルの一例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an example of a nozzle. 図6は、図5のノズルの保持動作を説明するための説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram for explaining the holding operation of the nozzle of FIG. 図7は、電子部品の一例を示す正面図である。FIG. 7 is a front view showing an example of an electronic component. 図8は、電子部品の一例を示す側面図である。FIG. 8 is a side view showing an example of an electronic component. 図9は、電子部品の一例を示す平面図である。FIG. 9 is a plan view illustrating an example of an electronic component. 図10は、基板の一例を示す平面図である。FIG. 10 is a plan view showing an example of the substrate. 図11は、基板の一例を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating an example of a substrate. 図12は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of an electronic component. 図13は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of an electronic component. 図14は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component. 図15は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of an electronic component. 図16は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 16 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of an electronic component. 図17は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component. 図18は、認識動作の検出結果の一例を示す模式図である。FIG. 18 is a schematic diagram illustrating an example of a recognition operation detection result. 図19は、電子部品の形状の認識動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 19 is a flowchart illustrating an example of the shape recognition operation of the electronic component. 図20は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 20 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component. 図21は、電子部品の形状の認識動作を説明するための説明図である。FIG. 21 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of an electronic component. 図22は、認識動作の検出結果の一例を示す模式図である。FIG. 22 is a schematic diagram illustrating an example of a recognition operation detection result. 図23は、電子部品実装装置の動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 23 is a flowchart illustrating an example of the operation of the electronic component mounting apparatus. 図24は、電子部品実装装置の動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 24 is a flowchart illustrating an example of the operation of the electronic component mounting apparatus. 図25は、電子部品の実装動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 25 is a flowchart illustrating an example of an electronic component mounting operation. 図26は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 26 is an explanatory diagram for explaining an electronic component mounting operation. 図27は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 27 is an explanatory diagram for explaining an electronic component mounting operation. 図28は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 28 is an explanatory diagram for explaining the mounting operation of the electronic component. 図29は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 29 is an explanatory diagram for explaining an electronic component mounting operation. 図30は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 30 is an explanatory diagram for explaining the mounting operation of the electronic component. 図31は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 31 is an explanatory diagram for explaining an electronic component mounting operation. 図32は、電子部品の実装動作を説明するための説明図である。FIG. 32 is an explanatory diagram for explaining the mounting operation of the electronic component. 図33は、電子部品の一例を示す図である。FIG. 33 is a diagram illustrating an example of an electronic component. 図34は、電子部品実装システムの概略構成を示す模式図である。FIG. 34 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an electronic component mounting system. 図35は、電子部品実装システムの動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 35 is a flowchart illustrating an example of the operation of the electronic component mounting system.

以下、本発明に係る実施形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されない。以下で説明する実施形態の構成要素は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。また、以下で説明する実施形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。   Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto. The components of the embodiments described below can be combined as appropriate. Some components may not be used. In addition, constituent elements in the embodiments described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art, those that are substantially the same, and those in a so-called equivalent range.

以下の説明においては、XYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部の位置関係について説明する。基板8を搬送する水平面内の一方向をX軸方向、水平面内においてX軸方向と直交する方向をY軸方向、X軸方向及びY軸方向のそれぞれと直交する方向をZ軸方向(上下方向)とする。また、X軸、Y軸、及びZ軸まわりの回転(傾斜)方向をそれぞれ、θX、θY、及びθZ方向とする。XY平面は、水平面である。XZ平面及びYZ平面のそれぞれは、XY平面と垂直に交わる。なお、Z軸方向は基板表面と垂直な第1軸とほぼ一致する。また、第1方向はZ軸方向とほぼ一致する。   In the following description, an XYZ orthogonal coordinate system is set, and the positional relationship of each part will be described with reference to this XYZ orthogonal coordinate system. One direction in the horizontal plane for transporting the substrate 8 is the X axis direction, the direction orthogonal to the X axis direction in the horizontal plane is the Y axis direction, and the direction orthogonal to each of the X axis direction and the Y axis direction is the Z axis direction (vertical direction) ). Further, the rotation (inclination) directions around the X axis, Y axis, and Z axis are the θX, θY, and θZ directions, respectively. The XY plane is a horizontal plane. Each of the XZ plane and the YZ plane intersects the XY plane perpendicularly. The Z-axis direction substantially coincides with the first axis perpendicular to the substrate surface. Further, the first direction substantially coincides with the Z-axis direction.

図1は、本実施形態に係る電子部品実装装置10の概略構成を示す模式図である。図2は、本実施形態に係る電子部品実装装置10が有するヘッド15の一例を示す図である。図3は、本実施形態に係る電子部品実装装置10が有するヘッド15の一例を示す図である。   FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an electronic component mounting apparatus 10 according to the present embodiment. FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the head 15 included in the electronic component mounting apparatus 10 according to the present embodiment. FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the head 15 included in the electronic component mounting apparatus 10 according to the present embodiment.

電子部品実装装置10は、基板8に電子部品80を実装する。電子部品80は、基板8に実装(搭載)される。本実施形態において、電子部品80は、所謂、リード型電子部品(挿入型電子部品)を含む。リード型電子部品は、リード84を有する。リード型電子部品は、基板8の開口にリード84が挿入されることによって基板8に実装される。なお、電子部品80が、所謂、チップ型電子部品(搭載型電子部品)を含んでもよい。チップ型電子部品は、リードを有しない。チップ型電子部品は、基板8に搭載されることによって基板8に実装される。チップ型電子部品は、例えばQFP(quad flat package)、及びSOP(small outline package)などを含む。   The electronic component mounting apparatus 10 mounts the electronic component 80 on the substrate 8. The electronic component 80 is mounted (mounted) on the substrate 8. In the present embodiment, the electronic component 80 includes a so-called lead type electronic component (insertion type electronic component). The lead type electronic component has a lead 84. The lead-type electronic component is mounted on the substrate 8 by inserting the lead 84 into the opening of the substrate 8. The electronic component 80 may include a so-called chip type electronic component (mounting type electronic component). Chip-type electronic components do not have leads. The chip-type electronic component is mounted on the substrate 8 by being mounted on the substrate 8. Chip-type electronic components include, for example, QFP (quad flat package), SOP (small outline package), and the like.

本実施形態において、電子部品実装装置10は、リード型電子部品(挿入型電子部品)を基板8に実装する。なお、電子部品実装装置10が、リード型電子部品(挿入型電子部品)及びチップ型電子部品(搭載型電子部品)の両方を基板8に実装可能でもよい。   In this embodiment, the electronic component mounting apparatus 10 mounts a lead type electronic component (insertion type electronic component) on the substrate 8. The electronic component mounting apparatus 10 may be capable of mounting both the lead type electronic component (insertion type electronic component) and the chip type electronic component (mounting type electronic component) on the substrate 8.

図1、図2、及び図3において、電子部品実装装置10は、基板8を移動可能な基板搬送部12と、電子部品80を供給可能な部品供給ユニット14と、ノズル32を有するヘッド15と、ヘッド移動機構16及びノズル駆動部34を含み、ノズル32を移動可能な駆動装置26と、電子部品80の画像を取得可能なカメラを含むVCSユニット17と、ヘッド15に対して交換されるノズル32を保持する交換ノズル保持機構18と、電子部品80を貯留可能な部品貯留部19と、電子部品実装装置10の少なくとも一部が収容される筐体11とを備えている。また、電子部品実装装置10は、操作部40と、表示部42と、記憶部44と、電子部品実装装置10を制御する制御装置20とを備えている。   1, 2, and 3, the electronic component mounting apparatus 10 includes a substrate transport unit 12 that can move the substrate 8, a component supply unit 14 that can supply an electronic component 80, and a head 15 that has a nozzle 32. The drive unit 26 including the head moving mechanism 16 and the nozzle driving unit 34 and capable of moving the nozzle 32, the VCS unit 17 including the camera capable of acquiring an image of the electronic component 80, and the nozzle exchanged for the head 15 The replacement nozzle holding mechanism 18 that holds 32, the component storage unit 19 that can store the electronic component 80, and the housing 11 that accommodates at least a part of the electronic component mounting apparatus 10 are provided. The electronic component mounting apparatus 10 includes an operation unit 40, a display unit 42, a storage unit 44, and a control device 20 that controls the electronic component mounting apparatus 10.

基板搬送部12は、基板8を移動(搬送)する。基板搬送部12は、基板8を支持して移動可能な搬送機構12Hと、搬送機構12Hを案内するガイド部材12Gとを含む。搬送機構12Hは、基板8を解放可能に保持する保持部材と、その保持部材を移動可能なアクチュエータとを含む。搬送機構12H(保持部材)は、基板8の表面(上面)8AとXY平面とが平行となるように基板8を支持する。本実施形態において、ガイド部材12Gは、X軸方向に長い。搬送機構12Hは、ガイド部材12Gに案内されて、X軸方向に移動可能である。基板搬送部12は、基板8を少なくともX軸方向に移動する。なお、基板搬送部12が、基板8をX軸、Y軸、Z軸、θX、θY、及びθZの6つの方向に移動可能でもよい。基板8の表面8Aの少なくとも一部に電子部品80が実装(搭載)される。基板8の表面8Aは、電子部品80が搭載される搭載対象面である。   The substrate transport unit 12 moves (transports) the substrate 8. The substrate transport unit 12 includes a transport mechanism 12H that can move while supporting the substrate 8, and a guide member 12G that guides the transport mechanism 12H. The transport mechanism 12H includes a holding member that releasably holds the substrate 8 and an actuator that can move the holding member. The transport mechanism 12H (holding member) supports the substrate 8 so that the surface (upper surface) 8A of the substrate 8 and the XY plane are parallel to each other. In the present embodiment, the guide member 12G is long in the X-axis direction. The transport mechanism 12H is guided by the guide member 12G and can move in the X-axis direction. The substrate transport unit 12 moves the substrate 8 at least in the X-axis direction. In addition, the board | substrate conveyance part 12 may be able to move the board | substrate 8 to six directions, X-axis, Y-axis, Z-axis, (theta) X, (theta) Y, and (theta) Z. An electronic component 80 is mounted (mounted) on at least a part of the surface 8A of the substrate 8. The surface 8A of the substrate 8 is a mounting target surface on which the electronic component 80 is mounted.

基板搬送部12は、基板8の表面8Aとヘッド15(ノズル32)の少なくとも一部とが対向するように基板8を移動可能である。基板8は、基板供給装置から電子部品実装装置10に供給される。搬送機構12Hは、基板供給装置から供給された基板8を、ガイド部材12Gの所定位置まで搬送する。ヘッド15(ノズル32)は、その所定位置に配置された基板8の表面8Aに、電子部品80を搭載する。基板8に電子部品80が搭載された後、基板搬送部12は、その基板8を次の工程を行う装置に搬送する。   The substrate transport unit 12 can move the substrate 8 so that the surface 8A of the substrate 8 and at least a part of the head 15 (nozzle 32) face each other. The substrate 8 is supplied from the substrate supply device to the electronic component mounting device 10. The transport mechanism 12H transports the substrate 8 supplied from the substrate supply device to a predetermined position of the guide member 12G. The head 15 (nozzle 32) mounts the electronic component 80 on the surface 8A of the substrate 8 arranged at a predetermined position. After the electronic component 80 is mounted on the substrate 8, the substrate transport unit 12 transports the substrate 8 to an apparatus that performs the next process.

部品供給ユニット14は、電子部品80をヘッド15(ノズル32)に供給する。部品供給ユニット14は、電子部品80を複数保持する。それら電子部品80の少なくとも一つがヘッド15(ノズル32)に供給される。部品供給ユニット14は、基板搬送部12よりもフロント側に配置される部品供給ユニット14fと、リア側に配置される部品供給ユニット14rとを含む。部品供給ユニット14fは、電子部品実装装置10のフロント側に配置される。部品供給ユニット14rは、電子部品実装装置10のリア側に配置される。ヘッド15(ノズル32)は、部品供給ユニット14から供給された電子部品80を基板8に実装(搭載)する。なお、部品供給ユニット14から供給される電子部品80は、同種の電子部品でもよいし、異種の電子部品でもよい。本実施形態において、部品供給ユニット14(14f、14r)は、リード型電子部品(挿入型電子部品)を供給する。部品供給ユニット14は、電子部品保持テープを有する。電子部品80は、電子部品保持テープに保持される。部品供給ユニット14は、電子部品保持テープを引き出して移動することによって、電子部品保持テープに保持された電子部品80を移動する。   The component supply unit 14 supplies the electronic component 80 to the head 15 (nozzle 32). The component supply unit 14 holds a plurality of electronic components 80. At least one of the electronic components 80 is supplied to the head 15 (nozzle 32). The component supply unit 14 includes a component supply unit 14f disposed on the front side of the substrate transport unit 12 and a component supply unit 14r disposed on the rear side. The component supply unit 14 f is disposed on the front side of the electronic component mounting apparatus 10. The component supply unit 14 r is disposed on the rear side of the electronic component mounting apparatus 10. The head 15 (nozzle 32) mounts (mounts) the electronic component 80 supplied from the component supply unit 14 on the substrate 8. The electronic component 80 supplied from the component supply unit 14 may be the same type of electronic component or a different type of electronic component. In the present embodiment, the component supply unit 14 (14f, 14r) supplies lead type electronic components (insertion type electronic components). The component supply unit 14 has an electronic component holding tape. The electronic component 80 is held on an electronic component holding tape. The component supply unit 14 moves the electronic component 80 held on the electronic component holding tape by pulling out and moving the electronic component holding tape.

ヘッド15は、電子部品80を基板8に実装する。ヘッド15は、ベースフレーム31と、ベースフレーム31に支持され、電子部品80の少なくとも一部を解放可能に保持するノズル32とを有する。ヘッド15は、部品供給ユニット14から供給された電子部品80をノズル32で保持する。ノズル32は、電子部品80を基板8に実装する。ノズル32は、基板搬送部12に支持された基板8に電子部品80を実装する。   The head 15 mounts the electronic component 80 on the substrate 8. The head 15 includes a base frame 31 and a nozzle 32 that is supported by the base frame 31 and releasably holds at least a part of the electronic component 80. The head 15 holds the electronic component 80 supplied from the component supply unit 14 with the nozzle 32. The nozzle 32 mounts the electronic component 80 on the substrate 8. The nozzle 32 mounts the electronic component 80 on the substrate 8 supported by the substrate transport unit 12.

駆動装置26は、ノズル32を移動する。駆動装置26は、基板8と対向する位置、及び部品供給ユニット14と対向する位置のそれぞれにノズル32を移動可能である。駆動装置26は、部品供給ユニット14から基板8まで電子部品80が移送されるように、ノズル32をXY平面において移動可能である。駆動装置26は、ヘッド15(ベースフレーム31)を移動可能なヘッド移動機構16と、ベースフレーム31に支持され、ノズル32を移動可能なノズル駆動部34とを含む。ヘッド移動機構16は、アクチュエータを含み、XY平面内においてヘッド15(ノズル32)を移動可能である。ノズル駆動部34は、アクチュエータを含み、Z軸方向及びθZ方向にノズル32を移動可能である。   The driving device 26 moves the nozzle 32. The driving device 26 can move the nozzle 32 to a position facing the substrate 8 and a position facing the component supply unit 14. The driving device 26 can move the nozzle 32 in the XY plane so that the electronic component 80 is transferred from the component supply unit 14 to the substrate 8. The driving device 26 includes a head moving mechanism 16 that can move the head 15 (base frame 31), and a nozzle driving unit 34 that is supported by the base frame 31 and that can move the nozzle 32. The head moving mechanism 16 includes an actuator and can move the head 15 (nozzle 32) in the XY plane. The nozzle driving unit 34 includes an actuator and can move the nozzle 32 in the Z-axis direction and the θZ direction.

ヘッド移動機構16は、X軸駆動部22及びY軸駆動部24を有する。X軸駆動部22及びY軸駆動部24のそれぞれは、アクチュエータを含む。X軸駆動部22は、ベースフレーム31(ヘッド15)と連結される。X軸駆動部22の作動により、ベースフレーム31がX軸方向に移動する。Y軸駆動部24は、X軸駆動部22を介してベースフレーム31(ヘッド15)と連結される。Y軸駆動部24の作動によりX軸駆動部22がY軸方向に移動されることによって、ベースフレーム31がY軸方向に移動する。   The head moving mechanism 16 includes an X-axis drive unit 22 and a Y-axis drive unit 24. Each of the X-axis drive unit 22 and the Y-axis drive unit 24 includes an actuator. The X-axis drive unit 22 is connected to the base frame 31 (head 15). The base frame 31 moves in the X-axis direction by the operation of the X-axis drive unit 22. The Y-axis drive unit 24 is connected to the base frame 31 (head 15) via the X-axis drive unit 22. When the X-axis drive unit 22 is moved in the Y-axis direction by the operation of the Y-axis drive unit 24, the base frame 31 is moved in the Y-axis direction.

ベースフレーム31は、ノズル駆動部34を支持する。ノズル32は、ノズル駆動部34を介して、ベースフレーム31に支持される。ヘッド移動機構16の作動により、ベースフレーム31がX軸方向及びY軸方向に移動される。ベースフレーム31がXY平面内において移動されることにより、そのベースフレーム31に支持されているノズル駆動部34及びノズル32も、ベースフレーム31と一緒にX軸方向及びY軸方向に移動する。ノズル駆動部34は、ノズル32をZ軸方向及びθZ方向に移動する。すなわち、本実施形態において、駆動装置26は、ノズル32を、X軸、Y軸、Z軸、及びθZの4つの方向に移動可能である。なお、駆動装置26が、ノズル32を、X軸、Y軸、Z軸、θX、θY、及びθZの6つの方向に移動可能でもよい。   The base frame 31 supports the nozzle driving unit 34. The nozzle 32 is supported by the base frame 31 via the nozzle driving unit 34. The operation of the head moving mechanism 16 moves the base frame 31 in the X axis direction and the Y axis direction. When the base frame 31 is moved in the XY plane, the nozzle drive unit 34 and the nozzle 32 supported by the base frame 31 also move in the X-axis direction and the Y-axis direction together with the base frame 31. The nozzle drive unit 34 moves the nozzle 32 in the Z-axis direction and the θZ direction. In other words, in the present embodiment, the drive device 26 can move the nozzle 32 in four directions of the X axis, the Y axis, the Z axis, and θZ. Note that the driving device 26 may be capable of moving the nozzle 32 in six directions of X axis, Y axis, Z axis, θX, θY, and θZ.

駆動装置26の作動によりノズル32が移動されることによって、そのノズル32に保持されている電子部品80も移動する。駆動装置26は、ノズル32と基板8との相対位置を調整可能である。ノズル32が移動されることによって、そのノズル32に保持されている電子部品80と基板8との相対位置が調整される。ノズル32は、保持した電子部品80を、基板8の表面8Aの任意の位置に移動可能である。ノズル32は、保持した電子部品80を、基板8の表面8Aの任意の位置に実装(搭載)可能である。   When the nozzle 32 is moved by the operation of the driving device 26, the electronic component 80 held by the nozzle 32 is also moved. The driving device 26 can adjust the relative position between the nozzle 32 and the substrate 8. By moving the nozzle 32, the relative position between the electronic component 80 held by the nozzle 32 and the substrate 8 is adjusted. The nozzle 32 can move the held electronic component 80 to an arbitrary position on the surface 8 </ b> A of the substrate 8. The nozzle 32 can mount (mount) the held electronic component 80 at an arbitrary position on the surface 8 </ b> A of the substrate 8.

VCSユニット(部品状態検出部、状態検出部)17は、ノズル32に保持された電子部品80の形状、及びノズル32による電子部品80の保持状態を検出する。VCSユニット17は、画像認識装置を含み、電子部品80の画像を取得可能なカメラを含む。VCSユニット17は、ノズル32に保持された電子部品80を下側(−Z側)から撮影し、撮影された画像を解析することによって、ノズル32に保持された電子部品80の形状、及びノズル32による電子部品80の保持状態を検出する。VCSユニット17により取得された情報(電子部品80の形状に関する情報、及びノズル32による電子部品80の保持状態に関する情報)は、制御装置20に送られる。   The VCS unit (component state detection unit, state detection unit) 17 detects the shape of the electronic component 80 held by the nozzle 32 and the holding state of the electronic component 80 by the nozzle 32. The VCS unit 17 includes an image recognition device and includes a camera that can acquire an image of the electronic component 80. The VCS unit 17 takes an image of the electronic component 80 held by the nozzle 32 from the lower side (−Z side), and analyzes the taken image to thereby determine the shape of the electronic component 80 held by the nozzle 32 and the nozzle. The holding state of the electronic component 80 by 32 is detected. Information acquired by the VCS unit 17 (information regarding the shape of the electronic component 80 and information regarding the holding state of the electronic component 80 by the nozzle 32) is sent to the control device 20.

交換ノズル保持機構18は、複数種類のノズル32を保持する。交換ノズル保持機構18は、ヘッド15に対して交換されるノズル32を複数保持する。本実施形態において、ノズル32は、電子部品80を吸引して保持する吸引ノズル321と、電子部品80を挟んで保持する把持ノズル322とを含む。交換ノズル保持機構18は、吸引ノズル321及び把持ノズル322を保持する。交換ノズル保持機構18により、ヘッド15に装着されるノズル32が変更(交換)される。ヘッド15は、その装着されたノズル32で電子部品80を保持する。   The replacement nozzle holding mechanism 18 holds a plurality of types of nozzles 32. The replacement nozzle holding mechanism 18 holds a plurality of nozzles 32 to be replaced with respect to the head 15. In the present embodiment, the nozzle 32 includes a suction nozzle 321 that sucks and holds the electronic component 80 and a gripping nozzle 322 that holds the electronic component 80 in between. The replacement nozzle holding mechanism 18 holds the suction nozzle 321 and the gripping nozzle 322. The nozzle 32 mounted on the head 15 is changed (replaced) by the replacement nozzle holding mechanism 18. The head 15 holds the electronic component 80 with the nozzle 32 attached thereto.

部品貯留部19は、基板8に実装されない電子部品80を貯留する。部品貯留部19は、基板8に実装されない電子部品80が廃棄される廃棄ボックスを含む。ノズル32に保持されている電子部品80が基板8に実装されない場合、そのノズル32に保持されている電子部品80は、部品貯留部19に投入(廃棄)される。   The component storage unit 19 stores the electronic component 80 that is not mounted on the substrate 8. The component storage unit 19 includes a disposal box in which electronic components 80 that are not mounted on the substrate 8 are discarded. When the electronic component 80 held by the nozzle 32 is not mounted on the substrate 8, the electronic component 80 held by the nozzle 32 is thrown into the component storage unit 19 (discarded).

制御装置20は、電子部品実装装置10の各部を制御する。制御装置20は、各種制御部の集合体でもよい。制御装置20は、CPU、ROMやRAM等の演算処理機能と記憶機能とを備える。操作部40及び表示部42はそれぞれ、制御装置20に接続される。操作部40は、作業者が操作を入力する入力デバイスであり、キーボード、マウス、及びタッチパネルの少なくとも一つを含む。操作部40は、検出した各種入力を制御装置20に送る。表示部42は、作業者に各種情報を表示する画面であり、タッチパネル及びビジョンモニタを含む。表示部42は、制御装置20から入力される画像信号に基づいて各種画像をタッチパネル及びビジョンモニタに表示させる。記憶部44は、実装に関する各種の情報を記憶する。記憶部44は、制御装置20に接続される。記憶部44は、電子部品80に関する情報(データ)、及び基板8に関する情報(データ)を記憶する。   The control device 20 controls each part of the electronic component mounting apparatus 10. The control device 20 may be an aggregate of various control units. The control device 20 includes an arithmetic processing function and a storage function such as a CPU, a ROM, and a RAM. The operation unit 40 and the display unit 42 are each connected to the control device 20. The operation unit 40 is an input device through which an operator inputs an operation, and includes at least one of a keyboard, a mouse, and a touch panel. The operation unit 40 sends the detected various inputs to the control device 20. The display unit 42 is a screen that displays various types of information to the worker, and includes a touch panel and a vision monitor. The display unit 42 displays various images on the touch panel and the vision monitor based on the image signal input from the control device 20. The storage unit 44 stores various types of information related to mounting. The storage unit 44 is connected to the control device 20. The storage unit 44 stores information (data) related to the electronic component 80 and information (data) related to the substrate 8.

図2及び図3に示すように、ヘッド15は、ベースフレーム31と、ノズル駆動部34と、ノズル32と、撮影装置(基板状態検出部)36と、高さセンサ(基板状態検出部)37と、レーザ認識装置(部品状態検出部、状態検出部)38とを有する。   As shown in FIGS. 2 and 3, the head 15 includes a base frame 31, a nozzle drive unit 34, a nozzle 32, an imaging device (substrate state detection unit) 36, and a height sensor (substrate state detection unit) 37. And a laser recognition device (component state detection unit, state detection unit) 38.

ヘッド15は、複数のノズル32を有する。複数のノズル32が一列に配置される。本実施形態においては、6本のノズル32が、X軸方向に配置される。   The head 15 has a plurality of nozzles 32. A plurality of nozzles 32 are arranged in a line. In the present embodiment, six nozzles 32 are arranged in the X-axis direction.

ベースフレーム31は、ノズル32、ノズル駆動部34、撮影装置36、高さセンサ37、及びレーザ認識装置38を支持する。上述のように、ベースフレーム31は、ヘッド移動機構16の作動により、X軸方向及びY軸方向に移動可能である。ヘッド移動機構16の作動によりベースフレーム31が移動されることによって、そのベースフレーム31に支持されているノズル32、ノズル駆動部34、撮影装置36、高さセンサ37、及びレーザ認識装置38のそれぞれが、ベースフレーム31と一緒に移動する。   The base frame 31 supports the nozzle 32, the nozzle driving unit 34, the imaging device 36, the height sensor 37, and the laser recognition device 38. As described above, the base frame 31 is movable in the X-axis direction and the Y-axis direction by the operation of the head moving mechanism 16. When the base frame 31 is moved by the operation of the head moving mechanism 16, each of the nozzle 32, the nozzle driving unit 34, the imaging device 36, the height sensor 37, and the laser recognition device 38 supported by the base frame 31. Moves together with the base frame 31.

ノズル32は、電子部品80を解放可能に保持する。図2及び図3に示す例では、ノズル32は、電子部品80を吸着して保持する吸引ノズル321である。吸引ノズル321は、電子部品80を吸着して保持する吸着機構を含む。吸引ノズル321の先端に開口33が設けられる。開口33から空気が吸引されることによって、吸引ノズル321の先端に電子部品80が吸着され、保持される。吸引ノズル321は、シャフト32aを含む。シャフト32aの先端に開口33が設けられる。シャフト32aの内部に、開口33と真空システム(吸引装置)とを接続する配管(流路)が設けられる。開口33を含む吸引ノズル321の先端部と電子部品80とが接触した状態で、開口33からの吸引動作が行われることにより、吸引ノズル321に電子部品80が保持される。開口33からの吸引動作が解除されることによって、電子部品80は吸引ノズル321から解放される。   The nozzle 32 holds the electronic component 80 releasably. In the example shown in FIGS. 2 and 3, the nozzle 32 is a suction nozzle 321 that sucks and holds the electronic component 80. The suction nozzle 321 includes a suction mechanism that sucks and holds the electronic component 80. An opening 33 is provided at the tip of the suction nozzle 321. By sucking air from the opening 33, the electronic component 80 is adsorbed and held at the tip of the suction nozzle 321. The suction nozzle 321 includes a shaft 32a. An opening 33 is provided at the tip of the shaft 32a. A pipe (flow path) that connects the opening 33 and the vacuum system (suction device) is provided inside the shaft 32a. The electronic component 80 is held by the suction nozzle 321 by performing a suction operation from the opening 33 in a state where the tip of the suction nozzle 321 including the opening 33 is in contact with the electronic component 80. The electronic component 80 is released from the suction nozzle 321 by releasing the suction operation from the opening 33.

撮影装置36は、カメラを含む。撮影装置36は、基板8の画像を取得可能である。また、撮影装置36は、基板8の表面8Aに形成された基準マークFMの画像を取得可能である。また、撮影装置36は、基板8に搭載された電子部品80の画像を取得可能である。また、撮影装置36は、部品供給ユニット14に存在する電子部品80の画像を取得可能である。撮影装置36は、基板8及び電子部品80のみならず、ヘッド15が対向する領域に配置される物体の画像を取得可能である。   The imaging device 36 includes a camera. The imaging device 36 can acquire an image of the substrate 8. In addition, the imaging device 36 can acquire an image of the reference mark FM formed on the surface 8A of the substrate 8. In addition, the imaging device 36 can acquire an image of the electronic component 80 mounted on the substrate 8. In addition, the imaging device 36 can acquire an image of the electronic component 80 existing in the component supply unit 14. The imaging device 36 can acquire an image of an object arranged not only in the substrate 8 and the electronic component 80 but also in a region where the head 15 faces.

高さセンサ37は、ヘッド15と対向する物体との距離を検出する。高さセンサ37は、基板8との距離、及び基板8に搭載された電子部品80との距離を検出可能である。高さセンサ37は、レーザ光(検出光)を射出する発光素子と、ヘッド15と対向する位置に配置されている物体に照射され、その物体で反射したレーザ光の少なくとも一部を受光可能な受光素子とを含む。   The height sensor 37 detects the distance between the head 15 and the object facing it. The height sensor 37 can detect the distance from the substrate 8 and the distance from the electronic component 80 mounted on the substrate 8. The height sensor 37 irradiates a light emitting element that emits laser light (detection light) and an object disposed at a position facing the head 15, and can receive at least part of the laser light reflected by the object. A light receiving element.

レーザ認識装置38は、電子部品80の状態を検出する。電子部品80の状態は、電子部品80の形状、及びノズル32で保持されている電子部品80の姿勢の少なくとも一方を含む。レーザ認識装置38は、ノズル32に保持されている電子部品80の状態を検出する。レーザ認識装置38は、ベースフレーム31の下部に接続されたブラケット50に内蔵されている。レーザ認識装置38は、レーザ光(検出光)を射出する光源38aと、光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部を受光可能な受光素子38bとを含む。光源38aは、レーザ光を射出可能な発光素子である。受光素子38bは、光源38aと対向する位置に配置されている。Z軸方向に関して、光源38aと受光素子38bとは同じ位置(高さ)に配置されている。レーザ認識装置38は、ノズル32に保持された電子部品80に対してレーザ光を照射して、電子部品80の状態を検出する。   The laser recognition device 38 detects the state of the electronic component 80. The state of the electronic component 80 includes at least one of the shape of the electronic component 80 and the posture of the electronic component 80 held by the nozzle 32. The laser recognition device 38 detects the state of the electronic component 80 held by the nozzle 32. The laser recognition device 38 is built in a bracket 50 connected to the lower part of the base frame 31. The laser recognition device 38 includes a light source 38a that emits laser light (detection light), and a light receiving element 38b that can receive at least part of the laser light emitted from the light source 38a. The light source 38a is a light emitting element that can emit laser light. The light receiving element 38b is disposed at a position facing the light source 38a. With respect to the Z-axis direction, the light source 38a and the light receiving element 38b are arranged at the same position (height). The laser recognition device 38 detects the state of the electronic component 80 by irradiating the electronic component 80 held by the nozzle 32 with laser light.

次に、ノズル駆動部34について説明する。図4は、ノズル駆動部34の一例を示す図である。ノズル駆動部34は、ノズル32をZ軸方向に移動可能なアクチュエータ(Z軸モータ)341と、ノズル32をθZ方向に移動可能なアクチュエータ(θZモータ)342とを含む。   Next, the nozzle drive unit 34 will be described. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the nozzle driving unit 34. The nozzle drive unit 34 includes an actuator (Z-axis motor) 341 that can move the nozzle 32 in the Z-axis direction and an actuator (θZ motor) 342 that can move the nozzle 32 in the θZ direction.

図4に示すように、ヘッド15は、ベースフレーム31と、ベースフレーム31に設けられたガイド部101と、ガイド部101にガイドされてZ軸方向に移動可能な可動部材102と、ベースフレーム31に固定され、可動部材102をZ軸方向に移動するアクチュエータ(Z軸モータ)341とを備えている。Z軸モータ341には、カップリング110を介してボールねじ111が接続される。   As shown in FIG. 4, the head 15 includes a base frame 31, a guide portion 101 provided on the base frame 31, a movable member 102 that is guided by the guide portion 101 and can move in the Z-axis direction, and the base frame 31. And an actuator (Z-axis motor) 341 that moves the movable member 102 in the Z-axis direction. A ball screw 111 is connected to the Z-axis motor 341 via a coupling 110.

また、ヘッド15は、アクチュエータ(θZモータ)342と、θZモータ342に接続されたプーリ108と、スプライン軸受107と、プーリ108及びスプライン軸受107に支持されるタイミングベルト109と、プーリ108、タイミングベルト109、及びスプライン軸受107を介してθZモータ342と接続される垂直回転駆動部軸受105とを備えている。スプライン軸受107は、垂直回転駆動部軸受105の内部に配置される。垂直回転駆動部軸受105は、シャフト32aと接続される。垂直回転駆動部軸受105の外周部に、回転ベアリング106が配置される。回転ベアリング106の外周部は、ベースフレーム100に固定される。可動部材102には、シャフト32aを回転可能に支持する下側回転ベアリング141及び上側回転ベアリング142が設けられる。垂直回転駆動部軸受105により、シャフト32aは、Z軸方向へ移動可能であり、θZ方向へ移動(回転)可能である。   The head 15 includes an actuator (θZ motor) 342, a pulley 108 connected to the θZ motor 342, a spline bearing 107, a timing belt 109 supported by the pulley 108 and the spline bearing 107, a pulley 108, and a timing belt. 109 and a vertical rotation drive unit bearing 105 connected to the θZ motor 342 through a spline bearing 107. The spline bearing 107 is disposed inside the vertical rotation drive unit bearing 105. The vertical rotation drive unit bearing 105 is connected to the shaft 32a. A rotation bearing 106 is disposed on the outer periphery of the vertical rotation drive unit bearing 105. An outer peripheral portion of the rotary bearing 106 is fixed to the base frame 100. The movable member 102 is provided with a lower rotary bearing 141 and an upper rotary bearing 142 that rotatably support the shaft 32a. The shaft 32a can be moved in the Z-axis direction and can be moved (rotated) in the θZ direction by the vertical rotation drive unit bearing 105.

可動部材102の一部に、ボールねじ111に噛み合うナット部118が固定されている。Z軸モータ341の作動によりボールねじ111が回転すると、ナット部118がZ軸方向に移動する。ナット部118がZ軸方向に移動することにより、そのナット部118が固定されている可動部材102もZ軸方向に移動する。これにより、シャフト32aを含むノズル32がZ軸方向に移動される。   A nut portion 118 that meshes with the ball screw 111 is fixed to a part of the movable member 102. When the ball screw 111 is rotated by the operation of the Z-axis motor 341, the nut portion 118 moves in the Z-axis direction. When the nut portion 118 moves in the Z-axis direction, the movable member 102 to which the nut portion 118 is fixed also moves in the Z-axis direction. Thereby, the nozzle 32 including the shaft 32a is moved in the Z-axis direction.

可動部材102は、シャフト32aとナット部118との間に、変形部112を有する。変形部112は、可動部材102に設けられた円形の穴を含む。変形部112に、ひずみゲージ113が配置される。なお、ひずみゲージ113に代えて、ロードセルが変形部112に配置されてもよい。   The movable member 102 has a deformed portion 112 between the shaft 32a and the nut portion 118. The deformation part 112 includes a circular hole provided in the movable member 102. A strain gauge 113 is disposed on the deforming portion 112. In place of the strain gauge 113, a load cell may be disposed in the deforming portion 112.

例えば、ノズル32に保持された電子部品80を基板8に実装する場合において、電子部品80(リード84)の少なくとも一部が基板8に接触し、ノズル32の移動(下降)が妨げられると、アクチュエータ341の発生トルクが増加するとともに、ひずみゲージ(ロードセル)113の検出値が増大する。このように、本実施形態において、ヘッド15は、ノズル32に保持された電子部品80の少なくとも一部が基板8に接触したか否かを検出可能である。以下の説明において、ノズル32に保持された電子部品80の少なくとも一部が基板8に接触したか否かを検出可能なひずみゲージ(ロードセル)113及びアクチュエータ341の一方又は両方を適宜、検出装置100と称する。検出装置100は、ノズル32に保持された電子部品80(リード84)の少なくとも一部が基板8に接触したか否かを検出可能である。なお、検出装置100についての技術の一例が、例えば特開2012−174822号などに開示されている。   For example, when the electronic component 80 held by the nozzle 32 is mounted on the substrate 8, if at least a part of the electronic component 80 (lead 84) contacts the substrate 8 and movement (lowering) of the nozzle 32 is prevented, As the torque generated by the actuator 341 increases, the detection value of the strain gauge (load cell) 113 increases. Thus, in this embodiment, the head 15 can detect whether or not at least a part of the electronic component 80 held by the nozzle 32 has contacted the substrate 8. In the following description, one or both of the strain gauge (load cell) 113 and the actuator 341 capable of detecting whether or not at least a part of the electronic component 80 held by the nozzle 32 is in contact with the substrate 8 is appropriately detected by the detection device 100. Called. The detection device 100 can detect whether or not at least a part of the electronic component 80 (lead 84) held by the nozzle 32 has contacted the substrate 8. An example of the technology regarding the detection apparatus 100 is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-174822.

ノズル駆動部34は、ノズル32をZ軸方向に移動可能なアクチュエータ341と、ノズル32をθZ方向に移動可能なアクチュエータ342とを含む。ノズル駆動部34の作動により、ノズル32は、Z軸方向及びθZ方向に移動される。ノズル32は、ノズル駆動部34を介して、ベースフレーム31に支持されている。ベースフレーム31は、ヘッド移動機構16の作動により、X軸方向及びY軸方向に移動される。ヘッド移動機構16の作動により、ベースフレーム31に支持されているノズル32は、X軸方向及びY軸方向に移動可能である。すなわち、本実施形態において、ノズル32は、ヘッド移動機構16の作動により、X軸方向及びY軸方向に移動可能であり、ノズル駆動部34の作動により、Z軸方向及びθZ方向に移動可能である。本実施形態において、駆動装置26は、ノズル32を、少なくともX軸、Y軸、Z軸、及びθZの4つの方向に移動可能である。なお、駆動装置26が、ノズル32を、X軸、Y軸、Z軸、θX、θY、及びθZの6つの方向に移動可能でもよい。   The nozzle drive unit 34 includes an actuator 341 that can move the nozzle 32 in the Z-axis direction and an actuator 342 that can move the nozzle 32 in the θZ direction. The nozzle 32 is moved in the Z-axis direction and the θZ direction by the operation of the nozzle drive unit 34. The nozzle 32 is supported by the base frame 31 via the nozzle driving unit 34. The base frame 31 is moved in the X-axis direction and the Y-axis direction by the operation of the head moving mechanism 16. The nozzle 32 supported by the base frame 31 can move in the X-axis direction and the Y-axis direction by the operation of the head moving mechanism 16. That is, in the present embodiment, the nozzle 32 can be moved in the X-axis direction and the Y-axis direction by the operation of the head moving mechanism 16, and can be moved in the Z-axis direction and the θZ direction by the operation of the nozzle driving unit 34. is there. In the present embodiment, the driving device 26 can move the nozzle 32 in at least four directions of the X axis, the Y axis, the Z axis, and θZ. Note that the driving device 26 may be capable of moving the nozzle 32 in six directions of X axis, Y axis, Z axis, θX, θY, and θZ.

次に、把持ノズル322について説明する。上述のように、本実施形態において、ノズル32は、吸引ノズル321及び把持ノズル322を含む。なお、把持ノズル322を、グリッパノズル322と称してもよい。例えば、吸引ノズル321が電子部品80を保持することが困難である場合、把持ノズル322が用いられる。   Next, the gripping nozzle 322 will be described. As described above, in the present embodiment, the nozzle 32 includes the suction nozzle 321 and the gripping nozzle 322. Note that the gripping nozzle 322 may be referred to as a gripper nozzle 322. For example, when it is difficult for the suction nozzle 321 to hold the electronic component 80, the gripping nozzle 322 is used.

図5は、把持ノズル322の一例を示す説明図である。図6は、把持ノズル322の保持動作を説明するための説明図である。把持ノズル322は、固定アーム692と、可動アーム694と、可動アーム694を移動可能な駆動部696とを有する。可動アーム694は、把持ノズル322の本体に支持される。可動アーム694は、支点695を中心に回転可能である。支点695は、例えば可動アーム694と把持ノズル322の本体とを回転可能に接続するヒンジ機構を含む。可動アーム694は、支点695を軸(回転軸)として、固定アーム692と対向する部分が固定アーム692に近づく方向及び遠ざかる方向の一方から他方へ移動するように、回転可能である。駆動部696は、可動アーム694のうち固定アーム692と対向する部分が固定アーム692に近づく方向及び遠ざかる方向の一方から他方へ移動するように、可動アーム694を移動可能である。駆動部696は、吸引ノズル321を駆動する駆動源(空気圧)により作動する。把持ノズル322の駆動部696に対して空気の吸引又は吸引の解除が行われることによって、固定アーム692に対して可動アーム694が移動する。可動アーム694は、駆動部696が移動することで、固定アーム692と対向する部分が固定アーム692に近づく方向から遠ざかる方向に移動する。   FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an example of the gripping nozzle 322. FIG. 6 is an explanatory diagram for explaining the holding operation of the gripping nozzle 322. The gripping nozzle 322 has a fixed arm 692, a movable arm 694, and a drive unit 696 that can move the movable arm 694. The movable arm 694 is supported by the main body of the gripping nozzle 322. The movable arm 694 can rotate around a fulcrum 695. The fulcrum 695 includes, for example, a hinge mechanism that rotatably connects the movable arm 694 and the main body of the gripping nozzle 322. The movable arm 694 is rotatable about the fulcrum 695 as an axis (rotation axis) so that the portion facing the fixed arm 692 moves from one of the directions approaching and moving away from the fixed arm 692 to the other. The drive unit 696 can move the movable arm 694 so that a portion of the movable arm 694 that faces the fixed arm 692 moves from one of the directions approaching and moving away from the fixed arm 692 to the other. The drive unit 696 is operated by a drive source (air pressure) that drives the suction nozzle 321. The movable arm 694 moves relative to the fixed arm 692 by suctioning air or releasing suction from the drive unit 696 of the gripping nozzle 322. As the driving unit 696 moves, the movable arm 694 moves in a direction away from a direction in which the portion facing the fixed arm 692 approaches the fixed arm 692.

把持ノズル322は、電子部品80を解放可能に保持する。図6に示すように、把持ノズル322は、固定アーム692と可動アーム694との間に電子部品80の少なくとも一部が存在する状態で、固定アーム692と可動アーム694との距離を縮めることによって、電子部品80を保持(把持)することができる。把持ノズル322は、電子部品80を上方から保持(把持)する。   The gripping nozzle 322 holds the electronic component 80 releasably. As shown in FIG. 6, the gripping nozzle 322 reduces the distance between the fixed arm 692 and the movable arm 694 while at least a part of the electronic component 80 exists between the fixed arm 692 and the movable arm 694. The electronic component 80 can be held (gripped). The gripping nozzle 322 holds (holds) the electronic component 80 from above.

ヘッド15に対して、吸引ノズル321及び把持ノズル322の一方から他方に交換可能である。電子部品実装装置10は、保持する電子部品80の種類に応じて、その電子部品80を保持するノズル32の種類を選択することで、電子部品80を適切に保持することができる。具体的には、保持する電子部品80に応じて、吸引ノズル321を用いるか把持ノズル322を用いるかを選択し、さらにそれぞれの種類のノズル中でもどのノズルを用いるかを切り換えることで、1台の電子部品実装装置10でより多くの種類の電子部品80を実装することができる。   The head 15 can be exchanged from one of the suction nozzle 321 and the gripping nozzle 322 to the other. The electronic component mounting apparatus 10 can appropriately hold the electronic component 80 by selecting the type of the nozzle 32 that holds the electronic component 80 according to the type of the electronic component 80 to be held. Specifically, depending on the electronic component 80 to be held, whether to use the suction nozzle 321 or the gripping nozzle 322 is selected, and furthermore, by switching which nozzle among the types of nozzles is used, More types of electronic components 80 can be mounted with the electronic component mounting apparatus 10.

次に、本実施形態に係る電子部品80について説明する。図7は、本実施形態に係る電子部品80の一例を示す正面図である。図8は、本実施形態に係る電子部品80の一例を示す側面図である。図9は、本実施形態に係る電子部品80の一例を示す平面図である。本実施形態において、電子部品80は、挿入型電子部品(リード型電子部品、ラジアルリード型電子部品)である。電子部品80は、本体部82と、本体部82に接続されるリード84とを有する。リード84を、ピン84と称してもよい。   Next, the electronic component 80 according to the present embodiment will be described. FIG. 7 is a front view showing an example of the electronic component 80 according to the present embodiment. FIG. 8 is a side view showing an example of the electronic component 80 according to the present embodiment. FIG. 9 is a plan view showing an example of the electronic component 80 according to the present embodiment. In the present embodiment, the electronic component 80 is an insertion type electronic component (lead type electronic component, radial lead type electronic component). The electronic component 80 has a main body portion 82 and leads 84 connected to the main body portion 82. The lead 84 may be referred to as a pin 84.

本体部82は、上面82Aと、上面82Aの反対方向を向く下面82Bと、上面82Aと下面82Bとを結ぶ側面82Cとを有する。リード84は、下面82Bから突出するように配置される。リード84は、本体部82(下面82B)と結ばれる基端部84Aと、基端部84Aとは反対側の端部である先端部84Bとを有する。リード84の一部は、曲げられている。すなわち、リード84は、屈曲部84Cを有する。屈曲部84Cは、先端部84Bと基端部84Aとの間に設けられる。先端部84Bと屈曲部84Cと基端部84Aとは同一平面内(図8に示す例ではXZ平面内)に配置される。本実施形態において、X軸方向に関する先端部84Bの位置と基端部84Aの位置とはほぼ等しい。屈曲部84Cは、先端部84Bと基端部84Aとの間において、+X方向に突出するように設けられる。電子部品80は、リード84を複数有する。リード84は、図中、Y軸方向に複数配置される。本実施形態において、電子部品80は、4本のリード84を有する。複数(4本)のリードのそれぞれが、基端部84A、先端部84B、及び屈曲部84Cを有する。   The main body 82 has an upper surface 82A, a lower surface 82B facing the opposite direction of the upper surface 82A, and a side surface 82C connecting the upper surface 82A and the lower surface 82B. The lead 84 is disposed so as to protrude from the lower surface 82B. The lead 84 has a base end portion 84A connected to the main body portion 82 (the lower surface 82B) and a tip end portion 84B that is an end portion on the opposite side to the base end portion 84A. A part of the lead 84 is bent. That is, the lead 84 has a bent portion 84C. The bent portion 84C is provided between the distal end portion 84B and the proximal end portion 84A. The distal end portion 84B, the bent portion 84C, and the proximal end portion 84A are arranged in the same plane (in the XZ plane in the example shown in FIG. 8). In the present embodiment, the position of the distal end portion 84B and the position of the proximal end portion 84A in the X axis direction are substantially equal. The bent portion 84C is provided so as to protrude in the + X direction between the distal end portion 84B and the proximal end portion 84A. The electronic component 80 has a plurality of leads 84. A plurality of leads 84 are arranged in the Y-axis direction in the drawing. In the present embodiment, the electronic component 80 has four leads 84. Each of the plurality of (four) leads has a base end portion 84A, a tip end portion 84B, and a bent portion 84C.

本実施形態において、吸引ノズル321は、電子部品80の本体部82を保持(吸着)する。吸引ノズル321は、本体部82の上面82Aを吸着して保持する。把持ノズル322は、電子部品80の本体部82を保持(把持)する。把持ノズル322は、本体部82の側面82Cを挟んで保持する。   In the present embodiment, the suction nozzle 321 holds (sucks) the main body portion 82 of the electronic component 80. The suction nozzle 321 sucks and holds the upper surface 82A of the main body portion 82. The gripping nozzle 322 holds (holds) the main body 82 of the electronic component 80. The gripping nozzle 322 holds the side surface 82 </ b> C of the main body portion 82.

次に、本実施形態に係る基板8について説明する。図10は、本実施形態に係る基板8の一部を示す平面図である。図11は、本実施形態に係る基板8の一部を示す断面図である。基板8は、電子部品80が実装(搭載)される部材である。基板8は、板状の部材である。基板8は、表面(上面)8Aと、表面8Aの反対方向を向く裏面(下面)8Bと、を有する。表面8Aと裏面8Bとは実質的に平行である。   Next, the substrate 8 according to the present embodiment will be described. FIG. 10 is a plan view showing a part of the substrate 8 according to this embodiment. FIG. 11 is a cross-sectional view showing a part of the substrate 8 according to this embodiment. The substrate 8 is a member on which the electronic component 80 is mounted (mounted). The substrate 8 is a plate-like member. The substrate 8 has a front surface (upper surface) 8A and a back surface (lower surface) 8B facing the opposite direction of the front surface 8A. The front surface 8A and the back surface 8B are substantially parallel.

基板8は、電子部品80のリード84が挿入される穴(挿入穴、基板孔)81を有する。基板8の穴81は、スルーホールである。穴81は、表面8Aと裏面8Bとを結ぶように形成される。表面8A側の穴81の端部(開口端)は、表面8Aと結ばれる。以下の説明において、表面8A側の穴81の開口端を適宜、開口83と称する。開口83は、基板8の表面8Aに設けられる。開口83の周囲に基板8の表面8Aが配置される。   The substrate 8 has holes (insertion holes, substrate holes) 81 into which the leads 84 of the electronic component 80 are inserted. The hole 81 of the substrate 8 is a through hole. The hole 81 is formed so as to connect the front surface 8A and the back surface 8B. The end (opening end) of the hole 81 on the surface 8A side is connected to the surface 8A. In the following description, the opening end of the hole 81 on the surface 8A side is appropriately referred to as an opening 83. The opening 83 is provided on the surface 8A of the substrate 8. A surface 8 </ b> A of the substrate 8 is disposed around the opening 83.

電子部品80は、基板8の穴81にリード84が挿入されることによって基板8に実装される。リード84は、開口83を介して穴81に挿入される。リード84が穴81に挿入され、電子部品80が基板8に実装された状態において、本体部82の下面82Bと基板8の表面8Aとが対向する。本実施形態において、基板8は、複数(4本)のリード84のそれぞれが挿入されるように、複数(4つ)の開口83(穴81)を有する。図10に示すように、基板8の表面8Aにおいて、開口83は、Y軸方向に複数(4つ)配置される。   The electronic component 80 is mounted on the substrate 8 by inserting the leads 84 into the holes 81 of the substrate 8. The lead 84 is inserted into the hole 81 through the opening 83. In a state where the lead 84 is inserted into the hole 81 and the electronic component 80 is mounted on the substrate 8, the lower surface 82 </ b> B of the main body 82 and the surface 8 </ b> A of the substrate 8 face each other. In the present embodiment, the substrate 8 has a plurality (four) of openings 83 (holes 81) so that each of the plurality (four) of leads 84 is inserted. As shown in FIG. 10, on the surface 8A of the substrate 8, a plurality (four) of openings 83 are arranged in the Y-axis direction.

本実施形態において、リード84は、屈曲部84Cを有する。屈曲部84Cを有するリード84が基板8の穴81に挿入されることによって、その挿入されたリード84が基板8の穴81から抜けることが抑制される。   In the present embodiment, the lead 84 has a bent portion 84C. By inserting the lead 84 having the bent portion 84 </ b> C into the hole 81 of the substrate 8, the inserted lead 84 is suppressed from coming out of the hole 81 of the substrate 8.

基板8の表面8Aには配線パターンが設けられる。配線パターンの表面に、リフローによってはんだが設けられる、はんだは、配線パターンと電子部品80とを接合する接合部材として機能する。なお、基板8は、電子部品80が実装可能(搭載可能)な部材であればよく、その構成は特に限定されない。   A wiring pattern is provided on the surface 8A of the substrate 8. Solder is provided on the surface of the wiring pattern by reflow, and the solder functions as a joining member that joins the wiring pattern and the electronic component 80. In addition, the board | substrate 8 should just be a member in which the electronic component 80 can be mounted (mountable), and the structure is not specifically limited.

次に、図12から図18を参照して、レーザ認識装置38による電子部品80の形状の認識動作について説明する。図12は、電子部品80の形状の認識動作を説明するための説明図である。図13は、電子部品80の形状の認識動作を説明するための説明図である。図14は、電子部品80の形状の認識動作を説明するための説明図である。図15は、電子部品80の形状の認識動作を説明するための説明図である。図16は、電子部品80の形状の認識動作を説明するための説明図である。図17は、電子部品80の形状の認識動作を説明するための説明図である。図18は、認識動作の検出結果の一例を示す模式図である。   Next, the shape recognition operation of the electronic component 80 by the laser recognition device 38 will be described with reference to FIGS. FIG. 12 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of the electronic component 80. FIG. 13 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component 80. FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component 80. FIG. 15 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component 80. FIG. 16 is an explanatory diagram for explaining the shape recognition operation of the electronic component 80. FIG. 17 is an explanatory diagram for explaining an operation of recognizing the shape of the electronic component 80. FIG. 18 is a schematic diagram illustrating an example of a recognition operation detection result.

電子部品実装装置10は、レーザ認識装置38を用いて電子部品80の形状を検出する。図12及び図13に示すように、レーザ認識装置38は、光源38aと受光素子38bとの間に電子部品80の少なくとも一部が配置されている状態で、光源38aからレーザ光(検出光)を射出して、受光素子38bに到達したレーザ光を受光素子38bで検出して、光源38aと受光素子38bとの間に配置されている電子部品80の形状を検出する。   The electronic component mounting apparatus 10 detects the shape of the electronic component 80 using the laser recognition device 38. As shown in FIGS. 12 and 13, the laser recognizing device 38 has a laser beam (detection light) from the light source 38a in a state where at least a part of the electronic component 80 is disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b. The laser beam reaching the light receiving element 38b is detected by the light receiving element 38b, and the shape of the electronic component 80 disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b is detected.

レーザ認識装置38の検出領域MAに配置された電子部品80の少なくとも一部の形状が、レーザ認識装置38によって検出される。レーザ認識装置38の検出領域MAは、レーザ認識装置38が形状を検出可能な領域であり、光源38aから射出されるレーザ光(検出光)の照射領域を含む。本実施形態において、光源38aから射出されたレーザ光(検出光)は、Y軸と平行な方向に進行する。また、光源38aから、複数のレーザ光が射出される。それら複数のレーザ光は、X軸方向に配置される。図14に示すように、本実施形態において、検出領域MAは、X軸方向に長い。また、検出領域MAは、X軸とほぼ平行である。制御装置20は、電子部品80の検出対象部位がレーザ認識装置38の検出領域MAに配置されるように、駆動装置26を制御して、本体部82を保持するノズル32の位置を調整する。検出対象部位は、レーザ認識装置38によって形状が検出される部位である。図13及び図14に示す例では、検出対象部位として本体部82の一部が検出領域MAに配置されている。   The shape of at least a part of the electronic component 80 arranged in the detection area MA of the laser recognition device 38 is detected by the laser recognition device 38. The detection region MA of the laser recognition device 38 is a region where the laser recognition device 38 can detect the shape, and includes an irradiation region of laser light (detection light) emitted from the light source 38a. In the present embodiment, laser light (detection light) emitted from the light source 38a travels in a direction parallel to the Y axis. Further, a plurality of laser beams are emitted from the light source 38a. The plurality of laser beams are arranged in the X-axis direction. As shown in FIG. 14, in this embodiment, the detection area MA is long in the X-axis direction. Further, the detection area MA is substantially parallel to the X axis. The control device 20 adjusts the position of the nozzle 32 that holds the main body 82 by controlling the drive device 26 so that the detection target portion of the electronic component 80 is arranged in the detection region MA of the laser recognition device 38. The detection target part is a part whose shape is detected by the laser recognition device 38. In the example shown in FIGS. 13 and 14, a part of the main body 82 is arranged in the detection area MA as a detection target part.

また、レーザ認識装置38は、ノズル32で保持した電子部品80の一方向の形状を検出した後、駆動装置26(ノズル駆動部34)によりノズル32を移動又は回転させることによって電子部品80を移動又は回動させて、電子部品80の形状の検出を行う。このように、電子部品80が回転することによって、図15に示すように、電子部品80に対してレーザ光が照射される方向及び電子部品80に対する受光素子38bの角度が変化する。   The laser recognition device 38 moves the electronic component 80 by detecting the shape of the electronic component 80 held by the nozzle 32 in one direction and then moving or rotating the nozzle 32 by the driving device 26 (nozzle driving unit 34). Alternatively, the shape of the electronic component 80 is detected by turning. As described above, the rotation of the electronic component 80 changes the direction in which the electronic component 80 is irradiated with the laser light and the angle of the light receiving element 38b with respect to the electronic component 80, as shown in FIG.

図16に示すように、制御装置20は、Z軸方向に関する電子部品80の位置(高さ)を調整し、光源38aと受光素子38bとの間に電子部品80が配置された状態で、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する(ステップS11)。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、受光素子38bに受光される。これにより、電子部品80の少なくとも一部の形状が、レーザ認識装置38によって検出される。すなわち、電子部品80で遮られたレーザ光は、受光素子38bに到達しない又は強度が低下する。これにより、レーザ認識装置38は、受光素子38bで受光したレーザ光の分布に基づいて、測定した角度の断面における電子部品80の形状を検出することができる。本実施形態において、レーザ認識装置38は、受光素子38bで受光したレーザ光の端部を検出し、その向きにおける電子部品80の最外形を検出する。その後、制御装置20は、電子部品80の回転(θ方向の回転)を開始する(ステップS12)。   As illustrated in FIG. 16, the control device 20 adjusts the position (height) of the electronic component 80 in the Z-axis direction, and the light source 38 is disposed between the light source 38 a and the light receiving element 38 b. Laser light (detection light) is emitted from 38a (step S11). At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is received by the light receiving element 38b. Thereby, the shape of at least a part of the electronic component 80 is detected by the laser recognition device 38. That is, the laser light blocked by the electronic component 80 does not reach the light receiving element 38b or its intensity is reduced. Thereby, the laser recognition apparatus 38 can detect the shape of the electronic component 80 in the cross section of the measured angle based on the distribution of the laser light received by the light receiving element 38b. In the present embodiment, the laser recognition device 38 detects the end of the laser beam received by the light receiving element 38b and detects the outermost shape of the electronic component 80 in that direction. Thereafter, the control device 20 starts rotating the electronic component 80 (rotation in the θ direction) (step S12).

電子部品80の回転の回転速度が一定速度に到達した後、制御装置20は、レーザ認識装置38で電子部品80の所定向きの形状の検出を開始する(ステップS13)。レーザ認識装置38は、光源38aと受光素子38bとの間に電子部品80が配置された状態で、光源38aからレーザ光を射出して、その光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部を受光素子38bで受光する。電子部品実装装置10は、電子部品80を回転させつつ、ステップS13の方法による電子部品80の形状の検出を繰り返すことで、電子部品80の一周分の形状を検出する(ステップS14)。これにより、電子部品80の全方向の形状が検出される。このように、レーザ認識装置38は、一周分の方向からの形状を検出し、図17に示すように各方向形状の検出結果を重ね合わせることで、電子部品80の三次元形状(最外部分の形状)を正確に検出することができる。例えば、検出対象部位が本体部82の少なくとも一部である場合、レーザ認識装置38の検出領域MAに本体部82(検出対象部位)が配置された状態で、光源38aからレーザ光(検出光)を射出して、その光源38aからのレーザ光の少なくとも一部を受光素子38bで検出することによって、図18に示すように、レーザ認識装置38は、本体部82の形状を検出することができる。   After the rotational speed of the rotation of the electronic component 80 reaches a constant speed, the control device 20 starts detecting the shape of the electronic component 80 in the predetermined direction by the laser recognition device 38 (step S13). The laser recognition device 38 emits laser light from the light source 38a in a state where the electronic component 80 is disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b, and at least part of the laser light emitted from the light source 38a. Light is received by the light receiving element 38b. The electronic component mounting apparatus 10 detects the shape of one round of the electronic component 80 by repeating the detection of the shape of the electronic component 80 by the method of step S13 while rotating the electronic component 80 (step S14). Thereby, the shape of the electronic component 80 in all directions is detected. As described above, the laser recognition device 38 detects the shape from the direction of one round and superimposes the detection results of each direction as shown in FIG. Can be accurately detected. For example, when the detection target part is at least a part of the main body part 82, the laser light (detection light) is emitted from the light source 38a in a state where the main body part 82 (detection target part) is arranged in the detection area MA of the laser recognition device 38. , And at least part of the laser light from the light source 38a is detected by the light receiving element 38b, so that the laser recognition device 38 can detect the shape of the main body 82 as shown in FIG. .

次に、図19、図20、及び図21を参照して、電子部品80の形状を検出する処理の一例について説明する。本実施形態においては、レーザ認識装置38を使って、少なくとも電子部品80のリード84の形状の検出が行われる。図19は、リード84の形状を検出する手順の一例を示すフローチャートである。図20は、電子部品80とレーザ認識装置38の検出領域MAとの関係を説明するための説明図である。図21は、リード84の形状を検出するときのレーザ認識装置38の光源38aと受光素子38bとリード84との関係を示す模式図である。   Next, an example of processing for detecting the shape of the electronic component 80 will be described with reference to FIGS. 19, 20, and 21. In the present embodiment, at least the shape of the lead 84 of the electronic component 80 is detected using the laser recognition device 38. FIG. 19 is a flowchart illustrating an example of a procedure for detecting the shape of the lead 84. FIG. 20 is an explanatory diagram for explaining the relationship between the electronic component 80 and the detection area MA of the laser recognition device 38. FIG. 21 is a schematic diagram showing the relationship among the light source 38 a, the light receiving element 38 b and the lead 84 of the laser recognition device 38 when detecting the shape of the lead 84.

制御装置20は、電子部品80の検出対象部位を決定する(ステップS22)。検出対象部位は、レーザ認識装置38によって形状が検出される部位である。制御装置20は、電子部品80において形状が検出される検出対象部位を決定する。電子部品80は、本体部82とリード84とを有する。本実施形態においては、少なくともリード84が検出対象部位として決定される。   The control device 20 determines a detection target part of the electronic component 80 (step S22). The detection target part is a part whose shape is detected by the laser recognition device 38. The control device 20 determines a detection target part whose shape is detected in the electronic component 80. The electronic component 80 has a main body portion 82 and leads 84. In the present embodiment, at least the lead 84 is determined as a detection target site.

Z軸方向に関して、電子部品80(リード84)の形状が異なる。例えば、基端部84Aにおけるリード84の形状と、先端部84Bにおけるリード84の形状と、屈曲部84Cにおけるリード84の形状とは、それぞれ異なる。本実施形態においては、Z軸方向に関して異なる複数のリード84の部位のそれぞれが検出対象部位として決定される。本実施形態においては、少なくとも、リード84の基端部84A、先端部84B、及び屈曲部84Cが検出対象部位として決定される。制御装置20は、電子部品80を保持しているノズル32のZ軸方向の位置(高さ)を調整して、レーザ認識装置38の検出領域MAにリード84の複数の検出対象部位を順次配置し、それら複数の検出対象部位それぞれの形状を、レーザ認識装置38を用いて検出する。   The shape of the electronic component 80 (lead 84) is different in the Z-axis direction. For example, the shape of the lead 84 at the proximal end portion 84A, the shape of the lead 84 at the distal end portion 84B, and the shape of the lead 84 at the bent portion 84C are different. In the present embodiment, each of the plurality of lead 84 portions different in the Z-axis direction is determined as a detection target portion. In the present embodiment, at least the proximal end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C of the lead 84 are determined as detection target portions. The control device 20 adjusts the position (height) of the nozzle 32 holding the electronic component 80 in the Z-axis direction, and sequentially arranges a plurality of detection target portions of the lead 84 in the detection region MA of the laser recognition device 38. Then, the shape of each of the plurality of detection target parts is detected using the laser recognition device 38.

例えば、図20に示すように、基端部84Aにおけるリード84の形状を検出する場合、レーザ認識装置38の検出領域MAに基端部84Aが配置された状態で、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する。そして、その光源38aからのレーザ光の少なくとも一部を受光素子38bで検出することによって、レーザ認識装置38は、基端部84Aにおけるリード84の形状を検出することができる。また、先端部84Bにおけるリード84の形状を検出する場合、レーザ認識装置38の検出領域MAに先端部84Bが配置された状態で、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する。そして、その光源38aからのレーザ光の少なくとも一部を受光素子38bで検出することによって、レーザ認識装置38は、先端部84Bにおけるリード84の形状を検出することができる。また、屈曲部84Cにおけるリード84の形状を検出する場合、レーザ認識装置38の検出領域MAに屈曲部84Cが配置された状態で、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する。そして、その光源38aからのレーザ光の少なくとも一部を受光素子38bで検出することによって、レーザ認識装置38は、屈曲部84Cにおけるリード84の形状を検出することができる。   For example, as shown in FIG. 20, when detecting the shape of the lead 84 at the base end portion 84A, the laser light (detection) is detected from the light source 38a in a state where the base end portion 84A is arranged in the detection region MA of the laser recognition device 38. Light). Then, by detecting at least a part of the laser light from the light source 38a by the light receiving element 38b, the laser recognition device 38 can detect the shape of the lead 84 at the base end portion 84A. Further, when detecting the shape of the lead 84 at the distal end portion 84B, laser light (detection light) is emitted from the light source 38a in a state where the distal end portion 84B is disposed in the detection region MA of the laser recognition device 38. Then, by detecting at least a part of the laser light from the light source 38a by the light receiving element 38b, the laser recognizing device 38 can detect the shape of the lead 84 at the tip end portion 84B. Further, when detecting the shape of the lead 84 in the bent portion 84C, laser light (detection light) is emitted from the light source 38a in a state where the bent portion 84C is disposed in the detection area MA of the laser recognition device 38. The laser recognition device 38 can detect the shape of the lead 84 in the bent portion 84C by detecting at least a part of the laser light from the light source 38a with the light receiving element 38b.

制御装置20は、リード84の少なくとも一部がレーザ認識装置38の検出領域MAに配置されるように、駆動装置26を制御して、ノズル32に保持されている電子部品80のZ軸方向に関する位置を調整する。図21に示すように、光源38aと受光素子38bとがY軸方向に配置され、光源38aから射出されるレーザ光(検出光)がY軸と平行に進行する場合、光源38aと受光素子38bとの間において複数(4本)のリード84がY軸方向に配置されるように、レーザ認識装置38に対する電子部品80(リード84)の位置が定められる。図8などを参照して説明したように、本実施形態において、基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとは同一平面内(図8及び図21に示す例ではXZ平面内)に配置される。本実施形態において、X軸方向に関する基端部84Aの位置と先端部84Bの位置とはほぼ等しい。屈曲部84Cは、先端部84Bと基端部84Aとの間において、+Z方向に突出するように設けられる。複数(4本)のリード84は、基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとが配置されるXZ平面と直交するY軸と平行な方向に配置される。本実施形態においては、XZ平面内における基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとの位置関係が検出されるように、光源38aと受光素子38bとの間において、レーザ光(検出光)の進行方向(Y軸方向)と、基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとが配置される平面(XZ平面)とが直交するように、光源38aと受光素子38bとの間にリード84が配置される。   The control device 20 controls the drive device 26 so that at least a part of the lead 84 is disposed in the detection region MA of the laser recognition device 38, and relates to the Z-axis direction of the electronic component 80 held by the nozzle 32. Adjust the position. As shown in FIG. 21, when the light source 38a and the light receiving element 38b are arranged in the Y-axis direction, and the laser light (detection light) emitted from the light source 38a travels parallel to the Y axis, the light source 38a and the light receiving element 38b. The position of the electronic component 80 (lead 84) with respect to the laser recognition device 38 is determined such that a plurality (four) of leads 84 are arranged in the Y-axis direction. As described with reference to FIG. 8 and the like, in the present embodiment, the proximal end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C are arranged in the same plane (in the example shown in FIGS. 8 and 21, in the XZ plane). Is done. In the present embodiment, the position of the proximal end portion 84A and the position of the distal end portion 84B in the X-axis direction are substantially equal. The bent portion 84C is provided so as to protrude in the + Z direction between the distal end portion 84B and the proximal end portion 84A. The plural (four) leads 84 are arranged in a direction parallel to the Y axis perpendicular to the XZ plane on which the base end portion 84A, the tip end portion 84B, and the bent portion 84C are arranged. In the present embodiment, laser light (detection light) is provided between the light source 38a and the light receiving element 38b so that the positional relationship among the base end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C in the XZ plane is detected. Lead direction between the light source 38a and the light receiving element 38b so that the traveling direction (Y-axis direction) is perpendicular to the plane (XZ plane) on which the base end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C are arranged. 84 is arranged.

なお、図21に示すように、リード84の形状を検出する場合、4本のリード84のうち、光源38aに最も近いリード84にレーザ光(検出光)が照射される。また、例えば屈曲部84Cにおけるリード84の形状を検出する場合、その屈曲部84Cがレーザ認識装置38の検出領域MAに配置され、その屈曲部84Cに対してレーザ光(検出光)が照射される。また、図21は、駆動装置26を上下方向に順次移動した際の認識経過を表している(基端部84A84A、屈曲部84C、先端部84Bまで認識状態を重ねたものである)。   As shown in FIG. 21, when detecting the shape of the lead 84, the lead 84 closest to the light source 38a among the four leads 84 is irradiated with laser light (detection light). For example, when detecting the shape of the lead 84 in the bent portion 84C, the bent portion 84C is disposed in the detection region MA of the laser recognition device 38, and the bent portion 84C is irradiated with laser light (detection light). . FIG. 21 shows a recognition process when the drive device 26 is sequentially moved in the vertical direction (recognition states are overlapped to the base end portion 84A84A, the bent portion 84C, and the front end portion 84B).

レーザ認識装置38は、光源38aと受光素子38bとの間にリード84が配置された状態で、光源38aから検出領域MAにレーザ光を照射して、受光素子38bでレーザ光を受光する。リード84で遮られたレーザ光は、受光素子38bに到達しない又は強度が低下する。これにより、レーザ認識装置38は、受光素子38bで受光したレーザ光の分布に基づいて、XZ平面内におけるリード84の形状を検出することができる。   In the state where the lead 84 is disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b, the laser recognition device 38 irradiates the detection area MA with laser light from the light source 38a and receives the laser light with the light receiving element 38b. The laser light blocked by the lead 84 does not reach the light receiving element 38b, or its intensity is reduced. As a result, the laser recognition device 38 can detect the shape of the lead 84 in the XZ plane based on the distribution of the laser light received by the light receiving element 38b.

例えば、基端部84Aにおけるリード84の形状を検出する場合、制御装置20は、基端部84Aを検出対象部位に決定する。制御装置20は、レーザ認識装置38の検出領域MAに基端部84Bが配置されるように、本体部82を保持したノズル32の位置(Z軸方向に関する位置)を調整する。すなわち、制御装置20は、駆動装置26を制御して、ノズル32に保持されている電子部品80のZ軸方向に関する位置を調整して、リード84の基端部84A(検出対象部位)をレーザ認識装置38の検出領域MAに配置する(ステップS24)。   For example, when detecting the shape of the lead 84 at the base end portion 84A, the control device 20 determines the base end portion 84A as a detection target site. The control device 20 adjusts the position (position in the Z-axis direction) of the nozzle 32 holding the main body portion 82 so that the base end portion 84B is disposed in the detection region MA of the laser recognition device 38. In other words, the control device 20 controls the drive device 26 to adjust the position of the electronic component 80 held by the nozzle 32 in the Z-axis direction, and lasers the proximal end portion 84A (detection target portion) of the lead 84. It arrange | positions to the detection area MA of the recognition apparatus 38 (step S24).

Z軸方向に関する電子部品80の位置が調整され、基端部84A(検出対象部位)がレーザ認識装置38の検出領域MAに配置された状態で、制御装置20は、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する。すなわち、光源38aと受光素子38bとの間にリード84(基端部84A)が配置されている状態で、光源38aからレーザ光が射出される。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、検出領域MAに配置されている基端部84Aに照射される。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、受光素子38bに検出される。これにより、レーザ認識装置38によって、光源38aと受光素子38bとの間に配置されている基端部84Aにおけるリード84の形状が検出される(ステップS26)。   In a state where the position of the electronic component 80 in the Z-axis direction is adjusted and the base end portion 84A (detection target portion) is arranged in the detection region MA of the laser recognition device 38, the control device 20 outputs laser light (detection) from the light source 38a. Light). That is, laser light is emitted from the light source 38a in a state where the lead 84 (base end portion 84A) is disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b. At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is applied to the base end portion 84A disposed in the detection area MA. At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is detected by the light receiving element 38b. Thereby, the shape of the lead 84 at the base end portion 84A disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b is detected by the laser recognition device 38 (step S26).

制御装置20は、ステップS26で基端部84A(検出対象部位)におけるリード84の形状を検出した後、検出処理が終了したか否かを判断する(ステップS28)。すなわち、制御装置20は、ステップS22で決定した検出対象部位における形状の検出が終了したかを判断する。   After detecting the shape of the lead 84 at the base end portion 84A (detection target portion) in step S26, the control device 20 determines whether or not the detection process has ended (step S28). That is, the control device 20 determines whether or not the detection of the shape in the detection target part determined in step S22 is completed.

制御装置20は、ステップS28において検出が終了していないと判断し、先端部84Bにおけるリード84の形状を検出する処理を開始する。すなわち、制御装置20は、レーザ認識装置38の検出領域MAに先端部84Bが配置されるように、本体部82を保持したノズル32の位置(Z軸方向に関する位置)を調整する。制御装置20は、駆動装置26を制御して、ノズル32に保持されている電子部品80のZ軸方向に関する位置を調整して、リード84の先端部84B(検出対象部位)をレーザ認識装置38の検出領域MAに配置する(ステップS24)。   The control device 20 determines that the detection is not completed in step S28, and starts a process of detecting the shape of the lead 84 at the distal end portion 84B. That is, the control device 20 adjusts the position (position in the Z-axis direction) of the nozzle 32 holding the main body portion 82 so that the tip end portion 84B is disposed in the detection area MA of the laser recognition device 38. The control device 20 controls the drive device 26 to adjust the position of the electronic component 80 held by the nozzle 32 in the Z-axis direction, so that the tip end portion 84B (detection target portion) of the lead 84 is positioned in the laser recognition device 38. In the detection area MA (step S24).

Z軸方向に関する電子部品80の位置が調整され、先端部84B(検出対象部位)がレーザ認識装置38の検出領域MAに配置された状態で、制御装置20は、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する。すなわち、光源38aと受光素子38bとの間にリード84(先端部84B)が配置されている状態で、光源38aからレーザ光が射出される。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、検出領域MAに配置されている先端部84Bに照射される。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、受光素子38bに検出される。これにより、レーザ認識装置38によって、光源38aと受光素子38bとの間に配置されている先端部84Bにおけるリード84の形状が検出される(ステップS26)。   In a state where the position of the electronic component 80 in the Z-axis direction is adjusted and the distal end portion 84B (detection target site) is arranged in the detection region MA of the laser recognition device 38, the control device 20 outputs laser light (detection light) from the light source 38a. ). That is, laser light is emitted from the light source 38a in a state where the lead 84 (tip portion 84B) is disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b. At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is applied to the tip end portion 84B disposed in the detection area MA. At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is detected by the light receiving element 38b. Thereby, the shape of the lead 84 at the tip portion 84B disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b is detected by the laser recognition device 38 (step S26).

制御装置20は、ステップS26で先端部84B(検出対象部位)におけるリード84の形状を検出した後、検出処理が終了したか否かを判断する(ステップS28)。すなわち、制御装置20は、ステップS22で決定した検出対象部位における形状の検出が終了したかを判断する。   After detecting the shape of the lead 84 at the distal end portion 84B (detection target portion) in step S26, the control device 20 determines whether or not the detection process has ended (step S28). That is, the control device 20 determines whether or not the detection of the shape in the detection target part determined in step S22 is completed.

制御装置20は、ステップS28において検出が終了していないと判断し、屈曲部84Cにおけるリード84の形状を検出する処理を開始する。すなわち、制御装置20は、レーザ認識装置38の検出領域MAに屈曲部84Cが配置されるように、本体部82を保持したノズル32の位置(Z軸方向に関する位置)を調整する。制御装置20は、駆動装置26を制御して、ノズル32に保持されている電子部品80のZ軸方向に関する位置を調整して、リード84の屈曲部84C(検出対象部位)をレーザ認識装置38の検出領域MAに配置する(ステップS24)。   The control device 20 determines that the detection is not completed in step S28, and starts a process of detecting the shape of the lead 84 in the bent portion 84C. That is, the control device 20 adjusts the position (position in the Z-axis direction) of the nozzle 32 holding the main body portion 82 so that the bent portion 84C is disposed in the detection region MA of the laser recognition device 38. The control device 20 controls the driving device 26 to adjust the position of the electronic component 80 held by the nozzle 32 in the Z-axis direction, so that the bent portion 84C (detection target portion) of the lead 84 is detected by the laser recognition device 38. In the detection area MA (step S24).

Z軸方向に関する電子部品80の位置が調整され、屈曲部84C(検出対象部位)がレーザ認識装置38の検出領域MAに配置された状態で、制御装置20は、光源38aからレーザ光(検出光)を射出する。すなわち、光源38aと受光素子38bとの間にリード84(屈曲部84C)が配置されている状態で、光源38aからレーザ光が射出される。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、検出領域MAに配置されている屈曲部84Cに照射される。光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部は、受光素子38bに検出される。これにより、レーザ認識装置38によって、光源38aと受光素子38bとの間に配置されている屈曲部84Cにおけるリード84の形状が検出される(ステップS26)。   In a state where the position of the electronic component 80 in the Z-axis direction is adjusted and the bent portion 84C (detection target portion) is arranged in the detection region MA of the laser recognition device 38, the control device 20 emits laser light (detection light) from the light source 38a. ). That is, laser light is emitted from the light source 38a in a state where the lead 84 (bent portion 84C) is disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b. At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is applied to the bent portion 84C disposed in the detection area MA. At least a part of the laser light emitted from the light source 38a is detected by the light receiving element 38b. Accordingly, the shape of the lead 84 in the bent portion 84C disposed between the light source 38a and the light receiving element 38b is detected by the laser recognition device 38 (step S26).

制御装置20は、ステップS26で屈曲部84C(検出対象部位)におけるリード84の形状を検出した後、検出処理が終了したか否かを判断する(ステップS28)。すなわち、制御装置20は、ステップS22で決定した検出対象部位における形状の検出が終了したかを判断する。制御装置20は、検出終了ではない(No)と判定した場合、ステップS24に進み、ステップS24及びステップS26の処理を再び行い、検出が終了していない検出対象部位の形状を検出する。制御装置20は、このように電子部品80の位置の調整と形状の検出とを繰り返すことで、設定した検出対象部位の形状を検出する。   After detecting the shape of the lead 84 at the bent portion 84C (detection target site) in step S26, the control device 20 determines whether or not the detection process has been completed (step S28). That is, the control device 20 determines whether or not the detection of the shape in the detection target part determined in step S22 is completed. When it is determined that the detection is not finished (No), the control device 20 proceeds to step S24, performs the processing of step S24 and step S26 again, and detects the shape of the detection target part where the detection is not finished. The control device 20 detects the shape of the set detection target part by repeating the adjustment of the position of the electronic component 80 and the detection of the shape as described above.

なお、リード84の検出対象部位は、基端部84A、先端部84B、及び屈曲部84Cに限られない。先端部84Bと屈曲部84Cとの間のリード84の一部分が検出対象部位として設定されてもよいし、屈曲部84Cと基端部84Aとの間のリード84の一部分が検出対象部位として設定されてもよい。   Note that the detection target portion of the lead 84 is not limited to the proximal end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C. A part of the lead 84 between the distal end part 84B and the bent part 84C may be set as a detection target part, or a part of the lead 84 between the bent part 84C and the base end part 84A is set as a detection target part. May be.

Z軸方向に関する検出対象部位の間隔(ピッチ)は、目標とされる検出精度(形状検出精度)に基づいて定められてもよい。換言すれば、Z軸方向にリード84(電子部品80)を移動して、検出領域MAに複数の検出対象部位を順次配置することによってリード84の形状を検出する場合、検出領域MAに対するリード84の移動量(シフト量)が、目標とされる検出精度(形状検出精度)に基づいて定められてもよい。例えば、屈曲部84Cの近傍におけるリード84の形状を高精度に求めたい場合、図20に示すように、制御装置20は、検出対象部位Rのピッチptを小さくして、レーザ認識装置38による検出を実行する。なお、制御装置20は、例えば検出時間の短縮などを目的として、ピッチptを大きくして、レーザ認識装置38による検出を実行してもよい。制御装置20は、電子部品80を保持しているノズル32のZ軸方向の位置(高さ)を調整して、レーザ認識装置38の検出領域MAに配置される検出対象部位を変化させることによって、レーザ認識装置38を用いて、電子部品80の様々な位置(部位)の形状を検出することができる。   The interval (pitch) between the detection target portions in the Z-axis direction may be determined based on a target detection accuracy (shape detection accuracy). In other words, when detecting the shape of the lead 84 by moving the lead 84 (electronic component 80) in the Z-axis direction and sequentially arranging a plurality of detection target parts in the detection area MA, the lead 84 for the detection area MA is detected. May be determined based on a target detection accuracy (shape detection accuracy). For example, when it is desired to obtain the shape of the lead 84 in the vicinity of the bent portion 84C with high accuracy, as shown in FIG. 20, the control device 20 reduces the pitch pt of the detection target portion R and detects by the laser recognition device 38. Execute. Note that the control device 20 may execute detection by the laser recognition device 38 by increasing the pitch pt for the purpose of shortening the detection time, for example. The control device 20 adjusts the position (height) in the Z-axis direction of the nozzle 32 holding the electronic component 80, and changes the detection target portion arranged in the detection region MA of the laser recognition device 38. The shape of various positions (parts) of the electronic component 80 can be detected using the laser recognition device 38.

図22は、レーザ認識装置38を使って検出されたリード84の一例を示す図である。本実施形態においては、レーザ認識装置38の検出領域MAに、少なくともリード84の基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとのそれぞれが配置されるように、レーザ認識装置38の検出領域MAに対して、Z軸方向に関してリード84(本体部82を保持するノズル32)を移動しつつ、光源38aよりレーザ光(検出光)を射出して、その光源38aから射出されたレーザ光の少なくとも一部を受光素子38bで検出する。   FIG. 22 is a diagram illustrating an example of the lead 84 detected using the laser recognition device 38. In the present embodiment, the detection region MA of the laser recognition device 38 is arranged such that at least the base end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C of the lead 84 are disposed in the detection region MA of the laser recognition device 38. On the other hand, laser light (detection light) is emitted from the light source 38a while moving the lead 84 (the nozzle 32 holding the main body portion 82) in the Z-axis direction, and at least of the laser light emitted from the light source 38a. A part is detected by the light receiving element 38b.

図22に示すように、レーザ認識装置38を使ってリード84の形状が検出されることにより、レーザ認識装置38によって規定される座標系(XZ平面内における座標系)において、基端部84A、先端部84B、及び屈曲部84Cそれぞれの位置が規定される。この座標系において、基端部84Aの位置がa点として規定され、先端部84Bの位置がb点として規定され、屈曲部84Cの位置がc点として規定される。a点は、X軸方向に関して基端部84Aの中心の位置であり、b点は、X軸方向に関して先端部84Bの中心の位置であり、c点は、屈曲部84Cの最も+X側の先端の位置である。a点は、b点及びc点よりも+Z側に配置される。c点は、a点及びb点よりも+X側に配置される。c点は、a点よりも−Z側に配置され、b点よりも+Z側に配置される。本実施形態において、X軸方向に関するa点の位置とb点の位置とは等しい。   As shown in FIG. 22, by detecting the shape of the lead 84 using the laser recognition device 38, in the coordinate system (coordinate system in the XZ plane) defined by the laser recognition device 38, the base end portion 84A, The positions of the distal end portion 84B and the bent portion 84C are defined. In this coordinate system, the position of the base end portion 84A is defined as point a, the position of the distal end portion 84B is defined as point b, and the position of the bent portion 84C is defined as point c. Point a is the center position of the base end portion 84A with respect to the X-axis direction, point b is the center position of the tip end portion 84B with respect to the X-axis direction, and point c is the tip of the bent portion 84C on the most + X side. Is the position. The point a is arranged on the + Z side with respect to the points b and c. The point c is arranged on the + X side from the points a and b. The point c is arranged on the −Z side with respect to the point a, and is arranged on the + Z side with respect to the point b. In the present embodiment, the position of point a and the position of point b in the X-axis direction are equal.

また、この座標系において、a点(基端部84A)とb点(先端部84B)とを結ぶ仮想的な第1直線L1が規定される。第1直線L1は、Z軸と平行である。また、この座標系において、X軸と平行であり、c点(屈曲部84C)を通る仮想的な第2直線L2が規定される。第1直線L1と第2直線L2とは垂直に交わる。第1直線L1と第2直線L2との交点としてd点が規定される。c点は、第2直線L2と屈曲部84Cとの交点である。   Further, in this coordinate system, a virtual first straight line L1 connecting point a (base end portion 84A) and point b (tip end portion 84B) is defined. The first straight line L1 is parallel to the Z axis. Further, in this coordinate system, a virtual second straight line L2 that is parallel to the X axis and passes through the point c (bent portion 84C) is defined. The first straight line L1 and the second straight line L2 intersect perpendicularly. A point d is defined as an intersection of the first straight line L1 and the second straight line L2. Point c is an intersection of the second straight line L2 and the bent portion 84C.

本実施形態において、制御装置20は、リード84の複数の検出対象部位それぞれの検出結果に基づいて、リード84全体の形状を導出する。例えば、基端部84Aにおける検出結果と、先端部84Bにおける検出結果と、屈曲部84Cにおける検出結果とに基づいて、リード84全体の形状が導出されてもよい。すなわち、制御装置20は、座標系におけるa点の位置とb点の位置とc点の位置とを求め、それら3つの点(a点、b点、及びc点)の位置を結ぶ(補間する)ことによって、リード84全体の形状を求めてもよい。もちろん、検出対象部位のピッチptを十分に小さくして、検出対象部位の数を増やし、それら多数の検出対象部位それぞれにおける形状の検出結果に基づいて、リード84全体の形状が導出されてもよい。   In the present embodiment, the control device 20 derives the shape of the entire lead 84 based on the detection results of each of the plurality of detection target portions of the lead 84. For example, the shape of the entire lead 84 may be derived based on the detection result at the proximal end portion 84A, the detection result at the distal end portion 84B, and the detection result at the bent portion 84C. That is, the control device 20 obtains the position of the point a, the position of the point b, and the position of the point c in the coordinate system, and connects (interpolates) the positions of these three points (points a, b, and c). Thus, the shape of the entire lead 84 may be obtained. Of course, the pitch pt of the detection target portions may be sufficiently reduced to increase the number of detection target portions, and the shape of the lead 84 as a whole may be derived based on the shape detection results in each of the many detection target portions. .

次に、上述の電子部品実装装置10を用いて基板8に電子部品80を実装する方法の一例について説明する。図23は、本実施形態に係る電子部品実装装置10の動作の一例を示すフローチャートである。図23に示すフローチャートは、電子部品実装装置10の全体の処理動作の概略を示す。なお、図23に示す処理は、制御装置20が各部を制御することで実行される。   Next, an example of a method for mounting the electronic component 80 on the substrate 8 using the electronic component mounting apparatus 10 described above will be described. FIG. 23 is a flowchart showing an example of the operation of the electronic component mounting apparatus 10 according to the present embodiment. The flowchart shown in FIG. 23 shows an outline of the overall processing operation of the electronic component mounting apparatus 10. Note that the processing illustrated in FIG. 23 is executed by the control device 20 controlling each unit.

制御装置20に生産プログラムが読み込まれる(ステップS52)。生産プログラムは、専用の生産プログラム作成装置で作成されたり、入力された各種データに基づいて制御装置20によって作成されたりする。   The production program is read into the control device 20 (step S52). The production program is created by a dedicated production program creation device, or created by the control device 20 based on various input data.

生産プログラムが読み込まれた後、制御装置20は、装置の状態を検出する(ステップS54)。具体的には、部品供給ユニット14(14f、14r)の構成、充填されている電子部品80の種類、準備されているノズル32の種類等の検出が行われる。   After the production program is read, the control device 20 detects the state of the device (step S54). Specifically, the configuration of the component supply unit 14 (14f, 14r), the type of the electronic component 80 filled, the type of the prepared nozzle 32, and the like are detected.

装置の状態が検出され、準備が完了した後、事前データの取得が行われる(ステップS56)。事前データは、電子部品80に関する情報(データ)、及び基板8に関する情報(データ)を含み、電子部品80を基板8に実装するために必要な各種の情報を含む。電子部品80に関する情報は、電子部品80の形状に関する情報(データ)を含む。電子部品80の形状に関する情報は、リード84の形状に関する情報(データ)を含む。上述したように、電子部品80(リード84)の形状に関する情報は、レーザ認識装置38を使って取得可能である。事前データを、部品データと称してもよい。基板8に関する情報は、穴81(開口83)の寸法に関する情報(データ)を含む。また、事前データは、ノズル32が電子部品80を保持する位置(Z軸方向に関する位置)に関する情報、及びレーザ認識装置38で検出される電子部品80の検出対象部位に関する情報を含む。取得された事前データ(部品データ)は、制御装置20に接続された記憶部44に記憶(格納)される。   After the state of the apparatus is detected and preparation is completed, acquisition of advance data is performed (step S56). The preliminary data includes information (data) related to the electronic component 80 and information (data) related to the substrate 8, and includes various information necessary for mounting the electronic component 80 on the substrate 8. The information regarding the electronic component 80 includes information (data) regarding the shape of the electronic component 80. Information regarding the shape of the electronic component 80 includes information (data) regarding the shape of the lead 84. As described above, information regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84) can be obtained using the laser recognition device 38. The prior data may be referred to as part data. The information related to the substrate 8 includes information (data) related to the size of the hole 81 (opening 83). The prior data includes information related to the position where the nozzle 32 holds the electronic component 80 (position related to the Z-axis direction) and information related to the detection target portion of the electronic component 80 detected by the laser recognition device 38. The acquired prior data (component data) is stored (stored) in the storage unit 44 connected to the control device 20.

本実施形態において、事前データを取得することは、電子部品80(リード84)の形状に関する目標値(目標形状、参照形状)に関する情報を取得することを含む。例えば、レーザ認識装置38を使って複数の電子部品80(リード84)の形状を取得し、それら複数の形状に関する情報の平均値を、事前データ(部品データ)として記憶部44に記憶されてもよい。また、電子部品80(リード84)の設計値情報(設計データ)が、事前データ(部品データ)として記憶部44に記憶されてもよい。   In the present embodiment, acquiring prior data includes acquiring information related to target values (target shape, reference shape) related to the shape of the electronic component 80 (lead 84). For example, the shape of a plurality of electronic components 80 (leads 84) is acquired using the laser recognition device 38, and an average value of information regarding the plurality of shapes is stored in the storage unit 44 as prior data (component data). Good. Further, design value information (design data) of the electronic component 80 (lead 84) may be stored in the storage unit 44 as prior data (component data).

また、ステップS56において、電子部品80(リード84)の形状に関する許容範囲(許容値)が決定される。   In step S56, an allowable range (allowable value) regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84) is determined.

電子部品実装装置10に、基板8が搬入される(ステップS58)。基板8が搬入され、電子部品80を実装する位置に基板8が配置された後、制御装置20は、電子部品80を搬入する(ステップS60)。   The board 8 is carried into the electronic component mounting apparatus 10 (step S58). After the board | substrate 8 is carried in and the board | substrate 8 is arrange | positioned in the position which mounts the electronic component 80, the control apparatus 20 carries in the electronic component 80 (step S60).

制御装置20は、レーザ認識装置38を使った電子部品80の形状の検出を、電子部品80ごとに行うか否かを判断する(ステップS62)。   The control device 20 determines whether or not to detect the shape of the electronic component 80 using the laser recognition device 38 for each electronic component 80 (step S62).

電子部品80の形状の検出は、電子部品80が不良品であるか否かのチェックを含む。ステップS62において、電子部品80ごとに形状の検出を行うと判断された場合(Yesの場合)、制御装置20は、搬入された電子部品80(リード84)の形状に関する情報(データ)を、レーザ認識装置38を使って取得する(ステップS64)。本実施形態においては、少なくともリード84の形状の検出が行われる。   The detection of the shape of the electronic component 80 includes checking whether or not the electronic component 80 is defective. If it is determined in step S62 that shape detection is to be performed for each electronic component 80 (in the case of Yes), the control device 20 uses information (data) relating to the shape of the electronic component 80 (lead 84) carried in the laser. Obtained using the recognition device 38 (step S64). In the present embodiment, at least the shape of the lead 84 is detected.

なお、ステップS64において実行されるリード84の形状の検出精度が、ステップS56において実行されるリード84の形状の検出精度よりも高くてもよい。例えば、ステップS64で行われるリード84の検出における検出対象部位のピッチptが、ステップS56で行われるリード84の検出における検出対象部位のピッチptよりも小さくてもよい。例えば、ステップS60において搬入された電子部品80の個体差(製造誤差)に起因して、Z軸方向に関する屈曲部84Cの位置が、設計値(目標値)に対して異なる可能性がある。そのような場合、屈曲部84Cの形状(位置)を精確に取得するために、ステップS64で行われるリード84の検出における検出対象部位(屈曲部84Cの近傍での検出対象部位)のピッチptを小さくして、検出精度を高めてもよい。制御装置20は、それら複数の検出対象部位の検出結果のうち、c点とd点との距離が最も大きい検出結果を示す検出対象部位を、屈曲部84Cとしてもよい。なお、ピッチptを例えば1mm程度に設定することにより、検出精度を高めることができる。   It should be noted that the lead 84 shape detection accuracy executed in step S64 may be higher than the lead 84 shape detection accuracy executed in step S56. For example, the pitch pt of the detection target part in the detection of the lead 84 performed in step S64 may be smaller than the pitch pt of the detection target part in the detection of the lead 84 performed in step S56. For example, the position of the bent portion 84C in the Z-axis direction may be different from the design value (target value) due to the individual difference (manufacturing error) of the electronic component 80 carried in step S60. In such a case, in order to accurately acquire the shape (position) of the bent portion 84C, the pitch pt of the detection target portion (detection target portion in the vicinity of the bent portion 84C) in the detection of the lead 84 performed in step S64 is set. The detection accuracy may be increased by reducing the size. The control device 20 may set the detection target part indicating the detection result having the longest distance between the points c and d among the detection results of the plurality of detection target parts as the bent portion 84C. The detection accuracy can be increased by setting the pitch pt to, for example, about 1 mm.

制御装置20は、ステップS64においてレーザ認識装置38を使って取得したリード84の形状に関する情報と、ステップS56において事前に取得したリード84の形状に関する情報とを比較する(ステップS66)。   The control device 20 compares the information regarding the shape of the lead 84 acquired using the laser recognition device 38 in step S64 with the information regarding the shape of the lead 84 acquired in advance in step S56 (step S66).

制御装置20は、ステップS66において比較した結果に基づいて、ステップS60において搬入された電子部品80が適正か否かを判断する(ステップS68)。すなわち、制御装置20は、搬入された電子部品80が不良品であるか否かを判断する。制御装置20は、ステップS66での検出結果とステップS56で取得した事前データとを比較することによって、ノズル32に保持されている電子部品80が事前データ(部品データ)に一致する形状であるかどうか、事前データに対して許容範囲内の形状であるかどうか、実装可能な形状であるかどうか、リード84が穴81に挿入可能であるかどうかなどを判断する。   Based on the result of the comparison in step S66, the control device 20 determines whether or not the electronic component 80 carried in in step S60 is appropriate (step S68). In other words, the control device 20 determines whether or not the carried electronic component 80 is a defective product. The control device 20 compares the detection result in step S66 with the preliminary data acquired in step S56, so that the electronic component 80 held in the nozzle 32 has a shape that matches the preliminary data (component data). It is determined whether the shape is within the allowable range with respect to the prior data, whether the shape is mountable, whether the lead 84 can be inserted into the hole 81, and the like.

電子部品80が適正であるかどうかの判断は、検出した電子部品(リード)の形状(寸法)が許容範囲か否かの判断を含む。検出した電子部品(リード)の形状が許容範囲か否かの判断は、複数(4本)のリードの最外形状の寸法(4本のリードのうち最も−Y側に配置されるリードと最も+Y側に配置されるリードとの間隔)が許容範囲に含まれるかを判断することを含む。また、検出したリードの最外形状と、リードを挿入する基板の穴とを比較し、リードの最外形状の間隔が挿入穴の間隔の許容範囲内であるかを判断してもよい。また、例えば、図22を参照して説明したようなc点とd点との距離が、ステップS56において予め定めておいた許容値以下(許容範囲内)かどうかが判断されてもよい。   The determination of whether or not the electronic component 80 is appropriate includes the determination of whether or not the detected shape (dimension) of the electronic component (lead) is within an allowable range. The determination of whether or not the detected shape of the electronic component (lead) is within an allowable range is based on the outermost dimension of the plurality (four) of leads (the lead arranged most on the −Y side among the four leads). The distance between the lead and the lead arranged on the + Y side) is included in the allowable range. Further, the detected outermost shape of the lead may be compared with the hole of the board into which the lead is inserted to determine whether the interval between the outermost shapes of the leads is within the allowable range of the interval between the insertion holes. Further, for example, it may be determined whether the distance between the point c and the point d as described with reference to FIG. 22 is equal to or less than a predetermined tolerance value (within a tolerance range) in step S56.

また、電子部品80が適正であるかどうかの判断は、検出した電子部品80が、実装する電子部品80と一致するか否かの判断を含む。例えば、リード84の形状の特徴点に基づいて、ノズル32が保持している電子部品80が、実装対象の電子部品80であるかを判断してもよい。リード84の形状の特徴点は、例えばリード84の数、リード84間の間隔、長さ、径、及び形状の少なくとも一つを含む。   Further, the determination as to whether or not the electronic component 80 is appropriate includes determination as to whether or not the detected electronic component 80 matches the electronic component 80 to be mounted. For example, based on the feature point of the shape of the lead 84, it may be determined whether the electronic component 80 held by the nozzle 32 is the electronic component 80 to be mounted. The feature points of the shape of the lead 84 include, for example, at least one of the number of the leads 84, the interval between the leads 84, the length, the diameter, and the shape.

また、制御装置20は、検出結果と事前データとを比較した結果、電子部品80が実装可能な状態でノズル32に保持されているかどうかを判断してもよい。   Moreover, the control apparatus 20 may determine whether the electronic component 80 is hold | maintained at the nozzle 32 in the state which can be mounted as a result of comparing a detection result and prior data.

なお、ステップS62において、電子部品80ごとに形状の検出を行わないと判断された場合、制御装置20は、ステップS56で事前に取得した電子部品80(リード84)の形状に関する情報に基づいて、ステップS68以降の処理を行う。   When it is determined in step S62 that the shape detection is not performed for each electronic component 80, the control device 20 determines the shape of the electronic component 80 (lead 84) acquired in advance in step S56. The process after step S68 is performed.

ステップS68において、電子部品80が適正でない(不良品である)と判断された場合(ステップS68においてNoの場合)、制御装置20は、そのノズル32に保持されている電子部品80を廃棄する(ステップS70)。制御装置20は、部品貯留部19と対向する位置にノズル32を移動し、そのノズル32に保持されている電子部品80を部品貯留部19に投入(廃棄)する。電子部品80が廃棄された後、新たな電子部品80が搬入される(ステップS60)。新たな電子部品80は、廃棄された電子部品80と同一種類の電子部品80であり、基板8の同一搭載位置(実装位置)に実装する処理を再び実行する。   In step S68, when it is determined that the electronic component 80 is not appropriate (defective product) (No in step S68), the control device 20 discards the electronic component 80 held by the nozzle 32 ( Step S70). The control device 20 moves the nozzle 32 to a position facing the component storage unit 19, and throws (disposes) the electronic component 80 held by the nozzle 32 into the component storage unit 19. After the electronic component 80 is discarded, a new electronic component 80 is carried in (step S60). The new electronic component 80 is the same type of electronic component 80 as the discarded electronic component 80, and the process of mounting at the same mounting position (mounting position) of the substrate 8 is executed again.

ステップS68において、電子部品80が適正であると判定された場合(ステップS68においてYesの場合)、制御装置20は、そのノズル32に保持されている電子部品80の実装を行う(ステップS72)。   When it is determined in step S68 that the electronic component 80 is appropriate (Yes in step S68), the control device 20 mounts the electronic component 80 held by the nozzle 32 (step S72).

電子部品80の実装が完了した後、制御装置20は、基板8を搬出する(ステップS74)。基板8が搬出された後、制御装置20は、生産終了かを判定する(ステップS76)。ステップS76において、生産終了ではない(No)と判定された場合、電子部品実装装置10は、ステップS58に進み、ステップS58からステップS74までの処理を実行する。つまり、生産プログラムに基づいて、基板8に電子部品80を実装する処理を実行する。ステップS76で生産終了である(Yes)と判断された場合、本処理が終了する。   After the mounting of the electronic component 80 is completed, the control device 20 carries out the board 8 (step S74). After the board | substrate 8 is carried out, the control apparatus 20 determines whether production is complete | finished (step S76). If it is determined in step S76 that the production is not finished (No), the electronic component mounting apparatus 10 proceeds to step S58 and executes the processes from step S58 to step S74. That is, the process of mounting the electronic component 80 on the board 8 is executed based on the production program. If it is determined in step S76 that the production is finished (Yes), this processing is finished.

以上のようにして、制御装置20は、生産プログラムを読み込み、各種設定を行った後、基板8に電子部品80を実装することで、電子部品80が実装された基板8を製造する。   As described above, the control device 20 reads the production program, performs various settings, and then mounts the electronic component 80 on the substrate 8 to manufacture the substrate 8 on which the electronic component 80 is mounted.

次に、図24に示すフローチャートを参照して、事前データ(部品データ)を取得する処理(図23のステップS56)の一例について説明する。   Next, an example of processing for acquiring prior data (component data) (step S56 in FIG. 23) will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

上述のように、事前データは、電子部品80を基板8に実装するために必要な各種の情報を含む。事前データは、電子部品80に関する情報(データ)、及び基板8に関する情報(データ)を含む。本実施形態においては、電子部品80が実装される基板8に関する情報が取得される。具体的には、基板8の穴81(開口83)の寸法に関する情報が取得される。本実施形態において、開口83は、円形である。事前データとして、開口83の直径(又は半径)に関する情報が取得される。開口83の寸法に関する情報は、設計値情報(設計データ)でもよい。取得された情報に基づいて、開口83の寸法が決定される(ステップS562)。その開口83の寸法に関する情報が、記憶部44に記憶(格納)される。   As described above, the preliminary data includes various kinds of information necessary for mounting the electronic component 80 on the substrate 8. The preliminary data includes information (data) related to the electronic component 80 and information (data) related to the substrate 8. In the present embodiment, information regarding the substrate 8 on which the electronic component 80 is mounted is acquired. Specifically, information regarding the dimension of the hole 81 (opening 83) of the substrate 8 is acquired. In the present embodiment, the opening 83 is circular. Information relating to the diameter (or radius) of the opening 83 is acquired as prior data. The information regarding the dimension of the opening 83 may be design value information (design data). Based on the acquired information, the dimension of the opening 83 is determined (step S562). Information regarding the dimensions of the opening 83 is stored (stored) in the storage unit 44.

電子部品80の形状に関する情報(データ)が取得される(ステップS564)。電子部品80の形状に関する情報は、リード84の形状に関する情報(データ)を含む。電子部品80(リード84)の形状に関する情報は、レーザ認識装置38を使って取得可能である。電子部品80(リード84)の形状に関する情報は、設計値情報(設計データ)でもよい。その電子部品80(リード84)の形状に関する情報が、記憶部44に記憶(格納)される。本実施形態においては、電子部品80(リード84)の形状に関する情報が複数取得され、データベース化される。   Information (data) related to the shape of the electronic component 80 is acquired (step S564). Information regarding the shape of the electronic component 80 includes information (data) regarding the shape of the lead 84. Information regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84) can be obtained using the laser recognition device 38. The information regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84) may be design value information (design data). Information regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84) is stored (stored) in the storage unit 44. In the present embodiment, a plurality of pieces of information regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84) are acquired and stored in a database.

上述のように、事前データ(部品データ)は、電子部品80(リード84)の形状に関する目標値(目標形状、参照形状)に関する情報を含む。例えば、レーザ認識装置38を使って複数の電子部品80(リード84)の形状を取得し、それら複数の形状に関する情報の平均値を、事前データ(部品データ)として記憶部44に記憶してもよい。   As described above, the advance data (component data) includes information regarding the target value (target shape, reference shape) regarding the shape of the electronic component 80 (lead 84). For example, the shape of a plurality of electronic components 80 (leads 84) is acquired using the laser recognition device 38, and an average value of information regarding the plurality of shapes is stored in the storage unit 44 as prior data (component data). Good.

本実施形態においては、ステップS564で取得した情報に基づいて、電子部品80(リード84)の形状についての許容値が決定される(ステップS566)。例えば、リード84の形状が、基板8の開口83に挿入可能かどうかについての許容値が決定される。   In the present embodiment, an allowable value for the shape of the electronic component 80 (lead 84) is determined based on the information acquired in step S564 (step S566). For example, an allowable value as to whether or not the shape of the lead 84 can be inserted into the opening 83 of the substrate 8 is determined.

次に、図25から図32を参照して、電子部品80を基板8に実装(搭載)する処理(図23のステップS72)の一例について説明する。本実施形態において、電子部品80を基板8に実装する処理は、電子部品80のリード84を基板8の開口83(穴81)に挿入する処理を含む。図25は、電子部品80を基板8に実装(搭載)する処理の一例を示すフローチャートである。図26は、電子部品80の本体部82を保持したノズル32の移動経路を説明するための説明図である。図27から図32は、電子部品80が基板8に実装される手順を模式的に示した図である。なお、電子部品80は、ノズル32に保持された状態で基板8に実装される。図27から図32においては、電子部品80(本体部82)を保持するノズル32の図示が省略されている。また、図27から図32においては、開口83が誇張して示されている。開口83の寸法(直径)は、リード84の断面の寸法(太さ)の例えば1.5倍以上5倍以下に定められてもよい。開口83の寸法は、リード84の寸法の例えば2倍程度でもよいし、3倍程度でもよい。   Next, an example of a process for mounting (mounting) the electronic component 80 on the substrate 8 (step S72 in FIG. 23) will be described with reference to FIGS. In the present embodiment, the process of mounting the electronic component 80 on the substrate 8 includes the process of inserting the lead 84 of the electronic component 80 into the opening 83 (hole 81) of the substrate 8. FIG. 25 is a flowchart illustrating an example of processing for mounting (mounting) the electronic component 80 on the substrate 8. FIG. 26 is an explanatory diagram for explaining a movement path of the nozzle 32 that holds the main body 82 of the electronic component 80. FIG. 27 to FIG. 32 are diagrams schematically showing a procedure for mounting the electronic component 80 on the substrate 8. The electronic component 80 is mounted on the substrate 8 while being held by the nozzle 32. 27 to 32, the illustration of the nozzle 32 that holds the electronic component 80 (main body portion 82) is omitted. 27 to 32, the opening 83 is exaggerated. The dimension (diameter) of the opening 83 may be set to, for example, 1.5 times or more and 5 times or less of the dimension (thickness) of the cross section of the lead 84. The size of the opening 83 may be, for example, about twice the size of the lead 84 or about three times.

制御装置20は、リード84の形状に基づいて、リード84を開口83(穴81)に挿入するためのノズル32(電子部品80)の移動経路を決定する(ステップS722)。駆動装置26は、制御装置20により決定された移動経路に基づいて、本体部82を保持したノズル32を移動する。   The control device 20 determines a moving path of the nozzle 32 (electronic component 80) for inserting the lead 84 into the opening 83 (hole 81) based on the shape of the lead 84 (step S722). The drive device 26 moves the nozzle 32 holding the main body 82 based on the movement path determined by the control device 20.

上述のように、本実施形態において、リード84の形状は、レーザ認識装置38を使って検出される。制御装置20は、レーザ認識装置38の検出結果に基づいて、リード84を開口83(穴81)に挿入するためのノズル32(電子部品80)の移動経路を決定する。すなわち、制御装置20は、リード84の形状に基づいて、リード84の先端部84Bが開口83の内側に位置する第1状態から、リード84に設けられた屈曲部84Cが開口83の内側に位置する第2状態を経て、リード84の基端部84Aが開口83の内側に位置する第3状態に変化するように、本体部82を保持したノズル32の移動経路を決定する。   As described above, in the present embodiment, the shape of the lead 84 is detected using the laser recognition device 38. The control device 20 determines the moving path of the nozzle 32 (electronic component 80) for inserting the lead 84 into the opening 83 (hole 81) based on the detection result of the laser recognition device 38. That is, in the control device 20, based on the shape of the lead 84, the bent portion 84 </ b> C provided on the lead 84 is positioned inside the opening 83 from the first state where the tip end 84 </ b> B of the lead 84 is positioned inside the opening 83. Through the second state, the movement path of the nozzle 32 holding the main body portion 82 is determined so that the base end portion 84A of the lead 84 changes to the third state located inside the opening 83.

図26は、ノズル32の移動経路を説明するための説明図である。図26に示すように、屈曲部84Cは、先端部84Bと基端部84Aとの間において+X方向(第2方向)に突出するように設けられる。本実施形態においては、先端部84Bが開口83の内側に位置する第1状態から基端部84Aが開口83の内側に位置する第3状態への変化のためのノズル32の移動期間の少なくとも一部において、先端部84Bと基端部84Aとを結ぶ仮想的な第1直線L1とリード84との間を開口83の中心が通るように、移動経路が決定される。   FIG. 26 is an explanatory diagram for explaining the movement path of the nozzle 32. As shown in FIG. 26, the bent portion 84C is provided so as to protrude in the + X direction (second direction) between the distal end portion 84B and the proximal end portion 84A. In the present embodiment, at least one of the moving periods of the nozzle 32 for the change from the first state in which the distal end portion 84B is located inside the opening 83 to the third state in which the proximal end portion 84A is located inside the opening 83 is provided. In this portion, the movement path is determined so that the center of the opening 83 passes between the virtual first straight line L1 connecting the distal end portion 84B and the proximal end portion 84A and the lead 84.

また、本実施形態においては、X軸と平行であり屈曲部84Cを通る仮想的な第2直線L2と屈曲部84Cとの交点であるc点と、第2直線L2と第1直線L1との交点であるd点との中心(中点)Mを開口83の中心が通るように、移動経路が決定される。   In the present embodiment, the point c that is the intersection of the virtual second straight line L2 and the bent part 84C that is parallel to the X axis and passes through the bent part 84C, and the second straight line L2 and the first straight line L1 The movement path is determined so that the center of the opening 83 passes through the center (middle point) M with the point d which is the intersection.

本実施形態において、移動経路は、Z軸に対して傾斜する先端部84Bと屈曲部84Cとの間のリード84の第1部分841と、第1直線L1と、第2直線L2とによって形成される三角形bcdにおいて、第1直線L1と第1部分841との間の頂点(b点)と第2直線L2の中点Mとを結ぶ第1中線LM1を含むように決定される。換言すれば、開口83の中心が第1中線LM1の少なくとも一部を通るように、移動経路が決定される。   In the present embodiment, the movement path is formed by the first portion 841 of the lead 84 between the distal end portion 84B and the bent portion 84C that is inclined with respect to the Z axis, the first straight line L1, and the second straight line L2. Is determined so as to include a first middle line LM1 connecting a vertex (point b) between the first straight line L1 and the first portion 841 and a midpoint M of the second straight line L2. In other words, the movement path is determined so that the center of the opening 83 passes through at least a part of the first middle line LM1.

また、移動経路は、Z軸に対して傾斜する屈曲部84Cと基端部84Aとの間のリード84の第2部分842と、第1直線L1と、第2直線L2とによって形成される三角形acdにおいて、第1直線L1と第2部分842との間の頂点(a点)と第2直線L2の中点Mとを結ぶ第2中線LM2の少なくとも一部を含むように決定される。換言すれば、開口83の中心が第2中線LM2の少なくとも一部を通るように、移動経路が決定される。   The movement path is a triangle formed by the second portion 842 of the lead 84 between the bent portion 84C and the base end portion 84A inclined with respect to the Z axis, the first straight line L1, and the second straight line L2. In acd, it is determined so as to include at least a part of the second middle line LM2 connecting the vertex (point a) between the first straight line L1 and the second portion 842 and the midpoint M of the second straight line L2. In other words, the movement path is determined so that the center of the opening 83 passes through at least a part of the second middle line LM2.

移動経路が決定された後、図27に示すように、制御装置20は、リード84の先端部84Bが開口83の中心に位置するように、本体部82を保持したノズル32をXY平面内において移動する(ステップS724)。   After the movement path is determined, as shown in FIG. 27, the control device 20 moves the nozzle 32 holding the main body portion 82 in the XY plane so that the tip portion 84B of the lead 84 is positioned at the center of the opening 83. Move (step S724).

本実施形態においては、ノズル32に保持された状態で、リード84がVCSユニット17(画像認識装置、カメラ)によって認識され、そのVCSユニット17の座標系における先端部84Bの位置が決定される。また、制御装置20は、基板位置検出装置(不図示)を使ってXY平面内における搬送機構12Hの位置を検出しつつ、撮影装置36(カメラ)を使って基板8の表面8Aに形成された基準マークFMを検出する。基準マークFMと開口83との位置関係は、例えば事前データ(基板8の設計データを含む)の取得の処理(ステップS56)により既知である。これにより、基板位置検出装置の座標系における開口83の位置が決定される。また、開口83の寸法は、事前データの取得の処理(ステップS56)により既知である。制御装置20は、VCSユニット17の座標系と基板位置検出装置の座標系との関連付けを行うことによって、XY平面内におけるリード84の先端部84Bと開口83(開口83の中心)との位置関係を求めることができる。これにより、制御装置20は、リード84の先端部84Bを開口83の中心に位置させることができる。なお、VCSユニット17の代わりに、レーザ認識装置38を用いて、先端部84Bの位置が決定されてもよい。そのレーザ認識装置38の座標系と基板位置検出装置の座標系との関連付けを行うことによって、XY平面内におけるリード84の先端部84Bと開口83(開口83の中心)との位置関係が求められてもよい。   In the present embodiment, the lead 84 is recognized by the VCS unit 17 (image recognition device, camera) while being held by the nozzle 32, and the position of the tip 84B in the coordinate system of the VCS unit 17 is determined. The control device 20 is formed on the surface 8A of the substrate 8 using the photographing device 36 (camera) while detecting the position of the transport mechanism 12H in the XY plane using a substrate position detection device (not shown). The reference mark FM is detected. The positional relationship between the fiducial mark FM and the opening 83 is known, for example, by processing (step S56) for acquiring prior data (including design data of the substrate 8). Thereby, the position of the opening 83 in the coordinate system of the substrate position detecting device is determined. Further, the size of the opening 83 is known by the process of acquiring prior data (step S56). The control device 20 associates the coordinate system of the VCS unit 17 with the coordinate system of the substrate position detection device, so that the positional relationship between the tip 84B of the lead 84 and the opening 83 (the center of the opening 83) in the XY plane. Can be requested. As a result, the control device 20 can position the tip end portion 84 </ b> B of the lead 84 at the center of the opening 83. Note that the position of the tip 84B may be determined using the laser recognition device 38 instead of the VCS unit 17. By associating the coordinate system of the laser recognition device 38 with the coordinate system of the substrate position detection device, the positional relationship between the tip 84B of the lead 84 and the opening 83 (the center of the opening 83) in the XY plane is obtained. May be.

次に、制御装置20は、リード84の先端部84Bが開口83の中心に位置する状態から、リード84が開口83のエッジに接触する状態に変化するように、ノズル32をX軸方向及びY軸方向に移動させずに、−Z方向に移動させる(下降させる)。すなわち、図28に示すように、制御装置20は、リード84が開口83のエッジ(基板8の一部)に接触するまで、電子部品80を下降させる(ステップS726)。制御装置20は、例えば図4を参照して説明した検出装置100の検出結果に基づいて、リード84が開口83のエッジ(基板8)に接触したか否かを判断することができる。このように、本実施形態において、移動経路は、リード84の先端部84Cが開口83の中心に位置する状態からリード84が開口83のエッジに接触する状態に変化するように、ノズル32がX軸方向及びY軸方向に移動せずに−Z方向に移動する経路を含む。   Next, the control device 20 moves the nozzle 32 in the X-axis direction and the Y direction so that the state in which the tip 84B of the lead 84 is located at the center of the opening 83 changes to the state in which the lead 84 contacts the edge of the opening 83. Move (lower) in the -Z direction without moving in the axial direction. That is, as shown in FIG. 28, the control device 20 lowers the electronic component 80 until the lead 84 contacts the edge of the opening 83 (a part of the substrate 8) (step S726). The control device 20 can determine whether or not the lead 84 has contacted the edge (substrate 8) of the opening 83 based on the detection result of the detection device 100 described with reference to FIG. Thus, in this embodiment, the movement path changes from the state in which the tip 84C of the lead 84 is located at the center of the opening 83 to the state in which the lead 84 contacts the edge of the opening 83. A path that moves in the −Z direction without moving in the axial direction and the Y-axis direction is included.

次に、制御装置20は、開口83の寸法とリード84の形状とに基づいて、リード84が開口83(穴81)に挿入された量を導出する(ステップS728)。   Next, the control device 20 derives the amount of the lead 84 inserted into the opening 83 (hole 81) based on the size of the opening 83 and the shape of the lead 84 (step S728).

開口83の直径Wは、c点とd点との距離よりも小さい。リード84が開口83のエッジ(基板8)に接触した状態において、第1直線L1と直交し、開口83のエッジに対するリード84の接触部と第1直線L1とを結ぶ第3直線L3は、直径Wの半分(すなわちW/2)となる。すなわち、リード84が開口83のエッジ(基板8)に接触する状態になるまで開口83(穴81)に挿入されると、開口83の中心に第1直線L1が配置される。リード84が開口83に挿入された量は、第3直線L3の寸法(W/2)と、第1部分841の傾斜角度(第3直線L3と第1部分841とがなす角度)θとに基づいて求めることができる。   The diameter W of the opening 83 is smaller than the distance between the points c and d. In a state where the lead 84 is in contact with the edge (substrate 8) of the opening 83, the third straight line L3 orthogonal to the first straight line L1 and connecting the contact portion of the lead 84 with the edge of the opening 83 and the first straight line L1 has a diameter. Half of W (ie W / 2). That is, when the lead 84 is inserted into the opening 83 (hole 81) until the lead 84 comes into contact with the edge (substrate 8) of the opening 83, the first straight line L1 is arranged at the center of the opening 83. The amount of the lead 84 inserted into the opening 83 depends on the dimension (W / 2) of the third straight line L3 and the inclination angle of the first part 841 (the angle formed by the third straight line L3 and the first part 841) θ. Can be based on.

制御装置20は、リード84が開口83のエッジに接触した後、ノズル32を−Z方向に移動しつつ、そのノズル32のX軸方向への移動を開始する。図29に示すように、制御装置20は、開口83の中心が、第1中線LM1を通るように、電子部品80を保持したノズル32を移動する。   After the lead 84 contacts the edge of the opening 83, the control device 20 starts moving the nozzle 32 in the X-axis direction while moving the nozzle 32 in the −Z direction. As shown in FIG. 29, the control device 20 moves the nozzle 32 holding the electronic component 80 so that the center of the opening 83 passes through the first middle line LM1.

制御装置20は、屈曲部84Cが開口83の内側に位置する第2状態に変化するように、ノズル32を−Z方向に移動しながら−X方向に移動する。制御装置20は、開口83の中心が第1中線LM1に沿って移動するように、電子部品80を保持したノズル32を−Z方向に移動しながら−X方向に移動する。これにより、図29に示す状態から図30に示す状態(第2状態)に変化する。図30に示す第2状態において、開口83の中心は中点Mを通る。   The control device 20 moves the nozzle 32 in the −X direction while moving the nozzle 32 in the −Z direction so that the bent portion 84 </ b> C changes to the second state located inside the opening 83. The control device 20 moves in the −X direction while moving the nozzle 32 holding the electronic component 80 in the −Z direction so that the center of the opening 83 moves along the first middle line LM1. As a result, the state shown in FIG. 29 is changed to the state shown in FIG. 30 (second state). In the second state shown in FIG. 30, the center of the opening 83 passes through the midpoint M.

制御装置20は、屈曲部84Cが開口83の内側に位置する第2状態から、基端部84Aが開口83の内側に位置する第3状態に変化するように、電子部品80をノズル32を−Z方向に移動しながら+X方向に移動する。すなわち、制御装置20は、基端部84Aが開口83の内側に配置されるまで、電子部品80を保持したノズル32をXY平面内において移動しつつ、−Z方向に移動(下降)させる(ステップS730)。   The control device 20 moves the nozzle 32 to the electronic component 80 so that the bent portion 84C changes from the second state where the bent portion 84C is located inside the opening 83 to the third state where the base end portion 84A is located inside the opening 83. Move in the + X direction while moving in the Z direction. That is, the control device 20 moves (falls) in the −Z direction while moving the nozzle 32 holding the electronic component 80 in the XY plane until the base end portion 84A is disposed inside the opening 83 (step S40). S730).

これにより、図30に示す状態(第2状態)から、図31に示す状態を経て、図32に示す状態(第3状態)に変化する。以上により、電子部品80を基板8に実装する処理が終了する。   Thereby, the state shown in FIG. 30 (second state) is changed to the state shown in FIG. 32 (third state) through the state shown in FIG. Thus, the process of mounting the electronic component 80 on the substrate 8 is completed.

第2状態から第3状態への変化のためのノズル32の移動期間において、制御装置20は、開口83の中心が、第2中線LM2を通るように、電子部品80を保持したノズル32を移動する。図32に示す第3状態においては、本体部82の下面82Bの少なくとも一部と基板8の表面8Aとが接触する。本体部82の下面82Bと基板8の表面8Aとが接触した状態において、リード84の基端部84Aが開口83の内側に配置される。   In the movement period of the nozzle 32 for the change from the second state to the third state, the control device 20 moves the nozzle 32 holding the electronic component 80 so that the center of the opening 83 passes through the second middle line LM2. Moving. In the third state shown in FIG. 32, at least a part of the lower surface 82B of the main body portion 82 and the surface 8A of the substrate 8 are in contact with each other. In a state where the lower surface 82 </ b> B of the main body 82 and the surface 8 </ b> A of the substrate 8 are in contact, the base end portion 84 </ b> A of the lead 84 is disposed inside the opening 83.

このように、本実施形態においては、屈曲部84Cが先端部84Bと基端部84Aとの間において+X方向(基板の表面と平行な面内の第2軸(X軸方向、又はY軸方向)と平行な第2方向(X軸方向、又はY軸方向))に突出するように設けられている場合において、ノズル32の移動経路は、先端部84Bが開口83の内側に位置する第1状態から屈曲部84Cが開口83の内側に位置する第2状態に変化するようにノズル32が−Z方向(第1方向)に移動しながら−X方向(第2方向の反対の第3方向)に移動する第1経路と、屈曲部84Cが開口83の内側に位置する第2状態から基端部84Aが開口83の内側に位置する第3状態に変化するようにノズル32が−Z方向(第1方向)に移動しながら+X方向(第2方向)に移動する第2経路と、を含む。   Thus, in the present embodiment, the bent portion 84C has a + X direction (second axis (X-axis direction or Y-axis direction in a plane parallel to the surface of the substrate) between the distal end portion 84B and the base end portion 84A. ) In a second direction (X-axis direction or Y-axis direction) parallel to the first direction), the movement path of the nozzle 32 is the first where the tip 84B is located inside the opening 83. -X direction (third direction opposite to the second direction) while the nozzle 32 moves in the -Z direction (first direction) so that the bent portion 84C changes from the state to the second state where the bent portion 84C is located inside the opening 83. And the nozzle 32 moves in the −Z direction so that the bent state 84C changes from the second state where the bent portion 84C is located inside the opening 83 to the third state where the base end portion 84A is located inside the opening 83. Move in + X direction (second direction) while moving in (first direction) That includes a second path, the.

以上説明したように、本実施形態によれば、屈曲部84Cを有するリード84を基板8の開口83に挿入する場合において、リード84の先端部84Bが開口83の内側に位置する第1状態から基端部84Aが開口83の内側に位置する第3状態に変化させるための電子部品80(本体部82)を保持するノズル32の移動経路が、−Z方向に移動しながらX軸と平行な方向(+X方向及び−X方向)に移動する経路を含むことにより、リード84を基板8の開口83に円滑に挿入することができる。したがって、電子部品80に負荷がかかることが抑制され、歩留まりの低下、及び電子部品80の性能の低下が抑制される。   As described above, according to the present embodiment, when the lead 84 having the bent portion 84 </ b> C is inserted into the opening 83 of the substrate 8, the leading end portion 84 </ b> B of the lead 84 is from the first state positioned inside the opening 83. The movement path of the nozzle 32 holding the electronic component 80 (main body portion 82) for changing to the third state in which the base end portion 84A is located inside the opening 83 is parallel to the X axis while moving in the −Z direction. By including a path that moves in the directions (+ X direction and −X direction), the lead 84 can be smoothly inserted into the opening 83 of the substrate 8. Therefore, the electronic component 80 is restrained from being loaded, and the yield and the performance of the electronic component 80 are reduced.

また、リード84がY軸方向に屈曲していれば、−Z方向に移動しながらY軸と平行な方向(+Y方向及び−Y方向)に移動する経路となる。また、リード84がスパイラル状に屈曲していれば、−Z方向に移動しながら反スパイラル状に移動する経路となる。このように、リード84の屈曲形状を打ち消すための移動経路が、ノズル32が基板8の表面と垂直な第1軸(Z軸方向)と平行な第1方向(Z軸方向)に移動しながら基板8の表面と平行な方向(X軸方向、又はY軸方向)に移動する経路である。   Further, if the lead 84 is bent in the Y-axis direction, it becomes a path that moves in the directions parallel to the Y-axis (+ Y direction and -Y direction) while moving in the -Z direction. Further, if the lead 84 is bent in a spiral shape, it becomes a path that moves in the anti-spiral shape while moving in the −Z direction. Thus, the movement path for canceling the bent shape of the lead 84 moves while the nozzle 32 moves in the first direction (Z-axis direction) parallel to the first axis (Z-axis direction) perpendicular to the surface of the substrate 8. This is a path that moves in a direction parallel to the surface of the substrate 8 (X-axis direction or Y-axis direction).

また、本実施形態によれば、移動経路は、リード84の先端部84Bが開口83の中心に位置する状態からリード84が開口83のエッジに接触する状態に変化するように、ノズル32が第2軸(X軸方向、又はY軸方向)と平行な方向に移動せずに第1方向(Z軸方向)に移動する経路を含み、リード84が開口83のエッジに接触した後、第2軸と平行な方向へのノズル32の移動が開始される。   Further, according to the present embodiment, the movement path of the nozzle 32 is changed so that the tip 84B of the lead 84 changes from the state where it is positioned at the center of the opening 83 to the state where the lead 84 contacts the edge of the opening 83. Including a path that moves in the first direction (Z-axis direction) without moving in the direction parallel to the two axes (X-axis direction or Y-axis direction), and the second after the lead 84 contacts the edge of the opening 83 The movement of the nozzle 32 in a direction parallel to the axis is started.

また、本実施形態によれば、第2軸と平行であり屈曲部84Cを通る仮想的な第2直線L2と屈曲部84Cとの第1交点(c点)と第2直線L2と第1直線L1との第2交点(d点)との中心Mを前記開口の中心が通るように、移動経路が決定される。   Further, according to the present embodiment, the first intersection (point c), the second straight line L2, and the first straight line between the virtual second straight line L2 and the bent part 84C that are parallel to the second axis and pass through the bent part 84C. The movement path is determined so that the center of the opening passes through the center M of the second intersection (point d) with L1.

また、本実施形態によれば、第1経路と第2経路とは、基板8の表面と平行な面内においてその移動距離が一致する。すなわち、ヘッド移動機構16が電子部品80を保持したノズル32を基板搭載目標位置に移動した後に、ノズル32が−Z方向に移動しながら−X方向に所定量移動した後、−Z方向に移動しながら+X方向に同一所定量移動する。この結果、搭載目標位置に精度良く搭載できる。   Further, according to the present embodiment, the first path and the second path have the same moving distance in a plane parallel to the surface of the substrate 8. That is, after the head moving mechanism 16 moves the nozzle 32 holding the electronic component 80 to the substrate mounting target position, the nozzle 32 moves in the −X direction while moving in the −Z direction, and then moves in the −Z direction. While moving in the + X direction, the same predetermined amount. As a result, it can be accurately mounted at the mounting target position.

また、本実施形態においては、リード84に屈曲部84Cが設けられているため、その屈曲部84Cを有するリード84が基板8の穴81に挿入されることによって、その挿入されたリード84が基板8の穴81から抜けることが抑制される。したがって、製造されるデバイスの性能の低下が抑制される。   In the present embodiment, since the lead 84 is provided with the bent portion 84C, the lead 84 having the bent portion 84C is inserted into the hole 81 of the substrate 8, whereby the inserted lead 84 becomes the substrate. Escape from the eight holes 81 is suppressed. Therefore, a decrease in the performance of the manufactured device is suppressed.

また、本実施形態においては、電子部品80を−Z方向に移動しながらXY平面内において移動するので、開口83が小さくても、その開口83にリード84を円滑に挿入することができる。   In the present embodiment, since the electronic component 80 is moved in the XY plane while moving in the −Z direction, the lead 84 can be smoothly inserted into the opening 83 even if the opening 83 is small.

なお、本実施形態において、ノズル32の移動経路は、開口83の中心が中点Mを通るように決定されてもよいし、開口83の中心が中点Mを通らないように決定されてもよい。   In the present embodiment, the movement path of the nozzle 32 may be determined so that the center of the opening 83 passes through the middle point M, or may be determined so that the center of the opening 83 does not pass through the middle point M. Good.

なお、本実施形態において、ノズル32の移動経路は、開口83の中心が第1中線LM1を通るように決定されてもよいし、開口83の中心が第1中線LM1を通らないように決定されてもよい。なお、本実施形態において、ノズル32の移動経路は、開口83の中心が第2中線LM2を通るように決定されてもよいし、開口83の中心が第2中線LM2を通らないように決定されてもよい。   In the present embodiment, the movement path of the nozzle 32 may be determined such that the center of the opening 83 passes through the first middle line LM1, or the center of the opening 83 does not pass through the first middle line LM1. It may be determined. In the present embodiment, the movement path of the nozzle 32 may be determined such that the center of the opening 83 passes through the second middle line LM2, or the center of the opening 83 does not pass through the second middle line LM2. It may be determined.

なお、本実施形態において、リード84の先端部84Bが開口83の中心に位置する状態からリード84が開口83のエッジに接触する状態に変化するように、ノズル32がXY平面内において移動せずに−Z方向に移動することとした。ノズル32がXY平面内において移動しながら−Z方向に移動して、リード84を開口83のエッジに接触させてもよい。なお、リード84の先端部84Bが開口83の内側に位置する第1状態からリード84の基端部84Aが開口83の内側に位置する第3状態に変化するまでの間に、リード84が開口83のエッジ(基板8)に接触しなくてもよい。なお、第1状態から第3状態に変化するまでの期間の少なくとも一部において、リード84が開口83のエッジ(基板8)に接触してもよい。   In the present embodiment, the nozzle 32 does not move in the XY plane so that the state in which the tip 84B of the lead 84 is located at the center of the opening 83 changes to a state in which the lead 84 contacts the edge of the opening 83. It was decided to move in the -Z direction. The nozzle 84 may move in the −Z direction while moving in the XY plane, and the lead 84 may be brought into contact with the edge of the opening 83. The lead 84 is opened between the first state where the distal end 84B of the lead 84 is located inside the opening 83 and the third state where the base end 84A of the lead 84 is located inside the opening 83. It is not necessary to contact the 83 edge (substrate 8). Note that the lead 84 may contact the edge (substrate 8) of the opening 83 in at least a part of the period from the first state to the third state.

なお、本実施形態においては、複数(4本)のリード84のそれぞれが屈曲部84Cを有することとした。複数のリード84のうち一部のリード84が屈曲部84Cを有し、一部のリード84が屈曲部84Cを有しなくてもよい。その場合、複数のリード84のそれぞれが開口83に円滑に挿入されるように、本体部82を保持するノズル32の移動経路が決定されてもよい。例えば、屈曲部84Cを有するリード84を開口83に挿入することに最適な第1の移動経路と、屈曲部84Cを有しないリード84を開口83に挿入することに最適な第2の移動経路とのそれぞれを決定し、それら第1の移動経路と第2の移動経路との間を通る第3の移動経路でノズル32を移動してもよい。   In the present embodiment, each of the plural (four) leads 84 has a bent portion 84C. Among the plurality of leads 84, some of the leads 84 may have the bent portion 84C, and some of the leads 84 may not have the bent portion 84C. In that case, the movement path of the nozzle 32 that holds the main body portion 82 may be determined so that each of the plurality of leads 84 is smoothly inserted into the opening 83. For example, a first movement path that is optimal for inserting the lead 84 having the bent portion 84C into the opening 83, and a second movement path that is optimal for inserting the lead 84 not having the bent portion 84C into the opening 83, May be determined, and the nozzle 32 may be moved along a third movement path passing between the first movement path and the second movement path.

また、例えばリード84を5本備える電子部品80において、2本のリード84が屈曲部84Cを有し、3本のリード84が屈曲部84Cを有しない場合(3本のリード84が直線状である場合)、屈曲部84Cを有するリード84を開口83に挿入することに最適な第1の移動経路と、屈曲部84Cを有しないリード84を開口83に挿入することに最適な第2の移動経路とのそれぞれを決定した後、第1の移動経路を重み係数で補正し、その重み係数で補正された第1の移動経路と第2の移動経路との間を通る第3の移動経路でノズル32を移動してもよい。2本のリード84のほうが、3本のリード84よりも強度が低いので、2本のリード84を開口83に挿入することに最適な第1の移動経路を第2の移動経路よりも優先させてもよい。   Further, for example, in the electronic component 80 including five leads 84, when the two leads 84 have the bent portion 84C and the three leads 84 do not have the bent portion 84C (the three leads 84 are linear). A first movement path that is optimal for inserting the lead 84 having the bent portion 84C into the opening 83, and a second movement that is optimal for inserting the lead 84 having no bent portion 84C into the opening 83. After determining each of the routes, the first moving route is corrected with the weighting factor, and the third moving route passing between the first moving route and the second moving route corrected with the weighting factor is used. The nozzle 32 may be moved. Since the strength of the two leads 84 is lower than that of the three leads 84, the first moving path that is optimal for inserting the two leads 84 into the opening 83 is given priority over the second moving path. May be.

また、電子部品80がリード84を複数備える場合において、それら複数のリード84のうち一部のリード84の強度が他の一部のリード84の強度よりも低い場合、強度が低いリード84を開口83に挿入することに最適な第1の移動経路を、強度が高いリード84を開口83に挿入することに最適な第2の移動経路よりも優先させてもよい。換言すれば、第1の移動経路を重み係数で補正し、その重み係数で補正された第1の移動経路と第2の移動経路との間の第3の移動経路でノズル32を移動してもよい。   Further, when the electronic component 80 includes a plurality of leads 84, when the strength of some of the leads 84 is lower than the strength of the other leads 84, the leads 84 having low strength are opened. The first moving path that is optimal for insertion into the 83 may be given priority over the second moving path that is optimal for inserting the lead 84 having a high strength into the opening 83. In other words, the first movement path is corrected with the weighting coefficient, and the nozzle 32 is moved along the third movement path between the first movement path and the second movement path corrected with the weighting coefficient. Also good.

なお、上述の実施形態においては、複数のリード84がY軸方向に配置され、Y軸と直交するXZ平面内においてリード84が曲がっている例について説明した。図33に示すように、複数のリード84の少なくとも一部が、YZ平面内において曲がっていてもよい。すなわち、屈曲部84Cが、先端部84Bと基端部84Aとの間において、+Y方向(又は−Y方向)に突出するように設けられてもよい。図33に示す例において、基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとは、同一平面内(図33に示す例ではYZ平面内)に配置される。リード84の形状を検出する場合、レーザ認識装置38のレーザ光(検出光)の進行方向と、基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとが配置される面とが直交するように、レーザ認識装置38とリード84との位置関係が調整される。すなわち、制御装置20は、レーザ認識装置38のレーザ光(検出光)の進行方向(Y軸方向)に対して、基端部84Aと先端部84Bと屈曲部84Cとが配置される面が直交するように、駆動装置26を制御して、電子部品80(本体部82)を保持したノズル32をθZ方向に移動(回転)させる。図33に示す例においても、レーザ認識装置38でリード84の形状が検出されることにより、制御装置20は、そのレーザ認識装置38の検出結果に基づいて、開口83の内側にリード84の先端部84Bが配置されている状態から屈曲部84Cが配置される状態を経て基端部84Aが配置される状態に変化するように、ノズル32の移動経路を決定することができる。   In the above-described embodiment, the example in which the plurality of leads 84 are arranged in the Y-axis direction and the leads 84 are bent in the XZ plane orthogonal to the Y-axis has been described. As shown in FIG. 33, at least some of the plurality of leads 84 may be bent in the YZ plane. That is, the bent portion 84C may be provided so as to protrude in the + Y direction (or −Y direction) between the distal end portion 84B and the proximal end portion 84A. In the example shown in FIG. 33, the base end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C are arranged in the same plane (in the YZ plane in the example shown in FIG. 33). When detecting the shape of the lead 84, the traveling direction of the laser light (detection light) of the laser recognition device 38 is orthogonal to the surface on which the base end portion 84A, the tip end portion 84B, and the bent portion 84C are arranged. The positional relationship between the laser recognition device 38 and the lead 84 is adjusted. That is, in the control device 20, the surface on which the proximal end portion 84A, the distal end portion 84B, and the bent portion 84C are disposed is orthogonal to the traveling direction (Y-axis direction) of the laser light (detection light) of the laser recognition device 38. Thus, the drive device 26 is controlled to move (rotate) the nozzle 32 holding the electronic component 80 (main body portion 82) in the θZ direction. Also in the example shown in FIG. 33, when the shape of the lead 84 is detected by the laser recognition device 38, the control device 20 causes the tip of the lead 84 to be inside the opening 83 based on the detection result of the laser recognition device 38. The movement path of the nozzle 32 can be determined so as to change from the state in which the portion 84B is disposed to the state in which the base end portion 84A is disposed through the state in which the bent portion 84C is disposed.

なお、上述の実施形態においては、電子部品80がリード84を複数有することとした。電子部品80に設けられるリード84が1本でもよい。その1本のリード84が屈曲部84Cを有する場合、そのリード84の形状に基づいて、開口32の内側にリード84の先端部84Bが配置されている状態から屈曲部84Cが配置される状態を経て基端部84Aが配置される状態に変化するように、ノズル32の移動経路を決定することにより、電子部品80に掛かる負荷を低減することができる。   In the above embodiment, the electronic component 80 has a plurality of leads 84. One lead 84 may be provided on the electronic component 80. When the one lead 84 has the bent portion 84C, the state where the bent portion 84C is arranged from the state in which the tip portion 84B of the lead 84 is arranged inside the opening 32 based on the shape of the lead 84. The load applied to the electronic component 80 can be reduced by determining the movement path of the nozzle 32 so that the base end portion 84A is changed to the state where the base end portion 84A is disposed.

また、上述の実施形態では、予めリードの形状が検出されたデータが記憶されている場合、本体部と前記本体部に接続されるリードとを有する電子部品を、表面に開口が設けられた基板に実装する電子部品実装方法であって、ノズルで前記本体部を保持するステップと、前記リードの先端部が開口の内側に位置する第1状態から、前記リードに設けられた屈曲部が前記開口の内側に位置する第2状態を経て、本体部と結ばれる前記リードの基端部が開口の内側に位置する第3状態に変化するように、本体部を保持した前記ノズルの移動経路を決定するステップと、決定された前記移動経路に基づいて、本体部を保持した前記ノズルを移動して、開口にリードを挿入するステップと、を含み、移動経路は、ノズルが基板の表面と垂直な第1軸と平行な第1方向に移動しながら基板の表面と平行な方向に移動する経路を含む電子部品実装方法が記載されている。また、リード形状のデータがない、新たな電子部品を搭載する場合などに、リードの形状を検出するステップを含み、ノズルの移動経路を決定するステップは、リードの形状の検出結果に基づいて、行われてもよい。   Further, in the above-described embodiment, when data in which the shape of the lead is detected in advance is stored, an electronic component having a main body portion and a lead connected to the main body portion is provided on the surface of the substrate. An electronic component mounting method for mounting on a lead, the step of holding the main body portion with a nozzle, and a bent portion provided on the lead from the first state in which a tip portion of the lead is located inside the opening, The movement path of the nozzle holding the main body portion is determined so that the base end portion of the lead connected to the main body portion changes to the third state located inside the opening through the second state located inside the main body. And moving the nozzle holding the main body based on the determined moving path, and inserting a lead into the opening, the moving path including the nozzle being perpendicular to the surface of the substrate. The first axis Electronic component mounting method including a path for movement in a direction parallel to the surface of the substrate while moving in the line of the first direction is described. In addition, there is a step of detecting the shape of the lead when there is no lead shape data and a new electronic component is mounted, and the step of determining the movement path of the nozzle is based on the detection result of the shape of the lead. It may be done.

次に、図34及び図35を参照して、上述した電子部品実装装置10を用いた電子部品実装システム(実装システム)の一例について説明する。図34は、電子部品実装システムの概略構成を示す模式図である。図34に示す電子部品実装システム(以下「実装システム」ともいう。)1は、パターン形成装置2と、リフロー処理装置4と、搬送装置6及び搬送装置7と、電子部品実装装置10と、を有する。実装システム1は、パターン形成装置2、搬送装置6、電子部品実装装置10、搬送装置7、リフロー処理装置4となる順序で基板8が搬送されるように各部が配置されている。   Next, an example of an electronic component mounting system (mounting system) using the electronic component mounting apparatus 10 described above will be described with reference to FIGS. 34 and 35. FIG. 34 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an electronic component mounting system. An electronic component mounting system (hereinafter also referred to as “mounting system”) 1 shown in FIG. 34 includes a pattern forming device 2, a reflow processing device 4, a transport device 6, a transport device 7, and an electronic component mounting device 10. Have. In the mounting system 1, each part is arranged so that the substrate 8 is transported in the order of the pattern forming device 2, the transport device 6, the electronic component mounting device 10, the transport device 7, and the reflow processing device 4.

パターン形成装置2は、基板8の表面8Aに半田ペーストのパターンを形成し、基板8の穴81に半田ペーストを充填する装置である。リフロー装置4は、基板8を所定温度に加熱し、基板8の半田ペーストを一時的に溶かすことで、半田ペーストに接している基板8と電子部品80とを接着させる。つまり、リフロー装置4は、基板8の表面8Aに形成された半田ペーストのパターン上に実装された搭載型電子部品と基板8とをパターンの半田ペーストで接着させ、穴81に挿入されたリード型電子部品のリード84を穴81に充填された半田ペーストで接着させる。   The pattern forming apparatus 2 is an apparatus for forming a solder paste pattern on the surface 8A of the substrate 8 and filling the holes 81 of the substrate 8 with the solder paste. The reflow device 4 heats the substrate 8 to a predetermined temperature, and temporarily melts the solder paste of the substrate 8, thereby bonding the substrate 8 in contact with the solder paste and the electronic component 80. In other words, the reflow device 4 adheres the mounted electronic component mounted on the solder paste pattern formed on the surface 8A of the substrate 8 and the substrate 8 with the pattern solder paste, and inserts into the hole 81. The lead 84 of the electronic component is bonded with a solder paste filled in the hole 81.

搬送装置6及び搬送装置7は、基板8を搬送する装置である。搬送装置6は、パターン形成装置2で処理され搬出された基板8を電子部品実装装置10に搬入する。搬送装置7は、電子部品実装装置10で処理され搬出された基板8をリフロー処理装置4に搬入する。   The transport device 6 and the transport device 7 are devices that transport the substrate 8. The transport device 6 carries the substrate 8 processed and carried out by the pattern forming device 2 into the electronic component mounting device 10. The transport device 7 carries the substrate 8 processed and carried out by the electronic component mounting device 10 into the reflow processing device 4.

電子部品実装装置10は、基板8に電子部品80を実装する。電子部品実装装置10は、電子部品80として、リード型電子部品を実装する。電子部品実装装置10は、電子部品80として、リード型電子部品及び搭載型電子部品の両方を実装可能である。   The electronic component mounting apparatus 10 mounts the electronic component 80 on the substrate 8. The electronic component mounting apparatus 10 mounts a lead type electronic component as the electronic component 80. The electronic component mounting apparatus 10 can mount both the lead type electronic component and the mountable electronic component as the electronic component 80.

図35は、電子部品実装システムの動作の一例を示すフローチャートである。実装システム1は、ステップS960として基板8に半田ペーストを印刷する。つまり、実装システム1は、ステップS960としてパターン形成装置2で、基板8の表面8Aに半田ペーストのパターンを形成し、穴81に半田ペーストを充填させる。実装システム1は、ステップS960で基板に半田ペーストを印刷した後、搬送装置6で基板8を電子部品実装装置10に搬入し、ステップS962として、電子部品実装装置10で基板8にリード型電子部品及び搭載型電子部品を実装する。実装システム1は、ステップS962で基板8に電子部品80を実装した後、搬送装置7で電子部品80が実装された基板8をリフロー処理装置4に搬入し、ステップS964として、リフロー処理を実行し、本処理を終了する。   FIG. 35 is a flowchart illustrating an example of the operation of the electronic component mounting system. The mounting system 1 prints a solder paste on the substrate 8 as step S960. That is, the mounting system 1 forms a solder paste pattern on the surface 8A of the substrate 8 and fills the holes 81 with the solder paste by using the pattern forming apparatus 2 in step S960. The mounting system 1 prints the solder paste on the substrate in step S960, and then carries the substrate 8 into the electronic component mounting apparatus 10 by the transport device 6, and in step S962, the electronic component mounting apparatus 10 attaches the lead-type electronic component to the substrate 8. And mounting electronic components. The mounting system 1 mounts the electronic component 80 on the substrate 8 in step S962, and then loads the substrate 8 on which the electronic component 80 is mounted by the transfer device 7 into the reflow processing device 4, and executes reflow processing in step S964. This process is terminated.

このように、実装システム1は、電子部品実装装置10でリード型電子部品及び搭載型電子部品を実装することで、リード型電子部品及び搭載型電子部品の両方を1回のフロー処理で基板8に固定することができる。これにより、実装システム1は、製造ラインの構成を簡単にすることができる。   As described above, the mounting system 1 mounts the lead-type electronic component and the mountable electronic component by the electronic component mounting apparatus 10, so that both the lead-type electronic component and the mountable electronic component can be processed in one flow process. Can be fixed to. Thereby, the mounting system 1 can simplify the configuration of the production line.

1 実装システム
2 パターン形成装置
4 リフロー処理装置
8 基板
10 電子部品実装装置
11 筐体
12 基板搬送部
14 部品供給ユニット
15 ヘッド
16 ヘッド移動機構
17 VCSユニット
18 交換ノズル保持機構
19 部品貯留部
20 制御装置
22 X軸駆動部
24 Y軸駆動部
26 駆動装置
31 ベースフレーム
32 ノズル
34 ノズル駆動部
38 レーザ認識装置
40 操作部
42 表示部
44 記憶部
80 電子部品
82 本体部
84 リード
84A 基端部
84B 先端部
84C 屈曲部
321 吸引ノズル
322 把持ノズル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Mounting system 2 Pattern formation apparatus 4 Reflow processing apparatus 8 Board | substrate 10 Electronic component mounting apparatus 11 Case 12 Board | substrate conveyance part 14 Component supply unit 15 Head 16 Head moving mechanism 17 VCS unit 18 Replacement nozzle holding mechanism 19 Component storage part 20 Control apparatus 22 X-axis drive unit 24 Y-axis drive unit 26 Drive unit 31 Base frame 32 Nozzle 34 Nozzle drive unit 38 Laser recognition device 40 Operation unit 42 Display unit 44 Storage unit 80 Electronic component 82 Body unit 84 Lead 84A Base end unit 84B Tip unit 84C Bent part 321 Suction nozzle 322 Gripping nozzle

Claims (8)

本体部と前記本体部に接続される複数のリードとを有する電子部品を、表面に開口が設けられた基板に実装する電子部品実装装置であって、
前記本体部を保持するノズルと、
レーザ光を射出する光源と、前記光源から射出されたレーザ光の少なくとも一部を受光可能な受光素子とを有し、前記ノズルに保持された前記電子部品の複数の前記リードにレーザ光を照射して、複数の前記リードのそれぞれの形状を検出するレーザ認識装置と、
前記リードの先端部が前記開口の内側に位置する第1状態から、前記リードに設けられた屈曲部が前記開口の内側に位置する第2状態を経て、前記本体部と結ばれる前記リードの基端部が前記開口の内側に位置する第3状態に変化するように、前記レーザ認識装置の検出結果に基づいて、前記本体部を保持した前記ノズルの移動経路を決定する制御装置と、
前記制御装置により決定された移動経路に基づいて、前記本体部を保持した前記ノズルを移動する駆動装置と、を備え、
前記移動経路は、前記ノズルが前記基板の表面と垂直な第1軸と平行な第1方向に移動しながら前記基板の表面と平行な方向に移動する経路を含む電子部品実装装置。
An electronic component mounting apparatus for mounting an electronic component having a main body and a plurality of leads connected to the main body on a substrate having an opening on the surface,
A nozzle for holding the main body,
A light source that emits laser light and a light receiving element that can receive at least a part of the laser light emitted from the light source, and irradiates the plurality of leads of the electronic component held by the nozzle with the laser light And a laser recognition device for detecting the shape of each of the plurality of leads,
The base of the lead that is connected to the main body portion from the first state in which the tip portion of the lead is located inside the opening to the second state in which the bent portion provided in the lead is located inside the opening. A control device for determining a movement path of the nozzle holding the main body based on a detection result of the laser recognition device , so that an end portion changes to a third state located inside the opening;
A drive device for moving the nozzle holding the main body based on the movement path determined by the control device;
The moving path includes an electronic component mounting apparatus including a path in which the nozzle moves in a direction parallel to the surface of the substrate while moving in a first direction parallel to a first axis perpendicular to the surface of the substrate.
前記屈曲部は、前記先端部と前記基端部との間において前記基板の表面と平行な面内の第2軸と平行な第2方向に突出するように設けられ、
前記移動経路は、前記第1状態から前記第2状態に変化するように前記ノズルが前記第1方向に移動しながら前記第2方向の反対の第3方向に移動する第1経路と、前記第2状態から前記第3状態に変化するように前記ノズルが前記第1方向に移動しながら前記第2方向に移動する第2経路と、を含む請求項1に記載の電子部品実装装置。
The bent portion is provided so as to protrude in a second direction parallel to a second axis in a plane parallel to the surface of the substrate between the distal end portion and the base end portion,
The movement path includes a first path in which the nozzle moves in the first direction so as to change from the first state to the second state, and moves in a third direction opposite to the second direction; The electronic component mounting apparatus according to claim 1, further comprising: a second path in which the nozzle moves in the second direction while moving in the first direction so as to change from the second state to the third state.
前記第1状態から前記第3状態への変化のための前記ノズルの移動期間の少なくとも一部において、前記先端部と前記基端部とを結ぶ仮想的な第1直線と前記リードとの間を前記開口の中心が通るように、前記移動経路が決定される請求項2に記載の電子部品実装装置。   Between at least a part of the movement period of the nozzle for the change from the first state to the third state, between a virtual first straight line connecting the tip portion and the base end portion and the lead. The electronic component mounting apparatus according to claim 2, wherein the movement path is determined so that the center of the opening passes. 前記第1経路と前記第2経路とは、前記基板の表面と平行な面内においてその移動距離が一致する請求項3に記載の電子部品実装装置。   4. The electronic component mounting apparatus according to claim 3, wherein the first path and the second path have the same movement distance in a plane parallel to the surface of the substrate. 前記移動経路は、前記リードの先端部が前記開口の中心に位置する状態から前記リードが前記開口のエッジに接触する状態に変化するように、前記ノズルが前記第2軸と平行な方向に移動せずに前記第1方向に移動する経路を含み、
前記リードが前記開口のエッジに接触した後、前記第2軸と平行な方向への前記ノズルの移動が開始される請求項3に記載の電子部品実装装置。
The movement path is such that the nozzle moves in a direction parallel to the second axis so that the lead changes from a state where the tip of the lead is positioned at the center of the opening to a state where the lead contacts the edge of the opening. A path that travels in the first direction without
The electronic component mounting apparatus according to claim 3, wherein the nozzle starts to move in a direction parallel to the second axis after the lead contacts the edge of the opening.
前記第2軸と平行であり前記屈曲部を通る仮想的な第2直線と前記屈曲部との第1交点と前記第2直線と前記第1直線との第2交点との中心を前記開口の中心が通るように、前記移動経路が決定される請求項3又は請求項5に記載の電子部品実装装置。   The center of the first intersection of the imaginary second straight line passing through the bent portion and the second bent axis and the bent portion, and the second intersection of the second straight line and the first straight line is parallel to the second axis. The electronic component mounting apparatus according to claim 3, wherein the movement path is determined so that the center passes. 前記移動経路は、前記第1軸に対して傾斜する前記先端部と前記屈曲部との間の前記リードの第1部分と、前記第1直線と、前記第2軸と平行であり前記屈曲部を通る仮想的な第2直線とによって形成される三角形において、前記第1直線と前記第1部分との間の頂点と前記第2直線の中点とを結ぶ第1中線、及び前記第1軸に対して傾斜する前記屈曲部と前記基端部との間の前記リードの第2部分と、前記第1直線と、前記第2直線とによって形成される三角形において、前記第1直線と前記第2部分との間の頂点と前記第2直線の中点とを結ぶ第2中線の少なくとも一部を含む請求項3〜請求項6のいずれか一項に記載の電子部品実装装置。   The movement path is parallel to the first portion of the lead, the first straight line, and the second axis between the distal end portion and the bent portion inclined with respect to the first axis, and the bent portion. In a triangle formed by a virtual second straight line passing through the first straight line connecting the vertex between the first straight line and the first portion and the midpoint of the second straight line, and the first In a triangle formed by the second portion of the lead between the bent portion and the base end portion inclined with respect to the axis, the first straight line, and the second straight line, the first straight line and the The electronic component mounting apparatus according to any one of claims 3 to 6, including at least a part of a second middle line connecting a vertex between the second part and a midpoint of the second straight line. 本体部と前記本体部に接続される複数のリードとを有する電子部品を、表面に開口が設けられた基板に実装する電子部品実装方法であって、
ノズルで前記本体部を保持するステップと、
前記ノズルに保持された前記電子部品の複数の前記リードにレーザ光を照射して、前記レーザ光の少なくとも一部を受光して、複数の前記リードのそれぞれの形状を検出するステップと、
前記リードの先端部が前記開口の内側に位置する第1状態から、前記リードに設けられた屈曲部が前記開口の内側に位置する第2状態を経て、前記本体部と結ばれる前記リードの基端部が前記開口の内側に位置する第3状態に変化するように、前記リードの形状の検出結果に基づいて、前記本体部を保持した前記ノズルの移動経路を決定するステップと、
決定された前記移動経路に基づいて、前記本体部を保持した前記ノズルを移動して、前記開口に前記リードを挿入するステップと、を含み、
前記移動経路は、前記ノズルが前記基板の表面と垂直な第1軸と平行な第1方向に移動しながら前記基板の表面と平行な方向に移動する経路を含む電子部品実装方法。
An electronic component mounting method for mounting an electronic component having a main body and a plurality of leads connected to the main body on a substrate having an opening on a surface thereof,
Holding the body with a nozzle;
Irradiating a plurality of the leads of the electronic component held by the nozzle with a laser beam, receiving at least a part of the laser beam, and detecting a shape of each of the plurality of leads;
The base of the lead that is connected to the main body portion from the first state in which the tip portion of the lead is located inside the opening to the second state in which the bent portion provided in the lead is located inside the opening. Determining a movement path of the nozzle holding the main body based on the detection result of the shape of the lead so that the end portion changes to a third state located inside the opening;
Moving the nozzle holding the main body based on the determined movement path, and inserting the lead into the opening, and
The electronic component mounting method, wherein the moving path includes a path in which the nozzle moves in a direction parallel to the surface of the substrate while moving in a first direction parallel to a first axis perpendicular to the surface of the substrate.
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