JP6222666B2 - Mg−Si系熱電変換材料及びその製造方法、熱電変換用焼結体、熱電変換素子、並びに熱電変換モジュール - Google Patents
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Description
(AはAl、Bi、P、Ga、As、In、Ag、Cu、Au、Ni、Fe、Mn、Co、Ta、Nd、Nb、及びPbよりなる群から選ばれる1種以上の元素を示す。x、y、zは0.1≦x≦3.0、0.1≦y≦3.0、0≦z≦3.0、0.2≦x+y+z≦5.0の条件を満たす。a、bは正数であり、a+b=x+y+zの条件を満たす。)
で表されるMg−Si系熱電変換材料。
[2] 上記[1]記載のMg−Si系熱電変換材料を焼結してなる熱電変換用焼結体。
[3] 上記[2]記載の熱電変換用焼結体からなる熱電変換部と、該熱電変換部に設けられた第1電極及び第2電極とを備える熱電変換素子。
[4] 上記[3]記載の熱電変換素子を備える熱電変換モジュール。
[5] Mg、Si、Sb、及びZnを含有し、Sb及びZnの含有量がそれぞれ原子量比で0.1〜3.0at%であり、Mg及びSi以外の元素の含有量の合計が原子量比で0.2〜5.0at%である組成原料を加熱溶融する工程を含むMg−Si系熱電変換材料の製造方法。
本発明に係るMg−Si系熱電変換材料の製造方法は、Mg、Si、Sb、及びZnを含有する組成原料を加熱溶融する工程を含む。
また、Sb、Zn等の元素をMg2Si結晶構造中のMg又はSiの一部と置換・固溶させるためには、Mg及びSi以外の元素の含有量の合計は原子量比で0.2〜5.0at%であることが好ましく、0.2〜4.0at%であることがより好ましく、0.2〜3.0at%であることがさらに好ましく、0.5〜2.5at%であることが特に好ましく、1.0〜2.0at%であることが最も好ましい。
加熱溶融の際の圧力条件としては、大気圧でもよいが、安全性を考慮すれば例えば1.33×10−3Pa程度の減圧条件が好ましい。
本発明に係るMg−Si系熱電変換材料は、上記の製造方法によって製造されるものである。このMg−Si系熱電変換材料は、例えば、化学組成式:Mg66.7−aSi33.3−bSbxZnyAzで表される。
ここで、Aは上記の任意元素(Al、Bi、P、Ga、As、In、Ag、Cu、Au、Ni、Fe、Mn、Co、Ta、Nd、Nb、及びPbよりなる群から選ばれる1種以上の元素)を示す。x、y、zは0.1≦x≦3.0、0.1≦y≦3.0、0≦z≦3.0、0.2≦x+y+z≦5.0の条件を満たす。a、bは正数であり、a+b=x+y+zの条件を満たす。x、y、zの範囲は、0.1≦x≦2.0、0.1≦y≦2.0、0≦z≦2.0であることが好ましく、0.1≦x≦1.5、0.1≦y≦1.5、0≦z≦1.5であることがより好ましく、0.5≦x≦1.0、0.5≦y≦1.0、0≦z≦0.5であることがさらに好ましい。また、x+y+zの範囲は、0.2≦x+y+z≦4.0であることが好ましく、0.2≦x+y+z≦3.0であることがより好ましく、0.5≦x+y+z≦2.5であることがさらに好ましく、1.0≦x+y+z≦2.0であることが特に好ましい。
なお、SbはMg2Si結晶構造中のSiサイトに置換し、ZnはMg2Si結晶構造中のMgサイトに置換すると考えられるため、任意元素Aを含まない場合の化学組成式はMg66.7−ySi33.3−xSbxZnyで表されると推測される。
本発明に係る熱電変換用焼結体は、本発明に係るMg−Si系熱電変換材料を焼結してなるものである。
また、焼結温度は600〜1000℃が好ましい。焼結温度が600℃未満である場合、十分な密度を有する焼結体を得ることが難しく、強度が不足する虞がある。一方、焼結温度が1000℃を超える場合、焼結体に損傷が生じるばかりでなく、Mgが急激に揮発して飛散する虞がある。
また、焼結は減圧下且つ好ましくは不活性ガス雰囲気下で行われる。
本発明に係る熱電変換素子は、上記の熱電変換用焼結体からなる熱電変換部と、該熱電変換部に設けられた第1電極及び第2電極とを備えるものである。この熱電変換素子は、安定して高い熱電変換性能を発揮でき、風化せず、耐久性に優れているため、安定性及び信頼性に優れたものである。
60.36質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、34.87質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、2.30質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)、及び2.47質量部のZn(高純度化学研究所製、純度:99.9%、大きさ:直径150μm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は0.5at%であり、Znの含有量は1.0at%である。
焼結温度:840℃
圧力:30.0MPa
昇温レート:300℃/分×2分(〜600℃)
100℃/分×2分(600〜800℃)
10℃/分×4分(800〜840℃)
0℃/分×5分(840℃)
冷却条件:真空放冷
雰囲気:Ar 60Pa(冷却時は真空)
図2(a)、(b)から分かるように、ボイドの存在しない緻密な焼結体を得ることができた。
63.39質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、及び36.61質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
62.24質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、35.42質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、及び2.34質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は0.5at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
62.37質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、36.58質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、及び1.05質量部のAl(フルウチ化学製、純度:99.99%、大きさ:10mm×15mm×0.5mmのチップ状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のAlの含有量は1.0at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
61.45質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、36.04質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、及び2.52質量部のZn(高純度化学研究所製、純度:99.9%、大きさ:直径150μm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のZnの含有量は1.0at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
61.25質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、35.38質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、2.34質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)、及び1.04質量部のAl(フルウチ化学製、純度:99.99%、大きさ:10mm×15mm×0.5mmのチップ状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は0.5at%であり、Alの含有量は1.0at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
ワイヤーソー(ムサシノ電子製、「CS−203」)を用いて、実施例1、比較例2、5で得られた焼結体から2.0mm×2.0mm×8.0mmの試料をそれぞれ切り出し、クラックが発生した試料の数とクラックが発生しなかった試料の数とを確認した。また、この確認結果から歩留まりを算出した。結果を表1に示す。
(ゼーベック係数の算出)
ワイヤーソー(ムサシノ電子製、「CS−203」)を用いて、実施例1、比較例1〜5で得られた焼結体から2.0mm×2.0mm×8.0mmの試料を切り出した。試料の表面を軽く研磨した後、ゼーベック係数測定装置(アルバック理工製、「ZEM−2」)を用いて以下のようにゼーベック係数を測定した。
上記と同様に、上下電極及びプローブを用いた四端子法によって抵抗値を測定し、プローブ間の距離と試料の断面積とから抵抗率を算出し、その逆数から電気伝導率を算出した。結果を図4に示す。
上記のようにして算出したゼーベック係数及び電気伝導率を用いてパワーファクターを算出した。結果を図5に示す。
ワイヤーソー(ムサシノ電子製、「CS−203」)を用いて、実施例1、比較例1〜5で得られた焼結体から8.0mm×8.0mm×1.0mmの試料を切り出した。試料の表面を軽く研磨した後、8mm×8mmの一方の面の隅にR熱電対を銀ペーストで接着した。そして、この試料について、レーザーフラッシュ法熱伝導率測定装置(アルバック理工製、「TC・7000H」)を用いて以下のように熱伝導率を測定した。
上記のようにして算出したゼーベック係数、電気伝導率、及び熱伝導率を用いて無次元性能指数(ZT)を算出した。結果を図7に示す。
また、Mg、Si以外の元素としてAl又はZnを含有する比較例3、4の焼結体は、比較例1の焼結体と比較してゼーベック係数の絶対値が大きく、熱伝導率の値が小さかったものの、電気伝導率の値が小さく、その結果、無次元性能指数はそれほど向上しなかった。
また、Mg、Si以外の元素としてSb及びAlを含有する比較例5の焼結体は、比較例2の焼結体と比較して熱伝導率の値が同程度であったものの、パワーファクターの値が小さく、その結果、873Kにおける無次元性能指数は0.69にとどまった。
ワイヤーソー(ムサシノ電子製、「CS−203」)を用いて、実施例1、比較例2〜5で得られた焼結体から10.0mm×10.0mm×2.0mmの試料を切り出した。自動研磨装置(ムサシノ電子製、「MA−150」)を用いて試料の表面酸化膜を除去した後、四探針測定装置(共和理研製、「K−503RS」)を用いて以下のように電気抵抗率を測定した。
61.29質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、35.14質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、2.32質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)、及び1.25質量部のZn(高純度化学研究所製、純度:99.9%、大きさ:直径150μm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は0.5at%であり、Znの含有量は0.5at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
59.31質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、33.74質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、4.52質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)、及び2.43質量部のZn(高純度化学研究所製、純度:99.9%、大きさ:直径150μm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は1.0at%であり、Znの含有量は1.0at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
60.22質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、34.00質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、4.56質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)、及び1.41質量部のZn(高純度化学研究所製、純度:99.9%、大きさ:直径150μm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は1.0at%であり、Znの含有量は0.5at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体を得た。
61.14質量部のMg(日本サーモケミカル製、純度:99.93%、大きさ:1.4mm×0.5mmのチップ状)、34.26質量部のSi(MEMC Electronic Materials製、純度:99.9999999%、大きさ:直径4mm以下の粒状)、及び4.59質量部のSb(エレクトロニクス アンド マテリアルズ コーポレーション製、純度:99.9999%、大きさ:直径5mm以下の粒状)を混合し、組成原料を得た。この組成原料中のSbの含有量は1.0at%である。そして、この組成原料を用いて実施例1と同様にして焼結体の製造を試みたが、クラックが発生し、焼結体を得ることができなかった。
ワイヤーソー(ムサシノ電子製、「CS−203」)を用いて、実施例2〜4で得られた焼結体から8.0mm×8.0mm×1.0mmの試料2本と、2.0mm×2.0mm×12.0mmの試料3本とをそれぞれ切り出し、クラックの有無を確認した。その結果、試料にはクラックが全く発生していなかった。
実施例1、比較例1〜5と同様に、実施例2〜4で得られた焼結体についてゼーベック係数、電気伝導率、及び熱伝導率を求め、無次元性能指数(ZT)を算出した。結果を図9に示す。
11a、11b グラファイト製パンチ
Claims (5)
- 化学組成式:Mg66.7−aSi33.3−bSbxZnyAz
(AはAl、Bi、P、Ga、As、In、Ag、Cu、Au、Ni、Fe、Mn、Co、Ta、Nd、Nb、及びPbよりなる群から選ばれる1種以上の元素を示す。x、y、zは0.1≦x≦3.0、0.1≦y≦3.0、0≦z≦3.0、0.2≦x+y+z≦5.0の条件を満たす。a、bは正数であり、a+b=x+y+zの条件を満たす。)
で表されるMg−Si系熱電変換材料。 - 請求項1記載のMg−Si系熱電変換材料を焼結してなる熱電変換用焼結体。
- 請求項2記載の熱電変換用焼結体からなる熱電変換部と、該熱電変換部に設けられた第1電極及び第2電極とを備える熱電変換素子。
- 請求項3記載の熱電変換素子を備える熱電変換モジュール。
- Mg、Si、Sb、及びZnを含有し、Sb及びZnの含有量がそれぞれ原子量比で0.1〜3.0at%であり、Mg及びSi以外の元素の含有量の合計が原子量比で0.2〜5.0at%である組成原料を加熱溶融する工程を含むMg−Si系熱電変換材料の製造方法。
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