JP6197347B2 - 電子機器及び物理量検出装置 - Google Patents
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Description
本適用例に係る物理量検出回路は、物理量に対応する検出信号がデジタル化された検出データに基づいて、前記物理量の大きさに応じた演算データを生成する演算処理を行う演算処理部を含み、前記演算処理は、Nを2以上の整数とした場合、前記検出データ、および前記演算処理の一部を行って得られたデータ、の少なくとも一方に含まれるN個のデータ値の平均値を計算する平均化処理を含む。
上記適用例に係る物理量検出回路において、前記演算処理部は、前記検出信号の前記デジタル化のサンプリングレートの1/Nのレートで前記演算データを生成するようにしてもよい。
上記適用例に係る物理量検出回路は、前記Nを設定するレジスターを含むようにしてもよい。
上記適用例に係る物理量検出回路において、前記演算処理部は、前記演算処理の最後に前記平均化処理を行うようにしてもよい。
上記適用例に係る物理量検出回路において、前記演算処理は、前記平均化処理により生成されたデータに対するオフセット補正処理及び感度補正処理を含むようにしてもよい。
本適用例に係る物理量検出装置は、物理量に対応する検出信号を出力するセンサー素子と、上記のいずれかの物理量検出回路と、を含む。
本適用例に係る電子機器は、上記のいずれかの物理量検出回路を含む。
本適用例に係る電子機器は、上記の物理量検出回路と、前記物理量検出回路が出力する前記演算データに基づいて情報処理を行う情報処理装置と、を含み、前記物理量検出回路における前記検出信号のサンプリングレートf1は、前記情報処理装置による前記演算データのサンプリングレートf2よりも高い。
上記適用例に係る電子機器において、前記Nは、下記式(1)であってもよい。
N=round(f1/f2)・・・(1)
ただし、roundは四捨五入して整数値化する関数である。
本適用例に係る移動体は、上記のいずれかの物理量検出回路を含む。
図1は、本実施形態の情報処理システムあるいは電子機器の構成例を示す図である。図1に示すように、本実施形態の情報処理システム(電子機器)3は、物理量検出装置1及び情報処理装置2を含む。
N=round(f1/f2)・・・(1)
ただし、roundは小数点以下を四捨五入して整数値化する関数である。
図11は、本実施形態の電子機器の機能ブロック図である。また、図12は、本実施形態の電子機器の一例であるスマートフォンの外観の一例を示す図である。
図13は、本実施形態の移動体の一例を示す図(上面図)である。図13に示す移動体400は、物理量検出装置410,420,430、コントローラー440,450,460、バッテリー470、ナビゲーション装置480を含んで構成されている。なお、本実施形態の移動体は、図13の構成要素(各部)の一部を省略又は変更してもよいし、他の構成要素を付加した構成としてもよい。
Claims (8)
- 物理量に対応する検出信号がデジタル化された検出データに基づいて、前記物理量の大きさに応じた演算データを生成する演算処理を行う演算処理部を含む物理量検出回路と、
前記物理量検出回路が出力する前記演算データに基づいて情報処理を行う情報処理装置と、
を含み、
前記物理量検出回路における前記検出信号の前記デジタル化のサンプリングレートf1は、前記情報処理装置による前記演算データのサンプリングレートf2よりも高く、
前記演算処理は、Nを2以上の整数とした場合、前記検出データ、および前記演算処理の一部を行って得られたデータ、の少なくとも一方に含まれるN個のデータ値の平均値を計算する平均化処理を含む、電子機器。 - 請求項1において、
前記演算処理部は、
前記サンプリングレートf1の1/Nのレートで前記演算データを生成する、電子機器。 - 請求項1又は2において、
前記Nを設定するレジスターを含む、電子機器。 - 請求項1乃至3のいずれか一項において、
前記演算処理部は、
前記演算処理の最後に前記平均化処理を行う、電子機器。 - 請求項1乃至4のいずれか一項において、
前記演算処理は、前記平均化処理により生成されたデータに対するオフセット補正処理及び感度補正処理を含む、電子機器。 - 請求項1乃至5のいずれか一項において、
前記物理量に対応する検出信号を出力するセンサー素子を含む、電子機器。 - 請求項1乃至6のいずれか一項において、
前記Nは、下記式(1)である、電子機器。
N=round(f1/f2)・・・(1)
ただし、roundは小数点以下を四捨五入して整数値化する関数である。 - 物理量に対応する検出信号を出力するセンサー素子と、
前記検出信号がデジタル化された検出データに基づいて、前記物理量の大きさに応じた演算データを生成する演算処理を行う演算処理部を含む物理量検出回路と、
を備え、前記演算データに基づいて情報処理を行う外部の情報処理装置に対して前記演算データを出力する物理量検出装置であって、
前記検出信号の前記デジタル化のサンプリングレートf1は、前記情報処理装置による前記演算データのサンプリングレートf2よりも高く、
前記演算処理は、Nを2以上の整数とした場合、前記検出データ、および前記演算処理の一部を行って得られたデータ、の少なくとも一方に含まれるN個のデータ値の平均値を計算する平均化処理を含む、物理量検出装置。
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US20170219509A1 (en) * | 2016-02-03 | 2017-08-03 | Draeger Medical Systems, Inc. | Determining Electrophysiological Electrode Quality |
US10024757B1 (en) | 2017-05-04 | 2018-07-17 | United Launch Alliance, L.L.C. | Non-uniform sampling in bandwidth constrained data acquisition systems |
JP7293839B2 (ja) * | 2019-04-23 | 2023-06-20 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量検出回路、物理量センサー、電子機器、移動体及び物理量センサーの故障診断方法 |
JP7322718B2 (ja) * | 2020-01-17 | 2023-08-08 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量検出回路、物理量センサー、電子機器、移動体及び物理量検出回路の動作方法 |
DE102020206919A1 (de) * | 2020-06-03 | 2021-12-09 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Sensorsystem, Verfahren zum Betreiben eines Sensorsystems |
JP2022104345A (ja) * | 2020-12-28 | 2022-07-08 | セイコーエプソン株式会社 | 振動整流誤差補正装置、センサーモジュール及び振動整流誤差補正方法 |
Family Cites Families (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4561065A (en) * | 1982-02-23 | 1985-12-24 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Arithmetic processing device using sampled input data and several previous output data |
DE3484701D1 (de) * | 1983-10-05 | 1991-07-18 | Nec Corp | Digitale signalverarbeitungseinrichtung mit einem digitalen filter. |
US5121446A (en) * | 1989-02-10 | 1992-06-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus capable of obtaining multi-level data |
JP2931616B2 (ja) * | 1990-03-14 | 1999-08-09 | 株式会社東芝 | 赤外線撮像装置 |
US5371842A (en) * | 1990-04-19 | 1994-12-06 | Bioscience Analysis Software Ltd. | System for real-time display of the waveshape of an incoming stream of digital data samples |
JP2791519B2 (ja) * | 1991-11-20 | 1998-08-27 | 三菱電機株式会社 | 2進データ発生回路およびa/d変換器 |
JP3213661B2 (ja) * | 1993-11-25 | 2001-10-02 | 能美防災株式会社 | 火災検出装置 |
JP3278525B2 (ja) * | 1994-02-28 | 2002-04-30 | 株式会社東芝 | 周波数データ変換装置およびメータ装置 |
JP3423418B2 (ja) | 1994-06-30 | 2003-07-07 | 松下電器産業株式会社 | 移動体旋回角度算出装置 |
JPH1062257A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-03-06 | Nippon Avionics Co Ltd | 赤外線2次元センサーカメラシステムの自動画素欠陥補正装置 |
JP3757546B2 (ja) * | 1997-05-21 | 2006-03-22 | 株式会社村田製作所 | 外力計測装置 |
FR2791167B1 (fr) * | 1999-03-17 | 2003-01-10 | Matra Nortel Communications | Procedes de codage, de decodage et de transcodage audio |
US6505143B1 (en) * | 2000-01-20 | 2003-01-07 | General Electric Company | Machine protection system for rotating equipment and method |
US6671336B1 (en) | 2000-05-16 | 2003-12-30 | Motorola, Inc. | Gain controller for circuit having in-phase and quadrature channels, and method |
US6317071B1 (en) | 2000-08-22 | 2001-11-13 | Lucent Technologies Inc. | Method and apparatus for analog-to-digital conversion by combining digital sample values |
US6469492B1 (en) * | 2001-05-09 | 2002-10-22 | Fluke Corporation | Precision RMS measurement |
JP4032681B2 (ja) * | 2001-08-27 | 2008-01-16 | 株式会社デンソー | 同期検波方法及び装置並びにセンサ信号検出装置 |
WO2003069783A1 (fr) * | 2002-02-14 | 2003-08-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | Appareil de reception, systeme de communication utilisant ledit appareil de reception et systeme de conversion de vitesse d'echantillonnage |
US6856338B2 (en) * | 2002-08-23 | 2005-02-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
DE102004044467A1 (de) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Verarbeiten von Sensordaten |
JP4128191B2 (ja) * | 2005-05-19 | 2008-07-30 | 国立大学法人名古屋大学 | デジタルデータ記録装置、及び、そのサンプリングデータ特定方法並びにサンプリングデータ特定用プログラム |
DE102006012657A1 (de) * | 2006-03-20 | 2007-09-27 | Siemens Ag | Steuergerät mit einem Regler zur Regelung des elektrischen Spulenstroms eines Regelmagnetventils |
JP2007327943A (ja) | 2006-05-09 | 2007-12-20 | Seiko Epson Corp | 検出装置、ジャイロセンサ及び電子機器 |
JP4274252B2 (ja) * | 2007-01-24 | 2009-06-03 | 株式会社デンソー | Pwm出力型センサ回路 |
JP5365173B2 (ja) | 2008-02-29 | 2013-12-11 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量測定装置および電子機器 |
JP4577434B2 (ja) * | 2008-09-03 | 2010-11-10 | 株式会社デンソー | 周波数分割多重伝送方法及び物理量検出装置 |
JP4894840B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2012-03-14 | 株式会社デンソー | 物理量検出装置 |
JP2010151669A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Panasonic Corp | 物理量検出回路、物理量センサ装置 |
JP2012026825A (ja) * | 2010-07-22 | 2012-02-09 | Seiko Epson Corp | センシング装置、電子機器 |
JP5975601B2 (ja) * | 2011-02-25 | 2016-08-23 | セイコーエプソン株式会社 | 検出回路、物理量検出装置、角速度検出装置、集積回路装置及び電子機器 |
JP5752441B2 (ja) * | 2011-02-25 | 2015-07-22 | セイコーエプソン株式会社 | 駆動回路、物理量検出装置、角速度検出装置、集積回路装置及び電子機器 |
JP5638419B2 (ja) * | 2011-02-25 | 2014-12-10 | セイコーエプソン株式会社 | 信号処理回路、物理量検出装置、角速度検出装置、集積回路装置及び電子機器 |
US8712951B2 (en) * | 2011-10-13 | 2014-04-29 | National Instruments Corporation | Determination of statistical upper bound for estimate of noise power spectral density |
US8943014B2 (en) * | 2011-10-13 | 2015-01-27 | National Instruments Corporation | Determination of statistical error bounds and uncertainty measures for estimates of noise power spectral density |
US8706657B2 (en) * | 2011-10-13 | 2014-04-22 | National Instruments Corporation | Vector smoothing of complex-valued cross spectra to estimate power spectral density of a noise signal |
CN106679642A (zh) * | 2012-08-22 | 2017-05-17 | 松下知识产权经营株式会社 | 物理量传感器 |
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ITTO20130645A1 (it) * | 2013-07-30 | 2015-01-31 | St Microelectronics Srl | Metodo e sistema di calibrazione in tempo reale di un giroscopio |
US10018468B2 (en) * | 2013-11-14 | 2018-07-10 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Physical-quantity detection circuit, physical-quantity sensor, and electronic device |
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