JP6054578B2 - 差動位相コントラストイメージング装置のx線管のためのアノード - Google Patents
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- H01J2235/086—Target geometry
Description
3 電子ソース
5 電子ビーム
7 ソース格子
9 ソース格子の壁
11 検査ボリューム
13 関心対象
15 第一/位相シフト格子
17 第一の格子の壁
19 第二/位相アナライザ格子
21 第二の格子の壁
23 検出器
25 アクチュエータ
27 マイクロプロセッサ
29 X-ビーム検出器評価ユニット
31 コントローラ
33 ディスプレイ
35 メモリ
37 X線管
39 アノード
41 アノードディスク
43 電子ソース
45 電子加速及びフォーカシング構成
47 アノード要素
49 コイル
51 焦点トラック領域
53 焦点
55 変調吸収グリッド
57 壁部分
59 アノードディスクの円周部
61 回転シャフト
63 衝突方向
65 放出方向
67 スリット
69 回転方向
71 アノード表面
73 変調方向
75 X線管制御ユニット
77 X線検出器評価ユニット
79 レジスタ
81 再構成ユニット
83 デマルチプレクサ
85 検出器信号
87 検出器ユニット
89 患者テーブルの基礎
91 制御部
93 ディスプレイ
95 患者テーブル
100 X線イメージング装置
Claims (15)
- X線管のためのアノードであって、
加速電子の衝突の際、前記電子の衝突方向を横切る放出方向においてX線を放出するように構成される、円形の焦点トラック領域を有するアノードディスクと、
リング状の変調吸収グリッドと
を有し、
前記変調吸収グリッドは、前記焦点トラック領域を囲み、
前記変調吸収グリッドは、X線吸収物質の壁部分を有し、前記壁部分は、前記放出方向において前記焦点トラック領域から放出されるX線を吸収するように構成され、
前記変調吸収グリッドは、隣接する壁部分の間にスリットを有し、前記スリットは、100μmより小さなスペーシングにおいて、前記変調吸収グリッドの円周方向に沿って構成され、前記スリットは、円周方向において、50μmより小さな幅をもつ、
アノード。 - 前記アノードディスク及び前記変調吸収グリッドは、単一のピースにおいて一体化される、請求項1に記載のアノード。
- 前記スリットは、前記アノードディスクの当接面とほぼ直角になる縦軸により縦方向になる、請求項1又は2に記載のアノード。
- 前記変調吸収グリッドにおける前記スリットは、等距離を隔てて構成される、請求項1乃至3の何れか一項に記載のアノード。
- 前記変調吸収グリッドは、歪みに対して、前記壁部分を機械的に強化するための補強構造を有し、前記補強構造は、前記スリットを少なくとも部分的にブリッジングし、前記壁部分より、少なくとも50%少ないX線吸収を有するように構成される、請求項1乃至4の何れか一項に記載のアノード。
- 電子ソースと、
電子加速及びフォーカシング構成と、
請求項1乃至4の何れか一項に記載のアノードと
を有し、
前記電子ソースは、自由電子を生成するように構成され、
前記電子加速及びフォーカシング構成は、前記衝突方向において前記自由電子を加速し、前記アノードの前記円形の焦点トラック領域上における焦点スポットにおいて前記自由電子をフォーカスするように構成され、
前記電子加速及びフォーカシング構成並びに前記アノードは、前記焦点スポットが、前記変調吸収グリッドにおける、隣接するスリットの間の前記スペーシングより広い幅を持つように構成される、
X線管。 - 前記スリットは、前記衝突方向とほぼ平行になる縦軸により縦方向になる、請求項6に記載のX線管。
- 前記アノードは、回転軸のまわりで回転させられるように構成され、前記スリットは、前記回転軸とほぼ平行になる縦軸により縦方向になる、請求項6又は7に記載のX線管。
- 請求項6乃至8の何れか一項に記載のX線管と、
X線検出器と、
第一のグリッドと、
第二のグリッドと
を有し、
前記X線管及び前記X線検出器は、検査ボリュームの両側に構成され、
前記第一のグリッド及び前記第二のグリッドは、前記検査ボリュームと前記X線検出器との間に構成される、
差動位相コントラストイメージング装置。 - 前記第一及び前記第二のグリッドの両方は、前記X線検出器に対して静止位置において固定される、請求項9に記載の装置。
- X線管制御ユニット及びX線検出器評価ユニットを更に有し、
前記X線管制御ユニットは、前記X線管の前記アノードの回転速度を制御するように構成され、
前記X線検出器評価ユニットは、前記X線管制御ユニットから前記X線管の前記アノードの回転位相及び前記回転速度の少なくとも一つに関する回転情報を受信し、前記X線検出器からイメージングデータを受信し、前記回転情報に基づいて前記イメージングデータを処理するように構成される、
請求項9又は10に記載の装置。 - 前記X線検出器評価ユニットは、複数のレジスタを備えるデマルチプレクサユニットを有する、請求項11に記載の装置。
- 前記X線検出器評価ユニットは、前記回転情報に依存して、前記複数のレジスタの一つにおける前記イメージングデータの信号をソートし、累算するように構成される、請求項12に記載の装置。
- 前記X線検出器評価ユニットは、100nsより短いサンプリングレートで、前記イメージングデータの信号をサンプリングするように構成される、請求項13に記載の装置。
- 前記X線検出器は、フォトンカウンティング検出器ピクセルを有する、請求項9乃至14の何れか一項に記載の装置。
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