JP6041455B2 - 画像表示装置および画像表示装置の駆動方法 - Google Patents

画像表示装置および画像表示装置の駆動方法 Download PDF

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本発明は、例えば有機ELディスプレイ装置等の画像表示装置に関する。
従来から、発光層に注入された正孔と電子とが再結合することによって光を生じる機能を有する有機EL(Electroluminescence)素子を用いた画像表示装置が提案されている。
この種の画像表示装置では、例えばアモルファスシリコンや多結晶シリコン等で形成された薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor : 以下「TFT」という)や有機EL素子の一つである有機発光ダイオード(Organic Light Emitting Diode : 以下「OLED」という)などが各画素を構成しており、各画素がマトリックス状に配置されている。各画素における発光輝度の制御は、例えば、各画素の有機発光ダイオードに流れる電流量を駆動トランジスタによって調整することにより行われている(例えば、特許文献1参照)。このとき、駆動トランジスタは、有機発光ダイオードに直列に接続され、駆動トランジスタに流れる電流を調整することにより、有機発光ダイオードに流れる電流を制御している。
特開2005−099715号公報
しかし、駆動トランジスタは、比較的大きな電流が流れるため、時間が経つと特性が劣化する、いわゆる経時劣化が大きくなる。この場合、画素間で駆動トランジスタの特性バラツキが大きくなり、例えば、画素間で駆動トランジスタの閾値電圧(Vth)のバラツキが大きくなる。このように閾値電圧のバラツキが大きいと、各駆動トランジスタに対して閾値電圧の補償をしても、そのバラツキを十分に補償できず、画素間で発光輝度にムラが生じる可能性がある。
よって、画素間の輝度ムラがより低減された画像表示装置が求められている。
本発明の一態様に係る画像表示装置の駆動方法は、発光ダイオードと、前記発光ダイオードを駆動する駆動トランジスタを含み、前記発光ダイオードに接続される第1の導電経路と、前記駆動トランジスタに接続される容量素子と、前記発光ダイオードに接続され、前記第1の導電経路とは異なる第2の導電経路と、を備えた複数の画素回路を有する画像表示装置の駆動方法において、前記容量素子の両端に前記駆動トランジスタの閾値電圧より高い第1電圧を印加する電圧印加工程と、前記第2の導電経路を介して前記発光ダイオードに逆バイアスを印加するように電荷を供給し、前記発光ダイオードに電荷を蓄積する電荷蓄積工程と、前記発光ダイオードと前記容量素子とを電気的に接続し、前記発光素子および前記容量素子に蓄積された電荷を放電することにより、前記容量素子の両端に印加される電圧を前記駆動トランジスタの閾値電圧に設定する第1設定工程と、前記容量素子の両端に印加される電圧を前記駆動トランジスタの前記閾値電圧よりも高い第2電圧に設定する第2設定工程と、前記第2電圧に基づいて前記駆動トランジスタを駆動することにより、前記発光ダイオードおよび前記第1の導電経路へ通電を行い、前記発光ダイオードを発光させる発光工程とを備える。
本発明の一態様に係る画像表示装置は、発光ダイオードと、前記発光ダイオードを駆動する駆動トランジスタを含み、前記発光ダイオードに接続される第1の導電経路と、前記駆動トランジスタに接続される容量素子と、前記発光ダイオードに接続され、前記第1の導電経路とは異なる第2の導電経路とを備えた複数の画素回路を有する。前記第2の導電経路を介して電流が流れることにより、前記発光ダイオードに逆バイアスが印加される。
本発明の一態様に係る画像表示装置によれば、画素間の輝度ムラがより低減された画像表示装置を実現することができる。
本発明の一態様に係る画像表示装置の駆動方法によれば、画像表示装置における画素間の輝度ムラを低減することができる。
本発明の第1の実施の形態による画像表示装置の1画素を構成する画素回路の回路図である。 有機EL素子を発光させる際の駆動波形を示すタイミングチャートである。 Cs初期化期間P1での画素回路における電流の流れを示す図である。 準備期間P2での画素回路における電流の流れを示す図である。 Vth補償期間P3での画素回路における電流の流れを示す図である。 書き込み期間P4での画素回路における電流の流れを示す図である。 素子初期化期間P5での画素回路における電流の流れを示す図である。 発光期間P6での画素回路における電流の流れを示す図である。 本発明の第2の実施の形態による画像表示装置の1画素を構成する画素回路の回路図である。 有機EL素子を発光させる際の駆動波形を示すタイミングチャートである。 Cs初期化期間P1での画素回路における電流の流れを示す図である。 準備期間P2での画素回路における電流の流れを示す図である。 Vth補償期間P3での画素回路における電流の流れを示す図である。 書き込み期間P4での画素回路における電流の流れを示す図である。 素子初期化期間P5での画素回路における電流の流れを示す図である。 発光期間P6での画素回路における電流の流れを示す図である。 画素回路群の構成例を示す模式的な図である。 画像表示装置の概観を示す模式的な図である。
以下に、添付の図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
(第1の実施の形態)
<画素回路の構成>
図1は、本発明の第1の実施の形態による画像表示装置の1画素を構成する画素回路の回路図である。図1に示すように、画素回路7Aは、有機EL素子(OLED)1、第1駆動トランジスタ2、閾値(Vth)補償用トランジスタ3、コンデンサ4、および第2駆動トランジスタ5を備える。
有機EL素子1は、有機物などで構成され、発光層を流れる電流の量(電流量)によって発光輝度が変化する発光素子である。この有機EL素子1は、アノード電極1aとカソード電極1bとを有する発光ダイオードであり、アノード電極1aは、給電線のうちで有機EL素子1の発光時に高電位側となる電源線としてのVDD線Lvdに対して電気的に接続される。一方、カソード電極1bは、給電線のうちで有機EL素子1の発光時に低電位側となる電源線としてのVSS線Lvsに対して第1駆動トランジスタ2を介して電気的に接続される。また、有機EL素子は、発光時と逆の電圧が印加されるとコンデンサとして機能する。そこで、図1では、これを、有機EL素子1の両電極間に接続された有機EL素子容量1c(以下、「素子コンデンサ1c」ともいう。)として等価的に表す。また、有機EL素子容量1cの容量(EL素子容量)を所定値Coとする。
第1駆動トランジスタ2は、有機EL素子1に対して電気的に直列に接続され、有機EL素子1における電流量を調整することで有機EL素子1の発光輝度を制御するトランジスタである。ここでは、第1駆動トランジスタ2は、キャリアが電子であるタイプ(n型)のMIS(Metal Insulator Semiconductor)構造を採用した電界効果トランジスタ(FET:Field Effect Transistor)の一種である薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)、すなわちn−MISFETTFTによって構成される。
この第1駆動トランジスタ2は、第1から第3電極2ds,2sd,2gを有している。第1電極2dsは、有機EL素子1のカソード電極1bに対して電気的に接続され、有機EL素子1が発光する際、すなわち有機EL素子1に対して順方向の電流が流れる際にドレイン電極(以下「ドレイン」と略称することもある)として機能する。一方、有機EL素子1に対して逆方向に電流が流れる際には、逆にソース電極(以下「ソース」と略称することもある)として機能する。また、第2電極2sdは、VSS線Lvsに対して電気的に接続され、有機EL素子1に対して順方向の電流が流れる際にソース電極(ソース)として機能する。一方、有機EL素子1に対して逆方向に電流が流れる際には、逆にドレイン電極(ドレイン)として機能する。更に、第3電極2gは、いわゆるゲート電極(以下「ゲート」と略称することもある)であり、コンデンサ4の一方の電極4aに対して電気的に接続される。
また、第1駆動トランジスタ2では、第3電極2gに印加される電位、より詳細には第1電極2dsまたは第2電極2sdと第3電極2gとの間(すなわちゲートとソースとの間)に印加される電圧値が調整されることで、第1電極2dsと第2電極2sdとの間(以下「第1−2電極間」とも称する)において流れる電流の量(電流量)が調整される。そして、この第3電極(ゲート)2gに印加される電位により、第1駆動トランジスタ2は、第1−2電極間(すなわちドレインとソースとの間)において電流が流れ得る状態(導通状態)と、電流が流れ得ない状態(非導通状態)とに選択的に設定される。
Vth補償用トランジスタ3は、第1駆動トランジスタ2が通電状態となる場合の、第1駆動トランジスタ2の第2電極2sdに対する第3電極2gの電位の下限値(所定の閾値電圧Vth)を検出するとともに、第1駆動トランジスタ2のゲート電圧を、閾値電圧Vth(以下「閾値Vth」と略称する)に調整するトランジスタである。なお、ここでは、Vth補償用トランジスタ3も、第1駆動トランジスタ2と同様にn−MISFETTFTによって構成される。
このVth補償用トランジスタ3は、第4から第6電極3ds,3sd,3gを有している。第4電極3dsは、第1駆動トランジスタ2の第1電極2dsと有機EL素子1のカソード電極1bとを電気的に接続する配線に対して導電可能に接続される。すなわち、第4電極3dsは、第1駆動トランジスタ2の第1電極2dsに対して電気的に接続される。また、第5電極3sdは、接続点T1において、第1駆動トランジスタ2の第3電極(ゲート)2gとコンデンサ4とを電気的に接続する配線に対して導電可能に接続される。すなわち、第1駆動トランジスタ2のゲート2gおよびコンデンサ4の一方の電極4aに対して電気的に接続される。更に、第6電極3gは、いわゆるゲート電極であり、走査信号線Lssに対して電気的に接続される。
また、Vth補償用トランジスタ3では、第6電極3gに印加される電位、より具体的には第4電極3dsまたは第5電極3sdと第6電極3gとの間(すなわちゲートとソースとの間)に印加される電圧値が調整されることで、第4電極3dsと第5電極3sdとの間(以下「第4−5電極間」とも称する)において流れる電流の量(電流量)が調整される。そして、この第6電極(ゲート)3gに印加される電位により、Vth補償用トランジスタ3は、第4−5電極間(ドレインとソースとの間)において電流が流れ得る状態(導通状態)と、電流が流れ得ない状態(非導通状態)とに選択的に設定される。
ここで、有機EL素子1は、電流値によって発光輝度が制御されるため、発光時における第1駆動トランジスタ2のゲート電圧のゆらぎに対して、発光輝度が敏感に変動する。特に、第1駆動トランジスタ2がアモルファスシリコンを用いて構成された場合には、第1駆動トランジスタ2ごとに閾値Vthが異なる傾向にある。これは、主に、第1駆動トランジスタ2のいわゆる製造バラツキと、画像表示装置を使用している間に個々の第1駆動トランジスタ2が経時変化してしまうことによるバラツキに起因する。よって、画素毎に異なる閾値Vthを補償する機能(Vth補償機能)を持たせないと、所望の発光輝度と実際の発光輝度との間に若干の乖離が生じ、結果として画素間で発光輝度のムラが生じてしまう。
そこで、Vth補償用トランジスタ3は、発光前において各画素ごとに第1駆動トランジスタ2のゲート電圧を閾値Vthに合わせることで、第1駆動トランジスタ2における閾値Vthのばらつきを補償するVth補償機能を実現するために設けられている。
コンデンサ4は、第1駆動トランジスタ2の第3電極2gに対して電気的に接続される第7電極4aと、画像信号線Lisに対して電気的に接続される第8電極4bとを備えて構成されている。なお、コンデンサ4の保持容量を所定値Csとする。
第2駆動トランジスタ5は、第9から第11電極5ds,5sd,5gを有している。第9電極5dsは、第1駆動トランジスタ2の第1電極2ds、Vth補償トランジスタ3の第4電極3ds、および有機EL素子1に対して電気的に接続される。第9電極5dsは、有機EL素子1に対して順方向の電流が流れる際にドレイン電極(ドレイン)として機能する。また、第10電極5sdは、VSS線Lvsに対して電気的に接続され、有機EL素子1に対して順方向の電流が流れる際にソース電極(ソース)として機能する。
さらに、第11電極5gは、いわゆるゲート電極(ゲート)であり、第10電極5sdに対して電気的に接続される。これにより、第2駆動トランジスタ5については、第10電極5sdに第9電極5dsよりも高い電位が印加されると、第10電極5sdから第9電極5dsに電流が流れる。一方、第9電極5dsに第10電極5sdより高い電位が印加されても、第9電極5dsから第10電極5sdに電流は流れない。
<有機EL素子の発光に関する駆動方法>
図2は、有機EL素子1を発光させる際の信号波形(駆動波形)を示すタイミングチャートである。図2では、横軸が時刻を示し、上から順に、VDD線Lvdに印加される電位(電位Vdd)、VSS線Lvsに印加される電位(電位Vss)、走査信号線Lssに印加される信号の電位(電位Vls)、画像信号線Lisに印加される信号の電位(電位Vlis)、の波形が示されている。
また、図2では、有機EL素子1を1回発光させるための駆動波形が示されており、1回の発光に係る期間は、時間順次に、Cs初期化期間P1(時刻t11〜t12)、準備期間P2(時刻t12〜t13)、Vth補償期間P3(時刻t13〜t14)、書込期間P4(時刻t14〜t15)、素子初期化期間P5(時刻t15〜t16)、および発光期間P6(時刻t16〜)を備えて構成される。なお、書込期間P4における電位Vlisは、各有機EL素子1の発光輝度によって決まる任意の値であるため、図2では、当該電位が存在し得る範囲に斜線ハッチングが便宜的に付されている。
図3から図8は、画像表示装置を駆動させる際に、画素回路7Aに着目して、各期間P1〜P6において発生する画素回路7Aの電流の流れを例示する図である。図3から図8では、画素回路7Aにおける給電線以外の回路のうち、電流の流れに寄与する回路は太線で示され、電流の流れにほとんど寄与しない回路は細線で示されている。
以下、図2および図3から図8を適宜参照しつつ、画像表示装置の駆動方法について説明する。
○Cs初期化期間P1:
図3では、Cs初期化期間P1(以下適宜「期間P1」と略する)での画素回路7Aにおける電流の流れが例示されている。
期間P1では、VDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ所定の正の高電位Vdd(例えば15V)が印加され、全走査信号線Lssに所定の正の高電位VgH(例えば15V)が印加され、画像信号線Lisに所定の基準電位(ここでは0V)が印加される。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける高電位VgHの印加により、第6電極(ゲート)3gに高電位VgHに応じた正電位が印加され、導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、VDD線LvdとVSS線Lvsとが同電位(完全に同電位である場合に限らず、若干異なっていても動作上同電位とみなすことができる電位であればその場合も含む。以下においても同様である。)であるため、第1駆動トランジスタ2が実質的にオフとなり、非導通状態となる。
さらに、第2駆動トランジスタ5については、VSS線Lvsに所定の正の高電位Vddが印加され、導通状態となり電流が流れる。
したがって、期間P1では、図3において矢印で示すように、VSS線Lvsから第2駆動トランジスタ5の電極5sdおよび電極5ds、Vth補償用トランジスタ3の第4および第5電極3ds,3sdを介してコンデンサ4に向けて電流が流れ、コンデンサ4に所定量の電荷(例えば、15Vに応じた電荷量)が蓄積される。すなわち、コンデンサ4の両端に電圧Vddが印加される。
なお、期間P1から期間P2に移る前に、走査信号線Lssの電位を所定の高電位VgHから低電位VgLにしているが、これは、走査信号線Lssの電位を高電位VgHにしたままで、期間P2で説明するように画像信号線Lisを高い電位VdHにし、VDD線およびVSS線をそれぞれ負の所定電位および基準電位にすると、コンデンサ4から電荷が放出されてしまうため、これを抑制するためである。
また、期間P1における時間経過とともにコンデンサ4に蓄積される電荷量が高まると、第1駆動トランジスタ2において、第3電極(ゲート)2gに所定値を超える正電位が印加され、導通状態となることもあり得る。しかし、VDD線LvdおよびVSS線Lvsがともに同電位Vddに設定されているため、第1駆動トランジスタ2の第1−2電極間で電流は流れない。
○準備期間P2:
図4では、準備期間P2(以下適宜「期間P2」と略する)での画素回路7Aにおける電流の流れが例示されている。
期間P2では、VDD線Lvdに負の所定電位−Vp(例えば−7V)が印加され、VSS線Lvsに所定の基準電位(ここでは0V)が印加され、全走査信号線Lssに所定の低電位VgL(例えば−10V)が印加され、画像信号線Lisに所定の高電位VdH(例えば10V)が印加される。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける低電位VgLの印加により、第6電極(ゲート)3gにはほとんど正の電位が印加されないため、非導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、画像信号線Lisにおける高電位VdHの印加により、第3電極(ゲート)2gに高電位VdHに応じた正電位(例えば15+10=25V)が印加され、導通状態となる。
そして、VDD線LvdよりもVSS線Lvsの方がVpだけ電位が高いため、図4において矢印で示すように、VSS線Lvsから第1駆動トランジスタ2の第2および第1電極2sd,2dsを介して有機EL素子1に向けて電流が流れる。また、同時にVSS線Lvsから第2駆動トランジスタ5の第8および第7電極5sd,5dsを介して、有機EL素子1に向けて電流が流れる。その結果、有機EL素子1すなわち素子コンデンサ1cにVDD線LvdとVSS線Lvsとの間の電位差に応じた所定量の電荷(例えば7Vに応じた電荷)が蓄積される。
ここで、有機EL素子1に接続され、有機EL素子1を駆動する駆動トランジスタ2を含む導電経路を第1の導電経路といい、有機EL素子1に接続され、第1の導電経路とは異なる導電経路を第2の導電経路という。第1の導電経路は、VSS線Lvsおよび有機EL素子1に接続され、VSS線Lvsおよび有機EL素子1の間で第1駆動トランジスタ2を介して電流が流れる経路である。第2の導電経路は、VSS線Lvsおよび有機EL素子1に接続され、VSS線Lvsおよび有機EL素子1の間で第2駆動トランジスタ5を介して電流が流れる経路である。
本実施の形態による画像表示装置の画素回路7Aでは、準備期間P2において、VSS線Lvsから第2駆動トランジスタ5を介して、すなわち第2の導電経路を介して有機EL素子1に逆バイアスを印加するように電荷を供給することができる。これにより、VSS線Lvsから第1駆動トランジスタ2を介して、すなわち第1の導電経路を介して有機EL素子1に流れる電流量を低減することができ、第1駆動トランジスタ2の特性の劣化を抑制することができる。
また、第2の導電経路を介して有機EL素子1に電荷を供給することにより、第1の導電経路を介してのみ有機EL素子1に電荷を供給する場合と比較して、第1駆動トランジスタ2の特性バラツキ(特に、閾値電圧のバラツキ)の影響を受けることなく、VDD線LvdおよびVSS線Lvsの各電位に応じた量の電荷を素子コンデンサ1cに蓄積することができる。すなわち、画素間で素子コンデンサ1cに蓄積される電荷量のバラツキが低減される。よって、閾値電圧の補償をより正確に行うことができるという効果もある(後述する)。
○Vth補償期間P3:
図5では、Vth補償期間P3(以下適宜「期間P3」と略する)での画素回路7Aにおける電流の流れが例示されている。
期間P3では、最初、期間P2に引き続いてVDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ負の所定電位−Vpおよび基準電位(ここでは0V)が印加され、画像信号線Lisに高電位VdH(例えば10V)が印加される。また、全走査信号線Lssに高電位VgHが印加される。そして、一定期間経過後、VDD線Lvdの電位が所定の基準電位(ここでは0V)に設定される。
Vth補償用トランジスタ3は、走査信号線Lssにおける高電位VgHの印加により、第6電極(ゲート)3gに高電位VgHに応じた正電位が印加され、導通状態となる。期間P3におけるタイミングチャートによれば、Vth補償用トランジスタ3が導通状態になった後に、VDD線Lvdを所定の基準電位にして、VDD線LvdおよびVSS線Lvsを同電位にするため、Vth補償用トランジスタ3が導通状態になる前にVDD線Lvdを所定の基準電位になって、素子コンデンサ1cから第1駆動トランジスタ2を介して電荷が放出されることを抑制できる。
次に、VDD線Lvdの電位を所定の基準電位(ここでは0V)に設定すると、以下のように動作する。すなわち、図5において矢印で示すように、コンデンサ4に蓄積された電荷に伴う電流が、コンデンサ4からVth補償用トランジスタ3の第5および第4電極3sd,3ds、更には第1駆動トランジスタ2の第1および第2電極2ds,2sdを介してVSS線Lvsに向けて流れる。また、素子コンデンサ1cに蓄積された電荷に伴う電流が、第1駆動トランジスタ2の第1および第2電極2ds,2sdを介してVSS線Lvsに向けて流れる。
ところが、コンデンサ4に蓄積された電荷に伴う電流が、コンデンサ4からVSS線Lvsに向けて流れるにつれて、コンデンサ4に蓄積された電荷が減少する。そして、第1駆動トランジスタ2の第2電極2sdに対する第3電極2gの電位Vgs(以下「第3−2電極間」とも称する)が実質的に閾値Vthまで減少すると、第1駆動トランジスタ2は、非導通状態となる。このとき、コンデンサ4には、閾値Vthに応じた電荷が蓄積された状態となる。このように、期間P3では、閾値Vthに応じた電荷がコンデンサ4に蓄積されて、画素ごとに異なる閾値Vthのばらつきが補償される。ここで、コンデンサ4の両端に印加される電圧は、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧に設定される。
上述の画素回路7Aの駆動方法によれば、素子コンデンサ1cに蓄積された電荷量のバラツキが小さいため、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧の補償がより正確に行われる。
○書込期間P4:
図6では、書込期間P4(以下適宜「期間P4」と略する)での画素回路7Aにおける電流の流れが例示されている。
期間P4では、VDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ基準電位0Vが印加されるとともに、画素データ信号に応じた電荷の蓄積を行う処理(データ書込処理)の実施対象画素において、走査信号線Lssに高電位VgHが印加され、画像信号線Lisに電位(VdH−Vdata)が印加される。なお、電位Vdataは、画素データ信号の電位であり、画像を構成する画素の輝度の階調に対応する値に応じた電位である。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける高電位VgHの印加により、ゲートに高電位VgHに応じた正電位が印加され、導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、画像信号線Lisに対して、期間P3における電位VdH以下の電位(VdH−Vdata)が印加され、ゲート電圧が閾値Vth以下となるため、非導通状態となる。
したがって、期間P4では、図6において矢印で示すように、有機EL素子1(すなわち素子コンデンサ1c)からVth補償用トランジスタ3の第4および第5電極3ds,3sdを介してコンデンサ4に向けて電流が流れる。その結果、コンデンサ4に既に蓄積された閾値Vthに応じた電荷の上に電位Vdataに応じた電荷が加算されて蓄積される。すなわち、期間P4においては、コンデンサ4に有機EL素子1の発光輝度に応じた電荷が蓄積される。換言すれば、期間P4では、画素回路7Aにおいて画素データ信号に応じた電荷がコンデンサ4に蓄積される。そして、コンデンサ4の両端に印加される電圧が、第2駆動トランジスタ2の閾値電圧よりも高い電圧に設定される。
なお、コンデンサ4の第7電極4aの電位(第1駆動トランジスタ2のゲート電位)の変化量は、画像信号線Lisの電位の変化量と、コンデンサ4の保持容量Csと素子コンデンサ1cのEL素子容量Coとの比(容量比)との積である。すなわち、本実施形態においては、画像信号線Lisの電位がVdHからVdataに変化する場合、第1駆動トランジスタ2のゲート電位が、(Vdata−VdH)・Cs/(Cs+Co)だけ変化する。例えば、VdH=10V,Vdata=5V、Cs:Co=1:2である場合には、画像信号線Lisの電位が−5V変化し、第1駆動トランジスタ2のゲート電位は、有機EL素子1からコンデンサ4に対する電荷の移動により、(5−10)・1/(1+2)=−5/3V変化する。このようにコンデンサ4に蓄積される電荷の移動により、画像信号線Lisの電位の変化が第1駆動トランジスタ2のゲート電位に反映される。
○素子初期化期間P5:
図7では、素子初期化期間P5(以下適宜「期間P5」と略する)での画素回路7Aにおける電流の流れが例示されている。
期間P5については、VDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ所定の負電位−Vpが印加され、全走査信号線Lssに低電位VgLが印加され、画像信号線Lisに高電位VdHが印加される。このとき、Vth補償用トランジスタ3が非導通状態となり、第1駆動トランジスタ2が導通状態となる。そして、VDD線LvdとVSS線Lvsが同電位となり、VSS線Lvsが負電位−Vpに設定されているため、図7において矢印で示すように、有機EL素子1(すなわち素子コンデンサ1c)に蓄積された電荷が、第1駆動トランジスタ2を介して、すなわち第1の導電経路を介してVSS線Lvsに抜けて、有機EL素子1に蓄積された電荷が一掃される。
○発光期間P6:
図8では、発光期間P6(以下適宜「期間P6」と略する)での画素回路7における電流の流れが例示されている。
期間P6では、VDD線Lvdに正の高電位Vddが印加される一方で、VSS線Lvsに基準電位0Vが印加され、走査信号線Lssに低電位VgLが印加され、画像信号線Lisに高電位VdHが印加される。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける低電位VgLの印加により、非導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、画像信号線Lisに対して高電位VdHが印加されるため、期間P4においてコンデンサ4に蓄積された電荷量(電位Vdataに応じた電荷量)に応じた電位分だけVgsが、閾値Vthよりも高くなり、導通状態となる。
例えば、Vdata=5V、Cs:Co=1:2である場合には、期間P4においてコンデンサ4に蓄積される電荷が、閾値Vthよりも5/3Vだけ低い電位([Vth−5/3]V)に対応する。そして、期間P6では、画像信号線Lisに対して期間P4よりもVdata(=5V)分だけ高い電位が印加され、第3電極(ゲート)2gに対して、閾値Vthよりも10/3Vだけ高い電位([Vth+10/3]V=[Vth−(5/3)+5]V)が印加される。
そして、VDD線LvdがVSS線Lvsよりも電位Vdd分だけ高電位であり、第1駆動トランジスタ2が電位Vdataに応じて第1−第2電極間で電流が流れる導通状態となる。すなわち、第1の導電経路に電流が流れる。このため、図8において矢印で示すように、有機EL素子1に対して電位Vdataに応じた電流が流れる。その結果、有機EL素子1が電位Vdataに応じた輝度で発光する。つまり、期間P6では、各画素から画素データ信号に応じた輝度の光が出射される。
ここで、有機EL素子1が発光する際の第1駆動トランジスタ2に関して、Vgs,Vdata,Vthの間には、Vgs=Vth+a×Vdata+d(以下、式(1)ともいう。)が成立する。なお、式(1)のa,dは定数である。
また、第1駆動トランジスタ2の第1−2電極間(ドレイン−ソース間)で流れる電流をIdsとすると、Ids=(β/2)×(Vgs−Vth)=(β/2)×(a×Vdata+d)(以下、式(2)ともいう。)が成立する。
有機EL素子1の発光輝度は、有機EL素子1を流れる電流の密度(電流密度)に略比例するため、図2で示した駆動波形を用いた制御により、各画素において所望の発光輝度が得られる。
以上のように、本実施の形態による画像表示装置の画素回路によれば、有機EL素子1に接続された導電経路として、第1の導電経路以外に第2の導電経路を有しているため、第1の導電経路、すなわち第1駆動トランジスタ2に流れる電流量を抑制でき、第1駆動トランジスタ2の特性の劣化を抑制できる。従って、画素間における第1駆動トランジスタ2の特性バラツキも小さくすることができ、画像表示全体の輝度ムラを低減することができる。
また、本実施の形態による画像表示装置の画素回路によれば、Vth補償がより正確に行われるため、その後の有機EL素子の電流量も精度よく制御することができ、画像表示全体の輝度ムラを低減することができる。
(第2の実施の形態)
図9は、本発明の第2の実施の形態による画像表示装置の1画素を構成する画素回路の回路図である。本実施の形態による画像表示装置の画素回路7Bの構成が、第1の実施の形態による画素回路7Aの構成と異なる点は、第2駆動トランジスタ5の接続位置である。具体的には、第7電極5dsは、第1駆動トランジスタ2の第3電極2g、Vth補償トランジスタ3の第5電極3sdおよびコンデンサ4の電極4aに対して電気的に接続される。第9電極5dsは、有機EL素子1に対して順方向の電流が流れる際にドレイン電極(ドレイン)として機能する。また、第10電極5sdは、VSS線Lvsに対して電気的に接続され、有機EL素子1に対して順方向の電流が流れる際にソース電極(ソース)として機能する。その他の構成は、画素回路7Aと同様であるので、同一の符号を付し、説明を省略する。
図10は、画素回路7Bの有機EL素子1を発光させる際の信号波形(駆動波形)を示すタイミングチャートである。図10では、横軸が時刻を示し、上から順に、VDD線Lvdに印加される電位(電位Vdd)、VSS線Lvsに印加される電位(電位Vss)、第1走査信号線Lssに印加される信号の電位(電位Vls)、画像信号線Lisに印加される信号の電位(電位Vlis)、の波形が示されている。
また、図10では、有機EL素子1を1回発光させるための駆動波形が示されており、1回の発光に係る期間は、時間順次に、Cs初期化期間P1(時刻t11〜t12)、準備期間P2(時刻t12〜t13)、Vth補償期間P3(時刻t13〜t14)、書込期間P4(時刻t14〜t15)、素子初期化期間P5(時刻t15〜t16)、および発光期間P6(時刻t16〜)を備えて構成される。なお、書込期間P4における電位Vlisは、各有機EL素子1の発光輝度によって決まる任意の値であるため、図10では、当該電位が存在し得る範囲に斜線ハッチングが便宜的に付されている。
図11から図16は、画像表示装置を駆動させる際に、画素回路7Bに着目して、各期間において発生する画素回路7Bの電流の流れを例示する図である。図11から図16では、画素回路7Bにおける給電線以外の回路のうち、電流の流れに寄与する回路は太線で示され、電流の流れにほとんど寄与しない回路は細線で示されている。
以下、図10および図11から図16を適宜参照しつつ、画像表示装置の駆動方法について説明する。なお、第1の実施の形態による画素回路7Aの駆動方法と同様の箇所については、説明を省略することがある。
○Cs初期化期間P1:
図11では、期間P1での画素回路7Bにおける電流の流れが例示されている。期間P1では、VDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ所定の正の高電位Vdd(例えば15V)が印加され、全走査信号線Lssに所定の低電位VgL(例えば−15V)が印加され、画像信号線Lisに所定の基準電位(ここでは0V)が印加される。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける低電位VgLの印加により、第6電極(ゲート)3gにはほとんど正の電位が印加されないため、非導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、VDD線LvdとVSS線Lvsとが同電位であるため、第1駆動トランジスタ2が実質的にオフとなり、非導通状態となる。
また、第2トランジスタ5については、VSS線Lvsに高電位Vddが印加され、画像信号線Lisに基準電位(ここでは、0V)が印加されるため、第2トランジスタ5の第10電極5sdから第9電極5dsに向けて電流が流れる。
したがって、期間P1では、図11において矢印で示すように、VSS線Lvsから第2駆動トランジスタ5を介してコンデンサ4に向けて電流が流れ、コンデンサ4に所定量の電荷(例えば、15Vに応じた電荷量)が蓄積される。すなわち、コンデンサ4の両端に電圧Vddが印加される。
なお、期間P1における時間経過とともにコンデンサ4に蓄積される電荷量が高まると、第1駆動トランジスタ2において、第3電極(ゲート)2gに所定値を超える正電位が印加され、導通状態となることもあり得る。しかし、VDD線LvdおよびVSS線Lvsがともに同電位Vddに設定されているため、第1駆動トランジスタ2の第1−2電極間で電流は流れない。
○準備期間P2:
図12では、準備期間P2での画素回路7Bにおける電流の流れが例示されている。
期間P2では、VDD線Lvdに負の所定電位−Vp(例えば−7V)が印加され、VSS線Lvsに所定の正の高電位Vdd(例えば15V)が印加され、全走査信号線Lssに所定の高電位VgH(例えば10V)が印加され、画像信号線Lisに所定の基準電位(例えば0V)が印加される。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける高電位VgHの印加により、ゲートに高電位VgHに応じた正電位が印加され、導通状態となる。
そして、VDD線LvdよりもVSS線Lvsの方がVpだけ電位が高いため、図12において矢印で示すように、VSS線Lvsから第2駆動トランジスタ5の第10および第9電極5sd,5ds、およびVth補償用トランジスタ3の第5および第4電極3sd,3dsを介して、有機EL素子1に向けて電流が流れる。また、同時に、VSS線Lvsから第1駆動トランジスタ2の第2および第1電極2sd,2dsを介して、有機EL素子1に向けて電流が流れる。その結果、有機EL素子1すなわち素子コンデンサ1cにVDD線LvdとVSS線Lvsとの間の電位差に応じた所定量の電荷(例えば7Vに応じた電荷)が蓄積される。
なお、VSS線Lvsのスイッチングと画像信号線Lisのスイッチングを同時に行うことが困難な場合には、破線で示すように、期間P2から期間P3に移る直前に、VSS線Lvsの電位をVdHから基準電位(ここでは0V)にし、その後、画像信号線Lisを基準電位から高電位VdHにしてもよい。このような場合には、VSS線Lvsの電位をVdHから基準電位(ここでは0V)にすると、有機EL素子1から第1駆動トランジスタ2を介してVSS線Lvsに電流が流れ始め、第1駆動トランジスタ2のゲート電位が一旦低くなる。そして、そのタイミングで、画像信号線Lisを基準電位(ここでは0V)から高電位VdHにする。
ここで、有機EL素子1に接続され、有機EL素子1を駆動する駆動トランジスタ2を含む導電経路を第1の導電経路といい、有機EL素子1に接続され、第1の導電経路とは異なる導電経路を第2の導電経路という。第1の導電経路は、VSS線Lvsおよび有機EL素子1に接続され、VSS線Lvsおよび有機EL素子1の間で第1駆動トランジスタ2を介して電流が流れる経路である。第2の導電経路は、VSS線Lvsおよび有機EL素子1に接続され、VSS線Lvsおよび有機EL素子1の間で第2駆動トランジスタ5およびVth補償用トランジスタ3を介して電流が流れる経路である。
本実施の形態による画像表示装置の画素回路7Bでは、準備期間P2において、VSS線Lvsから第2駆動トランジスタ5およびVth補償用トランジスタ3を介して、すなわち第2の導電経路を介して有機EL素子1に逆バイアスを印加するように電荷を供給することができる。これにより、VSS線Lvsから第1駆動トランジスタ2を介して、すなわち第1の導電経路を介して有機EL素子1に流れる電流量を低減することができ、第1駆動トランジスタ2の特性の劣化を抑制することができる。
また、第2の導電経路を介して有機EL素子1に電荷を供給することにより、第1の導電経路を介してのみ有機EL素子1に電荷を供給する場合と比較して、第1駆動トランジスタ2の特性バラツキ(特に、閾値電圧のバラツキ)の影響を受けることなく、VDD線LvdおよびVSS線Lvsの各電位に応じた量の電荷を素子コンデンサ1cに蓄積することができる。すなわち、各画素で素子コンデンサ1cに蓄積される電荷量のバラツキが低減される。よって、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧の補償をより正確に行うことができるという効果もある。また、本実施の形態による画像表示装置の画素回路7Bでは、第2駆動トランジスタ5が第1駆動トランジスタ2のゲートに直接接続されており、期間P1ではその第2駆動トランジスタ5を介してコンデンサ4に電荷が蓄積されるため、コンデンサ4に蓄積される電荷量のバラツキも低減される。よって、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧の補償をより正確に行うことができる。
○Vth補償期間P3:
図13では、Vth補償期間P3での画素回路7Bにおける電流の流れが例示されている。
期間P3では、VDD線Lvdに基準電位(ここでは0V)が印加され、VSS線Lvsと同電位となる。また、全走査信号線Lssに高電位VgHが印加され、画像信号線Lisに高電位VdH(例えば10V)が印加される。
ここで、Vth補償用トランジスタ3は、走査信号線Lssにおける高電位VgHの印加により、第6電極(ゲート)3gに高電位VgHに応じた正電位が印加され、導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、画像信号線Lisにおける高電位VdHの印加により、導通状態となる。
また、第2駆動トランジスタ5については、素子コンデンサ1cおよびコンデンサ4に電荷が蓄積されており、Vss線Lvsにおける電位が基準電位(0V)となることにより、非導通状態となる。
よって、図13において矢印で示すように、コンデンサ4に蓄積された電荷に伴う電流が、コンデンサ4からVth補償用トランジスタ3の第5および第4電極3sd,3ds、更には第1駆動トランジスタ2の第1および第2電極2ds,2sdを介してVSS線Lvsに向けて流れる。また、素子コンデンサ1cに蓄積された電荷に伴う電流が、第1駆動トランジスタ2の第1および第2電極2ds,2sdを介してVSS線Lvsに向けて流れる。
ところが、コンデンサ4に蓄積された電荷に伴う電流が、コンデンサ4からVSS線Lvsに向けて流れるにつれて、コンデンサ4に蓄積された電荷が減少する。そして、第1駆動トランジスタ2の第3−2電極間が実質的に閾値Vthまで減少すると、第1駆動トランジスタ2は、非導通状態となる。このとき、コンデンサ4には、閾値Vthに応じた電荷が蓄積された状態となる。このように、期間P3では、閾値Vthに応じた電荷がコンデンサ4に蓄積されて、画素ごとに異なる閾値Vthのばらつきが補償される。ここで、コンデンサ4の両端に印加される電圧は、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧に設定される。
上述の画素回路7Bの駆動方法によれば、素子コンデンサ1cに蓄積された電荷量のバラツキが小さいため、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧の補償がより正確に行われる。よって、第1駆動トランジスタ2の閾値電圧の補償がより正確に行われる。
○書込期間P4:
図14では、書込期間P4での画素回路7Bにおける電流の流れが例示されている。
期間P4では、VDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ基準電位0Vが印加されるとともに、画素データ信号に応じた電荷の蓄積を行う処理(データ書込処理)の実施対象画素において、走査信号線Lssに高電位VgHが印加され、画像信号線Lisに電位(VdH−Vdata)が印加される。なお、電位Vdataは、画素データ信号の電位であり、画像を構成する画素の輝度の階調に対応する値に応じた電位である。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける高電位VgHの印加により、ゲートに高電位VgHに応じた正電位が印加され、導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、画像信号線Lisに対して、期間P3における電位VdH以下の電位(VdH−Vdata)が印加され、ゲート電圧が閾値Vth以下となるため、非導通状態となる。
したがって、期間P4では、図14において矢印で示すように、有機EL素子1(すなわち素子コンデンサ1c)からVth補償用トランジスタ3の第4および第5電極3ds,3sdを介してコンデンサ4に向けて電流が流れる。その結果、コンデンサ4に既に蓄積された閾値Vthに応じた電荷の上に電位Vdataに応じた電荷が加算されて蓄積される。すなわち、期間P4においては、コンデンサ4に有機EL素子1の発光輝度に応じた電荷が蓄積される。換言すれば、期間P4では、画素回路7Bにおいて画素データ信号に応じた電荷がコンデンサ4に蓄積される。そして、コンデンサ4の両端に印加される電圧が、第2駆動トランジスタ2の閾値電圧よりも高い電圧に設定される。
○素子初期化期間P5:
図15では、素子初期化期間P5での画素回路7Bにおける電流の流れが例示されている。
期間P5については、VDD線LvdおよびVSS線Lvsにそれぞれ所定の負電位−Vpが印加され、全走査信号線Lssに低電位VgLが印加され、画像信号線Lisに高電位VdHが印加される。このとき、Vth補償用トランジスタ3が非導通状態となり、第1駆動トランジスタ2が導通状態となる。そして、VDD線LvdとVSS線Lvsとの間に電位差がなく、VSS線Lvsが負電位−Vpに設定されているため、有機EL素子1(すなわち素子コンデンサ1c)に蓄積された電荷が、第1駆動トランジスタ2を介して、すなわち第1の導電経路を介してVSS線Lvsに抜けて、有機EL素子1に蓄積された電荷が一掃される。
○発光期間P6:
図16では、発光期間P6(以下適宜「期間P6」と略する)での画素回路7における電流の流れが例示されている。
期間P6では、VDD線Lvdに正の高電位Vddが印加される一方で、VSS線Lvsに基準電位0Vが印加され、走査信号線Lssに低電位VgLが印加され、画像信号線Lisに高電位VdHが印加される。
このとき、Vth補償用トランジスタ3については、走査信号線Lssにおける低電位VgLの印加により、非導通状態となる。一方、第1駆動トランジスタ2については、画像信号線Lisに対して高電位VdHが印加されるため、期間P4においてコンデンサ4に蓄積された電荷量(電位Vdataに応じた電荷量)に応じた電位分だけVgsが、閾値Vthよりも高くなり、導通状態となる。
そして、VDD線LvdがVSS線Lvsよりも電位Vdd分だけ高電位であり、第1駆動トランジスタ2が電位Vdataに応じて第1−第2電極間で電流が流れる導通状態となる。すなわち、第1の導電経路に電流が流れる。このため、図14において矢印で示すように、有機EL素子1に対して電位Vdataに応じた電流が流れる。その結果、有機EL素子1が電位Vdataに応じた輝度で発光する。つまり、期間P6では、各画素から画素データ信号に応じた輝度の光が出射される。
以上のように、本実施の形態による画像表示装置の画素回路によれば、有機EL素子1に接続された導電経路として、第1の導電経路以外に第2の導電経路を有しているため、第1の導電経路、すなわち第1駆動トランジスタ2に流れる電流量を抑制でき、第1駆動トランジスタ2の特性の劣化を抑制できる。従って、画素間における第1駆動トランジスタ2の特性バラツキも小さくすることができ、画像表示全体の輝度ムラを低減することができる。
また、本実施の形態による画像表示装置の画素回路によれば、Vth補償がより正確に行われるため、各画素7Bの有機EL素子の電流量も精度よく制御することができ、画像表示装置全体の輝度ムラを低減することができる。
(第3の実施の形態)
図17は、第1の実施の形態による画素回路7Aから構成される画素回路群の構成例を示した模式的な図である。図17に示すように、画素回路群50は、多数の画素回路7Aが縦横、すなわちX方向およびY方向に沿ってマトリックス状(すなわち格子状)に配列されている。そして、Y方向に平行な画素回路7Aの列毎に画像信号線Lisがそれぞれ設けられ、各画像信号線Lisが複数の画素回路7Aに対して電気的に共通に接続されている。また、X方向に平行な画素回路7Aの行ごとに、走査信号線Lssがそれぞれ設けられ、各走査信号線Lssが複数の画素回路7Aに対して電気的に共通に接続されている。
また、図17に示すように、画素回路群50は、タイミング発生回路TC、給電制御部EC、画像信号線駆動回路(Xドライバ)Xd、および走査信号線駆動回路(Yドライバ)Ydなどとともに、図18に示すような携帯電話機等の画像表示装置100の表示部201を構成している。図18の携帯電話機は、さらに表示制御部202を備えている。表示制御部202は、画像信号に基づいて、表示部201における画像表示を制御する部位である。
このとき、画素回路群50は、略長方形の輪郭を有する有機ELディスプレイ(organic electroluminescence display)である。有機ELディスプレイは、有機材料に電流を流すことで材料自らが発光する自発光型の発光素子を有する自発光型画像表示装置である。
タイミング発生回路TCは、表示制御部202から送られてくる画像データ(例えば、RGBの画素信号)Dに同期させて、画像信号線駆動回路Xdから各画像信号線Lisに対する画素信号の供給タイミングを制御する信号を画像信号線駆動回路Xdに対して送出する一方、走査信号線駆動回路Ydから各走査信号線Lssに対する走査信号の供給タイミングを制御する信号を走査信号線駆動回路Ydに対して送出する。
画像信号線駆動回路Xdは、タイミング発生回路TCからの信号に応答して、画像信号線Lisに対して画素信号を供給する。一方、走査信号線駆動回路Ydは、タイミング発生回路TCからの信号に応答して、走査信号線Lssに対して走査信号を供給する。
このようなタイミング発生回路TCの制御により、画像信号線Lisおよび走査線信号Lssを介して各画素回路7Aに画素信号が適宜供給される。
給電制御部ECは、各画素回路7Aに対する電力(具体的には発光などに要する電力)の供給を制御する部分であり、ハードウェアすなわち回路構成によって実現されても良いし、ソフトウェアがCPUで実行されることで実現されても良い。
以上のように、画像表示装置100は、各画素回路7Aにおける駆動トランジスタのVth補償がより正確に行われ、各有機EL素子の電流量も精度よく制御することができることから、画像表示装置全体において輝度ムラを低減することができる。
なお、上述の説明では、画素回路群50を複数の画素回路7Aにより構成したが、複数の画素回路7Bによって構成しても同様の作用効果が得られる。
また、第1乃至第3の実施の形態においては、ドレインとゲートが接続された第2の駆動トランジスタ5を用いたが、電流の入力端および出力端となる2つの電極を有し、入力端となる一方の電極における電位が出力端となる他方の電極における電位よりも高い場合に、その一方の電極から他方の電極に電流が流れる電子素子であれば、例えばダイオードのような他の電子素子であってもよい。
1 有機EL素子(OLED)
2 第1駆動トランジスタ
3 閾値(Vth)補償用トランジスタ
4 コンデンサ
5 第2駆動トランジスタ
7A,7B 画素回路
Lvd VDD線
Lvs VSS線
Lss 走査信号線
Lis 画像信号線

Claims (1)

  1. 発光ダイオードと、前記発光ダイオードを駆動する第1駆動トランジスタを含み、前記発光ダイオードに接続される第1の導電経路と、前記第1駆動トランジスタに接続される容量素子と、前記発光ダイオードに接続され、前記第1の導電経路とは異なる第2の導電経路と、を備えた複数の画素回路を有する画像表示装置の駆動方法において、
    前記容量素子の両端に前記第1駆動トランジスタの閾値電圧より高い第1電圧を印加する電圧印加工程と、
    前記第1の導電経路及び前記第2の導電経路を介して前記発光ダイオードに逆バイアスを印加するように電荷を同時に供給し、前記発光ダイオードに電荷を蓄積する電荷蓄積工程と、
    前記発光ダイオードと前記容量素子とを電気的に接続し、前記発光素子および前記容量素子に蓄積された電荷を放電することにより、前記容量素子の両端に印加される電圧を前記第1駆動トランジスタの閾値電圧に設定する第1設定工程と、
    前記容量素子の両端に印加される電圧を前記第1駆動トランジスタの前記閾値電圧よりも高い第2電圧に設定する第2設定工程と、
    前記第2電圧に基づいて前記第1駆動トランジスタを駆動することにより、前記発光ダイオードおよび前記第1の導電経路へ通電を行い、前記発光ダイオードを発光させる発光工程と、
    を備え、
    前記第1の導電経路及び前記第2の導電経路は、共通の電源線(Lvs)と接続され、
    前記第2の導電経路は、第2駆動トランジスタを含み、前記発光ダイオードに対して順方向に電流が流れる際に、該第2駆動トランジスタのゲート電極が該第2駆動トランジスタのソース電極と電気的に接続されており、前記発光ダイオードに対して逆方向に電流が流れる際に、該第2駆動トランジスタのゲート電極が該第2駆動トランジスタのドレイン電極と電気的に接続されており
    前記電荷蓄積工程は、前記発光工程よりも前に実行される、
    画像表示装置の駆動方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102708793B (zh) * 2012-02-27 2014-02-19 京东方科技集团股份有限公司 像素单元驱动电路、像素单元驱动方法以及像素单元
US9349323B2 (en) * 2012-05-30 2016-05-24 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and method for driving same
US9335598B2 (en) * 2012-05-30 2016-05-10 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and method for driving same
CN103093723A (zh) * 2013-03-04 2013-05-08 陈鑫 用于有机发光二极管的可进行阈值补偿的主动式像素驱动电路

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4869497B2 (ja) * 2001-05-30 2012-02-08 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP5162807B2 (ja) * 2003-08-29 2013-03-13 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
JP2005140827A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Tohoku Pioneer Corp 発光表示パネルの駆動装置
JP4964527B2 (ja) * 2006-07-24 2012-07-04 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 画像表示装置の駆動方法

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