JP6014438B2 - 導電性微粒子及びそれを用いた異方性導電材料 - Google Patents
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Description
本発明の導電性微粒子において、前記コアは、下記式で示される架橋度が30%以下であることが好ましい。
架橋度(%)=(架橋性単量体の含有質量/全単量体の含有質量)×100
本発明に係る異方性導電材料は、本発明の導電性微粒子がバインダー樹脂に分散してなることを特徴とする。
本発明の導電性微粒子を構成する基材である樹脂粒子は、コアと、該コアを被覆するシェルとから構成される。
本発明においてコアは、低Tg化に寄与する特定の非架橋性ビニル単量体A(以下、低Tg性非架橋性ビニル単量体A、低Tg性単量体A、低Tg性非架橋単量体A、低Tg性ビニル単量体Aなどと称する場合がある)を重合原料(構成単位ともいう)として有しており、かつ変動係数(CV)が10%以下である。このようなコアは、軟質性に優れるだけでなく、微小粒子径(例えば10μm未満)であっても粒子径が均一である。
で計算されるガラス転移温度Tgcore(単位は絶対温度)を絶対温度(K)から摂氏温度(℃)に換算して求めた値を意味する。
また、化学便覧基礎編 第5版 日本化学会編(丸善株式会社、平成16年2月20日発行、第II−216頁)には、ポリスチレンのガラス転移温度が353/380Kであると記載されており、本発明においてはスチレン単量体については380Kなる値を採用する。なおポリスチレンは、ガラス転移が複数起こることもあり、広い温度領域が起こることもあるため、2通りの値が記載されている。
トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート等のトリ(メタ)アクリレート類;
ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート等のテトラ(メタ)アクリレート類;
ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等のヘキサ(メタ)アクリレート類;
ジビニルベンゼン、ジビニルナフタレン、及びこれらの誘導体等の芳香族炭化水素系架橋剤(好ましくはジビニルベンゼン等のスチレン系多官能単量体);
N,N−ジビニルアニリン、ジビニルエーテル、ジビニルサルファイド、ジビニルスルホン酸等のヘテロ原子含有架橋剤;
等が挙げられる。単量体(1)は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート等のヒドロキシ基含有(メタ)アクリレート類、p−ヒドロキシスチレン等のヒドロキシ基含有スチレン類等のヒドロキシ基を有する単量体;
アミノメチル(メタ)アクリレート、アミノエチル(メタ)アクリレート、アミノプロピル(メタ)アクリレート、アミノブチル(メタ)アクリレート、アミノペンチル(メタ)アクリレート等のアミノアルキル(メタ)アクリレート類、メチルアミノメチル(メタ)アクリレート、エチルアミノメチル(メタ)アクリレート、メチルアミノエチル(メタ)アクリレート、エチルアミノエチル(メタ)アクリレート、メチルアミノプロピル(メタ)アクリレート、エチルアミノプロピル(メタ)アクリレート等のアルキルアミノアルキル(メタ)アクリレート類、ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリレート、ジエチルアミノプロピル(メタ)アクリレート等のジアルキルアミノアルキル(メタ)アクリレート類等のアミノ基を有する単量体;
2−メトキシエチル(メタ)アクリレート、3−メトキシブチル(メタ)アクリレート、2−ブトキシエチル(メタ)アクリレート等のアルコキシ基含有(メタ)アクリレート類、p−メトキシスチレン等のアルコキシスチレン類等のアルコキシ基を有する単量体;
等が挙げられる。単量体(2)は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
前記ビニル系非架橋性単量体のうち前記単量体(3)の例としては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、ペンチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、ヘプチル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレート、ノニル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、ドデシル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート等のアルキル(メタ)アクリレート類;
シクロプロピル(メタ)アクリレート、シクロペンチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、シクロオクチル(メタ)アクリレート、シクロウンデシル(メタ)アクリレート、シクロドデシル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、4−t−ブチルシクロヘキシル(メタ)アクリレート等のシクロアルキル(メタ)アクリレート類;
フェニル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、トリル(メタ)アクリレート、フェネチル(メタ)アクリレート等の芳香環含有(メタ)アクリレート類;
スチレン、o−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、α−メチルスチレン、p−t−ブチルスチレン等のアルキルスチレン類;
o−クロロスチレン、m−クロロスチレン、p−クロロスチレン等のハロゲン基含有スチレン類等のスチレン系単官能単量体;
等が挙げられる。単量体(3)は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン等のビニル基を有するもの;
3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等のエポキシ基を有するもの;
3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン等のアミノ基を有するもの;
が挙げられる。シラン系架橋性単量体は単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
本発明のコアでは、低Tg性非架橋性ビニル単量体Aを用いる。この低Tg性単量体Aを含有させることにより、コアを適度に軟質化させることが可能となる。
本発明のコアでは、前記低Tg性単量体に加えて架橋性単量体を組み合わせることが好ましい。低Tg性単量体Aと共に使用される架橋性単量体(以下、架橋性単量体Aという)としては、前記例示のビニル系架橋性単量体、シラン系架橋性単量体のいずれも使用できるが、ビニル系架橋性単量体(2個以上のビニル基を有する単量体(1)、ビニル基とそれ以外の架橋性官能基を有する単量体(2)など)、或いは有機重合体骨格とポリシロキサン骨格とを形成し得るシラン系架橋性単量体(第3の形態)などが好ましく、これらを組み合わせて使用してもよい。また、少なくともシラン系架橋性単量体を使用するのがより好ましい。架橋性単量体を使用することで、適度な軟質度に調整できる。
架橋度(%)=(架橋性単量体Aの含有質量/全単量体の含有質量)×100
本発明のコアでは、前記低Tg性単量体A、架橋性単量体Aに加え、親水性基含有単量体を使用するのが好ましい。親水性基含有単量体(以下、親水性基含有単量体Aという)を含有させることにより、コア重合中の分散性を高め、凝集や合一を抑制することが可能となり、コアの粒子径を容易に均一にできる。
前記親水性基含有単量体Aとしては、例えば、ビニル基と親水性基を有する単量体を挙げることができ、好ましくは上述の単量体(2)の中から選ぶことができる。例えば、カルボキシ基を有する単量体、ヒドロキシ基を有する単量体、アミノ基を有する単量体が挙げられる。親水性基含有単量体Aは、ヒドロキシ基を有する単量体であることが好ましく、より好ましくはヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートであり、さらに好ましくはヒドロキシエチル(メタ)アクリレートである。
なお、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等を有する単量体は、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等の反応(結合)相手となる基が他の単量体に存在する場合、架橋性ビニル単量体A及び親水性基含有単量体Aの両方に分類される。この様な場合、架橋性ビニル単量体Aの割合を計算する時及び親水性基含有単量体Aの割合を計算する時のいずれの場合も、該両方の性質を有する単量体を計算対象の単量体として扱う。従って架橋性ビニル単量体Aの割合及び親水性基含有単量体Aの割合の両方を算出する時には、両方の性質を有する単量体は、重複して数えられる。従ってその合計が100質量%を超えることもある。
また、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等を有する単量体は、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等の反応(結合)相手となる基が他の単量体に存在しない場合、非架橋性ビニル単量体A及び親水性基含有単量体Aの両方に分類される。この様な場合も同様に、非架橋性ビニル単量体Aの割合を計算する時及び親水性基含有単量体Aの割合を計算する時のいずれの場合も、該両方の性質を有する単量体を計算対象の単量体として扱う。従って非架橋性ビニル単量体Aの割合及び親水性基含有単量体Aの割合の両方を算出する時にも、両方の性質を有する単量体は、重複して数えられる。従ってその合計が100質量%を超えることもある。
本発明において、コアの粒子径の変動係数は、10%以下であり、好ましくは8%以下、より好ましくは6%以下、さらに好ましくは5%以下である。コアの変動係数を小さくすることによって、導電性微粒子にしたときの機械的特性のばらつきを抑制できる。コアの粒子径の変動係数は、下限は特に限定されないが、例えば、1%以上が好ましく、より好ましくは1.5%以上であり、さらに好ましくは2.0%以上である。
なお、本発明でいう個数平均粒子径や粒子径の変動係数は、コールターカウンターにより測定した個数基準の値であり、測定方法については実施例において後述する。
本発明においてシェルは、非架橋性ビニル単量体Aの重合体よりもガラス転移温度Tgが高い重合体を形成し得る非架橋性ビニル単量体B(以下、高Tg性非架橋性ビニル単量体B、高Tg性単量体B、高Tg性非架橋単量体B、高Tg性ビニル単量体Bなどと称する場合がある)を必須の重合原料(構成単位ともいう)として有しており、かつシェルの架橋度がコアの架橋度と同じかもしくは高い。コアをこのようなシェルで被覆することにより、粒子の合一を防ぐことができるため、得られる樹脂粒子及び導電性微粒子は、微小粒子径(例えば10μm未満)であっても粒子径が均一になる。
を用いることができる。
本発明のシェルでは、高Tg性非架橋性単量体Bを用いる。この高Tg性単量体Bを含有させることにより、シェルが適度に硬質となるため、樹脂粒子の合一を防ぐことができ、得られる樹脂粒子及び導電性微粒子の粒子径が均一となる。
なお、単量体(2)については、単量体(2)が有するビニル基以外の官能基と反応し得る基を有する他の単量体が単量体成分に存在しない場合について高Tg性単量体Bとして扱う。
上記ビニル系非架橋性単量体の中からは、アルキル(メタ)アクリレート類、シクロアルキル(メタ)アクリレート類及び芳香環を有する単量体が優先的に選択され、芳香環を有する単量体及びアルキル(メタ)アクリレート類がより優先的に選択される。中でも、芳香環を有する単量体及びアルキル(メタ)アクリレート類を組み合わせて使用することが好ましい。芳香環を有する単量体としては、芳香環含有(メタ)アクリレート類及びアルキルスチレン類が挙げられ、アルキルスチレン類が優先的に選択される。前記アルキル(メタ)アクリレート類を用いる場合、アルキル(メタ)アクリレート類のアルキル基は炭素数が1又は2のアルキル基であることが好ましい。高Tg性単量体Bが上記の単量体であると、シェル用非架橋重合体のガラス転移温度Tgshellがコア用非架橋重合体のガラス転移温度Tgcoreよりも高くなるため好ましい。
また、ガラス転移温度Tgshellを高めるのみならず、導電性微粒子に用いた場合の導電性金属層との密着性を良好とする観点から、高Tg性単量体Bとしては、芳香環を有する単量体成分が好ましく用いられ、中でもスチレン系単官能単量体がより好ましく、スチレンが特に好ましく用いられる。
また、シェルのTgは、40℃以上が好ましく、より好ましくは50℃以上であり、さらに好ましくは55℃以上である。また、150℃以下が好ましく、より好ましくは130℃以下であり、さらに好ましくは120℃以下である。シェルのTgは大きいほど合一防止に効果的であるが、大きすぎると樹脂粒子の柔軟性を損なうため好ましくない。そのため、シェルのTgが上記の範囲であると、樹脂粒子は柔軟性に優れるとともに樹脂粒子間の合一が低減され、樹脂粒子及び導電性微粒子の粒子径がより一層均一性に優れたものとなる。
本発明のシェルでは、前記高Tg性単量体Bに加えて架橋性単量体を組み合わせることが好ましい。高Tg性単量体Bと共に使用される架橋性単量体(以下、架橋性単量体Bという)としては、前記例示のビニル系架橋性単量体、シラン系架橋性単量体のいずれも使用できるが、ビニル系架橋性単量体(2個以上のビニル基を有する単量体(1)、ビニル基とそれ以外の架橋性官能基を有する単量体(2)など)、或いは有機重合体骨格とポリシロキサン骨格とを形成し得るシラン系架橋性単量体(第3の形態)などが好ましく、これらを組み合わせて使用してもよい。また、少なくともビニル系架橋性単量体を使用するのが好ましい。架橋性単量体を使用することで、シェルを適度に硬質にすることができる。
第3の形態に該当するシラン系架橋性単量体の中では、(メタ)アクリロイル基を有するものが好ましく用いられる。
架橋度(%)=(架橋性単量体Bの含有質量/全単量体の含有質量)×100
本発明のシェルにおいて、架橋度は1%以上であることが好ましく、より好ましくは2%以上、さらに好ましくは3%以上である。また、80%以下が好ましく、より好ましくは75%以下であり、さらに好ましくは70%以下である。シェルの架橋度が上記の範囲であると、シェルは適度に硬質であるため、樹脂粒子の合一、凝集をより一層効果的に抑制できる。
本発明のシェルでは、前記高Tg性単量体B、架橋性単量体Bに加え、親水性基含有単量体を含有していてもよい(以下、親水性基含有単量体Bという)。親水性基含有単量体Bを含有させることにより、樹脂粒子の分散性を高め、凝集や合一を抑制することが可能となるため、樹脂粒子や導電性微粒子の粒子径をより一層均一にできる。親水性基含有単量体Bとしては、コアに用いられる親水性基含有単量体Aと同様のものを用いることができる。
なお、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等を有する単量体は、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等の反応(結合)相手となる基が他の単量体に存在する場合、架橋性ビニル単量体B及び親水性基含有単量体Bの両方に分類される。この様な場合、架橋性ビニル単量体Bの割合を計算する時及び親水性基含有単量体Bの割合を計算する時のいずれでの場合も、該両方の性質を有する単量体を計算対象の単量体として扱う。従って架橋性ビニル単量体Bの割合及び親水性基含有単量体Bの割合の両方を算出する時には、両方の性質を有する単量体は、重複して数えられる。従ってその合計が100質量%を超えることもある。
また、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等を有する単量体は、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミノ基等の反応(結合)相手となる基が他の単量体に存在しない場合、非架橋性ビニル単量体B及び親水性基含有単量体Bの両方に分類される。この様な場合も同様に、非架橋性ビニル単量体Bの割合を計算する時及び親水性基含有単量体Bの割合を計算する時のいずれでの場合も、該両方の性質を有する単量体を計算対象の単量体として扱う。従って非架橋性ビニル単量体Bの割合及び親水性基含有単量体Bの割合の両方を算出する時にも、両方の性質を有する単量体は、重複して数えられる。従ってその合計が100質量%を超えることもある。
本発明において、シェルの厚みは、例えば、20nm以上が好ましく、より好ましくは25nm以上であり、さらに好ましくは30nm以上である。また、250nm以下が好ましく、より好ましくは180nm以下であり、さらに好ましくは120nm以下である。
また、本発明によれば、コアの粒子径が均一性に優れるため、シェルの厚みを均一にすることも容易であり(例えば、コアの表面をシェルで被覆した樹脂粒子の粒子径を分級等の方法によって均一にすれば、シェルの厚みも均一となる)、機械的特性が均一な導電性微粒子や樹脂粒子となる。
本発明の樹脂粒子の粒子径のCV値(変動係数)は、乾燥後で10%以下であることが好ましく、より好ましくは9%以下であり、さらに好ましくは8%以下である。本発明の樹脂粒子のCV値の下限は特に限定されないが、例えば、1%以上であることが好ましく、1.5%以上であることがより好ましく、2%以上であることがより好ましい。本発明の樹脂粒子は、コアの粒子径が均一であるため、シェルの膜厚の均一性に優れる。そのため、導電性微粒子とした時に、機械的特性のバラツキが抑制されているため、接続信頼性に優れた導電性微粒子を提供することができる。
前記樹脂粒子は、40%変位したときの圧縮弾性率(40%K値)が600N/mm2以上1800N/mm2以下であることが好ましい。樹脂粒子の40%K値は、より好ましくは700N/mm2以上、さらに好ましくは800N/mm2以上、一層好ましくは850N/mm2以上であり、より好ましくは1600N/mm2以下である。
樹脂粒子の10%K値、40%K値が前記範囲であると、軟質でありながら、樹脂粒子の表面に導電性金属層を形成する際のメッキ加工時などに確実に球形を維持して均一な導電性金属層を形成できるので、電気的接続に供した際に初期抵抗値を低く抑えることができる。
例えば、樹脂粒子の10%K値が1500N/mm2未満であると、粒子が軟らかくなりすぎてメッキ加工時などに球形を維持しにくくなる傾向があり、一方、4000N/mm2を超えると、粒子が硬くなりすぎて低圧接続では接続面積が不充分となり、接続初期の抵抗値が高くなる虞がある。本発明では、上述した単量体成分で樹脂粒子を形成することにより、10%K値を前記範囲に制御することができる。
前記樹脂粒子は、40%K値の標準偏差が50N/mm2以下であることが好ましい。樹脂粒子の40%K値の標準偏差は、より好ましくは45N/mm2以下、さらに好ましくは40N/mm2以下、一層好ましくは38N/mm2以下である。一方、該標準偏差は小さいほど好ましいが、通常5N/mm2以上である。
本発明の樹脂粒子は、10%K値、40%K値の標準偏差が前記範囲であることから、導電性微粒子とした時に機械的特性のバラツキが抑制され、接続信頼性に優れた導電性微粒子を提供することができる。本発明では、上述した単量体成分で樹脂粒子を形成することにより、10%K値、40%K値の標準偏差を前記範囲に制御することができる。
本発明の導電性微粒子は、前記基材(樹脂粒子)表面に少なくとも一層の導電性金属層が形成されている。
導電性金属層を構成する金属としては特に限定されないが、例えば、金、銀、銅、白金、鉄、鉛、アルミニウム、クロム、パラジウム、ニッケル、ロジウム、ルテニウム、アンチモン、ビスマス、ゲルマニウム、スズ、コバルト、インジウム及びニッケル−リン、ニッケル−ホウ素等の金属や金属化合物、及び、これらの合金等が挙げられる。これらの中でも、金、ニッケル、パラジウム、銀、銅、錫が導電性に優れた導電性微粒子となることから好ましい。また、安価な点で、ニッケル、ニッケル合金(Ni−Au、Ni−Pd、Ni−Pd−Au、Ni−Ag、Ni−P、Ni−B、Ni−Zn、Ni−Sn、Ni−W、Ni−Co、Ni−W、Ni−Ti);銅、銅合金(CuとFe、Co、Ni、Zn、Sn、In、Ga、Tl、Zr、W、Mo、Rh、Ru、Ir、Ag、Au、Bi、Al、Mn、Mg、P、Bからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素との合金、好ましくはAg、Ni、Sn、Znとの合金);銀、銀合金(AgとFe、Co、Ni、Zn、Sn、In、Ga、Tl、Zr、W、Mo、Rh、Ru、Ir、Au、Bi、Al、Mn、Mg、P、Bからなる群から選択される少なくとも1種の金属元素との合金、好ましくはAg−Ni、Ag−Sn、Ag−Zn);錫、錫合金(たとえばSn−Ag、Sn−Cu、Sn−Cu−Ag、Sn−Zn、Sn−Sb、Sn−Bi−Ag、Sn−Bi−In、Sn−Au、Sn−Pb等)等が好ましい。中でもニッケル、ニッケル合金が好ましい。また、導電性金属層は、単層でもよいし複層であってもよく、複層の場合には、例えば、ニッケル−金、ニッケル−パラジウム、ニッケル−パラジウム−金、ニッケル−銀等の組合せが好ましく挙げられる。
なお、前記導電性金属層は、樹脂粒子表面の少なくとも一部を被覆していればよいが、導電性金属層の表面には、実質的な割れや、導電性金属層が形成されていない面が存在しないことが好ましい。ここで、「実質的な割れや、導電性金属層が形成されていない面」とは、走査型電子顕微鏡(倍率1000倍)を用いて任意の10000個の導電性微粒子の表面を観察したときに、導電性金属層の割れ、および、樹脂粒子表面の露出が、実質的に目視で観察されないことを意味する。
本発明の導電性微粒子の個数平均粒子径は、1.1μm以上が好ましく、より好ましくは1.3μm以上、さらに好ましくは1.6μm以上であり、51μm以下が好ましく、より好ましくは26μm以下、さらに好ましくは11μm以下、より一層好ましくは9μm以下である。個数平均粒子径がこの範囲内であれば、微細化、狭小化された電極や配線の電気接続に対して、好適に使用できる。
なお、導電性微粒子の個数平均粒子径としては、フロー式粒子像解析装置(シスメックス社製「FPIA(登録商標)−3000」)を用いて求めた、3000個の粒子の個数基準の平均粒子径を採用することが好ましい。
前記絶縁性樹脂層としては、導電性微粒子の粒子間における絶縁性が確保でき、一定の圧力及び/又は加熱により容易にその絶縁性樹脂層が崩壊あるいは剥離するものであれば特に限定されず、例えば、ポリエチレンなどのポリオレフィン類;ポリメチル(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリレート重合体および共重合体;ポリスチレン;等の熱可塑性樹脂やその架橋物;エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂等)等の熱硬化性樹脂;ポリビニルアルコール等の水溶性樹脂およびこれらの混合物;等が挙げられる。但し、基材粒子に比べて絶縁性樹脂層が硬過ぎる場合には、絶縁性樹脂層の破壊よりも先に基材粒子自体が破壊してしまうおそれがある。したがって、絶縁性樹脂層には、未架橋または比較的架橋度の低い樹脂を用いることが好ましい。
まず基材である前記樹脂粒子の製造方法について説明する。
樹脂粒子の製造方法としては、コアを形成し、次いで該コアを被覆する様にシェルを形成する。
コアの製造方法としては、上述のコア単量体成分を重合するものであれば、特に制限はなく、乳化重合法、懸濁重合法、分散重合法、第1のシード重合法、ゾルゲルシード重合法等の従来公知の方法を採用できる。コアの粒子径の制御が容易であり粒度分布の小さいコアが得られやすいという点では、例えば、第1のシード重合法によりコアを合成する方法等が好ましく採用される。なお、本発明において、コアは、非常に柔軟性に優れるため、高温(例えば、50℃以上)や応力のかかる環境下で容易に合一するため、分級操作は、極めてマイルドな条件(例えば、低温や応力のかかりにくい条件)で行わざるを得ず、また、分級により得られる所望の粒子径のコアの収率は極端に低くなる。
吸収工程において、コア単量体成分がシード粒子に吸収されたかどうかの判断については、例えば、単量体成分を加える前及び吸収段階終了後に、顕微鏡により粒子を観察し、単量体成分の吸収により粒子径が大きくなっていることを確認することで容易に判断できる。なお、本発明における樹脂粒子を得るためには、下記式で示される吸収倍率は、特に限定されるものではないが、1.0倍以上、50倍以下であることが好ましく、より好ましくは2.0倍以上、30倍以下であり、さらに好ましくは3.0倍以上、20倍以下である。
吸収倍率=(吸収させるコア単量体成分の総質量)/(シード粒子の質量)
コアに該コアを被覆する様にシェルを形成することにより、コアシェル粒子である樹脂粒子が得られる。
被覆倍率=(被覆させるシェル単量体成分の総質量)/(コアの総質量)
以上のようにして樹脂粒子は、個数平均粒子径や粒子径の変動係数等について上述した範囲を満足するよう調製される。
次に、以上の様にして得られた樹脂粒子(基材)に導電性金属層を形成し、必要に応じてさらに絶縁性樹脂層を形成することにより、導電性微粒子が得られる。
導電性金属層の形成方法および絶縁性樹脂層の形成方法は特に限定されないが、例えば導電性金属層は、基材表面に無電解メッキ法、電解メッキ法等によってメッキを施す方法;基材表面に真空蒸着、イオンプレーティング、イオンスパッタリング等の物理的蒸着方法により導電性金属層を形成する方法;等により形成できる。これらの中でも特に無電解メッキ法が、大掛かりな装置を必要とせず容易に導電性金属層を形成できる点で好ましい。
本発明の異方性導電材料は、上記本発明の導電性微粒子がバインダー樹脂に分散してなる。異方性導電材料の形態は特に限定されず、例えば、異方性導電フィルム、異方性導電ペースト、異方性導電接着剤、異方性導電インクなど様々な形態が挙げられる。これらの異方性導電材料を相対向する基板同士や電極端子間に設けることにより、良好な電気的接続が可能になる。なお、本発明の導電性微粒子を用いた異方性導電材料には、液晶表示素子用導通材料(導通スペーサーおよびその組成物)も含まれる。異方性導電材料の好適な用途としてはタッチパネルの入力用、LED用などが挙げられ、特にタッチパネルの実装用に好適に用いられる。
なお、本発明の異方性導電材料は、前記バインダー樹脂中に本発明の導電性微粒子を分散させ、所望の形態とすることで得られるが、例えば、バインダー樹脂と導電性微粒子とを別々に使用し、接続しようとする基材間や電極端子間に導電性微粒子をバインダー樹脂とともに存在させることによって接続してもかまわない。
各種物性の測定は以下の方法で行った。
<シード粒子、コアおよび樹脂粒子の個数平均粒子径・変動係数(CV値)>
樹脂粒子及びコアの場合には、樹脂粒子又はコア0.1部に、乳化剤であるポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬株式会社製「ハイテノール(登録商標)N−08」)の1%水溶液20部を加え、超音波で10分間分散させた分散液を測定試料とし、シード粒子の場合には、加水分解、縮合反応で得られた分散液をポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬株式会社製「ハイテノール(登録商標)N−08」)の1%水溶液により希釈したものを測定試料として、粒度分布測定装置(ベックマンコールター社製「コールターマルチサイザーIII型」)により30000個の粒子の粒子径(μm)を測定し、個数平均粒子径を求めた。また樹脂粒子及びコアについては、個数平均粒子径とともに個数基準での粒子径の標準偏差をも求め、下記式に従って粒子径の変動係数(CV値)を算出した。
粒子の変動係数(%)=100×(粒子径の標準偏差/個数平均粒子径)
フロー式粒子像解析装置(シスメックス社製「FPIA(登録商標)−3000」)を用いて、基材粒子(樹脂粒子)3000個の個数平均粒子径X(μm)および導電性微粒子3000個の個数平均粒子径Y(μm)を測定した。なお、測定は、粒子0.25部に、乳化剤であるポリオキシエチレンオレイルエーテル(花王株式会社製「エマルゲン(登録商標)430」)の1.4%水溶液17.5部を加え、超音波で10分間分散させた後に行なった。そして、下記式に従って導電性金属層の膜厚を算出した。
導電性金属層膜厚(μm)=(Y−X)/2
微小圧縮試験機(島津製作所社製「MCT−W500」)を用いて、室温(25℃)において、試料台(材質:SKS材平板)上に散布した粒子1個について、直径50μmの円形平板圧子(材質:ダイヤモンド)を用いて、「標準表面検出」モードで、粒子の中心方向へ一定の負荷速度(19.37mN/秒)で荷重をかけ、圧縮変位が粒子径の10%になったときの荷重値(mN)とそのときの変位量(μm)、および、圧縮変位が粒子径の40%になったときの荷重値(mN)とそのときの変位量(μm)を測定した。得られた荷重値(mN)を圧縮荷重(N)に換算し、得られた変位量(μm)を圧縮変位(mm)に換算し、樹脂粒子の個数平均粒子径(μm)から粒子の半径(mm)を算出し、これらを用いて下記式に基づき10%K値、40%K値を算出した。なお、測定は各試料について、異なる10個の粒子に対して行い、平均した値を各樹脂粒子の10%K値、40%K値とした。また10%K値、40%K値のそれぞれにおける10点測定値より標準偏差を求め、これを各樹脂粒子のK値のばらつきの指標として用いた。
、R:粒子の半径(mm)である。)
2−1.基材(樹脂粒子)の作製
製造例1
冷却管、温度計、滴下口を備えた四つ口フラスコに、イオン交換水2000部と、25%アンモニア水24部、メタノール400部を入れ、攪拌下、滴下口から3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業社製、「KBM503」)15部を添加して、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシランの加水分解、縮合反応を行って、メタクリロイル基を有するポリシロキサン粒子(重合性ポリシロキサン粒子)の乳濁液を調製した。反応開始から2時間後、得られたポリシロキサン粒子の乳濁液をサンプリングし、粒子径を測定したところ、個数平均粒子径は1.21μmであった。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート240.6部、2−エチルヘキシルアクリレート26.7部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.7部を用い、スチレン14.3部及び1,6−ヘキサンジオールジアクリレート0.8部の代わりにスチレン24部及びトリエチレングリコールジアクリレート6部を用いたこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.2を得た。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート216部、n−ブチルアクリレート27部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート27部を用い、スチレン14.3部及び1,6−ヘキサンジオールジアクリレート0.8部の代わりにスチレン24部及びジビニルベンゼン(DVB960)6部を用いたこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.3を得た。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート216部、n−ブチルアクリレート27部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート27部を用い、スチレン14.3部及び1,6−ヘキサンジオールジアクリレート0.8部の代わりにスチレン5.4部ジビニルベンゼン(DVB960)21.6部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート3部を用いたこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.4を得た。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート267.3部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.7部を用い、スチレン14.3部及び1,6−ヘキサンジオールジアクリレート0.8部の代わりに1,6−ヘキサンジオールジアクリレート6部及びメチルメタクリレート24部を用いたこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.5を得た。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート297部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート3部を用い、シェルを形成しなかったこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.6を得た。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート216部、トリエチレングリコールジアクリレート54部及びメタクリル酸30部を用い、シェルを形成しなかったこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.7を得た。
製造例1において、n−ブチルメタクリレート282.2部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.9部の代わりにn−ブチルメタクリレート300部を用い、シェルを形成しなかったこと以外は、製造例1と同様にして、樹脂粒子No.8を得た。
冷却管、温度計、滴下口を備えた四つ口フラスコに、乳化剤としてポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬社製、「ハイテノール(登録商標)NF−08」)の20%水溶液44.3部をイオン交換水1500部で溶解した溶液に、n−ブチルメタクリレート216部、n−ブチルアクリレート27部及び2−ヒドロキシエチルメタクリレート27部、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(和光純薬工業社製、「V−65」)3.0部を溶解した溶液を加えて乳化分散させたコア用単量体成分を入れ、窒素雰囲気下で反応液を65℃まで昇温させて、65℃で30分保持することによりコア(粒子)が分散した分散液を得た。引き続いて、該分散液に、別途乳化剤としてポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテル硫酸エステルアンモニウム塩(第一工業製薬社製、「ハイテノール(登録商標)NF−08」)の20%水溶液0.8部をイオン交換水100部で溶解した溶液に、スチレン24部及びジビニルベンゼン(DVB960)6部を加え、乳化分散させたシェル用単量体成分の乳化液を加え、さらに65℃で1時間30分保持し、単量体成分のラジカル重合を行った。ラジカル重合後の乳濁液を固液分離し、得られたケーキをイオン交換水、メタノールで洗浄し、さらに電成ふるいで分級した後、40℃で12時間真空乾燥させて樹脂粒子No.9を得た。
実施例1
基材とする樹脂粒子No.1に、水酸化ナトリウムによるエッチング処理を施した後、二塩化スズ溶液に接触させることによりセンシタイジングし、次いで二塩化パラジウム溶液に浸漬させることによりアクチベーティングする方法(センシタイジング−アクチベーション法)によって、パラジウム核を形成させた。次に、パラジウム核を形成させた樹脂粒子2部をイオン交換水400部に添加し、超音波分散処理を行った後、得られた樹脂粒子懸濁液を70℃の温浴で加温した。このように懸濁液を加温した状態で、別途70℃に加温した無電解めっき液(日本カニゼン(株)製「シューマーS680」)600部を加えることにより、無電解ニッケルめっき反応を生じさせた。水素ガスの発生が終了したことを確認した後、固液分離を行い、イオン交換水、メタノールの順で洗浄し、100℃で2時間真空乾燥して、ニッケルめっきを施した粒子を得た。次いで、得られたニッケルめっき粒子を、シアン化金カリウムを含有する置換金めっき液に加え、ニッケル層表面にさらに金めっきを施すことにより、導電性微粒子を得た。得られた導電性微粒子における導電性金属層の膜厚は表2に示すとおりであった。
基材として表2に示す樹脂粒子を用いたこと以外は、実施例1と同様にして導電性微粒子を作製した。得られた導電性微粒子における導電性金属層の膜厚は表2に示すとおりであった。
すなわち、導電性微粒子1部に、バインダー樹脂としてのエポキシ樹脂(三菱化学製「JER828」)100部と、硬化剤(三新化学社製「サンエイド(登録商標)SI−150」)2部と、トルエン100部とを加え、さらにφ1mmのジルコニアビーズ50部を加えて、ステンレス鋼製の2枚攪拌羽根を用いて300rpmで10分間攪拌して分散させた。そして、得られたペースト状組成物をバーコーターにて剥離処理を施したPETフィルム上に塗布し乾燥させることにより異方性導電フィルムを得た。
Claims (9)
- 樹脂粒子からなる基材と、該基材の表面に形成された少なくとも一層の導電性金属層とを有する導電性微粒子であって、
前記樹脂粒子が、コアと、該コアを被覆するシェルとから構成されるコアシェル粒子であり、
前記コアの構成単位となる非架橋性ビニル単量体Aが、該非架橋性ビニル単量体Aのみの重合体のガラス転移温度(Tgcore)をFOX式に基づいて算出した時にその値が40℃未満となる単量体であり、かつコアの粒子径の変動係数(CV)が10%以下であり、
前記シェルの構成単位となる非架橋性ビニル単量体Bが、該非架橋性ビニル単量体Bのみの重合体のガラス転移温度(Tgshell)をFOX式に基づいて算出した時にその値が前記Tgcoreよりも高くなる単量体であり、
シェルの架橋度がコアの架橋度と同じもしくは高く、かつ
前記樹脂粒子の10%K値が、1500N/mm 2 以上4000N/mm 2 以下であることを特徴とする導電性微粒子。 - 前記コアは、下記式で示される架橋度が30%以下である請求項1に記載の導電性微粒子。
架橋度(%)=(架橋性単量体の含有質量/全単量体の含有質量)×100 - 樹脂粒子の粒子径の変動係数(CV)が10%以下である請求項1又は2に記載の導電性微粒子。
- コアの個数平均粒子径が0.5μm以上50μm以下である請求項1〜3のいずれかに記載の導電性微粒子。
- シェルの平均厚みが20nm以上250nm以下である請求項1〜4のいずれかに記載の導電性微粒子。
- シェルを形成する単量体成分総量100質量%中の芳香環を有する単量体成分の含有率が10質量%超である請求項1〜5のいずれかに記載の導電性微粒子。
- 前記コアが構成単位として親水性基含有単量体を含有する請求項1〜6のいずれかに記載の導電性微粒子。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の導電性微粒子をバインダー樹脂に分散してなることを特徴とする異方性導電材料。
- コアと、該コアを被覆するシェルとから構成されるコアシェル粒子である樹脂粒子であって、
前記コアの構成単位となる非架橋性ビニル単量体Aが、該非架橋性ビニル単量体Aのみの重合体のガラス転移温度(Tgcore)をFOX式に基づいて算出した時にその値が40℃未満となる単量体であり、かつコアの粒子径の変動係数(CV)が10%以下であり、
前記シェルの構成単位となる非架橋性ビニル単量体Bが、該非架橋性ビニル単量体Bのみの重合体のガラス転移温度(Tgshell)をFOX式に基づいて算出した時にその値が前記Tgcoreよりも高くなる単量体であり、
シェルの架橋度がコアの架橋度と同じもしくは高く、かつ、
10%K値が、1500N/mm 2 以上4000N/mm 2 以下であることを特徴とする樹脂粒子。
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