JP6002112B2 - 基板の欠陥分析装置、基板処理システム、基板の欠陥分析方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 - Google Patents
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Description
前記欠陥判定部は、前記同一座標上における欠陥の積算高さ又は欠陥の積算幅の少なくともいずれか一つの値が所定の閾値を超えているか否かを判定してもよい。
2 カセットステーション
3 処理ステーション
4 露光装置
5 インターフェイスステーション
6 制御装置
10 カセット搬入出部
11 ウェハ搬送部
12 カセット載置台
13 載置板
20 搬送路
21 ウェハ搬送装置
30 現像処理ユニット
31 下部反射防止膜形成ユニット
32 レジスト塗布ユニット
33 上部反射防止膜形成ユニット
40 熱処理ユニット
41 アドヒージョンユニット
42 周辺露光ユニット
63 欠陥検査ユニット
70 ウェハ搬送装置
80 シャトル搬送装置
90 ウェハ搬送装置
100 露光搬送装置
110 ケーシング
111 載置台
120 保持部
121 支持部材
122 ガイドレール
130 撮像装置
150 欠陥分析機構
160 欠陥特徴量抽出部
161 欠陥特徴量積算部
162 欠陥判定部
163 通信部
164 出力表示部
C カセット
D ウェハ搬送領域
P ピクセル
E 欠陥領域
X1、X2 プログラム
W ウェハ
Claims (15)
- 基板の欠陥を分析する装置であって、
被検査基板を撮像する撮像部と、
前記撮像された基板の画像に基づいて、基板面内における欠陥の特徴量を抽出する欠陥特徴量抽出部と、
複数の基板についての前記欠陥の特徴量を積算する欠陥特徴量積算部と、
前記積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えているか否かを判定する欠陥判定部と、
前記欠陥判定部における判定結果を出力する出力部と、を有し、
前記欠陥の特徴量は、欠陥の高さ又は欠陥の幅の少なくともいずれか1つを含むことを特徴とする、欠陥分析装置。 - 前記欠陥特徴量積算部は、基板上の同一座標毎に前記欠陥の特徴量を積算し、
前記欠陥判定部は、前記同一座標上における欠陥の積算高さ又は欠陥の積算幅の少なくともいずれか一つの値が所定の閾値を超えているか否かを判定することを特徴とする、請求項1に記載の欠陥分析装置。 - 前記欠陥判定部はさらに、前記同一座標上における欠陥の発生回数が所定の閾値を超えているか否かを判定することを特徴とする、請求項2に記載の欠陥分析装置。
- 欠陥の要因と前記欠陥の特徴量との相関データを予め記憶する記憶部を有し、
前記欠陥判定部は、積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えている場合に、当該積算した欠陥の特徴量と前記記憶部の相関データとを比較して、欠陥の要因を推定することを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載の欠陥分析装置。 - 請求項1〜4のいずれかに記載の欠陥分析装置を備えた基板処理システムであって、
基板の裏面を洗浄する裏面洗浄装置と、
前記欠陥分析装置と前記裏面洗浄装置との間で基板を搬送する基板搬送装置と、
前記欠陥分析装置での欠陥の分析結果に基づいて前記裏面洗浄装置で基板の裏面を洗浄するように前記裏面洗浄装置を制御する制御装置と、を有することを特徴とする、基板処理システム。 - 前記制御装置は、前記欠陥判定部において積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えていると判定された箇所を洗浄するように前記裏面洗浄装置を制御することを特徴とする、請求項5に記載の基板処理システム。
- 前記欠陥分析装置での欠陥の分析は、前記裏面洗浄装置で洗浄後の基板について行い、
前記欠陥分析装置での欠陥の分析結果に基づく前記裏面洗浄装置での基板の裏面の洗浄は、前記裏面洗浄装置で洗浄後の基板に対して行われた前記欠陥分析装置での欠陥の分析結果に基づいて行われるものであることを特徴とする、請求項5または6のいずれか一項に記載の基板処理システム。 - 基板処理システムの外部に設けられた露光装置のステージとの間で基板を搬入出する露光搬送装置を有し、
前記露光搬送装置は、前記欠陥分析装置での欠陥の分析結果に基づいて、前記ステージと当該ステージに載置される基板との相対的な位置を調整することを特徴とする、請求項5〜7のいずれか一項に記載の基板処理システム。 - 請求項1〜4のいずれかに記載の欠陥分析装置を備えた基板処理システムであって、
複数の突起を有する上面で基板を保持する基板保持部により基板を保持し、当該保持された基板に対して所定の処理を施す処理装置と、前記処理装置に対し基板の搬入出を行う基板搬送装置と、を有し、
前記基板搬送装置は、前記欠陥分析装置での欠陥の分析結果に基づいて、前記処理装置の基板保持部と当該基板保持部に載置される基板との相対的な位置を調整することを特徴とする、基板処理システム。 - 基板の欠陥を分析する方法であって、
被検査基板を撮像し、
前記撮像された基板の画像に基づいて、基板面内における欠陥の特徴量を抽出し、
複数の基板についての前記欠陥の特徴量を積算し、
前記積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えているか否かを判定し、
前記欠陥の判定結果を所定の出力手段に出力し、
前記欠陥の特徴量は、欠陥の高さ又は欠陥の幅の少なくともいずれか1つを含むことを特徴とする、欠陥分析方法。 - 前記欠陥の特徴量の積算は基板上の同一座標毎行い、
前記積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えているか否かの判定は、前記同一座標上における欠陥の積算高さ又は欠陥の積算幅の少なくともいずれか一つの値が所定の閾値を超えているか否かを判定することを特徴とする、請求項10に記載の欠陥分析方法。 - 前記積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えているか否かの判定はさらに、前記同一座標上における欠陥の発生回数が所定の閾値を超えているか否かを判定することを特徴とする、請求項11に記載の欠陥分析方法。
- 欠陥の要因と前記欠陥の特徴量との相関データを予め記憶し、
前記積算した欠陥の特徴量が所定の閾値を越えている場合に、当該積算した欠陥の特徴量と前記記憶した相関データとを比較して、欠陥の要因を推定することを特徴とする、請求項10〜12のいずれか一項に記載の欠陥分析方法。 - 請求項10〜13のいずれかに記載の欠陥分析方法を基板処理システムによって実行させるように、当該基板処理システムを制御する制御装置のコンピュータ上で動作するプログラム。
- 請求項14に記載のプログラムを格納した読み取り可能なコンピュータ記憶媒体。
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