JP5987292B2 - Semiconductor integrated circuit device and electronic apparatus using the same - Google Patents

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本発明は、クロック信号のスペクトラムを拡散することによって電磁放射ノイズを低減するSSCG(スプレッド・スペクトラム・クロック・ジェネレーション)方式を採用した半導体集積回路装置に関する。さらに、本発明は、そのような半導体集積回路装置を用いた電子機器等に関する。   The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device employing an SSCG (Spread Spectrum Clock Generation) system that reduces electromagnetic radiation noise by diffusing the spectrum of a clock signal. Furthermore, the present invention relates to an electronic device using such a semiconductor integrated circuit device.

近年における電子機器の高速化に伴って、電子機器において用いられるクロック信号の周波数が高くなりつつあり、電子機器から放射される電磁放射ノイズの増加が問題となっている。そのような電磁放射ノイズを低減するために、クロック信号のスペクトラムを拡散するSSCG方式が開発されている。   With the recent increase in the speed of electronic devices, the frequency of clock signals used in electronic devices is increasing, and an increase in electromagnetic radiation noise radiated from electronic devices has become a problem. In order to reduce such electromagnetic radiation noise, an SSCG system that spreads the spectrum of a clock signal has been developed.

SSCG方式を採用した半導体集積回路装置においては、クロック信号を周波数変調してクロック信号のスペクトラムを拡散することにより、電磁放射ノイズのピーク成分を低減している。しかしながら、静電気の放電や電源電圧の異常変動等の予期し得ない事象が発生すると、SSCG回路のデッドロックによってクロック信号の周波数が固定化されたり、SSCG回路の誤動作によってクロック信号の波形が乱れたりする。   In a semiconductor integrated circuit device adopting the SSCG method, the peak component of electromagnetic radiation noise is reduced by frequency-modulating the clock signal to spread the spectrum of the clock signal. However, when an unexpected event such as electrostatic discharge or abnormal fluctuation of power supply voltage occurs, the frequency of the clock signal is fixed due to deadlock of the SSCG circuit, or the waveform of the clock signal is disturbed due to malfunction of the SSCG circuit. To do.

そこで、従来は、誤動作防止回路又は誤動作検出回路を多重に挿入することにより、SSCG回路のデッドロックや誤動作を防止していた。しかしながら、そのような誤動作防止回路又は誤動作検出回路が確実に動作することを検証するためには多大な工数が必要となり、しかも、誤動作防止回路又は誤動作検出回路が確実に動作することを証明することは非常に困難であった。   Therefore, conventionally, the deadlock or malfunction of the SSCG circuit has been prevented by inserting multiple malfunction prevention circuits or malfunction detection circuits. However, in order to verify that such a malfunction prevention circuit or malfunction detection circuit operates reliably, a great amount of man-hours is required, and it is proved that the malfunction prevention circuit or malfunction detection circuit operates reliably. Was very difficult.

関連する技術として、特許文献1には、ノイズ等の一過性のCPU異常現象があっても安定したCPU動作を継続可能な電子制御装置が開示されている。この電子制御装置は、システム全体の動作を制御するCPUから所定の周期及びデューティのパルスとして定期的に出力される動作信号に基づいて、CPUに異常が発生しているか否かの判定を行い、異常が発生していると判定された場合に、CPUの異常を示す異常信号を出力するCPU監視手段と、該CPU監視手段から出力される異常信号の発生回数をカウントするカウンターとを備え、カウント値が所定の異常検出閾値に達した場合に、CPUをリセットするリセット信号を出力することを特徴とする。   As a related technique, Patent Document 1 discloses an electronic control device capable of continuing a stable CPU operation even if there is a transient CPU abnormal phenomenon such as noise. This electronic control unit determines whether or not an abnormality has occurred in the CPU based on an operation signal periodically output as a pulse having a predetermined cycle and duty from the CPU that controls the operation of the entire system. A CPU monitoring means for outputting an abnormal signal indicating an abnormality of the CPU when it is determined that an abnormality has occurred, and a counter for counting the number of occurrences of the abnormal signal output from the CPU monitoring means; When the value reaches a predetermined abnormality detection threshold, a reset signal for resetting the CPU is output.

このCPU監視手段において、CPUに異常が発生しているか否かの判定は、CPUから出力される動作信号のパルス周期及び/又はデューティが、予め定められた許容範囲内にあるか否かによって行われるが、SSCG回路においてそのような判定を行うようにすると、回路規模が大きくなると共に、回路が確実に動作することを証明することは困難であると考えられる。   In this CPU monitoring means, whether or not an abnormality has occurred in the CPU is determined by whether or not the pulse period and / or duty of the operation signal output from the CPU is within a predetermined allowable range. However, if such a determination is made in the SSCG circuit, the circuit scale increases and it is considered difficult to prove that the circuit operates reliably.

特開2007−65961号公報(請求項1及び2、図1)JP 2007-65961 A (Claims 1 and 2, FIG. 1)

本発明の幾つかの観点によれば、クロック信号のスペクトラムを拡散することによって電磁放射ノイズを低減する半導体集積回路装置において、規模が小さくシンプルで確実に動作する回路構成を用いることにより、SSCG回路がデッドロックや誤動作から確実に復帰することができる。   According to some aspects of the present invention, in a semiconductor integrated circuit device that reduces electromagnetic radiation noise by diffusing the spectrum of a clock signal, an SSCG circuit can be obtained by using a circuit configuration that is small and simple and operates reliably. Can reliably recover from deadlocks and malfunctions.

以上の課題を解決するため、本発明の1つの観点に係る半導体集積回路装置は、クロック信号を周波数変調することによって電磁放射ノイズを低減する半導体集積回路装置であって、所定の周波数を有するクロック信号に基づいて、複数の異なる位相を有する多相クロック信号を出力する遅延回路と、遅延回路から出力される多相クロック信号の内の1つを選択信号に従って選択することにより、変調された周波数を有する変調クロック信号を生成する選択回路と、選択回路による変調クロック信号の生成が停止したときにリセット信号を出力するクロック停止検出回路と、クロック停止検出回路から出力されるリセット信号によってリセットされ、選択回路によって生成される変調クロック信号に含まれているパルスの数をカウントすることにより、周期的にタイミング信号を生成するタイミング信号生成回路と、タイミング信号生成回路によって生成されるタイミング信号に応答して、変調クロック信号の周波数を所定の変調周期において増減させるように選択信号を生成する制御回路とを具備する。   In order to solve the above problems, a semiconductor integrated circuit device according to one aspect of the present invention is a semiconductor integrated circuit device that reduces electromagnetic radiation noise by frequency-modulating a clock signal, and has a clock having a predetermined frequency. A modulated frequency by selecting a delay circuit that outputs a multiphase clock signal having a plurality of different phases based on the signal and one of the multiphase clock signals output from the delay circuit according to the selection signal A reset circuit that generates a modulated clock signal, a clock stop detection circuit that outputs a reset signal when generation of the modulation clock signal by the selection circuit stops, and a reset signal output from the clock stop detection circuit, Counts the number of pulses contained in the modulated clock signal generated by the selection circuit. To generate a selection signal so as to increase or decrease the frequency of the modulation clock signal in a predetermined modulation period in response to the timing signal generated by the timing signal generation circuit and the timing signal generation circuit generated periodically. And a control circuit.

ここで、タイミング信号生成回路が、選択回路によって生成される変調クロック信号に同期してカウント値をインクリメントし、カウント値が設定値となったときに、タイミング信号を出力すると共に、カウント値をリセットするようにしても良い。   Here, the timing signal generation circuit increments the count value in synchronization with the modulation clock signal generated by the selection circuit, and outputs the timing signal and resets the count value when the count value reaches the set value. You may make it do.

あるいは、タイミング信号生成回路が、選択回路によって生成される変調クロック信号に同期してカウント値をインクリメントし、カウント値が第1の設定値となったときに、タイミング信号を出力すると共に、カウント値が第2の設定値となったときに、カウント値をリセットするようにしても良い。   Alternatively, the timing signal generation circuit increments the count value in synchronization with the modulation clock signal generated by the selection circuit, and outputs the timing signal and the count value when the count value reaches the first set value. The count value may be reset when becomes the second set value.

また、半導体集積回路装置が、周期設定信号を入力する入力端子をさらに具備し、タイミング信号生成回路が、入力端子に入力される周期設定信号に従って、タイミング信号を生成する周期を設定し、制御回路が、入力端子に入力される周期設定信号に従って、変調クロック信号の周波数を増減させる変調周期を設定するようにしても良い。   The semiconductor integrated circuit device further includes an input terminal for inputting a period setting signal, and the timing signal generation circuit sets a period for generating the timing signal in accordance with the period setting signal input to the input terminal, and the control circuit However, the modulation period for increasing or decreasing the frequency of the modulation clock signal may be set according to the period setting signal input to the input terminal.

さらに、本発明の1つの観点に係る電子機器は、上記いずれかの半導体集積回路装置を具備する。   Furthermore, an electronic apparatus according to one aspect of the present invention includes any one of the above semiconductor integrated circuit devices.

本発明によれば、変調クロック信号の生成が停止したときにリセット信号を出力するクロック停止検出回路と、リセット信号によってリセットされ、変調クロック信号に含まれているパルスの数をカウントして周期的にタイミング信号を生成するタイミング信号生成回路とを用いることにより、制御回路が一定期間毎に初期化されるので、SSCG回路がデッドロックや誤動作から確実に復帰することができる。   According to the present invention, the clock stop detection circuit that outputs a reset signal when the generation of the modulation clock signal is stopped, and the number of pulses that are reset by the reset signal and included in the modulation clock signal are counted periodically. By using a timing signal generation circuit that generates a timing signal at the same time, the control circuit is initialized at regular intervals, so that the SSCG circuit can be reliably recovered from a deadlock or malfunction.

本発明の一実施形態に係る半導体集積回路装置の構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention. 図1に示す遅延回路の構成例を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of a delay circuit illustrated in FIG. 1. 遅延回路から出力される多相クロック信号の選択動作を説明するための図。The figure for demonstrating selection operation | movement of the multiphase clock signal output from a delay circuit. 図1に示すクロック停止検出回路の構成例を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of a clock stop detection circuit illustrated in FIG. 1. 図1に示すタイミング信号生成回路の第1の構成例を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a first configuration example of a timing signal generation circuit shown in FIG. 1. 図1に示すタイミング信号生成回路の第2の構成例を示すブロック図。FIG. 3 is a block diagram showing a second configuration example of the timing signal generation circuit shown in FIG. 1. 1パルスのタイミング信号と変調クロック信号の周波数との関係を示す図。The figure which shows the relationship between the timing signal of 1 pulse, and the frequency of a modulation | alteration clock signal. 周期的なタイミング信号と変調クロック信号の周波数との関係を示す図。The figure which shows the relationship between a periodic timing signal and the frequency of a modulation clock signal.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
図1は、本発明の一実施形態に係る半導体集積回路装置の構成を示すブロック図である。この半導体集積回路装置は、クロック信号のスペクトラムを拡散することによって電磁放射ノイズを低減するSSCG(スプレッド・スペクトラム・クロック・ジェネレーション)方式を採用しており、例えば、携帯電話や液晶テレビ等の電子機器に搭載されて、液晶表示パネルを駆動するために用いられる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same referential mark is attached | subjected to the same component and the overlapping description is abbreviate | omitted.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention. This semiconductor integrated circuit device employs an SSCG (Spread Spectrum Clock Generation) system that reduces electromagnetic radiation noise by diffusing the spectrum of a clock signal. For example, electronic devices such as mobile phones and liquid crystal televisions. And used to drive a liquid crystal display panel.

図1に示すように、この半導体集積回路装置は、クロック信号生成回路10と、遅延回路20と、選択回路30と、クロック停止検出回路40と、タイミング信号生成回路50と、制御回路60と、論理回路70と、機能ブロック80と、同期化ブロック90と、ドライバー回路100と、複数の入力端子及び出力端子とを含んでいる。   As shown in FIG. 1, the semiconductor integrated circuit device includes a clock signal generation circuit 10, a delay circuit 20, a selection circuit 30, a clock stop detection circuit 40, a timing signal generation circuit 50, a control circuit 60, The logic circuit 70, the functional block 80, the synchronization block 90, the driver circuit 100, and a plurality of input terminals and output terminals are included.

クロック信号生成回路10は、水晶振動子等を用いて、所定の周波数を有するクロック信号(以下、「基準クロック信号」ともいう)を生成する。なお、クロック信号生成回路10を半導体集積回路装置内に設けず、外部からクロック信号端子CKに基準クロック信号を入力するようにしても良い。   The clock signal generation circuit 10 generates a clock signal having a predetermined frequency (hereinafter also referred to as “reference clock signal”) using a crystal resonator or the like. Note that the clock signal generation circuit 10 may not be provided in the semiconductor integrated circuit device, but a reference clock signal may be input from the outside to the clock signal terminal CK.

遅延回路20〜制御回路60は、基準クロック信号を周波数変調することにより、変調された周波数を有する変調クロック信号を生成するSSCG回路ブロック(SSマクロ)を構成している。本実施形態においては、制御回路60を一定期間毎に初期化してSSCG回路をデッドロックや誤動作から復帰させるために、クロック停止検出回路40及びタイミング信号生成回路50が設けられている。   The delay circuit 20 to the control circuit 60 constitute an SSCG circuit block (SS macro) that generates a modulated clock signal having a modulated frequency by frequency-modulating the reference clock signal. In the present embodiment, a clock stop detection circuit 40 and a timing signal generation circuit 50 are provided in order to initialize the control circuit 60 at regular intervals and restore the SSCG circuit from deadlock or malfunction.

遅延回路20は、基準クロック信号に基づいて、複数の異なる位相を有する多相クロック信号を出力する。選択回路30は、遅延回路20から出力される多相クロック信号の内の1つを選択信号に従って選択することにより、変調された周波数を有する変調クロック信号を生成する。   The delay circuit 20 outputs a multiphase clock signal having a plurality of different phases based on the reference clock signal. The selection circuit 30 generates a modulated clock signal having a modulated frequency by selecting one of the multiphase clock signals output from the delay circuit 20 in accordance with the selection signal.

クロック停止検出回路40は、選択回路30による変調クロック信号の生成が停止したときに、リセット信号(例えば、ハイアクティブ)を出力する。タイミング信号生成回路50は、クロック停止検出回路40から出力されるリセット信号によってリセットされ、選択回路30によって生成される変調クロック信号に含まれているパルスの数をカウントすることにより、周期的にタイミング信号(例えば、ハイアクティブ)を生成する。   The clock stop detection circuit 40 outputs a reset signal (for example, high active) when the generation of the modulation clock signal by the selection circuit 30 is stopped. The timing signal generation circuit 50 is reset by the reset signal output from the clock stop detection circuit 40 and counts the number of pulses included in the modulation clock signal generated by the selection circuit 30 to thereby perform timing periodically. A signal (eg, high active) is generated.

制御回路60は、タイミング信号生成回路50によって生成されるタイミング信号に応答して、変調クロック信号の周波数を所定の変調周期において増減させるように選択信号を生成する。制御回路60は、周期的に生成されるタイミング信号によって一定期間毎に初期化されるので、デッドロックや誤動作から容易に復帰することができる。   In response to the timing signal generated by the timing signal generation circuit 50, the control circuit 60 generates a selection signal so as to increase or decrease the frequency of the modulation clock signal in a predetermined modulation period. Since the control circuit 60 is initialized at fixed intervals by a periodically generated timing signal, it can easily recover from a deadlock or malfunction.

クロック停止検出回路40から出力されるリセット信号(内部リセット信号)、及び、外部リセット信号入力端子RSTに入力される外部リセット信号がハイアクティブである場合には、論理回路70としてOR回路が用いられる。論理回路70は、内部リセット信号と外部リセット信号との論理和を求め、それらの論理和を表すリセット信号をタイミング信号生成回路50及び制御回路60に供給する。   When the reset signal (internal reset signal) output from the clock stop detection circuit 40 and the external reset signal input to the external reset signal input terminal RST are high active, an OR circuit is used as the logic circuit 70. . The logic circuit 70 obtains a logical sum of the internal reset signal and the external reset signal and supplies a reset signal representing the logical sum to the timing signal generation circuit 50 and the control circuit 60.

従って、タイミング信号生成回路50及び制御回路60は、選択回路30による変調クロック信号の生成が停止したとき、及び、パワーオンリセット等によって外部リセット信号がアクティブになったときに、リセットされることになる。制御回路60は、リセットされた際に、変調クロック信号の周波数を所定の変調周期において増減させるように選択信号を生成しても良い。   Therefore, the timing signal generation circuit 50 and the control circuit 60 are reset when the generation of the modulation clock signal by the selection circuit 30 is stopped and when the external reset signal becomes active due to a power-on reset or the like. Become. When reset, the control circuit 60 may generate a selection signal so as to increase or decrease the frequency of the modulation clock signal in a predetermined modulation period.

機能ブロック80は、外部からデータ入力端子DINを介して画像データを入力し、変調クロック信号に同期して画像データを処理することにより、画像処理等の機能を実現する。同期化ブロック90は、機能ブロック80から入力した画像データを、基準クロック信号に同期して出力する。ドライバー回路100は、基準クロック信号に同期して動作し、同期化ブロック90から入力した画像データに基づいて、液晶表示パネルを駆動するための複数の駆動信号を生成し、それらの駆動信号を出力端子S1〜SJに供給する。   The functional block 80 inputs image data from the outside via the data input terminal DIN, and processes image data in synchronization with the modulation clock signal, thereby realizing functions such as image processing. The synchronization block 90 outputs the image data input from the function block 80 in synchronization with the reference clock signal. The driver circuit 100 operates in synchronization with the reference clock signal, generates a plurality of drive signals for driving the liquid crystal display panel based on the image data input from the synchronization block 90, and outputs these drive signals. Supply to terminals S1 to SJ.

次に、SSCG回路ブロックを構成する各回路について詳しく説明する。
図2は、図1に示す遅延回路の構成例を示すブロック図である。遅延回路20は、基準クロック信号を入力するバッファー21と、バッファー21から出力されるクロック信号CK(t)をそれぞれの遅延量で順次遅延させる直列接続された複数の遅延回路22、23、24、・・・とを含んでいる。ここで、バッファーは、2つのインバータを直列に接続して構成しても良い。また、各々の遅延回路は、1つのバッファー又は直列接続された複数のバッファーのゲート遅延によって実現しても良い。
Next, each circuit constituting the SSCG circuit block will be described in detail.
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the delay circuit shown in FIG. The delay circuit 20 includes a buffer 21 to which a reference clock signal is input and a plurality of serially connected delay circuits 22, 23, 24, which sequentially delay the clock signal CK (t) output from the buffer 21 by each delay amount. ... and so on. Here, the buffer may be configured by connecting two inverters in series. Each delay circuit may be realized by a gate delay of one buffer or a plurality of buffers connected in series.

図2に示すように、第1番目の遅延回路22〜第2K番目の遅延回路25における遅延量をΔT、ΔT、・・・、ΔT、・・・、ΔT2Kで表すと(Kは自然数)、時刻tにおいて、多相クロック信号CK(t)、CK(t−T)、CK(t−T)、・・・、CK(t−T)、・・・、CK(t−T2K)が遅延回路20から出力される。ただし、T=ΔT、T=ΔT+ΔT、・・・、T=ΔT+ΔT+・・・+ΔT、T2K=ΔT+ΔT+・・・+ΔT2Kである。 As shown in FIG. 2, [Delta] T 1 the delay amount in the first delay circuit 22 to the 2K-th delay circuit 25, ΔT 2, ···, ΔT K, ···, is represented by [Delta] T 2K (K Is a natural number), and at time t, multiphase clock signals CK (t), CK (t−T 1 ), CK (t−T 2 ),..., CK (t−T K ),. (T−T 2K ) is output from the delay circuit 20. However, T 1 = ΔT 1, T 2 = ΔT 1 + ΔT 2, ···, is a T K = ΔT 1 + ΔT 2 + ··· + ΔT K, T 2K = ΔT 1 + ΔT 2 + ··· + ΔT 2K.

ここで、クロック信号CK(t−T)を位相の基準として考えると、それよりも位相の進んだK個のクロック信号と、それよりも位相の遅れたK個のクロック信号とが存在することになる。従って、(2K+1)個の多相クロック信号CK(t)〜CK(t−T2K)の内から1つのクロック信号を順次選択することにより、クロック信号CK(t−T)の位相を中心として位相が増減する変調クロック信号を生成することができる。 Here, when the clock signal CK (t−T K ) is considered as a phase reference, there are K clock signals having a phase advanced from that and K clock signals having a phase delayed from that. It will be. Accordingly, by sequentially selecting one clock signal from among (2K + 1) multiphase clock signals CK (t) to CK (t−T 2K ), the phase of the clock signal CK (t−T K ) is centered. A modulated clock signal whose phase increases or decreases can be generated.

例えば、ΔT=ΔT=ΔT=・・・のように位相差を等間隔とすれば、次第に位相が遅れるクロック信号CK(t)、CK(t−T)、CK(t−T)、・・・を順次選択している期間において、一定の負の周波数偏移を有する周波数変調を実現することができる。一方、次第に位相が早まるクロック信号CK(t−T2K)、CK(t−T2K−1)、CK(t−T2K−2)、・・・を順次選択している期間においては、一定の正の周波数偏移を有する周波数変調を実現することができる。 For example, if the phase difference is set at equal intervals such as ΔT 1 = ΔT 2 = ΔT 3 =..., Clock signals CK (t), CK (t−T 1 ), and CK (t−T) whose phases are gradually delayed. 2 ) In a period in which... Are sequentially selected, frequency modulation having a constant negative frequency shift can be realized. On the other hand, in a period in which the clock signals CK (t−T 2K ), CK (t−T 2K−1 ), CK (t−T 2K− 2 ) ,. A frequency modulation with a positive frequency deviation of can be realized.

あるいは、ΔTを一定の遅延量としたときに、ΔT+ΔT=ΔT、ΔT+ΔT=ΔT、・・・のように位相差を累積的とすれば、クロック信号CK(t)、CK(t−T)、CK(t−T)、・・・を順次選択している期間において、時間と共に瞬時周波数が線形に変化する周波数変調を実現することができる。 Alternatively, when ΔT is a constant delay amount, if the phase difference is cumulative as ΔT 1 + ΔT = ΔT 2 , ΔT 2 + ΔT = ΔT 3 ,..., Clock signals CK (t), CK In a period in which (t−T 1 ), CK (t−T 2 ),... Are sequentially selected, it is possible to realize frequency modulation in which the instantaneous frequency changes linearly with time.

図3は、図2に示す遅延回路から出力される多相クロック信号の選択動作を説明するための図である。ここでは、例として、3つのクロック信号CK(t)、CK(t−T)、CK(t−T)を用いる場合について説明する。図3において(1)〜(5)で示すように、これらのクロック信号の内から1つのクロック信号を順次選択することにより、所定の変調周期毎に低い瞬時周波数と高い瞬時周波数とを交互に有する変調クロック信号MCK(t)を生成することができる。 FIG. 3 is a diagram for explaining the selection operation of the multiphase clock signal output from the delay circuit shown in FIG. Here, as an example, a case where three clock signals CK (t), CK (t−T 1 ), and CK (t−T 2 ) are used will be described. As indicated by (1) to (5) in FIG. 3, by sequentially selecting one clock signal from these clock signals, a low instantaneous frequency and a high instantaneous frequency are alternated every predetermined modulation period. A modulation clock signal MCK (t) having the same can be generated.

図4は、図1に示すクロック停止検出回路の構成例を示すブロック図である。クロック停止検出回路40は、カウンター41と、分周回路42と、エッジ検出回路43と、比較回路44と、閾値設定部45とを含んでいる。   FIG. 4 is a block diagram showing a configuration example of the clock stop detection circuit shown in FIG. The clock stop detection circuit 40 includes a counter 41, a frequency dividing circuit 42, an edge detection circuit 43, a comparison circuit 44, and a threshold setting unit 45.

カウンター41は、複数のDフリップフロップと、EXOR回路やAND回路等の論理回路とによって構成され、カウント値をリセットするために用いられるリセット端子RSTを有している。カウンター41は、基準クロック信号に含まれているパルスの数をカウントして、カウント値を比較回路44に出力する。   The counter 41 includes a plurality of D flip-flops and a logic circuit such as an EXOR circuit and an AND circuit, and has a reset terminal RST used for resetting the count value. The counter 41 counts the number of pulses included in the reference clock signal and outputs the count value to the comparison circuit 44.

分周回路42は、1つ又は複数のDフリップフロップによって構成され、変調クロック信号を所定の分周比で分周して、分周された変調クロック信号(分周信号)を出力する。なお、分周回路42は、変調クロック信号の波形が乱れている場合においても、矩形波に近い波形を有する分周信号を出力することができる。   The frequency dividing circuit 42 includes one or a plurality of D flip-flops, divides the modulated clock signal by a predetermined frequency dividing ratio, and outputs the divided modulated clock signal (divided signal). Note that the frequency dividing circuit 42 can output a frequency-divided signal having a waveform close to a rectangular wave even when the waveform of the modulated clock signal is disturbed.

エッジ検出回路43は、例えば、バッファーによって構成される遅延回路と、遅延回路の入力信号と出力信号との排他的論理和を求めるEXOR回路とによって構成され、分周回路42から出力される分周信号のエッジを検出して、分周信号のエッジ部分においてアクティブとなるエッジ検出信号をカウンター41のリセット端子RSTに供給する。このエッジ検出信号によって、カウンター41におけるカウント値がゼロにリセットされる。   The edge detection circuit 43 includes, for example, a delay circuit configured by a buffer and an EXOR circuit that obtains an exclusive OR of an input signal and an output signal of the delay circuit, and the frequency division output from the frequency division circuit 42 The edge of the signal is detected, and an edge detection signal that becomes active at the edge portion of the divided signal is supplied to the reset terminal RST of the counter 41. The count value in the counter 41 is reset to zero by this edge detection signal.

比較回路44は、カウンター41から出力されるカウント値を閾値設定部45に設定されている閾値と比較して、カウント値が閾値又はそれ以上となったときに、リセット信号を出力する。   The comparison circuit 44 compares the count value output from the counter 41 with the threshold value set in the threshold value setting unit 45, and outputs a reset signal when the count value reaches or exceeds the threshold value.

変調クロック信号が生成されている場合には、分周信号がローレベルとハイレベルとの間で遷移するので、エッジ検出信号が周期的にアクティブとなり、カウンター41が周期的にリセットされる。これにより、カウンター41から出力されるカウント値が閾値以上とならないので、比較回路44はリセット信号を出力しない。例えば、変調クロック信号の変調率が25%であり、分周回路42が変調クロック信号を4分周し、閾値設定部45に設定されている閾値が10である場合には、カウンター41から出力されるカウント値は10未満であるので、リセット信号は出力されない。   When the modulated clock signal is generated, the frequency-divided signal transitions between the low level and the high level, so that the edge detection signal is periodically activated and the counter 41 is periodically reset. Thereby, since the count value output from the counter 41 does not exceed the threshold value, the comparison circuit 44 does not output a reset signal. For example, when the modulation rate of the modulation clock signal is 25%, the frequency dividing circuit 42 divides the modulation clock signal by 4, and the threshold value set in the threshold value setting unit 45 is 10, output from the counter 41 Since the counted value is less than 10, no reset signal is output.

一方、変調クロック信号の生成が停止した場合には、分周信号がローレベル又はハイレベルに固定されて、エッジ検出信号がアクティブとならないので、カウンター41がリセットされなくなる。その結果、カウンター41から出力されるカウント値が次第に増加して閾値と等しくなる。比較回路44は、カウント値が閾値と等しくなったときに、リセット信号を出力する。   On the other hand, when the generation of the modulation clock signal is stopped, the frequency-divided signal is fixed at the low level or the high level, and the edge detection signal is not activated, so that the counter 41 is not reset. As a result, the count value output from the counter 41 gradually increases and becomes equal to the threshold value. The comparison circuit 44 outputs a reset signal when the count value becomes equal to the threshold value.

図5は、図1に示すタイミング信号生成回路の第1の構成例を示すブロック図である。タイミング信号生成回路50は、変調周期テーブル51と、加算回路52と、比較回路53と、論理回路54とを含んでいる。   FIG. 5 is a block diagram showing a first configuration example of the timing signal generation circuit shown in FIG. The timing signal generation circuit 50 includes a modulation period table 51, an addition circuit 52, a comparison circuit 53, and a logic circuit 54.

変調周期テーブル51は、レジスター等によって構成される。図1に示すように、半導体集積回路装置は、周期設定信号を入力する入力端子SETを有しており、タイミング信号生成回路50は、入力端子SETに入力される周期設定信号に従って、周期設定値を変調周期テーブル51に格納する。   The modulation period table 51 is configured by a register or the like. As shown in FIG. 1, the semiconductor integrated circuit device has an input terminal SET for inputting a cycle setting signal, and the timing signal generation circuit 50 has a cycle setting value according to the cycle setting signal input to the input terminal SET. Is stored in the modulation period table 51.

加算回路52は、複数のDフリップフロップと、EXOR回路やAND回路等の論理回路とによって構成され、カウント値をリセットするために用いられるリセット端子RSTを有している。加算回路52は、変調クロック信号に同期してカウント値を1ずつインクリメントすることにより、変調クロック信号に含まれているパルスの数をカウントするカウンターとして機能する。   The adder circuit 52 includes a plurality of D flip-flops and a logic circuit such as an EXOR circuit and an AND circuit, and has a reset terminal RST used for resetting the count value. The adder circuit 52 functions as a counter that counts the number of pulses included in the modulated clock signal by incrementing the count value by one in synchronization with the modulated clock signal.

比較回路53は、加算回路52から出力されるカウント値を、変調周期テーブル51に格納されている設定値と比較することにより、カウント値が設定値又はそれ以上となったときにタイミング信号を出力する。比較回路53から出力されるタイミング信号、及び、論理回路70(図1)から出力されるリセット信号は、論理回路54に入力される。   The comparison circuit 53 compares the count value output from the adder circuit 52 with the set value stored in the modulation cycle table 51, and outputs a timing signal when the count value reaches or exceeds the set value. To do. The timing signal output from the comparison circuit 53 and the reset signal output from the logic circuit 70 (FIG. 1) are input to the logic circuit 54.

タイミング信号及びリセット信号がハイアクティブである場合には、論理回路54としてOR回路が用いられる。論理回路54は、タイミング信号とリセット信号との論理和を求め、それらの論理和を表す信号を加算回路52のリセット端子RSTに供給する。   When the timing signal and the reset signal are high active, an OR circuit is used as the logic circuit 54. The logic circuit 54 obtains a logical sum of the timing signal and the reset signal and supplies a signal representing the logical sum to the reset terminal RST of the adder circuit 52.

従って、加算回路52は、カウント値が設定値と等しくなったとき、及び、リセット信号がアクティブになったときに、リセットされる。リセット信号がノンアクティブである場合に、タイミング信号生成回路50がパルス状のタイミング信号を生成する周期は、入力端子SET(図1)に入力される周期設定信号に従って設定されることになる。   Therefore, the adder circuit 52 is reset when the count value becomes equal to the set value and when the reset signal becomes active. When the reset signal is inactive, the cycle in which the timing signal generation circuit 50 generates the pulsed timing signal is set according to the cycle setting signal input to the input terminal SET (FIG. 1).

このように、基準クロック信号ではなく変調クロック信号に基づいてタイミング信号生成回路50を動作させる理由は、選択回路30が多相クロック信号を選択するタイミングを変調クロック信号に同期させることにより、選択回路30よって生成される変調クロック信号の波形が乱れないようにするためである。   As described above, the reason for operating the timing signal generation circuit 50 based on the modulation clock signal instead of the reference clock signal is that the selection circuit 30 synchronizes the timing for selecting the multiphase clock signal with the modulation clock signal. This is to prevent the waveform of the modulated clock signal generated by 30 from being disturbed.

図6は、図1に示すタイミング信号生成回路の第2の構成例を示すブロック図である。第2の構成例においては、第1の構成例に対して比較回路55が追加されている。比較回路55は、加算回路52から出力されるカウント値を第1の設定値と比較することにより、カウント値が第1の設定値又はそれ以上になったときにタイミング信号を出力する。ここで、第1の設定値を「0」に設定しておけば、加算回路52におけるカウント値が「0」であるときにタイミング信号が出力される。   FIG. 6 is a block diagram showing a second configuration example of the timing signal generation circuit shown in FIG. In the second configuration example, a comparison circuit 55 is added to the first configuration example. The comparison circuit 55 compares the count value output from the addition circuit 52 with the first set value, and outputs a timing signal when the count value becomes the first set value or higher. If the first set value is set to “0”, the timing signal is output when the count value in the adder circuit 52 is “0”.

一方、比較回路53は、加算回路52から出力されるカウント値を、変調周期テーブル51に格納されている第2の設定値と比較することにより、カウント値が第2の設定値又はそれ以上となったときにカウント値リセット信号を出力する。比較回路53から出力されるカウント値リセット信号、及び、論理回路70(図1)から出力されるリセット信号は、論理回路54に入力される。   On the other hand, the comparison circuit 53 compares the count value output from the addition circuit 52 with the second set value stored in the modulation cycle table 51, so that the count value becomes the second set value or higher. When this happens, the count value reset signal is output. The count value reset signal output from the comparison circuit 53 and the reset signal output from the logic circuit 70 (FIG. 1) are input to the logic circuit 54.

カウント値リセット信号及びリセット信号がハイアクティブである場合には、論理回路54としてOR回路が用いられる。論理回路54は、カウント値リセット信号とリセット信号との論理和を求め、それらの論理和を表す信号を加算回路52のリセット端子RSTに供給する。   When the count value reset signal and the reset signal are high active, an OR circuit is used as the logic circuit 54. The logic circuit 54 obtains a logical sum of the count value reset signal and the reset signal, and supplies a signal representing the logical sum to the reset terminal RST of the adder circuit 52.

従って、加算回路52は、カウント値が第2の設定値と等しくなったとき、及び、リセット信号がアクティブになったときに、リセットされる。リセット信号がノンアクティブである場合に、タイミング信号生成回路50がパルス状のタイミング信号を生成する周期は、入力端子SET(図1)に入力される周期設定信号によって設定されることになる。   Therefore, the addition circuit 52 is reset when the count value becomes equal to the second set value and when the reset signal becomes active. When the reset signal is inactive, the cycle in which the timing signal generation circuit 50 generates the pulsed timing signal is set by the cycle setting signal input to the input terminal SET (FIG. 1).

再び図1を参照すると、制御回路60は、タイミング信号生成回路50によって生成されるタイミング信号に応答して、変調クロック信号の周波数を所定の変調周期において増減させるように選択信号を生成する。ここで、制御回路60は、入力端子SET(図1)に入力される周期設定信号に従って、変調クロック信号の周波数を増減させる変調周期を設定する。   Referring again to FIG. 1, in response to the timing signal generated by the timing signal generation circuit 50, the control circuit 60 generates a selection signal so as to increase or decrease the frequency of the modulation clock signal in a predetermined modulation period. Here, the control circuit 60 sets the modulation period for increasing or decreasing the frequency of the modulation clock signal in accordance with the period setting signal input to the input terminal SET (FIG. 1).

制御回路60は、カウンター又はシフトレジスター等を含んでいる。以下においては、カウンターを用いる場合について説明する。例えば、制御回路60は、周期設定信号に従って、第1の閾値〜第3の閾値を設定する。また、制御回路60は、タイミング信号によって初期化され、カウント値をゼロにリセットした後、変調クロック信号に含まれているパルスの数をカウントしてカウント値を生成する。   The control circuit 60 includes a counter or a shift register. Below, the case where a counter is used is demonstrated. For example, the control circuit 60 sets the first threshold value to the third threshold value according to the cycle setting signal. The control circuit 60 is initialized by the timing signal, resets the count value to zero, and then counts the number of pulses included in the modulated clock signal to generate the count value.

制御回路60は、カウント値がゼロから第1の閾値に達するまでの期間において、選択回路30によって選択されるクロック信号の位相が、図2に示すクロック信号CK(t−T)、・・・、CK(t−T)、CK(t−T)、CK(t)のように順次進むように選択信号を生成する。 The control circuit 60 determines that the phase of the clock signal selected by the selection circuit 30 is from the clock signal CK (t−T K ) shown in FIG. A selection signal is generated so as to proceed sequentially like CK (t−T 2 ), CK (t−T 1 ), and CK (t).

さらに、制御回路60は、カウント値が第1の閾値を超えてから第2の閾値に達するまでの期間に、選択回路30によって選択されるクロック信号の位相が順次遅れるように選択信号を生成し、カウント値が第2の閾値を超えてから第3の閾値に達するまでの期間に、選択回路30によって選択されるクロック信号の位相が順次進むように選択信号を生成する。カウント値が第3の閾値に達したら、1変調周期分の変調動作が完了するので、制御回路60は選択信号を初期値に保つ。   Further, the control circuit 60 generates a selection signal so that the phase of the clock signal selected by the selection circuit 30 is sequentially delayed during the period from when the count value exceeds the first threshold value until the second threshold value is reached. The selection signal is generated so that the phase of the clock signal selected by the selection circuit 30 is sequentially advanced during the period from when the count value exceeds the second threshold value until the third threshold value is reached. When the count value reaches the third threshold value, the modulation operation for one modulation period is completed, and the control circuit 60 maintains the selection signal at the initial value.

図7は、1パルスのタイミング信号と変調クロック信号の周波数との関係を示す図である。選択回路30が、制御回路60によって生成される選択信号に従って多相クロック信号の内の1つを順次選択することにより、変調クロック信号の周波数が図7に示すように変化する。   FIG. 7 is a diagram illustrating the relationship between the timing signal of one pulse and the frequency of the modulation clock signal. The selection circuit 30 sequentially selects one of the multiphase clock signals according to the selection signal generated by the control circuit 60, whereby the frequency of the modulation clock signal changes as shown in FIG.

図7に示す例においては、タイミング信号の1つのパルスに応答して、変調クロック信号の周波数が1変調周期において増減される。例えば、変調クロック信号の中心周波数fは20MHzであり、変調クロック信号の最小周波数fは15MHzであり、変調クロック信号の最大周波数fは25MHzである。変調周期の前後においては、変調クロック信号の周波数は一定値(例えば、中心周波数f)に設定される。なお、タイミング信号の1つのパルスに応答して、変調クロック信号の周波数が複数の変調周期において増減されるようにしても良い。 In the example shown in FIG. 7, the frequency of the modulation clock signal is increased or decreased in one modulation period in response to one pulse of the timing signal. For example, the center frequency f 0 of the modulation clock signal is 20 MHz, the minimum frequency f 1 of the modulation clock signal is 15 MHz, and the maximum frequency f 2 of the modulation clock signal is 25 MHz. Before and after the modulation period, the frequency of the modulation clock signal is set to a constant value (for example, the center frequency f 0 ). Note that the frequency of the modulation clock signal may be increased or decreased in a plurality of modulation periods in response to one pulse of the timing signal.

図8は、周期的に生成されるタイミング信号と変調クロック信号の周波数との関係を示す図である。タイミング信号生成回路50がタイミング信号の複数のパルスを周期的に生成するので、制御回路60は周期的に初期化されることになる。タイミング信号の第1のパルスに応答して変調クロック信号の周波数が第1の変調周期において増減された後に、タイミング信号の第2のパルスに応答して変調クロック信号の周波数が第2の変調周期において増減され、このようにして、変調クロック信号の周波数が連続的に変調される。   FIG. 8 is a diagram illustrating the relationship between the periodically generated timing signal and the frequency of the modulated clock signal. Since the timing signal generation circuit 50 periodically generates a plurality of pulses of the timing signal, the control circuit 60 is periodically initialized. After the frequency of the modulation clock signal is increased or decreased in the first modulation period in response to the first pulse of the timing signal, the frequency of the modulation clock signal is changed to the second modulation period in response to the second pulse of the timing signal. In this way, the frequency of the modulated clock signal is continuously modulated.

このように、制御回路60は、複雑な動作を行うのであるが、デッドロックしたり連続的に誤動作したりしても、タイミング信号生成回路50によって周期的に生成されるタイミング信号によって一定期間毎に初期化されるので、一定期間後には必ず正常状態に復帰することができる。一方、タイミング信号を生成するタイミング信号生成回路50は、Dフリップフロップ及び基本的な組み合わせ論理回路のみによって構成される小規模な回路なので、デッドロックや誤動作のおそれが小さいと共に、確実に動作することを容易に証明できる。   As described above, the control circuit 60 performs a complex operation. Even if the control circuit 60 is deadlocked or continuously malfunctions, the control circuit 60 performs a certain period of time by the timing signal periodically generated by the timing signal generation circuit 50. Therefore, it is always possible to return to the normal state after a certain period of time. On the other hand, the timing signal generation circuit 50 that generates the timing signal is a small-scale circuit composed of only the D flip-flop and the basic combinational logic circuit, and therefore has a low possibility of deadlock and malfunction and operates reliably. Can be proved easily.

ただし、タイミング信号生成回路50は、変調クロック信号に同期して動作するので、変調クロック信号の生成が停止するとタイミング信号の生成もできなくなる。そこで、変調クロック信号の生成が停止したときにリセット信号を生成するクロック停止検出回路40を設けたことにより、変調クロック信号の生成が停止するとタイミング信号生成回路50がリセットされるので、再びタイミング信号が生成されるようになる。クロック停止検出回路40も、タイミング信号生成回路50と同様に、Dフリップフロップ及び基本的な組み合わせ論理回路のみによって構成される小規模な回路なので、デッドロックや誤動作のおそれが小さいと共に、確実に動作することを容易に証明できる。   However, since the timing signal generation circuit 50 operates in synchronization with the modulation clock signal, the timing signal cannot be generated when the generation of the modulation clock signal is stopped. Therefore, by providing the clock stop detection circuit 40 that generates the reset signal when the generation of the modulation clock signal is stopped, the timing signal generation circuit 50 is reset when the generation of the modulation clock signal is stopped. Will be generated. Similarly to the timing signal generation circuit 50, the clock stop detection circuit 40 is a small-scale circuit composed of only a D flip-flop and a basic combinational logic circuit. You can prove it easily.

10…クロック信号生成回路、20…遅延回路、21…バッファー、22〜25…遅延回路、30…選択回路、40…クロック停止検出回路、41…カウンター、42…分周回路、43…エッジ検出回路、44…比較回路、45…閾値設定部、50…タイミング信号生成回路、51…変調周期テーブル、52…加算回路、53、55…比較回路、54…論理回路、60…制御回路、70…論理回路、80…機能ブロック、90…同期化ブロック、100…ドライバー回路   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Clock signal generation circuit, 20 ... Delay circuit, 21 ... Buffer, 22-25 ... Delay circuit, 30 ... Selection circuit, 40 ... Clock stop detection circuit, 41 ... Counter, 42 ... Frequency division circuit, 43 ... Edge detection circuit , 44 ... comparison circuit, 45 ... threshold value setting unit, 50 ... timing signal generation circuit, 51 ... modulation period table, 52 ... addition circuit, 53, 55 ... comparison circuit, 54 ... logic circuit, 60 ... control circuit, 70 ... logic Circuit 80 ... Function block 90 ... Synchronization block 100 ... Driver circuit

Claims (4)

クロック信号を周波数変調する半導体集積回路装置であって、
変調された周波数を有する変調クロック信号を生成する変調クロック生成回路と、
前記変調クロック生成回路によって生成される変調クロック信号に同期してカウント値をインクリメントし、カウント値が第1の設定値となったときにタイミング信号を出力すると共に、カウント値が第2の設定値となったときにカウント値をリセットすることにより、周期的にタイミング信号を生成するタイミング信号生成回路と、
前記タイミング信号生成回路によって生成されるタイミング信号に応答して、変調クロック信号の周波数を所定の変調周期において増減させる制御回路と、
を具備する、半導体集積回路装置。
A semiconductor integrated circuit device for frequency-modulating a clock signal,
A modulation clock generation circuit for generating a modulation clock signal having a modulated frequency;
The count value is incremented in synchronization with the modulation clock signal generated by the modulation clock generation circuit, a timing signal is output when the count value reaches the first set value, and the count value is set to the second set value. A timing signal generation circuit that periodically generates a timing signal by resetting the count value when
A control circuit that increases or decreases the frequency of the modulation clock signal in a predetermined modulation period in response to the timing signal generated by the timing signal generation circuit;
A semiconductor integrated circuit device comprising:
所定の周波数を有するクロック信号に基づいて、複数の異なる位相を有する多相クロック信号を出力する遅延回路と、
前記変調クロック生成回路による変調クロック信号の生成が停止したときに、前記タイミング信号生成回路をリセットするリセット信号を出力するクロック停止検出回路と、
を含み、
前記変調クロック生成回路は、前記遅延回路から出力される多相クロック信号の内の1つを選択信号に従って選択することにより、変調された周波数を有する前記変調クロック信号を生成する、請求項1記載の半導体集積回路装置。
A delay circuit that outputs a multiphase clock signal having a plurality of different phases based on a clock signal having a predetermined frequency;
A clock stop detection circuit that outputs a reset signal for resetting the timing signal generation circuit when generation of the modulation clock signal by the modulation clock generation circuit is stopped;
Including
The modulation clock generation circuit generates the modulation clock signal having a modulated frequency by selecting one of multiphase clock signals output from the delay circuit according to a selection signal. Semiconductor integrated circuit device.
クロック信号を周波数変調する半導体集積回路装置であって、
所定の周波数を有するクロック信号に基づいて、複数の異なる位相を有する多相クロック信号を出力する遅延回路と、
前記遅延回路から出力される多相クロック信号の内の1つを選択信号に従って選択することにより、変調された周波数を有する変調クロック信号を生成する選択回路と、
前記選択回路による変調クロック信号の生成が停止したときにリセット信号を出力するクロック停止検出回路と、
前記クロック停止検出回路から出力されるリセット信号によってリセットされ、前記選択回路によって生成される変調クロック信号に含まれているパルスの数をカウントすることにより、周期的にタイミング信号を生成するタイミング信号生成回路と、
前記タイミング信号生成回路によって生成されるタイミング信号に応答して、変調クロック信号の周波数を所定の変調周期において増減させるように前記選択信号を生成する制御回路と、
周期設定信号を入力する入力端子と、
を具備し、
前記タイミング信号生成回路が、前記入力端子に入力される周期設定信号に従って、タイミング信号を生成する周期を設定し、
前記制御回路が、前記入力端子に入力される周期設定信号に従って、変調クロック信号の周波数を増減させる変調周期を設定する、
半導体集積回路装置。
A clock signal to a semi-conductor integrated circuit device you frequency modulation,
A delay circuit that outputs a multiphase clock signal having a plurality of different phases based on a clock signal having a predetermined frequency;
A selection circuit that generates a modulated clock signal having a modulated frequency by selecting one of the multiphase clock signals output from the delay circuit according to the selection signal;
A clock stop detection circuit that outputs a reset signal when generation of a modulation clock signal by the selection circuit stops;
Timing signal generation that generates a timing signal periodically by counting the number of pulses that are reset by the reset signal output from the clock stop detection circuit and included in the modulation clock signal generated by the selection circuit Circuit,
A control circuit for generating the selection signal so as to increase or decrease the frequency of the modulation clock signal in a predetermined modulation period in response to the timing signal generated by the timing signal generation circuit;
An input terminal for inputting a cycle setting signal;
Equipped with,
The timing signal generation circuit sets a period for generating a timing signal according to a period setting signal input to the input terminal,
The control circuit sets a modulation period for increasing or decreasing the frequency of the modulation clock signal in accordance with a period setting signal input to the input terminal;
Semiconductor integrated circuit device.
請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体集積回路装置を具備する電子機器。   An electronic apparatus comprising the semiconductor integrated circuit device according to claim 1.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6127816B2 (en) * 2013-08-01 2017-05-17 セイコーエプソン株式会社 Semiconductor integrated circuit device, electronic device, and memory control method
US9531349B2 (en) * 2015-01-22 2016-12-27 Honeywell International Inc. System and method for controlling radiated EMI using interleaved frequency switching
JP6597671B2 (en) * 2017-02-28 2019-10-30 株式会社デンソー Semiconductor integrated circuit device
CN111404527B (en) * 2020-03-23 2023-08-18 上海钧正网络科技有限公司 Control circuit and method for automatic power-on and power-off of system abnormality
US11057001B2 (en) * 2020-06-14 2021-07-06 Intel Corporation Apparatus, system, and method of distributing a reset signal to a plurality of PHY chains
CN111933517A (en) * 2020-08-14 2020-11-13 北京北方华创微电子装备有限公司 Method and device for starting process task in semiconductor process equipment

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001148690A (en) * 1999-11-19 2001-05-29 Sony Corp Clock generator
JP2006324750A (en) * 2005-05-17 2006-11-30 Nec Electronics Corp Clock generating circuit
JP2008197943A (en) * 2007-02-14 2008-08-28 Renesas Technology Corp Computer system
JP5319986B2 (en) * 2008-08-26 2013-10-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Pulse generator
JP2010140364A (en) * 2008-12-12 2010-06-24 Autonetworks Technologies Ltd Processor

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