JP5934567B2 - 電極故障診断装置 - Google Patents
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Description
(1) 電極間に導通があるという故障を診断する電極故障診断装置であって、
前記電極間に直流電圧を印加する印加部と、
前記電極間の静電容量を検出する静電容量検出部と、
前記電極間に対する前記印加部の接続、及び前記電極間に対する前記静電容量検出部の接続を、スイッチング周波数で交互にオンまたはオフに切り替えるスイッチ部と、
前記印加部の接続がオフにされてから前記静電容量検出部の接続がオンになるまでのデッドタイムの期間を第1期間と前記第1期間とは異なる第2期間に変更する期間変更部と、
前記静電容量検出部によって検出される、前記第1期間経過後の静電容量と前記第2期間経過後の静電容量とが略等しいか否かを判別する判別部と、
前記第1期間経過後の静電容量と前記第2期間経過後の静電容量が略等しくない場合、前記電極間に導通があるという故障を検出する故障検出部と、
を備えること。
(2) 上記(1)の構成の電極故障診断装置であって、
前記期間変更部は、前記スイッチング周波数を変更することで前記デッドタイムの期間を前記第1期間と前記第2期間に変更すること。
(3) 上記(1)の構成の電極故障診断装置であって、
前記期間変更部は、前記オン期間のデューティ比を変更することで前記デッドタイムの期間を前記第1期間と前記第2期間に変更すること。
(4) 上記(1)から(3)のいずれか一つの構成の電極故障診断装置であって、
前記電極の少なくとも一方の表面が絶縁材で覆われ、
導電性を有する液体に前記電極間が浸かっている状態で、前記印加部は前記電極間に直流電圧を印加すること。
Q=Cs×VIN ……(1)
Iave=Q/Δt ……(2)
Iave=Cs×VIN×fs ……(3)
VIN/Iave=1/(Cs×fs) ……(4)
Rcs=1/(Cs×fs) ……(5)
Vout=−(Rf/Rcs)×VIN ……(6)
Vout=−Rf×Cs×fs×VIN
Cs=Vout/(−Rf×fs×VIN) ……(7)
2 液位センサ
4 液位検出電極
7 誘電率検出電極
5、8 接地電極
6 誘電率センサ
9 タンク
10 スイッチトキャパシタ変換回路
11、16 絶縁被覆
12 オペアンプ
13 ドライバ
15 平滑回路
17 A/Dコンバータ
20 マイクロコンピュータ(CPU)
21 CPU
22 ROM
23 RAM
Claims (4)
- 電極間に導通があるという故障を診断する電極故障診断装置であって、
前記電極間に直流電圧を印加する印加部と、
前記電極間の静電容量を検出する静電容量検出部と、
前記電極間に対する前記印加部の接続、及び前記電極間に対する前記静電容量検出部の接続を、スイッチング周波数で交互にオンまたはオフに切り替えるスイッチ部と、
前記印加部の接続がオフにされてから前記静電容量検出部の接続がオンになるまでのデッドタイムの期間を第1期間と前記第1期間とは異なる第2期間に変更する期間変更部と、
前記静電容量検出部によって検出される、前記第1期間経過後の静電容量と前記第2期間経過後の静電容量とが略等しいか否かを判別する判別部と、
前記第1期間経過後の静電容量と前記第2期間経過後の静電容量が略等しくない場合、前記電極間に導通があるという故障を検出する故障検出部と、
を備えることを特徴とする電極故障診断装置。 - 前記期間変更部は、前記スイッチング周波数を変更することで前記デッドタイムの期間を前記第1期間と前記第2期間に変更することを特徴とする請求項1記載の電極故障診断装置。
- 前記期間変更部は、前記オン期間のデューティ比を変更することで前記デッドタイムの期間を前記第1期間と前記第2期間に変更することを特徴とする請求項1記載の電極故障診断装置。
- 前記電極の少なくとも一方の表面が絶縁材で覆われ、
導電性を有する液体に前記電極間が浸かっている状態で、前記印加部は前記電極間に直流電圧を印加することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電極故障診断装置。
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JP2012098075A JP5934567B2 (ja) | 2012-04-23 | 2012-04-23 | 電極故障診断装置 |
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