JP5915813B2 - 積層セラミック電子部品 - Google Patents

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Description

この発明は、積層セラミック電子部品に関し、特にたとえば、複数のセラミック層および複数の内部電極が積層された積層体と、積層体の外表面に形成される外部電極とを含む積層セラミック電子部品に関する。
コンデンサチップや抵抗チップなどのチップ型電子部品は、テープ状の梱包材に収納される。梱包材は、厚みを有する収納用テープを含む。収納用テープには、その長手方向に分布するように複数の貫通孔が形成される。収納用テープの一方面にカバーシートが貼着され、収納用テープの貫通孔内にチップ型電子部品が収納された後に、収納用テープの他方面にカバーシートが貼着される。このようにして、テープ状の梱包材に収納されたチップ型電子部品が得られる(特許文献1参照)。
特開昭61−217317号公報
テープ状の梱包材に収納されたチップ型電子部品を回路基板に実装する際には、一方のカバーシートが剥がされる。そして、収納用テープから露出したチップ型電子部品の側面が吸着搬送装置で吸着され、梱包材から取り出されたチップ型電子部品が回路基板上に載置される。このとき、チップ型電子部品の吸着搬送装置で吸着された側面が上になった状態で、チップ型電子部品が回路基板に実装される。
ここで、チップ型電子部品が、積層セラミックコンデンサなどのように、積層されたセラミック層と内部電極とを有する積層体を用いた積層セラミック電子部品である場合、内部電極の対向する面が回路基板の実装面に対して平行である場合と垂直である場合とで、内部電極と外部の導体部品との間の電気容量や、内部電極による磁界等に差が生じる。そのため、積層セラミック電子部品の内部電極の対向方向と回路基板の実装面との関係によってその電気的特性が異なり、積層セラミック電子部品の電気的特性にばらつきが生じる。
また、積層セラミックインダクタなどのように、複数の内部電極が対向していない積層セラミック電子部品であっても、積層体内に内部電極が配置されている場合、その内部電極の配置方向によって電気的特性がばらつくので問題がある。そこで、積層セラミック電子部品の内部電極の配置方向が揃うように回路基板に実装するために、内部電極の配置方向が揃うように梱包することが求められている。
しかしながら、完成した積層セラミック電子部品において、積層体の内部に配置された内部電極はセラミック層および外部電極で覆われているため、その方向を確認することができない。特に、外部電極が形成された積層体の端面が正方形に近い形状である場合、積層体の全ての側面がほぼ同じ形状であるので、積層体の形状から内部電極の配置方向を判別することができない。
それゆえに、この発明の主たる目的は、内部電極の配置方向を容易に判別することができる積層セラミック電子部品を提供することである。
この発明は、積層された複数のセラミック層と、セラミック層間の界面に沿って形成される内部電極とを有する積層体、および積層体の外表面に形成される外部電極を含む積層セラミック電子部品であって、外部電極が形成されていない積層体の外表面の一部に外表面より突出して蛍光体が配置され、蛍光体は、ABO3で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、添加成分としてRを含むものであり、AはBa、Sr、Caの中の少なくとも1種を含み、BはTi、Zr、Hf、Al、Snの中の少なくとも1種を含み、Oは酸素を表し、RはCe、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、YbおよびYの中の少なくとも1種を含む、積層セラミック電子部品である。
積層体の外表面の一部に外表面より突出して蛍光体が配置されることにより、紫外線等を照射すると、蛍光体が発光する。したがって、積層セラミック電子部品に紫外線等を照射して、カメラで撮像すれば、画像判断によって蛍光体が配置されている積層体の表面を判別することができ、蛍光体と一定の関係にある内部電極の方向性を判断することができる。
また、セラミック層は、誘電体セラミック層とすることができる。
また、内部電極は卑金属を含むことができる。
さらに、外部電極は卑金属を含むことができる。
この発明によれば、積層セラミック電子部品に紫外線等を照射して撮像し、画像解析を行なうことにより、容易に蛍光体が配置された積層体の外表面を判断することができる。したがって、内部電極の向きに対して一定の関係となるように蛍光体を配置しておくことにより、内部電極の方向性を知ることができる。そのため、内部電極の方向性を考慮した上で積層セラミック電子部品を回路基板に実装することができ、安定した電気的特性を得ることができる。また、積層セラミック電子部品が積層セラミックコンデンサである場合、回路基板の実装面に対する内部電極の向きを調整することにより、誘電体セラミックの電歪作用による回路基板の振動を抑制することができる。したがって、いわゆる鳴きといわれる発音現象を抑制することができる。さらに、積層セラミック電子部品が積層セラミックインダクタである場合、内部電極による磁束発生方向を判断することができ、他の部品等への磁界の影響を防止することができる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための形態の説明から一層明らかとなろう。
図1は、この発明の積層セラミック電子部品の一例としての積層セラミックコンデンサを示す斜視図である。 図2は、図1に示す積層セラミックコンデンサの内部構造を示す図解図である。 図3は、この発明の積層セラミック電子部品の一例としての積層セラミックコンデンサの他の例を示す斜視図である。
図1は、この発明の積層セラミック電子部品の一例としての積層セラミックコンデンサを示す斜視図である。積層セラミックコンデンサ10は、直方体状の積層体12を含む。積層体12は、長さ方向、幅方向および厚さ方向を有する。ここでは、幅方向の長さと高さ方向の長さとが同じであるか、1:1に近い割合である積層体12が用いられる。
積層体12は、図2に示すように、複数の積層された誘電体セラミック層14を含む。誘電体はペロブスカイト型化合物であることが好ましい。積層体12の内部において、積層された誘電体セラミック層14の界面には、第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bが形成される。第1の内部電極16aは、誘電体セラミック層14の長さ方向の一端側に引き出され、この一端側から他端側に向かって延びるように形成されるが、誘電体セラミック層14の長さ方向の他端側には引き出されていない。第2の内部電極16bは、誘電体セラミック層14の長さ方向の他端側に引き出され、この他端側から一端側に向かって延びるように形成されるが、誘電体セラミック層14の長さ方向の一端側には引き出されていない。第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bとしては、例えばNiなどの卑金属材料を用いることができる。
これらの第1の内部電極16aと第2の内部電極16bとが誘電体セラミック層14を介して交互に積層され、必要に応じてその両側に内部電極が形成されていない誘電体セラミック層が積層されることにより、積層体12が形成されている。したがって、第1の内部電極16aと第2の内部電極16bとが互いに対向するようにして、積層体12の厚さ方向に第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bが積層される。そして、積層体12の長さ方向の一端側の端面には、第1の内部電極16aが引き出され、積層体12の長さ方向の他端側の端面には、第2の内部電極16bが引き出される。
積層体12の長さ方向の両端には、外部電極18が形成される。外部電極18としては、例えばCuなどの卑金属材料を用いることができる。外部電極18は、積層体12の長さ方向の両側の端面から4つの側面に向かって回り込むように形成される。外部電極18には、積層体12の長さ方向の両端面に引き出された第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bが接続される。したがって、2つの外部電極18の間で第1の内部電極16aと第2の内部電極16bとが対向するように配置され、2つの外部電極18間に静電容量が形成される。
第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bの積層方向の両側において、2つの外部電極18の間の積層体12の表面に、蛍光体20が配置される。蛍光体20は、例えば積層体12の表面の中央部において円形に形成される。もちろん、蛍光体20の形状としては、矩形や星形などの他の形状に形成されてもよい。また、第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bの積層方向の両側において、2つの外部電極18の間における積層体12の表面の全面に蛍光体20が配置されてもよい。さらに、このような蛍光体20が配置されるのは、図3に示すように、第1の内部電極16aおよび第2の内部電極16bの積層方向に垂直な方向にある積層体12の側面であってもよい。
なお、蛍光体材料として、酸化物、酸窒化物、窒化物を含む材料を用いることができる。このような蛍光体としては、Y23:MnやGa23:Cr、CaGa24:Mn、Y2GeO5:Mn、Zn2SiO4:Mn、ZnGa24:Mn、Zn2Si0.6Ge0.44:Mn、Zn(Ga0.7Al0.3)O4:Mn、((Y230.6−(GeO20.4):Mn、((Ga230.7−(Al230.3):Mn、CaAlSiN3:Eu、Sr3Si13Al3221:Eu、α−SiAlON:Eu、β−SiAlON:Euなどがある。
また、ABO3で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、添加成分としてRを含み、AはBa、Sr、Caの中の少なくとも1種を含み、BはTi、Zr、Hf、Al、Snの中の少なくとも1種を含み、Oは酸素を表し、RはCe、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、YbおよびYの中の少なくとも1種を含む蛍光体を用いることができる。このような蛍光体は、誘電体材料としてチタン酸バリウム等のペロブスカイト型化合物を用いた焼成前の積層体に蛍光体の出発材料を付与し、この積層体を焼成するときに同時焼成によって蛍光体を合成し、積層体表面に付与することができる。このような蛍光体としては、CaTiO3:PrやSr(Ti0.85Al0.20)O3:Pr、BaTiO3:Pr、SrHfO3:Tm、CaSnO3:Tbなどがある。
このような積層セラミックコンデンサ10を作製するために、誘電体セラミック原料が準備される。この誘電体セラミック原料に、バインダ、可塑剤、有機溶剤などが加えられ、これらをボールミルで湿式混合することにより、セラミックスラリーを得ることができる。このセラミックスラリーを例えばリップ方式などによりシート成形することによって、矩形のセラミックグリーンシートが形成される。得られたセラミックグリーンシート上に、Niなどを含有する導電性ペーストをスクリーン印刷することにより、内部電極となる導電性ペースト膜が形成される。
導電性ペースト膜が形成されたセラミックグリーンシートが積層され、その両側に導電性ペースト膜が形成されていないセラミックグリーンシートが積層されることによって、マザー積層体が形成される。このとき、マザー積層体を所定の位置で切断したときに、長さ方向の両端面において積層された導電性ペースト膜が交互に露出するようにセラミックグリーンシートが積層される。このマザー積層体の表面に、蛍光材料が付与される。ここで、マザー積層体を所定の位置で切断したときに、切断された生の積層体チップの側面の中央部に蛍光材料が配置されるように、蛍光材料が付与される。また、マザー積層体の表面の全面に蛍光材料が付与されてもよい。蛍光材料を付与する方法としては、たとえば、ペースト状の蛍光材料をマザー積層体に塗布してもよいし、シート状にした蛍光材料をマザー積層体の表面に積層、圧着してもよい。
そして、マザー積層体を所定の位置で切断することにより、生の積層体チップが得られる。上述のようにセラミックグリーンシート上に導電性ペースト膜が形成されていることにより、生の積層体チップの長さ方向の両端面には、積層された導電性ペースト膜が交互に引き出されている。また、導電性ペースト膜の積層方向の両側において、切断された生の積層体チップの側面に蛍光材料が付与されている。
得られた生の積層体チップをN2雰囲気中で加熱することによりバインダを燃焼させ、さらに、酸素分圧10-9〜10-12MPaの還元雰囲気中で焼成することにより、誘電体セラミック層14、第1の内部電極16a、第2の内部電極16bおよび蛍光体20を有する積層体12を得ることができる。得られた積層体12の長さ方向の両端面にガラスフリットを含有するCuペーストを塗布し、N2雰囲気中で焼き付けることにより、第1および第2の内部電極16a、16bに電気的に接続された外部電極18が形成される。必用に応じて、外部電極18には、めっき処理が施される。このような方法を採用することにより、この発明の積層セラミックコンデンサ10を作製することができる。
この積層セラミックコンデンサ10では、第1および第2の内部電極16a、16bの積層方向における積層体12の1側面に蛍光体20が配置されているため、積層セラミックコンデンサ10に紫外線等を照射すると、蛍光体20が発光する。したがって、積層セラミックコンデンサ10に紫外線等を照射してカメラで撮像し、画像判断を実行することにより、蛍光体20が配置されている面であるかどうかを判別することができる。そのため、積層セラミックコンデンサ10をテープ状の梱包材に収納する際に、内部電極16a、16bの方向性を揃えることができる。したがって、積層セラミックコンデンサ10を回路基板などに実装する際に、回路基板の実装面に対する第1および第2の内部電極16a、16bの方向性を揃えることができる。それにより、回路基板に実装された積層セラミックコンデンサ10の特性を揃えることができる。
また、積層セラミックコンデンサ10に交流電圧を印加すると、誘電体セラミック層14の電歪作用により積層体12が振動し、この振動が回路基板に伝わって回路基板が振動して、いわゆる鳴きと呼ばれる音が発生する場合がある。この場合、第1および第2の内部電極16a、16bの積層方向が回路基板の実装面に対して垂直となるように、つまり第1および第2の内部電極16a、16bの面が回路基板の実装面と平行になるように、積層セラミックコンデンサ10を実装することにより、第1および第2の内部電極16a、16bの面が回路基板の実装面と垂直になるように積層セラミックコンデンサ10を実装する場合に比べて、積層セラミックコンデンサ10で生じた振動が基板に伝わりにくくなると推測される。よって、第1および第2の内部電極16a、16bの面が回路基板の実装面と平行になるように積層セラミックコンデンサ10を実装することにより、積層セラミックコンデンサ10の振動の影響を少なくすることができる。この発明の積層セラミックコンデンサ10では、第1および第2の内部電極16a、16bの積層方向を容易に知ることができるため、これらの内部電極16a、16bの積層方向が回路基板の実装面に垂直となるように、積層セラミックコンデンサ10を回路基板に実装することができる。それにより、積層セラミックコンデンサ10の振動の影響を小さくすることができる。
また、積層セラミック電子部品が積層セラミックインダクタなどである場合、内部電極の方向性によって、磁束発生方向が決定されるが、このような磁束発生方向を考慮して積層セラミックインダクタを回路基板に実装することにより、他の部品への磁界の影響を小さくすることができる。したがって、積層セラミックコンデンサ以外の積層セラミック電子部品についても、積層体の側面に蛍光体を配置して内部電極の方向性を把握することにより、優れた効果を得ることができる。
なお、蛍光体20は、第1および第2の内部電極16a、16bの積層方向における積層体12の両側面に配置されてもよいし、一方の側面にのみ配置されてもよい。また、第1および第2の内部電極16a、16bの積層方向に垂直な向きにおける積層体12の側面に蛍光体20が配置されてもよい。この場合においても、積層体12の両側面に蛍光体20が配置されてもよいし、一方の側面にのみ蛍光体20が配置されてもよい。第1および第2の内部電極16a、16bの積層方向に垂直な向きにおける積層体12の側面に蛍光体20が配置される場合、マザー積層体を切断した後に、得られた生の積層体チップの切断面に蛍光材料が付与される。
さらに、生の積層体チップが焼成された後に、焼結した積層体の側面に蛍光材料を塗布して焼き付け処理や乾燥処理を施してもよい。この場合、積層体の長さ方向の端部に引き出された第1の内部電極16aまたは第2の内部電極16bによって、これらの内部電極16a、16bの方向性を知ることができる。したがって、焼結された積層体の正確な側面に蛍光材料を付与することができる。
上述の積層セラミックコンデンサの製造方法を用いて、積層セラミックコンデンサを作製した。セラミック原料としては、チタン酸バリウムを用いた。出発原料としてBaCO3粉末とTiO2粉末とが所定量秤量されて、ボールミルによって湿式混合され、乾燥後、1150℃で熱処理される。これにより、平均粒径が0.15μm、Ba/Tiモル比が1.0070のチタン酸バリウムを得た。セラミックスラリーの作製時に、セラミック原料に加えるバインダとしてポリビニルブチラール系バインダを使用し、有機溶剤としてエタノールを使用した。また、セラミックグリーンシートの作製時に、厚さ4.5μmのセラミックグリーンシートを作製した。内部電極は、Niを主成分とする導電性ペーストをセラミックグリーンシート上に印刷することで形成した。
さらに、生の積層体チップを焼成するときに、N2雰囲気中において、生の積層体チップを350℃の温度で3時間加熱して、バインダを燃焼させた。その後、酸素分圧10-10MPaのH2−N2−H2Oガスからなる還元雰囲気中において、1200℃で2時間焼成して焼結した積層体を得た。なお、材料の混合時に用いたYSZボールからの混入により、誘電体材料中のZrの含有量がごく微量であるが、0.02モル部程度増加した。
得られた積層体個片の表面についてXRD構造解析を行なったところ、積層体の表面に配置された蛍光体が所望の構造を有する化合物であることが明らかとなった。
また、焼結した積層体の両端面に、ガラスフリットを含有するCuペーストを塗布し、N2雰囲気中において800℃の温度で焼き付けて外部電極を形成した。このようにして、幅1.25mm、長さ2.0mm、厚さ1.25mmの外形寸法を有し、内部電極間に介在する誘電体セラミック層の厚みが3.0μmで、有効誘電体セラミック層の総数が10であり、1層当たりの対向電極面積が1.6mm2である積層セラミックコンデンサを作製した。
この実施例において用いられる蛍光体種およびその蛍光体系統を表1に示す。表1における発光中心の添加量は、蛍光体母体1モル部に対する発光中心元素の含有量を示す。
表1に示す実施例1〜実施例14については、合成された蛍光体を含む蛍光体ペーストを焼成前のマザー積層体の1表面に塗布し、切断した後、焼成した。例えば、実施例3の場合、蛍光体の出発原料として1モル部のCaCO3粉末と1モル部のGa23粉末と0.5モル部のMnCO3粉末が秤量されて、ボールミルによって湿式混合される。これを乾燥後、1400℃で熱処理することで蛍光体が合成される。このようにして得られた蛍光体材料にポリビニルブチラール系バインダと有機溶剤としてのエタノールを添加し、蛍光体ペーストを作製した。実施例1、2、4〜14についても、同様にして蛍光体を合成し、蛍光体ペーストを作製した。
また、実施例15〜実施例19については、マザー積層体の1表面に蛍光体の出発原料を含む蛍光体出発原料ペーストを塗布し、切断した後、積層体の焼成と同時に蛍光体を合成した。例えば、実施例15の場合、蛍光体の出発原料として1モル部のCaCO3粉末と1モル部のTiO2粉末と0.001モル部のPr23粉末が秤量されて、ボールミルによって湿式混合される。これを乾燥後、ポリビニルブチラール系バインダと有機溶剤としてのエタノールを添加し、蛍光体出発原料ペーストを作製した。実施例16〜19についても、同様にして蛍光体出発原料ペーストを作製し、積層体の焼成と同時に蛍光体を合成した。
さらに、比較例1として、蛍光体が形成されていない積層セラミックコンデンサを準備した。
Figure 0005915813
これらの実施例および比較例の各試料について、それぞれ100個の積層セラミックコンデンサに対して紫外線照射時の画像判断を実施し、積層方向の判断を行なった。その結果、比較例1の積層セラミックコンデンサについては、内部電極の積層方向を認識することはできなかったが、実施例1〜実施例19の積層セラミックコンデンサについては、全ての積層セラミックコンデンサの内部電極の積層方向を把握することができた。
積層体の側面に蛍光体を配置することにより、内部電極の方向性を確認するという技術は、全ての積層セラミック電子部品に応用することができる。
10 積層セラミックコンデンサ
12 積層体
14 誘電体セラミック層
16a 第1の内部電極
16b 第2の内部電極
18 外部電極
20 蛍光体

Claims (4)

  1. 積層された複数のセラミック層と、前記セラミック層間の界面に沿って形成される内部電極とを有する積層体、および
    前記積層体の外表面に形成される外部電極を含む積層セラミック電子部品であって、
    前記外部電極が形成されていない前記積層体の外表面の一部に当該外表面より突出して蛍光体が配置され、
    前記蛍光体は、ABO3で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、添加成分としてRを含むものであり、AはBa、Sr、Caの中の少なくとも1種を含み、BはTi、Zr、Hf、Al、Snの中の少なくとも1種を含み、Oは酸素を表し、RはCe、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、YbおよびYの中の少なくとも1種を含む、積層セラミック電子部品。
  2. 前記セラミック層は誘電体セラミック層である、請求項1に記載の積層セラミック電子部品。
  3. 前記内部電極は卑金属を含む、請求項1または請求項2に記載の積層セラミック電子部品。
  4. 前記外部部品は卑金属を含む、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の積層セラミック電子部品。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160098780A (ko) * 2015-02-11 2016-08-19 삼성전기주식회사 전자부품 및 전자부품의 실장 기판
KR20170112381A (ko) * 2016-03-31 2017-10-12 삼성전기주식회사 세라믹 조성물 및 이를 포함하는 적층형 커패시터
KR101825696B1 (ko) * 2016-07-01 2018-02-05 주식회사 모다이노칩 칩 부품 및 그 제조 방법
KR102267242B1 (ko) * 2017-05-15 2021-06-21 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 적층형 전자부품 및 적층형 전자부품의 제조 방법
US11145458B2 (en) 2018-02-22 2021-10-12 Taiyo Yuden Co., Ltd. Multi-layer ceramic electronic component
US10497161B1 (en) 2018-06-08 2019-12-03 Curious Company, LLC Information display by overlay on an object
US10818088B2 (en) 2018-07-10 2020-10-27 Curious Company, LLC Virtual barrier objects
US10902678B2 (en) 2018-09-06 2021-01-26 Curious Company, LLC Display of hidden information
US11055913B2 (en) 2018-12-04 2021-07-06 Curious Company, LLC Directional instructions in an hybrid reality system
US10970935B2 (en) 2018-12-21 2021-04-06 Curious Company, LLC Body pose message system
US10872584B2 (en) 2019-03-14 2020-12-22 Curious Company, LLC Providing positional information using beacon devices
KR20190116181A (ko) * 2019-09-20 2019-10-14 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60143619A (ja) * 1983-12-29 1985-07-29 松下電器産業株式会社 電子部品
JPS6359301U (ja) * 1986-10-06 1988-04-20
JPH11135301A (ja) * 1997-10-30 1999-05-21 Kyocera Corp 電子部品
JP2000340458A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Nec Kofu Ltd 極性表示方法、基板実装確認方法及びタンタルコンデンサ
JP2006152089A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 発光材料、圧電体、電歪体、強誘電体、電場発光体、応力発光体、及びこれらの製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61217317A (ja) 1985-03-18 1986-09-26 株式会社村田製作所 テ−ピング電子部品の製造方法
US7745869B2 (en) * 2003-01-21 2010-06-29 Tdk Corporation Thin film capacitance element composition, high permittivity insulation film, thin film capacitance element, thin film multilayer capacitor and production method of thin film capacitance element
JP2004303947A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 複合電子部品
JP4240074B2 (ja) * 2006-07-11 2009-03-18 株式会社村田製作所 積層型電子部品及び積層型アレイ電子部品
US8894882B2 (en) * 2009-09-21 2014-11-25 University Of Georgia Research Foundation, Inc. Near infrared doped phosphors having an alkaline gallate matrix
KR101474065B1 (ko) * 2012-09-27 2014-12-17 삼성전기주식회사 적층 칩 전자부품, 그 실장 기판 및 포장체
JP5790817B2 (ja) * 2013-11-05 2015-10-07 株式会社村田製作所 コンデンサ、コンデンサの実装構造体及びテーピング電子部品連

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60143619A (ja) * 1983-12-29 1985-07-29 松下電器産業株式会社 電子部品
JPS6359301U (ja) * 1986-10-06 1988-04-20
JPH11135301A (ja) * 1997-10-30 1999-05-21 Kyocera Corp 電子部品
JP2000340458A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Nec Kofu Ltd 極性表示方法、基板実装確認方法及びタンタルコンデンサ
JP2006152089A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 発光材料、圧電体、電歪体、強誘電体、電場発光体、応力発光体、及びこれらの製造方法

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