JP5851165B2 - Method for forming microstructure and method for producing porous alumina composite - Google Patents

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本発明は、高いアスペクト比を有する微細構造の形成方法およびポーラスアルミナ複合体の製造方法に関するものである。 The present invention relates to a manufacturing method of forming method and porous alumina composite microstructure having a high aspect ratio.

基板上に微細でかつ比較的深い構造、すなわち高アスペクト比を有する微細構造を形成する技術の確立は、素材の高機能化に重要である。例えば、基板上に高アスペクト比の貫通孔を形成した構造は、気体あるいは液体中から異物を除去する分離用フィルターに有用である。このほか形成された高アスペクト比構造を鋳型として様々な物質を充填することによりコンポジット構造の形成が可能になるほか、鋳型を溶解除去することにより、鋳型のネガ構造に対応する様々な構造を所定の素材で得ることができる。   Establishment of a technique for forming a fine and relatively deep structure on a substrate, that is, a fine structure having a high aspect ratio, is important for enhancing the functionality of the material. For example, a structure in which a through hole having a high aspect ratio is formed on a substrate is useful for a separation filter that removes foreign substances from gas or liquid. In addition, it is possible to form a composite structure by filling various substances using the formed high aspect ratio structure as a mold, and by dissolving and removing the mold, various structures corresponding to the negative structure of the mold are predetermined. Can be obtained with

工業的に広く適用されている基板の微細加工技術として、基板上に耐エッチング性を有するレジストを塗布し、光露光、あるいは、電子ビーム等の照射により所望のパターンを露光したのち、レジストを選択的に基板から除去することでレジストパターンを形成した後、基板に対し溶解力を有するエッチャントを用いる湿式エッチング法により基板にエッチングを施すことにより、基板の加工を行う手法がある。この手法では、レジストに対応した形状を形成できるものの、エッチング時にエッチングが等方的に進行することから、レジスト非開口部にもエッチングが進行するいわゆるアンダーエッチング現象を生じることから、高いアスペクト比を有する構造を得ることはできない。一方、適切なガス中における放電を用い、気相中に生じる活性種にもとづいて基板のエッチングを行う乾式エッチングのおいては、湿式エッチングに比較して、形成される構造のアスペクト比は改善されるものの、同時に進行するレジストのエッチングによりパターンが消失し、それ以上の加工は困難となるほか、加工形状が深くなるに従い微細部分への活性種の浸入が困難となり、高アスペクト比構造の形成は困難となる。このほか、乾式エッチングでは、一般に高価な装置を必要とし加工速度も低いという問題を有している。   As a microfabrication technology for substrates widely applied industrially, a resist having etching resistance is applied on the substrate, and a desired pattern is exposed by light exposure or electron beam irradiation, and then the resist is selected. There is a technique of processing a substrate by forming a resist pattern by removing the substrate from the substrate and then etching the substrate by a wet etching method using an etchant having a dissolving power for the substrate. Although this method can form a shape corresponding to the resist, etching progresses isotropically during etching, so that a so-called under-etching phenomenon occurs in the non-opening portion of the resist, resulting in a high aspect ratio. It is not possible to obtain a structure with On the other hand, in dry etching in which etching of a substrate is performed based on active species generated in a gas phase using discharge in an appropriate gas, the aspect ratio of the formed structure is improved compared to wet etching. However, the pattern disappears due to the etching of the resist that proceeds at the same time, and further processing becomes difficult, and as the processing shape becomes deeper, it becomes difficult for the active species to enter the fine parts, and the formation of a high aspect ratio structure It becomes difficult. In addition, dry etching generally has a problem that an expensive apparatus is required and the processing speed is low.

Hideki Masuda and Masahiro Sato, Jpn. J. Appl. Phys. Vol.35 (1996), L126Hideki Masuda and Masahiro Sato, Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 35 (1996), L126

本発明は、上記従来技術における問題点を解決するためになされたものであり、形状が制御された、深さに関して高アスペクト比の微細構造を有する基板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems in the prior art, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a substrate having a fine structure with a high aspect ratio with respect to depth, the shape of which is controlled. .

上記課題を解決するために、本発明に係る微細構造の形成方法(第1の方法)は、陽極酸化ポーラスアルミナの表面にレジストパターンを形成した後、湿式エッチング処理を施して前記レジストパターンが形成されていない部分を選択的に溶解除去することにより、前記レジストパターンに対応した断面形状を有しアスペクト比が1以上である微細構造を形成することを特徴とする方法からなる。   In order to solve the above-mentioned problems, the fine structure forming method (first method) according to the present invention is to form a resist pattern on the surface of anodized porous alumina and then perform wet etching to form the resist pattern. The method comprises forming a fine structure having a cross-sectional shape corresponding to the resist pattern and having an aspect ratio of 1 or more by selectively dissolving and removing a portion that has not been formed.

本発明に係る微細構造の形成方法において、前記レジストパターンの個々のレジスト領域の径と前記陽極酸化ポーラスアルミナの細孔周期との比が3〜10,000の範囲にあることが好ましい。   In the fine structure forming method according to the present invention, it is preferable that the ratio of the diameter of each resist region of the resist pattern to the pore period of the anodized porous alumina is in the range of 3 to 10,000.

また、前記陽極酸化ポーラスアルミナの細孔周期が10〜5000nmの範囲にあることが好ましい。   The pore period of the anodized porous alumina is preferably in the range of 10 to 5000 nm.

また、前記陽極酸化ポーラスアルミナの細孔深さが0.5〜50,000μmの範囲にあることが好ましい。   The pore depth of the anodized porous alumina is preferably in the range of 0.5 to 50,000 μm.

また、前記湿式エッチング処理が、リン酸を用いたエッチング処理からなることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said wet etching process consists of an etching process using phosphoric acid.

また、前記微細構造が、前記陽極酸化ポーラスアルミナの一の表面から他の表面まで貫通した貫通孔からなることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said microstructure consists of the through-hole penetrated from the one surface of the said anodic oxidation porous alumina to the other surface.

また、前記レジストパターンが、あらかじめパターン形成されたマスクから転写されることにより前記陽極酸化ポーラスアルミナの表面に形成されることが好ましい。   Further, it is preferable that the resist pattern is formed on the surface of the anodized porous alumina by being transferred from a previously patterned mask.

上記課題を解決するために、本発明に係る微細構造の形成方法(第2の方法)は、陽極酸化ポーラスアルミナの表面にレジストパターンを形成した後、湿式エッチング処理を施して前記レジストパターンが形成されていない部分を選択的に溶解除去することにより、前記レジストパターンに対応した断面形状を有しアスペクト比が1以上である貫通孔を形成し、該貫通孔内にポーラスアルミナと異なる物質を充填した後、前記陽極酸化ポーラスアルミナを溶解除去することにより微細構造を形成することを特徴とする方法からなる。   In order to solve the above problems, the fine structure forming method (second method) according to the present invention forms a resist pattern on the surface of anodized porous alumina, and then performs wet etching to form the resist pattern. By selectively dissolving and removing the unexposed portion, a through hole having a cross-sectional shape corresponding to the resist pattern and an aspect ratio of 1 or more is formed, and the through hole is filled with a material different from porous alumina. And then forming a microstructure by dissolving and removing the anodized porous alumina.

このような本発明に係る微細構造の形成方法において、ポーラスアルミナと異なる物質を、電解めっきまたは無電解めっきにより前記貫通孔内に充填することが好ましい。   In such a microstructure forming method according to the present invention, it is preferable to fill the through hole with a material different from porous alumina by electrolytic plating or electroless plating.

上記課題を解決するために、本発明に係る微細構造の形成方法(第3の方法)は、陽極酸化ポーラスアルミナの表面にレジストパターンを形成した後、湿式エッチング処理を施して前記レジストパターンが形成されていない部分を選択的に溶解除去することにより形成される、アスペクト比が1以上である一の微細構造を有するネガ型を作製した後、該ネガ型を鋳型とした鋳型プロセスにより、アスペクト比が1以上である他の微細構造を有するポジ型を作製することを特徴とする方法からなる。   In order to solve the above problems, the fine structure forming method (third method) according to the present invention forms a resist pattern on the surface of anodized porous alumina, and then performs wet etching to form the resist pattern. After producing a negative mold having a single microstructure with an aspect ratio of 1 or more, which is formed by selectively dissolving and removing a portion that has not been formed, an aspect ratio is obtained by a mold process using the negative mold as a mold. This is a method characterized in that a positive mold having another fine structure in which is 1 or more is produced.

このような本発明に係る微細構造の形成方法において、前記鋳型プロセスが繰り返されてもよい。   In such a microstructure forming method according to the present invention, the mold process may be repeated.

また、前記一の微細構造が前記陽極酸化ポーラスアルミナの一の表面から他の表面まで延びる柱状構造からなるとともに、前記他の微細構造が前記ポジ型の一の表面から他の表面まで貫通した貫通孔からなることが好ましい。   The one fine structure is a columnar structure extending from one surface of the anodized porous alumina to the other surface, and the other fine structure penetrates from one surface of the positive type to the other surface. It preferably consists of holes.

さらに、前記ポジ型がポリマー材料からなることが好ましい。   Further, the positive type is preferably made of a polymer material.

上記課題を解決するために、本発明に係るポーラスアルミナ複合体の製造方法は、上記の微細構造の形成方法(第1の方法)により微細構造としての貫通孔を形成し、該貫通孔内にポーラスアルミナと異なる物質を充填することを特徴とする方法からなる。 In order to solve the above-described problem, a method for producing a porous alumina composite according to the present invention forms a through-hole as a fine structure by the fine-structure formation method (first method), and the through-hole is formed in the through-hole. It consists of a method characterized by filling a material different from porous alumina.

本発明に係る微細構造の形成方法よれば、従来手法では達成し得なかった高アスペクト比の深さを有する微細表面構造を、高度に制御された形状で容易にかつ確実にしかも安価に得ることができる。したがって、このような微細表面構造を有する基板の用途を大幅に拡大することが可能になり、特に高いアスペクト比を有する微細構造を有する基板、更には、それらを鋳型として形成される金属、金属酸化物、ポリマー等の高アスペクト比構造が求められる用途への展開が可能になる。また、ポーラスアルミナとその他の材料からなる複合体を容易に精度よく製造することも可能になる。 According to the fine structure forming method of the present invention, a fine surface structure having a high aspect ratio depth, which could not be achieved by a conventional method, can be obtained easily, reliably and inexpensively in a highly controlled shape. be able to. Accordingly, it is possible to greatly expand the applications of the substrate having such a fine surface structure, and particularly, a substrate having a fine structure having a high aspect ratio, and further, a metal formed by using them as a template, metal oxide Application to applications requiring high aspect ratio structures such as products and polymers becomes possible. Further, it becomes possible to easily and accurately manufacture a composite made of porous alumina and other materials.

本発明の一実施態様に係る微細構造の形成方法において、ポーラスアルミナ表面にレジストマスクを形成した状態を示す斜視図である。In the formation method of the microstructure concerning one embodiment of the present invention, it is a perspective view showing the state where the resist mask was formed on the porous alumina surface. 図1の状態からエッチング処理を施すことにより得られる微細構造を示す正面図である。It is a front view which shows the fine structure obtained by performing an etching process from the state of FIG. 図2の微細構造からマスク材を除去して得られた構造体を示す正面図である。It is a front view which shows the structure obtained by removing a mask material from the fine structure of FIG. ポーラスアルミナの細孔と微細構造との位置関係を示す平面図である。It is a top view which shows the positional relationship of the pore of a porous alumina, and a fine structure. エッチングを行う前のポーラスアルミナを示す正面図である。It is a front view which shows the porous alumina before performing etching. エッチングを行った後のポーラスアルミナを示す正面図である。It is a front view which shows the porous alumina after etching. 本発明の一実施態様に係るポーラスアルミナ複合体の製造方法を示し、(A)〜(E)は各工程におけるポーラスアルミナを示す平面図である。The manufacturing method of the porous alumina composite_body | complex which concerns on one embodiment of this invention is shown, (A)-(E) is a top view which shows the porous alumina in each process. 本発明に係る方法より形成された微細構造を有するポーラスアルミナ基板の一例を示し、(A)は基板表面のSEM画像、(B)は(A)の一部を拡大した拡大画像である。An example of the porous alumina substrate which has the fine structure formed by the method concerning the present invention is shown, (A) is a SEM picture of the substrate surface, and (B) is an enlarged picture which expanded a part of (A). 本発明に係る方法により形成された微細構造を有するネガ型の一例を斜め上方から撮像したSEM画像である。It is the SEM image which imaged an example of the negative type which has the fine structure formed by the method concerning the present invention from the slanting upper part. 本発明に係る方法により形成された微細構造を有するポーラスポリマーメンブレンの一例を示し、(A)はメンブレン表面のSEM画像、(B)はメンブレン断面のSEM画像である。An example of the porous polymer membrane which has the microstructure formed by the method concerning the present invention is shown, (A) is the SEM image of the membrane surface, and (B) is the SEM image of the membrane section.

発明者は、形状が制御された目標とする高アスペクト比の構造を形成し得る手法について種々調査・検討した。その結果、目的の形状に対応したレジストマスクを微細な細孔が基板に対して直行する陽極酸化ポーラスアルミナ表面に形成し、湿式エッチングを施すことにより、目標とする高アスペクト比の微細構造の形成を達成できることを見出した。   The inventor has conducted various investigations and studies on a method capable of forming a target high aspect ratio structure with a controlled shape. As a result, a resist mask corresponding to the target shape is formed on the surface of the anodized porous alumina whose fine pores are perpendicular to the substrate, and wet etching is performed to form the target high aspect ratio microstructure. I found that I can achieve.

すなわち本発明によれば、パターン最小部(パターン形状の径、厚さ等の短辺)が0.1〜100μm、パターン最小部と深さ(長辺)の比率(アスペクト比)が1以上、あるいはさらに高いアスペクト比(例えばアスペクト比が10〜10,000)の形状を有する構造が、湿式エッチングにより形成されている微細構造を有する基板を製造することができる。   That is, according to the present invention, the minimum pattern portion (short side such as the diameter and thickness of the pattern shape) is 0.1 to 100 μm, the ratio (aspect ratio) between the minimum pattern portion and the depth (long side) is 1 or more, Alternatively, a substrate having a fine structure in which a structure having a higher aspect ratio (for example, an aspect ratio of 10 to 10,000) is formed by wet etching can be manufactured.

このような微細構造の代表的なものとして、一定の直径の細孔が所望の間隔で配列したもの、一定のサイズの柱状構造が所定の間隔で配列したもの、あるいは、矩形の組み合わせにからなる等をあげることができるが、形成される形状は、表面に形成されるマスクのパターンに対応することから、これらに限定されるものではない。   As a typical example of such a fine structure, pores having a constant diameter are arranged at a desired interval, columnar structures having a fixed size are arranged at a predetermined interval, or a combination of rectangles. However, since the shape to be formed corresponds to the pattern of the mask formed on the surface, it is not limited to these.

この微細構造を有する基板の製造方法においては、細孔が均一な陽極酸化ポーラスアルミナを基板として用いる、あるいは、細孔が規則配列した陽極酸化ポーラスアルミナを用いる、更には、細孔が膜面に直行する陽極酸化ポーラスアルミナを基板として用いることが好ましい。   In the method of manufacturing a substrate having this fine structure, anodized porous alumina with uniform pores is used as the substrate, or anodized porous alumina with regularly arranged pores is used. It is preferable to use anodized porous alumina that is orthogonal to the substrate.

また、上記微細構造を有する基板の製造方法においては、直径が5〜100nmの範囲の細孔を有する陽極酸化ポーラスアルミナを用いることが好ましい。   Moreover, in the manufacturing method of the said board | substrate which has a fine structure, it is preferable to use the anodized porous alumina which has a pore with a diameter of the range of 5-100 nm.

表面へのマスクの形成に関しては、種々の方法を採り得る。例えば、レジストを基板である陽極酸化ポーラスアルミナ上に塗布し、光、あるいは、電子ビーム露光の後、現像処理を行うことにより形成することができる。インクジェットプリンタを用いて耐エッチング性マスクを陽極酸化ポーラスアルミナ表面に直接形成するようにしてもよい。このほか、あらかじめ所望のパターンを有するスタンプを形成した後、耐エッチング性を有するレジスト材料を表面に転写することで耐エッチングマスクを形成する手法を用いることもできる。   Various methods can be employed for forming a mask on the surface. For example, it can be formed by applying a resist on anodized porous alumina as a substrate, and performing development processing after light or electron beam exposure. An etching resistant mask may be formed directly on the anodized porous alumina surface using an ink jet printer. In addition, a method of forming an etching resistant mask by forming a stamp having a desired pattern in advance and then transferring a resist material having etching resistance onto the surface can be used.

以下に、本発明について、望ましい実施の形態を図を用いて詳細に説明する。微細構造を有する基板を製造するにあたっては、膜面に微細細孔が直行した構造を有する陽極酸化ポーラスアルミナを基板として用いる。陽極酸化ポーラスアルミナは、アルミニウムを酸性電解液中で陽極酸化することにより形成される多孔性材料であるが、陽極酸化により均一な直径を有する細孔が膜面に垂直に形成されるという特徴を有する。形成される細孔は、独立孔を形成しており、孔の直径、間隔は、陽極酸化時の化成電圧によりそれぞれ、5〜800nm、10〜1000nmの範囲で調整することができる。また、陽極酸化後、リン酸等の溶解性のエッチャントに浸漬処理を施すことにより、細孔直径を拡大することができる。このほか孔深さは、化成時間に比例することから、0.1μm〜5mmの範囲で調整することができる。このほか、陽極酸化時の条件を最適化することで細孔が広範囲で規則配列した構造を得ることもできる(非特許文献1)。細孔が規則配列した陽極酸化ポーラスアルミナにおいては、細孔配列の規則化にともない、細孔形状、細孔直径の均一化が実現されるともに、細孔の直行性が向上する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In manufacturing a substrate having a fine structure, anodized porous alumina having a structure in which fine pores are perpendicular to the film surface is used as the substrate. Anodized porous alumina is a porous material that is formed by anodizing aluminum in an acidic electrolyte, and has the feature that pores having a uniform diameter are formed perpendicular to the membrane surface by anodization. Have. The formed pores form independent pores, and the diameter and interval of the pores can be adjusted in the range of 5 to 800 nm and 10 to 1000 nm, respectively, depending on the formation voltage at the time of anodization. In addition, after the anodization, the pore diameter can be increased by immersing a soluble etchant such as phosphoric acid. In addition, since the hole depth is proportional to the formation time, it can be adjusted in the range of 0.1 μm to 5 mm. In addition, a structure in which pores are regularly arranged in a wide range can be obtained by optimizing the conditions during anodization (Non-patent Document 1). In the anodic porous alumina having regular pores, the pore shape and the pore diameter are made uniform along with the regularization of the pore arrangement, and the straightness of the pores is improved.

このほか、陽極酸化初期に形成される規則性の低い構造の部分を除去する目的で、一定時間陽極酸化を施し細孔配列が規則化した後、一旦酸化皮膜を適当なエッチングにより選択的に除去し、再び同一の条件で陽極酸化を行うことで、最表面から底部まで細孔が規則化し、その結果として、細孔形状、直径が均一であり、良好な直行性が膜厚さ方向に保持された構造を得ることができる。   In addition, for the purpose of removing the part of the structure with low regularity formed in the initial stage of anodization, after anodizing for a certain period of time and regularizing the pore arrangement, the oxide film is selectively removed once by appropriate etching. By anodizing again under the same conditions, the pores are regularized from the outermost surface to the bottom, and as a result, the pore shape and diameter are uniform, and good straightness is maintained in the film thickness direction. Can be obtained.

図1は、陽極酸化ポーラスアルミナ1表面上に、耐エッチング性を有する所望のパターンを有するレジストマスク4を形成した状態を示したものである。マスク4の開口5の形状は、目的とする微細構造の断面形状と同一とする。マスク4の材質は、ミクロンレベルの開口形状が維持され、エッチングに耐えるもの、具体的には耐水性、耐酸性、密着性に優れるものが適用される。   FIG. 1 shows a state in which a resist mask 4 having a desired pattern having etching resistance is formed on the anodized porous alumina 1 surface. The shape of the opening 5 of the mask 4 is the same as the cross-sectional shape of the target microstructure. As the material of the mask 4, a material that maintains an opening shape at a micron level and can withstand etching, specifically, a material that is excellent in water resistance, acid resistance, and adhesion is applied.

マスクの作製は、例えば、フォトレジストをポーラスアルミナ1上に塗布し、フォトマスク4を用いて露光した後に現像を行うことで所望のレジストパターンを得るフォトリソグラフィープロセス、或いは電子線により露光を行なうリソグラフィープロセスにより行うことができる。また、レジスト材をインクジェットプリンタによりパターニングすることによっても形成することができる。このほか、目的とするマスクパターンに対応した凹凸を表面に形成したスタンプをあらかじめ準備し、この表面にレジストマスク4となる薄膜を形成後、陽極酸化ポーラスアルミナ1表面に転写するプロセスがより好ましく用いることができる。この場合、スタンプ表面のマスク4が物理的接触のみで陽極酸化ポーラアルミナ1に強く接合する必要があるため、スタンプ−マスク間の接着力が低く、かつマスク−アルミニウム間の接着力が高くなるようにスタンプ材、マスク材を選択する必要がある。この目的に適合するスタンプ材はシリコーン樹脂、フッ素樹脂などであり、マスク材はポリクロロプレン、ポリブタジエン、アクリロニトリル−ブタジエン、アクリル系接着剤、セルローストリアセテートなどである。本手法にもとづけば、一旦作製されたスタンプは繰り返し利用することが可能であることから低コストにパターンを形成可能になりことに加え、マスク材がポーラスアルミナ基板の中に浸透するのを避けることもできる。   The mask is produced, for example, by applying a photoresist on the porous alumina 1 and performing exposure after using the photomask 4 to develop the resist pattern, or performing lithography using an electron beam. It can be done by a process. It can also be formed by patterning a resist material with an ink jet printer. In addition, it is more preferable to use a process in which a stamp having irregularities corresponding to the target mask pattern formed on the surface is prepared in advance, a thin film to be a resist mask 4 is formed on the surface, and then transferred to the surface of the anodized porous alumina 1. be able to. In this case, since the mask 4 on the stamp surface needs to be strongly bonded to the anodized polar alumina 1 only by physical contact, the adhesive force between the stamp and the mask is low, and the adhesive force between the mask and the aluminum is high. It is necessary to select a stamp material and a mask material. The stamp material suitable for this purpose is silicone resin, fluororesin or the like, and the mask material is polychloroprene, polybutadiene, acrylonitrile-butadiene, acrylic adhesive, cellulose triacetate or the like. Based on this method, once the stamp has been made, it can be used repeatedly, so that it is possible to form a pattern at low cost, and that the mask material penetrates into the porous alumina substrate. It can be avoided.

図2には、表面にマスク4を形成したポーラスアルミナ1をエッチングし、マスク4の開口部5に対応する酸化物層を選択的に溶解除去することで得られるマスク4に対応した高アスペクト比構造を示す。表面にマスク4が形成されたポーラスアルミナ1は、酸化物層を溶解可能なエッチャントに浸漬することで露出部分が選択的に溶解されるが、このとき用いるエッチャントとしては、リン酸に代表される酸のほか、塩基を用いることができる。エッチング時、エッチャントは、マスク4の開口部5から、陽極酸化ポーラスアルミナ1の細孔2を介して基板底部まで速やかに浸透し、開口部5に対応する部分の陽極酸化ポーラスアルミナ1のみを溶解する。レジスト開口部5に対応し、なおかつアスペクト比の高い形状を得るためには、開口部5を迅速に溶解し、一方、未開口部の溶解を抑制する条件でエッチングすることが好ましい。このためには、エッチャントとしてリン酸を用い、濃度を10wt%、浴温を20〜50℃とすることが好ましく、25〜35℃とすることがより好ましい。また、エッチング時間は、マスク4の開口部5のアルミナが十分溶解し、且つ、細孔壁の溶解が未開口部の及ばない最適の時間を、用いる陽極酸化ポーラスアルミナ1の細孔2の細孔径、細孔周期、細孔深さに合わせて選択する必要がある。また、溶解処理後、必要に応じてマスク材の溶解除去を行なうことで、マスクパターンに対応したアルミナ酸化物構造体を得ることができる(図3)。   FIG. 2 shows a high aspect ratio corresponding to the mask 4 obtained by etching the porous alumina 1 having the mask 4 formed on the surface and selectively dissolving and removing the oxide layer corresponding to the opening 5 of the mask 4. The structure is shown. In the porous alumina 1 having the mask 4 formed on the surface, the exposed portion is selectively dissolved by immersing the oxide layer in a dissolvable etchant. The etchant used at this time is represented by phosphoric acid. In addition to acids, bases can be used. At the time of etching, the etchant quickly penetrates from the opening 5 of the mask 4 to the bottom of the substrate through the pores 2 of the anodized porous alumina 1 and dissolves only the portion of the anodized porous alumina 1 corresponding to the opening 5. To do. In order to obtain a shape corresponding to the resist opening 5 and having a high aspect ratio, it is preferable to perform etching under conditions that dissolve the opening 5 rapidly while suppressing dissolution of the non-opening. For this purpose, phosphoric acid is used as an etchant, the concentration is preferably 10 wt%, and the bath temperature is preferably 20 to 50 ° C., more preferably 25 to 35 ° C. Further, the etching time is an optimum time in which the alumina in the opening 5 of the mask 4 is sufficiently dissolved and the dissolution of the pore wall does not reach the unopened portion. It is necessary to select according to the pore diameter, pore period, and pore depth. In addition, after the dissolution treatment, the mask material is dissolved and removed as necessary, whereby an alumina oxide structure corresponding to the mask pattern can be obtained (FIG. 3).

図4は、ポーラスアルミナ1の細孔2と本発明により形成される微細構造との位置関係を示したものである。図中、破線で示したのが、マスクパターンのマスク開口境界7である。微細構造の形成プロセスでは、ポーラスアルミナ層のうち、マスク4の開口部5に対応した細孔2にのみエッチャントが浸入し酸化物層を溶解する。その結果、図4に模式的に示すように、形成されるパターンは、ポーラスアルミナ1の細孔2により構成されることになる。このとき、形成されるパターンに比較して十分微細な孔を有するポーラスアルミナ1を基板として用いれば、近似的に十分滑らかな形状を有する構造を得ることができる。   FIG. 4 shows the positional relationship between the pores 2 of the porous alumina 1 and the microstructure formed by the present invention. In the figure, the broken line indicates the mask opening boundary 7 of the mask pattern. In the formation process of the fine structure, the etchant enters only the pores 2 corresponding to the openings 5 of the mask 4 in the porous alumina layer and dissolves the oxide layer. As a result, as schematically shown in FIG. 4, the pattern to be formed is constituted by the pores 2 of the porous alumina 1. At this time, if porous alumina 1 having sufficiently fine holes as compared with the pattern to be formed is used as a substrate, a structure having an approximately sufficiently smooth shape can be obtained.

図5〜6は、マスク4形成後に地金アルミニウム3を溶解除去し、エッチングを行うプロセスを模式的に示している。必要に応じて、地金アルミニウム3を除去後にマスク4を付与してもよい。地金アルミニウム3を除去した後エッチングを行った場合には、図6に示すように、パターンに対応した貫通孔を有するポーラスアルミナ1を得ることができる。ポーラスアルミナ1の最底部のバリア層8と呼ばれる孔が閉塞した部分は、通常、エッチング時に同時に溶解除去されるが、確実に貫通孔化するためには、エッチングに先立ち、バリア層8を除去することが好ましい。バリア層8の除去には、表面側を耐エッチング材でコートしたのち、適当な酸で溶解除去する手法のほか、イオンミリング等の手法で物理的に除去する手法を用いることができる。このようにして得られたポーラスアルミナ基板は、マスクパターンに対応したサイズ、並びに周期の直行細孔を有することから、分離ろ過用のフィルターとして有効に使用することができる。   5 to 6 schematically show a process in which the base metal aluminum 3 is dissolved and removed after the mask 4 is formed and etching is performed. If necessary, the mask 4 may be applied after the metal base 3 is removed. When etching is performed after the metal base 3 is removed, the porous alumina 1 having through holes corresponding to the pattern can be obtained as shown in FIG. The portion of the porous alumina 1 where the hole called the barrier layer 8 is closed is usually dissolved and removed at the same time as the etching. However, in order to ensure a through hole, the barrier layer 8 is removed prior to the etching. It is preferable. For removal of the barrier layer 8, a method of physically removing the barrier layer 8 by a method such as ion milling, in addition to a method of dissolving and removing with an appropriate acid after coating the surface side with an etching resistant material can be used. Since the porous alumina substrate obtained in this manner has orthogonal pores having a size and a period corresponding to the mask pattern, it can be effectively used as a filter for separation and filtration.

高アスペクト比の微細構造を有する基板は、種々の素材による高アスペクト比微細構造を形成するための鋳型としても用いることができる。鋳型プロセスにもとづく高アスペクト比微細構造の代表的な作製例を図7に示す。図7の例では、所定の間隔で均一なサイズの貫通孔を形成した陽極酸化ポーラスアルミナ1の一面に金属導通層を形成し、電気めっきプロセスにより充填金属10を細孔2内に充填し、アルミナ/金属のコンポジット(複合体)構造を形成している。ポーラスアルミナ細孔内に金属が充填されることを防止する為、金属導通層をレジストマスク形成側の面に形成することが望ましい。金属導通層の形成には、真空蒸着法、あるいは、スパッタ法等を用いることができる。また、金属充填には、電気めっき以外にも、無電解めっき法を用いることができる。このほか、金属以外にも金属酸化物等をめっき法により充填することも可能である。更に、ゾルゲル法等の手法により金属酸化物を充填することも可能である。このほか、金属、金属酸化物に加え、ポリマーを充填することも可能である。形成されたコンポジット構造は、そのまま用いるほか、アルミナ層を適当なエッチャントにより選択的に溶解することにより、アルミナのネガ型に相当する構造を種々の材質で得ることができる。   A substrate having a high aspect ratio microstructure can also be used as a mold for forming a high aspect ratio microstructure of various materials. A typical production example of a high aspect ratio fine structure based on a mold process is shown in FIG. In the example of FIG. 7, a metal conductive layer is formed on one surface of the anodized porous alumina 1 in which through holes having a uniform size are formed at predetermined intervals, and the filling metal 10 is filled into the pores 2 by an electroplating process. An alumina / metal composite structure is formed. In order to prevent the porous alumina pores from being filled with metal, it is desirable to form a metal conductive layer on the resist mask forming side surface. For forming the metal conductive layer, a vacuum deposition method, a sputtering method, or the like can be used. In addition to electroplating, electroless plating can be used for metal filling. In addition to the metal, a metal oxide or the like can be filled by a plating method. Furthermore, the metal oxide can be filled by a technique such as a sol-gel method. In addition to this, it is also possible to fill a polymer in addition to a metal and a metal oxide. The formed composite structure is used as it is, and by selectively dissolving the alumina layer with an appropriate etchant, structures corresponding to the negative type of alumina can be obtained with various materials.

このように適当な素材に鋳型プロセスを順次繰り返し適用することで、陽極酸化ポーラスアルミナ1のポジ型に相当する構造を得ることが可能になるほか、様々な素材で微細な高アスペクト比構造を得ることが可能となる。   Thus, by sequentially applying the mold process to an appropriate material in sequence, it becomes possible to obtain a structure corresponding to the positive type of the anodized porous alumina 1 and to obtain a fine high aspect ratio structure with various materials. It becomes possible.

本発明により得られた高アスペクト比を有するポーラスアルミナ1、あるいは、それを鋳型に作製した微細構造は、ナノインプリントプロセス用のモールドとして用いることができる。ナノインプリントプロセスにもとづけば、高スループットにて微細な構造を安価に作製することが可能となる。   The porous alumina 1 having a high aspect ratio obtained by the present invention, or the fine structure produced using the porous alumina 1 as a mold can be used as a mold for a nanoimprint process. If it is based on the nanoimprint process, it becomes possible to produce a fine structure with high throughput at low cost.

以下、実施例により更に本発明を詳細に説明するが、本発明はかかる実施例によって限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by this Example.

[実施例1]
電解研磨したアルミニウム板を0.3Mシュウ酸、16℃、40Vの条件で600分間陽極酸化し、細孔周期100nm、細孔径40nm、厚さ60μmのポーラス皮膜を得た。直径2μm、周期5μmで三角格子状に凹部を有するポリメチルシロキサン(PDMS)製スタンプを0.75wt%クロロプレンゴムのトルエン溶液に浸漬し、引き上げ、乾燥させることで、クロロプレンゴム薄膜をPDMSスタンプ上に形成し、ポーラスアルミナ上に転写し、300℃、3分でアニールを行なった。ヨードメタノールでAl地金を除去後、30℃、濃度10wt%リン酸中1時間30分エッチングを行なった。得られた構造を走査型電子顕微鏡で観察したところマスクパターンに対応した貫通孔が確認された(図8)。
[Example 1]
The electrolytically polished aluminum plate was anodized for 600 minutes under the conditions of 0.3 M oxalic acid, 16 ° C., and 40 V to obtain a porous film having a pore period of 100 nm, a pore diameter of 40 nm, and a thickness of 60 μm. A chloroprene rubber thin film is formed on the PDMS stamp by immersing a polymethylsiloxane (PDMS) stamp with a diameter of 2 μm and a period of 5 μm and having recesses in a triangular lattice shape into a 0.75 wt% chloroprene rubber toluene solution, and then lifting and drying. Then, it was transferred onto porous alumina and annealed at 300 ° C. for 3 minutes. After removing the Al ingot with iodomethanol, etching was performed in phosphoric acid at 30 ° C. and a concentration of 10 wt% for 1 hour 30 minutes. When the obtained structure was observed with a scanning electron microscope, a through hole corresponding to the mask pattern was confirmed (FIG. 8).

[実施例2]
本発明にもとづき作製された直径2μm、周期5μmの貫通孔を有するポーラスアルミナ基板のマスク形成側の面に厚さ20nmのNi層をスパッタし導電化処理を施した。導通用ワイヤを固定し、電気めっき法を用いNiを細孔内に充填した。その後、5wt%NaOHに浸漬し、アルミナ層を溶解除去しNiネガ型を得た(図9)。その後、Niネガ型上に光硬化製ポリマー(SU-8)(MicroChem Corp製)をスピンコートし、光露光、並びにアニール後、Niネガ型を溶解除去することで出発構造と同一の直径2μm、周期5μmの直行貫通孔が配列したポーラスポリマーメンブレンを得た(図10)。
[Example 2]
A 20 nm thick Ni layer was sputtered on the surface on the mask forming side of a porous alumina substrate having through-holes with a diameter of 2 μm and a period of 5 μm produced according to the present invention, and subjected to a conductive treatment. The conducting wire was fixed, and Ni was filled in the pores using an electroplating method. Then, it was immersed in 5 wt% NaOH, and the alumina layer was dissolved and removed to obtain a Ni negative mold (FIG. 9). Thereafter, a photo-curing polymer (SU-8) (manufactured by MicroChem Corp) is spin-coated on the Ni negative mold, and after light exposure and annealing, the Ni negative mold is dissolved and removed to have the same diameter of 2 μm as the starting structure. A porous polymer membrane in which direct through holes with a period of 5 μm were arranged was obtained (FIG. 10).

本発明により得られる高アスペクト比微細構造材料は、フィルターメンブレンをはじめとし、微細な高アスペクト比構造が求められるあらゆる用途に適用できる。   The high aspect ratio fine structure material obtained by the present invention can be applied to various uses such as filter membranes where a fine high aspect ratio structure is required.

1 ポーラスアルミナ
2 細孔
3 アルミニウム
4 マスク
5 開口部
6 選択溶解部
7 マスク開口境界
8 バリア層
9 電極
10 充填金属
11 充填ポリマー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Porous alumina 2 Pore 3 Aluminum 4 Mask 5 Opening 6 Selective dissolution part 7 Mask opening boundary 8 Barrier layer 9 Electrode 10 Filling metal 11 Filling polymer

Claims (14)

陽極酸化ポーラスアルミナの表面にレジストパターンを形成した後、湿式エッチング処理を施して前記レジストパターンが形成されていない部分を選択的に溶解除去することにより、前記レジストパターンに対応した断面形状を有しアスペクト比が1以上である微細構造を形成することを特徴とする微細構造の形成方法。   After forming a resist pattern on the surface of the anodized porous alumina, a wet etching process is performed to selectively dissolve and remove portions where the resist pattern is not formed, thereby having a cross-sectional shape corresponding to the resist pattern. A fine structure forming method, wherein a fine structure having an aspect ratio of 1 or more is formed. 前記レジストパターンの個々のレジスト領域の径と前記陽極酸化ポーラスアルミナの細孔周期との比が3〜10,000の範囲にある、請求項1に記載の微細構造の形成方法。   2. The method for forming a microstructure according to claim 1, wherein a ratio between a diameter of each resist region of the resist pattern and a pore period of the anodized porous alumina is in a range of 3 to 10,000. 前記陽極酸化ポーラスアルミナの細孔周期が10〜5000nmの範囲にある、請求項1または2に記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to claim 1 or 2, wherein a pore period of the anodized porous alumina is in a range of 10 to 5000 nm. 前記陽極酸化ポーラスアルミナの細孔深さが0.5〜50,000μmの範囲にある、請求項1〜3のいずれかに記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to any one of claims 1 to 3, wherein the pore depth of the anodized porous alumina is in the range of 0.5 to 50,000 µm. 前記湿式エッチング処理が、リン酸を用いたエッチング処理からなる、請求項1〜4のいずれかに記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to claim 1, wherein the wet etching process is an etching process using phosphoric acid. 前記微細構造が、前記陽極酸化ポーラスアルミナの一の表面から他の表面まで貫通した貫通孔からなる、請求項1〜5のいずれかに記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to any one of claims 1 to 5, wherein the microstructure is a through-hole penetrating from one surface of the anodized porous alumina to another surface. 前記レジストパターンが、あらかじめパターン形成されたマスクから転写されることにより前記陽極酸化ポーラスアルミナの表面に形成される、請求項1〜6のいずれかに記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to any one of claims 1 to 6, wherein the resist pattern is formed on a surface of the anodized porous alumina by being transferred from a pre-patterned mask. 陽極酸化ポーラスアルミナの表面にレジストパターンを形成した後、湿式エッチング処理を施して前記レジストパターンが形成されていない部分を選択的に溶解除去することにより、前記レジストパターンに対応した断面形状を有しアスペクト比が1以上である貫通孔を形成し、該貫通孔内にポーラスアルミナと異なる物質を充填した後、前記陽極酸化ポーラスアルミナを溶解除去することにより微細構造を形成することを特徴とする微細構造の形成方法。   After forming a resist pattern on the surface of the anodized porous alumina, a wet etching process is performed to selectively dissolve and remove portions where the resist pattern is not formed, thereby having a cross-sectional shape corresponding to the resist pattern. Forming a through-hole having an aspect ratio of 1 or more, filling the through-hole with a substance different from porous alumina, and then dissolving and removing the anodized porous alumina to form a fine structure Structure formation method. ポーラスアルミナと異なる物質を、電解めっきまたは無電解めっきにより前記貫通孔内に充填する、請求項8に記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to claim 8, wherein a material different from porous alumina is filled in the through hole by electrolytic plating or electroless plating. 陽極酸化ポーラスアルミナの表面にレジストパターンを形成した後、湿式エッチング処理を施して前記レジストパターンが形成されていない部分を選択的に溶解除去することにより形成される、アスペクト比が1以上である一の微細構造を有するネガ型を作製した後、該ネガ型を鋳型とした鋳型プロセスにより、アスペクト比が1以上である他の微細構造を有するポジ型を作製することを特徴とする微細構造の形成方法。   After the resist pattern is formed on the surface of the anodized porous alumina, a wet etching process is performed to selectively dissolve and remove portions where the resist pattern is not formed. After forming a negative mold having a fine structure, a positive mold having another fine structure having an aspect ratio of 1 or more is formed by a mold process using the negative mold as a mold. Method. 前記鋳型プロセスが繰り返される、請求項10に記載の微細構造の形成方法。   The method of forming a microstructure according to claim 10, wherein the mold process is repeated. 前記一の微細構造が前記陽極酸化ポーラスアルミナの一の表面から他の表面まで延びる柱状構造からなるとともに、前記他の微細構造が前記ポジ型の一の表面から他の表面まで貫通した貫通孔からなる、請求項10または11に記載の微細構造の形成方法。   The one microstructure is a columnar structure extending from one surface of the anodized porous alumina to another surface, and the other microstructure is formed from a through-hole penetrating from one surface of the positive mold to another surface. The method for forming a microstructure according to claim 10 or 11, comprising: 前記ポジ型がポリマー材料からなる、請求項10〜12のいずれかに記載の微細構造の形成方法。   The method for forming a microstructure according to any one of claims 10 to 12, wherein the positive mold is made of a polymer material. 請求項1〜7のいずれかの方法により形成された微細構造が貫通孔からなり、該貫通孔内にポーラスアルミナと異なる物質を充填することを特徴とするポーラスアルミナ複合体の製造方法。   A method for producing a porous alumina composite, wherein the microstructure formed by the method according to any one of claims 1 to 7 comprises a through hole, and the through hole is filled with a substance different from porous alumina.
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