JP5826955B1

JP5826955B1 - 低圧回路診断システム及びプログラム

Info

Publication number: JP5826955B1
Application number: JP2015015271A
Authority: JP
Inventors: 義信森; 恵里佳根岸
Original assignee: 根岸正子
Priority date: 2015-01-29
Filing date: 2015-01-29
Publication date: 2015-12-02
Anticipated expiration: 2035-01-29
Also published as: JP2016138861A

Abstract

【課題】低圧回路の点検現場にＦＦＴ装置を気軽に持ち込むことができるようになった環境の変化を受け、当該ＦＦＴ装置を利用して点検現場で低圧回路の高調波に関する診断をリアルタイムに、かつ、自動的に行うこと。【解決手段】記憶装置に格納された値を読み出して以下の条件を判定し、条件１から条件４をすべて満たす場合、低圧回路の異常の警告を出力装置に出力する。（条件１）商用周波数のゲインと少なくとも１つの高調波のゲインとのゲイン差が、ゲイン差の第１閾値より小さいこと、（条件２）商用周波数の電流値に対する少なくとも１つの高調波電流の割合が、電流比の閾値を超えていること、（条件３）商用周波数の有効電力が、電力の閾値を超えていること、（条件４）少なくとも１つの高調波電流値が、高調波電流の限度値を超えていること。【選択図】図１

Description

本発明は、低圧回路診断システム及びプログラムに関する。

低圧回路の通常点検業務において、低圧回路に存在する高調波電流を把握するためには、ＦＦＴアナライザを利用して低圧回路に生じた電流の周波数分布を解析することが好ましい。しかし、従来のＦＦＴアナライザは高価であり、また、筐体が大きく持ち運びに不都合があった。このため、ＦＦＴアナライザを現場に持ち込み、低圧回路の高調波に関する診断結果をリアルタイムに確認することは困難であった。

一方近年、ノートＰＣ等にＵＳＢインターフェースを介して接続できるＦＦＴアナライザ相当の装置（以下「ＦＦＴ装置」という）が入手できるようになった。従来のＦＦＴアナライザに比べ安価になり、入手が容易であり、筐体も小型化され、持ち運びにも適している。

本発明は、低圧回路の点検現場にＦＦＴ装置を気軽に持ち込むことができるようになった環境の変化を受け、当該ＦＦＴ装置を利用して点検現場で低圧回路の高調波に関する診断をリアルタイムに、かつ、自動的に行うことを課題とする。

上記課題を解決するため、本発明は、以下の構成を採っている。下記の複合的な条件は、低圧回路の異常の診断に最適なものとして試験的に発明者が見出した条件である。

本発明は、低圧回路から検出した交流電流成分のＦＦＴデータ及びゲインのＦＦＴデータと、商用周波数と高調波とのゲイン差の第１閾値と、商用周波数と高調波との電流比の閾値と、交流の種別に応じた電力の閾値と、交流の種別及び高調波の次数に応じた高調波電流の限度値とを格納する記憶装置を備える。また、この記憶装置に格納された値を読み出して以下の条件を判定し、条件１から条件４をすべて満たす場合、前記低圧回路の異常の警告を出力装置に出力するプロセッサを備える。
（条件１）前記ゲインのＦＦＴデータに基づき、商用周波数のゲインと少なくとも１つの高調波のゲインとのゲイン差が、前記ゲイン差の第１閾値より小さいこと、
（条件２）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、商用周波数の電流値に対する少なくとも１つの高調波電流の割合が、前記電流比の閾値を超えていること、
（条件３）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、商用周波数の有効電力が、前記電力の閾値を超えていること、
（条件４）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、少なくとも１つの高調波電流値が、前記高調波電流の限度値を超えていること。

本発明によれば、上記の複合的な条件により、ＦＦＴ装置を利用して点検現場で低圧回路の高調波に関する診断をリアルタイムに、かつ、自動的に行うことができる。

図１は、本発明の一実施形態である低圧回路診断システムの構成図である。図２は、図１の低圧回路診断システムが表示する診断結果画面の構成図である。

［システム構成］
以下、本発明の実施形態を説明する。本実施形態の低圧回路診断システムは、図１に示すように、低圧回路の測定部位から交流電流を検出する分割・クランプ型センサ１と、この分割・クランプ型センサ１の出力信号をＦＦＴ装置３への入力信号に変換するインターフェース２と、このインターフェース２の出力信号についてＦＦＴ変換を実行し変換後データをＰＣ４に入力するＦＦＴ装置３と、このＦＦＴ装置３による変換後データに基づいて低圧回路の漏洩電流と高調波の状態を診断し診断結果を表示するＰＣ４とを備えている。

［分割・クランプ型センサ１の構成］
試作に用いた分割・クランプ型センサは、変流器（ＣＴ）式であり、主な仕様は以下の通りである。

提供元株式会社ユー・アール・ディー
種別広帯域・接地線モニタ用クランプ式交流電流センサ
型式 CTU-22-CLF
適用電流 1mA〜120Arms（50Hz／60Hz）、RL≦10Ω
最大許容電流 120Arms／連続
内部抵抗 90Ω±10Ω（参考値）
公称変流比 2000:1
出力保護 7.5Vpクランプ素子内蔵
耐電圧 AC1000V/1分間（コア〜出力リード線間）
絶縁抵抗 DC500V／100MΩ以上（コア〜出力リード線間）
重量約60g

［分割・クランプ型センサ１の動作］
分割・クランプ型センサ１は、低圧回路の測定部位から検出した交流電流に応じてセンサ信号を出力する。

［インターフェース２の構成］
試作に用いたインターフェース２は、分割・クランプ型センサ１の出力端を短絡又は開放するスイッチＳＷ１と、このスイッチＳＷ１の開放中に、分割・クランプ型センサ１のセンサ信号を電圧変換する抵抗Ｒ１，Ｒ２と、電圧変換の倍率を設定するスイッチＳＷ２とを備えている。

インターフェース２の回路構成を詳述すると、分割・クランプ型センサ１の一方の出力端子には、スイッチＳＷ１の一方の端子と、抵抗Ｒ１の一方の端子と、スイッチＳＷ２の一方の端子と、ＦＦＴ装置３への一方の出力端子とが接続されている。また、分割・クランプ型センサ１の他方の出力端子には、スイッチＳＷ１の他方の端子と、抵抗Ｒ２の一方の端子と、ＦＦＴ装置３への他方の出力端子とが接続されている。抵抗Ｒ２の他方の端子には、抵抗Ｒ１の他方の端子と、スイッチＳＷ２の他方の端子とが接続されている。

スイッチＳＷ１は、分割・クランプ型センサ１の出力端を短絡することにより、分割・クランプ型センサ１を保護する機能を備えている。スイッチＳＷ２は、抵抗Ｒ１，Ｒ２を所定の抵抗値とすることにより、開放中は、分割・クランプ型センサ１の出力電流を１：１の比で電圧変換し、接続中は、分割・クランプ型センサ１の出力電流を１００：１の比で電圧変換するようになっている。本実施形態では、分割・クランプ型センサ１の仕様に応じて、電圧変換の比がスイッチＳＷ２の設定により上記の比となるように、抵抗Ｒ１及びＲ２の値を設定している。本実施形態において、電圧変換の比を１：１にするＲＬ抵抗値はおよそ１６００Ωであり、電圧変換の比を１００：１にするＲＬ抵抗値はおよそ１６Ωである。抵抗Ｒ１，Ｒ２の値は、実験により最適値を見出して設定するとよい。ここで、インターフェース２は、分割・クランプ型センサ１のソース信号を忠実に再現するためにＣ分を使用せず、Ｒ分のみの構成にしている。

［インターフェース２の動作］
インターフェース２は、スイッチＳＷ１の開放時に、分割・クランプ型センサ１から入力されたセンサ信号をスイッチＳＷ２の設定に応じて１：１又は１００：１の比で電圧変換し出力する。

［ＦＦＴ装置の構成］
試作に用いたＦＦＴ装置は、次の通りである。

提供元Ｈａｎｔｅｋ（http://www.hantek.com/）
型式ＤＳＯ−２０９０
主な特徴
・100Ms/s 40MHz帯域 FFT搭載PCベースデジタルオシロスコープ
・手の平サイズ、290g、ノートＰＣ等とのUSB接続で使用、外部電源不要で持ち運び容易
・FFT解析機能を搭載。ＤＳＰによる高速処理
・ＰＣにインストールした専用ソフトにより、リアルタイムの波形観測とデータ記録が可能

［ＦＦＴ装置３の動作］
ＦＦＴ装置３は、インターフェース回路２の出力信号をＤＳＰによりＦＦＴ変換し、変換後データをＰＣ４に入力する。

［ＰＣの構成］
ＰＣ４は、ＦＦＴ装置３用のユーティリティプログラム４１と、低圧回路診断プログラム４２とを備えている。ＰＣ４は、一般的なパーソナルコンピュータのハードウェアを備え、プロセッサが所定のプログラムを実行することにより、各種の処理を実行する。ＰＣ４は、測定現場への持ち込みが容易な、ノート型ＰＣないしはモバイル端末であることが好ましい。ＰＣ４は、タブレット型端末でもよい。プロセッサが処理に用いる全ての情報は記憶装置から読み出される。また、プロセッサが処理した全ての情報は記憶装置に格納される（一時的な記憶を含む）。記憶装置の概念には、一次記憶装置及び二次記憶装置が含まれる。ユーザからの情報の入力は入力装置を介して行われる。また、ユーザへの情報の出力は出力装置を介して行われる。

ユーティリティプログラム４１は、ＦＦＴ装置３が出力したフーリエ変換後のデータ（以下、ＦＦＴデータという）を記憶装置に記録する。また、ユーティリティプログラム４１は、ＦＦＴデータのエクスポートが指示されると、当該ＦＦＴデータを記憶装置から読み出し、低圧回路診断プログラム用の所定形式のデータファイルに変換し、当該データファイルに所定のファイル名を付与して記憶装置に格納する（以下、このデータファイルをＦＦＴデータファイルという）。本実施形態において、ＦＦＴデータファイルには、測定した電流の周波数成分データが、１Ｈｚ毎に記録される。

低圧回路診断プログラム４２は、ＦＦＴデータファイルから読み込んだＦＦＴデータに基づき、測定対象となった低圧回路の高調波電流及び漏洩電流の状態を診断し、診断結果を出力装置に出力させる。本実施形態において、低圧回路診断プログラム４２は、表計算ソフトに計算式と表示指示を設定することにより構成されている。

［ＦＦＴデータの測定及びＦＦＴデータファイルの取得］
次に、本実施形態の低圧回路診断システムの使用方法を説明する。
（１）リーク電流の測定
図１に示すように、分割・クランプ型センサ１に、大型クランプ５を接続する。

低圧回路の１回路ずつ測定を行う。

動力（三相交流）を測定する場合、Ｒ相、Ｓ相及びＴ相の３線を一括でクランプする。

電灯（単相交流）を測定する場合、Ｒ相、Ｎ相及びＴ相の３線を一括でクランプする。

インターフェース２のスイッチをリーク測定モードに設定する。即ち、ＳＷ1をオープン、ＳＷ２もオープンに設定する。電流−電圧変換の比は1：1になる。

以上の状態でシステムを稼働状態に設定すると、ＦＦＴ装置３用のユーティリティプログラム４１は、以下の処理をＰＣ４のプロセッサに実行させる。即ち、プロセッサは、ＦＦＴ装置３から測定中のリーク電流のＦＦＴデータをリアルタイムに取得する。また、プロセッサは、ＦＦＴデータのエクスポートをユーザに指示されると、測定中のリーク電流について所定のファイル名のＦＦＴデータファイルを記憶装置に書き出す。

（２）電流成分の測定
図１に示すように、分割・クランプ型センサ１に、大型クランプ５を接続する。本実施形態において、大型クランプ５の電流比は１０：１である。

上記でリーク電流の測定を行った回路について電流成分の測定を行う。

動力を測定する場合、Ｒ相、Ｓ相及びＴ相の３線のうち任意の１本をクランプする。

電灯の２００Ｖ系を測定する場合、Ｒ相又はＴ相の１本をクランプする。

電灯の１００Ｖ系を測定する場合、Ｎ相をクランプする。

インターフェース２のスイッチを電流成分測定モードに設定する。即ち、ＳＷ１をオープン、ＳＷ２をクローズに設定する。電流−電圧変換の比は1００：1になる。かつ、大型クランプ５の電流比が１０：１であるから、測定電流から見た電圧変換の比は１０００：１になる。

以上の状態でシステムを稼働状態に設定すると、ＦＦＴ装置３用のユーティリティプログラム４１は、以下の処理をＰＣ４のプロセッサに実行させる。即ち、プロセッサは、ＦＦＴ装置３から測定中の電流成分のＦＦＴデータをリアルタイムに取得する。また、プロセッサは、ＦＦＴデータのエクスポートをユーザに指示されると、測定中の電流成分の電流値及びゲインについて、それぞれ所定のファイル名のＦＦＴデータファイルを記憶装置に書き出す。

［低圧回路診断プログラムによる診断（１）］
続いて、上記により取得した３種類のＦＦＴデータを用いて、測定の対象である低圧回路の状態を診断する方法を説明する。

低圧回路診断プログラムを実行するプロセッサは、取得したＦＦＴデータが以下の条件１から条件４をすべて満たす場合に、測定対象の低圧回路について少なくとも点検が必要であると判定する。また、低圧回路診断プログラムを実行するプロセッサは、取得したＦＦＴデータが以下の条件１から条件５をすべて満たす場合に、点検の早期実施が必要であると判定する。

（条件１）ゲインのＦＦＴデータにおいて、高調波のゲイン値（−ｄＢ）と、商用周波数（５０Ｈｚ付近）のゲイン値（−ｄＢ）との差が−２５ｄＢより小さいこと。各高調波（第２次、第３次、第５次）について個別に判定する。

（条件２）電流成分値のＦＦＴデータにおいて、高調波の電流成分値が、商用周波数の電流成分値の５％を超えていること。各高調波について個別に判定する。本条件は、ＶＣＣＩ規格、ＥＭＩ基準に基づき、発明者が経験的に設定したものである。

（条件３）測定対象が動力（三相交流）の場合、電流成分のＦＦＴデータに基づいて計算する有効電力が６００Ｗを超えていること。
又は、測定対象が電灯（単相交流）の２００Ｖ系の場合、電流成分のＦＦＴデータに基づいて計算する有効電力が６００Ｗを超えていること。
又は、測定対象が電灯（単相交流）の１００Ｖ系の場合、電流成分のＦＦＴデータに基づいて計算する有効電力が４０Ｗを超えていること。６００Ｗ及び４０Ｗという閾値は、本願の発明者が実験に基づいて定めたものである。

（条件４）測定対象が三相２００Ｖ若しくは単相２００Ｖの場合、電流成分のＦＦＴデータにおいて、高調波電流が「情報技術装置および周辺機器の高調波対策ガイドライン」（第４版、平成１４年１０月、社団法人ビジネス機械・情報システム産業協会）に規定されたクラスＡ機器の高調波電流の限度値（アンペア）を超えていること。各高調波について個別に判定する。

当該限度値の値は次のとおりである。

三相２００Ｖ機器については、第２次が２．１６、第３次が４．６０、第５次が２．２８

単相２００Ｖ機器については、第２次が１．２４、第３次が２．６５、第５次が１．３１

又は、測定対象が単相１００Ｖの場合、電流成分のＦＦＴデータにおいて、高調波電流が０．３（アンペア）を超えていること。各高調波について個別に判定する。０．３という閾値は、発明者が経験・実験に基づいて設定した独自のものである。

（条件５）ゲインのＦＦＴデータにおいて、高調波のゲイン値（−ｄＢ）と、商用周波数（５０Ｈｚ付近）のゲイン値（−ｄＢ）との差が−１５ｄＢより小さいこと。各高調波（第２次、第３次、第５次）について個別に判定する。かつ、電流成分のＦＦＴデータにおいて、高調波の電流成分が、商用周波数の電流成分の１０％を超えていること。

［低圧回路診断プログラムによる診断（２）］
低圧回路診断プログラムを実行するプロセッサは、リーク電流のＦＦＴデータに基づいて漏洩電流値を求める。また、低圧回路診断プログラムを実行するプロセッサは、以下の条件６及び条件７をすべて満たす場合、漏洩電流の状態に注意を要すると判定する。

（条件６）絶縁値（絶縁抵抗値）が判定基準値を下回っていること。判定基準値は、動力の場合０．２ＭΩ、電灯の場合０．１ＭΩとする。絶縁値は、ＦＦＴデータのうち、商用周波数のリーク電流値、電流成分値及びゲイン値に基づいて算出する。

（条件７）漏洩電流値が３ｍＡを超えていること。漏洩電流値は、商用周波数のリーク電流値に基づいて算出する。

［低圧回路診断プログラムによる診断結果の表示］
低圧回路診断プログラムを実行したＰＣ４のプロセッサは、図２に示す診断結果画面を出力装置に出力する。

ＰＣ４のプロセッサは、診断結果画面の上段左側に、回路名／供給先、変圧器容量、バンクＮｏ．、三相又は単相電圧、Ｒ倍率、ＡＤ倍率、幹線負荷設備を含む漏洩電流、絶縁値、ＣＴ比、判定基準及び判定を表示する。ここで、Ｒ倍率とは、リーク電流のＦＦＴデータに一律に乗ずる倍率であり、１０００倍又は１００００倍が選択される。リーク電流は非常に小さいデータであるため、倍率を上げて処理する。また、ＡＤ倍率とは、電流成分のＦＦＴデータに一律に乗ずる倍率であり、１００倍又は１０００倍が選択される。分割・クランプ型センサ１に大型クランプ５を接続した場合の電流−電圧変換比（１０００：１）に応じてＡＤ倍率を１０００倍にして処理する。なお、大型クランプ５を使用しない場合は、分割・クランプ型センサ１の電流−電圧変換比（１００：１）に応じてＡＤ倍率を１００倍にして処理する。

また、ＰＣ４のプロセッサは、診断結果画面の上段右側に、基本周波数及び高調波（１ｓｔ，２ｎｄ，３ｒｄ，５ｔｈ及び７ｔｈ）ごとに、帯域別電流成分、負荷種別及び高調波の診断結果（補正／Ａ欄）を表示する。帯域別電流成分の欄には、基本周波数及び高調波ごとに、電流成分値と、ゲインと、基本周波数のゲインからのゲイン差とを表示する。

また、ＰＣ４のプロセッサは、診断結果画面の中段に帯域別電流成分検出画面（ゲイン特性）を表示する。

また、ＰＣ４のプロセッサは、診断結果画面の下段に負荷種別の点検に関するコメントを表示する。

診断結果画面の右上には、診断対象が三相交流の場合は「Ｐ」の文字を、診断対象が単相２００Ｖ系の場合は「Ｌ」の文字を、診断対象が単相１００Ｖ系の場合は「Ｎ」の文字を表示する。

以上の診断結果画面には次の２種類の診断結果の表示が含まれる。

（１）漏洩電流の診断結果
ＰＣ４のプロセッサは、上述した診断（２）のとおり、条件６及び条件７をすべて満たす場合、漏洩電流の診断結果として「判定」の欄に「注意」を表示する。一方、条件６及び条件７の一つでも満たさない場合、「判定」の欄に「良」を表示する。図２では「良」が表示されている。

（２）高調波の診断結果
ＰＣ４のプロセッサは、上述した診断（１）のとおり、条件１から条件４をすべて満たす場合、「補正／Ａ」の欄に、高調波ごとに、点検の要否を表示する。図２では点検不要と判定した負荷種別には「○」を表示し、要点検と判定した負荷種別には「点検」を表示している。

更に、ＰＣ４のプロセッサは、上述した診断（１）のとおり、条件１から条件５のすべてを満たす場合、「補正／Ａ」欄に、高調波ごとに、上記「点検」の表示の横に「●」を表示し、更に診断結果画面の下欄に、点検の早期実施を促すコメントを表示する。図２の例では、第５次高調波に対応する「周期性モータ回路」について「● 点検」を表示し、更に、当該点検に関し「モータ内部カーボンの除去、ＩＮＶ素子の整備を実施して下さい。早期実施が必要です」と下欄に表示している。

以上のとおり、本実施形態によれば、持ち込みが容易なコンパクトな分割・クランプ型センサ１、インターフェース２、ＦＦＴ装置３及びＰＣ４を点検の現場に気軽に持ち込み、現場で低圧回路の診断を自動的に行い、診断結果をリアルタイムに確認することができる。

ここで、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変更が可能である。診断結果画面の表示形態は図２と異なってもよい。低圧回路診断システムを構成する分割・クランプ型センサ１、インターフェース２、ＦＦＴ装置３は必ずしも筐体が分離していなくてもよい。複数の要素が１つの筐体内に収容されていてもよい。ＦＦＴ装置のユーティリティプログラムと低圧回路診断プログラムとは必ずしも分離していなくてもよい。低圧回路診断プログラムは表計算ソフトを利用したものに限らない。分割・クランプ型センサ１、ＦＦＴ装置３は、本実施形態に挙げた具体的な製品に限らない。

１分割・クランプ型センサ
２インターフェース
３ＦＦＴ装置
４ＰＣ
５大型クランプ
４１ＦＦＴ装置のユーティリティプログラム
４２低圧回路診断プログラム

Claims

低圧回路から検出した交流電流成分のＦＦＴデータ及びゲインのＦＦＴデータと、商用周波数と高調波とのゲイン差の第１閾値と、商用周波数と高調波との電流比の閾値と、交流の種別に応じた電力の閾値と、交流の種別及び高調波の次数に応じた高調波電流の限度値とを格納する記憶装置と、この記憶装置に格納された値を読み出して以下の条件を判定し、条件１から条件４をすべて満たす場合、前記低圧回路の異常の警告を出力装置に出力するプロセッサと、を備えた低圧回路診断システム、
（条件１）前記ゲインのＦＦＴデータに基づき、商用周波数のゲインと少なくとも１つの高調波のゲインとのゲイン差が、前記ゲイン差の第１閾値より小さいこと、
（条件２）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、商用周波数の電流値に対する少なくとも１つの高調波電流の割合が、前記電流比の閾値を超えていること、
（条件３）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、商用周波数の有効電力が、前記電力の閾値を超えていること、
（条件４）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、少なくとも１つの高調波電流値が、前記高調波電流の限度値を超えていること。
請求項１に記載した低圧回路診断システムにおいて、前記記憶装置が、前記ゲイン差の第１閾値よりも小さいゲイン差を示すゲイン差の第２閾値を記憶し、
前記プロセッサは、前記条件１から条件４のすべてが満たされ、かつ、以下の条件５が満たされる場合、前記警告に関する補足コメントを前記出力装置に出力する、低圧回路診断システム、
（条件５）前記ゲインのＦＦＴデータに基づき、商用周波数のゲインと少なくとも１つの高調波のゲインとのゲイン差が、前記ゲイン差の第２閾値より小さいこと、かつ、電流成分のＦＦＴデータに基づき、高調波の電流値が、商用周波数の電流値の１０％を超えていること。
前記低圧回路から交流電流を検出するクランプセンサと、このクランプセンサの出力を電圧変換してＦＦＴ装置に入力するＲ分のみで構成したインターフェースと、このインターフェースから入力された信号を電流成分のＦＦＴデータ及びゲインのＦＦＴデータに変換するコンピュータ周辺機器であるＦＦＴ装置と、このＦＦＴ装置が変換したＦＦＴデータを前記記憶装置に格納する請求項１又は２に記載した低圧回路診断システムと、を備えた低圧回路診断システム。
低圧回路から検出した交流電流成分のＦＦＴデータ及びゲインのＦＦＴデータと、商用周波数と高調波とのゲイン差の第１閾値と、商用周波数と高調波との電流比の閾値と、交流の種別に応じた電力の閾値と、交流の種別及び高調波の次数に応じた高調波電流の限度値とを格納する記憶装置を備えたコンピュータのプロセッサに、
前記記憶装置に格納された値を読み出して以下の条件を判定させ、条件１から条件４をすべて満たす場合、前記低圧回路の異常の警告を出力装置に出力させる、低圧回路診断プログラム、
（条件１）前記ゲインのＦＦＴデータに基づき、商用周波数のゲインと少なくとも１つの高調波のゲインとのゲイン差が、前記ゲイン差の第１閾値より小さいこと、
（条件２）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、商用周波数の電流値に対する少なくとも１つの高調波電流の割合が、前記電流比の閾値を超えていること、
（条件３）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、商用周波数の有効電力が、前記電力の閾値を超えていること、
（条件４）前記電流成分のＦＦＴデータに基づき、少なくとも１つの高調波電流値が、前記高調波電流の限度値を超えていること。
請求項４に記載した低圧回路診断プログラムにおいて、前記記憶装置が、前記ゲイン差の第１閾値よりも小さいゲイン差を示すゲイン差の第２閾値を記憶し、
前記プロセッサに、前記条件１から条件４のすべてが満たされ、かつ、以下の条件５が満たされる場合、前記警告に関する補足コメントを前記出力装置に出力させる、低圧回路診断プログラム、
（条件５）前記ゲインのＦＦＴデータに基づき、商用周波数のゲインと少なくとも１つの高調波のゲインとのゲイン差が、前記ゲイン差の第２閾値より小さいこと、かつ、電流成分のＦＦＴデータに基づき、高調波の電流値が、商用周波数の電流値の１０％を超えていること。