JP5723591B2 - 熱電変換材料と電界印加型熱電変換素子 - Google Patents

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Description

本発明は、高変換効率を有する熱電変換素子に関する。
物質のゼーベック効果を利用して、熱エネルギーを電気エネルギーに変換することを熱電変換と呼び、熱電変換を実現するデバイスが熱電変換素子である。熱電変換素子に使用される材料を熱電変換材料とよび、その熱電変換の効率を評価する指標として、性能指数Z=Sσ/κ(ここで、Sはゼーベック係数、σは電気伝導度、κは熱伝導度である。)
従来知られている熱電変換材料としては、
(1)Bi−Te、Si−Ge、Zn−Sb等の半導体化合物やスクッテルダイト構造をもつ化合物で形成されるもの、
(2)NaCoOを代表とする酸化物で形成されるもの
(3)ZrNiSn等のハーフホイスラー構造を有する化合物などが知られている。
しかしながらここに列挙した従来材料においては、その電気伝導度とゼーベック係数に対して限界があった。熱電変換素子を実用化するために必要な性能指数はZT(Tは温度)で定義され、少なくとも1以上のZTが必要とされ、一部では2以上が必要とされる。
このような課題を解決するために、特許文献1にキャリア濃度が1022個/cm以下である半導体A内に生じた温度勾配に応じた起電力を取り出し、通電によって前記半導体A内に温度勾配を生じさせるための一対のソース電極S及びドレイン電極Dと、前記ソース電極S−前記ドレイン電極D間の通電方向に対して垂直方向に電界を印加するためのゲート電極Gとを備えた熱電素子が開示されている。このような構造において、ゲート電極Gに電圧を印加するとゲート電極G直下の半導体Aの表面において、キャリア濃度が変化し、ゲート電圧がある一定値以上になるとゲート電極G直下の半導体Aの表面においてキャリアが2次元的に閉じ込められ、その量子効果によって巨大な熱起電力が発生する。そのため、電気伝導度σとゼーベック係数の絶対値|S|を同時に増加させることができ電力因子を最大にすることができる。しかしながら、特許文献1では、半導体を使用しているために電気伝導度の増加には限界がある問題があった。
特開2009−117430
本発明は、従来よりも電気伝導度とゼーベック係数Sの大きい熱電変換素子を提供することを目的とする。
本発明の熱電変換素子は、ABCで表すことのできるBあるいはL21構造をもつホイスラー合金膜を備え、前記ホイスラー合金膜内に生じる温度勾配に応じて起電力を取り出すための2対の電極を備えている。また、前記ホイスラー合金膜に電界あるいは絶縁膜を介して電圧を印加することにより、その電気伝導度とゼーベック係数Sを増大できるように制御可能な構造を有する。ここで、前記ABC表記においてA,B,Cに使用される元素は以下のとおりである。
A:周期表において第4周期から第6周期の第7元素族から第10元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
B:周期表において第4周期から第6周期の第4元素族から第6元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
C:周期表において第3周期から第6周期の第13元素族と第14元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
本発明によると、従来の30倍以上の性能指数を実現可能である。
本発明の熱電変換素子の構成例を示す断面模式図である。 本発明の熱電変換素子の構成例を示す断面模式図である。 本発明の熱電変換素子の構成例を示す断面模式図である。 本発明の熱電変換素子の構成例を示す断面模式図である。 本発明の熱電変換材料を構成する元素を示す図である。 本発明の熱電変換素子の印加電圧に対する性能指数Zの増大量について代表的なホイスラー合金膜材料に対して示す図である。 本発明の熱電変換素子の最適印加電圧値について代表的なホイスラー合金膜材料に対して示す図である。 本発明の熱電変換素子の性能指数Zの増大について原理を示す図である。 本発明の熱電変換素子のアレイの一例を示す図である。 本発明の熱電変換素子のアレイの一例を示す図である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明による熱電変換素子の構成例を示す断面模式図である。この熱電変換素子は、熱伝導率の小さい基板上にバッファー層201とシード層202を介して積層されるホイスラー合金膜100と1対の電極501と電極502により形成される。ホイスラー合金膜100内の温度勾配で生じる起電力(熱起電力)を、1対の電極501と電極502の間で取り出す。ホイスラー合金膜100は、ABCで表記されるBあるいはL21の結晶構造を有する。前記ABC表記においてA,B,Cに使用される元素は以下のとおりである。
A:周期表において第4周期から第6周期の第7元素族から第10元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
B:周期表において第4周期から第6周期の第4元素族から第6元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
C:周期表において第3周期から第6周期の第13元素族と第14元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
バッファー層201には、Ta、Ru、Ti、Zrなどが使用される。シード層202には、V、Cr、Wなどの体心立方(bcc)構造を有する材料やMgO、MgZnOなどを使用することが望ましい。シード層202にこのような材料を適用することにより、安定してBあるいはL1構造を有するホイスラー合金膜の形成が可能である。また、ホイスラー合金膜を製膜する際に300℃以上で基板を加熱したり、製膜後に300℃以上で熱処理をすることによっても安定してBあるいはL21構造を有するホイスラー合金膜の形成が可能である。特にL21構造を有するFeTiSnにおいて非常に大きな性能指数Zが得られる。
図2は、図1に示した熱電変換素子において、ホイスラー合金膜100の上に保護膜203を積層した構造を示したものである。保護膜を適用することにより、ホイスラー合金膜100の劣化を防ぐことが可能になる。保護膜203には、TaやVなどの融点が高く比較的熱伝導率の低い材料が使用できる。
図3は、熱伝導率の小さい基板上にバッファー層201とシード層202を介して積層されるホイスラー合金膜100と一対の電極501と電極502、前記ホイスラー合金膜上に絶縁膜300を介して電極503により形成される。ホイスラー合金膜100内の温度勾配で生じる起電力(熱起電力)を、1対の電極501と電極502の間で取り出す。ホイスラー合金膜100は、ABCで表記されるBあるいはL21の結晶構造を有する。前記ABC表記においてA,B,Cに使用される元素は以下のとおりである。
A:周期表において第4周期から第6周期の第7元素族から第10元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
B:周期表において第4周期から第6周期の第4元素族から第6元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
C:周期表において第3周期から第6周期の第13元素族と第14元素族に属する元素であり、それらの元素単体あるいは2個以上の複数元素で構成される。
バッファー層201には、Ta、Ru、Ti、Zrなどが使用される。シード層202には、V、Cr、Wなどの体心立方(bcc)構造を有する材料やMgO、MgZnOなどを使用することが望ましい。シード層202にこのような材料を適用することにより、安定してBあるいはL21構造を有するホイスラー合金膜の形成が可能である。また、ホイスラー合金膜を製膜する際に300℃以上で基板を加熱したり、製膜後に300度以上で熱処理をすることによっても安定してBあるいはL21構造を有するホイスラー合金膜の形成が可能である。本図に示した熱電変換素子では、電極503に外部に設けた電源から電圧を印加して、絶縁膜300を介してホイスラー合金膜100に電界を印加することが可能である。これにより、ホイスラー合金100の電気伝導度σとゼーベック係数Sを増大することが可能である。ここで、ホイスラー合金100にFeVAl、FeNbAl、FeTiSi、FeTiSnを適用した場合についてその原理と動作について述べる。これらのホイスラー合金材料について、上記電極503に印加する電圧Vgに対する性能指数Zの増大量を図6(a)〜(d)に示す。各グラフにおいて矢印で示した電圧から性能指数Zが急激に増大しだす。例えば、FeVAlの場合、正の電圧0.5Vあるいは、負の電圧―0.3Vを印加することにより性能指数Zの増大が可能であり、最大30倍の増加が期待される。図7は、前記4種類の材料について最適な印加電圧の値を示す。この図から、FeTiSnでは−0.1Vの低電圧で性能指数Zの増大が可能となる。次に、電圧印加による性能指数Zの増加の原理について図8を使って説明する。図8(a)は、ホイスラー合金膜の典型的な状態密度を示す。状態密度は、個々のエネルギー状態に対して電子の個数を示すものである。図8(a)の縦軸がエネルギー、横軸が電子の状態密度(DOS)を示す。図中に示したフェルミエネルギー(E)は、エネルギーの低いほうから電子を占有していったとき最後に詰まった電子のエネルギーを表し、EでのDOSが物質中の電気的性質を左右する。ここで、電極503にVgの電圧を印加しホイスラー合金膜に電界を印加したとき、ホイスラー合金のフェルミエネルギーがその印加電圧Vg(eV)だけ増加し、状態密度DOS(Vg)に変化する。図8(a)の例では、実線で示したエネルギーがEであり電圧を印加していない状態に対して、Vgを印加すると点線のエネルギーまでEがシフトする。そのVg印加時でのDOSはVg=0に比べて増加し、エネルギーに対する傾きも急峻になっている。ここで、性能指数Zを決めるゼーベック係数Sは、このDOSのエネルギーに対する傾きに比例し、また電気伝導度σはDOSに比例するため、Vgを適当に変化させるとゼーベック係数Sと電気伝導度σの両方を増大させることが可能な状況になる。図8(b)、(c)は、図8(a)の状態密度をもつホイスラー合金膜について電気伝導度σとゼーベック係数SのVg依存性を示す。図8(b)、(c)に示すように、電気伝導度σはVgに対して増加、ゼーベック係数Sは、あるVg値で極大をもつことが可能になる。
図4は、図3の構成において、電極503に印加する電圧がホイスラー合金100の自己で発生した起電力を印加することが可能な熱電変換素子の一例を示したものである。これにより、外部電源を使用しないため外部消費電力を必要としない熱電変換素子の実現が可能となる。ここで、自己で発生した起電力は図7に示した印加電圧レベルで発生可能なため、自己起電力により自己の性能指数Zを増大することが可能となる。
図9は、図3に示した1個の熱電変換素子をアレイ状にならべ、電極501と電極502を複数個の熱電変換素子に共有接続した構成を有する。これにより複数個で得られる熱起電力を取出すことができるため、起電力を増大させることが可能となる。また、電極503と電極504を各熱電変換素子上で交差するように配置し、電極503と電極504に印加する電圧を制御することにより電圧Vgを印加したい熱電変換素子を選択できる。例えばそれぞれVg/2と−Vg/2で印加された電極503と電極504の交点にある熱電変換素子にはVg=0で電圧印加されず、それぞれVg/2とVg/2で印加された電極503と電極504の交点にある熱電変換素子にはVg=Vgの電圧が印加されることになる。
図10は、図4に示した1個の熱電変換素子をアレイ状にならべ、電極501と電極502を複数個の熱電変換素子に共有接続した構成を有する。これにより図9に示した熱電変換素子と同様に、複数個で得られる熱起電力を取出すことができるため、起電力を増大させることが可能となる。
100…ホイスラー合金膜、200…基板、201…バッファー層、202…シード層、203…キャップ層、300…絶縁膜、501…電極、502…電極、503…電極、504…電極

Claims (8)

  1. a、Ru、TiまたはZrを含むバッファ層の直上に形成され、MgOまたはMgZnOからなるシード層と、
    前記シード層の直上に形成されたホイスラー合金膜と、
    前記ホイスラー合金膜内に生じる温度勾配に応じて起電力を取り出すための1対の電極と、
    前記1対の電極の間に形成された絶縁膜と、
    前記ホイスラー合金に、前記絶縁膜を介して、電界あるいは電圧を印加するためのゲート電極を備えることを特徴とする熱電変換素子。
  2. a、Ru、TiまたはZrを含むバッファ層の直上に形成され、MgOまたはMgZnOからなるシード層と、
    前記シード層の直上に形成されたホイスラー合金膜と、
    前記ホイスラー合金膜内に生じる温度勾配に応じて起電力を取り出すための1対の電極と、
    前記1対の電極の間に形成された絶縁膜と、
    前記1対の電極間に発生する電圧を、前記絶縁膜を介して前記ホイスラー合金膜に印加するための電極を備えることを特徴とする熱電変換素子。
  3. 請求項1または請求項2に記載の熱電変換素子において、
    前記ホイスラー合金膜はL21の結晶構造であることを特徴とする熱電変換素子。
  4. 請求項1乃至請求項3いずれかに記載の熱電変換素子において、
    前記ホイスラー合金膜はFeTiSnであることを特徴とする熱電変換素子。
  5. a、Ru、TiまたはZrを含むバッファ層の直上に形成され、MgOまたはMgZnOからなる複数のシード層と、
    前記複数のシード層それぞれの直上に形成された複数個のホイスラー合金膜と、
    前記複数個のホイスラー合金膜内に生じる温度勾配に応じて起電力を取り出すための複数個の1対の電極と、
    前記1対の電極の間それぞれに形成された絶縁膜と、
    前記複数個のホイスラー合金それぞれに、それぞれの前記絶縁膜を介して、電界あるいは電圧を印加するための複数個のゲート電極を備えることを特徴とする熱電変換素子。
  6. a、Ru、TiまたはZrを含むバッファ層の直上に形成され、MgOまたはMgZnOからなる複数のシード層と、
    前記複数のシード層それぞれの直上に形成された複数個のホイスラー合金膜と、
    前記複数個のホイスラー合金膜内に生じる温度勾配に応じて起電力を取り出すための複数個の1対の電極と、
    前記1対の電極の間それぞれに形成された絶縁膜と、
    それぞれの前記1対の電極間に発生する電圧を、それぞれの前記絶縁膜を介して前記ホイスラー合金膜に印加するための複数個の電極を備えることを特徴とする熱電変換素子。
  7. 請求項5または請求項6に記載の熱電変換素子において、
    前記複数個のホイスラー合金膜はL21の結晶構造であることを特徴とする熱電変換素子。
  8. 請求項5乃至請求項7何れかに記載の熱電変換素子において、
    前記ホイスラー合金膜はFeTiSnであることを特徴とする熱電変換素子。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013035148A1 (ja) * 2011-09-05 2013-03-14 株式会社日立製作所 熱電変換素子及びそれを用いた熱電変換モジュール
DE102013004173B3 (de) * 2013-03-11 2014-03-06 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Thermogenerator zur Erzeugung elektrischer Energie aus thermischer Energie sowie Verfahren zu dessen Herstellung
WO2018135286A1 (ja) * 2017-01-20 2018-07-26 日立金属株式会社 p型熱電変換材料、熱電変換モジュール及びp型熱電変換材料の製造方法
JP6859805B2 (ja) * 2017-03-30 2021-04-14 Tdk株式会社 積層体、熱電変換素子

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669549A (ja) * 1992-08-14 1994-03-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 熱電装置
JP4167761B2 (ja) * 1998-08-14 2008-10-22 本田技研工業株式会社 熱電変換素子及び熱電変換モジュール
WO2003019681A1 (fr) 2001-08-23 2003-03-06 Nagoya Industrial Science Research Institute Matiere de transduction thermoelectrique, procede de preparation de cette derniere et transducteur thermoelectrique
JP3607249B2 (ja) 2001-12-28 2005-01-05 株式会社東芝 熱電変換材料およびそれを用いた熱電変換素子
JP2004119648A (ja) 2002-09-26 2004-04-15 Toshiba Corp p型熱電変換材料及びそれを用いた熱電変換素子
JP3923041B2 (ja) 2003-10-06 2007-05-30 株式会社東芝 熱電変換材料及びこれを用いた熱電変換素子
EP1738381A2 (en) * 2004-04-21 2007-01-03 Showa Denko Kabushiki Kaisha Process for producing a heusler alloy, a half heusler alloy , a filled skutterudite based alloy and thermoelectric converion system using them
US8816184B2 (en) * 2005-12-01 2014-08-26 Raytheon Company Thermoelectric bias voltage generator
JP4858976B2 (ja) 2007-01-31 2012-01-18 独立行政法人産業技術総合研究所 複合化した熱電変換材料
JP2008218640A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Tohoku Univ トンネル磁気抵抗効果素子
JP4872050B2 (ja) * 2007-11-02 2012-02-08 株式会社豊田中央研究所 熱電素子
JP5413646B2 (ja) * 2009-03-26 2014-02-12 国立大学法人東北大学 ホイスラー合金材料、磁気抵抗素子および磁気デバイス

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