JP5631081B2 - Active energy ray curable adhesive for re-peeling - Google Patents

Active energy ray curable adhesive for re-peeling Download PDF

Info

Publication number
JP5631081B2
JP5631081B2 JP2010152701A JP2010152701A JP5631081B2 JP 5631081 B2 JP5631081 B2 JP 5631081B2 JP 2010152701 A JP2010152701 A JP 2010152701A JP 2010152701 A JP2010152701 A JP 2010152701A JP 5631081 B2 JP5631081 B2 JP 5631081B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
active energy
energy ray
oxazoline
curable
polymer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010152701A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012012545A (en
Inventor
神谷 克彦
克彦 神谷
高橋 智一
智一 高橋
千絵 北野
千絵 北野
美佳 岡田
美佳 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP2010152701A priority Critical patent/JP5631081B2/en
Priority to TW100123545A priority patent/TW201207070A/en
Priority to KR1020110065998A priority patent/KR20120003815A/en
Priority to US13/176,205 priority patent/US20120003470A1/en
Priority to CN2011101886340A priority patent/CN102311711A/en
Publication of JP2012012545A publication Critical patent/JP2012012545A/en
Priority to US13/914,716 priority patent/US20130273361A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5631081B2 publication Critical patent/JP5631081B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/2919Material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01075Rhenium [Re]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/0665Epoxy resin

Description

本発明は、例えば、半導体、回路、各種プリント基板、各種マスク、リードフレームなどの加工部品の製造の際に表面保護や破損防止のために使用される、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤に関する。特に、半導体ウェハの裏面研削時やダイシング時に使用される半導体ウェハ加工用粘着シートとして好適に用いられる、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤に関する。   The present invention is, for example, an active energy ray-curable re-peeling adhesive used for surface protection and damage prevention when manufacturing processed parts such as semiconductors, circuits, various printed boards, various masks, and lead frames. About. In particular, the present invention relates to an active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling that is preferably used as a pressure-sensitive adhesive sheet for processing a semiconductor wafer used during back grinding or dicing of a semiconductor wafer.

シリコン、ガリウム、砒素などからなる半導体ウェハは、大径の状態で製造された後、裏面を研削し、さらに素子小片に切断分離(ダイシング)され、さらにマウント工程に移される。   A semiconductor wafer made of silicon, gallium, arsenic, or the like is manufactured in a large diameter state, and then the back surface is ground, further cut into pieces (dicing), and further transferred to a mounting process.

半導体ウェハの裏面を研削する工程(裏面研削工程)においては、半導体ウェハのパターン面を保護するために、プラスチックフィルムからなる基材上に粘着剤が塗布されてなる粘着シートが用いられている。   In the process of grinding the back surface of the semiconductor wafer (back surface grinding process), an adhesive sheet obtained by applying an adhesive on a base material made of a plastic film is used to protect the pattern surface of the semiconductor wafer.

また、素子小片化の際やマウント工程においては、ダイシング、洗浄、エキスパンディング、ピックアップ、マウンティングの各工程が加えられる。半導体ウェハのダイシング工程からピックアップ工程に至る工程においても、プラスチックフィルムからなる基材上に粘着剤が塗布されてなる粘着シートが用いられている。   Further, dicing, cleaning, expanding, picking up, and mounting are added in the element miniaturization and mounting process. In a process from a dicing process of a semiconductor wafer to a pick-up process, an adhesive sheet in which an adhesive is applied on a base material made of a plastic film is used.

裏面研削工程においては、半導体ウェハのパターン面を保護するために、粘着シートは剥がれることなく十分に半導体ウェハに接着していることが要求される。また、研削後は、半導体ウェハより容易に剥離できることが要求される。   In the back grinding process, in order to protect the pattern surface of the semiconductor wafer, the adhesive sheet is required to be sufficiently adhered to the semiconductor wafer without being peeled off. Moreover, after grinding, it is required that it can be easily peeled off from the semiconductor wafer.

ダイシング工程においては、切断分離した素子小片が粘着シートから剥がれ落ちないことが要求される。すなわち、粘着シートには高粘着性が要求される。一方、ピックアップ工程においては、切断分離した素子小片が粘着シートから容易に剥離されなくてはならない。すなわち、粘着シートには低粘着性が要求される。   In the dicing process, it is required that the cut and separated element pieces are not peeled off from the adhesive sheet. That is, the adhesive sheet is required to have high adhesiveness. On the other hand, in the pickup process, the cut and separated element pieces must be easily peeled off from the adhesive sheet. That is, the adhesive sheet is required to have low adhesiveness.

上記の2つの相反した粘着性を制御するため、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤が用いられる。活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤は、活性エネルギー線照射前は高粘着性を有し、素子小片が粘着シートから剥がれ落ちないが、活性エネルギー線照射後は粘着剤が硬化して低粘着性が発現され、素子小片が粘着シートから容易に剥離される。   In order to control the above two conflicting adhesive properties, an active energy ray-curable adhesive for re-peeling is used. The active energy ray-curable adhesive for re-peeling has high adhesiveness before irradiation with active energy rays, and the element pieces do not peel off from the adhesive sheet. And the element piece is easily peeled from the adhesive sheet.

活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤の従来例として、活性エネルギー線により反応する炭素−炭素二重結合を分子側鎖に含む活性エネルギー線反応型ポリマーを用いる例が報告されている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1においては、水酸基を有するアクリル系ポリマーに、水酸基と反応するイソシアネート基およびラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有する化合物を反応させて、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤を製造している。   As a conventional example of an active energy ray-curable adhesive for re-peeling, an example using an active energy ray-reactive polymer containing a carbon-carbon double bond that reacts with an active energy ray in a molecular side chain has been reported (for example, Patent Document 1). In Patent Document 1, an acrylic polymer having a hydroxyl group is reacted with an isocyanate group that reacts with a hydroxyl group and a compound having a radical-reactive carbon-carbon double bond to produce an active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive. doing.

しかしながら、イソシアネート基含有化合物と水酸基含有ポリマーとの反応を促進させるためには、錫系触媒を添加する場合があり、環境に与える影響が大きいという問題がある。また、イソシアネート基およびラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有する化合物は、水と反応して失活するという問題がある。さらに、イソシアネート基およびラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有する化合物は、揮発性であるために環境や人体に与える影響が大きいという問題があり、取り扱いには十分な注意が必要である。   However, in order to promote the reaction between the isocyanate group-containing compound and the hydroxyl group-containing polymer, a tin-based catalyst may be added, which has a problem of having a great influence on the environment. Moreover, the compound which has an isocyanate group and a radical reactive carbon-carbon double bond has the problem of reacting with water and deactivating. Furthermore, the compound having an isocyanate group and a radical-reactive carbon-carbon double bond has a problem that it has a large influence on the environment and the human body because it is volatile, and sufficient care is required for handling.

特開2000−355678号公報JP 2000-355678 A

本発明の課題は、環境や人体に与える影響が小さく、取扱いが容易であり、活性エネルギー線照射前後で粘着性を大きく変化させることができ、活性エネルギー線照射前は高粘着性を発現でき、活性エネルギー線照射後は高剥離性を発現できる、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤を提供することにある。   The subject of the present invention has a small impact on the environment and the human body, is easy to handle, can greatly change the adhesiveness before and after irradiation with active energy rays, can exhibit high adhesiveness before irradiation with active energy rays, An object is to provide an active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling that can exhibit high peelability after irradiation with active energy rays.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤は、
活性エネルギー線硬化型のポリマー(P)を含み、
該ポリマー(P)は、カルボキシル基含有ポリマー(A)と、オキサゾリン基とラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有するオキサゾリン基含有化合物(B)とを反応させて得られる。
The active energy ray-curable adhesive for re-peeling of the present invention is
An active energy ray-curable polymer (P),
The polymer (P) is obtained by reacting a carboxyl group-containing polymer (A) with an oxazoline group and an oxazoline group-containing compound (B) having a radical reactive carbon-carbon double bond.

好ましい実施形態においては、上記カルボキシル基含有ポリマー(A)が、主モノマーとしてのアクリル酸エステルとカルボキシル基含有モノマーを含むモノマー成分から構成されるポリマーである。   In preferable embodiment, the said carboxyl group-containing polymer (A) is a polymer comprised from the monomer component containing the acrylic ester as a main monomer, and a carboxyl group-containing monomer.

好ましい実施形態においては、上記カルボキシル基含有モノマーが、(メタ)アクリル酸およびカルボキシアルキル(メタ)アクリレートから選ばれる少なくとも1種である。   In a preferred embodiment, the carboxyl group-containing monomer is at least one selected from (meth) acrylic acid and carboxyalkyl (meth) acrylate.

好ましい実施形態においては、上記オキサゾリン基含有化合物(B)が、2−ビニル−2−オキサゾリン、4−メチル−2−ビニル−2−オキサゾリン、5−メチル−2−ビニル−2−オキサゾリン、2−ビニル−4,4−ジメチル−2−オキサゾリン、2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、4−メチル−2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、5−メチル−2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、および2−イソプロペニル−4,4−ジメチル−2−オキサゾリンから選ばれる少なくとも1種である。   In a preferred embodiment, the oxazoline group-containing compound (B) is 2-vinyl-2-oxazoline, 4-methyl-2-vinyl-2-oxazoline, 5-methyl-2-vinyl-2-oxazoline, 2- Vinyl-4,4-dimethyl-2-oxazoline, 2-isopropenyl-2-oxazoline, 4-methyl-2-isopropenyl-2-oxazoline, 5-methyl-2-isopropenyl-2-oxazoline, and 2- It is at least one selected from isopropenyl-4,4-dimethyl-2-oxazoline.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートは、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤を粘着剤層として基材上に有する。   The active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention has the active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive of the present invention on a substrate as an adhesive layer.

好ましい実施形態においては、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートは、半導体ウェハ加工用である。   In a preferred embodiment, the active energy ray-curable re-peeling pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention is for semiconductor wafer processing.

本発明によれば、環境や人体に与える影響が小さく、取扱いが容易であり、活性エネルギー線照射前後で粘着性を大きく変化させることができ、活性エネルギー線照射前は高粘着性を発現でき、活性エネルギー線照射後は高剥離性を発現できる、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤を提供することができる。   According to the present invention, the impact on the environment and the human body is small, easy handling, can greatly change the adhesive before and after irradiation with active energy rays, can exhibit high adhesiveness before irradiation with active energy rays, The active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling that can exhibit high peelability after irradiation with active energy rays can be provided.

≪A.活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤≫
本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤は、活性エネルギー線硬化型のポリマー(P)を含む。
≪A. Active energy ray-curable adhesive for re-peeling >>
The active energy ray-curable adhesive for re-peeling of the present invention contains an active energy ray-curable polymer (P).

活性エネルギー線とは、α線、β線、γ線、電子線、中性子線、X線のような放射線や、紫外線などを意味する。   The active energy rays mean radiation such as α rays, β rays, γ rays, electron rays, neutron rays, X rays, ultraviolet rays, and the like.

ポリマー(P)は活性エネルギー線照射により硬化し得る。活性エネルギー線照射によりポリマー(P)を硬化させることにより、架橋度を増大させてポリマー(P)の粘着力を低下させることができる。   The polymer (P) can be cured by irradiation with active energy rays. By curing the polymer (P) by irradiation with active energy rays, the degree of crosslinking can be increased and the adhesive strength of the polymer (P) can be reduced.

ポリマー(P)は、カルボキシル基含有ポリマー(A)と、オキサゾリン基とラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有するオキサゾリン基含有化合物(B)とを反応させて得られる。   The polymer (P) is obtained by reacting a carboxyl group-containing polymer (A) with an oxazoline group-containing compound (B) having a radical reactive carbon-carbon double bond.

カルボキシル基含有ポリマー(A)は、カルボキシル基を有するポリマーであれば任意の適切なポリマーを採用し得る。カルボキシル基含有ポリマー(A)は、好ましくは、主モノマーとしてのアクリル酸エステルとカルボキシル基含有モノマーを含むモノマー成分から構成されるポリマーである。   As the carboxyl group-containing polymer (A), any appropriate polymer can be adopted as long as it has a carboxyl group. The carboxyl group-containing polymer (A) is preferably a polymer composed of a monomer component containing an acrylic ester as a main monomer and a carboxyl group-containing monomer.

ポリマー(P)のガラス転移温度は、下限値として、好ましくは−70℃以上であり、より好ましくは−65℃以上であり、さらに好ましくは−60℃以上であり、特に好ましくは−55℃以上であり、上限値として、好ましくは−10℃以下であり、より好ましくは−20℃以下であり、さらに好ましくは−30℃以下であり、特に好ましくは−40℃以下である。   The glass transition temperature of the polymer (P) is preferably −70 ° C. or higher, more preferably −65 ° C. or higher, further preferably −60 ° C. or higher, particularly preferably −55 ° C. or higher, as the lower limit. The upper limit is preferably −10 ° C. or lower, more preferably −20 ° C. or lower, still more preferably −30 ° C. or lower, and particularly preferably −40 ° C. or lower.

ポリマー(P)のガラス転移温度が−10℃を超える場合、粘着剤の粘着性が低下し、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ダイシングの際にいわゆる「チップ飛び」が発生するおそれがある。   When the glass transition temperature of the polymer (P) exceeds −10 ° C., the tackiness of the pressure-sensitive adhesive is reduced. For example, when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing, so-called “chip jump” occurs during dicing. May occur.

ポリマー(P)は、清浄な被着体への汚染防止等の点から、低分子量物質の含有量が小さいことが好ましい。このため、ポリマー(P)の重量平均分子量は、下限値として、好ましくは35万以上であり、より好ましくは45万以上であり、上限値として、好ましくは100万以下であり、より好ましくは80万以下である。   The polymer (P) preferably has a low content of a low molecular weight substance from the viewpoint of preventing contamination of a clean adherend. For this reason, the weight average molecular weight of the polymer (P) is preferably 350,000 or more, more preferably 450,000 or more as the lower limit, and preferably 1 million or less, more preferably 80,000 as the upper limit. 10,000 or less.

アクリル酸エステルとしては、例えば、アクリル酸アルキルエステル(例えば、アクリル酸メチルエステル、アクリル酸エチルエステル、アクリル酸プロピルエステル、アクリル酸イソプロピルエステル、アクリル酸ブチルエステル、アクリル酸イソブチルエステル、アクリル酸sec−ブチルエステル、アクリル酸t−ブチルエステル、アクリル酸ペンチルエステル、アクリル酸イソペンチルエステル、アクリル酸ヘキシルエステル、アクリル酸ヘプチルエステル、アクリル酸オクチルエステル、アクリル酸2−エチルヘキシルエステル、アクリル酸イソオクチルエステル、アクリル酸ノニルエステル、アクリル酸デシルエステル、アクリル酸イソデシルエステル、アクリル酸ウンデシルエステル、アクリル酸ドデシルエステル、アクリル酸トリデシルエステル、アクリル酸テトラデシルエステル、アクリル酸ヘキサデシルエステル、アクリル酸オクタデシルエステル、アクリル酸エイコシルエステル等の、アルキル基の炭素数が、好ましくは1〜30、より好ましくは4〜18の、直鎖状または分岐鎖状のアクリル酸アルキルアルキルエステル)、アクリル酸シクロアルキルエステル(例えば、アクリル酸シクロペンチルエステル、アクリル酸シクロヘキシルエステル等)などが挙げられる。   Examples of the acrylic acid ester include an acrylic acid alkyl ester (for example, acrylic acid methyl ester, acrylic acid ethyl ester, acrylic acid propyl ester, acrylic acid isopropyl ester, acrylic acid butyl ester, acrylic acid isobutyl ester, and acrylic acid sec-butyl. Ester, t-butyl acrylate, pentyl acrylate, isopentyl acrylate, hexyl acrylate, heptyl acrylate, octyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, isooctyl acrylate, acrylic acid Nonyl ester, acrylic acid decyl ester, acrylic acid isodecyl ester, acrylic acid undecyl ester, acrylic acid dodecyl ester, acrylic The carbon number of the alkyl group, such as tridecyl ester, acrylic acid tetradecyl ester, acrylic acid hexadecyl ester, acrylic acid octadecyl ester, acrylic acid eicosyl ester, etc. is preferably 1-30, more preferably 4-18, Straight chain or branched alkyl alkyl ester) and acrylic acid cycloalkyl ester (for example, acrylic acid cyclopentyl ester, acrylic acid cyclohexyl ester, etc.).

アクリル酸エステルは、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only one type of acrylic ester may be used, or two or more types may be used in combination.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のアクリル酸エステルの含有割合は、本発明の効果を損なわない範囲で任意の適切な含有割合を採用し得る。ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のアクリル酸エステルの含有割合は、下限値として、好ましくは40重量%以上であり、より好ましくは60重量%以上であり、さらに好ましくは80重量%以上であり、特に好ましくは90重量%以上であり、上限値として、好ましくは97重量%以下であり、より好ましくは95重量%以下であり、さらに好ましくは93重量%以下であり、特に好ましくは92重量%以下である。   Arbitrary appropriate content rates can be employ | adopted for the content rate of the acrylic ester in the monomer component which comprises a polymer (A) in the range which does not impair the effect of this invention. The content of the acrylic acid ester in the monomer component constituting the polymer (A) is preferably 40% by weight or more, more preferably 60% by weight or more, and still more preferably 80% by weight or more as a lower limit. The upper limit is preferably 97% by weight or less, more preferably 95% by weight or less, still more preferably 93% by weight or less, and particularly preferably 92% by weight. % Or less.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のアクリル酸エステルの含有割合が40重量%未満の場合、粘着剤の剥離性が大きくなりすぎて、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   When the content of the acrylic acid ester in the monomer component constituting the polymer (A) is less than 40% by weight, the peelability of the pressure-sensitive adhesive becomes too large, for example, when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing. There is a possibility that the pick-up property is lowered.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のアクリル酸エステルの含有割合が97重量%を超える場合、活性エネルギー線照射によるポリマー(P)の硬化性が低くなり、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   When the content ratio of the acrylate ester in the monomer component constituting the polymer (A) exceeds 97% by weight, the curability of the polymer (P) by irradiation with active energy rays becomes low, for example, semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing When used in, there is a possibility that the pick-up property may be lowered.

カルボキシル基含有モノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸、カルボキシエチル(メタ)アクリレート、カルボキシペンチル(メタ)アクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸などが挙げられる。カルボキシル基含有モノマーとしては、特に好ましくは、(メタ)アクリル酸およびカルボキシアルキル(メタ)アクリレートから選ばれる少なくとも1種である。   Examples of the carboxyl group-containing monomer include (meth) acrylic acid, carboxyethyl (meth) acrylate, carboxypentyl (meth) acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid, and crotonic acid. The carboxyl group-containing monomer is particularly preferably at least one selected from (meth) acrylic acid and carboxyalkyl (meth) acrylate.

カルボキシル基含有モノマーは、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only one type of carboxyl group-containing monomer may be used, or two or more types may be used in combination.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーの含有割合は、本発明の効果を損なわない範囲で任意の適切な含有割合を採用し得る。ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーの含有割合は、下限値として、好ましくは3重量%以上であり、より好ましくは5重量%以上であり、さらに好ましくは7重量%以上であり、特に好ましくは9重量%以上であり、上限値として、好ましくは20重量%以下であり、より好ましくは18重量%以下であり、さらに好ましくは16重量%以下であり、特に好ましくは15重量%以下である。   Arbitrary appropriate content rates can be employ | adopted for the content rate of the carboxyl group-containing monomer in the monomer component which comprises a polymer (A) in the range which does not impair the effect of this invention. The content ratio of the carboxyl group-containing monomer in the monomer component constituting the polymer (A) is preferably 3% by weight or more, more preferably 5% by weight or more, and further preferably 7% by weight or more, as a lower limit. The upper limit is preferably 20% by weight or less, more preferably 18% by weight or less, still more preferably 16% by weight or less, and particularly preferably 15% by weight or more. % By weight or less.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーの含有割合が3重量%未満の場合、活性エネルギー線照射によるポリマー(P)の硬化性が低くなり、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   When the content ratio of the carboxyl group-containing monomer in the monomer component constituting the polymer (A) is less than 3% by weight, the curability of the polymer (P) by irradiation with active energy rays becomes low. For example, a semiconductor wafer in semiconductor device manufacture When used for processing, the pick-up property may be reduced.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーの含有割合が20重量%を超える場合、粘着剤中の残存カルボキシル基の量が多くなり、被着体との相互作用が高くなることによって剥離性が低下してしまい、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   When the content of the carboxyl group-containing monomer in the monomer component constituting the polymer (A) exceeds 20% by weight, the amount of residual carboxyl groups in the pressure-sensitive adhesive increases, and the interaction with the adherend increases. As a result, the releasability decreases, and for example, when used for semiconductor wafer processing in the manufacture of semiconductor devices, the pick-up property may decrease.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中には、凝集力、耐熱性等の改質を目的として、必要に応じ、上記アクリル酸エステルと共重合可能な、他のモノマーを含んでいても良い。   The monomer component constituting the polymer (A) may contain other monomers copolymerizable with the acrylate ester as necessary for the purpose of modifying cohesive strength, heat resistance and the like.

他のモノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸10−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒドロキシラウリル、(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)メチル(メタ)アクリレート等のヒドロキシル基含有モノマー;無水マレイン酸、無水イタコン酸等の酸無水物モノマー;スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸等のスルホン酸基含有モノマー;2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェート等のリン酸基含有モノマー;アクリルアミド;アクリロニトリル;などが挙げられる。   Examples of other monomers include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate, (meth ) Hydroxyl group-containing monomers such as 8-hydroxyoctyl acrylate, 10-hydroxydecyl (meth) acrylate, 12-hydroxylauryl (meth) acrylate, (4-hydroxymethylcyclohexyl) methyl (meth) acrylate; maleic anhydride Acid anhydride monomers such as itaconic anhydride; styrene sulfonic acid, allyl sulfonic acid, 2- (meth) acrylamide-2-methylpropane sulfonic acid, (meth) acrylamide propane sulfonic acid, sulfopropyl (meth) acrylate, (meth ) Acrylio Sulfonic acid group-containing monomers shea naphthalene sulfonic acid; 2-hydroxyethyl acryloyl phosphate, etc. of a phosphate group-containing monomers; acrylamide; acrylonitrile; and the like.

他のモノマーは、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Other monomers may be used alone or in combination of two or more.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中の他のモノマーの含有割合は、本発明の効果を損なわない範囲で任意の適切な含有割合を採用し得る。ポリマー(A)を構成するモノマー成分中の他のモノマーの含有割合は、下限値として、好ましくは0重量%以上であり、上限値として、好ましくは40重量%以下であり、より好ましくは35重量%以下であり、さらに好ましくは30重量%以下である。   Arbitrary appropriate content rates can be employ | adopted for the content rate of the other monomer in the monomer component which comprises a polymer (A) in the range which does not impair the effect of this invention. The content of other monomers in the monomer component constituting the polymer (A) is preferably 0% by weight or more as the lower limit, preferably 40% by weight or less, more preferably 35% as the upper limit. % Or less, and more preferably 30% by weight or less.

ポリマー(A)を構成するモノマー成分中の他のモノマーの含有割合が40重量%を超える場合、粘着剤と被着体との間の剥離力が大きくなりすぎて、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合にピックアップ性が低下するおそれや、活性エネルギー線照射によるポリマー(P)の硬化性が低くなり、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   When the content ratio of the other monomer in the monomer component constituting the polymer (A) exceeds 40% by weight, the peeling force between the pressure-sensitive adhesive and the adherend becomes too large. When used for wafer processing, the pick-up property may decrease, and the curability of the polymer (P) due to active energy ray irradiation becomes low. For example, when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing, the pick-up property is reduced. There is a risk.

ポリマー(A)は、好ましくは、主モノマーとしてのアクリル酸エステルとカルボキシル基含有モノマーを含むモノマー成分を重合して得られる。   The polymer (A) is preferably obtained by polymerizing a monomer component containing an acrylate ester as a main monomer and a carboxyl group-containing monomer.

重合の方法としては、任意の適切な方法を採用し得る。重合の方法としては、例えば、溶液重合、乳化重合、塊状重合、懸濁重合などが挙げられる。   Any appropriate method can be adopted as a polymerization method. Examples of the polymerization method include solution polymerization, emulsion polymerization, bulk polymerization, suspension polymerization and the like.

オキサゾリン基とラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有するオキサゾリン基含有化合物(B)としては、例えば、2−ビニル−2−オキサゾリン、4−メチル−2−ビニル−2−オキサゾリン、5−メチル−2−ビニル−2−オキサゾリン、2−ビニル−4,4−ジメチル−2−オキサゾリン、2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、4−メチル−2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、5−メチル−2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、2−イソプロペニル−4,4−ジメチル−2−オキサゾリン等が挙げられる。   Examples of the oxazoline group-containing compound (B) having an oxazoline group and a radical-reactive carbon-carbon double bond include 2-vinyl-2-oxazoline, 4-methyl-2-vinyl-2-oxazoline, 5-methyl- 2-vinyl-2-oxazoline, 2-vinyl-4,4-dimethyl-2-oxazoline, 2-isopropenyl-2-oxazoline, 4-methyl-2-isopropenyl-2-oxazoline, 5-methyl-2- Examples include isopropenyl-2-oxazoline and 2-isopropenyl-4,4-dimethyl-2-oxazoline.

オキサゾリン基含有化合物(B)は、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only 1 type may be used for an oxazoline group containing compound (B), and it may use 2 or more types together.

オキサゾリン基含有化合物(B)の使用量は、ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーに対して、下限値として、好ましくは30モル%以上であり、より好ましくは50モル%以上であり、さらに好ましくは70モル%以上であり、特に好ましくは80モル以上であり、上限値として、好ましくは150モル%以下であり、より好ましくは100モル%以下であり、さらに好ましくは95モル%以下である。   The amount of the oxazoline group-containing compound (B) used is preferably 30 mol% or more, more preferably 50 mol%, as a lower limit with respect to the carboxyl group-containing monomer in the monomer component constituting the polymer (A). Or more, more preferably 70 mol% or more, particularly preferably 80 mol or more, and the upper limit is preferably 150 mol% or less, more preferably 100 mol% or less, still more preferably 95 mol% or less. It is less than mol%.

オキサゾリン基含有化合物(B)の使用量が、ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーに対して、30モル%未満の場合、粘着剤中の残存カルボキシル基の量が多くなり、被着体との相互作用が高くなることによって剥離性が低下してしまい、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   When the amount of the oxazoline group-containing compound (B) used is less than 30 mol% with respect to the carboxyl group-containing monomer in the monomer component constituting the polymer (A), the amount of residual carboxyl groups in the adhesive increases. When the interaction with the adherend is increased, the peelability is lowered. For example, when used for semiconductor wafer processing in the manufacture of semiconductor devices, the pick-up property may be lowered.

オキサゾリン基含有化合物(B)の使用量が、ポリマー(A)を構成するモノマー成分中のカルボキシル基含有モノマーに対して、150モル%を超える場合、粘着剤中の残存オキサゾリン基含有化合物(B)の量およびそれ由来の低分子量物質の量が増加してしまい、粘着剤と被着体との間の剥離力が大きくなりすぎて、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれや、残存オキサゾリン基含有化合物(B)の揮発により環境や人体に与える影響が大きくなってしまうおそれがある。   When the amount of the oxazoline group-containing compound (B) used exceeds 150 mol% with respect to the carboxyl group-containing monomer in the monomer component constituting the polymer (A), the residual oxazoline group-containing compound (B) in the pressure-sensitive adhesive When the amount of the low molecular weight substance derived therefrom and the amount of the low molecular weight substance are increased, the peeling force between the pressure-sensitive adhesive and the adherend becomes too large, for example, when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing, There is a possibility that the pick-up property may be deteriorated and the influence on the environment and human body may be increased due to volatilization of the residual oxazoline group-containing compound (B).

ポリマー(A)とオキサゾリン基含有化合物(B)とを反応させてポリマー(P)を得る方法としては、任意の適切な反応方法を採用し得る。例えば、ポリマー(A)にオキサゾリン基含有化合物(B)を加えて、任意の適切な反応条件(例えば、空気中、20〜70℃の範囲内の反応温度、10〜100時間の反応時間)にて付加反応を行う方法が挙げられる。   Any appropriate reaction method can be adopted as a method of obtaining the polymer (P) by reacting the polymer (A) with the oxazoline group-containing compound (B). For example, the oxazoline group-containing compound (B) is added to the polymer (A) to any appropriate reaction conditions (for example, a reaction temperature in the range of 20 to 70 ° C., a reaction time of 10 to 100 hours in air). And a method of performing an addition reaction.

ポリマー(P)は、活性エネルギー線照射によって架橋反応させることで、硬化物とすることができる。   The polymer (P) can be made into a cured product by crosslinking reaction by irradiation with active energy rays.

活性エネルギー線照射によってポリマー(P)を架橋反応させるために、好ましくは、ポリマー(P)に対して、任意の適切な架橋剤および任意の適切な光重合開始剤を用いる。   In order to cause the polymer (P) to undergo a crosslinking reaction by irradiation with active energy rays, any suitable crosslinking agent and any suitable photopolymerization initiator are preferably used for the polymer (P).

架橋剤としては、例えば、ポリイソシアネート化合物、エポキシ化合物、アジリジン化合物、メラミン系架橋剤等が挙げられる。架橋剤を用いることにより、活性エネルギー線照射前の粘着剤の粘着力や活性エネルギー線照射後の粘着剤の粘着力の調整を行うことができる。   Examples of the crosslinking agent include polyisocyanate compounds, epoxy compounds, aziridine compounds, melamine-based crosslinking agents, and the like. By using a cross-linking agent, it is possible to adjust the adhesive strength of the adhesive before irradiation with active energy rays and the adhesive strength of the adhesive after irradiation with active energy rays.

架橋剤は、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only 1 type may be used for a crosslinking agent and it may use 2 or more types together.

架橋剤の使用量は、ポリマー(P)の種類等によって、任意の適切な量を採用し得る。架橋剤の使用量は、例えば、ポリマー(P)に対して、下限値として、好ましくは0.01重量%以上であり、より好ましくは0.1重量%以上であり、上限値として、好ましくは20重量%以下であり、より好ましくは10重量%以下である。   Any appropriate amount of the cross-linking agent can be adopted depending on the type of the polymer (P). The amount of the crosslinking agent used is, for example, preferably 0.01% by weight or more, more preferably 0.1% by weight or more, preferably 0.1% by weight or more, preferably as the upper limit, relative to the polymer (P). It is 20 weight% or less, More preferably, it is 10 weight% or less.

光重合開始剤としては、例えば、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、α−ヒドロキシ−α,α´−ジメチルアセトフェノン、2−メチル−2−ヒドロキシプロピオフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン等のα−ケトール系化合物;メトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)−フェニル]−2−モルホリノプロパン−1等のアセトフェノン系化合物;ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、アニソインメチルエーテル等のベンゾインエーテル系化合物;ベンジルジメチルケタール等のケタール系化合物;2−ナフタレンスルホニルクロリド等の芳香族スルホニルクロリド系化合物;1−フェノン−1,1―プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム等の光活性オキシム系化合物;ベンゾフェノン、ベンゾイル安息香酸、3,3´−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン等のベンゾフェノン系化合物;チオキサンソン、2−クロロチオキサンソン、2−メチルチオキサンソン、2,4−ジメチルチオキサンソン、イソプロピルチオキサンソン、2,4−ジクロロチオキサンソン、2,4−ジエチルチオキサンソン、2,4−ジイソプロピルチオキサンソン等のチオキサンソン系化合物;カンファーキノン;ハロゲン化ケトン;アシルホスフィノキシド;アシルホスフォナート;などが挙げられる。   Examples of the photopolymerization initiator include 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl (2-hydroxy-2-propyl) ketone, α-hydroxy-α, α′-dimethylacetophenone, 2-methyl-2-hydroxypropio Α-ketol compounds such as phenone and 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone; methoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) Acetophenone compounds such as -phenyl] -2-morpholinopropane-1; benzoin ether compounds such as benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether and anisoin methyl ether; ketal compounds such as benzyldimethyl ketal; 2-naphthalenesulfonyl chloride Aromatic sulfonyl chloride compounds such as 1; -phenone-1,1-propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime; photoactive oxime compounds such as benzophenone, benzoylbenzoic acid, 3,3′-dimethyl Benzophenone compounds such as -4-methoxybenzophenone; thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, 2,4-dichlorothioxanthone, 2 Thioxanthone compounds such as 1,4-diethylthioxanthone and 2,4-diisopropylthioxanthone; camphorquinone; halogenated ketone; acyl phosphinoxide; acyl phosphonate;

光重合開始剤は、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only 1 type may be used for a photoinitiator and it may use 2 or more types together.

光重合開始剤の使用量は、ポリマー(P)の種類等によって、任意の適切な量を採用し得る。光重合開始剤の使用量は、例えば、ポリマー(P)に対して、下限値として、好ましくは0.01重量%以上であり、より好ましくは0.05重量%以上であり、上限値として、好ましくは20重量%以下であり、より好ましくは10重量%以下である。   Arbitrary appropriate quantity can be employ | adopted for the usage-amount of a photoinitiator by the kind etc. of polymer (P). The use amount of the photopolymerization initiator is, for example, as a lower limit for the polymer (P), preferably 0.01% by weight or more, more preferably 0.05% by weight or more, Preferably it is 20 weight% or less, More preferably, it is 10 weight% or less.

粘着剤中には、ポリマー(P)以外に、本発明の効果を損なわない範囲で、他の成分を含んでいても良い。   The pressure-sensitive adhesive may contain other components in addition to the polymer (P) as long as the effects of the present invention are not impaired.

他の成分としては、例えば、カルボキシル基と反応する化合物;活性エネルギー線硬化性モノマー;活性エネルギー線硬化性オリゴマー;粘着付与剤、老化防止剤等の添加剤;などが挙げられる。   Examples of other components include compounds that react with carboxyl groups; active energy ray-curable monomers; active energy ray-curable oligomers; additives such as tackifiers and anti-aging agents;

カルボキシル基と反応する化合物は、例えば、粘着剤中に存在する残存カルボキシル基の量を調整するために用い得る。カルボキシル基と反応する化合物は、本発明の効果を損なわない範囲で、任意の適切な量を用い得る。   A compound that reacts with a carboxyl group can be used, for example, to adjust the amount of residual carboxyl group present in the pressure-sensitive adhesive. Any appropriate amount of the compound that reacts with the carboxyl group may be used as long as the effects of the present invention are not impaired.

カルボキシル基と反応する化合物としては、例えば、アミノ基含有化合物、エポキシ基含有化合物、イソシアネート基含有化合物、カルボジイミド基含有化合物などが挙げられる。   Examples of the compound that reacts with a carboxyl group include an amino group-containing compound, an epoxy group-containing compound, an isocyanate group-containing compound, and a carbodiimide group-containing compound.

カルボキシル基と反応する化合物は、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only 1 type may be used for the compound which reacts with a carboxyl group, and 2 or more types may be used together.

活性エネルギー線硬化性モノマーや活性エネルギー線硬化性オリゴマーは、例えば、活性エネルギー線照射前の粘着力や活性エネルギー線照射後の粘着力を調整するために用い得る。   The active energy ray-curable monomer and the active energy ray-curable oligomer can be used, for example, to adjust the adhesive strength before irradiation with active energy rays and the adhesive strength after irradiation with active energy rays.

活性エネルギー線硬化性モノマーとしては、例えば、ウレタン(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリストールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリストールモノヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Examples of the active energy ray-curable monomer include urethane (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, and pentaerythritol tetra (meth). Examples include acrylate, dipentaerystol monohydroxypenta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, and 1,4-butanediol di (meth) acrylate.

活性エネルギー線硬化性モノマーは、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only one type of active energy ray-curable monomer may be used, or two or more types may be used in combination.

活性エネルギー線硬化性オリゴマーとしては、例えば、ウレタン系オリゴマー、ポリエーテル系オリゴマー、ポリエステル系オリゴマー、ポリカーボネート系オリゴマー、ポリブタジエン系オリゴマー等が挙げられる。   Examples of the active energy ray-curable oligomer include urethane oligomers, polyether oligomers, polyester oligomers, polycarbonate oligomers, polybutadiene oligomers, and the like.

活性エネルギー線硬化性オリゴマーは、1種のみを用いても良いし、2種以上を併用しても良い。   Only one type of active energy ray-curable oligomer may be used, or two or more types may be used in combination.

活性エネルギー線硬化性オリゴマーの分子量は、好ましくは100〜30000である。   The molecular weight of the active energy ray-curable oligomer is preferably 100 to 30000.

活性エネルギー線硬化性モノマーや活性エネルギー線硬化性オリゴマーは、本発明の効果を損なわない範囲で、任意の適切な量を用い得る。活性エネルギー線硬化性モノマーや活性エネルギー線硬化性オリゴマーの使用量は、それらの合計が、例えば、ポリマー(P)に対して、下限値として、好ましくは5重量%以上であり、より好ましくは40重量%以上であり、上限値として、好ましくは500重量%以下であり、より好ましくは150重量%以下である。   The active energy ray-curable monomer and the active energy ray-curable oligomer can be used in any appropriate amount as long as the effects of the present invention are not impaired. The total amount of the active energy ray-curable monomer and the active energy ray-curable oligomer used is preferably 5% by weight or more, more preferably 40% or less as a lower limit with respect to the polymer (P), for example. The upper limit is preferably 500% by weight or less, and more preferably 150% by weight or less.

粘着剤の酸価は、好ましくは、10以下である。粘着剤の酸価が10を超えると、粘着剤中の残存カルボキシル基の量が多くなり、被着体との相互作用が高くなることによって剥離性が低下してしまい、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ピックアップ性が低下するおそれがある。   The acid value of the pressure-sensitive adhesive is preferably 10 or less. When the acid value of the pressure-sensitive adhesive exceeds 10, the amount of residual carboxyl groups in the pressure-sensitive adhesive increases, and the releasability decreases due to the increased interaction with the adherend. For example, in the manufacture of semiconductor devices When used for semiconductor wafer processing, the pick-up property may be reduced.

粘着剤の酸価は、粘着剤の形成で用い得るオキサゾリン基含有化合物(B)などの各種化合物の使用量の調整などによって調節できる。   The acid value of the pressure-sensitive adhesive can be adjusted by adjusting the amount used of various compounds such as the oxazoline group-containing compound (B) that can be used in forming the pressure-sensitive adhesive.

酸価は、JIS K 0070−1992(電位差滴定法)に準じて評価を行うことができる。   The acid value can be evaluated according to JIS K 0070-1992 (potentiometric titration method).

粘着剤を形成する方法としては、任意の適切な方法を採用し得る。粘着剤を粘着剤層として形成する方法としては、例えば、基材上に直接に粘着剤層を形成する方法や、セパレータ上に設けた粘着剤層を基材上に転写する方法が挙げられる。   Arbitrary appropriate methods can be employ | adopted as a method of forming an adhesive. Examples of the method of forming the pressure-sensitive adhesive as the pressure-sensitive adhesive layer include a method of directly forming the pressure-sensitive adhesive layer on the substrate and a method of transferring the pressure-sensitive adhesive layer provided on the separator onto the substrate.

≪B.活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシート≫
本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートは、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤を粘着剤層として基材上に有する。
≪B. Active energy ray curable adhesive tape or sheet for re-peeling »
The active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention has the active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive of the present invention on a substrate as an adhesive layer.

粘着剤層の厚みは、任意の適切な厚みを採用し得る。粘着剤層の厚みは、例えば、下限値として、好ましくは1μm以上であり、より好ましくは2μm以上であり、さらに好ましくは5μm以上であり、上限値として、好ましくは50μm以下であり、より好ましくは30μm以下であり、さらに好ましくは25μm以下である。粘着剤層の厚みが上記範囲内にあることにより、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、チップ切断面の欠けが防止できるとともに、高粘着性と高剥離性をバランス良く発現できる。   Arbitrary appropriate thickness can be employ | adopted for the thickness of an adhesive layer. The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is, for example, preferably 1 μm or more as a lower limit, more preferably 2 μm or more, still more preferably 5 μm or more, and the upper limit is preferably 50 μm or less, more preferably. It is 30 μm or less, more preferably 25 μm or less. When the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is within the above range, chipping of the chip cut surface can be prevented and high adhesiveness and high peelability can be well-balanced when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートには、帯電防止能を持たせることができる。本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートに帯電防止能を持たせることにより、その粘着時および剥離時等における静電気の発生やそれによるワーク(半導体ウェハ等)の帯電で回路が破壊されること等を防止することができる。   The active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention can have an antistatic ability. By providing the active energy ray-curable adhesive tape or sheet for re-peeling of the present invention with antistatic ability, the circuit is generated by the generation of static electricity at the time of adhesion and peeling and the charging of the workpiece (semiconductor wafer, etc.). It can be prevented from being destroyed.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートに帯電防止能を付与する方法としては、基材や粘着剤層へ帯電防止剤や導電性物質を添加する方法、電荷移動錯体や金属膜等からなる導電層を基材上に付設する方法などが挙げられる。これらの方式としては、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に半導体ウェハを変質させるおそれのある不純物イオンが発生しにくい方式が好ましい。   Examples of a method for imparting antistatic ability to the active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention include a method of adding an antistatic agent or a conductive substance to a substrate or a pressure-sensitive adhesive layer, a charge transfer complex or a metal Examples thereof include a method of attaching a conductive layer made of a film or the like on a substrate. As these methods, for example, a method in which impurity ions that may change the quality of a semiconductor wafer when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacture is less likely to be generated.

導電性の付与、熱伝導性の向上等を目的として配合される導電性物質(導電フィラー)としては、銀、アルミニウム、金、銅、ニッケル、導電性合金等の球状、針状、フレーク状の金属粉、アルミナ等の金属酸化物、アモルファスカーボンブラック、グラファイト等が挙げられる。   As a conductive substance (conductive filler) blended for the purpose of imparting conductivity and improving thermal conductivity, spherical, needle-like, and flaky shapes such as silver, aluminum, gold, copper, nickel, and conductive alloys Examples thereof include metal powders, metal oxides such as alumina, amorphous carbon black, and graphite.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートは、セパレータにより保護されていても良い。本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートは、セパレータにより保護された状態で、ロール状に巻き取ることができる。セパレータは、実用に供するまで本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートを保護する保護材としての機能を有する。セパレータとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレン、ポリプロピレン、フッ素系剥離剤や長鎖アルキルアクリレート系剥離剤等の剥離剤により表面コートされたプラスチックフィルム、紙などが挙げられる。   The active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention may be protected by a separator. The active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive tape or sheet for re-peeling of the present invention can be wound into a roll while being protected by a separator. The separator has a function as a protective material for protecting the active energy ray-curable re-peeling pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention until practical use. Examples of the separator include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene, polypropylene, a plastic film whose surface is coated with a release agent such as a fluorine-type release agent and a long-chain alkyl acrylate-type release agent, and paper.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートは、例えば、セパレータにより保護されていない場合、背面処理を行っていても良い。背面処理は、例えば、シリコーン系剥離剤や長鎖アルキルアクリレート系剥離剤等の剥離剤を用いて行うことができる。   The active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive tape or sheet for re-peeling of the present invention may be subjected to a back surface treatment, for example, when it is not protected by a separator. The back surface treatment can be performed using a release agent such as a silicone release agent or a long-chain alkyl acrylate release agent.

≪B−1.基材≫
基材は、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートの強度母体となる。
<< B-1. Base material >>
The base material is the strength matrix of the active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention.

基材は、活性エネルギー線透過性を有することが好ましい。例えば、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートを用いて半導体装置を製造する際、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートが有する粘着剤層に含まれるポリマー(P)は、半導体チップをピックアップする前に活性エネルギー線照射により硬化されていることが好ましいからである。なお、この場合の活性エネルギー線照射は、半導体チップをピックアップする前の任意の適切なタイミングで行えば良い。   The substrate preferably has active energy ray permeability. For example, when manufacturing a semiconductor device using the active energy ray-curable removable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention, it is included in the pressure-sensitive adhesive layer of the active energy ray-curable removable pressure-sensitive adhesive tape or sheet of the present invention. This is because the polymer (P) is preferably cured by irradiation with active energy rays before picking up the semiconductor chip. In this case, the active energy ray irradiation may be performed at any appropriate timing before picking up the semiconductor chip.

基材の厚みは、任意の適切な厚みを採用し得る。好ましくは、5μm〜200μmである。   Arbitrary appropriate thickness can be employ | adopted for the thickness of a base material. Preferably, it is 5 micrometers-200 micrometers.

基材の材料としては、本発明の効果を発現できる範囲内において、任意の適切な材料を採用し得る。基材の材料としては、例えば、低密度ポリエチレン、直鎖状低密度ポリエチレン、中密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、超低密度ポリエチレン、超高分子量ポリエチレン、ランダム共重合ポリプロピレン、ブロック共重合ポリプロピレン、ホモポリプロレン、ポリブテン、ポリメチルペンテン、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン−(メタ)アクリル酸エステル(ランダム、交互)共重合体、エチレン−ブテン共重合体、エチレン−ヘキセン共重合体、アイオノマー樹脂等のポリオレフィン系樹脂;ポリスチレン、ABS樹脂、AS樹脂、AAS樹脂、ACS樹脂、AES樹脂、MS樹脂、SMA樹脂、MBS樹脂等のスチレン系樹脂;ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン等の塩素系樹脂;ポリウレタン等のウレタン系樹脂;ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系樹脂;ポリアミド、全芳香族ポリアミド(アラミド)、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミド、ポリフェニルスルフィド等のエンジリアリングプラスチック;ガラス;ガラスクロス;フッ素樹脂;セルロース系樹脂;シリコーン樹脂;金属(箔);紙;などが挙げられる。基材の材料としては、また、上記樹脂等の架橋体も挙げられる。   Any appropriate material can be adopted as the material for the base material as long as the effects of the present invention can be exhibited. Examples of the base material include low density polyethylene, linear low density polyethylene, medium density polyethylene, high density polyethylene, ultra low density polyethylene, ultra high molecular weight polyethylene, random copolymer polypropylene, block copolymer polypropylene, and homopolypropylene. Len, polybutene, polymethylpentene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid ester (random, alternating) copolymer, ethylene-butene copolymer Polyolefin resins such as ethylene-hexene copolymer and ionomer resin; Styrene resins such as polystyrene, ABS resin, AS resin, AAS resin, ACS resin, AES resin, MS resin, SMA resin, MBS resin; polyvinyl chloride Chlorine such as polyvinylidene chloride Fats; Urethane resins such as polyurethane; Polyester resins such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate; Polyamide, fully aromatic polyamide (aramid), polycarbonate, polyimide, polyetheretherketone, polyetherimide, polyphenylsulfide, etc. Examples include rearing plastic; glass; glass cloth; fluororesin; cellulose resin; silicone resin; metal (foil); Examples of the material for the base material include cross-linked materials such as the above-mentioned resins.

基材は、1種の材料のみから形成されていても良いし、2種以上の材料から形成されていても良い。また、基材は単層でも良いし、2種以上の複層でも良い。   The base material may be formed of only one kind of material or may be formed of two or more kinds of materials. The substrate may be a single layer or two or more types.

基材は、無延伸の基材を用いても良いし、一軸延伸や二軸延伸などの延伸処理を施した基材を用いても良い。   As the substrate, an unstretched substrate may be used, or a substrate subjected to a stretching process such as uniaxial stretching or biaxial stretching may be used.

延伸処理を施した基材を用いると、例えば、半導体装置製造における半導体ウェハ加工に用いた場合に、ダイシング後に該基材を熱収縮させることにより、粘着剤層と被着体との接着面積を低下させることができ、半導体チップの回収を容易に行うことができる。   When a base material that has been subjected to stretching treatment is used, for example, when used for semiconductor wafer processing in semiconductor device manufacturing, the base material is thermally shrunk after dicing so that the adhesive area between the pressure-sensitive adhesive layer and the adherend is reduced. The semiconductor chip can be easily collected.

基材の表面は、隣接する層との密着性や保持性などを高めるために、任意の適切な表面処理が施されても良い。このような表面処理としては、例えば、クロム酸処理、オゾン暴露、火炎暴露、高圧電撃暴露、イオン化放射線処理等の化学的または物理的処理;下塗剤(例えば、後述する粘着物質)によるコーティング処理;などが挙げられる。   The surface of the base material may be subjected to any appropriate surface treatment in order to improve adhesion and retention with an adjacent layer. Examples of such surface treatment include chemical or physical treatment such as chromic acid treatment, ozone exposure, flame exposure, high-voltage impact exposure, ionizing radiation treatment, etc .; coating treatment with a primer (for example, an adhesive substance described later); Etc.

基材には、帯電防止能を付与するため、該基材上に、金属、合金、これらの酸化物等からなる導電性物質の蒸着層を設けることができる。このような蒸着層の厚みは、好ましくは30Å〜500Åである。   In order to impart an antistatic ability to the base material, a deposited layer of a conductive substance made of a metal, an alloy, an oxide thereof, or the like can be provided on the base material. The thickness of such a vapor deposition layer is preferably 30 to 500 mm.

≪C.活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシートの製造方法≫
基材は、任意の適切な製膜方法により製膜することができる。このような製膜方法としては、例えば、カレンダー製膜法、有機溶媒中でのキャスティング法、密閉系でのインフレーション押出法、Tダイ押出法、共押出し法、ドライラミネート法等が挙げられる。
≪C. Production method of active energy ray-curable adhesive tape or sheet for re-peeling >>
The substrate can be formed by any appropriate film forming method. Examples of such a film forming method include a calendar film forming method, a casting method in an organic solvent, an inflation extrusion method in a closed system, a T-die extrusion method, a co-extrusion method, and a dry lamination method.

次に、基材上に本発明の粘着剤を含む組成物を塗布し、乾燥させて(必要に応じて加熱架橋させて)、粘着剤層を形成する。粘着剤を含む組成物を塗布する方式としては、例えば、ロール塗工、スクリーン塗工、グラビア塗工等が挙げられる。塗布は、直接に基材上に行っても良いし、表面に剥離処理を行った剥離紙等に塗布した後に基材に転写しても良い。   Next, the composition containing the pressure-sensitive adhesive of the present invention is applied onto a substrate and dried (heat-crosslinked as necessary) to form a pressure-sensitive adhesive layer. Examples of the method for applying the composition containing the pressure-sensitive adhesive include roll coating, screen coating, and gravure coating. The application may be performed directly on the substrate, or may be applied to a release paper or the like whose surface has been subjected to a release treatment and then transferred to the substrate.

以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれら実施例になんら限定されるものではない。なお、実施例等における、試験および評価方法は以下のとおりである。また、部は重量部を意味する。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention concretely, this invention is not limited to these Examples at all. In addition, the test and evaluation method in an Example etc. are as follows. Moreover, a part means a weight part.

<ガラス転移温度の測定>
レオメトリック社製の動的粘弾性測定装置「ARES」を用いて、サンプル厚さ約1.5mmで、φ7.9mmパラレルプレ−トの治具を用い、周波数1Hz、昇温速度5℃/分にて測定し、得られた損失弾性率のピーク点の温度をガラス転移温度とした。
<Measurement of glass transition temperature>
Using a dynamic viscoelasticity measuring device “ARES” manufactured by Rheometric Co., Ltd., using a jig with a sample thickness of about 1.5 mm and a φ7.9 mm parallel plate, a frequency of 1 Hz, and a heating rate of 5 ° C./min. The temperature at the peak point of the obtained loss modulus was taken as the glass transition temperature.

<活性エネルギー線照射前の粘着力の測定>
粘着シート(20mm×100mm)を、シリコンミラーウェハ(信越半導体株式会社製、商品名「CZN<100>2.5−3.5」(4インチ))の表面に、23℃雰囲気下でハンドローラーを一往復させることにより、圧着させた。
23℃で30分間経過後、その剥離に要する力を測定した(180度剥離、引張り速度300mm/分、23℃×50%RH雰囲気下)。
<Measurement of adhesive strength before irradiation with active energy rays>
An adhesive sheet (20 mm × 100 mm) is placed on the surface of a silicon mirror wafer (trade name “CZN <100> 2.5-3.5” (4 inches), manufactured by Shin-Etsu Semiconductor Co., Ltd.), a hand roller in a 23 ° C. atmosphere. Was reciprocated once to make a crimp.
After 30 minutes at 23 ° C., the force required for the peeling was measured (180 ° peeling, tensile speed 300 mm / min, 23 ° C. × 50% RH atmosphere).

<活性エネルギー線照射後の粘着力の測定>
粘着シート(20mm×100mm)を、シリコンミラーウェハ(信越半導体株式会社製、商品名「CZN<100>2.5−3.5」(4インチ))の表面に、23℃雰囲気下でハンドローラーを一往復させることにより、圧着させた。
23℃で30分間経過後、紫外線照射装置(商品名「UM810」:日東精機株式会社製)を用いて、紫外線を粘着シート面側から照射し(光量:450mJ/cm)、その後、サンプルを剥離に要する力を測定した(180度剥離、引張り速度300mm/分、23℃×50%RH雰囲気下)。
<Measurement of adhesive strength after irradiation with active energy rays>
An adhesive sheet (20 mm × 100 mm) is placed on the surface of a silicon mirror wafer (trade name “CZN <100> 2.5-3.5” (4 inches), manufactured by Shin-Etsu Semiconductor Co., Ltd.), a hand roller in a 23 ° C. atmosphere. Was reciprocated once to make a crimp.
After 30 minutes at 23 ° C., an ultraviolet ray irradiation device (trade name “UM810”: manufactured by Nitto Seiki Co., Ltd.) was used to irradiate ultraviolet rays from the adhesive sheet surface side (light quantity: 450 mJ / cm 2 ). The force required for peeling was measured (180 degree peeling, tensile speed 300 mm / min, 23 ° C. × 50% RH atmosphere).

〔実施例1〕
冷却管、窒素導入管、温度計および撹拌装置を備えた反応容器に、アクリル酸2−エチルヘキシル(以下、「2EHA」という。)90部、アクリル酸(以下、「AA」という。)10部、過酸化ベンゾイル0.2部、および酢酸エチル150部を入れ、窒素気流中で61℃にて6時間重合処理し、アクリル系ポリマーAを得た。
このアクリル系ポリマーAに2−ビニル−2−オキサゾリン(以下、「VO」という。)12.1部(AAに対し90mol%)を加え、空気気流中で50℃にて48時間、付加反応処理をし、アクリル系ポリマーA´を得た。アクリル系ポリマーA´のガラス転位温度は−49℃であった。
次に、アクリル系ポリマーA´100部に対し、ポリイソシアネート化合物(商品名「コロネートL」、日本ポリウレタン(株)製)3部、および光重合開始剤(商品名「イルガキュア651」、チバ・スペシャルティー・ケミカルズ社製)5部を加えて、粘着剤溶液を作製した。
上記粘着剤溶液を、シリコーン剥離処理を施したポリエステルフィルム(厚さ:50μm)のシリコーン剥離処理を施した面に、乾燥後の厚さが30μmとなるように塗工し、120℃で3分間乾燥させ、粘着剤層を形成した。
粘着剤層の粘着剤表面に、コロナ放電式で表面酸化処理を施したエチレン−酢酸ビニル共重合体フィルム(厚さ:115μm)を貼り合わせ、粘着剤層を転写させて、粘着シート(1)を作製した。
得られた粘着シート(1)について、各種評価を行った。結果を表1に示した。
なお、表1中に記載する略称の意味は次の通りである。
2EHA:アクリル酸2−エチルヘキシル
EA:アクリル酸エチル
BA:アクリル酸n−ブチル
AA:アクリル酸
VO:2−ビニル−2−オキサゾリン
[Example 1]
In a reaction vessel equipped with a cooling pipe, a nitrogen introduction pipe, a thermometer, and a stirring device, 90 parts of 2-ethylhexyl acrylate (hereinafter referred to as “2EHA”), 10 parts of acrylic acid (hereinafter referred to as “AA”), 0.2 parts of benzoyl peroxide and 150 parts of ethyl acetate were added and polymerized in a nitrogen stream at 61 ° C. for 6 hours to obtain an acrylic polymer A.
To this acrylic polymer A, 12.1 parts of 2-vinyl-2-oxazoline (hereinafter referred to as “VO”) (90 mol% with respect to AA) was added, and an addition reaction treatment was performed at 50 ° C. for 48 hours in an air stream. As a result, an acrylic polymer A ′ was obtained. The glass transition temperature of the acrylic polymer A ′ was −49 ° C.
Next, for 100 parts of acrylic polymer A ′, 3 parts of a polyisocyanate compound (trade name “Coronate L”, manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.) and a photopolymerization initiator (trade name “Irgacure 651”, Ciba Special) 5 parts) (manufactured by T Chemicals) was added to prepare an adhesive solution.
The pressure-sensitive adhesive solution was coated on the surface of the polyester film (thickness: 50 μm) subjected to the silicone release treatment so that the thickness after drying was 30 μm, and the temperature was 120 ° C. for 3 minutes. It dried and the adhesive layer was formed.
Adhesive surface of the pressure-sensitive adhesive layer is pasted with an ethylene-vinyl acetate copolymer film (thickness: 115 μm) that has been subjected to surface oxidation treatment by a corona discharge method, the pressure-sensitive adhesive layer is transferred, and pressure-sensitive adhesive sheet (1) Was made.
Various evaluation was performed about the obtained adhesive sheet (1). The results are shown in Table 1.
In addition, the meaning of the abbreviation described in Table 1 is as follows.
2EHA: 2-ethylhexyl acrylate EA: ethyl acrylate BA: n-butyl acrylate AA: acrylic acid VO: 2-vinyl-2-oxazoline

〔実施例2〜6〕
表1に示す組成および含有量に変更したこと以外は、実施例1と同様にして、粘着シート(2)〜(6)を作製した。
得られた粘着シート(2)〜(6)について、各種評価を行った。結果を表1に示した。
[Examples 2 to 6]
Except having changed into the composition and content shown in Table 1, it carried out similarly to Example 1, and produced the adhesive sheets (2)-(6).
Various evaluation was performed about the obtained adhesive sheets (2)-(6). The results are shown in Table 1.

〔比較例1〜2〕
表1に示す組成および含有量に変更したこと以外は、実施例1と同様にして、粘着シート(C1)〜(C2)を作製した。
得られた粘着シート(C1)〜(C2)について、各種評価を行った。結果を表1に示した。
[Comparative Examples 1-2]
Except having changed into the composition and content shown in Table 1, it carried out similarly to Example 1, and produced the adhesive sheets (C1)-(C2).
Various evaluation was performed about the obtained adhesive sheet (C1)-(C2). The results are shown in Table 1.

Figure 0005631081
Figure 0005631081

表1に示すように、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤は、活性エネルギー線照射前後で粘着性を大きく変化させることができ、活性エネルギー線照射前は高粘着性を発現でき、活性エネルギー線照射後は高剥離性を発現できることが判る。また、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤は、従来の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤で用いられている錫系触媒を用いないので、環境に悪影響を与えないことが判る。さらに、本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤においては、粘着剤中における揮発性物質の残存が抑制できるので、環境や人体に悪影響を与えないことや、取扱いが容易であることが判る。   As shown in Table 1, the active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling of the present invention can greatly change the adhesiveness before and after irradiation with active energy rays, and can exhibit high adhesiveness before irradiation with active energy rays. It can be seen that high peelability can be exhibited after irradiation with active energy rays. In addition, the active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling of the present invention does not use the tin-based catalyst used in the conventional active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling, so that it does not adversely affect the environment. I understand. Furthermore, in the active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling of the present invention, the remaining of volatile substances in the pressure-sensitive adhesive can be suppressed, so that it does not adversely affect the environment and the human body and is easy to handle. I understand.

本発明の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤は、例えば、半導体装置製造の際のワーク(半導体ウェハ等)のダイシングに好適に用いることができる。
The active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling of the present invention can be suitably used, for example, for dicing a workpiece (semiconductor wafer or the like) when manufacturing a semiconductor device.

Claims (5)

活性エネルギー線硬化型のポリマー(P)を含み、
該ポリマー(P)は、溶液重合で得られるカルボキシル基含有ポリマー(A)と、オキサゾリン基とラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有するオキサゾリン基含有化合物(B)とを反応させて得られ、
該カルボキシル基含有ポリマー(A)が、主モノマーとしてのアクリル酸エステルとカルボキシル基含有モノマーを含むモノマー成分から構成されるポリマーであり、
該アクリル酸エステルが、アルキル基の炭素数が4〜18のアクリル酸アルキルエステルであり、
該モノマー成分中の該アクリル酸エステルの含有割合が60重量%〜97重量%であり、
該モノマー成分中の該カルボキシル基含有モノマーの含有割合が3重量%〜20重量%である、
活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤。
An active energy ray-curable polymer (P),
The polymer (P) is a carboxyl group-containing polymer obtained by solution polymerization (A), oxazoline group and a radical reactive carbon - Re resulting et al by reacting a oxazoline group-containing compound (B) having a carbon-carbon double bond ,
The carboxyl group-containing polymer (A) is a polymer composed of a monomer component containing an acrylate ester as a main monomer and a carboxyl group-containing monomer,
The acrylic acid ester is an alkyl alkyl ester having 4 to 18 carbon atoms in the alkyl group,
The content of the acrylic ester in the monomer component is 60% by weight to 97% by weight,
The content of the carboxyl group-containing monomer of the monomer component is Ru 3 wt% to 20 wt% der,
Active energy ray curable adhesive for re-peeling.
前記カルボキシル基含有モノマーが、(メタ)アクリル酸およびカルボキシアルキル(メタ)アクリレートから選ばれる少なくとも1種である、請求項に記載の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤。 The active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-peeling according to claim 1 , wherein the carboxyl group-containing monomer is at least one selected from (meth) acrylic acid and carboxyalkyl (meth) acrylate. 前記オキサゾリン基含有化合物(B)が、2−ビニル−2−オキサゾリン、4−メチル−2−ビニル−2−オキサゾリン、5−メチル−2−ビニル−2−オキサゾリン、2−ビニル−4,4−ジメチル−2−オキサゾリン、2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、4−メチル−2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、5−メチル−2−イソプロペニル−2−オキサゾリン、および2−イソプロペニル−4,4−ジメチル−2−オキサゾリンから選ばれる少なくとも1種である、請求項1または2に記載の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤。 The oxazoline group-containing compound (B) is 2-vinyl-2-oxazoline, 4-methyl-2-vinyl-2-oxazoline, 5-methyl-2-vinyl-2-oxazoline, 2-vinyl-4,4- Dimethyl-2-oxazoline, 2-isopropenyl-2-oxazoline, 4-methyl-2-isopropenyl-2-oxazoline, 5-methyl-2-isopropenyl-2-oxazoline, and 2-isopropenyl-4,4 The active energy ray-curable adhesive for re-peeling according to claim 1 or 2 , which is at least one selected from -dimethyl-2-oxazoline. 請求項1からまでのいずれかに記載の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着剤を粘着剤層として基材上に有する、活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシート。 An active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive tape or sheet comprising the active energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive according to any one of claims 1 to 3 on a substrate as an adhesive layer. 半導体ウェハ加工用である、請求項に記載の活性エネルギー線硬化型再剥離用粘着テープまたはシート。
The active energy ray-curable adhesive tape or sheet for re-peeling according to claim 4 , which is used for semiconductor wafer processing.
JP2010152701A 2010-07-05 2010-07-05 Active energy ray curable adhesive for re-peeling Expired - Fee Related JP5631081B2 (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010152701A JP5631081B2 (en) 2010-07-05 2010-07-05 Active energy ray curable adhesive for re-peeling
TW100123545A TW201207070A (en) 2010-07-05 2011-07-04 Active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-release and dicing die-bonding film
KR1020110065998A KR20120003815A (en) 2010-07-05 2011-07-04 Active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-release and dicing die-bonding film
US13/176,205 US20120003470A1 (en) 2010-07-05 2011-07-05 Active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive for re-release and dicing die-bonding film
CN2011101886340A CN102311711A (en) 2010-07-05 2011-07-05 Active energy ray curable is peeled off with tackiness agent and cutting paster film again
US13/914,716 US20130273361A1 (en) 2010-07-05 2013-06-11 Active Energy Ray-Curable Pressure-Sensitive Adhesive for Re-Release and Dicing Die-Bonding Film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010152701A JP5631081B2 (en) 2010-07-05 2010-07-05 Active energy ray curable adhesive for re-peeling

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012012545A JP2012012545A (en) 2012-01-19
JP5631081B2 true JP5631081B2 (en) 2014-11-26

Family

ID=45599360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010152701A Expired - Fee Related JP5631081B2 (en) 2010-07-05 2010-07-05 Active energy ray curable adhesive for re-peeling

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5631081B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5631082B2 (en) * 2010-07-07 2014-11-26 日東電工株式会社 Active energy ray curable adhesive for re-peeling
JP7160554B2 (en) * 2018-05-07 2022-10-25 株式会社日本触媒 RESIN COMPOSITION FOR OPTICAL MATERIAL AND USES THEREOF
JP6756398B1 (en) * 2019-10-11 2020-09-16 住友ベークライト株式会社 Adhesive tape
JPWO2022186138A1 (en) 2021-03-05 2022-09-09

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59221306A (en) * 1983-05-31 1984-12-12 Nippon Shokubai Kagaku Kogyo Co Ltd Preparation of reactive polymer
JP5132096B2 (en) * 2006-07-13 2013-01-30 日東電工株式会社 Active energy ray-curable water-dispersible acrylic pressure-sensitive adhesive composition and pressure-sensitive adhesive sheet
JP5406456B2 (en) * 2008-02-01 2014-02-05 株式会社日本触媒 Ionizing radiation curable adhesive composition for re-peeling and use thereof
EP2518122A4 (en) * 2009-12-25 2014-01-08 Nitto Denko Corp Pressure-sensitive adhesive composition and pressure-sensitive adhesive sheet
JP2012015432A (en) * 2010-07-05 2012-01-19 Nitto Denko Corp Dicing die bond film

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012012545A (en) 2012-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101172933B1 (en) Method of semiconductor wafer back processing, method of substrate back processing, and radiation-curable pressure-sensitive adhesive sheet
JP4810565B2 (en) Dicing die-bonding film and method for manufacturing semiconductor device
JP5519971B2 (en) Dicing die-bonding film and method for manufacturing semiconductor device
JP4721834B2 (en) Adhesive sheet and product processing method using the adhesive sheet
JP4800694B2 (en) Dicing die bond film
US20130273361A1 (en) Active Energy Ray-Curable Pressure-Sensitive Adhesive for Re-Release and Dicing Die-Bonding Film
JP5631082B2 (en) Active energy ray curable adhesive for re-peeling
JP2012069586A (en) Dicing die-bonding film, manufacturing method of dicing die-bonding film, and manufacturing method of semiconductor device
KR20070027465A (en) Pressure-sensitive adhesive sheet and method of processing articles
WO2008032367A1 (en) Dicing/die bonding film
TW201231587A (en) Radiation-curable adhesive composition and adhesive sheet
TW201421602A (en) Method of manufacturing film for semiconductor device
WO2018055889A1 (en) Heat bonding sheet, and heat bonding sheet with dicing tape
TWI518161B (en) Radiation-curable adhesive composition and adhesive sheet
JP5631081B2 (en) Active energy ray curable adhesive for re-peeling
WO2016104188A1 (en) Sheet for thermal bonding and sheet for thermal bonding with affixed dicing tape
JP5495985B2 (en) Active energy ray curable adhesive for re-peeling
JP2012015432A (en) Dicing die bond film
JP2017005072A (en) Semiconductor wafer protection adhesive sheet
JP5495987B2 (en) Active energy ray curable adhesive for re-peeling
JP3797601B2 (en) Fixing adhesive sheet
JP2012018949A (en) Dicing die bond film
JP2012018950A (en) Dicing die bond film
JP7426260B2 (en) Adhesive tape
WO2022270008A1 (en) Adhesive sheet for semiconductor element fabrication

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131127

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140917

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141007

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5631081

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees