JP5594187B2 - Repair support server - Google Patents
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Description
本発明は、修理支援サーバに関するものである。 The present invention relates to a repair support server.
特許文献1には、故障診断機能を有する複合機と、その診断結果をネットワークを介して取得する修理支援サーバとが開示されている。この複合機で故障が発生すると、その故障内容が複合機から修理支援サーバに対して通知される。修理支援サーバでは、通知された故障内容に基づいて修理に必要な部品名やその数量などの情報が特定され、その特定された情報が担当サービスマンへ通知される。 Patent Document 1 discloses a multifunction machine having a failure diagnosis function and a repair support server that acquires the diagnosis result via a network. When a failure occurs in this multifunction device, the details of the failure are notified from the multifunction device to the repair support server. In the repair support server, information such as the part name and the quantity required for repair is specified based on the notified failure content, and the specified information is notified to the responsible service person.
しかしながら、故障が発生したタイミングで、故障の修理に必要な部品が全て在庫として保有されているとは限らず、足りない部品については、メーカー等から取り寄せる必要がある。そのため、修理に必要な部品が全て揃うまでに時間がかかり、その分、修理期間が長引くおそれがあった。 However, not all parts necessary for repairing the failure are in stock at the time when the failure occurs, and it is necessary to obtain a missing part from a manufacturer or the like. For this reason, it takes time until all parts necessary for repair are prepared, and there is a risk that the repair period will be prolonged accordingly.
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、修理対象となる装置の修理期間を短縮できる修理支援サーバを提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide a repair support server that can shorten the repair period of a device to be repaired.
この目的を達成するために、本発明の第1態様の修理支援サーバは、特定の機能について検査を実行し、その機能の検査結果を示す機能情報を含む検査結果情報を出力する多機能周辺装置の修理作業を支援するものであって、前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段と、前記多機能周辺装置についてユーザにより予測された使用状況を示す予測情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応づけて記憶する予測情報記憶手段と、その予測情報記憶手段に記憶されている予測情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する予測情報を取得する予測情報取得手段と、その予測情報取得手段により取得される予測情報の使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が大きいほど、前記所定期間を長く設定する第1期間調整手段と、を備えている。
本発明の第2態様の修理支援サーバは、特定の機能について検査を実行し、その機能の検査結果を示す機能情報を含む検査結果情報を出力する多機能周辺装置の修理作業を支援するものであって、前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段と、前記多機能周辺装置についてユーザにより予測された使用状況を示す予測情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応づけて記憶する予測情報記憶手段と、その予測情報記憶手段に記憶されている予測情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する予測情報を取得する予測情報取得手段と、その予測情報取得手段により取得される予測情報の使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が大きいほど、前記推定手段に前記異常発生時期を繰り上げて推定させる第2期間調整手段と、を備えている。
本発明の第3態様の修理支援サーバは、特定の機能について検査を実行し、その機能の検査結果を示す機能情報を含む検査結果情報を出力する多機能周辺装置の修理作業を支援するものであって、前記多機能周辺装置は、前記特定の機能についての検査の実行と、複数の前記多機能周辺装置を個別に識別する識別情報および前記機能情報を含む検査結果情報の出力とを繰り返すように構成されており、前記修理支援サーバは、前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段と、生産工程において前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応付けて記憶する検査結果情報記憶手段と、を備え、前記推定手段は、前記検査結果情報記憶手段に記憶される検査結果情報のうち前記取得手段により取得される検査結果情報と同一の識別情報を含む検査結果情報と、前記取得手段により取得される検査結果情報との各機能情報に基づいて、前記異常発生時期を推定する。
In order to achieve this object, the repair support server according to the first aspect of the present invention performs a test for a specific function and outputs test result information including function information indicating the test result of the function. The acquisition means for acquiring the inspection result information output from the multifunction peripheral device, and the specific information based on the function information of the inspection result information acquired by the acquisition means An estimation means for estimating an abnormality occurrence time at which an abnormality occurs in the function, and a parts identification means for specifying a part to be replaced in a repair work corresponding to the abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimation means; When the predetermined period before the abnormality occurrence time estimated by the estimating means has elapsed, arrangement information including part information indicating the parts specified by the parts specifying means is output. And force means, wherein the prediction information indicating the usage status predicted by the user for a multifunction peripheral device, and the prediction information storage means for storing in association with identification information of the multifunction peripheral device, stored in the prediction information storage means Prediction information acquisition means for acquiring prediction information corresponding to the identification information of the test result information acquired by the acquisition means, and the usage status of the prediction information acquired by the prediction information acquisition means The first period adjusting means for setting the predetermined period longer as the burden on the multifunction peripheral device is larger .
The repair support server according to the second aspect of the present invention supports a repair work for a multi-function peripheral device that performs a test for a specific function and outputs test result information including function information indicating a test result of the function. An occurrence of an abnormality that causes an abnormality in the specific function based on the acquisition unit that acquires the inspection result information output from the multifunction peripheral device and the function information of the inspection result information acquired by the acquisition unit Estimating means for estimating timing, parts identifying means for identifying parts to be replaced in repair work corresponding to an abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimating means, and estimated by the estimating means An output means for outputting arrangement information including part information indicating a part specified by the part specifying means when a predetermined period before the abnormality occurrence time has elapsed; and the multifunction peripheral Prediction information storage means for storing the prediction information indicating the usage state predicted by the user for the device in association with the identification information of the multifunction peripheral device, and the prediction information stored in the prediction information storage means , A prediction information acquisition unit that acquires the prediction information corresponding to the identification information of the test result information acquired by the acquisition unit, and the burden on the multifunction peripheral device in the usage status of the prediction information acquired by the prediction information acquisition unit The second period adjusting means for causing the estimating means to raise the abnormality occurrence time and estimate the higher the value is.
The repair support server according to the third aspect of the present invention supports a repair work for a multi-function peripheral device that executes a test for a specific function and outputs test result information including function information indicating a test result of the function. The multi-function peripheral device repeats the execution of the inspection for the specific function and the output of the identification information for individually identifying the plurality of multi-function peripheral devices and the inspection result information including the function information. The repair support server is configured to acquire the identification result based on acquisition means for acquiring inspection result information output from the multi-function peripheral device, and functional information of the inspection result information acquired by the acquisition means. It is exchanged by estimation means for estimating the time of occurrence of abnormality in the function of the product, and repair work according to the abnormality expected to occur at the time of occurrence of abnormality estimated by the estimation means Outputs arrangement information including part information indicating a part specified by the part specifying means when a predetermined period before the abnormality occurrence time estimated by the estimating means has passed and a part specifying means for specifying the part Output means, and inspection result information storage means for storing inspection result information output from the multifunction peripheral device in the production process in association with identification information of the multifunction peripheral device, and the estimation means The inspection result information including the same identification information as the inspection result information acquired by the acquisition means among the inspection result information stored in the inspection result information storage means, and the inspection result information acquired by the acquisition means Based on each function information, the abnormality occurrence time is estimated.
尚、本発明は、修理支援方法、修理支援サーバと多機能周辺装置とを含む修理支援システム、修理支援サーバを制御するプログラム、該プログラムを記録する記録媒体等の種々の態様で実現可能である。 The present invention can be realized in various modes such as a repair support method, a repair support system including a repair support server and a multi-functional peripheral device, a program for controlling the repair support server, and a recording medium for recording the program. .
請求項1、2、または4のいずれかに記載の修理支援サーバによれば、推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過しており、多機能周辺装置において特定の機能に異常が発生するおそれがある場合に、その異常の修理作業で交換される部品を示す部品情報を含む手配情報が出力される。よって、その異常の修理作業に用いる部品を、その手配情報に基づき予め手配できるので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その修理作業に用いる部品を手配できる。従って、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。故に、多機能周辺装置の修理期間を短縮できるという効果がある。
According to the repair support server according to any one of
また、多機能周辺装置ではなく修理支援サーバにおいて、異常発生時期の推定や、修理作業で交換される部品の特定や、手配情報の出力を行うので、多機能周辺装置にかかる負担を軽減できるという効果がある。
特に、請求項1記載の修理支援サーバによれば、ユーザにより予測された使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が高いほど、所定期間が長く設定されるので、異常が発生するおそれが高いほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、仮に異常が早期に発生したとしても、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
また、請求項2記載の修理支援サーバによれば、ユーザにより予測された使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が高いほど、推定手段により異常発生時期が繰り上げて推定されるので、異常が発生するおそれが高いほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、仮に異常が早期に発生したとしても、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
また、請求項4記載の修理支援サーバによれば、次の効果を奏する。また、請求項3記載の修理支援サーバによれば、請求項1または2が奏する効果に加え、次の効果を奏する。一の多機能周辺装置について異常発生時期を推定する場合に、同一の多機能周辺装置から出力された検査結果情報であって、出力タイミングが異なるものを複数用いて推定できるので、多機能周辺装置の個体差により生じる誤差を抑制できる。また、多機能周辺装置から直近に出力された検査結果情報を用いて推定するので、異常発生時期を精度良く推定できる。よって、推定の精度を向上させることができるという効果がある。
In addition, the repair support server, not the multi-function peripheral device, estimates the time of occurrence of an abnormality, specifies the parts to be replaced during repair work, and outputs arrangement information, so the load on the multi-function peripheral device can be reduced. effective.
In particular, according to the repair support server according to claim 1, the higher the burden on the multifunction peripheral device in the usage situation predicted by the user, the longer the predetermined period is set, and thus the higher the possibility that an abnormality will occur. The parts used for repair work can be arranged more quickly. Therefore, even if an abnormality occurs at an early stage, it is possible to shorten the period from when the repair request is received until the parts used for the repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
In addition, according to the repair support server according to
Moreover, according to the repair assistance server of Claim 4, there exists the following effect. Moreover, according to the repair assistance server of Claim 3, in addition to the effect which
請求項5記載の修理支援サーバによれば、請求項1から4の何れかの奏する効果に加え、多機能周辺装置の設置エリアを示す設置エリア情報を含む手配情報が出力されるので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その多機能周辺装置の設置エリアに向けて、修理作業に用いる部品を配送できるように準備できる。よって、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の配送準備が完了するまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。 According to the repair support server of the fifth aspect , in addition to the effect of any one of the first to fourth aspects , the arrangement information including the installation area information indicating the installation area of the multifunction peripheral device is output. Before receiving a repair request for a peripheral device, preparations can be made so that parts used for the repair work can be delivered to the installation area of the multifunction peripheral device. Therefore, since the period from the receipt of the repair request to the completion of the delivery preparation of the parts used for the repair work can be shortened, the repair work can be started quickly. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
請求項6記載の修理支援サーバによれば、請求項5の奏する効果に加え、設置エリア情報には、設置エリアに対応する修理担当を示す修理担当情報が含まれているので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その多機能周辺装置の修理担当に対して、修理作業に用いる部品を予め配送できる。よって、修理依頼を受けてから、修理担当において修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。 According to the repair support server of the sixth aspect , in addition to the effect of the fifth aspect , the installation area information includes the repair staff information indicating the repair staff corresponding to the installation area. Before receiving the repair request, the parts used for the repair work can be delivered in advance to the person in charge of repairing the multifunction peripheral device. Therefore, since the period from the receipt of the repair request until the repair staff is ready for the parts used for the repair work can be shortened, the repair work can be started quickly. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
請求項7記載の修理支援サーバによれば、請求項1から6の何れかの奏する効果に加え、異常を解消するための修理作業で用いる作業手順書を示す手順書情報を含む手配情報が出力されるので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その修理作業に用いる作業手順書を手配できる。よって、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる作業手順書の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。 According to the repair support server described in claim 7 , in addition to the effects of any one of claims 1 to 6 , arrangement information including procedure manual information indicating a work procedure manual used in repair work for eliminating the abnormality is output. Therefore, before receiving a repair request for a multifunction peripheral device, a work procedure manual used for the repair work can be arranged. Therefore, since the period from the receipt of the repair request to the completion of the work procedure manual used for the repair work can be shortened, the repair work can be started quickly. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
請求項8記載の修理支援サーバによれば、請求項1から7の何れかの奏する効果に加え、異常の修理作業で交換される部品の入手が困難であるほど、所定期間が長く設定されるので、部品の入手が困難であるほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、入手の困難な部品であっても、遅延のないように準備できるので、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。また、部品の入手が容易であるほど、修理作業に用いる部品をより遅く手配できるので、修理作業に用いる部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できるという効果がある。 According to repair support server according to claim 8, wherein, in addition to the effect of response rate of any of claims 1 to 7, as the availability of the part to be replaced by the abnormality repairs are difficult, the predetermined time period is set longer Therefore, the more difficult to obtain the parts, the sooner the parts used for repair work can be arranged. Therefore, even parts that are difficult to obtain can be prepared without delay, so that it is possible to shorten the period from when a repair request is received until the parts to be used for repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened. In addition, the easier the parts are obtained, the later the parts used for the repair work can be arranged. Therefore, by arranging the parts used for the repair work in advance, it is possible to suppress an increase in the storage space for the parts.
請求項9記載の修理支援サーバによれば、請求項1から8の何れかの奏する効果に加え、異常の修理作業で交換される部品の入手が困難であるほど、推定手段により異常発生時期が繰り上げて推定されるので、部品の入手が困難であるほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、入手の困難な部品であっても、遅延のないように準備できるので、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。また、部品の入手が容易であるほど、修理作業に用いる部品をより遅く手配できるので、修理作業に用いる部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できるという効果がある。 According to the repair support server of the ninth aspect , in addition to the effect of any one of the first to eighth aspects, the time when the abnormality has occurred is estimated by the estimating means as the part to be replaced in the abnormal repair work becomes more difficult to obtain. Since it is estimated by moving it up, the more difficult it is to obtain the parts, the sooner the parts used for repair work can be arranged. Therefore, even parts that are difficult to obtain can be prepared without delay, so that it is possible to shorten the period from when a repair request is received until the parts to be used for repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened. In addition, the easier the parts are obtained, the later the parts used for the repair work can be arranged. Therefore, by arranging the parts used for the repair work in advance, it is possible to suppress an increase in the storage space for the parts.
請求項10記載の修理支援サーバによれば、請求項1から9の何れかの奏する効果に加え、異常の修理作業で交換される部品のうち在庫の無い部品を発注できるので、不要な在庫が増加することを抑制できる。よって、修理作業に用いる部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できるという効果がある。 According to the repair support server of the tenth aspect, in addition to the effect of any one of the first to ninth aspects, it is possible to place an order for a part that is not in stock among parts to be replaced in an abnormal repair work. The increase can be suppressed. Therefore, by arranging parts used for repair work in advance, there is an effect that it is possible to suppress an increase in the storage space for the parts.
以下、本発明の好ましい実施形態について、添付図面を参照して説明する。図1は、本発明の修理支援サーバの一実施形態である顧客管理サーバ300と、在庫管理サーバ400と、多機能周辺装置(以下、「MFP」と称す)100と、パーソナルコンピュータ(以下、「PC」と称す)200とを含む修理支援システム10の電気的構成を示すブロック図である。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 shows a
MFP100は、印刷機能、スキャナ機能、FAX機能、及び、コピー機能を有する装置であり、PC200に接続されて利用される。MFP100は、特定の部品の劣化や、特定の機能の低下を定期的に検査(以下、「定期検査」称す)する定期検査機能を有し、その検査結果は検査の度に、PC200を介して顧客管理サーバ300へ送信される。
The
顧客管理サーバ300では、MFP100の検査結果が受信されると、その検査結果に基づいて、MFP100において異常が発生する時期(以下、「推定異常発生年月日TY」と称す)が算出され、その推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短い場合に、その異常の修理に必要な部品の手配が在庫管理サーバに対して指示される。
Upon receiving the inspection result of
修理支援システム10によれば、MFP100において異常が発生するおそれが高い場合に、その異常の修理に必要な部品を予め手配できるので、ユーザからMFP100の修理依頼を受ける前に、その修理部品を手配できる。よって、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始でき、修理期間を短くできる。
According to the
以下、詳細を説明する。まず、MFP100について説明する。MFP100は、CPU101、フラッシュメモリ102、RAM103、プリンタ104、スキャナ105、入力部106、液晶表示装置(以下、「LCD」と称す)107、USBインターフェイス(以下、「USBI/F」と称す)108、LANインターフェイス(以下、「LANI/F」)109を主に有し、これらはバスライン110を介して互いに接続されている。
Details will be described below. First, the
CPU101は、フラッシュメモリ102に記憶される固定値やプログラムに従って、バスライン110により接続された各部を制御する。フラッシュメモリ102は、不揮発性のメモリであって、MFP100の動作を制御するプログラムなどが格納される。フラッシュメモリ102には、プログラムエリア102a、定期検査フラグ102b、検査結果メモリ102cが設けられる。プログラムエリア102aには、後述する図7(a)に示す製造時検査処理、図7(b)に示す検査実行処理、図7(c)に示すメイン処理を実行する各プログラムが格納される。
The
定期検査フラグ102bは、MFP100において定期検査を実行するか否かを示すフラグである。定期検査フラグ102bがオンの場合は、直近の定期検査の実行日から所定日数(例えば、10日間)が経過する度に、定期検査が実行される。尚、定期検査フラグ102bがオフからオンに変更された場合には、直ぐに定期検査が実行される。一方、定期検査フラグ102bがオフの場合は、定期検査が実行されない。この定期検査フラグ102bは、PC200からのユーザ操作によりオンオフが切り替えられる。詳細は、図8を参照して後述する。
The periodic inspection flag 102b is a flag indicating whether or not the
検査結果メモリ102cは、生産工程で行われる出荷検査の検査結果を示す検査結果情報や、ユーザのもとで行われる定期検査の検査結果を示す検査結果情報を記憶するメモリである。検査結果情報は、MFP100により生成され、検査結果メモリ102cに格納される。ここで、図2を参照して、検査結果情報について説明する。
The inspection result memory 102c is a memory that stores inspection result information indicating the inspection result of the shipping inspection performed in the production process and inspection result information indicating the inspection result of the periodic inspection performed under the user. The inspection result information is generated by the
図2(a)は、出荷検査の検査結果情報の内容一例を示す模式図であり、図2(b)は、定期検査の検査結果情報の内容の一例を示す模式図である。出荷検査の検査結果情報、及び、定期検査の検査結果情報は共に、製品シリアル番号と、検査年月日時間と、製造時識別フラグと、特性値IDと、検査結果値とにより構成される。尚、検査内容については、説明の便宜上示している。 FIG. 2A is a schematic diagram illustrating an example of the contents of inspection result information of a shipping inspection, and FIG. 2B is a schematic diagram illustrating an example of the contents of inspection result information of a periodic inspection. Both the inspection result information of the shipping inspection and the inspection result information of the periodic inspection are composed of the product serial number, the inspection date / time, the manufacturing time identification flag, the characteristic value ID, and the inspection result value. The inspection contents are shown for convenience of explanation.
製品シリアル番号は、MFP100を個別に特定するための識別番号であり、MFP100毎に異なる。検査年月日時間は、出荷検査や定期検査が行われた日時である。製造時識別フラグは、検査結果が、出荷検査の検査結果であるか、定期検査の検査結果であるかを示すフラグである。製造時識別フラグがオンの場合は、検査結果が出荷検査の検査結果であることを示し、製造時識別フラグがオフの場合は、検査結果が定期検査の検査結果であることを示す。
The product serial number is an identification number for individually specifying the
特性値IDは、検査項目を示すIDであり、検査項目毎に異なる。この特性値IDは、例えば、英数字の組合せにより構成され、『プリンタ104のキャリッジ移動速度』を測定する検査項目には、「E11021」という特性値IDが割り当てられている。検査結果値は、特性値IDに対応する検査項目の検査結果を示す値であり、その値は、検査項目に関連する部品の故障や、部品の劣化等に伴って上昇したり、下降したり変化する。尚、検査結果値が故障や劣化等に伴ってどのように変化するかは、検査項目に応じて異なる。
The characteristic value ID is an ID indicating an inspection item, and is different for each inspection item. The characteristic value ID is composed of a combination of alphanumeric characters, for example, and a characteristic value ID “E11021” is assigned to an inspection item for measuring “the carriage moving speed of the
例えば、特性値ID「S21203」に対応する検査項目では、『スキャナ105のCIS(Contact Image Sensor)の下限出力値』が検査結果値として測定される。図2(a),(b)に示すように、例えば、出荷検査では、その検査結果値が「4500」と測定されているが、その後に行われた定期検査では、その検査結果値が「1989」と測定されている。この例では、値が急激に変化しているため、不具合が発生していると推測される。
For example, in the inspection item corresponding to the characteristic value ID “S2203”, “the lower limit output value of CIS (Contact Image Sensor) of the
本実施形態では、MFP100の生産工程において出荷検査が行われる場合、製造時検査処理(図8(a)参照)の中で、各種検査が実行される。そして、それらが終了すると、MFP100の製品シリアル番号と、出荷検査が行われた検査年月日時間と、製造時識別フラグと、各種の検査項目に対応する特定値IDおよび検査結果値とを含む検査結果情報が検査結果メモリ102cに記憶され、そして、製造時識別フラグがオンに設定される。
In the present embodiment, when a shipping inspection is performed in the production process of the
また、出荷検査が行われる場合、MFP100は、LANI/F109を介して、インターネット500と接続されており、出荷検査が終了すると、出荷検査の検査結果情報は、インターネット500を介して、MFP100から顧客管理サーバ300へ直接送信される。
When shipping inspection is performed, the
一方、ユーザのもとで定期検査が行われる場合は、メイン処理(図7(c))の中で、各種検査が行われ、それらが終了すると、出荷検査と同様に、検査結果情報が検査結果メモリ102cに記憶されるが、その後、製造時識別フラグはオフに設定される。また、ユーザのもとでは、MFP100は、USBI/F108を介して、PC200と接続されており、定期検査が終了すると、定期検査の検査結果情報は、PC200を介して、MFP100から顧客管理サーバ300へ送信される。
On the other hand, when a periodic inspection is performed under the user, various inspections are performed in the main process (FIG. 7C). Although stored in the result memory 102c, the manufacturing time identification flag is then set to OFF. Under the user, the
ここで、図1の説明に戻る。RAM103は、CPU101の処理に必要な情報を一時的に記憶する。プリンタ104は、インクジェット方式で画像の印刷を行う装置であり、スキャナ105は、CISを搭載した読取ユニットで画像を読み取る装置である。入力部106は、MFP100に指示や情報を入力するためのタッチパネルで構成され、LCD107の表示面に重ねて配置される。
Here, the description returns to FIG. The
USBI/F108は、USBケーブル(図示しない)介して接続される他の装置と通信を行うための装置であり、周知の装置で構成される。本実施形態では、PC200のUSBI/F207と通信可能に接続されている。LANI/F109は、インターネット500を介して他の装置と通信を行うための装置であり、周知の装置で構成される。LANI/F109と、インターネット500とが、LANケーブル(図示しない)等により電気的に接続されると、LANI/F109は、インターネット500を介して他の装置と通信可能な状態になる。
The USB I /
次に、PC200について説明する。PC200は、CPU201、ROM202、RAM203、ハードディスクドライブ(以下、「HDD」と称す)204、入力装置205、LCD206、USBI/F207、LANI/F208とを主に有し、これらはバスライン209を介して互いに接続されている。
Next, the
CPU201は、ROM202やHDD204に記憶される固定値やプログラムに従って、バスライン209により接続された各部を制御する。ROM202は、PC200の動作を制御するためのプログラムなどが格納されたメモリである。RAM203は、CPU201の処理に必要なデータなどを一時的に記憶するための読み書き可能なメモリである。
The
HDD204は、書換え可能な不揮発性の記憶装置であり、ドライバプログラム204aが格納される。ドライバプログラム204aは、PC200からMFP100を制御するための常駐プログラムである。PC200は、ドライバプログラム204aを介して、MFP100の設定を変更でき、また、印刷機能、スキャナ機能、FAX機能、コピー機能などを制御できる。
The
尚、PC200からMFP100を利用するためには、ユーザが事前に、MFP100のドライバプログラム204aをHDD204にインストールする必要があり、そのインストールが行われる場合には、後述するユーザ情報入力画面(図8(b)参照)が表示される。
In order to use the
詳細については後述するが、この画面では、例えば、MFP100の機種名、製品シリアル番号、ユーザ名、ユーザの住所、定期検査の実行の有無、印刷用途、印刷頻度など、MFP100を所有するユーザに関する各種情報(以下、「ユーザ情報」と称する)の入力がユーザに求められる。各種情報の入力が終了すると、PC200において後述する顧客情報が生成され、顧客情報は、インターネット500を介して、PC200から顧客管理サーバ300へ直接送信される。
Although details will be described later, on this screen, for example, the model name of the
また、ユーザ情報入力画面において、定期検査を実行すると選択された場合には、PC200からMFP100に対して、定期検査フラグ102bをオンに設定するよう指示が通知される。MFP100において、定期検査フラグ102bがオンに設定されると、定期検査が実行される度に、その定期検査の検査結果情報が、MFP100からPC200へ送信される。PC200は、定期検査の検査結果情報を受信した場合、その情報をそのままインターネット500を介して、顧客管理サーバ300へ転送する。
In addition, if it is selected on the user information input screen that the periodic inspection is to be executed, the
入力装置205は、PC200に指示や情報を入力するためのキーボードや、マウスで構成される。LCD206、USBI/F207、LANI/F208は、上述したLCD107、USBI/F108、LANI/F109と、それぞれ同様に構成される。
The
次に、顧客管理サーバ300について説明する。顧客管理サーバ300は、CPU301、ROM302、RAM303、HDD304、LANI/F305とを主に有し、これらはバスライン306を介して互いに接続されている。LANI/F305は、上述したLANI/F109と同様に構成される。尚、入力装置やLCDについては図示を省略している。
Next, the
CPU301は、ROM302やHDD304に記憶される固定値やプログラムに従って、バスライン306により接続された各部を制御する。ROM302は、顧客管理サーバ300の動作を制御するためのプログラムなどが格納されたメモリである。RAM303は、CPU301の処理に必要なデータなどを一時的に記憶するための読み書き可能なメモリである。
The
HDD304は、書換え可能な不揮発性の記憶装置である。HDD304には、プログラムエリア304aと、顧客情報テーブル304bと、修理担当特定テーブル304cと、製造時検査結果テーブル304dと、最新検査結果テーブル304eと、異常警告値テーブル304fと、交換部品テーブル304gとが設けられる。プログラムエリア304aには、後述する図9(a)に示す顧客情報受信処理、図9(b)に示す検査結果情報受信処理、図10に示す部品手配判定処理を実行する各プログラムが格納される。
The
顧客情報テーブル304bは、顧客情報を蓄積するテーブルである。顧客情報は、PC200において生成され、PC200から顧客管理サーバ300へ直接送信される。顧客管理サーバ300では、顧客情報が受信された場合に、その顧客情報が顧客情報テーブル304bに追加される。顧客情報テーブル304bは、PC200との通信に基づいて更新されるものであり、MFP100および在庫管理サーバ400とは関係なく更新される。ここで、図3(a)を参照して、顧客情報テーブル304bについて説明する。
The customer information table 304b is a table that accumulates customer information. Customer information is generated in the
図3(a)は、顧客情報テーブル304bの内容の一例を示す模式図である。顧客情報テーブル304bには、顧客情報が複数蓄積される。一の顧客情報は、製品シリアル番号と、ユーザ名と、ユーザ住所と、印刷用途と、印刷頻度とにより構成される。製品シリアル番号については、上述したので説明を省略する。ユーザ名は、製品シリアル番号に対応するMFP100を所有するユーザの氏名である。ユーザ住所は、そのユーザの住所であり、言い換えれば、製品シリアル番号に対応するMFP100の設置場所を意味する。
FIG. 3A is a schematic diagram showing an example of the contents of the customer information table 304b. A plurality of customer information is accumulated in the customer information table 304b. One customer information includes a product serial number, a user name, a user address, a printing application, and a printing frequency. Since the product serial number has been described above, the description thereof will be omitted. The user name is the name of the user who owns
印刷用途は、ユーザの主な印刷用途である。例えば、選択肢として、『写真印刷』や、『文書印刷』などが設けられており、その中から何れか一つが選択される。印刷頻度は、MFP100で印刷を行う頻度である。例えば、選択肢として、『高』、『普通』、『低』、『殆ど利用しない』などが設けられており、その中から何れか一つが選択される。尚、製品シリアル番号、ユーザ名、ユーザ住所のそれぞれは、PC200においてユーザにより入力され、印刷用途、印刷頻度のそれぞれは、PC200においてユーザにより選択される。
The printing application is the user's main printing application. For example, “photo printing” and “document printing” are provided as options, and one of them is selected. The printing frequency is a frequency at which the
ここで、図1の説明に戻る。修理担当特定テーブル304cは、MFP100の修理を担当する複数のサービスセンターの中から、ユーザのMFP100の修理を担当するセンターを特定するためのテーブルである。修理担当特定テーブル304cは、顧客管理サーバ300の管理者等により予め作成されたり、更新される。ここで、図3(b)を参照して、修理担当特定テーブル304cについて説明する。
Here, the description returns to FIG. The repair person specifying table 304 c is a table for specifying a center in charge of repairing the
図3(b)は、修理担当特定テーブル304cの内容の一例を示す模式図である。修理担当特定テーブル304cは、修理担当地区と、修理担当サービスセンターとにより構成される。 FIG. 3B is a schematic diagram showing an example of the contents of the repair charge specific table 304c. The repair charge identification table 304c is composed of a repair charge area and a repair charge service center.
修理担当地区は、例えば、都道府県や区や市等の単位で国内を複数のエリアに区分けした場合の各エリアを表す住所である。修理担当サービスセンターは、修理担当地区に設置されたMFP100の修理を担当すべきサービスセンターである。
The area in charge of repair is, for example, an address representing each area when the country is divided into a plurality of areas in units of prefectures, wards or cities. The repair service center is a service center that should be in charge of repair of the
ここで、図1の説明に戻る。製造時検査結果テーブル304dは、生産工程において各MFP100から出力される出荷検査の検査結果情報を蓄積するテーブルである。出荷検査の検査結果情報は、MFP100において生成され、MFP100から顧客管理サーバ300へ直接送信される。顧客管理サーバ300では、出荷検査の検査結果情報が受信された場合に、その検査結果情報が製造時検査結果テーブル304dに追加される。
Here, the description returns to FIG. The manufacturing inspection result table 304d is a table for accumulating inspection result information of shipping inspection output from each
製造時検査結果テーブル304dは、MFP100との通信に基づいて更新されるものであり、PC200および在庫管理サーバ400とは関係なく更新される。ここで、図3(a)を参照して、製造時検査結果テーブル304dについて説明する。
The manufacturing inspection result table 304d is updated based on communication with the
図4(a)は、製造時検査結果テーブル304dの内容の一例を示す模式図である。製造時検査結果テーブル304dは、特性値IDと、検査結果値と、製品シリアル番号と、検査年月日時間とにより構成される。ここで、特性値IDおよび検査結果値は、製品シリアル番号に対応するMFP100の出荷検査でなされた検査項目およびその検査結果を示し、検査年月日時間は、その出荷検査が行われた日時を示す。尚、特性値ID、検査結果値、製品シリアル番号、検査年月日時間については、上述したので説明を省略する。
FIG. 4A is a schematic diagram showing an example of the contents of the manufacturing inspection result table 304d. The manufacturing-time inspection result table 304d includes a characteristic value ID, an inspection result value, a product serial number, and an inspection date. Here, the characteristic value ID and the inspection result value indicate the inspection item and the inspection result made in the shipping inspection of the
ここで、図1の説明に戻る。最新検査結果テーブル304eは、ユーザ設定に応じてユーザの所有するMFP100から定期的に出力される定期検査の検査結果情報のうち、直近のものを蓄積するメモリである。定期検査の検査結果情報は、MFP100において生成され、PC200を介して、MFP100から顧客管理サーバ300へ送信される。
Here, the description returns to FIG. The latest inspection result table 304e is a memory that accumulates the latest inspection result information of the periodic inspection that is periodically output from the
顧客管理サーバ300では、定期検査の検査結果情報が受信された場合に、その定期検査が行われたMFP100の定期検査の検査結果情報が既に記憶されているかが確認され、既に記憶されている場合には、既に記憶されている定期検査の検査結果情報に代えて、今回受信した検査結果情報がテーブルに記憶される。一方、記憶されていない場合には、最新検査結果テーブル304eに追加される。
When the
最新検査結果テーブル304eは、PC200との通信に基づいて更新されるものであり、MFP100および在庫管理サーバ400とは関係なく更新される。ここで、図4(b)を参照して、最新検査結果テーブル304eについて説明する。
The latest inspection result table 304e is updated based on communication with the
図4(b)は、最新検査結果テーブル304eの内容の一例を示す模式図である。最新検査結果テーブル304eは、手配済フラグと、特性値IDと、検査結果値と、製品シリアル番号と、検査年月日時間とにより構成される。ここで、特性値IDおよび検査結果値は、製品シリアル番号に対応するMFP100の定期検査でなされた検査項目およびその検査結果を示し、検査年月日時間は、その定期検査が行われた日時を示す。尚、特性値ID、検査結果値、製品シリアル番号、検査年月日時間については、上述したので説明を省略する。
FIG. 4B is a schematic diagram illustrating an example of the contents of the latest inspection result table 304e. The latest inspection result table 304e includes an arranged flag, a characteristic value ID, an inspection result value, a product serial number, and an inspection date. Here, the characteristic value ID and the inspection result value indicate the inspection item and the inspection result made in the periodic inspection of the
手配済フラグは、特性値IDに対応する検査項目について、推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短いと判定された場合に、その異常の修理に必要な部品の手配を在庫管理サーバ400に対して指示したか否かを示すフラグである。
When it is determined that the remaining period until the estimated abnormality occurrence date TY is short for the inspection item corresponding to the characteristic value ID, the arrangement completed flag arranges parts necessary for repairing the abnormality in the
手配済フラグがオンの場合は、推定異常発生年月日TYに発生すると推定される異常の修理に必要な部品であって、特性値IDに対応する検査項目に関連する部品の手配を、在庫管理サーバ400に対して指示したことを示す。一方、手配済フラグがオフの場合は、特性値IDに対応する検査項目に関連する部品の手配を在庫管理サーバ400に対して指示していないことを示す。
When the arranged flag is on, the arrangement of parts related to the inspection item corresponding to the characteristic value ID, which is necessary for repairing the abnormality estimated to occur at the estimated abnormality occurrence date TY, is in stock. Indicates that the
特性値IDに対応する検査項目について、推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短いと判定された場合に、手配済フラグがオフであれば、その特性値IDに対応する手配済フラグがオンに設定され、特性値IDに対応する検査項目に関連する部品の手配が在庫管理サーバ400に対して指示される。一方、推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短いと判定された場合に、手配済フラグがオンであれば、既に、部品の手配がなされているので何もしない。尚、手配済フラグはオンに設定されると、その後、その手配済フラグに対応する製品シリアル番号のMFP100の修理が完了するまでオンに維持される。そして、例えば、修理担当者からその修理完了の通知を受けた場合に、管理者による手作業入力などによりオフに設定される。
If it is determined that the remaining period until the estimated abnormality occurrence date TY is short for the inspection item corresponding to the characteristic value ID, and the arranged flag is off, the arranged flag corresponding to the characteristic value ID is The
ここで、図1の説明に戻る。異常警告値テーブル304fは、特性値IDに対応する検査結果値が異常値であることを示す閾値である異常警告値Kを記憶するテーブルである。異常警告値Kは、特性値ID単位、即ち、検査項目単位で予め設定される。尚、特性値IDに対して既に設定されている異常警告値Kが更新される場合や、新たに異常警告値Kが追加される場合には、管理者等により、他の装置100,200,400とは関係なく更新される。異常警告値テーブル304fは、顧客管理サーバ300において、特性値IDに対応する推定異常発生年月日TYを算出するために用いられる。ここで、図5(a)を参照して、異常警告値テーブル304fについて説明する。
Here, the description returns to FIG. The abnormality warning value table 304f is a table that stores an abnormality warning value K that is a threshold value indicating that the inspection result value corresponding to the characteristic value ID is an abnormal value. The abnormality warning value K is preset in units of characteristic value IDs, that is, in units of inspection items. When the abnormality warning value K that has already been set for the characteristic value ID is updated or when a new abnormality warning value K is added, the administrator or the like can perform another
図5(a)は、異常警告値テーブル304fの内容の一例を示す模式図である。異常警告値テーブル304fは、特性値IDと、異常警告値Kとにより構成される。尚、特性値IDについては、上述したので説明を省略する。異常警告値Kは、特性値IDに対応する検査結果値が、故障や劣化等に伴ってどのように変化するかや、どのような範囲で変化するかなどの特性に応じて、上限値、下限値、値の範囲などが予め設定される。 FIG. 5A is a schematic diagram showing an example of the contents of the abnormality warning value table 304f. The abnormality warning value table 304f includes a characteristic value ID and an abnormality warning value K. Since the characteristic value ID has been described above, the description thereof is omitted. The abnormality warning value K is an upper limit value depending on characteristics such as how the inspection result value corresponding to the characteristic value ID changes due to failure, deterioration, etc., and in what range. A lower limit value, a range of values, etc. are preset.
例えば、特性値IDに対応する検査結果値が、部品の故障や劣化等に伴って上昇する場合には、上限値のみ設定され、故障や劣化等に伴って下降する場合には、下限値のみ設定される。また、故障や劣化等に伴って上昇または下降するなど変動する場合には、上限値および下限値(即ち、範囲)が設定される。この異常警告値Kは、特性値IDに対応する検査結果値から、推定異常発生年月日TYを算出するために用いられる。ここで、図5(b)を参照して、推定異常発生年月日TYの算出方法について説明する。尚、推定異常発生年月日TYの算出は、顧客管理サーバ300において行われる。
For example, when the inspection result value corresponding to the characteristic value ID rises due to a failure or deterioration of a component, only the upper limit value is set, and when the inspection result value falls due to failure or deterioration, only the lower limit value is set. Is set. Further, when the value fluctuates such as rising or falling due to failure or deterioration, an upper limit value and a lower limit value (that is, a range) are set. This abnormality warning value K is used to calculate the estimated abnormality occurrence date TY from the inspection result value corresponding to the characteristic value ID. Here, with reference to FIG.5 (b), the calculation method of presumed abnormality occurrence date TY is demonstrated. The estimated abnormality occurrence date TY is calculated in the
図5(b)は、推定異常発生年月日TYの算出方法の概略を説明するための概略図であり、縦軸に一の特性値IDについての検査結果値を示し、横軸に年月日を示している。本実施形態では、MFP100において生成された定期検査の検査結果情報が、PC200を介して、MFP100から顧客管理サーバ300に送信される。顧客管理サーバ300では、定期検査の検査結果情報が受信された場合に、今回受信した定期検査の検査結果情報と、その定期検査が行われたMFP100と同一のMFP100の出荷検査の検査結果情報と、異常警告値テーブル304fとを用いて、特性値ID(即ち、検査項目)ごとに、推定異常発生年月日TYを算出する。
FIG. 5B is a schematic diagram for explaining an outline of a method for calculating the estimated abnormality occurrence date TY, in which the vertical axis indicates the inspection result value for one characteristic value ID, and the horizontal axis indicates the year and month. Shows the day. In the present embodiment, the inspection result information of the periodic inspection generated in the
具体的には、まず、複数の特性値IDの中から、推定異常発生年月日TYを算出する特性値IDを一つ選択する。そして、出荷検査の検査結果情報の中から、選択された特性値IDに対応する検査結果値VAを抽出し、定期検査の検査結果情報の中から、選択された特性値IDに対応する検査結果値VBを抽出する。尚、説明の便宜上、出荷検査が行われた検査年月日時間のことを製造年月日TAと称し、今回の定期検査が行われた検査年月日時間のことを最新検査年月日TBと称する。 Specifically, first, one characteristic value ID for calculating the estimated abnormality occurrence date TY is selected from a plurality of characteristic value IDs. Then, the inspection result value VA corresponding to the selected characteristic value ID is extracted from the inspection result information of the shipping inspection, and the inspection result corresponding to the selected characteristic value ID from the inspection result information of the periodic inspection. The value VB is extracted. For convenience of explanation, the inspection date and time when the shipping inspection was performed is referred to as the manufacturing date TA, and the inspection date and time when the current periodic inspection was performed is the latest inspection date and time TB. Called.
そして、検査結果値VBおよび検査結果値VAの差分値と、最新検査年月日TBおよび製造年月日TAの差分値とに基づいて、検査結果値の推移を表す直線を算出し、その直線と、選択された特性値IDに対応する異常警告値Kとが交差する位置を特定する。そして、その特定した位置における年月日を推定異常発生年月日TYとして算出し、最新検査年月日TBから推定異常発生年月日TYまでの期間を待機期間Nとして算出する。尚、その他の特定値IDについても同様に、特性値ID単位で、推定異常発生年月日TYと、待機期間Nとを算出する。 Based on the difference value between the inspection result value VB and the inspection result value VA and the difference value between the latest inspection date TB and the manufacturing date TA, a straight line representing the transition of the inspection result value is calculated. And the position where the abnormal warning value K corresponding to the selected characteristic value ID intersects is specified. Then, the date at the specified position is calculated as the estimated abnormality occurrence date TY, and the period from the latest inspection date TB to the estimated abnormality occurrence date TY is calculated as the standby period N. For other specific value IDs, similarly, the estimated abnormality occurrence date TY and the standby period N are calculated for each characteristic value ID.
このように、本実施形態では、最新の定期検査の検査結果情報を用いて、推定異常発生年月日TYを算出するので、推定異常発生年月日TYを精度良く算出できる。また、同一のMFP100で生成された検査結果情報(出荷検査時および定期検査時に生成される情報)を用いて算出するので、MFP100の個体差により生じる誤差を抑制できる。従って、推定異常発生年月日TYの算出精度を向上させることができる。
Thus, in this embodiment, since the estimated abnormality occurrence date TY is calculated using the latest periodic inspection result information, the estimated abnormality occurrence date TY can be accurately calculated. In addition, since calculation is performed using inspection result information generated by the same MFP 100 (information generated at the time of shipping inspection and periodic inspection), errors caused by individual differences of the
ここで、図1の説明に戻る。交換部品テーブル304gは、MFP100の異常を解消する修理で交換すべき部品を、特性値IDごとに分類したテーブルである。交換部品テーブル304gは、MFP100の設計者等により予め作成される。尚、交換部品テーブル304gにおいて、特性値IDに対応する部品が変更される場合には、管理者等により、他の装置100,200,400とは関係なく更新される。交換部品テーブル304gは、在庫管理サーバ400に手配させる部品を特定するために、顧客管理サーバ300において用いられる。ここで、図6(a)を参照して、交換部品テーブル304gについて説明する。
Here, the description returns to FIG. The replacement part table 304g is a table in which parts to be replaced by repairs that eliminate the abnormality of the
図6(a)は、交換部品テーブル304gの内容の一例を示す模式図である。交換部品テーブル304gは、特性値IDと、交換部品名と、部品IDと、入手困難ランクと、修理フロー番号とにより構成される。尚、特性値IDについては、上述したので説明を省略する。交換部品名は、特性値IDに対応する検査項目で異常が発生した場合に、その異常を解消するために交換が必要な部品群のそれぞれの名称である。ここで、部品群とは、部品単体や、ユニット化された部品や、それらの組合せを意味する。部品IDは、交換部品名に対応する各部品の識別番号である。尚、部品には、その種類毎に、異なる識別番号が予め設定される。 FIG. 6A is a schematic diagram showing an example of the contents of the replacement part table 304g. The replacement part table 304g includes a characteristic value ID, a replacement part name, a part ID, a difficulty level, and a repair flow number. Since the characteristic value ID has been described above, the description thereof is omitted. The replacement part name is the name of each part group that needs to be replaced in order to eliminate the abnormality when an abnormality occurs in the inspection item corresponding to the characteristic value ID. Here, the part group means a single part, a unitized part, or a combination thereof. The component ID is an identification number of each component corresponding to the replacement component name. A different identification number is set in advance for each type of component.
入手困難ランクは、特性値IDに対応する部品群を、入手困難から入手容易までの3段階に分類した分類結果である。例えば、入手困難ランクとして、「A(入手困難)」、「B(普通)」、「C(入手容易)」の3つランクが設けられており、部品納期や組立納期などに応じて、3つのランクの何れか一つが部品群に対して予め設定される。修理フロー番号は、特性値IDに対応する検査項目の異常を解消する修理作業において、修理担当者が用いる手順書(以下、「修理フロー」と称す)を示す識別番号である。尚、修理フローには、その修理フロー毎に、異なる修理フロー番号が予め設定される。 The difficulty level is a classification result obtained by classifying a part group corresponding to the characteristic value ID into three levels from difficulty to availability. For example, three ranks of “A (difficult to obtain)”, “B (ordinary)”, and “C (easy to obtain)” are provided as difficulty ranks. Any one of the two ranks is preset for the component group. The repair flow number is an identification number indicating a procedure manual (hereinafter referred to as “repair flow”) used by a repair person in repair work for eliminating an abnormality in an inspection item corresponding to the characteristic value ID. In the repair flow, a different repair flow number is set in advance for each repair flow.
詳細については後述するが、この交換部品テーブル304gと、上述した製造時検査結果テーブル304dと、最新検査結果テーブル304eと、異常警告値テーブル304fとが用いられて、推定異常発生年月日TYが算出される。そして、その推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短いと判定されると、顧客管理サーバ300では、その異常の修理に必要な部品の手配を在庫管理サーバ400に指示するために、部品手配情報が生成され、その部品手配情報が在庫管理サーバ400に送信される。そして、在庫管理サーバ400では、その部品手配情報に基づいて部品の手配が行われる。
Although details will be described later, the replacement part table 304g, the above-described manufacturing inspection result table 304d, the latest inspection result table 304e, and the abnormality warning value table 304f are used to calculate the estimated abnormality occurrence date TY. Calculated. If it is determined that the remaining period up to the estimated abnormality occurrence date TY is short, the
ここで、図6(b)を参照して、部品手配情報について説明する。図6(b)は、部品手配情報の内容の一例を示す模式図である。部品手配情報は、製品シリアル番号と、ユーザ名と、ユーザ住所と、交換部品名と、部品IDと、修理フロー番号と、修理担当サービスセンターと、推定異常発生年月日TYとにより構成される。尚、それぞれの構成については、上述したので説明を省略する。 Here, the parts arrangement information will be described with reference to FIG. FIG. 6B is a schematic diagram showing an example of the contents of the parts arrangement information. The parts arrangement information includes a product serial number, a user name, a user address, a replacement part name, a part ID, a repair flow number, a repair service center, and an estimated abnormality occurrence date TY. . Since each configuration has been described above, a description thereof will be omitted.
ここで、図1の説明に戻る。次に、在庫管理サーバ400について説明する。在庫管理サーバ400は、CPU401、ROM402、RAM403、HDD404、LANI/F405とを主に有し、これらはバスライン406を介して互いに接続されている。LANI/F405は、上述したLANI/F109と同様に構成される。尚、入力装置やLCDについては図示を省略している。
Here, the description returns to FIG. Next, the
CPU401は、ROM402やHDD404に記憶される固定値やプログラムに従って、バスライン406により接続された各部を制御する。ROM402は、在庫管理サーバ400の動作を制御するためのプログラムなどが格納されたメモリである。RAM403は、CPU401の処理に必要なデータなどを一時的に記憶するための読み書き可能なメモリである。
The
HDD404は、書換え可能な不揮発性の記憶装置である。HDD404には、プログラムエリア404aと、在庫情報メモリ404bと、修理フロー蓄積メモリ404cとが設けられる。プログラムエリア404aには、後述する図11に示す部品手配情報受信処理を実行するプログラムが格納される。
The
在庫情報メモリ404bは、MFP100を構成する各部品の在庫状態を示す在庫情報が記憶されるメモリである。在庫情報は、MFP100を構成する各部品の部品名と、各部品に対応する部品IDと、各部品の在庫数とにより構成される。在庫情報メモリ404bは、部品の入庫や、部品の出庫や、顧客管理サーバ300との通信に基づいて更新される。
The
修理フロー蓄積メモリ404cは、各修理フロー番号に対応する修理フローのデータを蓄積するメモリである。修理フロー蓄積メモリ404cは、設計者などが修理フローを変更したり、新たな修理フローが作成された場合に更新されるものであり、MFP100、PC200、及び、顧客管理サーバ300とは関係なく更新される。次に、各装置100,200,300,400のフローチャートを順番に説明する。
The repair
図7は(a)は、MFP100のCPU101が実行する製造時検査処理を示すフローチャートである。製造時検査処理は、生産工程でなされる出荷検査を実行するための処理であり、生産工程において作業者により検査開始が指示された場合に実行される。まず、CPU101は、検査実行処理を実行する(S1)。
FIG. 7A is a flowchart showing a manufacturing inspection process executed by the
図7(b)は、MFP100のCPU101が実行する検査実行処理(S1)を示すフローチャートである。検査実行処理(S1)は、複数の検査項目について検査を実行し、その結果を示す検査結果情報を生成するための処理である。まず、CPU101は、複数の検査項目の中から実行する検査項目を一つ選択し(S11)、その検査項目について検査を実行し、検査結果値を算出する(S12)。次に、CPU101は、検査項目に対応する特性値IDを検査結果値に付加し、検査結果メモリ102cに記憶する(S13)。
FIG. 7B is a flowchart illustrating the inspection execution process (S1) executed by the
そして、CPU101は、全ての検査項目について検査を行ったかを判定し(S14)、S14の判定が否定される場合(S14:No)、S11の処理へ戻る。一方、S14の判定が肯定される場合(S14:Yes)、CPU101は、MFP100の製品シリアル番号と、現在の年月日時間と、製造時識別フラグと、特性値IDが付加された各検査結果値とを含む検査結果情報を生成して、検査結果メモリ102cに記憶し(S15)、本処理を終了する。尚、MFP100の製品シリアル番号は、例えば、フラッシュメモリ102の所定領域に予め格納されている。ここで、図7(a)の説明に戻る。
Then, the
S1の処理が終了したら、次に、CPU101は、検査結果メモリ102cに記憶されている検査結果情報に含まれる製造時識別フラグをオンに設定して(S2)、その検査結果情報を、直接、顧客管理サーバ300へ送信する(S3)。
When the processing of S1 is completed, the
図7(c)は、MFP100のCPU101が実行するメイン処理を示すフローチャートである。メイン処理は、ユーザのもとでMFP100の主要な処理を実行するための処理であり、MFP100の電源投入後、繰り返し実行される。まず、CPU101は、定期検査フラグ102bの設定指示をPC200から指示されたかを判定する(S21)。S21の判定が肯定される場合(S21:Yes)、CPU101は、そのPC200からの指示に応じて、定期検査フラグ102bの状態を設定し(S22)、S23の処理へ移行する。一方、S21の判定が否定される場合(S21:No)、S23の処理へ移行する。
FIG. 7C is a flowchart illustrating main processing executed by the
次に、CPU101は、定期検査フラグ102bがオンかを判定し(S23)、S23判定が否定される場合(S23:No)、S27の処理へ移行する。一方、S23の判定が肯定される場合(S23:Yes)、CPU101は、前回実行した定期検査から10日以上経過しているかを判定する(S24)。S24の判定が否定される場合(S24:No)、CPU101は、S27の処理へ移行する。一方、S24の判定が肯定される場合(S24:Yes)、検査実行処理(S1)を実行する。尚、検査結果メモリ102cに検査結果情報が記憶されている場合は、検査実行処理(S1)が終了すると、古い検査結果情報が今回の検査結果情報に上書きされる。
Next, the
次に、CPU101は、検査結果メモリ102cに記憶されている検査結果情報に含まれる製造時識別フラグをオフに設定して(S25)、その検査結果情報を、PC200へ送信する(S26)。そして、CPU101は、その他の処理として、MFP100を制御するための各処理を実行して(S27)、S21の処理に戻る。
Next, the
図8(a)は、PC200のCPU201が実行するMFP監視処理を示すフローチャートである。MFP監視処理は、MFP100から通知されてくる定期検査の検査結果情報や、PC200においてユーザにより入力されるユーザ情報を顧客管理サーバ300へ送信するための処理である。MFP監視処理は、ドライバプログラム204aに含まれる処理の一つであり、PC200の電源投入後、所定間隔毎(例えば、数秒毎)に実行される。まず、CPU201は、ドライバプログラム204aのインストール中に表示されるユーザ情報入力画面において、または、ユーザの指示に応じて表示されたユーザ情報入力画面において、ユーザ情報が入力されたかを判定する(S31)。S31の処理では、ユーザ情報が全て入力された状態で、後述する送信ボタンBT1が押下された場合に、ユーザ情報が入力されたと判定する。ここで、図8(b)を参照して、ユーザ情報入力画面について説明する。
FIG. 8A is a flowchart showing MFP monitoring processing executed by the
図8(b)は、ユーザ情報入力画面の一例を示す模式図である。ユーザ情報入力画面は、ドライバプログラム204aをユーザがインストールする場合や、ユーザ情報入力画面の表示をユーザが指示した場合などに、LCD206に表示される。ユーザ情報入力画面では、ユーザ情報の入力がユーザに求められる。
FIG. 8B is a schematic diagram illustrating an example of a user information input screen. The user information input screen is displayed on the
ユーザ情報入力画面は、機種名入力欄TB1と、製品シリアル番号入力欄TB2と、ユーザ名入力欄TB3と、ユーザ住所入力欄TB4と、定期検査の実行選択ボタンRB1と、印刷用途選択ボタンRB2と、印刷頻度選択ボタンRB3と、送信ボタンBT1と、キャンセルボタンBT2とを含む。 The user information input screen includes a model name input field TB1, a product serial number input field TB2, a user name input field TB3, a user address input field TB4, a periodic inspection execution selection button RB1, and a print application selection button RB2. , A print frequency selection button RB3, a send button BT1, and a cancel button BT2.
機種名入力欄TB1には、ユーザにより所有されるMFP100の機種名が入力される。製品シリアル番号入力欄TB2には、ユーザにより所有されるMFP100の製品シリアル番号が入力される。ユーザ名入力欄TB3には、MFP100を所有するユーザの氏名が入力される。ユーザ住所入力欄TB4には、ユーザの住所が入力される。
In the model name input field TB1, the model name of the
定期検査の実行選択ボタンRB1では、定期検査を実行させるか否かの2つの選択肢から、一方が選択される。印刷の用途選択ボタンRB2では、写真印刷および文書印刷の2つの選択肢から、印刷用途として一方が選択される。印刷頻度選択ボタンRB3では、毎日使用予定(利用頻度:高)、一週間に2〜3度使用予定(利用頻度:普通)、月に2〜3度使用予定(利用頻度:低)、及び、1年に2〜3度使用予定(利用頻度:殆ど利用しない)の4つの選択肢から、印刷頻度として一つが選択される。 The periodic inspection execution selection button RB1 selects one of two options for whether or not to execute the periodic inspection. In the printing application selection button RB2, one of the two printing options, photo printing and document printing, is selected as the printing application. In the print frequency selection button RB3, daily use schedule (use frequency: high), weekly use 2-3 times (use frequency: normal), month use 2-3 times (use frequency: low), and One is selected as the printing frequency from the four choices that are scheduled to be used 2-3 times a year (usage frequency: rarely used).
送信ボタンBT1は、ユーザ情報の入力完了を示すと共に、そのユーザ情報から生成される顧客情報を顧客管理サーバ300へ送信するためのボタンであり、キャンセルボタンBT2は、ユーザ情報の入力を中止を示すと共に、ユーザ情報入力画面を閉じるためのボタンである。
The send button BT1 is a button for indicating completion of input of user information and transmitting customer information generated from the user information to the
ここで、図8(a)の説明に戻る。S31の判定が肯定される場合(S31:Yes)、CPU201は、ユーザ情報入力画面における定期検査項目の選択内容に基づいて、定期検査フラグ102bの設定指示をMFP100へ送信する(S32)。具体的には、定期検査の実行選択ボタンRB1により、定期検査を実行させると選択された場合には、定期検査フラグ102bをオンに設定させる設定指示をMFP100へ送信する。一方、定期検査を実行しないと選択された場合には、定期検査フラグ102bをオフに設定させる設定指示をMFP100へ送信する。そして、CPU201は、ユーザにより入力されたユーザ情報から顧客情報を生成して、顧客管理サーバ300へ送信し(S33)、S34の処理へ移行する。
Here, the description returns to FIG. If the determination in S31 is affirmative (S31: Yes), the
S31の判定が否定される場合(S31:No)、CPU201は、S34の処理へ移行する。次に、CPU201は、MFP100から送信される定期検査の検査結果情報を受信したかを判定し(S34)、S34の判定が肯定される場合(S34:Yes)、今回受信した定期検査の検査結果情報を、そのまま顧客管理サーバ300へ転送して(S35)、S36の処理へ移行する。一方、S34の判定が否定される場合(S34:No)、S36の処理へ移行する。そして、その他の処理として、MFP100を制御するための各処理を実行し(S36)、本処理を終了する。
If the determination in S31 is negative (S31: No), the
図9(a)は、顧客管理サーバ300のCPU301が実行する顧客情報受信処理を示すフローチャートである。顧客情報受信処理は、PC200から送信されてくる顧客情報に基づいて、顧客情報テーブル304bを更新するための処理である。顧客情報受信処理は、顧客管理サーバ300において顧客情報が受信された場合に実行される。CPU301は、今回受信した顧客情報を、顧客情報テーブル304bに追加して(S41)、本処理を終了する。
FIG. 9A is a flowchart showing customer information reception processing executed by the
図9(b)は、顧客管理サーバ300のCPU301が実行する検査結果情報受信処理を示すフローチャートである。検査結果情報受信処理は、出荷検査または定期検査の検査結果情報を受信した場合に、それを製造時検査結果テーブル304dや、最新検査結果テーブル304eに記憶させるための処理である。検査結果情報受信処理は、受信した検査結果情報の種別(出荷検査や、定期検査)に関わらず、検査結果情報を受信した場合に実行される。
FIG. 9B is a flowchart showing the inspection result information receiving process executed by the
まず、CPU301は、今回受信した検査結果情報に含まれる製造時識別フラグがオンであるかを判定する(S51)。S51の判定が肯定される場合(S51:Yes)、CPU301は、今回受信した検査結果情報を、製造時検査結果テーブル304dに追加して(S52)、本処理を終了する。一方、S51の判定が否定される場合(S51:No)、CPU301は、今回受信した検査結果情報から製品シリアル番号を抽出して(S53)、その抽出した製品シリアル番号を含む検査結果情報が、最新検査結果テーブル304eに記憶されているかを判定する(S54)。
First, the
S54の判定が否定される場合(S54:No)、CPU301は、今回受信した検査結果情報を、最新検査結果テーブル304eに追加して(S55)、S57の処理へ移行する。一方、S54の判定が肯定される場合(S54:Yes)、今回受信した検査結果情報を、最新検査結果テーブル304eに記憶されている前回の検査結果情報に代えて記憶(上書き)して(S56)、S57の処理へ移行する。そして、CPU301は、部品手配判定処理を実行して(S57)、本処理を終了する。
When the determination in S54 is negative (S54: No), the
図10は、顧客管理サーバ300のCPU301が実行する部品手配判定処理を示すフローチャートである。部品手配判定処理は、特性値IDに対応する検査項目について推定異常発生年月日TYを算出し、その推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短い場合に、その異常の修理に必要な部品の手配を在庫管理サーバ400に指示するための処理である。
FIG. 10 is a flowchart showing parts arrangement determination processing executed by the
まず、CPU301は、複数の検査項目の中から、推定異常発生年月日TYを算出する検査項目を一つ選択して、その検査項目に対応する特性値IDを取得する(S61)。そして、CPU301は、今回取得した特性値IDに対応する異常警告値Kを、異常警告値テーブル304fから取得する(S62)。そして、図9のS53の処理で抽出した製品シリアル番号を用いて、そのMFP100を所有しているユーザの印刷用途および印刷頻度を、顧客情報テーブル304bから取得する(S63)。
First, the
次に、CPU301は、S63の処理で取得した印刷用途が何であるかを判定し(S64)、S64の判定において、写真印刷と判定された場合(S64:写真印刷)、S62の処理で取得した異常警告値Kに対し、補正係数α(0<α≦1)を乗算して異常警告値Kを補正する(S65)。一方、S64の判定において、文書印刷と判定された場合(S64:文書印刷)、S62の処理で取得した異常警告値Kに対し、補正係数β(α<β)を乗算して異常警告値Kを補正する(S66)。印刷ヘッドの駆動やインクの吐出量は、文書印刷よりも写真印刷の方が多くなる可能性が高いので、MFP100にかかる負担は写真印刷の方が大きくなり、異常の発生するおそれは写真印刷の方が高くなると予想される。そこで、例えば、「補正係数α<補正係数β」と設定し、写真印刷の場合は、文章印刷の場合よりも早期に、後述するS78〜S84の処理が実行されるようにし、部品の手配がより早く行われるようにする。
Next, the
次に、CPU301は、S63の処理で取得した印刷頻度が高であるかを判定し(S67)、S67の判定が肯定される場合(S67:Yes)、S65またはS66の処理で補正した異常警告値Kに対し、補正係数γ(0<γ≦1)を乗算して異常警告値Kを補正する(S68)。一方、S67の判定が否定される場合(S67:No)、S69の処理へ移行する。印刷頻度が低い場合よりも、印刷頻度が高い場合の方が、MFP100にかかる負担が大きくなるので、異常の発生するおそれが高い。そこで、利用頻度が高い場合は、補正係数γを乗算して、S78〜S84の処理が早期に実行されるようにし、部品の手配がより早く行われるようにする。
Next, the
次に、CPU301は、製造時検査結果テーブル304dおよび最新検査結果テーブル304eを構成するデータの中から、図9のS53の処理で抽出した製品シリアル番号と、S61の処理で取得した特性値IDとに対応づけられたデータを特定し、そのデータから製造年月日TAおよび最新検査年月日TBと、S61の処理で取得した特性値IDに対応する検査結果値VAおよび検査結果値VBとを取得する。そして、CPU301は、その取得した各値と、S62の処理で取得した異常警告値Kとを用いて、推定異常発生年月日TYを算出し(S69)、更に、最新検査年月日TBから推定異常発生年月日TYまでの期間を待機期間Nとして算出する(S70)。
Next, the
次に、CPU301は、交換部品テーブル304gから、S61の処理で取得した特性値IDに対応する交換部品の入手困難ランクを取得し(S71)、入手困難ランクが何であるかを判定する(S72)。S72の判定において、入手困難ランクが「A(入手困難)」の場合(S72:A)、準備期間Xを「45日」と設定し(S73)、入手困難ランクが「B(普通)」の場合(S72:B)、準備期間Xを「30日」と設定し(S74)、入手困難ランクが「C(入手容易)」の場合(S72:C)、準備期間Xを「15日」と設定する(S75)。
Next, the
次に、CPU301は、待機期間Nが準備期間X以下であるかを判定し(S76)、S76の判定が否定される場合(S76:No)、S85の処理へ移行する。一方、S76の判定が肯定される場合(S76:Yes)、最新検査結果テーブル304eを構成するデータの中から、図9のS53の処理で抽出した製品シリアル番号と、S61の処理で取得した特性値IDとに対応づけられたデータを特定し、そのデータに含まれる手配済フラグがオンであるかを判定する(S77)。
Next, the
S77の判定が肯定される場合は(S77:Yes)、既に、在庫管理サーバ400に対して部品手配情報が送信された場合なので、何もせずにS85の処理へ移行する。次に、CPU301は、全ての検査項目について、その検査項目に対応する特性値IDを取得したかを判定し(S85)、S85の判定が否定される場合(S85:No)、S61の処理に戻り、残りの検査項目について推定異常発生年月日TYを算出する。一方、S85の判定が肯定される場合(S85:Yes)、本処理を終了する。
If the determination in S77 is affirmative (S77: Yes), since the parts arrangement information has already been transmitted to the
また、S77の判定において、手配済フラグがオフである場合(S77:No)、CPU301は、そのオフの手配済フラグをオンに設定し(S78)、交換部品テーブル304gの中から、S61の処理で取得した特性値IDに対応する交換部品名と、部品IDとを特定する(S79)。次に、CPU301は、顧客情報テーブル304bの中から、図9のS53の処理で抽出した製品シリアル番号に対応するユーザ名と、ユーザ住所とを特定する(S80)。そして、そのユーザ住所と、修理担当特定テーブル304cの修理担当地区とを比較し、ユーザ住所に関し修理担当地区が合致する修理担当サービスセンターを特定する(S81)。
If it is determined in S77 that the arranged flag is off (S77: No), the
次に、CPU301は、交換部品テーブル304gの中から、S61の処理で取得した特性値IDに対応する修理フロー番号を特定し(S82)、そして、在庫管理サーバ400に対して部品の手配を指示するために、S79〜82の処理で特定した各種情報を含む部品手配情報を生成する(S83)。そして、その生成した部品手配情報を在庫管理サーバ400へ送信し(S84)、S85の処理へ移行する。
Next, the
図10に示す部品手配判定処理によれば、待機期間Nが準備期間X以下となって、推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短くなり、MFP100において異常が発生するおそれが高くなった場合に、部品手配情報を在庫管理サーバ400へ送信できるので、その異常を解消する修理に必要な部品を予め手配できる。よって、MFP100の修理依頼をユーザから受ける前に、その修理作業に用いる部品を手配できるので、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間を短縮できる。
According to the parts arrangement determination process shown in FIG. 10, the waiting period N is equal to or shorter than the preparation period X, the remaining period until the estimated abnormality occurrence date TY is shortened, and there is a high possibility that an abnormality will occur in the
また、S72〜S75の処理では、交換部品の入手困難ランクが高いほど(入手困難であるほど)、準備期間Xを長く設定し、入手困難ランクが低いほど(入手容易であるほど)、準備期間Xを短く設定している。よって、交換部品の入手が困難であるほど、その部品をより早く手配できるので、入手の困難な部品であっても、遅延のないように準備できる。従って、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間をより短縮できるので、修理作業を早く開始できる。故に、MFP100の修理期間をより短縮できる。また、交換部品の入手が容易であるほど、その部品をより遅く手配できるので、在庫として保有される部品数が増加することを抑制できる。よって、推定異常発生年月日TYに発生が推定される異常の発生前に、その異常を解消する修理に必要な部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できる。
Further, in the processes of S72 to S75, the higher the difficulty level of obtaining replacement parts (the harder it is to obtain), the longer the preparation period X is set; X is set short. Therefore, the more difficult it is to obtain a replacement part, the earlier the part can be arranged. Therefore, even a part that is difficult to obtain can be prepared without delay. Therefore, since the period from the receipt of the repair request from the user to the preparation of the parts used for the repair work can be further shortened, the repair work can be started quickly. Therefore, the repair period of
また、S64〜S66の処理により、ユーザの印刷用途に応じて、異常警告値Kを補正できる。また、S67,S68の処理により、ユーザの印刷頻度に応じて、異常警告値Kを補正できる。これらの補正により、異常の発生するおそれが高いほど、交換部品をより早く手配できるので、仮に異常が早期に発生しても、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間をより短縮できる。
Further, the abnormality warning value K can be corrected according to the printing application of the user by the processing of S64 to S66. Further, the abnormality warning value K can be corrected according to the printing frequency of the user by the processes of S67 and S68. With these corrections, replacement parts can be arranged more quickly as the risk of anomalies increases. Therefore, even if an anomaly occurs early, after receiving a repair request from the user, preparing parts for repair work Can shorten the period until Therefore, since the repair work can be started early, the repair period of the
また、本実施形態では、MFP100ではなく、在庫管理サーバ300において、推定異常発生年月日TYの算出や、推定異常発生年月日TYに発生が推定される異常の修理に必要な部品の特定や、部品手配情報の生成や、その部品手配情報の出力を行っている。よって、MFP100にかかる負担を軽減できる。
In this embodiment, the
図11は、在庫管理サーバ400のCPU401が実行する部品手配情報受信処理を示すフローチャートである。部品手配情報受信処理は、部品手配情報により指示される部品を手配するための処理であり、顧客管理サーバ300から送信されてくる部品手配情報を受信した場合に実行される。まず、CPU401は、今回受信した部品手配情報に含まれる部品IDを全て抽出し(S91)、その抽出した部品IDの中から、部品IDを一つ選択する(S92)。
FIG. 11 is a flowchart showing parts arrangement information reception processing executed by the
次に、CPU401は、その選択した部品IDに対応する部品が在庫として有るかを、在庫情報メモリ404bに記憶される在庫情報に基づいて判定する(S93)。S93の判定が肯定される場合(S93:Yes)、CPU401は、S92の処理で選択した部品IDに対応する部品を、在庫から割り当てて確保し(S94)、S96の処理へ移行する。尚、部品の確保に伴って、在庫情報メモリ404bの在庫情報も更新する。一方、S93の判定が否定される場合(S93:No)、S92の処理で選択した部品IDに対応する部品を、部品メーカーに対して発注する(S95)。
Next, the
このように、部品を調達する場合に、在庫に有るものは在庫から確保して発注せず、在庫のないものは発注する。よって、利用予定のない部品が増加して、不要な在庫が増加することを抑制できるので、部品の保管スペースが広がることを抑制できる。 In this way, when parts are procured, those that are in stock are secured from the stock and are not ordered, and those that are not in stock are ordered. Therefore, it is possible to suppress an increase in the number of parts that are not scheduled to be used and an increase in unnecessary inventory, thereby suppressing an increase in the storage space for the parts.
次に、S91の処理で抽出した全ての部品IDについて、在庫確認を行ったかを判定する(S96)。S96の判定が否定される場合(S96:No)、CPU401は、S92の処理に戻り、残りの部品IDに対応する各部品について、在庫確認を行う。
Next, it is determined whether inventory confirmation has been performed for all component IDs extracted in the process of S91 (S96). When the determination in S96 is negative (S96: No), the
一方、S96の判定が肯定される場合(S96:Yes)、今回受信した部品手配情報から、修理フロー番号と、修理担当サービスセンターとを抽出する(S97)。そして、CPU401は、今回受信した部品手配情報により指示される全部品と、修理フロー番号に対応する修理フローのデータと、今回受信した部品手配情報とが、推定異常発生年月日TYに、修理担当サービスセンターへ届くように、配送を予約する(S98)。尚、修理フローのデータは、修理フロー蓄積メモリ404cから取得する。そして、本処理を終了する。
On the other hand, if the determination in S96 is affirmative (S96: Yes), the repair flow number and the repair service center are extracted from the component arrangement information received this time (S97). Then, the
図11に示す部品手配情報受信処理によれば、顧客管理サーバ300から送信されてくる部品手配情報に基づいて、手配の必要な部品や、その部品の配送先や、部品に対応する修理フローを特定でき、各部品や修理フローのデータの配送を手配できる。即ち、部品手配情報には、「製品シリアル番号」、「ユーザ名」、「ユーザ住所」、「交換部品名」、「部品ID」、「修理フロー番号」、「修理担当サービスセンター」、「推定異常発生年月日TY」とが含まれている。
According to the parts arrangement information reception process shown in FIG. 11, based on the parts arrangement information transmitted from the
そして、部品手配情報の「交換部品名」または「部品ID」から、手配すべき部品を特定でき、部品手配情報の「ユーザ住所」または「修理担当サービスセンター」から、ユーザが修理依頼する予定のMFP100の修理を担当するサービスセンターを特定できる。よって、MFP100の修理依頼をユーザから受ける前に、その修理に必要な部品を修理担当のサービスセンターへ予め配送できるように準備、又は、配送できる。従って、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の配送準備が整うまでの期間や、サービスセンターにおいて修理作業に用いる部品が整うまでの期間をより短縮できる。故に、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間をより短縮できる。
Then, the parts to be arranged can be specified from the “replacement part name” or “part ID” of the parts arrangement information, and the user will request repair from the “user address” or “repair service center” of the parts arrangement information. The service center in charge of repair of the
また、部品手配情報の「修理フロー番号」から、異常を解消する修理作業で修理担当者が用いる手順書を特定できるので、手順書データや手順書を準備でき、それを修理担当のサービスセンターへ予め配送できるように準備、又は、配送できる。よって、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる手順書の準備が、サービスセンターや、サービスセンターの修理担当者において整うまでの期間を短縮できる。従って、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間をより短縮できる。
Also, from the “repair flow number” in the parts arrangement information, the procedure manual used by the repair staff can be identified in the repair work to resolve the anomaly, so the procedure manual data and the procedure manual can be prepared and sent to the repair service center It can be prepared or delivered so that it can be delivered in advance. Therefore, it is possible to shorten the period from when the repair request is received from the user until the preparation of the procedure manual used for the repair work is completed by the service center or the repair person in charge of the service center. Therefore, since the repair work can be started early, the repair period of the
また、部品を調達する場合に、在庫にないものを発注できるので、利用予定のない部品が増加して、不要な在庫が増加することを抑制できる。よって、推定異常発生年月日TYに発生が推定される異常の発生前に、その異常を解消する修理に必要な部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できる。 In addition, when parts are procured, it is possible to place an order that is not in stock. Therefore, it is possible to suppress an increase in the number of parts that are not scheduled to be used and an unnecessary inventory. Therefore, before the occurrence of an abnormality that is estimated to occur on the estimated abnormality occurrence date TY, by arranging in advance parts necessary for repairing the abnormality, it is possible to suppress an increase in the storage space for the parts.
上記実施形態において、検査結果値が機能情報の一例であり、部品IDまたは交換部品名が部品情報の一例であり、部品手配情報が手配情報一例である。製品シリアル番号が識別情報の一例であり、ユーザ住所が設置エリア情報の一例である。修理担当サービスセンターが修理担当情報の一例であり、修理フロー番号が手順書情報の一例である。入手困難ランクが入手困難情報の一例であり、印刷用途や印刷頻度が予測情報の一例である。 In the above embodiment, the inspection result value is an example of function information, the part ID or replacement part name is an example of part information, and the part arrangement information is an example of arrangement information. The product serial number is an example of identification information, and the user address is an example of installation area information. The repair service center is an example of repair service information, and the repair flow number is an example of procedure manual information. An acquisition difficulty rank is an example of difficult acquisition information, and a printing use and a printing frequency are examples of prediction information.
以上、実施形態に基づき本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良変更が可能であることは容易に推察できるものである。 Although the present invention has been described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various improvements and modifications can be easily made without departing from the spirit of the present invention. Can be inferred.
例えば、上記実施形態で挙げた具体的数値は一例であり、他の数値を採用することは当然可能である。具体的には、異常警告値Kや、準備期間Nや、補正係数α〜γなどは、適宜決めれば良い。 For example, the specific numerical values given in the above embodiment are merely examples, and other numerical values can naturally be adopted. Specifically, the abnormality warning value K, the preparation period N, the correction coefficients α to γ, and the like may be determined as appropriate.
また、上記実施形態では、顧客管理サーバ300において、ユーザの印刷用途や印刷頻度に応じて、異常警告値Kに対し補正係数α〜γを乗算することで異常警告値Kを補正しているが、補正後の異常警告値Kを予めテーブル等に記憶させておき、用いても良い。
In the above embodiment, the
また、上記実施形態では、顧客管理サーバ300において、ユーザの印刷用途や印刷頻度を条件として異常警告値Kを補正しているが、ユーザの印刷用途、印刷頻度、及び、交換部品の入手困難ランクの何れを条件として、異常警告値Kを補正しても良い。尚、入手困難ランクを条件として、異常警告値Kを補正する場合は、入手困難ランクが高い(入手困難)ほど、図10のS76の判定においてYesへ分岐され易くなるように、異常警告値Kの上限値や下限値を補正する。この補正により、異常の発生するおそれが高いほど、交換部品をより早く手配できるので、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間をより短縮できる。よって、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間をより短縮できる。
In the above-described embodiment, the abnormality warning value K is corrected on the condition of the user's printing application and printing frequency in the
また、上記実施形態では、顧客管理サーバ300において、交換部品の入手困難ランクを条件として準備期間Xを変化させているが、ユーザの印刷用途、印刷頻度、及び、交換部品の入手困難ランクの何れを条件として、準備期間Xを変化させても良い。尚、ユーザの印刷用途を条件として、準備期間Xを変化させる場合は、写真印刷の場合の方が文書印刷の場合よりも、準備期間Xが短くなるように設定し、写真印刷の場合の方が、S76の判定においてYesへ分岐され易くなるようにする。また、印刷頻度を条件として、準備期間Xを変化させる場合は、印刷頻度が高いほど、準備期間Xが短くなるように設定し、S76の判定においてYesへ分岐され易くなるようにする。このように構成することで、異常の発生するおそれが高いほど、交換部品をより早く手配できるので、ユーザからの修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間をより短縮できる。よって、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間をより短縮できる。
In the above embodiment, in the
また、上記実施形態では、顧客管理サーバ300において、推定異常発生年月日TYを算出する場合に、生産工程で得られた出荷検査の検査結果情報と、最新の定期検査で得られた検査結果情報とを用いて、推定異常発生年月日TYを算出している。これに対し、生産工程で得られた出荷検査の検査結果情報の代わりに、初回の定期検査で得られた検査結果情報や、初期の定期検査で得られた検査結果情報などを保存しておき、その保存した検査結果情報と、最新の定期検査で得られた検査結果情報とを用いて、推定異常発生年月日TYを算出しても良い。また、生産工程で得られた出荷検査の検査結果情報、最新の定期検査で得られた検査結果情報、及び、最新より古い定期検査で得られた検査結果情報のうち、2以上の検査結果情報を用いて、推定異常発生年月日TYを算出しても良い。より多くの検査結果情報を用いて、推定異常発生年月日TYを算出することで、算出の精度を向上させることができる。
Moreover, in the said embodiment, when calculating the estimated abnormality occurrence date TY in the
また、上記実施形態では、顧客管理サーバ300から在庫管理サーバ400へ送信する部品手配情報の中に、MFP100の設置場所を特定できる情報を含めるために、顧客管理サーバ300において、顧客情報テーブル304bに「ユーザ住所」を記憶させている。これに対し、「ユーザ住所」代えて、又は、「ユーザ住所」に加えて、「ユーザ住所に対応する郵便番号」や「ユーザの電話番号」や所定の地域ごとに予め定めた「エリアコード」などを記憶させても良い。その場合、「ユーザ住所に対応する郵便番号」や「ユーザの電話番号」や「エリアコード」が、設置エリア情報の一例に対応する。このように構成した場合も、MFP100の設置場所を特定できる。
また、「ユーザ住所」に代えて、又は、「ユーザ住所」に加えて、その「ユーザ住所」に対応する「修理担当サービスセンター」や、その修理担当サービスセンターにおける「修理担当者」を記憶させても良い。その場合、「修理担当サービスセンター」や「修理担当者」が、修理担当情報の一例に対応する。このように、「修理担当サービスセンター」や「修理担当者」を記憶させておけば、部品手配情報の中に、「修理担当サービスセンター」や「修理担当者」を含められる。よって、在庫管理サーバ400では、部品手配情報の中の「修理担当サービスセンター」や「修理担当者」から、ユーザが修理依頼する予定のMFP100の修理を担当するサービスセンターや修理担当者を特定できる。従って、MFP100の修理依頼をユーザから受ける前に、その修理に必要な部品をサービスセンターや修理担当者へ予め配送できるように準備、又は、配送できる。その結果、修理作業を早く開始できるので、MFP100の修理期間をより短縮できる。
In the above embodiment, in order to include information that can specify the installation location of the
Also, instead of “user address” or in addition to “user address”, “repair service center” corresponding to the “user address” and “repair staff” at the repair service center are stored. May be. In this case, “repair service center” and “repair staff” correspond to an example of repair service information. If the “repair service center” and “repair person” are stored in this way, the “repair service center” and “repair person” can be included in the parts arrangement information. Therefore, the
また、上記実施形態では、MFP100で生成された定期検査の検査結果情報を、PC200を介して、MFP100から顧客管理サーバ300へ送信しているが、MFP100がインターネット500に接続されている場合には、MFP100から顧客管理サーバ300へ直接送信させても良い。
In the above embodiment, the inspection result information of the periodic inspection generated by the
また、上記実施形態では、顧客管理サーバ300と、在庫管理サーバ400とがそれぞれ別体に設けられているが、一体のサーバとして構成しても良い。
In the above embodiment, the
また、上記実施形態では、出荷検査の検査結果情報と、定期検査の検査結果情報とから、所定の特定値IDに対応する検査結果値をそれぞれ取得し、その取得した2つの検査結果値の推移を表す直線を算出し、推定異常発生年月日TYを算出しているが、他の手法を用いて、推定異常発生年月日TYを算出しても良い。例えば、3個以上の検査結果情報を用いて、3個以上の検査結果値の推移を表す近似直線や近似曲線を算出して、推定異常発生年月日TYを算出しても良い。 In the above embodiment, the inspection result value corresponding to the predetermined specific value ID is acquired from the inspection result information of the shipping inspection and the inspection result information of the periodic inspection, and the transition of the two acquired inspection result values is obtained. Although the estimated abnormality occurrence date TY is calculated by calculating a straight line representing the estimated abnormality occurrence date, the estimated abnormality occurrence date TY may be calculated using another method. For example, the estimated abnormality occurrence date TY may be calculated by calculating an approximate line or an approximate curve representing a transition of three or more test result values using three or more test result information.
また、上記実施形態では、MFP100について推定異常発生年月日TYを算出し、その推定異常発生年月日TYまでの残り期間が短い場合に、その異常の修理に必要な部品を予め手配する場合の一実施形態について説明したが、MFP100に限らず、他の装置についても適用できる。
<手段>
技術的思想1の修理支援サーバは、特定の機能について検査を実行し、その機能の検査結果を示す機能情報を含む検査結果情報を出力する多機能周辺装置の修理作業を支援するものであって、前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段とを備えている。
技術的思想2の修理支援サーバは、技術的思想1において、前記検査結果情報は、複数の前記多機能周辺装置を個別に識別する識別情報を含み構成され、前記識別情報に対応づけて多機能周辺装置の設置エリアを示す設置エリア情報を記憶する設置情報記憶手段と、その設置情報記憶手段に記憶されている設置エリア情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する設置エリア情報を取得する設置エリア情報取得手段とを備え、前記出力手段は、前記設置エリア情報取得手段により取得される設置エリア情報を含む手配情報を出力するものである。
技術的思想3の修理支援サーバは、技術的思想2において、前記設置エリア情報は、前記設置エリアに対応する修理担当を示す修理担当情報を含み構成されている。
技術的思想4の修理支援サーバは、技術的思想1から3の何れかにおいて、前記特定の機能の異常を解消するための修理作業で用いる作業手順書を示す手順書情報を記憶する手順書情報記憶手段と、その手順書情報記憶手段に記憶される手順書情報の中から、前記推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に対応する手順書情報を取得する手順書情報取得手段とを備え、前記出力手段は、前記手順書情報取得手段により取得される手順書情報を含む手配情報を出力するものである。
技術的思想5の修理支援サーバは、技術的思想1から4の何れかにおいて、前記部品特定手段により特定される部品に対応づけてその部品の入手困難さの程度を示す入手困難情報を記憶する入手困難情報記憶手段と、その入手困難情報記憶手段に記憶されている入手困難情報の中から、前記部品特定手段により特定される部品に対応する入手困難情報を取得する入手困難情報取得手段と、前記入手困難情報取得手段により取得される入手困難情報の示す入手困難さの程度が高いほど、前記所定期間を長く設定する第1調整手段とを備えている。
技術的思想6の修理支援サーバは、技術的思想1から5の何れかにおいて、前記部品特定手段により特定される部品に対応づけてその部品の入手困難さの程度を示す入手困難情報を記憶する入手困難情報記憶手段と、その入手困難情報記憶手段に記憶されている入手困難情報の中から、前記部品特定手段により特定される部品に対応する入手困難情報を取得する入手困難情報取得手段と、前記入手困難情報取得手段により取得される入手困難情報の示す入手困難さの程度が高いほど、前記推定手段に前記異常発生時期を繰り上げて推定させる第2調整手段とを備えている。
技術的思想7の修理支援サーバは、技術的思想1から6の何れかにおいて、前記多機能周辺装置についてユーザにより予測された使用状況を示す予測情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応づけて記憶する予測情報記憶手段と、その予測情報記憶手段に記憶されている予測情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する予測情報を取得する予測情報取得手段と、その予測情報取得手段により取得される予測情報の使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が大きいほど、前記所定期間を長く設定する第3調整手段とを備えている。
技術的思想8の修理支援サーバは、技術的思想1から7の何れかにおいて、前記多機能周辺装置についてユーザにより予測された使用状況を示す予測情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応づけて記憶する予測情報記憶手段と、その予測情報記憶手段に記憶されている予測情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する予測情報を取得する予測情報取得手段と、その予測情報取得手段により取得される予測情報の使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が大きいほど、前記推定手段に前記異常発生時期を繰り上げて推定させる第4調整手段とを備えている。
技術的思想9の修理支援サーバは、技術的思想1から8の何れかにおいて、前記多機能周辺装置は、前記特定の機能についての検査の実行と、複数の前記多機能周辺装置を個別に識別する識別情報および前記機能情報を含む検査結果情報の出力とを繰り返すように構成されており、前記修理支援サーバは、生産工程において前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を記憶する検査結果情報記憶手段を備え、前記推定手段は、前記検査結果情報記憶手段に記憶される検査結果情報のうち前記取得手段により取得される検査結果情報と同一の識別情報を含む検査結果情報と、前記取得手段により取得される検査結果情報との各機能情報に基づいて、前記異常発生時期を推定するものである。
技術的思想10の修理支援サーバは、技術的思想1から9の何れかにおいて、前記出力手段より出力される手配情報の部品情報により示される部品について在庫の有無を判定する在庫判定手段と、その在庫判定手段により在庫が無いと判定される場合に、前記部品情報により示される部品を発注する部品発注手段とを備えている。
<効果>
技術的思想1の修理支援サーバによれば、推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過しており、多機能周辺装置において特定の機能に異常が発生するおそれがある場合に、その異常の修理作業で交換される部品を示す部品情報を含む手配情報が出力される。よって、その異常の修理作業に用いる部品を、その手配情報に基づき予め手配できるので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その修理作業に用いる部品を手配できる。従って、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。故に、多機能周辺装置の修理期間を短縮できるという効果がある。
また、多機能周辺装置ではなく修理支援サーバにおいて、異常発生時期の推定や、修理作業で交換される部品の特定や、手配情報の出力を行うので、多機能周辺装置にかかる負担を軽減できるという効果がある。
技術的思想2の修理支援サーバによれば、技術的思想1の奏する効果に加え、多機能周辺装置の設置エリアを示す設置エリア情報を含む手配情報が出力されるので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その多機能周辺装置の設置エリアに向けて、修理作業に用いる部品を配送できるように準備できる。よって、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の配送準備が完了するまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
技術的思想3の修理支援サーバによれば、技術的思想2の奏する効果に加え、設置エリア情報には、設置エリアに対応する修理担当を示す修理担当情報が含まれているので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その多機能周辺装置の修理担当に対して、修理作業に用いる部品を予め配送できる。よって、修理依頼を受けてから、修理担当において修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
技術的思想4の修理支援サーバによれば、技術的思想1から3の何れかの奏する効果に加え、異常を解消するための修理作業で用いる作業手順書を示す手順書情報を含む手配情報が出力されるので、多機能周辺装置の修理依頼を受ける前に、その修理作業に用いる作業手順書を手配できる。よって、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる作業手順書の準備が整うまでの期間を短縮できるので、修理作業を早く開始できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
技術的思想5の修理支援サーバによれば、技術的思想1から4の何れかの奏する効果に加え、異常の修理作業で交換される部品の入手が困難であるほど、所定期間が長く設定されるので、部品の入手が困難であるほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、入手の困難な部品であっても、遅延のないように準備できるので、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。また、部品の入手が容易であるほど、修理作業に用いる部品をより遅く手配できるので、修理作業に用いる部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できるという効果がある。
技術的思想6の修理支援サーバによれば、技術的思想1から5の何れかの奏する効果に加え、異常の修理作業で交換される部品の入手が困難であるほど、推定手段により異常発生時期が繰り上げて推定されるので、部品の入手が困難であるほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、入手の困難な部品であっても、遅延のないように準備できるので、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。また、部品の入手が容易であるほど、修理作業に用いる部品をより遅く手配できるので、修理作業に用いる部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できるという効果がある。
技術的思想7の修理支援サーバによれば、技術的思想1から6の何れかの奏する効果に加え、ユーザにより予測された使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が高いほど、所定期間が長く設定されるので、異常が発生するおそれが高いほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、仮に異常が早期に発生したとしても、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
技術的思想8の修理支援サーバによれば、技術的思想1から7の何れかの奏する効果に加え、ユーザにより予測された使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が高いほど、推定手段により異常発生時期が繰り上げて推定されるので、異常が発生するおそれが高いほど、修理作業に用いる部品をより早く手配できる。よって、仮に異常が早期に発生したとしても、修理依頼を受けてから、修理作業に用いる部品の準備が整うまでの期間を短縮できる。従って、多機能周辺装置の修理期間をより短縮できるという効果がある。
技術的思想9の修理支援サーバによれば、技術的思想1から8の何れかの奏する効果に加え、一の多機能周辺装置について異常発生時期を推定する場合に、同一の多機能周辺装置から出力された検査結果情報であって、出力タイミングが異なるものを複数用いて推定できるので、多機能周辺装置の個体差により生じる誤差を抑制できる。また、多機能周辺装置から直近に出力された検査結果情報を用いて推定するので、異常発生時期を精度良く推定できる。よって、推定の精度を向上させることができるという効果がある。
技術的思想10の修理支援サーバによれば、技術的思想1から9の何れかの奏する効果に加え、異常の修理作業で交換される部品のうち在庫の無い部品を発注できるので、不要な在庫が増加することを抑制できる。よって、修理作業に用いる部品を予め手配することにより、部品の保管スペースが広がることを抑制できるという効果がある。
Further, in the above embodiment, when the estimated abnormality occurrence date TY is calculated for the
<Means>
The repair support server of the technical idea 1 supports the repair work of the multi-function peripheral device that executes the inspection for a specific function and outputs the inspection result information including the function information indicating the inspection result of the function. The acquisition means for acquiring the inspection result information output from the multi-function peripheral device, and the abnormality occurrence time when the abnormality occurs in the specific function based on the function information of the inspection result information acquired by the acquisition means Estimating means for estimating, parts identifying means for identifying parts to be replaced in repair work according to an abnormality expected to occur at the time of occurrence of the abnormality estimated by the estimating means, and occurrence of abnormality estimated by the estimating means Output means for outputting arrangement information including part information indicating a part specified by the part specifying means when a predetermined period of time has passed.
In the
In the
The technical support 4 repair support server stores the procedure manual information indicating the procedure manual used in the repair work for eliminating the abnormality of the specific function in any one of the technical ideas 1 to 3. Procedure manual information for acquiring the procedure manual information corresponding to the abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimating means from the storage means and the procedure manual information stored in the procedure manual information storage means Acquisition means, and the output means outputs arrangement information including procedure manual information acquired by the procedure manual information acquisition means.
The repair support server of the technical idea 5 stores, in any of the technical ideas 1 to 4, hard-to-find information indicating the degree of difficulty in obtaining the part in association with the part specified by the part specifying means. The difficulty acquisition information storage means, and the difficulty acquisition information acquisition means for acquiring the difficulty acquisition information corresponding to the part specified by the parts identification means from the difficulty acquisition information stored in the difficulty acquisition information storage means, The first adjustment means for setting the predetermined period longer as the degree of difficulty of acquisition indicated by the difficulty of acquisition information acquired by the difficulty of acquisition information acquisition means is higher.
The repair support server of the technical idea 6 stores, in any of the technical ideas 1 to 5, hard-to-acquire information indicating the degree of difficulty in obtaining the part in association with the part specified by the part specifying unit. The difficulty acquisition information storage means, and the difficulty acquisition information acquisition means for acquiring the difficulty acquisition information corresponding to the part specified by the parts identification means from the difficulty acquisition information stored in the difficulty acquisition information storage means, And a second adjusting unit that causes the estimation unit to estimate the abnormality occurrence time by increasing the degree of difficulty of acquisition indicated by the acquisition difficulty information acquired by the acquisition difficulty information acquisition unit.
The repair support server of the technical idea 7 corresponds to the prediction information indicating the usage status predicted by the user for the multifunction peripheral device in any one of the technical ideas 1 to 6 to the identification information of the multifunction peripheral device. Prediction information storage means for storing the prediction information, and prediction information acquisition for acquiring prediction information corresponding to the identification information of the test result information acquired by the acquisition means from the prediction information stored in the prediction information storage means And a third adjustment unit that sets the predetermined period longer as the burden on the multifunction peripheral device is larger in the usage state of the prediction information acquired by the prediction information acquisition unit.
The repair support server of the technical idea 8 corresponds to the prediction information indicating the usage state predicted by the user for the multifunction peripheral device in any one of the technical ideas 1 to 7 to the identification information of the multifunction peripheral device. Prediction information storage means for storing the prediction information, and prediction information acquisition for acquiring prediction information corresponding to the identification information of the test result information acquired by the acquisition means from the prediction information stored in the prediction information storage means And a fourth adjustment unit that causes the estimation unit to estimate the occurrence timing of the abnormality by increasing the burden on the multifunction peripheral in the usage state of the prediction information acquired by the prediction information acquisition unit. Yes.
The repair support server of the technical idea 9 is any one of the technical ideas 1 to 8, wherein the multi-functional peripheral device performs an inspection for the specific function and individually identifies the multi-functional peripheral devices. And the output of the inspection result information including the function information is repeated, and the repair support server stores the inspection result information output from the multifunction peripheral device in the production process. Information storage means, wherein the estimation means includes inspection result information including the same identification information as the inspection result information acquired by the acquisition means among the inspection result information stored in the inspection result information storage means, and the acquisition The abnormality occurrence time is estimated based on each function information with the inspection result information acquired by the means.
The repair support server of the
<Effect>
According to the repair support server of the technical idea 1, when a predetermined period before the abnormality occurrence time estimated by the estimation unit has elapsed and there is a possibility that an abnormality may occur in a specific function in the multifunction peripheral device, Arrangement information including part information indicating a part to be replaced in the abnormal repair work is output. Therefore, since the parts used for the repair work of the abnormality can be arranged in advance based on the arrangement information, the parts used for the repair work can be arranged before receiving a repair request for the multifunction peripheral device. Therefore, since the period from the receipt of the repair request to the preparation of the parts used for the repair work can be shortened, the repair work can be started quickly. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be shortened.
In addition, the repair support server, not the multi-function peripheral device, estimates the time of occurrence of an abnormality, specifies the parts to be replaced during repair work, and outputs arrangement information, so the load on the multi-function peripheral device can be reduced. effective.
According to the repair support server of the
According to the repair support server of the technical idea 3, in addition to the effect of the
According to the repair support server of the technical idea 4, in addition to the effect of any of the technical ideas 1 to 3, arrangement information including procedure manual information indicating a work procedure manual used in repair work for eliminating the abnormality is provided. Since it is output, it is possible to arrange a work procedure manual to be used for the repair work before receiving a repair request for the multifunction peripheral device. Therefore, since the period from the receipt of the repair request to the completion of the work procedure manual used for the repair work can be shortened, the repair work can be started quickly. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
According to the repair support server of the technical idea 5, in addition to the effect of any of the technical ideas 1 to 4, the longer the predetermined period is set, the more difficult it is to obtain the parts to be replaced by the abnormal repair work. Therefore, the more difficult to obtain the parts, the sooner the parts used for repair work can be arranged. Therefore, even parts that are difficult to obtain can be prepared without delay, so that it is possible to shorten the period from when a repair request is received until the parts to be used for repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened. In addition, the easier the parts are obtained, the later the parts used for the repair work can be arranged. Therefore, by arranging the parts used for the repair work in advance, it is possible to suppress an increase in the storage space for the parts.
According to the repair support server of the technical idea 6, in addition to the effect of any of the technical ideas 1 to 5, it is difficult to obtain the parts to be replaced by the abnormal repair work, so that the estimation means causes the abnormality occurrence time. Therefore, the more difficult it is to obtain parts, the sooner parts can be arranged for repair work. Therefore, even parts that are difficult to obtain can be prepared without delay, so that it is possible to shorten the period from when a repair request is received until the parts to be used for repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened. In addition, the easier the parts are obtained, the later the parts used for the repair work can be arranged. Therefore, by arranging the parts used for the repair work in advance, it is possible to suppress an increase in the storage space for the parts.
According to the repair support server of the technical idea 7, in addition to the effect of any one of the technical ideas 1 to 6, the predetermined period becomes longer as the load on the multifunction peripheral device is higher in the usage situation predicted by the user. Since it is set, the higher the risk of occurrence of an abnormality, the earlier the parts used for repair work can be arranged. Therefore, even if an abnormality occurs at an early stage, it is possible to shorten the period from when the repair request is received until the parts used for the repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
According to the repair support server of the technical idea 8, in addition to the effect of any of the technical ideas 1 to 7, the higher the load on the multifunction peripheral device in the usage situation predicted by the user, the more abnormal the estimation means Since the occurrence time is estimated by moving up, the higher the risk of occurrence of an abnormality, the sooner parts can be arranged for repair work. Therefore, even if an abnormality occurs at an early stage, it is possible to shorten the period from when the repair request is received until the parts used for the repair work are ready. Therefore, there is an effect that the repair period of the multifunction peripheral device can be further shortened.
According to the repair support server of the technical idea 9, in addition to the effect of any one of the technical ideas 1 to 8, when the abnormality occurrence time is estimated for one multifunction peripheral device, the same multifunction peripheral device Since it is possible to estimate by using a plurality of pieces of output test result information having different output timings, it is possible to suppress errors caused by individual differences among multifunction peripheral devices. In addition, since the estimation is performed using the latest test result information output from the multifunction peripheral device, the abnormality occurrence time can be estimated with high accuracy. Therefore, there is an effect that the accuracy of estimation can be improved.
According to the repair support server of the
100 MFP(多機能周辺装置)
300 顧客管理サーバ(修理支援サーバ)
304b 顧客情報テーブル(設置情報記憶手段の一例、予測情報記憶手段の一例)
304d 製造時検査結果テーブル(検査結果情報記憶手段の一例)
304g 交換部品テーブル(手順書情報記憶手段の一例、入手困難情報記憶手段の一例)
305 LANI/F(取得手段の一例)
S63 (予測情報取得手段の一例)
S64〜S68 (第1期間調整手段の一例)
S69 (推定手段の一例)
S71 (入手困難情報記憶手段の一例)
S72〜S75 (第1調整手段の一例)
S79 (部品特定手段の一例)
S80 (設置エリア情報取得手段の一例)
S82 (手順書情報取得手段の一例)
S84 (出力手段の一例)
S93 (在庫判定手段の一例)
S95 (部品発注手段の一例)
100 MFP (multifunctional peripheral device)
300 Customer management server (repair support server)
304b Customer information table (an example of installation information storage means, an example of prediction information storage means)
304d Manufacturing inspection result table (an example of inspection result information storage means)
304g Replacement parts table (an example of procedure manual information storage means, an example of difficult to obtain information storage means)
305 LAN I / F (an example of an acquisition unit)
S63 (an example of prediction information acquisition means)
S64 to S68 (an example of first period adjusting means)
S69 (an example of estimation means)
S71 (an example of difficult to obtain information storage means)
S72 to S75 (an example of first adjusting means)
S79 (an example of part specifying means)
S80 (an example of installation area information acquisition means)
S82 (an example of procedure manual information acquisition means)
S84 (an example of output means)
S93 (an example of inventory judging means)
S95 (Example of part ordering means)
Claims (10)
前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、
その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、
その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、
前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段と、
前記多機能周辺装置についてユーザにより予測された使用状況を示す予測情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応づけて記憶する予測情報記憶手段と、
その予測情報記憶手段に記憶されている予測情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する予測情報を取得する予測情報取得手段と、
その予測情報取得手段により取得される予測情報の使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が大きいほど、前記所定期間を長く設定する第1期間調整手段と、を備えていることを特徴とする修理支援サーバ。 A repair support server that supports the repair work of a multi-function peripheral device that performs a test for a specific function and outputs test result information including function information indicating a test result of the function,
Obtaining means for obtaining test result information output from the multifunction peripheral device;
Based on the function information of the test result information acquired by the acquisition means, an estimation means for estimating an abnormality occurrence time when an abnormality occurs in the specific function;
Parts identifying means for identifying parts to be replaced in repair work according to the abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimating means;
An output means for outputting arrangement information including parts information indicating parts specified by the parts specifying means when a predetermined period before the abnormality occurrence time estimated by the estimating means has passed ;
Prediction information storage means for storing prediction information indicating a usage situation predicted by the user for the multifunction peripheral device in association with identification information of the multifunction peripheral device;
Prediction information acquisition means for acquiring prediction information corresponding to identification information of test result information acquired by the acquisition means from prediction information stored in the prediction information storage means;
A first period adjustment unit configured to set the predetermined period longer as the burden on the multifunction peripheral device is larger in the usage state of the prediction information acquired by the prediction information acquisition unit. Support server.
前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、
その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、
その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、
前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段と、
前記多機能周辺装置についてユーザにより予測された使用状況を示す予測情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応づけて記憶する予測情報記憶手段と、
その予測情報記憶手段に記憶されている予測情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する予測情報を取得する予測情報取得手段と、
その予測情報取得手段により取得される予測情報の使用状況において多機能周辺装置へかかる負担が大きいほど、前記推定手段に前記異常発生時期を繰り上げて推定させる第2期間調整手段と、を備えていることを特徴とする修理支援サーバ。 A repair support server that supports the repair work of a multi-function peripheral device that performs a test for a specific function and outputs test result information including function information indicating a test result of the function,
Obtaining means for obtaining test result information output from the multifunction peripheral device;
Based on the function information of the test result information acquired by the acquisition means, an estimation means for estimating an abnormality occurrence time when an abnormality occurs in the specific function;
Parts identifying means for identifying parts to be replaced in repair work according to the abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimating means;
An output means for outputting arrangement information including parts information indicating parts specified by the parts specifying means when a predetermined period before the abnormality occurrence time estimated by the estimating means has passed ;
Prediction information storage means for storing prediction information indicating a usage situation predicted by the user for the multifunction peripheral device in association with identification information of the multifunction peripheral device;
Prediction information acquisition means for acquiring prediction information corresponding to identification information of test result information acquired by the acquisition means from prediction information stored in the prediction information storage means;
A second period adjustment unit that causes the estimation unit to advance and estimate the abnormality occurrence time as the load on the multifunction peripheral device increases in the usage state of the prediction information acquired by the prediction information acquisition unit . A repair support server characterized by that.
前記特定の機能についての検査の実行と、複数の前記多機能周辺装置を個別に識別する識別情報および前記機能情報を含む検査結果情報の出力とを繰り返すように構成されており、
前記修理支援サーバは、
生産工程において前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を記憶する検査結果情報記憶手段を備え、
前記推定手段は、
前記検査結果情報記憶手段に記憶される検査結果情報のうち前記取得手段により取得される検査結果情報と同一の識別情報を含む検査結果情報と、前記取得手段により取得される検査結果情報との各機能情報に基づいて、前記異常発生時期を推定するものであることを特徴とする請求項1または2に記載の修理支援サーバ。 The multifunction peripheral device is:
It is configured to repeat the execution of the inspection for the specific function and the output of the identification information for individually identifying the plurality of multifunction peripheral devices and the inspection result information including the function information,
The repair support server is
Comprising inspection result information storage means for storing inspection result information output from the multifunction peripheral in the production process;
The estimation means includes
Each of inspection result information including the same identification information as the inspection result information acquired by the acquisition unit among the inspection result information stored in the inspection result information storage unit, and the inspection result information acquired by the acquisition unit based on the function information, repair support server according to claim 1 or 2, characterized in that for estimating the abnormality occurrence time.
前記多機能周辺装置は、
前記特定の機能についての検査の実行と、複数の前記多機能周辺装置を個別に識別する識別情報および前記機能情報を含む検査結果情報の出力とを繰り返すように構成されており、
前記修理支援サーバは、
前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を取得する取得手段と、
その取得手段により取得される検査結果情報の機能情報に基づいて、前記特定の機能に異常が発生する異常発生時期を推定する推定手段と、
その推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に応じた修理作業で交換される部品を特定する部品特定手段と、
前記推定手段により推定される異常発生時期の所定期間前を経過している場合に、前記部品特定手段により特定される部品を示す部品情報を含む手配情報を出力する出力手段と、
生産工程において前記多機能周辺装置から出力される検査結果情報を、その多機能周辺装置の識別情報に対応付けて記憶する検査結果情報記憶手段と、を備え、
前記推定手段は、
前記検査結果情報記憶手段に記憶される検査結果情報のうち前記取得手段により取得される検査結果情報と同一の識別情報を含む検査結果情報と、前記取得手段により取得される検査結果情報との各機能情報に基づいて、前記異常発生時期を推定するものであることを特徴とする修理支援サーバ。 A repair support server that supports the repair work of a multi-function peripheral device that performs a test for a specific function and outputs test result information including function information indicating a test result of the function,
The multifunction peripheral device is:
It is configured to repeat the execution of the inspection for the specific function and the output of the identification information for individually identifying the plurality of multifunction peripheral devices and the inspection result information including the function information,
The repair support server is
Obtaining means for obtaining test result information output from the multifunction peripheral device;
Based on the function information of the test result information acquired by the acquisition means, an estimation means for estimating an abnormality occurrence time when an abnormality occurs in the specific function;
Parts identifying means for identifying parts to be replaced in repair work according to the abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimating means;
An output means for outputting arrangement information including parts information indicating parts specified by the parts specifying means when a predetermined period before the abnormality occurrence time estimated by the estimating means has passed ;
Inspection result information storage means for storing the inspection result information output from the multifunction peripheral device in the production process in association with the identification information of the multifunction peripheral device, and
The estimation means includes
Each of inspection result information including the same identification information as the inspection result information acquired by the acquisition unit among the inspection result information stored in the inspection result information storage unit, and the inspection result information acquired by the acquisition unit A repair support server characterized in that the abnormality occurrence time is estimated based on function information.
前記識別情報に対応づけて多機能周辺装置の設置エリアを示す設置エリア情報を記憶する設置情報記憶手段と、
その設置情報記憶手段に記憶されている設置エリア情報の中から、前記取得手段により取得される検査結果情報の識別情報に対応する設置エリア情報を取得する設置エリア情報取得手段とを備え、
前記出力手段は、
前記設置エリア情報取得手段により取得される設置エリア情報を含む手配情報を出力するものであることを特徴とする請求項1から4の何れかに記載の修理支援サーバ。 The inspection result information includes identification information for individually identifying the plurality of multifunction peripheral devices,
Installation information storage means for storing installation area information indicating the installation area of the multifunction peripheral device in association with the identification information;
From the installation area information stored in the installation information storage means, comprising installation area information acquisition means for acquiring installation area information corresponding to the identification information of the inspection result information acquired by the acquisition means,
The output means includes
Repair support server according to any one of claims 1 to 4, characterized in that for outputting order information including the installation area information acquired by the installation area information acquisition means.
前記設置エリアに対応する修理担当を示す修理担当情報を含み構成されていることを特徴とする請求項5記載の修理支援サーバ。 The installation area information is
The repair support server according to claim 5, comprising repair staff information indicating a repair staff corresponding to the installation area.
その手順書情報記憶手段に記憶される手順書情報の中から、前記推定手段により推定される異常発生時期に発生すると予想される異常に対応する手順書情報を取得する手順書情報取得手段とを備え、
前記出力手段は、
前記手順書情報取得手段により取得される手順書情報を含む手配情報を出力するものであることを特徴とする請求項1から6の何れかに記載の修理支援サーバ。 Procedure manual information storage means for storing procedure manual information indicating a work procedure manual used in repair work for eliminating the abnormality of the specific function;
Procedure manual information acquisition means for acquiring the procedure manual information corresponding to the abnormality expected to occur at the abnormality occurrence time estimated by the estimation means from the procedure manual information stored in the procedure manual information storage means. Prepared,
The output means includes
Repair support server according to any one of claims 1 to 6, characterized in that outputs a order information including instructions information obtained by the procedures information acquiring unit.
その入手困難情報記憶手段に記憶されている入手困難情報の中から、前記部品特定手段により特定される部品に対応する入手困難情報を取得する入手困難情報取得手段と、
前記入手困難情報取得手段により取得される入手困難情報の示す入手困難さの程度が高いほど、前記所定期間を長く設定する第1調整手段とを備えていることを特徴とする請求項1から7の何れかに記載の修理支援サーバ。 An acquisition difficulty information storage unit that stores acquisition difficulty information indicating the degree of difficulty in obtaining the component in association with the component specified by the component specifying unit;
Of the difficulty acquisition information stored in the difficulty acquisition information storage means, the difficulty acquisition information acquisition means for acquiring the difficulty acquisition information corresponding to the component identified by the component identification means;
The higher the degree of availability difficulties indicated by the unavailability information acquired by the unavailability information obtaining means, from claim 1, characterized in that it comprises a first adjustment means for setting a longer predetermined period 7 The repair support server according to any one of the above.
その入手困難情報記憶手段に記憶されている入手困難情報の中から、前記部品特定手段により特定される部品に対応する入手困難情報を取得する入手困難情報取得手段と、
前記入手困難情報取得手段により取得される入手困難情報の示す入手困難さの程度が高いほど、前記推定手段に前記異常発生時期を繰り上げて推定させる第2調整手段とを備えていることを特徴とする請求項1から8の何れかに記載の修理支援サーバ。 An acquisition difficulty information storage unit that stores acquisition difficulty information indicating the degree of difficulty in obtaining the component in association with the component specified by the component specifying unit;
Of the difficulty acquisition information stored in the difficulty acquisition information storage means, the difficulty acquisition information acquisition means for acquiring the difficulty acquisition information corresponding to the component identified by the component identification means;
The second adjustment means for causing the estimation means to estimate the occurrence timing of the abnormality by increasing the degree of difficulty of acquisition indicated by the difficulty of acquisition information acquired by the difficulty of acquisition information acquisition means, The repair support server according to any one of claims 1 to 8 .
その在庫判定手段により在庫が無いと判定される場合に、前記部品情報により示される部品を発注する部品発注手段とを備えていることを特徴とする請求項1から9の何れかに記載の修理支援サーバ。 Inventory determining means for determining the presence or absence of inventory for the parts indicated by the part information of the arrangement information output from the output means;
10. The repair according to claim 1, further comprising parts ordering means for placing an order for a part indicated by the part information when the stock judging means judges that there is no stock. Support server.
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