JP5587636B2 - Polishing pad - Google Patents

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Description

本発明は研磨パッドに係り、特に、湿式凝固法により形成され一面側に研磨面を有する軟質プラスチックシートと、軟質プラスチックシートの他面側に配された基材と、軟質プラスチックシートおよび基材を貼り合わせる粘着剤層と、を備えた研磨パッドに関する。   The present invention relates to a polishing pad, and in particular, includes a soft plastic sheet formed by a wet coagulation method and having a polishing surface on one side, a substrate disposed on the other side of the soft plastic sheet, a soft plastic sheet and a substrate. The present invention relates to a polishing pad comprising an adhesive layer to be bonded.

従来液晶ガラス、ガラスディスク、フォトマスク、シリコンウエハ、コンピュータ制御ディスプレイ(CCD)、カバーグラス等の電子部品用の各種材料(被研磨物)では、表面に求められる精密性のために研磨加工が行われている。研磨加工には、大まかに研磨加工する粗研磨から高精度に研磨加工する仕上げ研磨までの種々の手法が挙げられるが、いずれにおいても、研磨パッドが幅広く使用されている。   Conventional materials such as liquid crystal glass, glass discs, photomasks, silicon wafers, computer controlled displays (CCDs), and cover glasses have been polished for the precision required for the surface. It has been broken. Examples of the polishing process include various techniques ranging from rough polishing for rough polishing to final polishing for high-precision polishing, and in any case, polishing pads are widely used.

研磨パッドとしては、湿式凝固法により気孔(発泡)が連続状に形成されたナップ層を有するスウェードタイプの研磨パッドが用いられている。スウェードタイプの研磨パッドでは、被研磨物の材質や要求される表面精度により、湿式凝固法で表面に形成された表皮層(スキン層)が研削、除去されることもある。ところが、上述したような被研磨物では、ユーザ側からの要求品質が高まりつつあり、一層高精度の精密研磨加工が可能な研磨パッドが求められている。例えば、半導体ウェハを高精度に研磨加工することを目的として、ナップ層の厚さの下限を定める技術が開示されている(特許文献1参照)。   As the polishing pad, a suede type polishing pad having a nap layer in which pores (foaming) are continuously formed by a wet coagulation method is used. In a suede type polishing pad, the skin layer (skin layer) formed on the surface by wet coagulation may be ground and removed depending on the material of the object to be polished and the required surface accuracy. However, for the objects to be polished as described above, the required quality from the user side is increasing, and there is a demand for a polishing pad that can perform highly accurate precision polishing. For example, for the purpose of polishing a semiconductor wafer with high accuracy, a technique for determining the lower limit of the thickness of the nap layer is disclosed (see Patent Document 1).

被研磨物の高精度な表面平坦性を実現するためには、ナップ層の厚さを定めるのみでは十分といえず、研磨パッドの高硬度化、低圧縮率化を図ることが有効となる。ところが、硬度を高くしすぎる(硬すぎる)と、スウェードタイプのメリットである柔軟性が損なわれるため、被研磨物にキズ(スクラッチ)を与えてしまい、却って平坦性を低下させることとなる。反対に、硬度を低くしすぎる(軟らかすぎる)と、被研磨物の外縁部(端部)が中心部より過剰に研削除去されるロールオフが発生し、被研磨物の加工面内での平坦性を確保することが難しくなる。このような問題を回避し、被研磨物の中心部と外縁部との面精度や平行・平坦度の精度を改善するために、硬度の異なる人工皮革を組み合わせることで、研磨面における硬度がドーナツ状に異なる研磨パッドの技術が開示されている(例えば、特許文献2参照)。   In order to realize high-precision surface flatness of an object to be polished, it is not sufficient to determine the thickness of the nap layer. It is effective to increase the hardness and the compression rate of the polishing pad. However, if the hardness is too high (too hard), the flexibility, which is a merit of the suede type, is impaired, so that the workpiece is scratched (scratched), and the flatness is lowered. On the other hand, if the hardness is too low (too soft), roll-off occurs where the outer edge (end) of the workpiece is excessively ground and removed from the center, resulting in flatness in the work surface of the workpiece. It becomes difficult to secure sex. In order to avoid such problems and improve the accuracy of the surface and parallel / flatness of the center and outer edge of the object to be polished, the hardness of the polished surface can be improved by combining artificial leather with different hardness. A technique of a polishing pad having a different shape is disclosed (for example, see Patent Document 2).

特開2002−059356号公報JP 2002-059356 A 特開2009−184084号公報JP 2009-184084 A

しかしながら、特許文献2の技術では、平坦性の向上を図ることはできるものの、低硬度の人工皮革と高硬度の人工皮革とを貼り合わせるため、高硬度の領域で被研磨物に研磨砥粒が擦りつけられてしまい、スクラッチが発生する、という問題がある。上述したように、スクラッチを抑制するために研磨パッドを柔らかくすることが求められる一方で、ロールオフを抑制するために硬くすることが求められる。従って、研磨パッドの被研磨物を研磨加工するための面(研磨面)を同じ材質で構成しつつ、局所的に剛性の異なる研磨パッドを得ることができれば、相反する要求を満たすことが可能となる。   However, although the technique of Patent Document 2 can improve the flatness, since the low-hardness artificial leather and the high-hardness artificial leather are bonded together, the abrasive grains are applied to the workpiece in the high-hardness region. There is a problem that it is rubbed and scratches occur. As described above, it is required to make the polishing pad soft in order to suppress scratches, while it is required to make it hard to suppress roll-off. Therefore, if a polishing pad having a locally different rigidity can be obtained while the surface (polishing surface) for polishing the workpiece of the polishing pad is made of the same material, it is possible to satisfy conflicting requirements. Become.

本発明は上記事案に鑑み、被研磨物に対するスクラッチを抑制しつつ平坦性を均一化することができる研磨パッドを提供することを課題とする。   In view of the above-described case, an object of the present invention is to provide a polishing pad that can make flatness uniform while suppressing scratches on an object to be polished.

上記課題を解決するために、本発明は、湿式凝固法により形成され一面側に研磨面を有する軟質プラスチックシートと、前記軟質プラスチックシートの他面側に配された基材と、前記軟質プラスチックシートおよび基材を貼り合わせる粘着剤層と、を備え、前記基材は、複数の溝ないし窪みが所定パターンを形成するように形成された可塑性を有するシート状の主材と、前記主材より小さい硬度および薄い厚みを持ち少なくとも1種の複数の副材とを有しており、前記副材が前記主材に形成された前記溝ないし窪みに配置され、一面側の全面が前記粘着剤層に当接したことを特徴とする研磨パッドである。 In order to solve the above problems, the present invention provides a soft plastic sheet formed by a wet coagulation method and having a polished surface on one side, a substrate disposed on the other side of the soft plastic sheet, and the soft plastic sheet And a pressure-sensitive adhesive layer that bonds the base material, and the base material is smaller than the main material and has a plastic sheet-like main material formed such that a plurality of grooves or dents form a predetermined pattern. And having at least one kind of a plurality of sub-materials having hardness and thin thickness, the sub-materials are disposed in the grooves or depressions formed in the main material, and the entire surface on one side is the adhesive layer It is a polishing pad characterized by contacting.

本発明では、基材の副材が主材より薄い厚みのため、基材の一面側の全面が粘着剤層に当接したことで、基材全体として軟質プラスチックシートを支持することができ、主材より小さい硬度の副材が所定パターンを形成するように主材に形成された溝ないし窪みに配置されたため、研磨加工時に研磨面側に供給される研磨粒子にかかる押圧力が副材の配置された部分で小さくなり研磨粒子が移動しやすくなることから、研磨面における研磨液循環性が確保されるので、被研磨物に対するスクラッチを抑制しつつ平坦性を均一化することができる。 In the present invention, since the secondary material of the base material is thinner than the main material, the entire surface on one side of the base material is in contact with the pressure-sensitive adhesive layer, thereby supporting the flexible plastic sheet as a whole base material. Since the secondary material having a hardness smaller than that of the main material is arranged in a groove or a depression formed in the main material so as to form a predetermined pattern, the pressing force applied to the abrasive particles supplied to the polishing surface side during the polishing process is reduced. Since it becomes small in the disposed portion and the abrasive particles easily move, the polishing liquid circulation property on the polishing surface is ensured, and the flatness can be made uniform while suppressing scratches on the object to be polished.

この場合において、基材では、主材の一面側に副材が配置されており、主材および副材の一面側が同一平面を形成していてもよい。主材に配置された副材の所定パターンを離散状、縞状、格子状または同心円状とすることができる。基材では、主材に形成された溝ないし窪みに副材を形成する樹脂が充填され形成されていてもよい。また、副材の粘着剤層に当接する面からの厚さを基材の厚さに対して50%以上としてもよい。このとき、基材の厚さを50μm〜2000μmの範囲とすることができる。また、溝が、幅を0.5mm〜10mmの範囲、隣り合う溝の中心間距離を1mm〜200mmの範囲とすることができる。基材では、主材をポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンおよびポリ塩化ビニルから選択される少なくとも1種、副材をエラストマとすることができる。軟質プラスチックシートをポリウレタン樹脂製としてもよい。 In this case, in the base material, the secondary material may be disposed on the one surface side of the main material, and the one surface side of the main material and the secondary material may form the same plane . The predetermined pattern of the secondary material arranged on the main material can be discrete, striped, latticed or concentric. In the base material, a groove or a recess formed in the main material may be filled with a resin that forms the secondary material. Moreover, it is good also considering the thickness from the surface contact | abutted to the adhesive layer of a submaterial as 50% or more with respect to the thickness of a base material. At this time, the thickness of a base material can be made into the range of 50 micrometers-2000 micrometers. Further, the groove can have a width in the range of 0.5 mm to 10 mm, and the distance between the centers of adjacent grooves can be in the range of 1 mm to 200 mm. In the base material, the main material can be at least one selected from polyethylene terephthalate, polyethylene and polyvinyl chloride, and the secondary material can be an elastomer. The soft plastic sheet may be made of polyurethane resin.

本発明によれば、基材の副材が主材より薄い厚みのため、基材の一面側の全面が粘着剤層に当接したことで、基材全体として軟質プラスチックシートを支持することができ、主材より小さい硬度の副材が所定パターンを形成するように主材に形成された溝ないし窪みに配置されたため、研磨加工時に研磨面側に供給される研磨粒子にかかる押圧力が副材の配置された部分で小さくなり研磨粒子が移動しやすくなることから、研磨面における研磨液循環性が確保されるので、被研磨物に対するスクラッチを抑制しつつ平坦性を均一化することができる、という効果を得ることができる。 According to the present invention, since the secondary material of the base material is thinner than the main material, the entire surface on one side of the base material is in contact with the adhesive layer, so that the flexible plastic sheet can be supported as a whole base material. In addition, since the secondary material having a hardness smaller than that of the main material is arranged in a groove or a depression formed in the main material so as to form a predetermined pattern, the pressing force applied to the abrasive particles supplied to the polishing surface side during the polishing process is reduced. Since it becomes small at the portion where the material is arranged and the abrasive particles easily move, the polishing liquid circulation property on the polishing surface is ensured, so that the flatness can be made uniform while suppressing scratches on the object to be polished. The effect that can be obtained.

本発明を適用した実施形態の研磨パッドを模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the polishing pad of embodiment to which this invention is applied. 研磨パッドを構成する基材のウレタンシート側の面における主材部と副材部との位置関係を模式的に示す平面図であり、(A)は副材部が同心円状に配置された基材、(B)は副材部が格子状に配置された基材、(C)は副材部が縞状に配置された基材、(D)は円形状の副材部が同心円状に整列するように配置された基材、(E)は円形状の副材部が格子状に整列するように配置された基材、(F)は矩形状の副材部が格子状に整列するように配置された基材をそれぞれ示す。It is a top view which shows typically the positional relationship of the main material part and submaterial part in the surface by the side of the urethane sheet of the base material which comprises a polishing pad, (A) is the base | substrate by which the submaterial part was arrange | positioned concentrically. (B) is a base material in which the sub-material portions are arranged in a grid, (C) is a base material in which the sub-material portions are arranged in stripes, and (D) is a circular sub-material portion concentrically. Substrates arranged so as to be aligned, (E) is a substrate arranged so that circular sub-material portions are aligned in a grid pattern, and (F) is a rectangular sub-material portion aligned in a grid pattern. Each of the substrates arranged in this manner is shown. 研磨パッドによる被研磨物の研磨加工時に研磨パッドにかかる押圧力の差違を模式的に説明する説明図であり、(A)は実施形態の研磨パッドによる研磨加工時、(B)は従来の研磨パッドによる研磨加工時をそれぞれ示す。It is explanatory drawing which illustrates typically the difference in the pressing force applied to a polishing pad at the time of the polishing process of the to-be-polished object by a polishing pad, (A) is at the time of the polishing process by the polishing pad of embodiment, (B) is conventional grinding | polishing. The polishing process with the pad is shown.

以下、図面を参照して、本発明を適用した研磨パッドの実施の形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of a polishing pad to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings.

<構成>
図1に示すように、本実施形態の研磨パッド10は、湿式凝固法により作製されたポリウレタン樹脂製の軟質プラスチックシートとしてのウレタンシート2を有している。
<Configuration>
As shown in FIG. 1, the polishing pad 10 of this embodiment has a urethane sheet 2 as a soft plastic sheet made of polyurethane resin produced by a wet coagulation method.

ウレタンシート2は、一面側に湿式凝固法による作製時に形成されたスキン層2aを有しており、スキン層2aより内側にナップ層2bを有している。スキン層2aは、緻密な微多孔状に形成されており、表面が被研磨物を研磨加工するための研磨面Pを構成している。スキン層2aと反対の面(以下、裏面と呼称する。)側には、ウレタンシート2の厚さが一様となるようにバフ処理が施されている。すなわち、バフ処理が施されることで、ウレタンシート2の厚さが均一化されている。   The urethane sheet 2 has a skin layer 2a formed at the time of production by a wet coagulation method on one side, and has a nap layer 2b on the inner side of the skin layer 2a. The skin layer 2a is formed in a fine microporous shape, and the surface constitutes a polishing surface P for polishing the object to be polished. The surface opposite to the skin layer 2a (hereinafter referred to as the back surface) is buffed so that the thickness of the urethane sheet 2 is uniform. That is, the thickness of the urethane sheet 2 is made uniform by performing the buffing process.

ナップ層2bには、ウレタンシート2の厚さ方向(図1の縦方向)に沿って縦長で丸みを帯びた円錐状(断面縦長三角状)のセル(気孔)5が略均等に分散した状態で形成されている。セル5の縦長方向の長さには、ウレタンシート2の厚さの範囲でバラツキが生じている。セル5は、研磨面P側の孔径が裏面側の孔径より小さく形成されている。すなわち、セル5は研磨面P側が裏面側より縮径されている。セル5の間のポリウレタン樹脂は、セル5より小さい孔径の図示しない微多孔が形成されたミクロポーラス状に形成されている。スキン層2aの微多孔、ナップ層2bのセル5および図示しない微多孔は、不図示の連通孔で網目状に連通している。すなわち、ウレタンシート2は連続発泡構造を有している。ウレタンシート2には、モジュラスが30MPa以下の軟質なポリウレタン樹脂が使用されている。また、ウレタンシート2では、厚さT1が200〜2000μmの範囲、かさ密度が0.3g/cm以下に調整されている。ウレタンシート2の厚さは湿式凝固時やバフ処理時の条件で調整することができ、かさ密度はセル形成の条件設定により調整することができる。このようなウレタンシート2では、ショアA硬度が5〜60度の範囲を示す。 In the nap layer 2b, cells (pores) 5 that are vertically long and rounded in the thickness direction (longitudinal direction in FIG. 1) of the urethane sheet 2 are distributed in a substantially uniform manner. It is formed with. The length in the longitudinal direction of the cell 5 varies within the range of the thickness of the urethane sheet 2. The cell 5 is formed such that the hole diameter on the polishing surface P side is smaller than the hole diameter on the back surface side. That is, the cell 5 has a smaller diameter on the polishing surface P side than on the back surface side. The polyurethane resin between the cells 5 is formed in a microporous shape in which micropores (not shown) having a pore diameter smaller than that of the cells 5 are formed. The fine pores of the skin layer 2a, the cells 5 of the nap layer 2b, and the fine pores (not shown) are communicated in a mesh pattern with communication holes (not shown). That is, the urethane sheet 2 has a continuous foam structure. For the urethane sheet 2, a soft polyurethane resin having a modulus of 30 MPa or less is used. Moreover, in the urethane sheet 2, thickness T1 is adjusted to the range of 200-2000 micrometers, and bulk density is adjusted to 0.3 g / cm < 3 > or less. The thickness of the urethane sheet 2 can be adjusted by conditions during wet coagulation or buffing, and the bulk density can be adjusted by setting conditions for cell formation. In such a urethane sheet 2, the Shore A hardness is in the range of 5 to 60 degrees.

また、研磨パッド10では、ウレタンシート2の裏面側に粘着剤層7aを介して基材8の一面側が貼り合わされている。基材8は、他面側に、研磨機(研磨装置)に研磨パッド10を装着するために、粘着剤層7bを有している。粘着剤層7bは、基材8と反対の面が剥離紙9で覆われている。粘着剤層7a、7bの粘着剤には、それぞれ、アクリル系、ウレタン系、エポキシ系等の粘着剤を用いることができ、粘着剤層7aと粘着剤層7bとを同じ粘着剤としてもよく、異なるようにしてもよい。本例では、粘着剤層7a、7bがいずれもアクリル系粘着剤で形成されている。なお、本例では、基材8が研磨パッド10の全体を支持する機能も兼ねている。   Moreover, in the polishing pad 10, the one surface side of the base material 8 is bonded to the back surface side of the urethane sheet 2 via the adhesive layer 7a. The base material 8 has an adhesive layer 7b on the other surface side in order to attach the polishing pad 10 to a polishing machine (polishing apparatus). The pressure-sensitive adhesive layer 7 b is covered with a release paper 9 on the surface opposite to the substrate 8. As the pressure-sensitive adhesives for the pressure-sensitive adhesive layers 7a and 7b, acrylic, urethane, and epoxy pressure-sensitive adhesives can be used, respectively, and the pressure-sensitive adhesive layer 7a and the pressure-sensitive adhesive layer 7b may be the same pressure-sensitive adhesive. It may be different. In this example, both the pressure-sensitive adhesive layers 7a and 7b are formed of an acrylic pressure-sensitive adhesive. In this example, the base material 8 also has a function of supporting the entire polishing pad 10.

基材8は、可塑性を有する樹脂製でシート状の主材部8a(主材)と、主材部8aより小さいショアA硬度を有する樹脂で形成された副材部8b(副材)とを有している。主材部8aにはポリエチレンテレフタレート(以下、PETと略記する。)、ポリエチレン(PE)およびポリ塩化ビニル(PVC)から選択される少なくとも1種の可撓性フィルムを用いることができ、副材部8bにはエラストマを用いることができる。エラストマとしては、スチレン−ブタジエンゴム(SBR)、アクリロニトリル−ブタジエンゴム(NBR)、クロロプレンゴム(CR)、エチレン−プロピレン−ジエン三元共重合体(EPDM)、シリコンゴム、フッ素系樹脂等を挙げることができる。また、エラストマに発泡剤を混合させ発泡体とすることも可能である。ショアA硬度は、主材部8aが70〜100度程度、副材部8bが10〜80度程度である。本例では、主材部8aとしてPET製フィルム、副材部8bとしてシリコンゴムがそれぞれ用いられている。また、主材部8aには、ウレタンシート2と貼り合わされる面側に複数の溝が形成されており、この溝に副材部8bを形成する樹脂が充填されている。図2(A)に示すように、基材8のウレタンシート2と貼り合わされる面側では、主材部8aに形成された同心円状の溝に副材部8bの樹脂が充填されている。すなわち、副材部8bが主材部8aに同心円状のパターンを形成するように均等に配置されている。   The base material 8 is made of a plastic resin-made sheet-like main material portion 8a (main material) and a sub-material portion 8b (sub-material) formed of a resin having a Shore A hardness smaller than the main material portion 8a. Have. The main material portion 8a can be made of at least one flexible film selected from polyethylene terephthalate (hereinafter abbreviated as PET), polyethylene (PE) and polyvinyl chloride (PVC). An elastomer can be used for 8b. Examples of the elastomer include styrene-butadiene rubber (SBR), acrylonitrile-butadiene rubber (NBR), chloroprene rubber (CR), ethylene-propylene-diene terpolymer (EPDM), silicone rubber, fluorine-based resin, and the like. Can do. It is also possible to make a foam by mixing a foaming agent with an elastomer. The Shore A hardness is about 70 to 100 degrees for the main material portion 8a and about 10 to 80 degrees for the auxiliary material portion 8b. In this example, a PET film is used as the main material portion 8a, and silicon rubber is used as the auxiliary material portion 8b. The main material portion 8a is formed with a plurality of grooves on the surface side to be bonded to the urethane sheet 2, and the grooves are filled with a resin for forming the auxiliary material portion 8b. As shown in FIG. 2A, on the surface side of the base material 8 to be bonded to the urethane sheet 2, the concentric groove formed in the main material portion 8a is filled with the resin of the sub-material portion 8b. That is, the sub-material portions 8b are equally arranged so as to form a concentric pattern on the main material portion 8a.

図1に示すように、主材部8aおよび副材部8bの一面側が粘着剤層7aに当接している。基材8は、厚さT2が50〜2000μmの範囲を有している。つまり、主材部8aの厚さが基材8aの厚さT2と同じとなる。副材部8bは、主材部8aより薄い厚みを有しており、粘着剤層7aに当接する面からの厚さt1が基材8の厚さT2に対して50%以上に調整されている。このような主材部8aと副材部8bとを有する基材8では、粘着剤層7aに当接する面側が同一平面を形成している。副材部8bの幅(主材部8aに形成される溝の幅)W1は0.5〜10mmの範囲に調整されており、隣り合う副材部8bの中心間距離(溝の中心間距離)W2は1〜200mmの範囲に調整されている。すなわち、主材部8aに溝を形成するときに、粘着剤層7aに当接する面からの深さ、溝の幅および中心間距離を調整することで、副材部8bの厚さt1、幅W1および中心間距離W2をそれぞれ調整することができる。   As shown in FIG. 1, one surface side of the main material portion 8a and the auxiliary material portion 8b is in contact with the adhesive layer 7a. The base material 8 has a thickness T2 in the range of 50 to 2000 μm. That is, the thickness of the main material portion 8a is the same as the thickness T2 of the base material 8a. The secondary material portion 8b has a thickness smaller than that of the main material portion 8a, and the thickness t1 from the surface in contact with the adhesive layer 7a is adjusted to 50% or more with respect to the thickness T2 of the base material 8. Yes. In the base material 8 having such a main material portion 8a and the auxiliary material portion 8b, the surface side in contact with the pressure-sensitive adhesive layer 7a forms the same plane. The width of the secondary material portion 8b (width of the groove formed in the main material portion 8a) W1 is adjusted to a range of 0.5 to 10 mm, and the distance between the centers of the adjacent secondary material portions 8b (distance between the centers of the grooves). ) W2 is adjusted in the range of 1 to 200 mm. That is, when the groove is formed in the main material portion 8a, the thickness t1 and the width of the auxiliary material portion 8b are adjusted by adjusting the depth from the surface in contact with the adhesive layer 7a, the width of the groove, and the distance between the centers. W1 and the center-to-center distance W2 can be adjusted.

<製造>
研磨パッド10は、湿式凝固法により作製したウレタンシート2にバフ処理を施した後、別に作製した基材8とウレタンシート2とを貼り合わせることで製造される。湿式凝固法では、ポリウレタン樹脂溶液を調製する準備工程、ポリウレタン樹脂溶液を成膜基材に連続的に塗布し、水系凝固液中でポリウレタン樹脂溶液を凝固させてポリウレタン樹脂をシート状に再生させる再生工程、再生したポリウレタン樹脂を洗浄し乾燥させる洗浄・乾燥工程を経てウレタンシート2を作製する。基材8の作製では、主材部8aのシートに同心円状の溝を形成し、この溝に副材部8bの樹脂を充填する。以下、ウレタンシート2の作製、基材8の作製、貼り合わせの順に説明する。
<Manufacturing>
The polishing pad 10 is manufactured by buffing the urethane sheet 2 produced by the wet coagulation method and then bonding the separately produced base material 8 and the urethane sheet 2 together. In the wet coagulation method, a preparation process for preparing a polyurethane resin solution, a polyurethane resin solution is continuously applied to a film-forming substrate, and the polyurethane resin solution is coagulated in an aqueous coagulation solution to regenerate the polyurethane resin into a sheet. The urethane sheet 2 is produced through a washing / drying step of washing and drying the regenerated polyurethane resin. In the production of the base material 8, concentric grooves are formed in the sheet of the main material portion 8a, and the resin of the auxiliary material portion 8b is filled in the grooves. Hereinafter, the production of the urethane sheet 2, the production of the base material 8, and the bonding will be described in this order.

(ウレタンシート2の作製)
準備工程では、ポリウレタン樹脂、ポリウレタン樹脂を溶解可能な水混和性の有機溶媒および添加剤を混合してポリウレタン樹脂を溶解させる。有機溶媒としては、N,N−ジメチルホルムアミド(以下、DMFと略記する。)やN,N−ジメチルアセトアミド(DMAc)等を用いることができるが、本例では、DMFを用いる。ポリウレタン樹脂には、ポリエステル系、ポリエーテル系、ポリカーボネート系等の樹脂からモジュラスが30MPa以下のものを選択して用い、例えば、ポリウレタン樹脂が30重量%となるようにDMFに溶解させる。添加剤としては、セル5の大きさや量(個数)を制御するカーボンブラック等の顔料、セル形成を促進させる親水性活性剤およびポリウレタン樹脂の再生を安定化させる疎水性活性剤等を用いることができる。得られた溶液を減圧下で脱泡しポリウレタン樹脂溶液を調製する。
(Production of urethane sheet 2)
In the preparation step, the polyurethane resin is dissolved by mixing the polyurethane resin, a water-miscible organic solvent capable of dissolving the polyurethane resin, and an additive. As the organic solvent, N, N-dimethylformamide (hereinafter abbreviated as DMF), N, N-dimethylacetamide (DMAc), or the like can be used. In this example, DMF is used. As the polyurethane resin, a resin having a modulus of 30 MPa or less is selected from polyester, polyether, polycarbonate, and the like, and is dissolved in DMF so that the polyurethane resin becomes 30% by weight, for example. As the additive, a pigment such as carbon black for controlling the size and amount (number) of the cells 5, a hydrophilic activator for promoting cell formation, a hydrophobic activator for stabilizing regeneration of the polyurethane resin, and the like are used. it can. The obtained solution is defoamed under reduced pressure to prepare a polyurethane resin solution.

再生工程では、準備工程で調製したポリウレタン樹脂溶液を成膜基材に連続的に塗布し、水系凝固液中でポリウレタン樹脂溶液を凝固させてポリウレタン樹脂をシート状に再生させる。ポリウレタン樹脂溶液を、塗布装置により常温下で帯状の成膜基材に均一な厚さとなるように塗布する。塗布装置として、本例では、ナイフコータを用いる。このとき、ナイフコータと成膜基材との間隙(クリアランス)を調整することで、ポリウレタン樹脂溶液の塗布厚さ(塗布量)を調整する。本例では、得られるウレタンシートの厚さを上述した範囲とするため、塗布厚さを500〜2000μmの範囲に調整する。成膜基材には、可撓性フィルム、不織布、織布等を用いることができるが、本例では、成膜基材をPET製フィルムとして説明する。   In the regeneration step, the polyurethane resin solution prepared in the preparation step is continuously applied to the film-forming substrate, and the polyurethane resin solution is solidified in an aqueous coagulating liquid to regenerate the polyurethane resin into a sheet. The polyurethane resin solution is applied to the band-shaped film-forming substrate at a normal temperature by a coating apparatus so as to have a uniform thickness. In this example, a knife coater is used as the coating device. At this time, the application thickness (application amount) of the polyurethane resin solution is adjusted by adjusting the gap (clearance) between the knife coater and the film forming substrate. In this example, in order to make the thickness of the urethane sheet obtained into the above-mentioned range, the coating thickness is adjusted to a range of 500 to 2000 μm. Although a flexible film, a nonwoven fabric, a woven fabric, or the like can be used as the film forming substrate, in this example, the film forming substrate is described as a PET film.

成膜基材に塗布されたポリウレタン樹脂溶液を、ポリウレタン樹脂に対して貧溶媒である水を主成分とする凝固液(水系凝固液)中に案内する。凝固液としては、水にDMFやDMAc等の有機溶媒を混合しておくこともできるが、本例では、水を用いる。凝固液中では、まず、塗布されたポリウレタン樹脂溶液の表面側にスキン層2aを構成する微多孔が厚さ数μm程度にわたって形成される。その後、ポリウレタン樹脂溶液中のDMFと凝固液との置換の進行によりポリウレタン樹脂がシート状に再生する。DMFがポリウレタン樹脂溶液から脱溶媒し、DMFと凝固液とが置換することにより、スキン層2aより内側のポリウレタン樹脂中にセル5および図示しない微多孔が形成され、セル5および図示しない微多孔を網目状に連通する不図示の連通孔が形成される。このとき、成膜基材のPET製フィルムが水を浸透させないため、ポリウレタン樹脂溶液の表面側(スキン層2a側)で脱溶媒が生じて成膜基材側が表面側より大きなセル5が形成される。   The polyurethane resin solution applied to the film forming substrate is guided into a coagulating liquid (water-based coagulating liquid) whose main component is water, which is a poor solvent for the polyurethane resin. As the coagulation liquid, an organic solvent such as DMF or DMAc can be mixed with water, but in this example, water is used. In the coagulation liquid, first, micropores constituting the skin layer 2a are formed on the surface side of the applied polyurethane resin solution over a thickness of about several μm. Thereafter, the polyurethane resin is regenerated into a sheet shape by the progress of substitution between the DMF in the polyurethane resin solution and the coagulating liquid. By removing DMF from the polyurethane resin solution and replacing DMF and the coagulating liquid, cells 5 and micropores (not shown) are formed in the polyurethane resin inside the skin layer 2a. A communication hole (not shown) communicating in a mesh shape is formed. At this time, since the PET film of the film formation substrate does not allow water to permeate, desolvation occurs on the surface side (skin layer 2a side) of the polyurethane resin solution, and cells 5 having a larger film formation substrate side than the surface side are formed. The

洗浄・乾燥工程では、再生した帯状(長尺状)の成膜樹脂を洗浄した後乾燥させる。すなわち、成膜樹脂を、成膜基材から剥離した後、水等の洗浄液中で洗浄して成膜樹脂中に残留するDMFを除去する。洗浄後、成膜樹脂を乾燥させる。成膜樹脂の乾燥には、本例では、内部に熱源を有するシリンダを備えたシリンダ乾燥機を使用する。成膜樹脂がシリンダの周面に沿って通過することで乾燥する。乾燥後の成膜樹脂をロール状に巻き取る。   In the cleaning / drying step, the regenerated band-shaped (long-length) film-forming resin is cleaned and then dried. That is, after the film-forming resin is peeled from the film-forming substrate, it is washed in a cleaning liquid such as water to remove DMF remaining in the film-forming resin. After cleaning, the film forming resin is dried. In this example, a cylinder dryer having a cylinder having a heat source is used for drying the film-forming resin. The film-forming resin is dried by passing along the peripheral surface of the cylinder. The film-forming resin after drying is rolled up.

バフ処理を行うときは、洗浄・乾燥工程で乾燥させた成膜樹脂のスキン層2aと反対の面、すなわち裏面側にバフ処理を施す。湿式凝固法により形成された成膜樹脂では、ポリウレタン樹脂溶液の塗布時やポリウレタン樹脂の再生時に厚さバラツキが生じている。成膜樹脂のスキン層2a側の表面に、表面が平坦な圧接治具を圧接することで、成膜樹脂の裏面側に凹凸が出現する。この凹凸をバフ処理で除去する。本例では、連続的に製造された成膜樹脂が帯状のため、圧接ローラを圧接しながら、連続的にバフ処理を施す。成膜樹脂がバフ処理されて形成されたウレタンシート2では厚さが均一化されている。   When the buffing is performed, the surface opposite to the skin layer 2a of the film-forming resin dried in the cleaning / drying process, that is, the back surface is applied. In a film-forming resin formed by a wet coagulation method, thickness variation occurs when a polyurethane resin solution is applied or when the polyurethane resin is regenerated. By pressing a pressure welding jig having a flat surface on the surface of the film forming resin on the skin layer 2a side, irregularities appear on the back surface side of the film forming resin. This unevenness is removed by buffing. In this example, since the continuously formed film-forming resin has a belt shape, the buffing process is continuously performed while pressing the pressing roller. The urethane sheet 2 formed by buffing the film-forming resin has a uniform thickness.

(基材8の作製)
基材8の作製では、主材部8aとして厚さT2のPET製フィルムを準備する。この主材部8aの一面側に2つのリング状の溝を同心円状に形成する。溝の形成には、例えば、下端部がヤスリ状に形成された棒状の研削治具の上端部を把持して当該研削治具を回転させながら3次元に移動可能な溝形成装置を用いることができる。研削治具の径により溝部の幅を調整することができ、上下方向の移動量により溝の深さを調整することができる。また、水平面内での移動により中心間距離を調整した同心円状の溝を形成することができる。主材部8aに形成された溝に、主材部8aより小さいショアA硬度を有する副材部8bとしてシリコンゴムを充填する。溝への充填では、例えば、樹脂の熱による溶融体や溶剤による溶液を溝に流し込み、冷却や溶剤気化により固化させる。得られた基材8では、幅W1、厚さt2の副材部8bが主材部8aに中心間距離W2の分で離間して配置されることとなる。
(Preparation of base material 8)
In the production of the substrate 8, a PET film having a thickness T2 is prepared as the main material portion 8a. Two ring-shaped grooves are formed concentrically on one surface side of the main material portion 8a. For forming the groove, for example, a groove forming apparatus that can move three-dimensionally while gripping the upper end of a rod-shaped grinding jig whose lower end is formed in a file shape and rotating the grinding jig is used. it can. The width of the groove can be adjusted by the diameter of the grinding jig, and the depth of the groove can be adjusted by the amount of movement in the vertical direction. Moreover, the concentric groove | channel which adjusted the distance between centers by the movement in a horizontal surface can be formed. The groove formed in the main material portion 8a is filled with silicon rubber as the auxiliary material portion 8b having a Shore A hardness smaller than that of the main material portion 8a. In filling the groove, for example, a melt or a solvent solution due to the heat of the resin is poured into the groove and solidified by cooling or solvent evaporation. In the obtained base material 8, the secondary material portion 8b having the width W1 and the thickness t2 is arranged to be separated from the main material portion 8a by the center distance W2.

(貼り合わせ)
ウレタンシート2のバフ処理された面(裏面)側と、基材8の主材部8aに副材部8bが配置された面側とを貼り合わせる。このとき、ウレタンシート2または基材8に粘着剤層7aを形成し、ウレタンシート2および基材8を貼り合わせる。ウレタンシート2および基材8を貼り合わせた後、基材8のウレタンシート2と反対の面側に粘着剤層7bを形成しその表面を剥離紙9で覆う。ウレタンシート2、粘着剤層7a、基材8、粘着剤層7bおよび剥離紙9を2つの平坦な治具間で挟み込み加圧することで確実に貼り合わせることができる。そして、円形等の所望の形状、所望のサイズに裁断した後、キズや汚れ、異物等の付着がないことを確認する等の検査を行い、研磨パッド10を完成させる。
(Lamination)
The buffed surface (back surface) side of the urethane sheet 2 is bonded to the surface side where the secondary material portion 8 b is disposed on the main material portion 8 a of the base material 8. At this time, the pressure-sensitive adhesive layer 7a is formed on the urethane sheet 2 or the substrate 8, and the urethane sheet 2 and the substrate 8 are bonded together. After bonding the urethane sheet 2 and the base material 8 together, the pressure-sensitive adhesive layer 7 b is formed on the surface of the base material 8 opposite to the urethane sheet 2, and the surface is covered with the release paper 9. The urethane sheet 2, the pressure-sensitive adhesive layer 7 a, the base material 8, the pressure-sensitive adhesive layer 7 b, and the release paper 9 can be securely bonded by sandwiching and pressing between two flat jigs. Then, after cutting into a desired shape such as a circle and a desired size, an inspection is performed to confirm that there is no adhesion of scratches, dirt, foreign matter, etc., and the polishing pad 10 is completed.

研磨パッド10で被研磨物の研磨加工を行うときは、例えば、対向する2つの定盤を備えた両面研磨機が使用される。2つの定盤には、それぞれ研磨パッド10を貼着する。定盤に研磨パッド10を貼着するときは、剥離紙9を取り除き露出した粘着剤層7bで貼着する。被研磨物および研磨パッド10間に研磨粒子を含む研磨液(スラリー)を循環供給するとともに、被研磨物に圧力(研磨圧)をかけながら少なくとも一方の定盤を回転させることで、被研磨物を研磨加工する。   When polishing an object to be polished with the polishing pad 10, for example, a double-side polishing machine having two opposing surface plates is used. A polishing pad 10 is adhered to each of the two surface plates. When adhering the polishing pad 10 to the surface plate, the release paper 9 is removed and the exposed adhesive layer 7b is applied. A polishing liquid (slurry) containing abrasive particles is circulated and supplied between the object to be polished and the polishing pad 10, and at least one surface plate is rotated while applying pressure (polishing pressure) to the object to be polished. Is polished.

<作用等>
次に、本実施形態の研磨パッド10の作用等について説明する。
<Action etc.>
Next, the operation and the like of the polishing pad 10 of this embodiment will be described.

ここで研磨パッド10での説明をわかりやすくするために、従来の研磨パッドについて説明する。図3(B)に示すように、従来の研磨パッド20では、ウレタンシート2が一様な材質の基材18と貼り合わされている。このため、研磨加工時に研磨圧(図の矢印a)がかけられると、ウレタンシート2が均等に押圧され、被研磨物70の加工面Sと研磨面Pとの間に供給された研磨粒子AGが一様に被研磨物70側に押し付けられる。このため、加工面Sおよび研磨面P間での研磨粒子AGの移動が制限され、加工面Sの局所的に研磨作用を及ぼすことがある。結果として、被研磨物70の加工面Sでは、スクラッチが発生しやすくなり、平坦性を損なうおそれがある。本実施形態は、これらの問題を解決することができる研磨パッド10である。   Here, in order to make the description of the polishing pad 10 easy to understand, a conventional polishing pad will be described. As shown in FIG. 3B, in the conventional polishing pad 20, the urethane sheet 2 is bonded to the base material 18 made of a uniform material. For this reason, when a polishing pressure (arrow a in the figure) is applied during the polishing process, the urethane sheet 2 is evenly pressed, and the abrasive particles AG supplied between the processed surface S and the polished surface P of the workpiece 70 are polished. Is uniformly pressed to the workpiece 70 side. For this reason, the movement of the abrasive particles AG between the processed surface S and the polished surface P is limited, and the processed surface S may be locally polished. As a result, scratches are likely to occur on the processed surface S of the workpiece 70, and flatness may be impaired. The present embodiment is a polishing pad 10 that can solve these problems.

本実施形態では、研磨パッド10がウレタンシート2と基材8とが貼り合わされ構成されている。基材8は、主材部8aと副材部8bとを有しており、副材部8bが主材部8aより小さいショアA硬度を有している。基材8では、副材部8bが主材部8aに均等に配置されている。主材部8aと副材部8bとでショアA硬度が異なるため、研磨圧がかけられると、被研磨物の加工面および研磨パッド10の研磨面Pの間に供給される研磨粒子にかかる押圧力が基材8の主材部8aの部分と、副材部8bが配置された部分とで異なることとなる。すなわち、図3(A)に示すように、研磨圧(矢印a)がかけられると、主材部8aの部分に対応する位置の研磨粒子AGにかかる押圧力(図のウレタンシート2内に示した大きな矢印。)と比べて、副材部8bが配置された部分に対応する位置の研磨粒子AGにかかる押圧力(図のウレタンシート2内に示した小さな矢印。)が小さくなる。このため、主材部8aの部分では、研磨粒子AGが研磨面Pと加工面Sとの間に挟まれ加工面Sに対する研磨作用を確実に発揮することができる。これに対して、副材部8bが配置された部分では、研磨粒子AGがウレタンシート2側に押し込まれやすく、研磨面Pと加工面Sとに挟まれつつ研磨面Pに沿う方向で移動しやすくなる。換言すれば、研磨面Pでは、確実な研磨作用を発揮する領域と、スラリーの循環性を確保する領域とが所定のパターン状に配置されている。これにより、研磨パッド10および被研磨物70間で研磨粒子AGの移動が均等化され、被研磨物70に対して局所的に研磨粒子AGが押し付けられることが低減するので、被研磨物70に対するスクラッチの発生を抑制することができ、加工面Sの面内での平坦性を均一化することができる。   In this embodiment, the polishing pad 10 is configured by bonding the urethane sheet 2 and the base material 8 together. The base material 8 has a main material portion 8a and a sub material portion 8b, and the sub material portion 8b has a Shore A hardness smaller than that of the main material portion 8a. In the base material 8, the secondary material part 8b is equally arrange | positioned at the main material part 8a. Since the Shore A hardness is different between the main material portion 8a and the secondary material portion 8b, when a polishing pressure is applied, the pressing applied to the abrasive particles supplied between the processed surface of the workpiece and the polishing surface P of the polishing pad 10 is applied. The pressure differs between the main material portion 8a portion of the base material 8 and the portion where the auxiliary material portion 8b is disposed. That is, as shown in FIG. 3A, when the polishing pressure (arrow a) is applied, the pressing force applied to the abrasive particles AG at the position corresponding to the main material portion 8a (shown in the urethane sheet 2 in the figure). Compared with the large arrow.), The pressing force (small arrow shown in the urethane sheet 2 in the figure) applied to the abrasive particles AG at the position corresponding to the portion where the sub-material portion 8b is disposed is small. For this reason, in the main material portion 8a, the abrasive particles AG are sandwiched between the polishing surface P and the processing surface S, and the polishing action on the processing surface S can be surely exhibited. On the other hand, in the portion where the secondary material portion 8b is disposed, the abrasive particles AG are easily pushed into the urethane sheet 2 side, and move in a direction along the polishing surface P while being sandwiched between the polishing surface P and the processing surface S. It becomes easy. In other words, on the polishing surface P, a region that exhibits a reliable polishing action and a region that ensures the circulation of the slurry are arranged in a predetermined pattern. As a result, the movement of the abrasive particles AG between the polishing pad 10 and the workpiece 70 is equalized, and the local pressing of the abrasive particles AG against the workpiece 70 is reduced. The occurrence of scratches can be suppressed, and the flatness within the processed surface S can be made uniform.

また、本実施形態では、副材部8bが同心円状に配置されており、その中心間距離W2が1〜200mmの範囲に調整されている。このため、研磨パッド10および被研磨物70間における研磨粒子AGの移動が均等化されるので、平坦性の向上を図ることができる。また、副材部8bでは、主材部8aより薄い厚みであり、粘着剤層7aに当接する面からの厚さt1が基材8の厚さT2に対して50%以上に調整されている。厚さt1の厚さT2に対する割合が50%より小さいと、研磨圧がかけられても、研磨粒子AGに対する押圧力の差が小さくなり、研磨粒子AGの移動性が不十分となる。厚さt1の割合を調整することで、主材部8aより大きい圧縮率を有する、つまり主材部8aより柔軟な副材部8bにより研磨粒子の移動をしやすくすることができる。一方、副材部8bが主材部8aより薄い厚みとしたことで、研磨面Pの全体に対応するように主材部8aが位置することとなる。このため、基材8の全体として、研磨加工時にウレタンシート2を支持する機能を発揮することができる。更に、副材部8bでは、幅W1が0.5〜10mmの範囲に調整されている。このため、研磨粒子AGの移動しやすい部分の幅が確保されるので、被研磨物70の平坦性向上を図ることができる。また、本実施形態では、主材部8aおよび副材部8bが粘着剤層7aに当接している。このため、基材8の全面が粘着剤層7aを介してウレタンシート2と貼り合わされるので、研磨加工時に基材8とウレタンシート2との剥離を抑制することができる。   Moreover, in this embodiment, the submaterial part 8b is arrange | positioned concentrically, and the center distance W2 is adjusted to the range of 1-200 mm. For this reason, since the movement of the abrasive particles AG between the polishing pad 10 and the workpiece 70 is equalized, the flatness can be improved. Further, the secondary material portion 8b is thinner than the main material portion 8a, and the thickness t1 from the surface in contact with the adhesive layer 7a is adjusted to 50% or more with respect to the thickness T2 of the base material 8. . When the ratio of the thickness t1 to the thickness T2 is smaller than 50%, even if the polishing pressure is applied, the difference in the pressing force with respect to the abrasive particles AG becomes small, and the mobility of the abrasive particles AG becomes insufficient. By adjusting the ratio of the thickness t1, the abrasive particles can be easily moved by the secondary material portion 8b having a compression ratio larger than that of the main material portion 8a, that is, softer than the main material portion 8a. On the other hand, the sub-material portion 8b is thinner than the main material portion 8a, so that the main material portion 8a is positioned so as to correspond to the entire polishing surface P. For this reason, the whole base material 8 can exhibit the function of supporting the urethane sheet 2 during polishing. Furthermore, in the secondary material part 8b, the width W1 is adjusted to a range of 0.5 to 10 mm. For this reason, since the width | variety of the part which the abrasive particle AG tends to move is ensured, the flatness of the to-be-polished object 70 can be improved. In the present embodiment, the main material portion 8a and the auxiliary material portion 8b are in contact with the adhesive layer 7a. For this reason, since the whole surface of the base material 8 is bonded to the urethane sheet 2 via the pressure-sensitive adhesive layer 7a, peeling between the base material 8 and the urethane sheet 2 can be suppressed during polishing.

更に、本実施形態では、基材8の厚さT2が50〜2000μmの範囲、ウレタンシート2の厚さT1が0.2〜2.0mmの範囲に調整されている。基材8の厚さT2が50μmより小さくなると、基材8に配される副材部8bの厚さt1が小さくなるため、上述した研磨粒子AGの移動しやすさを十分に発揮することが難しくなる。反対に、基材8の厚さT2が2000μmより大きくなると、研磨パッド10の全体厚さが大きくなるため、好ましくない。また、ウレタンシート2の厚さT1が0.2mmより小さいと、湿式凝固法により作製しても形成されるセルの大きさが厚さT1で制限されるため、研磨加工時に十分なクッション性を発揮することが難しくなる。反対にウレタンシート2の厚さT1が2.0mmより大きくなると、湿式凝固法による作製時にポリウレタン樹脂溶液の凝固が不十分となり、発泡構造の形成やウレタンシート自体の形成が不十分となる可能性がある。従って、基材8の厚さT2、ウレタンシート2の厚さT1を上述した範囲とすることで、作製時に不都合を生じることなく、研磨加工時に十分な効果を発揮することができる。   Furthermore, in this embodiment, the thickness T2 of the base material 8 is adjusted in the range of 50 to 2000 μm, and the thickness T1 of the urethane sheet 2 is adjusted in the range of 0.2 to 2.0 mm. When the thickness T2 of the base material 8 is smaller than 50 μm, the thickness t1 of the secondary material portion 8b disposed on the base material 8 is small, so that the above-described ease of movement of the abrasive particles AG can be sufficiently exhibited. It becomes difficult. On the other hand, if the thickness T2 of the substrate 8 is greater than 2000 μm, the overall thickness of the polishing pad 10 increases, which is not preferable. In addition, if the thickness T1 of the urethane sheet 2 is smaller than 0.2 mm, the size of the formed cell is limited by the thickness T1 even if it is produced by the wet coagulation method. It becomes difficult to demonstrate. On the other hand, if the thickness T1 of the urethane sheet 2 is larger than 2.0 mm, the polyurethane resin solution may not be sufficiently solidified during the production by the wet coagulation method, and the foam structure and the urethane sheet itself may not be sufficiently formed. There is. Therefore, by setting the thickness T2 of the base material 8 and the thickness T1 of the urethane sheet 2 within the above-described ranges, a sufficient effect can be exhibited during polishing without causing inconvenience during production.

なお、本実施形態では、基材8として、シート状の主材部8aに形成した同心円状の溝に副材部8bの樹脂を充填する例を示したが、本発明はこれに制限されるものではない。溝の形状としては、同心円状に代えて、例えば、格子状や縞状とすることができる。すなわち、図2(B)に示すように直線状の溝を格子状に形成してもよく、図2(C)に示すように直線状の溝を縞(ストライプ)状に形成してもよい。これらの場合に、溝の幅、深さ、中心間距離を調整してもよいことはもちろんである。このような溝に副材部8bの樹脂を充填することで、本実施形態と同様の効果を得ることができる。また、主材部8aに溝を形成することに代えて、エンボス加工等により窪みを離散状に形成することも可能である。例えば、図2(D)に示すようにウレタンシート2側の面内で円形状の複数の窪みを同心円状に整列するように形成してもよく、図2(E)に示すように円形状の複数の窪みを格子状に整列するように形成してもよい。円形状の窪みに代えて、例えば、図2(F)に示すように、矩形状の窪みを格子状に整列するように形成してもよい。更には、窪みを形成する場合に、厳密に均等に形成することが難しいことを考慮すれば、概ね均等であればよい。このような窪みに副材部8bの樹脂を充填することで、本実施形態と同様の効果を得ることができる。   In the present embodiment, as an example of the base material 8, the concentric groove formed in the sheet-like main material portion 8 a is filled with the resin of the secondary material portion 8 b, but the present invention is limited to this. It is not a thing. As the shape of the groove, for example, a lattice shape or a stripe shape can be used instead of the concentric shape. That is, the linear grooves may be formed in a lattice shape as shown in FIG. 2B, or the linear grooves may be formed in a stripe shape as shown in FIG. . In these cases, it goes without saying that the width, depth, and center-to-center distance of the grooves may be adjusted. By filling such a groove with the resin of the secondary material portion 8b, the same effect as in the present embodiment can be obtained. Moreover, it can replace with forming the groove | channel in the main-material part 8a, and can form a hollow by embossing etc. discretely. For example, as shown in FIG. 2 (D), a plurality of circular recesses may be formed so as to be concentrically arranged in the surface on the urethane sheet 2 side, and as shown in FIG. The plurality of depressions may be formed so as to be aligned in a lattice pattern. Instead of the circular depressions, for example, rectangular depressions may be formed so as to be arranged in a lattice pattern as shown in FIG. Furthermore, when the depressions are formed, considering that it is difficult to form the recesses precisely, it is only necessary that the recesses are approximately equal. The effect similar to this embodiment can be acquired by filling such a hollow with resin of the submaterial part 8b.

また、本実施形態では、主材部8aおよび副材部8bの粘着剤層7aに当接する面が同一平面を形成する例を示したが、本発明はこれに制限されるものではない。主材部8aに形成した溝に樹脂を流し込み副材部8bを形成することを考慮すれば、副材部8bで樹脂が若干盛り上がることも予想される。この場合でも、粘着剤層7aを介してウレタンシート2と貼り合わせることで、粘着剤層7aの弾性により副材部8bの盛り上がりを吸収することができる。更に、本実施形態では、同一平面を形成した主材部8aおよび副材部8bの一面側とウレタンシート2の裏面側とを粘着剤層7aを介して貼り合わせる例を示したが、本発明はこれに制限されるものではない。副材部8bを主材部8aのウレタンシート2と反対の面側に配置するようにしてもよい。このことは、例えば、ウレタンシート2の裏面側に主材部となるPET製フィルムを粘着剤層7aを介して貼り合わせた後、主材部のウレタンシート2と反対の面側に溝や窪みを形成し副材部の樹脂を充填することで実現することができる。主材部および副材部が同一平面を形成することが好ましいことはもちろんである。同一平面を形成した主材部および副材部が粘着剤層7bに当接することとなる。この場合、副材部の粘着剤層7bに当接する面からの厚さを基材(主材部)の厚さに対して70%以上とすることが好ましい。   In the present embodiment, an example is shown in which the surfaces of the main material portion 8a and the auxiliary material portion 8b that are in contact with the adhesive layer 7a form the same plane, but the present invention is not limited to this. Considering that the secondary material portion 8b is formed by pouring resin into the groove formed in the main material portion 8a, it is expected that the resin will rise slightly in the secondary material portion 8b. Even in this case, by adhering to the urethane sheet 2 via the pressure-sensitive adhesive layer 7a, it is possible to absorb the rising of the secondary material portion 8b due to the elasticity of the pressure-sensitive adhesive layer 7a. Furthermore, in this embodiment, although the example which bonds together the one surface side of the main material part 8a and the submaterial part 8b which formed the same plane, and the back surface side of the urethane sheet 2 via the adhesive layer 7a was shown, this invention Is not limited to this. You may make it arrange | position the submaterial part 8b in the surface side opposite to the urethane sheet 2 of the main material part 8a. This is because, for example, a PET film as a main material part is bonded to the back surface side of the urethane sheet 2 via an adhesive layer 7a, and then a groove or a depression is formed on the surface side opposite to the urethane sheet 2 of the main material part. Can be realized by filling the resin of the secondary material part. Of course, it is preferable that the main material portion and the auxiliary material portion form the same plane. The main material part and the sub-material part which formed the same plane will contact | abut to the adhesive layer 7b. In this case, it is preferable that the thickness from the surface of the secondary material portion that contacts the pressure-sensitive adhesive layer 7b is 70% or more with respect to the thickness of the base material (main material portion).

更に、本実施形態では、主材部8aに対して1種類の副材部8bを配置する例を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。副材部8bとしては、主材部8aより小さい硬度を有していればよく、例えば、2種類以上の副材部8bを配置するようにしてもよい。換言すれば、複数の溝に、それぞれ異なる樹脂を充填するようにすることができる。主材部8aと副材部8bとの硬度の差異により研磨粒子AGの移動性を向上させることから、副材部8bとして複数の樹脂を用いても本実施形態と同様の効果を得ることができる。また、本実施形態では、基材8が研磨パッド10の全体を支持する機能を兼ねる例を示したが、基材8と別に支持材を貼り合わせるようにしてもよい。この場合は、支持材を基材8のウレタンシート2と反対の面側に貼り合わせればよい。支持材の材質としては、研磨パッド10の全体を支持する機能を発揮することができれば、特に制限されるものではない。   Furthermore, in this embodiment, although the example which arrange | positions one kind of submaterial part 8b with respect to the main material part 8a was shown, this invention is not limited to this. The secondary material portion 8b only needs to have a smaller hardness than the main material portion 8a. For example, two or more types of secondary material portions 8b may be arranged. In other words, a plurality of grooves can be filled with different resins. Since the mobility of the abrasive particles AG is improved by the difference in hardness between the main material portion 8a and the secondary material portion 8b, the same effect as in this embodiment can be obtained even if a plurality of resins are used as the secondary material portion 8b. it can. Further, in the present embodiment, an example in which the base material 8 also has a function of supporting the entire polishing pad 10 has been shown, but a support material may be bonded separately from the base material 8. In this case, what is necessary is just to affix a support material on the surface side opposite to the urethane sheet 2 of the base material 8. FIG. The material of the support material is not particularly limited as long as the function of supporting the entire polishing pad 10 can be exhibited.

また更に、本実施形態では、ウレタンシート2のスキン層2aと反対の面、つまり裏面側にバフ処理が施された例を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、研磨加工の対象とする被研磨物70の種類等により、裏面側をバフ処理することに代えて、スキン層2a側にバフ処理を施すようにしてもよい。例えば、研磨加工により被研磨物70の加工面Sから除去する研磨量を大きくすることが望まれるような場合には、スキン層2a側にバフ処理を施すことで、ウレタンシート2の内部に形成されたセル5の開孔が研磨面Pに形成されるようにすることができる。研磨面Pにセル5の開孔が形成されることで、研磨粒子AGを含む研磨液がセル5内に貯留されつつ循環供給されることとなる。スキン層2a側と裏面側との両面にバフ処理を施すようにしてもよいことはもちろんである。   Furthermore, in the present embodiment, an example in which the surface opposite to the skin layer 2a of the urethane sheet 2, that is, the back surface side is buffed is shown, but the present invention is not limited to this. For example, instead of buffing the back surface side depending on the type of the object 70 to be polished, the buffing may be performed on the skin layer 2a side. For example, when it is desired to increase the amount of polishing to be removed from the processed surface S of the workpiece 70 by polishing, the inner surface of the urethane sheet 2 is formed by buffing the skin layer 2a. An opening of the formed cell 5 can be formed on the polishing surface P. By forming the opening of the cell 5 on the polishing surface P, the polishing liquid containing the abrasive particles AG is circulated and supplied while being stored in the cell 5. Of course, buffing may be performed on both the skin layer 2a side and the back surface side.

更にまた、本実施形態では、湿式凝固法により作製したポリウレタン樹脂製のウレタンシート2を例示したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、ポリウレタン樹脂以外に、ポリエチレン樹脂等を用いることも可能であり、湿式凝固法により発泡構造が形成される樹脂であれば、いずれのものも使用することができる。更に付言すれば、軟質プラスチックについては、日本工業規格(JIS K6900−1994 プラスチック−用語)に、「指定条件のもとで、曲げ試験、またはそれが適用できない場合には引張試験における弾性率が、70MPaより大きくないプラスチック」と定められていることから、この条件を満たすものであればよい。   Furthermore, in the present embodiment, the urethane resin-made urethane sheet 2 produced by the wet coagulation method is illustrated, but the present invention is not limited to this. For example, in addition to the polyurethane resin, a polyethylene resin or the like can be used, and any resin can be used as long as the foamed structure is formed by a wet coagulation method. In addition, for soft plastics, the Japanese Industrial Standard (JIS K6900-1994 Plastics-Terminology) states, “Under specified conditions, the elastic modulus in the bending test, or if it is not applicable, in the tensile test, Since it is defined as “plastic not larger than 70 MPa”, any material satisfying this condition may be used.

また、本実施形態では、ウレタンシート2と基材8とを貼り合わせる粘着剤層7a(粘着剤層7bも同様。)をアクリル系粘着剤で形成する例を示したが、本発明はこれに制限されるものではない。粘着剤としては、アクリル系以外に、ウレタン系やエポキシ系等の粘着剤を用いてもよい。また、粘着剤層7aや粘着剤層7bとして、例えば、支持基材を有することなく粘着剤のみが2枚の剥離紙に挟まれた両面テープであるノンサポートテープを用いることも可能である。   Moreover, in this embodiment, although the example which forms the adhesive layer 7a (the adhesive layer 7b is also the same) which bonds the urethane sheet 2 and the base material 8 with an acrylic adhesive was shown, this invention is based on this. It is not limited. As an adhesive, in addition to acrylic, an adhesive such as urethane or epoxy may be used. Further, as the pressure-sensitive adhesive layer 7a and the pressure-sensitive adhesive layer 7b, for example, it is possible to use a non-support tape that is a double-sided tape in which only the pressure-sensitive adhesive is sandwiched between two release papers without having a supporting base material.

次に、本実施形態に従い製造した研磨パッド10の実施例について説明する。なお、比較のために製造した比較例の研磨パッドについても併記する。   Next, examples of the polishing pad 10 manufactured according to the present embodiment will be described. A comparative polishing pad manufactured for comparison is also shown.

(実施例1)
実施例1では、基材8として、厚さT2が1.5mmのPET製フィルム(ショアA硬度95度)の主材部8aに同心円状の溝を、幅2mm、深さ1.3mm、中心間距離5mmとなるように形成した。この溝に、副材部8bを形成する樹脂として、シリコン樹脂(ショアA硬度30度)を充填した。副材部8bの幅W1が2mm、厚さt1が1.3mm、中心間距離W2が5mmとなる。
Example 1
In Example 1, as a base material 8, a concentric groove is formed in a main material portion 8a of a PET film (Shore A hardness 95 degrees) having a thickness T2 of 1.5 mm, a width of 2 mm, a depth of 1.3 mm, and a center. The distance was 5 mm. This groove was filled with a silicon resin (Shore A hardness 30 degrees) as a resin for forming the secondary material portion 8b. The width W1 of the secondary material portion 8b is 2 mm, the thickness t1 is 1.3 mm, and the center distance W2 is 5 mm.

(比較例1)
比較例1では、基材18として、厚さT2が1.5mmのPET製フィルムをそのまま用いること以外は実施例1と同様にした。すなわち、比較例1は従来の研磨パッド20である(図3(B)参照)。
(Comparative Example 1)
In Comparative Example 1, the same procedure as in Example 1 was performed except that a PET film having a thickness T2 of 1.5 mm was used as the substrate 18 as it was. That is, Comparative Example 1 is a conventional polishing pad 20 (see FIG. 3B).

(研磨性能評価)
各実施例および比較例の研磨パッドを用いて、以下の研磨条件でハードディスク用アルミニウム基板の研磨加工を行い、ロールオフ、スクラッチの有無により研磨性能を評価した。ロールオフは、被研磨物の外縁部が中心部より過度に研磨加工されることで生じ、平坦性を評価するための測定項目の1つである。測定方法としては、例えば、光学式表面粗さ計にて外周端部から中心に向かい0.5mmの位置より半径方向に1.5mmの範囲で2次元プロファイル像を得る。得られた2次元プロファイル像において、半径方向をX軸、厚み方向をY軸としたときに、外周端部からX=0.5mmおよびX=1.5mmの座標位置のY軸の値がY=0となるようにレベリング補正し、このときの2次元プロファイル像のX=0.5〜1.5mm間におけるPV値を求めた。ロールオフの測定には、表面粗さ測定機(Zygo社製、型番New View 5022)を使用し、平均値(Avg)および最大値(Max)を求めた。スクラッチの有無は、研磨加工後のアルミニウム基板を目視にて判定した。ロールオフ、スクラッチの有無の測定結果を下表1に示す。
(研磨条件)
使用研磨機:スピードファム社製、9B−5Pポリッシングマシン
回転数:(定盤)30r/m
研磨圧力:90g/cm
研磨剤:コロイダルシリカスラリー(平均粒子径:0.05μm)
被研磨物:95mmφハードディスク用アルミニウム基板
研磨時間:300秒間
(Polishing performance evaluation)
Using the polishing pad of each Example and Comparative Example, the aluminum substrate for hard disk was polished under the following polishing conditions, and the polishing performance was evaluated by the presence or absence of roll-off and scratch. Roll-off occurs when the outer edge of the object to be polished is excessively polished from the center, and is one of the measurement items for evaluating flatness. As a measuring method, for example, a two-dimensional profile image is obtained within a range of 1.5 mm in the radial direction from a position of 0.5 mm from the outer peripheral end to the center with an optical surface roughness meter. In the obtained two-dimensional profile image, when the radial direction is the X axis and the thickness direction is the Y axis, the values of the Y axis at the coordinate positions of X = 0.5 mm and X = 1.5 mm from the outer peripheral end are Y Leveling correction was performed so that = 0, and the PV value of X = 0.5 to 1.5 mm of the two-dimensional profile image at this time was obtained. For measurement of roll-off, a surface roughness measuring machine (manufactured by Zygo, model number New View 5022) was used, and an average value (Avg) and a maximum value (Max) were obtained. The presence or absence of scratch was determined by visual observation of the polished aluminum substrate. Table 1 below shows the measurement results for the presence or absence of roll-off and scratches.
(Polishing conditions)
Polishing machine used: 9B-5P polishing machine manufactured by Speed Fam Co., Ltd.
Polishing pressure: 90 g / cm 2
Abrasive: Colloidal silica slurry (average particle size: 0.05 μm)
Object to be polished: 95 mmφ hard disk aluminum substrate Polishing time: 300 seconds

Figure 0005587636
Figure 0005587636

表1に示すように、比較例1の研磨パッド20では、ロールオフの平均値が7.7nm、最大値が9.4nmを示しており、高精度な平坦性の要求に応えることが難しく、また、アルミニウム基板にスクラッチも認められた。これに対して、実施例1の研磨パッド10では、ロールオフの平均値が5.3nm、最大値が6.8nmと大きく向上しており、高精度な平坦性要求に対しても十分に応えることができる。また、アルミニウム基板に対するスクラッチも認められず、優れた研磨性能を示すことが明らかとなった。   As shown in Table 1, the polishing pad 20 of Comparative Example 1 has an average roll-off value of 7.7 nm and a maximum value of 9.4 nm, and it is difficult to meet the demand for high-precision flatness. Scratches were also observed on the aluminum substrate. On the other hand, in the polishing pad 10 of Example 1, the average value of roll-off is greatly improved to 5.3 nm and the maximum value is 6.8 nm, and the high-precision flatness requirement is sufficiently met. be able to. In addition, no scratches on the aluminum substrate were observed, and it was revealed that excellent polishing performance was exhibited.

本発明は被研磨物に対するスクラッチを抑制しつつ平坦性を均一化することができる研磨パッドを提供するものであるため、研磨パッドの製造、販売に寄与するので、産業上の利用可能性を有する。   Since the present invention provides a polishing pad that can make the flatness uniform while suppressing scratches on the object to be polished, it contributes to the manufacture and sale of the polishing pad, and thus has industrial applicability. .

P 研磨面
2 ウレタンシート(軟質プラスチックシート)
7a 粘着剤層
8 基材
8a 主材部(主材)
8b 副材部(副材)
10 研磨パッド
P Polished surface 2 Urethane sheet (soft plastic sheet)
7a Adhesive layer 8 Base material 8a Main material part (main material)
8b Secondary material part (secondary material)
10 Polishing pad

Claims (9)

湿式凝固法により形成され一面側に研磨面を有する軟質プラスチックシートと、
前記軟質プラスチックシートの他面側に配された基材と、
前記軟質プラスチックシートおよび基材を貼り合わせる粘着剤層と、
を備え、
前記基材は、複数の溝ないし窪みが所定パターンを形成するように形成された可塑性を有するシート状の主材と、前記主材より小さい硬度および薄い厚みを持ち少なくとも1種の複数の副材とを有しており、前記副材が前記主材に形成された前記溝ないし窪みに配置され、一面側の全面が前記粘着剤層に当接したことを特徴とする研磨パッド。
A soft plastic sheet formed by a wet coagulation method and having a polished surface on one side;
A base material disposed on the other side of the soft plastic sheet;
An adhesive layer that bonds the soft plastic sheet and the substrate;
With
The base material is a sheet-like main material having plasticity formed such that a plurality of grooves or depressions form a predetermined pattern, and at least one kind of a plurality of sub-materials having a smaller hardness and thickness than the main material. A polishing pad, wherein the sub-material is disposed in the groove or depression formed in the main material, and the entire surface on one surface is in contact with the pressure-sensitive adhesive layer.
前記基材は、前記主材の一面側に前記副材が配置されており、前記主材および副材の一面側が同一平面を形成していることを特徴とする請求項1に記載の研磨パッド。   2. The polishing pad according to claim 1, wherein the secondary material is disposed on one surface side of the main material, and the one surface side of the main material and the secondary material forms the same plane. . 前記主材に配置された副材は、前記所定パターンが離散状、縞状、格子状または同心円状であることを特徴とする請求項2に記載の研磨パッド。   The polishing pad according to claim 2, wherein the secondary material arranged in the main material has the predetermined pattern which is discrete, striped, latticed or concentric. 前記基材は、前記主材に形成された前記溝ないし窪みに前記副材を形成する樹脂が充填され形成されていることを特徴とする請求項3に記載の研磨パッド。 4. The polishing pad according to claim 3, wherein the base material is formed by filling the groove or the depression formed in the main material with a resin that forms the secondary material. 5. 前記副材は、前記粘着剤層に当接する面からの厚さが前記基材の厚さに対して50%以上であることを特徴とする請求項2に記載の研磨パッド。   The polishing pad according to claim 2, wherein the sub-material has a thickness from a surface in contact with the pressure-sensitive adhesive layer of 50% or more with respect to the thickness of the base material. 前記基材は、厚さが50μm〜2000μmの範囲であることを特徴とする請求項に記載の研磨パッド。 The polishing pad according to claim 5 , wherein the substrate has a thickness in the range of 50 μm to 2000 μm. 前記溝は、幅が0.5mm〜10mmの範囲であり、隣り合う溝の中心間距離が1mm〜200mmの範囲であることを特徴とする請求項に記載の研磨パッド。 The polishing pad according to claim 4 , wherein the groove has a width in a range of 0.5 mm to 10 mm, and a distance between centers of adjacent grooves is in a range of 1 mm to 200 mm. 前記基材は、前記主材がポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンおよびポリ塩化ビニルから選択される少なくとも1種であり、前記副材がエラストマであることを特徴とする請求項1に記載の研磨パッド。   2. The polishing pad according to claim 1, wherein the base material is at least one selected from polyethylene terephthalate, polyethylene, and polyvinyl chloride, and the secondary material is an elastomer. 前記軟質プラスチックシートは、ポリウレタン樹脂製であることを特徴とする請求項に記載の研磨パッド。 The polishing pad according to claim 8 , wherein the soft plastic sheet is made of a polyurethane resin.
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