JP5515989B2 - Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system - Google Patents
Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system Download PDFInfo
- Publication number
- JP5515989B2 JP5515989B2 JP2010087629A JP2010087629A JP5515989B2 JP 5515989 B2 JP5515989 B2 JP 5515989B2 JP 2010087629 A JP2010087629 A JP 2010087629A JP 2010087629 A JP2010087629 A JP 2010087629A JP 5515989 B2 JP5515989 B2 JP 5515989B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- unit
- light
- phosphorescent
- luminance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
本発明は、残留輝度を測定する残留輝度測定装置および残留輝度測定システムに関し、特に、緊急時、照明が失われた場合に、人々の避難を誘導する蓄光標識が、実際に照明が失われた後、所定時間、誘導に必要な輝度を維持することを確認するために好適な残留輝度測定装置および残留輝度測定システムに関する。 The present invention relates to a residual luminance measuring apparatus and a residual luminance measuring system for measuring residual luminance, and in particular, in an emergency, when a light is lost, a phosphorescent sign that induces people to evacuate is actually lost. The present invention relates to a residual luminance measuring apparatus and a residual luminance measuring system suitable for confirming that the luminance necessary for guidance is maintained for a predetermined time.
りん光(蓄光)材料を用いた蓄光標識は、緊急時に停電が生じた場合に、減衰しながらも一定時間りん光(発光)を維持し、避難を誘導することができるという特徴を持つ。このような特徴から、蓄光標識は、地下鉄など交通機関の駅構内、ビル、公共施設等の床あるいは壁等に多数(例えば、1施設あたり100個以上)設備されている。 A phosphorescent sign using a phosphorescent (phosphorescent) material has a feature that, in the event of a power failure in an emergency, it can maintain phosphorescence (emission) for a certain period of time while being attenuated, and induce evacuation. Due to such characteristics, a large number (for example, 100 or more) of phosphorescent signs are installed on the floors or walls of transportation stations such as subways, buildings, and public facilities.
このような蓄光標識100は、例えば、図11に示すように、りん光材料を含む発光域101と、少なくとも所定のシンボルを示し、かつ、りん光材料を含まない非発光域102とを備える。蓄光標識100は、外光が遮断されると、りん光材料が蓄積していた蓄光によって発光域101が一定時間発光を維持する一方で、非発光域102が発光しないことにより、両者の対比でシンボルが明示されるものである。
For example, as shown in FIG. 11, such a
このような蓄光標識100の蓄光による発光は、実際に照明が失われた場合、時間の経過に伴って減衰し、やがて前記所定のシンボルが視認されなくなる。さらに、りん光材料の蓄光能力は、経年により低下する。そのため、緊急時の安全の確保のためには、実際に照明が失われたとき、蓄光標識100が所定時間(例えば20分間)経過した後、所定の発光輝度を維持していることを定期的に点検する必要がある。しかし、前記施設で実際に照明を消灯し、所定時間経過後のりん光の輝度を実測、確認することは現実的でない。そして、前記施設で照明を消灯する代わりに蓄光標識100を外光から遮光して輝度を測定することは、100個以上の蓄光標識100の各々に20分間を要するため実用的ではない。
Such light emission by the
このような不都合を解決するための手段として、例えば、特許文献1および特許文献2には、遮光初期、例えば、3分間の輝度変化から、20分後の輝度を推定する方法が開示されている。図12は、代表的な蓄光材料の残光輝度の減衰特性を示すグラフである。図12の横軸は、時間(分;Min.)を、縦軸は、輝度(Cd/m2)の変化を各々対数で示す。特許文献1および特許文献2に開示の方法は、図12に例示した輝度の減衰特性を関数近似し、3分間の輝度変化から、近似関数を用いて20分後の輝度を推定することで、測定時間を大幅に短縮するものである。
As means for solving such an inconvenience, for example,
特許文献1および特許文献2に開示の方法によれば、推定された輝度の精度は、近似関数あるいは理論減衰特性の妥当性にかかる。しかし、図12に示すように、蓄光材料の輝度減衰は、直線からずれており、適切な近似関数が得にくい。さらに、そのずれ方も蓄光材料ごとに異なることから、今後加わる新規の蓄光材料を含めて汎用的な理論減衰特性を与えることは難しい。このため、遮光後20分後の輝度を実測する方法に比べて、特許文献1および特許文献2に記載の方法では、精度と信頼性が低下してしまう。
According to the methods disclosed in
さらに、特許文献1および特許文献2に記載の方法では、3分間の輝度推移による測定誤差は、遮光後20分後の推定誤差では大きく拡大されるため、3分間の輝度推移を高精度で測定することが必要である。このため、蓄光標識100を安定して遮光し、蓄光標識100と測定装置との位置関係を一定に保持する必要がある。しかし、たとえ3分間であっても、床や壁の高低さまざまな位置に取り付けられた蓄光標識100を安定して遮光し、測定装置を安定して保持することは難しく、特に、測定装置が輝度計として機能するための光学系を備え、相当の重さと大きさをもつ場合、測定装置の操作者に大きな負担を強いることになる。
Further, in the methods described in
本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、操作者の負担の小さい残留輝度測定装置および残留輝度測定システムを提供することである。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a residual luminance measuring apparatus and a residual luminance measuring system with a small burden on the operator.
本発明者は、種々検討した結果、上記目的は、以下の本発明により達成されることを見出した。すなわち、本発明の一態様にかかる残留輝度測定装置は、遮光された蓄光標識における測定域の残留輝度を測定する残留輝度測定装置であって、前記蓄光標識における測定域からの放射光を受光する受光部と、前記受光部を制御し、測定開始から所定時間経過後までの前記測定域からの放射光を前記受光部で測定する制御部と、前記受光部で測定された測定値を記憶する記憶部と、前記受光部と前記制御部と前記記憶部とを納めるハウジングとを備え、前記ハウジングは、前記受光部が前記蓄光標識における測定域に対向し、前記測定域が周囲光から遮光されるように、前記蓄光標識に脱着可能に固定するための固定手段を装着する固定部を有することを特徴とする。 As a result of various studies, the present inventor has found that the above object is achieved by the present invention described below. That is, the residual luminance measuring apparatus according to one aspect of the present invention is a residual luminance measuring apparatus that measures the residual luminance of the measurement area in the light-shielded luminous sign, and receives the radiated light from the measurement area in the luminous sign. A light-receiving unit, a control unit that controls the light-receiving unit, and measures the measured light measured by the light-receiving unit, which is measured by the light-receiving unit from the measurement area until a predetermined time elapses. A storage unit, and a housing for housing the light receiving unit, the control unit, and the storage unit, wherein the light receiving unit is opposed to a measurement area in the phosphorescent sign, and the measurement area is shielded from ambient light. As described above, it has a fixing portion for mounting a fixing means for detachably fixing to the phosphorescent sign.
上記構成によれば、固定部を有するので、残留輝度測定装置を固定後は操作者の手を煩わせることなく、所定時間後の残留輝度を測定することができる。 According to the above configuration, since the fixing portion is provided, the residual luminance after a predetermined time can be measured without bothering the operator after fixing the residual luminance measuring device.
また、他の一態様では、上述の残留輝度測定装置において、前記制御部は、前記受光部で測定された測定値に基づいて、測定開始から所定時間後までの受光量変化率を測定し、前記受光量変化率と、予め測定された前記測定域の初期輝度とから、測定開始から所定時間後における前記測定域の残留輝度を求めることを特徴とする。 Further, in another aspect, in the above-described residual luminance measuring device, the control unit measures a change rate of received light amount from a measurement start to a predetermined time based on a measurement value measured by the light receiving unit, The residual luminance of the measurement area after a predetermined time from the start of measurement is obtained from the rate of change in received light amount and the initial luminance of the measurement area measured in advance.
この構成によれば、残留輝度測定装置には測定開始から所定時間までの受光量の相対測定の精度のみが要求される。このため、残留輝度測定装置には測定開始から所定時間までの輝度の測定に必要とされる構成が不要であるから、残留輝度測定装置を小型、軽量に構成することができるので、残留輝度測定装置を蓄光標識に容易に所定時間固定できる。さらに、この構成によれば、低コストで構成することができるので、効率的な測定のために多数個の残留輝度測定装置を使用しても大きな負担増とならない。 According to this configuration, the residual luminance measuring device is required only for the relative measurement accuracy of the received light amount from the measurement start to the predetermined time. For this reason, the residual luminance measuring device does not need the configuration required for measuring the luminance from the start of measurement until a predetermined time, and therefore the residual luminance measuring device can be configured to be small and light. The device can be easily fixed to the phosphorescent sign for a predetermined time. Further, according to this configuration, since it can be configured at a low cost, even if a large number of residual luminance measuring devices are used for efficient measurement, there is no significant increase in burden.
また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記受光部は、シリコンフォトダイオード(SPD)を備え、前記シリコンフォトダイオードの受光側には、前記シリコンフォトダイオードの相対分光感度を修飾する光学要素を持たないことを特徴とする。 According to another aspect, in the above-described residual luminance measuring apparatus, the light receiving unit includes a silicon photodiode (SPD), and the light receiving side of the silicon photodiode has a relative spectral sensitivity of the silicon photodiode. It has no optical element for modification.
この構成によれば、受光部は、直接的に受光し、相対分光感度を分光視感効率に近似させるためのフィルタを備える必要がなく、より低コストで構成可能であり、効率的な測定のために多数個の残留輝度測定装置を使用しても大きなコスト増とならない。また、この構成によれば、SPDが前記光学要素を備える必要がないので、光束の利用効率が高く、高感度、従って高精度とすることができる。 According to this configuration, the light receiving unit does not need to include a filter that directly receives light and approximates the relative spectral sensitivity to the spectral luminous efficiency, and can be configured at a lower cost. Therefore, even if a large number of residual luminance measuring devices are used, there is no significant increase in cost. In addition, according to this configuration, since the SPD does not need to include the optical element, the use efficiency of the light beam is high, and high sensitivity and high accuracy can be achieved.
また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記受光部は、シリコンフォトダイオード(SPD)を備え、前記記憶部は、前記測定域からの放射光に対する、分光視感効率と前記シリコンフォトダイオードの分光感度との関係を予め記憶し、前記制御部は、前記関係に基づいて、前記測定値を分光視感効率での値(輝度)に変換することを特徴とする。 Further, in another aspect, in the above-described residual luminance measuring device, the light receiving unit includes a silicon photodiode (SPD), and the storage unit has a spectral luminous efficiency with respect to radiated light from the measurement region. A relationship with the spectral sensitivity of the silicon photodiode is stored in advance, and the control unit converts the measured value into a value (luminance) with spectral luminous efficiency based on the relationship.
この構成によれば、受光部は、測定域からの放射光を分光視感効率に近似させるためのフィルタを備える必要がなく、より低コストで構成可能であり、効率的な測定のために多数個の残留輝度測定装置を使用しても大きなコスト増とならない。また、この構成によれば、フィルタを備える必要がないので、光束の利用効率が高く、高感度、従って高精度とすることができる。 According to this configuration, the light receiving unit does not need to include a filter for approximating the radiated light from the measurement area to the spectral luminous efficiency, and can be configured at a lower cost. Even if individual residual luminance measuring devices are used, there is no significant increase in cost. Further, according to this configuration, since it is not necessary to provide a filter, the light beam utilization efficiency is high, and high sensitivity and therefore high accuracy can be achieved.
また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記受光部は、分光感度の波長依存性を軽減するフィルタをさらに備え、前記フィルタを介して前記蓄光標識における測定域からの放射光を受光することを特徴とする。 According to another aspect, in the above-described residual luminance measuring apparatus, the light receiving unit further includes a filter that reduces the wavelength dependence of spectral sensitivity, and radiates from the measurement area of the phosphorescent sign via the filter. It is characterized by receiving light.
この構成によれば、前記受光部が分光感度の波長依存性を軽減するフィルタを介して前記放射光を受光するので、蓄光標識における放射光の分光分布が減衰中に多少変化することがあっても、影響を受けにくく高精度である。 According to this configuration, since the light receiving unit receives the radiated light through the filter that reduces the wavelength dependence of spectral sensitivity, the spectral distribution of the radiated light in the phosphorescent label may slightly change during attenuation. However, it is less affected and is highly accurate.
また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記固定部は、前記固定手段としての粘着テーブを装着するための領域であることを特徴とする。 According to another aspect, in the above-described residual luminance measuring apparatus, the fixing portion is a region for mounting an adhesive tape as the fixing means.
この構成によれば、所定時間の固定が粘着テープによって行われるので、残留輝度測定装置の所定時間の固定と取り外しを低コストかつ効率的に行うことができる。 According to this configuration, since the fixing for a predetermined time is performed by the adhesive tape, the fixing and removing of the residual luminance measuring device for the predetermined time can be performed at low cost and efficiently.
また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記固定部は、前記固定手段としての吸盤を装着するための領域であり、前記固定部に装着された吸盤をさらに備えることを特徴とする。 According to another aspect, in the above-described residual luminance measuring device, the fixing portion is an area for mounting a suction cup as the fixing means, and further includes a suction cup mounted on the fixing portion. Features.
この構成によれば、吸盤を備えるので、脱着の操作性が向上し、操作者の負担がより軽減される。 According to this configuration, since the suction cups are provided, the detachability is improved and the burden on the operator is further reduced.
また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記ハウジングは、前記受光部と前記制御部と前記記憶部とを納める測定ユニットと、前記測定ユニットを取り付けるための取り付け部を持つ遮光ユニットとを備え、前記遮光ユニットは、前記測定ユニットが前記取り付け部に取り付けられていない状態では前記測定域が視認可能であり、前記測定ユニットが前記取り付け部に取り付けられた状態では前記受光部が前記測定域に対向することを特徴とする。 According to another aspect, in the above-described residual luminance measuring device, the housing has a measurement unit that houses the light receiving unit, the control unit, and the storage unit, and an attachment unit for attaching the measurement unit. A light-shielding unit, wherein the light-shielding unit can visually recognize the measurement area when the measurement unit is not attached to the attachment part, and the light-receiving part when the measurement unit is attached to the attachment part. Is opposed to the measurement area.
この構成によれば、ハウジングは、測定部、制御部および記憶部を納める測定ユニットと、前記測定ユニットを取り付けるための取り付け部を持つ遮光ユニットとを備え、前記遮光ユニットは、前記測定ユニットが前記取り付け部に取り付けられていない状態では前記測定域が視認可能であり、前記測定ユニットが前記取り付け部に取り付けられると前記受光部が測定域に対向するので、操作者は、容易に、測定域を目視で確認しつつ前記受光部を測定域に対向させて残留輝度測定装置を所定時間固定することができる。 According to this configuration, the housing includes the measurement unit that houses the measurement unit, the control unit, and the storage unit, and the light-shielding unit that has the attachment unit for attaching the measurement unit. When the measurement unit is not attached to the attachment part, the measurement area is visible, and when the measurement unit is attached to the attachment part, the light receiving part faces the measurement area. The residual luminance measuring device can be fixed for a predetermined time with the light receiving portion facing the measurement area while visually confirming.
そして、本発明の他の一態様にかかる残留輝度測定システムは、複数の蓄光標識における各残留輝度を測定する残留輝度測定システムであって、前記複数の蓄光標識に対し脱着可能に固定可能であって、所定時間後の輝度変化率を測定する複数の測定ユニットと、前記複数の測定ユニットでの測定開始前に、前記複数の蓄光標識における各初期輝度を測定する初期輝度測定ユニットと、前記複数の測定ユニットによってそれぞれ測定された各輝度変化率と、前記初期輝度測定ユニットによってそれぞれ測定された各初期輝度とに基づいて、前記複数の蓄光標識における所定時間後の各残留輝度を求める処理ユニットとを備え、前記複数の測定ユニットのそれぞれは、これら上述のいずれかの残留輝度測定装置であることを特徴とする。 A residual luminance measurement system according to another aspect of the present invention is a residual luminance measurement system that measures each residual luminance in a plurality of phosphorescent signs, and can be detachably fixed to the plurality of phosphorescent signs. A plurality of measurement units for measuring a luminance change rate after a predetermined time, an initial luminance measurement unit for measuring each initial luminance in the plurality of phosphorescent signs before the measurement is started in the plurality of measurement units, and the plurality of the plurality of measurement units. A processing unit for obtaining each residual luminance after a predetermined time in the plurality of phosphorescent signs based on each luminance change rate measured by each of the measurement units and each initial luminance measured by the initial luminance measurement unit; Each of the plurality of measurement units is any one of the above-described residual luminance measurement devices.
このような構成の残留輝度測定システムでは、複数の蓄光標識について、初期輝度測定ユニットで初期輝度を測定した後、各蓄光標識に測定ユニットを固定して、複数の蓄光標識における所定時間後の各残留輝度を並列的(同時並行的)に測定するため、蓄光標識1個当たりの実質的な測定時間が短く、複数の蓄光標識全体に対する効率が高い。また、測定ユニットには、測定開始から所定時間後までの受光量における相対測定の精度のみが要求されるので、測定ユニットを小型、軽量かつ低コストで構成可能である。このように小型で軽量であることから、様々な配置位置の蓄光標識に容易に効率よく固定することができ、また、低コストであって、比較的高コストな初期輝度測定ユニットが1台でよいことから、効率化のために、このような測定ユニットを多数用意して使用しても大きな負担増とならない。
本発明のさらに他の一態様にかかる残留輝度測定装置は、遮光された蓄光標識における測定域の残留輝度を測定する残留輝度測定装置であって、前記蓄光標識における測定域の初期輝度値を予め取得する基準測定部と、前記蓄光標識における測定域からの放射光を受光する受光部と、前記受光部を制御し、測定開始から所定時間経過後までの前記測定域からの放射光を前記受光部で測定する制御部と、前記受光部で測定された測定値を記憶する記憶部と、前記受光部と前記制御部と前記記憶部とを納め、前記受光部が前記蓄光標識における測定域に対向し、前記測定域を周囲光から遮光するハウジングと、を備え、前記制御部は、前記受光部で測定された測定値に基づいて、前記測定開始から前記所定時間後までの受光量変化率を算出し、該測定開始前に取得した前記初期輝度値と前記受光量変化率とから、前記所定時間後における前記測定域の残留輝度を求めることを特徴とする。
本発明のさらに他の一態様にかかる残留輝度測定システムは、複数の蓄光標識における各残留輝度を測定する残留輝度測定システムであって、前記複数の蓄光標識の測定域をそれぞれ遮光する複数の遮光ユニットと、前記遮光ユニットによって前記測定域を遮光した状態で、前記測定域からの放射光の受光量の測定を開始し、測定開始から所定時間後に測定を中止することを、前記複数の蓄光標識のそれぞれに対して実行する複数の測定ユニットと、前記複数の測定ユニットでの測定開始前に、前記複数の蓄光標識における各初期輝度を測定する初期輝度測定ユニットと、前記複数の測定ユニットによってそれぞれ測定された受光量の測定値に基づいて、前記測定開始から前記所定時間後までの受光量変化率を、前記複数の蓄光標識のそれぞれに対して算出し、各受光量変化率と、前記初期輝度測定ユニットによってそれぞれ測定された各初期輝度とに基づいて、前記複数の蓄光標識における前記所定時間後の各残留輝度を求める処理ユニットとを備えたこと、を特徴とする。
In the residual luminance measuring system having such a configuration, after measuring the initial luminance with the initial luminance measuring unit for a plurality of phosphorescent signs, the measuring unit is fixed to each phosphorescent sign, and each after a predetermined time in the plural phosphorescent signs Since the residual luminance is measured in parallel (simultaneously), the substantial measurement time per phosphorescent label is short, and the efficiency with respect to all of the plurality of phosphorescent labels is high. Further, since the measurement unit is required only for the accuracy of relative measurement in the amount of received light from the start of measurement to a predetermined time later, the measurement unit can be configured in a small size, light weight and low cost. Because of this small size and light weight, it can be easily and efficiently fixed to phosphorescent signs at various arrangement positions, and it is a low-cost and relatively high-cost initial luminance measuring unit. For the sake of efficiency, even if a large number of such measurement units are prepared and used for efficiency, there is no significant increase in burden.
A residual luminance measuring apparatus according to still another aspect of the present invention is a residual luminance measuring apparatus that measures the residual luminance of a measurement area in a light-shielded luminous sign, and that previously stores an initial luminance value of the measurement area in the luminous sign. A reference measurement unit to be acquired, a light receiving unit that receives radiated light from a measurement region in the phosphorescent sign, and a light receiving unit that controls the light receiving unit to receive the radiated light from the measurement region from the start of measurement until a predetermined time has elapsed A control unit for measuring by the light receiving unit, a storage unit for storing the measurement value measured by the light receiving unit, the light receiving unit, the control unit, and the storage unit, and the light receiving unit in the measurement area of the phosphorescent sign A housing that opposes and shields the measurement area from ambient light, and the control unit is configured to change a received light amount from the measurement start to the predetermined time based on a measurement value measured by the light receiving unit. And calculate From said initial brightness value obtained before the constant starting and the light receiving amount change rate, and obtains the remaining luminance of the measurement zone after the predetermined time.
A residual luminance measurement system according to yet another aspect of the present invention is a residual luminance measurement system that measures each residual luminance in a plurality of phosphorescent signs, and a plurality of light shielding units that respectively shield the measurement areas of the plurality of phosphorescent signs. A plurality of phosphorescent signs that start measuring the amount of received light from the measurement area in a state where the measurement area is shielded by the unit and the light shielding unit, and stop measuring after a predetermined time from the start of measurement. A plurality of measurement units to be executed for each of the plurality of measurement units, an initial luminance measurement unit for measuring each of the initial luminances of the plurality of phosphorescent signs before the measurement is started by the plurality of measurement units, and the plurality of measurement units, respectively. Based on the measured value of the amount of received light, the rate of change in the amount of received light from the start of measurement to the predetermined time later is determined for each of the plurality of phosphorescent signs. A processing unit for calculating each residual luminance after the predetermined time in the plurality of phosphorescent signs based on each received light amount change rate and each initial luminance measured by the initial luminance measuring unit; It is characterized by comprising.
本発明にかかる残留輝度測定装置は、操作者の負担の小さくすることができる。 The residual luminance measuring apparatus according to the present invention can reduce the burden on the operator.
以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。また、本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。 Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the structure which attached | subjected the same code | symbol in each figure shows that it is the same structure, The description is abbreviate | omitted suitably. Further, in this specification, when referring generically, it is indicated by a reference symbol without a suffix, and when referring to an individual configuration, it is indicated by a reference symbol with a suffix.
図1は、本発明の実施の形態にかかる残留輝度測定装置を説明するための概念図である。本実施形態にかかる残留輝度測定装置Sは、遮光された蓄光標識100における測定域の残留輝度を測定する測定装置であり、例えば、図1に示すように、受光開口1kが蓄光標識100の測定域(発光域101)に対向するように粘着テープ30(固定手段の一例)で蓄光標識100に取り付けられる遮光ユニット1と、遮光ユニット1に取り付けられ、蓄光標識の輝度の測定初期からの変化率を測定する測定ユニット20と、測定ユニット20による測定値を読み出す1台の処理ユニット50と、処理ユニット50に接続され、蓄光標識100の初期輝度を測定する1台の基準測定ユニット40とを備えて構成される。処理ユニット50は、複数の測定ユニット20に対し共通に用いられる。
FIG. 1 is a conceptual diagram for explaining a residual luminance measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. The residual luminance measuring device S according to the present embodiment is a measuring device that measures the residual luminance of the measurement area in the light-shielded
本実施の形態にかかる残留輝度測定装置Sの主たる特徴は以下の3点である。
(1)遮光初期の減衰特性から所定時間後の残留輝度を予測する方式は信頼性に欠けるため、本実施の形態にかかる残留輝度測定装置Sでは測定開始から所定時間後の残留輝度を実測する方式をとる。ただし、複数の蓄光標識100について、遮光ユニット1と測定ユニット20との組を複数用いて、並列的に測定することで、蓄光標識100の1個あたりの測定時間を短縮することが可能である。例えば、100個の蓄光標識100―N(Nは100以下の整数)の20分後の残留輝度を10個ずつほぼ同時に並列的に測定する場合、蓄光標識100の1個あたりの実質的な測定時間は2分程度となる。
(2)本実施の形態にかかる残留輝度測定装置Sでは、残留輝度を遮光初期の輝度と遮光初期からの変化率とから求める。すなわち、蓄光標識100の初期輝度は、相対分光視感効率Vλに近似する分光感度をもつ、輝度計として校正された1台の基準測定ユニット40で順次測定される。そして所定時間を要する遮光初期からの変化率測定は、複数の測定ユニット20で測定域を遮光しつつ並行測定する。変化率を測定する複数の測定ユニット20の受光部は、蓄光標識100の測定域からの放射光の分光分布が減衰時、殆ど変化しないことから、相対分光視感効率Vλに近似する分光感度を持つ必要はなく、輝度計としての光学系も校正も必要としないため、軽量小型、かつ低コストで実現することができる。
(3)測定ユニット20が取り付けられた遮光ユニット1は、扁平、軽量、小型であるため、床や壁のさまざまな位置に設置された個々の蓄光標識100に粘着テープなどで容易に取り付けられ、除去できる。取り付け後は所定時間が経過するまで放置して、安定に遮光と測定ができるので、操作者の負担が少ない。
The main characteristics of the residual luminance measuring apparatus S according to the present embodiment are the following three points.
(1) Since the method of predicting the residual luminance after a predetermined time from the attenuation characteristic at the initial stage of shading is not reliable, the residual luminance measuring apparatus S according to the present embodiment measures the residual luminance after the predetermined time from the start of measurement. Take the method. However, it is possible to shorten the measurement time per one
(2) In the residual luminance measuring apparatus S according to the present embodiment, the residual luminance is obtained from the luminance at the initial shade and the change rate from the initial shade. That is, the initial luminance of the
(3) Since the light-shielding
以下、残留輝度測定装置Sの構成について、詳細に説明する。図2は、本発明の実施の形態にかかる測定ユニットおよび遮光ユニットの外観を示す正面図である。図2(a)は、測定ユニットが待避位置にある場合を示し、図2(b)は、測定ユニットが測定位置にある場合を示す。図3は、本発明の実施の形態にかかる測定ユニットおよび遮光ユニットの断面図である。図3(a)は、図2(b)のI―I線断面図であり、図3(b)は、図2(b)のII―II線断面図である。図4は、本発明の実施の形態にかかる測定ユニットの電気的構成を示すブロック図である。図5は、代表的な2種類の蓄光材料放射光の減衰時の相対分光分布を示すグラフである。図6は、本発明の実施の形態にかかるSPDの分光感度および補正用フィルタの分光透過率を示すグラフである。横軸は、波長(nm)であり、その左縦軸は、相対感度であり、その右縦軸は、透過率である。 Hereinafter, the configuration of the residual luminance measuring device S will be described in detail. FIG. 2 is a front view showing the appearance of the measurement unit and the light shielding unit according to the embodiment of the present invention. FIG. 2A shows a case where the measurement unit is in the retracted position, and FIG. 2B shows a case where the measurement unit is in the measurement position. FIG. 3 is a cross-sectional view of the measurement unit and the light shielding unit according to the embodiment of the present invention. 3A is a cross-sectional view taken along the line II of FIG. 2B, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line II-II of FIG. 2B. FIG. 4 is a block diagram showing an electrical configuration of the measurement unit according to the embodiment of the present invention. FIG. 5 is a graph showing a relative spectral distribution at the time of attenuation of two typical types of phosphorescent material radiation. FIG. 6 is a graph showing the spectral sensitivity of the SPD and the spectral transmittance of the correction filter according to the embodiment of the present invention. The horizontal axis is the wavelength (nm), the left vertical axis is the relative sensitivity, and the right vertical axis is the transmittance.
図2ないし図4に示すように、測定ユニット20は、スイッチSwと、シリコンフォトダイオード(SPD)21と、処理回路22と、LED23と、ソーラセル(太陽電池)24と、IrDA通信部25と、電源部26とを備え、これらスイッチSw、SPD21、処理回路22、LED23、ソーラセル24、IrDA通信部25および電源部26は、図2に示すように、平面視にて四隅を面取りされた略四角形であり、図3に示すように、側面視にて略平板状の扁平な直方体形状の筐体に収容されている。前記筐体の両側面には、遮光ユニット1に取り付けるための長尺な溝20aが長手方向に沿って形成されている。この溝20aに後述するガイド1aが嵌め込まれることで、測定ユニット20は、遮光ユニット1に取り付けられて保持され、測定ユニット20のSPD21が、遮光ユニット1に設けられた受光開口1kに臨み、この受光開口1kを介して蓄光標識100の測定域101に対向するように配置可能になる。測定ユニット20には、被押圧面を有するスイッチSwが実装されており、被押圧面が押圧操作されることにより、スイッチSwに割り当てられた処理回路22のオンオフを行う。なお、測定ユニット20には、処理回路22等の測定ユニット20における電力の必要な各部へ給電する電源として、光エネルギーを電気エネルギーへ変換するソーラセル(太陽電池)24およびソーラセル24から供給された電力を所定の電圧レベルで安定的に出力するための電源部26が実装され、処理回路22から出力された送信データをIrDA方式でデータ通信を行うためにLED23を駆動させる駆動信号を生成するIrDA通信部25およびIrDA通信部25の前記駆動信号で駆動されるLED(赤色LED)23が実装されている。測定ユニット20の前記筐体の正面には、略矩形状の窓25が開口形成されており、ソーラセル24およびLED23は、この窓25に臨むように配設されている。そして、この窓25を通して周囲光がソーラセル24に入射するとともに、この窓25を通してLED23の発光が放射される。
As shown in FIGS. 2 to 4, the
測定ユニット20に備わる処理回路22は、制御部の一例であり、蓄光標識100における測定域からの放射光を受光する受光部の一例であるSPD21を制御し、測定開始から所定時間経過後までの測定域からの放射光をSPD21で測定する。さらに、処理回路22は、記憶部221を内蔵しており、SPD21で測定された測定値を記憶部221に記憶する。処理回路22は、記憶部の一例でもある。なお、前記所定時間は、遮光された場合でも標識として機能するべき時間であり、例えば、20分間である。
The
上述のように、測定ユニット20は、受光部の一例としてSPD21を備えるので、測定ユニット20の受光感度は、SPD21の分光感度である。図5に示す曲線は、遮光直後(実線)、2分後(破線)、10分後(一点鎖線)、20分後(二点鎖線)の蓄光材料放射光の分光分布であり、強度は、減衰するものの、相対的な分光分布のプロファイルは、殆ど変化しないことが分かる。このことから、測定ユニット20の分光感度に関わりなく、測定開始からの輝度変化率を受光量変化率とみなすことができるので、本実施の形態における受光部であるSPD21そのものの分光感度でも測定することができることが分かる。さらに、測定ユニット20の受光部が例えばフィルタ等の光減衰要素を伴わないSPD21であるので、光束の利用効率が高く、高感度、従って高精度とすることができる。
As described above, since the
上述では、SPD21は、その相対分光感度を修飾する光学要素(フィルタ)を伴うことなく直接的に受光したが、この他、SPD21は、分光感度の波長依存性を軽減するフィルタをSPD21の上流(放射光の受光に対し)にさらに備え、このフィルタを介して蓄光標識100における測定域101からの放射光を受光するように構成しても良い。より具体的には、分光分布にわずかでも変化があった場合、その影響は、測定ユニット20の分光感度が平坦であるほど小さいので、図6の実線に示すSPD21における分光感度の波長依存性を相殺するような、例えば、図6の点線で示す分光透過率を持つフィルタと組み合わせて、合成分光感度を平坦化することは、精度向上に寄与する。すなわち、前記フィルタは、SPD21の分光感度と合成した合成分光感度が略平坦となる分光透過率を持つ。このように、SPD21の分光感度の波長依存性を軽減するフィルタをSPD21の上流にさらに備えることで、蓄光標識100の放射光の分光分布が減衰中に多少変化することがあっても、影響を受けにくく高精度となる。
In the above description, the
一方、遮光ユニット1は、前記受光部の一例であるSPD21が蓄光標識100における測定域101に対向し、測定域101が周囲光から遮光されるように、蓄光標識100に脱着可能に固定するための固定手段を装着する固定部を有している。
On the other hand, the light-shielding
より具体的には、遮光ユニット1は、図2および図3に示すように、中央に向かって盛り上がった扁平な円盤状、すなわち比較的低高の円錐台形状であり、例えば、床上の蓄光標識100に取り付けられても、歩行者に危険を及ぼす可能性が低い形状とされている。
More specifically, as shown in FIGS. 2 and 3, the light-shielding
遮光ユニット1の周縁部(前記円錐台の側面)における所定の位置には、前記固定部が設けられている。図2および図3に示す例では、前記固定部は、前記固定手段としての粘着テーブ30を装着するための領域1Aである。この領域1Aには、例えば、この領域が固定部であることを明示するために所定の表示が施されている。この所定の表示は、例えば、着色、文字、記号(マーク)等である。この領域1Aは、1または複数であってよく、例えば、約180度間隔の2箇所、約120度間隔の3箇所および約90度間隔の4箇所等である。
The fixed portion is provided at a predetermined position in the peripheral portion of the light shielding unit 1 (side surface of the truncated cone). In the example shown in FIGS. 2 and 3, the fixing portion is a
そして、遮光ユニット1の中央部には、図2および図3に示すように、測定ユニット20が装着可能な略長方形凹部の切り欠き部1Cが形成されている。切り欠き部1Cの底には遮光板1Bが設けられ、この遮光板1Bには、所定位置に受光開口1kが貫通開口されている。さらに、図3(b)に示すように、測定ユニット20が遮光ユニット1に対し相対移動する方向である矢印A方向に直交する切り欠き部1Cの側壁は、測定ユニット20を矢印A方向にスライドさせて切り欠き部1C内へ案内するガイドとしても機能する。より具体的に、切り欠き部1Cの前記側壁にはガイド1aが凸設されると共に、ガイド1aに対応する測定ユニット20の外側面の所定位置に、ガイド1aの形状と対をなす形状を有する前記溝20aが設けられている。ガイド1aが溝20aに内側から嵌め込まれることで、矢印A方向に移動可能となるように、測定ユニット20は、遮光ユニット1に取り付けられる。測定ユニット20は、ガイド1aに沿って矢印A方向に移動し、図2(b)に示すように、測定ユニット20が切り欠き部1Cの一方端部内に収納され、受光開口1kにSPD21を臨む測定位置と、図2(a)に示すように、測定ユニット20が切り欠き部1Cの他方端部に位置する退避位置とを取ることが可能である。さらに、測定ユニット20の待避位置から測定位置への移動に伴って、ガイド1aの特定の部位がスイッチSwの被押圧面を押圧するように、スイッチSwの配設位置が設定されている。遮光ユニット1の蓄光標識100への取り付け時には測定ユニット20は、前記退避位置にあり、操作者は、切り欠き部1Cの底部の遮光板1Bに空けられた受光開口1kが視認でき、受光開口1kが蓄光標識100の発光域101に来るように、遮光ユニット1を位置決めすることができる。
Then, as shown in FIGS. 2 and 3, a substantially rectangular recessed
このように図2および図3に示す例の遮光ユニット1は、遮光性を有する遮光板1B(所定面)に設けられた受光開口1kにSPD21を臨ませるように、SPD21と処理回路22(制御部および記憶部を含む)を納める測定ユニット20を取り付け可能に構成されている。さらに、遮光ユニット1は、受光開口1kが蓄光標識100の測定域に対向し、測定域が周囲光から遮光されるように、少なくとも所定時間、蓄光標識100に脱着可能に固定するための粘着テープ30を装着するための領域1Aを有している。
As described above, the
本実施の形態の残留輝度測定装置Sは、SPD21および処理回路22を納める測定ユニット20と、切り欠き部1Cを持つ遮光ユニット1とを備え、遮光ユニット1は、測定ユニット20が切り欠き部1Cの測定位置に取り付けられていない状態では蓄光標識100における測定域101が視認可能であり、測定ユニット20が切り欠き部1Cの測定位置に取り付けられた状態ではSPD21が受光開口1kを介して蓄光標識100における測定域101に対向し、操作者は、容易にSPD21を測定域101に対向させて粘着テーブ30によって残留輝度測定装置Sを所定時間固定することができる。
The residual luminance measuring apparatus S of the present embodiment includes a
ここで、遮光ユニット1と測定ユニット20の組は、ハウジングの一例である。なお、遮光ユニット1と測定ユニット20とが一体に形成されてもよい。さらに、遮光板1Bの蓄光標識100と接する外面には、遮光性を有する部材(羅紗紙など)を貼り付けてもよい。また、遮光ユニット1の外周にフランジをさらに備え、このフランジに領域1Aが配置されてもよい。
Here, the set of the
上記構成によれば、遮光ユニット1と測定ユニット20とを固定後は操作者の手を煩わせることなく、本実施の形態の残留輝度測定装置Sは、測定開始から所定時間後までの残留輝度を測定することができる。
According to the above configuration, the residual luminance measuring apparatus S according to the present embodiment does not bother the operator after fixing the
図7は、本発明の実施の形態にかかる基準測定ユニットの構成図である。図8は、本発明の実施の形態にかかる処理ユニットの電気的構成を示すブロック図である。図9は、代表的な蓄光材料放射光の相対分光分布と相対分光視感効率とを示すグラフである。図9の横軸は、波長(nm)であり、その縦軸は、強度を示す。 FIG. 7 is a configuration diagram of the reference measurement unit according to the embodiment of the present invention. FIG. 8 is a block diagram showing an electrical configuration of the processing unit according to the embodiment of the present invention. FIG. 9 is a graph showing the relative spectral distribution and relative spectral luminous efficiency of typical luminous material radiated light. The horizontal axis in FIG. 9 is the wavelength (nm), and the vertical axis indicates the intensity.
基準測定ユニット40は、蓄光標識100の初期輝度を測定し、ケーブル46を介して測定値を処理ユニット50へ出力するものである。基準測定ユニット40の受光部は、シリコンフォトダイオード(SPD)41で構成され、さらに、測光量を人間の眼に対する強度である輝度に変換するために、SPD41の上流(入射光の受光に対し)に設けられたVλフィルタ43と、SPD41の受光角を規制する受光角規制筒44とを備えている。これらSPD41、Vλフィルタ43および受光角規制筒44は、遮光ユニット1に取り付け可能な測定ユニット20の前記筐体と同様な筐体に収納されている。受光角規制筒44は、筒体であり、その一方端にはVλフィルタ43およびSPD41が配設されており、その他方端の測定開口45から入射した光は、Vλフィルタ43を介してSPD41で受光される。受光角規制筒44の測定開口45は、後述するように、測定時に受光開口1kに対向し、測定域101からの放射光に対するSPD41の受光角を規制する。これによってSPD41が測定対象を見込む角度が一定となり、前記測定対象が前記角度をカバーする限りその実際の大きさにSPD41のセンサ出力が依存しなくなる。Vλフィルタ43は、SPD41の分光感度との合成分光感度が、図9の点線で示すような眼の相対分光視感効率Vλに近似するような分光透過率(SPD41との組合せが図9に点線で示す相対分光視感効率Vλに近似するような分光透過率)を持ち、例えば吸収フィルタの組み合わせや多層膜等で構成される。基準測定ユニット40は、基準光源で予め校正され、少なくとも蓄光標識100などランベルト光源とみなせる一様な面光源に対する輝度計として機能する。図9に実線で示す代表的なりん光の分光分布は、半値幅100nm程度で急峻であることから、測定装置の分光感度の相対分光視感効率からの誤差は、大きな測定誤差をもたらす虞がある。
The reference measurement unit 40 measures the initial luminance of the
基準測定ユニット40は、測定ユニット20と同様の外形をもち、遮光ユニット1の切り欠き部1Cに取り付けることができる。基準測定ユニット40を遮光ユニット1の測定位置に取り付けた場合に、測定開口45が受光開口1kに対向するように、測定開口45は、受光開口1kに対応する基準測定ユニット40の所定位置に設けられる。基準測定ユニット40が挿入されると、測定開口45は、遮光ユニット1の受光開口1kに対向し、蓄光標識100の測定域101とSPD41とは、外光から遮光される。
The reference measurement unit 40 has the same external shape as the
初期輝度の測定中は、蓄光標識100と基準測定ユニット40との正しい位置関係と十分な遮光が維持される必要があるが、初期輝度の測定時間は、1s以下なので、操作者の負担は小さい。基準測定ユニット40は、処理ユニット50とケーブル46で接続され、処理ユニット50から電源供給されるとともに、処理ユニット50のスイッチを用いて操作される。基準測定ユニット40での測光量は、処理ユニット50に出力され、処理ユニット50は、この測光量を人間の眼に対する強度である輝度に変換し、蓄光標識100−1〜100−Nごとに記憶する。
During the initial luminance measurement, it is necessary to maintain the correct positional relationship between the
処理ユニット50は、測定開始から所定時間後までの受光量変化率を測定し、受光量変化率と、予め基準測定ユニット40によって測定された測定域101の初期輝度とから、測定開始から所定時間後における測定域101の残留輝度を求めるものである。
The
より具体的には、図8に示すように、処理ユニット50は、所定の表示を行う表示部51と、IrDA方式でデータ通信を行うIrDA通信部52と、所定の処理を行う処理回路53とを備えている。処理ユニット50に備わる処理回路53は、IrDA通信部52を介して測定ユニット20から入力された測定値を基に、測定開始から所定時間経過後までの受光量変化率を算出し、基準測定ユニット40によって測定され、蓄光標識100−1〜100−Nごとに記憶されている初期輝度に乗じて、所定時間経過後の残留輝度として表示部51へ出力する。
More specifically, as shown in FIG. 8, the
以下、複数(例えば10個)の蓄光標識100について、蓄光標識100それぞれの測定域の残留輝度を残留輝度測定装置Sで測定する場合における、測定の手順について説明する。
Hereinafter, for a plurality of (for example, ten)
<遮光ユニットの蓄光標識への取り付け>
操作者は、複数、例えば10個の蓄光標識100(100−1〜100−N(N=10))のそれぞれを測定すべく、10個の遮光ユニット1が用意され、図1に示すように、各遮光ユニット1が、個々の蓄光標識100−1〜100−10に粘着テープ30でそれぞれ取り付けられる。操作者は、切り欠き部1Cの底にあって蓄光標識100に接する遮光板1Bに空けられた受光開口1kが視認でき、受光開口1kが蓄光標識100の測定域101に来るように、遮光ユニット1を位置決めすることができる。
<Attaching the shading unit to the luminous sign>
The operator prepares 10
<基準測定ユニットによる初期輝度の測定>
次に、操作者は、切り欠き部1Cに、基準測定ユニット40を挿入して図2(b)に示す測定位置に移動させ、受光開口1kに対向する蓄光標識100の測定域101からの放射光量を測定する。なお、基準測定ユニット40が遮光ユニット1に取り付けられても、基準測定ユニット40を図2(a)に示す退避位置に位置させることで、上述したように、操作者は、切り欠き部1Cの遮光板1Bに空けられた受光開口1kが視認でき、受光開口1kが蓄光標識100の測定域101に来るように、遮光ユニット1を位置決めすることができる。基準測定ユニット40は、予め、基準光源を用いて校正されている。処理回路53は、基準測定ユニット40で測定された測光量を人間の眼に対する強度である輝度に変換し、蓄光標識100ごとに記憶する。
<Measurement of initial luminance by reference measurement unit>
Next, the operator inserts the reference measurement unit 40 into the notch 1C and moves it to the measurement position shown in FIG. 2B, and radiates from the
<測定ユニット20による輝度変化率の測定>
遮光ユニット1の個数に対応して10個の測定ユニット20が用意される。次に、操作者は、基準測定ユニット40を遮光ユニット1から外し、遮光ユニット1に測定ユニット20を取り付ける。なお、測定ユニット20が遮光ユニット1に取り付けられても、測定ユニット20を図2(a)に示す退避位置に位置させることで、上述したように、操作者は、切り欠き部1Cの遮光板1Bに空けられた受光開口1kが視認でき、受光開口1kが蓄光標識100の測定域101に来るように、遮光ユニット1を位置決めすることができる。次に、操作者は、測定ユニット20を図2(b)に示す測定位置に移動させる。測定ユニット20の受光部は、測定位置で遮光ユニット1の受光開口1kに対向する。移動の初期にスイッチSwがガイド1aに当たってONされ、測定ユニット20が自動的に起動する。これにより操作者は、起動の手間が省け、操作者の負担をより軽減することができる。測定ユニット20の処理回路22は、計時をスタートして所定時間間隔でSPD21のみで構成される受光部による受光量の測定と測定値の処理回路22の前記記憶部への保存を繰り返す。測定間隔は、初期では例えば0.1s程度と短く、測定終了近くでは10s程度まで長くなる。起動後1秒間程度の測定ユニット10移動中、測定ユニット20のSPD21は、遮光ユニット1の遮光板1Bに対向して入射光が阻止され、この間の受光量がオフセット信号となる。測定ユニット20が測定位置に到達すると、測定ユニット20のSPD21が遮光ユニット1の受光開口1kに対向するので、受光量が急激に増大する。処理回路22は、所定の測定時間が経過すると測定を中止し、LED23によるIrDAによって記憶された全データを繰り返し処理ユニット50へ出力する。LED23の点灯は、窓25を通して操作者に確認され、変化率測定の終了が認識される。
<Measurement of luminance change rate by
Ten
<複数の蓄光標識100の測定>
操作者は、上記の「遮光ユニット1の蓄光標識100への取り付け」から「測定ユニット20による輝度変化率の測定」における測定ユニット20の測定位置への移動までの作業を、例えば、10個の蓄光標識100について繰り返す。これによって、各蓄光標識100の初期輝度が測定、記憶され、受光量変化率の測定が開始される。
<Measurement of multiple
The operator performs, for example, 10 operations from “attaching the
<データの読み出しと残留輝度の算出>
処理ユニット50は、複数の蓄光標識100に取り付けられた測定ユニット20からのデータを読み出して残留輝度を算出する。例えば、操作者は、10個の蓄光標識100について、初期輝度を測定し、LED23が点灯した測定ユニット20から順次、処理回路22に記憶されたデータを処理ユニット50で読み出す。測定ユニット20の窓25に処理ユニット50のIrDA通信部52を密着させることで、IrDA通信部52は、LED23が発信する情報を読み込む。処理ユニット50は、読み出されたデータから、オフセット信号を識別し、これによって全データをオフセット補正した後、初期から所定時間経過後までの受光量変化率を算出し、処理回路53に蓄光標識100ごとに記憶されている初期輝度に乗じて、所定時間経過後の残留輝度として表示部51へ出力する。
<Data reading and calculation of residual luminance>
The
本実施の形態において、相対分光視感効率Vλに近似する分光感度をもち、校正を必要とするため高コストの基準測定ユニット40を1台必要とするものの、複数の測定ユニット20の受光部は、SPD21だけで構成でき、低コストである。このため、システム全体のコストパフォーマンスが高い。
In the present embodiment, although the spectral sensitivity approximates the relative spectral luminous efficiency Vλ and requires calibration, one high-cost reference measurement unit 40 is required. , It can be configured with only the
本実施の形態では、測定の間隔を初期の0.1sから20分後の10sまで、変化させたが、20分間0.1s間隔でデータを取得し、図12に見られるような連続的な減衰とは異なる、突発的な変化があった場合、これを測定ユニット20や遮光ユニット1の取り付け状態の変化として変化分を測定値から減算することで補正してもよいし、データの信頼性に問題があることを警告するメッセージを表示部51に出力してもよい。
In the present embodiment, the measurement interval is changed from the initial 0.1 s to 10 s after 20 minutes. However, data is acquired at an interval of 0.1 s for 20 minutes, and continuous as shown in FIG. If there is a sudden change different from the attenuation, this may be corrected by subtracting the change from the measured value as a change in the mounting state of the
本実施の形態では、1台の基準測定ユニット40で順次測定した初期輝度と、複数の測定ユニット20で並行測定した測定開始から所定時間経過後の変化率から残留輝度を求めているが、基準測定ユニット40に準じた受光部をもち、輝度計として校正された複数の測定ユニット20で、直接、残留輝度を測定するように構成してもよい。
In the present embodiment, the residual luminance is obtained from the initial luminance sequentially measured by one reference measurement unit 40 and the change rate after a predetermined time has elapsed from the start of measurement measured in parallel by a plurality of
本実施の形態によれば、残留輝度測定装置Sを固定後は、操作者の手を煩わせることなく、所定時間後の残留輝度を測定することができる。 According to the present embodiment, after fixing the residual luminance measuring device S, it is possible to measure the residual luminance after a predetermined time without bothering the operator.
また、所定時間の固定が粘着テープ30で行われるので、残留輝度測定装置Sの所定時間の固定と取り外しとを低コストかつ効率的に行うことができる。 In addition, since the fixing for a predetermined time is performed by the adhesive tape 30, the fixing and removing of the residual luminance measuring device S for a predetermined time can be performed at low cost and efficiently.
そして、本実施の形態によれば、SPD21および処理回路22を収める測定ユニット20と、測定ユニット20が取り付けられる遮光ユニット1とから構成され、遮光ユニット1は、測定ユニット20が取り付けられていない状態(前記待避位置)では蓄光標識100における測定域101が視認可能であり、測定ユニット20が取り付けられている状態(前記測定位置)では、SPD21が蓄光標識100における測定域101に対向するので、操作者は、容易にSPD21を蓄光標識100における測定域101に対向させて残留輝度測定装置Sを所定時間固定することができる。
And according to this Embodiment, it is comprised from the
さらに、他の実施の形態において、処理回路53が、SPD21が蓄光標識100における測定域101からの放射光に対する、分光視感効率とSPD21の分光感度との関係を予め記憶し、処理ユニット53が、この関係に基づいて、測定値を分光視感効率での値に変換してもよい。より具体的な例を挙げれば、測定対象の蓄光標識100における放射光の分光分布が図5(a)および図5(b)の2種である場合、受光部のVλフィルタ43を省略し、SPD41そのものの分光感度としても、これら2種の蓄光標識100について、測定ユニット20の測定値を輝度に変換することができる。つまり、相対分光視感効率Vλに近似する分光感度の輝度計でモニターされた前記2種のりん光光源を基準光源として、各々の変換係数を求め、予め処理回路53に各々の変換係数を記憶し、測定時には測定対象の蓄光標識100に応じて操作者が変換係数を選択することで、処理回路53が、変換係数に基づいて、測定値を分光視感効率での値(輝度)に変換する。
Further, in another embodiment, the
この構成によれば、SPD21の分光感度を分光視感効率に近似させるためのフィルタを備える必要がなく、基準測定ユニット40も必要ないので、低コストで構成でき、効率的な測定のために多数個の残留輝度測定装置Sを使用しても大きなコスト増とならない。
According to this configuration, it is not necessary to provide a filter for approximating the spectral sensitivity of the
また、上述の実施形態では、固定部は、固定手段の一例としての粘着テーブ30を装着するための領域1Aであったが、これに限定されるものではない。例えば、前記固定部は、前記固定手段の一例としての吸盤を装着するための領域1Aであり、遮光ユニットは、前記固定部に装着された吸盤をさらに備えて構成されてもよい。
Moreover, in the above-mentioned embodiment, although the fixing | fixed part was the area |
図10は、本発明の他の実施の形態にかかる測定ユニットおよび遮光ユニットの断面図である。固定手段の他の一例としての吸盤11を備える遮光ユニット10は、図10に示すように、遮光ユニット10の筐体における底面には、吸盤11を装着するための複数の凹部10Dを有し、これら各凹部10D内に、SPD21を蓄光標識100における測定域101に対向させて測定域101を周囲光から遮光させるように、遮光ユニット10を蓄光標識100に脱着可能に固定するための吸盤11がそれぞれ設けられている。より具体的には、遮光ユニット10は、遮光ユニット1と同様に切り欠き部1Cを有する低高の円錐台形状であり、その底面には、例えばその周縁部分に、例えば、2箇所、3箇所および4箇所等の複数の凹部10Dが形成されており、これら各凹部10D内に吸盤11がそれぞれ設けられている。また例えば、遮光ユニット10は、例えば、上述と同様の切り欠き部1Cを有する低高の円柱状であり、その底面には、例えばその周縁部分に、複数の凹部10Dが形成されており、これら各凹部10D内に吸盤11がそれぞれ設けられている。また例えば、遮光ユニット10は、例えば、上述と同様の切り欠き部1Cを有する低高の円柱状であり、その上端部には、フランジを有し、そのフランジの下面に複数の吸盤11がそれぞれ設けられている。このような吸盤11は、粘着テープ30に較べて脱着の操作性がよく、この結果、操作者の負担がより軽減される。
FIG. 10 is a cross-sectional view of a measurement unit and a light shielding unit according to another embodiment of the present invention. As shown in FIG. 10, the
また、測定ユニット20は、遮光ユニット1および遮光ユニット10の双方に取り付け可能とされ、蓄光標識100の設置状況に応じて、遮光ユニット1および遮光ユニット10が使い分けられてもよい。例えば、床面に配設された蓄光標識100に対しては、遮光ユニット1が用いられ、壁面に配設された蓄光標識100に対しては、遮光ユニット10が用いられる。
Further, the
本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および/または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。 In order to express the present invention, the present invention has been properly and fully described through the embodiments with reference to the drawings. However, those skilled in the art can easily change and / or improve the above-described embodiments. It should be recognized that this is possible. Therefore, unless the modifications or improvements implemented by those skilled in the art are at a level that departs from the scope of the claims recited in the claims, the modifications or improvements are not covered by the claims. To be construed as inclusive.
S 残留輝度測定装置
Sw スイッチ
Vλ 相対分光視感効率
1、10 遮光ユニット
1A 領域
1B 遮光板(所定面)
1C 切り欠き部
1a ガイド
1k 受光開口
10D 凹部
11 吸盤
20 測定ユニット
20a 溝
21 SPD
22 処理回路
30 粘着テープ
40 基準測定ユニット
41 SPD
43 フィルタ
44 受光角規制筒
45 測定開口
50 処理ユニット
51 表示部
52 IrDA通信部
53 処理回路
100 蓄光標識
101 発光域
S Residual Luminance Measuring Device Sw Switch Vλ Relative
1C Notch 1a Guide 1k Light-receiving
22 Processing Circuit 30 Adhesive Tape 40
43 Filter 44 Receiving Angle Regulating Tube 45
Claims (8)
前記蓄光標識における測定域の初期輝度値を予め取得する基準測定部と、
前記蓄光標識における測定域からの放射光を受光する受光部と、
前記受光部を制御し、測定開始から所定時間経過後までの前記測定域からの放射光を前記受光部で測定する制御部と、
前記受光部で測定された測定値を記憶する記憶部と、
前記受光部と前記制御部と前記記憶部とを納め、前記受光部が前記蓄光標識における測定域に対向し、前記測定域を周囲光から遮光するハウジングと、を備え、
前記制御部は、
前記受光部で測定された測定値に基づいて、前記測定開始から前記所定時間後までの受光量変化率を算出し、該測定開始前に取得した前記初期輝度値と前記受光量変化率とから、前記所定時間後における前記測定域の残留輝度を求めること
を特徴とする残留輝度測定装置。 A residual luminance measuring device for measuring the residual luminance of a measurement area in a shading phosphorescent sign,
A reference measurement unit for obtaining in advance the initial luminance value of the measurement area in the phosphorescent sign;
A light receiving portion for receiving the radiated light from the measurement area in the phosphorescent sign;
A control unit for controlling the light receiving unit, and measuring the emitted light from the measurement area from the start of measurement until a predetermined time has elapsed, by the light receiving unit;
A storage unit for storing measurement values measured by the light receiving unit;
A housing for housing the light receiving unit, the control unit, and the storage unit , the light receiving unit facing a measurement area in the phosphorescent sign , and shielding the measurement area from ambient light ;
The controller is
Based on the measurement value measured by the light receiving unit, the light reception amount change rate from the measurement start to the predetermined time later is calculated, and from the initial luminance value and the light reception amount change rate acquired before the measurement start. A residual luminance measuring apparatus for obtaining a residual luminance of the measurement area after the predetermined time .
を特徴とする請求項1に記載の残留輝度測定装置。 The light receiving portion includes a silicon photodiode (SPD), the light receiving side of the silicon photodiode, according to claim 1, characterized in that no optical elements to modify the relative spectral sensitivity of the silicon photodiode Residual luminance measuring device.
前記記憶部は、前記測定域からの放射光に対する、分光視感効率と前記シリコンフォトダイオードの分光感度との関係を予め記憶し、
前記制御部は、前記関係に基づいて、前記測定値を分光視感効率での値に変換すること を特徴とする請求項1に記載の残留輝度測定装置。 The light receiving unit includes a silicon photodiode (SPD),
The storage unit stores in advance the relationship between the spectral luminous efficiency and the spectral sensitivity of the silicon photodiode with respect to the radiation from the measurement area,
The residual luminance measurement apparatus according to claim 1 , wherein the control unit converts the measurement value into a value with spectral luminous efficiency based on the relationship.
を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の残留輝度測定装置。 4. The light receiving unit according to claim 1, further comprising a filter that reduces the wavelength dependence of spectral sensitivity, and receiving the emitted light from the measurement area of the phosphorescent marker through the filter. The residual luminance measuring apparatus according to any one of the above.
前記固定部は、粘着テーブを装着するための領域であること
を特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の残留輝度測定装置。 The housing includes a fixing portion for detachably fixing to the phosphorescent sign,
The fixed portion, the residual luminance measuring device according to any one of claims 1 to 4, characterized in that an area for mounting the pressure-sensitive table.
前記固定部は、吸盤を装着するための領域であり、
前記固定部に装着された吸盤をさらに備えること
を特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の残留輝度測定装置。 The housing includes a fixing portion for detachably fixing to the phosphorescent sign,
The fixing portion is an area for mounting the sucker,
The residual luminance measuring device according to any one of claims 1 to 4 , further comprising a suction cup attached to the fixed portion.
を特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の残留輝度測定装置。 The housing includes a measurement unit that houses the light receiving unit, the control unit, and the storage unit, and a light shielding unit having an attachment part for attaching the measurement unit, and the light shielding unit is attached to the measurement unit. The measurement area is visible when not attached to a part, and the light receiving part faces the measurement area when the measurement unit is attached to the attachment part. Item 7. The residual luminance measuring apparatus according to any one of Items 6 above.
前記複数の蓄光標識の測定域をそれぞれ遮光する複数の遮光ユニットと、
前記遮光ユニットによって前記測定域を遮光した状態で、前記測定域からの放射光の受光量の測定を開始し、測定開始から所定時間後に測定を中止することを、前記複数の蓄光標識のそれぞれに対して実行する複数の測定ユニットと、
前記複数の測定ユニットでの測定開始前に、前記複数の蓄光標識における各初期輝度を測定する初期輝度測定ユニットと、
前記複数の測定ユニットによってそれぞれ測定された受光量の測定値に基づいて、前記測定開始から前記所定時間後までの受光量変化率を、前記複数の蓄光標識のそれぞれに対して算出し、各受光量変化率と、前記初期輝度測定ユニットによってそれぞれ測定された各初期輝度とに基づいて、前記複数の蓄光標識における前記所定時間後の各残留輝度を求める処理ユニットとを備えたこと、
を特徴とする残留輝度測定システム。
A residual luminance measurement system for measuring each residual luminance in a plurality of phosphorescent signs,
A plurality of light-shielding units that respectively shield the measurement areas of the plurality of phosphorescent signs;
In the state where the measurement area is shielded from light by the light shielding unit, the measurement of the amount of received light from the measurement area is started, and the measurement is stopped after a predetermined time from the start of measurement. Multiple measuring units to be executed on
An initial luminance measuring unit for measuring each initial luminance in the plurality of phosphorescent signs before starting measurement in the plurality of measuring units;
Said plurality of based on the measured value of the light receiving quantity measured respectively by the measurement unit, the received light amount change rate from the start of measurement until after the predetermined time, calculated for each of the plurality of storing sign, each of the light receiving and amount change rate based on the respective initial brightness measured respectively by the initial brightness measuring unit, further comprising a processing unit for determining the respective residual luminance after the predetermined time in the plurality of storing sign,
Residual luminance measurement system.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010087629A JP5515989B2 (en) | 2010-04-06 | 2010-04-06 | Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010087629A JP5515989B2 (en) | 2010-04-06 | 2010-04-06 | Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011220730A JP2011220730A (en) | 2011-11-04 |
JP5515989B2 true JP5515989B2 (en) | 2014-06-11 |
Family
ID=45037920
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010087629A Expired - Fee Related JP5515989B2 (en) | 2010-04-06 | 2010-04-06 | Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5515989B2 (en) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0442740Y2 (en) * | 1985-11-18 | 1992-10-09 | ||
JPH01180429A (en) * | 1988-01-13 | 1989-07-18 | Hitachi Ltd | Color luminance meter with automatic suction type photodetecting part |
JPH041536A (en) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Nippon Laser Denshi Kk | Optical power meter |
JPH0815010A (en) * | 1994-06-28 | 1996-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Two dimensional luminance measuring apparatus |
JP2006250914A (en) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Ez Bright Corp | Afterglow intensity measuring device |
US20090231575A1 (en) * | 2005-05-23 | 2009-09-17 | Kenichiro Saito | Method for Measuring Luminance of Light-Emitting Object and Device Therefor |
JP2007183233A (en) * | 2005-12-05 | 2007-07-19 | Tg:Kk | Method and device for estimating and operating light emission luminance |
JP2008151776A (en) * | 2006-11-21 | 2008-07-03 | Produce:Kk | Brightness measuring instrument and brightness measuring method |
-
2010
- 2010-04-06 JP JP2010087629A patent/JP5515989B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011220730A (en) | 2011-11-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5122542B2 (en) | Light emitting device, lighting device, and light detector | |
JP4452737B2 (en) | Luminometer and measuring method | |
JP5288884B2 (en) | Fluorescent temperature sensor | |
JP5529305B1 (en) | Spectrometer and spectroscopic method | |
US9063050B2 (en) | Weathering test instrument and solid-state light-emitting device system | |
JP2009115797A (en) | Light measuring device | |
JP2012063321A5 (en) | ||
JP2012514313A5 (en) | ||
WO2008129945A1 (en) | Illuminating device, projector and camera | |
JP4418731B2 (en) | Photoluminescence quantum yield measurement method and apparatus used therefor | |
JP2008151776A (en) | Brightness measuring instrument and brightness measuring method | |
JP5515989B2 (en) | Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system | |
JP5353826B2 (en) | Residual luminance measuring device and residual luminance measuring system | |
EP2054715A2 (en) | System and method of compensating for system delay in analyte analyzation | |
JP6581670B2 (en) | Light curing device | |
US10948422B2 (en) | Device for emitting electromagnetic radiation, in particular UV radiation | |
CN114136440B (en) | Portable retroreflection luminosity and chromaticity combined measurement method and device | |
JP2014066600A (en) | Smog transmittance measurement apparatus | |
JP5672376B2 (en) | Optical system for reflection characteristic measuring apparatus and reflection characteristic measuring apparatus | |
JPH1137930A (en) | Absorptiometer | |
KR101538824B1 (en) | Luminometer for ultraviolet rays | |
WO2013115129A1 (en) | Phosphorescent brightness measurement apparatus | |
JP6394317B2 (en) | Light irradiation device | |
JP6544849B2 (en) | Fluorescent glass dosimeter reader | |
KR20140017211A (en) | Portable instrument for optical testing of lamps |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121115 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20130418 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130510 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130604 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130724 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140304 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140317 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5515989 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |