JP5447457B2 - LIGHT EMITTING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE - Google Patents

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Description

本発明は、OLED(Organic Light Emitting Diode)に代表される発光素子を備えた発光装置と、この発光装置を備えた電子機器に関する。   The present invention relates to a light emitting device including a light emitting element typified by OLED (Organic Light Emitting Diode) and an electronic apparatus including the light emitting device.

OLEDは、有機EL(Electro Luminescent)材料で形成された固体の発光層を陽極と陰極とで挟んだ構成を有する。OLEDを備えた発光装置としては、基板上に複数のOLEDを画素として配列した構成の発光装置が知られている。この発光装置では、各画素は封止されて外気から保護されている。封止の方法の一つに、基板上に薄膜を形成し、形成した薄膜で封止層を構成する薄膜封止がある。薄膜封止では、封止層は、特許文献1に示されるように単層構成であってもよいし、特許文献2に示されるように複数層構成であってもよい。   The OLED has a configuration in which a solid light-emitting layer formed of an organic EL (Electro Luminescent) material is sandwiched between an anode and a cathode. As a light emitting device including an OLED, a light emitting device having a configuration in which a plurality of OLEDs are arranged as pixels on a substrate is known. In this light emitting device, each pixel is sealed and protected from the outside air. One sealing method is thin film sealing in which a thin film is formed on a substrate and a sealing layer is formed by the formed thin film. In thin film sealing, the sealing layer may have a single layer configuration as shown in Patent Document 1 or may have a multiple layer configuration as shown in Patent Document 2.

図11は、従来の発光装置(単層構成)の端部の断面図である。複数の画素は、画素基板501上の中央(図示略)に配列されている。各画素は画素基板501上の画素隔壁502を貫通して存在し、各画素の発光領域は画素基板501上の画素隔壁502に画定されている。画素基板501上には、画素隔壁502を覆って陰極層503が形成されている。陰極層503は、複数の画素に共通する陰極、すなわち共通陰極である。画素基板501上には、画素隔壁502と画素基板501の周端との間に、周辺層504が形成されている。画素基板501上には、周辺層504および陰極層503を覆って封止層が形成されている。封止層は、1層の薄膜で構成されている。具体的には、無機材料で形成されたガスバリア膜505である。   FIG. 11 is a cross-sectional view of an end portion of a conventional light emitting device (single layer configuration). The plurality of pixels are arranged in the center (not shown) on the pixel substrate 501. Each pixel exists through the pixel partition wall 502 on the pixel substrate 501, and the light emission region of each pixel is defined by the pixel partition wall 502 on the pixel substrate 501. A cathode layer 503 is formed on the pixel substrate 501 so as to cover the pixel partition wall 502. The cathode layer 503 is a cathode common to a plurality of pixels, that is, a common cathode. A peripheral layer 504 is formed on the pixel substrate 501 between the pixel partition wall 502 and the peripheral edge of the pixel substrate 501. A sealing layer is formed on the pixel substrate 501 so as to cover the peripheral layer 504 and the cathode layer 503. The sealing layer is composed of a single thin film. Specifically, the gas barrier film 505 is formed of an inorganic material.

図12は、従来の発光装置(複数層構成)の端部の断面図である。この発光装置では、画素隔壁502と画素基板501の周端との間に周辺層が存在しない。また、封止層は3層の薄膜で構成されている。具体的には、画素基板501上に形成された電極保護膜506、その上に形成された有機緩衝膜507、その上に形成されたガスバリア膜508である。これらの薄膜は、それぞれ、陰極層503を覆っている。有機緩衝膜507は、有機材料で形成されている。電極保護膜506およびガスバリア膜508は、それぞれ、無機材料で形成されており、有機緩衝膜507の端を越えて延在している。   FIG. 12 is a cross-sectional view of an end portion of a conventional light emitting device (multi-layer configuration). In this light emitting device, there is no peripheral layer between the pixel partition wall 502 and the peripheral edge of the pixel substrate 501. The sealing layer is composed of three layers of thin films. Specifically, an electrode protective film 506 formed on the pixel substrate 501, an organic buffer film 507 formed thereon, and a gas barrier film 508 formed thereon. Each of these thin films covers the cathode layer 503. The organic buffer film 507 is made of an organic material. The electrode protective film 506 and the gas barrier film 508 are each formed of an inorganic material and extend beyond the end of the organic buffer film 507.

特開平11−74073号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-74073 特開2004−95199号公報JP 2004-95199 A

基板上に複数の画素を配列した構成の発光装置の額縁の幅は、狭い方が望ましい。特に、発光装置を表示装置として用いる場合には、狭額縁化が重要になる。しかし、上述した従来の発光装置では、ガスバリア膜505の端の位置(図11のP1)や有機緩衝膜507の端の位置(図12のP2)が個体毎に大きくばらついてしまう。そのため、広めの基板を用いる必要があり、額縁の幅が広くなっていた。   It is desirable that the frame width of the light emitting device having a configuration in which a plurality of pixels are arranged on the substrate is narrow. In particular, when the light-emitting device is used as a display device, it is important to narrow the frame. However, in the conventional light emitting device described above, the position of the end of the gas barrier film 505 (P1 in FIG. 11) and the position of the end of the organic buffer film 507 (P2 in FIG. 12) vary greatly from one individual to another. Therefore, it is necessary to use a wider substrate, and the width of the frame is wide.

P1やP2が個体毎に大きくばらつく要因は、封止層の形成方法にある。封止層は、画素の形成後に形成されるから、その形成には、画素に与える悪影響が少ない形成方法を採用するのが好ましい。例えば、画素がOLEDの場合、蒸着法や塗布法を用いるのが一般的である。画素に与える悪影響が少ない形成方法を採用することは、特に、ガスバリア膜505や有機緩衝膜507のようなある程度の厚さを要する膜を形成する場合に重要となる。しかし、採用可能な形成方法では、形成される層の端の位置精度が低くなってしまう。これが、P1やP2が個体毎に大きくばらつく理由である。   The factor that P1 and P2 vary greatly from one individual to another is the method of forming the sealing layer. Since the sealing layer is formed after the pixels are formed, it is preferable to adopt a formation method that has less adverse effect on the pixels. For example, when the pixel is an OLED, a vapor deposition method or a coating method is generally used. Employing a formation method that has little adverse effect on pixels is particularly important when forming a film that requires a certain thickness, such as the gas barrier film 505 and the organic buffer film 507. However, with the adoptable forming method, the position accuracy of the end of the formed layer is lowered. This is the reason why P1 and P2 vary greatly from one individual to another.

本発明は、上述した背景に基づいてなされたものであり、封止層を構成する1層または複数層の薄膜を位置精度の低い形成方法で形成しても狭額縁化を実現することができる発光装置と、この発光素子を備える電子機器を提供することを解決課題とする。   The present invention has been made on the basis of the background described above, and it is possible to realize a narrow frame even if one or more thin films constituting the sealing layer are formed by a formation method with low positional accuracy. It is an object to provide a light-emitting device and an electronic device including the light-emitting element.

以降の説明において、発光素子は例えばOLEDである。周辺層としては、回路または配線を保護するためのものを例示することができる。周辺層に保護される回路としては、発光素子を駆動または制御するための回路を例示することができる。周辺層に保護される配線としては、発光素子に電流を供給するための配線や、発光素子を駆動した電流を流すための配線を例示することができる。   In the following description, the light emitting element is, for example, an OLED. As the peripheral layer, a layer for protecting a circuit or wiring can be exemplified. As a circuit protected by the peripheral layer, a circuit for driving or controlling the light emitting element can be exemplified. Examples of the wiring protected by the peripheral layer include a wiring for supplying a current to the light emitting element and a wiring for supplying a current for driving the light emitting element.

本発明に係る第1の発光装置は、基板と、前記基板上に配列され、発光層を挟む二つの電極を有する複数の発光素子と、前記基板上に形成され、前記二つの電極を互いに絶縁する絶縁膜と、前記基板上に形成され、前記絶縁膜の外側に位置する周辺層と、前記基板上に形成され、前記複数の発光素子および前記絶縁膜を覆う封止層とを備え、前記封止層は1層または複数層の薄膜で構成され、前記絶縁膜と前記周辺層との間には、前記1層または複数層の薄膜のうち最大の膜厚が最も厚い薄膜の端が位置する、ことを特徴とする。封止層が1層の薄膜で構成されている場合、最大の膜厚が最も厚い膜の数は1である。封止層が複数層の薄膜で構成されている場合、最大の膜厚が最も厚い膜の数は1または複数である。
第1の発光装置では、基板の端と、発光素子および絶縁膜を覆う封止層を構成する1層または複数層の薄膜のうち最大の膜厚が最も厚い膜の端との間に、周辺層が存在する。したがって、最大の膜厚が最も厚い膜の端の位置精度が低くても、周辺層の端の位置精度が高ければ、額縁の幅を狭くすることができる。また、周辺層を設ける方法は任意である。したがって、周辺層を位置精度の高い形成方法で形成することが可能である。また、封止層を構成する1層または複数層の薄膜に、最大の膜厚が最も厚い膜以外の膜が含まれている場合には、含まれている膜を、発光素子に深刻な悪影響を及ぼすことなく位置精度の高い形成方法で形成することが可能である。よって、第1の発光装置によれば、封止層を構成する1層または複数層の薄膜を位置精度の低い形成方法で形成しても狭額縁化を実現することができる。
A first light emitting device according to the present invention includes a substrate, a plurality of light emitting elements arranged on the substrate and having two electrodes sandwiching a light emitting layer, and formed on the substrate, and the two electrodes are insulated from each other. An insulating film, a peripheral layer formed on the substrate and positioned outside the insulating film, and a sealing layer formed on the substrate and covering the plurality of light emitting elements and the insulating film, The sealing layer is composed of one or more thin films, and the end of the thin film having the largest film thickness among the one or more thin films is positioned between the insulating film and the peripheral layer. It is characterized by. When the sealing layer is composed of one thin film, the number of films having the largest film thickness is one. When the sealing layer is composed of a plurality of thin films, the number of films having the largest film thickness is one or more.
In the first light emitting device, the periphery between the edge of the substrate and the end of the film having the largest film thickness among the thin films of one or more layers constituting the sealing layer covering the light emitting element and the insulating film There is a layer. Therefore, even if the position accuracy of the end of the film having the largest film thickness is low, the frame width can be narrowed if the position accuracy of the end of the peripheral layer is high. Moreover, the method of providing a peripheral layer is arbitrary. Therefore, the peripheral layer can be formed by a formation method with high positional accuracy. In addition, in the case where one or more thin films constituting the sealing layer include a film other than the thickest film, the included film has a serious adverse effect on the light-emitting element. It is possible to form by a forming method with high positional accuracy without exerting any influence. Therefore, according to the first light-emitting device, narrowing of the frame can be realized even when a thin film of one layer or a plurality of layers constituting the sealing layer is formed by a formation method with low positional accuracy.

本発明に係る第2の発光装置は、基板と、前記基板上に配列され、発光層を挟む二つの電極を有する複数の発光素子と、前記基板上に形成され、前記二つの電極を互いに絶縁する絶縁膜と、前記基板上に形成され、前記絶縁膜の外側に位置する周辺層と、前記基板上に形成され、前記複数の発光素子および前記絶縁膜を覆う封止層とを備え、前記封止層は、複数層の薄膜で構成され、前記複数層の薄膜には、有機材料で形成された有機緩衝膜が含まれ、前記絶縁膜と前記周辺層との間には、前記有機緩衝膜の端が位置する、ことを特徴とする。
第2の発光装置では、基板の端と、発光素子および絶縁膜を覆う有機緩衝膜の端との間に、周辺層が存在する。したがって、有機緩衝膜の端の位置精度が低くても、周辺層の端の位置精度が高ければ、額縁の幅を狭くすることができる。また、周辺層を設ける方法は任意である。したがって、周辺層を位置精度の高い形成方法で形成することが可能である。また、封止層を構成する複数層の薄膜のうち有機緩衝膜以外の膜を、発光素子に深刻な悪影響を及ぼすことなく位置精度の高い形成方法で形成することが可能である。よって、第2の発光装置によれば、封止層を構成する有機緩衝膜を位置精度の低い形成方法で形成しても狭額縁化を実現することができる。
A second light emitting device according to the present invention includes a substrate, a plurality of light emitting elements arranged on the substrate and having two electrodes sandwiching a light emitting layer, and formed on the substrate, and the two electrodes are insulated from each other. An insulating film, a peripheral layer formed on the substrate and positioned outside the insulating film, and a sealing layer formed on the substrate and covering the plurality of light emitting elements and the insulating film, The sealing layer includes a plurality of thin films, and the plurality of thin films includes an organic buffer film formed of an organic material, and the organic buffer is provided between the insulating film and the peripheral layer. The edge of the membrane is located.
In the second light emitting device, a peripheral layer exists between the edge of the substrate and the edge of the organic buffer film covering the light emitting element and the insulating film. Therefore, even if the position accuracy of the edge of the organic buffer film is low, the frame width can be narrowed if the position accuracy of the edge of the peripheral layer is high. Moreover, the method of providing a peripheral layer is arbitrary. Therefore, the peripheral layer can be formed by a formation method with high positional accuracy. In addition, it is possible to form a film other than the organic buffer film among a plurality of thin films constituting the sealing layer by a formation method with high positional accuracy without seriously affecting the light emitting element. Therefore, according to the second light emitting device, it is possible to realize a narrow frame even if the organic buffer film constituting the sealing layer is formed by a formation method with low positional accuracy.

第2の発光装置において、前記基板上に設けられ、前記絶縁膜を囲み、前記基板とは異なる他の基板を支えるシールを備え、前記複数層の薄膜には、無機材料で形成され、前記有機緩衝膜を覆い、前記有機緩衝膜の端近傍では前記有機緩衝膜の厚みに応じた長さにわたって前記基板に対して傾いた方向に延在しているガスバリア膜が含まれ、前記ガスバリア膜の前記傾いた方向に延在している部分と前記シールとは離間している、ようにしてもよい。この態様によれば、ガスバリア膜の傾いた部分にシールが接触しないから、ガスバリア膜が破損する可能性を低く抑えることができる。   In the second light emitting device, a seal provided on the substrate, surrounding the insulating film, and supporting another substrate different from the substrate is provided, the thin film of the plurality of layers is formed of an inorganic material, and the organic A gas barrier film covering the buffer film and extending in a direction inclined with respect to the substrate over a length according to the thickness of the organic buffer film in the vicinity of the end of the organic buffer film; The part extending in the inclined direction and the seal may be separated from each other. According to this aspect, since the seal does not contact the inclined portion of the gas barrier film, the possibility that the gas barrier film is damaged can be suppressed to a low level.

この態様または第2の発光装置において、前記基板上に形成され、直線状に延在する配線を備え、前記配線上には、前記絶縁膜と前記周辺層との間の前記有機緩衝膜の端が位置し、前記配線上の前記有機緩衝膜の端は前記配線に略平行である、ようにしてもよい。こうすることにより、有機緩衝膜の端が平坦な面上に直線状に形成されるから、封止性能が向上する。なお、有機緩衝膜の端の下に配置される配線は、任意であり、例えば、発光素子に電流を供給するための配線であってもよいし、発光素子を駆動した電流を流すための配線であってもよい。   In this aspect or the second light emitting device, a wiring that is formed on the substrate and extends linearly is provided, and an end of the organic buffer film between the insulating film and the peripheral layer is provided on the wiring. The edge of the organic buffer film on the wiring may be substantially parallel to the wiring. By doing so, the end of the organic buffer film is linearly formed on a flat surface, so that the sealing performance is improved. The wiring disposed below the end of the organic buffer film is arbitrary, and may be, for example, a wiring for supplying a current to the light emitting element, or a wiring for supplying a current that drives the light emitting element. It may be.

本発明に係る第3の発光装置は、基板と、前記基板上に配列され、発光層を挟む二つの電極を有する複数の発光素子と、前記基板上に形成され、前記二つの電極を互いに絶縁する絶縁膜と、前記基板上に形成され、前記絶縁膜の外側に位置する周辺層と、前記基板上に無機材料で形成され、前記複数の発光素子および前記絶縁膜を覆う封止層とを備え、前記封止層は、1層の薄膜で構成され、前記1層の薄膜は、無機材料で形成されたガスバリア膜であり、前記絶縁膜と前記周辺層との間には、前記ガスバリア膜の端が位置する、ようにしてもよい。
第3の発光装置では、基板の端と、発光素子および絶縁膜を覆うガスバリア膜の端との間に、周辺層が存在する。したがって、ガスバリア膜の端の位置精度が低くても、周辺層の端の位置精度が高ければ、額縁の幅を狭くすることができる。また、周辺層を設ける方法は任意である。したがって、周辺層を位置精度の高い形成方法で形成することが可能である。また、封止層はガスバリア膜のみで構成されている。よって、第2の発光装置によれば、封止層を構成するガスバリア膜を位置精度の低い形成方法で形成しても狭額縁化を実現することができる。
A third light emitting device according to the present invention includes a substrate, a plurality of light emitting elements arranged on the substrate and having two electrodes sandwiching a light emitting layer, and formed on the substrate, and the two electrodes are insulated from each other. An insulating film, a peripheral layer formed on the substrate and positioned outside the insulating film, and a sealing layer formed of an inorganic material on the substrate and covering the plurality of light emitting elements and the insulating film. The sealing layer is composed of one thin film, and the one thin film is a gas barrier film formed of an inorganic material, and the gas barrier film is interposed between the insulating film and the peripheral layer. You may make it the edge of be located.
In the third light emitting device, a peripheral layer exists between the end of the substrate and the end of the gas barrier film covering the light emitting element and the insulating film. Therefore, even if the position accuracy of the edge of the gas barrier film is low, the width of the frame can be narrowed if the position accuracy of the edge of the peripheral layer is high. Moreover, the method of providing a peripheral layer is arbitrary. Therefore, the peripheral layer can be formed by a formation method with high positional accuracy. The sealing layer is composed only of a gas barrier film. Therefore, according to the second light emitting device, it is possible to realize a narrow frame even when the gas barrier film constituting the sealing layer is formed by a formation method with low positional accuracy.

第3の発光装置において、前記基板上に設けられ、前記絶縁膜を囲み、前記基板とは異なる他の基板を支えるシールを備え、前記ガスバリア膜は、前記絶縁膜の端近傍では前記絶縁膜の厚みに応じた長さにわたって前記基板に対して傾いた方向に延在しており、前記ガスバリア膜の前記傾いた方向に延在している部分と前記シールとは離間している、ようにしてもよい。この態様によれば、ガスバリア膜の傾いた部分にシールが接触しないから、ガスバリア膜が破損する可能性を低く抑えることができる。   In the third light emitting device, the gas barrier film includes a seal provided on the substrate, surrounding the insulating film, and supporting another substrate different from the substrate, and the gas barrier film is formed near the end of the insulating film. It extends in a direction inclined with respect to the substrate over a length corresponding to the thickness, and the portion extending in the inclined direction of the gas barrier film is separated from the seal. Also good. According to this aspect, since the seal does not contact the inclined portion of the gas barrier film, the possibility that the gas barrier film is damaged can be suppressed to a low level.

この態様または第3の発光装置において、前記基板上に形成され、直線状に延在する配線を備え、前記配線上には、前記絶縁膜と前記周辺層との間の前記ガスバリア膜の端が位置し、前記配線上の前記ガスバリア膜の端は前記配線に略平行である、ようにしてもよい。こうすることにより、ガスバリア膜の端が平坦な面上に直線状に形成されるから、封止性能が向上する。なお、ガスバリア膜の端の下に配置される配線は、任意であり、例えば、発光素子に電流を供給するための配線であってもよいし、発光素子を駆動した電流を流すための配線であってもよい。   In this aspect or the third light emitting device, a wiring formed on the substrate and extending linearly is provided, and an end of the gas barrier film between the insulating film and the peripheral layer is formed on the wiring. It is also possible that the end of the gas barrier film on the wiring is substantially parallel to the wiring. By doing so, the end of the gas barrier film is linearly formed on a flat surface, so that the sealing performance is improved. Note that the wiring disposed under the edge of the gas barrier film is arbitrary, and may be, for example, a wiring for supplying a current to the light emitting element, or a wiring for supplying a current that drives the light emitting element. There may be.

本発明に係る電子機器は、上記の発光装置のいずれか1つを有する。したがって、上述した各種効果に起因した効果を奏する。   An electronic apparatus according to the present invention includes any one of the light emitting devices described above. Therefore, there are effects resulting from the various effects described above.

本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1の構成の一部を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows a part of structure of the light-emitting device 1 which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 発光装置1の単位回路Pの詳細を示す回路図である。3 is a circuit diagram illustrating details of a unit circuit P of the light emitting device 1. FIG. 図1に示す発光装置1のA−A’線矢視断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line A-A ′ of the light emitting device 1 shown in FIG. 1. 本発明の第2の実施の形態に係る発光装置2の構成の一部を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows a part of structure of the light-emitting device 2 which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図4に示す発光装置2のB−B’線矢視断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line B-B ′ of the light emitting device 2 shown in FIG. 4. 本発明の第3の実施の形態に係る発光装置3の一部の断面図である。It is a partial cross section figure of the light-emitting device 3 which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施の形態に係る発光装置4の一部の断面図である。It is a partial cross section figure of the light-emitting device 4 which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る各発光装置を表示装置として採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す図である。1 is a diagram showing a configuration of a mobile personal computer that employs each light emitting device according to an embodiment of the present invention as a display device. 本発明の実施の形態に係る各発光装置を表示装置として採用した携帯電話機の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the mobile telephone which employ | adopted each light-emitting device which concerns on embodiment of this invention as a display apparatus. 本発明の実施の形態に係る各発光装置を表示装置として採用した携帯情報端末の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the portable information terminal which employ | adopted each light-emitting device which concerns on embodiment of this invention as a display apparatus. 従来の発光装置(単層構成)の端部の断面図である。It is sectional drawing of the edge part of the conventional light-emitting device (single-layer structure). 従来の発光装置(複数層構成)の端部の断面図である。It is sectional drawing of the edge part of the conventional light-emitting device (multilayer structure).

以下、添付の図面を参照しながら本発明に係る実施の形態を説明する。なお、図面においては、各部の寸法の比率は実際のものとは適宜に異ならせてある。   Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the ratio of dimensions of each part is appropriately changed from the actual one.

<第1の実施の形態>
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1の構成の一部を示す概略平面図である。発光装置1は基板10を備える。基板10の端部には接続端子11が形成されている。接続端子11には、外部の回路から、各種の信号や電源電圧が供給される。また、基板10上には、矩形の画素領域Gと、画素領域Gと基板10の外周の間に位置する周辺領域Hが設けられている。周辺領域Hには、走査線駆動回路12およびデータ線駆動回路(図示略)が形成されている。画素領域Gには、複数の走査線13と複数のデータ線14が形成され、それらの交差点の各々の近傍には複数の単位回路(画素回路)Pが設けられている。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a schematic plan view showing a part of the configuration of the light emitting device 1 according to the first embodiment of the present invention. The light emitting device 1 includes a substrate 10. A connection terminal 11 is formed at the end of the substrate 10. Various signals and power supply voltage are supplied to the connection terminal 11 from an external circuit. A rectangular pixel region G and a peripheral region H located between the pixel region G and the outer periphery of the substrate 10 are provided on the substrate 10. In the peripheral region H, a scanning line driving circuit 12 and a data line driving circuit (not shown) are formed. In the pixel region G, a plurality of scanning lines 13 and a plurality of data lines 14 are formed, and a plurality of unit circuits (pixel circuits) P are provided in the vicinity of each of the intersections.

図2は、発光装置1の単位回路Pの詳細を示す回路図である。各単位回路Pは、nチャネル型のトランジスタT1、pチャネル型のトランジスタT2、容量素子C、およびOLED50を含む。pチャネル型のトランジスタT2のソース電極は電流供給線15に接続される一方、そのドレイン電極はOLED50の陽極81に接続される。電流供給線15は、OLED50を駆動するための電流を供給するための配線である。また、トランジスタT2のソース電極とゲート電極との間には、容量素子Cが設けられている。nチャネル型のトランジスタT1のゲート電極は走査線13に接続され、そのソース電極は、データ線14に接続され、そのドレイン電極はトランジスタT2のゲート電極と接続される。   FIG. 2 is a circuit diagram illustrating details of the unit circuit P of the light emitting device 1. Each unit circuit P includes an n-channel transistor T1, a p-channel transistor T2, a capacitor C, and an OLED 50. The source electrode of the p-channel transistor T2 is connected to the current supply line 15, while the drain electrode is connected to the anode 81 of the OLED 50. The current supply line 15 is a wiring for supplying a current for driving the OLED 50. Further, a capacitive element C is provided between the source electrode and the gate electrode of the transistor T2. The gate electrode of the n-channel transistor T1 is connected to the scanning line 13, its source electrode is connected to the data line 14, and its drain electrode is connected to the gate electrode of the transistor T2.

単位回路Pは、その単位回路Pに対応する走査線13を走査線駆動回路12が選択すると、トランジスタT1がオンされて、データ線駆動回路(図示略)からデータ線14を介して供給されるデータ信号を内部の容量素子Cに保持する。そして、トランジスタT2が、データ信号のレベルに応じた電流をOLED50に供給する。これにより、OLED50は、データ信号のレベルに応じた輝度で発光する。   When the scanning line driving circuit 12 selects the scanning line 13 corresponding to the unit circuit P, the unit circuit P is turned on and supplied from the data line driving circuit (not shown) via the data line 14. The data signal is held in the internal capacitive element C. Then, the transistor T2 supplies a current corresponding to the level of the data signal to the OLED 50. As a result, the OLED 50 emits light with a luminance corresponding to the level of the data signal.

図1に示すように、基板10上の、周辺領域Hには、陰極用電源配線16が画素領域Gをとりまくコの字状に形成されている。つまり、陰極用電源配線16は、画素領域Gの周に沿って直線状に延在し、2箇所で略直角に折れ曲がっている。陰極用電源配線16は、走査線駆動回路12と画素領域Gとの間に配置されている。陰極用電源配線16は、OLED50を駆動した電流を流すための配線である。OLED50は、陽極(二つの電極のうち一方)81と陰極(二つの電極のうち他方)と両電極の間に挟まれた発光機能層とを有する。   As shown in FIG. 1, a cathode power supply wiring 16 is formed in a U shape surrounding the pixel region G in the peripheral region H on the substrate 10. That is, the cathode power supply wiring 16 extends linearly along the circumference of the pixel region G, and is bent at substantially right angles at two locations. The cathode power supply wiring 16 is disposed between the scanning line driving circuit 12 and the pixel region G. The cathode power supply wiring 16 is a wiring for flowing a current for driving the OLED 50. The OLED 50 includes an anode (one of two electrodes) 81, a cathode (the other of two electrodes), and a light emitting functional layer sandwiched between both electrodes.

図3は、図1に示す発光装置1のA−A’線矢視断面図である。基板10上には酸化珪素を主体とする下地保護層(図示略)が形成され、その上に金属配線層を含む配線層17が形成されている。配線層17には、画素領域G内に、各単位回路Pについて、トランジスタT1およびトランジスタT2が設けられている。また、配線層17には、周辺領域H内に、走査線駆動回路12やデータ線駆動回路(図示略)が設けられている。これらの回路は、トランジスタ、容量素子等の回路素子を有する。金属配線層は、アルミニウム等の、導電性を有する材料で形成されており、その一部は、各トランジスタの電極や、走査線13、データ線14、電流供給線15、陰極用電源配線16となっている。   FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line A-A ′ of the light emitting device 1 shown in FIG. 1. A base protective layer (not shown) mainly composed of silicon oxide is formed on the substrate 10, and a wiring layer 17 including a metal wiring layer is formed thereon. In the wiring layer 17, the transistor T <b> 1 and the transistor T <b> 2 are provided for each unit circuit P in the pixel region G. The wiring layer 17 is provided with a scanning line driving circuit 12 and a data line driving circuit (not shown) in the peripheral region H. These circuits have circuit elements such as transistors and capacitors. The metal wiring layer is formed of a conductive material such as aluminum, and a part thereof includes electrodes of each transistor, a scanning line 13, a data line 14, a current supply line 15, and a cathode power supply wiring 16. It has become.

配線層17上には、画素領域G内に、OLED50の陽極81が単位回路P毎に設けられている。各陽極81は、対応するコンタクトホールを通じて、自己を含む単位回路P内のトランジスタT2のドレイン電極に電気的に接続されている。配線層17および各陽極81上には、絶縁膜18が形成されている。絶縁膜18は、OLED50の陽極81と陰極とを互いに絶縁する膜であり、アクリルまたはポリイミドで形成され、画素領域Gにおいては、各陽極81の上面の少なくとも一部のみが露出するように配線層17および陽極81を覆っている。絶縁膜18の外端は周辺領域Hに位置している。絶縁膜18に囲まれている領域には、陽極81上に、発光機能層82が形成されている。発光機能層82の端面は絶縁膜18に接している。発光機能層82は、有機EL材料で形成された発光層を備える。有機EL材料は低分子材料であっても高分子材料であってもよい。発光機能層82は、発光層の他に、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、正孔ブロック層および電子ブロック層の一部または全部を備えていてもよい。   On the wiring layer 17, the anode 81 of the OLED 50 is provided for each unit circuit P in the pixel region G. Each anode 81 is electrically connected to the drain electrode of the transistor T2 in the unit circuit P including itself through a corresponding contact hole. An insulating film 18 is formed on the wiring layer 17 and each anode 81. The insulating film 18 is a film that insulates the anode 81 and the cathode of the OLED 50 from each other, and is formed of acrylic or polyimide. In the pixel region G, the wiring layer is exposed so that at least a part of the upper surface of each anode 81 is exposed. 17 and the anode 81 are covered. The outer end of the insulating film 18 is located in the peripheral region H. A light emitting functional layer 82 is formed on the anode 81 in the region surrounded by the insulating film 18. The end surface of the light emitting functional layer 82 is in contact with the insulating film 18. The light emitting functional layer 82 includes a light emitting layer formed of an organic EL material. The organic EL material may be a low molecular material or a high molecular material. In addition to the light emitting layer, the light emitting functional layer 82 may include a hole injection layer, a hole transport layer, an electron transport layer, a hole block layer, and a part or all of the electron block layer.

絶縁膜18および発光機能層82上には、陰極層19が形成されている。陰極層19は、導電性の材料で形成されており、その形成は、例えば蒸着により行われる。陰極層19は複数層で構成されてもよい。また、陰極層19は、画素領域Gの全体および周辺領域Hにわたって形成され、複数の単位回路Pに共通して設けられている。陰極層19の一部は、対応する単位回路P内のOLED50の陰極となる。周辺領域Hにおいて、陰極層19は、陰極用電源配線16に重なっており、配線層17に形成されたコンタクトホールCHを通じて陰極用電源配線16に電気的に接続されている。陰極層19の端は、配線層17上に位置している。
上述したように、発光機能層82は、各単位回路Pに応じて設けられており、絶縁膜18は発光機能層82を形成する領域を区画するように設けられている。ここでは、平面的に見た際、発光機能層82の一部と絶縁膜18とが互いに重なり合った構成を採ったが、これに限るものではなく、発光機能層82と絶縁膜18とが排他的に設けられている構成(発光機能層と絶縁膜18とが互いに重なり合わない構成)を採ってもよい。
また、別の構成例としては、発光機能層及び陰極層19は、少なくとも画素領域において、複数の単位回路Pに対し共通に設けられていてもよい。この際に、発光機能層が発光する領域は、絶縁膜18により区画されており、各陽極81に応じて発光する領域が設けられている。この発光する領域は、絶縁膜18の周縁部など、絶縁膜18と重なっていてもよい。ここで、発光機能層及び陰極層19は、絶縁膜18及び陽極81の上を覆うように設けられている。
A cathode layer 19 is formed on the insulating film 18 and the light emitting functional layer 82. The cathode layer 19 is formed of a conductive material, and the formation is performed, for example, by vapor deposition. The cathode layer 19 may be composed of a plurality of layers. The cathode layer 19 is formed over the entire pixel region G and the peripheral region H, and is provided in common to the plurality of unit circuits P. A part of the cathode layer 19 becomes a cathode of the OLED 50 in the corresponding unit circuit P. In the peripheral region H, the cathode layer 19 overlaps the cathode power supply wiring 16 and is electrically connected to the cathode power supply wiring 16 through a contact hole CH formed in the wiring layer 17. The end of the cathode layer 19 is located on the wiring layer 17.
As described above, the light emitting functional layer 82 is provided according to each unit circuit P, and the insulating film 18 is provided so as to partition a region where the light emitting functional layer 82 is formed. Here, when viewed in plan, a configuration in which a part of the light emitting functional layer 82 and the insulating film 18 overlap each other is adopted, but the present invention is not limited to this, and the light emitting functional layer 82 and the insulating film 18 are exclusive. Alternatively, a configuration (a configuration in which the light emitting functional layer and the insulating film 18 do not overlap each other) may be employed.
As another configuration example, the light emitting functional layer and the cathode layer 19 may be provided in common to the plurality of unit circuits P at least in the pixel region. At this time, a region where the light emitting functional layer emits light is partitioned by the insulating film 18, and a region that emits light is provided according to each anode 81. This region that emits light may overlap the insulating film 18, such as the peripheral edge of the insulating film 18. Here, the light emitting functional layer and the cathode layer 19 are provided so as to cover the insulating film 18 and the anode 81.

配線層17上には、周辺領域Hに、周辺壁20が形成されている。周辺壁20は、アクリルまたはポリイミドで形成されている。ここで、絶縁膜18と同じプロセスで一括して形成されていることが望ましい。すなわち、本実施形態における絶縁膜18と周辺壁20とは同一の絶縁層からなり、この絶縁層はOLED50の2つの電極を絶縁するとともに、走査線駆動回路12やデータ線駆動回路などの駆動回路を覆うように設けられていることが望ましい。周辺壁20は、走査線駆動回路12やデータ線駆動回路(図示略)を保護するための構造物であり、走査線駆動回路12やデータ線駆動回路(図示略)を覆うように設けられている。   A peripheral wall 20 is formed in the peripheral region H on the wiring layer 17. The peripheral wall 20 is made of acrylic or polyimide. Here, it is desirable that the insulating film 18 is formed in a lump by the same process. That is, the insulating film 18 and the peripheral wall 20 in the present embodiment are made of the same insulating layer, which insulates the two electrodes of the OLED 50 and driving circuits such as the scanning line driving circuit 12 and the data line driving circuit. It is desirable to be provided so as to cover. The peripheral wall 20 is a structure for protecting the scanning line driving circuit 12 and the data line driving circuit (not shown), and is provided so as to cover the scanning line driving circuit 12 and the data line driving circuit (not shown). Yes.

配線層17、陰極層19および周辺壁20上には、OLED50を外気から保護する封止層が形成されている。封止層は、3層の薄膜を積層して構成されている。3層の薄膜とは、配線層17、陰極層19および周辺壁20上に形成された陰極保護膜21と、陰極保護膜21上に形成された有機緩衝膜22と、配線層17、陰極保護膜21および有機緩衝膜22上に形成されたガスバリア膜23である。   On the wiring layer 17, the cathode layer 19, and the peripheral wall 20, a sealing layer for protecting the OLED 50 from the outside air is formed. The sealing layer is formed by laminating three layers of thin films. The three-layered thin film includes the cathode protective film 21 formed on the wiring layer 17, the cathode layer 19 and the peripheral wall 20, the organic buffer film 22 formed on the cathode protective film 21, the wiring layer 17, and the cathode protection. A gas barrier film 23 formed on the film 21 and the organic buffer film 22.

陰極保護膜21は、陰極層19の保護や、有機緩衝膜22の形成の容易化を目的としたものであり、少なくとも陰極層19を覆って延在している。尚、本実施形態において、陰極保護膜21の端は、周辺壁20の外側に位置している。また、陰極保護膜21は、無機材料で形成されている。この無機材料としては、珪素酸化物や珪素酸窒化物などの珪素酸化物や、酸化チタン等の金属酸化物などの無機酸化物を例示することができる。   The cathode protective film 21 is intended to protect the cathode layer 19 and facilitate the formation of the organic buffer film 22, and extends at least covering the cathode layer 19. In the present embodiment, the end of the cathode protective film 21 is located outside the peripheral wall 20. The cathode protective film 21 is made of an inorganic material. Examples of the inorganic material include silicon oxides such as silicon oxide and silicon oxynitride, and inorganic oxides such as metal oxides such as titanium oxide.

有機緩衝膜22は、絶縁膜18の形状の影響により画素毎に生じる陰極保護膜21の段差を埋め、ガスバリア膜23における応力集中を防止するためのものであり、有機材料で形成されている。有機緩衝膜22は、上面が平坦となるように、例えば塗布法(例えば印刷法)により形成される。有機緩衝膜22は、陰極層19を覆って延在し、少なくとも画素領域において少なくとも絶縁膜18の上方に形成されている。有機緩衝膜22の端221は、画素領域Gを囲む略長方形であり、絶縁膜18と周辺壁20との間に位置している。有機緩衝膜22の端221のうち、3つの辺は、陰極用電源配線16上に位置している。陰極用電源配線16上の端221は、陰極用電源配線16に略平行である。   The organic buffer film 22 is for filling a step of the cathode protective film 21 generated for each pixel due to the influence of the shape of the insulating film 18 and preventing stress concentration in the gas barrier film 23, and is made of an organic material. The organic buffer film 22 is formed by, for example, a coating method (for example, a printing method) so that the upper surface is flat. The organic buffer film 22 extends over the cathode layer 19 and is formed at least above the insulating film 18 in at least the pixel region. An end 221 of the organic buffer film 22 is a substantially rectangular shape surrounding the pixel region G, and is located between the insulating film 18 and the peripheral wall 20. Three sides of the end 221 of the organic buffer film 22 are located on the cathode power supply wiring 16. An end 221 on the cathode power supply wiring 16 is substantially parallel to the cathode power supply wiring 16.

ガスバリア膜23は、酸素や水分などの外気の浸入を防ぐためのものであり、陰極保護膜21および有機緩衝膜22を覆って延在している。また、ガスバリア膜23は、有機緩衝膜22の端221近傍では有機緩衝膜22の厚みに応じた長さにわたって基板10に対して傾いた方向に延在している。また、ガスバリア膜23は、珪素化合物や珪素酸化物などの無機材料で形成されている。本実施形態において、ガスバリア膜23は、周辺壁20が設けられた領域と絶縁膜18が設けられた領域との間の領域において、下地層(本実施形態においては、陰極保護膜21)と接している。下地層は、回路層17に含まれる絶縁膜であってもよい。この下地層は、珪素酸化物、珪素酸窒化物、珪素窒化物などの珪素化合物であることが望ましい。   The gas barrier film 23 is for preventing intrusion of outside air such as oxygen and moisture, and extends over the cathode protective film 21 and the organic buffer film 22. Further, the gas barrier film 23 extends in a direction inclined with respect to the substrate 10 over a length corresponding to the thickness of the organic buffer film 22 in the vicinity of the end 221 of the organic buffer film 22. The gas barrier film 23 is formed of an inorganic material such as a silicon compound or silicon oxide. In the present embodiment, the gas barrier film 23 is in contact with the underlying layer (the cathode protection film 21 in the present embodiment) in a region between the region where the peripheral wall 20 is provided and the region where the insulating film 18 is provided. ing. The underlayer may be an insulating film included in the circuit layer 17. The underlayer is preferably a silicon compound such as silicon oxide, silicon oxynitride, or silicon nitride.

有機緩衝膜22の端221の位置は、発光装置1の個体毎に、図3に示すL1の範囲でずれる虞がある。しかし、端221の位置がこの範囲でずれたとしても、基板10の端と、OLED50および絶縁膜18を覆う有機緩衝膜22の端221との間に、周辺壁20が存在することに変わりはない。したがって、発光装置1によれば、端221の位置精度が低くても、周辺壁20の端の位置精度が高ければ、額縁の幅を狭くすることができる。
その上、発光装置1では、周辺壁20を、OLED50の形成前に形成することが可能である。つまり、周辺壁20の形成に、その端の位置精度が高くなる形成方法を採用することができる。
また、封止層を構成する3層の薄膜のうち有機緩衝膜22以外の膜(陰極保護膜21およびガスバリア膜23)を、OLED50に深刻な悪影響を及ぼすことなく位置精度の高い形成方法で形成することが可能である。
よって、発光装置1によれば、封止層を構成する有機緩衝膜22を位置精度の低い形成方法で形成しても狭額縁化を実現することができる。
The position of the end 221 of the organic buffer film 22 may be shifted within the range of L1 shown in FIG. However, even if the position of the end 221 is shifted within this range, the peripheral wall 20 is still present between the end of the substrate 10 and the end 221 of the organic buffer film 22 covering the OLED 50 and the insulating film 18. Absent. Therefore, according to the light emitting device 1, even if the position accuracy of the end 221 is low, the width of the frame can be narrowed if the position accuracy of the end of the peripheral wall 20 is high.
Moreover, in the light emitting device 1, the peripheral wall 20 can be formed before the OLED 50 is formed. That is, a formation method that increases the positional accuracy of the end of the peripheral wall 20 can be employed.
In addition, a film other than the organic buffer film 22 (the cathode protective film 21 and the gas barrier film 23) among the three thin films constituting the sealing layer is formed by a formation method with high positional accuracy without seriously affecting the OLED 50. Is possible.
Therefore, according to the light emitting device 1, it is possible to realize a narrow frame even if the organic buffer film 22 constituting the sealing layer is formed by a formation method with low positional accuracy.

また、発光装置1では、有機緩衝膜22の端221のうち、3つの辺が、陰極用電源配線16に略平行であり、陰極用電源配線16上に位置する。つまり、有機緩衝膜22の端221の多くの区間が平坦な面上に位置する。よって、封止性能が向上する。なお、有機緩衝膜22の端221の下に配置される配線は、陰極用電源配線16に限らない。例えば、電流供給線15に接続され、単位回路Pに電流を供給するための配線であってもよい。なお、上述した単位回路Pの構成は一例に過ぎない。
尚、本実施形態の特徴を換言すると以下のようになる。本実施形態における絶縁膜18と周辺壁20とは同じ絶縁層で設けられており、この絶縁層は、画素領域上及び駆動回路上の両方に覆うように設けられており、画素領域が設けられた領域と駆動回路が設けられた領域の間には、絶縁層が設けられていない領域がある。有機緩衝膜22の端221は、この絶縁層が設けられていない領域に位置し、この領域において、ガスバリア層23は下地層と接している。この絶縁層が設けられていない領域には、陰極用電源配線16や電流供給線15に接続された配線を設けることが好ましい。ここで、駆動回路は、走査線駆動回路、データ線駆動回路、検査回路であってもよい。
In the light emitting device 1, the three sides of the end 221 of the organic buffer film 22 are substantially parallel to the cathode power supply wiring 16 and are located on the cathode power supply wiring 16. That is, many sections of the end 221 of the organic buffer film 22 are located on a flat surface. Therefore, the sealing performance is improved. The wiring disposed below the end 221 of the organic buffer film 22 is not limited to the cathode power supply wiring 16. For example, a wiring connected to the current supply line 15 and supplying a current to the unit circuit P may be used. The configuration of the unit circuit P described above is merely an example.
In other words, the features of the present embodiment are as follows. In this embodiment, the insulating film 18 and the peripheral wall 20 are provided by the same insulating layer, and this insulating layer is provided so as to cover both the pixel region and the drive circuit, and the pixel region is provided. There is a region where no insulating layer is provided between the region where the driver circuit is provided and the region where the driver circuit is provided. An end 221 of the organic buffer film 22 is located in a region where the insulating layer is not provided, and the gas barrier layer 23 is in contact with the base layer in this region. It is preferable to provide wiring connected to the cathode power supply wiring 16 and the current supply line 15 in the region where the insulating layer is not provided. Here, the driving circuit may be a scanning line driving circuit, a data line driving circuit, or an inspection circuit.

<第2の実施の形態>
図4は、本発明の第2の実施の形態に係る発光装置2の構成の一部を示す概略平面図であり、図5は、図4に示す発光装置2のB−B’線矢視断面図である。発光装置2が発光装置1と異なるのは、封止層が1層の薄膜で形成されている点である。発光装置2では、配線層17および陰極層19上に、OLED50を外気から保護する封止層が形成されている。この封止層は、1層の薄膜で構成されている。この薄膜とは、配線層17および陰極層19上に形成されたガスバリア膜24である。
<Second Embodiment>
FIG. 4 is a schematic plan view showing a part of the configuration of the light emitting device 2 according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a view taken along the line BB ′ of the light emitting device 2 shown in FIG. It is sectional drawing. The light emitting device 2 is different from the light emitting device 1 in that the sealing layer is formed of a single thin film. In the light emitting device 2, a sealing layer that protects the OLED 50 from the outside air is formed on the wiring layer 17 and the cathode layer 19. This sealing layer is composed of a single thin film. This thin film is a gas barrier film 24 formed on the wiring layer 17 and the cathode layer 19.

ガスバリア膜24は、酸素や水分などの外気の浸入を防ぐためのものであり、陰極保護膜21を覆って延在している。また、ガスバリア膜24は、絶縁膜18の外端近傍では絶縁膜18の厚みに応じた長さにわたって基板10に対して傾いた方向に延在している。本実施形態において、ガスバリア膜23は、周辺壁20が設けられた領域と絶縁膜18が設けられた領域との間の領域において、少なくとも下地層(本実施形態においては、回路層17に含まれる絶縁膜や配線層)と接している。下地層は、珪素酸化物、珪素酸窒化物、珪素窒化物などの珪素化合物であることが望ましい。ガスバリア膜24の端241は、画素領域Gを囲む略長方形であり、絶縁膜18と周辺壁20との間に位置している。ガスバリア膜24の端241のうち、3つの辺は、陰極用電源配線16上に位置している。陰極用電源配線16上の端241は、陰極用電源配線16に略平行である。また、ガスバリア膜24は、珪素化合物や珪素酸化物などの無機材料で形成されている。ガスバリア膜24の形成方法は、例えば蒸着法を例示することができる。   The gas barrier film 24 is for preventing intrusion of outside air such as oxygen and moisture, and extends over the cathode protective film 21. Further, the gas barrier film 24 extends in a direction inclined with respect to the substrate 10 over a length corresponding to the thickness of the insulating film 18 in the vicinity of the outer end of the insulating film 18. In the present embodiment, the gas barrier film 23 is included in at least the foundation layer (in the present embodiment, the circuit layer 17) in a region between the region where the peripheral wall 20 is provided and the region where the insulating film 18 is provided. Insulating film or wiring layer). The underlayer is preferably a silicon compound such as silicon oxide, silicon oxynitride, or silicon nitride. An end 241 of the gas barrier film 24 has a substantially rectangular shape surrounding the pixel region G, and is located between the insulating film 18 and the peripheral wall 20. Three sides of the end 241 of the gas barrier film 24 are located on the cathode power supply wiring 16. An end 241 on the cathode power supply wiring 16 is substantially parallel to the cathode power supply wiring 16. The gas barrier film 24 is formed of an inorganic material such as a silicon compound or silicon oxide. Examples of the method for forming the gas barrier film 24 include vapor deposition.

ガスバリア膜24の端241の位置は、発光装置2の個体毎に、図5に示すL2の範囲でずれる虞がある。しかし、端241の位置がこの範囲でずれたとしても、基板10の端と、OLED50および絶縁膜18を覆うガスバリア膜24の端241との間に、周辺壁20が存在することに変わりはない。したがって、発光装置2によれば、端241の位置精度が低くても、周辺壁20の端の位置精度が高ければ、額縁の幅を狭くすることができる。よって、発光装置2によれば、封止層を構成するガスバリア膜24を位置精度の低い形成方法で形成しても狭額縁化を実現することができる。   The position of the end 241 of the gas barrier film 24 may be deviated within the range L2 shown in FIG. However, even if the position of the end 241 is deviated in this range, the peripheral wall 20 is still present between the end of the substrate 10 and the end 241 of the gas barrier film 24 covering the OLED 50 and the insulating film 18. . Therefore, according to the light emitting device 2, even if the position accuracy of the end 241 is low, the frame width can be narrowed if the position accuracy of the end of the peripheral wall 20 is high. Therefore, according to the light emitting device 2, even if the gas barrier film 24 constituting the sealing layer is formed by a formation method with low positional accuracy, it is possible to realize a narrow frame.

また、発光装置2では、ガスバリア膜24の端241のうち、3つの辺が、陰極用電源配線16に略平行であり、陰極用電源配線16上に位置する。よって、封止性能が向上する。なお、ガスバリア膜24の端241の下に配置される配線が陰極用電源配線16に限らないことや、図2に示す単位回路Pの構成が一例に過ぎないことは、発光装置1と同様である。
尚、本実施形態の特徴を換言すると以下のようになる。本実施形態における絶縁膜18と周辺壁20とは同じ絶縁層で設けられており、この絶縁層は、画素領域上及び駆動回路上の両方に覆うように設けられており、画素領域が設けられた領域と駆動回路が設けられた領域の間には、絶縁層が設けられていない領域がある。ガスバリア膜23はこの絶縁層が設けられていない領域において下地層と接している。この絶縁層が設けられていない領域には、陰極用電源配線16や電流供給線15に接続された配線を設けることが好ましい。ここで、駆動回路は、走査線駆動回路、データ線駆動回路、検査回路であってもよい。
In the light emitting device 2, three sides of the end 241 of the gas barrier film 24 are substantially parallel to the cathode power supply wiring 16 and are located on the cathode power supply wiring 16. Therefore, the sealing performance is improved. Note that the wiring disposed under the end 241 of the gas barrier film 24 is not limited to the cathode power supply wiring 16 and that the configuration of the unit circuit P shown in FIG. is there.
In other words, the features of the present embodiment are as follows. In this embodiment, the insulating film 18 and the peripheral wall 20 are provided by the same insulating layer, and this insulating layer is provided so as to cover both the pixel region and the drive circuit, and the pixel region is provided. There is a region where no insulating layer is provided between the region where the driver circuit is provided and the region where the driver circuit is provided. The gas barrier film 23 is in contact with the base layer in the region where the insulating layer is not provided. It is preferable to provide wiring connected to the cathode power supply wiring 16 and the current supply line 15 in the region where the insulating layer is not provided. Here, the driving circuit may be a scanning line driving circuit, a data line driving circuit, or an inspection circuit.

<第3の実施の形態>
図6は、本発明の第3の実施の形態に係る発光装置3の一部の断面図である。発光装置3が発光装置1と異なるのは、基板10の他に基板を有する点である。他の基板とは、OLED50を挟んで基板10と対向している対向基板25である。対向基板25は、例えばカラーフィルタ基板であり、シール26によって支持されている。
基板10のOLED50が設けられた側と対向基板25との間には、樹脂からなる充填材が充填されている。
第1及び第2の実施の形態では、ガスバリア膜23により、外気がOLED50に到達するのを防いでいたが、本実施形態では、充填材、シール26及び対向基板25により封止性能をさらに向上させている。
<Third Embodiment>
FIG. 6 is a partial cross-sectional view of the light emitting device 3 according to the third embodiment of the present invention. The light emitting device 3 is different from the light emitting device 1 in that it has a substrate in addition to the substrate 10. The other substrate is a counter substrate 25 facing the substrate 10 with the OLED 50 interposed therebetween. The counter substrate 25 is a color filter substrate, for example, and is supported by a seal 26.
A filler made of resin is filled between the side of the substrate 10 where the OLED 50 is provided and the counter substrate 25.
In the first and second embodiments, the gas barrier film 23 prevents the outside air from reaching the OLED 50. However, in this embodiment, the sealing performance is further improved by the filler, the seal 26, and the counter substrate 25. I am letting.

シール26は、例えば樹脂で形成されており、絶縁膜18を囲むように、ガスバリア膜23上に設けられている。シール26の一端はガスバリア膜23に固着しており、他端は対向基板25に固着している。ガスバリア膜23のシール26に接触している部分は、周辺壁20上の部分である。つまり、シール26と、ガスバリア膜23の基板10に対して傾いた方向に延在している部分231とは、互いに離間している。   The seal 26 is made of, for example, resin, and is provided on the gas barrier film 23 so as to surround the insulating film 18. One end of the seal 26 is fixed to the gas barrier film 23, and the other end is fixed to the counter substrate 25. The portion of the gas barrier film 23 that is in contact with the seal 26 is a portion on the peripheral wall 20. That is, the seal 26 and the portion 231 extending in the direction inclined with respect to the substrate 10 of the gas barrier film 23 are separated from each other.

部分231にシール26が接触していると、応力集中により、ガスバリア膜23が破損し易いが、上述したように、発光装置3では、両者は接触していない。また、周辺壁20の上面は略平坦である。よって、発光装置3によれば、発光装置1で得られる効果の他に、ガスバリア膜23が破損する可能性を低く抑えることができるという効果が得られる。
ガスバリア膜23及び有機緩衝膜22が周辺壁20及び画素領域を覆い、その外側の領域にシール26を配置する構成と比して、本実施形態では、シール26と周辺壁20とが重なっているため、発光装置3を狭額縁にすることができる。また、有機緩衝膜22の端221とシール26とが重ならないようするするために設けられるマージン領域に、陰極用電源配線16などの配線を配置できるため、さらに、発光装置3の狭額縁化に図ることができる。
If the seal 26 is in contact with the portion 231, the gas barrier film 23 is easily damaged due to stress concentration. However, as described above, in the light emitting device 3, the two are not in contact with each other. Moreover, the upper surface of the peripheral wall 20 is substantially flat. Therefore, according to the light emitting device 3, in addition to the effect obtained by the light emitting device 1, the effect that the possibility that the gas barrier film 23 is damaged can be suppressed low.
Compared with the configuration in which the gas barrier film 23 and the organic buffer film 22 cover the peripheral wall 20 and the pixel region and the seal 26 is disposed in the outer region, the seal 26 and the peripheral wall 20 overlap in this embodiment. Therefore, the light emitting device 3 can be narrowed. In addition, since the wiring such as the cathode power supply wiring 16 can be arranged in a margin area provided so that the end 221 of the organic buffer film 22 and the seal 26 do not overlap with each other, the light emitting device 3 can be further narrowed. Can be planned.

<第4の実施の形態>
図7は、本発明の第4の実施の形態に係る発光装置4の一部の断面図である。発光装置4が発光装置2と異なるのは、基板10の他に対向基板25を有する点である。対向基板25は、シール27によって支持されている。シール27は、例えば樹脂で形成されており、絶縁膜18を囲むように、配線層17および周辺壁20上に設けられている。シール27の一端は配線層17および周辺壁20に固着しており、他端は対向基板25に固着している。シール27と、ガスバリア膜24の基板10に対して傾いた方向に延在している部分242とは、互いに離間している。
<Fourth embodiment>
FIG. 7 is a partial cross-sectional view of the light emitting device 4 according to the fourth embodiment of the present invention. The light emitting device 4 is different from the light emitting device 2 in that it has a counter substrate 25 in addition to the substrate 10. The counter substrate 25 is supported by a seal 27. The seal 27 is made of, for example, resin, and is provided on the wiring layer 17 and the peripheral wall 20 so as to surround the insulating film 18. One end of the seal 27 is fixed to the wiring layer 17 and the peripheral wall 20, and the other end is fixed to the counter substrate 25. The seal 27 and the portion 242 extending in a direction inclined with respect to the substrate 10 of the gas barrier film 24 are separated from each other.

部分242にシール27が接触していると、応力集中により、ガスバリア膜24が破損し易いが、上述したように、発光装置4では、両者は接触していない。そもそも、シール27とガスバリア膜24とは、互いに離間している。よって、発光装置4によれば、発光装置2で得られる効果の他に、ガスバリア膜24が破損する可能性を低く抑えることができるという効果が得られる。
また、第3の実施の形態と同様、発光装置4を狭額縁とすることができる。
If the seal 27 is in contact with the portion 242, the gas barrier film 24 is likely to be damaged due to stress concentration. However, as described above, in the light emitting device 4, the two are not in contact with each other. In the first place, the seal 27 and the gas barrier film 24 are separated from each other. Therefore, according to the light emitting device 4, in addition to the effect obtained by the light emitting device 2, the effect that the possibility that the gas barrier film 24 is damaged can be suppressed low.
Further, as in the third embodiment, the light emitting device 4 can be a narrow frame.

<変形例>
上述した各実施の形態では、封止層が1層または3層の薄膜で構成されているが、2層の薄膜で構成されてもよいし、4層以上の薄膜で構成されてもよい。いずれの場合であっても、最大の膜厚が最も厚い膜は、形成される膜の端の位置精度の低い形成方法で形成されることになる。また、形成される膜の端の位置精度の低い形成方法で形成される膜は複数であってもよい。また、周辺壁に保護される回路は走査線駆動回路に限られず、データ線駆動回路や検査回路であってもよい。また、周辺壁に保護されるものは回路に限らない。例えば、周辺壁によって配線が保護されるようにしてもよい。また、発光素子はOLEDに限らない。
<Modification>
In each of the above-described embodiments, the sealing layer is composed of one or three thin films, but may be composed of two thin films or may be composed of four or more thin films. In any case, the film having the largest film thickness is formed by a formation method with low position accuracy of the edge of the film to be formed. Further, a plurality of films may be formed by a forming method with low positional accuracy of the edge of the formed film. The circuit protected by the peripheral wall is not limited to the scanning line driving circuit, and may be a data line driving circuit or an inspection circuit. Moreover, what is protected by the peripheral wall is not limited to a circuit. For example, the wiring may be protected by a peripheral wall. Further, the light emitting element is not limited to the OLED.

<応用例>
次に、上述した実施の形態に係る各発光装置を適用した電子機器について説明する。
図8は、上述した各発光装置を表示装置として採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す図である。パーソナルコンピュータ2000は、表示装置2003と本体部2010とを備える。本体部2010には、電源スイッチ2001およびキーボード2002が設けられている。
<Application example>
Next, electronic devices to which the light emitting devices according to the above-described embodiments are applied will be described.
FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a mobile personal computer that employs each of the light-emitting devices described above as a display device. The personal computer 2000 includes a display device 2003 and a main body 2010. The main body 2010 is provided with a power switch 2001 and a keyboard 2002.

図9は、上述した各発光装置を表示装置として採用した携帯電話機の構成を示す図である。携帯電話機3000は、複数の操作ボタン3001およびスクロールボタン3002、ならびに表示装置3003を備える。スクロールボタン3002を操作することによって、表示装置3003に表示される画面がスクロールされる。   FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration of a mobile phone that employs each of the light-emitting devices described above as a display device. A cellular phone 3000 includes a plurality of operation buttons 3001, scroll buttons 3002, and a display device 3003. By operating the scroll button 3002, the screen displayed on the display device 3003 is scrolled.

図10は、上述した各発光装置を表示装置として採用した携帯情報端末(PDA:Personal Digital Assistants)の構成を示す図である。情報携帯端末4000は、複数の操作ボタン4001および電源スイッチ4002、ならびに表示装置4003を備える。電源スイッチ4002を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が表示装置4003に表示される。   FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration of a personal digital assistant (PDA) that employs each of the light-emitting devices described above as a display device. The information portable terminal 4000 includes a plurality of operation buttons 4001, a power switch 4002, and a display device 4003. When the power switch 4002 is operated, various kinds of information such as an address book and a schedule book are displayed on the display device 4003.

なお、本発明に係る発光装置が適用される電子機器としては、図8から図10に示したもののほか、テレビやビデオカメラ等の映像を表示可能な機器や、電子写真方式の画像形成装置が挙げられる。   Note that electronic devices to which the light-emitting device according to the present invention is applied include devices such as televisions and video cameras, and electrophotographic image forming apparatuses in addition to those shown in FIGS. Can be mentioned.

1〜4…発光装置、10…基板、12…走査線駆動回路、13…走査線、14…データ線、15…電流供給線、16…陰極用電源配線(配線)、17…配線層、18…絶縁膜、19…陰極層、20…周辺壁(周辺層)、2000…パーソナルコンピュータ(電子機器)、21…陰極保護膜、22…有機緩衝膜、23,24…ガスバリア膜、25…対向基板(他の基板)、26,27…シール、3000…携帯電話機(電子機器)、4000…携帯情報端末(電子機器)、G…発光領域、H…周辺領域、P…単位回路。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1-4 ... Light-emitting device, 10 ... Board | substrate, 12 ... Scanning line drive circuit, 13 ... Scanning line, 14 ... Data line, 15 ... Current supply line, 16 ... Power supply wiring (wiring) for cathodes, 17 ... Wiring layer, 18 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Insulating film, 19 ... Cathode layer, 20 ... Peripheral wall (peripheral layer), 2000 ... Personal computer (electronic device), 21 ... Cathode protective film, 22 ... Organic buffer film, 23, 24 ... Gas barrier film, 25 ... Opposite substrate (Other substrates), 26, 27 ... seal, 3000 ... mobile phone (electronic device), 4000 ... portable information terminal (electronic device), G ... light emitting region, H ... peripheral region, P ... unit circuit.

Claims (8)

基板と、
画素領域内において複数の画素を構成するように前記基板上に配列され、発光層を挟む陽極及び陰極を有する複数の発光素子と、
前記複数の画素の各々を区画するために設けられた絶縁層と、
少なくとも前記陰極を覆い、前記陰極と接するように前記陰極上に設けられ、前記陰極を保護する陰極保護膜と、
前記陰極保護膜上に設けられた緩衝膜と、
前記絶縁層と同層に設けられ、前記画素領域の外側に設けられた駆動回路を覆うように設けられた周辺壁と、を備え、
前記陰極保護膜が前記周辺壁を覆い、
前記基板の前記画素領域と前記周辺壁を含む断面において前記周辺壁は第1の端部と、前記第1の端部と前記基板の端部との間に位置する第2の端部とを有し、
前記断面において前記第2の端部は前記緩衝膜の端部と前記基板の端部との間に位置しており、
前記断面において前記第1の端部は前記緩衝膜の端部と前記第2の端部との間に位置していることを特徴とする発光装置。
A substrate,
A plurality of light emitting elements arranged on the substrate so as to constitute a plurality of pixels in a pixel region, and having an anode and a cathode sandwiching a light emitting layer;
An insulating layer provided to partition each of the plurality of pixels;
A cathode protective film which covers at least the cathode and is provided on the cathode so as to be in contact with the cathode, and which protects the cathode;
A buffer film provided on the cathode protective film;
A peripheral wall provided in the same layer as the insulating layer and provided to cover a drive circuit provided outside the pixel region;
The cathode protective film covers the peripheral wall;
In the cross section including the pixel region and the peripheral wall of the substrate, the peripheral wall has a first end, and a second end located between the first end and the end of the substrate. Have
In the cross section, the second end is located between the end of the buffer film and the end of the substrate ,
In the cross section, the first end portion is located between an end portion of the buffer film and the second end portion .
前記画素領域と前記基板の端部との間に配置され、前記陰極と接続する電源線をさらに有し、
前記電源線は前記断面において第3の端部と、前記基板の端部と前記第3の端部との間に位置する第4の端部とを有し、
前記第2の端部は前記基板の端部と前記第4の端部との間に位置し、
前記緩衝膜の端部は前記第3の端部と前記第4の端部との間に位置していることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
Disposed between the end portion of the substrate and the pixel region further has a power distribution line connected to said cathode,
Wherein a third end power distribution line in the cross section, and a fourth end portion located between the end and the third end portion of the substrate,
The second end is located between an end of the substrate and the fourth end;
The light emitting device according to claim 1, wherein an end portion of the buffer film is located between the third end portion and the fourth end portion.
前記周辺壁は前記断面において前記絶縁層から分離していることを特徴とする請求項1または2に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, wherein the peripheral wall is separated from the insulating layer in the cross section. 前記緩衝膜が前記駆動回路と重ならないように設けられていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発光装置。   The light-emitting device according to claim 1, wherein the buffer film is provided so as not to overlap the drive circuit. 前記駆動回路は走査線駆動回路であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, wherein the driving circuit is a scanning line driving circuit. 前記駆動回路はデータ線駆動回路であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, wherein the driving circuit is a data line driving circuit. 前記緩衝膜は有機材料で形成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, wherein the buffer film is made of an organic material. 請求項1乃至7のいずれかに記載の発光装置を備える電子機器。   An electronic apparatus comprising the light emitting device according to claim 1.
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