JP5265264B2

JP5265264B2 - 乾式負荷試験装置

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Publication number: JP5265264B2
Application number: JP2008187485A
Authority: JP
Inventors: 豊嗣近藤
Original assignee: Tatsumi Corp
Current assignee: Tatsumi Corp
Priority date: 2008-07-18
Filing date: 2008-07-18
Publication date: 2013-08-14
Anticipated expiration: 2028-07-18
Also published as: JP2010025752A

Description

本発明は、例えば交流発電機やその他の電源等の電気負荷試験に用いられる乾式負荷試験装置に関するものである。

従来、複数の棒状の抵抗素子の組み合わせで負荷容量を設定する乾式負荷試験装置としては、上記抵抗素子を水平方向及び垂直方向のそれぞれに間隔をおいて並設すると共に、水平方向に並んだ抵抗素子を直列に接続したものが知られている（例えば、特許文献１参照）。

上記従来の乾式負荷試験装置では、各抵抗素子の一端部に一方の端子が接続された複数のスイッチング部材と、各スイッチング部材の他方の端子を垂直方向に並んだ列ごとに接続する複数の組立体間導電部材と、複数の組立体間導電部材のいくつかを被試験用電源に接続する一つの真空遮断器とを備えている。

ここで、スイッチング部材は、分割可能なケースを有しており、このケース内に一対の端子に接続した固定接点と、この固定接点を導通させる可動接点と、可動接点を駆動する駆動手段としてのソレノイドとが内蔵されている。
ＷＯ01/40817号公報

しかしながら、従来の乾式負荷試験装置にあっては、スイッチング部材のケースの密閉性が低いため、長期間屋外に設置した状態では、ケース内に細塵が入り込んで各固定接点や可動接点に付着し、一対の固定接点が導通したときスパーク（放電）が生じて各接点の焼き付き等が発生する、という問題があった。

本発明は、上記問題に着目してなされたもので、屋外等に長期間設置しておいても、スイッチング部材内でのスパーク発生を抑制することができる乾式負荷試験装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明では、複数の細長い抵抗素子を水平方向に間隔をあけて並設し且つ直列に接続してなる複数の抵抗組立体と、該複数の抵抗組立体を垂直方向に間隔をあけて並設し、上下方向に並んだ複数の前記抵抗素子からなる複数の抵抗素子列とを有する高電圧負荷試験用の抵抗本体と、前記複数の抵抗素子列の各抵抗素子の一端部に一方の端子が接続した複数のスイッチング部材からなる複数のスイッチング部材列と、前記複数のスイッチング部材列の各スイッチング部材の他方の端子が接続した複数の組立体間導電部材と、前記複数の組立体間導電部材のいくつかを被試験用電源に接続する一つの高電圧用スイッチと、を備えた乾式負荷試験装置において、前記スイッチング部材は、前記一対の端子のそれぞれに接続した一対の固定接点と、該一対の固定接点を導通する可動接点と、該可動接点を駆動する駆動手段と、前記固定接点、前記可動接点、前記駆動手段を内蔵すると共に、不活性ガスが充填された密封ケース体とを備えたことを特徴としている。

よって、本発明の乾式負荷試験装置にあっては、例えば、長期間屋外に設置した場合であっても、固定接点、可動接点、駆動手段が密封ケース体に内蔵されているため、この密封ケースにより細塵が各接点等に付着することを防止できる。さらに、不活性ガスを密封ケース体内に充填することで悪性ガスの侵入をより効果的に防止することができる。この結果、屋外等に長期間設置しておいても、スイッチング部材内でのスパーク発生を抑制することができる。

以下、本発明の乾式負荷試験装置を実現する最良の形態を、図面に示す実施例１〜実施例４に基づいて説明する。

まず、構成を説明する。
図１Ａはこの発明に係る移動式乾式負荷試験装置（移動式電気負荷試験装置）の平面図であり、図１Ｂは図１Ａの側面図である。

この移動式乾式負荷試験装置は、トラック３０と乾式負荷試験装置（電気負荷試験装置）４０とを有する。このトラック３０は、荷台３１と、荷台３１上に設けられたボックス３２とを有する。このボックス３２の内部には荷室３３が設けられ、乾式負荷試験装置４０は荷室３３内に配設されている。

[乾式負荷試験装置４０の概略構成]
図２は図１Ａ、図１Ｂに示したボックスを破断して内部の乾式負荷試験装置を概略的に示した概略平面図であり、図３は図２の乾式負荷試験装置を矢印Ａ方向から見た概略側面図であり、図４は図２の乾式負荷試験装置を矢印Ｂ方向から見た概略側面図であり、図５は図１Ａ〜図４の乾式負荷試験装置と被試験用電源との接続例を示す概略説明図であり、図６は図３の一部を拡大して斜めから見た部分斜視図である。

この乾式負荷試験装置４０は、荷室３２内に設けられたフレーム４１と、フレーム４１上に隣接して前後に配設されたＲ相，Ｓ相，Ｔ相用の抵抗ユニット４２，４３，４４とを有する。なお、各抵抗ユニット４２，４３，４４は同一の構成となっている。

[抵抗ユニット４２，４３，４４]
図７Ａは図３，図４の電動ファンの一部を破断して示した抵抗ユニットの側面図であり、図７Ｂは図７Ａの絶縁板の説明図であり、図８は図７Ａの抵抗ユニットとスイッチング部材との関係を示す拡大断面図である。

各抵抗ユニット４２，４３，４４は、フレーム４１上に配設されたベース枠４５と、フレーム４１とベース枠４５間に介装された耐熱性で絶縁性の防振絶縁ゴム４６と、防振絶縁ゴム４６の上下両端に焼き付け固着されたプレート４７，４７と、プレート４７，４７と一体に設けられ且つフレーム４１及びベース枠４５をそれぞれ貫通する固定ボルト４８，４８と、固定ボルト４８，４８の両端部にそれぞれ螺着された固定ナット４９，４９を有する。

また、各抵抗ユニット４２，４３，４４は、ベース枠４５及びフレーム４１の下方に配置され、且つフレーム４１に取り付けられた電動ファン５０と、ベース枠４５上に固定された碍子（絶縁部材）５１と、碍子５１上に固定され且つ上下端が開放するハウジング５２と、電動ファン５０からの冷却風をハウジング５２に導く絶縁フード５３を有する。

このハウジング５２は、アングルから形成された六面体状のフレーム５４の側面開口をエポキシ系の耐熱性材料から形成された絶縁板５５ａ，５５ｂ，５５ｃ，５５ｄ等の側部開口閉塞板で閉成したものである（図８参照）。この絶縁板５５ａ，５５ｂ，５５ｃ，５５ｄは、ボルト・ナット等の固定具５６でフレーム５４に固定されている。尚、絶縁板５５ｂ，５５ｄ等の側部開口閉塞板は、絶縁材料以外の耐熱不燃材の側部開口閉塞板に代えることができる。この材料としては、例えばアルミニウム板や鉄板を用いることができる。

絶縁板５５ａ，５５ｃには、図７Ｂに示したように、多数の取付孔列Ｈ_ｉ［ｉ＝１，２，３・・・ｎ］が上下に多段に等ピッチで形成されている。この取付孔列Ｈ_ｉは、左右に等ピッチで配列した多数の取付孔ｈ_ｊ［ｊ＝１，２，３・・・ｍ］から形成されている。本実施例１では、取付孔列Ｈ_ｉは２２列（ｉ＝ｎ＝２２）、取付孔ｈ_ｊは１６列（ｊ＝ｍ＝１６）に設けられている。尚、取付孔ｈ_ｊは１６に限られるものではなく、取付孔列Ｈ_ｉも２２列に限られるものではない。尚、上下の取付孔列Ｈ_ｉの取付孔ｈ_ｊは左右に半ピッチずらして互い違いに設けられている。

［抵抗ユニット４２，４３，４４の抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ］
図９は図１〜図８の乾式負荷試験装置の回路図であり、図１０は図９の部分拡大説明図である。

各抵抗ユニット４２，４３，４４は、ハウジング５２内に配設した抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを有する。

抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔは、取付孔列Ｈ_ｉに対応させて上下に多段に配設した多数の扁平状の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ［ｉ＝１，２，３・・・ｎ］を有する（図９参照）。本実施例１では取付孔列Ｈ_ｉが２２列であるので、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉも取付孔列Ｈ_ｉに対応して２２段に設けられている。尚、図９では、図示の便宜上大きな符号のみを付している。また、図９に示す抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの構成は同じであるので、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの共通部分を図１０に拡大して示し、図９にて図示の関係上付すことができなかった符号を図１０に付して説明する。

抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉは、図８に示したように、扁平状（平面状）に並設され且つ両端部が絶縁された複数の棒状の抵抗素子（ヒータ）ｒ_ｊ［ｊ＝１，２，３・・・ｍ］と、隣接する複数の抵抗素子（ヒータ）ｒ_ｊを端部において直列に接続している導電性接続片５８ａ_ｊ，５８ｂ_ｊ−１［ｊ＝１，２，３・・・ｍ／２］を有する。

複数の抵抗素子（ヒータ）ｒ_ｊは、取付孔ｈ_ｊに対応して配列されているので、本実施例１では取付孔ｈ_ｊに対応して水平方向に１６本有する。上述のように上下の取付孔列Ｈ_ｉの取付孔ｈ_ｊは左右に半ピッチずらして設けられているので、上下の取付孔列Ｈ_ｉの取付孔ｈ_ｊに取り付けられた抵抗素子ｒ_ｊは互いに左右に半ピッチずれて、縦方向の抵抗素子ｒ_ｊはジグザグに配列されることになる。これにより、電動ファン５０により下方から絶縁板５５ａ，５５ｂ，５５ｃ間に供給される冷却風は上下の取付孔列Ｈ_ｉの取付孔ｈ_ｊに取り付けられた抵抗素子ｒ_ｊに効率的に当たって取付孔列Ｈ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊ全てを効率的に冷却することになる。

尚、多段の抵抗組立体Ｒ_１〜Ｒ_ｎの各導電性接続片５８ａ_ｊは上下に一列に接続片列を構成し、多段の抵抗組立体Ｒ_１〜Ｒ_ｎの各導電性接続片５８ｂ_ｊ−１は上下に一列に接続片列を構成し、多段の抵抗組立体Ｒ_１〜Ｒ_ｎの各抵抗素子（ヒータ）ｒ_ｊは上下方向に一列に整列されて抵抗素子列を構成している。

［抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊ］
図１１Ａは図８に示した抵抗素子の一部を破断すると共に詳細に図示した説明図であり、図１１Ｂは図１１Ａの抵抗素子の端部拡大構造を示す説明図であり、図１１Ｃは図１１Ａの抵抗素子の端部保持構造の他の例を示す説明図である。

この抵抗素子ｒ_ｊは、熱伝導性の高い金属材料或いはステンレス鋼等から形成された筒体５９と、筒体５９の外周に固着された放熱フィン６０と、筒体５９の両端部内に一端部が同心に挿入された棒状電極６１，６１と、棒状電極６１，６１の中間部外周に一体且つ同心に固着された絶縁体（絶縁部材）６２，６２とを有する。この絶縁体６２は、セラミック製の絶縁碍子等からなり、周面にホコリが付着するのを防止する環状溝６２ａが形成されている。

また、抵抗素子ｒ_ｊは、筒体５９の中央に配設され且つ棒状電極６１，６１に両端部が接続された抵抗線（ニクロム線等のヒータ線）６３と、筒体５９の内面と棒状電極６１，６１の一端部及び抵抗線６３との間に充填されたマグネシア等の絶縁材料荷より形成された絶縁体（絶縁部材）６４と、棒状電極６１の他端部に螺着された固定ナット６５，６５ａとを有する。そして、導電性接続片５８は、固定ナット６５，６５ａ間で締め付け固定することにより、抵抗素子ｒ_ｊに固定されている。

更に、図１１Ａ、図１１Ｂに示したように、筒体５９の端部と棒状電極６１との間に環状又は筒状の耐熱コーキング材（耐熱シール材）６４ａを嵌着し、絶縁体（絶縁部材）６２で押さえ付けるようにすることで、耐熱コーキング材６４ａにより絶縁体６４内に湿気が入らないようになっている。また、高い電圧に耐え得るようにするために、絶縁体６２の長さは例えば約１０ｍｍ程度或いはそれ以上に設定されていて、導電性接続片５８と筒体５９との間の絶縁距離が十分に確保されている。

この筒体５９の両端部近傍には耐熱性で弾性を有する絶縁部材６６が固定されている。この絶縁部材６６は、耐熱性があり且つ弾性を有するシリコンゴム（合成樹脂）等から形成されている。また絶縁部材６６の中央部には、環状取付溝６６ａが形成されている。

そして、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊは、上述したように取付孔列Ｈ_ｉの取付孔ｈ_ｊに対応して配設されている。この抵抗素子ｒ_ｊは、両端側の絶縁部材６６，６６を絶縁板５５ａ，５５ｃの取付孔ｈ_ｊ，ｈ_ｊに嵌合して、絶縁部材６６，６６の環状取付溝６６ａ，６６ａに絶縁板５５ａ，５５ｃを係合させることにより、絶縁板５５ａ，５５ｃに保持（固定）されている。

この様に弾性を有する耐熱性があり且つ弾性を有する絶縁部材６６で筒体５９を絶縁板５５ａ，５５ｃに保持させることで、トラックの移動時の振動衝撃が抵抗素子ｒ_ｊに伝わって、抵抗素子ｒ_ｊが振動衝撃等により破損するのを防止できる。また、抵抗素子ｒ_ｊを支持する絶縁板５５ａ，５５ｃがエポキシ樹脂系の比較的耐熱性のある材料から形成されているが、絶縁部材６６を耐熱性があるシリコンゴム（合成樹脂）等から形成して、抵抗素子ｒ_ｊの熱が直接に絶縁板５５ａ，５５ｃに伝達されないようにすることで、絶縁板５５ａ，５５ｃの耐久性を向上させることができる。

更に、本実施例１では、絶縁部材６６を耐熱性があり且つ弾性のあるシリコンゴム（合成樹脂）等から形成しているが、必ずしもこれに限定されるものではない。すなわち、乾式負荷試験装置４０を移動しない状態に設置固定して使用する場合には、絶縁部材６６を図１１Ｃに示すようにセラミック製の絶縁碍子６６′から形成して、絶縁部材６６′に絶縁板５５ａ，５５ｃ等を保持させる様にしても良い。

［スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊ］
図１２は図２の矢印Ａ方向から見たスイッチング部材と組立体間導電部材との配置関係を示す説明図であり、図１３は図２の矢印Ｂ方向から見たスイッチング部材と組立体間導電部材との配置関係を示す説明図であり、図１４は図９の抵抗組立体とその抵抗組立体の抵抗素子を短絡する部材との関係を示す説明図であり、図１５は図１４の抵抗組立体とスイッチング部材との関係を示す部分拡大説明図である。

乾式負荷試験装置４０は、抵抗ユニット４２，４３，４４と間隔をおいた状態で、抵抗ユニット４２，４３，４４を挟む位置に配設された絶縁板６７，６８を有する（図３，図４，図６参照）。この絶縁板６７，６８は、抵抗ユニット４２，４３，４４の配列方向に延びて、抵抗ユニット４２，４３，４４の側方全体を覆う大きさに形成されている。この絶縁板６７，６８は、下端部が図示しないボルト・ナット等の取付手段でフレーム４１に取り付けられている。

絶縁板６７，６８の抵抗ユニット４２，４３，４４側とは反対側の面６７ａ，６８ａには、第１のスイッチング部材列ＳＷａ_ｉ，ＳＷｂ_ｉ［ｉ＝１，２，３，・・・ｎ］が抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉに対応して多段に配設されている（図３，図４，図１２，図１３，図１４参照）。

各第１のスイッチング部材列ＳＷａ_ｉ，ＳＷｂ_ｉは、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子（ヒータ）ｒ_ｊの半分の数の第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊ［ｊ＝１，２，３，・・・ｍ／２］を有する。この第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊは、常開接点を有すると共に、絶縁板６７，６８にそれぞれ取り付けられている。

このとき、図６に示すように、各第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊは、後述する取付支持部７３が互いに干渉しあわないように、各第１のスイッチング部材列ＳＷａ_ｉ，ＳＷｂ_ｉの並び方向、すなわち抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの水平方向及び鉛直方向のそれぞれに対して、この取付支持部７３が傾いた状態で固定される。なお、図６では、説明の便宜上後述する引出口７６、絶縁壁７７、絶縁屋根７８及びリード線８２，８３は省略している。

［スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊの構造］
図１６は図１５に示したスイッチング部材の外観を示す斜視図であり、図１７は図１６のスイッチング部材の正面図であり、図１８は図１６のスイッチング部材の側面図であり、図１９は図１６のスイッチング部材の平面図であり、図２０は図１６のスイッチング部材の内部構造を示す縦断面図であり、図２１は図２０に示す内部構造を側方から見たときの縦断面図であり、図２２は図２１のスイッチング部材の作動説明図であり、図２３は図１６に示したスイッチング部材の作動制御のための概略回路図である。

第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊは密封ケース体６９と、密封ケース体６９内に充填された窒素等の不活性ガスＧとを有する。

密封ケース体６９は、高電圧に耐え得るテフロン（登録商標）等の絶縁材料性の円筒ケース７０と、高電圧に耐え得るテフロン等の絶縁材料性の上ケース７１とを有し、この円筒ケース７０と上ケース７１とは互いに超音波溶接等により溶着結合されて分割部分は密封されている。

円筒ケース７０は、上方に開放した円筒形状のケース本体７２と、このケース本体７２の下端部から側方に突出した一対の取付支持部７３，７３と、各取付支持部７３からケース本体７２の軸方向に延びる一対の位置決め突条部７３ａ，７３ａとを有する。

一対の取付支持部７３，７３は、ケース本体７２の中心を挟んで互いに対向する位置に形成される。また、各取付支持部７３は、スイッチング部材を固定する固定ネジ（図示せず）が貫通螺合するネジ孔７３ｂが形成される。

上ケース７１は、円筒ケース７０のケース本体７２の開放端部を覆うように固定される。この上ケース７１の上面７１ａには、一対の端子Ｐａ，Ｐｂが貫通螺合する一対の端子孔７１ｂ，７１ｂが形成される。また、上ケース７１の側面には位置決め突条部７３ａ，７３ａに対向する複数の位置決め突起７１ｃ，…が形成される。

端子Ｐａ，Ｐｂは、それぞれ一端に端子孔７１ｂに螺合すると共に、この端子孔７１ｂから突出する固定部７４ａ，７４ｂが形成され、他端に円筒ケース７０内に挿入される接点部（固定接点）７５ａ，７５ｂが形成されている。ここで、固定部７４ａ，７４ｂは、周面にネジ溝が形成されており、端子孔７１ｂから突出した先端部にボルトＢ及び複数のナットＮが螺着される。また、接点部７５ａ，７５ｂは、周面にネジ溝のない丸棒形状を呈している。

さらに、上ケース７１の上面７１ａには、後述するソレノイドＳに接続するリード線８２，８３の引出口７６と、一対の端子Ｐａ，Ｐｂ間を区画する絶縁壁７７と、絶縁壁７７に支持されると共に一対の端子Ｐａ，Ｐｂの上方を覆う絶縁屋根７８とが形成されている。この引出口７６、絶縁壁７７、絶縁屋根７８は、それぞれ合成樹脂等の絶縁材料により形成されている。

引出口７６は、上端に向かって次第に細くなる筒形状を呈し上ケース７１と一体成形されている。また、この引出口７６をリード線８２，８３が貫通している。

絶縁壁７７と絶縁屋根７８とは一体形成されており、ネジ７７ａにより上ケース７１に固定されている。絶縁屋根７８は、平面視した際に上ケース７１を覆う円板形状を呈している（図１９参照）。なお、図２０〜図２３においては、説明の便宜上絶縁壁７７及び絶縁屋根７８の図示を省略している。

一方、円筒ケース７０には、ソレノイド保持枠７９に保持された駆動手段としてのソレノイドＳと、このソレノイドＳに対して進退回動可能に保持された接点保持板８０と、接点保持板８０に取り付けられた可動接点Ｍと、ソレノイドＳに接続されると共に、引出口７６から外部に引き出される一対のリード線８２，８３とが内蔵される。

ソレノイドＳは、円筒ケース７０の底面に固定された鉄心８３ａと、鉄心８３ａに捲回されたコイル（ソレノイド本体）８３ｂと、接点保持板８０の下端部近傍に取り付けられて鉄心８３ａに対向する可動鉄板８３ｃとを有する。

接点保持板８０は、テフロン等の高電圧に耐え得る材料から形成され、且つ先端部が一対の接点部７５ａ，７５ｂに対向するように左右に分岐したＴ字状を呈している（図２０参照）。この接点保持板８０は可動鉄板８３ｃから更に下方に突出していて、下端部がトーションバネ８０ａを介して円筒ケース７０のケース本体７２の底面７２ａに回動可能に固定されている。なお、トーションバネ８０ａは、通常接点保持板８０の先端部がソレノイドＳから離反する方向に付勢している。

可動接点Ｍは、左右に分岐した接点保持板８０の先端部に固着された導電性の板材から形成され、端子Ｐａ，Ｐｂの接点部７５ａ，７５ｂに対向させられている。しかも、通常この可動接点Ｍはトーションバネ８０ａのバネ力により接点部７５ａ，７５ｂから離反させられていて、接点部７５ａ，７５ｂは常開接点となっている。

リード線８２，８３は、それぞれ一端がコイル８３ｂの端部に接続されると共に、他端が引出口７６から外部に引き出されて通電制御回路８４（図２３参照）に接続されている。このとき、円筒ケース７０内において接点部７５ａ，７５ｂや可動接点Ｍからリード線８２，８３が離れるように設定されるので、接点部７５ａ，７５ｂや可動接点Ｍとリード線８２，８３との耐電圧度が向上する。

そして、通電制御回路８４からリード線８２，８３を介してコイル８３ｂに通電させると、可動鉄板８３ｃが鉄心８３ａに磁力で吸引移動されられて、鉄心８３ａに磁着され、ソレノイドＳが作動（ＯＮ）した状態となる。しかも、この吸引移動により可動鉄板８３ｃと一体に移動する接点保持板８０がトーションバネ８０ａのバネ力に抗して起立するように、図２２に示す矢印Ｘ方向に回動する。これにより、接点保持板８０の先端部に固着された可動接点Ｍが接点部７５ａ，７５ｂに当接（接触）させられ、接点部７５ａ，７５ｂが導通（短絡）させられる。

［スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊの導電性接続片５８ａ_ｊ，５８ｂ_ｊへの接続］
図８に示すように、第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊは、一方の端子Ｐａが導電性接続片５８ａ_ｊにそれぞれ接続され、他方の端子Ｐｂが組立体間導電部材Ｃａ_ｊにそれぞれ接続されて、互いに導通している。

また、第１のスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１は、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの最も端に位置する一列における一方の端子Ｐａが抵抗素子ｒ_１の導電性接続片が取り付けられていない端部Ｆに接続され、残りの第１のスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊの一方の端子Ｐａが導電性接続片５８ｂ_ｊ−１にそれぞれ接続されている。そして、全ての第１のスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１は、他方の端子Ｐｂが組立体間導電部材Ｃｂ_ｊにそれぞれ接続されて、互いに導通している。

［組立体間導電部材Ｃｂ_ｊ］
組立体間導電部材Ｃａ_ｊ［ｊ＝１，２，３・・・ｍ／２］は、上下に多段に配設された多数の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの高さ方向に延びており、第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｊの他方の端子Ｐｂを互いに導通している。同様に、組立体間導電部材Ｃｂ_ｊ［ｊ＝１，２，３・・・ｍ／２］は、上下に多段に配設された多数の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの高さ方向に延びており（図６参照）、第１のスイッチング部材ＳＷｂ_ｉの他方の端子Ｐｂを互いに導通している。なお、多数の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｍのうち、最も端に位置して導電性接続片５８ｂ_ｊが取り付けられていない端部Ｅは、組立体間導電部材Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}に接続されて、互いに導通している（図８参照）。

［抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの接続関係］
抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの接続関係は図１４に示したようになっている。この図１４は抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉを同時に図示しているので、図１４では図示の便宜上符号は必要最小限のものを付して説明し、詳細な説明は図１５で説明する。尚、図１４，１５では説明の便宜上、図８に示した絶縁板６７，６８の図示は省略してある。

この抵抗組立体Ｒ_ｉの組立体間導電部材Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}は配線８５Ｒを介してメインの真空遮断器（ＶＣＢ−Ｍ）８６の接点８６Ｒ_１に接続され、抵抗組立体Ｓ_ｉの組立体間導電部材Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}は配線８５Ｓを介して高電圧用スイッチであるメインの真空遮断器８６の接点８６Ｓ_１に接続され、抵抗組立体Ｔ_ｉの組立体間導電部材Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}は配線８５Ｔを介してメインの真空遮断器８６の接点８６Ｔ_１に接続されている。この真空遮断器８６の接点８６Ｒ_２，８６Ｓ_２，８６Ｔ_２は配線８７Ｒ，８７Ｓ，８７Ｔを介して被試験用電源である三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相の接点８８Ｒ，８８Ｓ，８８Ｔに接続されている（図５参照）。

上述したように、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊと組立体間導電部材Ｃａ_ｊ，Ｃｂ_ｊ，Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}を設けることで、高電圧用スイッチとして一つのメインの真空遮断器８６のみとなる。

［短絡手段］
乾式負荷試験装置４０は、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのいくつかの抵抗素子ｒ_ｊを適宜切り換えて短絡させる短絡手段を有する。この短絡手段としては、短絡用の接続線８９，８９、短絡用の接続線９０，９０，９０、導電板（導電性接続部材）９１，９１，９１及び互いに接続された導電板（導電性接続部材）９２，９２，９２を用意しておく。

［通電制御回路８４］
図２４は図１５に示したスイッチング部材の制御回路図である。通電制御回路８４には、低電圧負荷試験用の低圧スイッチ９３、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９４、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９５が接続されていると共に、電源９６が電源スイッチ９７を介して接続されている。また、電動ファン５０は通電制御回路８４により駆動制御される様になっている。

次に、この様な構成の乾式負荷試験装置４０の作用を説明する。
この乾式負荷試験装置４０においては、まずトラック３０により負荷試験を行う現場まで乾式負荷試験装置４０を移動させる。本実施例１では、電圧負荷試験の対象となる被試験用発電機の三相交流発電機８８が設置されている場所となる。

尚、上述したように、本実施例１の各抵抗ユニット４２，４３，４４に設けた抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔは、２２段の扁平状の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉを有する。しかも、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの棒状の抵抗素子ｒ_ｊは１６本設けられている。さらに、上述したスイッチング部材列ＳＷａ_ｉ，ＳＷｂ_ｉのスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊは各８個設けられている。

従って、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊのソレノイド本体であるコイル８３ｂを図２４のＳ１〜Ｓ８で示したように対応させ、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのソレノイド本体であるコイル８３ｂをＳ９〜Ｓ１６で示したように対応させて電圧負荷試験の例を以下に説明する。

また、本実施例１では、電圧負荷試験の対象となる被試験用発電機として三相交流発電機８８を用いているので、この三相交流発電機８８を乾式負荷試験装置４０の抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔに図５の如く接続した場合について説明する。

[低電圧負荷試験時]
図２５は図１４に示した抵抗組立体の抵抗素子の接続例を示す概略説明図であり、図２６は図２５の部分拡大説明図であり、図２７は図２５の接続による抵抗組立体の抵抗値説明図である。

例えば４００Ｖの低電圧負荷試験を行う場合には、まず、抵抗本体５７Ｒの組立体間導電部材Ｃｂ_１〜Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}を導電板９１で導通（短絡）させ、抵抗本体５７Ｓの組立体間導電部材Ｃｂ_１〜Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}を導電板９１で導通（短絡）させ、抵抗本体５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１〜Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}を導電板９１で導通（短絡）させる。

これにより、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、導電性接続片５８ｂ_１〜５８ｂ_{（ｍ／２）}，スイッチング部材列ＳＷｂ_１〜ＳＷｂ_ｎの全てのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊ，抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１〜Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}，導電板９１，配線８５Ｒ，８５Ｓ，８５Ｔ及び真空遮断器８６を介して抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊが接続される。

一方、抵抗本体５７Ｒの組立体間導電部材Ｃａ_１〜Ｃａ_ｍ／２を導電板９２で導通（短絡）させ、抵抗本体５７Ｓの組立体間導電部材Ｃａ_１〜Ｃａ_ｍ／２を導電板９２で導通（短絡）させ、抵抗本体５７Ｔの組立体間導電部材Ｃａ_１〜Ｃａ_ｍ／２を導電板９２で導通（短絡）させる。これにより、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊは、導電性接続片５８ａ_１〜５８ａ_ｍ／２，組立体間導電部材Ｃａ_１〜Ｃａ_ｍ／２，スイッチング部材列ＳＷａ_１〜ＳＷａ_{ｉ（ｍ／２）}の全てのスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ及び導電板９２を介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

この状態では、図２７に示したように、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの１６本の抵抗素子ｒ_ｊは全て並列に接続した状態となる。しかも、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、全ての抵抗素子ｒ_ｊを並列に接続して負荷抵抗値を小さくした抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ（即ち低抵抗値の抵抗素子本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ）が接続されることになる。

この様な接続において、三相交流発電機８８を作動させる一方、電源スイッチ９７をＯＮさせて通電制御回路８４を作動させる。この後、低圧用スイッチ９３をＯＮさせる。このＯＮ操作により通電制御回路８４は、まずメインの真空遮断器８６をＯＮさせた後、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂ（Ｓ１〜Ｓ１６）の全てに通電させて、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊの全てをＯＮさせる。

これにより、三相交流発電機８８からの出力（電圧，電流）がこの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊに入力され、負荷試験が開始される。これにより、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊに通電されて、抵抗素子ｒ_ｊが発熱する。

この際、通電制御回路８４は、抵抗ユニット４２，４３，４４の各電動ファン５０を作動させて、各電動ファン５０からの冷却風を抵抗ユニット４２，４３，４４のハウジング５２に送風する。そして、この冷却風は、抵抗ユニット４２，４３，４４の抵抗素子ｒ_ｊで発生した熱を放熱フィン６０の周囲を流れる際に吸収して、抵抗素子ｒ_ｊを冷却した後、荷室３３を形成するボックス３２の図示しない排気口から外部に排気される。

尚、この場合でも、各段のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊのＯＮ・ＯＦＦ制御をすることで、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔから三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値を所定時間毎に例えば２５％，５０％，７５％，１００％と変化させて、負荷試験を行う。また、本実施例１では、扁平状の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉが２２段設けられているので、三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値の割合を更に細かく設定することもできる。例えば、５％、１０％ごとの負荷試験を行うこともできる。

[３００Ｖの高電圧負荷試験時]
図２８は図１４に示した抵抗組立体の抵抗素子の他の接続例を示す概略説明図であり、図２９は図２８の部分拡大説明図であり、図３０は図２８の接続による抵抗組立体の抵抗値説明図である。

例えば３３００Ｖの高電圧負荷試験を行う場合には、まず、抵抗本体５７Ｒの組立体間導電部材Ｃｂ_５と抵抗本体５７Ｓの組立体間導電部材Ｃｂ_５を接続線８９で接続して短絡させ、抵抗本体５７Ｓの組立体間導電部材Ｃｂ_５と抵抗本体５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_５を接続線８９で接続して短絡させる。また、各抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１とＣｂ_{（ｍ／２）＋１}を接続線９０，９０，９０でそれぞれ接続して短絡させる（図２９参照）。

この状態では、図３０に示したように、各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの各１６本の抵抗素子ｒ_ｊは半分の８本の抵抗素子ｒ_ｊが並列に接続された値の抵抗体８ｒ，８ｒを２つ並列に接続して、並列な抵抗体８ｒ，８ｒの一端側をスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ５及び接続線８９，８９介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

また、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの各組立体間導電部材Ｃｂ_１，Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}が配線９０，９０，９０、配線８５Ｒ，８５Ｓ，８５Ｔ及び真空遮断器８６を介して接続されている。

従って、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、並列に接続して抵抗値を中ぐらいの値にした抵抗体８ｒ，８ｒを有する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ（即ち中抵抗値の抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ）が接続されることになる。

この様な接続において、三相交流発電機８８を作動させる一方、電源スイッチ９７をＯＮさせて通電制御回路８４を作動させる。この後、高圧用スイッチ９４をＯＮさせる。このＯＮ操作により通電制御回路８４は、まずメインの真空遮断器８６をＯＮさせた後、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１，ＳＷｂ_ｉ５のコイル８３ｂ（Ｓ１，Ｓ５）にのみ通電させて、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１，ＳＷｂ_ｉ５をＯＮさせる。これにより、三相交流発電機８８からの出力（電圧，電流）がこの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗体８ｒ，８ｒに入力され、負荷試験が開始される。これにより、抵抗体８ｒ，８ｒを構成する各抵抗素子ｒ_ｊに通電されて、抵抗素子ｒ_ｊが発熱する。

尚、この場合でも、各段のスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１，ＳＷｂ_ｉ５のＯＮ・ＯＦＦ制御をすることで、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔから三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値を所定時間毎に例えば２５％，５０％，７５％，１００％と変化させて、負荷試験を行う。また、本実施例１では、扁平状の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉが２２段設けられているので、三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値の割合を更に細かく設定することもできる。例えば、５％、１０％ごとの負荷試験を行うこともできる。

[６６００Ｖの高電圧負荷試験時]
図３１は図１４に示した抵抗組立体の抵抗素子のさらに他の接続例を示す概略説明図であり、図３２は図３１の部分拡大説明図であり、図３３は図３１の接続による抵抗組立体の抵抗値説明図である。

例えば６６００Ｖの高電圧負荷試験を行う場合には、各抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１，Ｃｂ_１，Ｃｂ_１を接続線８９，８９，８９でそれぞれ接続して短絡させる。これにより、各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの各抵抗素子ｒ_１，ｒ_１，ｒ_１はスイッチング部材，ＳＷｂ_ｉ１，ＳＷｂ_ｉ１，ＳＷｂ_ｉ１及び接続線８９，８９を介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

また、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの各組立体間導電部材Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}が配線８５Ｒ，８５Ｓ，８５Ｔ及び真空遮断器８６を介して接続されている。この状態では、図３３に示したように、各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉは、１６本の抵抗素子ｒ_ｊの全ての抵抗素子ｒ_ｊが直列に接続されて、抵抗値が高抵抗となった状態となる。

従って、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、全ての抵抗素子ｒ_ｊを直列に接続した高抵抗値の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ（即ち高抵抗値の抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ）が接続されることになる。

この様な接続において、三相交流発電機８８を作動させる一方、電源スイッチ９７をＯＮさせて通電制御回路８４を作動させる。この後、高圧用スイッチ９５をＯＮさせる。このＯＮ操作により通電制御回路８４は、まずメインの真空遮断器８６をＯＮさせた後、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１のコイル８３ｂ（Ｓ１）にのみ通電させて、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１をＯＮさせる。これにより、三相交流発電機８８からの出力（電圧，電流）がこの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊに通電されて、抵抗素子ｒ_ｊが発熱する。

尚、この場合でも、各段のスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１のＯＮ・ＯＦＦ制御をすることで、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔから三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値を所定時間毎に例えば２５％，５０％，７５％，１００％と変化させて、負荷試験を行う。また、本実施例１では、扁平状の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉが２２段設けられているので、三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値の割合を更に細かく設定することもできる。例えば、５％、１０％ごとの負荷試験を行うこともできる。

尚、この様な負荷試験は、低電圧負荷試験用の低圧スイッチ９３、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９４、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９５をオン操作したときに、負荷試験のためのプログラムに従って自動的に通電制御回路８４により行われるようになっている。このプログラムは、通電制御回路８４の図示しないＲＯＭ等の記憶手段に予め記憶させておくこともできるし、ハードディスク等の記録媒体に記録させておいて、負荷試験開始時に通電制御回路８４の図示しないＣＰＵに読み込ませて用いることもできる。

[スパーク防止作用]
上記負荷試験時において、ＯＮ操作された各スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊには高電圧が印加する。ここで、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊに内蔵されたソレノイドＳ、固定接点である接点部７５ａ，７５ｂ、可動接点Ｍは密封ケース体６９内に不活性ガスＧと共に密封されている。そのため、この乾式負荷試験装置４０を長期間屋外に設置した場合であっても、塵埃が密封ケース体６９内に入り込んで細塵が各接点等に付着することを防止できる。さらに、不活性ガスＧを密封ケース体６９内に充填することで悪性ガスの侵入をより効果的に防止することができる。これにより、屋外等に長期間設置しておいても、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊ内でのスパーク発生を抑制することができる。

また、本実施例１では、密封ケース体６９の上ケース７１の上面７１ａに、一対の端子Ｐａ，Ｐｂの固定部７４ａ，７４ｂを配置している。そのため、端子Ｐａ，Ｐｂが密封ケース体６９の側方に突出することがなく、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊをコンパクトに形成することができる。また、各端子Ｐａ，Ｐｂに接触しにくくなり、短絡等の発生を防止することができる。

さらに、本実施例１では、密封ケース体６９の上ケース７１の上面７１ａに、ソレノイドＳに接続する一対のリード線８２，８３の引出口７６を設けた。そのため、各リード線８２，８３と固定部７４ａ，７４ｂとの絶縁距離を十分に確保することができ、リード線８２，８３はある程度の高電圧に耐えうることができる。

そして、本実施例１では、密封ケース体６９の上ケース７１の上面７１ａに、一対の端子Ｐａ，Ｐｂ間を区画する絶縁壁７７と、この絶縁壁７７に支持されると共に一対の端子Ｐａ，Ｐｂの上方を覆う絶縁屋根７８とを設けている。そのため、一対の端子Ｐａ，Ｐｂ間の絶縁性を確保すると共に、端子Ｐａ，Ｐｂへの接触をより効果的に防止することができる。

さらに、本実施例１では、各第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊは、取付支持部７３が互いに干渉しあわないように、各第１のスイッチング部材列ＳＷａ_ｉ，ＳＷｂ_ｉの並び方向、すなわち抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの水平方向及び鉛直方向に対して、取付支持部７３が傾いた状態で固定される。これにより、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊを近接した状態で配置可能となり、各抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔをコンパクトにすることができる。

[変形例]
以上説明した実施例１では、低電圧負荷試験用の低圧スイッチ９３、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９４、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９５をオン操作したときに、プログラムに従って負荷検査を行うようにしたが、必ずしもこれに限定されるものではない。

例えば、図３４に示したように、Ｓ１〜Ｓ８で示したスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊのコイル８３ｂ及びＳ９〜Ｓ１６で示したスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂに対応させて、各段のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊのＯＮ・ＯＦＦ操作用のスイッチＳＷ１〜ＳＷ１６を設け、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１６によりＳ１〜Ｓ１６で示したコイル８３ｂへの通電制御をそれぞれさせるようにすることもできる。また、真空遮断器８６もスイッチ９８でＯＮ・ＯＦＦ操作するようにすることもできる。

また、上記実施例１では、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの導電性接続片５８ａ_１〜５８ａ_{（ｍ／２）}，５８ｂ_１〜５８ｂ_{（ｍ／２）}（抵抗素子ｒ_ｊの端部に接続）の全てにスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊを接続しているが、必ずしもこれに限定されるものではない。例えば、本実施例の場合、スイッチング部材は、Ｃｂ_１，Ｃｂ_５，Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}（ｍ＝１６故にＣｂ_９）にのみ設けた構成とすることもできる。

上述の実施例１では、低電圧負荷試験、３３００Ｖの電圧負荷試験、６６００の高電圧負荷試験をする前に、接続線８９，９０や導電板９１，９２等を用いて予め抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊのいくつかを手作業で接続（短絡）させる様にしたが、必ずしもこれに限定されるものではない。

例えば、図３５に示したように、接続線（短絡手段）９９，９９で直列に接続された３つの導電板（短絡手段）９２を設け、各導電板９２を抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃａ_ｊに短絡手段である第２のスイッチング部材ＳＷｃ_ｊ［ｊ＝１，２，３・・・ｍ／２］を介して接続すると共に、３つの導電板９１を抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_ｊに短絡手段である第２のスイッチング部材ＳＷｄ_ｊ［ｊ＝１，２，３・・・（ｍ／２）＋１］を介して接続する（詳細は図３６参照）。

尚、短絡手段である第２のスイッチング部材ＳＷｃ_ｊ，ＳＷｄ_ｊは、短絡手段である第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｄ_ｉｊと同じ構成（図１６〜図２３の構成）のマグネットスイッチを用いることができる。しかも、第１のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｄ_ｉｊの列は各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのごとに設けられて多段となる。しかし、第２のスイッチング部材ＳＷｃ_ｊ，ＳＷｄ_ｊは、組立体間導電部材Ｃａ_ｊや組立体間導電部材Ｃｂ_ｊを短絡させることができればよいので、一列のみでよい。

また、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１，Ｃｂ_１，Ｃｂ_１同士を高電圧スイッチである真空遮断器（ＶＣＢ）１００で互いに導通（短絡）可能に接続し、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_５，Ｃｂ_５，Ｃｂ_５同士を高電圧スイッチである真空遮断器（ＶＣＢ）１０１で互いに導通（短絡）可能に接続すると共に、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１，Ｃｂ_１，Ｃｂ_１とＣｂ_{（ｍ／２）＋１}，Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}，Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}（本実施例２ではｍ／２＝８であるのでＣｂ_{（ｍ／２）＋１}＝Ｃｂ_９）とを高電圧スイッチである真空遮断器（ＶＣＢ）１０２で接続する。

また、図３７に示したように、第２のスイッチング部材ＳＷｃ_ｊのコイル８３ｂをＳ１７〜Ｓ２４とし、第２のスイッチング部材ＳＷｄ_ｊのコイル８３ｂをＳ２５〜Ｓ３３とすると、これらのソレノイドＳ１７〜Ｓ３３も通電制御回路８４により作動制御されるようになる。尚、図２４と同じ部分については、図２４に付した符号を付してその説明は省略する。

[低電圧負荷試験時]
この様な接続において、例えば４００Ｖの低電圧負荷試験を行う場合には、まず、三相交流発電機８８を作動させる一方、電源スイッチ９７をＯＮさせて通電制御回路８４を作動させる。

この後、低圧用スイッチ９３をＯＮさせる。このＯＮ操作により通電制御回路８４は、まずメインの真空遮断器８６をＯＮさせた後、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊのコイル８３ｂ（Ｓ１〜Ｓ８）の全てに通電させて、スイッチング部材ＳＷａ_ｉｊをＯＮさせると共に、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｃ_ｊのコイル８３ｂ（Ｓ１７〜Ｓ２４）の全てに通電させて、スイッチング部材ＳＷｃ_ｊの全てをＯＮさせる。

これにより、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊは、導電性接続片５８ａ_１〜５８ａ_{（ｍ／２）}，全てのスイッチング部材ＳＷａ_ｉ１〜ＳＷａ_{ｉ（ｍ／２）}，組立体間導電部材Ｃａ_１〜Ｃａ_ｍ／２，スイッチング部材ＳＷｃ_１〜ＳＷｃ_ｍ／２及び導電板９２を介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

しかも、これと共に電制御回路８４は、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂ（Ｓ９〜Ｓ１６）の全てに通電させて、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊの全てをＯＮさせると共に、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｄ_ｊのコイル８３ｂ（Ｓ２５〜Ｓ３３）の全てに通電させて、スイッチング部材ＳＷｄ_ｊの全てをＯＮさせる。

これにより、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、導電性接続片５８ｂ_１〜５８ｂ_{（ｍ／２）−１}，スイッチング部材列ＳＷｂ_１〜ＳＷｂ_{（ｍ／２）}の全てのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊ（ＳＷｂ_ｉ１〜ＳＷｂ_{ｉ（ｍ／２）}），抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１〜Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}，導電板９１，配線８５Ｒ，８５Ｓ，８５Ｔ及び真空遮断器８６を介して抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊが接続されている。

この状態では、図２７に示したように、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの１６本の抵抗素子ｒ_ｊは全て並列に接続した状態となる。しかも、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、全ての抵抗素子ｒ_ｊを並列に接続して負荷抵抗値を小さくした抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ（即ち低抵抗値の抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ）が接続されることになる。これにより、三相交流発電機８８からの出力（電圧，電流）がこの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊに入力され、負荷試験が開始される。これにより、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊに通電されて、抵抗素子ｒ_ｊが発熱する。

尚、この場合でも、各段のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊのＯＮ・ＯＦＦ制御をすることで、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔから三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値を所定時間毎に例えば２５％，５０％，７５％，１００％と変化させて、負荷試験を行う。また、本実施例では、扁平状の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉが２２段設けられているので、三相交流発電機８８にかける負荷抵抗値の割合を更に細かく設定することもできる。例えば、５％、１０％ごとの負荷試験を行うこともできる。

[３３００Ｖの高電圧負荷試験時]
例えば３３００Ｖの高電圧負荷試験を行う場合には、三相交流発電機８８を作動させる一方、電源スイッチ９７をＯＮさせて通電制御回路８４を作動させる。この後、高圧用スイッチ９４をＯＮさせる。このＯＮ操作により通電制御回路８４は、まずメインの真空遮断器８６，真空遮断器１０１をＯＮさせた後、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂ（Ｓ５）に通電して、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ５をＯＮさせる。これにより、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊは、導電性接続片５８ｂ_５，スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ５，組立体間導電部材Ｃｂ_５及び真空遮断器１０１を介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

即ち、この状態では、図３０に示したように、各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの各１６本の抵抗素子ｒ_ｊは半分の８本の抵抗素子ｒ_ｊが並列に接続された値の抵抗体８ｒ，８ｒを２つ並列に接続して、並列な抵抗体８ｒ，８ｒの一端側が導電性接続片５８ｂ_５，スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ５，組立体間導電部材Ｃｂ_５及び真空遮断器１０１を介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

しかも、これと共に電制御回路８４は、真空遮断器１０２をＯＮさせると共に、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂ（Ｓ９）に通電して、各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１をＯＮさせる。

これにより、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、導電性接続片５８ｂ_１〜５８ｂ_{（ｍ／２）}，スイッチング部材列ＳＷｂ_１〜ＳＷｂ_ｎのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１，抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの組立体間導電部材Ｃｂ_１，Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}（＝Ｃｂ_９），真空遮断器１０２，導電板９１，配線８５Ｒ，８５Ｓ，８５Ｔ及び真空遮断器８６を介して抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊが接続される。

これにより、三相交流発電機８８からの出力（電圧，電流）がこの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗体８ｒ，８ｒに入力され、負荷試験が開始される。これにより、抵抗体８ｒ，８ｒを構成する各抵抗素子ｒ_ｊに通電されて、抵抗素子ｒ_ｊが発熱する。

[６６００Ｖの高電圧負荷試験時]
例えば６６００Ｖの高電圧負荷試験を行う場合には、三相交流発電機８８を作動させる一方、電源スイッチ９７をＯＮさせて通電制御回路８４を作動させる。この後、高圧用スイッチ９５をＯＮさせる。このＯＮ操作により通電制御回路８４は、まずメインの真空遮断器８６，真空遮断器１００をＯＮさせた後、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂ（Ｓ１）に通電して、スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１をＯＮさせる。

これにより、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊは、導電性接続片５８ｂ_１，スイッチング部材ＳＷｂ_ｉ１，組立体間導電部材Ｃｂ_１及び真空遮断器１００を介して電圧が０となる中性点に互いに接続される。

また、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの各組立体間導電部材Ｃｂ_{（ｍ／２）＋１}が配線９０，９０，９０、配線８５Ｒ，８５Ｓ，８５Ｔ及び真空遮断器８６を介して接続されている。

この状態では、図３３に示したように、各抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉは、１６本の抵抗素子ｒ_ｊの全ての抵抗素子ｒ_ｊが直列に接続されて、抵抗値が高抵抗となった状態となる。従って、三相交流発電機８８のＲ，Ｓ，Ｔ相には、全ての抵抗素子ｒ_ｊを直列に接続した高抵抗値の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ（即ち高抵抗値の抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ）が接続されることになる。

この様な通電制御回路８４による制御動作により、三相交流発電機８８からの出力（電圧，電流）がこの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗素子ｒ_ｊに通電されて、抵抗素子ｒ_１が発熱する。

尚、この様な負荷試験は、低電圧負荷試験用の低圧スイッチ９３、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９４、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９５をオン操作したときに、負荷試験のためのプログラムに従って自動的に通電制御回路８４により行われるようになっている。このプログラムは、通電制御回路８４の図示しないＲＯＭ等の記憶手段に予め記憶させておくこともできるし、ハードディスク等の記録媒体に記録させておいて、負荷検査開始時に通電制御回路８４の図示しないＣＰＵに読み込ませて用いることもできる。

この様に、通電制御回路８４は、低圧用スイッチ９３，高圧用スイッチ９４，高圧用スイッチ９５をオン操作するのみで、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの抵抗値を自動的に設定して、負荷試験を自動的に行う。これにより、複雑なスイッチの切換を簡易且つ迅速に最適に（正確に）行うことができる。また、本実施例２によれば、各抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔを構成する多数段（実施例１では２２段）の抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉ毎に真空遮断器を設ける必要がなく、真空遮断器は１００，１０１，１０２で示した３つが増えたのみであるので、自動化しても装置が大型化することなく、コストも殆ど増加することはない。

[変形例１]
本実施例２でも、低電圧負荷試験用の低圧スイッチ９３、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９４、高電圧負荷試験用の高圧スイッチ９５をオン操作したときに、プログラムに従って負荷検査を行うようにしたが、必ずしもこれに限定されるものではない。

例えば、図３８に示したように、Ｓ１〜Ｓ８で示したスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊのコイル８３ｂ及びＳ９〜Ｓ１６で示したスイッチング部材ＳＷｂ_ｉｊのコイル８３ｂに対応させて、各段のスイッチング部材ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊのＯＮ・ＯＦＦ操作用のスイッチＳＷ１〜ＳＷ１６を設け、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１６によりＳ１〜Ｓ１６で示したコイル８３ｂへの通電制御それぞれさせるようにすることもできる。また、真空遮断器８６，１００，１０１，１０２もスイッチ９８，９８ａ，９８ｂ，９８ｃでＯＮ・ＯＦＦ操作するようにすることもできる。

[変形例２]
また、真空遮断器１０２は必ずしも必要ではない。即ち、高圧用スイッチ９４をオン操作したとき、通電制御回路８４がスイッチング部材ＳＷｄ_１及びＳＷｄ_{（ｍ／２）＋１}（＝ＳＷｄ_９）をオン操作すれば、真空遮断器１０２を省略しできる。この場合には、自動化しても真空遮断器を上述した実施例より１つ削減できるので、よりコストを低減できると共に小型化が図れる。

以上説明した実施例１及び実施例２では、三相交流発電機に用いるタイプの乾式負荷試験装置の例を示したが、必ずしも本発明はこれに限定されるものではない。例えば、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの一つのみを単体で用いて、発電機やバッテリー等の被試験用電源の電気負荷試験を行うようにしても良い。

以上説明した実施例１及び実施例２では、別々に設けた抵抗ユニット４２，４３，４４を並設して、各抵抗ユニット４２，４３，４４に抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉをそれぞれ設けた構成としているが、必ずしもこれに限定されるものではない。

例えば、被試験用電源の電圧が高電圧でも比較的小さい場合には、抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの段数を少なくして、例えば２〜３段にすると共に、図３９，４０に示したように別々に設けた抵抗ユニット４２，４３，４４を上下に組み付けて、一つの乾式負荷試験装置３００としてもよい。尚、図３９，４０では図示の便宜上抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの段数を１段にしたが、実際には２〜３段となる。

この場合、抵抗ユニット４２，４３，４４は金属製の箱状のフレーム３０１、３０１，３０１をそれぞれ有するので、抵抗ユニット４２，４３，４４間に絶縁部材３０２を配設する必要があると共に、フレーム３０１と抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉとの間にある程度の絶縁距離を取る必要がある。このため、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ間の間隔が大きくなって、乾式負荷試験装置３００の高さが高くなる傾向にあり、望ましくない。

そこで、図４１Ａ，図４２，図４３に示したように、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉのみを組み込んだ乾式負荷試験装置４００としても良い。この乾式負荷試験装置４００は、側方の４面と上下の２面が開口する直方体状（箱状）の金属製（例えば、鉄製）のフレーム４０１と、フレーム４０１の側方への開口を閉成する絶縁板４０２〜４０５を有する。そして、上下に配設した抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔの抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉは、絶縁板４０２，４０４間に渡架固定されている。

この場合には、フレーム４０１は一つであるので、抵抗本体５７Ｒ，５７Ｓ，５７Ｔ間の間隔を図３９，４０のものより小さくできる。この結果、乾式負荷試験装置４００は、乾式負荷試験装置３００よりも高さを遙かに小さくできる。尚、この例の場合も、図示の便宜上抵抗組立体Ｒ_ｉ，Ｓ_ｉ，Ｔ_ｉの段数を１段にしたが、実際には２〜３段となる。

更に、絶縁板４０３，４０５をフレーム４０１の側面から取り外して、フレーム４０１の絶縁板４０２，４０４間に位置する２つの対向する側面を開口させ、この開口の一方に図４１Ｂの如く電動ファン５０を取り付けると共に、フレーム４０１の上下の開口を閉成した構成としても良い。この場合には、電動ファン５０からの冷却風が、矢印４０１ａで示したようにフレーム４０１の側面の開口からフレーム４０１内に流入して、内部の抵抗素子を冷却した後、他の側面の開口から排気される。この構成とすることで、乾式負荷試験装置４００の高さを更に小さくできるので、乾式負荷試験装置４００を小型のトラックに組み込むこともできる。また、設置場所によっては、高さが取れないような場所にも容易に設置できる。尚、電動ファン５０はフレーム４１に取り付けられ、電動ファン５０から発生する冷却風は絶縁フード５３を介して矢印４０１ａで示したようにフレーム４０１の側面の開口からフレーム４０１内に流入する。

[変形例]
また、上述した実施例１〜３では、Ｒ相の抵抗ユニット４２，Ｓ相の抵抗ユニット４３，Ｔ相の抵抗ユニット４４を１つずつ設けた例を示したが、必ずしもこれに限定されるものではない。例えば、図３１〜３３に示したように抵抗ユニット４２，４３，４４の抵抗素子ｒ_ｉを６６００Ｖのための直列接続にすると共に、この直列接続の抵抗ユニット４２，４３，４４を図４４Ａに示した様に２組設けて、２組の各抵抗ユニット４２，４２、２組の各抵抗ユニット４３，４３、２組の各抵抗ユニット４４，４４を図４４Ｂに示したように各々直列に接続した構成とする事により、１３２００Ｖの負荷試験を行うようにすることができる。尚、この接続例は一例で、抵抗ユニット４２，４３，４４の数を増やすことで、負荷試験が可能な電圧を高くすることができる。

また、上述の実施例１では、抵抗ユニット４２，４３，４４が設けられた乾式負荷試験装置４０をトラック３０に搭載しておいて、この乾式負荷試験装置４０をトラック３０により電気負荷試験を行う現場まで搬送した後、乾式負荷試験装置４０をトラック３０に搭載した状態で電気負荷試験を行うようにしたが、必ずしもこれに限定されるものではない。

例えば、図４５に示したように、Ｒ相，Ｓ相，Ｔ相に対応する抵抗ユニット４２，４３，４４をトラック３０の荷台に着脱可能に積載しておく。そして、抵抗ユニット４２，４３，４４を、トラック３０により電気負荷試験を行う現場まで搬送して、この現場でトラック３０から取り外してトラック３０から降ろす。この後、抵抗ユニット４２，４３，４４を、実施例１のような構成で現場に設置して、現場の発電機等の電源の電気負荷試験を開始する。

従って、トラック３０は、電気負荷試験中、現場においておく必要がないので、他の抵抗ユニット４２，４３，４４を他の現場に運搬したり、他の現場の抵抗ユニット４２，４３，４４を回収したりするのに用いることができる。この結果、トラック３０を有効且つ効果的に使用することができる。

この発明に係る乾式負荷試験装置を搭載したトラックの平面図である。図１Ａの側面図である。図１Ａ、図１Ｂに示したボックスを破断して内部の乾式負荷試験装置を概略的に示した概略平面図である。図２の乾式負荷試験装置を矢印Ａ方向から見た概略側面図である。図２の乾式負荷試験装置を矢印Ｂ方向から見た概略側面図である。図１Ａ〜図４の乾式負荷試験装置と被試験用電源との一例を示す概略説明図である。図３の一部を拡大して斜めから見た部分斜視図である。図３，図４の電動ファンの一部を破断して示した抵抗ユニットの側面図である。図７Ａの絶縁板の説明図である。図７Ａの抵抗ユニットとスイッチング部材との関係を示す拡大断面図である。図１〜図８の乾式負荷試験装置の回路図である。図９の部分拡大説明図である。図８に示した抵抗素子の一部を破断すると共に詳細に図示した説明図である。図１１Ａの抵抗素子の端部拡大構造を示す説明図である。図１１Ａの抵抗素子の端部保持構造の他の例を示す説明図である。図２の矢印Ａ方向から見たスイッチング部材と組立体間導電部材との配置関係を示す説明図である。図２の矢印Ｂ方向から見たスイッチング部材と組立体間導電部材との配置関係を示す説明図である。図９の抵抗組立体とその抵抗組立体の抵抗素子を短絡する部材との関係を示す説明図である。図１４の抵抗組立体とスイッチング部材との関係を示す部分拡大説明図である。図１５に示したスイッチング部材の外観を示す斜視図である。図１６のスイッチング部材の正面図である。図１６のスイッチング部材の側面図である。図１６のスイッチング部材の平面図である。図１６のスイッチング部材の内部構造を示す縦断面図である。図２０に示す内部構造を側方から見たときの縦断面図である。図２２のスイッチング部材の作動説明図である。図１６に示したスイッチング部材の作動制御のための概略回路図である。図１５に示したスイッチング部材の制御回路図である。図１４に示した抵抗組立体の抵抗素子の接続例を示す概略説明図である。図２５の部分拡大説明図である。図２５の接続による抵抗組立体の抵抗値説明図である。図１４に示した抵抗組立体の抵抗素子の他の接続例を示す概略説明図である。図２８の部分拡大説明図である。図２８の接続による抵抗組立体の抵抗値説明図である。図１４に示した抵抗組立体の抵抗素子の更に他の接続例を示す概略説明図である。図３１の部分拡大説明図である。図３１の接続による抵抗組立体の抵抗値説明図である。図１５に示したスイッチング部材の制御回路の他の例を示す説明図である。この発明の実施例２にかかる乾式負荷試験装置の概略回路図である。図３５の部分拡大説明図である。図３５のスイッチング部材の制御回路図である。図３５のスイッチング部材の制御回路図の他の例を示す説明図である。他の乾式負荷試験装置の説明図である。図３９の右側面図である。実施例４にかかる乾式負荷試験装置の一部を破断して示した側面図である。一部を破断して示した図４１Ａの変形例を示す側面図である。図４１Ａの乾式負荷試験装置の右側面図である。図４２の平面図である。この発明の抵抗ユニットの接続例を模式的に示す説明図である。図４４Ａの抵抗ユニットの接続状態を示す説明図である。この発明にかかる乾式負荷試験装置を搭載したトラックの他の例を示す平面図である。

符号の説明

４０乾式負荷試験装置
ｒ_ｉ抵抗素子
５７Ｒ抵抗本体
ＳＷａ_ｉｊ，ＳＷｂ_ｉｊスイッチング部材
Ｐａ，Ｐｂ端子
７５ａ，７５ｂ固定接点（接点部）
Ｍ可動接点
Ｓ駆動手段（ソレノイド）
Ｇ不活性ガス
６９密封ケース体
Ｃａ_ｊ，Ｃｂ_ｊ組立体間導電部材
８６高電圧用スイッチ（真空遮断器）
８８被試験用電源（三相交流発電機）

Claims

複数の細長い抵抗素子を水平方向に間隔をあけて並設し且つ直列に接続してなる複数の抵抗組立体と、該複数の抵抗組立体を垂直方向に間隔をあけて並設し、上下方向に並んだ複数の前記抵抗素子からなる複数の抵抗素子列とを有する高電圧負荷試験用の抵抗本体と、
前記複数の抵抗素子列の各抵抗素子の一端部に一方の端子が接続した複数のスイッチング部材からなる複数のスイッチング部材列と、
前記複数のスイッチング部材列の各スイッチング部材の他方の端子が接続した複数の組立体間導電部材と、
前記複数の組立体間導電部材のいくつかを被試験用電源に接続する一つの高電圧用スイッチと、を備えた乾式負荷試験装置において、
前記スイッチング部材は、前記一対の端子のそれぞれに接続した一対の固定接点と、該一対の固定接点を導通する可動接点と、該可動接点を駆動する駆動手段と、前記固定接点、前記可動接点、前記駆動手段を内蔵すると共に、不活性ガスが充填された密封ケース体とを備え、
前記密封ケース体は、円筒形状のケース本体と、該ケース本体の下端部から側方に突出すると共に、前記ケース本体の中心を挟んで互いに対向する位置に配置された一対の取付支持部とを有し、
前記複数のスイッチング部材は、前記取付支持部が互いに干渉しあわないように、前記複数のスイッチング部材列の並び方向に対して前記取付支持部が傾いた状態で、前記抵抗本体の側方に固定されることを特徴とする乾式負荷試験装置。
請求項１に記載された乾式負荷試験装置において、
前記スイッチング部材は、前記密封ケース体の上面に前記一対の端子を配置したことを特徴とする乾式負荷試験装置。
請求項２に記載された乾式負荷試験装置において、
前記スイッチング部材は、前記密封ケース体の上面に、前記駆動手段に接続する一対のリード線の引出口を設けたことを特徴とする乾式負荷試験装置。
請求項２又は請求項３に記載された乾式負荷試験装置において、
前記スイッチング部材は、前記密封ケース体の上面に、前記一対の端子間を区画する絶縁壁と、該絶縁壁に支持されると共に前記一対の端子の上方を覆う絶縁屋根とを有することを特徴とする乾式負荷試験装置。