JP5197304B2 - 露光装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
計測器200を用いて露光装置の光学特性を計測する場合に、計測器200に搭載された撮像センサ250の画素間における感度不均一性や入射角度特性が計測誤差を生じさせる。感度不均一性や入射角度特性を撮像センサ250単体で校正したとしても、撮像センサ250が計測器200に組み込まれたときのパターン部300と画素との位置関係によって決まる入射角度特性は校正されない。従来の露光装置は、既知の照明分布で計測器を照明する機能を有しないので、計測器200をそれが露光装置に組み込まれた状態で校正することはできなかった。
計測パターン310と校正パターン320とは位置が異なるので、それらから射出された光が撮像センサ250の画素に入射する角度も異なる。しかしながら、(1)式を満たすことで、計測パターン310と校正パターン320とからそれぞれ射出された光が撮像センサ250の画素に入射する角度がほぼ同一であるとみなすことができる。よって、校正パターン320のピンホールからの光によって撮像センサ250の撮像面に形成される光強度分布を計測パターン310の位置を点光源とする理想回折光の強度分布として計算することができる。このように計算しても、現状の露光装置に要求される照明σの計測精度(例えば、計測精度<0.003σ)を満たすことができる。
校正パターン320のピンホールの径の実測値は、ステップS1004において、光強度分布を計算で求めるために使用される。例えば、分割された各領域のピンホールの径の代表値または平均値が、点光源で理想回折した光によって撮像面に形成される光強度分布を計算するために使用されうる。なお、校正パターン320の複数のピンホールの径の分布に傾斜や不均一性があると、校正残渣となり、瞳計測の結果に非対称性誤差を生じさせうる。そこで、校正パターン320の製作時に、ピンホールの径の不均一性を抑える必要がある。
ステップS1105では、制御部190は、ステップ1104で補正された瞳分布を用いて、設定されている照明モードにおけるテレセンやσ値などの解析を行う。
露光装置が長期間稼動した後、照明系110のσ値や投影光学系140の瞳透過率分布を計測するだけでは、露光装置に変化が起きたのか、計測器200に変化が起きたのかを切り分けることができない。
撮像センサ250の傾きや像面からのデフォーカス量も計測誤差を生じさせる。また、複数の露光装置を用いて一つの製品を製造する場合、該複数の露光装置間における機差調整は特に重要視されている。
BE={(xb−xe)2+(yb−ye)2)}1/2
CE={(xc−xe)2+(yc−ye)2)}1/2
DE={(xd−xe)2+(yd−ye)2)}1/2
・・・(3)式
撮像センサ250のデフォーカス量の適正量からKNAのずれをDNAとすると、DNAは、(4)式で与えられる。なお、[AE+BE+CE+DE]/4は、AE、BE、CE、DEの平均値を意味する。
y軸周りの回転を傾きを傾きX、x軸周りの回転を傾きY、敏感度をSx、Syとすると、傾きXおよび傾きYは、(5)式で与えられる。敏感度Sx、Syは、(BE−DE)、(AE−CE)に対する傾きX、傾きYの敏感度であり、計測器200の構成に依存する定数である。
傾きY=S×(AE−CE)
・・・(5)式
校正パターン320’に対する撮像センサ250の回転をθとすると、θは、(6)式で与えられる。
+tan−1[(yd−ye)/(xd−xe)]+tan−1[(−yc+ye)/(xc−xe)])/4 ・・・(6)式
制御部190は、校正パターン320’を用いて撮像センサ250のデフォーカス量、傾きおよび回転の少なくとも1つを計測する処理を定期的に又は計画に従って実施する。
本発明の好適な実施形態のデバイス製造方法は、例えば、半導体デバイス、液晶デバイス等のデバイスの製造に好適である。前記方法は、感光剤が塗布された基板を、露光装置を用いて露光する工程と、前記露光された基板を現像する工程とを含みうる。さらに、前記デバイス製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含みうる。
110 照明系
120 原版ステージ
130 原版
131 原版基準プレート
140 投影光学系
150 基板ステージ
160 液体
170 基板
180 投影調整部
190 制御部
200 計測器
230 ガラス基板
240 平凸レンズ
250 撮像センサ
300 基板側のパターン部
310 基板側計測パターン
320、320’ 基板側校正パターン
400 原版側のパターン部
410 原版側計測パターン
420 原版側校正パターン
430 理想分布形成パターン
440、450 校正パターン
Claims (10)
- 原版を照明して該原版のパターンを基板に投影することにより該基板を露光するための光学系を有する露光装置であって、
基板を保持する基板ステージに配置された撮像センサを含み、前記光学系および計測パターンを通して前記撮像センサの撮像面に形成される光強度分布に基づいて前記光学系の特性を計測する計測器と、
前記撮像面に既知の形状を有する光強度分布を形成するように配置された校正パターンと、
前記校正パターンによって前記撮像面に実際に形成された光強度分布と前記校正パターンによって前記撮像面に形成されうる計算上の光強度分布とに基づいて前記計測器を校正する制御部とを備え、
前記校正パターンは、前記計測パターンが配置された領域を取り囲むように配置されている、
ことを特徴とする露光装置。 - 前記校正パターンは、前記計測器の校正時に照明されることによって前記撮像面に既知の形状を有する光強度分布を形成し、
前記計測パターンは、前記光学系の特性の計測時に照明されることによって前記撮像面に前記光学系の特性を示す情報を含む光強度分布を形成する、
ことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 前記校正パターンは、複数の光学素子を含み、前記複数の光学素子のそれぞれによって前記撮像面に形成される複数の光強度分布が前記撮像面において合成される、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。 - 前記光学素子は、ピンホール、スリット、拡散部材および回折素子のいずれかである、
ことを特徴とする請求項3に記載の露光装置。 - 前記制御部は、前記校正パターンによって前記撮像面に実際に形成された光強度分布における光強度と前記校正パターンによって前記撮像面に形成されうる計算上の光強度分布における光強度との比率に基づいて、前記撮像センサの各画素の感度特性を校正する、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置。 - 前記校正パターンおよび前記計測パターンは、基板を保持する基板ステージに配置されている、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の露光装置。 - 前記制御部は、前記計測器の校正を定期的に又は計画に従って実行する、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の露光装置。 - 原版を照明して該原版のパターンを基板に投影することにより該基板を露光するための光学系を有する露光装置であって、
撮像センサを含み、前記光学系を通して前記撮像センサの撮像面に形成される光強度分布に基づいて前記光学系の特性を計測する計測器と、
前記撮像面に光強度分布を形成する校正パターンと、
前記校正パターンによって前記撮像面に形成された光強度分布に基づいて前記撮像センサの位置、傾き、および前記光学系の光軸周りの回転、の少なくとも1つに起因する計測誤差を補正する制御部と、
を備えることを特徴とする露光装置。 - 前記校正パターンは、前記撮像面の互いに異なる複数の領域にそれぞれ光強度分布を形成し、
前記校正パターンによって前記撮像面に形成された複数の光強度分布に基づいて前記撮像センサの位置、傾き、および前記光学系の光軸周りの回転、の少なくとも1つに起因する計測誤差を補正する、
ことを特徴とする請求項8に記載の露光装置。 - デバイス製造方法であって、
請求項1乃至9のいずれか1項に記載の露光装置によって基板を露光する工程と、
前記基板を現像する工程と、
を含むことを特徴とするデバイス製造方法。
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