JP5178558B2 - 荷電粒子線の光軸調整方法、及び荷電粒子線装置 - Google Patents
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Description
軸調整を実施する。また、その他の像質補正として、非点補正や焦点合わせ等も同時に行う。
軸調整状態が良好であると目視で確認した後、対物レンズ6の電流量を変化させることによって人為的に画像をぼかす。その後、Q3のように、観察者は、それが許容できる極限ぼけ量を持つ画像であるかを目視で判断する。極限より、ぼけ具合がまだ余裕がある場合は、さらにぼかす作業を行う。逆に、ぼけ量が大きすぎた場合は、ぼけ量を再度調整する。極限ぼけ量を持つ画像として、図4の状態から、対物レンズを変化させ、像が若干ぼけた際の画像を図5にしめす。
極限ぼけ量を持つ画像を決定したら、次にその像質評価をFFT方式で評価する。FFT法では、2次元の濃淡画像に対し2次元フーリエ変換をして、周波数解析を行う。その画像評価手順は次のとおりである。まず、濃淡画像をディジタル画像にし、その画像を2次元フーリエ変換する。実部と虚部の平方和をとった上で、各画素の値の対数を取った画像がフーリエ変換後の画像である。この画像の輝度をある画像内の方向にとることにより、その方向の周波数スペクトルを得ることができる。その周波数スペクトル上で、特定周波数成分における信号強度を指標値として使用することによって、任意角度の像評価が可能である。この手順を図6に概要図で示している。
ぼけ量の評価値を(3)にて説明した手法で求めた後、測長SEMの記憶部にしきい値(ITH)として登録する。本例の場合、図5から算出されるITHは、図7で算出されているように、22087である。このしきい値は、後述の工程(6)で使用する。
初期設定が工程(4)で完了しているため、測長SEMの使用を開始するメンテナンス処理としての軸調整をする。この処理は(1)で行う内容と同じである。
自動軸調整が(5)で終了した後、自動画像取得をする。例えば、図8のような画像が取得されたとする。上記(3)の方式同様にFFT評価値(Ix)を求める。その結果を、図7の2行目に示している。その後、しきい値との差分を求める(Ix−ITH)。Q4の段階で、その差が正の値であれば軸状態は良いと判断され、通常のパターン寸法計測へ進む。もし、その差が負の値であれば再度、軸調整が実施される。図9に、図8評価値(Ix)と、図5で設定したしきい値(ITH)の結果をグラフとして示す。この場合、IxがITHよりも小さいことから、処理は工程(5)の自動軸調整へ戻る。図7の3行目の結果は図10のような画像で得られるが、そのように、ITH上回るまで、(6)とQ4は繰り返される。
2 加速電極
3 コンデンサレンズ
4 電子ビーム
5 走査偏向器
6 対物レンズ
7 放出された電子
8 試料
9 試料ステージ
10 ステージ制御部
11 検出器
12 増幅器
13 画像記憶部
14 測長処理部
15 主制御部
Claims (5)
- 荷電粒子源から放出される荷電粒子ビームを偏向して、光軸調整を行う荷電粒子線装置の光軸調整方法において、
前記荷電粒子線を調節する光学素子の調整条件を変化させ、当該異なる調整条件にて複数の画像を取得するステップと、
取得された複数の画像の中から、任意の画像を選択するステップと、
選択された画像に基づいて第1の画質評価値を取得するステップと、
当該取得された第1の画質評価値と、前記荷電粒子ビームの走査によって得られる画像から求められる第2の画質評価値とを比較し、当該第2の画質評価値が、前記第1の画質評価値以下、或いは当該第1の画質評価値を下回ったときに、前記光軸調整を行うことを特徴とする荷電粒子線装置の光軸調整方法。 - 請求項1において、
前記光学素子は、前記荷電粒子ビームを集束するための集束レンズ,当該荷電粒子線の非点補正を行うための非点補正器、或いは試料に印加される負電圧によって形成される静電レンズであることを特徴とする荷電粒子線装置の光軸調整方法。 - 請求項1において、
前記画質評価を行うためのパターンと、寸法測定を行うパターンとが同じ視野内に含まれるように、前記荷電粒子ビームを走査することを特徴とする荷電粒子線装置の光軸調整方法。 - 荷電粒子源と、
当該荷電粒子源から放出される荷電粒子ビームを偏向して、光軸調整を行うアライメント偏向器と、当該アライメント偏向器を制御する制御装置を備えた荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線を調整する光学素子の調整条件を変化させたときに得られる複数の画像の内、任意の画像を選択する選択装置を備え、
前記制御装置は、前記選択装置にて選択された画像の第1の画質評価値を演算し、当該第1の画質評価値と、前記荷電粒子線を試料に走査したときに得られる画像から求められる第2の画質評価値とを比較し、当該第2の画質評価値が、前記第1の画質評価値以下、或いは当該第1の画質評価値を下回ったときに、前記光軸調整を行うよう前記アライメント偏向器を制御することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項4において、
前記光学素子は、前記荷電粒子ビームを集束するための集束レンズ,当該荷電粒子線の非点補正を行うための非点補正器、或いは試料に印加される負電圧によって形成される静電レンズであることを特徴とする荷電粒子線装置。
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