JP5068012B2 - LIGHT EMITTING CONTROL DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE USING THE SAME - Google Patents
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Description
本発明は、発光デバイスの発光状態を制御する発光制御装置に関する。 The present invention relates to a light emission control device that controls a light emission state of a light emitting device.
さまざまな電子機器において、外部から入射する光を測定し、測定した受光量に応じた信号処理を行っている。このような信号処理の例としては、カメラのフラッシュの発光制御が挙げられる。具体的には、フラッシュから発せられた光が、被写体などによって反射してきた光を測定し、反射光が所定レベルに達すると、フラッシュ(以下、発光デバイスともいう)を消灯する。
こうした機器において、反射光を受光するために、受光量に応じた光電流を生成するフォトトランジスタやフォトダイオードなどの受光デバイスを用いる場合について考察する。これらの受光デバイスを用いて上述の発光制御を行うためには、光電流を積分して、所定値に達したところで発光停止を行う手法が考えられる。ここで、光電流の積分を簡易に行う手法としては、光電流を容量に流して充電する方法が考えられる。この場合、容量に現れる電位をしきい値電圧と比較し、その比較結果にもとづいて発光デバイスを消灯する。 Consider a case in which such a device uses a light receiving device such as a phototransistor or a photodiode that generates a photocurrent according to the amount of light received in order to receive reflected light. In order to perform the above-described light emission control using these light receiving devices, a method of integrating the photocurrent and stopping the light emission when a predetermined value is reached can be considered. Here, as a method of simply integrating the photocurrent, a method of charging by flowing the photocurrent through a capacitor can be considered. In this case, the potential appearing in the capacitor is compared with the threshold voltage, and the light emitting device is turned off based on the comparison result.
しかしながら、容量に現れる電位が、しきい値電圧に達した後、放電などによって低下したり、ノイズの影響を受けて変動する場合がある。この場合、容量に現れる電位がしきい値電圧より下回ると、再度発光デバイスが発光することになる。その後、再発光によって容量に現れる電圧がしきい値電圧に達すると再度、発光が停止し、発光と非発光を繰り返すおそれがある。 However, after the potential appearing in the capacitor reaches the threshold voltage, it may decrease due to discharge or the like, or fluctuate due to the influence of noise. In this case, when the potential appearing in the capacitor is lower than the threshold voltage, the light emitting device emits light again. After that, when the voltage that appears in the capacitor due to re-emission reaches the threshold voltage, the emission stops again, and there is a possibility of repeating emission and non-emission.
本発明はかかる状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、発光デバイスの発光を確実に停止可能な発光制御装置の提供にある。 The present invention has been made in view of such a situation, and an object thereof is to provide a light emission control apparatus capable of reliably stopping light emission of a light emitting device.
本発明のある態様は、発光デバイスの発光状態を制御する発光制御装置に関する。この発光制御回路は、発光デバイスから発せられた光が、外部の物体により反射した光を受光する受光デバイスに接続され、当該受光デバイスに流れる光電流に応じた電流を積分して電圧に変換する受光装置と、受光装置の出力電圧を、所定のしきい値電圧と比較し、出力電圧がしきい値電圧より高いとき所定レベルとなる比較信号を出力するコンパレータと、コンパレータから出力される比較信号をラッチするラッチ回路と、を備える。この発光制御装置は、ラッチ回路が所定レベルの比較信号によりラッチされる間、発光デバイスを発光不能とする。 One embodiment of the present invention relates to a light emission control apparatus that controls a light emission state of a light emitting device. In this light emission control circuit, light emitted from a light emitting device is connected to a light receiving device that receives light reflected by an external object, and an electric current corresponding to the photocurrent flowing through the light receiving device is integrated and converted into a voltage. The light receiving device, a comparator that compares the output voltage of the light receiving device with a predetermined threshold voltage, and outputs a comparison signal that becomes a predetermined level when the output voltage is higher than the threshold voltage, and a comparison signal output from the comparator And a latch circuit for latching. The light emission control device disables light emission of the light emitting device while the latch circuit is latched by the comparison signal of a predetermined level.
ラッチ回路とは、Dラッチ回路、RSラッチ回路、Dフリップフロップ、RSフリップフロップなど、入力信号をラッチ可能な回路をいう。この態様によると、受光装置の出力電圧がしきい値電圧付近で変動し、コンパレータから出力される比較信号が変動した場合にも、比較信号をラッチした信号にもとづいて発光状態を制御するため、発光デバイスが点灯と消灯を繰り返すのを防止することができる。 A latch circuit refers to a circuit that can latch an input signal, such as a D latch circuit, an RS latch circuit, a D flip-flop, or an RS flip-flop. According to this aspect, even when the output voltage of the light receiving device fluctuates in the vicinity of the threshold voltage and the comparison signal output from the comparator fluctuates, the light emission state is controlled based on the signal obtained by latching the comparison signal. It is possible to prevent the light emitting device from repeatedly turning on and off.
ラッチ回路は、発光デバイスの発光を指示する制御信号によりリセットされてもよい。この場合、発光が指示されるごとに発光可能状態に復帰させることができる。 The latch circuit may be reset by a control signal instructing light emission of the light emitting device. In this case, it is possible to return to the light emission enabled state every time the light emission is instructed.
ラッチ回路は、データ端子の電位が固定され、クロック端子にコンパレータから出力される比較信号が入力されるDラッチ回路であってもよい。また、ラッチ回路は、データ端子の電位が固定され、クロック端子にコンパレータから出力される比較信号が入力されるDフリップフロップ回路であってもよい。 The latch circuit may be a D latch circuit in which the potential of the data terminal is fixed and the comparison signal output from the comparator is input to the clock terminal. The latch circuit may be a D flip-flop circuit in which the potential of the data terminal is fixed and the comparison signal output from the comparator is input to the clock terminal.
発光制御装置はさらに、発光デバイスの駆動電圧を生成する昇圧回路を備えてもよい。 The light emission control device may further include a booster circuit that generates a driving voltage for the light emitting device.
発光制御装置は、ひとつの半導体基板上に一体集積化されてもよい。「一体集積化」とは、回路の構成要素のすべてが半導体基板上に形成される場合や、回路の主要構成要素が一体集積化される場合が含まれ、回路定数の調節用に一部の抵抗やキャパシタなどが半導体基板の外部に設けられていてもよい。 The light emission control device may be integrated on a single semiconductor substrate. “Integrated integration” includes the case where all of the circuit components are formed on a semiconductor substrate and the case where the main components of the circuit are integrated. A resistor, a capacitor, or the like may be provided outside the semiconductor substrate.
本発明の別の態様は、電子機器である。この電子機器は、発光デバイスと、当該発光デバイスの発光状態を制御する上述の発光制御装置と、を備える。この態様によれば、発光デバイスの搭載される電子機器において、発光デバイスの発光、発光停止の安定した制御が可能となる。 Another embodiment of the present invention is an electronic device. The electronic apparatus includes a light emitting device and the above-described light emission control device that controls the light emission state of the light emitting device. According to this aspect, it is possible to stably control light emission and light emission stop of the light emitting device in the electronic apparatus in which the light emitting device is mounted.
なお、以上の構成要素の任意の組合せや本発明の構成要素や表現を、方法、装置、システムなどの間で相互に置換したものもまた、本発明の態様として有効である。 Note that any combination of the above-described constituent elements and the constituent elements and expressions of the present invention replaced with each other among methods, apparatuses, systems, etc. are also effective as an aspect of the present invention.
本発明に係る発光制御装置によれば、発光デバイスの発光を確実に停止することができる。 According to the light emission control device according to the present invention, the light emission of the light emitting device can be reliably stopped.
図1は、本実施の形態に係る電子機器300の構成を示す図である。本実施の形態に係る電子機器300は、たとえば、カメラ付き携帯電話端末であり、フラッシュを備えている。電子機器300は、フラッシュを発光した後、反射して戻ってきた光を検出する受光装置を備えており、所定の光量を検出すると、フラッシュの発光を停止するものである。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an
電子機器300は、電池310、発光制御装置302、発光デバイス330、発光制御トランジスタ350、受光装置200を備える。電池310は、Liイオン電池などであり、3V〜4V程度の電池電圧Vbatを出力する。
The
発光制御装置302は、発光デバイス330の発光状態を制御する機能ICであって、DC/DCコンバータ320、発光制御部340、受光装置200を含む。DC/DCコンバータ320は、たとえばスイッチングレギュレータ方式の昇圧回路であって、発光デバイス330を駆動するために、電池電圧Vbatを300V程度まで昇圧する。DC/DCコンバータ320により生成される駆動電圧Vdrvは、発光デバイス330へと供給される。
The light
発光デバイス330は、たとえばキセノンチューブランプであって、300V程度まで昇圧された駆動電圧Vdrvがその一端に印加されている。発光デバイス330の他端には、発光制御トランジスタ350が接続される。発光制御トランジスタ350としては、高耐圧のIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)などが用いられる。発光制御トランジスタ350のゲートには、発光制御部340から出力される発光制御信号SIG1が入力される。
The
発光制御部340には、ユーザがフラッシュをオンにすると、シャッターのタイミングと同期してハイレベルとなる制御信号CNTが入力されている。発光制御部340は後述のように、制御信号CNTにもとづいて発光制御信号SIG1をハイレベルに切り換える。発光制御信号SIG1がハイレベルとなると、遅延時間τ経過後に発光制御トランジスタ350がオンし、発光デバイス330が発光する。遅延時間τは、キセノンチューブランプの特性で決まる。
When the user turns on the flash, the light
また、発光制御部340は、制御信号CNTにもとづき、第1制御信号CNT1〜第3制御信号CNT3を生成し、受光装置200へと出力する。受光装置200は、発光制御部340から出力される第1制御信号CNT1〜第3制御信号CNT3によって、受光のためのスタンバイ状態へと遷移する。その後、受光装置200は、発光デバイス330から発光され、外部の撮影対象物に反射して戻ってきた光を検出し、検出電圧Vdetとして出力する。発光制御部340は、検出電圧Vdetが所定のしきい値電圧Vthを超えると、すなわち検出した反射光が、所定の光量に達すると、発光制御信号SIG1をローレベルとして、発光デバイス330の発光を停止する。
Further, the light
次に、本実施の形態に係る受光装置200の構成について詳細に説明する。図2は、本実施の形態に係る受光装置200の構成を示す回路図である。受光装置200は、電流検出回路100、フォトトランジスタ210、充電キャパシタCchg、調節抵抗Radjを含む。
Next, the configuration of the
フォトトランジスタ210は、受光デバイスとして設けられており、入射した光に応じた光電流Ipが流れる。フォトトランジスタ210のエミッタは接地され、コレクタは電流検出回路100の検出端子102に接続される。
The
電流検出回路100は、検出端子102に接続されるフォトトランジスタ210に流れる光電流Ipを検出する。電流検出回路100は、第1トランジスタQ1、第2トランジスタQ2、第1バイアス抵抗Rbias1、第2バイアス抵抗Rbias2、バイアススイッチSW1、バイパススイッチSW2、第1抵抗R10、第2抵抗R12を含む。また、電流検出回路100の外部には、抵抗接続端子106、抵抗接続端子108間に調節抵抗Radjが、容量接続端子104に充電キャパシタCchgが接続される。
The
第1トランジスタQ1は、PNP型バイポーラトランジスタ(以下、単にPNPトランジスタという)であって、受光デバイスであるフォトトランジスタ210の電流経路上に設けられる。第1トランジスタQ1のエミッタと電源電圧Vddが印加される電源ライン間には、第1抵抗R10が接続される。また、第1トランジスタQ1のベースコレクタ間は結線されている。
The first transistor Q1 is a PNP bipolar transistor (hereinafter simply referred to as a PNP transistor), and is provided on the current path of the
第2トランジスタQ2は、PNPトランジスタであって、第1トランジスタQ1とベースが共通接続される。第2トランジスタQ2のエミッタと電源ライン間には、第2抵抗R12が設けられる。さらに、第2抵抗R12と並列に、調節抵抗Radjが接続される。第2トランジスタQ2は、第1トランジスタQ1、第1抵抗R10、第2抵抗R12、調節抵抗Radjとともにカレントミラー回路を構成する。第2トランジスタQ2は、第1トランジスタQ1に流れる第1電流Iq1を所定係数倍した第2電流Iq2を出力する。たとえば、第1トランジスタQ1と第2トランジスタQ2のサイズ比は、4:1程度に設定する。 The second transistor Q2 is a PNP transistor, and the base is commonly connected to the first transistor Q1. A second resistor R12 is provided between the emitter of the second transistor Q2 and the power supply line. Further, an adjustment resistor Radj is connected in parallel with the second resistor R12. The second transistor Q2 forms a current mirror circuit together with the first transistor Q1, the first resistor R10, the second resistor R12, and the adjustment resistor Radj. The second transistor Q2 outputs a second current Iq2 obtained by multiplying the first current Iq1 flowing through the first transistor Q1 by a predetermined coefficient. For example, the size ratio between the first transistor Q1 and the second transistor Q2 is set to about 4: 1.
第1トランジスタQ1のコレクタから、検出端子102、フォトトランジスタ210を介して接地に至る経路を、主電流経路10とする。主電流経路10の第1トランジスタQ1および検出端子102間には、第2バイアス抵抗Rbias2が設けられる。第2バイアス抵抗Rbias2の抵抗値は、十分に高く設定し、たとえば数MΩ〜数十MΩの範囲で設定する。本実施の形態では、一例として10MΩに設定される。主電流経路10は、第2バイアス抵抗Rbias2をバイパスするバイパススイッチSW2をさらに備える。バイパススイッチSW2は、発光制御部340から出力される第1制御信号CNT1によってオンオフが制御される。
A path from the collector of the first transistor Q1 to the ground via the
バイアス電流経路12は、主電流経路10と並列に設けられる。バイアス電流経路12は、第1トランジスタQ1のコレクタと接地間に直列接続された第1バイアス抵抗Rbias1およびバイアススイッチSW1を含む。第1バイアス抵抗Rbias1の抵抗値は、第2バイアス抵抗Rbias2に対して十分に低く、たとえば1/10程度に設定しておく。第2バイアス抵抗Rbias2の抵抗値は、たとえば1MΩである。
The bias
バイアススイッチSW1は、発光制御部340により生成される第3制御信号CNT3によってオンオフが制御される。バイアススイッチSW1がオンすると、バイアス電流経路12がオンし、電流が流れる。以下、バイアス電流経路12に流れる電流をバイアス電流Ibiasという。
The bias switch SW1 is controlled to be turned on / off by a third control signal CNT3 generated by the light
第2トランジスタQ2のコレクタは、マスク用スイッチSW3を介して容量接続端子104と接続される。電流検出回路100は、第2トランジスタQ2に流れる第2電流Iq2を充電キャパシタCchgに充電し、電圧に変換する。マスク用スイッチSW3のオンオフは、発光制御部340において生成される第2制御信号CNT2によって制御される。マスク用スイッチSW3は、第2制御信号CNT2がハイレベルのときオフ、ローレベルのときオンする。マスク用スイッチSW3がオフすると、第2電流Iq2の経路が遮断されるため、充電キャパシタCchgの充電は停止する。
The collector of the second transistor Q2 is connected to the
容量接続端子104と接地間には、放電用スイッチSW4が設けられる。放電用スイッチSW4は、NMOSトランジスタであって、充電キャパシタCchgと並列に接続される。放電用スイッチSW4は、ドレインが容量接続端子104に接続され、ソースが接地され、ゲートには、発光制御部340によって生成される第2制御信号CNT2が入力される。放電用スイッチSW4は、第2制御信号CNT2がハイレベルのときオン、ローレベルのときオフする。放電用スイッチSW4がオンすると、容量接続端子104が接地され、充電キャパシタCchgに蓄えられた電荷が放電する。後述のように、放電用スイッチSW4は、フォトトランジスタ210の受光開始に先立ち、第2制御信号CNT2により、所定時間ΔT1だけオンする。放電用スイッチSW4およびマスク用スイッチSW3のオンオフは、同一の第2制御信号CNT2により制御される。
A discharge switch SW4 is provided between the
本実施の形態に係る電流検出回路100は、容量接続端子104に現れる電圧を、検出電圧Vdetとして発光制御部340へと出力する。
The
次に、発光制御部340の構成について説明する。図3は、本実施の形態に係る発光制御部340の構成を示す回路図である。発光制御部340は、コンパレータ20、Dラッチ回路22、ワンショット回路24、第1インバータ26、NANDゲート28、ドライバ回路30、第2インバータ32、遅延回路34を含む。
Next, the configuration of the light
発光制御部340は、制御端子342に入力されたフォトトランジスタ210の受光開始に先立って信号レベルが変化する制御信号CNTにもとづき、第1制御信号CNT1〜第3制御信号CNT3を生成し、電流検出回路100へと出力する。また、発光制御部340は、制御信号CNTおよび電流検出回路100から出力される検出電圧Vdetにもとづいて発光制御信号SIG1を生成し、発光デバイス330の発光および発光停止を制御する。
The light
はじめに、発光制御部340において、第1制御信号CNT1〜第3制御信号CNT3を生成するブロックについて説明する。
制御端子342に入力された制御信号CNTは、そのまま第1制御信号CNT1として電流検出回路100へと出力される。
First, the block that generates the first control signal CNT1 to the third control signal CNT3 in the light
The control signal CNT input to the
第2制御信号CNT2は、抵抗R20、R22、トランジスタQ1、第1インバータ26、第2インバータ32、遅延回路34によって、制御信号CNTを遅延させることにより生成される。トランジスタQ1は、NPN型バイポーラトランジスタであって、エミッタ接地されており、コレクタと電源ライン間には、抵抗R22が設けられる。トランジスタQ1のベースと制御端子342間には、抵抗R20が接続されている。
The second control signal CNT2 is generated by delaying the control signal CNT by the resistors R20 and R22, the transistor Q1, the
抵抗R20、R22、トランジスタQ1は、制御信号CNTを論理反転して出力する。第1インバータ26は、反転された制御信号CNTを再度論理反転する。
The resistors R20 and R22 and the transistor Q1 logically invert the control signal CNT and output it. The
第1インバータ26の出力信号SIG10は、第2インバータ32に入力される。第2インバータ32は、第1インバータ26の出力信号SIG10を論理反転し、遅延回路34へと出力する。遅延回路34は、第2インバータ32の出力信号を、所定時間ΔT1だけ遅延する。遅延回路34から出力される信号は、第2制御信号CNT2として電流検出回路100へと出力される。たとえば、遅延回路34による遅延時間ΔT1は、5μs程度に設定する。
The output signal SIG10 of the
フォトトランジスタ210の受光開始に先立って信号レベルが変化する制御信号CNTは、ワンショット回路24に入力される。ワンショット回路24は、制御信号CNTがハイレベルとなってから所定時間ΔT2の期間、ハイレベルとなる第3制御信号CNT3を生成する。すなわち、ワンショット回路24は、制御信号CNTを所定時間ΔT2の期間ラッチするラッチ回路である。第3制御信号CNT3は、バイアススイッチSW1へと出力され、そのオンオフを制御する。所定時間ΔT2は、遅延時間ΔT1より長く、たとえば10μs程度に設定する。
A control signal CNT whose signal level changes prior to the start of light reception by the
以上のように構成される発光制御部340は、第1制御信号CNT1〜第3制御信号CNT3を生成し、電流検出回路100へと出力する。
The light
次に、発光制御部340において、発光デバイス330の発光を制御するための発光制御信号SIG1を生成するブロックについて説明する。このブロックは、コンパレータ20、Dラッチ回路22、NANDゲート28、ドライバ回路30を含む。
Next, a block for generating the light emission control signal SIG1 for controlling the light emission of the
コンパレータ20は、電流検出回路100から出力される検出電圧Vdetと、所定のしきい値電圧Vthを比較し、Vdet>Vthのときハイレベル、Vdet<Vthのときローレベルとなる比較信号SIG12を出力する。
The
コンパレータ20から出力される比較信号SIG12は、Dラッチ回路22のクロック端子に入力される。Dラッチ回路22のデータ端子は電源ラインに接続されており、ハイレベルに固定されている。Dラッチ回路22のリセット端子には、制御信号CNTが入力されている。Dラッチ回路22は、比較信号SIG12のポジエッジによってセットされ、制御信号CNTのネガエッジによりリセットされるラッチ回路として機能する。Dラッチ回路22の反転出力信号SIG14は、NANDゲート28へと出力される。
The comparison signal SIG12 output from the
NANDゲート28は、第1インバータ26の出力信号SIG10と、Dラッチ回路22の反転出力信号SIG14の否定論理積を出力する。ドライバ回路30は、NANDゲート28の出力信号SIG16がローレベルの期間、ハイレベルとなる発光制御信号SIG1を出力する。
The
以上のように構成された図2の電流検出回路100および図3の発光制御部340の動作について説明する。図4は、本実施の形態に係る電流検出回路100および電子機器300の動作状態を示すタイムチャートである。
The operation of the
時刻T0以前において、電源電圧Vddが立ち上がっており、電流検出回路100は待機状態となっている。この間、フォトトランジスタ210には非常に小さな光電流Ip(暗電流)が流れている。この光電流Ipは、第1トランジスタQ1に第1電流Iq1として流れる。第1トランジスタQ1は、ベースコレクタ間が接続されているため、コレクタエミッタ間電圧Vceは、ベースエミッタ間電圧Vbeに等しくなる。検出端子102の電位Vptrは、電源電圧Vddから、第1トランジスタQ1のコレクタエミッタ間電圧Vce(=ベースエミッタ間電圧Vbe)および第1抵抗R10での電圧降下ΔVrだけ低い電圧(Vdd−Vce−ΔVr)が現れる。フォトトランジスタ210に流れる光電流Ipは小さいため、第1トランジスタQ1のコレクタエミッタ間電圧Vceは小さい。
Prior to time T0, the power supply voltage Vdd has risen and the
時刻T0に、制御信号CNTがハイレベルとなり、発光デバイス330の発光が指示される。上述したように、制御信号CNTがハイレベルとなると同時に、第1制御信号CNT1がハイレベルとなる。また、ワンショット回路24から出力される第3制御信号CNT3は、時刻T1から所定時間ΔT2の間、ハイレベルとなる。
At time T0, the control signal CNT becomes high level, and the light emission of the
時刻T0に、第1制御信号CNT1がハイレベルとなると、バイパススイッチSW2がオンし、第2バイアス抵抗Rbias2がバイパスされる。また、第3制御信号CNT3がハイレベルとなると、バイアススイッチSW1がオンし、バイアス電流経路12にバイアス電流Ibiasが流れる。
When the first control signal CNT1 becomes high level at time T0, the bypass switch SW2 is turned on, and the second bias resistor Rbias2 is bypassed. When the third control signal CNT3 becomes high level, the bias switch SW1 is turned on, and the bias current Ibias flows through the bias
このとき、第1トランジスタQ1に流れる電流Iq1は、光電流Ipと、バイアス電流Ibiasの和(Ip+Ibias)となる。上述のように、第1バイアス抵抗Rbias1の抵抗値は、第2バイアス抵抗Rbias2の抵抗値に対して十分に低く設定されるため、第1トランジスタQ1に流れる第1電流Iq1は増加する。その結果、第1トランジスタQ1のコレクタエミッタ間電圧Vceは、時刻T0以前の期間に比べて大きくなり、検出端子102の電位Vptrは低下する。
At this time, the current Iq1 flowing through the first transistor Q1 is the sum (Ip + Ibias) of the photocurrent Ip and the bias current Ibias. As described above, since the resistance value of the first bias resistor Rbias1 is set sufficiently lower than the resistance value of the second bias resistor Rbias2, the first current Iq1 flowing through the first transistor Q1 increases. As a result, the collector-emitter voltage Vce of the first transistor Q1 increases compared to the period before time T0, and the potential Vptr of the
発光デバイス330の受光開始に先立った時刻T0に、バイパススイッチSW2をオンして、バイアス電流経路12にバイアス電流Ibiasを流すことにより、第1電流Iq1が増加する。第1電流Iq1が増加することは、第1トランジスタQ1のコレクタ電流Iceが増加することを意味する。
The first current Iq1 is increased by turning on the bypass switch SW2 and causing the bias current Ibias to flow through the bias
図5は、バイポーラトランジスタである第1トランジスタQ1の電流特性を示す図である。同図の縦軸はコレクタ電流Ice(=Iq1)を、横軸はコレクタエミッタ間電圧Vce(=ベースエミッタ間電圧Vbe)を示す。図5に示すように、コレクタ電流Ice(=Iq1)が小さいときには、コレクタ電流Iceの変動に対するコレクタエミッタ間電圧Vceの変動幅が大きく、コレクタ電流Iceが大きくなると、その変動幅は小さくなる。 FIG. 5 is a diagram showing current characteristics of the first transistor Q1 which is a bipolar transistor. In the figure, the vertical axis represents the collector current Ice (= Iq1), and the horizontal axis represents the collector-emitter voltage Vce (= base-emitter voltage Vbe). As shown in FIG. 5, when the collector current Ice (= Iq1) is small, the fluctuation width of the collector-emitter voltage Vce with respect to the fluctuation of the collector current Ice is large, and when the collector current Ice is large, the fluctuation width is small.
したがって、時刻T0以前のように、第1電流Iq1(コレクタ電流Ice)が小さいときには、第1電流Iq1がわずかに変化しただけで、第1トランジスタQ1のコレクタ電圧、ひいては検出端子102の電圧Vptrが変動してしまう。検出端子102の電圧Vptrが変動すると、フォトトランジスタ210のバイアス状態が変化してしまい、光電流Ipが変動するおそれがある。また、検出端子102の電圧が変動することにより、第1トランジスタQ1、第2トランジスタQ2を含むカレントミラー回路の特性が悪化する場合がある。
Therefore, when the first current Iq1 (collector current Ice) is small as before time T0, the collector voltage of the first transistor Q1, and thus the voltage Vptr of the
そこで、本実施の形態に係る電流検出回路100では、受光開始に先立った時刻T0に、バイアススイッチSW1をオンして、第1電流Iq1を増加させる。その結果、第1トランジスタQ1が定電流領域でバイアスされ、コレクタ電流Iceの変化量に対するコレクタエミッタ間電圧Vceの変化量が小さくなり、検出端子102の電圧Vptrを一定に保つことができる。検出端子102の電圧Vptrが一定に保たれると、フォトトランジスタ210の特性を一定に保つことができるとともに、第1トランジスタQ1、第2トランジスタQ2を含むカレントミラー回路の特性を良好に保つことができる。
Therefore, in the
また、第2制御信号CNT2は、制御信号CNTがローレベルからハイレベルに遷移しする時刻T0から、所定時間ΔT1経過後の時刻T1までのラッチされ、ハイレベルを維持する。第2制御信号CNT2がハイレベルの期間、放電用スイッチSW4はオンするため、充電キャパシタCchgに蓄えられた電荷が放電されて初期化される。さらに、第2制御信号CNT2がハイレベルの間、マスク用スイッチSW3はオフするため、第2電流Iq2の経路が遮断される。その結果、時刻T1以前においては、発光デバイス330に光が入射し、光電流Ipが流れても、充電キャパシタCchgは充電されず、検出電圧Vdetは接地電位に固定される。また、回路電流が遮断されるため、低消費電力化を図ることができる。
Further, the second control signal CNT2 is latched from time T0 when the control signal CNT transitions from low level to high level until time T1 after the lapse of the predetermined time ΔT1, and maintains the high level. Since the discharge switch SW4 is turned on while the second control signal CNT2 is at a high level, the charge stored in the charge capacitor Cchg is discharged and initialized. Further, since the mask switch SW3 is turned off while the second control signal CNT2 is at the high level, the path of the second current Iq2 is interrupted. As a result, before time T1, even if light enters the
時刻T0には、発光制御信号SIG1がハイレベルとなり、発光デバイス330が発光可能状態となる。本実施の形態に係る発光デバイス330は、発光制御信号SIG1がハイレベルとなってから、時間τだけ遅れて発光する。したがって、上述の所定時間ΔT1は、時間τよりも短くなるように設定する必要がある。
At time T0, the light emission control signal SIG1 is at a high level, and the
時刻T1に、第2制御信号CNT2がローレベルとなると、マスク用スイッチSW3がオン、放電用スイッチSW4がオフし、電流検出回路100がスタンバイ状態となる。
When the second control signal CNT2 becomes low level at time T1, the mask switch SW3 is turned on, the discharge switch SW4 is turned off, and the
発光制御信号SIG1がハイレベルとなる時刻T0から時間τ経過後の時刻T2に、発光デバイス330が発光する。発光デバイス330が発光すると、反射光がフォトトランジスタ210に入射し、光電流Ipが流れる。時刻T2において、バイアス電流経路12はオフしているため、第1トランジスタQ1に流れる第1電流Iq1は、光電流Ipに等しい。上述のように、第1トランジスタQ1は定電流領域にバイアスされているため、光電流Ipが流れはじめても、検出端子102の電位Vptrはほとんど変動しない。
The
時刻T2以降、充電キャパシタCchgは、第2トランジスタQ2から出力される第2電流Iq2によって充電され、検出電圧Vdetは徐々に上昇する。時刻T3に、検出電圧Vdetが、所定のしきい値電圧Vthに達すると、コンパレータ20の出力である比較信号SIG12はハイレベルとなり、Dラッチ回路22の反転出力信号SIG14は、ローレベルとなる。その結果、ドライバ回路30から出力される発光制御信号SIG1はローレベルとなり、発光制御トランジスタ350がオフして、発光デバイス330の発光が停止する。
After time T2, the charging capacitor Cchg is charged by the second current Iq2 output from the second transistor Q2, and the detection voltage Vdet gradually increases. When the detection voltage Vdet reaches a predetermined threshold voltage Vth at time T3, the comparison signal SIG12 that is the output of the
その後、時刻T0から所定時間ΔT2経過後の時刻T4に、第3制御信号CNT3がローレベルとなり、バイアススイッチSW1がオフする。 Thereafter, at time T4 after a predetermined time ΔT2 has elapsed from time T0, the third control signal CNT3 becomes low level and the bias switch SW1 is turned off.
本実施の形態に係る電流検出回路100によれば、発光デバイス330の発光開始、すなわちフォトトランジスタ210による受光開始に先立ち、バイアススイッチSW1をオンすることにより、カレントミラー回路を構成する第1トランジスタQ1を定電流領域にバイアスすることができる。さらに、その結果、フォトトランジスタ210のコレクタ電圧、すなわち検出端子102の電位Vptrを、光電流Ipの値によらずにほぼ一定値に保つことができ、安定な光検出を行うことができる。
According to the
また、第2バイアス抵抗Rbias2を設けることにより、受光開始前の期間において、主電流経路10のインピーダンスを高くすることができ、回路の消費電流を低減することができる。 Also, by providing the second bias resistor Rbias2, the impedance of the main current path 10 can be increased during the period before the start of light reception, and the current consumption of the circuit can be reduced.
図6は、フォトトランジスタ210による受光量が小さいときの電流検出回路100および電子機器300の動作状態を示すタイムチャートである。
FIG. 6 is a time chart showing the operating states of the
フォトトランジスタ210による受光開始前、すなわち時刻T0から時刻T2の波形は、図4と同様である。制御信号CNTがハイレベルとなる時刻T0から、時間τ経過後の時刻T2に、発光デバイス330が発光する。発光デバイス330から反射体までの距離が遠いときには、反射光の強度が弱くなるため、受光量が小さくなる。その結果、光電流Ipが図4の場合と比べて小さくなり、検出電圧Vdetの上昇速度が遅くなる。時刻T2から時刻T4までの期間、第1トランジスタQ1に流れる第1電流Iq1は、光電流Ipとバイアス電流Ibiasの和電流となっている。
The waveform before the start of light reception by the
時刻T0から所定時間ΔT2経過後の時刻T3に第3制御信号CNT3がローレベルとなる。第3制御信号CNT3がローレベルとなると、バイアススイッチSW1がオフし、バイアス電流経路12がオフする。時刻T4以降、バイアススイッチSW1がオフすると、バイアス電流Ibiasが流れなくなるため、第1トランジスタQ1に流れる第1電流Iq1は、光電流Ipに等しくなる。その結果、充電キャパシタCchgに対する充電電流が減少し、検出電圧Vdetの上昇速度が低下する。
The third control signal CNT3 becomes low level at time T3 after a predetermined time ΔT2 has elapsed from time T0. When the third control signal CNT3 becomes low level, the bias switch SW1 is turned off and the bias
その後、時刻T5に、検出電圧Vdetがしきい値電圧Vthに達すると、発光制御信号SIG1はローレベルとなり、発光デバイス330の発光が停止する。
Thereafter, when the detection voltage Vdet reaches the threshold voltage Vth at time T5, the light emission control signal SIG1 becomes a low level, and the light emission of the
フォトトランジスタ210が受光を開始してから所定時間(本実施の形態においては、ΔT2−τに相当する)経過するということは、検出電圧Vdetの上昇速度が遅いことを意味し、ひいては光電流Ipが小さいことを意味する。光電流Ipがバイアス電流Ibiasと同程度、あるいはそれよりも低い場合に、第1電流Iq1(=Ip+Ibias)にもとづき、充電キャパシタCchgを充電すると、受光量を正確に積分することができなくなってしまう。
The passage of a predetermined time (corresponding to ΔT2−τ in this embodiment) after the
そこで、本実施の形態に係る受光装置200および発光制御部340は、所定時間(ΔT2−τ)経過後にバイアススイッチSW1をオフすることにより、第1電流Iq1を、光電流Ipと等しく設定し、フォトトランジスタ210による受光量を正確に検出し、発光デバイス330をオフするまでの時間を好適に制御することができる。
Therefore, the
なお、時刻T4においては、第1トランジスタQ1には光電流Ipが流れているため、バイアス電流Ibiasをオフしても、第1トランジスタQ1のバイアス状態が非定電流領域まで下がることはなく、検出端子102の電位Vptrが大幅に変動することもない。 At time T4, since the photocurrent Ip flows through the first transistor Q1, even if the bias current Ibias is turned off, the bias state of the first transistor Q1 does not fall to the non-constant current region, and is detected. The potential Vptr of the terminal 102 does not fluctuate significantly.
さらに、本実施の形態に係る受光装置200および発光制御部340によれば、放電用スイッチSW4およびマスク用スイッチSW3を設けることにより、以下の効果を有する。
Furthermore, according to the
電流検出回路100に電源電圧を与えると、フォトトランジスタ210がバイアスされるため、暗電流が流れたり、あるいは外部から入射する本来受光すべきでない光によって光電流Ipが流れ、充電キャパシタCchgが充電されるおそれがある。そこで、フォトトランジスタ210の受光開始に先立ち、所定の期間、放電用スイッチSW4をオンすることにより、不要な電流によって充電キャパシタCchgが充電されるのを防止するとともに、充電キャパシタCchgに蓄えられた電荷を放電し、検出電圧Vdetを初期値に設定することができる。さらに、フォトトランジスタ210の受光開始に先立ち、マスク用スイッチSW3をオフしておくことにより、第2電流Iq2によって充電キャパシタCchgが充電されるのを防止することができるとともに、回路の消費電流を低減することができる。
When a power supply voltage is applied to the
図7は、本実施の形態に係る発光制御装置302の、発光デバイス330の発光を停止する際の動作を示すタイムチャートである。制御信号CNTがハイレベルとなる時刻T10以前において、Dラッチ回路22はリセットされており、反転出力信号SIG14はハイレベルとなっている。このとき、NANDゲート28の出力信号SIG16はハイレベルであり、発光制御信号SIG1はローレベルとなる。
FIG. 7 is a time chart showing an operation of the light
時刻T10に制御信号CNTがハイレベルとなると、NANDゲート28の出力信号SIG16がローレベル、発光制御信号SIG1がハイレベルとなって、発光制御トランジスタ350がオンする。その後、しばらくすると、発光デバイス330が発光する。
When the control signal CNT becomes high level at time T10, the output signal SIG16 of the
発光デバイス330が発光すると、受光装置200から出力される検出電圧Vdetが上昇し始める。時刻T11に、検出電圧Vdetがしきい値電圧Vthに達すると、コンパレータ20から出力される比較信号SIG12がハイレベルとなり、Dラッチ回路22の反転出力信号SIG14がローレベルとなる。
When the
Dラッチ回路22の反転出力信号SIG14がローレベルとなると、NANDゲート28の出力信号SIG16がハイレベル、発光制御信号SIG1がローレベルとなり、発光制御トランジスタ350がオフし、発光デバイス330の発光が停止する。
When the inverted output signal SIG14 of the
Dラッチ回路22の反転出力信号SIG14は、時刻T11に比較信号SIG12をラッチした後、次に制御信号CNTのネガエッジによってリセットされるまでの期間、ローレベルを保持し続ける。その結果、検出電圧Vdetが変動して、比較信号SIG12が変動した場合でも、発光デバイス330の発光を停止し続けることができる。
The inverted output signal SIG14 of the
時刻T12に、制御信号CNTがハイレベルからローレベルに遷移すると、Dラッチ回路22がリセットされ、反転出力信号SIG14がハイレベルとなる。時刻T12から時刻T13までの期間、発光制御信号SIG1はローレベルである。また、時刻T12から所定時間ΔT1経過後の時刻T13に、遅延回路34の出力信号である第2制御信号CNT2がハイレベルとなる。第2制御信号CNT2がハイレベルとなると、放電用スイッチSW4がオンし、検出電圧Vdetが接地電位に初期化される。その後、時刻T14に制御信号CNTがハイレベルとなり、次の発光が指示される。
When the control signal CNT transits from the high level to the low level at time T12, the
このように、本実施の形態に係る発光制御装置302によれば、コンパレータ20から出力される比較信号SIG12を、Dラッチ回路22を用いてラッチすることにより、検出電圧Vdetがしきい値電圧Vth付近で変動した場合に、発光制御信号SIG1がハイレベルとローレベルを繰り返し、発光デバイス330が発光状態と、発光停止状態を繰り返すのを防止することができる。
As described above, according to the light
また、Dラッチ回路22を、制御信号CNTのネガエッジによってリセットすることにより、発光指示に対応する制御信号CNTのポジエッジが次に入力される前に、発光可能な状態に戻すことができる。
Further, by resetting the
上記実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。 Those skilled in the art will understand that the above-described embodiment is an exemplification, and that various modifications can be made to combinations of the respective constituent elements and processing processes, and such modifications are also within the scope of the present invention. is there.
実施の形態において、コンパレータ20から出力される比較信号SIG12をDラッチ回路22によってラッチしたが、これには限定されず、Dフリップフロップを用いてもよい。また、比較信号SIG12によってセットされ、制御信号CNTのネガエッジによってリセットされるRSフリップフロップを用いてもよい。いずれを用いても、Dラッチ回路22を用いた場合と同様の効果を得ることができる。
In the embodiment, the comparison signal SIG12 output from the
実施の形態において、バイアス電流経路12を直列接続した第1バイアス抵抗Rbias1およびバイアススイッチSW1によって構成したが、これには限定されず、所定の電流を生成する定電流源を用いてもよい。この場合、定電流源をオンオフすることにより、第1トランジスタQ1のバイアス状態を変化させることができる。
In the embodiment, the bias
実施の形態では、受光デバイスとしてフォトトランジスタ210を用いたが、フォトダイオードを代わりに用いてもよい。
In the embodiment, the
実施の形態においてMOSFET、バイポーラトランジスタで構成された素子は、相互に置換することが可能である。これらの選択は、半導体製造プロセスやコスト、回路に求められる使用に応じて決定すればよい。さらに、電源電圧と接地電位を天地反転し、PNPトランジスタとNPNトランジスタ、あるいはPMOSトランジスタとNMOSトランジスタを置換した回路構成も有効である。 In the embodiment, elements composed of MOSFETs and bipolar transistors can be replaced with each other. These selections may be determined according to the semiconductor manufacturing process, cost, and use required for the circuit. Further, a circuit configuration in which the power supply voltage and the ground potential are inverted and the PNP transistor and the NPN transistor or the PMOS transistor and the NMOS transistor are replaced is also effective.
実施の形態においては、受光装置200および発光制御部340が一体集積化される場合について説明したが、一部がディスクリート部品で構成されていてもよい。どの部分を集積化するかは、コストや占有面積、用途などに応じて決めればよい。
In the embodiment, the case where the
本実施の形態に係る電流検出回路100あるいは受光装置200を用いた電子機器300としては、上述の携帯電話端末に限定されるものではなく、照度センサや赤外線通信機器など、フォトダイオードやフォトトランジスタを用いて光を検出する機器に広く用いることができる。
The
10 主電流経路、 12 バイアス電流経路、 20 コンパレータ、 22 Dラッチ回路、 24 ワンショット回路、 26 第1インバータ、 28 NANDゲート、 30 ドライバ回路、 32 第2インバータ、 34 遅延回路、 C20 キャパシタ、 100 電流検出回路、 102 検出端子、 104 容量接続端子、 106 抵抗接続端子、 108 抵抗接続端子、 200 受光装置、 210 フォトトランジスタ、 300 電子機器、 302 発光制御装置、 310 電池、 320 DC/DCコンバータ、 330 発光デバイス、 340 発光制御部、 350 発光制御トランジスタ、 R10 第1抵抗、 R12 第2抵抗、 Q1 第1トランジスタ、 Q2 第2トランジスタ、 Rbias1 第1バイアス抵抗、 Rbias2 第2バイアス抵抗、 SW1 バイアススイッチ、 SW2 バイパススイッチ、 SW3 マスク用スイッチ、 SW4 放電用スイッチ、 Radj 調節抵抗、 Cchg 充電キャパシタ、 CNT1 第1制御信号、 CNT2 第2制御信号、 CNT3 第3制御信号。 10 main current path, 12 bias current path, 20 comparator, 22 D latch circuit, 24 one-shot circuit, 26 first inverter, 28 NAND gate, 30 driver circuit, 32 second inverter, 34 delay circuit, C20 capacitor, 100 current Detection circuit, 102 detection terminal, 104 capacitance connection terminal, 106 resistance connection terminal, 108 resistance connection terminal, 200 light receiving device, 210 phototransistor, 300 electronic device, 302 light emission control device, 310 battery, 320 DC / DC converter, 330 light emission Device, 340 light emission control unit, 350 light emission control transistor, R10 first resistor, R12 second resistor, Q1 first transistor, Q2 second transistor, Rbias1 first bias resistor Anti, Rbias2 second bias resistor, SW1 bias switch, SW2 bypass switch, SW3 mask switch, SW4 discharge switch, Radj adjustment resistor, Cchg charge capacitor, CNT1 first control signal, CNT2 second control signal, CNT3 third control signal.
Claims (6)
前記発光デバイスから発せられた光が外部の物体により反射した光を受光する受光デバイスに接続され、当該受光デバイスに流れる光電流に応じた電流を積分して検出電圧に変換する受光装置と、
前記検出電圧と、前記発光デバイスの発光の指示に先立って所定の第1レベルに遷移し、その後前記第1レベルと異なる第2レベルに遷移する制御信号と、を受け、前記発光デバイスの経路上に設けられた発光制御トランジスタのオン、オフを制御するとともに、前記受光装置の動作を制御する発光制御部と、
を備え、
前記受光装置は、
前記受光デバイスが接続される検出端子と、
そのコレクタエミッタ間の経路もしくはそのドレインソース間の経路に、前記光電流が流れるように、前記光電流の経路上に前記受光デバイスと直列に設けられた第1トランジスタと、
オンオフの制御が可能であり、オン状態において前記第1トランジスタを定電流領域で動作させるためのバイアス電流を生成するバイアス電流経路であって、そのオン状態において前記第1トランジスタに、前記バイアス電流と前記光電流の和の電流が流れるように、前記第1トランジスタと直列に、かつ前記受光デバイスと並列に設けられたバイアス電流経路と、
前記第1トランジスタとともに、前記第1トランジスタが入力側となるようにカレントミラー回路を構成し、前記第1トランジスタに流れる電流を所定係数倍する第2トランジスタと、
を備え、前記第2トランジスタに流れる電流を容量に充電し、前記検出電圧に変換して出力するよう構成され、
前記発光制御部は、
前記検出電圧を所定のしきい値電圧と比較し、前記検出電圧の方が高いとき第3レベル、前記検出電圧の方が低いとき前記第3レベルと異なる第4レベルとなる比較信号を出力するコンパレータと、
前記比較信号が前記第3レベルとなると第5レベルに遷移し、前記制御信号が前記第2レベルとなると前記第5レベルと異なる第6レベルに遷移する出力信号を生成するラッチ回路と、
を備え、
前記発光制御部は、
前記制御信号が前記第1レベルに遷移してから所定時間の間、前記バイアス電流経路をオン状態とし、
前記制御信号が前記第1レベルであり、かつ前記ラッチ回路の出力信号が前記第6レベルであるとき、前記発光制御トランジスタをオンするよう構成されることを特徴とする発光制御装置。 A light emission control device for controlling a light emission state of a light emitting device,
Before Symbol light emitted from the light emitting device is connected to a light receiving device for receiving light reflected by an external object, a light receiving device for converting the detected voltage by integrating the current corresponding to the photocurrent flowing through the light-receiving device,
On the path of the light emitting device, receiving the detection voltage and a control signal that transitions to a predetermined first level prior to the light emission instruction of the light emitting device and then transitions to a second level different from the first level. A light emission control unit for controlling on and off of the light emission control transistor provided in the light receiving device, and for controlling the operation of the light receiving device;
Bei to give a,
The light receiving device is:
A detection terminal to which the light receiving device is connected;
A first transistor provided in series with the light receiving device on the path of the photocurrent so that the photocurrent flows in a path between the collector and emitter or a path between the drain and source;
On-off control is possible, and a bias current path for generating a bias current for operating the first transistor in a constant current region in an on state, the bias current being applied to the first transistor in the on state A bias current path provided in series with the first transistor and in parallel with the light receiving device so that a sum of the photocurrents flows;
A second transistor configured to form a current mirror circuit together with the first transistor so that the first transistor is on an input side, and to multiply a current flowing through the first transistor by a predetermined coefficient;
Comprises charging a capacitor with a current flowing through the second transistor, converting the current into a detection voltage, and outputting the detected voltage.
The light emission control unit
The detection voltage is compared with a predetermined threshold voltage, and a comparison signal that outputs a third level when the detection voltage is higher and a fourth level different from the third level when the detection voltage is lower is output. A comparator,
A latch circuit that generates an output signal that transitions to a fifth level when the comparison signal reaches the third level and that transitions to a sixth level that differs from the fifth level when the control signal reaches the second level ;
With
The light emission control unit
The bias current path is turned on for a predetermined time after the control signal transitions to the first level,
A light emission control device configured to turn on the light emission control transistor when the control signal is at the first level and the output signal of the latch circuit is at the sixth level .
前記発光デバイスの駆動電圧を生成する昇圧回路を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の発光制御装置。 The light emission control device further includes
Emission control device according to any one of claims 1-3, characterized in that it comprises a booster circuit for generating a driving voltage of the light emitting device.
前記発光デバイスの発光状態を制御する請求項1から5のいずれかに記載の発光制御装置と、
を備えることを特徴とする電子機器。 A light emitting device;
The light emission control device according to any one of claims 1 to 5 , which controls a light emission state of the light emitting device;
An electronic device comprising:
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