JP5056856B2 - 論理回路モデルの検証方法及び装置 - Google Patents
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Description
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値Aと、第1の論理値Aのそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値Bとの組み合わせによるテストパターンを与えるステップと、
論理回路モデルを用いて論理演算を行い、論理回路モデルの出力を算出するステップと、
論理回路モデルの出力とテストパターンに対する期待値とを比較するステップと、
論理回路モデルの出力と期待値とが等しい場合には、論理回路モデルの動作が正しいと判断するステップとを有することを特徴とする。
第1の不定値Xとは異なる第2の不定値を表す第3の論理値Kを有し、
第3の論理値Kは、
論理積演算回路(ANDゲート)における一の入力の論理値が0である場合に、論理積演算回路の他の入力の論理値として第3の論理値Kが入力されたとき、論理積演算回路が0を出力し、
論理積演算回路における一の入力の論理値が1、第1の不定値X又は高インピーダンスZのいずれかである場合に、論理積演算回路の他の入力の論理値として第3の論理値Kが入力されたとき、論理積演算回路が第3の論理値Kを出力する。
第1の不定値Xとは異なる第2の不定値を表す第3の論理値Kを有し、
第3の論理値Kは、
論理和演算回路(ORゲート)における一の入力の論理値が1である場合に、論理和演算回路の他の入力の論理値として第3の論理値Kが入力されたとき、論理和演算回路が1を出力し、
論理和演算回路における一の入力の論理値が0、第1の不定値X又は高インピーダンスZのいずれかである場合に、論理和演算回路の他の入力の論理値として第3の論理値Kが入力されたとき、論理和演算回路が第3の論理値Kを出力する。
第1の不定値Xとは異なる第2の不定値を表す第3の論理値Kを有し、
第3の論理値Kは、
排他的論理和演算回路(EORゲート)における一の入力の論理値が0、1、第1の不定値X又は高インピーダンスZのいずれかである場合に、排他的論理和演算回路の他の入力の論理値として第3の論理値Kが入力されたとき、排他的論理和演算回路が第3の論理値Kを出力する。
第1の不定値Xとは異なる第2の不定値を表す第3の論理値Kを有し、
第3の論理値Kは、
2つの出力を結合した場合における出力の論理値を演算するドット演算において、
一の出力が0、1、第1の不定値X又は高インピーダンスZのいずれかである場合に、第3の論理値Kを他の出力の論理値としたときに第3の論理値Kが出力される。
本発明は論理回路モデルの検証装置を提供する。本発明は、論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、論理回路モデルの出力とテストパターンに対する期待値とを比較して論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの動作検証装置において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値Aと、第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値Bとの組み合わせによるテストパターンを与えるスケジュール部と、
論理回路モデルを用いて論理演算を行い、論理回路モデルの出力を算出する出力算出部と、
論理回路モデルの出力とテストパターンに対する期待値とを比較する比較部と、
論理回路モデルの出力と期待値とが等しい場合には、論理回路モデルの動作が正しいと判断する判断部とを有することを特徴とする。
(0,K)=(K,0)=0
となっている。それ以外の特殊ステートKとの組合せの入力については、すべて出力が特殊ステートKとなっている。
(1,K)=(K,1)=1
となっている。それ以外の特殊ステートKと通常のステート0,Z,X,1の入力の組合せについては、出力はすべて特殊ステートKとなっている。
「ソース104の出力ピン114からターゲット112の入力ピン116に逆極性で活性化しているか?」
が設定されていたとする。
「ソース132の出力ピン138からターゲット136−1〜136−Nのすべての入力ピン140−1〜140−Nに逆極性で活性化しているか?」
を設定したとする。
「ターゲット126の入力ピン130は、ソース118の出力ピン128をドライバとしているか?」
が設定されたとする。
(1)シミュレーション値のスケジュール、
(2)シミュレーションの実行、
の2段階に分けた処理を行う。
「ST=100に0をスケジュール:Schd(100,0)」
であったとすると、実行段数を管理する時刻管理テーブル156の現時刻をイベントテーブル158に登録する。
「登録イベントを1段実行:Exec(1)」
の処理となり、この登録イベントの1段の実行により、ステーションテーブル160−2に示すように、ST=100のステート値にスケジュールされた値「0」が反映される。
(1)指定された時刻(実行段数)のシミュレーションを実施、
(2)イベントテーブルが空、
のどちらにも当てはまらない場合は、図20のステップS2に戻り、処理を繰り返し、両方に当てはまった場合はシミュレーション処理を終了する。
UNIX(R)用サーバプロセッサ(SPARC64−V)
検証内容:
LSIスキャン回路設計規則(JTAG仕様に準拠したスキャン制御検証)
シミュレーション結果:
検証時間は従来比の2.5倍短縮(従来比の65%に短縮)、検証効率は制御性(制御言語記述量)を従来に対し18%削減
Claims (8)
- 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの検証方法において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンをコンピュータによって構成したスケジュール部により与えるステップと、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力をコンピュータによって構成した出力算出部により算出するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とをコンピュータによって構成した比較部により比較するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいとコンピュータによって構成した判断部によって判断するステップとを有し、
前記第3の論理値は、
論理積演算回路における一の入力の論理値が0である場合に、前記論理積演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理積演算回路が0を出力し、
前記論理積演算回路における一の入力の論理値が1、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記論理積演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理積演算回路が前記第3の論理値を出力することを特徴とする検証方法。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの検証方法において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンをコンピュータによって構成したスケジュール部により与えるステップと、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力をコンピュータによって構成した出力算出部により算出するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とをコンピュータによって構成した比較部により比較するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいとコンピュータによって構成した判断部によって判断するステップとを有し、
前記第3の論理値は、
論理和演算回路における一の入力の論理値が1である場合に、前記論理和演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理和演算回路が1を出力し、
前記論理和演算回路における一の入力の論理値が0、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記論理和演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理和演算回路が前記第3の論理値を出力することを特徴とする検証方法。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの検証方法において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンをコンピュータによって構成したスケジュール部により与えるステップと、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力をコンピュータによって構成した出力算出部により算出するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とをコンピュータによって構成した比較部により比較するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいとコンピュータによって構成した判断部によって判断するステップとを有し、
前記第3の論理値は、
前記排他的論理和演算回路における一の入力の論理値が0、1、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記排他的論理和演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記排他的論理和演算回路が前記第3の論理値を出力することを特徴とする検証方法。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの検証方法において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンをコンピュータによって構成したスケジュール部により与えるステップと、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力をコンピュータによって構成した出力算出部により算出するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とをコンピュータによって構成した比較部により比較するステップと、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいとコンピュータによって構成した判断部によって判断するステップとを有し、
前記第3の論理値は、
2つの出力を結合した場合における前記出力の論理値を演算するドット演算において、
一の出力が0、1、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記第3の論理値を他の出力の論理値としたときに前記第3の論理値が出力されることを特徴とする検証方法。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの動作検証装置において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンを与えるスケジュール部と、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力を算出する出力算出部と、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較する比較部と、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいと判断する判断部とを有し、
前記第3の論理値は、
論理積演算回路における一の入力の論理値が0である場合に、前記論理積演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理積演算回路が0を出力し、
前記論理積演算回路における一の入力の論理値が1、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記論理積演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理積演算回路が前記第3の論理値を出力することを特徴とする動作検証装置。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの動作検証装置において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンをコンピュータによって構成したスケジュール部により与えるステップと、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力を算出する出力算出部と、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較する比較部と、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいと判断する判断部とを有し、
前記第3の論理値は、
論理和演算回路における一の入力の論理値が1である場合に、前記論理和演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理和演算回路が1を出力し、
前記論理和演算回路における一の入力の論理値が0、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記論理和演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記論理和演算回路が前記第3の論理値を出力することを特徴とする検証装置。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの動作検証装置において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンを与えるスケジュール部と、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力を算出する出力算出部と、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較する比較部と、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいと判断する判断部とを有し、
前記第3の論理値は、
前記排他的論理和演算回路における一の入力の論理値が0、1、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記排他的論理和演算回路の他の入力の論理値として前記第3の論理値が入力されたとき、前記排他的論理和演算回路が前記第3の論理値を出力することを特徴とする動作検証装置。 - 論理回路モデルの入力に所定の論理値の組み合わせによるテストパターンを与え、前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較して前記論理回路モデルの動作を検証する論理回路モデルの動作検証装置において、
論理回路モデルに、0又は1を表す第1の論理値と、前記第1の論理値のそれぞれに対応する反転値として1又は0を表す第2の論理値と、通常の不定値である第1の不定値より強い第2の不定値を表す第3の論理値の組み合わせによるテストパターンを与えるスケジュール部と、
前記論理回路モデルを用いて論理演算を行い、前記論理回路モデルの出力を算出する出力算出部と、
前記論理回路モデルの出力と前記テストパターンに対する期待値とを比較する比較部と 、
前記論理回路モデルの出力と前記期待値とが等しい場合には、前記論理回路モデルの動作が正しいと判断する判断部とを有し、
前記第3の論理値は、
2つの出力を結合した場合における前記出力の論理値を演算するドット演算において、
一の出力が0、1、第1の不定値又は高インピーダンスのいずれかである場合に、前記第3の論理値を他の出力の論理値としたときに前記第3の論理値が出力されることを特徴とする動作検証装置。
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