JP4968380B2 - 接触状態検出方法、タッチパネル装置、及び、表示装置 - Google Patents

Description

本発明は、接触状態検出方法、抵抗膜式タッチパネル装置、及び、表示装置、特に、同時に押圧された２点の２点間距離情報をも検出する、接触状態検出方法、抵抗膜式タッチパネル装置、及び、表示装置に関する。

抵抗膜式として知られるタッチパネル装置は、間隙を設けて対向配置された押圧側の基板及び裏側の基板の互いに対向する面に、それぞれ押圧側抵抗膜及び裏側抵抗膜を設けた構成を有する。押圧側基板が、押圧側抵抗膜が形成されている面と反対側の面側からタッチされることにより押圧されて撓むと、押圧側抵抗膜と裏側抵抗膜とが局部的に接触し、押圧側抵抗膜と裏側抵抗膜は、その接触点において電気的に導通する。このような抵抗膜式のタッチパネル装置では、駆動回路により押圧側抵抗膜の両端間と裏側抵抗膜の両端間とに交互に電圧を印加し、前記接触点における導通に基づき、当該接触点の位置をタッチ位置として検出する。

前記の様な抵抗膜式のタッチパネル装置は、タッチ箇所（押圧箇所）が１点であることを前提にして接触点を演算導出している。したがって、複数点が同時に押圧された場合、前記一対の抵抗膜が複数の接触点で導通するため、それらの点の中間の位置が押圧されたという誤った検出をする。そこで、例えば特許文献１には、複数点が押圧されると、例えば前記押圧側抵抗膜の両端間の抵抗値が低下する現象を利用して、複数点が押圧されたことを判定する技術が開示されている。

前記特許文献１に開示されているタッチパネル装置においては、誤検出を防止することを目的として、複数点が押圧されたことを判定している。これに対して、様々な操作を実現するための入力手段として、複数点が同時に押圧されていることを有意な情報として取得するタッチパネル装置が求められている。特に２点が同時に押圧された場合の２点間距離情報を検出することは有意義である。

特開平８−２４１１６１号公報

そこで本発明は、予め定めた領域の２点が同時に押圧された場合の２点間距離情報を検出することができる、接触状態検出方法、抵抗膜式タッチパネル装置、及び、表示装置を提供することを目的とする。

前記目的を果たすため、本発明の接触状態検出方法の一態様は、第１の抵抗膜の第１の方向における両端間に予め定めた値の電圧を印加し且つ第２の抵抗膜の第２の方向における両端のうちの一方端を開放した第１の状態で、前記第２の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第１の電位として計測する第１ステップと、前記第２の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの一方端を開放した第２の状態で、前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第２の電位として計測する第２ステップと、前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記他方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第３の状態で、前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を第３の電位として計測する第３ステップと、前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記一方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第４の状態で、前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を第４の電位として計測する第４ステップと、前記第１の電位、前記第２の電位、前記第３の電位及び前記第４の電位に基づいて、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して２点で接触するときの前記２点間の距離情報を導出する第５ステップと、を含むことを特徴とする。

また、前記目的を果たすため、本発明の抵抗膜式タッチパネル装置の一態様は、互いに対向するように配置された第１の抵抗膜と第２の抵抗膜とを有するタッチパネルと、前記第１の抵抗膜の第１の方向における両端間に予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第２の抵抗膜の第２の方向における両端のうちの一方端を開放した第１の状態で、前記第２の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第１の電位として計測し、前記第２の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの一方端を開放した第２の状態で、前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第２の電位として計測し、前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記他方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第３の状態で、前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を第３の電位として計測し、前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記一方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第４の状態で、前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を第４の電位として計測し、前記第１の電位、前記第２の電位、前記第３の電位及び前記第４の電位に基づいて、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して２点で接触するときの前記２点間の距離情報を導出する、駆動回路と、を具備することを特徴とする。

また、前記目的を果たすため、本発明の表示装置の一態様は、画像を表示する表示パネルと、第１の抵抗膜と第２の抵抗膜が対向するように配置されたタッチパネルと、前記第１の抵抗膜の第１の方向における両端間に予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第２の抵抗膜の第２の方向における両端のうちの一方端を開放した第１の状態で、前記第２の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第１の電位として計測し、前記第２の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの一方端を開放した第２の状態で、前記第１の抵抗膜１３の前記両端のうちの他方端での電位を第２の電位として計測し、前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記他方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第３の状態で、前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を第３の電位として計測し、前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記一方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第４の状態で、前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を第４の電位として計測し、前記第１の電位、前記第２の電位、前記第３の電位及び前記第４の電位に基づいて、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して２点で接触するときの前記２点間の距離情報を導出する、駆動回路と、を具備することを特徴とする。

本発明によれば、予め定めた領域の２点が同時に押圧された場合の２点間距離情報を検出することができる。

タッチパネル装置を備えた表示装置の構成例を示す側面図。 タッチパネルの構成例を示す拡大断面図。 タッチパネル装置の全体構成の例を示す図。 タッチパネルの一部分がタッチされたときの当該タッチパネルの状態を説明する為の断面図。 タッチパネルへのタッチ位置を検出する処理を説明するためのフローチャート。 駆動回路により設定される第１の状態を説明する為の回路図。 第１の状態で検出される電位を説明する為の図。 駆動回路により設定される第２の状態を説明する為の回路図。 第２の状態で検出される電位を説明する為の図。 駆動回路により設定される第３の状態を説明する為の回路図。 第３の状態で１点がタッチされた場合に検出される電位の一例であり、記憶部が記憶するＹＵ接地テーブルの一例を示す図。 第３の状態で２点がタッチされた場合に検出される電位を説明する為の図。 検出される電位とＹＵ接地テーブルの値の差の判定を説明する為の図。 駆動回路により設定される第４の状態を説明する為の回路図。 第４の状態で１点がタッチされた場合に検出される電位の一例であり、記憶部が記憶するＹＤ接地テーブルの一例を示す図。 第４の状態で２点がタッチされた場合に検出される電位を説明する為の図。 検出される電位とＹＤ接地テーブルの値の差の判定を説明する為の図。 記憶部に予め記憶されているマルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブルの一例を示す図。 検出される電位とマルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブルの値の差を説明する為の図。 図１９に示した値と第３の閾値とを比較した結果を説明する為の図。 記憶部に予め記憶されているマルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブルの一例を示す図。 検出される電位とマルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブルの値の差を説明する為の図。 図２２に示した値と第４の閾値とを比較した結果を説明する為の図。 図２０に示した値と図２３に示した値とを比較した結果を説明する為の図である。 本発明の抵抗膜式タッチパネル装置の応用例を説明する為の図。 駆動回路における状態切り換えスイッチの一例を示す図。

本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。
図１は、本発明のタッチパネル装置２を表示装置１に装着した場合の概略側面図である。表示装置１は、画像表示領域９０ａに画像が表示される表示パネル９０と、この表示パネル９０の画像表示領域９０ａにタッチ検出領域１０ａが対向するように配置されたタッチパネル装置２とにより構成されている。ここで、タッチパネル装置２は、表示パネル９０に対して、ユーザが画像表示領域９０ａに表示される画像を観察する側に配置される。

前記表示パネル９０は、画像表示領域９０ａに複数の画素が配列されているものであり、例えばアクティブマトリクス型の液晶表示パネル９０である。アクティブマトリクス型の液晶表示パネル９０は、予め定めた間隙を設けて対向配置され、周縁部において枠状のシール材９４を介して接合されたガラス等からなる透明な一対の基板９２，９３を有する。また、一対の基板９２，９３は、一対の偏光板９５，９６によって挟持されている。ここで、以後において、一対の基板９２，９３のうち、タッチパネル装置２に近い側に配置される基板を観察側基板９２として、また、タッチパネル装置２から遠い側に配置される基板を裏面側基板９３として、表記する。さらに、一対の偏光板９５，９６のうち、タッチパネル装置２に近い側に配置される偏光板を観察側偏光板９５として、また、タッチパネル装置２から遠い側に配置される偏光板を裏面側偏光板９６として、表記する。

そして、観察側基板９２の裏面側基板９３と対向する面には、酸化インジウム錫（ＩＴＯ）などの透明な導電材料からなる一枚膜状の共通電極が形成されている。また、裏面側基板９３の観察側基板９２と対向する面には、薄膜トランジスタに接続された画素電極が共通電極に対向するように複数設けられている。そして、観察側基板９２と裏面側基板９３との間の間隙のうち、シール材９４により囲まれた領域には、液晶が封入されている。即ち、アクティブマトリクス型の液晶表示パネル９０は、薄膜トランジスタに接続された画素電極とこの画素電極に対向する共通電極との間に液晶層が設けられた画素が、画像表示領域９０ａに複数配列された構成になっている。そして、画素電極と共通電極との間の電位差が制御されることによって液晶の配向状態が変化し、これによって、表示パネル９０を通過する光の透過光量を画素毎に制御可能に構成されている。

ところで、液晶層の配向モードは、ツイステッドネマティック型、スーパーツイステッドネマティック型、非ツイストのホモジニアス型、垂直配向型、ベンド配向型の何れでもよい。また、液晶層として封入される液晶は、誘電率異方性が正のものであってもよいし負のものであってもよい。さらには、強誘電性液晶であってもよいし、反強誘電性液晶であってもよい。表示パネル９０は、縦電界によって液晶の配向状態を制御するものに限らず横電界によって液晶の配向状態を制御するものであってもよい。さらに、表示パネル９０は、液晶表示パネルに限らず、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）等を用いた表示パネルであってもよい。

タッチパネル装置２は、タッチ検出領域１０ａが設けられたタッチパネル１０と、タッチ検出領域１０ａへのタッチ位置を検出する駆動回路８０と、を有している。
タッチパネル１０は、透明な材料からなる一対の基板１１，１２を有している。ここで、以後は、一対の基板１１，１２のうち、表示パネル９０から遠い側に配置される基板を第１の基板１１として、また、表示パネル９０に近い側に配置される基板を第２の基板１２として、表記する。

なお、タッチパネル１０は、表示パネル９０における観察側偏光板９５に対して第２の基板１２が透明な粘着材または樹脂等からなる接着層９７により貼り合わされることによって、表示パネル９０と一体化されている。

タッチパネル１０の構成について更に説明する。第１の基板１１は、例えば矩形形状に形成されたガラス板または樹脂フィルム等である。第２の基板１２は、例えば第１の基板１１とほぼ同じ大きさの矩形形状に形成されたガラス板等である。
図２に示すように、第２の基板１２の第１の基板１１と対向する面には、例えば酸化インジウム錫（ＩＴＯ）からなる透明な第２の抵抗膜１４が形成されている。

一方、第１の基板１１の第２の基板１２と対向する面には、透明な絶縁材料からなる複数の突起部１５が形成されている。複数の突起部１５は、基板平面において直交する２方向の何れの方向においても突起部１５の配置間隔が間隔Ｐ１で等間隔になるように（ただし、後述するスペーサ１７が配置される位置を除く）、タッチ検出領域１０ａに対応させてマトリクス状に配列されている。また、複数の突起部１５の高さは、互いに等しくなるように形成されている。

そして、第１の基板１１上には、これら複数の突起部１５を覆うようにして、例えば酸化インジウム錫（ＩＴＯ）からなる透明な第１の抵抗膜１３が形成されている。ここで、第１の抵抗膜１３と第２の抵抗膜１４は、タッチ検出領域１０ａよりも広い範囲にわたって形成されている。

また、第１の基板１１には、第１の抵抗膜１３上に透明な絶縁材料からなる複数のスペーサ１７が形成されている。複数のスペーサ１７は、配置間隔Ｐ２が突起部１５の配置間隔Ｐ１の整数倍になるように、且つ、それぞれのスペーサ１７が隣接する２つの突起部１５の中間に位置するように、マトリクス状に配列されている。

換言すると、第１の抵抗膜１３下に原則的には間隔Ｐ１毎に突起部１５が配置されるが、例外的に間隔Ｐ２毎に突起部１５が配置されず、代わりにその位置に、第１の抵抗膜１３上ではあるが、１つのスペーサ１７が配置されている。

なお、複数のスペーサ１７の高さは、互いに等しくなるように形成されているとともに、突起部１５の高さよりも高く形成されている。したがって、第１の基板１１に対して第２の基板を、第１の抵抗膜１３と第２抵抗膜１４とが対向するように重ね合わせると、スペーサ１７の頂部が第２の抵抗膜１４に接触する。このため、スペーサ１７によって、これら２枚の基板が互いに平行な状態に保たれる。またこのとき、第２の抵抗膜１４は、突起部１５の頂部を覆う領域の第１の抵抗膜１３との間に、突起部１５の高さとスペーサ１７の高さの差に応じたギャップΔｄが形成される。

そして、第１の基板１１と第２の基板１２は、タッチ検出領域を囲むように枠状に塗布されたシール材１０ｂによって、上述のような状態になるように貼り合わされている。なお、枠状のシール材１０ｂによって囲まれることで形成された空間には、絶縁性の液体２０が満たされている。この絶縁性の液体２０は、第１の基板１１、第２の基板１２、第１の抵抗膜１３、及び第２の抵抗膜１４との間の光の屈折率の差を空気よりも小さくするためのものであり、例えば基板１１，１２との間の光の屈折率の差が、０．１以下となるような液体であることが好ましい。

ところで、第１の基板１１と第２の基板１２は、互いの対向面にベースコートとして予めＳｉＯ_２膜を成膜しておくことが好ましい。即ち、第２の基板１２の第１の基板１１と対向する面には、ベースコートとしてＳｉＯ_２膜が成膜された後に第２の抵抗膜１４が形成されることが好ましい。また、第１の基板１１の第２の基板１２と対向する面には、ベースコートとしてＳｉＯ_２膜が成膜された後に突起部１５が形成されることが好ましい。

この様な構成により、当該タッチパネル１０において、外面側から第１の基板１１がタッチにより押圧されると、押圧された位置に対応する領域の第１の基板１１が第２の基板１２側に向かって撓み、この領域に位置する第１の抵抗膜１３が突起部１５の頂部で第２の抵抗膜１４に接触する。その結果、第１の抵抗膜１３と第２の抵抗膜１４は、押圧された位置に対応する領域で電気的に導通する。そして、駆動回路８０は、この電気的導通に基づいて、後に詳述するようにして、押圧（タッチ）された位置を検出する。

図３に示すように平面形状が矩形形状に形成されたタッチパネル１０の各辺のうち、左右方向に延伸する辺と平行な方向をＸ軸方向、上下方向に延伸する辺と平行な方向をＹ軸方向として以下説明する。

第１の抵抗膜１３には、Ｘ軸方向の両端にＹ軸方向に沿う帯状の低抵抗な電極が形成されている。即ち、第１の抵抗膜１３には、Ｘ軸方向の一方の縁部（紙面左側）に帯状の左端電極１８ａが第１のＸ軸電極として形成され、Ｘ軸方向の他方の縁部（紙面右側）に帯状の右端電極１８ｂが第２のＸ軸電極として形成されている。左端電極１８ａと右端電極１８ｂとにおけるＹ軸方向の長さは、第１の抵抗膜１３のＹ軸方向の長さに等しい。

また、第２の抵抗膜１４には、Ｙ軸方向の両端にＸ軸方向に沿う帯状の低抵抗な電極が形成されている。即ち、第２の抵抗膜１４には、Ｙ軸方向の一方の縁部（紙面上側）に帯状の上端電極１９ａが第１のＹ軸電極として形成され、Ｙ軸方向の他方の縁部（紙面下側）に帯状の下端電極１９ｂが第２のＹ軸電極として形成されている。上端電極１９ａと下端電極１９ｂとにおけるＸ軸方向の長さは、第２の抵抗膜１４のＸ軸方向の長さに等しい。

左端電極１８ａは、端子ＸＬを介して駆動回路８０に接続されている。右端電極１８ｂは、端子ＸＲを介して駆動回路８０に接続されている。上端電極１９ａは、端子ＹＵを介して駆動回路８０に接続されている。下端電極１９ｂは、端子ＹＤを介して駆動回路８０に接続されている。

駆動回路８０は、電圧源３２、電位計測部３３、制御部３５、及びメモリ等の記憶部３７を有している。
電圧源３２は、端子ＸＲを介して右端電極１８ｂに、又は端子ＹＵを介して上端電極１９ａに印加する電圧の電圧源である。また、電位計測部３３は、端子ＸＲを介して右端電極１８ｂの、端子ＹＵを介して上端電極１９ａの、又は端子ＹＤを介して下端電極１９ｂの電位を計測するための電位計である。電位計測部３３は、例えばＡ／Ｄ変換器であり、電位のデジタル値を制御部３５に出力する。制御部３５は、タッチパネル装置２の全体を制御するものであり、また、タッチされた位置の検出のための演算を行う演算部としても機能する。記憶部３７は、後に説明する「第１状態タッチテーブル４２」、「第２状態タッチテーブル４４」、「ＹＵ接地テーブル５２」、「ＹＤ接地テーブル５４」、「マルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６」、「マルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブル５８」等が予め記憶されているものである。

次に、本実施形態に係るタッチパネル装置２の動作について説明する。タッチパネル１０は、外面側から第１の基板１１が指先９９等でタッチされることによって押圧されると、図４に示すように、押圧された位置に対応する領域の第１の基板１１が第２の基板１２側に向かって撓む。このとき、この領域に位置する第１の抵抗膜１３が突起部１５の頂部で第２の抵抗膜１４に接触する。その結果、第１の抵抗膜１３と第２の抵抗膜１４は、押圧された位置に対応する領域で電気的に導通する。

なお、図４においては、説明しやすいように、突起部１５等の縮尺が実際とは異なり大きく強調されている。また、図４においては、指先によって第１の基板１１が押圧される事で、１つの突起部１５上で、第１の抵抗膜１３が第２の抵抗膜１４に対して接触する図となっているが、１箇所が押圧されたときに互いに隣接した複数の突起部１５上で、第１の抵抗膜１３が第２の抵抗膜１４に対して接触する場合も、以降の説明は同じである。

以下、タッチされた位置の検出方法について図５に示すフローチャートを参照して説明する。本検出方法では、タッチ検出領域に対して１点がタッチされたか、２点が同時にタッチされたかを判定することができる。更に、２点が同時にタッチされた場合に、その２点間の距離情報をも検出することができる。即ち、第１の抵抗膜１３と第２の抵抗膜１４との間の接触状態として１点が接触しているのか、２点が同時に接触しているのかを判定することができる。更に、２点が同時に接触している場合に、その２点間の距離情報をも検出することができる。

まず、ステップＳ１において、制御部３５は、図６に示す様に、端子ＸＬを接地し、端子ＸＲに電圧源３２を接続して電圧を印加する。同時に、端子ＹＤには何も接続せず、端子ＹＵに電位計測部３３を接続する。この状態を第１の状態と呼ぶことにする。即ち、第１の状態では、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向における両端１８ａ，１８ｂ間に電圧が印加され、且つ、第２の抵抗膜１４のＹ軸方向における両端のうちの一方端１９ｂが開放された状態になっている。そして、電位計測部３３は、第２の抵抗膜１４のＹ軸方向における両端のうちの他方端１９ａでの電位を計測可能に接続されている。

ここで、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向について、左端電極１８ａが設置されている側の端のＸ座標の値を０、右端電極１８ｂが設置されている側の端のＸ座標の値を１、１点がタッチされた場合の当該タッチされた位置のＸ座標の値をｘ、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向の両端間の抵抗値をｒｘ、電位計測部３３の内部抵抗値をＲとする。第１の状態において、電圧源３２によって第１の抵抗膜１３のＸ軸方向の両端間に印加する電圧をＶ０とすると、電位計測部３３が計測する電位Ｖ（ｘ）は、ｒｘ≪Ｒであるため、
Ｖ（ｘ）＝Ｖ０・ｘ ・・・（１）
で表すことができる。この様にして、第１の状態では、タッチ位置が一点のみであれば、電位計測部３３により計測される電位Ｖ（ｘ）に基づいて、このタッチされた１点のＸ座標の値が検出され得る。

本実施形態の説明では、以後、例として、タッチパネル１０のタッチ検出領域１０ａをＸ軸方向に６区画（Ｘ１−Ｘ６）、Ｙ軸方向に８区画（Ｙ１−Ｙ８）に区切ったマトリクスによって表される座標を用いて説明する。なお、Ｘ軸方向において、Ｘ１を左端電極１８ａ側とし、Ｘ６を右端電極１８ｂ側とする。Ｙ軸方向において、Ｙ１を上端電極１９ａ側とし、Ｙ８を下端電極１９ｂ側とする。そして、この例では、電圧源の電圧を５．０Ｖとしたときに計測される電位の例を示しながら説明する。

前記第１の状態においてタッチ検出領域１０ａに対して１点のみがタッチされた場合の、タッチ位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係の例を図７に示す。図７に示す通り、Ｘ軸方向に対しては、タッチ位置に応じて互いに異なる電位を検出することができるため、１点のみがタッチされるのであれば、電位計測部３３によって計測される電位によって、制御部３５は、タッチされた位置のＸ座標の値を確定することができる。

しかし、前記第１の状態で同時に２点がタッチされた場合、電位計測部３３によって計測される電位は、図７と同様な電位が計測されるため、この段階では、制御部３５は、１点のみがタッチされたのか２点がタッチされたのかが確定できない。したがって、この段階では、実際には１点のみがタッチされていた場合であっても、制御部３５は、タッチされた位置のＸ座標の値を確定することができない。

即ち、前記第１の状態で同時に２点がタッチされた場合、電位計測部３３によって計測される電位は、タッチされた２点の中間の位置がこの位置１点のみとしてタッチされたときの電位と等しくなるため、この段階では、制御部３５は、１点がタッチされたのか２点がタッチされたのかが確定できない。例えば、座標（Ｘ５、Ｙ１）と座標（Ｘ３，Ｙ７）の２点が同時にタッチされた場合、電位計測部３３によって計測される電位は、Ｘ４に対応する１点のみがタッチされたときと同じ２．９Ｖとなる。

ところで、ステップＳ１において、制御部３５は、１点がタッチされたか２点が同時にタッチされたかに関わらず、第１の状態で電位計測部３３によって計測される電位Ｖ（Ｘ０）を取得する。そして、制御部３５は、取得した電位Ｖ（Ｘ０）と前記式（１）とに基づいてＸ座標の値Ｘ０を第１の参照データとして導出する。ここでＸ０は、１点がタッチされていた場合は当該タッチされた位置のＸ座標の値を、２点が同時にタッチされていた場合は当該タッチされた２点の中間の位置におけるＸ座標の値を示すことになる。

なお、Ｘ座標の値Ｘ０は、取得した電位Ｖ（Ｘ０）と前記式（１）とに基づいて求めることに限定されない。例えば、第１の状態においてタッチ検出領域１０ａに対して１点のみがタッチされた場合の、タッチ位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係を、図７に示したような第１状態タッチテーブル４２として予め取得し、このテーブルを記憶部３７に記憶させておく。制御部３５は、この第１状態タッチテーブル４２を参照して、取得した電位Ｖ（Ｘ０）に基づきＸ座標の値Ｘ０を導出しても良い。

次にステップＳ２において、制御部３５は、図８に示す様に、端子ＹＵに電圧源３２を接続して５Ｖの電圧を印加し、端子ＹＤを接地する。また同時に、端子ＸＬには何も接続せず、端子ＸＲに電位計測部３３を接続する。この状態を第２の状態と呼ぶことにする。即ち、第２の状態では、第２の抵抗膜１４におけるＹ軸方向の両端１９ａ，１９ｂ間に電圧が印加され、且つ、第１の抵抗膜１３におけるＸ軸方向の両端のうちの一方端１８ａが開放された状態になっている。そして、電位計測部３３は、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向における両端のうちの他方端１８ｂでの電位を計測可能に接続されている。

ここで、第１の抵抗膜１３のＹ軸方向について、上端電極１９ａが設置されている側の端のＹ座標の値を０、下端電極１９ｂが設置されている側の端のＹ座標の値を１、１点がタッチされた場合の当該タッチされた位置のＹ座標の値をｙ、第１の抵抗膜１３のＹ軸方向の両端間の抵抗値をｒｙ、電位計測部３３の内部抵抗値をＲとする。第２の状態において、電圧源３２によって第１の抵抗膜１３のＹ軸方向の両端間に印加する電圧をＶ０とすると、電位計測部３３が計測する電位Ｖ（ｙ）は、ｒｙ≪Ｒであるため、
Ｖ（ｙ）＝Ｖ０・ｙ ・・・（２）
で表すことができる。この様にして、第２の状態では、タッチ位置が一点のみであれば、電位計測部３３により計測される電位に基づいて、このタッチされた１点のＹ座標の値が検出され得る。

第２の状態においてタッチ検出領域１０ａに対して１点のみがタッチされた場合の、図７と同様なタッチした位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係の例を図９に示す。図９に示す通り、Ｙ軸方向に対しては、タッチ位置に応じて互いに異なる電位を検出することができるため、１点のみがタッチされるのであれば、電位計測部３３によって計測される電位によって、制御部３５は、タッチされた位置のＹ座標の値を確定することができる。

しかし、前記第２の状態で同時に２点がタッチされた場合、電位計測部３３によって計測される電位は、図９と同様な電位が計測されるため、この段階では、制御部３５は、１点のみがタッチされたのか２点がタッチされたのかが確定できない。したがって、この段階では、実際には１点のみがタッチされていた場合であっても、制御部３５は、タッチされた位置のＹ座標位置を確定することができない。

即ち、前記第２の状態で同時に２点がタッチされた場合、電位計測部３３によって計測される電位は、タッチされた２点の中間の位置がこの位置１点のみとしてタッチされたときの電位と等しくなるため、この段階では、制御部３５は、１点がタッチされたのか２点がタッチされたのかが確定できない。例えば、座標（Ｘ５、Ｙ１）と座標（Ｘ３，Ｙ７）の２点が同時にタッチされた場合、電位計測部３３によって計測される電位は、Ｙ４に対応する１点のみがタッチされたときと同じ２．８Ｖとなる。

ところで、ステップＳ２において、制御部３５は、１点がタッチされたか２点が同時にタッチされたかに関わらず、第２の状態で電位計測部３３によって計測される電位Ｖ（Ｙ０）を取得する。そして、制御部３５は、取得した電位Ｖ（Ｙ０）と前記式（２）とに基づいてＹ座標の値Ｙ０を第２の参照データとして導出する。ここでＹ０は、１点がタッチされていた場合は当該タッチされた位置のＹ座標を、２点が同時にタッチされていた場合は当該タッチされた２点の中間の位置におけるＹ座標の値を示すことになる。

なお、Ｙ座標の値Ｙ０は、取得した電位Ｖ（Ｙ０）と前記式（２）とに基づいて求めることに限定されない。例えば、第２の状態においてタッチ検出領域１０ａに対して１点のみがタッチされた場合の、タッチ位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係を、図９に示したような第２状態タッチテーブル４４として予め取得し、このテーブルを記憶部３７に記憶させておく。制御部３５は、この第２状態タッチテーブル４４を参照して、取得した電位Ｖ（Ｙ０）に基づきＹ座標の値Ｙ０を導出しても良い。

次にステップＳ３において、制御部３５は、図１０に示す様に、端子ＸＲに電圧源３２を接続して５Ｖの電圧を印加し、端子ＸＬを接地する。また同時に、端子ＹＵを接地し、端子ＹＤに電位計測部３３を接続する。この状態を第３の状態と呼ぶことにする。即ち、第３の状態では、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向における両端のうちの一方端１８ａと第２の抵抗膜１４のＹ軸方向における両端のうちの他方端１９ａとの間が短絡され、且つ、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向における両端１８ａ，１８ｂ間に前記電圧が印加される状態になっている。そして、電位計測部３３は、第２の抵抗膜１４のＹ軸方向における両端のうちの一方端１９ｂでの電位を計測可能に接続されている。

第３の状態においてタッチ検出領域１０ａに対して１点のみがタッチされた場合の、図７と同様なタッチした位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係の例を図１１に示す。図１１に示した関係を、「ＹＵ接地テーブル５２」と呼ぶことにする。本実施形態では、このＹＵ接地テーブル５２を予め取得して記憶部３７に記憶させている。端子ＸＬと端子ＹＵが接地されているので、ＹＵ接地テーブル５２は、Ｘ１の列側及びＹ１の行側の電位が低く、（Ｘ６，Ｙ８）側の電位が高い値となっている。

ステップＳ３においては、１点のみがタッチされた場合は、タッチされた位置に応じて前記ＹＵ接地テーブル５２に示した電位が、電位計測部３３によって計測される。
一方２点がタッチされた場合は、以下の様な電位が計測される。即ち、例えば、ステップＳ１で２．９Ｖが検出され、ステップＳ２で２．８Ｖが検出される、座標（Ｘ５、Ｙ１）と座標（Ｘ３，Ｙ７）の２点が同時にタッチされた場合、１．１Ｖが検出される。

ここでの具体例の場合、２点が同時にタッチされることにより、ステップＳ１で２．９Ｖが検出され、ステップＳ２で２．８Ｖが検出されることになるタッチ位置は１７組である。１７組のタッチされた位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係を図１２に示す。図１２において、同時にタッチされる２点には、同じ値を記している。例えば、図１２は、座標（Ｘ２、Ｙ６）と座標（Ｘ６，Ｙ２）が同時にタッチされると、ステップＳ３では１．０Ｖが検出されることを意味している。また例えば、座標（Ｘ３、Ｙ３）と座標（Ｘ５，Ｙ５）が同時にタッチされると、ステップＳ３では１．７Ｖが検出されることを意味している。この図に示す通り、ステップＳ１で２．９Ｖが検出され、ステップＳ２で２．８Ｖが検出される場合でも、ステップＳ３では、同時にタッチされる２点の組合せによって、電位計測部３３によって計測される電位は異なる。

図１２において、Ｘ４の列の電位及びＹ４の行の電位はほぼ同一である。これは、Ｘ４の列及びＹ４の行に沿っては電位勾配が一定であり歪みがないためである。したがって例えば、座標（Ｘ４、Ｙ１）と座標（Ｘ４，Ｙ７）が同時にタッチされる場合の電位と、座標（Ｘ４、Ｙ３）と座標（Ｘ４，Ｙ５）が同時にタッチされる場合の電位の区別はつかない。同様に例えば、座標（Ｘ２、Ｙ４）と座標（Ｘ６，Ｙ４）が同時にタッチされる場合の電位と、座標（Ｘ３、Ｙ４）と座標（Ｘ５，Ｙ４）が同時にタッチされる場合の電位の区別はつかない。

ところで、ステップＳ３において、制御部３５は、１点がタッチされたか２点が同時にタッチされたかに関わらず、第３の状態で電位計測部３３によって計測される電位Ｖ（Ｓ３）を取得する。

次にステップＳ４において、制御部３５は、記憶部３７から上述した「ＹＵ接地テーブル５２」を読み出す。そして、制御部３５は、ステップＳ１で求めた第１の参照データとしてのＸ０とステップＳ２で求めた第２の参照データとしてのＹ０とに基づき、ＹＵ接地テーブル５２の座標（Ｘ０，Ｙ０）の値であるＶＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）と、ステップＳ３で取得したＶ（Ｓ３）を比較する。ＶＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）とＶ（Ｓ３）の差が、予め定めた第１の閾値より大きければ、制御部３５は、処理をステップＳ８に移す。一方、ＶＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）とＶ（Ｓ３）の差が予め定めた第１の閾値以下であれば、制御部３５は、処理をステップＳ５に移す。

例えば、前記第１の閾値を０．４とする。図１１に示した例では、ＶＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）＝１．０Ｖである。図１３において○印を付した座標がタッチされた場合には、Ｖ（Ｓ３）が１．５Ｖ以上になり、したがって、差が前記第１の閾値よりも大きくなるため、処理がステップＳ８に移る。一方、図１３において×印を付した座標がタッチされた場合には、Ｖ（Ｓ３）が０．６Ｖ以上１．４Ｖ以下であるので、したがって、差が前記第１の閾値以下になるため、処理がステップＳ５に移る。この例では、第１の閾値を０．４としたが、この値は使用するタッチパネルによって調整される。

次にステップＳ５において、制御部３５は、図１４に示す様に、端子ＸＲに電圧源３２を接続して５Ｖの電圧を印加し、端子ＸＬを接地する。また同時に、端子ＹＤを接地し、端子ＹＵに電位計測部３３を接続する。この状態を第４の状態と呼ぶことにする。即ち、第４の状態では、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向における両端のうちの一方端１８ａと第２の抵抗膜１４のＹ軸方向における両端のうちの一方端１９ｂとの間が短絡され、且つ、第１の抵抗膜１３のＸ軸方向における両端１８ａ，１８ｂ間に電圧が印加される状態になっている。そして、電位計測部３３は、第２の抵抗膜１４のＹ軸方向における両端のうちの他方端１９ａでの電位を計測可能に接続されている。

第４の状態においてタッチ検出領域に対して１点のみがタッチされた場合の、図１１の「ＹＵ接地テーブル５２」と同様なタッチした位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係の例を図１５に示す。図１５に示した関係を、「ＹＤ接地テーブル５４」と呼ぶことにする。本実施形態では、このＹＤ接地テーブル５４を予め取得して記憶部３７に記憶させている。

ステップＳ５においては、１点のみがタッチされた場合は、タッチされた位置に応じて前記ＹＤ接地テーブル５４に示した電位が、電位計測部３３によって計測される。
一方２点がタッチされた場合は、以下の様な電位が計測される。即ち、例えば、ステップＳ１で２．９Ｖが検出され、ステップＳ２で２．８Ｖが検出される、座標（Ｘ５、Ｙ１）と座標（Ｘ３，Ｙ７）の２点が同時にタッチされた場合、２．１Ｖが検出される。

ここでの具体例の場合、２点が同時にタッチされることにより、ステップＳ１で２．９Ｖが検出され、ステップＳ２で２．８Ｖが検出されることになるタッチ位置は１７組である。１７組のタッチされた位置と電位計測部３３によって計測される電位との関係を図１６に示す。図１６において、同時にタッチされる２点には、同じ値を記している。例えば、図１６は、座標（Ｘ２、Ｙ６）と座標（Ｘ６，Ｙ２）が同時にタッチされると、ステップＳ５では２．２Ｖが検出されることを意味している。また例えば、座標（Ｘ３、Ｙ３）と座標（Ｘ５，Ｙ５）が同時にタッチされると、ステップＳ５では１．６Ｖが検出されることを意味している。この図に示す通り、ステップＳ１で２．９Ｖが検出され、ステップＳ２で２．８Ｖが検出される場合でも、ステップＳ５では、同時にタッチされる２点の組合せによって、電位計測部３３によって計測される電位は異なる。

図１６において、Ｘ４の列の電位及びＹ４の行の電位はほぼ同一である。これは、Ｘ４の列及びＹ４の行に沿っては電位勾配が一定であり歪みがないためである。したがって例えば、座標（Ｘ４、Ｙ１）と座標（Ｘ４，Ｙ７）が同時にタッチされる場合の電位と、座標（Ｘ４、Ｙ３）と座標（Ｘ４，Ｙ５）が同時にタッチされる場合の電位の区別はつかない。同様に例えば、座標（Ｘ２、Ｙ４）と座標（Ｘ６，Ｙ４）が同時にタッチされる場合の電位と、座標（Ｘ３、Ｙ４）と座標（Ｘ５，Ｙ４）が同時にタッチされる場合の電位の区別はつかない。

ところで、ステップＳ５において、制御部３５は、１点がタッチされたか２点が同時にタッチされたかに関わらず、第４の状態で電位計測部３３によって計測される電位Ｖ（Ｓ５）を取得する。

次にステップＳ６において、制御部３５は、記憶部３７から上述した「ＹＤ接地テーブル５４」を読み出す。そして、制御部３５は、ステップＳ１で求めた第１の参照データとしてのＸ０とステップＳ２で求めた第２の参照データとしてのＹ０とに基づき、ＹＤ接地テーブル５４の座標（Ｘ０，Ｙ０）の値であるＶＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）と、ステップＳ３で取得したＶ（Ｓ５）を比較する。ＶＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）とＶ（Ｓ５）の差が、予め定めた第２の閾値より大きければ、制御部３５は、処理をステップＳ８に移す。一方、ＶＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）とＶ（Ｓ５）の差が第２の閾値以下であれば、制御部３５は、処理をステップＳ７に移す。

例えば、前記第２の閾値を０．６とする。図１５に示した例では、ＶＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）＝１．２Ｖである。図１７に○印を付した座標がタッチされた場合には、Ｖ（Ｓ５）が１．９Ｖ以上になり、したがって、差が前記第２の閾値よりも大きくなるため、処理がステップＳ８に移ることになる。一方、図１７に×印を付した座標がタッチされた場合には、Ｖ（Ｓ５）が０．６Ｖ以上１．８Ｖ以下であるので、したがって、差が前記第２の閾値以下になるため、処理がステップＳ７に移ることになる。この例では、第２の閾値を０．６としたが、この値は使用するタッチパネルによって調整される。

前記の通り、ステップＳ７に移るのは、ステップＳ４においてＶ（Ｓ３）とＶＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）の値が近いと判定され、且つ、ステップＳ６においてＶ（Ｓ５）とＶＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値が近いと判定された場合である。そして、制御部３５は、ステップＳ７において、このような場合をタッチ検出領域に対して１点のみがタッチされたシングルタッチであると判定する。ここで、タッチ検出領域に対して１点のみがタッチされていた場合のタッチ位置は、Ｘ座標位置がステップＳ１で第１の参照データＸ０として導出済みであり、また、Ｙ座標位置がステップＳ２で第２の参照データＹ０として導出済みである。

したがって、ステップＳ７において、制御部３５は、シングルタッチである旨と、タッチ位置として座標（Ｘ０，Ｙ０）に係る情報とを含む信号を、当該タッチパネル装置２での検出値として出力する。その後制御部３５は、処理を終了する。なお、検出値は、例えば表示装置１が組み込まれている電子機器の制御装置に対して出力される。この検出値を取得した制御装置は、タッチパネルが１点のみタッチされたとして、シングルタッチに対応した所定の処理を実行することができる。

一方、ステップＳ８に移るのは、ステップＳ４とステップＳ６とを順に経てシングルタッチであると判定できないものであり、このような場合は、２点が同時にタッチされたと判定する。そして、制御部３５は、ステップＳ８において、このような場合をタッチ検出領域に対して２点がタッチされたマルチタッチであると判定するとともに、同時にタッチされた２点間の距離の導出を開始する。

同時にタッチされた２点間の距離の導出として、制御部３５は、まず、記憶部３７に予め記憶されている、図１８に示す様な「マルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６」を読み出す。
このマルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６は、以下の様にして予め作成されている。即ち、例えば座標（Ｘ２，Ｙ２）の値は、図１０に示した第３の状態で、その左右の隣の位置である座標（Ｘ１，Ｙ２）と座標（Ｘ３，Ｙ２）の２点を同時にタッチしたときに電位計測部３３によって計測される電位である。同様に、例えば座標（Ｘ２，Ｙ３）の値は、座標（Ｘ１，Ｙ３）と座標（Ｘ３，Ｙ３）の２点を同時にタッチしたときに電位計測部３３によって計測される電位である。また同様に、例えば座標（Ｘ２，Ｙ４）の値は、座標（Ｘ１，Ｙ４）と座標（Ｘ３，Ｙ４）の２点を同時にタッチしたときに電位計測部３３によって計測される電位である。

以下、「マルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６」に記録された座標（Ｘ、Ｙ）の値を、ＶｒｅｆＹＵ（Ｘ，Ｙ）と表記することにする。ここでは、上述したように、マルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６は各座標での値をその左右に隣接する２つの座標位置がタッチされた場合に計測される電位で表わしている。しかしながら、左右に隣接する２つの座標位置がタッチされた場合のものに限定されるものではなく、例えば、上下に隣接する２つの座標位置がタッチされた場合のものとしてもよい。
ＶｒｅｆＹＵ（Ｘ，Ｙ）は、座標（Ｘ、Ｙ）の左右の最隣接２点または上下の最隣接２点を同時にタッチしたときの電位であり、座標（Ｘ、Ｙ）を中心点とするマルチタッチの場合の電位の基準である。

ステップＳ８の続きを説明する。ステップＳ８において、制御部３５は、読み出した「マルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６」より、ステップＳ１で導出した第１の参照データＸ０及びステップＳ２で導出した第２の参照データＹ０に基づき、ＶｒｅｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）を導出する。制御部３５は、ステップＳ３で取得したＶ（Ｓ３）の値とＶｒｅｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）の値の差を求める。この差の値をＶｄｉｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）と表記する。

ステップＳ９において、制御部３５は、ステップＳ８で求めたＶｄｉｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）の値と予め定めた第３の閾値とを比較する。ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）の値が第３の閾値より小さい場合、制御部３５は、処理をステップＳ１０に移す。一方、ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）の値が第３の閾値以上の場合、制御部３５は、処理をステップＳ１１に移す。
ステップＳ１０において、制御部３５は、ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）の値を０にし、処理をステップＳ１１に移す。

ここで、ステップＳ１及びステップＳ２の結果、（Ｘ０、Ｙ０）＝（Ｘ４、Ｙ４）の場合の、ステップＳ８乃至ステップＳ１０の処理を、例を示して説明する。
（Ｘ０、Ｙ０）＝（Ｘ４、Ｙ４）の場合、Ｖ（Ｓ３）は、前記の通り、タッチされた２点の位置によって図１２に示したような値となる。したがって、ステップＳ８において、図１２に示したＶ（Ｓ３）の値から、図１８に示したＶｒｅｆＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）＝１．５を引くと、ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）の値は、同時にタッチされた２点の位置に応じて、図１９の様になる。次にステップＳ９における、第３の閾値を０．２とすると、ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）の値が０．２より小さい場合、ステップＳ１０においてＶｄｉｆＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）に０が代入される。その結果得られるＶｄｉｆＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）は、タッチされた位置に応じて図２０の様になる。

図２０に示す通り、ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ４，Ｙ４）の値は、（Ｘ４，Ｙ４）を基準に図における左上方向及び右下方向の各座標に関して、（Ｘ４，Ｙ４）からの距離が大きいほど大きな値となっている。この例では、第３の閾値を０．２としたが、この値は使用するタッチパネルによって調整される。

図５に示すフローチャートに戻って説明を続ける。ステップＳ１１において、制御部３５は、予め記憶部３７に記憶されている、図２１に示す様な「マルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブル５８」を読み出す。

このマルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブル５８は、上述の「マルチタッチ振幅基準値ＹＵ接地テーブル５６」の場合と同様に、以下の様にして予め作成されている。即ち、例えば座標（Ｘ２，Ｙ２）の値は、図１４に示した第４の状態で、その左右の隣の位置である座標（Ｘ１，Ｙ２）と座標（Ｘ３，Ｙ２）の２点を同時にタッチしたときに電位計測部３３によって計測される電位である。

以下、「マルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブル５８」に記録された座標（Ｘ、Ｙ）の値を、ＶｒｅｆＹＤ（Ｘ，Ｙ）と表記する。なお、ここでは、上述したように、マルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブル５８は各座標での値をその左右に隣接する２つの座標位置がタッチされた場合に計測される電位で表わしている。しかしながら、左右に隣接する２つの座標位置がタッチされた場合のものに限定されるものではなく、例えば、上下に隣接する２つの座標位置がタッチされた場合のものとしてもよい。
ＶｒｅｆＹＤ（Ｘ，Ｙ）は、座標（Ｘ、Ｙ）の左右の最隣接２点または上下の最隣接２点を同時にタッチしたときの電位であり、座標（Ｘ、Ｙ）を中心点とするマルチタッチの場合の電位の基準である。

ステップＳ１１において、制御部３５は、読み出した「マルチタッチ振幅基準値ＹＤ接地テーブル５８」より、ステップＳ１で導出した第１の参照データＸ０及びステップＳ２で導出した第２の参照データＹ０に基づき、ＶｒｅｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）を導出する。ステップＳ５で導出したＶ（Ｓ５）の値とＶｒｅｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値の差を求める。この差の値をＶｄｉｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）とする。

ステップＳ１２において、制御部３５は、ステップＳ１１で求めたＶｄｉｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値と予め定めた第４の閾値とを比較する。ＶｄｉｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値が第４の閾値より小さい場合、制御部３５は、処理をステップＳ１３に移す。一方、ＶｄｉｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値が第４の閾値以上の場合、制御部３５は、処理をステップＳ１４に移す。ステップＳ１３において、制御部３５は、ＶｄｉｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値を０にし、処理をステップＳ１４に移す。

ここで、ステップＳ１及びステップＳ２の結果、（Ｘ０、Ｙ０）＝（Ｘ４、Ｙ４）の場合の、ステップＳ１１乃至ステップＳ１３の処理を、例を示して説明する。
（Ｘ０、Ｙ０）＝（Ｘ４、Ｙ４）の場合、Ｖ（Ｓ５）は、前記の通り、タッチされた２点の位置によって図１６に示したような値となる。したがって、ステップＳ１１において、図１６に示したＶ（Ｓ５）の値から、図２１に示したＶｒｅｆＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）＝１．７を引くと、ＶｄｉｆＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）の値は、同時にタッチされた２点の位置に応じて、図２２の様になる。次にステップＳ１２における、第４の閾値を０．２とすると、ＶｄｉｆＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）の値が０．２より小さい場合、ステップＳ１０においてＶｄｉｆＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）に０が代入される。その結果得られるＶｄｉｆＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）は、図２３の様になる。

図２３に示す通り、ＶｄｉｆＹＤ（Ｘ４，Ｙ４）の値は、（Ｘ４，Ｙ４）を基準に図における右上方向及び左下方向の各座標に関して、（Ｘ４，Ｙ４）からの距離が大きいほど大きな値となっている。この例では、第４の閾値を０．２としたが、この値は使用するタッチパネルによって調整される。

次にステップＳ１４において、制御部３５は、ＶｄｉｆＹＵ（Ｘ０，Ｙ０）とＶｄｉｆＹＤ（Ｘ０，Ｙ０）の値を比較し、大きいほうの値をＤｉｓ（Ｘ０，Ｙ０）とする。前記と同様に、（Ｘ０、Ｙ０）＝（Ｘ４、Ｙ４）の場合に、得られるＤｉｓ（Ｘ４，Ｙ４）の値を図２４に示す。この様に、求まったＤｉｓ（Ｘ０，Ｙ０）は、同時にタッチされた２点間の距離を表すものとなる。そして、前記の通り、同時にタッチされた２点の中間の位置は、座標（Ｘ０，Ｙ０）である。

図２４に示す通り、同時にタッチされた２点の中点（Ｘ４、Ｙ４）から垂直方向及び水平方向に関しては、２点間距離を検出することができない。これは、前述のように、Ｘ４の列及びＹ４の行に沿っては電位勾配が一定であり歪みがないためである。

次にステップＳ１５において、制御部３５は、マルチタッチである旨、並びに、座標（Ｘ０，Ｙ０）及びＤｉｓ（Ｘ０，Ｙ０）の情報を含む信号を、当該タッチパネル装置２での検出値として出力する。その後制御部３５は、処理を終了する。なお、検出値は、例えば表示装置１が組み込まれている電子機器の制御装置に対して出力される。この検出値を取得した制御装置は、タッチパネルが２点タッチされたとして、マルチタッチに対応した所定の処理を実行することができる。

このように、本実施形態に依れば、単純な構造のため安価に製造できる抵抗膜式タッチパネルにより、同時に２点がタッチされた場合の２点間の中間の位置と２点間の距離とを検出することができる。

そして、このようなタッチパネル装置により検出されるタッチ位置の検出値に基づけば、該タッチパネル装置を搭載した電子機器は、次のような仕様を設定できる。即ち、例えば、図１に示した表示パネル９０の画像表示領域に表示させた画像中の１点をタッチパネル１０を介して指定したり、タッチ点を任意の方向に移動させることにより、表示画像をスクロールさせたりするような仕様を設定できる。それらに加えて、例えば、図２５に示す様に、表示パネル９０に表示した画像を、特定位置を中心として拡大表示させたい場合には、当該中心位置を挟んで２本の指先９９でタッチパネル１０にタッチし、この２本の指先９９の間隔を広げるようにタッチパネル１０上を移動させる、といった仕様を設定することができる。同様に表示を縮小させたい場合には、指先９９の間隔を狭めるようにタッチパネル１０上を移動させる、といった仕様を設定できる。

上述したような第１−第４の状態間の切り換えは、例えば図２６に示すような切り換え回路を制御することにより実現できる。図２６におけるＶＣＣに電圧源３２を接続するとともにトランジスタＴｒ１−Ｔｒ５を制御することによって、第１−第４の状態間を容易に切り換えることができる。そのときに対応する出力部Ａ／Ｄ−Ｘ，Ａ／Ｄ−Ｙ，Ａ／Ｄ−Ｚを介して電位を計測すればよい。

なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。例えば、端子ＸＬと端子ＸＲの間や端子ＹＵと端子ＹＤの間に印加する電圧の向きを反転させることもできるし、第３の状態及び第４の状態において、電圧源３２によって電圧を印加する端子を端子ＹＵと端子ＹＤ間とし、電位計測部３３によって電位を計測する端子と接地する端子の組み合わせを端子ＸＬと端子ＸＲにしても良い。その場合、端子の変更にあわせて、処理を変更し、記憶部３７に記憶しているテーブルも変更すれば良い。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても、発明が解決しようとする課題の欄で述べられた課題が解決でき、かつ、発明の効果が得られる場合には、この構成要素が削除された構成も発明として抽出され得る。

１…表示装置、２…タッチパネル装置、１０ａ…タッチ検出領域、１０…タッチパネル、１０ｂ…シール材、１１…第１の基板、１２…第２の基板、１３…第１の抵抗膜、１４…第２の抵抗膜、１５…突起部、１７…スペーサ、１８ａ…左端電極、１８ｂ…右端電極、１９ａ…上端電極、１９ｂ…下端電極、２０…液体、３２…電圧源、３３…電位計測部、３５…制御部、３７…記憶部、４２…状態タッチテーブル、４４…状態タッチテーブル、５２…ＹＵ接地テーブル、５４…ＹＤ接地テーブル、５６…ＹＵ接地テーブル、５８…ＹＤ接地テーブル、８０…駆動回路、９０ａ…画像表示領域、９０…液晶表示パネル、９２…観察側基板、９３…裏面側基板、９４…シール材、９５…観察側偏光板、９６…裏面側偏光板、９７…接着層、９９…指先。

Claims (17)

1. 第１の抵抗膜の第１の方向における両端間に予め定めた値の電圧を印加し且つ第２の抵抗膜の第２の方向における両端のうちの一方端を開放した第１の状態で、前記第２の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第１の電位として計測する第１ステップと、
   前記第２の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの一方端を開放した第２の状態で、前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第２の電位として計測する第２ステップと、
   前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記他方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第３の状態で、前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を第３の電位として計測する第３ステップと、
   前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記一方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第４の状態で、前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を第４の電位として計測する第４ステップと、
   前記第１の電位、前記第２の電位、前記第３の電位及び前記第４の電位に基づいて、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して２点で接触するときの前記２点間の距離情報を導出する第５ステップと、
   を含むことを特徴とする接触状態検出方法。
2. 前記第５ステップは、予め記憶されているルックアップテーブルに基づいて、前記２点間の距離情報を導出することを特徴とする請求項１に記載の接触状態検出方法。
3. 前記ルックアップテーブルは、
   前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第３の状態で前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を予め計測した値からなる第１のルックアップテーブルと、
   前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第４の状態で前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第２のルックアップテーブルと、
   前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが２点で接触しているとともに前記２点が前記第１の方向に沿うように予め定めた距離だけ離れているときに前記第３の状態で前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を予め計測した値からなる第３のルックアップテーブルと、
   前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが２点で接触しているとともに前記２点が前記第１の方向に沿うように前記予め定めた距離だけ離れているときに前記第４の状態で前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第４のルックアップテーブルと、
   を含むことを特徴とする請求項２に記載の接触状態検出方法。
4. 前記ルックアップテーブルは、
   前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第１の状態で前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第５のルックアップテーブルと、
   前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第２の状態で前記第１の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第６のルックアップテーブルと、
   を更に含むことを特徴とする請求項３に記載の接触状態検出方法。
5. 前記第５のルックアップテーブルと前記第６のルックアップテーブルとに基づいて前記２点の中間の位置情報を導出する第６ステップを更に含むことを特徴とする請求項４に記載の接触状態検出方法。
6. 前記第１の方向と前記第２の方向は互いに直交する方向であることを特徴とする請求項１乃至５のうち何れか１項に記載の接触状態検出方法。
7. 前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜は、互いに対向するように配置されていることを特徴とする請求項１乃至６のうち何れか１項に記載の接触状態検出方法。
8. 前記第５ステップは、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して１点のみで接触すると判定できない場合に実施されることを特徴とする請求項１乃至７のうち何れか１項に記載の接触状態検出方法。
9. 互いに対向するように配置された第１の抵抗膜と第２の抵抗膜とを有するタッチパネルと、
   前記第１の抵抗膜の第１の方向における両端間に予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第２の抵抗膜の第２の方向における両端のうちの一方端を開放した第１の状態で、前記第２の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第１の電位として計測し、
   前記第２の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの一方端を開放した第２の状態で、前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第２の電位として計測し、
   前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記他方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第３の状態で、前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を第３の電位として計測し、
   前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記一方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第４の状態で、前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を第４の電位として計測し、
   前記第１の電位、前記第２の電位、前記第３の電位及び前記第４の電位に基づいて、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して２点で接触するときの前記２点間の距離情報を導出する、
   駆動回路と、
   を具備することを特徴とする抵抗膜式タッチパネル装置。
10. 前記駆動回路は、予め記憶されているルックアップテーブルを参照することにより前記２点間の距離情報を導出することを特徴とする請求項９に記載の抵抗膜式タッチパネル装置。
11. 前記ルックアップテーブルは、
    前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第３の状態で前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を予め計測した値からなる第１のルックアップテーブルと、
    前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第４の状態で前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第２のルックアップテーブルと、
    前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが２点で接触しているとともに前記２点が前記第１の方向に沿うように予め定めた距離だけ離れているときに前記第３の状態で前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を予め計測した値からなる第３のルックアップテーブルと、
    前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが２点で接触しているとともに前記２点が前記第１の方向に沿うように前記予め定めた距離だけ離れているときに前記第４の状態で前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第４のルックアップテーブルと、
    を含むことを特徴とする請求項１０に記載の抵抗膜式タッチパネル装置。
12. 前記ルックアップテーブルは、
    前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第１の状態で前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第５のルックアップテーブルと、
    前記第１の抵抗膜と前記第２の抵抗膜とが１点のみで接触しているときに前記第２の状態で前記第１の抵抗膜の前記他方端での電位を予め計測した値からなる第６のルックアップテーブルと、
    を更に含むことを特徴とする請求項１１に記載の抵抗膜式タッチパネル装置。
13. 前記駆動回路は、前記第５のルックアップテーブルと前記第６のルックアップテーブルとに基づいて前記２点の中間の位置情報を導出することを特徴とする請求項１２に記載の抵抗膜式タッチパネル装置。
14. 前記第１の方向と前記第２の方向は互いに直交する方向であることを特徴とする請求項９乃至１３のうち何れか１項に記載の抵抗膜式タッチパネル装置。
15. 前記タッチパネルは、
    前記第１の抵抗膜が形成された第１基板と、
    前記第１基板と前記第１の抵抗膜との間に介在するように配列された複数の突起部と、
    を有していることを特徴とする請求項９乃至１４のうち何れか１項に記載の抵抗膜式タッチパネル装置。
16. 画像を表示する表示パネルと、
    第１の抵抗膜と第２の抵抗膜が対向するように配置されたタッチパネルと、
    前記第１の抵抗膜の第１の方向における両端間に予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第２の抵抗膜の第２の方向における両端のうちの一方端を開放した第１の状態で、前記第２の抵抗膜の前記両端のうちの他方端での電位を第１の電位として計測し、
    前記第２の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端のうちの一方端を開放した第２の状態で、前記第１の抵抗膜１３の前記両端のうちの他方端での電位を第２の電位として計測し、
    前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記他方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第３の状態で、前記第２の抵抗膜の前記一方端での電位を第３の電位として計測し、
    前記第１の抵抗膜の前記一方端と前記第２の抵抗膜の前記一方端との間を短絡し且つ前記第１の抵抗膜の前記両端間に前記予め定めた値の電圧を印加した第４の状態で、前記第２の抵抗膜の前記他方端での電位を第４の電位として計測し、
    前記第１の電位、前記第２の電位、前記第３の電位及び前記第４の電位に基づいて、前記第１の抵抗膜が前記第２の抵抗膜に対して２点で接触するときの前記２点間の距離情報を導出する、駆動回路と、
    を具備することを特徴とする表示装置。
17. 前記表示パネルは画像表示領域が前記タッチパネルにおけるタッチ検出領域に対して対向するように配置されていることを特徴とする請求項１６に記載の表示装置。

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