JP4858818B2 - 二軸配向ポリエステルフィルム - Google Patents
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Description
ここでVは粒子体積(μm3),Dmは粒子の投影面における最大径(μm)である。
A.粒子の平均粒径
フィルムからポリマをプラズマ低温灰化処理法で除去し、粒子を露出させた。処理条件は、ポリマは灰化されるが粒子は極力ダメージを受けない条件を選択した。その粒子を走査型電子顕微鏡(SEM)で観察し、粒子画像をイメージアナライザで処理した。SEMの倍率はおよそ5,000〜20,000倍から適宜選択した。観察箇所をかえて粒子数5,000個以上で粒径とその体積分率から、次式で体積平均径dを得た。粒径の異なる2種類以上の粒子を含有している場合には、それぞれの粒子について同様の測定を行い、粒径を求めた。
d=Σ(di・Nvi)
ここで、diは粒径、Nviはその体積分率である。粒子がプラズマ低温灰化処理法で大幅にダメージを受ける場合には、フイルム断面を透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて、3,000〜100,000倍で観察した。TEMの切片厚さは約100nmとし、場所をかえて500視野以上測定し、上記式から体積平均径dを求めた。
B.粒子の体積形状係数
走査型電子顕微鏡で、粒子の写真を例えば5,000倍で10視野撮影した。さらに、画像解析処理装置を用いて、投影面最大径および粒子の平均体積を算出し、下記式により体積形状係数を得た。
ここで、Vは粒子の平均体積(μm3)、Dmは投影面の最大径(μm)である。
C.フィルム積層厚み
表面からエッチングしながらXPS(X線光電子光法)、IR(赤外分光法)あるいはコンフォーカル顕微鏡などで、その粒子濃度のデプスプロファイルを測定した。片面に積層したフイルムにおける表層では、表面という空気-樹脂の界面のために粒子濃度は低く、表面から遠ざかるにつれて粒子濃度は高くなる。本発明の片面に積層したフイルムの場合は、深さ[I]で一旦極大値となった粒子濃度がまた減少し始める。この濃度分布曲線をもとに極大値の粒子濃度の1/2になる深さ[II](ここで、II>I)を積層厚さとした。
D.顕微ラマン結晶化指数
試料をエポキシ樹脂に包埋し、研磨を行って断面を出した。平面方向に異なる5ヶ所において、厚み方向に1μm毎(6μmのフィルムであれば6点、4.5μmのフィルムであれば4点)に顕微ラマン結晶化指数を測定し、同じ厚み方向位置の平均値を計算し、その値から最大値、最小値及び最大値と最小値の差を計算した。平面方向は断面を切り出した後フィルム表面から深さ1μmまでの領域を長手及び幅方向に2mmおきに各6点(1/2インチ テープ幅相当)計12点をレーザーラマンマイクロプローブ法(空中分解能1μm)により下記条件で測定し、ばらつきを計算した。1730cm−1(カルボニル基の伸縮振動)の半値幅を顕微ラマン結晶化指数 Ic、最大値と最小値の差をΔIcとした。
装置 ; Jobin Yvon社製 Ramanor U−1000
マイクロプローブ; 顕微鏡 Olympus BH−2型
Beam Splitter ;右
対物レンズ ;×100
光源 ; Ar+レーザー、NEC GLG3300、波長 514.5nm
分光器; 構成 1m Czerny − Turner型
Double Monochromator
回折格子 Plane Holographic、
1,800g/mm、
110×110mm
分散 9.23cm−1/mm
逆光除去率 10−14(20cm−1)
検出器; PM RCA31034、浜松電子製943−02
MCD DARSS TN−6122(Tracor Northern)
E.フィルムのヤング率
JIS−K7127の方法に従い、インストロンタイプの引張試験機を用いて23℃、65%RHにてヤング率を測定した。フィルムの縦方向(MD)および幅方向(TD)に切り出した幅10mm、長さ100mmの試料フィルムを引っ張り測定した。
F.温度膨張係数
フィルムを幅4mmにサンプリングし、試長15mmになるように真空理工(株)製TMA TM−3000および加熱制御部TA−1500にセットした。0.5gの荷重をフィルムにかけて、温度を室温(23℃)から50℃まで上昇させた後、一旦室温まで温度を戻した。その後、再度温度を室温から50℃まで上昇させた。その時の30℃から40℃までのフィルムの変位量(ΔLmm)を測定し、次式から温度膨張係数を算出した。
G.湿度膨張係数
フィルムを幅10mmにサンプリングし、試長200mmになるように大倉インダストリー製のテープ伸び試験器にセットし、温度30℃、湿度40%RHから80%RHまで変化させ30分保持した後、変位量(ΔLmm)を測定し、次式から湿度膨張係数を算出した。
H.熱収縮率
フィルムを長手及び幅方向に幅10mm、長さ250mmに切り出し、約200mmの間隔で2本の標線を入れ、その間隔を23℃で測定する(これをXmmとする)。この試料の先端に0.15gの荷重をかけた状態で100℃雰囲気中30分間放置した後の標線間の間隔を再度23℃で測定し(これをYmmとする)、100×(X−Y)/Xをもって熱収縮率とした。
I.寸法変化率
フィルムを長手方向 100mm、幅方向 30mmに切り出し、23℃、65%RH無荷重の条件下にて、24時間調湿調温した後、大日本印刷(株)製クロムマスク上に、サンプルを静電気により貼り付け、光学顕微鏡を用いて幅方向の長さ(L0)を測定する。その後、49℃、90%RHの条件下、長手方向に32MPaの荷重をかけた状態で、72時間放置した。72時間後、荷重を解放し、23℃、65%RH、無荷重の条件下にて24時間調湿調温後、幅方向の長さ(L1)を測定した。幅方向の寸法変化率は下記式により求めた。
幅方向の寸法変化率(%) =[(L1−L0)/L0]×100
J.延伸ロールの表面粗さ
Mitutoyo(株)製の表面粗さ計サーフテスト301を使用して、カットオフ0.25mmにてロール幅方向3点において中心面平均粗さを測定し、その平均値を採用した。
K.温熱処理による微小平面性の評価
フィルムを100℃のオーブンに24時間放置することにより熱処理を行った。熱処理前後の層(A)の微小平面性をWYKO社製 非接触3次元粗さ計TOPO−3Dを用いて、測定面積倍率41.6倍、測定面積 239×239μm(0.057mm2)で測定した。該粗さ計に内蔵された表面解析ソフト(ver. 4.90)により、空間周波数10mm -1 と200mm -1 におけるRelative Powerを求めた。測定は10回行い、平均値をもってRelative Powerの値とした。WRaは熱処理前フィルムのみ測定した。
K.微小平面性の評価
熱処理前後のI10−200TDの差が大きいほど熱処理により微小平面性が悪化したことを示すため、下記基準で評価した。
熱処理前後のI10−200TDの差が2以上4dB未満 : ○
熱処理前後のI10−200TDの差が4dB以上 : ×
○○及び○を合格とした。
実施例1
平均粒径0.06μm、体積形状係数f=0.51の球状シリカ粒子を含有するポリエチレンテレフタレートと実質上粒子を含有しないポリエチレンテレフタレートのペレットを作り、球状シリカ粒子の含有量が0.2重量%となるよう2種のペレットを混合することにより熱可塑性樹脂Aを調製した。また、平均粒径0.3μm、体積形状係数f=0.52のジビニルベンゼン/スチレン共重合架橋粒子を含有するポリエチレンテレフタレートと、平均粒径0.8μm、体積形状係数f=0.52のジビニルベンゼン/スチレン共重合架橋粒子を含有するポリエチレンテレフタレート、および実質上粒子を含有しないポリエチレンテレフタレートのペレットを、0.3μmの粒子含有量が0.26重量%、0.8μmの粒子含有量が0.01重量%となるよう混合した熱可塑性樹脂Bを調製した。
実施例2
層(A)、層(B)に添加する粒子の粒径(f=0.52)、添加量、長手及び幅方向の倍率、及びフィルム上下の温度差を10℃に変更する以外は実施例1と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
実施例3
平均粒径0.10μm、体積形状係数f=0.51の球状シリカ粒子を含有するポリエチレンテレフタレートと実質上粒子を含有しないポリエチレンテレフタレートのペレットを作り、球状シリカ粒子の含有量が0.1重量%となるよう2種のペレットを混合することにより熱可塑性樹脂を調製し、5μmの単層フィルムとする以外は実施例1と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
実施例4
熱固定温度を240℃とする以外は、実施例1と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
実施例5
層(A)に添加する粒子の添加量、及び層(A)、層(B)の厚みを変更する以外は実施例1と同様にして未延伸積層フィルムを作成し、逐次二軸延伸法により延伸した。まず延伸温度110℃で2段階に分けて長手方向に3.1倍延伸した。このとき接触する延伸ロールには表面粗さRaが0.40μmの非粘着性のシリコーンロールを用い、更にニップロール間で平行に延伸した。この時、ニップ部分におけるフィルムとロールの接触距離は4mm、フィルムとロールの接触時間は、1段目0.011秒、2段目0.009秒、トータル0.02秒とした。その後、この一軸延伸フィルムをテンタにより温度95℃で幅方向に3.2倍延伸した後、140℃で1.7倍再縦延伸し、定長下で210℃で3秒間熱処理した。フィルム上下の温度差は1℃とした。その後幅方向に2%の弛緩処理を施し、総厚み4.5μm、層(B)の厚み0.4μmのフィルム原反を得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
実施例6
層(B)に添加する粒子の粒径、添加量、フィルムとロールの接触時間を1段目0.022秒、2段目0.018秒、トータル0.04秒に変更する以外は、実施例4と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
比較例1
延伸温度を125℃、延伸ロールに表面粗さが0.6μmのセラミックスロールを用い、フィルム上下の温度差を10℃とする以外は実施例5と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
比較例2
延伸温度を125℃、延伸ロールに表面粗さが0.6μmのセラミックスロールを用い、さらにフィルムをロールに巻き付けて延伸することでフィルムとロールの接触時間を1段目0.40秒、2段目0.29秒、トータル0.69秒とする以外は実施例5と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
比較例3
長手及び幅方向の延伸倍率を変更し、熱固定温度を200℃、フィルムとシャッターの距離を250mm、フィルム上下の温度差を30℃とする以外は、実施例2と同様にして二軸配向ポリエステルフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果は表1,2,3のとおりであった。
Claims (6)
- 厚みが2.0〜7.0μm、フィルム厚み方向の顕微ラマン結晶化指数Icが、8cm−1〜15cm−1、Icの最大値と最小値の差が、1cm−1以下である二軸配向ポリエステルフィルム。
- フィルム平面方向の顕微ラマン結晶化指数Icの最大値と最小値の差が、1cm−1以下である請求項1に記載の二軸配向ポリエステルフィルム。
- 長手方向のヤング率と幅方向のヤング率の和が、11,000〜15,000MPaである請求項1に記載の二軸配向ポリエステルフィルム。
- ポリエステルがポリエチレンテレフタレートである請求項1に記載の二軸配向ポリエステルフィルム。
- リニア記録方式の磁気記録媒体用ベースフィルムとして用いられる請求項1に記載の二軸配向ポリエステルフィルム。
- 重層メタル塗布型デジタル記録方式の磁気記録媒体用ベースフィルムとして用いられる請求項1に記載の二軸配向ポリエステルフィルム。
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