JP4720310B2 - 固体撮像装置、固体撮像装置におけるad変換方法および撮像装置 - Google Patents
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Description
このとき、アップ/ダウンカウンタ33はダウンカウント状態にあり、単位画素11のリセット成分ΔVを検出するリセットカウント期間に入る。このリセットカウント期間では、タイミング制御回路18からクロックCKが与えられることで、アップ/ダウンカウンタ33は、1回目の読み出し動作時の比較器32での比較時間をダウンカウント動作によって計測する。
しかし、このリセット成分ΔVのばらつきは一般に小さく、またリセットレベルは全画素共通であるため、列信号線22−1〜22−mの信号電圧Vxはおおよそ既知である。
したがって、1回目のリセット成分ΔVの読み出し時には、参照電圧RAMP1〜RAMPnを調整することによって比較時間を短くすることが可能である。本実施形態では、7ビット分のカウント期間(128クロック)でリセット成分ΔVの比較を行っている。
その後、入射光量に応じて列信号線22−1〜22−mの信号電圧Vxが安定した後、プリカウント期間に入る。プリカウント期間では、選択回路31は、例えばDAC151−1から参照電圧RAMP1に代えてAD変換範囲内の任意の判定電圧、例えば3値の判定電圧VR2,VR3,VR4(VR2>VR3>VR4)が供給されることで、これら判定電圧VR2,VR3,VR4を比較器32にその比較基準電圧として順に与える。
2回目の読み出し動作期間であるデータカウント期間では、電圧VRnから階段状に下降する波形の参照電圧RAMP1〜RAMPnがDAC151−1〜151−nから出力され、選択回路31に供給される。選択回路31は、列信号線22−1〜22−mの信号電圧Vxに応じて参照電圧RAMP1〜RAMPnのいずれかを選択し、比較器32にその比較基準電圧として与える。これにより、比較器32において列信号線22−1〜22−mの各信号電圧Vxと参照電圧RAMPとの比較が行われる同時に、アップ/ダウンカウンタ33において比較器32での2回目の比較時間がアップカウント動作によって計測される。
続いて、選択回路31の具体的な回路例について説明する。
図4は、選択回路31の第1回路例を示す回路図である。ここでは、例えば4個の参照電圧RAMP1〜RAMP4を入力とし、これら参照電圧RAMP1〜RAMP4のいずれか1つを選択して図1の比較器32にその比較基準電圧として与えるものとする。
一定の電流を流す定電流源として作用する。
上記構成の回路例に係る選択回路31Aは、プリカウント期間において、例えば参照電圧RAMP1に代えて判定電圧VR2,VR3,VR4が順に与えられると、これら判定電圧VR2,VR3,VR4に基づいて列信号線22−1〜22−mの信号電圧Vxのレベル判定を行い、当該信号電圧Vxに適した参照電圧RAMPを参照電圧RAMP1〜RAMP4の中から1つ選択して比較器32にその比較基準電圧REFとして与える。
図5は、選択回路31の第2回路例を示す回路図である。回路例1に係る選択回路31Aは、参照電圧供給部15側で複数のDAC151−1〜151−nを用いて複数の参照電圧RAMP1〜RAMPnを生成する場合に対応した構成となっているのに対して、本回路例に係る選択回路31Bは、参照電圧供給部15側で1つのDAC151を用いて1つの参照電圧RAMPを生成する場合において、この1つの参照電圧RAMPに基づいて複数の参照電圧RAMP1〜RAMPnを生成する回路構成を採っている。
ここで、参照電圧RAMPの数nをn=2としたときの回路動作について、図6のタイミングチャートを用いて説明する。
このとき、アップ/ダウンカウンタ33はダウンカウント状態にあり、単位画素11のリセット成分ΔVを検出するリセットカウント期間に入る。このリセットカウント期間では、タイミング制御回路18からクロックCKが与えられることで、アップ/ダウンカウンタ33は、1回目の読み出し動作時の比較器32での比較時間をダウンカウント動作によって計測する。
その後、入射光量に応じて列信号線22−1〜22−mの信号電圧Vxが安定した後、プリカウント期間に入る。プリカウント期間では、選択回路31は、例えばDAC151−2から参照電圧RAMP2に代えてAD変換範囲内の任意の判定電圧、例えば中間の判定電圧VRが供給されることで、この判定電圧VRを比較器32にその比較基準電圧として与える。
2回目の読み出し動作期間であるデータカウント期間では、アップ/ダウンカウンタ33はアップカウントになる。参照電圧RAMP1は階段状の上昇する波形となり、参照電圧RAMP2は階段状の下降する波形となり、比較器32にその比較基準電圧として与えられる。これにより、比較器32において列信号線22−1〜22−mの各信号電圧Vxと参照電圧RAMPとの比較が行われる同時に、アップ/ダウンカウンタ33において比較器32での2回目の比較時間がアップカウント動作によって計測される。
以上説明した実施形態またはその実施例に係る列並列ADC搭載のCMOSイメージセンサは、ビデオカメラやデジタルスチルカメラ、さらには携帯電話等のモバイル機器向けカメラモジュール等の撮像装置において、その撮像デバイスとして用いて好適なものである。
Claims (7)
- 光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配置されるとともに、当該単位画素の行列状配置に対して列毎に列信号線が配線されてなる画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択制御する行走査手段と、
アナログ−デジタル変換手段と、
初期値が異なり傾斜が同じ傾斜状の複数の参照信号を発生し、該複数の参照信号、および、AD変換範囲内に設定された複数の判定電圧を前記アナログ−デジタル変換手段に出力する信号発生手段と、
を備え、
前記アナログ−デジタル変換手段は、
前記行走査手段によって選択制御された行の単位画素から前記列信号線を介して出力されるアナログ信号の信号電圧を前記複数の判定電圧と比較し、その判定結果を基に、前記複数の参照信号の中から前記列信号線上の信号電圧に適した1つの参照信号を選択し、該選択した参照信号が出力される状態を内部の保持回路に保持することにより設定し、
前記信号電圧を、前記複数の参照信号の中から選択された参照信号と比較し、その比較時間に基づいて前記アナログ信号をデジタル信号に変換する
固体撮像装置。 - 前記アナログ−デジタル変換手段は、
前記列信号線上の信号電圧を前記選択された参照信号と比較する比較器と、
前記比較器による前記信号電圧と前記選択された参照信号との比較に先立って、前記複数の判定電圧を前記比較器に順に入力して該判定電圧と前記信号電圧との比較を順次実行させ、該比較の各結果を基に、前記保持回路が保持する保持データに対応した前記1つの参照電圧を選択して前記比較器に出力する選択回路と、
を有する請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記複数の判定電圧の各判定期間を規定するクロック信号と制御信号を発生するタイミング制御回路を備え、
前記選択回路は、
前記保持回路として前記制御信号を保持しシフト動作させるシフトレジスタと、
前記複数の判定電圧が与えられたときの前記比較器の前記各結果に基づいて、前記タイミング制御回路から与えられる前記クロック信号の入力を有効または無効とするクロック制御回路と、
前記クロック信号の入力が有効のときは、該有効としたときの判定電圧に対応した参照信号以外の他の参照信号が選択されて前記比較器に与えられるように、前記シフトレジスタをシフト動作させ、前記クロック信号が無効のときは、該無効としたときの判定電圧に対応した参照信号が前記比較器へ出力される状態を維持するために前記シフトレジスタのシフト動作を行わない出力制御回路と、
を含む請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記複数の判定電圧は、それぞれの電圧値が、前記複数の参照電圧の1つと対応し、該対応する参照信号の初期値である
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記複数の判定電圧は、それぞれの電圧値が、前記複数の参照信号の1つと対応し、該対応する参照信号の初期値より低い電圧である
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配置されるとともに、当該単位画素の行列状配置に対して列毎に列信号線が配線されてなる画素アレイ部と、前記画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択制御する行走査手段とを具備する固体撮像装置内におけるアナログ−デジタル変換手段のAD変換方法であって、
初期値が異なり傾斜が同じ傾斜状の複数の参照信号、および、AD変換範囲内に設定された複数の判定電圧を入力し、
前記行走査手段によって選択制御された行の単位画素から前記列信号線を介して出力されるアナログ信号の信号電圧を前記複数の判定電圧と順に比較し、
該比較の結果を基に、前記複数の参照信号から1つの参照信号を選択し、
該選択された参照信号が出力される状態を内部の保持回路に保持させることで設定し、
前記アナログ信号を前記選択された参照信号と比較し、その比較時間に基づいて前記アナログ信号をデジタル信号に変換する、
固体撮像装置におけるAD変換方法。 - 固体撮像装置と、
被写体からの像光を前記固体撮像装置の撮像面上に結像させる光学系と、
を具備する撮像装置であって、
前記固体撮像装置は、
光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配置されるとともに、当該単位画素の行列状配置に対して列毎に列信号線が配線されてなる画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択制御する行走査手段と、
アナログ−デジタル変換手段と、
初期値が異なり傾斜が同じ傾斜状の複数の参照信号を発生し、該複数の参照信号、および、AD変換範囲内に設定された複数の判定電圧を前記アナログ−デジタル変換手段に出力する信号発生手段と、
を備え、
前記アナログ−デジタル変換手段は、
前記行走査手段によって選択制御された行の単位画素から前記列信号線を介して出力されるアナログ信号の信号電圧を前記複数の判定電圧と比較し、その判定結果を基に、前記複数の参照信号の中から前記列信号線上の信号電圧に適した1つの参照信号を選択し、該選択した参照信号が出力される状態を内部の保持回路に保持することにより設定し、
前記信号電圧を、前記複数の参照信号の中から選択された参照信号と比較し、その比較時間に基づいて前記アナログ信号をデジタル信号に変換する
撮像装置。
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