JP4715822B2 - Method for manufacturing thin film pattern substrate - Google Patents

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Description

本発明は、例えば配線や素子などの所定形状の薄膜パターンが形成された薄膜パターン基板の製造方法に関する。

The present invention relates to a method of manufacturing a thin film pattern substrate on which a thin film pattern of a predetermined shape such as a wiring or an element is formed.

電子回路または集積回路などに使われる配線などの薄膜パターンを形成する方法としては、例えばフォトリソグラフィ法が用いられる。このフォトリソグラフィ法は、真空装置などの大掛かりな設備と複雑な工程を必要とし、また材料使用効率も数%程度でそのほとんどを廃棄せざるを得ず、製造コストが高い。   As a method of forming a thin film pattern such as a wiring used in an electronic circuit or an integrated circuit, for example, a photolithography method is used. This photolithography method requires large-scale equipment such as a vacuum apparatus and a complicated process, and the material use efficiency is about several percent, and most of it must be discarded, and the manufacturing cost is high.

これに対して、例えば、特許文献1に開示されているように、液体吐出ヘッドから液体材料を液滴状に吐出する液滴吐出法、いわゆるインクジェット法を用いて基板上に薄膜パターンを形成する方法が提案されている(特許文献1参照)。この方法では、薄膜パターン用の液体材料(機能液)を、基板に設けられた撥液性のバンク(拡散防止パターン)内の凹状の領域(液体受容部)に吐出し、その後熱処理やレーザー照射を行って乾燥させ、薄膜パターンを形成する。この方法によれば、フォトリソグラフィが不要となり、プロセスが大幅に簡略化されるとともに、原材料の使用量も少なくてすむというメリットがある。
特開昭59−75205号公報
On the other hand, for example, as disclosed in Patent Document 1, a thin film pattern is formed on a substrate using a so-called inkjet method, which is a droplet discharge method in which a liquid material is discharged from a liquid discharge head in the form of droplets. A method has been proposed (see Patent Document 1). In this method, a liquid material (functional liquid) for a thin film pattern is discharged to a concave area (liquid receiving part) in a liquid repellent bank (diffusion prevention pattern) provided on the substrate, and then heat treatment or laser irradiation. And drying to form a thin film pattern. According to this method, there is an advantage that photolithography is not required, the process is greatly simplified, and the amount of raw materials used can be reduced.
JP 59-75205 A

しかしながら、近年、デバイスを構成する回路の高密度化が進み、例えば配線についてもさらなる微細化、細線化が要求されている。上述した液滴吐出法を用いた薄膜パターン形成方法では、液体注入部に着弾させた機能液を、線幅の狭い液体流動部へ濡れ広がらせることにより、着弾径より狭い線幅の配線パターンが形成されるが、この場合、液体注入部に注入できる機能液量(最大注入量)が多ければ、液体流動部に流れ込む機能液量を多くできるので、少ない回数(例えば1回)の注入(吐出)で必要な膜厚の配線パターンを形成できる。しかし、液体注入部の最大注入量が少なければ、同一の液体注入部に時間をおいて複数回機能液を注入して、注入と濡れ広がりを複数回繰り返さなければならず、その繰り返し回数が多くなればなるほど、配線等の薄膜パターンを形成する基板の生産効率を低下させる原因となっていた。そして、より微細な配線パターンを形成する上では、液滴の広がりを均一にして、より膜厚が均一になるように形成する必要があった。しかし、吐出された液滴が着弾後に基板上で広がるときに、液滴の流れ具合や、着弾位置のばらつきによる機能液の蒸発速度が均一でないことによって、膜厚が均一に形成されない恐れがあった。   However, in recent years, the density of circuits constituting the device has been increased, and for example, further miniaturization and thinning of wiring are required. In the thin film pattern forming method using the droplet discharge method described above, the wiring pattern having a line width narrower than the landing diameter is obtained by wetting and spreading the functional liquid landed on the liquid injection part to the liquid flow part having a narrow line width. In this case, if the amount of the functional liquid that can be injected into the liquid injection portion (maximum injection amount) is large, the amount of the functional liquid that flows into the liquid flow portion can be increased. ) Can form a wiring pattern having a required film thickness. However, if the maximum injection volume of the liquid injection part is small, the functional liquid must be injected multiple times in the same liquid injection part, and the injection and wetting spread must be repeated several times. The higher the rate, the lower the production efficiency of the substrate on which a thin film pattern such as wiring was formed. In order to form a finer wiring pattern, it is necessary to make the spread of the droplets uniform so that the film thickness becomes more uniform. However, when the ejected droplet spreads on the substrate after landing, the film thickness may not be formed uniformly due to the non-uniform evaporation rate of the functional liquid due to the flow of the droplet and the variation of the landing position. It was.

特に、上述のように膜厚が均一でない場合には、形成された膜に凹凸ができてしまい、微細な薄膜パターンを安定的に形成するのが困難であった。そして、この形成された膜に凹凸ができることによって、さらに膜を積層して得られる積層構造を有するデバイスなどでは、断線やショートなどの品質の安定性を確保しながら、微細な薄膜パターンを形成することが困難であった。   In particular, when the film thickness is not uniform as described above, the formed film is uneven, and it is difficult to stably form a fine thin film pattern. Then, by forming irregularities on the formed film, in a device having a laminated structure obtained by further laminating films, a fine thin film pattern is formed while ensuring the stability of quality such as disconnection or short circuit. It was difficult.

本発明の目的は、細い線状の微細な薄膜パターンを精度良く安定して形成することができる薄膜パターン形成基板、デバイスの製造方法、及び電気光学装置、並びに電子機器を提供することである。   An object of the present invention is to provide a thin film pattern forming substrate, a device manufacturing method, an electro-optical device, and an electronic apparatus, which can form a thin linear thin film pattern with high accuracy and stability.

本発明の薄膜パターン基板の製造方法は、基板に凹設された領域に薄膜パターンを形成する薄膜パターン基板の製造方法であって、幅が相対的に広い拡幅部と、前記拡幅部から機能液が流れ込むように配置する線状部を設けた前記凹設された領域を形成する工程と、前記拡幅部に前記機能液を注入する工程と、前記線状部に流れ込んだ前記機能液を乾燥して薄膜パターンを形成する工程と、を備え、前記凹設された領域は、前記拡幅部の線幅の平均径が、前記拡幅部に配される前記機能液の液滴の直径よりも大きく、前記線状部の線幅の2倍以下となるように形成することを特徴とする。
本発明の薄膜パターン基板は、基板に凹設された領域に薄膜パターンが形成された薄膜パターン基板であって、前記凹設された領域は、幅が相対的に広く形成された拡幅部と、前記拡幅部に接続された線状部とを備え、前記拡幅部の平均径が前記線状部の線幅の2倍以下に設定されており、前記拡幅部は、前記薄膜パターンの乾燥前の材料である機能液が注入される液体注入部であり、前記線状部は、前記液体注入部に注入された前記機能液が流入可能に前記液体注入部に接続された線状の液体流動部であり、前記拡幅部の平均径が前記拡幅部に配される前記機能液の液滴の直径より大きいことを特徴とする。
The method for producing a thin film pattern substrate of the present invention is a method for producing a thin film pattern substrate in which a thin film pattern is formed in a region recessed in the substrate, the widened portion having a relatively wide width, and a functional liquid from the widened portion. A step of forming the recessed region provided with a linear portion disposed so as to flow in, a step of injecting the functional liquid into the widened portion, and a drying of the functional liquid that has flowed into the linear portion. Forming a thin film pattern, and in the recessed region, the average diameter of the line width of the widened portion is larger than the diameter of the droplet of the functional liquid disposed in the widened portion, It is characterized by being formed so as to be not more than twice the line width of the linear part.
The thin film pattern substrate of the present invention is a thin film pattern substrate in which a thin film pattern is formed in a region recessed in the substrate, and the recessed region has a widened portion formed relatively wide, A linear portion connected to the widened portion, the average diameter of the widened portion is set to be twice or less the line width of the linear portion, the widened portion before the thin film pattern is dried A liquid injection part into which a functional liquid as a material is injected, and the linear part is a linear liquid flow part connected to the liquid injection part so that the functional liquid injected into the liquid injection part can flow in The average diameter of the widened portion is larger than the diameter of the droplet of the functional liquid disposed in the widened portion.

この発明によれば、前記凹設された領域は、幅が相対的に広く形成された拡幅部と、前記拡幅部に接続された線状部とを備え、前記拡幅部の平均径が前記線状部の線幅の2倍以下に設定されていることから、拡幅部に注入された機能液が、線状部に流れ込み、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態で釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できるので、膜厚の均一性が保持できる。よって、断線などの少ない薄膜パターンを形成できるから、品質の安定したデバイスを提供できる。   According to the present invention, the recessed region includes a widened portion having a relatively wide width and a linear portion connected to the widened portion, and an average diameter of the widened portion is the line. Because the functional liquid injected into the widened part flows into the linear part, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened part, The pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the part is balanced in a steady state. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. Since a thin film pattern with few irregularities can be formed, uniformity of film thickness can be maintained. Therefore, since a thin film pattern with few disconnections can be formed, a device with stable quality can be provided.

本発明の薄膜パターン基板は、前記拡幅部は異なる方向で径が略等しい略等方形状を有しており、前記拡幅部の径が前記線状部の線幅の2倍以下に設定されていることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, the widened portion has a substantially isotropic shape having substantially the same diameter in different directions, and the diameter of the widened portion is set to be not more than twice the line width of the linear portion. It is desirable.

この発明によれば、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態でほぼ釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できる。   According to this invention, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened portion and the pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the linear portion are substantially balanced in a steady state. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. A thin film pattern with few irregularities can be formed.

本発明の薄膜パターン基板は、前記拡幅部は異なる方向で径が異なる異方形状を有しており、前記拡幅部の平均径が前記線状部の線幅の2倍以下に設定されていることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, the widened portion has an anisotropic shape with different diameters in different directions, and the average diameter of the widened portion is set to be twice or less the line width of the linear portion. It is desirable.

この発明によれば、拡幅部が異方形状になっても、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態でほぼ釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できる。   According to this invention, even if the widened portion becomes anisotropic, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened portion and the pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the linear portion are in a steady state. It will be almost balanced. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. A thin film pattern with few irregularities can be formed.

本発明の薄膜パターン基板は、前記拡幅部の略等方形状は略円形状であることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, it is desirable that the substantially isotropic shape of the widened portion is a substantially circular shape.

この発明によれば、拡幅部の形状が略円形状になっても、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態でほぼ釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できる。しかも、機能液を最大径にまで近づけることができるから機能液の吐出量を増やすことができるので、生産効率が向上する。   According to the present invention, even if the shape of the widened portion becomes substantially circular, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened portion and the pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the linear portion are steady. It will be almost balanced by the state. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. A thin film pattern with few irregularities can be formed. Moreover, since the functional liquid can be brought close to the maximum diameter, the discharge amount of the functional liquid can be increased, so that the production efficiency is improved.

本発明の薄膜パターン基板は、前記拡幅部の異方形状は楕円形状であり、前記拡幅部の長径と短径の調和平均が、前記線状部の線幅の2倍以下に設定されていることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, the anisotropic shape of the widened portion is an elliptical shape, and the harmonic average of the major axis and the minor axis of the widened portion is set to be twice or less the line width of the linear portion. It is desirable.

この発明によれば、拡幅部が楕円形状になっても、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態でほぼ釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できる。しかも、機能液の着弾位置が多少ずれても、拡幅部が楕円形状であるので、機能液が効率良く着弾できる。   According to the present invention, even when the widened portion has an elliptical shape, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened portion and the pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the linear portion are substantially constant. Will be balanced. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. A thin film pattern with few irregularities can be formed. In addition, even if the landing position of the functional liquid is slightly deviated, the widening portion has an elliptical shape, so that the functional liquid can land efficiently.

本発明の薄膜パターン基板は、前記拡幅部は前記薄膜パターンの乾燥前の材料である機能液が注入される液体注入部であり、前記線状部は、前記液体注入部に注入された前記機能液が流入可能に前記液体注入部に接続された線状の液体流動部であることを特徴とする。   In the thin film pattern substrate of the present invention, the widened portion is a liquid injection portion into which a functional liquid that is a material before drying of the thin film pattern is injected, and the linear portion is the function injected into the liquid injection portion. It is a linear liquid flow part connected to the liquid injection part so that the liquid can flow in.

この発明によれば、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態でほぼ釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できる。しかも、線状の液体流動部と接続されているので、液体注入部に注入された機能液が液体流動部に流れやすくなる。   According to this invention, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened portion and the pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the linear portion are substantially balanced in a steady state. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. A thin film pattern with few irregularities can be formed. And since it is connected with the linear liquid flow part, the functional liquid inject | poured into the liquid injection | pouring part becomes easy to flow into a liquid flow part.

本発明の薄膜パターン基板は、前記基板にはバンク部が形成されており、前記バンク部の内側が前記凹設された領域であることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, it is preferable that a bank portion is formed on the substrate, and an inner side of the bank portion is the recessed region.

この発明によれば、バンク部の内側が凹設された領域に形成されているので、機能液がより流れやすくなる。   According to this invention, since the inner side of the bank part is formed in the recessed area, the functional liquid can flow more easily.

本発明の薄膜パターン基板は、前記凹設された領域の内側が、親液性部であることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, it is desirable that the inside of the recessed region is a lyophilic portion.

この発明によれば、拡幅部に注入された機能液が、バンク部で囲まれた親液性部を流れるので、機能液が線状部に流れ込みやすくなる。したがって、より凹凸の少ない均一な薄膜パターンを形成できる。   According to the present invention, the functional liquid injected into the widened portion flows through the lyophilic portion surrounded by the bank portion, so that the functional liquid easily flows into the linear portion. Therefore, a uniform thin film pattern with fewer irregularities can be formed.

本発明の薄膜パターン基板は、前記拡幅部にインクジェット法によって機能液が注入されることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, it is desirable that the functional liquid is injected into the widened portion by an ink jet method.

この発明によれば、機能液が飛翔して基板に着弾するまでの液滴径をより微細にコントロールできるので、吐出する機能液を少なくすることによって、より微細で、均一な薄膜パターンを形成できる。   According to this invention, since the droplet diameter until the functional liquid flies and lands on the substrate can be controlled more finely, it is possible to form a finer and more uniform thin film pattern by reducing the functional liquid to be discharged. .

本発明の薄膜パターン基板は、前記薄膜パターンが導電性のパターンであることが望ましい。   In the thin film pattern substrate of the present invention, the thin film pattern is preferably a conductive pattern.

この発明によれば、導電性を有する微細な薄膜パターンを形成できる。   According to the present invention, a fine thin film pattern having conductivity can be formed.

本発明のデバイスの製造方法は、基板表面に、薄膜パターンを形成してデバイスを製造する製造方法であって、拡幅部を形成する工程と、前記拡幅部に、機能液が流動するように接続して配置された線状部を形成する工程と、前記拡幅部に前記機能液を注入する工程と、前記拡幅部から前記機能液が線状部に流れ込む工程と、前記線状部に流れ込んだ前記機能液を乾燥して薄膜パターンを形成する乾燥工程とを備え、前記拡幅部の線幅の平均径が前記線状部の線幅の2倍以下になるようにしたことを特徴とする。   The device manufacturing method of the present invention is a manufacturing method for manufacturing a device by forming a thin film pattern on a substrate surface, and a step of forming a widened portion, and a connection is made so that a functional liquid flows in the widened portion. Forming the linear portion, the step of injecting the functional liquid into the widened portion, the step of flowing the functional liquid from the widened portion into the linear portion, and the flow into the linear portion A drying step of drying the functional liquid to form a thin film pattern, wherein an average diameter of the line width of the widened portion is set to be not more than twice the line width of the linear portion.

この発明によれば、拡幅部に注入された機能液の表面張力による圧力と、線状部に流れ込んだ機能液の表面張力による圧力とが定常状態でほぼ釣り合うことになる。線幅が2倍以下なので、拡幅部の接触角が線状部の接触角より大きくなり、拡幅部の最大液体注入量が増える。しかも、機能液注入後の拡幅部の液面高さと、線状部の液面高さが2倍以内になり、乾燥して薄膜になったときの膜厚差は許容範囲内になることによって、凹凸の少ない薄膜パターンを形成できる。そして、拡幅部から線状部へ液体が流れるようになっているので、凹凸の少ない均一な膜厚の薄膜パターンが形成できる。したがって、断線やショートなどの品質問題が少なくて、より微細化された薄膜パターンを有するデバイスを得ることができる。   According to this invention, the pressure due to the surface tension of the functional liquid injected into the widened portion and the pressure due to the surface tension of the functional liquid flowing into the linear portion are substantially balanced in a steady state. Since the line width is twice or less, the contact angle of the widened portion becomes larger than the contact angle of the linear portion, and the maximum liquid injection amount of the widened portion increases. Moreover, the liquid surface height of the widened portion after the functional liquid injection and the liquid surface height of the linear portion are within twice, and the difference in film thickness when dried into a thin film is within an allowable range. A thin film pattern with few irregularities can be formed. Since the liquid flows from the widened portion to the linear portion, a thin film pattern having a uniform film thickness with few irregularities can be formed. Therefore, there can be obtained a device having a more refined thin film pattern with fewer quality problems such as disconnection and short circuit.

本発明の電気光学装置は、薄膜パターン基板を有するデバイスを備えていることを特徴とする。     The electro-optical device according to the present invention includes a device having a thin film pattern substrate.

この発明によれば、より微細化されたデバイスを有するので、より高精度で小型化が可能な電気光学装置を提供できる。   According to the present invention, since the device is further miniaturized, it is possible to provide an electro-optical device that can be miniaturized with higher accuracy.

本発明の電子機器は、前述の電気光学装置を備えていることを特徴とする。   An electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electro-optical device.

この発明によれば、より高精度で小型化が可能な電気光学装置を有するので、より高精度な電子機器を提供できる。   According to the present invention, since the electro-optical device that can be miniaturized with higher accuracy is provided, a higher-accuracy electronic device can be provided.

以下、本発明の薄膜パターンの形成方法、デバイスの製造方法の実施形態を挙げ、添付図面に沿って詳細に説明する。本実施形態では、液滴吐出法により液滴吐出ヘッドの吐出ノズルから導電性微粒子を含むインク(機能液)(配線パターン(薄膜パターン)形成用インク)を液滴状に吐出し、基板上に導電性膜で形成された配線パターンを形成する場合の例を用いて説明する。   Embodiments of a thin film pattern forming method and a device manufacturing method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In the present embodiment, ink (functional liquid) containing conductive fine particles (ink for forming a wiring pattern (thin film pattern)) is ejected in the form of droplets from a discharge nozzle of a droplet discharge head by a droplet discharge method, and is applied onto a substrate. A description will be given using an example in which a wiring pattern formed of a conductive film is formed.

(第1実施形態)
まず、使用するインク(機能液)について説明する。液体材料である配線パターン形成用インクは導電性微粒子を分散媒に分散した分散液からなるものである。本実施形態では、導電性微粒子として、例えば、金、銀、銅、アルミニウム、パラジウム、及びニッケルのうちの少なくともいずれか1つを含有する金属微粒子の他、これらの酸化物、並びに導電性ポリマーや超電導体の微粒子などが用いられる。これらの導電性微粒子は分散性を向上させるために表面に有機物などをコーティングして使うこともできる。導電性微粒子の粒径は1nm以上1.0μm以下であることが好ましい。1.0μmより大きいと後述する液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルに目詰まりが生じるおそれがある。また、1nmより小さいと導電性微粒子に対するコーテイング剤の体積比が大きくなり、得られる膜中の有機物の割合が過多となる。
(First embodiment)
First, the ink (functional liquid) to be used will be described. The wiring pattern forming ink, which is a liquid material, is made of a dispersion liquid in which conductive fine particles are dispersed in a dispersion medium. In the present embodiment, as the conductive fine particles, for example, metal oxides containing at least one of gold, silver, copper, aluminum, palladium, and nickel, these oxides, conductive polymers, Superconductor fine particles are used. These conductive fine particles can be used by coating the surface with an organic substance or the like in order to improve dispersibility. The particle diameter of the conductive fine particles is preferably 1 nm or more and 1.0 μm or less. If it is larger than 1.0 μm, clogging may occur in the discharge nozzle of the droplet discharge head 1 described later. On the other hand, if the thickness is smaller than 1 nm, the volume ratio of the coating agent to the conductive fine particles is increased, and the ratio of organic substances in the obtained film becomes excessive.

分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるもので凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、また液滴吐出法への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。   The dispersion medium is not particularly limited as long as it can disperse the conductive fine particles and does not cause aggregation. For example, in addition to water, alcohols such as methanol, ethanol, propanol, butanol, n-heptane, n-octane, decane, dodecane, tetradecane, toluene, xylene, cymene, durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydro Hydrocarbon compounds such as naphthalene and cyclohexylbenzene, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2- Methoxyethyl) ether, ether compounds such as p-dioxane, propylene carbonate, γ- Butyrolactone, N- methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, can be exemplified polar compounds such as cyclohexanone. Of these, water, alcohols, hydrocarbon compounds, and ether compounds are preferable and more preferable dispersion media in terms of fine particle dispersibility, dispersion stability, and ease of application to the droplet discharge method. Examples thereof include water and hydrocarbon compounds.

上記導電性微粒子の分散液の表面張力は0.02N/m以上0.07N/m以下の範囲内であることが好ましい。液滴吐出法によりインクを吐出する際、表面張力が0.02N/m未満であると、インクのノズル面に対する濡れ性が増大するため飛行曲りが生じやすくなり、0.07N/mを超えるとノズル先端でのメニスカスの形状が安定しないため吐出量や吐出タイミングの制御が困難になる。表面張力を調整するため、上記分散液には、基板との接触角を大きく低下させない範囲で、フッ素系、シリコーン系、ノニオン系などの表面張力調節剤を微量添加するとよい。ノニオン系表面張力調節剤は、インクの基板への濡れ性を向上させ、膜のレベリング性を改良し、膜の微細な凹凸の発生などの防止に役立つものである。上記表面張力調節剤は、必要に応じて、アルコール、エーテル、エステル、ケトン等の有機化合物を含んでもよい。   The surface tension of the conductive fine particle dispersion is preferably in the range of 0.02 N / m to 0.07 N / m. When ink is ejected by the droplet ejection method, if the surface tension is less than 0.02 N / m, the wettability of the ink with respect to the nozzle surface increases, and thus flight bending tends to occur, and if the surface tension exceeds 0.07 N / m. Since the shape of the meniscus at the nozzle tip is not stable, it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing. In order to adjust the surface tension, a small amount of a surface tension regulator such as a fluorine-based, silicone-based, or nonionic-based material may be added to the dispersion within a range that does not significantly reduce the contact angle with the substrate. The nonionic surface tension modifier improves the wettability of the ink to the substrate, improves the leveling property of the film, and helps prevent the occurrence of fine irregularities on the film. The surface tension modifier may contain an organic compound such as alcohol, ether, ester, or ketone, if necessary.

上記分散液の粘度は1mPa・s以上50mPa・s以下であることが好ましい。液滴吐出法を用いてインクを液滴として吐出する際、粘度が1mPa・sより小さい場合にはノズル周辺部がインクの流出により汚染されやすく、また粘度が50mPa・sより大きい場合は、ノズル孔での目詰まり頻度が高くなり円滑な液滴の吐出が困難となる。   The viscosity of the dispersion is preferably 1 mPa · s to 50 mPa · s. When ejecting ink as droplets using the droplet ejection method, if the viscosity is less than 1 mPa · s, the nozzle periphery is easily contaminated by the outflow of the ink, and if the viscosity is greater than 50 mPa · s, the nozzle The frequency of clogging in the holes increases, and it becomes difficult to smoothly discharge droplets.

配線パターンが形成される基板としては、ガラス、石英ガラス、Siウエハ、プラスチックフィルム、金属板、セラミックなど各種のものを用いることができる。また、これら各種の素材基板の表面に半導体膜、金属膜、誘電体膜、有機膜、絶縁膜などが下地層として形成されたものも含む。   Various substrates such as glass, quartz glass, Si wafer, plastic film, metal plate, and ceramic can be used as the substrate on which the wiring pattern is formed. In addition, a substrate in which a semiconductor film, a metal film, a dielectric film, an organic film, an insulating film or the like is formed as a base layer on the surface of these various material substrates is also included.

ここで、液滴吐出法の吐出技術としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気機械変換式、電気熱変換方式、静電吸引方式等が挙げられる。帯電制御方式は、材料に帯電電極で電荷を付与し、偏向電極で材料の飛翔方向を制御して吐出ノズルから吐出させるものである。また、加圧振動方式は、材料に30kg/cm程度の超高圧を印加してノズル先端側に材料を吐出させるものであり、制御電圧をかけない場合には材料が直進して吐出ノズルから吐出され、制御電圧をかけると材料間に静電的な反発が起こり、材料が飛散して吐出ノズルから吐出されない。また、電気機械変換方式は、ピエゾ素子(圧電素子)がパルス的な電気信号を受けて変形する性質を利用したもので、ピエゾ素子が変形することによって材料を貯留した空間に可撓物質を介して圧力を与え、この空間から材料を押し出して吐出ノズルから吐出させるものである。 Here, examples of the discharge technique of the droplet discharge method include a charge control method, a pressure vibration method, an electromechanical conversion method, an electrothermal conversion method, and an electrostatic suction method. In the charge control method, a charge is applied to a material with a charging electrode, and the flight direction of the material is controlled with a deflection electrode to be discharged from a discharge nozzle. In addition, the pressure vibration method is a method in which an ultra-high pressure of about 30 kg / cm 2 is applied to the material to discharge the material to the nozzle tip side, and when the control voltage is not applied, the material moves straight from the discharge nozzle. When discharged and a control voltage is applied, electrostatic repulsion occurs between the materials, and the materials are scattered and are not discharged from the discharge nozzle. The electromechanical conversion method utilizes the property that a piezoelectric element (piezoelectric element) is deformed by receiving a pulse-like electric signal. The piezoelectric element is deformed through a flexible substance in a space where material is stored. Pressure is applied, and the material is extruded from this space and discharged from the discharge nozzle.

また、電気熱変換方式は、材料を貯留した空間内に設けたヒータにより、材料を急激に気化させてバブル(泡)を発生させ、バブルの圧力によって空間内の材料を吐出させるものである。静電吸引方式は、材料を貯留した空間内に微小圧力を加え、吐出ノズルに材料のメニスカスを形成し、この状態で静電引力を加えてから材料を引き出すものである。また、この他に、電場による流体の粘性変化を利用する方式や、放電火花で飛ばす方式などの技術も適用可能である。液滴吐出法は、材料の使用に無駄が少なく、しかも所望の位置に所望の量の材料を的確に配置できるという利点を有する。なお、液滴吐出法により吐出される液体材料の一滴の量は例えば1〜300ナノグラムである。   In the electrothermal conversion method, a material is rapidly vaporized by a heater provided in a space in which the material is stored to generate bubbles, and the material in the space is discharged by the pressure of the bubbles. In the electrostatic attraction method, a minute pressure is applied to a space in which a material is stored, a meniscus of material is formed on the discharge nozzle, and an electrostatic attractive force is applied in this state before the material is drawn out. In addition to this, techniques such as a system that uses a change in the viscosity of a fluid due to an electric field and a system that uses a discharge spark are also applicable. The droplet discharge method has an advantage that the use of the material is less wasteful and a desired amount of the material can be accurately disposed at a desired position. In addition, the amount of one drop of the liquid material discharged by the droplet discharge method is 1 to 300 nanograms, for example.

次に、本発明に係るデバイスを製造する際に用いられるデバイス製造装置について説明する。このデバイス製造装置としては、液滴吐出ヘッド1から基板に対して液滴を吐出(滴下)することによりデバイスを製造する液滴吐出装置(インクジェット装置)IJが用いられる。   Next, a device manufacturing apparatus used when manufacturing a device according to the present invention will be described. As this device manufacturing apparatus, a droplet discharge apparatus (inkjet apparatus) IJ that manufactures a device by discharging (dropping) droplets from a droplet discharge head 1 onto a substrate is used.

図1は液滴吐出装置IJの概略構成を示す斜視図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of the droplet discharge device IJ.

図1において、液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と、X軸方向駆動軸4と、Y軸方向ガイド軸5と、制御装置CONTと、ステージ7と、クリーニング機構8と、基台9と、ヒータ15とを備えている。   In FIG. 1, a droplet discharge device IJ includes a droplet discharge head 1, an X-axis direction drive shaft 4, a Y-axis direction guide shaft 5, a control device CONT, a stage 7, a cleaning mechanism 8, and a base. 9 and a heater 15.

ステージ7はこの液滴吐出装置IJによりインクを配置される基板Pを支持するものであって、基板Pを基準位置に固定する不図示の固定機構を備えている。   The stage 7 supports the substrate P on which ink is placed by the droplet discharge device IJ, and includes a fixing mechanism (not shown) that fixes the substrate P at a reference position.

液滴吐出ヘッド1は複数の吐出ノズルを備えたマルチノズルタイプの液滴吐出ヘッドであり、長手方向とX軸方向とを一致させている。複数の吐出ノズルは、液滴吐出ヘッド1の下面にX軸方向に並んで一定間隔で設けられている。液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルからは、ステージ7に支持されている基板Pに対して、上述した導電性微粒子を含むインクが吐出される。   The droplet discharge head 1 is a multi-nozzle type droplet discharge head having a plurality of discharge nozzles, and the longitudinal direction and the X-axis direction coincide with each other. The plurality of ejection nozzles are provided on the lower surface of the droplet ejection head 1 at regular intervals along the X-axis direction. From the ejection nozzle of the droplet ejection head 1, the ink containing the conductive fine particles described above is ejected onto the substrate P supported by the stage 7.

X軸方向駆動軸4にはX軸方向駆動モータ2が接続されている。X軸方向駆動モータ2はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからX軸方向の駆動信号が供給されると、X軸方向駆動軸4を回転させる。X軸方向駆動軸4が回転すると、液滴吐出ヘッド1はX軸方向に移動する。   An X-axis direction drive motor 2 is connected to the X-axis direction drive shaft 4. The X-axis direction drive motor 2 is a stepping motor or the like, and rotates the X-axis direction drive shaft 4 when a drive signal in the X-axis direction is supplied from the control device CONT. When the X-axis direction drive shaft 4 rotates, the droplet discharge head 1 moves in the X-axis direction.

Y軸方向ガイド軸5は基台9に対して動かないように固定されている。ステージ7は、Y軸方向駆動モータ3を備えている。Y軸方向駆動モータ3はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからY軸方向の駆動信号が供給されると、ステージ7をY軸方向に移動する。   The Y-axis direction guide shaft 5 is fixed so as not to move with respect to the base 9. The stage 7 includes a Y-axis direction drive motor 3. The Y-axis direction drive motor 3 is a stepping motor or the like, and moves the stage 7 in the Y-axis direction when a drive signal in the Y-axis direction is supplied from the control device CONT.

制御装置CONTは液滴吐出ヘッド1に液滴の吐出制御用の電圧を供給する。更に、制御装置CONTは、X軸方向駆動モータ2に対して液滴吐出ヘッド1のX軸方向への移動を制御する駆動パルス信号を供給するとともに、Y軸方向駆動モータ3に対してステージ7のY軸方向への移動を制御する駆動パルス信号を供給する。   The control device CONT supplies the droplet discharge head 1 with a voltage for controlling droplet discharge. Further, the control device CONT supplies a drive pulse signal for controlling the movement of the droplet discharge head 1 in the X-axis direction to the X-axis direction drive motor 2, and the stage 7 to the Y-axis direction drive motor 3. A drive pulse signal for controlling the movement in the Y-axis direction is supplied.

クリーニング機構8は液滴吐出ヘッド1をクリーニングするものであって、図示しないY軸方向駆動モータを備えている。このY軸方向駆動モータの駆動により、クリーニング機構8はY軸方向ガイド軸5に沿って移動する。クリーニング機構8の移動も制御装置CONTにより制御される。   The cleaning mechanism 8 is for cleaning the droplet discharge head 1 and includes a Y-axis direction drive motor (not shown). By driving the Y-axis direction drive motor, the cleaning mechanism 8 moves along the Y-axis direction guide shaft 5. The movement of the cleaning mechanism 8 is also controlled by the control device CONT.

ヒータ15はここではランプアニールにより基板Pを熱処理する手段であり、基板P上に塗布されたインクに含まれる溶媒の蒸発及び乾燥を行う。このヒータ15の電源の投入及び遮断も制御装置CONTにより制御される。   Here, the heater 15 is means for heat-treating the substrate P by lamp annealing, and evaporates and dries the solvent contained in the ink applied on the substrate P. The heater 15 is also turned on and off by the control device CONT.

液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と基板Pを支持するステージ7とを相対的に走査しつつ基板Pに対して液滴を吐出する。ここで、以下の説明において、Y軸方向を走査方向、Y軸方向と直交するX軸方向を非走査方向とする。したがって、液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルは、非走査方向であるX軸方向に一定間隔で並んで設けられている。なお、図1では、液滴吐出ヘッド1は、基板Pの進行方向に対し直角に配置されているが、液滴吐出ヘッド1の角度を調整し、基板Pの進行方向に対して交差させるようにしてもよい。このようにすれば、液滴吐出ヘッド1の角度を調整することでノズル間のピッチを調節することが出来る。また、基板Pとノズル面との距離を任意に調節可能としてもよい。   The droplet discharge device IJ discharges droplets onto the substrate P while relatively scanning the droplet discharge head 1 and the stage 7 that supports the substrate P. Here, in the following description, the Y-axis direction is a scanning direction, and the X-axis direction orthogonal to the Y-axis direction is a non-scanning direction. Therefore, the discharge nozzles of the droplet discharge head 1 are provided at regular intervals in the X-axis direction, which is the non-scanning direction. In FIG. 1, the droplet discharge head 1 is arranged at a right angle to the traveling direction of the substrate P, but the angle of the droplet discharging head 1 is adjusted so as to intersect the traveling direction of the substrate P. It may be. In this way, the pitch between the nozzles can be adjusted by adjusting the angle of the droplet discharge head 1. Further, the distance between the substrate P and the nozzle surface may be arbitrarily adjustable.

図2はピエゾ方式による液体材料の吐出原理を説明するための図である。   FIG. 2 is a diagram for explaining the principle of discharging a liquid material by a piezo method.

図2において、液体材料(配線パターン形成用インク、機能液)を収容する液体室21に隣接してピエゾ素子22が設置されている。液体室21には、液体材料を収容する材料タンクを含む液体材料供給系23を介して液体材料が供給される。ピエゾ素子22は駆動回路24に接続されており、この駆動回路24を介してピエゾ素子22に電圧を印加し、ピエゾ素子22を変形させることにより、液体室21が変形し、吐出ノズル25から液体材料が吐出される。この場合、印加電圧の値を変化させることによりピエゾ素子22の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることによりピエゾ素子22の歪み速度が制御される。ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。   In FIG. 2, a piezo element 22 is installed adjacent to a liquid chamber 21 that stores a liquid material (ink for forming a wiring pattern, functional liquid). The liquid material is supplied to the liquid chamber 21 via a liquid material supply system 23 including a material tank that stores the liquid material. The piezo element 22 is connected to a drive circuit 24, and a voltage is applied to the piezo element 22 through the drive circuit 24 to deform the piezo element 22, whereby the liquid chamber 21 is deformed and liquid is discharged from the discharge nozzle 25. Material is dispensed. In this case, the amount of distortion of the piezo element 22 is controlled by changing the value of the applied voltage. Further, the strain rate of the piezo element 22 is controlled by changing the frequency of the applied voltage. Since the droplet discharge by the piezo method does not apply heat to the material, it has an advantage of hardly affecting the composition of the material.

次に、本発明の配線パターンの形成方法の一実施形態について図3、図4、図5及び図6を参照しながら説明する。   Next, an embodiment of a method for forming a wiring pattern according to the present invention will be described with reference to FIGS. 3, 4, 5, and 6. FIG.

図3は本実施形態に係る配線パターンの形成方法の一例を示すフローチャート図、図4及び図5は形成手順を示す模式図、図6は薄膜パターン形成方法の概念図である。   FIG. 3 is a flowchart showing an example of a wiring pattern forming method according to the present embodiment, FIGS. 4 and 5 are schematic views showing a forming procedure, and FIG. 6 is a conceptual diagram of the thin film pattern forming method.

図3に示すように、本実施形態に係る配線パターンの形成方法は、上述した配線パターン形成用インクを基板上に配置し、基板上に導電膜配線パターンを形成するものであって、基板上に配線パターンに応じたバンクを突設するバンク形成工程S1と、基板に親液性を付与する親液化処理工程S2と、バンクに撥液性を付与する撥液化処理工程S3と、撥液性を付与されたバンク間にインクを配置する材料配置工程S4と、インクの液体成分の少なくとも一部を除去する中間乾燥工程S5と、焼成工程S6とを有している。以下、各工程毎に詳細に説明する。本実施形態では基板Pとしてガラス基板が用いられる。   As shown in FIG. 3, the wiring pattern forming method according to the present embodiment is to dispose the above-described wiring pattern forming ink on a substrate and form a conductive film wiring pattern on the substrate. A bank forming step S1 for projecting a bank corresponding to the wiring pattern, a lyophilic treatment step S2 for imparting lyophilicity to the substrate, a lyophobic treatment step S3 for imparting liquid repellency to the bank, and a liquid repellency The material placement step S4 for placing the ink between the banks to which the ink is applied, the intermediate drying step S5 for removing at least a part of the liquid component of the ink, and the firing step S6. Hereinafter, each process will be described in detail. In this embodiment, a glass substrate is used as the substrate P.

<バンク形成工程>
まず、有機材料塗布前に表面改質処理として、基板Pに対してHMDS処理が施される。HMDS処理は、ヘキサメチルジシラサン((CH)SiNHSi(CH))を蒸気状にして塗布する方法である。これにより、図4(a)に示すように、バンクと基板Pとの密着性を向上する密着層としてのHMDS層32が基板P上に形成される。
<Bank formation process>
First, a HMDS process is performed on the substrate P as a surface modification process before applying the organic material. The HMDS treatment is a method in which hexamethyldisilazane ((CH 3 ) 3 SiNHSi (CH 3 ) 3 ) is applied in a vapor state. As a result, as shown in FIG. 4A, the HMDS layer 32 as an adhesion layer that improves the adhesion between the bank and the substrate P is formed on the substrate P.

バンクは仕切部材として機能する部材であり、バンクの形成はフォトリソグラフィ法や印刷法等、任意の方法で行うことができる。例えば、フォトリソグラフィ法を使用する場合は、スピンコート、スプレーコート、ロールコート、ダイコート、ディップコート等所定の方法で、基板PのHMDS層32上にバンクの高さに合わせて有機系感光性材料31を塗布し、その上にレジスト層を塗布する。そして、バンク形状(配線パターン)に合わせてマスクを施しレジストを露光・現像することによりバンク形状に合わせたレジストを残す。最後にエッチングしてマスク以外の部分のバンク材料を除去する。また、下層が無機物で上層が有機物で構成された2層以上でバンク(凸部)を形成してもよい。これにより、図4(b)に示されるように、配線パターン形成予定領域の周辺を囲むようにバンクB、Bが突設される。なお、このようにして形成されるバンクB、Bとしては、その上部側の幅が狭く、底部側の幅が広いテーパ状とするのが、後述するようにバンク間の溝部にインクの液滴が流れ込みやすくなるため好ましい。   The bank is a member that functions as a partition member, and the bank can be formed by an arbitrary method such as a photolithography method or a printing method. For example, when using a photolithography method, an organic photosensitive material is formed on the HMDS layer 32 of the substrate P according to the height of the bank by a predetermined method such as spin coating, spray coating, roll coating, die coating, dip coating, etc. 31 is applied, and a resist layer is applied thereon. Then, a mask is applied according to the bank shape (wiring pattern), and the resist is exposed and developed to leave the resist according to the bank shape. Finally, the bank material other than the mask is removed by etching. Moreover, you may form a bank (convex part) by two or more layers by which the lower layer was comprised by the inorganic substance and the upper layer was comprised by the organic substance. As a result, as shown in FIG. 4B, banks B and B are provided so as to surround the periphery of the wiring pattern formation scheduled region. The banks B and B formed in this manner are tapered so that the width on the top side is narrow and the width on the bottom side is wide. Is preferable because it easily flows.

バンクを形成する有機材料としては、インクに対して撥液性を示す材料でも良いし、後述するように、プラズマ処理による撥液化(フッ素化)が可能で下地基板との密着性が良くフォトリソグラフィによるパターニングがし易い絶縁有機材料でも良い。例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、オレフィン樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂等の高分子材料を用いることが可能である。あるいは、無機骨格(シロキサン結合)を主鎖に有機基を持った材料でもよい。   The organic material for forming the bank may be a material that exhibits liquid repellency with respect to ink, or, as will be described later, it can be lyophobic (fluorinated) by plasma treatment and has good adhesion to the base substrate. An insulating organic material that can be easily patterned by the above method may be used. For example, a polymer material such as an acrylic resin, a polyimide resin, an olefin resin, a phenol resin, or a melamine resin can be used. Alternatively, a material having an inorganic skeleton (siloxane bond) and an organic group in the main chain may be used.

基板P上にバンクB、Bが形成されると、フッ酸処理が施される。フッ酸処理は、例えば2.5%フッ酸水溶液でエッチングを施すことでバンクB、B間のHMDS層32を除去する処理である。フッ酸処理では、バンクB、Bがマスクとして機能し、図4(c)に示すように、バンクB、B間に形成された溝部34の底部35にある有機物であるHMDS層32が除去され、基板Pが露出する。   When the banks B and B are formed on the substrate P, hydrofluoric acid treatment is performed. The hydrofluoric acid process is a process of removing the HMDS layer 32 between the banks B and B by etching with, for example, a 2.5% hydrofluoric acid aqueous solution. In the hydrofluoric acid treatment, the banks B and B function as a mask, and as shown in FIG. 4C, the HMDS layer 32 that is an organic substance at the bottom 35 of the groove 34 formed between the banks B and B is removed. The substrate P is exposed.

<親液化処理工程>
次に、バンクB、B間の底部35(基板Pの露出部)に親液性を付与する親液化処理工程が行われる。親液化処理工程としては、紫外線を照射する紫外線(UV)照射処理や大気雰囲気中で酸素を処理ガスとするOプラズマ処理等を選択できる。ここではOプラズマ処理を実施する。
<Liquid treatment process>
Next, a lyophilic process step for imparting lyophilicity to the bottom portion 35 (exposed portion of the substrate P) between the banks B and B is performed. As the lyophilic treatment step, ultraviolet (UV) irradiation treatment for irradiating ultraviolet rays, O 2 plasma treatment using oxygen as a processing gas in the air atmosphere, or the like can be selected. Here, O 2 plasma treatment is performed.

プラズマ処理は、基板Pに対してプラズマ放電電極からプラズマ状態の酸素を照射する。Oプラズマ処理の条件の一例として、例えばプラズマパワーが50〜1000W、酸素ガス流量が50〜100mL/min、プラズマ放電電極に対する基板1の相対移動速度が0.5〜10mm/sec、基板温度が70〜90℃である。 In the O 2 plasma treatment, the substrate P is irradiated with plasma oxygen from the plasma discharge electrode. As an example of the conditions for the O 2 plasma treatment, for example, the plasma power is 50 to 1000 W, the oxygen gas flow rate is 50 to 100 mL / min, the relative moving speed of the substrate 1 with respect to the plasma discharge electrode is 0.5 to 10 mm / sec, and the substrate temperature is 70-90 ° C.

そして、基板Pがガラス基板の場合、その表面は配線パターン形成用インクに対して親液性を有しているが、本実施形態のようにOプラズマ処理や紫外線照射処理を施すことで、バンクB、B間で露出する基板P表面(底部35)の親液性を更に高めることができる。ここで、バンク間の底部35のインクに対する接触角が15度以下となるように、Oプラズマ処理や紫外線照射処理が行われることが好ましい。 When the substrate P is a glass substrate, its surface has the lyophilic property to the wiring pattern forming ink, by performing the O 2 plasma treatment or UV irradiation treatment as in this embodiment, The lyophilicity of the substrate P surface (bottom 35) exposed between the banks B and B can be further enhanced. Here, it is preferable that the O 2 plasma treatment or the ultraviolet irradiation treatment is performed so that the contact angle of the bottom portion 35 between the banks with respect to the ink is 15 degrees or less.

図9はOプラズマ処理する際に用いるプラズマ処理装置の一例を示す概略構成図である。図9に示すプラズマ処理装置は、交流電源41に接続された電極42と、接地電極である試料テーブル40とを有している。試料テーブル40は試料である基板Pを支持しつつY軸方向に移動可能となっている。電極42の下面には、移動方向と直交するX軸方向に延在する2本の平行な放電発生部44,44が突設されているとともに、放電発生部44を囲むように誘電体部材45が設けられている。誘電体部材45は放電発生部44の異常放電を防止するものである。そして、誘電体部材45を含む電極42の下面は略平面状となっており、放電発生部44及び誘電体部材45と基板Pとの間には僅かな空間(放電ギャップ)が形成されるようになっている。また、電極42の中央にはX軸方向に細長く形成された処理ガス供給部の一部を構成するガス噴出口46が設けられている。ガス噴出口46は、電極内部のガス通路47及び中間チャンバ48を介してガス導入口49に接続している。 FIG. 9 is a schematic configuration diagram showing an example of a plasma processing apparatus used when performing O 2 plasma processing. The plasma processing apparatus shown in FIG. 9 has an electrode 42 connected to an AC power supply 41 and a sample table 40 that is a ground electrode. The sample table 40 is movable in the Y-axis direction while supporting the substrate P as a sample. On the lower surface of the electrode 42, two parallel discharge generating portions 44, 44 extending in the X-axis direction orthogonal to the moving direction are projected, and the dielectric member 45 surrounds the discharge generating portion 44. Is provided. The dielectric member 45 prevents abnormal discharge of the discharge generation part 44. The lower surface of the electrode 42 including the dielectric member 45 is substantially planar, and a slight space (discharge gap) is formed between the discharge generating portion 44 and the dielectric member 45 and the substrate P. It has become. In addition, a gas ejection port 46 constituting a part of the processing gas supply unit that is elongated in the X-axis direction is provided at the center of the electrode 42. The gas outlet 46 is connected to a gas inlet 49 through a gas passage 47 and an intermediate chamber 48 inside the electrode.

ガス通路47を通ってガス噴出口46から噴射された処理ガスを含む所定ガスは、前記空間の中を移動方向(Y軸方向)の前方及び後方に分かれて流れ、誘電体部材45の前端及び後端から外部に排気される。これと同時に、電源41から電極42に所定の電圧が印加され、放電発生部44,44と試料テーブル40との間で気体放電が発生する。そして、この気体放電により生成されるプラズマで前記所定ガスの励起活性種が生成され、放電領域を通過する基板Pの表面全体が連続的に処理される。   The predetermined gas including the processing gas ejected from the gas ejection port 46 through the gas passage 47 flows in the space in the forward and backward directions in the movement direction (Y-axis direction), and the front end of the dielectric member 45 and Exhausted from the rear end. At the same time, a predetermined voltage is applied from the power source 41 to the electrode 42, and a gas discharge is generated between the discharge generators 44 and 44 and the sample table 40. The excited active species of the predetermined gas is generated by the plasma generated by the gas discharge, and the entire surface of the substrate P passing through the discharge region is continuously processed.

本実施形態では、前記所定ガスは、処理ガスである酸素(O)と、大気圧近傍の圧力下で放電を容易に開始させ且つ安定に維持するためのヘリウム(He)、アルゴン(Ar)等の希ガスや窒素(N)等の不活性ガスとを混合したものである。特に、処理ガスとして酸素を用いることにより、バンクB、B間の底部35におけるバンク形成時の有機物(レジストやHMDS)残渣を除去できる。すなわち、上記フッ酸処理ではバンクB、B間の底部35のHMDS(有機物)が完全に除去されない場合がある。あるいは、バンクB、B間の底部35にバンク形成時のレジスト(有機物)が残っている場合もある。そこで、Oプラズマ処理を行うことにより、バンクB、B間の底部35の残渣が除去される。 In this embodiment, the predetermined gas is oxygen (O 2 ) as a processing gas, helium (He), argon (Ar) for easily starting discharge and maintaining stable under a pressure near atmospheric pressure. Or a rare gas such as nitrogen or an inert gas such as nitrogen (N 2 ). In particular, by using oxygen as the processing gas, organic matter (resist or HMDS) residue at the time of bank formation at the bottom 35 between the banks B and B can be removed. That is, in the hydrofluoric acid treatment, HMDS (organic matter) at the bottom 35 between the banks B and B may not be completely removed. Or the resist (organic substance) at the time of bank formation may remain in the bottom 35 between the banks B and B. Therefore, by performing O 2 plasma treatment, the residue at the bottom 35 between the banks B and B is removed.

なお、ここでは、フッ酸処理を行うことでHMDS層32を除去するように説明したが、Oプラズマ処理あるいは紫外線照射処理によりバンク間の底部35のHMDS層32を十分に除去できるため、フッ酸処理は行わなくてもよい。また、ここでは、親液化処理としてOプラズマ処理又は紫外線照射処理のいずれか一方を行うように説明したが、もちろん、Oプラズマ処理と紫外線照射処理とを組み合わせてもよい。 Here, the HMDS layer 32 has been described as being removed by hydrofluoric acid treatment, but the HMDS layer 32 at the bottom 35 between the banks can be sufficiently removed by O 2 plasma treatment or ultraviolet irradiation treatment. The acid treatment may not be performed. In addition, here, the description has been given of performing either the O 2 plasma treatment or the ultraviolet irradiation treatment as the lyophilic treatment, but it is needless to say that the O 2 plasma treatment and the ultraviolet irradiation treatment may be combined.

<撥液化処理工程>
続いて、バンクBに対して撥液化処理を行い、その表面に撥液性を付与する。撥液化処理としては、四フッ化炭素(テトラフルオロメタン)を処理ガスとするプラズマ処理法(CFプラズマ処理法)を採用する。CFプラズマ処理の条件は、例えばプラズマパワーが50〜1000W、4フッ化炭素ガス流量が50〜100mL/min、プラズマ放電電極に対する基体搬送速度が0.5〜20mm/sec、基体温度が70〜90℃とされる。なお、処理ガスとしては、テトラフルオロメタンに限らず、他のフルオロカーボン系のガス、または、SFやSFCFなどのガスも用いることができる。CFプラズマ処理には、図9を参照して説明したプラズマ処理装置を用いることができる。
<Liquid repellency treatment process>
Subsequently, the bank B is subjected to a liquid repellency treatment to impart liquid repellency to the surface thereof. As the liquid repellent treatment, a plasma treatment method (CF 4 plasma treatment method) using carbon tetrafluoride (tetrafluoromethane) as a treatment gas is employed. The conditions of the CF 4 plasma treatment are, for example, a plasma power of 50 to 1000 W, a carbon tetrafluoride gas flow rate of 50 to 100 mL / min, a substrate transport speed to the plasma discharge electrode of 0.5 to 20 mm / sec, and a substrate temperature of 70 to 90 ° C. The processing gas is not limited to tetrafluoromethane, and other fluorocarbon-based gases or gases such as SF 6 and SF 5 CF 3 can also be used. The plasma processing apparatus described with reference to FIG. 9 can be used for the CF 4 plasma processing.

このような撥液化処理を行うことにより、バンクB、Bにはこれを構成する樹脂中にフッ素基が導入され、バンクB、Bに対して高い撥液性が付与される。なお、上述した親液化処理としてのOプラズマ処理は、バンクBの形成前に行ってもよいが、アクリル樹脂やポリイミド樹脂等は、Oプラズマによる前処理がなされた方がよりフッ素化(撥液化)されやすいという性質があるため、バンクBを形成した後にOプラズマ処理することが好ましい。 By performing such a liquid repellency treatment, a fluorine group is introduced into the resin constituting the banks B and B, and a high liquid repellency is imparted to the banks B and B. The O 2 plasma treatment as the lyophilic treatment described above may be performed before the formation of the bank B. However, acrylic resin, polyimide resin, and the like are more fluorinated when pre-treated with O 2 plasma ( Since it has a property of being easily made liquid repellent, it is preferable to perform O 2 plasma treatment after the bank B is formed.

なお、バンクB、Bに対する撥液化処理により、先に親液化処理したバンク間の基板P露出部に対し多少は影響があるものの、特に基板Pがガラス等からなる場合には、撥液化処理によるフッ素基の導入が起こらないため、基板Pはその親液性、すなわち濡れ性が実質上損なわれることはない。   Note that the lyophobic treatment for the banks B and B has some influence on the exposed portion of the substrate P between the banks previously subjected to the lyophilic treatment, but particularly when the substrate P is made of glass or the like, the lyophobic treatment is performed. Since the introduction of the fluorine group does not occur, the lyophilicity, that is, the wettability of the substrate P is not substantially impaired.

上述した親液化処理工程及び撥液化処理工程により、バンクBの撥液性がバンク間の底部35の撥液性より高くなるように表面改質処理されたことになる。なお、ここでは親液化処理としてOプラズマ処理を行っているが、上述したように、基板Pがガラス等からなる場合には撥液化処理によるフッ素基の導入が起こらないため、Oプラズマ処理を行わずにCFプラズマ処理のみを行うことによっても、バンクBの撥液性をバンク間の底部35より高くすることができる。 By the lyophilic process and the liquid repellent process described above, the surface modification process is performed so that the liquid repellency of the bank B is higher than the liquid repellency of the bottom 35 between the banks. Here, although performing an O 2 plasma treatment as lyophilic process, as described above, since the case where the substrate P is made of glass or the like does not occur the introduction of a fluorine group by lyophobic process, the O 2 plasma treatment The liquid repellency of the bank B can be made higher than that of the bottom part 35 between the banks by performing only the CF 4 plasma process without performing the process.

<材料配置工程>
次に、液滴吐出装置IJによる液滴吐出法を用いて、配線パターン形成用インクの液滴が基板P上のバンクB、B間に配置される。なお、ここでは、導電性材料として有機銀化合物を用い、溶媒(分散媒)としてジエチレングリコールジエチルエーテルを用いた有機銀化合物からなるインクを吐出する。材料配置工程では、図5(d)に示すように、液滴吐出ヘッド1から配線パターン形成用材料を含むインクを液滴にして吐出する。液滴吐出ヘッド1は、バンクB、B間の溝部34に向け、インクの液滴を吐出して溝部34内にインクを配置する。このとき、液滴が吐出される配線パターン形成予定領域(すなわち溝部34)はバンクB、Bに囲まれているので、液滴が所定位置以外に拡がることを阻止できる。
<Material placement process>
Next, the droplets of the wiring pattern forming ink are arranged between the banks B and B on the substrate P by using a droplet discharge method by the droplet discharge device IJ. Here, an ink made of an organic silver compound using an organic silver compound as a conductive material and diethylene glycol diethyl ether as a solvent (dispersion medium) is ejected. In the material arranging step, as shown in FIG. 5D, ink containing the wiring pattern forming material is discharged as droplets from the droplet discharge head 1. The droplet discharge head 1 discharges ink droplets toward the groove 34 between the banks B and B, and disposes the ink in the groove 34. At this time, the wiring pattern formation scheduled region (that is, the groove portion 34) from which the droplet is discharged is surrounded by the banks B and B, so that the droplet can be prevented from spreading to other than the predetermined position.

本実施形態では、バンクB、B間の溝部34の幅W(ここでは、溝部34の開口部における幅)はインク(機能液)の液滴の直径Dより小さく設定されている。なお、液滴を吐出する雰囲気は、温度60℃以下、湿度80%以下に設定されていることが好ましい。これにより、液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルが目詰まりすることなく安定した液滴吐出を行うことができる。   In this embodiment, the width W of the groove 34 between the banks B and B (here, the width at the opening of the groove 34) is set smaller than the diameter D of the ink (functional liquid) droplet. Note that the atmosphere for discharging the droplets is preferably set to a temperature of 60 ° C. or lower and a humidity of 80% or lower. Thereby, it is possible to perform stable droplet discharge without clogging the discharge nozzle of the droplet discharge head 1.

このような液滴を液滴吐出ヘッド1から吐出し、溝部34内に配置すると、液滴はその直径Dが溝部34の幅Wより大きいことから、図5(e)の二点鎖線で示すようにその一部がバンクB、B上に乗る。ところが、バンクB、Bの表面が撥液性となっておりしかもテーパ状になっていることから、これらバンクB、B上に乗った液滴部分がバンクB、Bからはじかれ、更には毛細管現象によって溝部34内に流れ落ちることにより、図5(e)の実線で示すように液滴が溝部34内に入り込む。   When such a droplet is ejected from the droplet ejection head 1 and placed in the groove 34, the droplet has a diameter D larger than the width W of the groove 34, and is indicated by a two-dot chain line in FIG. A part of the train rides on the banks B and B. However, since the surfaces of the banks B and B are liquid-repellent and tapered, the droplets on the banks B and B are repelled from the banks B and B, and further, the capillaries By flowing down into the groove 34 due to the phenomenon, a droplet enters the groove 34 as shown by a solid line in FIG.

また、溝部34内に吐出され、あるいはバンクB、Bから流れ落ちたインクは、基板P(底部35)が親液化処理されていることから濡れ拡がり易くなっており、これによってインクはより均一に溝部34内を埋め込むようになる。   Further, the ink discharged into the groove 34 or flowing down from the banks B and B is easy to spread because the substrate P (bottom 35) has been made lyophilic, so that the ink is more evenly distributed. 34 is embedded.

<中間乾燥工程>
基板Pに液滴を吐出した後、分散媒の除去及び膜厚確保のため、必要に応じて乾燥処理をする。乾燥処理は、例えば基板Pを加熱する通常のホットプレート、電気炉などによる処理の他、ランプアニールによって行なうこともできる。ランプアニールに使用する光の光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザ、アルゴンレーザ、炭酸ガスレーザ、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザなどを光源として使用することができる。これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態では100W以上1000W以下の範囲で十分である。そして、この中間乾燥工程と上記材料配置工程とを繰り返し行うことにより、図5(f)に示すように、インクの液滴が複数層積層され、膜厚の厚い配線パターン(薄膜パターン)33が形成される。
<Intermediate drying process>
After the droplets are discharged onto the substrate P, a drying process is performed as necessary to remove the dispersion medium and secure the film thickness. The drying process can be performed by lamp annealing, for example, in addition to a process using a normal hot plate or an electric furnace for heating the substrate P. The light source used for lamp annealing is not particularly limited, but excimer lasers such as infrared lamps, xenon lamps, YAG lasers, argon lasers, carbon dioxide lasers, XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, etc. It can be used as a light source. In general, these light sources have an output in the range of 10 W to 5000 W, but in the present embodiment, a range of 100 W to 1000 W is sufficient. Then, by repeating this intermediate drying step and the material arranging step, a plurality of ink droplets are laminated, and a thick wiring pattern (thin film pattern) 33 is formed as shown in FIG. It is formed.

<焼成工程>
吐出工程後の乾燥膜は、有機銀化合物の場合、導電性を得るために熱処理を行い、有機銀化合物の有機分を除去し銀粒子を残留させる必要がある。そのため、吐出工程後の基板には熱処理及び/又は光処理が施される。
<Baking process>
In the case of an organic silver compound, the dried film after the discharging step needs to be heat-treated in order to obtain conductivity, to remove the organic component of the organic silver compound and to leave silver particles. For this reason, the substrate after the discharge process is subjected to heat treatment and / or light treatment.

熱処理及び/又は光処理は通常大気中で行なわれるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中、または水素などの還元雰囲気中で行なうこともできる。熱処理及び/又は光処理の処理温度は、分散媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。本実施形態では、吐出されパターンを形成したインクに対して、大気中クリーンオーブンにて280〜300℃で300分間の焼成工程が行われる。なお、例えば、有機銀化合物の有機分を除去するには、約200℃で焼成することが必要である。また、プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上250℃以下で行なうことが好ましい。以上の工程により吐出工程後の乾燥膜は微粒子間の電気的接触が確保され、導電性膜に変換される。   The heat treatment and / or light treatment is usually performed in the air, but can be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon or helium, or in a reducing atmosphere such as hydrogen, if necessary. The treatment temperature of heat treatment and / or light treatment depends on the boiling point (vapor pressure) of the dispersion medium, the type and pressure of the atmospheric gas, the thermal behavior such as fine particle dispersibility and oxidation, the presence and amount of coating material, It is determined appropriately in consideration of the heat resistant temperature. In the present embodiment, a firing process is performed for 300 minutes at 280 to 300 ° C. in a clean oven in the atmosphere with respect to the ink that has been ejected to form a pattern. For example, in order to remove the organic component of the organic silver compound, it is necessary to bake at about 200 ° C. In the case of using a substrate made of plastic or the like, it is preferably performed at room temperature or higher and 250 ° C. or lower. Through the above steps, the dry film after the discharging process is converted into a conductive film while ensuring electrical contact between the fine particles.

なお、焼成工程の後、基板P上に存在するバンクB、Bをアッシング剥離処理により除去することができる。アッシング処理としては、プラズマアッシングやオゾンアッシング等を採用できる。プラズマアッシングは、プラズマ化した酸素ガス等のガスとバンク(レジスト)とを反応させ、バンクを気化させて剥離・除去するものである。バンクは炭素、酸素、水素から構成される固体の物質であり、これが酸素プラズマと化学反応することでCO、HO、Oとなり、全て気体として剥離することができる。一方、オゾンアッシングの基本原理はプラズマアッシングと同じであり、O(オゾン)を分解して反応性ガスのO(酸素ラジカル)に変え、このOとバンクとを反応させる。Oと反応したバンクは、CO、HO、Oとなり、全て気体として剥離される。基板Pに対してアッシング剥離処理を施すことにより、基板Pからバンクが除去される。バンクの除去工程としてはアッシング剥離処理以外にも、バンクを溶剤に溶かす方法や物理的に除去する方法を行うこともできる。 Note that the banks B and B existing on the substrate P can be removed by an ashing separation process after the firing step. As the ashing treatment, plasma ashing, ozone ashing, or the like can be employed. In plasma ashing, a gas (such as oxygen gas that has been converted into plasma) reacts with a bank (resist), and the bank is vaporized to be peeled off and removed. The bank is a solid substance composed of carbon, oxygen, and hydrogen. When this bank chemically reacts with oxygen plasma, it becomes CO 2 , H 2 O, O 2 , and all can be separated as a gas. On the other hand, the basic principle of ozone ashing is the same as that of plasma ashing. O 3 (ozone) is decomposed and converted to reactive gas O + (oxygen radical), and this O + reacts with the bank. The bank that has reacted with O + becomes CO 2 , H 2 O, O 2 , and all are separated as a gas. The bank is removed from the substrate P by performing an ashing peeling process on the substrate P. In addition to the ashing separation process, a method of dissolving the bank in a solvent or a method of physically removing the bank can be performed as the bank removal step.

ここで、本発明の第1実施形態としての薄膜パターン形成方法について説明する。図6(a)に示すように、基板P上にバンクBを形成する際、バンクBによって区画される線状領域Aについて、一部の幅を広く設けておいて、薄膜パターンを形成する。また、液体注入部A2の形状が円になっていて、液体流動部A1の形状が細い溝になるように構成されている。なお、液体注入部A2と、液体流動部A1とが一直線上に配置され、しかも、液体注入部A2の幅dが液体流動部A1の線幅bに対して、2倍以下になるように構成されている。また、液体注入部A2と、液体流動部A1とが一直線上に配置されるように配置したがこれに限定されない。曲線上に配置されても良い。   Here, the thin film pattern forming method as the first embodiment of the present invention will be described. As shown in FIG. 6A, when the bank B is formed on the substrate P, a part of the linear region A partitioned by the bank B is widened to form a thin film pattern. Further, the liquid injection part A2 has a circular shape, and the liquid flow part A1 has a thin groove. The liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 are arranged in a straight line, and the width d of the liquid injection part A2 is less than twice the line width b of the liquid flow part A1. Has been. Moreover, although arrange | positioned so that liquid injection | pouring part A2 and liquid flow part A1 may be arrange | positioned on a straight line, it is not limited to this. You may arrange | position on a curve.

図6(b)に示すように、基板P上にバンクBが形成され、このバンクBによって区画された線状の領域A(液体注入部A2と、液体流動部A1とを構成する)に機能液Lを配置できるように構成されている。特に、液滴吐出ヘッド1のノズルから機能液Lが液体注入部A2に注入されることによって、この注入された機能液Lが液体流動部A1に流動していくように構成されている。   As shown in FIG. 6B, a bank B is formed on the substrate P, and functions in a linear region A (which constitutes the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1) partitioned by the bank B. It is comprised so that the liquid L can be arrange | positioned. In particular, when the functional liquid L is injected from the nozzle of the droplet discharge head 1 into the liquid injection part A2, the injected functional liquid L flows into the liquid flow part A1.

また、この薄膜パターン形成方法では、バンクBによって区画された線状領域Aの内、液体注入部A2の幅dが液体流動部A1の幅bの2倍以下で形成されていることにより、機能液Lの配置時に機能液Lが液体注入部A2から液体流動部A1へ効率良く流れていく。液体注入部A2に機能液Lを続けて着弾させることによって、液体注入部A2に滞留した機能液Lが徐々に盛り上がり、次第に、液体注入部A2から液体流動部A1に機能液Lが流れ出していく。液体流動部A1に流れ出した機能液Lは、液体流動部A1に滞留する。   Further, in this thin film pattern forming method, the width d of the liquid injection part A2 in the linear region A partitioned by the bank B is formed to be not more than twice the width b of the liquid flow part A1, so that the function is achieved. When the liquid L is disposed, the functional liquid L efficiently flows from the liquid injection part A2 to the liquid flow part A1. By continuously landing the functional liquid L on the liquid injection part A2, the functional liquid L staying in the liquid injection part A2 gradually rises and gradually flows out from the liquid injection part A2 to the liquid flow part A1. . The functional liquid L that has flowed out to the liquid flow part A1 stays in the liquid flow part A1.

ここで、バンクBによって区画された線状領域Aに機能液Lが配置され、この機能液Lが例えば乾燥することにより、基板P上に線状の膜パターンFが形成される。この場合、バンクBによって膜パターンFの形状が規定されることから、例えば、液体流動部A1部分の隣接するバンクB、B間の幅を狭くするなど、バンクBを適切に形成することにより、膜パターンFの微細化や細線化が図られている。   Here, the functional liquid L is disposed in the linear region A partitioned by the bank B, and the functional liquid L is dried, for example, so that a linear film pattern F is formed on the substrate P. In this case, since the shape of the film pattern F is defined by the bank B, for example, by appropriately forming the bank B, for example, by narrowing the width between the adjacent banks B and B of the liquid flow portion A1 portion, The film pattern F is miniaturized and thinned.

また、基板P上にバンクBを形成する際、バンクBによって区画される線状領域Aについて、広い幅dで形成された液体注入部A2と、狭い幅bで形成された液体流動部A1を形成することができる。すなわち、線状領域Aの長手方向における所定の位置に、他の領域の幅bに比べて広い幅d(d>b)からなる部分を、単数あるいは複数設けることもできる。   Further, when the bank B is formed on the substrate P, the liquid injection part A2 formed with a wide width d and the liquid flow part A1 formed with a narrow width b are formed in the linear region A partitioned by the bank B. Can be formed. That is, one or more portions having a width d (d> b) wider than the width b of other regions can be provided at predetermined positions in the longitudinal direction of the linear region A.

一般に、線状領域に液体を配置する際、液体の表面張力の作用などによって、液体注入部A2から液体流動部A1に液体が流入しにくかったり、その領域内で液体が広がりにくい場合がある。これに対して、本実施形態の薄膜パターン形成方法では、液体注入部A2と、液体流動部A1とでは線幅に差が設けられていて、しかも液体注入部A2の幅が、液体流動部A1の線幅の2倍以下に設定されているので、この部分での液体の動きが誘因となり、液体流動部A1への機能液Lの流入あるいは液体流動部A1内での機能液Lの広がりが促進される。   In general, when a liquid is disposed in a linear region, it may be difficult for the liquid to flow from the liquid injection part A2 to the liquid flow part A1 due to the action of the surface tension of the liquid, or the liquid may not easily spread in the region. In contrast, in the thin film pattern forming method of the present embodiment, a difference is provided in the line width between the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1, and the width of the liquid injection part A2 is the liquid flow part A1. Therefore, the movement of the liquid in this part is an incentive, and the inflow of the functional liquid L into the liquid flow part A1 or the spread of the functional liquid L in the liquid flow part A1 is caused. Promoted.

このように、機能液Lの配置時におけるバンクBからの機能液Lの流入が促進されることから、膜パターンFが所望の形状に形成される。したがって、細い線状の膜パターンFを、精度よく安定的に形成することができる。   Thus, since the inflow of the functional liquid L from the bank B at the time of arrangement | positioning of the functional liquid L is accelerated | stimulated, the film | membrane pattern F is formed in a desired shape. Therefore, the thin linear film pattern F can be formed with high accuracy and stability.

ここで、図6(c)、図6(d)を参照しながら液体注入部A2の幅が液体流動部A1の線幅の2倍以下であることについて説明する。   Here, it will be described with reference to FIGS. 6C and 6D that the width of the liquid injection part A2 is not more than twice the line width of the liquid flow part A1.

液体注入部A2に機能液Lが滴下し着弾すると、液体注入部A2に溜まった機能液滴L2は表面張力によって安定しようとする力が働いて半球状を呈する(図6(c)参照)。   When the functional liquid L drops and lands on the liquid injecting portion A2, the functional liquid droplet L2 accumulated in the liquid injecting portion A2 has a hemispherical shape due to the force to be stabilized by the surface tension (see FIG. 6C).

ここで、液体注入部A2の直径をd、液体流動部A1の線幅をb、液体注入部A2に溜まった機能液滴L2の圧力をP、表面張力をσ、液面曲率半径をRとすると、P、σ、Rの間には以下の関係が成り立ち、液体注入部A2に溜まった機能液滴L2の圧力Pは、下記の(1)式で与えられる。 Here, the diameter of the fluid injecting section A2 d, the line width of the fluid flowing section A1 b, P 2 the pressure of the functional droplet L2 accumulated in the fluid injecting section A2, the surface tension sigma, the liquid surface curvature radius R When 2, the pressure P 2 of P 2, sigma, between R 2 holds the following relationship, the functional droplet L2 accumulated in the fluid injecting section A2 is given by the following equation (1).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

次に、液体注入部A2にある機能液滴L2が液体流動部A1に流れ出す。このとき、機能液滴L2は前述と同様に安定しようとするが、液体流動部A1が細い溝形状であるため、機能液滴L1は液体流動部A1の長手方向に沿って流れ出し、その形状が、略かまぼこ型(略半円柱)の形状になる(図6(d)参照)。   Next, the functional liquid droplet L2 in the liquid injection part A2 flows out to the liquid flow part A1. At this time, the functional liquid droplet L2 tends to be stabilized in the same manner as described above, but since the liquid flow portion A1 has a narrow groove shape, the functional liquid droplet L1 flows out along the longitudinal direction of the liquid flow portion A1, and the shape thereof is It becomes the shape of a substantially semi-cylindrical shape (substantially semi-cylindrical) (see FIG. 6D).

ここで、液体流動部A1の機能液滴L1の圧力をP、表面張力をσ、幅方向の曲率半径をR、長手方向の曲率半径をRとすると曲率半径Rは∞とみなすことができ、P、σ、Rの間には以下の関係が成りたち、液体流動部A1の圧力Pは、下記の(2)式で与えられる。 Here, if the pressure of the functional liquid droplet L1 in the liquid flow part A1 is P 1 , the surface tension is σ, the curvature radius in the width direction is R 1 , and the curvature radius in the longitudinal direction is R 3 , the curvature radius R 3 is regarded as ∞. The following relationship is established among P 1 , σ, and R 1 , and the pressure P 1 of the liquid flow part A1 is given by the following equation (2).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

液体流動部A1の圧力Pと、液体注入部A2の圧力Pとが定常状態では釣り合うので、P=Pとなり、(1)式と(2)式から(3)式が得られる。 The pressure P 1 of the fluid flowing section A1, since the pressure P 2 in the fluid injecting section A2 are balanced in the steady state, P 1 = P 2, and the can (1) and (2) from (3) to obtain .

Figure 0004715822
Figure 0004715822

ここで、図6(e)を参照しながら液体注入部A2と、液体流動部A1の接触角について説明する。   Here, the contact angle between the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 will be described with reference to FIG.

図6(e)に示すように、液滴Lの曲率半径をR、液の高さをh、ベース部の幅をw、接触角をθとすると、接触角θは下記の(4)式で与えられる。   As shown in FIG. 6E, when the radius of curvature of the droplet L is R, the height of the liquid is h, the width of the base is w, and the contact angle is θ, the contact angle θ is expressed by the following equation (4): Given in.

Figure 0004715822
Figure 0004715822

同様に、液の高さhは(5)式で表せる。   Similarly, the height h of the liquid can be expressed by equation (5).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

(4)式へ(3)式を適用することにより、液体流動部A1の接触角θと、液体注入部A2の接触角θは(6)式と(7)式で与えられる。 By applying (4) to formula (3), the contact angle theta 1 of the fluid flowing section A1, the contact angle theta 2 of the fluid injecting section A2 is given by (6) and (7).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

Figure 0004715822
Figure 0004715822

ここで、d=2bの関係のときに、(6)式と(7)式より、θ=θが得られる。 Here, when d = 2b, θ 1 = θ 2 is obtained from the equations (6) and (7).

また、バンクBは撥液性なので液体の接触角が非常に大きくなることから、接触角が90度以上180度以下とすると、式(6)よりd>2bのときにはθ>θが成り立ち、d<2bのときにはθ<θが成り立つ。
なお、液滴を液体注入部A2に着弾させた際に、バンクBから液体がはみ出さないようにするためには、液体注入部A2における液体の接触角θが、液体流動部A1の液体の接触角θを超えないようにすることが必要要件である。そして、最終的に必要な膜厚から液体注入部A2に注入すべき液体総量がほぼ決まり、なるべく少ない回数の注入で薄膜を効率良く形成するためには、液体注入部A2の最大注入液量(最大充填液量)が多い方が有利である。また、液体流動部A1の線幅bは、必要な配線の線幅から決まり基本的に変更できない設計値であり、また液体流動部A2のサイズ(面積)も面積効率を考慮すると小さい方が好ましい。
ここで、液体注入部A2になるべく多量の液体を溜められるためには、液体注入部A2の容積(底面積×高さ(深さ))を多くすればよい。しかし、液体受容部の深さを決めるバンクBの高さは基板表面に凹凸を作り出す原因になるので、最終的に形成される薄膜の膜厚程度の高さ(膜厚より若干高い程度の高さ)に留めるのが好ましい。
つまり、接触角θ≦接触角θであれば、液体注入部A2の最大液体注入量を多くすることができる。
ゆえに、d≦2bのときがよく、なるべく多くの液体を短時間で液体注入部A2に注入することができる。
Further, since the contact angle of the liquid is very large because the bank B is liquid repellent, if the contact angle is 90 degrees or more and 180 degrees or less, θ 1 > θ 2 is established when d> 2b from Equation (6). , D <2b, θ 12 holds.
Incidentally, when the landed droplets to the fluid injecting section A2, in order to does not protrude liquid from the bank B, the contact angle theta 2 of the liquid in the fluid injecting section A2 is, liquid fluid flowing section A1 a requirement that does not exceed the contact angle theta 1. Then, the total amount of liquid to be injected into the liquid injection part A2 is almost determined from the finally required film thickness, and in order to efficiently form a thin film with as few injections as possible, the maximum injection liquid amount of the liquid injection part A2 ( It is advantageous to have a larger maximum filling liquid amount. The line width b of the liquid flow part A1 is determined from the line width of the necessary wiring and is basically a design value that cannot be changed, and the size (area) of the liquid flow part A2 is preferably small in consideration of area efficiency. .
Here, in order to store as much liquid as possible in the liquid injection part A2, the volume (bottom area × height (depth)) of the liquid injection part A2 may be increased. However, since the height of the bank B that determines the depth of the liquid receiving portion causes unevenness on the substrate surface, the height of the thin film finally formed is as high as a little higher than the film thickness. Preferably).
That is, if the contact angle θ 1 ≦ contact angle θ 2 , the maximum liquid injection amount of the liquid injection part A2 can be increased.
Therefore, it is preferable that d ≦ 2b, and as much liquid as possible can be injected into the liquid injection portion A2 in a short time.

また、(5)式へ(3)式を適用することにより、液体流動部A1の液の高さhと、液体注入部A2の液の高さhとは(8)式、(9)式で与えられる。 Also, (5) by applying the formula to (3), the height h 1 of the liquid fluid flowing section A1, the height h 2 of the liquid fluid injecting section A2 (8) formula (9 ).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

Figure 0004715822
Figure 0004715822

ここで、d=2bの関係のときに、(8)式と(9)式より、h=2hが得られる。 Here, when d = 2b, h 2 = 2h 1 is obtained from the equations (8) and (9).

つまり、最終的な膜厚は、液の平均高さと正の相関関係にある。液体流動部A1に溜まる半円柱状の液の平均高さhは、その半円柱を幅方向に切断してできる半円(切断面)の高さをベース幅の範囲で積分することにより求まる半円の面積をベース幅dで割ることで得られる。一方、液体注入部A2にある半円球状の液の平均高さhA2は、図6(e)に示す半円を半円球の中心線を軸として半回転させる積分を計算することにより求まる半円球の体積をベース面積で割ることで得られる。したがって、半円柱と半円球の液の高さ(最大高さ)h,hが同じであるとすると(h=h)、平均高さhA1,hA2では、液体流動部A1の平均高さhA1の方が、液体注入部A2の平均高さhA2より大きくなり(hA2<hA1)、液の高さがh=2hの関係にある場合は、平均高さは2倍以下(hA2<2hA1)となる。
したがって、液体注入部A2の幅dと液体流動部A1の線幅bとの間に、d≦2bの関係が成立すれば、液体注入部A2と液体流動部A1のそれぞれに溜まった液体の平均高さは、hA2<2hA1の関係を満たす。このため、液体注入部A2と液体流動部A1のそれぞれに溜まった液体を乾燥させて最終的に得られる薄膜の各対応部分における膜厚の関係は、hA2<2hA1の関係と正の相関を有することから、膜厚においても2倍未満に収まり、液体注入部A2と液体流動部A1のそれぞれに形成される薄膜の膜厚差が許容範囲に収まり易くなる。
That is, the final film thickness has a positive correlation with the average height of the liquid. The average height h 1 of the semicylindrical liquid accumulated in the liquid flow part A1 is obtained by integrating the height of a semicircle (cut surface) formed by cutting the semicylindrical in the width direction within the range of the base width. It is obtained by dividing the area of the semicircle by the base width d. On the other hand, the average height h A2 of the semispherical liquid in the liquid injecting portion A2 is obtained by calculating an integral for half-rotating the semicircle shown in FIG. It is obtained by dividing the volume of the hemisphere by the base area. Accordingly, assuming that the liquid heights (maximum heights) h 1 and h 2 of the semi-cylindrical and the semi-circular sphere are the same (h 1 = h 2 ), the liquid flow part at the average heights h A1 and h A2 towards the average height h A1 in the A1 is greater than the average height h A2 of the fluid injecting section A2 (h A2 <h A1) , if the height of the liquid is in the relationship h 2 = 2h 1, the average The height is 2 times or less (h A2 <2h A1 ).
Therefore, if the relationship of d ≦ 2b is established between the width d of the liquid injection part A2 and the line width b of the liquid flow part A1, the average of the liquid accumulated in each of the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 The height satisfies the relationship h A2 <2h A1 . For this reason, the relationship between the thicknesses of the corresponding portions of the thin film finally obtained by drying the liquid accumulated in the liquid injection portion A2 and the liquid flow portion A1 is positively correlated with the relationship of h A2 <2h A1. Therefore, the film thickness is less than twice as much, and the film thickness difference between the thin films formed in the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 is easily within the allowable range.

したがって、液体注入部A2の直径(平均径)dは、液体流動部A1の線幅bに対して、好ましくは2倍以下(本実施形態ではb<do≦d≦2b(但しdoは着弾前の液滴の径))に設定することがよく、特に好ましい値としては2倍(d=2b)である。   Therefore, the diameter (average diameter) d of the liquid injection part A2 is preferably not more than twice the line width b of the liquid flow part A1 (in this embodiment, b <do ≦ d ≦ 2b (where do is before landing) The droplet diameter is preferably 2) (d = 2b).

以上のような第1実施形態では、次のような効果が得られる。   In the first embodiment as described above, the following effects are obtained.

(1)液体注入部A2の幅dと液体流動部A1の線幅bの関係を、d≦2bにすることで、液体注入部A2における液体の接触角θが、液体流動部A1における液体の接触角θより大きくなり、液体注入部A2へ液体を注入するときの最大液体注入量をなるべく多くすることができる。つまり、なるべく少ない回数の注入で薄膜パターンを効率良く形成できる。
(2)液体注入部A2に注入された液体を効率良く液体流動部A1に流動させることができて、液体注入部A2と、液体流動部A1での液体の高さの比が2以下を満たすことができるので、膜厚を許容範囲内で一致させることが可能になる(液体注入部A2と、液体流動部A1での膜厚がほぼ等しくなる)。したがって、より微細な薄膜パターンが形成できる。
(3)液体注入部A2に液体が多く残ると、液体注入部A2と、液体流動部A1とでは蒸発速度が大きく異なるため、膜の均一性が損なわれてしまうことがあるが、本発明ではこの蒸発速度が同じ程度になるので、乾燥過程での膜の均一性を容易に得ることができる。つまり、液体注入部A2と、液体流動部A1との膜の厚さが同じ程度になるため、凹凸の少ない薄膜パターンが形成できる。
(4)さらに、この薄膜パターンの上に、後工程(乾式および、湿式での薄膜形成)で別な材質の膜を積層して得られる積層構造の積層膜でも、得られる膜が凹凸の少ない薄膜パターンであるので、断線やショートなどの品質問題を未然に防ぐことが可能な積層膜を形成できるので、安定した品質のデバイスを提供できる。
(1) the relationship between the line width b of the width d and the fluid flowing section A1 of the fluid injecting section A2, by the d ≦ 2b, the contact angle theta 2 of the liquid in the fluid injecting section A2 is, liquid in the fluid flowing section A1 of greater than the contact angle theta 1, it can be as much the maximum fluid injecting amount when injecting a fluid into the fluid injecting section A2. That is, a thin film pattern can be formed efficiently with as few injections as possible.
(2) The liquid injected into the liquid injection part A2 can efficiently flow into the liquid flow part A1, and the ratio of the liquid height in the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 satisfies 2 or less. Therefore, the film thicknesses can be matched within an allowable range (the film thicknesses at the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 are substantially equal). Therefore, a finer thin film pattern can be formed.
(3) If a large amount of liquid remains in the liquid injection portion A2, the evaporation rate is greatly different between the liquid injection portion A2 and the liquid flow portion A1, so that the uniformity of the film may be impaired. Since the evaporation rates are the same, the uniformity of the film during the drying process can be easily obtained. In other words, since the film thicknesses of the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 are approximately the same, a thin film pattern with less unevenness can be formed.
(4) Furthermore, even in a laminated film having a laminated structure obtained by laminating films of different materials on the thin film pattern in a subsequent process (dry and wet thin film formation), the obtained film has little unevenness. Since it is a thin film pattern, a laminated film capable of preventing quality problems such as disconnection and short-circuit can be formed, so that a device with stable quality can be provided.

(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について説明する。第2実施形態は前述の第1実施形態における液体注入部A2が楕円形状になっていることが異なるものである。
なお、前述の第1実施形態と同じ部品及び同様な機能を有する部品には同一記号を付し、説明を省略する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. The second embodiment is different from the first embodiment in that the liquid injection part A2 has an elliptical shape.
The same parts as those in the first embodiment described above and parts having the same functions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

図7は、第2実施形態としての薄膜パターン形成方法の概念図である。   FIG. 7 is a conceptual diagram of a thin film pattern forming method as the second embodiment.

図7(a)に示すように、この薄膜パターンは、基板P上にバンクBを形成する際、バンクBによって区画される線状領域Aについて、液体注入部A2が楕円形状となるように構成されている。ここでは、液体注入部A2の短径mと、長径nとの2つの主直径の調和平均が、液体流動部A1の幅bに対して少なくとも2倍以下の広さになるように構成されている。   As shown in FIG. 7A, this thin film pattern is configured such that when the bank B is formed on the substrate P, the liquid injection part A2 has an elliptical shape in the linear region A partitioned by the bank B. Has been. Here, the harmonic average of the two main diameters of the minor axis m and the major axis n of the liquid injection part A2 is configured to be at least twice as wide as the width b of the liquid flow part A1. Yes.

図7(b)に示すように、基板P上に形成されたバンクBによって区画された線状の領域Aに機能液Lを配置できるように構成されている。滴下された機能液Lが液体注入部A2の範囲に広がろうとするときに、表面張力によって安定しようとする力が働いて、この液滴の表面が半球状を呈する(図6(c)参照)。   As shown in FIG. 7B, the functional liquid L can be arranged in a linear region A partitioned by a bank B formed on the substrate P. When the dropped functional liquid L tries to spread to the range of the liquid injection part A2, a force to stabilize by the surface tension works, and the surface of the liquid droplet has a hemispherical shape (see FIG. 6C). ).

ここで、機能液Lが液体注入部A2に満たされる前に、この機能液Lが液体注入部A2から液体流動部A1の長手方向に沿って流れ出し、液体流動部A1に溜まる。この液体流動部A1に溜まった機能液Lは、略かまぼこ型(略半円柱)の形状になる(図6(d)参照)。   Here, before the functional liquid L is filled in the liquid injection part A2, the functional liquid L flows out from the liquid injection part A2 along the longitudinal direction of the liquid flow part A1, and accumulates in the liquid flow part A1. The functional liquid L accumulated in the liquid flow part A1 has a substantially kamaboko type (substantially semi-cylindrical) shape (see FIG. 6D).

ここで、液体注入部A2の短径をmとし、長径をnとし、液体流動部A1の線幅をbとして、楕円の中心での液面曲率半径をR2m、R2nとすると、下記の(10)式が与えられる。この(10)式は近似式である。 Here, assuming that the minor axis of the liquid injection part A2 is m, the major axis is n, the line width of the liquid flow part A1 is b, and the liquid surface curvature radius at the center of the ellipse is R 2m and R 2n , Equation (10) is given. This expression (10) is an approximate expression.

Figure 0004715822
Figure 0004715822

したがって、(10)式から(11)式が得られる。   Therefore, Equation (11) is obtained from Equation (10).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

定常状態での圧力の釣り合い条件は、(12)式で与えられる。   The pressure balance condition in the steady state is given by equation (12).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

したがって、(12)式から(13)式が得られる。   Therefore, equation (13) is obtained from equation (12).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

ここでm=nとすると、第1実施形態で得られた円の場合と同様になる((3)式参照)。   Here, if m = n, it is the same as in the case of the circle obtained in the first embodiment (see equation (3)).

また液体注入部A2では短径方向の縁が最大接触角を与えるので、短径方向の曲率半径R2mを使うことができる。 Further, since the edge in the minor axis direction gives the maximum contact angle in the liquid injection part A2, the radius of curvature R 2m in the minor axis direction can be used.

ここで、楕円の場合の接触角について説明する。第1実施形態の(3)式の代わりに、(12)式を用いることで、液体流動部A1の接触角θは(14)式で表せる。 Here, the contact angle in the case of an ellipse will be described. By using the expression (12) instead of the expression (3) of the first embodiment, the contact angle θ 1 of the liquid flow part A1 can be expressed by the expression (14).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

同様に、(13)式を用いることで、液体注入部A2の接触角θは(15)式で与えられる。 Similarly, by using the equation (13), the contact angle theta 2 of the fluid injecting section A2 is given by equation (15).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

したがって、(14)式と、(15)式とから、液体流動部A1の線幅bは(16)式で与えられ、このときに、θ=θが得られる。 Therefore, from equation (14) and equation (15), the line width b of the liquid flow part A1 is given by equation (16), and at this time, θ 1 = θ 2 is obtained.

Figure 0004715822
Figure 0004715822

したがって、この(16)式から(17)式が得られる。   Therefore, equation (17) is obtained from equation (16).

Figure 0004715822
Figure 0004715822

つまり、第1実施形態と同様に、液体注入部A2に溜まった機能液滴L2の圧力Pと、液体流動部A1に流れ出した機能液滴L1との圧力Pが、定常状態で釣り合う。P=Pとなり、液体注入部A2の短径mと、長径nとの2つの主直径の調和平均が、液体流動部A1の線幅bの、好ましくは2倍以下であり、特に好ましいのは2倍である。 That is, like the first embodiment, the pressure P 2 of the functional droplet L2 accumulated in the fluid injecting section A2, the pressure P 1 of the functional droplet L1 flowing to the fluid flowing section A1, balanced in the steady state. P 1 = P 2 , and the harmonic mean of the two main diameters of the minor axis m and the major axis n of the liquid injection part A2 is preferably not more than twice the line width b of the liquid flow part A1, and is particularly preferable. Is twice as much.

以上のような第2実施形態では、次のような効果が得られる。   In the second embodiment as described above, the following effects are obtained.

(5)液体注入部A2の形状が楕円になっても、液体注入部A2に滴下された機能液滴L2と、液体流動部A1に流れ出した機能液滴L1との関係が、第1実施形態とほぼ同様になるので、同種の効果が得られる。   (5) Even if the shape of the liquid injection part A2 becomes an ellipse, the relationship between the functional liquid droplet L2 dropped onto the liquid injection part A2 and the functional liquid droplet L1 flowing out to the liquid flow part A1 is the first embodiment. The same kind of effect can be obtained.

(第3実施形態)
次に、本発明の第3実施形態について説明する。第3実施形態は前述の第1実施形態及び第2実施形態における液体注入部A2が正方形の形状になっていることが異なるものである。
なお、前述の第1実施形態及び第2実施形態と同じ部品及び同様な機能を有する部品には同一記号を付し、説明を省略する。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described. The third embodiment is different from the first embodiment and the second embodiment described above in that the liquid injection part A2 has a square shape.
The same parts as those in the first embodiment and the second embodiment described above and parts having the same functions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

図8は、第3実施形態としての薄膜パターン形成方法の概念図である。   FIG. 8 is a conceptual diagram of a thin film pattern forming method as the third embodiment.

図8(a)に示すように、この薄膜パターンは、基板P上にバンクBを形成する際、バンクBによって区画される線状領域Aについて、液体注入部A2が正方形の形状となるように構成されている。しかも、液体注入部A2の一辺の長さKが、液体流動部A1の幅bに対して少なくとも2倍以下の広さになるように構成されている。   As shown in FIG. 8A, this thin film pattern is formed so that when the bank B is formed on the substrate P, the liquid injection part A2 has a square shape in the linear region A partitioned by the bank B. It is configured. Moreover, the length K of one side of the liquid injection part A2 is configured to be at least twice as large as the width b of the liquid flow part A1.

図8(b)に示すように、基板P上に形成されたバンクBによって区画された線状の領域Aに機能液Lを配置できるように構成されている。滴下された機能液Lが液体注入部A2の範囲に広がろうとするときに、表面張力によって安定しようとする力が働いて、この液滴の表面が半球状を呈する。(図6(c)参照)。   As shown in FIG. 8B, the functional liquid L can be arranged in a linear region A partitioned by a bank B formed on the substrate P. When the dropped functional liquid L tries to spread in the range of the liquid injection part A2, a force to stabilize by the surface tension works, and the surface of the liquid droplet has a hemispherical shape. (See FIG. 6 (c)).

ここで、機能液Lが液体注入部A2に満たされると、この機能液Lが液体注入部A2から液体流動部A1の長手方向に沿って流れ出し、液体流動部A1に溜まる。液体流動部A1に溜まった機能液Lは、略かまぼこ型(略半円柱)の形状になる(図6(d)参照)。   Here, when the functional liquid L is filled in the liquid injection part A2, the functional liquid L flows out from the liquid injection part A2 along the longitudinal direction of the liquid flow part A1, and accumulates in the liquid flow part A1. The functional liquid L accumulated in the liquid flow part A1 has a substantially kamaboko type (substantially semi-cylindrical) shape (see FIG. 6D).

つまり、第1実施形態と同様に、液体注入部A2に溜まった機能液滴L2の圧力Pと、液体流動部1に流れ出した機能液滴L1との圧力Pが、定常状態で釣り合う。P=Pとなり、2R=R((3)式参照)から液体注入部A2の一辺の長さKと、液体流動部A1の線幅bとの違いが、好ましくはKはbの2倍以下であり、特に好ましいのは2倍である。 That is, like the first embodiment, the pressure P 2 of the functional droplet L2 accumulated in the fluid injecting section A2, the pressure P 1 of the functional droplet L1 flowing to the fluid flowing section 1, balanced in the steady state. P 1 = P 2 and the difference between the length K of one side of the liquid injection part A2 and the line width b of the liquid flow part A1 from 2R 1 = R 2 (see equation (3)), preferably K is b 2 times or less, particularly preferably 2 times.

以上のような第3実施形態では、次のような効果が得られる。   In the third embodiment as described above, the following effects are obtained.

(6)液体注入部A2の形状が正方形になっても、液体注入部A2に溜まった機能液滴L2と、液体流動部A1に流れ出した機能液滴L1との関係が、第1実施形態とほぼ同様になるので、同種の効果が得られる。   (6) Even when the shape of the liquid injection part A2 becomes square, the relationship between the functional liquid droplet L2 accumulated in the liquid injection part A2 and the functional liquid droplet L1 flowing out to the liquid flow part A1 is the same as that of the first embodiment. Since they are almost the same, the same kind of effect can be obtained.

<電気光学装置>
本発明の電気光学装置の一例である液晶表示装置について説明する。図10は本発明に係る液晶表示装置について、各構成要素とともに示す対向基板側から見た平面図であり、図11は図10のH−H'線に沿う断面図である。図12は液晶表示装置の画像表示領域においてマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図で、図13は、液晶表示装置の部分拡大断面図である。なお、以下の説明に用いた各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。
<Electro-optical device>
A liquid crystal display device which is an example of the electro-optical device of the invention will be described. FIG. 10 is a plan view of the liquid crystal display device according to the present invention as seen from the counter substrate side shown together with each component, and FIG. 11 is a cross-sectional view taken along the line HH ′ of FIG. FIG. 12 is an equivalent circuit diagram of various elements and wirings in a plurality of pixels formed in a matrix in the image display region of the liquid crystal display device, and FIG. 13 is a partial enlarged cross-sectional view of the liquid crystal display device. In each drawing used in the following description, the scale is different for each layer and each member so that each layer and each member can be recognized on the drawing.

図10及び図11において、本実施の形態の液晶表示装置(電気光学装置)100は、対をなすTFTアレイ基板10と対向基板20とが光硬化性の封止材であるシール材52によって貼り合わされ、このシール材52によって区画された領域内に液晶50が封入、保持されている。シール材52は、基板面内の領域において閉ざされた枠状に形成されている。   10 and 11, in the liquid crystal display device (electro-optical device) 100 according to the present embodiment, a pair of TFT array substrate 10 and counter substrate 20 are attached by a sealing material 52 which is a photocurable sealing material. The liquid crystal 50 is sealed and held in the region partitioned by the sealing material 52. The sealing material 52 is formed in a frame shape closed in a region within the substrate surface.

シール材52の形成領域の内側の領域には、遮光性材料からなる周辺見切り53が形成されている。シール材52の外側の領域には、データ線駆動回路201及び実装端子202がTFTアレイ基板10の一辺に沿って形成されており、この一辺に隣接する2辺に沿って走査線駆動回路204が形成されている。TFTアレイ基板10の残る一辺には、画像表示領域の両側に設けられた走査線駆動回路204の間を接続するための複数の配線205が設けられている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための基板間導通材206が配設されている。   A peripheral parting 53 made of a light shielding material is formed in a region inside the region where the sealing material 52 is formed. A data line driving circuit 201 and a mounting terminal 202 are formed along one side of the TFT array substrate 10 in a region outside the sealing material 52, and the scanning line driving circuit 204 is formed along two sides adjacent to the one side. Is formed. On the remaining side of the TFT array substrate 10, a plurality of wirings 205 are provided for connecting between the scanning line driving circuits 204 provided on both sides of the image display area. Further, at least one corner of the counter substrate 20 is provided with an inter-substrate conductive material 206 for establishing electrical continuity between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

なお、データ線駆動回路201及び走査線駆動回路204をTFTアレイ基板10の上に形成する代わりに、例えば、駆動用LSIが実装されたTAB(Tape Automated・Bonding)基板とTFTアレイ基板10の周辺部に形成された端子群とを異方性導電膜を介して電気的及び機械的に接続するようにしてもよい。なお、液晶表示装置100においては、使用する液晶50の種類、すなわち、TN(Twisted・Nematic)モード、STN(Super・Twisted・Nematic)モード等の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて、位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。また、液晶表示装置100をカラー表示用として構成する場合には、対向基板20において、TFTアレイ基板10の後述する各画素電極に対向する領域に、例えば赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタをその保護膜とともに形成する。   Instead of forming the data line drive circuit 201 and the scanning line drive circuit 204 on the TFT array substrate 10, for example, a TAB (Tape Automated Bonding) substrate on which a driving LSI is mounted and the periphery of the TFT array substrate 10 The terminal group formed in the part may be electrically and mechanically connected via an anisotropic conductive film. In the liquid crystal display device 100, the type of the liquid crystal 50 to be used, that is, an operation mode such as a TN (Twisted / Nematic) mode, an STN (Super Twisted / Nematic) mode, or a normally white mode / normally black mode. According to the above, a retardation plate, a polarizing plate and the like are arranged in a predetermined direction, but the illustration is omitted here. In the case where the liquid crystal display device 100 is configured for color display, for example, red (R), green (G), blue, and the like are disposed in a region of the counter substrate 20 facing each pixel electrode (to be described later) of the TFT array substrate 10. The color filter (B) is formed together with the protective film.

このような構造を有する液晶表示装置100の画像表示領域においては、図12に示すように、複数の画素100aがマトリクス状に構成されているとともに、これらの画素100aの各々には、画素スイッチング用のTFT(スイッチング素子)30が形成されており、画素信号S1、S2、…、Snを供給するデータ線6aがTFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画素信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次で供給してもよく、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。また、TFT30のゲートには走査線3aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gmをこの順に線順次で印加するように構成されている。   In the image display region of the liquid crystal display device 100 having such a structure, as shown in FIG. 12, a plurality of pixels 100a are configured in a matrix, and each of these pixels 100a has a pixel switching region. TFT (switching element) 30 is formed, and a data line 6 a for supplying pixel signals S 1, S 2,..., Sn is electrically connected to the source of the TFT 30. Pixel signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. . Further, the scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the scanning signals G1, G2,..., Gm are applied to the scanning line 3a in a pulse-sequential manner in this order at a predetermined timing. It is configured.

画素電極19はTFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけオン状態とすることにより、データ線6aから供給される画素信号S1、S2、…、Snを各画素に所定のタイミングで書き込む。このようにして画素電極19を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画素信号S1、S2、…、Snは、図11に示す対向基板20の対向電極121との間で一定期間保持される。なお、保持された画素信号S1、S2、…、Snがリークするのを防ぐために、画素電極19と対向電極121との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量60が付加されている。例えば、画素電極19の電圧は、ソース電圧が印加された時間よりも3桁も長い時間だけ蓄積容量60により保持される。これにより、電荷の保持特性は改善され、コントラスト比の高い液晶表示装置100を実現することができる。   The pixel electrode 19 is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the pixel signal S1, S2,..., Sn supplied from the data line 6a is turned on by turning on the TFT 30 as a switching element for a certain period. Write to the pixel at a predetermined timing. The pixel signals S1, S2,..., Sn written in the liquid crystal via the pixel electrode 19 in this way are held for a certain period with the counter electrode 121 of the counter substrate 20 shown in FIG. In order to prevent the held pixel signals S1, S2,..., Sn from leaking, a storage capacitor 60 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 19 and the counter electrode 121. For example, the voltage of the pixel electrode 19 is held by the storage capacitor 60 for a time that is three orders of magnitude longer than the time when the source voltage is applied. Thereby, the charge retention characteristics are improved, and the liquid crystal display device 100 with a high contrast ratio can be realized.

図13はボトムゲート型TFT30を有する液晶表示装置100の部分拡大断面図であって、TFTアレイ基板10を構成するガラス基板Pには、上記実施形態の配線パターンの形成方法によりゲート配線61がガラス基板P上のバンクB、B間に形成されている。   FIG. 13 is a partial enlarged cross-sectional view of the liquid crystal display device 100 having the bottom gate type TFT 30, and the gate wiring 61 is formed on the glass substrate P constituting the TFT array substrate 10 by the wiring pattern forming method of the above embodiment. It is formed between banks B and B on the substrate P.

ゲート配線61上には、SiNxからなるゲート絶縁膜62を介してアモルファスシリコン(a−Si)層からなる半導体層63が積層されている。このゲート配線部分に対向する半導体層63の部分がチャネル領域とされている。半導体層63上には、オーミック接合を得るための例えばn+型a−Si層からなる接合層64a及び64bが積層されており、チャネル領域の中央部における半導体層63上には、チャネルを保護するためのSiNxからなる絶縁性のエッチストップ膜65が形成されている。なお、これらゲート絶縁膜62、半導体層63、及びエッチストップ膜65は、蒸着(CVD)後にレジスト塗布、感光・現像、フォトエッチングを施されることで、図示されるようにパターニングされる。   A semiconductor layer 63 made of an amorphous silicon (a-Si) layer is stacked on the gate wiring 61 with a gate insulating film 62 made of SiNx interposed therebetween. A portion of the semiconductor layer 63 facing the gate wiring portion is a channel region. On the semiconductor layer 63, junction layers 64a and 64b made of, for example, an n + -type a-Si layer for obtaining an ohmic junction are stacked, and the channel is protected on the semiconductor layer 63 in the central portion of the channel region. An insulating etch stop film 65 made of SiNx is formed. The gate insulating film 62, the semiconductor layer 63, and the etch stop film 65 are patterned as shown in the figure by performing resist coating, photosensitive / developing, and photoetching after vapor deposition (CVD).

さらに、接合層64a、64b及びITOからなる画素電極19も同様に成膜するとともに、フォトエッチングを施されることで、図示するようにパターニングされる。そして、画素電極19、ゲート絶縁膜62及びエッチストップ膜65上にそれぞれバンク66…を突設し、これらバンク66…間に上述した液滴吐出装置IJを用いて、銀化合物の液滴を吐出することでソース線、ドレイン線を形成することができる。   Further, the bonding layers 64a and 64b and the pixel electrode 19 made of ITO are formed in the same manner, and are patterned as shown in the figure by performing photoetching. Banks 66 are provided on the pixel electrode 19, the gate insulating film 62, and the etch stop film 65, and silver droplets are discharged between the banks 66 using the above-described droplet discharge device IJ. Thus, a source line and a drain line can be formed.

なお、上記実施形態では、TFT30を液晶表示装置100の駆動のためのスイッチング素子として用いる構成としたが、液晶表示装置以外にも例えば有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示デバイスに応用が可能である。有機EL表示デバイスは、蛍光性の無機および有機化合物を含む薄膜を、陰極と陽極とで挟んだ構成を有し、前記薄膜に電子および正孔(ホール)を注入して再結合させることにより励起子(エキシトン)を生成させ、このエキシトンが失活する際の光の放出(蛍光・燐光)を利用して発光させる素子である。そして、上記のTFT30を有する基板上に、有機EL表示素子に用いられる蛍光性材料のうち、赤、緑および青色の各発光色を呈する材料すなわち発光層形成材料及び正孔注入/電子輸送層を形成する材料をインクとし、各々をパターニングすることで、自発光フルカラーELデバイスを製造することができる。本発明におけるデバイス(電気光学装置)の範囲にはこのような有機ELデバイスをも含むものである。   In the above embodiment, the TFT 30 is used as a switching element for driving the liquid crystal display device 100. However, the present invention can be applied to, for example, an organic EL (electroluminescence) display device in addition to the liquid crystal display device. An organic EL display device has a structure in which a thin film containing a fluorescent inorganic and organic compound is sandwiched between a cathode and an anode, and is excited by injecting electrons and holes into the thin film and recombining them. It is an element that emits light by using light emission (fluorescence / phosphorescence) when a child (exciton) is generated and the exciton is deactivated. Then, on the substrate having the TFT 30 described above, among the fluorescent materials used for the organic EL display element, a material exhibiting each emission color of red, green and blue, that is, a light emitting layer forming material and a hole injection / electron transport layer are provided. A self-luminous full-color EL device can be manufactured by using ink as a material to be formed and patterning each. The range of the device (electro-optical device) in the present invention includes such an organic EL device.

他の実施形態として、非接触型カード媒体の実施形態について説明する。図14に示すように、本実施形態に係る非接触型カード媒体(電子機器)400は、カード基体402とカードカバー418から成る筐体内に、半導体集積回路チップ408とアンテナ回路412を内蔵し、図示されない外部の送受信機と電磁波または静電容量結合の少なくとも一方により電力供給あるいはデータ授受の少なくとも一方を行うようになっている。本実施形態では、上記アンテナ回路412が、上記実施形態に係る配線パターン形成方法によって形成されている。   As another embodiment, an embodiment of a contactless card medium will be described. As shown in FIG. 14, a non-contact type card medium (electronic device) 400 according to the present embodiment includes a semiconductor integrated circuit chip 408 and an antenna circuit 412 in a housing composed of a card base 402 and a card cover 418. At least one of power supply and data transmission / reception is performed by at least one of electromagnetic waves and capacitive coupling with an external transceiver (not shown). In the present embodiment, the antenna circuit 412 is formed by the wiring pattern forming method according to the embodiment.

なお、本発明に係るデバイス(電気光学装置)としては、上記の他に、PDP(プラズマディスプレイパネル)や、基板上に形成された小面積の薄膜に膜面に平行に電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用する表面伝導型電子放出素子等にも適用可能である。   In addition to the above, as a device (electro-optical device) according to the present invention, a current flows in parallel to the film surface in a PDP (plasma display panel) or a small-area thin film formed on a substrate, The present invention can also be applied to a surface conduction electron-emitting device that utilizes a phenomenon in which electron emission occurs.

<電子機器>
本発明の電子機器の具体例について説明する。
図15(a)は携帯電話の一例を示した斜視図である。図15(a)において、600は携帯電話本体を示し、601は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図15(b)はワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図15(b)において、700は情報処理装置、701はキーボードなどの入力部、703は情報処理本体、702は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図15(c)は腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図15(c)において、800は時計本体を示し、801は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図15(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施形態の液晶表示装置を備えたものであり、良好に細線化された配線パターンを有している。
なお、本実施形態の電子機器は液晶装置を備えるものとしたが、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、プラズマ型表示装置等、他の電気光学装置を備えた電子機器とすることもできる。
<Electronic equipment>
Specific examples of the electronic device of the present invention will be described.
FIG. 15A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 15A, reference numeral 600 denotes a mobile phone body, and reference numeral 601 denotes a liquid crystal display unit including the liquid crystal display device of the above embodiment.
FIG. 15B is a perspective view showing an example of a portable information processing apparatus such as a word processor or a personal computer. In FIG. 15B, reference numeral 700 denotes an information processing device, 701 denotes an input unit such as a keyboard, 703 denotes an information processing body, and 702 denotes a liquid crystal display unit including the liquid crystal display device of the above embodiment.
FIG. 15C is a perspective view showing an example of a wristwatch type electronic apparatus. In FIG. 15C, reference numeral 800 denotes a watch body, and reference numeral 801 denotes a liquid crystal display unit including the liquid crystal display device of the above embodiment.
The electronic apparatus shown in FIGS. 15A to 15C includes the liquid crystal display device of the above-described embodiment, and has a wiring pattern that is finely thinned.
In addition, although the electronic device of this embodiment shall be provided with a liquid crystal device, it can also be set as the electronic device provided with other electro-optical devices, such as an organic electroluminescent display apparatus and a plasma type display apparatus.

なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。以下に変形例を示す。   It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention. A modification is shown below.

(変形例1)第1実施形態〜第3実施形態では、バンクを形成し、このバンクに撥液性を付与するように説明したが、本発明はこれに限らない。例えばバンクは無くてもよい。例えば基板に表面処理を施して配線パターン形成予定領域に親液化処理を施し、他の部分に撥液化処理を施し、この親液化処理部分に導電性微粒子を含むインクや有機銀化合物を配置してもよい。   (Modification 1) In the first to third embodiments, the bank is formed and the liquid repellency is imparted to the bank. However, the present invention is not limited to this. For example, there may be no bank. For example, surface treatment is performed on the substrate, lyophilic treatment is performed on the area where the wiring pattern is to be formed, lyophobic treatment is performed on other portions, and ink or organic silver compound containing conductive fine particles is disposed on the lyophilic treatment portion. Also good.

このようにすれば、所望の配線パターンを形成することができる。   In this way, a desired wiring pattern can be formed.

(変形例2)第1実施形態〜第3実施形態では、薄膜パターンを導電性膜とする構成としたが、本発明はこれに限らない。例えば液晶表示装置において表示画像をカラー化するために用いられているカラーフィルタにも適用可能である。このカラーフィルタは、基板に対してR(赤)、G(緑)、B(赤)のインク(液体材料)を液滴として所定パターンで配置することで形成することができるが、基板に対して所定パターンに応じたバンクを形成し、このバンクに撥液性を付与してからインクを配置してカラーフィルタを形成してもよい。   (Modification 2) In the first to third embodiments, the thin film pattern is a conductive film, but the present invention is not limited to this. For example, the present invention can also be applied to a color filter used for colorizing a display image in a liquid crystal display device. This color filter can be formed by arranging R (red), G (green), and B (red) ink (liquid material) as droplets in a predetermined pattern with respect to the substrate. Alternatively, a color filter may be formed by forming a bank according to a predetermined pattern and providing the bank with liquid repellency and then disposing ink.

このようにすれば、高性能なカラーフィルタを有する液晶表示装置を製造することができる。   In this way, a liquid crystal display device having a high-performance color filter can be manufactured.

(変形例3)第1実施形態〜第3実施形態で説明したように、液体注入部A2の周囲にバンクを設けた構成にしたが、本発明はこれに限らない。例えば、液体注入部A2と、液体流動部A1とをバンクを設けないで形成してもよい。   (Modification 3) As described in the first to third embodiments, the bank is provided around the liquid injection portion A2, but the present invention is not limited to this. For example, the liquid injection part A2 and the liquid flow part A1 may be formed without providing a bank.

このようにすれば、バンクがなくても液体注入部A2に滴下された液体の接触角θと、液体流動部A1に滴下された液体の接触角θとが、前述の第1実施形態と同様な関係が成り立つので、第1実施形態〜第3実施形態と同種の効果が得られる。 In this way, the contact angle theta 2 of the liquid dropped on the fluid injecting section A2 without bank, and the contact angle theta 1 of the liquid dropped on the fluid flowing section A1 is, the above-described first embodiment Since the same relationship is established, the same type of effect as in the first to third embodiments can be obtained.

(変形例4)第1実施形態〜第3実施形態で説明したように、液体注入部A2になるべく多くの液体(最大液体充填量近くまで)を供給するようにしたが、本発明はこれに限らない。例えば、液体注入部A2に供給される液体の量が最大液体充填量近くでなくてもよい。   (Modification 4) As described in the first to third embodiments, as much liquid (up to the maximum liquid filling amount) as possible is supplied to the liquid injecting portion A2, but the present invention provides this. Not exclusively. For example, the amount of liquid supplied to the liquid injection part A2 may not be close to the maximum liquid filling amount.

このようにすれば、液体注入部A2に滴下された液体がバンクBで囲まれた領域にゆっくりと充填されるので、バンクBから溢れ出すことがない。   In this way, the liquid dripped into the liquid injection part A2 is slowly filled in the area surrounded by the bank B, so that it does not overflow from the bank B.

(変形例5)第1実施形態〜第3実施形態で説明したように、液体注入部A2の形状は円形状や楕円形状に限定されない。例えば略等方形状とは、円形状に限定されず、正方形、正五角形、正六角形、正八角形、正十二角形などの正多角形、長径と短径が略等しい楕円形状(略円形とみなせる形状)でもよい。また、異方形状とは、楕円形状に限定されず、長方形、菱形でもよい。要するに液体注入部A2は、略等方形状の場合はその幅が液体流動部A1の線幅の2倍以下となる形状であればよく、一方、異方形状の場合はその平均径が液体流動部A1の線幅の2倍以下となる形状であればよい。   (Modification 5) As described in the first to third embodiments, the shape of the liquid injection portion A2 is not limited to a circular shape or an elliptical shape. For example, the substantially isotropic shape is not limited to a circular shape, but is a regular polygon such as a square, a regular pentagon, a regular hexagon, a regular octagon, and a regular dodecagon, and an elliptical shape having a major axis and a minor axis that are substantially equal (can be regarded as a substantial circle) Shape). The anisotropic shape is not limited to an elliptical shape, and may be a rectangle or a rhombus. In short, the liquid injection part A2 may have a shape whose width is not more than twice the line width of the liquid flow part A1 in the case of a substantially isotropic shape, while the average diameter is liquid flow in the case of an anisotropic shape. Any shape that is twice or less the line width of the portion A1 may be used.

このようにすれば、液体注入部A2に滴下された液体の接触角θと、液体流動部A1に滴下された液体の接触角θとが、前述の第1実施形態と同様な関係が成り立つので、第1実施形態〜第3実施形態と同種の効果が得られる。 In this way, the contact angle theta 2 of the liquid dropped on the fluid injecting section A2, the contact angle theta 1 of the liquid dropped on the fluid flowing section A1 is, is the same as in the first embodiment described above relationship Since this is true, the same type of effect as in the first to third embodiments can be obtained.

また、上記の実施形態及び変形例で把握される技術的思想は、以下のとおりである。   Moreover, the technical idea grasped | ascertained by said embodiment and modification is as follows.

(技術的思想1)基板に凹設された領域に薄膜パターンが形成された薄膜パターン基板であって、前記凹設された領域は、前記薄膜パターンの乾燥前の材料である機能液が注入される液体注入部と、前記液体注入部に注入された前記機能液が流入可能に前記液体注入部に接続された線状の液体流動部とを備え、前記液体注入部の平均径が前記液体流動部の線幅の2倍以下に設定されていることを特徴とする薄膜パターン基板。   (Technical idea 1) A thin film pattern substrate in which a thin film pattern is formed in a region recessed in the substrate, and the recessed region is filled with a functional liquid that is a material before drying of the thin film pattern. And a linear liquid flow part connected to the liquid injection part so that the functional liquid injected into the liquid injection part can flow in, and an average diameter of the liquid injection part is the liquid flow The thin film pattern substrate is set to be twice or less the line width of the portion.

このような構成にすれば、液体注入部A2の幅dが液体流動部A1の線幅bの2倍以下に設定されているから、液体注入部A2に滴下された液体の接触角θと、液体流動部A1に滴下された液体の接触角θとが、前述の第1実施形態と同様な関係が成り立つので、第1実施形態〜第3実施形態と同種の効果が得られる。 With such a configuration, since the width d of the liquid injection part A2 is set to be not more than twice the line width b of the liquid flow part A1, the contact angle θ 2 of the liquid dropped on the liquid injection part A2 and Since the contact angle θ 1 of the liquid dropped on the liquid flow part A1 has the same relationship as in the first embodiment, the same kind of effect as in the first to third embodiments can be obtained.

(技術的思想2)基板に凹設された領域に薄膜パターンが形成された薄膜パターン基板であって、前記凹設された領域は、前記薄膜パターンの乾燥前の材料である機能液が注入される液体注入部と、前記液体注入部に注入された前記機能液が流入可能に前記液体注入部に接続された線状の液体流動部とを備え、前記液体注入部は異なる方向で径が略等しい略等方形状を有しており、前記液体注入部の幅が前記液体流動部の線幅の2倍以下に設定されていることを特徴とする薄膜パターン基板。   (Technical idea 2) A thin film pattern substrate in which a thin film pattern is formed in a region recessed in the substrate, and the recessed region is filled with a functional liquid which is a material before drying the thin film pattern. And a linear liquid flow part connected to the liquid injection part so that the functional liquid injected into the liquid injection part can flow in. The liquid injection part has a substantially different diameter in different directions. A thin film pattern substrate having equal substantially isotropic shapes, wherein the width of the liquid injection part is set to be not more than twice the line width of the liquid flow part.

このような構成にすれば、異なる方向でも液体注入部A2の径が略等しくて、液体注入部A2の幅dが液体流動部A1の線幅bの2倍以下に設定されているから、液体注入部A2に滴下された液体の接触角θと、液体流動部A1に滴下された液体の接触角θとが、前述の第1実施形態と同様な関係が成り立つので、第1実施形態〜第3実施形態と同種の効果が得られる。 With such a configuration, the liquid injection part A2 has substantially the same diameter in different directions, and the width d of the liquid injection part A2 is set to be not more than twice the line width b of the liquid flow part A1. Since the contact angle θ 2 of the liquid dropped on the injection part A 2 and the contact angle θ 1 of the liquid dropped on the liquid flow part A 1 have the same relationship as in the first embodiment, the first embodiment The same kind of effect as the third embodiment can be obtained.

(技術的思想3)基板に凹設された領域に薄膜パターンが形成された薄膜パターン基板であって、前記凹設された領域は、前記薄膜パターンの乾燥前の材料である機能液が注入される液体注入部と、前記液体注入部に注入された前記機能液が流入可能に前記液体注入部に接続された線状の液体流動部とを備え、前記液体注入部は異なる方向で径が異なる異方形状を有しており、前記液体注入部の平均径が前記液体流動部の線幅の2倍以下に設定されていることを特徴とする薄膜パターン基板。   (Technical idea 3) A thin film pattern substrate in which a thin film pattern is formed in a region recessed in the substrate, and the recessed region is filled with a functional liquid which is a material before drying the thin film pattern. And a linear liquid flow part connected to the liquid injection part so that the functional liquid injected into the liquid injection part can flow in. The liquid injection part has different diameters in different directions. A thin film pattern substrate having an anisotropic shape, wherein an average diameter of the liquid injection part is set to be not more than twice a line width of the liquid flow part.

このような構成にすれば、異なる方向で液体注入部A2が異方形状になっていても、液体注入部A2の幅dが液体流動部A1の線幅bの2倍以下に設定されているから、液体注入部A2に滴下された液体の接触角θと、液体流動部A1に滴下された液体の接触角θとが、前述の第1実施形態と同様な関係が成り立つので、第1実施形態〜第3実施形態と同種の効果が得られる。 With such a configuration, even if the liquid injection part A2 has an anisotropic shape in different directions, the width d of the liquid injection part A2 is set to be not more than twice the line width b of the liquid flow part A1. from a contact angle theta 2 of the liquid dropped on the fluid injecting section A2, the contact angle theta 1 of the liquid dropped on the fluid flowing section A1 is, since established is similar to relationships in the first embodiment described above, the The same kind of effect as in the first to third embodiments can be obtained.

液滴吐出装置の概略斜視図。The schematic perspective view of a droplet discharge device. ピエゾ方式による液体材料の吐出原理を説明するための図。The figure for demonstrating the discharge principle of the liquid material by a piezo system. 薄膜パターン形成方法を示すフローチャート。The flowchart which shows a thin film pattern formation method. 薄膜パターン形成手順を示す模式図。The schematic diagram which shows a thin film pattern formation procedure. 薄膜パターン形成手順を示す模式図。The schematic diagram which shows a thin film pattern formation procedure. 第1実施形態としての薄膜パターン形成方法を示す模式図であり、(a)は平面図、(b)は機能液が滴下された図、(c)は機能液滴の図、(d)は機能液滴の図、(e)は接触角を示す図。It is a schematic diagram which shows the thin film pattern formation method as 1st Embodiment, (a) is a top view, (b) is the figure by which the functional liquid was dripped, (c) is a figure of a functional droplet, (d) is a figure. FIG. 5E is a diagram showing functional droplets, and FIG. 第2実施形態としての薄膜パターン形成方法を示す模式図であり、(a)は平面図、(b)は機能液が滴下された図。It is a schematic diagram which shows the thin film pattern formation method as 2nd Embodiment, (a) is a top view, (b) is the figure by which the functional liquid was dripped. 第3実施形態としての薄膜パターン形成方法を示す模式図であり、(a)は平面図、(b)は機能液が滴下された図。It is a schematic diagram which shows the thin film pattern formation method as 3rd Embodiment, (a) is a top view, (b) is the figure by which the functional liquid was dripped. 残渣処理工程に用いるプラズマ処理装置の一例を示す図。The figure which shows an example of the plasma processing apparatus used for a residue processing process. 液晶表示装置を対向基板の側から見た平面図。The top view which looked at the liquid crystal display device from the counter substrate side. 図10のH−H'線に沿う断面図。Sectional drawing which follows the HH 'line | wire of FIG. 液晶表示装置の等価回路図。The equivalent circuit diagram of a liquid crystal display device. 液晶表示装置の部分拡大断面図。The partial expanded sectional view of a liquid crystal display device. 非接触型カード媒体の分解斜視図。The disassembled perspective view of a non-contact-type card medium. 電子機器の具体例を示す図。FIG. 11 illustrates a specific example of an electronic device.

符号の説明Explanation of symbols

1…液滴吐出ヘッド、P…基板、θ…接触角、θ…液体流動部の機能液滴の接触角、θ…液体注入部の機能液滴の接触角、機能液…L、機能液滴…L1、機能液滴…L2、B…バンク、A…線状領域A、A1…液体流動部、A2…液体注入部、d…液体注入部の線幅、b…液体流動部の線幅、R…液体注入部の液面曲率半径、R…液体流動部の液面曲率半径、P…液体流動部に滴下された機能液滴の圧力、P…液体注入部に滴下された機能液滴の圧力、σ…表面張力、m…液体注入部が楕円形状における短径の長さ、n…液体注入部が楕円形状における長径の長さ、K…液体注入部が正方形における一辺の長さ。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Droplet discharge head, P ... Board | substrate, (theta) ... Contact angle, (theta) 1 ... Functional droplet contact angle of a liquid flow part, (theta) 2 ... Functional droplet contact angle of a liquid injection part, Functional liquid ... L, Function Liquid droplets ... L1, Functional liquid droplets ... L2, B ... Bank, A ... Linear region A, A1 ... Liquid flow part, A2 ... Liquid injection part, d ... Line width of liquid injection part, b ... Line of liquid flow part Width, R 2 ... Liquid surface radius of curvature of the liquid injection part, R 1 ... Liquid surface curvature radius of the liquid flow part, P 1 ... Pressure of the functional droplet dropped on the liquid flow part, P 2 ... Dropping on the liquid injection part Pressure of the functional droplets, σ ... surface tension, m ... the length of the minor axis when the liquid injection part is elliptical, n ... the length of the major axis when the liquid injection part is elliptical, K ... the liquid injection part is square The length of one side.

Claims (8)

基板に凹設された領域に薄膜パターンを形成する薄膜パターン基板の製造方法であって、
幅が相対的に広い拡幅部と、前記拡幅部から機能液が流れ込むように配置する線状部を設けた前記凹設された領域を形成する工程と、
前記拡幅部に前記機能液を注入する工程と、
前記線状部に流れ込んだ前記機能液を乾燥して薄膜パターンを形成する工程と、
を備え、
前記凹設された領域は、前記拡幅部の線幅の平均径が、前記拡幅部に配される前記機能液の液滴の直径よりも大きく、前記線状部の線幅の2倍以下となるように形成する
ことを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
A method of manufacturing a thin film pattern substrate, wherein a thin film pattern is formed in a region recessed in the substrate,
A step of forming the widened portion having a relatively wide width and the recessed region provided with a linear portion disposed so that the functional liquid flows from the widened portion ;
Injecting the functional liquid into the widened portion;
Drying the functional liquid flowing into the linear portion to form a thin film pattern;
With
In the recessed area , the average diameter of the line width of the widened portion is larger than the diameter of the droplet of the functional liquid disposed in the widened portion, and is not more than twice the line width of the linear portion. It forms so that it may become. The manufacturing method of the thin film pattern board | substrate characterized by the above-mentioned.
請求項1に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記拡幅部を異なる方向で径が略等しい略等方形状に形成し、
前記拡幅部の径が前記線状部の線幅の2倍以下となるようにしたことを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the manufacturing method of the thin film pattern substrate of Claim 1,
Forming the widened portion into a substantially isotropic shape having substantially the same diameter in different directions;
A method of manufacturing a thin film pattern substrate, wherein the diameter of the widened portion is not more than twice the line width of the linear portion.
請求項1に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記拡幅部を異なる方向で径が異なる異方形状に形成し、
前記拡幅部の平均径が前記線状部の線幅の2倍以下となるようにしたことを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the manufacturing method of the thin film pattern substrate of Claim 1,
Forming the widened portion into an anisotropic shape with different diameters in different directions;
A method of manufacturing a thin film pattern substrate, wherein an average diameter of the widened portion is set to be not more than twice a line width of the linear portion.
請求項2に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記拡幅部の略等方形状は略円形状であることを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the manufacturing method of the thin film pattern board | substrate of Claim 2,
The method of manufacturing a thin film pattern substrate, wherein the substantially isotropic shape of the widened portion is a substantially circular shape.
請求項3に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記拡幅部の異方形状は楕円形状であり、前記拡幅部の長径と短径の調和平均が、前記線状部の線幅の2倍以下となるようにしたことを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the manufacturing method of the thin film pattern substrate according to claim 3,
The anisotropic shape of the widened portion is an elliptical shape, and the harmonic average of the major axis and the minor axis of the widened portion is set to be not more than twice the line width of the linear portion. Manufacturing method.
請求項1〜請求項のいずれか一項に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記凹設された領域の内側が、親液性部であることを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the manufacturing method of the thin film pattern substrate as described in any one of Claims 1-5 ,
The method for producing a thin film pattern substrate, wherein the inside of the recessed region is a lyophilic portion.
請求項1〜請求項のいずれか一項に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記拡幅部にインクジェット法によって前記機能液を注入することを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the manufacturing method of the thin film pattern substrate as described in any one of Claims 1-6 ,
A method of manufacturing a thin film pattern substrate, wherein the functional liquid is injected into the widened portion by an ink jet method.
請求項1〜請求項のいずれか一項に記載の薄膜パターン基板の製造方法において、
前記薄膜パターンが導電性のパターンであることを特徴とする薄膜パターン基板の製造方法。
In the method for manufacturing a thin film pattern substrate according to any one of claims 1 to 7,
The method for manufacturing a thin film pattern substrate, wherein the thin film pattern is a conductive pattern.
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000353594A (en) * 1998-03-17 2000-12-19 Seiko Epson Corp Board for patterning thin film
JP2002164635A (en) * 2000-06-30 2002-06-07 Seiko Epson Corp Method for forming conductive film pattern, electro- optical device and electronic apparatus
JP2002261048A (en) * 2000-12-28 2002-09-13 Seiko Epson Corp Method and device for manufacturing element
JP2003318192A (en) * 2002-04-22 2003-11-07 Seiko Epson Corp Method for manufacturing device, device using the same, electrooptical device, and electronic device
JP2003317945A (en) * 2002-04-19 2003-11-07 Seiko Epson Corp Manufacturing method for device, device, and electronic apparatus
JP2004095896A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Sharp Corp Pattern forming substrate and pattern forming method

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000353594A (en) * 1998-03-17 2000-12-19 Seiko Epson Corp Board for patterning thin film
JP2002164635A (en) * 2000-06-30 2002-06-07 Seiko Epson Corp Method for forming conductive film pattern, electro- optical device and electronic apparatus
JP2002261048A (en) * 2000-12-28 2002-09-13 Seiko Epson Corp Method and device for manufacturing element
JP2003317945A (en) * 2002-04-19 2003-11-07 Seiko Epson Corp Manufacturing method for device, device, and electronic apparatus
JP2003318192A (en) * 2002-04-22 2003-11-07 Seiko Epson Corp Method for manufacturing device, device using the same, electrooptical device, and electronic device
JP2004095896A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Sharp Corp Pattern forming substrate and pattern forming method

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