JP4698096B2 - Rf-id inspection system - Google Patents

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俊介 大家
貴章 岡田
健介 樋口
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Description

【0001】 [0001]
【発明の属する技術分野】 BACKGROUND OF THE INVENTION
本発明は、製造されるRF−IDの良否を検査する検査システムに関する。 The present invention relates to an inspection system for inspecting the quality of RF-ID produced.
【0002】 [0002]
【従来の技術】 BACKGROUND OF THE INVENTION
近年、RF−ID(Radio Frequency Identification)と称される非接触型識別媒体(非接触型ICカード等)に関する技術が急速に進歩してきており、その使用も多岐にわたっている。 Recently, RF-ID (Radio Frequency Identification) and technology relating to the non-contact identification medium (contactless IC card) has been rapid progress called, their use has also diversified. このようなRF−IDは、用途や処理内容の違いにより種々のものがあり、種類毎に対応するリーダ・ライタで製造後の検査を行うに際して、種類に応じた検査を容易に行うことが望まれている。 Such RF-ID, there are various things due to differences in the application and processing contents, when performing inspection after manufacturing the reader-writer corresponding to each type, it is possible to easily perform the inspection in accordance with the type Nozomu It is rare.
【0003】 [0003]
従来、RF−IDは、電磁結合型と静電結合型とに大別されており、基本的にフィルムベース上にアンテナが形成されてICモジュールが搭載されるものが一般的となってきている。 Conventional, RF-ID is classified into an electromagnetic coupling type and an electrostatic coupling type, which essentially film antenna is formed on the base and IC module is mounted has become common . この場合、アンテナは、電磁結合型の場合はコイル状に形成され、静電結合型の場合は平面的(いわゆるベタ形状)に形成される。 In this case, the antenna in the case of electromagnetic coupling type formed in a coil shape, in the case of the electrostatic coupling type is formed in plan view (so-called solid shape). そして、単一のICモジュール毎に対しての動作確認、およびアンテナ毎に対して通信距離の測定を行い、製品の良否を検査することが行われている。 The operation check against each single IC module, and perform the measurement of the communication distance with respect to each antenna have been made to examine the quality of the product. 通信距離の測定は、リーダ・ライタとの間でその性能に応じて定められた通信距離を確保されているか否かで良否判断がなされる。 Measurement of communication distance, quality determination is made by whether or not it is ensured communication distance defined according to their performance with the reader-writer.
【0004】 [0004]
一方、RF−IDは、結合型のタイプに応じて大きさやアンテナの形状が異なり、また同じタイプのものでも例えば伝送プロトコルの違いによって、搭載されるICモジュールのチップ(マイクロプロセッサ)等が異なり、チップの相違によってリーダ・ライタにおける伝送方式や処理プログラム等を異ならせなければならない。 On the other hand, RF-ID is different from the shape of the size and the antenna depending on the type of bound and by differences in the even example transmission protocol of the same type, different like the IC module mounted chip (microprocessor), must different transmission method and program in the reader-writer, etc. due to the difference of the chip. この場合、RF−IDの種類をオペレータが入力し、これに応じたリーダ・ライタで検査処理を行っている。 In this case, the type of RF-ID type operator has been inspected treated with a reader-writer in response thereto.
【0005】 [0005]
【発明が解決しようとする課題】 [Problems that the Invention is to Solve
ところで、作製されたRF−IDの検査を行うシステムでは、検査対象のRF−IDのタイプによって、アンテナを含む対応するリーダ・ライタを大掛かりにその都度取り替え、そのタイプをオペレータによって入力している。 Meanwhile, in a system for inspecting fabricated RF-ID, the type of RF-ID of the inspection target, massive replaceable each time the corresponding interrogator comprises an antenna, and inputs the type by an operator. しかし、取り替えたリーダ・ライタの種類を特定するオペレータに入力ミスがあるとRF−IDの正確な検査を行うことができなくなるという問題がある。 However, there is a problem that when there is an input error to the operator to identify the type of the reader-writer replacement becomes impossible to perform accurate examination of the RF-ID. また、将来のRF−IDのタイプ増加に対してもそれに応じた種類特定のための入力を行わなければならず、種類増加による入力ミスの頻度も増加しかねないという問題がある。 Further, it is necessary to perform an input for certain types accordingly also for the type future increases in RF-ID, the frequency of input errors due to the type also increases there is a problem that could increase.
【0006】 [0006]
そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたもので、RF−IDの種類に応じて確実に検査可能とし、将来の種類増加に対応可能とするRF−IDの検査システムを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and aims to provide an inspection system for RF-ID, which is reliably testable according to the type of RF-ID, to allow for future types increased to.
【0007】 [0007]
【課題を解決するための手段】 In order to solve the problems]
上記課題を解決するために、請求項1の発明では、アンテナおよびICモジュールを少なくとも備えるRF−IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査するRF−IDの検査システムであって、前記検査対象を検査位置に搬送する搬送手段と、前記検査対象の種類毎に用意され、当該検査対象と通信を行うシステム側アンテナが実装されて当該検査対象の種類を特定する信号を出力するための特定手段を備える基板と、少なくとも前記基板を搭載し、前記システム側アンテナを当該検査対象に対して位置決めさせる駆動機構と、前記基板の特定手段による前記検査対象の種類特定の信号に応じて検査処理するもので、前記システム側アンテナを介して前記検査対象と誘導結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象 In order to solve the above problems, the invention of claim 1, communicates as an inspection target RF-ID comprising at least an antenna and IC module, a test system for RF-ID to check the quality of the test object and conveying means for conveying the test object at the test position, is prepared for each kind of the inspection object, and outputs a signal that is the system-side antenna is mounted to communicate with the test object identifies the type of the test object a substrate comprising a specific means for, mounted at least the substrate, a driving mechanism for positioning the system antenna with respect to the inspection target, depending on the type specific signal of said object by a specific unit of the substrate It intended to inspection processing, by inductive coupling with said object through the system-side antenna, and transmits the predetermined data, the test object からの応答に基づいて当該検査対象の良否を判定する処理システムと、を有する構成とする。 Based on the response from a structure having a determining processing system the quality of the inspection target.
【0008】 [0008]
請求項2〜5の発明では、「前記システム側アンテナを搭載した基板に、前記検査対象の種類毎に当該検査対象と通信を行うための前記処理システムの一部を構成する送受信手段が少なくとも搭載される」構成であり、 In the invention of claim 2 to 5, the board having "the system antenna, transmitting and receiving means forming part of said processing system for communicating with the inspection object for each type of said object at least equipped is the difference between the "configuration,
「前記基板を、前記システム側アンテナを搭載する第1基板と、少なくとも前記送受信手段および前記検査対象の種類特手信号を出力する特定手段を搭載する第2基板とに分離させる」構成であり、 A "of the substrate, a first substrate for mounting the system antenna, at least the separating and a second substrate for mounting a specific means for outputting a transmitting and receiving means and the type Tokute signal of the test object" structure,
「前記検査対象の種類毎に用意された前記基板または当該基板を収納するケースを、当該検査対象の種類に応じて交換自在に保持するもので、前記駆動機構に搭載される保持手段を備える」構成であり、 "The case for accommodating the substrate or the substrate is prepared for each kind of the inspection object, intended to replace freely held in accordance with the kind of the inspection object comprises a holding means which is mounted on the drive mechanism" a configuration,
「前記検査対象の近傍のRF−IDとの通信を回避させるために、当該検査対象と前記システム側アンテナとの間に介在されるもので、当該システム側アンテナを当該検査対象に対向させる開口部が形成されるシールド部材を備える」構成である。 To avoid communication between the RF-ID of the "vicinity of said object, intended to be interposed between the inspection object and the system-side antenna, openings that face the system antenna to the test object There comprising a shield member formed "is configured.
【0009】 [0009]
このように、アンテナおよびICモジュールを少なくとも備えるRF−IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査するRF−IDの検査システムおける駆動機構に搭載される当該検査対象の種類に対応した基板が、当該検査対象の種類を処理システムに特定させるための特定手段を備える。 Thus, to communicate the RF-ID comprising at least an antenna and an IC module as a test object, corresponding to the kind of the inspection object to be mounted in the inspection system definitive driving mechanism of RF-ID to check the quality of the test object the substrate comprises a specific means for identifying a kind of the inspection object to the processing system. すなわち、上記基板の特定手段により処理システムが自動的に検査対象のRF−IDの種類を認識することとなってオペレータの種類特定のための入力を不要とさせることで、RF−IDの種類に応じて確実に検査可能とし、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることが可能となるものである。 That is, by eliminating the need for input for certain types of operators becomes possible to recognize the type of RF-ID of the processing system automatically inspected by the specific means of the substrate, the type of RF-ID depending to reliably inspect possible, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0010】 [0010]
【発明の実施の形態】 DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
以下、本発明の好ましい実施形態を図により説明する。 Hereinafter will be described with reference to FIG preferred embodiments of the present invention. ここで、本発明に係るRF−IDは、非接触型ICカードはもちろん、非接触型のラベル、タグ等の非接触で識別情報等のデータ送受が行える媒体である。 Here, RF-ID according to the present invention, the non-contact type IC card, of course, a non-contact label, data transmission and reception can be performed medium such as identification information in a non-contact, such as the tag.
【0011】 [0011]
図1に、本発明に係るRF−IDの検査システムにおける基本構成の分解構成図を示す。 Figure 1 shows an exploded configuration diagram of the basic configuration of the inspection system of the RF-ID according to the present invention. 図1において、RF−IDの検査システム11は、大別して、検査対象を検査位置に順次搬送する搬送手段の一を構成する搬送ベルト12、シールド部材13、駆動機構14で構成される。 In Figure 1, the inspection system 11 of the RF-ID is roughly conveyor belt 12 which constitutes one of the conveying means for sequentially conveying the inspection object to the inspection position, the shield member 13, and a drive mechanism 14. ここでは検査処理を行う処理システムは図示されていない(図7に示す)。 Here processing system for performing inspection processing is not shown (FIG. 7).
【0012】 [0012]
上記搬送ベルト12には、一例として電磁結合型のICカードとしてのRF−ID21が供給手段(図示せず)で供給され、検査位置のRF−ID21が検査対象21Xとなる。 The aforementioned conveyor belt 12, RF-ID 21 as an electromagnetic coupling type IC card is supplied by supply means (not shown), RF-ID 21 of the inspection position is inspected 21X as an example. このRF−ID21(21X)は、所定のベース上にコイルアンテナ21AおよびICモジュール21Bが形成されると共に、適宜、当該ICカードを固有化するバーコード21Cが印刷により形成される。 The RF-ID21 (21X), together with the coil antenna 21A and the IC module 21B is formed on a predetermined base, as appropriate, the bar code 21C for intrinsic of the IC card is formed by printing. このようなRF−ID21は、通常知られている製造工程で、例えば個人認証カードや、クレジットカード、電子マネーカード等として作製されるものである。 Such RF-ID 21 is usually known manufacturing process, for example, personal authentication card, a credit card, in which is produced as an electronic money card or the like.
【0013】 [0013]
上記シールド部材13は、金属、導電性樹脂等の導電性物質により板状、または網状に形成されるもので、後述のシステム側アンテナと検査対象21Xとの間(ここでは検査対象21Xの下方)に介在される。 The shield member 13 is a metal, a conductive resin or the like of the conductive material by a plate, or those formed reticulated, (lower inspected 21X here) between the test object 21X and system-side antenna described later It is interposed. また、シールド部材13は、システム側アンテナを対象の当該検査対象21Xに対向させる開口部13Aが形成されたもので、その周縁部分を、検査対象21Xからの距離を当該開口部13Aが形成される面より大とさせて、エッジによる電波発信を近傍のRF−ID21に影響されないようにしている。 The shield member 13, in which the opening 13A which is opposed to the system-side antenna to the subject of the inspection target 21X is formed, the peripheral portion, the opening 13A is formed a distance from the test object 21X by larger than the surface, so that is not affected by the RF-ID 21 in the vicinity of the radio transmission by the edge.
【0014】 [0014]
なお、このシールド部材13は、図示しないが、システム側アンテナが搭載される駆動機構14(後述のホルダ上)で一体的に上下方向(Z方向)、および搬送ベルト12の幅方向(Y方向)、および搬送ベルト12の搬送方向(X方向)に駆動される。 Incidentally, the shielding member 13 is not shown, the width direction (Y direction) of the system side antenna driving mechanism is mounted 14 integrally vertical direction (on later in the holder) (Z-direction), and the conveyor belt 12 , and it is driven in the conveying direction of the conveyor belt 12 (X direction). ここで、一体的とは、シールド部材13が後述のホルダと固定されて駆動される場合、または別駆動で同期的に駆動される場合を意味している。 Here, the integral, which means when the shield member 13 is to be driven synchronously in case, or another drive that is driven by being fixed to the holder below.
【0015】 [0015]
一般に、RF−ID21は所定の共振周波数を有しており、システム側アンテナ41からの電波に反応して共振することにより受信を行う。 In general, RF-ID 21 has a predetermined resonant frequency, performs reception by resonating in response to radio waves from the system-side antenna 41. したがって、シールド部材13が、検査対象21Xの周囲のRF−ID21に対してシールド機能を発揮することで、これらのRF−IDは電気特性(インダクタンスL、キャパシタンスC)が変化して共振周波数が変化することから、システム側アンテナ41からの電波に反応しなくなり、通信不可能となる。 Therefore, the shielding member 13, by exerting a shielding function against RF-ID 21 around the inspected 21X, these RF-ID electrical characteristics (inductance L, capacitance C) the resonance frequency is changed changed since the no longer respond to radio waves from the system-side antenna 41, a communication impossible. よって、システム側アンテナ41からの電波に対して検査対象21Xのみが反応することとなることから、確実に対象検査21Xを特定することができることになるものである。 Therefore, since only inspected 21X against radio wave from the system-side antenna 41 is able to react, in which will be able to reliably identify the target examination 21X.
【0016】 [0016]
そして、上記駆動機構14は、検査対象21Xの下方であって、上記シールド部材13の下方に配置されるもので、システム側アンテナを搭載して搬送ベルト12の搬送方向に移動させるX駆動と、搬送ベルト12の幅方向に移動させるY駆動と、上下方向に移動させるZ駆動とを行う。 Then, the drive mechanism 14, a lower inspected 21X, intended to be arranged below the shield member 13, and the X drive for moving the conveying direction of the conveyor belt 12 equipped with a system-side antenna, performing a Y drive for moving in the width direction of the conveyor belt 12, and a Z drive for moving up and down direction.
【0017】 [0017]
上記駆動機構14には保持手段であるホルダ31が搭載され、当該ホルダ31は、詳細を図2〜図4で説明するが、システム側アンテナ41が実装された基板または基板を収納するケースを交換自在に保持するものである。 The above driving mechanism 14 is equipped with a holder 31 as a holding means, the holder 31 is described in detail with reference to FIG. 2 to FIG. 4, replace the casing for accommodating the substrate or substrate system-side antenna 41 is mounted it is to hold freely. また、システム側アンテナ41が実装された基板またはケースは、後述の図2〜図4で示すように検査対象21XとなるRF−ID21の種類毎に対応して用意される。 The substrate or case where the system-side antenna 41 is mounted, is prepared corresponding to each type of RF-ID 21 to be inspected 21X as shown in FIGS below. RF−ID21の種類毎とは、前述のように、コイルアンテナ21Aの大きさや種類(電磁型、静電型)、ICモジュール21Bでデータ処理させるときの伝送プロトコル等の違いによるICモジュール(チップ)の相違により作製される種類である。 The each type of RF-ID 21, as described above, the size and type of the coil antenna 21A (electromagnetic, electrostatic), transmission protocol, etc. Differences in IC module at which to the data processing by the IC module 21B (chips) of the type made by the differences.
【0018】 [0018]
一方、搬送ベルト12の上方における検査位置近傍に、検査対象21Xが検査位置に搬送されてきたことを検出する位置検出手段15、上記バーコード21Cを読み取るBCR(バーコードリーダ)16および検査後に検査結果を当該検査対象21Xにマーキングするマーカ17が、適宜位置で配置される。 On the other hand, the inspection in the vicinity of the test position above the conveyor belt 12, the position detecting means 15 inspected 21X detects that has been conveyed to the test position, the BCR (bar code reader) 16 and after testing to read the bar code 21C the results are marker 17 to mark on the inspected 21X, it is arranged at appropriate positions.
【0019】 [0019]
なお、上記シールド部材13および駆動機構14を検査対象21Xの下方に配置させた場合を示したが、搬送ベルト12の上方に位置させ、当該検査対象21Xに対して上方より通信を行うようにしてもよい。 Incidentally, although the case where is arranged the shielding member 13 and the drive mechanism 14 under the inspected 21X, is positioned above the conveyor belt 12, so as to perform communication from above with respect to the inspection object 21X it may be. この場合、位置検出手段15、BCR16、マーカ17は、当該シールド部材13および駆動機構14を避ける位置に適宜配置される。 In this case, the position detecting means 15, BCR16, marker 17 is properly placed in a position to avoid the shielding member 13 and the drive mechanism 14.
【0020】 [0020]
そこで、図2に、図1の検査システムで使用されるホルダおよびアンテナユニットの説明斜視図を示す。 Therefore, in FIG. 2 is an explanatory perspective view of the holder and the antenna unit to be used in the inspection system of Figure 1. 図2(A)において、上記駆動機構14に搭載されるホルダ31Aは、少なくとも上面と一側面が開放されており、対向する側面の内壁面に、検査対象21Xに対して電磁結合させるコイル状のシステム側アンテナ41の距離を所定段階に設定させる手段として、例えば等間隔で係合溝32(32A,32B・・・32N)がそれぞれ形成される。 In FIG. 2 (A), the holder 31A is mounted on the drive mechanism 14, at least the upper surface and one side surface is opened, the inner wall surface of the opposing sides, coiled to electromagnetically coupled to the test object 21X as means for setting the distance of the system-side antenna 41 to a predetermined phase, for example, equal intervals in the engaging groove 32 (32A, 32B ··· 32N) are formed.
【0021】 [0021]
一方、基板42上にシステム側アンテナ41が搭載され、当該基板42が透明(必ずしも透明でなくともよい)なケース43に収納される。 On the other hand, the system-side antenna 41 is mounted on the substrate 42, the substrate 42 is accommodated in the case 43 clear (may not necessarily transparent). このケース43は、対向する側部が上記係合溝32に係合される係合突部43A,43Bが形成される。 The case 43, the engaging projections 43A of the opposing sides is engaged with the engaging groove 32, 43B are formed. そして、基板42の当該システム側アンテナ41より、コネクタ44を介してケーブル45が当該ケース43より延出される。 Then, from the system-side antenna 41 of the substrate 42, the cable 45 via the connector 44 is extended from the case 43. このケーブル45は、後述の処理システムと接続されるものである。 The cable 45 is intended to be connected to later-described processing system. なお、上記のようなケース43は、検査対象21Xの種類(コイルアンテナ21Aの大きさやICモジュール21Bの相違等)毎に、対応するシステム側アンテナ41の種類毎に用意されるものである。 Incidentally, the case 43 as described above, for each type of inspection object 21X (difference or the like of the size and the IC module 21B of the coil antenna 21A), is intended to be prepared for each type of the corresponding system-side antenna 41.
【0022】 [0022]
そして、図2(B)に示されるように、上記ホルダ31Aの係合溝32の何れかに所望の上記ケース43を、その係合突部43A,43Bを係合させてスライドさせることで当該ホルダ31に所望のケース43を保持させるものであり、この係合溝32により当該ケース43(システム側アンテナ41)を交換自在としている。 Then, as shown in FIG. 2 (B), the by the desired of the case 43 in any of the engaging groove 32 of the holder 31A, the engaging projection 43A, is slid by engaging the 43B It is intended to hold the desired case 43 to the holder 31, and freely exchange the case 43 (the system-side antenna 41) by the engagement groove 32. この場合、係合溝32は、ケース43が保持され、検査対象21Xの下方に位置されたときに当該検査対象21Xとケース43(システム側アンテナ41)との距離をそれぞれ定めた形態として形成されている。 In this case, the engaging groove 32, the case 43 is held, is formed as a form that defines each distance between the inspected 21X and the case 43 (the system-side antenna 41) when positioned below the test object 21X ing. すなわち、ホルダ31Aを保持させる係合溝32の位置によって、検査対象21Xとシステム側アンテナ41との通信距離が設定されるものである。 That is, the position of the engagement groove 32 for holding the holder 31A, in which the communication distance of the inspected 21X and the system-side antenna 41 is set.
【0023】 [0023]
ここで、図2(C)は、上記コネクタ44が接続される基板42の接続端子部分を示したもので、接続端子42Aには所定数の接続片が形成され、そのうちの少なくとも2つの接続片に上記システム側アンテナ41が接続される。 Here, FIG. 2 (C), shows the connection terminal portion of the substrate 42 to the connector 44 is connected, to the connection terminal 42A a predetermined number of connection pieces are formed, at least two connecting pieces of which the system-side antenna 41 is connected to. また、所定数の接続片のうち、例えば4つの接続片を識別端子42Bとし、当該識別端子42Bを検査対象の種類を特定するための信号を出力する特定手段として設けている。 Also, among the predetermined number of connecting pieces, for example four connection pieces and identification terminal 42B, is provided as a specific means for outputting a signal for identifying the kind of the inspection object the identification terminal 42B. 例えば、COM端子、端子1〜端子3とし、COM端子(GND)に対して適宜短絡状態として端子1〜端子3のレベル状態を信号出力させることで当該基板42の種類をケーブル44の接続先の処理システムに自動認識させるものである。 For example, the COM terminal and terminal 1 terminal 3, the COM terminal of the substrate 42 by causing the level state signal output of the terminal 1 to the terminal 3 as appropriate short-circuit state with respect to (GND) types of cable 44 connection destination it is intended to automatic recognition to the processing system.
【0024】 [0024]
例えば、検査対象の種類に応じた基板42がタイプAの場合として、COM端子と端子1を適宜抵抗を介して接続状態することで、処理システム側において端子1がオン状態、端子2及び端子3がオフ状態の信号を入力することで基板42をタイプAと自動認識し、これに応じて処理システム側の検査処理形態(リーダ・ライタのタイプをも含む)を特定して切り替え、または処理システムの取り替えを行う。 For example, as when the substrate 42 in accordance with the type of inspection object types A, COM terminal and the terminal 1 by connecting with each other through an appropriate resistor, the terminal 1 is turned on in the processing system side, terminals 2 and 3 There the substrate 42 type a and automatically recognized by inputting the signal in the off state, switching to identify the inspection processing form processing system side (including the type of reader-writer) accordingly or processing system, carry out the replacement of. また、基板42がタイプBの場合として、COM端子と端子2を適宜抵抗を介して接続状態することで、処理システム側において端子2がオン状態、端子1及び端子3がオフ状態の信号を入力することで基板42をタイプBと自動認識するものである。 The input as if the substrate 42 is type B, by connecting with each other through an appropriate resistor COM terminal and the terminal 2, terminal 2 is turned on in the processing system side, terminal 1 and terminal 3 is a signal in the OFF state it is intended to automatically detect the type B of the substrate 42 by.
【0025】 [0025]
なお、検査対象の種類に応じた基板42のタイプを自動認識させる接続端子42Aの接続片のうち、端子1〜端子3を基板種類認識の信号用とした場合では、8種類の基板を認識させることとなるが、基板種類の数に応じて適宜接続片を基板種類認識用の端子として用いることができる(例えば4つの端子であれば16種類の信号を生成できる)。 Of the connecting piece of the connection terminals 42A to automatically recognize the type of substrate 42 in accordance with the type of inspection object, in the case where the terminal 1 to terminal 3 and the signal of the substrate type recognition is to recognize the eight substrate Although the possible, appropriate connecting piece (can generate 16 different signals if, for example, four terminals) which can be used as terminals for the substrate type recognition according to the number of substrate types. また、基板種類認識信号を発生させる場合として、例えば該当の接続片に接続されるディップスイッチ等を使用してもよい。 Further, as a case of generating the substrate type recognition signal, it may be used for example a DIP switch or the like connected to the corresponding connecting pieces.
【0026】 [0026]
このように、基板42の識別端子42Bにより処理システムが自動的に当該基板42の種類、ひいては検査対象のRF−IDの種類を認識できることとなってオペレータの種類特定のための入力を不要とさせることで、従前の種類特定の入力ミスが回避され、RF−IDの種類に応じて確実に検査行うことができるようになるものである。 Thus, the type of identification terminal 42B by the processing system automatically the substrate 42 of the substrate 42, thereby eliminating the need for input for certain types of operators becomes possible therefore we can recognize the type of RF-ID of the inspection target it is, conventional type specific input error can be avoided, in which it is possible to perform reliably inspected according to the type of RF-ID. また、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることが可能となるものである。 Moreover, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0027】 [0027]
続いて、図3に、図1の検査システムで使用される他形態のホルダおよびアンテナユニットの説明斜視図を示す。 Subsequently, in FIG. 3 is an explanatory perspective view of the holder and the antenna unit of another form for use in the inspection system of FIG. 図3に示すホルダ31Bは、形成される係合溝32(32A,32B・・・32N)が、基板42を係合させるためのものとして所定数形成されたもので、上記同様に保持される基板42(システム側アンテナ41)と検査対象21Xとの距離をそれぞれ定めた間隔で形成されている。 Holder 31B shown in FIG. 3, the engaging groove 32 (32A, 32B ··· 32N) to be formed, one that is a predetermined number formed is the same holds as for engaging the substrate 42 the distance between the substrate 42 and the (system-side antenna 41) and inspected 21X are formed at intervals defined respectively. 一方、基板42は、上記同様にシステム側アンテナ41を搭載し、図2(C)で示した接続端子42Aよりコネクタ44を介在させてケーブル45が延出される。 On the other hand, the substrate 42 in the same manner as described above incorporating a system-side antenna 41, cable 45 with intervening connector 44 from the connection terminal 42A shown in FIG. 2 (C) is extended. このようにケース43を用いずに、基板42のみをホルダ31Bに交換自在に保持させるものとして、上記同様に、検査対象21Xの種類毎に用意され、上記ホルダ31Bの係合溝32の何れかに所望の上記基板42を係合させてスライドさせることで当該ホルダ31Bに所望の基板42を保持させるものである。 Thus without using the case 43, only the substrate 42 as to exchange freely held by the holder 31B, in the same manner as described above, is prepared for each kind of the inspection object 21X, one of the engaging grooves 32 of the holder 31B is intended to hold a desired substrate 42 to the holder 31B by sliding to engage the desired the substrate 42.
【0028】 [0028]
また、図4に、図1の検査システムで使用される他形態のアンテナにおけるホルダおよびアンテナユニットの説明斜視図を示す。 Further, in FIG. 4 is an explanatory perspective view of the holder and the antenna units in the antenna of the other forms used in the inspection system of FIG. 図4(A)は、ケース43に収納される基板42に、検査対象21Xに対して静電結合させる例えば2枚の平面状の電極41A,41Bをシステム側アンテナとして搭載したもので、図2(C)で示した接続端子42Aよりコネクタ44を介在させてケーブル45を延出させたものである。 FIG. 4 (A), the substrate 42 is housed in the case 43, which was mounted for example to electrostatically bond the two planar electrodes 41A, and 41B as a system-side antenna with respect to the inspection target 21X, 2 and a connector 44 is interposed from the connection terminal 42A shown in (C) is obtained by extending the cable 45. このケース43の係合突部(43A,43B)をホルダ31Aにおける所望の係合溝32に係合させることで、交換自在に保持されるものである。 Engaging projections (43A, 43B) of the case 43 by engaging the desired engagement groove 32 of the holder 31A, is intended to be exchanged freely held.
【0029】 [0029]
上記電極41A,41Bをシステム側アンテナとして搭載されたケース43を用いる場合として、当然に検査対象21Xは後述の図6に示されるような静電結合型のRF−IDであり、当該静電結合型のRF−IDの種類毎に対応する電極41A,41Bを搭載した基板42毎にケース43が用意されるものである。 As the case of using the electrode 41A, a case 43 mounted to 41B as a system-side antenna, inspected 21X course is RF-ID of the electrostatic coupling type as shown in FIG. 6 to be described later, the electrostatic coupling electrodes 41A corresponding to each type of type of RF-ID, in which case 43 is prepared for each substrate 42 mounted with 41B. そして、図2と同様に、上記ホルダ31Aの係合溝32の何れかに所望の上記ケース43を、その係合突部(43A,43B)を係合させてスライドさせることで当該ホルダ31Aに所望のケース43を検査対象21Xに対して所望の距離で保持させるものである。 Then, as in FIG. 2, the desired of the case 43 in any of the engaging groove 32 of the holder 31A, the engaging projection (43A, 43B) to the holder 31A by by engaging sliding the it is intended to hold at a desired distance to be inspected 21X the desired case 43.
【0030】 [0030]
また、図4(B)は、電極41A,41Bをシステム側アンテナとして搭載した基板42が図2(C)で示した接続端子42Aよりコネクタ44を介在させてケーブル45が延出された形態を示したもので、ホルダ31Bが図3と同様に、形成される係合溝32が、当該基板42を係合させるためのものとして所定数形成され、保持される基板42(システム側アンテナ41)と検査対象21Xとの距離をそれぞれ定めた間隔で形成される。 Further, FIG. 4 (B), the electrode 41A, a substrate 42 mounted with 41B as a system-side antenna is a form extending cable 45 with intervening connector 44 from the connection terminal 42A shown in FIG. 2 (C) an illustration, similar to the holder 31B is a 3, the engaging groove 32 is formed, by a predetermined number formed as to engage the substrate 42, the substrate 42 is held (the system-side antenna 41) They are formed at intervals defined respectively the distance between the inspected 21X and. このようにケース43を用いずに、基板42のみをホルダ31Bに交換自在に保持させるものとして、上記同様に、静電結合型の検査対象21Xの種類毎に用意され、上記ホルダ31Bの係合溝32の何れかに所望の上記基板42を係合させてスライドさせることで当該ホルダ31Bに所望の基板42を検査対象21Xに対して所望の距離で保持させるものである。 Thus without using the case 43, only the substrate 42 as to exchange freely held by the holder 31B, in the same manner as described above, is prepared for each kind of the inspection object 21X electrostatic coupling type, the engagement of the holder 31B is intended to hold at a desired distance to be inspected 21X the desired substrate 42 to the holder 31B by sliding to engage the desired the substrate 42 in any of the grooves 32.
【0031】 [0031]
なお、上記例では、検査対象の静電結合型のRF−IDが備える電極を二つとし、検査システム側の対向する電極41A,41Bを二つとした場合を示しているが、RF−IDが備える電極が送信用で二つの電極および受信用で二つの電極とする合計四つの電極を有する場合には、これに応じて対向する電極を、送信および受信をそれぞれ別の二つで合計四つの電極となる。 In the above example, the electrode in the RF-ID of the electrostatic coupling type to be examined and two, electrodes 41A facing the test system side, the case where the 41B and two, the RF-ID If the electrode provided having a total of four electrodes to two electrodes for two electrodes and received at the transmission, the opposing electrode in response thereto, total of four transmit and receive in two separate, respectively It serves as an electrode.
【0032】 [0032]
図2〜図4に示すように、ホルダ31A,31Bにシステム側アンテナ41,41A,41Bを搭載する基板42またはケース43を交換自在に保持させることにより、検査対象21Xの種類に対応した検査を容易とさせることができ、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 2 to 4, the holder 31A, the system-side antenna 41,41A to 31B, by exchanging freely hold the substrate 42 or case 43 mounting the 41B, a test corresponding to the type of inspection object 21X it can be easily and is able to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0033】 [0033]
ここで、図5に、図1の検査対象における電磁結合型の他形態の検査対象を示した概略説明図を示す。 Here, FIG. 5 shows a schematic illustration showing an inspection target of another embodiment of an electromagnetic coupling type in a test subject of FIG. 図5(A)において、図1に示すRF−ID21はICカードとして作製された場合を検査対象としたものであるが、本図ではICカードとする以前の状態、すなわち、シート51上にコイルアンテナ21Aを形成しICモジュール21Bを実装したRF−ID21を1列に連続して所定間隔で形成させてロール状としたものである。 In FIG. 5 (A), an earlier time RF-ID 21 shown in FIG. 1 is obtained by the inspected when it is fabricated as an IC card, in this view the IC card, i.e., the coil on the seat 51 the RF-ID 21 mounting the IC module 21B to form an antenna 21A continuously in a row is formed at predetermined intervals is obtained by a roll form. 間隔は適宜定められるものであるが、上述のようにシールド部材13を介在させることで当該開口部13Aに応じて短い間隔とすることができるものである。 Although spacing should be determined as appropriate, in which may be a short interval in response to the opening 13A by an intervening shielding member 13 as described above.
【0034】 [0034]
上記ロール状の製造の方法は種々あるが、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)上に銅箔をエポキシ系接着剤で接着し、エッチングによりコイル状に巻回された各アンテナ21Aを形成し、各アンテナ21Aに対してそれぞれICモジュール21Bをリフローはんだ付けにより接続するもので、その後ロール状態(シート状態でもよい)とされて駆動機構14の上方または下方で図示しない搬送手段により長手方向に搬送されるものである。 The above method of roll manufacturing There are various, for example, bonding a copper foil with an epoxy adhesive onto a polyethylene terephthalate (PET), to form a respective antenna 21A wound in a coil shape by etching, the antenna 21A intended to connect by reflow soldering an IC module 21B respectively, intended to be conveyed in the longitudinal direction by a conveying means thereafter (or in a sheet state) roll state are not shown in above or below the drive mechanism 14 is there.
【0035】 [0035]
また、図5(B)は、シート52上にコイルアンテナ21Aを形成し、ICモジュール21Bを実装したRF−ID21を複数列、複数行の形態に連続して所定間隔で形成させてシート状またはロール状としたものである。 Further, FIG. 5 (B), the coil antenna 21A formed on the sheet 52, a plurality of rows of RF-ID 21 mounting the IC module 21B, sequentially in a plurality of rows of form is formed at predetermined intervals sheet or it is obtained by the roll. 間隔は、上記同様に、介在されるシールド部材13の開口部13Aに応じて短い間隔とすることができるものである。 Intervals, in the same manner as described above, is capable to short interval in response to the opening 13A of the shield member 13 interposed. このようなシート52上に形成されるRF−ID21は、図5(A)で説明した方法で製造することができ、その後シート状態またはロール状態とされて駆動機構14の上方または下方で図示しない搬送手段により長手方向に搬送されるものである。 RF-ID 21 which is formed on such a sheet 52 may be manufactured in the manner described in FIG. 5 (A), the not shown above or below the drive mechanism 14 is a subsequent sheet state or roll condition the conveying means is intended to be conveyed in the longitudinal direction.
【0036】 [0036]
続いて、図6に、図1の検査対象における静電結合型の検査対象を示した概略説明図を示す。 Subsequently, FIG. 6 shows a schematic illustration showing a test object of the electrostatic coupling type in inspected FIG. 図6(A)は、搬送ベルト12上に静電結合型のICカードとなるRF−ID21が供給手段(図示せず)で供給される場合として示したもので、所定のベース上に電極アンテナ61A,61BおよびICモジュール62が形成されると共に、適宜、当該RF−ID21を固有化するバーコード63が印刷により形成されたものである。 6 (A) is an illustration as if the RF-ID 21 serving as an electrostatic coupling type IC card on the conveying belt 12 is supplied by supply means (not shown), the electrode antenna on a predetermined base 61A, with 61B and the IC module 62 is formed, as appropriate, in which the bar code 63 for specific of the RF-ID 21 is formed by printing. このようなRF−ID21においても、通常知られている製造工程で、例えば個人認証カードや、クレジットカード、電子マネーカード等として作製される。 In such RF-ID 21, in a conventional known manufacturing process, for example, personal authentication card, a credit card, is made as an electronic money card or the like.
【0037】 [0037]
また、図6(B)は、RF−ID21とする以前の状態、すなわち、シート53上に平面状アンテナとして電極61A,61Bを形成し、ICモジュール62を実装したRF−ID21を1列に連続して所定間隔で形成されてロール状としたものである。 The continuous, FIG. 6 (B), the state before the RF-ID 21, i.e., the electrodes 61A as a planar antenna on the sheet 53, 61B is formed, the RF-ID 21 mounting the IC module 62 in a row is obtained by a roll shape is formed at predetermined intervals in. 間隔は適宜定められるものであるが、上述のようにシールド部材13を介在させることで当該開口部13Aに応じて短い間隔とすることができるものである。 Although spacing should be determined as appropriate, in which may be a short interval in response to the opening 13A by an intervening shielding member 13 as described above.
【0038】 [0038]
上記ロール状の製造の方法は、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)上に銅箔をエポキシ系接着剤で接着し、エッチングにより平面状とした各電極61A,61Bを形成し、当該各電極61A,61Bに対してそれぞれICモジュール62をリフローはんだ付けにより接続するもので、その後ロール状態(シート状態でもよい)とされて駆動機構14の上方または下方で図示しない搬送手段により長手方向に搬送されるものである。 The method of the roll manufacturing, for example by bonding a copper foil with an epoxy adhesive onto a polyethylene terephthalate (PET), each of the electrodes 61A and a flat shape by etching, 61B is formed, the respective electrodes 61A, to 61B it is intended to be conveyed longitudinally by conveying means (not shown) of the IC module 62 respectively intended to be connected by reflow soldering, which subsequently roll state (which may be a sheet state) above or below the drive mechanism 14 for .
【0039】 [0039]
また、図6(C)は、シート54上に電極61A,61Bを形成し、ICモジュール62を実装したRF−ID21を複数列、複数行の形態に連続して所定間隔で形成させてシート状またはロール状としたものである。 Also, FIG. 6 (C), the electrode 61A on the sheet 54, 61B is formed, a plurality of rows of RF-ID 21 mounting the IC module 62, sheet form continuously in the multiline mode is formed at predetermined intervals or it is obtained by a roll form. 間隔は、上記同様に、介在されるシールド部材13の開口部13Aに応じて短い間隔とすることができる。 Intervals, in the same manner as described above, may be a short interval in response to the opening 13A of the shield member 13 interposed. このようなシート54上に形成されるRF−ID21は、図6(B)で説明した方法で製造することができ、その後シート状態またはロール状態とされて駆動機構14の上方または下方で図示しない搬送手段により長手方向に搬送されるものである。 RF-ID 21 which is formed on such a sheet 54 may be manufactured in the manner described in FIG. 6 (B), the not shown above or below the drive mechanism 14 is a subsequent sheet state or roll condition the conveying means is intended to be conveyed in the longitudinal direction.
【0040】 [0040]
次に、図7に本発明に係るRF−IDの検査システムのブロック構成図を示すと共に、図8に図7の検査処理部のブロック構成図を示す。 Then, with a block diagram of inspection system of RF-ID according to the present invention in FIG. 7, a block diagram of the inspection processing unit 7 in FIG. 8. ここでは、検査対象21Xを図1および図5に示す電磁結合型のRF−ID21を対象とする場合を示しており、図2および図3に示すシステム側アンテナ41(ケース43または基板42)が使用される場合を示している。 Here shows the case that target RF-ID 21 of the electromagnetic coupling type shown in FIGS. 1 and 5 the inspected 21X, the system-side antenna 41 shown in FIG. 2 and FIG. 3 (case 43 or the substrate 42) It shows the case used.
【0041】 [0041]
図7において、本発明に係るRF−IDの検査システム11は、搬送ベルト12で搬送される各RF−ID21における検査対象21Xに対し、駆動機構14、処理システム72、搬送ベルト12の上方に配置される位置検出手段15、BCR16、マーカ17を含んで構成される。 7, the inspection system 11 of the RF-ID according to the present invention, with respect to the inspection target 21X in each RF-ID 21 which is conveyed by the conveying belt 12, the driving mechanism 14, the processing system 72, arranged above the conveyor belt 12 position detecting means 15, BCR16 is configured to include a marker 17.
【0042】 [0042]
上記検査対象21Xは、処理部81、メモリ82および復調部83で構成されるICモジュール21Bと、コイルアンテナ21Aとにより構成される。 The test-sample 21X is processor 81, and the IC module 21B composed of memory 82 and the demodulation unit 83, constituted by a coil antenna 21A. コイルアンテナ21Aは、上述のように平面上でコイル状に巻回されたもので、検査システム11からの信号を受信し、または当該検査対象21Xより検査システム11(システム側アンテナ41)にデータを送信する役割をなす。 Coil antenna 21A has been coiled on a plane as described above, the data to receive a signal from the inspection system 11 or the inspection test than the target 21X system 11, (system-side antenna 41) make the role to be sent.
【0043】 [0043]
上記ICモジュール21Bにおいて、メモリ82はカード等としての種々の情報を記憶するためのものである。 In the IC module 21B, the memory 82 is for storing various information as a card or the like. 上記復調部83は、コイルアンテナ21Aで受信した電波から制御信号、データを復調し、適宜コード変換する。 The demodulating unit 83 demodulates the control signal, the data from the radio wave received by the coil antenna 21A, as appropriate transcoding. そして、処理部81は、プログラムにより、受信した制御信号、データをメモリ82に記憶させ、またメモリ82に記憶したデータを送信する処理を行う。 Then, the processing unit 81, by the program, the received control signals, stores the data in the memory 82, also performs a process of transmitting the data stored in the memory 82.
【0044】 [0044]
また、搬送手段として、搬送駆動部73により搬送ベルト12が駆動される。 Moreover, as the conveying means, the conveying belt 12 is driven by a transfer drive 73. 上記駆動機構14は、アンテナ駆動部74で駆動されるX、Y、Z駆動機構であり、ホルダ31の所定位置に保持されて上記検査対象21Xとの通信を行うシステム側アンテナ41を搭載する。 The drive mechanism 14 is X, Y, Z driving mechanism driven by the antenna drive section 74, is held in a predetermined position of the holder 31 equipped with the system-side antenna 41 for communication with the test-sample 21X. このアンテナ駆動部74は、上述のようにシステム側アンテナ41を検査対象21Xの方向に上下動させるZ移動させ、当該検査対象21Xの幅方向で中心(コイルアンテナ21Aの中心)に位置させるY移動させ、適宜、検査対象21Xを搬送移動状態で検査を行う場合の当該搬送と同期をとるX移動をさせる。 The antenna driving section 74 causes the Z moving vertically moving the system-side antenna 41 in the direction of the inspection target 21X as described above, Y move to position the center (center of the coil antenna 21A) in the width direction of the test object 21X It is allowed, as appropriate, makes the transport and X moving to synchronize when inspecting the inspection target 21X the transport movement state. すなわち、このアンテナ駆動部74は、上記シールド部材13およびシステム側アンテナ41を移動させるものであるが、シールド部材13をシステム側アンテナ14と別駆動させる場合には、当該システム側アンテナ14と同期させてシールド部材13を上下方向(Z方向)に移動させる。 In other words, the antenna drive section 74, but is intended for moving the shielding member 13 and the system-side antenna 41, in the case of another driven shield member 13 and the system-side antenna 14, it is synchronized with the system-side antenna 14 moving the shield member 13 in the vertical direction (Z-direction) Te.
【0045】 [0045]
上記処理システム72は、検査対象21Xの良否判定を行うものとしてリーダ・ライタとしての機能を含むもので、制御部91、検査処理部92、データメモリ93を備え、電力増幅部94、変調部95、発信部96、検波部97、データ変換部98、搬送駆動制御部99、アンテナ駆動制御部100、インターフェース(IF)部101および表示部102を備える。 The processing system 72, those comprising a function as a reader-writer as performing quality determination of the inspected 21X, control unit 91, the inspection processing unit 92, a data memory 93, power amplifier 94, the modulating unit 95 comprises a transmission unit 96, the detection unit 97, the data conversion unit 98, the conveyance drive control unit 99, an antenna drive control unit 100, an interface (IF) unit 101 and a display unit 102.
【0046】 [0046]
上記制御部91は、この処理システム72の全体を統括制御するもので、これに応じたアプリケーションソフトのプログラムにより構築される。 The control unit 91 is for overall control of the processing system 72 is constructed by an application software program in response thereto. そのうち、上記基板42の接続端子42Aよりコネクタ44を介してIF部101に入力される基板種類特定信号を自動認識して変調部95、発信部96及び検波部97を当該検査対象の種類に応じた設定を行う。 Among them, according to the substrate type specific signal automatically recognizes the modulation unit 95, transmitting unit 96 and the detection unit 97 is input to the IF unit 101 via the connector 44 from the connection terminal 42A of the substrate 42 on the kind of the inspection object It was to set. 例えば、変復調形態をFSK(周波数偏位変調)またはPSK(位相偏位変調)で切り替え、キャリア周波数を例えば13.56MHz、847KHz、424KHz、212KHz、125KHz等で切り替える。 For example, switch the modem forms with FSK (Frequency Shift Keying) or PSK (phase shift keying), it switches the carrier frequency for example 13.56MHz, 847KHz, 424KHz, 212KHz, at 125KHz and the like.
【0047】 [0047]
上記検査処理部92は、詳細は図8で説明するが、プログラムによる検査ルーチンで基準対象21Xに対する検査処理、判定を行うものある。 The inspection processing unit 92, details will be described in FIG. 8, the inspection processing for the reference target 21X inspection routine by program, some make a determination. 上記データメモリ93は、種々のデータを記憶すると共に、適宜検査判定のための一時記憶領域(バッファであって、検査処理部92に備えさせてもよい)としての役割をもなす。 The data memory 93 stores various data, (a buffer, allowed may be provided to the inspection processing section 92) a temporary storage area for the appropriate inspection determination also form role as. 上記種々のデータには、例えば、検査対象21X毎のメモリ82に記憶させるための情報(例えば識別情報)や、検査のための種々の設定値等がある。 To the above-described various data, for example, information for storing in the memory 82 for each inspection object 21X (e.g. identification information), there are a variety of setting values ​​for the test.
【0048】 [0048]
上記データ変換部98は、検査対象21Xに対して情報を送信する場合の当該情報を例えば「1」、「0」に変換し、また当該検査対象21Xからの送信データを例えば「1」、「0」に変換する。 The data conversion unit 98, the information when transmitting the information to the inspection target 21X for example, "1", "0" is converted into, also the transmission data, for example, "1" from the inspected 21X, " It converted to 0 ". 上記変調部95は、制御部91の設定に応じて発信部96からの発信出力(例えば検査対象のRF−ID21Xが電磁結合型として、13.56MHz)に基づいて上記データ変換部98で変換された情報を例えばFSK(周波数偏位変調)変調波に変調する。 The modulation unit 95, (for example as RF-ID21X under inspection electromagnetic coupling type, 13.56 MHz) originating output from the transmitting unit 96 according to the setting of the control unit 91 is converted by the data converter 98 based on the information, for example, FSK (frequency Shift Keying) modulates the modulated wave. 上記電力増幅部94は、変調部95で変調された変調波を電力増幅するもので、この増幅された変調波がシステム側アンテナ41より送信されるものである。 The power amplifier 94, the modulated wave modulated by the modulation unit 95 intended to power amplification, in which the amplified modulated wave is transmitted from the system-side antenna 41. そして、検波部97は、制御部91からの設定に応じてシステム側アンテナ41で受信した検査対象21Xからの送信電波を検波して復調する。 Then, the detection unit 97, by detecting the radio wave transmitted from the inspection target 21X received demodulated by the system antenna 41 according to the setting from the control unit 91.
【0049】 [0049]
一方、上記搬送駆動制御部99は、検査対象21Xを順次検査するために搬送する上述の搬送駆動部73を駆動させるための制御信号を制御部91からの指令に基づき生成してIF部101を介して当該搬送駆動部73に送出する。 On the other hand, the carrier driving controller 99, the IF unit 101 generates and based on a command of the control signal from the controller 91 to drive the transfer drive 73 described above to convey to sequentially inspect the inspection object 21X through it sends to the transfer drive 73. また、上記アンテナ駆動制御部100は、検査対象21Xに対してシールド部材13およびシステム側アンテナ41を上下方向に移動させて検査対象21Xのアンテナ21Aにシールド部材13を近接させ、当該検査対象21Xとホルダ31A(31B)の上部とを基本距離とするように制御する信号を制御部91の指令に基づいて生成し、IF部101を介してアンテナ駆動部74に送出するものである。 Further, the antenna driving control unit 100, is brought close to the shield member 13 to the antenna 21A to be inspected 21X by moving the shielding member 13 and the system-side antenna 41 in the vertical direction with respect to the inspection target 21X, and the inspection target 21X a signal for controlling so that the upper holder 31A (31B) as the basic distance generated based on the command from the controller 91, is intended to be sent to the antenna driving section 74 via the IF unit 101.
【0050】 [0050]
ここで、図8において、検査処理部92は、プログラム処理の機能として、処理手段111、受信データ取得手段112、送信データ取得手段113、判定手段114を備える。 Here, in FIG. 8, the inspection processing unit 92, as a function of program processing, the processing unit 111, the received data acquisition unit 112, the transmission data acquisition unit 113, a judging means 114. 上記処理手段111は、当該検査処理部92全体の処理を統括する。 The processing means 111 supervises the inspection processing unit 92 overall processing. 上記受信データ取得手段112は、検査対象21Xから送信されてくるデータが受信されたときに取得するもので、適宜データメモリ93に記憶させる(当該受信データ取得手段112がバッファを備える場合にはバッファに一時格納してもよい)。 The received data acquisition unit 112, the inspection as to obtain when the data is received which is transmitted from the target 21X, buffer in case of storing in the appropriate data memory 93 (the received data acquisition unit 112 includes a buffer may be temporarily stored in).
【0051】 [0051]
上記送信データ取得手段113は、検査対象21Xに通信によりメモリ82に書き込ませる識別情報等をデータメモリ93より読み出して取得する。 The transmission data acquisition unit 113 acquires the identification information for writing into the memory 82 by communication to the inspection target 21X reads from the data memory 93. そして、判定手段114は、まず、検査対象21Xより応答が合ったか否かで良否を判定すると共に、当該検査対象21Xに送信した送信データ(データメモリ93より読み込んだ送信データ)と、検査対象21Xからの応答で送信されてきた受信データとを比較し、一致していれば良品と判定し、不一致のときには不良品と判定するもので、送信データが検査対象21Xのメモリ82に実際に書き込まれたか否かをデータ比較による通信状態の良否としてとらえたものである。 Then, the determining unit 114, first, the determining acceptability based on whether there is a response from the test object 21X, the transmission data transmitted to the inspection object 21X (transmission data read from the data memory 93), the inspection object 21X comparing the received data transmitted by the response from, if they match is determined to be good, but when a mismatch determining as defective, actually written transmitted data in the memory 82 of the inspection object 21X in which it captured or Taka not as good or bad of a communication status by data comparison.
【0052】 [0052]
そこで、図9に、図7および図8における検査処理のフローチャートを示す。 Accordingly, FIG. 9 shows a flowchart of an inspection process in FIGS. 検査に際してホルダ31A,31Bには、検査対象(図1の電磁結合型RF−IDとする)21Xの種類に応じて対応するケース43または基板42が、予め定められている通信距離に応じた係合溝32に保持される。 Holder 31A In testing, the 31B, case 43 or substrate 42 corresponding in accordance with the test object (a electromagnetic coupling type RF-ID in Figure 1) Type of 21X is, according to the communication distance is predetermined engagement It is held in the groove 32. 図9において、まず、制御部91がコネクタ44、ケーブル45を介して入力される基板42の接続端子42Aおける基板種類の識別端子42Bの端子接続状態を認識して基板種類(アンテナ種類、検査対象のRF−IDの種類)を特定し、これに応じた検査ルーチンを設定すると共に、変調部95、発信部96及び検波部97を当該検査対象の種類に応じた設定を行う(ステップ(S)1)。 9, first, the control unit 91 is a connector 44, recognizes the terminal connection status of the connection terminals 42A definitive substrate type identification terminal 42B of the substrate 42 that is input via the cable 45 and the substrate type (antenna types, inspected of identifying the type) of RF-ID, and sets a checking routine in response thereto, to set a modulation unit 95, transmitting unit 96 and the detection unit 97 according to the kind of the inspection object (step (S) 1). そこで、搬送ベルト12上に順次供給されるRF−ID21(検査対象21X)を検査位置に搬送する駆動量を、制御部91の指令に基づいて搬送駆動制御部99がIF部101を介して搬送駆動部73に出力する(S2)。 Therefore, the driving amount for conveying RF-ID 21 are sequentially supplied onto the conveying belt 12 (inspected 21X) at the test position, the conveyance drive control unit 99 in accordance with an instruction of the control unit 91 via the IF unit 101 transport and outputs to the drive unit 73 (S2).
【0053】 [0053]
搬送されるRF−ID21が搬送位置に達したかを位置検出手段15が検出すると(S3)、制御部91がBCR16に検査対象21X上に形成されたバーコード21Cを読み込ませ、当該検査対象21Xとひも付けして一旦データメモリ93等に記憶させる(S4)。 When RF-ID 21 to be conveyed is detected the position detecting means 15 has been reached in the transport position (S3), the control unit 91 to read the bar code 21C formed on the inspection target 21X to BCR16, the inspection target 21X a shed be attached to temporarily stored in the data memory 93 or the like (S4). そして、アンテナ駆動制御部100では、制御部91の指令により検査位置の検査対象21Xに対してシールド部材13およびシステム側アンテナ41を下方の中心に位置させる駆動量(Y)をアンテナ駆動部74のY方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ41を検査対象21X(アンテナ21A)に対して上記基本距離とする駆動量(Z)をZ方向駆動量として出力する(S5)。 Then, the antenna driving control unit 100, the driving amount to position the shielding member 13 and the system-side antenna 41 to the center of the lower relative inspected 21X inspection position by a command from the control unit 91 (Y) of the antenna drive section 74 a Y-direction driving amount, and outputs drive amount to the basic distance the system-side antenna 41 with respect to the inspection target 21X (antenna 21A) and (Z) as a Z-direction driving amount (S5). なお、上述のように、検査対象21Xを搬送移動状態で検査を行う場合には、当該搬送と同期をとってX移動をさせる駆動量(X)をX方向駆動量として出力する。 As described above, when inspecting the inspection target 21X the transport movement state outputs drive amount for the X movement taking the conveying and synchronizing (X) as X-direction drive amount.
【0054】 [0054]
そこで、検査対象用の送信データ(識別情報)をデータメモリ93より取得して検査対象21Xに送信する(S6)。 Therefore, it acquires and transmits data for the inspection target (identification information) from the data memory 93 transmits the inspection target 21X (S6). 当該検査対象21Xからの応答(返信データの発信)があった場合には(S7)、当該検査対象のICモジュール21Bが動作して故障されたものでないと判断し、当該応答による返信データを受信して、上記のように判定手段114が送信データと受信データとのマッチングを行う(S8)。 When there a response from the inspected 21X (outgoing reply data), it is determined that (S7), not intended IC module 21B of the inspection target is a fault in operation, receives the reply data by the response and, the determination unit 114 as described above to match the transmit data and receive data (S8). マッチングの結果において(S9)、一致したときには良品と判定し(S10)、不一致のときには不良品と判定する(S11)。 In result of the matching (S9), when a match is determined to be good (S10), when a mismatch is determined as defective (S11). また、上記S7において、応答がなければ、ICモジュール21Bの不良として当該検査対象21Xを不良品と判定する(S11)。 The judges, in the above S7, if there is no response, a defective product the inspected 21X as faulty IC module 21B (S11).
【0055】 [0055]
ここで、検査対象21Xが不良品の場合に当該検査対象21Xにマーキングするものとすると、S11で不良品と判定した検査対象21Xに対しマーキングすべきことを制御部91がマーカ17に指令する(S12)。 Here, assuming that the inspection target 21X is marking the inspected 21X in the case of defective, the control unit 91 that it should be marked to be inspected 21X judged as defective products in S11 instructs the marker 17 ( S12). そして、これらの判定結果をデータメモリ93に記憶させる(S13)。 Then, and stores these determination results to the data memory 93 (S13).
【0056】 [0056]
続いて、次の検査対象21Xを検出した場合には、当該検査対象21Xに対してS3〜S13を繰り返して判定結果をデータメモリ93に記憶させる(S14)。 Subsequently, when detecting a next inspected 21X stores the determination result by repeating S3~S13 respect to the inspection object 21X in the data memory 93 (S14). そして、次の検査対象21Xを検出せず、総ての検査対象21Xを検査し、その良否がデータメモリ93に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部102に表示させるものである(S15)。 Then, without detecting the next inspection object 21X, it examines all inspected 21X, when its quality is stored in the data memory 93, is intended to display the test result as appropriate display unit 102 (S15 ). なお、検査結果の表示を、検査対象21X毎、または所定数の検査対象21Xの検査結果毎に行ってもよい。 Incidentally, checking the display of the results may be performed each inspection target 21X, or the test result for each of a predetermined number of inspected 21X.
【0057】 [0057]
なお、検査対象21Xが、図6に示すように静電結合型のRF−ID21の場合には、図4に示す電極41A,41Bが搭載された基板42または当該基板42を収納するケース43がホルダ32A,31Bの所望の係合溝32に保持させる。 Incidentally, the inspection target 21X is, in the case of RF-ID 21 of the electrostatic coupling type as shown in FIG. 6, the electrode 41A shown in FIG. 4, the case 43 for housing the substrate 42 or the substrate 42 41B mounted thereon holder 32A, is held in the desired engagement groove 32 of 31B. この場合、処理システム72では、制御部91が上記種類を基板42の識別端子42Bの接続状態を信号により上記種類を認識し、設定に応じて上記変調部95で、発信部96からの所定周波数(例えば847KHz、424KHz、212KHz、125KHz等)の発信出力に基づいて上記データ変換部98で変換された情報を例えばPSK(位相偏位変調)変調波に変調するように、静電結合特有の処理を行わせるもので、他の構成は基本的に図7と同様である。 In this case, the processing system 72, the control unit 91 recognizes the type by the signal the connection state of the identification terminal 42B of the substrate 42 of the above kind, by the modulation section 95 in accordance with the set, predetermined frequency from the transmitting unit 96 (eg 847KHz, 424KHz, 212KHz, 125KHz, etc.) originating on the basis of the output converted information, for example, PSK (phase shift keying) in the data conversion unit 98 of the to modulate the modulation wave, capacitive coupling processing unique intended to perform, other configurations are basically the same as FIG. また、検査処理は、図9に示すフローチャートと同様である。 The inspection process is similar to the flowchart shown in FIG.
【0058】 [0058]
このように、検査対象のRF−ID21の種類に応じて上記基板42またはケース43を交換させる、これを基板42の識別端子42Bの状態でひいては検査対象のRF−ID21の種類を認識させることで、検査対象21Xの種類に対応した検査を図7〜図9に示すような検査処理で確実に行わせることができ、RF−ID21の将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 Thus, to exchange the substrate 42 or case 43 depending on the type of RF-ID 21 to be inspected, which be to recognize the type of RF-ID 21 of the thus inspected in a state of identification terminal 42B of the substrate 42 , which test for the type of inspection object 21X can be reliably performed in the inspection process as shown in FIGS. 7 to 9, it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID 21 it is.
【0059】 [0059]
次に、図10に、図2〜図4のアンテナが搭載される基板の他の構成例の説明図を示す。 Next, FIG 10 is an explanatory view of another example of the structure of the substrate where the antenna of FIGS. 2-4 is mounted. この場合、図7と同一の構成部分には同一の符号を付す。 In this case, the same reference numerals are assigned to the same components as in FIG. 7. 図10(A)において、基板121上に、図2〜図4に示すシステム側アンテナ41(41A,41B)が搭載されるものとして、例えば裏面(システム側アンテナと同一面でもよい)に送受信手段である送受信システム122を実装させたものである。 Figure 10 (A), the on board 121, the system-side antenna 41 (41A, 41B) shown in FIG. 2 to FIG. 4 as is mounted, for example, the back surface transceiver means (system side antenna and may also be in the same plane) in which the transmission and reception system 122 was implemented at. そして、当該基板121の図2(C)に示す接続端子42Aよりコネクタ44を介してケーブル45が延出されたもので、当該基板121を単体で、またはこの基板121をケース43に収納させて、上記ホルダ32A,31Bの所望の係合溝32に交換自在に保持させるものである。 Then, those cable 45 via the connector 44 from the connection terminal 42A shown in FIG. 2 (C) of the substrate 121 is extended, and the substrate 121 by itself, or by accommodating the substrate 121 to the casing 43 it is intended to exchange freely held at a desired engaging groove 32 of the holder 32A, 31B.
【0060】 [0060]
上記基板121に実装される送受信システム122は、図10(B)に示すように、電力増幅部94A,94B、変調部95、発信部96、検波部97を備えるもので、各部の働きは図7と同様であるが、アンテナ41(41A,41B)の種類に応じた処理の設定がそれぞれなされている。 Transmission and reception system 122 to be mounted on the substrate 121, as shown in FIG. 10 (B), the power amplifier 94A, 94B, the modulation unit 95, transmitting unit 96, as it has a detection unit 97, the action of each part Figure it is similar to 7, setting the process in accordance with the type of the antenna 41 (41A, 41B) have been made, respectively. また、処理システム72Aは、制御部91、検査処理部92、データメモリ93、データ変換部98、搬送駆動制御部99、アンテナ駆動制御部100、IF部101および表示部102を備える。 The processing system 72A includes a control unit 91, the inspection processing unit 92, a data memory 93, the data conversion unit 98, the conveyance drive control unit 99, an antenna drive control unit 100, IF section 101 and the display unit 102. 上記構成部分の各部の働きは、図7および図8と同様である。 Functions of each part of the components are the same as FIGS. なお、IF部101に接続される信号系は、上記図7における位置検出手段15、BCR16、マーカ17、搬送駆動部73およびアンテナ駆動部74に対するものであり、検査処理は図9と同様である。 The signal system connected to the IF unit 101, the position detecting means 15, BCR16 in FIG. 7, the marker 17 is intended for conveyance drive unit 73 and the antenna driving section 74, the inspection process is the same as FIG. 9 .
【0061】 [0061]
また、図10(B)に示すように、基板121側のケーブル45は、処理システム72Aのコネクタ131に接続されるもので、コネクタ44,131は、変調部95、電力増幅部94Bに対して検査対象21Xとの通信を行うに際における処理システム72A側のデータ変換部98とのデータ授受を介在するものであると共に、上記のように検査対象21Xの種類に応じた基板(システム側アンテナ)121の種類を特定する信号の処理システム72A(制御部91)への出力を介在する。 Further, as shown in FIG. 10 (B), the cable 45 of the substrate 121 side, intended to be connected to the connector 131 of the processing system 72A, connectors 27,250 are modulation unit 95, to the power amplifier section 94B with those that mediate exchange of data with the processing system 72A side data conversion unit 98 of the time to perform communication with the inspection target 21X, the substrate in accordance with the type of inspection object 21X as described above (system-side antenna) 121 types of intervening output to the processing system 72A (control unit 91) of the particular signal.
【0062】 [0062]
上記のように基板121は、検査対象21XのRF−ID21の種類毎に用意されることは上述と同様である。 Substrate 121 as described above, it is the same as described above, which is prepared for each type of RF-ID 21 to be inspected 21X. すなわち、送受信システム122を基板121に搭載させることで、検査対象の種類に応じたリーダ・ライタをも当該RF−ID21の種類毎に容易に交換自在とさせることができるものである。 That is, by mounting the transceiver system 122 to the substrate 121, in which it is possible to freely easily replaced for each type of the RF-ID 21 also writer according to the kind of the inspection object.
【0063】 [0063]
そこで、図11に、図10における検査処理のフローチャートを示す。 Therefore, FIG. 11 shows a flowchart of an inspection process in Fig. 検査に際してホルダ31A,31Bには、検査対象(図1の電磁結合型RF−IDとする)21Xの種類に応じて対応するケース43または基板121が、予め定められている通信距離に応じた係合溝32に保持される。 Holder 31A In testing, the 31B, case 43 or the substrate 121 corresponding in accordance with the test object (a electromagnetic coupling type RF-ID in Figure 1) Type of 21X is, according to the communication distance is predetermined engagement It is held in the groove 32. 図11において、まず、制御部91がコネクタ44、ケーブル45、コネクタ131を介して入力される基板121の接続端子42Aおける基板種類の識別端子42Bの端子接続状態を認識して基板種類(アンテナ種類、検査対象のRF−IDの種類)を特定し、これに応じた検査ルーチンを設定する(S21)。 11, first, the control unit 91 is a connector 44, cable 45, the substrate recognizes the terminal connection status of the connection terminals 42A definitive substrate type identification terminal 42B of the substrate 121 that is input via the connector 131 type (antenna type , identifies the type) of RF-ID of the inspection target, it sets a checking routine in response thereto (S21). そこで、搬送ベルト12上に順次供給されるRF−ID21(検査対象21X)を検査位置に搬送する駆動量を、制御部91の指令に基づいて搬送駆動制御部99がIF部101を介して搬送駆動部73に出力する(S22)。 Therefore, the driving amount for conveying RF-ID 21 are sequentially supplied onto the conveying belt 12 (inspected 21X) at the test position, the conveyance drive control unit 99 in accordance with an instruction of the control unit 91 via the IF unit 101 transport and outputs to the drive unit 73 (S22).
【0064】 [0064]
搬送されるRF−ID21が搬送位置に達したかを位置検出手段15が検出すると(S23)、制御部91がBCR16に検査対象21X上に形成されたバーコード21Cを読み込ませ、当該検査対象21Xとひも付けして一旦データメモリ93等に記憶させる(S24)。 When RF-ID 21 to be conveyed is detected the position detecting means 15 has been reached in the transport position (S23), the control unit 91 to read the bar code 21C formed on the inspection target 21X to BCR16, the inspection target 21X a shed be attached to temporarily stored in the data memory 93 or the like (S24). そして、アンテナ駆動制御部100では、制御部91の指令により検査位置の検査対象21Xに対してシールド部材13およびシステム側アンテナ41を下方の中心に位置させる駆動量(Y)をアンテナ駆動部74のY方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ41を検査対象21X(アンテナ21A)に対して上記基本距離とする駆動量(Z)をZ方向駆動量として出力する(S25)。 Then, the antenna driving control unit 100, the driving amount to position the shielding member 13 and the system-side antenna 41 to the center of the lower relative inspected 21X inspection position by a command from the control unit 91 (Y) of the antenna drive section 74 a Y-direction driving amount, and outputs drive amount to the basic distance the system-side antenna 41 with respect to the inspection target 21X (antenna 21A) and (Z) as a Z-direction driving amount (S25). なお、上述のように、検査対象21Xを搬送移動状態で検査を行う場合には、当該搬送と同期をとってX移動をさせる駆動量(X)をX方向駆動量として出力する。 As described above, when inspecting the inspection target 21X the transport movement state outputs drive amount for the X movement taking the conveying and synchronizing (X) as X-direction drive amount.
【0065】 [0065]
そこで、検査対象用の送信データ(識別情報)をデータメモリ93より取得してデータ変換部98で対応のデータ変換し、コネクタ131を介して基板121の送受信システム122に送信することで、当該送受信システム122より検査対象21Xに当該送信データを送信させる(S26)。 Therefore, by transmitting the transmission data for the inspection object (identification information) acquired from the data memory 93 corresponding to data conversion by the data conversion unit 98, via the connector 131 to the transmission and reception system 122 of the substrate 121, the transmission and reception to transmit the transmission data to more inspected 21X system 122 (S26). 当該検査対象21Xからの応答(返信データの発信)があり、基板121が受信した返信データがコネクタ44,131を介して入力された場合には(S27)、当該検査対象のICモジュール21Bが動作して故障されたものでないと判断し、当該応答による返信データをデータ変換部98で所定のデータに変換した後に、上記のように判定手段114が送信データと当該返信データとのマッチングを行う(S28)。 Response from the inspected 21X (outgoing reply data), if the return data substrate 121 has received is input through the connector 27,250 (S27), IC module 21B of the inspected operation and it is determined that that was not a failure, after converting the reply data by the response to the predetermined data in the data conversion unit 98, the determination unit 114 as described above to match the transmission data and the return data ( S28).
【0066】 [0066]
マッチングの結果において(S29)、一致したときには良品と判定し(S30)、不一致のときには不良品と判定する(S31)。 In result of the matching (S29), when a match is determined to be good (S30), when a mismatch is determined as defective (S31). また、上記S27において、応答がなければ、ICモジュール21Bの不良として当該検査対象21Xを不良品と判定する(S31)。 The judges, in the above S27, if there is no response, a defective product the inspected 21X as faulty IC module 21B (S31). ここで、検査対象21Xが不良品の場合に当該検査対象21Xにマーキングするものとすると、S31で不良品と判定した検査対象21Xに対しマーキングすべきことを制御部91がマーカ17に指令する(S32)。 Here, assuming that the inspection target 21X is marking the inspected 21X in the case of defective, the control unit 91 that it should be marked to be inspected 21X judged as defective products in S31 instructs the marker 17 ( S32). そして、これらの判定結果をデータメモリ93に記憶させる(S33)。 Then, and stores these determination results to the data memory 93 (S33).
【0067】 [0067]
続いて、次の検査対象21Xを検出した場合には、当該検査対象21Xに対してS23〜S33を繰り返して判定結果をデータメモリ93に記憶させる(S34)。 Subsequently, when detecting a next inspected 21X stores the determination result by repeating S23~S33 respect to the inspection object 21X in the data memory 93 (S34). そして、次の検査対象21Xを検出せず、総ての検査対象21Xを検査し、その良否がデータメモリ63に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部102に表示させるものである(S35)。 Then, without detecting the next inspection object 21X, it examines all inspected 21X, when its quality is stored in the data memory 63, is intended to display the test result as appropriate display unit 102 (S35 ). なお、検査結果の表示を、検査対象21X毎、または所定数の検査対象21Xの検査結果毎に行ってもよいことは上記と同様である。 Incidentally, the display of the test results, the test object for each 21X or a predetermined number of may be performed for each inspection result of the inspection target 21X, are as defined above.
【0068】 [0068]
なお、検査対象21Xが、図6に示すように静電結合型のRF−ID21の場合には、図4に示す電極41A,41Bが搭載された基板42であって送受信システム122を搭載した基板121または当該基板121を収納するケース43がホルダ32A,31Bの所望の係合溝32に保持させる。 Substrate Incidentally, it inspected 21X is, in the case of RF-ID 21 of the electrostatic coupling type as shown in Figure 6, equipped with a transmission and reception system 122 a substrate 42 electrode 41A, the 41B is mounted shown in FIG. 4 121 or case 43 for housing the substrate 121 is held in the desired engagement groove 32 of the holder 32A, 31B. この場合、処理システム72では、制御部91が上記種類を基板42の識別端子42Bの接続状態を信号により上記種類を認識して対応の検査ルーチンを設定するものであり、検査処理は、図11に示すフローチャートと同様である。 In this case, the processing system 72, the control unit 91 is for setting an inspection routine corresponding to recognize the type by the signal the connection state of the identification terminal 42B of the substrate 42 of the above kind, the inspection process, FIG. 11 it is similar to the flowchart shown in.
【0069】 [0069]
このように、システム側アンテナ41(41A,41B)を搭載した基板121に処理システムの一部を構成する送受信システム122を搭載させることにより、検査対象21Xの種類に応じた送受信システム(リーダ・ライタ)122をも同時に対応させることができるものである。 Thus, the system-side antenna 41 (41A, 41B) by mounting a transmitting and receiving system 122 constituting a part of the processing system to a substrate 121 mounted with transmission and reception system (reader-writer according to the type of inspection object 21X ) 122 in which can be associated at the same time also.
【0070】 [0070]
ところで、図10では基板121にシステム側アンテナ41(41A,41B)と送受信システム122とを搭載した場合を示したが、当該システム側アンテナ41(41A,41B)と送受信システム122とを別々の基板(第1基板、第2基板)とし、送受信システム122を搭載する基板(第2基板)に検査対象の種類を特定する信号を出力させるための識別端子(42B)をも搭載させることもできる。 Meanwhile, the system-side antenna 41 (41A, 41B) on the substrate 121 in FIG. 10 and shows the case equipped with a transceiver system 122, the system-side antenna 41 (41A, 41B) and a transmission and reception system 122 separate substrates (first substrate, second substrate), and may also be equipped with identification terminal (42B) for outputting a signal identifying the type of the inspection target board (second board) for mounting the transmission and reception system 122. すなわち、これらを分離させることにより、システム側アンテナ41(41A,41B)を共通として検査対象に応じた送受信システム122を交換自在として識別端子で検査対象の種類に応じた送受信システム122を自動認識させることができ、上記同様にRF−IDの種類に応じて確実に検査を行わせることができ、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 That is, by separating these, to automatically recognize the system-side antenna 41 (41A, 41B) transmitting and receiving system 122 according to the kind of the inspection object by the identification terminal as freely exchange transmission and reception system 122 according to the inspection target as a common it can, in the same manner as described above can be carried out reliably inspected according to the type of RF-ID, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0071】 [0071]
【発明の効果】 【Effect of the invention】
以上のように、請求項1の発明によれば、アンテナおよびICモジュールを少なくとも備えるRF−IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査するRF−IDの検査システムおける駆動機構に搭載される当該検査対象の種類に対応した基板が、当該検査対象の種類を処理システムに特定させるための特定手段を備えることにより、上記基板の特定手段により処理システムで自動的に検査対象のRF−IDの種類を認識させることで、RF−IDの種類に応じて確実に検査を行わせることができ、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 As described above, according to the invention of claim 1, communicates as an inspection target RF-ID comprising at least an antenna and IC module, the inspection system definitive driving mechanism of RF-ID to check the quality of the test object substrate corresponding to the kind of the inspection object being mounted, by providing a specific means for identifying a kind of the inspection object to the processing system, automatically inspected RF processing system by a particular means of the substrate be to recognize the type of -ID, it can be carried out reliably inspected according to the type of RF-ID, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0072】 [0072]
請求項2の発明によれば、システム側アンテナを搭載した基板に処理システムの一部を構成する送受信手段を搭載させることにより、検査対象の種類に応じたリーダ・ライタをも同時に対応させることとなり、RF−IDの種類に応じて確実に検査を行わせることができ、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 According to the invention of claim 2, by mounting a transmitting and receiving means constituting a part of the processing system board equipped with the system-side antenna, will also be associated at the same time the reader-writer according to the type of test object , it can be performed reliably inspected according to the type of RF-ID, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0073】 [0073]
請求項3の発明によれば、システム側アンテナを搭載する第1基板と、少なくとも処理システムの送受信手段および検査対象の種類特手信号を出力する特定手段を搭載する第2基板とに分離させることにより、システム側アンテナを共通とし、検査対象に応じた送受信手段を交換自在として特定手段で検査対象の種類に応じた送受信手段を自動認識させることができ、上記同様にRF−IDの種類に応じて確実に検査を行わせることができ、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 According to the invention of claim 3, that a first substrate for mounting a system-side antenna, which is separated into a second substrate for mounting a specific means for outputting a transmitting and receiving means and inspected kinds Tokute signals of at least processing system Accordingly, the system-side antenna and the common, it is possible to automatically recognize the transmission and reception means corresponding to the type of inspection object in a particular way as freely exchange transmitting and receiving means corresponding to the test object, depending on the type of the similarly RF-ID Te can be performed reliably inspected, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0074】 [0074]
請求項4の発明によれば、駆動機構に保持手段が搭載され、当該保持手段に検査対象の種類毎のアンテナを搭載する基板を交換自在に保持させることにより、RF−IDの種類に応じて確実に検査を行わせることができると共に、検査対象の種類に対応した検査を容易とさせることができ、RF−IDの将来における種類増加に対して容易に対応させることができるものである。 According to the invention of claim 4, the holding means to the drive mechanism is mounted, by an exchangeable holding the substrate for mounting the antenna of each type of test object to said holding means, according to the type of RF-ID it is possible to perform a reliable test, it is possible to facilitate the inspection for the type of inspection object, in which it is possible to easily correspond for the type increase in the future RF-ID.
【0075】 [0075]
請求項5の発明によれば、検査対象とシステム側アンテナとの間にシールド部材を介在させることにより、検査対象の近傍のRF−IDとの通信を回避させることができ、検査対象を特定して確実な検査を行うことができるものである。 According to the invention of claim 5, by interposing the shield member between the test object and the system-side antenna, it is possible to prevent a communication between RF-ID in the vicinity of the test object, identifies the test object Te is capable of performing a reliable test.
【図面の簡単な説明】 BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
【図1】本発明に係るRF−IDの検査システムにおける基本構成の分解構成図である。 Is an exploded configuration diagram of the basic configuration of the inspection system of the RF-ID according to the invention; FIG.
【図2】図1の検査システムで使用されるホルダおよびアンテナユニットの説明斜視図である。 FIG. 2 is an explanatory perspective view of the holder and the antenna unit to be used in the inspection system of Figure 1.
【図3】図1の検査システムで使用される他形態のホルダおよびアンテナユニットの説明斜視図である。 3 is an explanatory perspective view of the holder and the antenna unit of another form for use in the inspection system of FIG.
【図4】図1の検査システムで使用される他形態のアンテナにおけるホルダおよびアンテナユニットの説明斜視図である。 Is an explanatory perspective view of the holder and the antenna unit in another embodiment of the antenna used in the inspection system of FIG. 1;
【図5】図1の検査対象における電磁結合型の他形態の検査対象を示した概略説明図である。 5 is a schematic illustration showing an inspection target of another embodiment of an electromagnetic coupling type in a test subject of FIG.
【図6】図1の検査対象における静電結合型の検査対象を示した概略説明図である。 6 is a schematic illustration showing a test object of the electrostatic coupling type in inspected FIG.
【図7】本発明に係るRF−IDの検査システムのブロック構成図である。 7 is a block diagram of an inspection system of the RF-ID according to the present invention.
【図8】図7の検査処理部のブロック構成図である。 8 is a block diagram of the inspection processing unit of FIG.
【図9】図7および図8における検査処理のフローチャートである。 9 is a flowchart of the inspection process in FIGS.
【図10】図2〜図4のアンテナが搭載される基板の他の構成例を示した説明図である。 [10] Antenna FIGS. 4 is an explanatory diagram showing another example of the structure of the substrate to be mounted.
【図11】図10における検査処理のフローチャートである。 11 is a flowchart of the inspection process in Fig.
【符号の説明】 DESCRIPTION OF SYMBOLS
11 検査システム13 シールド部材14 駆動機構21(21X) ICカード(検査対象) 11 inspection system 13 shielding member 14 drive mechanism 21 (21X) IC card (inspected)
31 ホルダ41 システム側アンテナ41A,41B 電極42,121 基板42A 接続端子42B 識別端子43 ケース44,131 コネクタ72,72A 処理システム 31 the holder 41 system-side antenna 41A, 41B electrode 42,121 substrate 42A connection terminal 42B identification terminal 43 Case 27,250 connector 72,72A processing system

Claims (5)

  1. アンテナおよびICモジュールを少なくとも備えるRF−IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査するRF−IDの検査システムであって、 It communicates the test object at least comprises RF-ID antenna and IC module, a test system for RF-ID to check the quality of the inspection object,
    前記検査対象を検査位置に搬送する搬送手段と、 And conveying means for conveying the test object at the test position,
    前記検査対象の種類毎に用意され、当該検査対象と通信を行うシステム側アンテナが実装されて当該検査対象の種類を特定する信号を出力するための特定手段を備える基板と、 A substrate comprising a specifying means for outputting a signal the is prepared for each kind of the inspection object, a system-side antenna for communicating with the inspection object is implemented to identify a kind of the inspection object,
    少なくとも前記基板を搭載し、前記システム側アンテナを当該検査対象に対して位置決めさせる駆動機構と、 Mounting at least the substrate, a driving mechanism for positioning the system antenna with respect to the inspection object,
    前記基板の特定手段による前記検査対象の種類特定の信号に応じて検査処理するもので、前記システム側アンテナを介して前記検査対象と誘導結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象側からの応答に基づいて当該検査対象の良否を判定する処理システムと、 Intended to inspection processing according to the type specific signal of said object by a specific unit of the substrate, by inductive coupling with said object through the system-side antenna, and transmits the predetermined data, the test object side and determining the processing system the quality of the inspection object based on the response from,
    を有することを特徴とするRF−IDの検査システム。 The test system of RF-ID characterized by having a.
  2. 請求項1記載のRF−IDの検査システムであって、前記システム側アンテナを搭載した基板に、前記検査対象の種類毎に当該検査対象と通信を行うための前記処理システムの一部を構成する送受信手段が少なくとも搭載されることを特徴とするRF−IDの検査システム。 An inspection system for RF-ID according to claim 1, the substrate mounted with the system-side antenna, constituting a part of the processing system for communicating with the inspection object for each type of said object the test system of RF-ID transmission and reception means, characterized in that it is at least mounted.
  3. 請求項1または2記載のRF−IDの検査システムであって、前記基板を、前記システム側アンテナを搭載する第1基板と、少なくとも前記送受信手段および前記検査対象の種類特手信号を出力する特定手段を搭載する第2基板とに分離させることを特徴とするRF−IDの検査システム。 A claim 1 or 2 test system of RF-ID according, the substrate, and outputs a first substrate for mounting the system antenna, at least said transmitting and receiving means and the type Tokute signal of said object specified the test system of RF-ID, characterized in that to separate and a second substrate for mounting the unit.
  4. 請求項1〜3の少なくとも何れかに記載のRF−IDの検査システムであって、前記検査対象の種類毎に用意された前記基板または当該基板を収納したケースを、当該検査対象の種類に応じて交換自在に保持するもので、前記駆動機構に搭載される保持手段を備えることを特徴とするRF−IDの検査システム。 An inspection system for RF-ID according to at least one of claims 1 to 3, a case containing the substrate or the substrate is prepared for each kind of the inspection object, according to the type of the test object intended to replace freely holding Te test system of RF-ID, characterized in that it comprises a holding means which is mounted on the drive mechanism.
  5. 請求項1〜4の少なくとも何れかに記載のRF−IDの検査システムであって、前記検査対象の近傍のRF−IDとの通信を回避させるために、当該検査対象と前記システム側アンテナとの間に介在されるもので、当該システム側アンテナを当該検査対象に対向させる開口部が形成されるシールド部材を備えることを特徴とするRF−IDの検査システム。 An inspection system for RF-ID according to at least one of claims 1 to 4, in order to prevent a communication between RF-ID in the vicinity of said object, and the inspection object and the system-side antenna intended to be interposed between test system of RF-ID, characterized in that it comprises a shield member opening to oppose the system-side antenna in the test object is formed.
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