JP4561528B2 - センサ回路 - Google Patents

センサ回路 Download PDF

Info

Publication number
JP4561528B2
JP4561528B2 JP2005240098A JP2005240098A JP4561528B2 JP 4561528 B2 JP4561528 B2 JP 4561528B2 JP 2005240098 A JP2005240098 A JP 2005240098A JP 2005240098 A JP2005240098 A JP 2005240098A JP 4561528 B2 JP4561528 B2 JP 4561528B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
input signal
input
operational amplifier
inverting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005240098A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007057262A (ja
JP2007057262A5 (ja
Inventor
一 伊藤
俊次 間瀬
貴男 鶴原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2005240098A priority Critical patent/JP4561528B2/ja
Priority to US11/500,303 priority patent/US7466119B2/en
Publication of JP2007057262A publication Critical patent/JP2007057262A/ja
Publication of JP2007057262A5 publication Critical patent/JP2007057262A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4561528B2 publication Critical patent/JP4561528B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/08Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • G01C19/5726Signal processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5776Signal processing not specific to any of the devices covered by groups G01C19/5607 - G01C19/5719
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P21/00Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups

Description

本発明は、オフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路に関するものである。
従来より、ジャイロセンサ等のように左右一対の振動子が備えられたセンサ装置が知られている。このようなセンサ装置に用いられるセンサ回路においては、例えば、各振動子それぞれの検出信号をチャージアンプで電圧変換させたのち、差動増幅回路によって電圧変換後のそれぞれの検出信号の差動出力を得て、その後、同期検波回路やローパスフィルタ(以下、LPF)および零点・感度調整回路を通過させたものとセンサ出力として用いている(例えば、特許文献1の段落番号「0049」〜「0052」参照)
このようなセンサ回路では、センサ装置の用途等に応じて、差動増幅回路での差動出力が所定値となるように設定されることになるが、この差動出力のオフセット電圧が異常になる場合がある。例えば、振動子とチャージアンプとを電気的に接続するボンディングワイヤが断線した場合等に、オフセット電圧が異常となる。
このため、差動出力に基づいて、オフセット電圧が異常になっていることを検出する異常検出回路をセンサ回路に備えることが提案されている。この回路は、具体的には図6のような回路構成となっている。なお、図6において、入力信号は上述した差動増幅回路の差動出力を示しており、交流信号になる。
この図に示されるように、入力信号がLPF100に入力されたのち、このLPF100を通過後の信号がウィンドウコンパレータ101に入力され、上限しきい値VRHと下限しきい値VRLと比較されるようになっている。そして、LPFを通過後の信号がこれら上限しきい値VRHと下限しきい値VRLの間の範囲に入っている場合にはダイアグ信号が出力されず、その範囲から外れている場合にはダイアグ信号が出力されるようになっている。
特開2003−85787号公報
しかしながら、上記従来のセンサ回路では、交流信号となる差動出力をLPFによって平滑化するようになっているため、LPFの時定数を十分に大きくしなければならない。このため、オフセット電圧の異常を検出するまでに遅延が生じるという問題、また、時定数以内で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できないという問題が発生することが判った。これらの問題について、図7および図8を用いて詳細に説明する。
図7および図8は、共に、図6に示した従来のセンサ回路に備えられる異常検出回路の回路構成を詳細に示したものであり、図7はLPFを非反転タイプとしたものの回路構成、図8は、LPFを反転タイプとしたものの回路構成を示している。
入力信号の振幅をVa、直流成分をVdc、周波数をfdとし、その角周波数をωdとすると、角周波数ωdは次式で表される。
(数1)
ωd=2・π・fd …数式(1)
したがって、入力信号VINは下記の式で表すことができる。
(数2)
VIN(t)=Va・sin(ωd・t)+Vdc …数式(2)
ここでいう入力信号の直流成分がオフセット電圧の異常の検出に用いられるものである。図7および図8において、LPFの出力電圧をVLPFとし、図8においてLPFの基準電圧として使用される電圧をVREF(一般的にはVREF=VCC/2が用いられる)とすると、LPFを非反転タイプとした場合と反転タイプとした場合、それぞれにおいて、VLPFは以下のように示される。
非反転タイプの場合:
(数3)
VLPF=Vdc …数式(3)
反転タイプの場合:
(数4)
VLPF=2・VREF−Vdc …数式(4)
これらの電圧がウィンドウコンパレータ101に入力され、ウィンドウコンパレータ101に備えられた2つのコンパレータ101a、101bによって、電圧VRHおよびこの電圧よりも低い電圧VRLとそれぞれ比較される。そして、コンパレータ101aの方では電圧VRHよりもVLPFが高くなるとローレベル、コンパレータ101bの方では電圧VRLよりもVLPFが低くなるとローレベルが出力されるようになっている。このため、いずれか一方のコンパレータ101a、101bでもローレベルになるとアンド回路101cからローレベルが出力され、ダイアグ信号とされるようになっている。なお、電圧VRHおよび電圧VRLは、ウィンドウコンパレータ101内に備えられた分圧抵抗101d〜101fによって電源電圧VCCを分圧することで形成されたものである。
すなわち、図7および図8における入力信号に対するVLPFは図9のように示され、VREFを中心として設定される電圧VRL〜VRHの範囲(正常電圧範囲)内に、VLPFとVREFとの差ΔVdcが入っているか否かが判定されることになる。
このような異常検出回路では、平滑化後に残るリップル(fd成分)が小さくなるようにするのが望ましい。また、LPF100のカットオフ周波数fcは、入力信号の周波数fdより十分に小さくする必要がある。このため、LPF100の時定数を大きくせざるを得ず、オフセット電圧の異常を検出するまでに遅延が生じ、また、時定数以内という短い時間で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できなくなるのである。
本発明は上記点に鑑みて、オフセット電圧の異常を検出する際に遅延が生じることを防止できるセンサ回路を提供することを第1の目的とする。また、短い時間で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路を提供することを第2の目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1または2に記載の発明では、センシング手段(10)が出力する検知信号に基づいて作成される入力信号を用い、該入力信号における交流成分を抽出する交流成分抽出手段(41)と、交流成分抽出手段(41)が抽出した入力信号の交流成分に対して上限しきい値(VRH)を加算することで上限電圧(VHPFH)を形成する第1加算手段(42)と、交流成分抽出手段(41)が抽出した入力信号の交流成分に対して、上限しきい値(VRH)よりも低い下限しきい値(VRL)を加算することで下限電圧(VHPFL)を形成する第2加算手段(43)と、入力信号が第1加算手段(42)によって形成された上限電圧(VHPFH)と第2加算手段(43)によって形成された下限電圧(VHPFL)との間の範囲に入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出する判定手段(44)と、を備えていることを特徴としている。
このように、交流成分抽出手段(41)と第1、第2加算手段(42、43)を備え、入力信号の交流成分に対して上限しきい値(VRH)または下限しきい値(VRL)を加算することで形成される上限電圧(VHPFH)および下限電圧(VHPFL)によって正常電圧範囲を規定している。このため、この範囲内に出力信号が入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出することが可能となる。
そして、このような構成によってオフセット電圧の異常を検出できるようにすることで、従来のようにLPFの時定数を大きくしなければならない等の制約を受けないため、オフセット電圧の異常を検出する際に遅延が生じることを防止でき、また、時定数以内で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路とすることが可能となる。
なお、ここでは、入力信号が正常電圧範囲内に入っているか否かを判定するようにしているが、必要に応じて入力信号を所定の増幅率で増幅したものが正常電圧範囲内に入っているか否かを判定するようにしても構わない。
また、請求項1では差動増幅手段(33)の出力、つまりセンシング手段(10)が発生した第1、第2検知信号を第1、第2電圧変換手段(31、32)で電圧変換し、これらの差動を取った場合の値を入力信号とするものを例に挙げた。これに対し、請求項2に示されるように、センシング手段(10)から1つの検出信号が出力されるセンサ回路に対しても、請求項1と同様の効果を得ることができる。
また、請求項1または2に示されるように、交流成分抽出手段(41)と第1加算手段(42)とを第1ハイパスフィルタ(45)で兼ね、かつ、交流成分抽出手段(41)と第2加算手段(43)とを第2ハイパスフィルタ(46)で兼ねる構成とすることができる。
そして、第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)については、共に、第1オペアンプ(45a、46a)と、入力信号が入力される端子と第1オペアンプ(45a、46a)における反転入力端子との間に備えられた第1コンデンサ(45c、46c)と、第1オペアンプ(45a、46a)の出力端子と第1オペアンプ(45a、46a)の反転入力端子との間に接続された第2コンデンサ(45d、46d)と、第2コンデンサ(45d、46d)に対して並列接続された第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)とを有した構成とされ、入力信号が第1コンデンサ(45c、46c)を介して第1オペアンプ(45a、46a)の反転入力端子に入力され、第1オペアンプ(45a、46a)の非反転入力端子に上限しきい値(VRH)または下限しきい値(VRL)が入力されるような構成とすることができる
また、この場合において、請求項に示されるように、第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)の間に第3抵抗(45g、46g)を接続すると共に、バッファ回路を構成する第2オペアンプ(45b、46b)を備え、第2オペアンプ(45b、46b)の非反転入力端子に対して上限しきい値(VRH)または下限しきい値(VRL)を入力することで、該第2オペアンプ(45b、46b)によって構成されるバッファ回路の出力として、上限しきい値(VRH)または下限しきい値(VRL)が出力されるようにし、該出力が第1オペアンプ(45a、46a)の非反転入力端子と第3抵抗(45g、46g)における第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)と接続されていない側の端子に入力されるようにすることができる。
さらに、請求項に示されるように、第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)の間に第3コンデンサ(45h、46h)を介して安定的な所定電圧が印加されるようにすることもできる。
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
本発明の一実施形態を適用した異常検出装置を備えるセンサ回路のブロック構成を図1に示す。以下、この図を参照して本実施形態におけるセンサ回路について説明する。
図1に示されるように、振動子10と、駆動回路20と、ヨー検出回路30と、異常検出回路40とが備えられ、これらによりセンサ回路が構成されている。
振動子10は、センシング手段に相当するもので、平面内で可動なセンサエレメント(図示せず)を備えており、センサエレメントが駆動振動を行っている際に可動平面と直交する軸を中心とした回転が発生すると、コリオリ力によって、駆動振動の方向と直交する方向にもセンサエレメントが振動するようになっている。この振動子10は、コリオリ力による振動に応じた出力(第1、第2検知信号)を発生させると共に、センサエレメントが的確に駆動振動しているかを検出するために駆動振動に応じた出力を発生させるようになっている。
駆動回路20は、振動子10におけるセンサエレメントを振動させるためのものである。この駆動回路20には、高電圧発生回路21、チャージアンプ22、位相シフタ23、振幅一定制御部24、駆動バッファ25が含まれている。
高電圧発生回路21は、電源電圧を昇圧することにより、電源電圧より高いバイアス電圧を発生するもので、このバイアス電圧はセンサエレメントと共に、駆動バッファ25にも電源として供給される。
チャージアンプ22は、振動子10から、振動子10におけるセンサエレメントの駆動振動に応じた検知信号(以下、駆動振動検知信号という)を受け取り、それを電圧変換するものである。このチャージアンプ22での電圧変換後の駆動振動検知信号が振幅一定制御部24および位相シフタ23に入力されるようになっている。
位相シフタ23は、駆動信号の位相を調整するためのものである。駆動振動の振幅はできるだけ大きくほうが、センサのS/Nを向上することができるので望ましい。そのため、センサエレメントはセンサエレメントの共振周波数で駆動される。共振周波数で駆動された場合、駆動力、すなわち駆動信号に対して、センサエレメントの変位、すなわち駆動振動検知信号は90°位相が遅れる。この位相のズレを修復するために、駆動振動検知信号の位相を調整し、駆動信号の位相に合わせなければならない。このため、位相シフタ23によって、駆動振動検知信号の位相が補正され、その結果、それに基づいて形成される駆動信号の位相が調整されるようになっている。また、センサエレメントの共振周波数が、駆動信号の周波数fdとなる。
振幅一定制御部24は、駆動振動検知信号から現在のセンサエレメントの振幅を検知すると共に、その振幅が一定となるような駆動信号を発生させるための交流信号を駆動バッファ25に出力するものである。
駆動バッファ25は、振幅一定制御部24が出力した信号を増幅する。その出力が駆動信号としてセンサエレメントに印加される。
また、ヨー検出回路30は、振動子10の検出信号に基づいてセンサ出力を得るためのものである。このヨー検出回路30には、2つのチャージアンプ31、32と、差動増幅回路33と、同期検波回路34、LPF35および0点・感度調整回路36が備えられている。
2つのチャージアンプ31、32は、一対の振動子10それぞれから、センサエレメントに対して可動平面と直交する軸を中心とした回転が加わったときに発生する振動に応じた検知信号(以下、ヨー検知信号という)を受け取り、それを電圧変換するものであり、それぞれ第1、第2電圧変換手段に相当するものである。これら各チャージアンプでの電圧変換後のヨー検知信号が差動増幅回路33に入力されるようになっている。
差動増幅回路33は、各チャージアンプ31、32で電圧変化されたヨー検知信号の差動出力を発生させる差動増幅手段に相当するものである。この差動増幅回路33の差動出力が同期検波回路34に入力されるようになっていると共に、異常検出回路40における入力信号として用いられるようになっている。この差動増幅回路33の差動出力は、直流成分となる所定のオフセット電圧を含む交流信号となる。
同期検波回路34は、位相シフタ23によって調整された位相に基づいて、差動増幅回路33の差動出力から周波数fdと同期する成分を通過させ、LPF35に出力するものである。
LPF35は、同期検波回路34を通過後の信号のうち、所定周波数以下の成分のみを抽出するものである。
0点・感度調整回路36は、LPF35を通過した後の信号を、所望の0点・感度になるように増幅・調整するとともに、必要に応じて、0点・感度の温度特性も調整するものであり、この0点・感度調整回路36で増幅・調整された後の信号がセンサ出力として用いられる。
そして、異常検出回路40は、オフセット電圧の異常を検出するためのものである。この異常検出回路40には、交流成分抽出回路41、第1、第2加算回路42、43およびウィンドウコンパレータ44が備えられている。
交流成分抽出回路41は、入力信号の交流成分のみを抽出するためのものである。すなわち、差動増幅回路33の出力信号には、直流成分となる所定のオフセット電圧を含む交流信号となっていることから、その直流成分となる所定のオフセット電圧を取り除き、交流成分のみを抽出するようになっている。
第1加算回路42は、交流成分抽出回路41で抽出された交流成分に対して、正常電圧範囲の上限電圧を規定する比較的高く設定された上限しきい値VRHを加算するものである。第2加算回路43は、交流成分抽出回路41で抽出された交流成分に対して、正常電圧範囲の下限電圧を規定する比較的低く設定された下限しきい値VRLを加算するものである。第1加算回路42により加算される上限しきい値VRHは第2加算回路43で加算される下限しきい値VRLよりも高い値として設定されており、これら上限しきい値VRHと下限しきい値VRLとの差が正常電圧範囲を規定する幅とされている。
ウィンドウコンパレータ44は、入力信号と第1、第2加算回路42、43の出力、つまり入力信号の交流成分に上限しきい値VRHまたは下限しきい値VRLを加算した電圧と比較する判定手段として用いられるものである。入力信号が第1、第2加算回路42、43の出力電圧の間の範囲に入っていれば、ウィンドウコンパレータ44からダイアグ信号が出力されず、その範囲から外れている場合にはウィンドウコンパレータ44からダイアグ信号が出力されるようになっている。
図2に、上記のように構成されたセンサ回路における異常検出回路40の具体的な回路構成の一例を示す。
この図に示されるように、第1、第2ハイパスフィルタ45、46が備えられている。これら第1、第2ハイパスフィルタ45、46が上述した交流成分抽出回路41および第1、第2加算回路42、43を兼ねるものとなっている。
第1ハイパスフィルタ45は、第1、第2オペアンプ45a、45b、第1、第2コンデンサ45c、45dおよび第1〜第3抵抗45e〜45gを有した構成とされている。第1オペアンプ45aの反転入力端子には第1コンデンサ45cを介して入力信号が入力されるようになっており、非反転入力端子には第2オペアンプ45bで構成されるバッファ回路を通じて上限しきい値VRHが入力されるようになっている。なお、上限しきい値VRHには、電源47を抵抗48a〜48cによって分圧した電圧、具体的には、抵抗48a〜48cの各抵抗値RWC1〜RWC3によって規定される電圧(VCC・(RWC2+RWC3)/(RWC1+RWC2+RWC3))が用いられている。
また、第1オペアンプ45aの出力端子と反転入力端子との間には、第2コンデンサ45dが接続されていると共に、この第2コンデンサ45dと並列的に第1、第2抵抗45e、45fが接続されている。そして、第1、第2抵抗45e、45fの間に第3抵抗45gを介して第2オペアンプ45bの出力電圧が入力されるようになっている。
このような構成により、第1オペアンプ45aの出力電圧として、入力信号の交流成分に上限しきい値VRHが加算された上限電圧VHPFHが出力されるようになっている。このとき、この上限電圧VHPFHの位相は、入力信号の交流成分の位相が反転したものとなる。
第2ハイパスフィルタ46は、基本的には第1ハイパスフィルタ45と同様の構成となっている。すなわち、第1、第2オペアンプ46a、46b、第1、第2コンデンサ46c、46dおよび第1〜第3抵抗46e〜46gが上記第1ハイパスフィルタ45の各部と同様の構成とされている。ただし、第1オペアンプ46aの非反転入力端子には、第2オペアンプ46bで構成されるバッファ回路を通じて下限しきい値VRLが入力されるようになっているため、第1オペアンプ46aの出力電圧として、入力信号の交流成分に下限しきい値VRLが加算された下限電圧VHPFLが出力されるようになっている。このとき、この下限電圧VHPFLの位相も、入力信号の交流成分の位相が反転したものとなる。
なお、下限しきい値VRLには、電源47を抵抗48a〜48cによって分圧した電圧、具体的には、抵抗48a〜48cの各抵抗値RWC1〜RWC3によって規定される電圧(VCC・(RWC3)/(RWC1+RWC2+RWC3))が用いられている。
ウィンドウコンパレータ44は、2つのコンパレータ44a、44bと、アンド回路44cとを備えて構成されている。
このように構成されるウィンドウコンパレータ44では、2つのコンパレータ44a、44bによって、第1ハイパスフィルタ45で出力される上限電圧VHPFHまたは第2ハイパスフィルタ46で出力される下限電圧VHPFLと入力信号とが比較されることになる。
ただし、本センサ回路では異常検出回路40に反転増幅器49を備えた構成としており、これによって入力信号が所定の増幅率で増幅されるようにし、この増幅後の入力信号を異常検出信号として用いている。具体的には、反転増幅器49には、オペアンプ49aと抵抗49b、49cとが備えられ、抵抗49b、49cの各抵抗値RI_INV、RF_INVによって決まる増幅率で増幅されるようにしている。このため、反転増幅器49で増幅後の入力信号で示される異常検出信号がウィンドウコンパレータ44で比較されるようにしている。
なお、ここでは反転増幅器49によって入力信号を増幅したが、もちろん増幅していない入力信号をそのまま異常検出信号として用いても構わない。ただし、上述したように、上限電圧VHPFHや下限電圧VHPFLの位相が入力信号の位相を反転させたものとなることから、第1、第2ハイパスフィルタ45、46を用いる場合には、反転増幅器49を用いることで、入力成分の位相を反転させる必要がある。また、反転増幅器49の増幅率と、第1、第2ハイパスフィルタ45、46の交流成分の増幅率を一致させるとともに、反転増幅器49の増幅率に応じて、上限しきい値VRHと下限しきい値VRLが設定されている。
そして、コンパレータ44aの方では上限電圧VHPFHよりも異常検出信号の電圧が高くなるとローレベル、コンパレータ44bの方では電圧VHPFLよりも異常検出信号の電圧が低くなるとローレベルが出力されるようになっている。このため、いずれか一方のコンパレータ44a、44bでもローレベルになるとアンド回路44cからローレベルが出力され、ダイアグ信号とされるようになっている。
次に、以上のように構成されるセンサ回路の作動について説明するが、本実施形態に示したセンサ回路のうち異常検出回路40以外に関しては従来から用いられているものであるため、ここでは異常検出回路40の作動についてのみ説明する。
まず、ヨー検出回路30における差動増幅回路33の差動出力が発生させられると、それが入力信号として第1、第2ハイパスフィルタ45、46に入力される。そして、第1、第2ハイパスフィルタ45、46から入力信号に応じた出力が発生させられる。
ここで、本実施形態では、第1、第2ハイパスフィルタ45、46の第2コンデンサ45d、46dと並列的に接続される抵抗などの回路網の等価抵抗値RF、もしくは等価インピーダンスの絶対値|ZF|は、第2コンデンサ45d、46dの容量値をCFとし、入力信号の角周波数をωdとすると、次式が成り立つような設定としてある。
(数5)
RF、|ZF|>>1/(ωd・CF) …数式(5)
また、第2オペアンプ45b、46bによって構成されるバッファ回路にて、第3抵抗45g、46gのうち第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fに接続されていない側の端子に、上限しきい値VRH又は下限しきい値VRLと同じで、かつ、インピーダンスが低い安定な電圧を与えることができる。
このため、第1ハイパスフィルタ45の出力する上限電圧VHPFHは、第1コンデンサ45cの容量値をCIとし、入力信号の振幅をVaとすると、次式のようになる。したがって、入力信号の交流成分の振幅は、(CI/CF)倍になり、位相は反転し、直流成分は上限しきい値VRHとなる。
(数6)
VHPFH(t)=−(CI/CF)・Va・sin(ωd・t)+VRH
…数式(6)
同様に、第2ハイパスフィルタ46の出力する下限電圧VHPFLは、第1コンデンサ46cの容量値をCIとすると、次式のようになる。したがって、入力信号の交流成分の振幅は、(CI/CF)倍になり、位相は反転し、直流成分は下限しきい値VRLとなる。
(数7)
VHPFL(t)=−(CI/CF)・Va・sin(ωd・t)+VRL
…数式(7)
また、反転増幅器49に関しては、その出力電圧VINV(t)は、入力電圧VIN(tおよびオペアンプ49aの参照電圧VREFを用いて次式のように表されることになる。
(数8)
VINV(t)=−(RF_INV/RI_INV)・(VIN(t)−VREF)+VREF …数式(8)
この様に示される数式(8)について、上述した数式(2)を代入して整理すると次式となる。なお、本数式中のVdcは入力信号の直流成分である。
(数9)
VINV(t)=−(RF_INV/RI_INV)・Va・sin(ωd・t)+(RF_INV/RI_INV)・(VREF−Vdc)+VREF …数式(9)
このため、次式を満たすように回路定数を設定すれば、反転増幅回路49の出力電圧VINV(t)と第1ハイパスフィルタ45の上限電圧VHPFH(t)および第2ハイパスフィルタ46の下限電圧VHPFL(t)の交流成分の振幅と位相は同じになる。また、ウィンドウコンパレータ43で比較される各電圧(つまり、出力電圧VINV(t)、上限電圧VHPFH(t)および下限電圧VHPFL(t))の交流成分の振幅と位相が同じで、直流成分だけ異なるものとなる。
(数10)
(CI/CF)=(RF_INV/RI_INV) …数式(10)
したがって、ウィンドウコンパレータ43において、反転増幅回路43の出力電圧VINV(t)の直流成分を、ひいては入力信号VIN(t)の直流成分Vdcを上限しきい値VRHおよび下限しきい値VRLと比較することが可能となる。
すなわち、入力信号VINが参照電圧VREFに対してオフセット電圧ΔVdcを有している場合において、正常状態と異常状態それぞれで、反転増幅回路49の出力電圧VINV(t)と第1ハイパスフィルタ45の上限電圧VHPFH(t)および第2ハイパスフィルタ46の下限電圧VHPFL(t)の波形は図3のように示されることになる。なお、本図では、簡単のために、CI/CF=RF_INV/RI_INV=1としている。
この図に示されるように、入力電圧VINの交流成分に対して上限しきい値VRHまたは下限しきい値VRLを加算することで形成される上限電圧VHPFHおよび下限電圧VHPFLによって正常電圧範囲が規定され、反転増幅回路49の出力電圧VINV(t)を上限電圧VHPFHおよび下限電圧VHPFLと比較することで、実質的に、入力信号VIN(t)の直流成分Vdcを上限しきい値VRHおよび下限しきい値VRLと比較することになる。
以上説明したように、本実施形態では、交流成分抽出回路41と第1、第2加算回路42、43、言い換えると第1、第2ハイパスフィルタ45、46を備え、入力電圧VINの交流成分に対して上限しきい値VRHまたは下限しきい値VRLを加算することで形成される上限電圧VHPFHおよび下限電圧VHPFLによって正常電圧範囲を規定している。この正常電圧範囲内に反転増幅回路49の出力電圧VINV(t)が入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出することが可能となる。
そして、このような構成によってオフセット電圧の異常を検出できるようにすることで、従来のようにLPFの時定数を大きくしなければならない等の制約を受けないため、オフセット電圧の異常を検出する際に遅延が生じることを防止でき、また、時定数以内で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路とすることが可能となる。
なお、図2に示す異常検出回路40において、上記した数式(5)より、第1〜第3抵抗45e〜45gにより構成される回路の等価インピーダンスRFは非常に大きくする必要がある。例えば、図2に示される回路構成の場合には、第1〜第3抵抗45e〜45gの各抵抗値をそれぞれRF1、RF2、RNとして、次式のように示されることになるため、RNを小さくすれば、RF1、RF2は小さくても良くなる。したがって、このようにすれば、これら第1〜第3抵抗45e〜45gをICチップに作り込む場合に、その専有面積を小さくすることができる。
(数11)
RF=(RF1・RF2/RN)+RF1+RF2 …数式(11)
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態のセンサ回路の基本構成は第1実施形態と同様であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明し、同様の部分については説明を省略する。
上記第1実施形態の場合、第1、第2ハイパスフィルタ45、46における第1オペアンプ45a、46aの出力が第2、第3抵抗45f、45g、46f、46gを介して直流電位(つまり上限しきい値VRHまたは下限しきい値VRL)に帰還されている。このため、第1オペアンプ45a、46aの入力オフセット電圧が(1+RF2/RN)倍に増幅されて第1オペアンプ45a、46aから出力されることになり、入力信号VINの直流成分の検出精度が悪化する可能性がある。本実施形態は、これを防止するための回路を提供するものである。
図4は、本実施形態のセンサ回路中の異常検出回路40のみを抽出したものである。なお、異常検出回路40以外の各部に関しては第1実施形態と同様である。
この図に示されるように、第2コンデンサ45d、46dと並列的に第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fのみが接続された構成としている。つまり、第1実施形態に対して、第3抵抗45g、46gを無くすと共に、バッファ回路を構成する第2オペアンプ45b、46bを無くした構成としている。
そして、このような構成において、上述した数式(5)の関係を満たすために、第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fの抵抗値RF1、RF2に関して、次式が成り立つようにしている。
(数12)
RF1+RF2>>1/(ωd・CF) …数式(12)
このような構成の場合、抵抗値RF1、RF2を非常に大きくする必要があるが、第1実施形態で備えられていた第3抵抗45gが無いので、第2オペアンプ45b、46bによるバッファ回路は不要となり、回路が簡単になる。そして、第1オペアンプ45a、46aの入力オフセット電圧が増幅されて第1オペアンプ45a、46aから出力されることも無い。
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態について説明する。本実施形態も、上記第1実施形態の場合に生じ得る入力信号VINの直流成分の検出精度の悪化を防止するための回路を提供するものである。なお、本実施形態のセンサ回路の基本構成も第1実施形態と同様であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明し、同様の部分については説明を省略する。
図5は、本実施形態のセンサ回路中の異常検出回路40のみを抽出したものである。なお、異常検出回路40以外の各部に関しては第1実施形態と同様である。
この図に示されるように、第2コンデンサ45d、46dと並列的に第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fを接続し、これら第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fの間に第3コンデンサ45h、46hを接続した構成としている。つまり、第1実施形態に対して、第3抵抗45g、46gの代わりに第3コンデンサ45h、46hを備え、かつ、バッファ回路を構成する第2オペアンプ45b、46bを無くした構成としている。
このような構成の場合、第2コンデンサ45d、46dと並列的に接続された第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fおよび第3コンデンサ45h、46hから構成される回路の等価インピーダンスZFは、第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fの抵抗値RF1、RF2および第3コンデンサ45h、46hの容量値CNを用いて、次式のように表される。
(数13)
ZF=j・ωd・RF1・RF2・CN+RF1+RF2 …数式(13)
したがって、容量値CNにより等価インピーダンスZFの絶対値を大きくすることが可能となるため、抵抗値RF1、RF2を小さくすることができる。
また、このような構成の場合において、第3コンデンサ45h、46hのうち第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fと接続されない側の端子は、必ずしも上限しきい値VRHまたは下限しきい値VRLとなっている接点に接続されていなくても良い。すなわち、図5中に示したように参照電圧VREFとされても良いし、GNDや電源電圧VCC等のような安定した電位の接点に接続されていても良い。したがって、本実施形態の場合にもバッファ回路を構成するための第2オペアンプ45b、46bが不要となり、回路が簡単になる。したがって、第1、第2抵抗45e、45f、46e、46fおよび第3コンデンサ45h、46hをICチップに作り込めば良いため、その専有面積を小さくすることができる。
そして、第1オペアンプ45a、46aの入力オフセット電圧が増幅されて第1オペアンプ45a、46aから出力されることも無い。
(他の実施形態)
上記実施形態では、ジャイロセンサに用いられるようなセンサ回路を例に挙げて説明したが、他のセンサ回路にも本発明を適用することができる。
本発明の第1実施形態におけるセンサ回路の回路構成図である。 図1に示したセンサ回路における異常検出回路の回路構成の一例を示した図である。 入力信号に対するHPFの出力および差動出力回路の出力の関係を示した図である。 本発明の第2実施形態におけるセンサ回路の異常検出回路の回路構成図である。 本発明の第3実施形態におけるセンサ回路の異常検出回路の回路構成図である。 従来のセンサ回路の回路構成を示す図である。 図6に示した従来のセンサ回路に備えられる異常検出回路の回路構成を詳細に示したものであり、LPFを非反転タイプとしたものの回路構成を示した図である。 図6に示した従来のセンサ回路に備えられる異常検出回路の回路構成を詳細に示したものであり、LPFを反転タイプとしたものの回路構成を示した図である。 入力信号に対するVLPFの関係を示した図である。
符号の説明
10…振動子、20…駆動回路、30…ヨー検出回路、40…異常検出回路、
41…交流信号抽出回路、42、43…第1、第2加算回路、
44…ウィンドウコンパレータ、45…第1ハイパスフィルタ、
45a、45b…第1、第2オペアンプ、45c、45d…第1、第2コンデンサ、
45e〜45g…第1〜第3抵抗、45h…第3コンデンサ、
46…第2ハイパスフィルタ、46a、46b…第1、第2オペアンプ、
46c、46d…第1、第2コンデンサ、46e〜46g…第1〜第3抵抗、
46h…第3コンデンサ、49…反転増幅回路。

Claims (4)

  1. 物理量に応じた第1、第2検知信号を出力するセンシング手段(10)と、
    前記第1、第2検知信号を電圧変換する第1、第2電圧変換手段(31、32)と、
    前記第1、第2電圧変換手段(31、32)によって電圧変換された前記第1、第2検知信号の差動を取る差動増幅手段(33)と、
    前記差動増幅手段(33)の出力を入力信号として、該入力信号における交流成分を抽出する交流成分抽出手段(41)と、
    前記交流成分抽出手段(41)が抽出した前記入力信号の交流成分に対して上限しきい値(VRH)を加算することで上限電圧(VHPFH)を形成する第1加算手段(42)と、
    前記交流成分抽出手段(41)が抽出した前記入力信号の交流成分に対して、前記上限しきい値(VRH)よりも低い下限しきい値(VRL)を加算することで下限電圧(VHPFL)を形成する第2加算手段(43)と、
    前記入力信号が前記第1加算手段(42)によって形成された上限電圧(VHPFH)と前記第2加算手段(43)によって形成された下限電圧(VHPFL)との間の正常電圧範囲に入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出する判定手段(44)と、を備え
    前記交流成分抽出手段(41)と前記第1加算手段(42)とを兼ねる第1ハイパスフィルタ(45)が備えられていると共に、前記交流成分抽出手段(41)と前記第2加算手段(43)とを兼ねる第2ハイパスフィルタ(46)が備えられており、
    前記第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)は、共に、
    第1オペアンプ(45a、46a)と、
    前記入力信号が入力される端子と前記第1オペアンプ(45a、46a)における反転入力端子との間に備えられた第1コンデンサ(45c、46c)と、
    前記第1オペアンプ(45a、46a)の出力端子と前記第1オペアンプ(45a、46a)の前記反転入力端子との間に接続された第2コンデンサ(45d、46d)と、
    前記第2コンデンサ(45d、46d)に対して並列接続された第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)とを有した構成とされ、該第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)によって交流成分の位相が反転するようになっており、
    前記入力信号が前記第1コンデンサ(45c、46c)を介して前記第1オペアンプ(45a、46a)の前記反転入力端子に入力され、前記第1オペアンプ(45a、46a)の非反転入力端子に前記上限しきい値(VRH)または前記下限しきい値(VRL)が入力され、
    さらに、 前記入力信号を反転増幅する反転増幅器(49)を備え、
    前記入力信号が前記反転増幅器(49)によって反転増幅された信号が、前記判定手段(44)に入力されることで、前記上限電圧(VHPFH)と前記下限電圧(VHPFL)との間の正常電圧範囲に入っているか否かを判定するように構成されていることを特徴とするオフセット電圧の異常検出回路を備えたセンサ回路。
  2. 物理量に応じた検知信号を出力するセンシング手段(10)と、
    前記検知信号を電圧変換する電圧変換手段(31、32)と、
    前記電圧変換手段(31、32)の出力を入力信号として、該入力信号における交流成分を抽出する交流成分抽出手段(41)と、
    前記交流成分抽出手段(41)が抽出した前記入力信号の交流成分に対して上限しきい値(VRH)を加算することで上限電圧(VHPFH)を形成する第1加算手段(42)と、
    前記交流成分抽出手段(41)が抽出した前記入力信号の交流成分に対して、前記上限しきい値(VRH)よりも低い下限しきい値(VRL)を加算することで下限電圧(VHPFL)を形成する第2加算手段(43)と、
    前記入力信号が前記第1加算手段(42)によって形成された上限電圧(VHPFH)と前記第2加算手段(43)によって形成された下限電圧(VHPFL)との間の正常電圧範囲に入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出する判定手段(44)と、を備え
    前記交流成分抽出手段(41)と前記第1加算手段(42)とを兼ねる第1ハイパスフィルタ(45)が備えられていると共に、前記交流成分抽出手段(41)と前記第2加算手段(43)とを兼ねる第2ハイパスフィルタ(46)が備えられており、
    前記第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)は、共に、
    第1オペアンプ(45a、46a)と、
    前記入力信号が入力される端子と前記第1オペアンプ(45a、46a)における反転入力端子との間に備えられた第1コンデンサ(45c、46c)と、
    前記第1オペアンプ(45a、46a)の出力端子と前記第1オペアンプ(45a、46a)の前記反転入力端子との間に接続された第2コンデンサ(45d、46d)と、
    前記第2コンデンサ(45d、46d)に対して並列接続された第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)とを有した構成とされ、該第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)によって交流成分の位相が反転するようになっており、
    前記入力信号が前記第1コンデンサ(45c、46c)を介して前記第1オペアンプ(45a、46a)の前記反転入力端子に入力され、前記第1オペアンプ(45a、46a)の非反転入力端子に前記上限しきい値(VRH)または前記下限しきい値(VRL)が入力され、
    さらに、 前記入力信号を反転増幅する反転増幅器(49)を備え、
    前記入力信号が前記反転増幅器(49)によって反転増幅された信号が、前記判定手段(44)に入力されることで、前記上限電圧(VHPFH)と前記下限電圧(VHPFL)との間の正常電圧範囲に入っているか否かを判定するように構成されていることを特徴とするオフセット電圧の異常検出回路を備えたセンサ回路。
  3. 前記第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)は、共に、
    前記第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)の間に接続された第3抵抗(45g、46g)と、
    バッファ回路を構成する第2オペアンプ(45b、46b)とが備えられ、
    前記第2オペアンプ(45b、46b)の非反転入力端子に対して前記上限しきい値(VRH)または前記下限しきい値(VRL)が入力されることで、該第2オペアンプ(45b、46b)によって構成される前記バッファ回路の出力として、前記上限しきい値(VRH)または前記下限しきい値(VRL)が出力され、該出力が前記第1オペアンプ(45a、46a)の非反転入力端子に入力されると共に、前記第3抵抗(45g、46g)における前記第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)と接続されていない側の端子に入力されるようになっていることを特徴とする請求項1または2に記載のオフセット電圧の異常検出回路を備えたセンサ回路。
  4. 前記第1、第2ハイパスフィルタ(45、46)は、共に、
    前記第1、第2抵抗(45e、45f、46e、46f)の間に、第3コンデンサ(45h、46h)を介して安定的な所定電圧が印加されるように構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のオフセット電圧の異常検出回路を備えたセンサ回路。
JP2005240098A 2005-08-22 2005-08-22 センサ回路 Expired - Fee Related JP4561528B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005240098A JP4561528B2 (ja) 2005-08-22 2005-08-22 センサ回路
US11/500,303 US7466119B2 (en) 2005-08-22 2006-08-08 Sensor circuit for detection of an abnormal offset voltage

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005240098A JP4561528B2 (ja) 2005-08-22 2005-08-22 センサ回路

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007057262A JP2007057262A (ja) 2007-03-08
JP2007057262A5 JP2007057262A5 (ja) 2010-05-13
JP4561528B2 true JP4561528B2 (ja) 2010-10-13

Family

ID=37767127

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005240098A Expired - Fee Related JP4561528B2 (ja) 2005-08-22 2005-08-22 センサ回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7466119B2 (ja)
JP (1) JP4561528B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8482338B1 (en) * 2005-10-13 2013-07-09 Marvell International Ltd. Shock detector with DC offset suppression using internal components
JP5083287B2 (ja) * 2009-09-11 2012-11-28 セイコーエプソン株式会社 検出装置、物理量測定装置及び電子機器
JP5696293B2 (ja) * 2009-10-01 2015-04-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 慣性センサ
JP4602468B1 (ja) * 2010-03-05 2010-12-22 好高 青山 部品検出装置及び部品検出方法
WO2012002496A1 (ja) * 2010-07-01 2012-01-05 パナソニック電工株式会社 対象物検出装置
KR101999745B1 (ko) * 2012-04-12 2019-10-01 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 미세 전자 기계 시스템 구동기
JP6194606B2 (ja) 2013-03-22 2017-09-13 セイコーエプソン株式会社 検出装置、センサー、ジャイロセンサー、電子機器及び移動体
CN105987691B (zh) * 2015-03-16 2021-02-05 精工爱普生株式会社 电路装置、物理量检测装置、电子设备以及移动体
CN104714320B (zh) * 2015-03-30 2017-09-19 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板及液晶显示装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10253360A (ja) * 1997-03-06 1998-09-25 Murata Mfg Co Ltd 回転角検知装置
JPH10253359A (ja) * 1997-03-06 1998-09-25 Murata Mfg Co Ltd センサの信号処理方法及び信号処理装置
JP2000193460A (ja) * 1998-10-23 2000-07-14 Toyota Motor Corp 角速度検出装置
JP2001124563A (ja) * 1999-10-29 2001-05-11 Murata Mfg Co Ltd 振動ジャイロ用自己診断回路
JP2001304871A (ja) * 2000-04-27 2001-10-31 Denso Corp 角速度センサの異常診断装置
JP2002013930A (ja) * 2000-06-27 2002-01-18 Murata Mfg Co Ltd 振動ジャイロ及びそれを用いた電子装置
JP2005172427A (ja) * 2003-12-05 2005-06-30 Mitsubishi Electric Corp 交流電圧低下検出装置
JP2005265724A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Denso Corp 振動型角速度センサ
JP2006105900A (ja) * 2004-10-08 2006-04-20 Denso Corp センサ回路
JP2006184074A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Denso Corp センサ回路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4398154A (en) * 1981-04-10 1983-08-09 Sperry Corporation Read channel gate generator with self-adjusting pulse width compensator
US4801827A (en) * 1987-11-02 1989-01-31 Tektronix, Inc. Adjustable delay element for digital systems
JPH0877714A (ja) 1994-09-02 1996-03-22 Ricoh Co Ltd Pll装置
US6246268B1 (en) * 2000-06-07 2001-06-12 Marvell International Ltd. CMOS integrated signal detection circuit with high efficiency and performance
TW580568B (en) * 2001-11-27 2004-03-21 Matsushita Electric Works Ltd An infrared detecting circuit and an infrared detector
DE102005048261A1 (de) * 2004-10-08 2006-07-13 Denso Corp., Kariya Anomaliedetektor für Schwingungsdrehratesensor

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10253360A (ja) * 1997-03-06 1998-09-25 Murata Mfg Co Ltd 回転角検知装置
JPH10253359A (ja) * 1997-03-06 1998-09-25 Murata Mfg Co Ltd センサの信号処理方法及び信号処理装置
JP2000193460A (ja) * 1998-10-23 2000-07-14 Toyota Motor Corp 角速度検出装置
JP2001124563A (ja) * 1999-10-29 2001-05-11 Murata Mfg Co Ltd 振動ジャイロ用自己診断回路
JP2001304871A (ja) * 2000-04-27 2001-10-31 Denso Corp 角速度センサの異常診断装置
JP2002013930A (ja) * 2000-06-27 2002-01-18 Murata Mfg Co Ltd 振動ジャイロ及びそれを用いた電子装置
JP2005172427A (ja) * 2003-12-05 2005-06-30 Mitsubishi Electric Corp 交流電圧低下検出装置
JP2005265724A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Denso Corp 振動型角速度センサ
JP2006105900A (ja) * 2004-10-08 2006-04-20 Denso Corp センサ回路
JP2006184074A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Denso Corp センサ回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007057262A (ja) 2007-03-08
US7466119B2 (en) 2008-12-16
US20070041135A1 (en) 2007-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4561528B2 (ja) センサ回路
US7107841B2 (en) Capacitance-sensing vibratory gyro and method for detecting change in capacitance
US7291825B2 (en) Capacitance type physical quantity sensor
JP2000088578A (ja) 角速度センサ
US7292021B2 (en) Anomaly detector for vibratory angular rate sensor
JP2001056224A (ja) 角速度センサ
US10055975B2 (en) Circuit device, physical quantity detection device, electronic apparatus, and moving object
JP4816346B2 (ja) 容量変化検出装置およびその方法
JP5104936B2 (ja) 加速度および角速度検出装置
WO2017164052A1 (ja) 複合センサ
JP2006292469A (ja) 容量式物理量センサ
JP2002022786A (ja) インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出方法
US10309783B2 (en) Physical quantity detection system, electronic apparatus, and moving object
JP4328600B2 (ja) 電流検出回路及び電流検出方法
JP5365770B2 (ja) 角速度検出装置用回路、角速度検出装置及び角速度検出装置の故障診断方法
JP4513559B2 (ja) センサ回路
JP4150292B2 (ja) 異常検出機能を持つ静電容量式センサ装置
JP2006105900A (ja) センサ回路
JP2007248327A (ja) 加速度センサ
JP6357090B2 (ja) 静電容量型センサ
JP4793012B2 (ja) 重複角速度センサ
JP2007333422A (ja) 容量式物理量センサ
JP2002044788A (ja) マイクロフォン装置
JP2002372422A (ja) 角速度検出装置
JP5125011B2 (ja) 容量型検出回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070904

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100305

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100331

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100420

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100527

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100706

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100719

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees