JP4504142B2 - Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article - Google Patents

Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article Download PDF

Info

Publication number
JP4504142B2
JP4504142B2 JP2004274246A JP2004274246A JP4504142B2 JP 4504142 B2 JP4504142 B2 JP 4504142B2 JP 2004274246 A JP2004274246 A JP 2004274246A JP 2004274246 A JP2004274246 A JP 2004274246A JP 4504142 B2 JP4504142 B2 JP 4504142B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
compound
resin composition
radical
group
photosensitive resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004274246A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005126687A (en
Inventor
勝哉 坂寄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2004274246A priority Critical patent/JP4504142B2/en
Publication of JP2005126687A publication Critical patent/JP2005126687A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4504142B2 publication Critical patent/JP4504142B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、自己開裂型光ラジカル発生部位と共にエチレン性不飽和基を有する分子構造を持つ化合物からなるラジカル発生剤、それを含む感光性樹脂組成物、及び、当該樹脂組成物を用いて作製した物品に関する。
さらに詳しくは、本発明は、第一に、それ自体が光ラジカル開始剤としての機能と重合性化合物としての機能を持ち、自己開裂型の高い反応ポテンシャル(高感度)を持ちながら、光ラジカル開始剤の開裂部分をマトリックス中に固定する能力が高く、モノマー成分との相溶性にも優れた光ラジカル発生剤に関する。
The present invention was prepared using a radical generator comprising a compound having a molecular structure having an ethylenically unsaturated group together with a self-cleaving photoradical generation site, a photosensitive resin composition containing the same, and the resin composition. It relates to goods.
More specifically, the present invention, first of all, has a function as a photo radical initiator and a function as a polymerizable compound, and has a self-cleaving type high reaction potential (high sensitivity), but also initiates a photo radical. The present invention relates to a photoradical generator having a high ability to fix a cleavage portion of an agent in a matrix and excellent compatibility with a monomer component.

本発明は、第二に、上記ラジカル発生剤を含有し、露光時又はポストベーク時の臭気(アウトガス)を軽減することができ、硬化後の製品中に残留する揮発性の低分子分解物、特に臭気成分を少なくすることができる感光性樹脂組成物に関する。
そして、本発明は、第三に、上記感光性樹脂組成物の硬化物により少なくとも一部分が形成されている、熱による劣化が少ない高耐熱性、高安定性の物品に関する。
Secondly, the present invention contains the above radical generator, can reduce odor (outgas) at the time of exposure or post-baking, and is a volatile low-molecular decomposition product remaining in the product after curing, It is related with the photosensitive resin composition which can reduce especially an odor component.
Thirdly, the present invention relates to an article having high heat resistance and high stability, which is at least partially formed from a cured product of the photosensitive resin composition and has little deterioration due to heat.

紫外線等の光照射によって硬化するか又は溶解性が変化する感光性樹脂は、一般に、露光部の溶解性が良好なもの(ポジ型)と、未露光部の溶解性が良好なもの(ネガ型)の2種に分類される。ネガ型の場合、感光性樹脂自体が露光により硬化し不溶になることから、感光性樹脂が基材上に残存し機能膜として製品の一部となる場合が多い。
ネガ型の感光性樹脂は当初、例えば塗料、印刷インキ、オーバーコート層、接着剤、印刷原版等に用いられてきたが、近年、プリント配線板の配線保護用のソルダーレジストや、層間絶縁膜、カラーフィルターの画素、反射防止膜、ホログラム等を形成するためのレジスト等にまで用途が広がってきている。
Photosensitive resins that cure or change solubility upon irradiation with light such as ultraviolet rays are generally those with good solubility in the exposed area (positive type) and those with good solubility in the unexposed area (negative type). ). In the case of the negative type, since the photosensitive resin itself is cured and becomes insoluble by exposure, the photosensitive resin often remains on the substrate and becomes a part of the product as a functional film.
Negative-type photosensitive resins have been used initially in, for example, paints, printing inks, overcoat layers, adhesives, printing masters, etc., but in recent years, solder resists for wiring protection of printed wiring boards, interlayer insulating films, Applications have expanded to resists for forming color filter pixels, antireflection films, holograms, and the like.

一般に多く用いられるネガ型の感光性樹脂の一つに、エチレン性不飽和結合を一つ以上有する化合物、光照射によりラジカルを発生させる光ラジカル開始剤、及び、必要に応じて、現像性や塗膜の柔軟性等を付与する高分子化合物、無機フィラー、顔料等を配合した樹脂組成物がある。この組成物に光照射を行うと、エチレン性不飽和結合を有する化合物がラジカル反応により結合し、大分子量化して硬化する。この硬化反応の際に、架橋反応により3次元網目構造が発達することにより、得られる硬化物の硬度、強度、密着性、耐溶剤性、耐熱性が向上する。   One of the commonly used negative photosensitive resins is a compound having one or more ethylenically unsaturated bonds, a photoradical initiator that generates radicals by light irradiation, and developability and coating as required. There is a resin composition in which a polymer compound that imparts film flexibility, an inorganic filler, a pigment, and the like are blended. When this composition is irradiated with light, a compound having an ethylenically unsaturated bond is bonded by a radical reaction, and is cured with a large molecular weight. During this curing reaction, the three-dimensional network structure is developed by a crosslinking reaction, whereby the hardness, strength, adhesion, solvent resistance, and heat resistance of the resulting cured product are improved.

光ラジカル開始剤は、自己開裂型(Type I)と非分解型(Type II)に概ね分類される(非特許文献1)。前者の場合、ベンゾインエーテル系化合物の様に、特定波長の光を吸収することで、その波長に対応した部位の結合が切断され、その際に分断された各々の部位にラジカルが発生し、そこからラジカル反応が始まる。後者の場合、特定波長の光を吸収した時にラジカル開始剤の分解を伴わずにラジカルを発生させるラジカル発生機構であり、例えば、ベンゾフェノンに代表される水素引抜き型では、特定波長の電磁波を吸収し励起状態になると、周囲にある水素ドナーから水素を引き抜き、その際に引き抜いた方、引き抜かれた方の各々にラジカルが発生する。   Photoradical initiators are generally classified into self-cleavage type (Type I) and non-degradable type (Type II) (Non-Patent Document 1). In the former case, like a benzoin ether compound, by absorbing light of a specific wavelength, the bond at the site corresponding to that wavelength is cleaved, and radicals are generated at each of the divided sites. The radical reaction begins. In the latter case, it is a radical generation mechanism that generates radicals without decomposing radical initiators when light of a specific wavelength is absorbed.For example, a hydrogen abstraction type represented by benzophenone absorbs electromagnetic waves of a specific wavelength. In the excited state, hydrogen is extracted from the surrounding hydrogen donor, and radicals are generated in each of the extracted hydrogen and the extracted hydrogen donor.

一般に自己開裂型は、感度やラジカル発生効率は良好なものの、光照射時に低分子分解物を発生させ、これが作業環境に揮発して臭気の原因となったり、揮発後に再凝固して製造装置の汚染や製品不良の原因となったり、当該低分子分解物が製品中に残留して製品の耐熱性、安定性を損なったり、製品から低分子分解物が徐々に放出されるという問題がある。   In general, the self-cleavage type has good sensitivity and radical generation efficiency, but generates a low-molecular decomposition product when irradiated with light, which volatilizes in the work environment and causes odor, or re-coagulates after volatilization. There are problems that cause contamination and product defects, the low molecular decomposition products remain in the product and deteriorate the heat resistance and stability of the product, and the low molecular decomposition products are gradually released from the product.

一方、水素引き抜き型は、開始剤由来の低分子分解物の発生や残留といった問題はないが、水素ドナーが励起された開始剤の近傍に存在する必要がある事や、水素を引き抜く際のエネルギー障壁の大きさによってラジカル発生効率が決まるため、感度が比較的低いという問題がある。   On the other hand, the hydrogen abstraction type does not cause problems such as the generation or residue of low molecular decomposition products derived from the initiator, but the hydrogen donor must exist in the vicinity of the excited initiator, and the energy for extracting hydrogen. Since the radical generation efficiency is determined by the size of the barrier, there is a problem that the sensitivity is relatively low.

より現実的な例を挙げると、以下の様な使用場面において自己開裂型開始剤の問題点に直面する。
第一の例としては、ソルダーレジストや着色レジストでの使用が挙げられる。プリント配線板の表面被覆に用いられるソルダーレジストには、耐熱性や難燃性付与のため有機顔料やフィラーが混合されていたり、カラーフィルターの画素形成用レジストには、色表示のための顔料が混合されている。これらの顔料は光を吸収する成分であることから、感光性樹脂の感度を高めるために、主に自己開裂型の光ラジカル開始剤を用い、しかもラジカル反応で有効利用されない分を見込んで多量に混合させている。ここで、ラジカル反応で有効利用されない分には、照射によっても開裂しなかった未反応の開始剤と、開裂によりラジカル化しても固相での反応ゆえに被反応物との接近が阻害されて失活する分とがある。
To give a more realistic example, we face the problem of self-cleaving initiators in the following use situations.
As a first example, use in a solder resist or a colored resist can be mentioned. Solder resist used for the surface coating of printed wiring boards is mixed with organic pigments and fillers to provide heat resistance and flame retardancy. Color filter pixel forming resists contain pigments for color display. Have been mixed. Since these pigments are components that absorb light, in order to increase the sensitivity of the photosensitive resin, a self-cleavage type photo radical initiator is mainly used, and a large amount is expected in anticipation that it is not effectively used in radical reactions. Mixing. Here, the unreacted initiator, which was not cleaved even by irradiation, was lost due to the reaction in the solid phase due to the reaction in the solid phase even after radicalization by cleavage. There is a part to live.

従って、多量の開始剤を用いるために、光照射時には低分子分解物が多量に発生し、臭気を生じる。また、露光後の硬化物中には、開始剤由来の残存物が多量に存在するが、そのうち未開裂の光ラジカル開始剤は、露光後にも反応性を残していることから硬化物を変質させる。また、未開裂の光ラジカル開始剤、及び、開裂したがラジカル反応で消費されずに失活した低分子分解物は、マトリックスの架橋構造に結合しておらず、独立した成分として硬化物中に存在し、物性を阻害する。そのため、開始剤由来の残存物をそのまま放置すると、耐光性の悪化、着色や退色、塗膜のはがれやクラックの発生等を引き起こし、最終製品、例えば電子部品用の層間絶縁膜やソルダーレジスト、カラーフィルター用画素形成用レジストの信頼性を低下させる原因になる。   Therefore, since a large amount of initiator is used, a large amount of low-molecular decomposition products are generated at the time of light irradiation, and an odor is generated. In addition, in the cured product after exposure, a large amount of the residue derived from the initiator is present, of which the uncleavable photoradical initiator remains reactive after exposure, and thus alters the cured product. . In addition, the uncleavable photoradical initiator and the low-molecular decomposition product that has been cleaved but deactivated without being consumed by the radical reaction are not bonded to the crosslinked structure of the matrix, and are contained in the cured product as independent components. Exists and inhibits physical properties. Therefore, if the initiator-derived residue is left as it is, it will cause deterioration of light resistance, coloring and fading, peeling of the coating film and generation of cracks, etc., resulting in final products such as interlayer insulation films and solder resists for electronic parts, color This causes a decrease in the reliability of the filter pixel forming resist.

自己開裂型の光ラジカル開始剤は昇華性が強く、熱により分解するため、露光、現像後の製品を百数十℃以上の温度でポストベークすることにより製品から除去することができる。しかしながら、ポストベーク時に開始剤由来の昇華物が加熱装置内に多量に付着し、それが硬化により得られた製品上に落下して製品不良の原因となり、問題となっていた。また、加熱装置の周囲では雰囲気中に開始剤の分解物等が含まれるため、作業安全性の観点からも問題があった。
ポストベークの条件を、より高温で、より長時間にすることによってラジカル開始剤由来の残存物をより多く除去することが可能であるが、固体中からの揮発の為、完全に除去することは困難である。より多くのラジカル開始剤由来の不純物を除去する為に条件を厳しくすると、その条件が、かえって製品不良を起こす原因となる。
Since the self-cleaving type photo radical initiator has a strong sublimation property and decomposes by heat, it can be removed from the product by post-baking the product after exposure and development at a temperature of hundreds of degrees C. or more. However, a large amount of the sublimate derived from the initiator adheres to the heating device during post-baking, and it falls on the product obtained by curing, causing a product defect, which is a problem. In addition, there is a problem from the viewpoint of work safety because the decomposition product of the initiator is included in the atmosphere around the heating device.
It is possible to remove more radical initiator-derived residues by setting the post-baking conditions at a higher temperature and for a longer time, but because of volatilization from the solid, it is possible to completely remove it. Have difficulty. If conditions are stricter to remove more impurities derived from radical initiators, the conditions may cause product defects.

第二の例としては、剥離膜用レジストでの使用が挙げられる。剥離膜として用いられる電子部材の加工用レジスト及びドライフィルムレジスト等にも、上記ソルダーレジストと同様の光硬化システムが用いられている。加工用レジストは、最終的には剥離され製品には残らないが、その銅配線形成等の加工工程において、加工に用いる塩化第二鉄や塩化第二銅等の薬液中にレジスト膜から開始剤由来の残存物が溶出し、薬液の寿命を短くするという問題があった。   As a second example, use in a resist for a release film can be mentioned. A photo-curing system similar to the solder resist is used for a resist for processing an electronic member used as a release film and a dry film resist. Although the resist for processing is finally peeled off and does not remain in the product, it is an initiator from the resist film in a chemical solution such as ferric chloride or cupric chloride used for processing in processing steps such as copper wiring formation. There was a problem that the residue of the origin was eluted and the life of the chemical solution was shortened.

さらに第三の例としては、保護膜用塗料での使用が挙げられる。建築物の壁紙や壁の表面を保護する保護膜用塗料として、感光性樹脂が用いられる場合には、シックハウス症候群対策等の観点から、建材全体から出て来る溶媒成分や臭気成分の削減が求められているが、揮発性の高い開始剤を用いることで、塗膜硬化後も臭気が発生するという問題があった。   Further, as a third example, use in a coating material for a protective film can be mentioned. When a photosensitive resin is used as a paint for a protective film that protects the wallpaper of a building or the surface of a wall, reduction of solvent components and odor components from the entire building material is required from the viewpoint of measures against sick house syndrome. However, by using a highly volatile initiator, there was a problem that odor was generated even after the coating film was cured.

これらの問題を解決する手段の一つとして、ESACURE KIP 150(商品名)が日本シイベルヘグナー(株)より市販されている。このESACURE KIP 150は、ポリマー骨格の側鎖に光ラジカル発生部位を導入した構造を持っている。このような構造にすれば、光ラジカル発生剤は一分子内に複数のラジカル発生部位を有するため、当該分子内のどこか1箇所がラジカル化して塗膜のマトリックスと結合していれば、同じ分子内にある未反応のラジカル発生部位もポリマー骨格を介してマトリックス構造に結合するので、ポストベーク時に揮発せず、塗膜中を移動する事も無いため、最終製品での信頼性を低下させることが少ない。   As one of means for solving these problems, ESACURE KIP 150 (trade name) is commercially available from Nippon Shibel Hegner. This ESACURE KIP 150 has a structure in which a photoradical generation site is introduced into a side chain of a polymer skeleton. With such a structure, the photoradical generator has a plurality of radical generating sites in one molecule, so if one of the sites in the molecule is radicalized and bonded to the coating matrix, the same. Since unreacted radical generation sites in the molecule are also bonded to the matrix structure via the polymer skeleton, they do not volatilize during post-baking and do not move through the coating, reducing the reliability of the final product. There are few things.

しかしながら、ESACURE KIP 150はポリマー骨格を持ち、分子サイズが比較的大きいため、感光性樹脂組成物中で移動しずらい。また、その感度波長が、汎用光源の照射波長とマッチしていない。そのため、樹脂組成物中での実用上の感度はそれほど高くはなく、光ラジカル反応性が上がりにくいという問題がある。   However, since ESACURE KIP 150 has a polymer skeleton and a relatively large molecular size, it is difficult to move in the photosensitive resin composition. Further, the sensitivity wavelength does not match the irradiation wavelength of the general-purpose light source. Therefore, the practical sensitivity in the resin composition is not so high, and there is a problem that the photoradical reactivity is difficult to increase.

また、別の解決手段として、LUNA750(商品名)が日本シイベルヘグナー(株)より市販されている。このLUNA750は、α―アミノアセトフェノン骨格を有する自己解裂型の光ラジカル発生部位に分子量の大きい官能基(側鎖)を導入し、ラジカル発生時に開裂して遊離する部分を大分子化することで、分解物の揮発(アウトガス)を低減することが可能である。しかし、この場合、開裂部分の分子量が大きくなった事で揮発する温度が高くなりガス化しにくいだけであり、塗膜中に、該塗膜のマトリックス構造から独立した分解物として残存してしまう。そのため、分解物による製品劣化、分解物の揮発・溶出、臭気の発生など、塗膜等の最終製品の信頼性低下と言う問題には充分に対応できていない。また、中間製品や最終製品を現像又は洗浄する際に、開始剤由来の分解物や未反応体が現像液や洗浄液へ溶出する問題にも対応できていない。   As another solution, LUNA 750 (trade name) is commercially available from Nippon Siebel Hegner. This LUNA750 introduces a functional group (side chain) with a large molecular weight into a self-cleaving type photoradical generation site having an α-aminoacetophenone skeleton, and converts the portion that is cleaved and released at the time of radical generation into a large molecule. It is possible to reduce the volatilization (outgas) of decomposition products. However, in this case, the volatilization temperature increases due to the increase in the molecular weight of the cleavage portion, and the gas does not easily gasify, and remains in the coating film as a decomposition product independent of the matrix structure of the coating film. For this reason, it cannot sufficiently cope with problems such as deterioration of product due to decomposition products, volatilization / elution of decomposition products, generation of odors, and the like, resulting in reduced reliability of final products such as coating films. In addition, when developing or washing an intermediate product or a final product, it is not possible to cope with a problem that a decomposition product derived from an initiator or an unreacted material is eluted into a developing solution or a washing solution.

光硬化技術、39頁、技術情報協会、2000年Photo-curing technology, 39 pages, Technical Information Association, 2000

本発明は自己開裂型光ラジカル発生剤が抱える上記問題点を解決することを目的とする。具体的に、第一の目的は、従来の自己解裂型の開始剤と同等の感度を有し、しかも、光照射時又はポストベーク時に樹脂組成物又は中間製品からの低分子分解物の揮発や臭気の発生を削減することができ、光硬化後の最終製品中に硬化物のマトリックスから独立した低分子分解物を実質的に残存させないような、ラジカル発生剤を提供することにある。   The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the self-cleaving photoradical generator. Specifically, the first object is to have the same sensitivity as that of a conventional self-cleaving initiator, and volatilization of low-molecular decomposition products from the resin composition or intermediate product during light irradiation or post-baking. It is an object of the present invention to provide a radical generator that can reduce generation of odor and odor and does not substantially leave a low-molecular decomposition product independent of the matrix of the cured product in the final product after photocuring.

また、本発明の第二の目的は、上記ラジカル発生剤を含有し、使用時に低分子分解物の揮発や臭気の発生が少なく、光硬化後の最終製品中に低分子分解物の残留が少ない感光性樹脂組成物を提供することにある。
さらに、本発明の第三の目的は、上記感光性樹脂組成物を用いて少なくとも一部分を形成した、熱による劣化が生じにくい高耐熱性、高安定性の物品を提供することにある。
In addition, the second object of the present invention is to contain the above radical generator, so that there is little volatilization or odor generation of low-molecular decomposition products during use, and low-molecular decomposition products remain in the final product after photocuring. It is providing the photosensitive resin composition.
Furthermore, the third object of the present invention is to provide an article having high heat resistance and high stability, which is at least partially formed using the photosensitive resin composition and hardly causes deterioration due to heat.

上記課題を解決するため、本発明により提供される光ラジカル発生剤は、下記式(1’)で表される化合物(a1)からなることを特徴とする。 In order to solve the above problems, the photoradical generator provided by the present invention is characterized by comprising a compound (a1) represented by the following formula (1 ′) .

Figure 0004504142
(ただし、式(1’)において は、水素原子又はメチル基で、R 及びR は、それぞれ水素原子である。X 硫黄原子又は窒素原子でベンゾイル構造に結合している2価の基であり、Yは脂肪族3級アミン構造を持つ1価の基である。nは3〜15の整数である。
本発明の光ラジカル発生剤は、自己開裂型ラジカル発生剤としての機能と、硬化反応性化合物としての機能を兼ね備えている。
本発明の光ラジカル発生剤に光を照射すると、自己開裂型光ラジカル発生部位が開裂し、ラジカルを発生させる。この時に生成する断片は、エチレン性不飽和基を有しているので、当該エチレン性不飽和基の重合反応により硬化物のマトリックス構造に結合し、固定される。従って、硬化物のマトリックスから独立して存在する低分子分解物の生成量が少ない。
Figure 0004504142
(In the formula (1 ′) , R 1 is a hydrogen atom or a methyl group, and R 2 and R 3 are each a hydrogen atom. X 1 is a sulfur atom or a nitrogen atom that is bonded to the benzoyl structure 2. And Y is a monovalent group having an aliphatic tertiary amine structure, and n is an integer of 3 to 15. )
The photo radical generator of the present invention has a function as a self-cleaving radical generator and a function as a curing reactive compound.
When the photoradical generator of the present invention is irradiated with light, the self-cleaving photoradical generation site is cleaved to generate radicals. Since the fragment | piece produced | generated at this time has an ethylenically unsaturated group, it couple | bonds with the matrix structure of hardened | cured material by the polymerization reaction of the said ethylenically unsaturated group, and is fixed. Therefore, the amount of low-molecular decomposition products that exist independently from the matrix of the cured product is small.

その結果、光照射時やポストベーク時に揮発する低分子分解物量が著しく削減され、特に臭気が軽減される。揮発後に再凝固して製造装置や製品に付着する分解物の量、或いは、現像液や洗浄液に溶出する分解物の量も著しく削減される。さらに、硬化後に残留する低分子分解物の量も少なくなり、最終製品の耐熱性や安定性も著しく向上される。
また、本発明の光ラジカル発生剤のラジカル反応前の分子サイズは、ポリマーよりもはるかに小さい。そのため、モノマー成分や溶剤等の他の成分との相溶性、溶解性が高く、且つ、感光性樹脂組成物中で比較的自由に動き回ることができる。その結果、従来の自己解裂型光ラジカル開始剤と同等の感度を有する。
As a result, the amount of low-molecular decomposition products that volatilize during light irradiation or post-baking is significantly reduced, and in particular, odor is reduced. The amount of decomposition products that re-solidify after volatilization and adhere to the manufacturing apparatus or product, or the amount of decomposition products that elute into the developer or cleaning solution, is significantly reduced. Furthermore, the amount of low-molecular decomposition products remaining after curing is reduced, and the heat resistance and stability of the final product are significantly improved.
In addition, the molecular size before the radical reaction of the photoradical generator of the present invention is much smaller than that of the polymer. Therefore, the compatibility with other components, such as a monomer component and a solvent, and solubility are high, and it can move around comparatively freely in the photosensitive resin composition. As a result, it has the same sensitivity as a conventional self-cleaving photoradical initiator.

次に、本発明に係る感光性樹脂組成物は、上記本発明に係る光ラジカル発生剤を必須成分として含有することを特徴とする。
本発明の樹脂組成物を所定のパターンに塗布するか或いは所定の形状に成形した後に光照射を行うと、光ラジカル反応が開始され、ラジカル重合等の様々なラジカル反応が進行し、硬化及び/又は溶解性の変化を引き起こす。このラジカル反応の際に、化合物(a1)からなる光ラジカル発生剤は、自己開裂型ラジカル発生剤として作用し、効率良くラジカルを発生させるので、高い感度が得られる。
Next, the photosensitive resin composition according to the present invention contains the photo radical generator according to the present invention as an essential component.
When the resin composition of the present invention is applied in a predetermined pattern or formed into a predetermined shape and then irradiated with light, a photoradical reaction is initiated, and various radical reactions such as radical polymerization proceed to cure and / or cure. Or it causes a change in solubility. In this radical reaction, the photoradical generator composed of the compound ( a1 ) acts as a self-cleaving radical generator and efficiently generates radicals, so that high sensitivity is obtained.

また、化合物(a1)の開裂により生成した断片の少なくとも一方は、エチレン性不飽和基の反応により硬化物のマトリックスに結合し、その化学構造の一部となる。その結果、ラジカル発生剤に由来する低分子分解物の量は、従来の自己開裂型ラジカル発生剤を用いる場合と比べて極めて少ない。従って、露光時やポストベーク時に、低分子分解物の揮発量が少なくなり、特に臭気が著しく軽減される。また、揮発した低分子分解物が再凝固したり、現像液等に溶出する問題も改善される。
さらに、最終製品に残留する低分子分解物の量が少ないため、高耐熱性、高安定性となる効果がある。従って、最終製品の信頼性を低下させる問題も解決する。
Further, at least one of the fragments generated by the cleavage of the compound ( a1 ) is bonded to the matrix of the cured product by the reaction of the ethylenically unsaturated group and becomes a part of the chemical structure. As a result, the amount of the low-molecular decomposition product derived from the radical generator is extremely small compared to the case where a conventional self-cleaving radical generator is used. Therefore, the amount of volatilization of low-molecular decomposition products is reduced during exposure and post-baking, and the odor is particularly reduced. In addition, the problem that the volatilized low-molecular decomposition product re-solidifies or elutes into the developer or the like is also improved.
Furthermore, since the amount of the low-molecular decomposition product remaining in the final product is small, there is an effect of high heat resistance and high stability. Therefore, the problem of reducing the reliability of the final product is also solved.

前記感光性樹脂組成物を、パターン形成材料として、或いは、塗料又は印刷インキ、或いは、カラーフィルター、電子部品、層間絶縁膜、配線被覆膜、光学部材、光回路、光回路部品、反射防止膜、ホログラム又は建築材料の形成材料として用いる場合には、製品や膜が高耐熱性、高安定性となる効果がある。また、露光時の臭気の発生がない為、作業環境が向上する。   The photosensitive resin composition as a pattern forming material, paint or printing ink, color filter, electronic component, interlayer insulating film, wiring coating film, optical member, optical circuit, optical circuit component, antireflection film When used as a material for forming holograms or building materials, there is an effect that products and films have high heat resistance and high stability. In addition, since no odor is generated during exposure, the working environment is improved.

本発明の光ラジカル発生剤は、自己開裂型の高い反応ポテンシャルを持ちながら、低分子分解物の生成を少なくすることができる。本発明によれば、自己開裂型ラジカル発生剤の問題の一つである臭気を軽減することができる。
特に、光ラジカル発生剤が、臭気のなかでも強い悪臭の原因とされるベンズアルデヒド等の芳香族成分を含む場合には、この芳香族成分をマトリックスに固定することにより、臭気を軽減する効果を極めて高いものとすることができる。
従って、本発明の光ラジカル発生剤は、光を照射して励起させることによりラジカル重合等のラジカル反応を開始、進行させるための光ラジカル発生剤として用いられる。
The photo radical generator of the present invention can reduce the generation of low-molecular decomposition products while having a high self-cleavable reaction potential. According to the present invention, odor which is one of the problems of a self-cleaving radical generator can be reduced.
In particular, when the photo radical generator contains an aromatic component such as benzaldehyde, which is a cause of strong odor among odors, fixing the aromatic component to the matrix is extremely effective in reducing odor. Can be expensive.
Accordingly, the photoradical generator of the present invention is used as a photoradical generator for initiating and advancing radical reactions such as radical polymerization by excitation by irradiation with light.

また、本発明の光ラジカル発生剤は、自己開裂型光ラジカル開始剤としての機能と重合性化合物としての機能を持っているので、それ自体が光ラジカル開始作用をもつ硬化反応性成分としても好適に用いられる。
本発明の感光性樹脂組成物は、上記本発明の光ラジカル発生剤を開始剤として用いるので、実用的に充分な感度を有し、自己開裂型光ラジカル発生剤を用いているにもかかわらず、低分子分解物の副生が少ない。特に、臭気を軽減する効果が大きい。また、最終製品に残留する低分子分解物の量も少ないので、高耐熱性、高安定性であり信頼性の高い最終製品が得られる。
Further, since the photo radical generator of the present invention has a function as a self-cleaving photo radical initiator and a function as a polymerizable compound, it is suitable as a curing reactive component having a photo radical initiating action itself. Used for.
Since the photosensitive resin composition of the present invention uses the photo radical generator of the present invention as an initiator, it has sufficient sensitivity for practical use, and uses a self-cleaving photo radical generator. There are few by-products of low molecular degradation products. In particular, the effect of reducing odor is great. In addition, since the amount of low-molecular decomposition products remaining in the final product is small, a highly reliable final product with high heat resistance and high stability can be obtained.

本発明に係る印刷物、カラーフィルター、電子部品、層間絶縁膜、配線被覆膜、光学部材、光回路、光回路部品、反射防止膜、ホログラム又は建築材料は、高耐熱性、高安定性の感光性樹脂組成物の硬化物により少なくとも一部分が形成されているため、製品や膜としても高耐熱性、高安定性であり、そのため生産の歩留まりも高いというメリットがある。   The printed matter, color filter, electronic component, interlayer insulating film, wiring coating film, optical member, optical circuit, optical circuit component, antireflection film, hologram, or building material according to the present invention has high heat resistance and high stability. Since at least a part of the cured resin composition is formed, the product or film has high heat resistance and high stability, and therefore has a merit of high production yield.

以下において本発明を詳しく説明する。なお本発明において光ラジカル発生過程を引き起こすために用いられる照射光には、光ラジカル開始剤のラジカル発生部位をラジカル化し又は感光性樹脂組成物にラジカル反応を引き起こさせることが可能な可視及び非可視領域の波長の電磁波だけでなく、電子線のような粒子線、及び、電磁波と粒子線を総称する放射線又は電離放射線が含まれる。樹脂組成物の硬化には、主に、波長が2μm以下の電磁波、電子線、電離放射線等が使用される。   The present invention is described in detail below. The irradiation light used to cause the photoradical generation process in the present invention is visible and invisible which can radicalize the radical generation site of the photoradical initiator or cause the photosensitive resin composition to cause a radical reaction. This includes not only electromagnetic waves having a wavelength in the region, but also particle beams such as electron beams, and radiation or ionizing radiation that collectively refers to electromagnetic waves and particle beams. For curing the resin composition, an electromagnetic wave, an electron beam, ionizing radiation or the like having a wavelength of 2 μm or less is mainly used.

先ず、本発明に係る光ラジカル発生剤について説明する。本発明に係る光ラジカル発生剤は、一分子中に1個以上の自己開裂型光ラジカル発生部位及び、1個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物(a)からなることを特徴とする。
上記化合物(a)は、1分子中に1個以上の自己開裂型光ラジカル発生部位と、1個以上のエチレン性不飽和基を有しており、自己開裂型ラジカル発生剤としての機能と、硬化反応性化合物としての機能を兼ね備えている。
First, the photo radical generator according to the present invention will be described. The photoradical generator according to the present invention is characterized by comprising a compound (a) having one or more self-cleaving photoradical generation sites and one or more ethylenically unsaturated groups in one molecule.
The compound (a) has one or more self-cleaving photoradical generation sites and one or more ethylenically unsaturated groups in one molecule, and functions as a self-cleaving radical generator; It also functions as a curing reactive compound.

本発明において光ラジカル発生剤の自己開裂型光ラジカル発生部位とは、光を吸収して励起し、分子構造の分解(結合の解裂)を伴いながらラジカルを発生させる部位、すなわちType Iに分類されるラジカル発生機構を持つ部位のことを言う。自己開裂型光ラジカル発生部位としては、例えば、ベンゾイン誘導体、ベンジルケタール、α―アセトキシフェノン、α―アミノアセトフェノン、アシルフォスフィンオキサイド、チタノセン類、O−アシルオキシム等のType Iに分類されるラジカル発生機構を持つ化合物から、エチレン性不飽和基と結合すべき1箇所又は2箇所以上の位置の水素原子を取り除いた構造を例示することができる。   In the present invention, the self-cleavable photoradical generation site of the photoradical generator is a site that absorbs light and excites and generates radicals with molecular structure decomposition (bond cleavage), that is, classified as Type I. It refers to the site that has a radical generation mechanism. Examples of self-cleaving photoradical generation sites include radical generation classified into Type I such as benzoin derivatives, benzyl ketal, α-acetoxyphenone, α-aminoacetophenone, acylphosphine oxide, titanocenes, O-acyloxime, etc. A structure in which a hydrogen atom at one or two or more positions to be bonded to an ethylenically unsaturated group is removed from a compound having a mechanism can be exemplified.

一般に、自己開裂型光ラジカル開始剤は、ラジカル生成時に分子構造が開裂し、低分子分解物を発生させる。一例として、高感度の自己開裂型光ラジカル発生部位として知られているα―アミノアセトフェノン骨格は、光によって励起され分子内開裂が起きると、ベンゾイルラジカルとアミノラジカルが生成する。重合反応は、被反応物(原料化合物)からアミノラジカルやベンゾイルラジカルが水素を引き抜くことによって開始されると予想されている。   In general, the self-cleaving photoradical initiator cleaves the molecular structure when generating radicals and generates a low-molecular decomposition product. As an example, an α-aminoacetophenone skeleton, which is known as a highly sensitive self-cleaving photoradical generation site, generates a benzoyl radical and an amino radical when it is excited by light to cause intramolecular cleavage. The polymerization reaction is expected to start when amino radicals or benzoyl radicals extract hydrogen from the reaction object (raw compound).

原理的には、それぞれのラジカルは重合開始時に被反応物の末端に結合し得るが、実際は、周囲に存在する分子から水素を引き抜いてラジカルを発生させ、自らは開裂した状態のまま失活し、重合体の分子から独立した分解物となりやすい。自己開裂型光ラジカル発生部位の開裂により生成した低分子分解物は、光照射時及びポストベーク時に揮発してガスや臭気を発生させたり、揮発後に再凝固して製造装置や製品に付着したり、或いは、揮発しないで最終製品中に残留して製品の耐熱性や安定性を損ねる等の問題を来たす。   In principle, each radical can bind to the end of the reaction product at the start of polymerization, but in reality, it generates hydrogen by extracting hydrogen from the surrounding molecules and deactivates itself in a cleaved state. It tends to be a decomposition product independent of polymer molecules. Low-molecular-weight decomposition products generated by cleavage of self-cleavable photoradical generation sites volatilize during light irradiation and post-bake to generate gas and odor, or re-solidify after volatilization and adhere to manufacturing equipment and products. Or, it does not volatilize and remains in the final product, causing problems such as loss of heat resistance and stability of the product.

特に、ベンゾイルラジカルは、周囲の分子から水素を引き抜いてベンズアルデヒド及びその類似体になりやすく、周囲のマトリックスに結合しにくい。ベンズアルデヒド及びその類似体は、強い臭気を持つため光照射時やポストベーク時の悪臭の主要原因となり、しかも、ポストベーク時に完全に揮発させることが困難なため、最終製品に残留して製品の臭気や劣化の原因にもなる。   In particular, benzoyl radicals tend to extract hydrogen from surrounding molecules to form benzaldehyde and its analogs, and are difficult to bind to the surrounding matrix. Benzaldehyde and its analogs have a strong odor, which is a major cause of bad odor during light irradiation and post-baking, and it is difficult to volatilize completely during post-baking. It may also cause deterioration.

このような従来の自己開裂型光ラジカル開始剤に対し、本発明の光ラジカル発生剤である化合物(a)は、自己開裂型光ラジカル発生部位の開裂により断片となる部分にエチレン性不飽和基を有している。このため、化合物(a)を光ラジカル開始剤として用いて光ラジカル反応を開始、進行させると、自己開裂型光ラジカル発生部位の開裂により生成した断片は、エチレン性不飽和基を介して硬化物のマトリックス構造に結合し、固定される。   In contrast to such a conventional self-cleaving photoradical initiator, the compound (a), which is a photoradical generator of the present invention, has an ethylenically unsaturated group in a portion that becomes a fragment by cleavage of the self-cleaving photoradical generation site. have. Therefore, when the photoradical reaction is initiated and advanced using the compound (a) as a photoradical initiator, the fragments generated by cleavage of the self-cleaving photoradical generation site are cured through an ethylenically unsaturated group. It is bonded to the matrix structure and fixed.

その結果、光照射時やポストベーク時に揮発する低分子分解物量が著しく削減され、特に臭気が軽減される。揮発後に再凝固して製造装置や製品に付着する分解物の量、或いは、現像液や洗浄液に溶出する分解物の量も著しく削減される。さらに、硬化後に残留する低分子分解物の量も少なくなり、最終製品の耐熱性や安定性も著しく向上される。   As a result, the amount of low-molecular decomposition products that volatilize during light irradiation or post-baking is significantly reduced, and in particular, odor is reduced. The amount of decomposition products that re-solidify after volatilization and adhere to the manufacturing apparatus or product, or the amount of decomposition products that elute into the developer or cleaning solution, is significantly reduced. Furthermore, the amount of low-molecular decomposition products remaining after curing is reduced, and the heat resistance and stability of the final product are significantly improved.

また、化合物(a)は、開裂により生成する断片のうちかなりの部分が重合又は架橋マトリックス構造に結合し、大分子の一部になるが、ラジカル反応前の分子サイズはポリマーよりもはるかに小さい。そのため、モノマー成分や溶剤等の他の成分との相溶性、溶解性が高く、且つ、感光性樹脂組成物中で比較的自由に動き回ることができる。その結果、従来の自己解裂型光ラジカル開始剤と同等の感度を有し、実用的に充分な反応性を持つ樹脂組成物が得られる。   In addition, compound (a) has a considerable part of fragments generated by cleavage bonded to a polymerized or crosslinked matrix structure and becomes a part of a large molecule, but the molecular size before radical reaction is much smaller than that of a polymer. . Therefore, the compatibility with other components, such as a monomer component and a solvent, and solubility are high, and it can move around comparatively freely in the photosensitive resin composition. As a result, a resin composition having sensitivity equivalent to that of a conventional self-cleaving photoradical initiator and practically sufficient reactivity can be obtained.

一分子中に1個以上の自己開裂型光ラジカル発生部位及び、1個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物(a)としては、例えば、下記式(1)で表される化合物(a1)を用いることができる。   As the compound (a) having one or more self-cleaving photoradical generation sites and one or more ethylenically unsaturated groups in one molecule, for example, a compound (a1) represented by the following formula (1) Can be used.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(ただし、式(1)においてR、R及びRは、それぞれ独立して水素原子、ハロゲン原子、又は、一価の有機基である。Xは2価の基であり、Yは1価の基である。) (In the formula (1), R 1 , R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom, a halogen atom or a monovalent organic group. X is a divalent group and Y is 1) Valent group.)

この化合物(a1)は、−(C=O)−Yで表される自己開裂型光ラジカル発生部位を有しており、カルボニル炭素と1価の基Yの間で結合が開裂して2つのラジカルを生成する。生成したラジカルのうち、ベンゾイルラジカル構造を含む断片が失活して、独立した分子構造を持つベンズアルデヒド又はその類似体になると、揮発しやすく且つ臭気の大きな原因となる。これに対し、化合物(a1)のエチレン性不飽和基は、開裂によりベンゾイルラジカル構造を含む断片となる部分に結合しているので、臭気の大きな原因となるベンズアルデヒド又はそれに類似する構造が、硬化物のマトリックス構造に結合し固定される。従って、この場合には臭気の強い低分子分解物の生成量が極めて少なくなるので、臭気を軽減する効果が大きい。   This compound (a1) has a self-cleaving photoradical generation site represented by-(C = O) -Y, and the bond is cleaved between the carbonyl carbon and the monovalent group Y, and Generate radicals. Among the generated radicals, when a fragment containing a benzoyl radical structure is deactivated to become benzaldehyde or an analog thereof having an independent molecular structure, it easily evaporates and causes a great odor. On the other hand, since the ethylenically unsaturated group of the compound (a1) is bonded to a portion that becomes a fragment containing a benzoyl radical structure by cleavage, benzaldehyde or a similar structure that causes a large odor is a cured product. It is bonded and fixed to the matrix structure. Therefore, in this case, the amount of low-molecular decomposition products with strong odor is extremely reduced, so that the effect of reducing odor is great.

化合物(a1)のエチレン性不飽和基上に存在するR、R及びRは、それぞれ独立して水素原子、ハロゲン原子、又は、飽和又は不飽和の一価有機基である。一価の有機基は、C以外の異種原子及び/又は置換基を含んでいても良い。好ましいR、R及びRは、それぞれ独立して水素原子、ハロゲン原子、飽和又は不飽和アルキル基、飽和又は不飽和ハロゲン化アルキル基、又は、飽和又は不飽和ヒドロキシアルキル基であり、特に好ましくは、それぞれ独立して水素原子、ハロゲン原子、メチル基、トリフルオロメチル基、又は、ヒドロキシメチル基である。特に、価格やラジカル反応速度の観点、最終的な塗膜物性の観点から、エチレン性不飽和基は、Rが水素原子、ハロゲン原子、メチル基、トリフルオロメチル基、又は、ヒドロキシメチル基であり、且つ、R及びRがそれぞれ独立して水素原子又はフッ素原子であることが最も好ましい。 R 1 , R 2 and R 3 present on the ethylenically unsaturated group of the compound (a1) are each independently a hydrogen atom, a halogen atom, or a saturated or unsaturated monovalent organic group. The monovalent organic group may contain a hetero atom other than C and / or a substituent. Preferred R 1 , R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom, a halogen atom, a saturated or unsaturated alkyl group, a saturated or unsaturated halogenated alkyl group, or a saturated or unsaturated hydroxyalkyl group, particularly Preferably, they are each independently a hydrogen atom, a halogen atom, a methyl group, a trifluoromethyl group, or a hydroxymethyl group. In particular, from the viewpoints of price, radical reaction rate, and final film physical properties, the ethylenically unsaturated group is a group in which R 1 is a hydrogen atom, a halogen atom, a methyl group, a trifluoromethyl group, or a hydroxymethyl group. Most preferably, R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom or a fluorine atom.

エチレン性不飽和基の好ましい例としては、アクリロイル基、メタクリロイル基、2−トリフルオロメチルアクリロイル基、及び、無置換のビニル基が挙げられる。   Preferable examples of the ethylenically unsaturated group include acryloyl group, methacryloyl group, 2-trifluoromethylacryloyl group, and unsubstituted vinyl group.

上記式(1)において、自己開裂型光ラジカル発生部位に含まれる1価の基Yとしては、例えば、脂肪族エーテルや脂肪族アミン骨格を含む構造が挙げられ、特に脂肪族3級アミン構造を持つ基であることが好ましい。   In the above formula (1), examples of the monovalent group Y contained in the self-cleaving type photoradical generation site include a structure containing an aliphatic ether or an aliphatic amine skeleton, and particularly an aliphatic tertiary amine structure. It is preferable that it has a group.

また、式(1)において、エチレン性不飽和基と自己開裂型光ラジカル発生部位を連結している化学構造Xは、2価以上のいかなる化学構造を持つものでも良いが、代表的には2価の有機基であり、例えば、下記式(2)で表す化学構造とすることができる。   In the formula (1), the chemical structure X connecting the ethylenically unsaturated group and the self-cleaving photoradical generation site may have any divalent or higher chemical structure, but typically 2 For example, a chemical structure represented by the following formula (2).

Figure 0004504142
Figure 0004504142

上記式(2)で表される2価の有機基において、X1は2価の有機基であり、X2はエチレン性不飽和基に結合する事が可能な結合であれば良く、また、X3はベンゾイル構造に結合する事が可能な結合であれば良い。   In the divalent organic group represented by the above formula (2), X1 is a divalent organic group, X2 may be a bond capable of bonding to an ethylenically unsaturated group, and X3 is Any bond that can be bonded to the benzoyl structure may be used.

2価の有機基X1の構造は特に限定されない。具体的には直鎖、分岐、又は、環状のアルキレン基であって、いずれも炭素数が1〜15程度が好ましい。但し、これらの飽和アルキレン基は、炭素骨格の途中に、脂肪族及び/又は芳香族の環状の部位、及び/又は、エステル結合、エーテル結合、チオエーテル結合、アミノ結合、アミド結合、ウレタン結合、ウレア結合、チオカルバメート結合、カルボジイミド結合、又は、カーボネート結合等の付加的構造を単独で又は2種以上を組み合わせて含んでもよい。2価の有機基X1は、例えば、ポリカプロラクトン構造のように一定の繰返し単位からなるポリマー鎖であっても良い。   The structure of the divalent organic group X1 is not particularly limited. Specifically, it is a linear, branched, or cyclic alkylene group, and preferably all have about 1 to 15 carbon atoms. However, these saturated alkylene groups have an aliphatic and / or aromatic cyclic site in the middle of the carbon skeleton, and / or ester bond, ether bond, thioether bond, amino bond, amide bond, urethane bond, urea bond Additional structures such as a bond, a thiocarbamate bond, a carbodiimide bond, or a carbonate bond may be contained alone or in combination of two or more. The divalent organic group X1 may be a polymer chain composed of a certain repeating unit such as a polycaprolactone structure.

エチレン性不飽和基に結合可能な構造X2としては、具体的には、単結合、エステル結合、エーテル結合、チオエーテル結合、アミノ結合、アミド結合、ウレタン結合、ウレア結合、チオカルバメート結合、カルボジイミド結合、カーボネート結合等が例示されるが、公知の2価の結合であれば特に限定されない。   Specific examples of the structure X2 that can be bonded to an ethylenically unsaturated group include single bond, ester bond, ether bond, thioether bond, amino bond, amide bond, urethane bond, urea bond, thiocarbamate bond, carbodiimide bond, Although carbonate bond etc. are illustrated, if it is a well-known bivalent bond, it will not specifically limit.

X2は、特に、価格や入手のしやすさ、合成の簡便さ等の点から単結合、エステル結合、エーテル結合、チオエーテル結合、アミノ結合、アミド結合、ウレタン結合、ウレア結合、チオカルバメート結合、又は、カーボネート結合等が好ましい。   X2 is a single bond, an ester bond, an ether bond, a thioether bond, an amino bond, an amide bond, a urethane bond, a urea bond, a thiocarbamate bond, or in particular, in terms of price, availability, and ease of synthesis. Carbonate bonds are preferred.

また、ベンゾイル構造に結合可能な構造X3としては、上記構造X2と同様の構造とすることができるが、化合物(a1)の吸収波長を調整し、照射波長に吸収を多く持たせることができる基であることが好ましい。   In addition, the structure X3 that can be bonded to the benzoyl structure can be the same structure as the structure X2, but the group that can adjust the absorption wavelength of the compound (a1) so that the irradiation wavelength has a lot of absorption. It is preferable that

上記式(1)で表される化合物(a1)に属する化合物として、より具体的なものとしては、下記式(3)で表される化合物(a3)を例示することができる。   As a more specific compound belonging to the compound (a1) represented by the above formula (1), a compound (a3) represented by the following formula (3) can be exemplified.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(ただし、式(3)においてR、R及びRは、それぞれ独立して水素原子、ハロゲン原子、又は、一価の有機基である。R及びRは、それぞれ独立して水素原子、炭素数1〜15(好ましくは炭素数1〜6)のアルキル基である。R及びRは、それぞれ独立して一価の有機基であり、O、N、S、Si等のC以外の異種原子を含んでいても良く、RとRが結合して環構造を形成していても良い。X1は2価の有機基であり、X2及びX3’は、それぞれ独立して2価の基である。) (In the formula (3), R 1 , R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom, a halogen atom or a monovalent organic group. R 4 and R 5 are each independently hydrogen. An atom, an alkyl group having 1 to 15 carbon atoms (preferably 1 to 6 carbon atoms) R 6 and R 7 are each independently a monovalent organic group such as O, N, S, Si, etc. It may contain a heteroatom other than C, and R 6 and R 7 may combine to form a ring structure, X 1 is a divalent organic group, and X 2 and X 3 ′ are independent of each other. Divalent group.)

この化合物(a3)は、ベンゾイル構造のパラ位にS(硫黄)が結合しており、且つ、当該ベンゾイル構造のカルボニル炭素に、アルキル置換されていても良いメチレン基を介して3級アミン構造が結合した構造を持っている。この構造は、ラジカル生成能力が高い。一般的に、Sを含むベンゾイルラジカルが失活し、独立した分子構造を持つベンズアルデヒド類似体が生成すると、これが揮発し、非常に強い悪臭を放つ。これに対して化合物(a3)を用いる場合には、ベンゾイルラジカルが生成しても、Sを含むベンズアルデヒド類似体が揮発しないので、臭気が著しく軽減される。   In this compound (a3), S (sulfur) is bonded to the para-position of the benzoyl structure, and the carbonyl carbon of the benzoyl structure has a tertiary amine structure via a methylene group which may be alkyl-substituted. Has a combined structure. This structure has a high radical generating ability. In general, when a benzoyl radical containing S is deactivated and a benzaldehyde analog having an independent molecular structure is produced, it volatilizes and gives off a very strong odor. On the other hand, when the compound (a3) is used, even if the benzoyl radical is generated, the benzaldehyde analog containing S does not volatilize, so the odor is remarkably reduced.

また、ベンゾイルラジカルと共に生成するアミノラジカルは、ラジカル連鎖反応を開始する能力が高いため、この部分が反応系内で自由に動き回れる場合には、特に高い感度が得られる。化合物(a3)を用いる場合には、アミノラジカルの部分にはエチレン性不飽和結合がないので、アミノラジカルは感光性樹脂組成物中で自由に動くことができる。従って、高い感度が得られる。   Moreover, since the amino radical produced | generated with a benzoyl radical has the high capability to start radical chain reaction, when this part can move around freely within a reaction system, especially high sensitivity is acquired. When the compound (a3) is used, since the amino radical portion has no ethylenically unsaturated bond, the amino radical can move freely in the photosensitive resin composition. Therefore, high sensitivity can be obtained.

上記式(3)で表される化合物(a3)に属する化合物として、より具体的なものとしては、下記式(4)で表される化合物(a4)を挙げることができる。   More specific examples of the compound belonging to the compound (a3) represented by the above formula (3) include a compound (a4) represented by the following formula (4).

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(ただし、式(4)においてR乃至Rは、式(3)と同じである。nは0〜15、より好ましくは0〜8の整数である。) (In the formula (4), R 1 to R 7 are the same as those in the formula (3). N is an integer of 0 to 15, more preferably 0 to 8.)

この化合物(a4)の3級アミン構造部分は、モルフォリン骨格を有している。この化合物から生成するアミノラジカルは、最終的に失活した時に、独立した分子構造のモルフォリン又はその類似体になり揮発するが、モルフォリン類はベンズアルデヒド類に比べて臭気は弱い。従って、作業環境への悪影響は小さい。またモルフォリン類は揮発性が高いため、光照射やポストベーク等の製造工程で容易に製品から除去され、残留が少ない。従って、モルフォリン骨格を有する分解物は、最終製品の耐熱性、安定性、信頼性を損なうおそれが小さい。   The tertiary amine structure portion of this compound (a4) has a morpholine skeleton. When the amino radical generated from this compound is finally deactivated, it becomes a morpholine having an independent molecular structure or its analog and volatilizes, but the morpholine has a weak odor compared to benzaldehydes. Therefore, the adverse effect on the work environment is small. In addition, since morpholines are highly volatile, they are easily removed from the product in the manufacturing process such as light irradiation and post-baking, and there is little residue. Therefore, a decomposition product having a morpholine skeleton is less likely to impair the heat resistance, stability, and reliability of the final product.

本発明の光ラジカル発生剤である化合物(a)の照射感度を向上させるためには、当該化合物に含まれるラジカル発生部位が照射光によって励起し、ラジカルを発生させ易い化学構造とすることが望ましい。そのためには、化合物(a)に含まれる置換基(例えば上記R〜R)や連結構造(例えば上記X)を選定して、光の吸収波長をシフトさせたり、吸光係数を変化させることが有効と考えられる。 In order to improve the irradiation sensitivity of the compound (a) which is the photoradical generator of the present invention, it is desirable to have a chemical structure in which the radical generation site contained in the compound is excited by irradiation light and easily generates radicals. . For that purpose, a substituent (for example, R 4 to R 7 ) or a linking structure (for example, X) contained in the compound (a) is selected to shift the absorption wavelength of light or change the extinction coefficient. Is considered effective.

実用的な感度を得るためには、上記した置換基や連結構造の選定により、化合物(a)の吸収波長の一部が、プロセスにおける露光光源(照射光源)に含まれるいずれかの波長の発光波長と重なる様にすることが好ましく、特に、化合物(a)の吸収極大が、該吸収極大に最も近い発光波長の値の±20%以内に入ることが好ましく、±10%以内に入ることがさらに好ましい。   In order to obtain practical sensitivity, a part of the absorption wavelength of the compound (a) is emitted at any wavelength included in the exposure light source (irradiation light source) in the process by selecting the above-described substituents and linking structures. Preferably, the absorption maximum of the compound (a) is preferably within ± 20% of the value of the emission wavelength closest to the absorption maximum, and preferably within ± 10%. Further preferred.

同じく感度の点から、プロセスにおける露光光源(照射光源)の発光のいずれかの波長において、化合物(a)のモル吸光係数が0.1以上であることが好ましい。ここでモル吸光係数εとは、Lambert−Beerの法則から導き出される関係で、以下の式で表される。
A=εcb
A=吸光度
b=試料中の光路長(cm)
c=溶質の濃度(mol/L)
Similarly, in terms of sensitivity, the molar extinction coefficient of the compound (a) is preferably 0.1 or more at any wavelength of light emitted from the exposure light source (irradiation light source) in the process. Here, the molar extinction coefficient ε is a relationship derived from Lambert-Beer's law and is expressed by the following equation.
A = εcb
A = absorbance b = optical path length in the sample (cm)
c = Concentration of solute (mol / L)

通常、同じ濃度の溶液を用い、同じ光路長のセルによって、入射波長を変化させながら吸光度の変化を記録すると、波長によって吸光度が変化し、測定対象とされる化合物に固有の波長において最大モル吸光係数εMAXを示す。上記露光波長における前記化合物(a)のモル吸光係数が0.1以上とは、当該化合物(a)を用いて露光を行う際に採用する波長のいずれかで測定した時のモル吸光係数が0.1以上と言う意味であり、最大モル吸光係数εMAXが0.1以上と言う意味ではない。 Normally, when the change in absorbance is recorded while changing the incident wavelength with a cell having the same optical path length using the same concentration solution, the absorbance changes depending on the wavelength, and the maximum molar absorption at the wavelength specific to the compound to be measured. The coefficient ε MAX is shown. The molar extinction coefficient of the compound (a) at the exposure wavelength is 0.1 or more when the molar extinction coefficient when measured at any of the wavelengths employed when performing exposure using the compound (a) is 0. The maximum molar extinction coefficient ε MAX does not mean 0.1 or more.

一般的な高圧水銀ランプの場合、365nm(i線)、405nm(h線)、436nm(g線)の3つの大きな発光があるが、実際は、333nm等にも発光があるため、これらの波長付近に化合物(a)の吸収極大があれば良い。また、F2エキシマレーザー(157nm)、ArFエキシマレーザー(193nm)、KrFエキシマレーザー(248nm)等で照射を行なう場合には、これらの波長付近に吸収を有していればよい。具体的には、365nm付近の吸収極大は365±73nmの範囲に入るのが好ましく、365±37nmの範囲に入るのがさらに好ましい。   In the case of a general high-pressure mercury lamp, there are three large light emissions of 365 nm (i-line), 405 nm (h-line), and 436 nm (g-line). It suffices if the compound (a) has an absorption maximum. In addition, when irradiation is performed with an F2 excimer laser (157 nm), an ArF excimer laser (193 nm), a KrF excimer laser (248 nm), etc., it is only necessary to have absorption near these wavelengths. Specifically, the absorption maximum near 365 nm is preferably in the range of 365 ± 73 nm, and more preferably in the range of 365 ± 37 nm.

上記した汎用性の高い露光光原の主要な発光波長である157nm、193nm、248nm、365nm、405nm、436nmのいずれかの波長の少なくとも一つと重なる領域に吸収波長が重なる場合には、露光波長として利用するのに便利であり、その波長におけるモル吸光係数が0.1以上であることが特に好ましい。   When the absorption wavelength overlaps with a region that overlaps at least one of the wavelengths 157 nm, 193 nm, 248 nm, 365 nm, 405 nm, and 436 nm, which are the main emission wavelengths of the above-described highly versatile exposure light source, the exposure wavelength is It is convenient to use, and it is particularly preferable that the molar extinction coefficient at the wavelength is 0.1 or more.

所望の波長に対して吸収波長をシフトさせる為に、どのような置換基を導入したら良いかという指針として、Interpretation of the Ultraviolet Spectra of Natural Products (A.I.Scott 1964)や、有機化合物のスペクトルによる同定法 第5版(R.M.Silverstein 1993)に記載の表を参考にすることができる。   Interpretation of the Ultraviolet Spectra of Natural Products (AIScott 1964) and identification methods by spectrum of organic compounds as a guideline on what substituents should be introduced to shift the absorption wavelength relative to the desired wavelength You can refer to the table described in the fifth edition (RMSilverstein 1993).

上記化合物(a)からなる本発明の光ラジカル発生剤を用いる場合には、自己開裂型光ラジカル発生部位の開裂により生成した断片が、エチレン性不飽和基を介して硬化物のマトリックス構造に結合するので、マトリックス構造から独立した揮発性の高い低分子分解物の残留が極めて少ない。従って、最終的に得られる硬化膜の安定性も向上し、塗膜の耐光性悪化、着色や退色、塗膜の剥がれやクラックを防止することができる。   When the photoradical generator of the present invention comprising the above compound (a) is used, fragments generated by cleavage of the self-cleaving photoradical generation site are bonded to the matrix structure of the cured product via the ethylenically unsaturated group. Therefore, the residue of highly volatile low-molecular decomposition products independent of the matrix structure is extremely small. Therefore, the stability of the finally obtained cured film is also improved, and deterioration of the light resistance of the coating film, coloring and fading, peeling of the coating film and cracking can be prevented.

耐熱性の点から、本発明に係る光ラジカル発生剤の5%重量減少温度は、50℃以上であることが好ましく、100℃以上であることが更に好ましく、130℃以上であることが特に好ましい。
ここで、5%重量減少温度とは、後述の本発明の実施例と同様の手法で、熱重量分析装置を用いて重量減少を測定した時に、サンプルの重量が初期重量から5%減少した時点の温度である。同様に10%重量減少温度とはサンプル重量が初期重量から10%減少した時点の温度である。
上記光ラジカル発生剤は、塗布適性、硬化後の透明性、露光時の感度等を向上させる点から、樹脂組成物に配合する時の溶解性が高いことが好ましい。
From the viewpoint of heat resistance, the 5% weight loss temperature of the photoradical generator according to the present invention is preferably 50 ° C. or higher, more preferably 100 ° C. or higher, and particularly preferably 130 ° C. or higher. .
Here, the 5% weight reduction temperature is the time when the weight of the sample is reduced by 5% from the initial weight when the weight reduction is measured using a thermogravimetric analyzer in the same manner as in the examples of the present invention described later. Temperature. Similarly, the 10% weight reduction temperature is a temperature at which the sample weight is reduced by 10% from the initial weight.
The above-mentioned photoradical generator preferably has high solubility when blended in the resin composition from the viewpoint of improving the coating suitability, the transparency after curing, the sensitivity during exposure, and the like.

塗布時の塗工適性の点からは、光ラジカル発生剤は特に溶剤に対する溶解性が高いことが好ましい。具体的には、使用する溶剤、特に後述する汎用溶剤のいずれかに対する光ラジカル発生剤の溶解性が0.1重量%以上であることが好ましい。   From the viewpoint of coating suitability during coating, the photoradical generator is particularly preferably highly soluble in a solvent. Specifically, it is preferable that the solubility of the photoradical generator in the solvent to be used, particularly a general-purpose solvent described later, is 0.1% by weight or more.

また、溶剤を用いて透明に溶解した樹脂組成物であっても、その中に含有される固形分同士の相溶性が低い場合には、塗膜を乾燥している途中で塗膜内に析出物が生じ、充分な透明性が得られない。そのため、光学部材のように透明性が高い塗膜又は成形体が要求される場合には、樹脂組成物中の他の固形成分、特にエチレン性不飽和基を有する化合物等のラジカル反応性化合物との相溶性が高い光ラジカル発生剤を用いることが好ましい。高い透明性が求められる場合には、樹脂組成物を硬化させて形成した塗膜の膜厚が10μmの時に、全光線透過率(JIS K7105)が90%以上であることが好ましく、95%以上であることが更に好ましい。   Also, even if the resin composition is transparently dissolved using a solvent, if the compatibility of the solids contained in the resin composition is low, it is deposited in the coating film while it is being dried. A thing is produced and sufficient transparency cannot be obtained. Therefore, when a highly transparent coating film or molded body is required as in an optical member, other solid components in the resin composition, particularly radical reactive compounds such as compounds having an ethylenically unsaturated group, It is preferable to use a photoradical generator having high compatibility. When high transparency is required, the total light transmittance (JIS K7105) is preferably 90% or more and 95% or more when the thickness of the coating film formed by curing the resin composition is 10 μm. More preferably.

光ラジカル発生剤のラジカル反応性化合物に対する溶解性が高い場合には、開始剤としての作用が向上するので、露光時の感度にも優れる。この点から、モノマー成分の代表としてアクリル酸メチルを用いて溶解性を評価したときに、光ラジカル発生剤の20℃におけるアクリル酸メチルに対する飽和濃度が、0.01mol/L以上であることが好ましい。   When the solubility of the photoradical generator in the radical reactive compound is high, the action as an initiator is improved, so that the sensitivity at the time of exposure is also excellent. From this point, when the solubility is evaluated using methyl acrylate as a representative monomer component, the saturation concentration of the photoradical generator with respect to methyl acrylate at 20 ° C. is preferably 0.01 mol / L or more. .

光ラジカル発生剤の溶解性又は相溶性は、溶解させたい溶剤又は相溶させたい他の固形成分を考慮して化合物(a)の置換基(例えば上記R〜R)や連結構造(例えば上記X)を選定することにより向上させることができる。例えば、置換基としてカルボキシル基を選択した場合には、水や有機極性溶剤に溶解し易くなり、エステルを導入した場合には、エステル結合を有する溶剤や化合物への溶解性が向上する。 The solubility or compatibility of the photoradical generator is determined by taking into account the solvent to be dissolved or other solid components to be compatible, such as the substituents (for example, R 4 to R 7 ) and the linked structure (for example, R 4 to R 7 above). It can be improved by selecting X). For example, when a carboxyl group is selected as a substituent, it becomes easy to dissolve in water or an organic polar solvent, and when an ester is introduced, the solubility in a solvent or compound having an ester bond is improved.

本発明の光ラジカル発生剤である化合物(a)は、公知の種々の手法を用いて合成することができる。例えば、自己解裂型光ラジカル発生部位を持つ化合物を先ず合成し、その後、当該化合物へエチレン性不飽和基を導入する手法や、自己解裂型光ラジカル発生部位の構造に誘導可能な前駆体に先ずエチレン性不飽和基を導入し、その後、前駆体の一部を自己解裂型光ラジカル発生部位に誘導する手法等が挙げられるが、特に限定されない。   The compound (a) which is the photoradical generator of the present invention can be synthesized using various known methods. For example, a method of first synthesizing a compound having a self-cleaving photoradical generation site and then introducing an ethylenically unsaturated group into the compound, or a precursor that can be induced to the structure of the self-cleaving photoradical generation site First, an ethylenically unsaturated group is introduced, and then a method of inducing a part of the precursor to a self-cleaving type photoradical generation site is mentioned, but it is not particularly limited.

上記式(a4)で表される化合物を合成する手法をこれより具体的に例示するが、本発明は下記方法により限定されるものではない。
先ず、原料としては、水酸基やアミノ基等の活性水素を有する置換基を持つ自己開裂型ラジカル発生剤を用いる。エチレン性不飽和基は、上記活性水素の部分に置換する。このような原料化合物は特に限定されないが、例えば、α−アミノアセトフェノンのベンゾフェノン部位にカプロラクトン変性した化合物を用いることができる。カプロラクトン変性部分は、1個から数個のカプロラクトンを含んでいるものを用いることができる。このようなα−アミノアセトフェノンのカプロラクトン変性体の市販品としては、LUNA750(商品名:日本シイベルヘグナー(株))がある。
The method for synthesizing the compound represented by the above formula (a4) will be specifically illustrated below, but the present invention is not limited by the following method.
First, as a raw material, a self-cleaving radical generator having a substituent having an active hydrogen such as a hydroxyl group or an amino group is used. The ethylenically unsaturated group substitutes for the active hydrogen moiety. Although such a raw material compound is not particularly limited, for example, a compound obtained by modifying caprolactone at the benzophenone portion of α-aminoacetophenone can be used. As the caprolactone-modified moiety, one containing one to several caprolactones can be used. A commercial product of such a caprolactone-modified α-aminoacetophenone is LUNA750 (trade name: Nippon Siber Hegner Co., Ltd.).

次に、上記原料化合物と、トリエチルアミンを、脱水されたテトラヒドロフラン(THF)に投入し攪拌する。そこへアクリル酸クロライドを、反応液の薄層クロマトグラフィーで原料のスポットが無くなるまで徐々に添加し、必要に応じて引き続き、室温で1〜15時間程度、攪拌する。なお、反応溶媒は上記テトラヒドロフランに限定されず、有機極性溶媒等、最終生成物が溶解する溶媒であればよい。反応溶媒が脱水されていれば収率が向上するのでなお良い。   Next, the raw material compound and triethylamine are added to dehydrated tetrahydrofuran (THF) and stirred. Acrylic acid chloride is gradually added thereto until the spot of the raw material disappears by thin layer chromatography of the reaction solution, and subsequently stirred at room temperature for about 1 to 15 hours. The reaction solvent is not limited to the above tetrahydrofuran, and any solvent that dissolves the final product, such as an organic polar solvent, may be used. It is even better if the reaction solvent is dehydrated because the yield is improved.

上記攪拌後、反応液を分液ろうとに移し、1N・HClで処理し、トリエチルアミンを水層に移動させる。水層と油層に分離した後、油層を更に飽和NaHCO溶液で処理し、未反応のアクリル酸クロライド由来のアクリル酸を水層に移動させ、油層と水層を分離する。分離した油層を、硫酸マグネシウム等の適当な脱水剤で脱水し、ろ過を行なう。このろ液から溶媒を留去したものをカラムクロマトグラフィーや再結晶等で生成すれば、目的物が得られる。 After the stirring, the reaction solution is transferred to a separatory funnel, treated with 1N · HCl, and triethylamine is transferred to the aqueous layer. After separating into an aqueous layer and an oil layer, the oil layer is further treated with a saturated NaHCO 3 solution, acrylic acid derived from unreacted acrylic acid chloride is moved to the aqueous layer, and the oil layer and the aqueous layer are separated. The separated oil layer is dehydrated with a suitable dehydrating agent such as magnesium sulfate and filtered. A product obtained by distilling off the solvent from the filtrate can be produced by column chromatography, recrystallization or the like to obtain the target product.

このようにして得られる本発明の光ラジカル発生剤は、自己開裂型の高い反応ポテンシャル(高感度)を持ちながら、光ラジカル開始剤由来の断片をマトリックス中に固定する能力が高く、溶剤やモノマー成分との溶解性にも優れているため、光を照射して励起させることによりラジカル重合等のラジカル反応を開始、進行させるための光ラジカル発生剤として用いられる。また、本発明の光ラジカル発生剤は、自己開裂型光ラジカル開始剤としての機能と重合性化合物としての機能を持っているので、それ自体が光ラジカル開始作用をもつ硬化反応性成分としても好適に用いられる。   The photo radical generator of the present invention thus obtained has a high self-cleavage type reaction potential (high sensitivity), and has a high ability to fix a fragment derived from a photo radical initiator in a matrix. Since it is excellent in solubility with components, it is used as a photo radical generator for initiating and advancing radical reactions such as radical polymerization by irradiating and exciting light. Further, since the photo radical generator of the present invention has a function as a self-cleaving photo radical initiator and a function as a polymerizable compound, it is suitable as a curing reactive component having a photo radical initiating action itself. Used for.

次に、本発明に係る感光性樹脂組成物(以下、単に「樹脂組成物」という。)について説明する。
本発明に係る樹脂組成物は、上述した光ラジカル発生剤を必須成分として含有し、必要に応じて、エチレン性不飽和基を有する化合物(b)、化合物(b)以外のラジカル反応性化合物、又は、ラジカル反応性化合物以外の硬化反応性化合物、高分子量のバインダー成分、水素供与体、化合物(a)以外のラジカル発生剤、又は、その他の成分を含有してもよい。
Next, the photosensitive resin composition according to the present invention (hereinafter simply referred to as “resin composition”) will be described.
The resin composition according to the present invention contains the above-mentioned photo radical generator as an essential component, and if necessary, a compound (b) having an ethylenically unsaturated group, a radical reactive compound other than the compound (b), Alternatively, a curing reactive compound other than the radical reactive compound, a high molecular weight binder component, a hydrogen donor, a radical generator other than the compound (a), or other components may be contained.

本発明に係る樹脂組成物を所定のパターンに塗布するか或いは所定の形状に成形した後に光照射を行うと、光ラジカル反応が開始され、配合成分によってラジカル重合、ラジカル二量化、ラジカル架橋等の様々なラジカル反応が進行し、硬化及び/又は溶解性の変化を引き起こす。このラジカル反応の際に、化合物(a)からなる光ラジカル発生剤は、自己開裂型ラジカル発生剤として作用し、効率良くラジカルを発生させるので、高い感度が得られる。また、化合物(a)は、少なくとも1個のエチレン性不飽和基を有するので、開裂により生成した断片の少なくとも一方は、エチレン性不飽和基の反応により硬化物のマトリックスに結合し、その化学構造の一部となる。その結果、ラジカル発生剤に由来する低分子分解物の量は、従来の自己開裂型ラジカル発生剤を用いる場合と比べて極めて少ない。従って、露光時やポストベーク時に、低分子分解物の揮発量が少なくなり、臭気が軽減し、揮発した低分子分解物の再凝固も少なくなる。また、硬化後の成形体や塗膜は、マトリックスから独立した状態で存在する低分子分解物の残留が少ないため、高耐熱性、高安定性となる効果がある。従って、最終製品の信頼性を低下させる問題も解決する。   When the resin composition according to the present invention is applied in a predetermined pattern or formed into a predetermined shape and then irradiated with light, a photoradical reaction is initiated, and radical polymerization, radical dimerization, radical crosslinking, etc. Various radical reactions proceed, causing changes in curing and / or solubility. In this radical reaction, the photoradical generator composed of the compound (a) acts as a self-cleaving radical generator and efficiently generates radicals, so that high sensitivity can be obtained. Further, since the compound (a) has at least one ethylenically unsaturated group, at least one of the fragments generated by cleavage is bonded to the matrix of the cured product by the reaction of the ethylenically unsaturated group, and its chemical structure Part of As a result, the amount of the low-molecular decomposition product derived from the radical generator is extremely small compared to the case of using a conventional self-cleaving radical generator. Therefore, the amount of volatilization of the low-molecular decomposition product is reduced during exposure and post-baking, the odor is reduced, and re-coagulation of the volatilized low-molecular decomposition product is also reduced. Moreover, since the molded object and coating film after hardening have few low molecular decomposition products which exist in the state independent of the matrix, there exists an effect of becoming high heat resistance and high stability. Therefore, the problem of reducing the reliability of the final product is also solved.

さらに、上記化合物(a)からなる光ラジカル発生剤はエチレン性不飽和基を有しておりラジカル反応性化合物としても機能するため、本発明では、他のラジカル反応性化合物を混合しなくても光硬化性を有する樹脂組成物を調製することができる。   Furthermore, since the photoradical generator composed of the compound (a) has an ethylenically unsaturated group and functions as a radical reactive compound, in the present invention, it is not necessary to mix other radical reactive compounds. A resin composition having photocurability can be prepared.

ここで、架橋とは、架橋結合を生成することをいい、架橋結合とは、鎖状に結合した原子からなる分子のうちの任意の2原子間に橋をかけるようにして形成された結合をいい、この場合の結合は、同一分子内でも他分子間でも良い(化学辞典 東京化学同人 p.1082)。なお、ここでの「鎖状」には、脂環式環状構造が含まれる。   Here, the term “crosslinking” refers to generation of a crosslinking bond, and the term “crosslinking” refers to a bond formed by bridging any two atoms among molecules composed of atoms bonded in a chain. In this case, the bond may be within the same molecule or between other molecules (Chemical Dictionary Tokyo Chemical Doujin p.1082). Here, “chain” includes an alicyclic ring structure.

エチレン性不飽和基を有する化合物(b)は、ラジカル重合可能な硬化反応性化合物として従来から広く利用されており、応用範囲が広いことから、本発明においても好適に用いられる。化合物(b)としては、エチレン性不飽和結合を1つ又は2つ以上有する化合物、及び、少なくとも1つのエチレン性不飽和結合と共に他の官能基を有する化合物を用いることができ、例えば、前述したエチレン性不飽和基含有化合物、更に、アミド系モノマー、(メタ)アクリレートモノマー、ウレタン(メタ)アクリレートオリゴマー、ポリエステル(メタ)アクリレートオリゴマー、エポキシ(メタ)アクリレート、及びヒドロキシル基含有(メタ)アクリレート、スチレン等の芳香族ビニル化合物を挙げることができる。ここで、(メタ)アクリレートとは、アクリレート又はメタクリレートのいずれであっても良いことを意味する。   The compound (b) having an ethylenically unsaturated group has been heretofore widely used as a radically polymerizable curing reactive compound and has a wide range of applications, and is therefore preferably used in the present invention. As the compound (b), a compound having one or more ethylenically unsaturated bonds and a compound having another functional group together with at least one ethylenically unsaturated bond can be used. Ethylenically unsaturated group-containing compound, amide monomer, (meth) acrylate monomer, urethane (meth) acrylate oligomer, polyester (meth) acrylate oligomer, epoxy (meth) acrylate, hydroxyl group-containing (meth) acrylate, styrene An aromatic vinyl compound such as Here, (meth) acrylate means that either acrylate or methacrylate may be used.

アミド系モノマーとしては、N−ビニルピロリドン、N−ビニルカプロラクタム、アクリロイルモルフォリン等のアミド化合物がある。
(メタ)アクリレートモノマーとしては、ヘキサヒドロフタルイミドエチルアクリレート、コハクイミドエチルアクリレート等のイミドアクリレート類;2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−フェニルプロピルアクリレート等のヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート類;フェノキシエチル(メタ)アクリレート等のフェノールのアルキレンオキシド付加物のアクリレート類及びそのハロゲン核置換体;エチレングリコールのモノまたはジ(メタ)アクリレート、メトキシエチレングリコールのモノ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールのモノまたはジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールのモノまたはジ(メタ)アクリレート等の、グリコールのモノまたはジ(メタ)アクリレート類;トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレートおよびペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート等のポリオールおよびそのアルキレンオキサイドの(メタ)アクリル酸エステル化物、イソシアヌール酸EO変性ジまたはトリ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
Examples of the amide monomer include amide compounds such as N-vinylpyrrolidone, N-vinylcaprolactam, and acryloylmorpholine.
Examples of (meth) acrylate monomers include imide acrylates such as hexahydrophthalimidoethyl acrylate and succinimide ethyl acrylate; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxy-3-phenylpropyl Hydroxyalkyl (meth) acrylates such as acrylates; acrylates of alkylene oxide adducts of phenols such as phenoxyethyl (meth) acrylates and their halogen nucleus substitutions; mono- or di (meth) acrylates of ethylene glycol, methoxyethylene glycols Mono (meth) acrylate, tetraethylene glycol mono or di (meth) acrylate, tripropylene glycol mono or di (meth) acrylate, etc. Mono- or di (meth) acrylates of glycols; polyols such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate and pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexaacrylate and alkylene oxides thereof ( Examples include meth) acrylic ester, isocyanuric acid EO-modified di- or tri (meth) acrylate.

ウレタン(メタ)アクリレートオリゴマーとしては、ポリオールと有機ポリイソシアネートの反応物に対して、さらにヒドロキシル基含有(メタ)アクリレートを反応させた反応物等が挙げられる。
ここで、ポリオールとしては、低分子量ポリオール、ポリエチレングリコール及びポリエステルポリオール等があり、低分子量ポリオールとしては、エチレングリコール、プロピレングリコール、シクロヘキサンジメタノール及び3−メチル−1,5−ペンタンジオール等が挙げられ、ポリエーテルポリオールとしては、ポリエチレングリコール及びポリプロピレングリコール等が挙げられ、ポリエステルポリオールとしては、これら低分子量ポリオール及び/又はポリエーテルポリオールと、アジピン酸、コハク酸、フタル酸、ヘキサヒドロフタル酸及びテレフタル酸等の二塩基酸又はその無水物等の酸成分との反応物が挙げられる。
Examples of the urethane (meth) acrylate oligomer include a reaction product obtained by further reacting a hydroxyl group-containing (meth) acrylate with a reaction product of a polyol and an organic polyisocyanate.
Here, examples of the polyol include a low molecular weight polyol, polyethylene glycol, and polyester polyol, and examples of the low molecular weight polyol include ethylene glycol, propylene glycol, cyclohexanedimethanol, and 3-methyl-1,5-pentanediol. Examples of the polyether polyol include polyethylene glycol and polypropylene glycol. Examples of the polyester polyol include these low molecular weight polyols and / or polyether polyols, adipic acid, succinic acid, phthalic acid, hexahydrophthalic acid, and terephthalic acid. And a reaction product with an acid component such as a dibasic acid or an anhydride thereof.

また、上記ポリオールと反応させる有機ポリイソシアネートとしては、トリレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート及びイソホロンジイソシアネート等が挙げられる。   Examples of the organic polyisocyanate to be reacted with the polyol include tolylene diisocyanate, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 4,4'-dicyclohexylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, and isophorone diisocyanate.

ポリエステル(メタ)アクリレートオリゴマーとしては、ポリエステルポリオールと(メタ)アクリル酸との脱水縮合物が挙げられる。ポリエステルポリオールとしては、エチレングリコール、ポリエチレングリコール、シクロヘキサンジメタノール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、プロピレングリコール、ポリプロピレングリコール、1,6−ヘキサンジオール及びトリメチロールプロパン等の低分子量ポリオール、並びにこれらのアルキレンオキシド付加物等のポリオールと、アジピン酸、コハク酸、フタル酸、ヘキサヒドロフタル酸及びテレフタル酸等の二塩基酸又はその無水物等の酸成分とからの反応物等が挙げられる。   As a polyester (meth) acrylate oligomer, the dehydration condensate of a polyester polyol and (meth) acrylic acid is mentioned. Examples of the polyester polyol include low molecular weight polyols such as ethylene glycol, polyethylene glycol, cyclohexanedimethanol, 3-methyl-1,5-pentanediol, propylene glycol, polypropylene glycol, 1,6-hexanediol and trimethylolpropane, and these And a reaction product from a polyol such as an alkylene oxide adduct and an acid component such as a dipic acid such as adipic acid, succinic acid, phthalic acid, hexahydrophthalic acid and terephthalic acid, or an anhydride thereof.

エポキシ(メタ)アクリレートは、エポキシ樹脂に(メタ)アクリル酸等の不飽和カルボン酸を付加反応させたもので、ビスフェノールA型エポキシ樹脂のエポキシ(メタ)アクリレート、フェノールあるいはクレゾールノボラック型エポキシ樹脂のエポキシ(メタ)アクリレート、ポリエーテルのジグリシジルエーテルの(メタ)アクリル酸付加反応体等が挙げられる。   Epoxy (meth) acrylate is obtained by addition reaction of unsaturated carboxylic acid such as (meth) acrylic acid to epoxy resin. Epoxy (meth) acrylate of bisphenol A type epoxy resin, epoxy of epoxy or cresol novolac type epoxy resin (Meth) acrylate, (meth) acrylic acid addition reactant of diglycidyl ether of polyether, and the like.

エチレン性不飽和基を有する化合物は、ラジカル重合性化合物又はラジカル重合以外のラジカル反応性化合物を3次元架橋する点からはエチレン性不飽和結合を2個以上、特に3個以上有することが好ましい。   The compound having an ethylenically unsaturated group preferably has 2 or more, particularly 3 or more ethylenically unsaturated bonds from the viewpoint of three-dimensional crosslinking of a radically polymerizable compound or a radically reactive compound other than radically polymerized.

また、樹脂組成物を、電子部材やカラーフィルター等の用途で露光によりパターンを形成するレジストとして用いる場合には、樹脂組成物のアルカリ現像性を向上させるために、エチレン性不飽和基を有する化合物(b)として、カルボキシル基やフェノール性水酸基、スルホン酸基、水酸基等のアルカリ可溶性や、親水性の官能基を有するものを用いても良い。
また、化合物(b)等のラジカル反応性の硬化性成分は、照射光に対する樹脂組成物の感度を阻害しないために、照射波長と自己開裂型光ラジカル発生部位の吸収波長が重なる波長領域に吸収を持たないことが好ましい。
In addition, when the resin composition is used as a resist for forming a pattern by exposure in applications such as an electronic member and a color filter, a compound having an ethylenically unsaturated group is used to improve the alkali developability of the resin composition. As (b), an alkali-soluble or hydrophilic functional group such as a carboxyl group, a phenolic hydroxyl group, a sulfonic acid group, or a hydroxyl group may be used.
In addition, the radical-reactive curable component such as compound (b) absorbs in the wavelength region where the irradiation wavelength and the absorption wavelength of the self-cleaving photoradical generation site overlap in order not to hinder the sensitivity of the resin composition to the irradiation light. It is preferable not to have.

本発明の感光性樹脂組成物には、当該組成物の未硬化状態での成膜性及び硬化後の塗膜物性を調節するために、バインダー樹脂として高分子化合物又はラジカル反応以外の反応形式を持つ硬化反応性化合物を配合しても良い。
上記バインダー樹脂としては、樹脂組成物の用途に合わせて公知のあらゆる高分子化合物又はラジカル反応以外の反応形式をもつ硬化反応性化合物を用いることができる。また、高分子化合物としては、非反応性高分子、及び、エチレン性不飽和基等の硬化性反応基を持つ高分子のいずれを用いても良い。
In the photosensitive resin composition of the present invention, in order to adjust the film formability of the composition in an uncured state and the physical properties of the coated film after curing, a reaction method other than a polymer compound or radical reaction is used as a binder resin. A cured reactive compound may be blended.
As the binder resin, any known polymer compound or a curing reactive compound having a reaction form other than a radical reaction can be used according to the use of the resin composition. As the polymer compound, any of a non-reactive polymer and a polymer having a curable reactive group such as an ethylenically unsaturated group may be used.

例えば、トリレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート及びイソホロンジイソシアネート等の有機ポリイソシアネート;酢酸ビニル、塩化ビニル、アクリル酸エステル、メタクリル酸エステル等のアクリル又はビニル化合物の重合体及び共重合体;ポリスチレン等のスチレン系樹脂;ホルマール樹脂やブチラール樹脂等のアセタール樹脂;シリコーン樹脂;フェノキシ樹脂;ビスフェノールA型エポキシ樹脂等に代表されるエポキシ樹脂;ポリウレタン等のウレタン樹脂;フェノール樹脂;ケトン樹脂;キシレン樹脂;ポリアミド樹脂;ポリイミド樹脂;ポリエーテル樹脂;ポリフェニレンエーテル樹脂;ポリベンゾオキサゾール樹脂;環状ポリオレフィン樹脂;ポリカーボネート樹脂;ポリエステル樹脂;ポリアリレート樹脂;ポリスチレン樹脂;ノボラック樹脂;ポリカルボジイミド、ポリベンゾイミダゾール、ポリノルボルネン等の脂環式高分子;シロキサン系高分子等の公知のあらゆる高分子化合物又は硬化反応性化合物が挙げられる。   For example, organic polyisocyanates such as tolylene diisocyanate, 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, 4,4′-dicyclohexylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate and isophorone diisocyanate; vinyl acetate, vinyl chloride, acrylate ester, methacrylate ester, etc. Polymers and copolymers of acrylic or vinyl compounds; styrene resins such as polystyrene; acetal resins such as formal resins and butyral resins; silicone resins; phenoxy resins; epoxy resins typified by bisphenol A type epoxy resins; polyurethanes, etc. Urethane resin; phenol resin; ketone resin; xylene resin; polyamide resin; polyimide resin; polyether resin; polyphenylene ether resin; Zole resin; Cyclic polyolefin resin; Polycarbonate resin; Polyester resin; Polyarylate resin; Polystyrene resin; Novolak resin; Cycloaliphatic polymer such as polycarbodiimide, polybenzimidazole, polynorbornene; Examples thereof include molecular compounds and curing reactive compounds.

これらの高分子化合物又はラジカル反応以外の硬化反応性化合物は、単独で用いても、2種以上を組合わせて用いても良い。バインダー成分である高分子化合物は、樹脂組成物の用途にもよるが重量平均分子量が通常、3000以上であることが好ましい。また、分子量が大きすぎると、溶解性や加工特性の悪化を招くことから、重量平均分子量が通常、10,000,000以下であることが好ましい。   These polymer compounds or curing reactive compounds other than radical reactions may be used alone or in combination of two or more. The polymer compound as the binder component preferably has a weight average molecular weight of usually 3000 or more, depending on the use of the resin composition. In addition, if the molecular weight is too large, the solubility and processing characteristics are deteriorated. Therefore, the weight average molecular weight is usually preferably 10,000,000 or less.

樹脂組成物中における本発明の光ラジカル発生剤の量は、良好な硬化速度と高い架橋密度を確保し、塗膜の強度やガラス転移温度を向上させるためには充分なラジカル発生量を得る必要があり、かかる点から樹脂組成物の固形分全体の0.1重量%以上であることが好ましい。さらに、照射感度や塗膜の物性の点から、光ラジカル発生剤の量は、樹脂組成物の固形分全体の1重量%以上であることが好ましい。なお、感光性樹脂組成物の固形分とは溶剤以外の全成分であり、液状のモノマー成分も固形分に含まれる。   The amount of the photoradical generator of the present invention in the resin composition is required to obtain a sufficient radical generation amount in order to ensure a good curing rate and high crosslinking density and to improve the strength and glass transition temperature of the coating film. From this point, it is preferably 0.1% by weight or more of the total solid content of the resin composition. Furthermore, from the viewpoint of irradiation sensitivity and physical properties of the coating film, the amount of the photo radical generator is preferably 1% by weight or more of the total solid content of the resin composition. In addition, solid content of the photosensitive resin composition is all components other than a solvent, and a liquid monomer component is also contained in solid content.

エチレン性不飽和基を有する化合物(b)は、充分な光硬化性を得るために、樹脂組成物の固形分全体の1重量%以上であることが好ましい。なお、化合物(b)及びその他のラジカル反応性化合物に対する光ラジカル発生剤の混合割合は、それらのラジカル反応性化合物の種類及び量、或いは、樹脂組成物の用途に応じて適宜選択できる。   In order to obtain sufficient photocurability, the compound (b) having an ethylenically unsaturated group is preferably 1% by weight or more based on the entire solid content of the resin composition. In addition, the mixing ratio of the photo radical generator with respect to the compound (b) and other radical reactive compounds can be appropriately selected according to the type and amount of these radical reactive compounds or the use of the resin composition.

高分子又はラジカル反応以外の硬化反応性化合物等のバインダー樹脂を用いる場合には、用途に応じて、樹脂組成物全体の固形分の1重量%以上97重量%以下が好ましい。バインダー成分樹脂が97重量%よりも多い場合は、光による硬化性が低下しやすい。   When a binder resin such as a curable reactive compound other than a polymer or radical reaction is used, the content is preferably 1% by weight or more and 97% by weight or less based on the solid content of the entire resin composition. When there is more binder component resin than 97 weight%, the sclerosis | hardenability by light tends to fall.

本発明の樹脂組成物を光硬化させる際には、ラジカル反応を促進するために、必要に応じて化合物(a)と共に、その他の光ラジカル発生剤を使用しても良い。その他の光ラジカル発生剤を併用する場合には、当該他の光ラジカル発生剤が分解物を生じさせ、硬化膜の変色や物性、分解物の揮発、樹脂組成物の安定性、保存性等の問題を起こす可能性がある。しかしながら、化合物(a)の併用によって他の光ラジカル発生剤の使用量を少なくすることができるので、他の光ラジカル発生剤しか用いない場合と比べて、上記諸問題は発生し難く、仮に発生したとしても程度が軽いので、充分なラジカル反応性を引き出しながらも、光ラジカル発生剤による問題を実用的に許容できる程度に抑えることができる。   When the resin composition of the present invention is photocured, other photoradical generators may be used together with the compound (a) as necessary in order to promote the radical reaction. When other photoradical generators are used in combination, the other photoradical generators generate decomposition products, such as discoloration and physical properties of cured films, volatilization of decomposition products, stability of resin compositions, storage stability, etc. May cause problems. However, the combined use of compound (a) makes it possible to reduce the amount of other photoradical generators used, so that the above problems are less likely to occur than when only other photoradical generators are used. However, since the degree is light, the problem caused by the photo radical generator can be suppressed to a practically acceptable level while extracting sufficient radical reactivity.

その他の光ラジカル発生剤としては、例えば、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル及びベンゾインイソプロピルエーテル等のベンゾインとそのアルキルエーテル;アセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシ−2−フェニルアセトフェノン、1,1−ジクロロアセトフェノン、1−ヒドロキシアセトフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン及び2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−プロパン−1−オン等のアセトフェノン;2−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−ターシャリ−ブチルアントラキノン、1−クロロアントラキノン及び2−アミルアントラキノン等のアントラキノン;2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン及び2,4−ジイソピルチオキサントン等のチオキサントン;アセトフェノンジメチルケタール及びベンジルジメチルケタール等のケタール;2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド等のモノアシルホスフィンオキシドあるいはビスアシルホスフィンオキシド;ベンゾフェノン等のベンゾフェノン類;並びにキサントン類等が挙げられる。   Other photo radical generators include, for example, benzoin such as benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin isopropyl ether and alkyl ethers thereof; acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy 2-phenylacetophenone, 1,1-dichloroacetophenone, 1-hydroxyacetophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one, etc. Anthraquinone, such as 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone and 2-amylanthraquinone; Thioxanthones such as dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone and 2,4-diisopropylpyroxanthone; ketals such as acetophenone dimethyl ketal and benzyldimethyl ketal; 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide Monoacylphosphine oxides or bisacylphosphine oxides such as benzophenones such as benzophenone, and xanthones.

これらの光ラジカル発生剤は単独で使用することも、安息香酸系、アミン系等の光重合開始促進剤と組み合わせて使用することもできる。これら光ラジカル発生剤の好ましい配合割合は、樹脂組成物の固形分全体に対して0.1重量%以上35重量%以下で、より好ましくは、1重量%以上10重量%以下である。   These photo radical generators can be used alone or in combination with a photopolymerization initiation accelerator such as benzoic acid or amine. A preferable blending ratio of these photo radical generators is 0.1% by weight or more and 35% by weight or less, more preferably 1% by weight or more and 10% by weight or less based on the entire solid content of the resin composition.

本発明に係る樹脂組成物に加工特性や各種機能性を付与するために、その他に様々な有機又は無機の低分子又は高分子化合物を配合してもよい。例えば、染料、界面活性剤、レベリング剤、可塑剤、微粒子、増感剤等を用いることができる。微粒子には、ポリスチレン、ポリテトラフルオロエチレン等の有機微粒子、コロイダルシリカ、カーボン、層状珪酸塩等の無機微粒子等が含まれ、その機能又は形態としては顔料、フィラー、繊維等がある。
これら任意成分の配合割合は、樹脂組成物の固形分全体に対し、0.1重量%〜95重量%の範囲が好ましい。0.1重量%未満だと、添加物を添加した効果が発揮されにくく、95重量%を越えると、樹脂組成物の特性が最終生成物に反映されにくい。
In order to impart processing characteristics and various functionalities to the resin composition according to the present invention, various organic or inorganic low-molecular or high-molecular compounds may be blended. For example, dyes, surfactants, leveling agents, plasticizers, fine particles, sensitizers, and the like can be used. The fine particles include organic fine particles such as polystyrene and polytetrafluoroethylene, inorganic fine particles such as colloidal silica, carbon, and layered silicate, and the functions or forms include pigments, fillers, fibers, and the like.
The blending ratio of these optional components is preferably in the range of 0.1 wt% to 95 wt% with respect to the entire solid content of the resin composition. When the amount is less than 0.1% by weight, the effect of adding the additive is hardly exhibited, and when the amount exceeds 95% by weight, the characteristics of the resin composition are hardly reflected in the final product.

照射光を吸収してしまうような成分を樹脂組成物中に多量に配合する場合には、光ラジカル発生剤である化合物(a)に光が十分到達しなくなり、感度が低下する。そのため、樹脂組成物の感度を重視する点から、照射光源の発光波長と樹脂組成物に混合されている化合物(a)の吸収波長が重なる波長領域における、化合物(a)以外の成分の透過率が20%以上であることが好ましい。   When a large amount of a component that absorbs irradiation light is blended in the resin composition, light does not sufficiently reach the compound (a), which is a photoradical generator, and the sensitivity is lowered. Therefore, from the point of emphasizing the sensitivity of the resin composition, the transmittance of components other than the compound (a) in the wavelength region where the emission wavelength of the irradiation light source and the absorption wavelength of the compound (a) mixed in the resin composition overlap. Is preferably 20% or more.

また、本発明に係る樹脂組成物は、溶剤を用いて適切な濃度に希釈しても良い。溶剤としては各種の汎用溶剤、例えば、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル等のエーテル類;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールモノエーテル類(いわゆるセロソルブ類);メチルエチルケトン、アセトン、メチルイソブチルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキサノンなどのケトン類;酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、前記グリコールモノエーテル類の酢酸エステル(例えば、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテート)、メトキシプロピルアセテート、エトキシプロピルアセテート、修酸ジメチル、乳酸メチル、乳酸エチル等のエステル類;エタノール、プロパノール、ブタノール、ヘキサノール、シクロヘキサノール、エチレングリコール、ジエチレングリコール、グリセリン等のアルコール類;塩化メチレン、1,1−ジクロロエタン、1,2−ジクロロエチレン、1−クロロプロパン、1−クロロブタン、1−クロロペンタン、クロロベンゼン、ブロムベンゼン、o−ジクロロベンゼン、m−ジクロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素類;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド類;N−メチルピロリドンなどのピロリドン類;γ−ブチロラクトン等のラクトン類;ジメチルスルホキシドなどのスルホキシド類、その他の有機極性溶媒類等が挙げられ、更には、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、及び、その他の有機非極性溶媒類等も挙げられる。また、反応性希釈剤として、常温で液体のエチレン性不飽和化合物等、反応性基を構造中に有するような化合物を溶剤として用いても良い。これらの溶媒は単独もしくは組み合わせて用いられる。また、これら溶剤は、通常例えば孔径0.05μm〜0.2μm程度のフィルター等、既知の種々の方法で不純物を濾過して用いても良い。   Moreover, you may dilute the resin composition which concerns on this invention to a suitable density | concentration using a solvent. As the solvent, various general-purpose solvents such as diethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, propylene glycol dimethyl ether, propylene glycol diethyl ether, and the like; ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, Glycol monoethers such as propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether (so-called cellosolves); ketones such as methyl ethyl ketone, acetone, methyl isobutyl ketone, cyclopentanone, cyclohexanone; acetic acid Ethyl, butyl acetate, n acetate Propyl, i-propyl acetate, n-butyl acetate, i-butyl acetate, acetate esters of the above glycol monoethers (for example, methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate), methoxypropyl acetate, ethoxypropyl acetate, dimethyl oxalate, lactic acid Esters such as methyl and ethyl lactate; alcohols such as ethanol, propanol, butanol, hexanol, cyclohexanol, ethylene glycol, diethylene glycol, and glycerin; methylene chloride, 1,1-dichloroethane, 1,2-dichloroethylene, 1-chloropropane, Halogenated hydrocarbons such as 1-chlorobutane, 1-chloropentane, chlorobenzene, bromobenzene, o-dichlorobenzene, m-dichlorobenzene; N, N-dimethylform Amides such as amide, N, N-dimethylacetamide; pyrrolidones such as N-methylpyrrolidone; lactones such as γ-butyrolactone; sulfoxides such as dimethyl sulfoxide; and other organic polar solvents, and the like. , Aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene and xylene, and other organic nonpolar solvents. As the reactive diluent, a compound having a reactive group in the structure, such as an ethylenically unsaturated compound that is liquid at room temperature, may be used as a solvent. These solvents are used alone or in combination. In addition, these solvents may be used after filtering impurities by various known methods such as a filter having a pore size of about 0.05 μm to 0.2 μm.

樹脂組成物は、必須成分である光ラジカル発生剤に、必要に応じてエチレン性不飽和基を有する化合物(b)等の硬化反応性化合物、高分子バインダー成分等の任意成分を、場合や用途に応じて攪拌等して混合することにより調製できる。   The resin composition may contain optional components such as a curing reactive compound such as the compound (b) having an ethylenically unsaturated group, a polymer binder component, and the like, as necessary, on the photo radical generator that is an essential component. The mixture can be prepared by mixing with stirring.

このようにして得られる本発明に係る樹脂組成物は、パターン形成材料(レジスト)、コーティング材、印刷インキ、接着剤、充填剤、電子材料、成形材料、3次元造形等、光の照射によって硬化したり又は溶解性が変化する材料が用いられている公知の全ての分野・製品に利用できるが、特に、耐熱性が必要で高度の信頼性を要求される、塗料、印刷インキ、カラーフィルター、電子部品、層間絶縁膜、配線被覆膜、光学部材、光回路、光回路部品、反射防止膜、ホログラム又は建築材料を形成するのに適している。   The resin composition according to the present invention thus obtained is cured by irradiation with light, such as a pattern forming material (resist), a coating material, a printing ink, an adhesive, a filler, an electronic material, a molding material, and a three-dimensional modeling. It can be used in all known fields and products where materials that change or solubility change are used, but in particular, paints, printing inks, color filters, which require heat resistance and require high reliability. Suitable for forming electronic parts, interlayer insulating films, wiring coating films, optical members, optical circuits, optical circuit parts, antireflection films, holograms or building materials.

例えば、カラーフィルターの場合には、画素部、当該画素部の境界に設けられる遮光部(ブラックマトリックス)、保護膜、セルギャップを維持するためのスペーサーを上記感光性樹脂組成物の硬化物により形成することができる。
電子部品の場合には、例えば、半導体装置のアンダーフィル剤、封止剤、等が例示できる。
層間絶縁膜としては、耐熱性、絶縁信頼性が要求されるビルドアップ基板用の層間絶縁膜や燃料電池における層間絶縁膜、自動車部品や家電製品の絶縁コーティング、等を上記感光性樹脂組成物の硬化物により形成することができる。
For example, in the case of a color filter, a pixel portion, a light shielding portion (black matrix) provided at the boundary of the pixel portion, a protective film, and a spacer for maintaining a cell gap are formed from a cured product of the photosensitive resin composition. can do.
In the case of an electronic component, for example, an underfill agent and a sealant for a semiconductor device can be exemplified.
As the interlayer insulating film, an interlayer insulating film for a build-up substrate that requires heat resistance and insulating reliability, an interlayer insulating film for a fuel cell, an insulating coating for automobile parts and household appliances, etc. It can be formed by a cured product.

また、配線保護膜としては、プリント配線板の表面の配線保護層であるソルダーレジストや、電線の表面被覆、等が例示できる。
光学部材の場合には、各種光学レンズのオーバーコートや、反射防止膜、光導波路、分波装置等の光回路部品、レリーフ型、及び体積型のホログラム、等が例示できる。
建築材料の場合には、壁紙、壁材、床材その他の揮発成分の少ない表皮材料、接着・粘着材料、インキ等が例示できる。
本発明に係る印刷物、カラーフィルター、電子部品、層間絶縁膜、配線被覆膜、光学部材、光回路、光回路部品、反射防止膜、ホログラム又は建築材料は、高耐熱性、高安定性の感光性樹脂組成物の硬化物により少なくとも一部分が形成されているため、高耐熱性、高安定性であり、そのため生産の歩留まりも高いというメリットがある。
Examples of the wiring protective film include a solder resist that is a wiring protective layer on the surface of the printed wiring board, and a surface coating of the electric wire.
In the case of an optical member, examples thereof include overcoats of various optical lenses, optical circuit components such as antireflection films, optical waveguides, and branching devices, relief-type and volume-type holograms, and the like.
In the case of building materials, wallpaper materials, wall materials, floor materials, and other skin materials with low volatile components, adhesive / adhesive materials, inks, and the like can be exemplified.
The printed matter, color filter, electronic component, interlayer insulating film, wiring coating film, optical member, optical circuit, optical circuit component, antireflection film, hologram, or building material according to the present invention has high heat resistance and high stability. Since at least a part of the cured resin composition is formed, it has high heat resistance and high stability, and therefore has a merit of high production yield.

(実施例1)
500mlのなす型フラスコに、α−アミノアセトフェノンのベンゾフェノン部位に複数のカプロラクトン変性が施されたものの混合物であるLUNA750(商品名:日本シイベルヘグナー(株))5gと4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)12.5gと、乾燥させたトルエン 300mlを入れ、攪拌した。そこに、アクリル酸クロライド 3mlを滴下し、室温で1時間攪拌した。その後、反応液の薄層クロマトグラフィーで原料のスポットが無くなるまで、1時間おきにアクリル酸クロライドを1mlずつ滴下した。反応終了後、反応液を分液ろうとにて、蒸留水、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液で処理を行なった後に、有機溶剤層を硫酸マグネシウムで脱水し、ロータリーエバポレーターによって溶媒を留去した。その反応液をカラムクロマトグラフィーにて精製し、下記式(5)で表される化合物1を単離した。この化合物1は、末端にアクリロイル基が導入された6量体のカプロラクトン変成部位がラジカル発生部位のベンゾイル基側から伸びる構造を持つ。
Example 1
LUNA750 (trade name: Nippon Siebel Hegner Co., Ltd.) 5 g and 4-dimethylaminopyridine (DMAP) 12 which is a mixture of a benzophenone site of α-aminoacetophenone and a plurality of caprolactone modifications in a 500 ml eggplant type flask. 5 g and 300 ml of dried toluene were added and stirred. Thereto, 3 ml of acrylic acid chloride was added dropwise and stirred at room temperature for 1 hour. Thereafter, 1 ml of acrylic acid chloride was added dropwise every hour until the spot of the raw material disappeared by thin layer chromatography of the reaction solution. After completion of the reaction, the reaction solution was treated with distilled water and saturated aqueous sodium hydrogen carbonate solution in a separatory funnel, and then the organic solvent layer was dehydrated with magnesium sulfate, and the solvent was distilled off by a rotary evaporator. The reaction solution was purified by column chromatography to isolate Compound 1 represented by the following formula (5). This compound 1 has a structure in which a hexamer caprolactone modification site having an acryloyl group introduced at its terminal extends from the benzoyl group side of the radical generation site.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(実施例2)
実施例1のLUNA750の代わりに、下記式(6)で表される原料化合物Aと基本骨格が共通でカプロラクトン変性部位の繰り返し単位数が異なるものの混合物であって、当該原料化合物Aを主体とするものに、実施例1と同様の手法でアクリル酸クロライドを反応させ、精製して、下記式(7)で表される化合物2を単離した。この化合物2は、化合物(A)の3量体カプロラクトン変成部位末端にアクリロイル基が導入された構造を有する。
(Example 2)
In place of LUNA 750 of Example 1, the raw material compound A represented by the following formula (6) is a mixture having the same basic skeleton but different number of repeating units of caprolactone-modified sites, and mainly comprising the raw material compound A The product was reacted with acrylic acid chloride in the same manner as in Example 1 and purified to isolate compound 2 represented by the following formula (7). This compound 2 has a structure in which an acryloyl group is introduced at the terminal of the trimeric caprolactone modification site of the compound (A).

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(実施例3)
実施例1のLUNA750の代わりに、下記式(8)で表される原料化合物Bと基本骨格が共通でカプロラクトン変性部位の繰り返し単位数が異なるものの混合物であって、当該原料化合物Bを主体とするものに、実施例1と同様の手法でアクリル酸クロライドを反応させ、精製して、下記式(9)で表される化合物3を単離した。この化合物3は、化合物Bの3量体カプロラクトン変成部位の末端にアクリロイル基が導入された構造を有する。
(Example 3)
In place of LUNA 750 of Example 1, a raw material compound B represented by the following formula (8) is a mixture having the same basic skeleton but different number of repeating units of caprolactone-modified sites, and mainly comprising the raw material compound B The product was reacted with acrylic acid chloride in the same manner as in Example 1, purified, and the compound 3 represented by the following formula (9) was isolated. This compound 3 has a structure in which an acryloyl group is introduced at the terminal of the trimeric caprolactone modification site of compound B.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(実施例4)
実施例1のLUNA750の代わりに、下記式(10)で表される原料化合物Cと基本骨格が共通でカプロラクトン変性部位の繰り返し単位数が異なるものの混合物であって、当該原料化合物Cを主体とするものに、実施例1と同様の手法でアクリル酸クロライドを反応させ、精製して、下記式(11)で表される化合物4を単離した。この化合物4は、化合物Cの3量体カプロラクトン変成部位の末端にアクリロイル基が導入された構造を有する。
Example 4
In place of LUNA 750 of Example 1, the raw material compound C represented by the following formula (10) is a mixture having the same basic skeleton but different number of repeating units of the caprolactone-modified site, and mainly comprising the raw material compound C The product was reacted with acrylic acid chloride in the same manner as in Example 1 and purified to isolate Compound 4 represented by the following formula (11). This compound 4 has a structure in which an acryloyl group is introduced at the end of the trimeric caprolactone modification site of compound C.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

2.評価試験
(1)耐熱性評価
差動型示差熱天秤(製品名:TG8120、(株)リガク製)を用いて、窒素雰囲気下、10℃/minの昇温速度で、化合物1の5%重量減少温度を測定した。比較例として、LUNA750(商品名、日本シイベルヘグナー(株))及びイルガキュア907(商品名、チバスペシャルティケミカルズ製)についても、同様に測定を行なった。LUNA750とイルガキュア907は、いずれも自己解裂型光ラジカル開始剤である。特にLUNA750は、化合物1の原料であり、カプロラクトン変成部位がラジカル発生部位のベンゾイル基側から伸びる構造を持つ。
2. Evaluation test (1) Evaluation of heat resistance 5% by weight of Compound 1 at a heating rate of 10 ° C./min in a nitrogen atmosphere using a differential type differential thermal balance (product name: TG8120, manufactured by Rigaku Corporation) The decrease temperature was measured. As a comparative example, the same measurement was performed for LUNA750 (trade name, Nippon Shibel Hegner Co., Ltd.) and Irgacure 907 (trade name, manufactured by Ciba Specialty Chemicals). Both LUNA750 and Irgacure 907 are self-cleaving photoradical initiators. In particular, LUNA750 is a raw material for Compound 1, and has a structure in which the caprolactone modification site extends from the benzoyl group side of the radical generation site.

化合物1及び各比較化合物の5%重量減少温度を表1に示す。化合物1は、アクリロイル基を導入することで、同一骨格の光重合開始部位を有するLUNA750やIrg907に比べて、大幅に5%重量減少温度が向上したことが確認された。この結果より、自己開裂型光ラジカル発生剤にアクリロイル基を導入することで耐熱性が向上し、加熱による揮発成分の生成が大幅に低減できることが分かった。   Table 1 shows the 5% weight loss temperatures of Compound 1 and each comparative compound. Compound 1 was confirmed to have a significantly improved 5% weight loss temperature by introducing an acryloyl group as compared to LUNA750 and Irg907 having the same skeleton photopolymerization initiation site. From this result, it was found that by introducing an acryloyl group into the self-cleaving photoradical generator, the heat resistance is improved and the generation of volatile components by heating can be greatly reduced.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

(2)硬化性評価
多官能モノマーとして3官能のペンタエリスリトールトリアクリレート(PETA)(商品名:M305、東亞合成(株)製)を用い、化合物1〜4、LUNA750(商品名、日本シイベルヘグナー(株)製)、及び、イルガキュア907(商品名、チバスペシャルティケミカルズ製)を、それぞれ多官能モノマーの2重結合に対して、光ラジカル発生剤部位がモル比で1/50になる様に混合し、THF溶液を調製した。各溶液を、クロムをスパッタしたガラス基板上にスピンコートし、塗膜を得た。また、開始剤成分を含有しない3官能アクリレートのみの塗膜をブランクとした。
(2) Curability evaluation Using trifunctional pentaerythritol triacrylate (PETA) (trade name: M305, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) as a polyfunctional monomer, compounds 1 to 4, LUNA 750 (trade name, Nippon Siber Hegner Co., Ltd.) )), And Irgacure 907 (trade name, manufactured by Ciba Specialty Chemicals) are mixed so that the photoradical generator site is 1/50 in molar ratio with respect to the double bond of the polyfunctional monomer, A THF solution was prepared. Each solution was spin-coated on a chromium-sputtered glass substrate to obtain a coating film. Moreover, the coating film of only the trifunctional acrylate which does not contain an initiator component was used as the blank.

上記塗膜をUV露光しながら、赤外分光装置(製品名:FTS6000、BIO RAD社製)で810cm−1のピークの減少量を経時的に記録し、2重結合の消失が、どの程度進行しているか確認した。測定時のサンプル周囲の雰囲気は窒素置換した。UV露光装置はウシオ電機製UVスポットキュアSP-III型(標準反射鏡タイプ)を用い、UVランプは、USH-255BY(ウシオ電機製)を用いた。 While the coating film was exposed to UV, the amount of decrease in the peak at 810 cm −1 was recorded over time with an infrared spectrometer (product name: FTS6000, manufactured by BIO RAD), and how much the disappearance of the double bond progressed. I confirmed that I was doing. The atmosphere around the sample at the time of measurement was replaced with nitrogen. The UV exposure apparatus used was Ushio Electric's UV spot cure SP-III type (standard reflector type), and the UV lamp used was USH-255BY (Ushio Electric).

3官能アクリレートM305との相溶性、露光時の臭気、露光量に対する2重結合の減少量(反応率)、塗膜の着色について観察した結果を表2に示す。   Table 2 shows the results of observations regarding the compatibility with the trifunctional acrylate M305, the odor during exposure, the amount of reduction of double bonds (reaction rate) with respect to the exposure amount, and the coloring of the coating film.

Figure 0004504142
Figure 0004504142

この結果より、化合物1は、LUNA750と比べて、アクリロイル基の導入により若干反応率の減少はあるものの、イルガキュア907と比べてむしろ反応率が向上し、良好な感度を示す事がわかった。同様のラジカル発生部位を有するイルガキュア907に比較して反応率が大きいのは、化合物1及びLUNA750の骨格に導入されている側鎖であるカプロラクトン部位が柔軟な骨格であることから、塗膜の流動性が高まり、ラジカルや反応性基の運動性が向上したためであると推測される。
また化合物1及び2は、塗膜の着色の程度は大きいものの感度が高く、高い感度が要求される場合に好適であり、化合物3及び4は、比較的感度は低いものの着色が少なく、高い透明性を要求される用途に好適であると考えられる。
From this result, it was found that, although Compound 1 had a slight reduction in reaction rate due to the introduction of acryloyl group as compared with LUNA 750, the reaction rate was rather improved as compared with Irgacure 907 and showed good sensitivity. The reaction rate is higher than that of Irgacure 907 having the same radical generating site because the caprolactone site, which is a side chain introduced into the skeleton of Compound 1 and LUNA 750, is a flexible skeleton. This is presumed to be due to the increased mobility and improved mobility of radicals and reactive groups.
Compounds 1 and 2 are suitable when the degree of coloration of the coating film is large but high sensitivity and high sensitivity is required. Compounds 3 and 4 are relatively low in sensitivity but have little coloration and high transparency. It is considered that it is suitable for applications that require high performance.

(3)アウトガス試験
化合物1とペンタエリスリトールトリアクリレート(PETA)(商品名:M−305 東亞合成(株)製)を、化合物1の2重結合とPETAの2重結合がモル比で1/50(=化合物1/PETA)となる割合で混合し、さらにクロロホルムで固形分が20wt%となるように希釈した。(感光性樹脂組成物1)
また、化合物1の代わりに化合物2〜4を用い、同様の手法で感光性樹脂組成物2〜4を調製した。
(3) Outgas test Compound 1 and pentaerythritol triacrylate (PETA) (trade name: M-305, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), compound 1 double bond and PETA double bond in a molar ratio of 1/50 (= Compound 1 / PETA) was mixed at a ratio, and further diluted with chloroform so that the solid content was 20 wt%. (Photosensitive resin composition 1)
Moreover, the compound 2-4 was used instead of the compound 1, and the photosensitive resin compositions 2-4 were prepared with the same method.

上記感光性樹脂組成物1〜4を、ガラス基板上にスピンコートし、50℃のホットプレート上で1分間加熱後、手動露光装置(大日本スクリーン株式会社製、MA-1200)を用い、高圧水銀灯によりh線換算で2000mJ/cmの露光を行ない、厚さ25μmの塗膜を得た。
比較例として、イルガキュア907についても同様の手順で感光性樹脂組成物を調製し、塗膜を得た。
The photosensitive resin compositions 1 to 4 are spin-coated on a glass substrate, heated on a hot plate at 50 ° C. for 1 minute, and then subjected to high pressure using a manual exposure apparatus (manufactured by Dainippon Screen Co., Ltd., MA-1200). An exposure of 2000 mJ / cm 2 in terms of h-ray was performed with a mercury lamp to obtain a coating film having a thickness of 25 μm.
As a comparative example, a photosensitive resin composition was prepared in the same procedure for Irgacure 907, and a coating film was obtained.

塗膜が形成された各ガラス基板を、1cm×1.5cmの大きさに切り出し、250℃で1時間加熱した時に発生したガスを、GC-MS((株)島津製作所製 QP-5000)を用いて分析した。その他の測定条件は以下の通りである。
捕集装置 :日本分析工業(株)キューリーポイントパージアンドトラップ(JHS-100A型)
加熱条件 :250℃×60min
吸着剤 :TENAX TA(2,6-Diphenyl-p-Phenylene Oxide) 弱極性
捕集温度 :−40℃(冷却に液体窒素使用)
熱分解温度:255℃×30s
注入口温度:250℃
カラム :5%フェニル−95%ジメチルシロキサン(PTE-5) 微極性
内径:0.25μm 長さ:30m
カラム温度:50℃×5min(保持)−10℃/min(昇温)−320℃×3min(保持)
イオン化法:電子衝突イオン化法(EI法)
検出器 :四重極型検出器
Each glass substrate on which a coating film was formed was cut into a size of 1 cm × 1.5 cm, and the gas generated when heated at 250 ° C. for 1 hour was converted to GC-MS (QP-5000 manufactured by Shimadzu Corporation). And analyzed. Other measurement conditions are as follows.
Collection device: Japan Analytical Industry Co., Ltd. Curie Point Purge and Trap (JHS-100A type)
Heating conditions: 250 ° C x 60 min
Adsorbent: TENAX TA (2,6-Diphenyl-p-Phenylene Oxide) Weak polarity Collection temperature: -40 ° C (liquid nitrogen used for cooling)
Thermal decomposition temperature: 255 ° C x 30 s
Inlet temperature: 250 ° C
Column: 5% phenyl-95% dimethylsiloxane (PTE-5) slightly polar
Inner diameter: 0.25 μm Length: 30 m
Column temperature: 50 ° C. × 5 min (hold) −10 ° C./min (temperature rise) −320 ° C. × 3 min (hold)
Ionization method: Electron impact ionization method (EI method)
Detector: Quadrupole detector

アウトガス試験の結果、化合物1〜4又はイルガキュア907を用いたサンプルからはいずれも、多官能モノマーM-305由来の分解物が検出された。
また、化合物1を用いた塗膜からの開始剤由来のアウトガス成分としては、モルフォリン骨格を有する化合物が若干検出されたが、芳香環を含むような化合物は検出されなかった。一方、イルガキュア907を用いた塗膜からの開始剤由来のアウトガス成分としては、若干のモルフォリン骨格を有する化合物に加えて、ベンズアルデヒドやアセトフェノン等の芳香環を含む化合物が検出された。
化合物3、4についてもアウトガス成分として芳香族化合物は検出されなかった。化合物2については、芳香族化合物は検出されたものの、ベンズアルデヒド、アセトフェノンは検出されなかった。
以上の事実より、本発明の化合物は、開始剤由来のアウトガスのうち特に臭気の原因となる芳香環を含む成分の低減に有効である事が分かった。
As a result of the outgas test, a degradation product derived from the polyfunctional monomer M-305 was detected from any of the samples using the compounds 1 to 4 or Irgacure 907.
Further, as an outgas component derived from the initiator from the coating film using Compound 1, a compound having a morpholine skeleton was slightly detected, but a compound containing an aromatic ring was not detected. On the other hand, as an outgas component derived from the initiator from the coating film using Irgacure 907, in addition to a compound having a slight morpholine skeleton, a compound containing an aromatic ring such as benzaldehyde or acetophenone was detected.
For compounds 3 and 4, no aromatic compound was detected as an outgas component. For Compound 2, aromatic compounds were detected, but benzaldehyde and acetophenone were not detected.
From the above facts, it has been found that the compound of the present invention is effective in reducing components containing an aromatic ring that causes odor among the outgas derived from the initiator.

Claims (7)

下記式(1’)で表される化合物(a1)からなる光ラジカル発生剤。
Figure 0004504142
(ただし、式(1’)において は、水素原子又はメチル基で、R 及びR は、それぞれ水素原子である。X 硫黄原子又は窒素原子でベンゾイル構造に結合している2価の基であり、Yは脂肪族3級アミン構造を持つ1価の基である。nは3〜15の整数である。
The photoradical generator which consists of a compound (a1) represented by following formula (1 ') .
Figure 0004504142
(In the formula (1 ′) , R 1 is a hydrogen atom or a methyl group, and R 2 and R 3 are each a hydrogen atom. X 1 is a sulfur atom or a nitrogen atom that is bonded to the benzoyl structure 2. And Y is a monovalent group having an aliphatic tertiary amine structure, and n is an integer of 3 to 15. )
5%重量減少温度が、50℃以上である請求項1に記載の光ラジカル発生剤。   The photoradical generator according to claim 1, wherein the 5% weight loss temperature is 50 ° C or higher. 前記請求項1又は2に記載の化合物(a1)よりなる群から選ばれる少なくとも1つの光ラジカル発生剤を必須成分として含有することを特徴とする、感光性樹脂組成物。 A photosensitive resin composition comprising, as an essential component, at least one photoradical generator selected from the group consisting of the compound ( a1 ) according to claim 1 or 2. エチレン性不飽和基を有する化合物(b)、化合物(b)以外の硬化反応性化合物、化合物(a1)以外のラジカル発生剤、及び、重量平均分子量3000以上のバインダー樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも一成分をさらに含有する請求項3に記載の感光性樹脂組成物。 At least selected from the group consisting of a compound (b) having an ethylenically unsaturated group, a curing reactive compound other than the compound (b), a radical generator other than the compound ( a1 ), and a binder resin having a weight average molecular weight of 3000 or more. The photosensitive resin composition of Claim 3 which further contains one component. パターン形成材料として用いられることを特徴とする、請求項3又は4に記載の感光性樹脂組成物。   The photosensitive resin composition according to claim 3, wherein the photosensitive resin composition is used as a pattern forming material. 塗料又は印刷インキ、或いは、カラーフィルター、電子部品、層間絶縁膜、配線被覆膜、光学部材、光回路、光回路部品、反射防止膜、ホログラム又は建築材料の形成材料として用いられる請求項3又は4に記載の感光性樹脂組成物。   The paint or printing ink, or a color filter, an electronic component, an interlayer insulating film, a wiring coating film, an optical member, an optical circuit, an optical circuit component, an antireflection film, a hologram or a building material, 4. The photosensitive resin composition according to 4. 前記請求項3又は4に記載の感光性樹脂組成物の硬化物により少なくとも一部分が形成されている、印刷物、カラーフィルター、電子部品、層間絶縁膜、配線被覆膜、光学部材、光回路、光回路部品、反射防止膜、ホログラム又は建築材料いずれかの物品。   A printed material, a color filter, an electronic component, an interlayer insulating film, a wiring coating film, an optical member, an optical circuit, light, which is at least partly formed by a cured product of the photosensitive resin composition according to claim 3 or 4. Articles that are either circuit components, antireflection films, holograms, or building materials.
JP2004274246A 2003-09-30 2004-09-21 Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article Expired - Fee Related JP4504142B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004274246A JP4504142B2 (en) 2003-09-30 2004-09-21 Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003342340 2003-09-30
JP2004274246A JP4504142B2 (en) 2003-09-30 2004-09-21 Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005126687A JP2005126687A (en) 2005-05-19
JP4504142B2 true JP4504142B2 (en) 2010-07-14

Family

ID=34655722

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004274246A Expired - Fee Related JP4504142B2 (en) 2003-09-30 2004-09-21 Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4504142B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007146239A2 (en) * 2006-06-09 2007-12-21 Dentsply International Inc. Photopolymerizable and photocleavable resins and low shrink and low stress composite and compositions
JP5100545B2 (en) * 2008-07-14 2012-12-19 株式会社トクヤマ Polymerization curable composition
CN103459433B (en) * 2011-03-09 2015-05-27 夏普株式会社 Liquid crystal composition, liquid crystal display device, and method for producing liquid crystal display device
JP7131504B2 (en) * 2019-08-02 2022-09-06 三菱ケミカル株式会社 Curable polymer composition, cured product, laminate

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63264560A (en) * 1987-03-26 1988-11-01 チバ スペシャルティ ケミカルズ ホールディング インコーポレーテッド Alpha-aminoacetophenone derivative
JPH02292307A (en) * 1989-05-01 1990-12-03 Mitsubishi Rayon Co Ltd Photocurable resin composition
JPH0532952A (en) * 1991-07-30 1993-02-09 Techno San Star Kk Ultraviolet-crosslinkable hot-melt composition
JPH05264980A (en) * 1991-12-26 1993-10-15 Dainippon Ink & Chem Inc Liquid crystal device and its production
JPH0733809A (en) * 1993-07-16 1995-02-03 Toyo Ink Mfg Co Ltd Photo-initiator composition and coating composition
WO2000068218A1 (en) * 1999-05-10 2000-11-16 Ciba Specialty Chemicals Holding Inc. Novel photoinitiators and their applications

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63264560A (en) * 1987-03-26 1988-11-01 チバ スペシャルティ ケミカルズ ホールディング インコーポレーテッド Alpha-aminoacetophenone derivative
JPH02292307A (en) * 1989-05-01 1990-12-03 Mitsubishi Rayon Co Ltd Photocurable resin composition
JPH0532952A (en) * 1991-07-30 1993-02-09 Techno San Star Kk Ultraviolet-crosslinkable hot-melt composition
JPH05264980A (en) * 1991-12-26 1993-10-15 Dainippon Ink & Chem Inc Liquid crystal device and its production
JPH0733809A (en) * 1993-07-16 1995-02-03 Toyo Ink Mfg Co Ltd Photo-initiator composition and coating composition
WO2000068218A1 (en) * 1999-05-10 2000-11-16 Ciba Specialty Chemicals Holding Inc. Novel photoinitiators and their applications

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005126687A (en) 2005-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI395057B (en) A photohardenable thermosetting resin composition and a cured product thereof, and a printed circuit board
KR101511416B1 (en) Resin composition for polyester base material, and dry film and printed circuit boards using same
CN110662738B (en) Triazine peroxide derivative and polymerizable composition containing same
KR101571239B1 (en) Photocurable resin composition, dry film and cured product thereof, and printed wiring board having hardened coating film formed by using same
TWI480293B (en) A photohardenable resin and a photohardenable resin composition
KR101407798B1 (en) Photocurable resin composition
JP5798218B1 (en) Curable resin composition, permanent film forming composition, dry film and printed wiring board
TWI420243B (en) A photohardenable resin composition, a dry film thereof and a hardened product, and a printed circuit board using the same
JP2019043864A (en) Benzophenone derivative having peroxyester group, polymerizable composition containing the same and cured product thereof, and method for producing cured product
KR101827942B1 (en) Photocurable resin composition
JPWO2018110179A1 (en) Peroxycinnamate derivative and polymerizable composition containing the compound
WO2015151341A1 (en) Curable resin composition, curable resin composition for forming permanent coating film, dry film and printed wiring board
US7932340B2 (en) Photo radical generator, photo sensitive resin composition and article
JP2011043565A (en) Photosetting resin composition
JP4286570B2 (en) Photoradical polymerization initiator and photosensitive resin composition
JP4504142B2 (en) Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article
JP4463649B2 (en) Photoradical polymerization initiator, photosensitive resin composition, and article
JP4574971B2 (en) Photoradical polymerization initiator, photosensitive resin composition and article using the same
JP4080364B2 (en) Radical generator and photosensitive resin composition
JP4294988B2 (en) Photoradical polymerization initiator and photosensitive resin composition
JP5115002B2 (en) Polymerizable compound, polymer compound using the same, and resin composition
TWI726016B (en) Curable resin composition, dry film, cured product, and printed wiring board
TW201621461A (en) Photocuring and thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed circuit board
JP2008248051A (en) Alkaline-soluble half ester compound, resin composition using it, and articles
JP4463648B2 (en) Photoradical generator, photosensitive resin composition, and article

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070828

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091020

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091027

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100126

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100324

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100420

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100422

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees