JP4414497B2 - ブラックマトリックス基板の製造方法 - Google Patents

ブラックマトリックス基板の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4414497B2
JP4414497B2 JP29006098A JP29006098A JP4414497B2 JP 4414497 B2 JP4414497 B2 JP 4414497B2 JP 29006098 A JP29006098 A JP 29006098A JP 29006098 A JP29006098 A JP 29006098A JP 4414497 B2 JP4414497 B2 JP 4414497B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
black matrix
photomask
light
photosensitive resin
resin layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP29006098A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000098587A (ja
Inventor
庸哲 鈴木
友信 角野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP29006098A priority Critical patent/JP4414497B2/ja
Publication of JP2000098587A publication Critical patent/JP2000098587A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4414497B2 publication Critical patent/JP4414497B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はブラックマトリックス基板の製造方法に係り、特に樹脂タイプのブラックマトリックスを備えたブラックマトリックス基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、フラットディスプレイとして、モノクロあるいはカラーの液晶ディスプレイが注目されている。液晶ディスプレイには、3原色の制御を行うためにアクティブマトリックス方式および単純マトリックス方式とがあり、いずれの方式においてもカラーフィルタが用いられている。そして、カラーの液晶ディスプレイは構成画素部を3原色(R,G,B)とし、液晶の電気的スイッチングにより3原色の各光の透過を制御してカラー表示を行うものである。
【0003】
液晶ディスプレイ用のカラーフィルタは、透明基板上に各着色パターンと透明電極膜を形成して構成されている。そして、発色効果や表示コントラストを上げるために、着色パターンのR,G,Bの各画素の境界部分に遮光膜(ブラックマトリックス)が形成される。また、アクティブマトリックス方式の液晶ディスプレイでは、薄膜トランジスタ(TFT)をスイッチング素子として用いているため、光リーク電流を抑制する必要がある。このため、ブラックマトリックスに対してより高い遮光性が要求されている。
【0004】
従来、カラーフィルタを製造するためのブラックマトリックス基板としては、透明基板上に、クロム薄膜をフォトエッチングしてブラックマトリックスを形成したもの、親水性樹脂レリーフを染色してブラックマトリックスとしたもの、黒色顔料等を分散した感光樹脂組成物を用いてブラックマトリックスを形成したもの、黒色電着塗料を電着してブラックマトリックスを形成したもの、印刷によりブラックマトリックスを形成したもの等がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上述の黒色顔料等を分散した感光性樹脂組成物を用いてレリーフ形成してブラックマトリックスとする場合、ネガ型の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層をフォトマスクを介したプロキシミティ露光により露光し、その後、現像することによりレリーフパターンを形成する。しかし、プロキシミティ露光における光の回折作用により、感光性樹脂層はフォトマスクの透光部のパターン幅よりも広幅で露光され、特にフォトマスクの透光部が交差する箇所ではこの傾向が著しい。このため、露光後に現像され形成されたブラックマトリックスパターンは、交差箇所において太りがみられ、フォトマスクのパターンに忠実な高精度のブラックマトリックスパターンが得られないという問題があった。
【0006】
このような問題を解消するために、プロキシミティ露光における感光性樹脂層とフォトマスクとの距離を小さく設定したり、露光に使用する光をより波長の短いものとすることにより、光の回折作用を低減して高精度のブラックマトリックスを形成することが考えられる。しかし、プロキシミティ露光における感光性樹脂層とフォトマスクとの距離を小さく設定すると、透明基板やフォトマスク等に微小なゴミが存在していた場合、フォトマスクへの感光性樹脂組成物の付着が生じ易くなり、このようなフォトマスクを使用した場合、ブラックマトリックスに欠陥が生じるという問題がある。また、露光に使用する光をより波長の短いものとすることにより、ブラックマトリックスの形成に使用できる感光性樹脂組成物の選択の幅が狭まるという問題がある。
【0007】
本発明は上述のような事情に鑑みてなされたものであり、樹脂タイプのブラックマトリックスを高い精度で備えたブラックマトリックス基板の製造方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明は、透明基板上にブラックマトリックス用のネガ型の感光性樹脂組成物を塗布して感光性樹脂層を形成し、該感光性樹脂層をブラックマトリックス用のフォトマスクを介してプロキシミティ露光し現像することによりブラックマトリックスパターンを形成するブラックマトリックス基板の製造方法において、
フォトマスクは透光部と遮光部とを所定のパターンで備え、透光部の交差箇所に十字形状であって前記遮光部に連続した遮光部を備えたものを使用し、透光部の交差箇所に位置する該遮光部の幅は0.5〜5.0μmの範囲であり面積は透光部の交差箇所の面積の1〜30%の範囲であるような構成とした。
【0009】
上記のような本発明では、露光においてフォトマスクの透光部の交差箇所に照射された光は、回折作用により透光部の面積よりも広い面積で感光性樹脂層を露光するが、予め透光部の交差箇所の少なくとも角部またはその近傍に設けられている遮光部が、光の回折作用による露光面積の増大を防止し、フォトマスクの透光部の交差箇所の大きさに極めて近い大きさで感光性樹脂層が露光される。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0011】
図1は本発明のブラックマトリックス基板の製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。
【0012】
図1において、まず、透明基板2にブラックマトリックス用のネガ型の感光性樹脂組成物を塗布して感光性樹脂層3を形成する(図1(A))。感光性樹脂層3の厚みは、形成しようとするブラックマトリックスの厚みに応じて設定することができ、また、塗布方法は、ロールコート法、スピンコート法、ブレードコート法等の従来公知の塗布手段を用いることができる。
【0013】
次に、この感光性樹脂層3をブラックマトリックス用のフォトマスク11を介してプロキシミティ露光を行う(図1(B))。図2は本発明において使用するフォトマスク11の一例を示す平面図であり、図1(B)に示したフォトマスク11は図2のA−A線における断面形状である。
【0014】
図2において、フォトマスク11は透明基材12に所定のパターンで遮光層を設けて遮光部13A(斜線で示されている)を形成したものであり、この遮光部13Aの非形成領域はブラックマトリックスパターンに相当するマトリックス状の透光部14を構成している。そして、透光部14の交差箇所14aには十字形状に遮光部13B(斜線で示されている)が形成されている。これにより、正方形状である透光部14の交差箇所14aの4か所の角部14bに遮光部13Bが存在することになる。
【0015】
遮光部13Bの線幅は、露光時の照射光の回折作用により感光性樹脂層3を透光部14の交差箇所14aの形状で露光できるような幅とする必要があり、例えば、0.5〜5.0μmの範囲で設定することができる。また、透光部14の交差箇所14aの面積に占める遮光部13Bの面積は1〜30%の範囲で設定することが好ましい。
【0016】
このようなフォトマスク11を介した感光性樹脂層3の露光により、感光性樹脂層3は光の回折作用によりフォトマスク11の透光部14のパターン幅よりも若干広い幅で露光される。そして、フォトマスク11の透光部14の交差箇所14aに対応する位置の感光性樹脂層3は、上記の遮光部13Bの作用により交差箇所14aの正方形状に極めて近い形状で露光されることになる。
【0017】
上記のようなフォトマスク11を構成する透明基材および遮光層材料には特に制限はなく、従来からフォトマスクに使用されている材料を使用することができる。
【0018】
フォトマスク11を介した感光性樹脂層3のプロキシミティ露光では、使用する光源の波長には特に制限はなく、使用する感光性樹脂組成物に対応して適宜光源を設定することができる。また、感光性樹脂層3とフォトマスク11との距離は、50〜300μmの範囲で任意に設定することができ、フォトマスク11の感光性樹脂組成物による汚染を防止することができる。
【0019】
次に、感光性樹脂層3を現像することにより、ブラックマトリックス4が透明基板2上に形成され、ブラックマトリックス基板1が得られる(図1(C))。
【0020】
図3は、このように作製されたブラックマトリックス基板1のブラックマトリックス4の交差部の部分拡大図である。図3において、ブラックマトリックス4(斜線で示されている)は、上述のフォトマスク11の透光部14のパターン(鎖線で示されている)幅wよりも若干広い幅Wを有している。また、ブラックマトリックス4の交差部4aは、フォトマスク11の透光部14の交差箇所14a(二点鎖線で示されている)の正方形状に極めて近い形状であり、交差部4aの4か所の角部4bは湾曲の極めて少ないシャープな形状を呈している。
【0021】
一方、図4に示されるような透明基材102に所定のパターンで遮光層を設けて遮光部103を形成し、この遮光部103の非形成領域をブラックマトリックスパターンに相当するマトリックス状の透光部104とした従来のフォトマスク101を使用して、上記のようなプロキシミティ露光を行った場合、形成されるブラックマトリックス114は図5に示されるような形状となる。すなわち、ブラックマトリックス114(斜線で示されている)は、フォトマスク101の透光部104のパターン(鎖線で示されている)幅wよりも若干広い幅Wを有している点で、上記のブラックマトリックス4と同様である。しかし、ブラックマトリックス114の交差部114aは、露光時の照射光の回折作用により、フォトマスク101の透光部104の交差箇所104a(二点鎖線で示されている)よりも大きな面積となり、その形状は4か所の角部114bに湾曲が生じたものとなる。このようなブラックマトリックスの角部の湾曲の大きさLを図5に示されるように規定した場合、本発明により製造されたブラックマトリックス基板では、交差部4aの4か所の角部4bにおける湾曲の大きさLを5μm以下とすることが可能であるが、従来の製造方法では、交差部114aの4か所の角部114bにおける湾曲の大きさLは5μmを超えることになる。
【0022】
本発明において使用するフォトマスクは、上述のフォトマスク11に限定されるものではない。図6および図7は、本発明において使用できるフォトマスクの他の例を示す平面図である。
【0023】
図6に示されるフォトマスク21は、透明基材22に所定のパターンで遮光層を設けて遮光部23A(斜線で示されている)を形成したものであり、この遮光部23Aの非形成領域はブラックマトリックスパターンに相当するマトリックス状の透光部24を構成するものである。そして、透光部24の交差箇所24a(鎖線で囲まれた正方形状)内にはI字形状に遮光部23B(斜線で示されている)が形成され、さらに、交差箇所24a(正方形状)の対向する2辺にもI字形状に遮光部23B(斜線で示されている)が形成されている。これにより、正方形状である透光部24の交差箇所24aの4か所の角部24bの近傍に遮光部23Bが形成されたことになる。
【0024】
また、図7に示されるフォトマスク31は、透明基材32に所定のパターンで遮光層を設けて遮光部33A(斜線で示されている)を形成したものであり、この遮光部33Aの非形成領域はブラックマトリックスパターンに相当するマトリックス状の透光部34を構成するものである。そして、透光部34の交差箇所34a(実線で囲まれた正方形状)の周囲には遮光部33B(斜線で示されている)が形成されている。これにより、正方形状である透光部34の交差箇所34aの4か所の角部34bの近傍に遮光部33Bが形成されたことになる。
【0025】
尚、フォトマスク11と同様に、上述のフォトマスク21,31においも、遮光部23B,33Bの線幅は露光時の照射光の回折作用により感光性樹脂層をフォトマスクの透光部の交差箇所の形状で露光できるような幅に設定する必要がある。
【0026】
上述のような本発明のブラックマトリックス基板の製造方法に使用するブラックマトリックス用のネガ型の感光性樹脂組成物は、着色剤として染料、無機顔料、有機顔料等を感光性樹脂に含有させた公知の種々のネガ型の感光性樹脂組成物から適宜選択して使用することができる。また、透明基板2としては、石英ガラス、パイレックスガラス、合成石英板等の可撓性のないリジット材、あるいは透明樹脂フィルム、光学用樹脂板等の可撓性を有するフレキシブル材を用いることができる。この中で特にコーニング社製7059ガラスは、熱膨脹率の小さい素材であり、寸法安定性および高温加熱処理における作業性に優れ、また、ガラス中にアルカリ成分を含まない無アルカリガラスであるため、ブラックマトリックス基板を用いてアクティブマトリックス方式によるLCD用のカラーフィルタを製造する場合に適している。
【0027】
【実施例】
次に、実施例を示して本発明を更に詳細に説明する。
(実施例1)
まず、図2に示されるような形状のブラックマトリックス用フォトマスクAを下記仕様で作製した。
【0028】
ブラックマトリックス用のフォトマスクA
・透明基材2 :厚み5.0mm、外形300×430mm
・透光部14の線幅 :26μm
・透光部14のピッチ :110μm
・遮光部13Bの幅 :1μm
次に、ブラックマトリックス用のネガ型の感光性樹脂組成物(富士フィルムオーリン(株)製CK−S171)をスピンコート法によりガラス基板(コーニング(株)製7059ガラス(厚み0.7mm))上に塗布し乾燥して感光性樹脂層(厚み1.5μm)を形成した。次いで、上記のブラックマトリックス用のフォトマスクAを介して下記の条件で感光性樹脂層に対してプロキシミティ露光を行った。
【0029】
露光条件
・光源 :ウシオ電機(株)製USH3502MA
(波長405nm)
・露光量 :300mJ
・マスクの近接距離 :200μm
次いで、感光性樹脂層を現像し、さらに洗浄、乾燥してマトリックス状のブラックマトリックスパターンを形成しブラックマトリックス基板Aを得た。
【0030】
このブラックマトリックス基板Aは、ブラックマトリックスの線幅が30μmであり、交差部における湾曲の大きさL(図5に示すように規定)が2μmであり、フォトマスクAのパターンに極めて近い高精度なものであった。また、上記のブラックマトリックス基板Aの製造においてフォトマスクAの汚染は発生しなかった。
【0031】
一方、比較例として、図4に示されるような形状の従来のブラックマトリックス用フォトマスクBを下記仕様で作製した。
【0032】
ブラックマトリックス用のフォトマスクB
・透明基材102 :厚み5.0mm、外形330×430mm
・透光部104の線幅 :28μm
・透光部104のピッチ:110μm
次に、上記と同様にしてガラス基板上に形成した感光性樹脂層を上記の従来のブラックマトリックス用のフォトマスクBを介して同様の条件で露光した。
【0033】
次いで、感光性樹脂層を現像し、さらに洗浄、乾燥してマトリックス状のブラックマトリックスパターンを形成しブラックマトリックス基板Bを得た。
【0034】
このブラックマトリックス基板Bは、ブラックマトリックスの線幅が32μmであるが、交差部における湾曲の大きさL(図5に示すように規定)が8μmと大きく、フォトマスクBのパターンに対して交差部での精度が低いものであった。尚、上記のブラックマトリックス基板Bの製造においてフォトマスクBの汚染は発生しなかった。
【0035】
また、上記のフォトマスクBを使用し、プロキシミティ露光におけるマスクの近接距離を75μmとした他は、上記のブラックマトリックス基板Bの製造と同様にしてブラックマトリックス基板Cを得た。
【0036】
このブラックマトリックス基板Cは、ブラックマトリックスの線幅が30μmであり、また、交差部における湾曲の大きさL(図5に示すように規定)が4μmであり、フォトマスクBのパターンに極めて近い高精度なものであったが、マスクの近接距離が小さいため露光段階でフォトマスクBの汚染が発生し易いものであった。
【0037】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば透明基板上に形成したブラックマトリックス用のネガ型の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を、透光部と遮光部とを所定のパターンで備え、かつ、透光部の交差箇所の少なくとも角部またはその近傍に遮光部を備えたフォトマスクを介して露光し現像することにより、ブラックマトリックスパターンを形成してブラックマトリックス基板とするので、露光においてフォトマスクの透光部の交差箇所に照射された光は、回折作用により透光部の面積よりも広い面積で感光性樹脂層を露光するが、予め透光部の交差箇所の少なくとも角部またはその近傍に設けられている遮光部の存在により、透光部の交差箇所に対応する領域での露光面積の拡大が有効に防止され、感光性樹脂層の露光パターンがフォトマスクの透光部のパターンに極めて近いパターンとなり、高精度のブラックマトリックスを備えたブラックマトリックス基板の製造が可能であり、また、露光における感光性樹脂層とフォトマスクとの距離を小さく設定する必要がなく、したがって、フォトマスクの汚染が防止され、ブラックマトリックス基板の製造歩留が大幅に向上し、さらに、露光に使用する光源に制限がないので、ブラックマトリックスの形成に使用できるネガ型の感光性樹脂組成物の選択の幅が広くなるという効果が奏される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のブラックマトリックス基板の製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。
【図2】本発明のブラックマトリックス基板の製造方法において使用するフォトマスクの一例を示す平面図である。
【図3】本発明のブラックマトリックス基板の製造方法により形成されたブラックマトリックスの交差部を示す部分拡大図である。
【図4】従来のブラックマトリックス基板の製造方法において使用するフォトマスクの一例を示す平面図である。
【図5】従来のブラックマトリックス基板の製造方法により形成されたブラックマトリックスの交差部を示す部分拡大図である。
【図6】本発明のブラックマトリックス基板の製造方法において使用するフォトマスクの他の例を示す平面図である。
【図7】本発明のブラックマトリックス基板の製造方法において使用するフォトマスクの他の例を示す平面図である。
【符号の説明】
1…ブラックマトリックス基板
2…透明基板
3…感光性樹脂層
4…ブラックマトリックス
11,21,31…ブラックマトリックス用のフォトマスク
13(13A,13B),23A,23B,33A,33B…遮光部
14,24,34…透光部
14a,24a,34a…透光部の交差箇所
14b,24b,34b…透光部の交差箇所の角部

Claims (1)

  1. 透明基板上にブラックマトリックス用のネガ型の感光性樹脂組成物を塗布して感光性樹脂層を形成し、該感光性樹脂層をブラックマトリックス用のフォトマスクを介してプロキシミティ露光し現像することによりブラックマトリックスパターンを形成するブラックマトリックス基板の製造方法において、
    フォトマスクは透光部と遮光部とを所定のパターンで備え、透光部の交差箇所に十字形状であって前記遮光部に連続した遮光部を備えたものを使用し、透光部の交差箇所に位置する該遮光部の幅は0.5〜5.0μmの範囲であり面積は透光部の交差箇所の面積の1〜30%の範囲であることを特徴とするブラックマトリックス基板の製造方法。
JP29006098A 1998-09-28 1998-09-28 ブラックマトリックス基板の製造方法 Expired - Fee Related JP4414497B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29006098A JP4414497B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 ブラックマトリックス基板の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29006098A JP4414497B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 ブラックマトリックス基板の製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009158632A Division JP4978666B2 (ja) 2009-07-03 2009-07-03 ブラックマトリックス基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000098587A JP2000098587A (ja) 2000-04-07
JP4414497B2 true JP4414497B2 (ja) 2010-02-10

Family

ID=17751277

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29006098A Expired - Fee Related JP4414497B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 ブラックマトリックス基板の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4414497B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004502979A (ja) * 2000-07-06 2004-01-29 キャボット コーポレイション 修飾顔料生成物を含む印刷版
JP4736277B2 (ja) * 2001-08-28 2011-07-27 凸版印刷株式会社 カラーフィルターの着色画素の形成方法及びカラーフィルターのブラックマトリックスの形成方法
US7582394B2 (en) 2003-10-06 2009-09-01 Panasonic Corporation Photomask and method for forming pattern
JP4957140B2 (ja) * 2006-09-21 2012-06-20 凸版印刷株式会社 カラーフィルタ用フォトマスク、カラーフィルタの製造方法、カラーフィルタ、及び液晶表示装置
JP4992363B2 (ja) * 2006-09-25 2012-08-08 凸版印刷株式会社 硬化パターンの製造方法
US20100208179A1 (en) * 2009-02-13 2010-08-19 Apple Inc. Pixel Black Mask Design and Formation Technique

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000098587A (ja) 2000-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4393290B2 (ja) グレートーンマスクの製造方法及び薄膜トランジスタ基板の製造方法
KR101357324B1 (ko) 표시 장치 제조용 포토마스크 및 표시 장치의 제조 방법
KR100787804B1 (ko) 컬러 필터 기판 및 그 제조 방법
JP4729606B2 (ja) グレートーンマスクの製造方法及び薄膜トランジスタ基板の製造方法
CN102073211B (zh) 半色调掩模、用于制造它的方法及使用它的平板显示器
KR20080110148A (ko) 액정표시소자용 포토마스크 및 이를 이용한 컬러필터의제조방법
US7704646B2 (en) Half tone mask and method for fabricating the same
KR100481144B1 (ko) 그레이톤 마스크의 제조 방법, 그레이톤 마스크 생성용 블랭크, 및 패턴 전사 방법
JP3983841B2 (ja) カラーフィルタの製造方法
JP2009009058A (ja) カラーフィルタ基板、その製造に用いるフォトマスク、及び液晶表示装置
WO2016045141A1 (zh) 液晶显示面板及其制造方法
JP4414497B2 (ja) ブラックマトリックス基板の製造方法
JP4774567B2 (ja) パターン形成方法とカラーフィルタの製造方法および液晶表示装置
JP4978666B2 (ja) ブラックマトリックス基板の製造方法
JP3283624B2 (ja) ホトマスク
JP2000010124A (ja) 反射型液晶表示装置およびその製造方法
JP2000098126A (ja) カラーフィルタの製造方法
CN110703489A (zh) 掩膜版和显示面板及其制备方法
JP2016004188A (ja) 露光マスクおよび一括露光方法
JP4957140B2 (ja) カラーフィルタ用フォトマスク、カラーフィルタの製造方法、カラーフィルタ、及び液晶表示装置
JP4919043B2 (ja) 半透過型液晶表示装置用カラーフィルタの製造方法
JP4616439B2 (ja) カラーフィルタの製造方法
JP4369543B2 (ja) カラーフィルタおよびその製造方法
JP4968429B2 (ja) 液晶表示装置用のカラーフィルタ形成基板の製造方法
JP2009244523A (ja) カラーフィルタの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050922

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080822

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080930

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081125

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090512

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090703

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090827

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091117

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091120

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121127

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131127

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees