JP4398683B2 - 多層配線基板の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、例えばICやLSI等の電子デバイス実装用の多層配線基板の製造方法に関し、特に高密度実装を実現できる多層配線基板の製造方法に関する。
近年の半導体製造技術の進歩は非常に目覚しく、半導体素子の微細化は、マスクプロセス技術及びエッチング技術等の微細パターン形成技術の飛躍的な進歩により実現されている。そして、配線基板を高集積化するためには、配線基板を多層化し、且つ上下配線間の接続を高信頼度で且つ微細に形成する必要がある。そのために、例えば銅箔等の金属膜を一方の表面側からウェットエッチングによりエッチングすることにより縦断面形状が台形のバンプを形成し、そのバンプを、上下配線間を導通する層間膜導通手段として用いている(例えば、特許文献1)。
そして、銅からなるバンプが形成された配線回路基板と、コア基板を圧着することにより多層配線基板を製造している。ここで、図8を参照しつつ、銅からなるバンプが形成された配線回路基板を利用して多層配線基板を製造する工程について説明する。この図8は、従来技術の製造工程を示す基板の断面図である。
まず、図8(a)に示すように、多層金属板800を用意する。この多層金属板800は、厚さ約18μmの銅箔からなる配線形成用金属層801の上に積層された、厚さ約2μmのNi(ニッケル)からなるエッチングストッパー層802と、更にエッチングストッパー層802の上に積層された、厚さ約100μmの銅箔からなるバンプ形成用金属層803とからなる。
次に、バンプ形成用金属層803の上にネガ型のレジスト(図示しない)を塗付する。そして、複数の円形パターンが形成された露光マスクを使用して露光を行い、続いて現像を行うことにより、円形の形状をしたレジストマスク(図示しない)を形成する。
そして、図8(b)に示すように、このレジストマスクをマスクとしてバンプ形成用金属層803をウェットエッチングによりエッチングして、層間膜導通手段であるバンプ804を形成する。レジストマスクは円形の形状をしているため、バンプ804の横断面形状は円形となる。また、ウェットエッチングによりエッチングを行うため、バンプ形成用金属層803は等方的にエッチングされる。従って、レジストマスクの下にもエッチング溶液が入り込み、縦方向と同時に横方向にもエッチングが進行する(サイドエッチ)。その結果、バンプ804の縦断面形状は略台形となる。尚、このエッチング工程において、エッチングストッパー層802は配線形成用金属層801がエッチングされるのを防止する。
そして、レジストマスクを剥離した後、バンプ804をマスクとしてエッチングストッパー層802をエッチングして除去する。この工程により、バンプ804と配線形成用金属層801との間にエッチングストッパー層805が介在する。尚、図8(b)には、レジストマスクを剥離し、エッチングストッパー層802を除去した後の状態が示されている。
次に、図8(c)に示すように、バンプ804の頂面のみが露出するように、樹脂等の絶縁膜806をバンプ804の上から押し込み、圧着し、配線回路基板810を作製する。
そして、この配線回路基板810とコア基板を利用して多層配線基板を作製する。図8(d)に示すように、2つの配線回路基板810とコア基板820を用意する。コア基板820は、例えば、樹脂等からなる絶縁基板821と、スルーホール822と、配線823とからなる。絶縁基板821の上下両面には配線823が形成されており、スルーホール822によって互いに接続されている。
そして、図8(e)に示すように、配線回路基板810によってコア基板820を挟んで圧着することにより、多層配線基板を作製する。このとき、配線回路基板810に形成されたバンプ804の頂面がコア基板820に形成された配線823と接触するように、配線回路基板810とコア基板820を圧着する。
特開2001−111189号公報
しかしながら、配線回路基板810とコア基板820とを圧着するときに、バンプ804と配線823との接触位置がずれてしまい、位置合わせ精度が悪いという問題があった。
従って、その接触位置のずれを見込んで配線823を形成する必要があった。例えば、バンプ804の頂面の径を100μmとした場合、その接触位置のずれを見込んで配線823の幅を300μm以上にする必要があり、必要以上に配線823を大きくする必要があった。その結果、バンプ804を小さく形成しても、そのバンプ804に対応する配線823を大きくする必要があるため、微細な回路を形成することができなかった。
本発明は上記の課題を解決するものであり、配線回路基板とコア基板とを積層する工程を省くために、配線形成用金属層の両面にバンプ形成用金属層が形成された多層金属板を用いることにより、微細な多層配線基板を製造することが可能な多層配線基板の製造方法を提供するものである。
請求項1記載の発明は、配線形成用金属層の上下両面にエッチングストッパー層を介してバンプ形成用金属層が形成された多層金属板に対して、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち一方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記一方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、バンプを形成する第1のバンプ形成ステップと、前記バンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第1の絶縁膜形成ステップと、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち他方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記他方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、別のバンプを形成する第2のバンプ形成ステップと、前記別のバンプが形成された面に、レジストを塗付し、パターニングすることにより少なくとも前記別のバンプの上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして配線形成用金属層をエッチングすることにより配線を形成する配線形成ステップと、前記レジストマスクを除去した後に、前記別のバンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第2の絶縁膜形成ステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項2に記載の発明は、配線形成用金属層の上下両面にエッチングストッパー層を介してバンプ形成用金属層が形成された多層金属板に対して、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち一方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記一方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、バンプを形成する第1のバンプ形成ステップと、前記バンプが形成された面にレジストを塗付し、パターニングすることにより少なくとも前記バンプの上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記配線形成用金属層をエッチングして配線を形成する配線形成ステップと、前記バンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第1の絶縁膜形成ステップと、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち他方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記他方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、別のバンプを形成する第2のバンプ形成ステップと、前記別のバンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第2の絶縁膜形成ステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項3に記載の発明は、配線形成用金属層の上下両面にエッチングストッパー層を介してバンプ形成用金属層が形成された多層金属板に対して、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち一方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記一方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、バンプを形成する第1のバンプ形成ステップと、前記バンプが形成された面にレジストを塗付し、パターニングすることにより少なくとも前記バンプの上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記配線形成用金属層をエッチングして配線を形成する配線形成ステップと、前記バンプ形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第1の絶縁膜形成ステップと、前記上下両面形成されたバンプ形成用金属層のうち他方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、バターニングすることにより、レジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記他方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、別の複数のバンプと、該別の複数のバンプ間に金属膜を形成する第2のバンプ形成ステップと、前記別のバンプ及び前記金属膜が形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第2の絶縁膜形成ステップと、前記別のバンプ及び前記金属膜が形成された面に、レジストを塗付し、パターニングすることにより前記別のバンプの頂面の上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記金属膜をエッチングして除去する金属膜除去ステップと、前記金属膜が除去された部分に集積回路を埋め込むステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項4に記載の発明は、配線形成用金属層の上下両面にエッチングストッパー層を介してバンプ形成用金属層が形成された多層金属板に対して、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち一方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記一方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、バンプを形成する第1のバンプ形成ステップと、前記バンプが形成された面にレジストを塗付し、パターニングすることにより少なくとも前記バンプの上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして配線形成用金属層をエッチングすることにより配線を形成する配線形成ステップと、前記バンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第1の絶縁膜形成ステップと、前記絶縁膜が形成された面に集積回路が搭載された基板をはり合わせるステップと、前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層の他方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記他方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、別のバンプを形成する第2のバンプ形成ステップと、前記別のバンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第2の絶縁膜形成ステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の多層配線基板の製造方法であって、前記第1及び第2の絶縁膜形成ステップでは、ポリイミド樹脂又はエポキシ樹脂からなる液状の絶縁材料を塗付し、加熱することにより固化させて絶縁膜を形成することを特徴とするものである。
請求項6に記載の発明は、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の多層配線基板の製造方法であって、前記第1及び第2の絶縁膜形成ステップでは、溶融された熱可塑性樹脂からなる絶縁材料を塗付し、冷却することにより固化させて絶縁膜を形成することを特徴とするものである。
請求項7に記載の発明は、請求項1又請求項2に記載の多層配線基板の製造方法によって製造された多層配線基板の少なくとも一方の面に、配線形成用金属膜を圧着して積層するステップと、前記積層した配線形成用金属膜の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記積層した配線形成用金属膜をエッチングすることにより、配線を形成する配線形成ステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の多層配線基板の製造方法によって製造された多層配線基板を、複数枚重ねて圧着して積層するステップを含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項9に記載の発明は、請求項1又請求項2に記載の多層配線基板の製造方法によって製造された多層配線基板の上下両面に、配線形成用金属膜を圧着して積層するステップと、前記積層した配線形成用金属膜の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記積層した配線形成用金属膜をエッチングすることにより、上下両面に配線を形成する配線形成ステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項10に記載の発明は、請求項9に記載の多層配線基板の製造方法によって製造された多層配線基板の上下両面に、配線形成用金属層の上にエッチングストッパー層を介してバンプが形成され、該バンプの頂面が露出するように該バンプが形成されている面に絶縁膜が形成されている配線回路基板を圧着して積層するステップを含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項11に記載の発明は、請求項1又は請求項2に記載の多層配線基板の製造方法によって製造された多層配線基板の少なくとも一方の面に素子を搭載するステップと、
前記バンプと前記素子とを金属細線で接続するステップと、前記素子及び前記金属細線を包み込むように、前記素子の上に樹脂を形成するステップと、を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法である。
請求項1乃至請求項6に記載の発明によると、配線形成用金属層の両面にバンプ形成用金属層が形成された多層金属板を用いることにより、配線回路基板とコア基板を積層しなくても多層配線基板を作製することができる。その結果、バンプと配線の位置ずれを調節するために配線を大きくする必要がなくなり、微細な回路を形成することが可能となる。
また、請求項7乃至請求項10に記載の発明によると、本発明の多層配線基板を何層にも積層することにより、更に高集積化した配線基板を作製することが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図1乃至図7を参照しつつ説明する。
[第1の実施の形態]
本発明の第1の実施形態における多層配線基板の製造方法ついて、図1を参照しつつ説明する。図1は、第1の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
まず、図1(a)に示すように、多層金属板100を用意する。この多層金属板100は、厚さ約18μmの銅箔からなる配線形成用金属層101の上下両面に積層された、厚さ約2μmのNiからなるエッチングストッパー層102(102a及び102b)と、更にそのエッチングストッパー層102の上下両面に積層された、厚さ約100μmの銅箔からなるバンプ形成用金属層103(103a及び103b)とからなる5層構造を有している。
次に、バンプ形成用金属層103aの上にネガ型のレジスト(図示しない)を塗付する。そして、複数の円形パターンが形成された露光マスクを使用して露光を行い、続いて現像を行うことにより、円形の形状をしたレジストマスクを形成する。そして、このレジストマスクをマスクとしてバンプ形成用金属層103aをエッチングすることにより、図1(b)に示すように、バンプ104aを形成する。尚、このバンプ104aを形成する工程が本発明の「第1のバンプ形成ステップ」に相当する。そして、レジストマスクを剥離し、その後、エッチングストッパー層102aをエッチングして除去することにより配線回路基板110を作製する。この工程により、バンプ104aと配線形成用金属層101との間にエッチングストッパー層105が介在する。
次に、図1(c)に示すように、バンプ104aが形成されている面に、前駆体の状態にある液状のポリイミド樹脂やエポキシ樹脂等からなる絶縁材料を、カーテンコータ、ドクターブレード法、バーコータ、スクリーン印刷法等により塗布する。尚、絶縁材料の厚さは、バンプ104aの高さよりも厚くても薄くてもよい。そして、ベーク処理を行うことにより液状の絶縁材料を固化し、絶縁膜106を形成する。ポリイミド樹脂の場合は徐々に温度を上げ、最終的に約400℃でベーク処理を行い、エポキシ樹脂の場合も徐々に温度を上げ、最終的に約180℃でベーク処理を行う。そして、絶縁膜106の表面部を、少なくとも各バンプ104aの頂面が完全に露出するまで研磨する。ここで、バンプ104aの頂面が完全に露出すればよく、露出した後更に絶縁膜106を研磨し続けてもよい。尚、図1(c)には、研磨された後の絶縁膜106が示されている。また、研磨法以外にも、エッチングやレーザー加工により絶縁膜を除去してもよい。この絶縁膜106を形成する工程が、本発明の「第1の絶縁膜形成ステップ」に相当する。
尚、絶縁材料には、ポリイミド樹脂やエポキシ樹脂の他、熱可塑性樹脂を使用してもよい。この熱可塑性樹脂には、液晶ポリマー、PEEK、PES、PPS又はPET等が使用され、冷却により固化させて絶縁膜106を形成する。
次に、図1(d)に示すように、バンプ形成用金属層103bを上述したバンプ形成用金属層103aと同様にエッチングしてバンプ104bを形成し、更に、エッチングストッパー層102bをエッチングにより除去する。このバンプ104bを形成する工程が、本発明の「第2のバンプ形成ステップ」に相当する。
次に、バンプ104bが形成されている面にポジ型のレジスト(図示しない)を塗付し、露光及び現像を行うことにより、図1(e)に示すように、レジストマスク107を形成する。このレジストマスク107は、少なくともバンプ104bの上に形成されるとともに、バンプ104bの周辺にも形成される。そして、図1(f)に示すように、レジストマスク107をマスクとして、配線形成用金属層101をエッチングすることにより、配線108を形成する。尚、図1(f)には、レジストマスク107が除去された後の状態が示されている。
次に、図1(g)に示すように、バンプ104bが形成されている面に、絶縁膜106を形成する。この絶縁膜106は、前述と同様に、液状のポリイミド樹脂又は熱可塑性樹脂を塗布することにより形成される。この絶縁膜106を形成する工程が、本発明の「第2の絶縁膜形成ステップ」に相当する。そして、絶縁膜106の表面を研磨等することによりバンプ104bの頂面を露出し、多層配線基板120を作製する。
以上のように、多層金属板100を用いることにより、多層配線基板を作製するために配線回路基板とコア基板とを積層する必要がなくなる。その結果、バンプと配線の位置ずれを調整するために配線を大きくする必要がなくなり、微細な回路を形成することが可能となる。
[第2の実施の形態]
次に、本発明の第2の実施形態における多層配線基板の製造方法について、図2を参照しつつ説明する。図2は、第2の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
まず、図2(a)に示すように、配線回路基板110を用意する。次に、バンプ104aが形成されている面にポジ型のレジスト(図示しない)を塗付し、露光及び現像を行うことにより、図2(b)に示すように、レジストマスク107を形成する。このレジストマスク107は、少なくともバンプ104aの上に形成されるとともに、バンプ104aの周辺にも形成される。そして、図2(c)に示すように、レジストマスク107をマスクとして、配線形成用金属層101をエッチングすることにより、配線108を形成する。尚、図2(c)には、レジストマスク107が除去された後の状態が示されている。
次に、図2(d)に示すように、バンプ104aが形成されている面に絶縁膜106を形成し、配線回路基板130を作製する。この絶縁膜106は、第1の実施形態と同様に、液状のポリイミド樹脂又は熱可塑性樹脂を塗布することにより形成される。そして、絶縁膜106の表面を研磨等することによりバンプ104aの頂面を露出する。尚、図2(d)には、研磨等された後の絶縁膜106が示されている。この絶縁膜106を形成する工程が、本発明の「第1の絶縁膜形成ステップ」に相当する。
次に、図2(e)に示すように、バンプ形成用金属層103bをエッチングしてバンプ104bを形成し、更に、エッチングストッパー層102bをエッチングにより除去する。このバンプ104bを形成する工程が、本発明の「第2のバンプ形成ステップ」に相当する。次に、図2(f)に示すように、バンプ104bが形成されている面に、絶縁膜106を形成し、多層配線基板140を作製する。この絶縁膜106は、前述と同様に、液状のポリイミド樹脂又は熱可塑性樹脂を塗布した後、熱処理をし、少なくともバンプ104bの頂面が露出するまで研磨等をすることにより形成される。この絶縁膜106を形成する工程が、本発明の「第2の絶縁膜形成ステップ」に相当する。
以上の方法により、配線回路基板とコア基板とを積層する必要がないため、位置ずれを調整するために配線を大きくする必要がなく、微細な回路を形成することが可能となる。
[第3の実施の形態]
次に、本発明の第3の実施形態における多層配線基板の製造方法について、図3を参照しつつ説明する。図3は、第3の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
まず、図3(a)に示すように、配線回路基板130を用意する。次に、バンプ形成用金属層103bの上にポジ型のレジスト(図示しない)を塗付し、露光及び現像を行うことにより、図3(b)に示すように、レジストマスク107を形成する。このレジストマスク107は、バンプを形成するための円形の形状をしたレジストマスク107aと、各レジストマスク107aの間に形成されたレジストマスク107bとからなる。そして、レジストマスク107をマスクとしてバンプ形成用金属層103bをエッチングすることにより、図3(c)に示すように、バンプ104bと、各バンプ104bの間に金属層109を形成する。その後、レジストマスク107を剥離する。
次に、図3(d)に示すように、バンプ104b及び金属層109が形成されている面に、絶縁膜106を形成する。この絶縁膜106は、前述と同様に、液状のポリイミド樹脂等を塗布した後、熱処理をし、バンプ104bの頂面が露出するまで研磨等されることにより形成される。
次に、バンプ104b及び金属層109が形成されている面にレジスト(図示しない)を塗付し、露光及び現像を行うことにより、バンプ104bの頂面の上にレジストマスク(図示しない)を形成する。そして、このレジストマスクをマスクとして金属層109をエッチングすることにより、金属層109を除去し、図3(e)に示すように、空隙111を形成する。そして、図3(f)に示すように、空隙111にICチップ112を埋め込み、多層配線基板を作製する。
この第3の実施形態の製造方法によっても、配線回路基板とコア基板とを積層する必要がないため、位置ずれを調整するために配線を大きくする必要がなく、微細な回路を形成することが可能となる。
[第4の実施の形態]
次に、本発明の第4の実施形態における多層配線基板の製造方法について、図4を参照しつつ説明する。図4は、第4の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
まず、図4(a)に示すように、多層配線基板120と銅箔からなる配線形成用金属膜150を用意する。多層配線基板120は、第1の実施形態における多層配線基板の製造方法によって作製されたものである。そして、バンプ104bが形成された面に配線形成用金属膜150を圧着して、多層配線基板120と配線形成用金属膜150を積層する。
次に、配線形成用金属膜150の上にレジスト(図示しない)を塗付し、露光及び現像を行うことにより、バンプ104bの上にレジストマスク(図示しない)を形成する。そして、そのレジストマスクをマスクとして配線形成用金属膜150をエッチングすることにより、図4(b)に示すように、バンプ104bの頂面の上に配線108を形成し、多層配線基板160を作製する。
次に、図4(c)に示すように、多層配線基板120と、2つの多層配線基板160と、2つの配線形成用金属膜150とを用意する。そして、多層配線基板120のバンプ104aと、多層配線基板160の配線108とが接するように、多層配線基板120と多層配線基板160とを積層する。更に、その多層法線基板160のバンプ104aと、別の多層配線基板160の配線108とが接するように、2つの多層配線基板160を積層する。更に、多層配線基板120のバンプ104bが形成されている面に、配線形成用金属膜150を積層し、多層配線基板160のバンプ104aが形成されている面に、別の配線形成用金属膜150を積層することにより、多層配線基板を作製する。
以上のように、本発明の実施形態における多層配線基板120を何層にも積層することにより、更に高集積化した配線基板を作製することが可能となる。
尚、本実施形態においては、第1の実施形態における製造方法によって作製された多層配線基板120を利用したが、本発明のそれに限られない。例えば、第2の実施形態における製造方法によって作製された多層配線基板140を利用してもよい。
[第5の実施の形態]
次に、本発明の第5の実施形態における多層配線基板の製造方法について、図5を参照しつつ説明する。図5は、第5の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
まず、図5(a)に示すように、多層配線基板120と銅箔からなる2つの配線形成用金属膜150を用意する。そして、多層配線基板120の上下両面に配線形成用金属膜150を圧着して、多層配線基板120と配線形成用金属膜150を積層する。
次に、上下両面の配線形成用金属膜150の上にレジスト(図示しない)を添付し、露光及び現像を行うことにより、バンプ104a及び104bの上にレジストマスク(図示しない)を形成する。そして、そのレジストマスクをマスクとして配線形成用金属膜150をエッチングすることにより、図5(b)に示すように、バンプ104a及び104bの頂面の上に配線108を形成し、多層配線基板170を作製する。
次に、図5(c)に示すように、多層配線基板170と、2つの配線回路基板180を用意する。配線回路基板180は、配線形成用金属層101の上にエッチングストッパー層105を介してバンプ104が形成されており、更に、バンプ104の頂面が露出するように絶縁膜106が形成されている。そして、多層配線基板170の配線108と、配線回路基板180のバンプ104の頂面が接触するように、多層配線基板170と配線回路基板180とを積層し、多層配線基板を作製する。
以上のように、本発明の実施形態における多層配線基板120に対して配線回路基板を積層することにより、更に高集積化した配線基板を作製することが可能となる。
尚、本実施形態においては、第1の実施形態における製造方法によって作製された多層配線基板120を利用したが、本発明はそれに限られない。例えば、第2の実施形態における製造方法によって作製された多層配線基板140を利用してもよい。
[第6の実施の形態]
次に、本発明の第6の実施形態における多層配線基板の製造方法について、図6を参照しつつ説明する。図6は、第6の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
まず、図6(a)に示すように、配線回路基板130を用意する。この配線回路基板130は、第2の実施形態において作製されたものである。次に、図6(b)に示すように、バンプ104aが形成された面に、既に集積回路(図示しない)が搭載されているSiウェハー190をはり合わせる。また、集積回路の取り出し口とバンプ104aとが接触するように、予めバンプ104aの形成位置を決めておき、その設計に従ってバンプ104aを形成しておく。
次に、図6(c)に示すように、バンプ形成用金属層103bを上述の実施形態と同様にエッチングすることにより、バンプ104bを形成する。更に、バンプ104bをマスクとしてエッチングストッパー層102bをエッチングにより除去する。尚、本実施形態において、バンプ104aの頂面の径を約30μmとし、バンプ104bの頂面の径を約100μmとしている。バンプ104aは集積回路の取り出し口と接触する必要があるため、微細な形状である必要があるからである。
次に、図6(d)に示すように、バンプ104bが形成されている面に絶縁膜106を形成し、多層配線基板を作製する。この絶縁膜106は、上述した実施形態と同様に、液状のポリイミド樹脂又は熱可塑性樹脂を塗布することにより形成される。そして、絶縁膜106の表面を研磨等することによりバンプ104bの頂面を露出する。更に、図6(e)に示すように、バンプ104bの頂面に半田ボール113を形成してもよい。このようにしてIC基板と多層配線基板とをはり合わせた後、基板をスライスして分断する。
以上のように、本発明の実施形態における配線回路基板130を利用することにより、集積回路が搭載された微細は多層配線基板を作製することが可能となる。また、従来は多層配線基板をスライスした後に、それぞれの回路に集積回路を搭載していた。しかし、本発明の実施形態においては、先に集積回路が形成されたIC基板と多層配線基板とをはり合わせ、その後、基板をスライスするため、簡便な方法で集積回路が搭載された回路を作製することができる。
また、本発明の実施形態における多層配線基板に受動又は能動素子を搭載することも可能である。この方法について、図7を参照して説明する。図7に示すように、第1の実施形態における多層配線基板の製造方法によって作製された多層配線基板120を用意する。そして、バンプ104bが形成されている面に受動又は能動素子114を搭載する。この素子114は、例えば、各バンプ104bの間に搭載される。そして、ワイヤーボンディング法を用いて、バンプ104bの頂面と素子114上の電極パット(図示しない)とをAl等からなる金属細線115で接続する。このワイヤーボンディング法には、例えば、超音波ワイヤーボンディング法等が用いられる。そして、素子114の上に樹脂116を形成する。尚、本実施形態においては、バンプ104aの頂面に半田ボール113を形成している。また、多層配線基板120の代わりに多層配線基板140を用いてもよい。
本発明の第1の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。 本発明の第2の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。 本発明の第3の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。 本発明の第4の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。 本発明の第5の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。 本発明の第6の実施形態における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。 本発明の第6の実施形態における多層配線基板の製造方法を示す基板の断面図である。 従来技術における多層配線基板の製造方法を工程順に示す基板の断面図である。
符号の説明
100 多層金属板
101 配線形成用金属層
102a、102b、105 エッチングストッパー層
103a、103b バンプ形成用金属層
104a、104b バンプ
106 絶縁膜
107 レジストマスク
108 配線
109 金属層
110、130、180 配線回路基板
111 空隙
112 ICチップ
113 半田ボール
114 素子
115 ワイヤーボンド
116 樹脂
120、140、160、170 多層配線基板
150 配線形成用金属膜
190 Siウェハー

Claims (4)

  1. 配線形成用金属層の上下両面にエッチングストッパー層を介してバンプ形成用金属層が形成された多層金属板に対して、
    前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち一方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記一方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、バンプを形成する第1のバンプ形成ステップと、
    前記バンプが形成された面にレジストを塗付し、パターニングすることにより少なくとも前記バンプの上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記配線形成用金属層をエッチングして配線を形成する配線形成ステップと、
    前記バンプ形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第1の絶縁膜形成ステップと、
    前記上下両面形成されたバンプ形成用金属層のうち他方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、バターニングすることにより、レジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記他方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、別の複数のバンプと、該別の複数のバンプ間に金属膜を形成する第2のバンプ形成ステップと、
    前記別のバンプ及び前記金属膜が形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第2の絶縁膜形成ステップと、
    前記別のバンプ及び前記金属膜が形成された面に、レジストを塗付し、パターニングすることにより前記別のバンプの頂面の上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記金属膜をエッチングして除去する金属膜除去ステップと、
    前記金属膜が除去された部分に集積回路を埋め込むステップと
    を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法。
  2. 配線形成用金属層の上下両面にエッチングストッパー層を介してバンプ形成用金属層が形成された多層金属板に対して、
    前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層のうち一方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記一方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、バンプを形成する第1のバンプ形成ステップと、
    前記バンプが形成された面にレジストを塗付し、パターニングすることにより少なくとも前記バンプの上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして配線形成用金属層をエッチングすることにより配線を形成する配線形成ステップと、
    前記バンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第1の絶縁膜形成ステップと、
    前記絶縁膜が形成された面に集積回路が搭載された基板をはり合わせるステップと、
    前記上下両面に形成されたバンプ形成用金属層の他方のバンプ形成用金属層の上にレジストを塗付し、パターニングすることによりレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記他方のバンプ形成用金属層をエッチングすることにより、別のバンプを形成する第2のバンプ形成ステップと、
    前記別のバンプが形成された面に絶縁材料を塗付し、熱処理することにより絶縁膜を形成する第2の絶縁膜形成ステップと
    を含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法。
  3. 前記第1及び第2の絶縁膜形成ステップでは、ポリイミド樹脂又はエポキシ樹脂からなる液状の絶縁材料を塗付し、加熱することにより固化させて絶縁膜を形成することを特徴とする請求項1又は請求項に記載の多層配線基板の製造方法。
  4. 前記第1及び第2の絶縁膜形成ステップでは、溶融された熱可塑性樹脂からなる絶縁材料を塗付し、冷却することにより固化させて絶縁膜を形成することを特徴とする請求項1又は請求項に記載の多層配線基板の製造方法。
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